JP2006109349A - 定電流回路及びその定電流回路を使用したシステム電源装置 - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 2
- 101100321932 Rattus norvegicus Prkaa2 gene Proteins 0.000 description 13
- 102100023882 Endoribonuclease ZC3H12A Human genes 0.000 description 9
- 101710112715 Endoribonuclease ZC3H12A Proteins 0.000 description 9
- QGVYYLZOAMMKAH-UHFFFAOYSA-N pegnivacogin Chemical compound COCCOC(=O)NCCCCC(NC(=O)OCCOC)C(=O)NCCCCCCOP(=O)(O)O QGVYYLZOAMMKAH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 5
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 238000009966 trimming Methods 0.000 description 3
- 101710170230 Antimicrobial peptide 1 Proteins 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
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- G05F3/02—Regulating voltage or current
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- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
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- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
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- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
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- H03F3/343—DC amplifiers in which all stages are DC-coupled with semiconductor devices only
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- H03F3/45475—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using IC blocks as the active amplifying circuit
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Abstract
【解決手段】 PMOSトランジスタM1及びM2から流れる各電流i1及びi2の一方の電流の変動に対して負帰還がかけられてその変動を打ち消すように、演算増幅回路AMPがPMOSトランジスタM1及びM2の動作制御を行い、PMOSトランジスタM1及びM2から対応して電流が供給される2つのpnpトランジスタQ1及びQ2に流れる電流密度の差によって生じる電位差に接続した抵抗R1に流れる定電流を基準電流とし、演算増幅回路AMPによって動作制御されたPMOSトランジスタMA1〜MAnで該基準電流に比例した各電流をそれぞれ生成して出力するようにした。
【選択図】 図1
Description
図9は、図8の定電圧回路REGX1〜REGXnの回路例を示した回路図であり、定電圧回路REGX1〜REGXnは同じ回路構成であることから、図9では、任意の定電圧回路REGXk(k=0〜n)を例にして示している。
基準電圧発生回路REFkは、ディプレッション型NMOSトランジスタNAkとエンハンスメント型NMOSトランジスタ(以下、エンハンスメント型NMOSトランジスタは単にNMOSトランジスタと呼び、エンハンスメント型PMOSトランジスタは単にPMOSトランジスタと呼ぶ)NBkとで構成されている。ディプレッション型NMOSトランジスタNAkにおいて、ドレインが電源Vddに接続されると共に、ゲートとソースが接続しているため、ディプレッション型NMOSトランジスタNAkのドレイン電流は、ディプレッション型NMOSトランジスタNAkのゲート・ソース間電圧Vgs=0のときの電流で定電流になる。
誤差増幅回路APkは、出力電圧Vokを出力電圧検出用抵抗RXk及びRYkで分圧した電圧VXkが、基準電圧Vrefkになるように出力電圧制御用トランジスタPBkの動作制御を行う。
制御電極に入力される信号に応じた電流を生成して出力する第1のトランジスタと、
該第1のトランジスタから出力された電流が供給される第1のpn接合素子と、
制御電極に入力される信号に応じた電流を生成して出力する第2のトランジスタと、
該第2のトランジスタから出力された電流が供給される、第1の抵抗及び第2のpn接合素子が直列に接続された第1の直列回路と、
前記第2のトランジスタと該第1の抵抗との接続部の電圧が、前記第1のトランジスタと第1のpn接合素子との接続部の電圧と等しくなるように前記第1及び第2の各トランジスタの動作制御を行う制御回路部と、
前記第1の抵抗に流れる電流に比例した複数の電流をそれぞれ生成して出力する比例電流生成回路部と、
を備え、
前記第1の抵抗は、前記第1及び第2の各pn接合素子に流れる電流密度の差によって生じる電位差に接続され、前記比例電流生成回路部は、前記制御回路部から第2のトランジスタに出力された制御信号が各制御電極にそれぞれ入力される複数の比例電流生成用トランジスタで構成され、前記第1の抵抗に流れる電流に比例した電流が該各比例電流生成用トランジスタで生成され出力されるものである。
該第3のトランジスタから出力された電流が供給される、第2の抵抗及び第3のpn接合素子が直列に接続された第2の直列回路と、
を備え、
前記第3のトランジスタと第2の抵抗との接続部の電圧を所定の基準電圧として出力するようにしてもよい。
複数の所定の定電流をそれぞれ生成し対応する前記各定電圧回路にバイアス電流として供給する定電流回路を備え、
該定電流回路は、
制御電極に入力される信号に応じた電流を生成して出力する第1のトランジスタと、
該第1のトランジスタから出力された電流が供給される第1のpn接合素子と、
制御電極に入力される信号に応じた電流を生成して出力する第2のトランジスタと、
該第2のトランジスタから出力された電流が供給される、第1の抵抗及び第2のpn接合素子が直列に接続された第1の直列回路と、
前記第2のトランジスタと該第1の抵抗との接続部の電圧が、前記第1のトランジスタと第1のpn接合素子との接続部の電圧と等しくなるように前記第1及び第2の各トランジスタの動作制御を行う制御回路部と、
前記第1の抵抗に流れる電流に比例した複数の電流をそれぞれ生成して出力する比例電流生成回路部と、
を備え、
前記第1の抵抗は、前記第1及び第2の各pn接合素子に流れる電流密度の差によって生じる電位差に接続され、前記比例電流生成回路部は、前記制御回路部から第2のトランジスタに出力された制御信号が各制御電極にそれぞれ入力される複数の比例電流生成用トランジスタで構成され、前記第1の抵抗に流れる電流に比例した電流が該各比例電流生成用トランジスタで生成され出力されるものである。
前記制御回路部から制御電極に入力される信号に応じた電流を生成して出力する第3のトランジスタと、
該第3のトランジスタから出力された電流が供給される、第2の抵抗及び第3のpn接合素子が直列に接続された第2の直列回路と、
を備え、
前記第3のトランジスタと第2の抵抗との接続部の電圧を所定の基準電圧として少なくとも1つの前記定電圧回路に供給するようにしてもよい。
第1の実施の形態.
図1は、本発明の第1の実施の形態における定電流回路の構成例を示した図である。
図1において、定電流回路1は、複数の所定の定電流io1〜ion(nは、n>1の整数)を生成して出力するものであり、所定の基準電流を生成する基準電流生成回路部2と、該基準電流生成回路部2で生成された基準電流に比例した複数の定電流io1〜ionをそれぞれ生成して出力する比例電流生成回路部3とで構成されている。
PMOSトランジスタM1のドレインとPMOSトランジスタM2のドレインはそれぞれ演算増幅回路AMPの対応する入力端にそれぞれ接続されていることから、演算増幅回路AMPによって、PMOSトランジスタM1及びM2の各ドレイン電圧が同電圧になるようにPMOSトランジスタM1及びM2の各ゲート電圧が制御される。
Vbe1=Vbe2+i2×R1………………(1)
i2=(1/R1)×(Vbe1−Vbe2)
i2=(1/R1)×ΔVbe………………(2)
(2)式より、PMOSトランジスタM2のドレイン電流i2の値は、pnpトランジスタQ1とpnpトランジスタQ2の素子サイズの差と抵抗R1の抵抗値で決まることが分かる。
比例電流生成回路部3の各PMOSトランジスタMA1〜MAnから出力される各定電流io1〜ionは、必ずしもすべて同じ電流値である必要はなく、PMOSトランジスタMA1〜MAnの素子の大きさによって任意に設定することができる。
図2において、システム電源装置10は、所定の定電圧Vo1〜Vonを生成して対応する負荷Lo1〜Lonに出力する複数の定電圧回路REG1〜REGnと、定電流回路1とを備えている。定電圧回路REG1〜REGnは同じ回路構成をなしていることから、図2では、任意の定電圧回路REGk(k=0〜n)のみ内部回路例を示しており、その他の定電圧回路は定電圧回路REGkと同じであるので内部回路を省略して示している。以下、定電圧回路REGkを例にして説明する。
電源電圧Vddと出力端OUTkとの間には出力電圧制御用トランジスタMBkが接続され、出力端OUTkと接地電圧との間には、抵抗RAk及びRBkが直列に接続されている。抵抗RAk及びRBkによって出力電圧Vokを分圧して生成された分圧電圧Vdkは、演算増幅回路AMPkの反転入力端に入力され、演算増幅回路AMPkの非反転入力端には基準電圧Vrkが入力されている。演算増幅回路AMPkの出力端は出力電圧制御用トランジスタMBkのゲートに接続され、演算増幅回路AMPkは、分圧電圧Vdkが基準電圧Vrkになるように出力電圧制御用トランジスタMBkの動作制御を行う。
図3は、演算増幅回路AMPkの回路例を示した図である。
図3において、演算増幅回路AMPkは、PMOSトランジスタMCk〜MEk及びNMOSトランジスタMFk〜MJkで構成されている。PMOSトランジスタMCk及びMDkはカレントミラー回路を形成しており、差動対をなすNMOSトランジスタMFk及びMGkの負荷をなす。PMOSトランジスタMCk及びMDkにおいて、各ソースは電源電圧Vddにそれぞれ接続され、各ゲートは接続されて該接続部はPMOSトランジスタMCkのドレインに接続されている。
また、電源電圧Vddと接地電圧との間には、PMOSトランジスタMEkとNMOSトランジスタMJkが直列に接続され、PMOSトランジスタMDkとNMOSトランジスタMGkの接続部がPMOSトランジスタMEkのゲートに接続されている。また、PMOSトランジスタMEkとNMOSトランジスタMJkとの接続部は、演算増幅回路AMPkの出力端をなし出力電圧制御用トランジスタMBkのゲートに接続されている。
前記第1の実施の形態では、各定電圧回路REG1〜REGnにそれぞれ基準電圧発生回路G1〜Gnを備えるようにしたが、各定電圧回路REG1〜REGnの内、使用する基準電圧が同じである定電圧回路がある場合、定電流回路1で該基準電圧を生成して該定電圧回路にそれぞれ供給するようにしてもよく、このようにしたものを本発明の第2の実施の形態とする。
図6は、本発明の第2の実施の形態における定電流回路の構成例を示した図である。なお、図6では、図1と同じもの又は同様のものは同じ符号で示し、ここではその説明を省略すると共に図1との相違点のみ説明する。また、図6では、各定電圧回路で使用する基準電圧がすべて同じである場合を例にして示している。
図6において、定電流回路1aは、複数の所定の定電流io1〜ion及び所定の基準電圧Vrを生成して出力するものであり、基準電流生成回路部2と、比例電流生成回路部3と、所定の基準電圧Vrを生成して出力する基準電圧発生回路部4とで構成されている。
Vr=Vbe3+i3×R2=Vbe3+R2/R1×ΔVbe……(3)
前記(3)式において、ベース・エミッタ間電圧Vbe3は負の温度係数を持ち、ΔVbeは正の温度係数を持つ。このことから、R2/R1の値と温度係数を適切に選択することで基準電圧Vrの温度係数を非常に小さくすることができる。
図7における図2との相違点は、図1の定電圧回路REG1〜REGnから基準電圧発生回路G1〜Gnをなくし、誤差増幅回路AMP1〜AMPnの各非反転入力端に定電流回路1aからの基準電圧Vrをそれぞれ入力するようにしたことにあり、これに伴って、図2の定電圧回路REG1〜REGnを定電圧回路REGa1〜REGanにし、図2の定電流回路1を定電流回路1aに、図2のシステム電源装置10をシステム電源装置10aにそれぞれした。
2 基準電流生成回路部
3 比例電流生成回路部
4 基準電圧発生回路部
AMP 演算増幅回路
M1〜M3,MA1〜MAn PMOSトランジスタ
Q1〜Q3 pnpトランジスタ
R1,R2,RA1〜RAn,RB1〜RBn 抵抗
REG1〜REGn,REGa1〜REGan 定電圧回路
G1〜Gn 基準電圧発生回路
AMP1〜AMPn 誤差増幅回路
MB1〜MBn 出力電圧制御用トランジスタ
Claims (14)
- 複数の定電流をそれぞれ生成して出力する定電流回路において、
制御電極に入力される信号に応じた電流を生成して出力する第1のトランジスタと、
該第1のトランジスタから出力された電流が供給される第1のpn接合素子と、
制御電極に入力される信号に応じた電流を生成して出力する第2のトランジスタと、
該第2のトランジスタから出力された電流が供給される、第1の抵抗及び第2のpn接合素子が直列に接続された第1の直列回路と、
前記第2のトランジスタと該第1の抵抗との接続部の電圧が、前記第1のトランジスタと第1のpn接合素子との接続部の電圧と等しくなるように前記第1及び第2の各トランジスタの動作制御を行う制御回路部と、
前記第1の抵抗に流れる電流に比例した複数の電流をそれぞれ生成して出力する比例電流生成回路部と、
を備え、
前記第1の抵抗は、前記第1及び第2の各pn接合素子に流れる電流密度の差によって生じる電位差に接続され、前記比例電流生成回路部は、前記制御回路部から第2のトランジスタに出力された制御信号が各制御電極にそれぞれ入力される複数の比例電流生成用トランジスタで構成され、前記第1の抵抗に流れる電流に比例した電流が該各比例電流生成用トランジスタで生成され出力されることを特徴とする定電流回路。 - 前記制御回路部は、前記第2のトランジスタと第1の抵抗との接続部の電圧、及び前記第1のトランジスタと第1のpn接合素子との接続部の電圧が対応する入力端にそれぞれ入力された演算増幅回路をなし、前記第1及び第2の各トランジスタ並びに前記各比例電流生成用トランジスタは、該演算増幅回路によって動作制御されることを特徴とする請求項1記載の定電流回路。
- 前記第1の抵抗は、第1及び第2の各pn接合素子に流れる電流密度の差によって生じる電位差の温度特性を相殺する温度特性を有することを特徴とする請求項1又は2記載の定電流回路。
- 前記制御回路部から制御電極に入力される信号に応じた電流を生成して出力する第3のトランジスタと、
該第3のトランジスタから出力された電流が供給される、第2の抵抗及び第3のpn接合素子が直列に接続された第2の直列回路と、
を備え、
前記第3のトランジスタと第2の抵抗との接続部の電圧を所定の基準電圧として出力することを特徴とする請求項1、2又は3記載の定電流回路。 - 前記第1及び第2の各抵抗は、前記第3のpn接合素子の両端電圧における温度特性に起因する前記基準電圧の変動を相殺するように、各抵抗値及び各温度係数がそれぞれ設定されることを特徴とする請求項4記載の定電流回路。
- 前記第1及び第2の各トランジスタは、ソースとゲートがそれぞれ共通接続されたMOSトランジスタであり、前記各比例電流生成用トランジスタは、第1及び第2の各トランジスタとソース及びゲートがそれぞれ共通接続されたMOSトランジスタであることを特徴とする請求項1、2又は3記載の定電流回路。
- 前記第1から第3の各トランジスタは、ソースとゲートがそれぞれ共通接続されたMOSトランジスタであり、前記各比例電流生成用トランジスタは、第1から第3の各トランジスタとソース及びゲートがそれぞれ共通接続されたMOSトランジスタであることを特徴とする請求項4又は5記載の定電流回路。
- 所定の定電圧を生成して対応する負荷にそれぞれ出力する複数の定電圧回路を備えたシステム電源装置において、
複数の所定の定電流をそれぞれ生成し対応する前記各定電圧回路にバイアス電流として供給する定電流回路を備え、
該定電流回路は、
制御電極に入力される信号に応じた電流を生成して出力する第1のトランジスタと、
該第1のトランジスタから出力された電流が供給される第1のpn接合素子と、
制御電極に入力される信号に応じた電流を生成して出力する第2のトランジスタと、
該第2のトランジスタから出力された電流が供給される、第1の抵抗及び第2のpn接合素子が直列に接続された第1の直列回路と、
前記第2のトランジスタと該第1の抵抗との接続部の電圧が、前記第1のトランジスタと第1のpn接合素子との接続部の電圧と等しくなるように前記第1及び第2の各トランジスタの動作制御を行う制御回路部と、
前記第1の抵抗に流れる電流に比例した複数の電流をそれぞれ生成して出力する比例電流生成回路部と、
を備え、
前記第1の抵抗は、前記第1及び第2の各pn接合素子に流れる電流密度の差によって生じる電位差に接続され、前記比例電流生成回路部は、前記制御回路部から第2のトランジスタに出力された制御信号が各制御電極にそれぞれ入力される複数の比例電流生成用トランジスタで構成され、前記第1の抵抗に流れる電流に比例した電流が該各比例電流生成用トランジスタで生成され出力されることを特徴とするシステム電源装置。 - 前記制御回路部は、前記第2のトランジスタと第1の抵抗との接続部の電圧、及び前記第1のトランジスタと第1のpn接合素子との接続部の電圧が対応する入力端にそれぞれ入力された演算増幅回路をなし、前記第1及び第2の各トランジスタ並びに前記各比例電流生成用トランジスタは、該演算増幅回路によって動作制御されることを特徴とする請求項8記載のシステム電源装置。
- 前記第1の抵抗は、第1及び第2の各pn接合素子に流れる電流密度の差によって生じる電位差の温度特性を相殺する温度特性を有することを特徴とする請求項8又は9記載のシステム電源装置。
- 前記定電流回路は、
前記制御回路部から制御電極に入力される信号に応じた電流を生成して出力する第3のトランジスタと、
該第3のトランジスタから出力された電流が供給される、第2の抵抗及び第3のpn接合素子が直列に接続された第2の直列回路と、
を備え、
前記第3のトランジスタと第2の抵抗との接続部の電圧を所定の基準電圧として少なくとも1つの前記定電圧回路に供給することを特徴とする請求項8、9又は10記載のシステム電源装置。 - 前記第1及び第2の各抵抗は、前記第3のpn接合素子の両端電圧における温度特性に起因する前記基準電圧の変動を相殺するように、各抵抗値及び各温度係数がそれぞれ設定されることを特徴とする請求項11記載のシステム電源装置。
- 前記第1及び第2の各トランジスタは、ソースとゲートがそれぞれ共通接続されたMOSトランジスタであり、前記各比例電流生成用トランジスタは、第1及び第2の各トランジスタとソース及びゲートがそれぞれ共通接続されたMOSトランジスタであることを特徴とする請求項8、9又は10記載のシステム電源装置。
- 前記第1から第3の各トランジスタは、ソースとゲートがそれぞれ共通接続されたMOSトランジスタであり、前記各比例電流生成用トランジスタは、第1から第3の各トランジスタとソース及びゲートがそれぞれ共通接続されたMOSトランジスタであることを特徴とする請求項11又は12記載のシステム電源装置。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004296479A JP2006109349A (ja) | 2004-10-08 | 2004-10-08 | 定電流回路及びその定電流回路を使用したシステム電源装置 |
US10/580,260 US7268528B2 (en) | 2004-10-08 | 2005-09-26 | Constant-current circuit and system power source using this constant-current circuit |
PCT/JP2005/018208 WO2006040950A1 (en) | 2004-10-08 | 2005-09-26 | Constant-current circuit and system power source using this constant-current circuit |
CNA2005800018080A CN1906557A (zh) | 2004-10-08 | 2005-09-26 | 恒流电路和使用此恒流电路的系统电源 |
KR1020067011187A KR100721736B1 (ko) | 2004-10-08 | 2005-09-26 | 정전류 회로 및 그 정전류 회로를 사용한 시스템 전원 장치 |
TW094134032A TWI303361B (en) | 2004-10-08 | 2005-09-29 | Constant-current circuit and system power source using this constant-current circuit |
US11/834,224 US7535212B2 (en) | 2004-10-08 | 2007-08-06 | Constant-current circuit and system power source using this constant-current circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004296479A JP2006109349A (ja) | 2004-10-08 | 2004-10-08 | 定電流回路及びその定電流回路を使用したシステム電源装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006109349A true JP2006109349A (ja) | 2006-04-20 |
Family
ID=36148246
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004296479A Pending JP2006109349A (ja) | 2004-10-08 | 2004-10-08 | 定電流回路及びその定電流回路を使用したシステム電源装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7268528B2 (ja) |
JP (1) | JP2006109349A (ja) |
KR (1) | KR100721736B1 (ja) |
CN (1) | CN1906557A (ja) |
TW (1) | TWI303361B (ja) |
WO (1) | WO2006040950A1 (ja) |
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-
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- 2005-09-26 KR KR1020067011187A patent/KR100721736B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2005-09-26 US US10/580,260 patent/US7268528B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2005-09-26 WO PCT/JP2005/018208 patent/WO2006040950A1/en active Application Filing
- 2005-09-26 CN CNA2005800018080A patent/CN1906557A/zh active Pending
- 2005-09-29 TW TW094134032A patent/TWI303361B/zh not_active IP Right Cessation
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US20080036442A1 (en) | 2008-02-14 |
CN1906557A (zh) | 2007-01-31 |
KR100721736B1 (ko) | 2007-05-28 |
US7268528B2 (en) | 2007-09-11 |
KR20060132845A (ko) | 2006-12-22 |
TW200629034A (en) | 2006-08-16 |
WO2006040950A1 (en) | 2006-04-20 |
US20070108957A1 (en) | 2007-05-17 |
TWI303361B (en) | 2008-11-21 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070412 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20080131 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091027 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091215 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100720 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100907 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110419 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110906 |