JP2004350290A - バンドギャップ電圧基準発生器回路、熱検知回路、及び集積回路 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】バンドギャップ電圧基準発生器回路は基準電圧発生器ユニット804を含む。基準電圧発生器ユニット804は、第1の出力電流源回路124と、第1の出力電流源回路124に連結された第1の抵抗器136とを含む。第1の抵抗器136と第1の出力電流源回路124との間に、第1の基準電圧Vref1を生成する第1の電圧基準出力ノードN3が配置される。基準電圧発生器ユニット804はまた、負の電圧供給部152に連結された第2の抵抗器138を含む。正の電圧供給部150に連結された第2の出力電流源回路126及び第1の抵抗器136の少なくとも1つと、第2の抵抗器138との間に、第2の基準電圧Vref2を生成する第2の電圧基準出力ノードN5が配置される。
【選択図】 図16
Description
第1の出力電流源回路と、
前記第1の出力電流源回路に連結された第1の抵抗器と、
前記第1の抵抗器と前記第1の出力電流源回路との間に配置された第1の電圧基準出力ノードと、前記第1の電圧基準出力ノードは第1の基準電圧を生成することと、
負の電圧供給部に連結された第2の抵抗器と、
正の電圧供給部に連結された第2の出力電流源回路及び前記第1の抵抗器の少なくとも1つと、前記第2の抵抗器との間に配置された第2の電圧基準出力ノードと、前記第2の電圧基準出力ノードは第2の基準電圧を生成することと、
を具備することを特徴とする。
少なくとも第1のバンドギャップ基準電圧を生成するバンドギャップ電圧基準発生器回路と、
ベース・エミッタ間電圧を生成する熱検知素子と、
前記ベース・エミッタ間電圧を少なくとも前記第1のバンドギャップ基準電圧と比較し、コンパレータ出力を生成する第1のコンパレータと、
前記コンパレータ出力に応じて指示信号を生成する制御回路と、
を具備することを特徴とする。
第1のバンドギャップ基準電圧、第2のバンドギャップ基準電圧、及び温度依存性電圧を生成するバンドギャップ電圧基準発生器回路と、
前記第1のバンドギャップ基準電圧及び前記温度依存性電圧に基づいて第1のコンパレータ出力を生成する第1のコンパレータと、
前記第2のバンドギャップ基準電圧及び前記温度依存性電圧に基づいて第2のコンパレータ出力を生成する第2のコンパレータと、
前記第1及び第2のコンパレータ出力を利用して指示信号を生成する制御回路と、
を具備することを特徴とする。
第1の出力電流源回路と、
前記第1の出力電流源回路に連結された第1の抵抗器と、
前記第1の抵抗器と前記第1の出力電流源回路との間に配置された第1の電圧基準出力ノードと、前記第1の電圧基準出力ノードは第1の基準電圧を生成することと、
負の電圧供給部に連結された第2の抵抗器と、
正の電圧供給部に連結された第2の出力電流源回路及び前記第1の抵抗器の少なくとも1つと、前記第2の抵抗器との間に配置された第2の電圧基準出力ノードと、前記第2の電圧基準出力ノードは第2の基準電圧を生成することと、
を具備することを特徴とする。
ベース・エミッタ間電圧Vbe以外の電圧も利用可能であることが理解できるであろう。増幅器310はインバータ320に入力される出力信号を生成する。その結果、インバータ320はコンパレータ出力OUT_COMPARATOR信号を生成する。
第1の電流を生成すると共に、ダイオードに第1の電圧が掛るように連結された第1の電流源回路と、
並列組合せ回路と、
第2の電流を生成すると共に、前記並列組合せ回路に第2の電圧が掛るように連結された第2の電流源回路と、
前記第1の電圧及び前記第2の電圧に応答する第1の増幅器と、前記第1の増幅器は、前記第1の電流及び前記第2の電流に影響するように連結されることと、
を具備し、前記第1及び第2の電流源回路は、前記第1の増幅器に連結されたゲートを有するトランジスタからなる。
第3の抵抗器と、
前記第3の抵抗器に第3の電圧が掛るように第3の電流を生成する第3の電流源回路と、
前記第1の電圧及び前記第3の電圧に応答する第2の増幅器と、前記第2の増幅器は、前記第2の増幅器に応答する第3の電流源に連結されることと、
を具備する。
第1の出力電流源回路と、
前記第1の出力電流源回路に連結された第1の抵抗器と、
前記第1の抵抗器と前記第1の出力電流源回路との間に配置された第1の電圧基準出力ノードと、前記第1の電圧基準出力ノードは第1の基準電圧を生成することと、
負の電圧供給部に連結された第2の抵抗器と、
正の電圧供給部に連結された第2の出力電流源回路及び前記第1の抵抗器の少なくとも1つと、前記第2の抵抗器との間に配置された第2の電圧基準出力ノードと、前記第2の電圧基準出力ノードは第2の基準電圧を生成することと、
を具備する。
第1の電流を生成すると共に、ダイオードに第1の電圧が掛るように連結された第1の電流源回路と、
並列組合せ回路と、
第2の電流を生成すると共に、前記並列組合せ回路に第2の電圧が掛るように連結された第2の電流源回路と、
前記第1の電圧及び前記第2の電圧に応答する第1の増幅器と、前記第1の増幅器は、前記第1の電流及び前記第2の電流に影響するように連結されることと、
を具備し、前記第1及び第2の電流源回路は、前記第1の増幅器に連結されたゲートを有するトランジスタからなる。
第3の抵抗器と、
前記第3の抵抗器に第3の電圧が掛るように第3の電流を生成する第3の電流源回路と、
前記第1の電圧及び前記第3の電圧に応答する第2の増幅器と、前記第2の増幅器は、前記第2の増幅器に応答する第3の電流源に連結されることと、
を具備する。
前記第1のバンドギャップ基準電圧及び前記ベース・エミッタ間電圧に応答する増幅器と、
前記増幅器に連結され、前記第1のコンパレータ出力を生成するインバータと、
を具備する。
遅延された第1のコンパレータ出力を生成すると共に、ノイズによる切替えを予防する第1の遅延素子と、
前記第1のコンパレータ出力及び前記遅延された第1のコンパレータ出力に応答する第1のNANDゲートと、前記第1のNANDゲートは第1の出力を生成することと、
遅延された第2のコンパレータ出力を生成すると共に、ノイズによる切替えを予防する第2の遅延素子と、
前記第2のコンパレータ出力及び前記遅延された第2のコンパレータ出力に応答する第2のNANDゲートと、前記第2のNANDゲートは第2の出力を生成することと、
前記第1の出力及び前記第2の出力に応答するフリップフロップ回路と、前記フリップフロップ回路はフリップフロップ出力を生成することと、前記フリップフロップ出力は、前記指示信号を生成するために使われることと、前記指示信号は、温度が第1の温度まで上がるとハイレベルへ切替わり、温度が第2の温度に下がるとローレベルへ切替わることと、
を具備する。
第1の出力電流源トランジスタと、
負の電圧供給部と、
前記第1の出力電流源トランジスタと前記負の電圧供給部との間に連結された分圧器と、
を具備し、前記分圧器は、第1の電圧基準出力ノードで前記第1のバンドギャップ基準電圧を生成すると共に、第2の電圧基準出力ノードで前記第2のバンドギャップ基準電圧を生成する。
前記第1のバンドギャップ基準電圧及び前記ベース・エミッタ間電圧に応答する増幅器と、
前記増幅器に連結され、前記第1のコンパレータ出力を生成するインバータと、
を具備する。
遅延された第1のコンパレータ出力を生成すると共に、ノイズによる切替えを予防する第1の遅延素子と、
前記第1のコンパレータ出力及び前記遅延された第1のコンパレータ出力に応答する第1のNANDゲートと、前記第1のNANDゲートは第1の出力を生成することと、
遅延された第2のコンパレータ出力を生成すると共に、ノイズによる切替えを予防する第2の遅延素子と、
前記第2のコンパレータ出力及び前記遅延された第2のコンパレータ出力に応答する第2のNANDゲートと、前記第2のNANDゲートは第2の出力を生成することと、
前記第1の出力及び前記第2の出力に応答するフリップフロップ回路と、前記フリップフロップ回路はフリップフロップ出力を生成することと、前記フリップフロップ出力は、前記指示信号を生成するために使われることと、前記指示信号は、温度が第1の温度まで上がるとハイレベルへ切替わり、温度が第2の温度に下がるとローレベルへ切替わることと、
を具備する。
Claims (7)
- 基準電圧発生器ユニットを具備するバンドギャップ電圧基準発生器回路であって、前記基準電圧発生器ユニットは、
第1の出力電流源回路と、
前記第1の出力電流源回路に連結された第1の抵抗器と、
前記第1の抵抗器と前記第1の出力電流源回路との間に配置された第1の電圧基準出力ノードと、前記第1の電圧基準出力ノードは第1の基準電圧を生成することと、
負の電圧供給部に連結された第2の抵抗器と、
正の電圧供給部に連結された第2の出力電流源回路及び前記第1の抵抗器の少なくとも1つと、前記第2の抵抗器との間に配置された第2の電圧基準出力ノードと、前記第2の電圧基準出力ノードは第2の基準電圧を生成することと、
を具備することを特徴とするバンドギャップ電圧基準発生器回路。 - 第1の制御ループを更に具備し、前記第1の制御ループは、
第1の電流を生成すると共に、ダイオードに第1の電圧が掛るように連結された第1の電流源回路と、
並列組合せ回路と、
第2の電流を生成すると共に、前記並列組合せ回路に第2の電圧が掛るように連結された第2の電流源回路と、
前記第1の電圧及び前記第2の電圧に応答する第1の増幅器と、前記第1の増幅器は、前記第1の電流及び前記第2の電流に影響するように連結されることと、
を具備し、前記第1及び第2の電流源回路は、前記第1の増幅器に連結されたゲートを有するトランジスタからなることを特徴とする請求項1に記載のバンドギャップ電圧基準発生器回路。 - 第2の制御ループを更に具備し、前記第2の制御ループは、
第3の抵抗器と、
前記第3の抵抗器に第3の電圧が掛るように第3の電流を生成する第3の電流源回路と、
前記第1の電圧及び前記第3の電圧に応答する第2の増幅器と、前記第2の増幅器は、前記第2の増幅器に応答する第3の電流源に連結されることと、
を具備することを特徴とする請求項2に記載のバンドギャップ電圧基準発生器回路。 - 少なくとも第1のバンドギャップ基準電圧を生成するバンドギャップ電圧基準発生器回路と、
ベース・エミッタ間電圧を生成する熱検知素子と、
前記ベース・エミッタ間電圧を少なくとも前記第1のバンドギャップ基準電圧と比較し、コンパレータ出力を生成する第1のコンパレータと、
前記コンパレータ出力に応じて指示信号を生成する制御回路と、
を具備することを特徴とする熱検知回路。 - 前記バンドギャップ電圧基準発生器回路は基準電圧発生器ユニットを更に具備し、前記基準電圧発生器ユニットは、
第1の出力電流源回路と、
前記第1の出力電流源回路に連結された第1の抵抗器と、
前記第1の抵抗器と前記第1の出力電流源回路との間に配置された第1の電圧基準出力ノードと、前記第1の電圧基準出力ノードは第1の基準電圧を生成することと、
負の電圧供給部に連結された第2の抵抗器と、
正の電圧供給部に連結された第2の出力電流源回路及び前記第1の抵抗器の少なくとも1つと、前記第2の抵抗器との間に配置された第2の電圧基準出力ノードと、前記第2の電圧基準出力ノードは第2の基準電圧を生成することと、
を具備することを特徴とする請求項4に記載の熱検知回路。 - 第1のバンドギャップ基準電圧、第2のバンドギャップ基準電圧、及び温度依存性電圧を生成するバンドギャップ電圧基準発生器回路と、
前記第1のバンドギャップ基準電圧及び前記温度依存性電圧に基づいて第1のコンパレータ出力を生成する第1のコンパレータと、
前記第2のバンドギャップ基準電圧及び前記温度依存性電圧に基づいて第2のコンパレータ出力を生成する第2のコンパレータと、
前記第1及び第2のコンパレータ出力を利用して指示信号を生成する制御回路と、
を具備することを特徴とする熱検知回路。 - 基準電圧発生器ユニットを具備するバンドギャップ電圧基準発生器回路を具備する集積回路であって、前記基準電圧発生器ユニットは、
第1の出力電流源回路と、
前記第1の出力電流源回路に連結された第1の抵抗器と、
前記第1の抵抗器と前記第1の出力電流源回路との間に配置された第1の電圧基準出力ノードと、前記第1の電圧基準出力ノードは第1の基準電圧を生成することと、
負の電圧供給部に連結された第2の抵抗器と、
正の電圧供給部に連結された第2の出力電流源回路及び前記第1の抵抗器の少なくとも1つと、前記第2の抵抗器との間に配置された第2の電圧基準出力ノードと、前記第2の電圧基準出力ノードは第2の基準電圧を生成することと、
を具備することを特徴とする集積回路。
Applications Claiming Priority (1)
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JP2004350290A true JP2004350290A (ja) | 2004-12-09 |
JP3808880B2 JP3808880B2 (ja) | 2006-08-16 |
Family
ID=33450066
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004150764A Active JP3808880B2 (ja) | 2003-05-20 | 2004-05-20 | 熱検知回路 |
Country Status (2)
Country | Link |
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US (2) | US7524108B2 (ja) |
JP (1) | JP3808880B2 (ja) |
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US9502969B2 (en) | 2015-01-19 | 2016-11-22 | Powerchip Technology Corporation | Negative reference voltage generating circuit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3808880B2 (ja) | 2006-08-16 |
US7524108B2 (en) | 2009-04-28 |
US20090174468A1 (en) | 2009-07-09 |
US7789558B2 (en) | 2010-09-07 |
US20040233600A1 (en) | 2004-11-25 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20051018 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
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Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090526 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100526 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120526 Year of fee payment: 6 |
|
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