JP2006242894A - 温度検出回路 - Google Patents

温度検出回路 Download PDF

Info

Publication number
JP2006242894A
JP2006242894A JP2005062433A JP2005062433A JP2006242894A JP 2006242894 A JP2006242894 A JP 2006242894A JP 2005062433 A JP2005062433 A JP 2005062433A JP 2005062433 A JP2005062433 A JP 2005062433A JP 2006242894 A JP2006242894 A JP 2006242894A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
field effect
circuit
effect transistor
effect transistors
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005062433A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshin Zen
容震 全
Hirobumi Watanabe
博文 渡辺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP2005062433A priority Critical patent/JP2006242894A/ja
Priority to US11/370,273 priority patent/US20060197581A1/en
Publication of JP2006242894A publication Critical patent/JP2006242894A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/01Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using semiconducting elements having PN junctions
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K2215/00Details concerning sensor power supply

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Abstract

【課題】 低電圧動作や低消費電力化を図ることができる高精度な温度検出回路を得る。
【解決手段】 第1の電圧源回路2は、2つの電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、負の温度係数を有する電圧VPNを生成して出力し、第2の電圧源回路3は、2つ又はそれ以上の電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、温度変化に依存しない基準電圧VREF1を生成して出力し、インピーダンス変換回路4は、電圧VPN及び基準電圧VREF1に対してそれぞれインピーダンス変換を行って減算回路5に出力し、減算回路5は、温度感度の上昇及び低電力化を実現するために、インピーダンス変換回路4を介して入力された、電圧VPNと基準電圧VREF1との減算及びその差分の増幅を行って出力電圧VOUTを生成し出力するようにした。
【選択図】 図1

Description

本発明は、低電圧動作や低消費電力動作を行うことができる高精度な温度検出回路に関する。
従来、温度検出回路としてバイポーラトランジスタを用いた絶対温度に比例する電圧源(PTAT:Proportional−To−Absolute−Temperature)回路が知られている。バイポーラトランジスタのベース・エミッタ間電圧Vbeは、温度上昇に伴って減少し、約−2mV/℃の負の温度係数を有する。バイポーラトランジスタがコレクタ電流i1でバイアスされるときのベース・エミッタ間電圧Vbeは次式で表される。
Vbe=(kT/q)×ln(i1/is)………………(a)
前記(a)式において、kはボルツマン定数、Tは絶対温度、qはキャリアの電荷量である。また、isはトランジスタの飽和電流であり、プロセスに大きく依存する。
しかし、下記(b)式で示すように異なったコレクタ電流i1とi2でバイアスされる2つのバイポーラトランジスタのベース・エミッタ間電圧の差を用いることでプロセス依存の大きい電流isの影響をなくすことができる。
Vptat=Vbe(i2)−Vbe(i1)=(kT/q)×ln(i2/is)−(kT/q)×ln(i1/is)=(kT/q)×ln(i2/i1)………………(b)
前記(b)式から分かるように、前記PTAT回路から出力される電圧Vptatは常数を除けば温度と電流比だけで決まるため、プロセスに依存せずに絶対温度に比例する電圧源を実現することができる。
初期のPTAT回路の場合、電源電圧12V消費電流は数mAのレベルであったが、最近では電源電圧の低下と共に消費電流も数百μAのレベルまで小さくなり、消費電力は1mW以下にまで下がってきた。例えば、CMOS温度センサ回路の場合、消費電力は約120μWであった(例えば、非特許文献1参照。)。
なお、従来の関連技術として、80℃以上の高温でも安定動作し、絶対温度に比例する電圧を発生する電界効果トランジスタを使用した電圧発生回路があった(例えば、特許文献1参照。)。
ピー・クルムネーチャー、エイチ・オグエイ(P.Krummenacher and H.Oguey)著, 「スマート・テンペレーチャー・センサ・イン・CMOS・テクノロジー(Smart temperature sensor in CMOS technology)」,センサー・アンド・アクチュエーターズ(Sensors and Actuators), VolA21−A23,pp6363−638,1990 特開2001−284464号公報
しかし、このような消費電力ではまだ大きく、特に温度検出回路においては自己発熱による温度検出誤差の発生、バッテリ駆動システムの場合におけるバッテリ寿命の劣化、VLSIチップへの温度センサ追加時におけるシステム全体の消費電力増加等の問題を抱えているため、できるだけ温度検出回路の低消費電力化を図ることが要求されていた。
本発明は、上記のような問題を解決するためになされたものであり、電界効果トランジスタの仕事関数差を用いて、正又は負の温度係数を有する電圧源回路と、温度係数を持たない基準電圧源回路と、それらの信号の減算かつ増幅を行う演算増幅回路を用いることによって、低電圧動作や低消費電力化を図ることができる高精度な温度検出回路を得ることを目的とする。
この発明に係る温度検出回路は、2つの電界効果トランジスタのゲート電極の仕事関数差を用いて、温度係数を有する第1電圧を生成する第1の電圧源回路と、
複数の電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、温度変化に依存しない所定の基準電圧を生成する第2の電圧源回路と、
前記第1電圧と該基準電圧との減算を行い、該差分を増幅する減算回路と、
を備えるものである。
具体的には、前記第1の電圧源回路は、高濃度n型ゲートを有する第1の電界効果トランジスタと、高濃度p型ゲートを有する第2の電界効果トランジスタとを備え、導電型の極性が異なるポリシリコンゲートを有する該第1及び第2の各電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、負の温度係数を有する第1電圧を生成するようにした。
また、前記第1の電圧源回路は、高濃度n型ゲートを有する第1の電界効果トランジスタと、低濃度n型ゲートを有する第2の電界効果トランジスタとを備え、導電型の極性が同一のポリシリコンゲートを有する該第1及び第2の各電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、正の温度係数を有する第1電圧を生成するようにしてもよい。
前記第1及び第2の各電界効果トランジスタは、チャネル長が異なるようにした。
一方、前記第2の電圧源回路は、高濃度n型ゲートを有する第3の電界効果トランジスタと、高濃度p型ゲートを有する第4の電界効果トランジスタとを備え、導電型の極性が異なるポリシリコンゲートを有する該第3及び第4の各電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、温度変化に依存しない基準電圧を生成するようにした。
この場合、前記第3及び第4の各電界効果トランジスタは、チャネル長が異なるようにした。
具体的には、前記第3及び第4の各電界効果トランジスタは、前記基準電圧が温度特性を有しないように各チャネル長の比が設定されるようにした。
また、前記第2の電圧源回路は、
高濃度n型ゲートを有する第1の電界効果トランジスタと、低濃度n型ゲートを有する第2の電界効果トランジスタとを備え、導電型の極性が同一のポリシリコンゲートを有する該第1及び第2の各電界効果トランジスタのゲート電極の仕事関数差を用いて正の温度係数を有する第1電圧を生成する第1電圧生成部と、
高濃度n型ゲートを有する第3の電界効果トランジスタと、高濃度p型ゲートを有する第4の電界効果トランジスタとを備え、導電型の極性が異なるポリシリコンゲートを有する該第3及び第4の各電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて負の温度係数を有する第2電圧を生成し、前記第1電圧と該第2電圧の各温度係数が相殺するように該各温度係数の傾きを調整して、温度変化に依存しない基準電圧を生成する基準電圧生成部と、
を備えるようにしてもよい。
この場合、前記第1電圧生成部は、前記第1の電圧源回路をなす。
また、前記第1及び第2の各電圧源回路で生成された第1電圧及び基準電圧に対してそれぞれインピーダンス変換を行って前記減算回路に出力するインピーダンス変換回路を備えるようにしてもよい。
また、前記第1の電圧源回路は、生成した第1電圧の降圧又は昇圧を行って電圧調整を行う電圧調整回路を備えるようにした。
また、前記第2の電圧源回路は、生成した基準電圧の降圧又は昇圧を行って電圧調整を行う電圧調整回路を備えるようにした。
また、前記第1電圧生成部は、生成した第1電圧の降圧又は昇圧を行って電圧調整を行う第1の電圧調整回路を備え、前記基準電圧生成部は、生成した基準電圧の降圧又は昇圧を行って電圧調整を行う第2の電圧調整回路を備えるようにした。
具体的には、前記電圧調整回路は、トリミングを行って抵抗値を可変する、電圧調整を行うための複数の抵抗回路を備えるようにした。
具体的には、前記第1及び第2の各電圧調整回路は、トリミングを行って抵抗値を可変する、電圧調整を行うための複数の抵抗回路をそれぞれ備えるようにした。
また、前記第1及び第2の各電圧源回路、並びに減算回路は1つのICに集積されるようにした。
本発明の温度検出回路によれば、2つの電界効果トランジスタのゲート電極の仕事関数差を用いて、温度係数を有する第1電圧を生成する第1の電圧源回路と、複数の電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、温度変化に依存しない所定の基準電圧を生成する第2の電圧源回路と、前記第1電圧と該基準電圧との減算を行い、該差分を増幅する減算回路とを備えるようにしたことから、低電圧動作や低消費電力化が可能な高精度な温度検出回路を得ることができる。
次に、図面に示す実施の形態に基づいて、本発明を詳細に説明する。
第1の実施の形態.
図1は、本発明の第1の実施の形態における温度検出回路の構成例を示した概略のブロック図である。
図1において、温度検出回路1は、第1の電圧源回路2と、第2の電圧源回路3と、インピーダンス変換回路4と、減算回路5とで構成されている。第1の電圧源回路2は、2つの電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、負の温度係数を有する電圧VPNを生成して出力する。第2の電圧源回路3は、2つ以上の電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、温度変化に依存しない基準電圧VREF1を生成して出力する。インピーダンス変換回路4は、電圧VPN及び基準電圧VREF1に対してそれぞれインピーダンス変換を行って減算回路5に出力する。減算回路5は、温度感度の上昇及び低消費電力化を実現するために、インピーダンス変換回路4を介して入力された、第1の電圧源回路2からの電圧VPNと第2の電圧源回路3からの基準電圧VREF1との減算及びその差分の増幅を行って出力電圧VOUTを生成し出力する。
インピーダンス変換回路4は、演算増幅回路AMP1,AMP2で構成されており、演算増幅回路AMP1の非反転入力端に電圧VPNが入力され、演算増幅回路AMP1の出力端は減算回路5の対応する一方の入力端に接続されている。また、演算増幅回路AMP2の非反転入力端に基準電圧VREF1が入力され、演算増幅回路AMP1の出力端は減算回路5の対応する他方の入力端に接続されている。演算増幅回路AMP1において、出力端は反転入力端に接続されてボルテージホロワを形成している。同様に、演算増幅回路AMP2においても、出力端は反転入力端に接続されてボルテージホロワを形成している。
また、減算回路5は、演算増幅回路AMPと、抵抗R1〜R4とで構成され、演算増幅回路AMPの非反転入力端と接地電圧との間に抵抗R2が接続され、演算増幅回路AMPの出力端と反転入力端との間に抵抗R4が接続されている。また、演算増幅回路AMPの非反転入力端には、インピーダンス変換された基準電圧VREF1が抵抗R1を介して入力され、演算増幅回路AMPの反転入力端には、インピーダンス変換された電圧VPNが抵抗R3を介して入力されている。
このような構成において、図2は、図1の各電圧の温度変化に対する特性を示した図である。図2から分かるように、電圧VPNは負の温度係数を有しており、基準電圧VREF1は温度係数を有しておらず、基準電圧VREF1から電圧VPNを減算した電圧(VREF1−VPN)及び該電圧(VREF1−VPN)を増幅した出力電圧VOUTはそれぞれ正の温度係数を有しており、電圧(VREF1−VPN)よりも出力電圧VOUTの方が温度係数は大きくなっている。
図3は、図1の第1の電圧源回路2の回路例を示した図である。
図3において、第1の電圧源回路2は、nチャネル型の電界効果トランジスタM1〜M4で構成され、電界効果トランジスタM1〜M4はデプレッション型のトランジスタである。なお、電界効果トランジスタM1は第1の電界効果トランジスタを、電界効果トランジスタM2は第2の電界効果トランジスタを、電圧VPNは第1電圧をそれぞれなす。電源電圧VDDと接地電圧との間には、電界効果トランジスタM1及びM2が直列に接続されると共に、電界効果トランジスタM3及びM4が直列に接続されている。電界効果トランジスタM1及びM3の各ゲートは接続され、該接続部は電界効果トランジスタM1のソースに接続されている。電界効果トランジスタM2のゲートは、電界効果トランジスタM3とM4との接続部に接続され、該接続部が電圧VPNを出力する出力端をなしている。また、電界効果トランジスタM4において、ゲートがソースに接続され、定電流源を形成している。
電界効果トランジスタM1及びM2は、基板やチャネルドープの不純物濃度は等しく、n型基板のpウェル内に形成され、各基板電圧はソース電圧と等しくなるように接続されている。電界効果トランジスタM1は、高濃度n型ゲートを有し、デプレッション動作するようにチャネルドープの不純物濃度が調整されているため、ゲートとソースを接続することにより定電流源を形成している。電界効果トランジスタM2は、高濃度p型ゲートを有し、nチャネル型の電界効果トランジスタM3及びM4からなるソースフォロア回路によってドレイン電圧が与えられ、電界効果トランジスタM2のゲート・ソース間電圧が電圧VPNとして出力される。
電界効果トランジスタM1及びM2のトランジスタサイズW(幅)/L(長さ)が等しくなるように設計することで、電界効果トランジスタM1及びM2はペア電界効果トランジスタとなる。該ペア電界効果トランジスタには同一の電流が流れるため、電界効果トランジスタM2のゲート・ソース間電圧である電圧VPNは、電界効果トランジスタM1及びM2の各ゲート仕事関数の差となり、電界効果トランジスタM1及びM2における各ゲート仕事関数の温度特性の違いから負の温度係数を有する。
図4は、電圧VPNの温度特性例を示しており、図4では、横軸は温度(℃)、縦軸は電圧(V)であり、電圧VPNの温度感度(温度係数)は、例えば−0.49mV/℃である。
ここで、導電型の極性が異なるポリシリコンゲートを有する前記2つのペア電界効果トランジスタM1及びM2のチャネル長の比を変えることによって、電圧VPNの温度係数を変えることができる。一般に、温度検出回路の重要な特性である出力精度の向上のためには、温度変化に対応する電圧変化(温度係数)をできるだけ大きくして温度変化に対する感度を高くすることが望ましい。
図5は、電界効果トランジスタM1及びM2のチャネル長Lの比と電圧VPNの温度係数TCRとの関係例を示した図である。
図5から分かるように、出力電圧VPNの温度係数TCRはチャネル長Lの比に応じて変化するため、チャネル長Lの比を調整することにより所望の温度係数を得ることができる。したがって、チャネル長L比を選択することによって電圧VPNの温度係数TCRをより大きくすることが可能であり、温度検出回路の温度検出精度の向上を図ることができる。
また、図5から分かるように、電界効果トランジスタM1及びM2のチャネル長の比によって電圧VPNの温度係数TCRを0にすることができる。このことから、図3において、電圧VPNの温度係数TCRが0になるように電界効果トランジスタM1及びM2のチャネル長の比を設定することによって、図1の第2の電圧源回路3を形成することができる。
図6は、このようにした場合の第2の電圧源回路3の回路例を示した図であり、図6では、図3と同じもの又は同様のものは同じ符号で示している。
図6において、第2の電圧源回路3は、nチャネル型の電界効果トランジスタM11,M12,M3及び抵抗R11,R12で構成され、電界効果トランジスタM11,M12,M3はデプレッション型のトランジスタである。なお、電界効果トランジスタM11は第3の電界効果トランジスタを、電界効果トランジスタM12は第4の電界効果トランジスタを、抵抗R11及びR12は電圧調整回路をそれぞれなす。
電源電圧VDDと接地電圧との間には、電界効果トランジスタM11及びM12が直列に接続されると共に、電界効果トランジスタM3、抵抗R11及びR12が直列に接続されている。電界効果トランジスタM11及びM3の各ゲートは接続され、該接続部は電界効果トランジスタM11のソースに接続されている。電界効果トランジスタM12のゲートは、電界効果トランジスタM3と抵抗R11との接続部に接続され、該接続部に基準電圧VREFが入力される。該基準電圧VREFは、抵抗R11及びR12で分圧され、基準電圧VREF1として出力される。
電界効果トランジスタM11及びM12は、基板やチャネルドープの不純物濃度は等しく、n型基板のpウェル内に形成され、各基板電圧はソース電圧と等しくなるように接続されている。電界効果トランジスタM11は、高濃度n型ゲートを有し、デプレッション動作するようにチャネルドープの不純物濃度が調整されているため、ゲートとソースを接続することにより定電流源を形成している。電界効果トランジスタM12は、高濃度p型ゲートを有し、nチャネル型の電界効果トランジスタM3及びM4からなるソースフォロア回路によってドレイン電圧が与えられ、電界効果トランジスタM2のゲート・ソース間電圧が基準電圧VREFとして出力される。
電界効果トランジスタM11及びM12には同一の電流が流れるため、電界効果トランジスタM12のゲート・ソース間電圧が基準電圧VREFとなり、基準電圧VREFの温度係数TCRが0になるように電界効果トランジスタM11及びM12のチャネル長の比が設定されている。このようにすることにより、抵抗R11及びR12の抵抗値の比を変えることによって、基準電圧VREF1の電圧調整を行うことができる。
ここで、図6では、基準電圧VREFを降圧させるようにして基準電圧VREF1の電圧を調整するようにしたが、図7で示すように、電界効果トランジスタM12のゲートを、抵抗R11とR12との接続部に接続し、該接続部に基準電圧VREFが入力され、電界効果トランジスタM3と抵抗R11との接続部から基準電圧VREF1を出力するようにしてもよい。このようにすることにより、抵抗R11及びR12の抵抗値の比を変えることによって、基準電圧VREFよりも大きい基準電圧VREF1を生成して電圧調整を行うことができる。
また、ヒューズを選択的に接続することによって、基準電圧VREFを降圧又は昇圧させて基準電圧VREF1の電圧調整を行うことができるようにしてもよく、このようにした場合、図6及び図7の第2の電圧源回路3は図8のようになる。
図8において、第2の電圧源回路3は、nチャネル型の電界効果トランジスタM11,M12,M3、抵抗R11,R12及びヒューズF1,F2で構成される。なお、抵抗R11,R12及びヒューズF1,F2は電圧調整回路をなす。抵抗R11に並列にヒューズF1とF2の直列回路が接続され、ヒューズF1とF2との接続部に電界効果トランジスタM12のゲートが接続されている。
このようにすることにより、図8は、ヒューズF2のみを切断して抵抗R11とR12との接続部から基準電圧VREF1を出力すると図6と同じ回路になり、ヒューズF1のみを切断して電界効果トランジスタM3と抵抗R11との接続部から基準電圧VREF1を出力すると図7と同じ回路になり、基準電圧VREFを昇圧又は降圧させるようにして基準電圧VREF1の電圧調整を行うことができ、図6又は図7の場合よりも基準電圧VREF1の電圧調整範囲を広くすることができる。なお、図6〜図8では、基準電圧VREFの電圧を昇圧又は降圧して基準電圧VREF1を生成するようにしたが、基準電圧VREFを基準電圧VREF1として使用する場合は、図3の電界効果トランジスタM1及びM2を電界効果トランジスタM11及びM12に置き換えるだけでもよい。
図9は、図1の第1の電圧源回路2の他の回路例を示した図である。なお、図9では、図3と同じもの又は同様のものは同じ符号で示している。
図9において、第1の電圧源回路2は、nチャネル型の電界効果トランジスタM1及びM2で構成され、電界効果トランジスタM1及びM2はデプレッション型のトランジスタである。電源電圧VDDと接地電圧との間には、電界効果トランジスタM1及びM2が直列に接続され、電界効果トランジスタM1及びM2の各ゲートは接続され、該接続部は、電界効果トランジスタM1及びM2の接続部に接続されて電圧VPNを出力する出力端をなしている。
電界効果トランジスタM1及びM2は、基板やチャネルドープの不純物濃度が等しく、n型基板のpウェル内に形成され、各基板電圧はソース電圧に等しくなるようにしてある。電界効果トランジスタM1は、高濃度n型ゲートを有し、デプレッション動作するようにチャネルドープの不純物濃度が調整されているため、ゲートとソースを接続することによって定電流源となる。電界効果トランジスタM2は、高濃度p型ゲートでゲートとドレインが接続され、電界効果トランジスタM2のゲート・ソース間電圧が電圧VPNとして出力される。図9のような回路においても、電界効果トランジスタM1及びM2はトランジスタサイズW/Lが等しくなるように設計されていることから、電界効果トランジスタM1及びM2はペア電界効果トランジスタとなり、ペア電界効果トランジスタには同一の電流が流れるため、電界効果トランジスタM2のゲート・ソース間電圧は、電界効果トランジスタM1とM2とのゲート仕事関数の差である電圧VPNになる。
図9においても、図3の場合と同様、電圧VPNの温度係数TCRが0になるように電界効果トランジスタM1及びM2のチャネル長の比を設定することによって、図1の第2の電圧源回路3を形成することができる。
図10は、このようにした場合の第2の電圧源回路3の回路例を示した図であり、図10では、図6と同じもの又は同様のものは同じ符号で示している。
図10において、第2の電圧源回路3は、nチャネル型の電界効果トランジスタM11,M12、演算増幅回路AMP3及び抵抗R15,R16で構成されている。なお、演算増幅回路AMP3及び抵抗R15,R16は電圧調整回路をなす。電源電圧VDDと接地電圧との間には、電界効果トランジスタM11及びM12が直列に接続され、電界効果トランジスタM11及びM12の各ゲートは接続され、該接続部は、電界効果トランジスタM11及びM12の接続部に接続されて基準電圧VREFを出力する。
演算増幅回路AMP3の非反転入力端に基準電圧VREFが入力され、演算増幅回路AMP3の出力端は、減算回路5における抵抗R1を介して演算増幅回路AMPの非反転入力端に接続されている。演算増幅回路AMP3の出力端と接地電圧との間には、抵抗R15及びR16が直列に接続されており、抵抗R15とR16との接続部は演算増幅回路AMP3の反転入力端に接続されている。演算増幅回路AMP3の出力端からは、抵抗R15及びR16によって基準電圧VREFがインピーダンス変換されて昇圧された基準電圧VREF1が出力される。
このような構成から、図10の第2の電圧源回路3を使用する場合は、図1のインピーダンス変換回路4において、演算増幅回路AMP2は不要になる。なお、図10では、基準電圧VREFの電圧を昇圧して基準電圧VREF1を生成するようにしたが、基準電圧VREFを基準電圧VREF1として使用する場合は、図9の電界効果トランジスタM1及びM2を電界効果トランジスタM11及びM12に置き換えるだけでもよい。ただし、この場合、図1のインピーダンス変換回路4において、演算増幅回路AMP2が必要になる。
図11は、図1の第1の電圧源回路2の他の回路例を示した図であり、図11では、図3若しくは図9と同じもの又は同様のものは同じ符号で示している。
図11において、第1の電圧源回路2は、nチャネル型の電界効果トランジスタM1,M2,M4、pチャネル型の電界効果トランジスタM5〜M7及び定電流源7で構成されている。電界効果トランジスタM1及びM2は、基板やチャネルドープの不純物濃度は等しく、n型基板のpウェル内に形成され、各電界効果トランジスタの基板電圧はソース電圧と等しくなるように形成されている。電界効果トランジスタM1は、高濃度n型ゲートを有し、電界効果トランジスタM2は高濃度p型ゲートを有している。
電界効果トランジスタM1及びM2のトランジスタサイズW/Lが等しくなるように設計することにより、電界効果トランジスタM1及びM2は、ペア電界効果トランジスタとなる。該ペア電界効果トランジスタM1及びM2は、差動増幅器の入力トランジスタをなし、更にpチャネル型電界効果トランジスタM5及びM6でカレントミラー回路が形成されており、該差動増幅器の出力電圧VPNは、pチャネル型電界効果トランジスタM7との間でフィードバックループが形成されている。ペア電界効果トランジスタM1とM2は、前記差動増幅器の入力トランジスタをそれぞれなし、該差動増幅器は負の温度係数を有する電圧VPNの入力オフセットを持っている。
図11においても、図3の場合と同様、電圧VPNの温度係数TCRが0になるように電界効果トランジスタM1及びM2のチャネル長の比を設定することによって、図1の第2の電圧源回路3を形成することができる。
図12は、このようにした場合の第2の電圧源回路3の回路例を示した図であり、図12では、図6若しくは図11と同じもの又は同様のものは同じ符号で示している。
図12において、第2の電圧源回路3は、nチャネル型の電界効果トランジスタM11,M12、pチャネル型の電界効果トランジスタM5〜M7、定電流源7及び抵抗R21,R22で構成されている。なお、抵抗R21,R22は電圧調整回路をなす。
電界効果トランジスタM11及びM12は、差動増幅器の入力トランジスタをなし、更にpチャネル型電界効果トランジスタM5及びM6でカレントミラー回路が形成されており、該差動増幅器の出力電圧VREFは、pチャネル型電界効果トランジスタM7との間でフィードバックループが形成されている。電界効果トランジスタM11とM12は、前記差動増幅器の入力トランジスタをそれぞれなし、該差動増幅器は温度係数0の基準電圧VREFの入力オフセットを持っている。該基準電圧VREFは、抵抗R21及びR22で分圧され、基準電圧VREF1として出力される。
ここで、図12では、基準電圧VREFを降圧させるようにして基準電圧VREF1の電圧を調整するようにしたが、図13で示すように、電界効果トランジスタM12のゲートを、抵抗R21とR22との接続部に接続し、該接続部に基準電圧VREFが入力され、電界効果トランジスタM7と抵抗R21との接続部から基準電圧VREF1を出力するようにしてもよい。このようにすることにより、抵抗R21及びR22の抵抗値の比を変えることによって、基準電圧VREFよりも大きい基準電圧VREF1を生成して電圧調整を行うことができる。
また、ヒューズを選択的に接続することによって、基準電圧VREFを降圧又は昇圧させて基準電圧VREF1の電圧調整を行うことができるようにしてもよく、このようにした場合、図12及び図13の第2の電圧源回路3は図14のようになる。
図14において、第2の電圧源回路3は、nチャネル型の電界効果トランジスタM11,M12、pチャネル型の電界効果トランジスタM5〜M7、定電流源7、抵抗R21,R22及びヒューズF1,F2で構成される。なお、抵抗R21,R22及びヒューズF1,F2は電圧調整回路をなす。抵抗R21に並列にヒューズF1とF2の直列回路が接続され、ヒューズF1とF2との接続部に電界効果トランジスタM12のゲートが接続されている。
このようにすることにより、図14は、ヒューズF2のみを切断して抵抗R21とR22との接続部から基準電圧VREF1を出力すると図12と同じ回路になり、ヒューズF1のみを切断して電界効果トランジスタM7と抵抗R21との接続部から基準電圧VREF1を出力すると図13と同じ回路になり、基準電圧VREFを昇圧又は降圧させるようにして基準電圧VREF1の電圧調整を行うことができ、図12又は図13の場合よりも基準電圧VREF1の電圧調整範囲を広くすることができる。なお、図12〜図14では、基準電圧VREFの電圧を昇圧又は降圧して基準電圧VREF1を生成するようにしたが、基準電圧VREFを基準電圧VREF1として使用する場合は、図11の電界効果トランジスタM1及びM2を電界効果トランジスタM11及びM12に置き換えるだけでもよい。
図15は、図1の温度検出回路1の具体的な回路例を示した図である。なお、図15では、第1の電圧源回路2に図3の回路を、第2の電圧源回路3に図10の回路をそれぞれ使用した場合を例にして示している。
図15において、第1の電圧源回路2は、nチャネル型電界効果トランジスタM1〜M4で形成されており、図3の回路と同様であるのでその説明を省略する。また、第2の電圧源回路3は、nチャネル型の電界効果トランジスタM11,M12、演算増幅回路AMP3及び抵抗R15,R16で形成されており、図10の回路と同様であるのでその説明を省略する。第2の電圧源回路3に図10の回路を使用したことから、インピーダンス変換回路4においては、図10の説明で示したように、演算増幅回路AMP2は省略され、演算増幅回路AMP1のみで構成されている。
減算回路5は、演算増幅回路AMPと、抵抗R1〜R4とで構成され、演算増幅回路AMPは、差動対をなすエンハンスメント型のnチャネル型電界効果トランジスタM21,M22、nチャネル型電界効果トランジスタM21,M22の負荷をなすエンハンスメント型のpチャネル型電界効果トランジスタM23,M24、及び電界効果トランジスタM21,M22に定電流を供給する定電流源21からなる差動増幅段と、エンハンスメント型のpチャネル型電界効果トランジスタM25、及び定電流源をなすデプレッション型のnチャネル型電界効果トランジスタM26からなる増幅段とで構成されている。電界効果トランジスタM21のゲートは演算増幅回路AMPの非反転入力端をなし、電界効果トランジスタM22のゲートは演算増幅回路AMPの反転入力端をなしている。
電界効果トランジスタM21及びM22の各ソースは接続され、該接続部と接地電圧との間に定電流源21が接続されている。電源電圧VDDと電界効果トランジスタM21のドレインとの間には電界効果トランジスタM23が接続され、電源電圧VDDと電界効果トランジスタM22のドレインとの間には電界効果トランジスタM24が接続されている。電界効果トランジスタM23及びM24はカレントミラー回路を形成しており、電界効果トランジスタM23及びM24の各ゲートは接続され、該接続部は電界効果トランジスタM24のドレインに接続されている。
電源電圧VDDと接地電圧との間には、電界効果トランジスタM25とM26が直列に接続され、電界効果トランジスタM25のゲートは、電界効果トランジスタM23とM21との接続部に接続されている。また、電界効果トランジスタM26において、ゲートはソースに接続され、電界効果トランジスタM25とM26との接続部が、演算増幅回路AMPの出力端をなし出力電圧VOUTが出力される。第2の電圧源回路3からの基準電圧VREF1は、抵抗R1とR2で分圧されて電界効果トランジスタM21のゲートに入力され、第1の電圧源回路2からの電圧VPNは、演算増幅回路AMP1でインピーダンス変換された後、抵抗R3を介して電界効果トランジスタM22のゲートに入力され、演算増幅回路AMPの出力電圧VOUTを帰還抵抗R4を介して電界効果トランジスタM22のゲートに戻す構成をなしている。
このような構成において、図15の各電圧の温度変化に対する特性は図2のようになる。電圧VPNは、負の温度係数を有するため温度上昇と共に減少する。一方、基準電圧VREF1は、温度係数を持たないため温度に対して変化せず一定の電圧となる。出力電圧VOUTは、基準電圧VREF1と電圧VPNを減算した後、抵抗比をかけた値になり、下記(1)式で示すことができる。
VOUT=n×(VREF1−VPN)………………(1)
なお、nは、抵抗比であり、抵抗R1〜R4の抵抗値をr1〜r4で示すと、r1=r3とr2=r4の条件において、r2/r1(=r4/r3)の比で決まる。
ここで、図15の温度検出回路1の低電圧動作を数値を用いて具体的に説明する。
前述したように、電圧VPNの温度係数は約−0.49mV/℃と小さいため、温度検出回路1の温度感度を上げるためには温度係数を大きくする必要がある。温度範囲0℃〜100℃において、電圧VPNは約1V〜0.95Vの電圧範囲となり、例えば温度係数を5mV/℃にするためには、電圧VPNを約10倍に増幅しなければならない。仮に、電圧VPNをそのまま10倍すると、電圧VPNは、10V〜9.5Vの非常に高い電圧範囲になる。一方、図15の温度検出回路1は、前記(1)式のように、まず基準電圧VREF1と電圧VPNとの差分を作り、該差分を増幅することによって低電圧動作を実現している。
次に、図15の温度検出回路1の最低動作電圧について考える。
図15の温度検出回路1の最低動作電圧Vminは、電界効果トランジスタM1のドレイン・ソース間電圧VdsM1と、電界効果トランジスタM3のゲート・ソース間電圧VgsM3と、電圧VPNとの和になり、下記(2)式で表される。
Vmin=VdsM1+VgsM3+VPN
=(VgsM1−VthM1)+VgsM3+VPN
=−VthM1+VgsM3+VPN………………(2)
なお、前記(2)式において、VthM1は電界効果トランジスタM1のしきい値電圧であり、VgsM1は電界効果トランジスタM1のゲート・ソース間電圧である。
ここで、電界効果トランジスタM1のゲート・ソース間電圧VgsM1は、ゲートとソースが接続されていることから0になる。電界効果トランジスタM1〜M3の各しきい値電圧がすべて−0.4Vであり、電圧VPNが1Vである場合、最低動作電圧Vminは、下記(3)式のようになる。
Vmin=−VthM1+VgsM3+VPN
=−(−0.4)+VgsM3+1
=1.4V+VgsM3………………(3)
したがって、最終的な最低動作電圧Vminは、電界効果トランジスタM3のゲート・ソース間電圧VgsM3によって決まり、例えば、ゲート・ソース間電圧VgsM3が−0.4Vの場合、約1Vの低い電圧で回路動作が可能になる。この場合、温度検出回路1の消費電流は約3μAであるため、消費電力は3μA×1V=3μWとなる。このように、本第1の実施の形態における温度検出回路は、低電圧動作及び低消費電力化を実現することができる。
なお、図15において、第1の電圧源回路2として、図9又は図11の回路を使用してもよく、第2の電圧源回路3として図6〜8及び図12〜14のいずれかの回路を使用してもよい。
ただし、第2の電圧源回路3として図6〜8及び図12〜14のいずれかの回路を使用する場合は、図1で示したように、第2の電圧源回路3からの基準電圧VREF1は、インピーダンス変換回路4の演算増幅回路AMP2でインピーダンス変換された後、抵抗R1に入力される。
また、前記説明では、インピーダンス変換回路4を使用した場合を例にして説明したが、インピーダンス変換を行う必要がない場合は、インピーダンス変換回路4を省略してもよい。この場合、第1の電圧源回路2からの電圧VPNは抵抗R3に直接入力され、第2の電圧源回路3からの基準電圧VREF1は抵抗R1に直接入力される。
なお、前記説明では、減算回路を使用した場合を例にして示したが加算回路を使用してもよく、このようにした場合、図1は、図16のようになる。なお、図16では、図1と同じもの又は同様のものは図1と同じ符号で示しており、ここではその説明を省略する。
図16において、温度検出回路1は、第1の電圧源回路2と、第2の電圧源回路3と、インピーダンス変換回路4と、加算回路7とで構成されている。インピーダンス変換回路4は、電圧VPN及び基準電圧VREF1に対してそれぞれインピーダンス変換を行って加算回路7に出力する。加算回路7は、温度感度の上昇及び低消費電力化を実現するために、インピーダンス変換回路4を介して入力された、第1の電圧源回路2からの電圧VPNと第2の電圧源回路3からの基準電圧VREF1との加算及び増幅を行って出力電圧VOUTを生成し出力する。
加算回路7は、演算増幅回路AMPと、抵抗R5〜R8とで構成され、演算増幅回路AMPの出力端と接地電圧との間に抵抗R7とR8が直列に接続され、抵抗R7とR8との接続部は、演算増幅回路AMPの反転入力端に接続されている。また、演算増幅回路AMPの非反転入力端には、インピーダンス変換された電圧VPNが抵抗R5を介して入力されると共に、インピーダンス変換された基準電圧VREF1が抵抗R6を介して入力されている。
このような構成において、電圧VPNは、負の温度係数を有するため温度と共に減少する。一方、基準電圧VREF1は、温度係数を持たないため温度に対して変化せず一定の電圧となる。ここで、演算増幅回路AMPの非反転入力端への入力電圧は、(VPN+VREF1)/2になり、すべての温度範囲において電圧VPNと基準電圧VREF1とを加算した値の半分の値になる。出力電圧VOUTは、演算増幅回路AMPの出力を抵抗R7及びR8を介して負帰還させることにより、下記(4)式のようになり、電圧VPNと基準電圧VREF1を加算した値になる。
VOUT={(VPN+VREF)/2}×2
=VPN+VREF………………(4)
第2の実施の形態.
前記第1の実施の形態では、第1の電圧源回路2に負の温度係数を有する電圧VPNを生成する回路を使用したが、第1の電圧源回路2に正の温度係数を有する電圧VTEMPを生成する回路を使用してもよく、このようにしたものを本発明の第2の実施の形態とする。
図17は、本発明の第2の実施の形態における温度検出回路の構成例を示した概略のブロック図である。なお、図17では、図1と同じもの又は同様のものは同じ符号で示している。
図17において、温度検出回路1aは、第1の電圧源回路2aと、第2の電圧源回路3aと、インピーダンス変換回路4と、減算回路5aとで構成されている。第1の電圧源回路2aは、2つの電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、環境温度の変化に対して正の温度係数を有する電圧VTEMPを生成して出力する。第2の電圧源回路3aは、2つ以上の電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、温度変化に依存しない基準電圧VREF2を生成して出力する。インピーダンス変換回路4は、電圧VTEMP及び基準電圧VREF2に対してそれぞれインピーダンス変換を行って減算回路5aに出力する。減算回路5aは、温度感度の上昇及び低電力化を実現するために、インピーダンス変換回路4を介して入力された、第1の電圧源回路2aからの電圧VTEMPと第2の電圧源回路3aからの基準電圧VREF2との減算及びその差分の増幅を行って出力電圧VOUTを生成し出力する。
インピーダンス変換回路4は、演算増幅回路AMP1,AMP2で構成されており、演算増幅回路AMP1の非反転入力端に基準電圧VREF2が入力され、演算増幅回路AMP1の出力端は減算回路5aの対応する一方の入力端に接続されている。また、演算増幅回路AMP2の非反転入力端に電圧VTEMPが入力され、演算増幅回路AMP2の出力端は減算回路5aの対応する他方の入力端に接続されている。演算増幅回路AMP1において、出力端は反転入力端に接続されてボルテージホロワを形成している。同様に、演算増幅回路AMP2においても、出力端は反転入力端に接続されてボルテージホロワを形成している。
また、減算回路5aは、演算増幅回路AMPと、抵抗R31〜R34とで構成され、演算増幅回路AMPの非反転入力端と接地電圧との間に抵抗R32が接続され、演算増幅回路AMPの出力端と反転入力端との間に抵抗R34が接続されている。また、演算増幅回路AMPの非反転入力端には、インピーダンス変換された電圧VTEMPが抵抗R31を介して入力され、演算増幅回路AMPの反転入力端には、インピーダンス変換された基準電圧VREF2が抵抗R33を介して入力されている。
このような構成において、図18は、図17の各電圧の温度変化に対する特性を示した図である。図18から分かるように、電圧VTEMPは正の温度係数を有しており、基準電圧VREF2は温度係数を有しておらず、電圧VTEMPから基準電圧VREF2を減算した電圧(VTEMP−VREF2)及び該電圧(VTEMP−VREF2)を増幅した出力電圧VOUTはそれぞれ正の温度係数を有しており、電圧(VTEMP−VREF2)よりも出力電圧VOUTの方が温度係数は大きくなっている。
図19は、図17の第1の電圧源回路2aの回路例を示した図である。
図19において、第1の電圧源回路2aは、nチャネル型の電界効果トランジスタM31〜M33と抵抗R41,R42で構成され、電界効果トランジスタM31及びM32はデプレッション型のトランジスタであり、電界効果トランジスタM33はエンハンスメント型のトランジスタである。なお、電界効果トランジスタM31は第1の電界効果トランジスタを、電界効果トランジスタM32は第2の電界効果トランジスタを、電圧VNNは第1電圧を、抵抗R41,R42は電圧調整回路をそれぞれなす。電源電圧VDDと接地電圧との間には、電界効果トランジスタM31及びM32が直列に接続されると共に、電界効果トランジスタM33、抵抗R41及びR42が直列に接続されている。電界効果トランジスタM31及びM33の各ゲートは接続され、該接続部は電界効果トランジスタM31のソースに接続されている。電界効果トランジスタM32のゲートは、抵抗R41とR42との接続部に接続され、電界効果トランジスタM33と抵抗R41との接続部が電圧VTEMPを出力する出力端をなしている。
電界効果トランジスタM31及びM32は、基板やチャネルドープの不純物濃度が等しく、n型基板のpウェル内にそれぞれ形成され、各基板電圧がソース電圧に等しくなるようにしてある。電界効果トランジスタM31は、高濃度n型ゲートを有し、デプレッション動作するようにチャネルドープの不純物濃度が調整されているため、ゲートとソースを接続することにより定電流源をなしている。電界効果トランジスタM32は、低濃度n型ゲートを有し、nチャネル型の電界効果トランジスタM33と抵抗R41,R42とからなるソースフォロア回路によってドレイン電圧が印加され、電界効果トランジスタM32のゲート・ソース間電圧が電圧VNNとして、また電界効果トランジスタM33のソース電圧が電圧VTEMPとしてそれぞれ出力される。
電界効果トランジスタM31及びM32のトランジスタサイズW/Lが等しくなるように設計することで、電界効果トランジスタM31及びM32はペア電界効果トランジスタとなる。該ペア電界効果トランジスタには同一の電流が流れるため、電界効果トランジスタM32のゲート・ソース間電圧である電圧VNNは、電界効果トランジスタM31及びM32の各ゲート仕事関数の差となり、電界効果トランジスタM31及びM32における各ゲート仕事関数の温度特性の違いから正の温度係数を有する。また、電圧VTEMPは、抵抗R41及びR42の各抵抗値をr41及びr42とすると、{(r41+r42)/r42}×VNNとなり、電圧VNNを抵抗分割回路によって増幅した正の温度係数を有する電圧となる。図20は、電圧VNNの温度特性を示しており、横軸は温度(℃)、縦軸は電圧(V)であり、電圧VNNの温度係数は例えば0.17mV/℃である。
図21は、図17の第1の電圧源回路2aの他の回路例を示した図である。なお、図21では、図19と同じもの又は同様のものは同じ符号で示している。
図21において、第1の電圧源回路2aは、nチャネル型の電界効果トランジスタM31,M32、pチャネル型の電界効果トランジスタM35〜M37、定電流源31及び抵抗R41,R42で構成されている。電界効果トランジスタM31及びM32は、基板やチャネルドープの不純物濃度は等しく、n型基板のpウェル内に形成され、各電界効果トランジスタの基板電圧はソース電圧と等しくなるように形成されている。電界効果トランジスタM1は、高濃度n型ゲートを有し、電界効果トランジスタM2は低濃度n型ゲートを有している。
電界効果トランジスタM31及びM32のトランジスタサイズW/Lが等しくなるように設計することにより、電界効果トランジスタM31及びM32は、ペア電界効果トランジスタとなる。該ペア電界効果トランジスタM31及びM32は、差動増幅器の入力トランジスタをなし、更にpチャネル型電界効果トランジスタM35及びM36でカレントミラー回路が形成されており、該差動増幅器の出力電圧VNNは、pチャネル型電界効果トランジスタM37との間でフィードバックループが形成されている。また、所望の電圧VTEMPは、抵抗R41と抵抗R42で分圧することによって調整することができる。
ペア電界効果トランジスタM31とM32は、前記差動増幅器の入力トランジスタをそれぞれなし、該差動増幅器は正の温度係数を有する電圧VNNの入力オフセットを持っている。また、電圧VTEMPは、{(r41+r42)/r42}×VNNとなり、電圧VNNを抵抗分割回路によって増幅した正の温度係数を有する信号となる。
ここで、導電型の極性が同じであるポリシリコンゲートを有する前記2つのペア電界効果トランジスタM31及びM32のチャネル長の比を変えることによって、電圧VPNの場合と同様に電圧VNNの温度係数を変えることができる。2つの電界効果トランジスタM31,M32のチャネル長Lの比を変えることで、より大きな温度係数を得ることができ、温度検出回路の出力精度の向上を図ることができる。
次に、図22は、図17の第2の電圧源回路3aの回路例を示した図である。図22の場合、第2の電圧源回路3aの構成に第1の電圧源回路2aの構成が含まれている。図22では、第1の電圧源回路2aに図19の回路を使用し、第1の電圧源回路2aで生成した電圧VNNを使用して図12と同様の構成の回路で基準電圧VREF2を生成する場合を例にして示しており、図12若しくは図19と同じもの又は同様のものは同じ符号で示している。
図22において、第2の電圧源回路3aは、正の温度係数を有する電圧VNNに比例した電圧VNN2を生成する第1の電圧源回路3aの構成をなしたVNN2生成回路部31と、該電圧VNN2を使用して基準電圧VREF2を生成するVREF2生成回路部32とを備えている。なお、VNN2生成回路部31は第1電圧生成部を、VREF2生成回路部32は基準電圧生成部をそれぞれなす。
VNN2生成回路部31は、nチャネル型の電界効果トランジスタM31〜M33と抵抗R41,R42で構成され、電界効果トランジスタM31,M32はデプレッション型であり、電界効果トランジスタM33はエンハンスメント型である。なお、VNN2生成回路部31では、電界効果トランジスタM33と抵抗R41との接続部の電圧をVNN2とした以外は図19と同じであるのでその説明を省略する。
一方、VREF2生成回路部32は、nチャネル型の電界効果トランジスタM1,M2、pチャネル型の電界効果トランジスタM5〜M7、定電流源7及び抵抗R43,R44で構成されている。なお、図22の場合、抵抗R41,R42が第1の電圧調整回路を、抵抗R43,R44は第2の電圧調整回路をそれぞれなす。
電界効果トランジスタM1及びM2は、基板やチャネルドープの不純物濃度が等しく、n型基板のpウェル内に形成され、各基板電圧はソース電圧に等しくなるように接続されている。電界効果トランジスタM1は高濃度n型ゲートを有し、電界効果トランジスタM2は高濃度p型ゲートを有している。ペア電界効果トランジスタM1及びM2は、差動増幅器の入力トランジスタをなし、pチャネル型の電界効果トランジスタM5及びM6はカレントミラー回路を形成しており、該差動増幅器には、pチャネル型の電界効果トランジスタM7との間でフィードバックループが形成されている。所望の基準電圧VREF2は、抵抗R43と抵抗R44の抵抗値を変えることにより調整することができる。
このような構成において、正の温度係数を有した電圧VNN2を生成するVNN2生成回路部31を構成するペア電界効果トランジスタM31及びM32には同一の電流が流れるため、電界効果トランジスタM32のゲート・ソース間電圧は、電界効果トランジスタM31とM32とのしきい値電圧の差である電圧VNNとなり、2つの電界効果トランジスタM31及びM32の温度特性の違いから正の温度係数を持つ信号となる。また、抵抗R41の抵抗値をr41とし、抵抗R42の抵抗値をr42とすると、電圧VNN2は、(r41+r42)/r42×VNNとなり、電圧VNNを抵抗R41によって増幅した同じく正の温度係数を持つ電圧となる。
一方、VREF2生成回路部32は、差動増幅器の入力トランジスタとしてペア電界効果トランジスタM1,M2を使用し、電界効果トランジスタM5,M6でカレントミラー回路を構成していることから、ペア電界効果トランジスタM1,M2にはそれぞれ同一の電流が流れ、該差動増幅器は負の温度係数を有した電圧VPNの入力オフセットを持つ。したがって、電界効果トランジスタM1のゲートには電圧VNN2が入力され、電圧VPNのオフセットを持つ差動増幅器と電界効果トランジスタM7とのフィードバックループにより、電界効果トランジスタM2のゲート電圧は、基準電圧VREF(={(r41+r42)/r42×VNN}+VPN)として出力される。該基準電圧VREFは、電圧VNNとVPNの各温度係数が相殺されるように、電圧VNN及びVPNの各温度係数が設定されている。また、抵抗R43の抵抗値をr43とし、抵抗R44の抵抗値をr44とすると、所望の基準電圧VREF2は、(r44/(r43+r44))の抵抗比で調整することができる。
次に、図23は、図17の温度検出回路1aの具体的な回路例を示した図である。図23では、第1の電圧源回路2a及び第2の電圧源回路3aに図22の回路を使用した場合を例にして示しているが、電圧VNNから電圧VNN2よりも大きい電圧VTEMPを生成するために、電界効果トランジスタM33のソースと抵抗R41との間に抵抗R45を追加している。
図23において、第1の電圧源回路2a及び第2の電圧源回路3aは図22の回路と同様であるのでその説明を省略する。なお、第1の電圧源回路2aに図19の回路を使用し、第2の電圧源回路3aに図6〜図8、図10及び図12〜図14の回路を使用してもよい。ただし、第2の電圧源回路3aとして図10の回路を使用する場合は、インピーダンス変換回路4の演算増幅回路AMP1を省略し、基準電圧VREF2が直接抵抗R33に入力されるようにする。
減算回路5aは、演算増幅回路AMPと、抵抗R31〜R34とで構成され、抵抗R1〜R4を抵抗R31〜R34に置き換えた以外は図15で示した減算回路5と同様である。電圧VTEMPは、演算増幅回路AMP2でインピーダンス変換された後、抵抗R31とR32で分圧されて演算増幅回路AMPの非反転入力端に入力され、基準電圧VREF2は、演算増幅回路AMP1でインピーダンス変換された後、抵抗R33を介して演算増幅回路AMPの反転入力端に入力され、演算増幅回路AMPの出力電圧VOUTを帰還抵抗R34を介して反転入力端に戻す構成をなしている。
このような構成において、図23の各電圧の温度変化に対する特性は図18のようになる。電圧VNNは正の温度特性を有するため、電圧VNNをm倍した電圧VTEMPは温度上昇と共に増加する。一方、基準電圧VREF2は、温度係数を持たないため温度に対して変化せず一定の電圧となる。出力電圧VOUTは、電圧VTEMPから基準電圧VREF2を減算した後、抵抗比をかけた値になり、下記(5)式で示すことができる。
VOUT=n×(m×VNN−VREF2)
=n×(VTEMP−VREF2)………………(5)
なお、m及びnは抵抗比を示しており、抵抗R41,R42,R45の各抵抗値をr41,r42,r45で示すと、mは、(r41+r42+r45)/r42の比で決まり、抵抗R31〜R34の抵抗値をr31〜r34で示すと、r31=r33とr32=r34の条件において、nは、r32/r31(=r34/r33)の比で決まる。
ここで、図23の温度検出回路1aの低電圧動作を数値を用いて具体的に説明する。
前述したように、電圧VNNの温度係数は約0.17mV/℃と小さいため、温度検出回路1aの温度感度を上げるためには温度係数を大きくする必要がある。温度範囲0℃〜100℃において、電圧VNNは約0.04V〜0.07Vの電圧範囲となり、例えば温度係数を5mV/℃にするためには、電圧VNNを約30倍に増幅しなければならない。一方、図23の温度検出回路1aは、前記(5)式のように、まず電圧VTEMPと基準電圧VREF2との差分を作り、該差分を増幅することによって低電圧動作を実現している。
次に、m=6、n=5であるときの図23の温度検出回路1aの最低動作電圧について考える。
図23の温度検出回路1aの最低動作電圧Vminは、電界効果トランジスタM31のドレイン・ソース間電圧VdsM31と、電界効果トランジスタM33のゲート・ソース間電圧VgsM33と、電圧VTEMPとの和になり、下記(6)式で表される。
Vmin=VdsM31+VgsM33+VTEMP
=(VgsM31−VthM31)+VgsM33+VTEMP
=−VthM31+VgsM33+VTEMP………………(6)
なお、前記(6)式において、VthM31は電界効果トランジスタM31のしきい値電圧であり、VgsM31は電界効果トランジスタM31のゲート・ソース間電圧である。
ここで、電界効果トランジスタM31のゲート・ソース間電圧VgsM31は、ゲートとソースが接続されていることから0になる。電界効果トランジスタM31,M32の各しきい値電圧がそれぞれ−0.4Vで、電界効果トランジスタM33のしきい値電圧が0.3Vであり、電圧VTEMPが約0.3V(=6×0.05V)である場合、最低動作電圧Vminは、下記(7)式のようになる。
Vmin=−VthM31+VgsM33+VTEMP
=−(−0.4)+VgsM33+0.3
=0.7V+VgsM33………………(7)
したがって、最終的な最低動作電圧Vminは、電界効果トランジスタM33のゲート・ソース間電圧VgsM33によって決まり、例えば、ゲート・ソース間電圧VgsM33が0.3Vの場合、約1Vの低い電圧で回路動作が可能になる。この場合、温度検出回路1の消費電流は約3μAであるため、消費電力は3μA×1V=3μWとなる。このように、本第2の実施の形態における温度検出回路は、低電圧動作及び低消費電力化を実現することができる。
また、前記説明では、インピーダンス変換回路4を使用した場合を例にして説明したが、インピーダンス変換を行う必要がない場合は、インピーダンス変換回路4を省略してもよい。この場合、第1の電圧源回路2aからの電圧VTEMPは抵抗R31に直接入力され、第2の電圧源回路3aからの基準電圧VREF2は抵抗R33に直接入力される。
なお、前記第1及び第2の各実施の形態において、可変抵抗の記号で示した抵抗の抵抗値は製造時に固定するようにしてもよいし、図24で示すように、複数の抵抗を直列に接続し該各抵抗にそれぞれ並列にヒューズを接続して1つの抵抗を形成するようにして、製造後にヒューズを選択的にレーザトリミングで切断して抵抗値を調整するようにしてもよい。また、前記第1及び第2の各実施の形態における温度検出回路は、1つのICに集積されるようにしてもよい。
一方、前記第1及び第2の実施の形態において、正の温度係数を有する電圧としては、同一の導電型で不純物の濃度が異なるゲート電極を有する2つの電界効果トランジスタの仕事関数差からの電圧VNNを、負の温度係数を有する電圧としては、異なる導電型のゲート電極を有する2つの電界効果トランジスタの仕事関数差からの電圧VPNをそれぞれ用いている。例えば、周囲の温度をTとすると、電圧VPNは下記(8)式のような2次回帰式で示される。
VPN=−4.6×10−7×T−4.9×10−4×T+1.0…………(8)
前記(8)式の1次係数は、電圧VPNの温度変化に対する傾きを表しており、その温度感度(温度係数)は−0.49mV/℃であり、実用的な温度検出回路の温度係数としては小さい値である。一般に、温度検出回路の重要な特性である出力精度の向上のためには、1℃に相当する電圧(温度係数)をできるだけを大きくして温度感度を高くすることが望ましい。例えば、電圧VPNの温度係数を5mV/℃に設定するためには、抵抗分割の比を変えて増幅倍率を約10倍にすればよい。
しかし、温度検出回路において出力精度の尺度のひとつである直線性を表す上記(8)式の2次係数の値は、抵抗比による増幅倍率に比例して大きくなってしまうため、できるだけ増幅倍率は小さくすることが望まれる。したがって、温度検出回路の出力精度を向上させるためには増幅する前の元信号の温度係数をより大きくすることによって増幅倍率を下げる必要があり、これは2つの電界効果トランジスタにおけるチャネル長Lのサイズ比を調整することで実現できる。このことは、電圧VNNに対しても同様である。
なお、前記第1及び第2の各実施の形態では、第1及び第2の各電圧源回路において、nチャネル型の電界効果トランジスタのゲート電極の仕事関数差を用いた場合を例にして説明したが、これは一例であり、本発明はこれに限定するものではなく、第1及び第2の各電圧源回路において、pチャネル型の電界効果トランジスタのゲート電極の仕事関数差を用いて実現するようにしてもよい。
本発明の第1の実施の形態における温度検出回路の構成例を示した概略のブロック図である。 図1の各電圧の温度変化に対する特性を示した図である。 図1の第1の電圧源回路2の回路例を示した図である。 電圧VPNの温度特性例を示した図である。 電界効果トランジスタM1及びM2のチャネル長Lの比と電圧VPNの温度係数TCRとの関係例を示した図である。 図1の第2の電圧源回路3の回路例を示した図である。 図1の第2の電圧源回路3の他の回路例を示した図である。 図1の第2の電圧源回路3の他の回路例を示した図である。 図1の第1の電圧源回路2の他の回路例を示した図である。 図1の第2の電圧源回路3の他の回路例を示した図である。 図1の第1の電圧源回路2の他の回路例を示した図である。 図1の第2の電圧源回路3の他の回路例を示した図である。 図1の第2の電圧源回路3の他の回路例を示した図である。 図1の第2の電圧源回路3の他の回路例を示した図である。 図1の温度検出回路1の具体的な回路例を示した図である。 本発明の第1の実施の形態における温度検出回路の変形例を示した概略のブロック図である。 本発明の第2の実施の形態における温度検出回路の構成例を示した概略のブロック図である。 図17の各電圧の温度変化に対する特性を示した図である。 図17の第1の電圧源回路2aの回路例を示した図である。 電圧VNNの温度特性を示した図である。 図17の第1の電圧源回路2aの他の回路例を示した図である。 図17の第2の電圧源回路3aの回路例を示した図である。 図17の温度検出回路1aの具体的な回路例を示した図である。 抵抗の構成例を示した図である。
符号の説明
1,1a 温度検出回路
2,2a 第1の電圧源回路
3,3a 第2の電圧源回路
4 インピーダンス変換回路
5,5a 減算回路
7 加算回路
AMP,AMP1〜AMP3 演算増幅回路
R1〜R4 抵抗

Claims (16)

  1. 2つの電界効果トランジスタのゲート電極の仕事関数差を用いて、温度係数を有する第1電圧を生成する第1の電圧源回路と、
    複数の電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、温度変化に依存しない所定の基準電圧を生成する第2の電圧源回路と、
    前記第1電圧と該基準電圧との減算を行い、該差分を増幅する減算回路と、
    を備えることを特徴とする温度検出回路。
  2. 前記第1の電圧源回路は、高濃度n型ゲートを有する第1の電界効果トランジスタと、高濃度p型ゲートを有する第2の電界効果トランジスタとを備え、導電型の極性が異なるポリシリコンゲートを有する該第1及び第2の各電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、負の温度係数を有する第1電圧を生成することを特徴とする請求項1記載の温度検出回路。
  3. 前記第1の電圧源回路は、高濃度n型ゲートを有する第1の電界効果トランジスタと、低濃度n型ゲートを有する第2の電界効果トランジスタとを備え、導電型の極性が同一のポリシリコンゲートを有する該第1及び第2の各電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、正の温度係数を有する第1電圧を生成することを特徴とする請求項1記載の温度検出回路。
  4. 前記第1及び第2の各電界効果トランジスタは、チャネル長が異なることを特徴とする請求項2又は3記載の温度検出回路。
  5. 前記第2の電圧源回路は、高濃度n型ゲートを有する第3の電界効果トランジスタと、高濃度p型ゲートを有する第4の電界効果トランジスタとを備え、導電型の極性が異なるポリシリコンゲートを有する該第3及び第4の各電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、温度変化に依存しない基準電圧を生成することを特徴とする請求項1、2、3又は4記載の温度検出回路。
  6. 前記第3及び第4の各電界効果トランジスタは、チャネル長が異なることを特徴とする請求項5記載の温度検出回路。
  7. 前記第3及び第4の各電界効果トランジスタは、前記基準電圧が温度特性を有しないように各チャネル長の比が設定されることを特徴とする請求項6記載の温度検出回路。
  8. 前記第2の電圧源回路は、
    高濃度n型ゲートを有する第1の電界効果トランジスタと、低濃度n型ゲートを有する第2の電界効果トランジスタとを備え、導電型の極性が同一のポリシリコンゲートを有する該第1及び第2の各電界効果トランジスタのゲート電極の仕事関数差を用いて正の温度係数を有する第1電圧を生成する第1電圧生成部と、
    高濃度n型ゲートを有する第3の電界効果トランジスタと、高濃度p型ゲートを有する第4の電界効果トランジスタとを備え、導電型の極性が異なるポリシリコンゲートを有する該第3及び第4の各電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて負の温度係数を有する第2電圧を生成し、前記第1電圧と該第2電圧の各温度係数が相殺するように該各温度係数の傾きを調整して、温度変化に依存しない基準電圧を生成する基準電圧生成部と、
    を備えることを特徴とする請求項1記載の温度検出回路。
  9. 前記第1電圧生成部は、前記第1の電圧源回路をなすことを特徴とする請求項8記載の温度検出回路。
  10. 前記第1及び第2の各電圧源回路で生成された第1電圧及び基準電圧に対してそれぞれインピーダンス変換を行って前記減算回路に出力するインピーダンス変換回路を備えることを特徴とする請求項1、2、3、4、5、6、7、8又は9記載の温度検出回路。
  11. 前記第1の電圧源回路は、生成した第1電圧の降圧又は昇圧を行って電圧調整を行う電圧調整回路を備えることを特徴とする請求項3記載の温度検出回路。
  12. 前記第2の電圧源回路は、生成した基準電圧の降圧又は昇圧を行って電圧調整を行う電圧調整回路を備えることを特徴とする請求項5記載の温度検出回路。
  13. 前記第1電圧生成部は、生成した第1電圧の降圧又は昇圧を行って電圧調整を行う第1の電圧調整回路を備え、前記基準電圧生成部は、生成した基準電圧の降圧又は昇圧を行って電圧調整を行う第2の電圧調整回路を備えることを特徴とする請求項8記載の温度検出回路。
  14. 前記電圧調整回路は、トリミングを行って抵抗値を可変する、電圧調整を行うための複数の抵抗回路を備えることを特徴とする請求項11又は12記載の温度検出回路。
  15. 前記第1及び第2の各電圧調整回路は、トリミングを行って抵抗値を可変する、電圧調整を行うための複数の抵抗回路をそれぞれ備えることを特徴とする請求項13記載の温度検出回路。
  16. 前記第1及び第2の各電圧源回路、並びに減算回路は1つのICに集積されることを特徴とする請求項1、2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14又は15記載の温度検出回路。
JP2005062433A 2005-03-07 2005-03-07 温度検出回路 Pending JP2006242894A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005062433A JP2006242894A (ja) 2005-03-07 2005-03-07 温度検出回路
US11/370,273 US20060197581A1 (en) 2005-03-07 2006-03-06 Temperature detecting circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005062433A JP2006242894A (ja) 2005-03-07 2005-03-07 温度検出回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006242894A true JP2006242894A (ja) 2006-09-14

Family

ID=36943564

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005062433A Pending JP2006242894A (ja) 2005-03-07 2005-03-07 温度検出回路

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20060197581A1 (ja)
JP (1) JP2006242894A (ja)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008152632A (ja) * 2006-12-19 2008-07-03 Ricoh Co Ltd 基準電圧発生回路
JP2009014386A (ja) * 2007-07-02 2009-01-22 Ricoh Co Ltd 温度検出回路
JP2009044002A (ja) * 2007-08-09 2009-02-26 Ricoh Co Ltd 半導体装置及びそれを用いた温度検出装置
JP2009063535A (ja) * 2007-09-10 2009-03-26 Ricoh Co Ltd 温度検出回路およびそれを用いた電子機器
JP2009068895A (ja) * 2007-09-11 2009-04-02 Ricoh Co Ltd 温度検出装置
JP2009139130A (ja) * 2007-12-04 2009-06-25 Ricoh Co Ltd 温度検出回路
JP2009146021A (ja) * 2007-12-12 2009-07-02 Ricoh Co Ltd 電圧源回路及び電圧源回路を使用した温度検出回路
US8368454B2 (en) 2009-08-04 2013-02-05 Renesas Electronics Corporation Temperature detection circuit
CN104132740A (zh) * 2014-07-24 2014-11-05 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 一种自供电数字温度计
CN108709646A (zh) * 2018-08-08 2018-10-26 上海艾为电子技术股份有限公司 一种温度检测采样电路
WO2024177189A1 (ko) * 2023-02-20 2024-08-29 한밭대학교 산학협력단 온도 센서

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100608111B1 (ko) * 2005-02-07 2006-08-02 삼성전자주식회사 센싱온도를 조절할 수 있는 온도센서
US7405552B2 (en) * 2006-01-04 2008-07-29 Micron Technology, Inc. Semiconductor temperature sensor with high sensitivity
US20080063027A1 (en) * 2006-03-15 2008-03-13 Giovanni Galli Precision temperature sensor
US20080238530A1 (en) * 2007-03-28 2008-10-02 Renesas Technology Corp. Semiconductor Device Generating Voltage for Temperature Compensation
US7719341B2 (en) * 2007-10-25 2010-05-18 Atmel Corporation MOS resistor with second or higher order compensation
US7837384B2 (en) * 2007-12-19 2010-11-23 Fairchild Semiconductor Corporation Process-invariant low-quiescent temperature detection circuit
US8203315B2 (en) * 2008-09-30 2012-06-19 Infineon Technologies Ag System and method for temperature based control of a power semiconductor circuit
JP2010224594A (ja) * 2009-03-19 2010-10-07 Oki Semiconductor Co Ltd 電圧発生回路
US20110169551A1 (en) * 2010-01-08 2011-07-14 Stanescu Cornel D Temperature sensor and method
US8947949B2 (en) 2010-11-30 2015-02-03 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Mode changing circuitry
JP5884234B2 (ja) * 2011-03-25 2016-03-15 エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社 基準電圧回路
KR101276947B1 (ko) * 2011-06-27 2013-06-19 엘에스산전 주식회사 저전력, 고정밀, 넓은 온도범위의 온도 센서
JP5967987B2 (ja) * 2012-03-13 2016-08-10 エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社 基準電圧回路
KR101365340B1 (ko) * 2012-05-31 2014-02-19 삼성전기주식회사 온도 감지회로 및 온도 감지 방법
FR2995723A1 (fr) 2012-09-19 2014-03-21 St Microelectronics Crolles 2 Circuit de fourniture de tension ou de courant
WO2015012798A1 (en) * 2013-07-22 2015-01-29 Intel Corporation Current-mode digital temperature sensor apparatus
JP6263914B2 (ja) 2013-09-10 2018-01-24 株式会社リコー 撮像装置、撮像装置の駆動方法、および、カメラ
JP6387743B2 (ja) 2013-12-16 2018-09-12 株式会社リコー 半導体装置および半導体装置の製造方法
JP6281297B2 (ja) 2014-01-27 2018-02-21 株式会社リコー フォトトランジスタ、及び半導体装置
JP6354221B2 (ja) 2014-03-12 2018-07-11 株式会社リコー 撮像装置及び電子機器
JP2016025261A (ja) 2014-07-23 2016-02-08 株式会社リコー 撮像装置、撮像装置の制御方法、画素構造
JP2016092178A (ja) 2014-11-04 2016-05-23 株式会社リコー 固体撮像素子
US10302509B2 (en) * 2016-12-12 2019-05-28 Invecas, Inc. Temperature sensing for integrated circuits
US20220260319A1 (en) * 2019-07-11 2022-08-18 Innovation Thru Energy Co., Ltd. Thermoelectric power generation system
CN112729578B (zh) * 2020-12-08 2024-03-22 广东美的白色家电技术创新中心有限公司 电器设备、电子器件及其温度检测电路

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09243467A (ja) * 1996-03-05 1997-09-19 Sharp Corp 温度検出回路およびその試験方法
JPH09243466A (ja) * 1996-03-04 1997-09-19 Hitachi Ltd 半導体温度センサ
JP2003270052A (ja) * 2002-03-20 2003-09-25 Ricoh Co Ltd 温度検出回路
JP2004239734A (ja) * 2003-02-05 2004-08-26 Ricoh Co Ltd 温度検出回路

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6809557B2 (en) * 2002-02-19 2004-10-26 Sun Microsystems, Inc. Increasing power supply noise rejection using linear voltage regulators in an on-chip temperature sensor
US6921199B2 (en) * 2002-03-22 2005-07-26 Ricoh Company, Ltd. Temperature sensor
JP4160365B2 (ja) * 2002-11-07 2008-10-01 株式会社ルネサステクノロジ 高周波電力増幅用電子部品および無線通信システム

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09243466A (ja) * 1996-03-04 1997-09-19 Hitachi Ltd 半導体温度センサ
JPH09243467A (ja) * 1996-03-05 1997-09-19 Sharp Corp 温度検出回路およびその試験方法
JP2003270052A (ja) * 2002-03-20 2003-09-25 Ricoh Co Ltd 温度検出回路
JP2004239734A (ja) * 2003-02-05 2004-08-26 Ricoh Co Ltd 温度検出回路

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008152632A (ja) * 2006-12-19 2008-07-03 Ricoh Co Ltd 基準電圧発生回路
US8152363B2 (en) 2007-07-02 2012-04-10 Ricoh Company, Ltd. Temperature detection circuit
JP2009014386A (ja) * 2007-07-02 2009-01-22 Ricoh Co Ltd 温度検出回路
JP2009044002A (ja) * 2007-08-09 2009-02-26 Ricoh Co Ltd 半導体装置及びそれを用いた温度検出装置
JP2009063535A (ja) * 2007-09-10 2009-03-26 Ricoh Co Ltd 温度検出回路およびそれを用いた電子機器
US8147131B2 (en) 2007-09-10 2012-04-03 Ricoh Company, Ltd. Temperature sensing circuit and electronic device using same
JP2009068895A (ja) * 2007-09-11 2009-04-02 Ricoh Co Ltd 温度検出装置
JP2009139130A (ja) * 2007-12-04 2009-06-25 Ricoh Co Ltd 温度検出回路
JP2009146021A (ja) * 2007-12-12 2009-07-02 Ricoh Co Ltd 電圧源回路及び電圧源回路を使用した温度検出回路
US8368454B2 (en) 2009-08-04 2013-02-05 Renesas Electronics Corporation Temperature detection circuit
CN104132740A (zh) * 2014-07-24 2014-11-05 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 一种自供电数字温度计
CN108709646A (zh) * 2018-08-08 2018-10-26 上海艾为电子技术股份有限公司 一种温度检测采样电路
CN108709646B (zh) * 2018-08-08 2024-06-04 上海艾为电子技术股份有限公司 一种温度检测采样电路
WO2024177189A1 (ko) * 2023-02-20 2024-08-29 한밭대학교 산학협력단 온도 센서

Also Published As

Publication number Publication date
US20060197581A1 (en) 2006-09-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2006242894A (ja) 温度検出回路
JP4817825B2 (ja) 基準電圧発生回路
KR100721736B1 (ko) 정전류 회로 및 그 정전류 회로를 사용한 시스템 전원 장치
TWI464556B (zh) 帶隙基準電壓電路
US8026756B2 (en) Bandgap voltage reference circuit
US9335778B2 (en) Reference voltage generating circuit
JP5006739B2 (ja) 温度検出回路およびそれを用いた電子機器
CN103631306B (zh) 具有低温度系数的电流源基准电路
JP2008108009A (ja) 基準電圧発生回路
KR20100080958A (ko) 기준 바이어스 발생 회로
KR20090088807A (ko) 전압 조정기
KR20160038665A (ko) 밴드갭 회로 및 관련 방법
KR20120056222A (ko) 정전류 회로 및 기준 전압 회로
US20120319793A1 (en) Oscillation circuit
JP2014086000A (ja) 基準電圧発生回路
JP2007187559A (ja) 温度検出回路
CN113253788B (zh) 基准电压电路
JP2008152632A (ja) 基準電圧発生回路
US9523995B2 (en) Reference voltage circuit
JP2007187558A (ja) 温度検出回路
JP2007249523A (ja) 定電圧回路
JP4868868B2 (ja) 基準電圧発生回路
CN108345336B (zh) 能隙参考电路
JP2013058155A (ja) 基準電圧回路
JP2005044051A (ja) 基準電圧発生回路

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070625

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20080131

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100914

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101109

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110802

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20111206