JP2007187558A - 温度検出回路 - Google Patents

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Abstract

【課題】低電圧動作や低消費電力化を図ることができる高精度な温度検出回路を得る。
【解決手段】2つの電界効果トランジスタのゲート電極の仕事関数差を用いて、負の温度係数を有する電圧VPNを生成する第1の電圧源回路2と、2つの電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、正の温度係数を有する電圧VNNを生成する第2の電圧源回路3と、電圧VPNと電圧VNNとの減算を行い、該差分を増幅する減算回路5とを備えるようにした。
【選択図】図1

Description

本発明は、低電圧動作や低消費電力動作を行うことができる高精度な温度検出回路に関する。
従来、温度検出回路としてバイポーラトランジスタを用いた絶対温度に比例する電圧源(PTAT:Proportional−To−Absolute−Temperature)回路が知られている。バイポーラトランジスタのベース‐エミッタ間電圧Vbeは、温度上昇に伴って減少し、約−2mV/℃の負の温度係数を有する。バイポーラトランジスタがコレクタ電流i1でバイアスされるときのベース‐エミッタ間電圧Vbeは次式で表される。
Vbe=(kT/q)×ln(i1/is)………………(a)
前記(a)式において、kはボルツマン定数、Tは絶対温度、qはキャリアの電荷量である。また、isはトランジスタの飽和電流であり、プロセスに大きく依存する。
しかし、下記(b)式で示すように異なったコレクタ電流i1とi2でバイアスされる2つのバイポーラトランジスタのベース‐エミッタ間電圧の差を用いることでプロセス依存の大きい電流isの影響をなくすことができる。
Vptat=Vbe(i2)−Vbe(i1)=(kT/q)×ln(i2/is)−(kT/q)×ln(i1/is)=(kT/q)×ln(i2/i1)………………(b)
前記(b)式から分かるように、前記PTAT回路から出力される電圧Vptatは常数を除けば温度と電流比だけで決まるため、プロセスに依存せずに絶対温度に比例する電圧源を実現することができる。
初期のPTAT回路の場合、電源電圧12Vで消費電流は数mAのレベルであったが、最近では電源電圧の低下と共に消費電流も数百μAのレベルまで小さくなり、消費電力は1mW以下にまで下がってきた。例えば、CMOS温度センサ回路の場合、消費電力は約120μWであった(例えば、非特許文献1参照。)。
なお、従来の関連技術として、80℃以上の高温でも安定動作し、絶対温度に比例する電圧を発生する電界効果トランジスタを使用した電圧発生回路があった(例えば、特許文献1参照。)。
ピー・クルムネーチャー、エイチ・オグエイ(P.Krummenacher and H.Oguey)著, 「スマート・テンペレーチャー・センサ・イン・CMOS・テクノロジー(Smart temperature sensor in CMOS technology)」,センサー・アンド・アクチュエーターズ(Sensors and Actuators), VolA21−A23,pp6363−638,1990 特開2001−284464号公報
しかし、このような消費電力ではまだ大きく、特に温度検出回路においては自己発熱による温度検出誤差の発生、バッテリ駆動システムの場合におけるバッテリ寿命の劣化、VLSIチップへの温度センサ追加時におけるシステム全体の消費電力増加等の問題を抱えているため、できるだけ温度検出回路の低消費電力化を図ることが要求されていた。
本発明は、上記のような問題を解決するためになされたものであり、電界効果トランジスタの仕事関数差を用いて、正の温度係数を有する電圧源回路と、負の温度係数を有する電圧源回路と、それらの信号の減算かつ増幅を行う演算増幅回路を用いることによって、低電圧動作や低消費電力化を図ることができる高精度な温度検出回路を得ることを目的とする。
この発明に係る温度検出回路は、2つの電界効果トランジスタのゲート電極の仕事関数差を用いて、第1の温度係数を有した第1電圧を生成する第1の電圧源回路と、
2つの電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、前記第1の温度係数と相反する第2の温度係数を有した第2電圧を生成する第2の電圧源回路と、
前記第1電圧と該第2電圧との減算を行い、該差分を増幅する減算回路と、
を備えるものである。
具体的には、前記第1の電圧源回路は、高濃度n型ゲートを有する第1の電界効果トランジスタと、高濃度p型ゲートを有する第2の電界効果トランジスタとを備え、導電型の極性が異なるポリシリコンゲートを有する前記第1及び第2の各電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、負の温度係数を有した前記第1電圧を生成するようにした。
また、前記第1の電圧源回路は、高濃度n型ゲートを有する第1の電界効果トランジスタと、高濃度p型ゲートを有する第2の電界効果トランジスタとを備え、導電型の極性が異なるポリシリコンゲートを有しチャネル長が異なる該第1及び第2の各電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、負の温度係数を有した前記第1電圧を生成するようにしてもよい。
また、前記第1の電圧源回路は、高濃度n型ゲートを有する第1の電界効果トランジスタと、低濃度n型ゲートを有する第2の電界効果トランジスタとを備え、導電型の極性が同一であるポリシリコンゲートを有しチャネル長が異なる該第1及び第2の各電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、負の温度係数を有した前記第1電圧を生成するようにしてもよい。
また具体的には、前記第2の電圧源回路は、高濃度n型ゲートを有する第3の電界効果トランジスタと、低濃度n型ゲートを有する第4の電界効果トランジスタとを備え、導電型の極性が同一であるポリシリコンゲートを有する前記第3及び第4の各電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、正の温度係数を有した前記第2電圧を生成するようにした。
また、前記第2の電圧源回路は、高濃度n型ゲートを有する第3の電界効果トランジスタと、低濃度n型ゲートを有する第4の電界効果トランジスタとを備え、導電型の極性が同一であるポリシリコンゲートを有しチャネル長が異なる前記第3及び第4の各電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、正の温度係数を有した前記第2電圧を生成するようにしてもよい。
また、前記第2の電圧源回路は、高濃度n型ゲートを有する第3の電界効果トランジスタと、高濃度p型ゲートを有する第4の電界効果トランジスタとを備え、導電型の極性が異なるポリシリコンゲートを有しチャネル長が異なる前記第3及び第4の各電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、正の温度係数を有した前記第2電圧を生成するようにしてもよい。
前記第1及び第2の各電圧源回路で生成された第1電圧及び第2電圧に対してそれぞれインピーダンス変換を行って前記減算回路に出力するインピーダンス変換回路を備えるようにした。
前記第1の電圧源回路は、生成した第1電圧の電圧調整を行う電圧調整回路を備えるようにした。
前記第2の電圧源回路は、生成した第2電圧の電圧調整を行う電圧調整回路を備えるようにした。
本発明の温度検出回路によれば、2つの電界効果トランジスタのゲート電極の仕事関数差を用いて、例えば負の温度係数を有した第1電圧を生成する第1の電圧源回路と、2つの電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、例えば正の温度係数を有した第2電圧を生成する第2の電圧源回路と、前記第1電圧と該第2電圧との減算を行い、該差分を増幅する減算回路とを備えるようにしたことから、低電圧動作や低消費電力化が可能であると共に、出力電圧の温度係数のばらつきを低減させることができる。
次に、図面に示す実施の形態に基づいて、本発明を詳細に説明する。
第1の実施の形態.
図1は、本発明の第1の実施の形態における温度検出回路の構成例を示した図である。
図1において、温度検出回路1は、第1の電圧源回路2と、第2の電圧源回路3と、インピーダンス変換回路4と、減算回路5とで構成されている。第1の電圧源回路2は、2つの電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、負の温度係数を有する電圧VPNを生成して出力する。第2の電圧源回路3は、2つの電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、正の温度係数を有する電圧VNNを生成して出力する。インピーダンス変換回路4は、電圧VPN及びVNNに対してそれぞれインピーダンス変換を行って減算回路5に出力する。減算回路5は、温度感度の上昇及び低消費電力化を実現するために、インピーダンス変換回路4を介して入力された、第1の電圧源回路2からの電圧VPNと第2の電圧源回路3からの電圧VNNとの減算及びその差分の増幅を行って出力電圧VOUTを生成し出力する。
インピーダンス変換回路4は、演算増幅回路AMP1,AMP2で構成されており、演算増幅回路AMP1の非反転入力端に電圧VPNが入力され、演算増幅回路AMP1の出力端は減算回路5の対応する一方の入力端に接続されている。また、演算増幅回路AMP2の非反転入力端に電圧VNNが入力され、演算増幅回路AMP2の出力端は減算回路5の対応する他方の入力端に接続されている。演算増幅回路AMP1において、出力端は反転入力端に接続されてボルテージホロワを形成している。同様に、演算増幅回路AMP2においても、出力端は反転入力端に接続されてボルテージホロワを形成している。
また、減算回路5は、演算増幅回路AMPと、抵抗R1〜R4とで構成され、演算増幅回路AMPの非反転入力端と接地電圧との間に抵抗R2が接続され、演算増幅回路AMPの出力端と反転入力端との間に抵抗R4が接続されている。また、演算増幅回路AMPの非反転入力端には、インピーダンス変換された電圧VNNが抵抗R1を介して入力され、演算増幅回路AMPの反転入力端には、インピーダンス変換された電圧VPNが抵抗R3を介して入力されている。
このような構成において、図2は、図1の各電圧の温度変化に対する特性を示した図である。図2から分かるように、電圧VPNは負の温度係数を有しており、電圧VNNは正の温度係数を有しており、電圧VNNから電圧VPNを減算した電圧(VNN−VPN)及び該電圧(VNN−VPN)を増幅した出力電圧VOUTはそれぞれ正の温度係数を有しており、電圧(VNN−VPN)よりも出力電圧VOUTの方が温度係数は大きくなっている。
図3は、図1の第1の電圧源回路2の回路例を示した図である。
図3において、第1の電圧源回路2は、nチャネル型の電界効果トランジスタM1,M2、出力バッファアンプAMP3及び抵抗R5,R6で構成されている。なお、電界効果トランジスタM1は第1の電界効果トランジスタを、電界効果トランジスタM2は第2の電界効果トランジスタを、電圧VPNは第1電圧を、演算増幅回路AMP3及び抵抗R5,R6は電圧調整回路をそれぞれなす。電界効果トランジスタM1及びM2は、基板やチャネルドープの不純物濃度は等しく、n型基板のpウェル内に形成され、各基板電圧がソース電圧と等しくなるようにしてある。電源電圧VDDと接地電圧との間には、電界効果トランジスタM1及びM2が直列に接続され、電界効果トランジスタM1及びM2において、サブストレートゲートはソースにそれぞれ接続されている。
電界効果トランジスタM1は、高濃度n型ゲートを有し、デプレッション動作するようにチャネルドープの不純物濃度が調整されているため、ゲートとソースを接続することにより定電流源をなす。電界効果トランジスタM2は、高濃度p型ゲートを有し、ゲートとドレインが接続されており、該接続部は、出力バッファアンプAMP3の非反転入力端に接続されている。出力バッファアンプAMP3の出力端と接地電圧との間には抵抗R5及びR6が直列に接続され、抵抗R5とR6との接続部は出力バッファアンプAMP3の反転入力端に接続されている。電界効果トランジスタM2のゲート‐ソース間電圧が、出力バッファアンプAMP3と該出力バッファアンプAMP3の出力電圧を調整するための抵抗R5及びR6を介して電圧VPNとして出力される。電圧VPNは、抵抗R5とR6の抵抗値を変えることにより調整することができる。
このような構成において、電界効果トランジスタM1及びM2は、トランジスタサイズを示すゲート幅W/ゲート長Lが等しくなるように設計されることによりペア電界効果トランジスタになる。ペア電界効果トランジスタには同一の電流が流れるため、電界効果トランジスタM2のゲート‐ソース間電圧は、電界効果トランジスタM1とM2とのゲート仕事関数の差になり、2つの電界効果トランジスタM1及びM2のゲート仕事関数の温度特性の違いから負の温度係数を持つ。このため、電圧VPNは負の温度特性を有する。
図4は、図1の第1の電圧源回路2における他の回路例を示した図である。なお、図4では、図3と同じもの又は同様のものは同じ符号で示している。
図4において、第1の電圧源回路2は、nチャネル型の電界効果トランジスタM1〜M3及び出力電圧調整用の抵抗R11,R12で構成されている。なお、抵抗R11及びR12は電圧調整回路をなす。電源電圧VDDと接地電圧との間には、電界効果トランジスタM1及びM2が直列に接続されると共に、電界効果トランジスタM3、抵抗R11及びR12が直列に接続されている。電界効果トランジスタM1及びM3の各ゲートは接続され、該接続部は電界効果トランジスタM1のソースに接続されている。電界効果トランジスタM2のゲートは、抵抗R11と抵抗R12との接続部に接続され、電界効果トランジスタM3と抵抗R11との接続部から電圧VPNが出力される。電界効果トランジスタM1〜M3において、サブストレートゲートはソースにそれぞれ接続されている。
電界効果トランジスタM1とM2は、基板やチャネルドープの不純物濃度は等しく、n型基板のpウェル内に形成され、各基板電圧がソース電圧と等しくなるようにしてある。電界効果トランジスタM1は、高濃度n型ゲートを有し、デプレッション動作するようにチャネルドープの不純物濃度が調整されているため、ゲートとソースを接続することにより定電流源を形成している。電界効果トランジスタM2は、高濃度p型ゲートを有し、nチャネル型の電界効果トランジスタM3及び抵抗R11,R12からなるソースフォロア回路によってドレイン電圧が与えられ、電界効果トランジスタM2のゲート‐ソース間電圧が抵抗R11及びR12で電圧調整されて電圧VPNとして出力される。
電界効果トランジスタM1及びM2の各トランジスタサイズW/Lが等しくなるように設計することにより、電界効果トランジスタM1及びM2はペア電界効果トランジスタになる。このペア電界効果トランジスタには同一の電流が流れるため、電界効果トランジスタM2のゲート‐ソース間電圧は、電界効果トランジスタM1とM2とのゲート仕事関数の差になり、2つの電界効果トランジスタM1及びM2のゲート仕事関数の温度特性の違いから負の温度係数を持つ。このため、電圧VPNは負の温度特性を有し、抵抗R11とR12の抵抗を変えることにより電圧VPNの電圧調整を行うことができる。
図5は、図1の第1の電圧源回路2における他の回路例を示した図である。なお、図5では、図3若しくは図4と同じもの又は同様のものは同じ符号で示している。
図5において、第1の電圧源回路2は、nチャネル型の電界効果トランジスタM1,M2、pチャネル型の電界効果トランジスタM5〜M7、定電流源7及び抵抗R11,R12で構成されている。電界効果トランジスタM1及びM2は、基板やチャネルドープの不純物濃度は等しく、n型基板のpウェル内に形成され、各電界効果トランジスタの基板電圧はソース電圧と等しくなるように形成されている。電界効果トランジスタM1は、高濃度n型ゲートを有し、電界効果トランジスタM2は高濃度p型ゲートを有している。
電界効果トランジスタM1及びM2のトランジスタサイズW/Lが等しくなるように設計することにより、電界効果トランジスタM1及びM2は、ペア電界効果トランジスタとなる。該ペア電界効果トランジスタM1及びM2は、差動増幅器の入力トランジスタをなし、更にpチャネル型の電界効果トランジスタM5及びM6でカレントミラー回路が形成されており、該差動増幅器の出力電圧は、pチャネル型の電界効果トランジスタM7との間でフィードバックループが形成されている。ペア電界効果トランジスタM1とM2は、前記差動増幅器の入力トランジスタをそれぞれなし、該差動増幅器は負の温度係数を有する電圧VPNの入力オフセットを持っている。このため、電圧VPNは負の温度特性を有し、抵抗R11とR12の抵抗を変えることにより電圧VPNの電圧調整を行うことができる。
ここで、導電型の極性が異なるポリシリコンゲートを有する前記2つのペア電界効果トランジスタM1及びM2のチャネル長の比を変えることによって、電圧VPNの温度係数を変えることができる。一般に、温度検出回路の重要な特性である出力精度の向上のためには、温度変化に対応する電圧変化(温度係数)をできるだけ大きくして温度変化に対する感度を高くすることが望ましい。
図6は、電界効果トランジスタM1及びM2のチャネル長Lの比と電圧VPNの温度係数TCRとの関係例を示した図である。
図6から分かるように、出力電圧VPNの温度係数TCRはチャネル長Lの比に応じて変化するため、チャネル長Lの比を調整することにより所望の温度係数を得ることができる。従って、チャネル長L比を選択することによって電圧VPNの温度係数TCRの絶対値をより大きくすることが可能であり、温度検出回路の温度検出精度の向上を図ることができる。
また、図6から分かるように、電界効果トランジスタM1及びM2のチャネル長の比によって電圧VPNの温度係数TCRを正にすることができる。このことから、例えば、図3〜図5において、電圧VPNの温度係数TCRが正になるように電界効果トランジスタM1及びM2のチャネル長の比を設定することによって、図1の第2の電圧源回路3を形成することができる。
なお、前記説明では、電界効果トランジスタM1及びM2がnチャネル型である場合を例にして説明したが、電界効果トランジスタM1及びM2としてpチャネル型の電界効果トランジスタを使用してもよい。
図7は、図1の第2の電圧源回路3における回路例を示した図である。
図7において、第2の電圧源回路3は、nチャネル型の電界効果トランジスタM11〜M13と抵抗R21,R22で構成されている。なお、電界効果トランジスタM11は第3の電界効果トランジスタを、電界効果トランジスタM12は第4の電界効果トランジスタを、電圧VNNは第2電圧を、抵抗R21,R22は電圧調整回路をそれぞれなす。電源電圧VDDと接地電圧との間には、電界効果トランジスタM11及びM12が直列に接続されると共に、電界効果トランジスタM13、抵抗R21及びR22が直列に接続されている。電界効果トランジスタM11及びM13の各ゲートは接続され、該接続部は電界効果トランジスタM11のソースに接続されている。電界効果トランジスタM12のゲートは、抵抗R21とR22との接続部に接続され、電界効果トランジスタM13と抵抗R21との接続部が電圧VNNを出力する出力端をなしている。
電界効果トランジスタM11及びM12は、基板やチャネルドープの不純物濃度が等しく、n型基板のpウェル内にそれぞれ形成され、各基板電圧がソース電圧に等しくなるようにしてある。電界効果トランジスタM11は、高濃度n型ゲートを有し、デプレッション動作するようにチャネルドープの不純物濃度が調整されているため、ゲートとソースを接続することにより定電流源をなしている。電界効果トランジスタM12は、低濃度n型ゲートを有し、nチャネル型の電界効果トランジスタM13と抵抗R21,R22とからなるソースフォロア回路によってドレイン電圧が印加され、電界効果トランジスタM12のゲート‐ソース間電圧を基にして、電界効果トランジスタM13のソース電圧が電圧VNNとして出力される。
電界効果トランジスタM11及びM12のトランジスタサイズW/Lが等しくなるように設計することで、電界効果トランジスタM11及びM12はペア電界効果トランジスタとなる。該ペア電界効果トランジスタには同一の電流が流れるため、電界効果トランジスタM12のゲート‐ソース間電圧は、電界効果トランジスタM11及びM12の各ゲート仕事関数の差となり、電界効果トランジスタM11及びM12における各ゲート仕事関数の温度特性の違いから正の温度係数を有する。電界効果トランジスタM12のゲート‐ソース間電圧が、抵抗R21及びR22で電圧調整されて正の温度係数を有する電圧VNNとなる。このような構成において、電界効果トランジスタM11とM12のチャネル長Lが異なっており、例えば図6の電圧VPNの結果と同様に、2つの電界効果トランジスタM11及びM12からの出力電圧VNNが負の温度係数を有するL比を選ぶようにすればよい。
図8は、図1の第2の電圧源回路3における他の回路例を示した図である。なお、図8では、図7と同じもの又は同様のものは同じ符号で示している。
図8において、第2の電圧源回路3は、nチャネル型の電界効果トランジスタM11,M12、pチャネル型の電界効果トランジスタM15〜M17、定電流源11及び抵抗R21,R22で構成されている。電界効果トランジスタM11及びM12は、基板やチャネルドープの不純物濃度は等しく、n型基板のpウェル内に形成され、各電界効果トランジスタの基板電圧はソース電圧と等しくなるように形成されている。電界効果トランジスタM11は、高濃度n型ゲートを有し、電界効果トランジスタM12は低濃度n型ゲートを有している。
電界効果トランジスタM11及びM12のトランジスタサイズW/Lが等しくなるように設計することにより、電界効果トランジスタM11及びM12は、ペア電界効果トランジスタとなる。該ペア電界効果トランジスタM11及びM12は、差動増幅器の入力トランジスタをなし、更にpチャネル型の電界効果トランジスタM15及びM16でカレントミラー回路が形成されており、該差動増幅器の出力電圧は、pチャネル型の電界効果トランジスタM17との間でフィードバックループが形成されている。ペア電界効果トランジスタM11とM12は、前記差動増幅器の入力トランジスタをそれぞれなし、前記差動増幅器は正の温度係数を有する電圧VNNの入力オフセットを持っている。このため、電圧VNNは正の温度特性を有し、抵抗R21とR22の抵抗値を変えることにより電圧VNNの電圧調整を行うことができる。このような構成において、電界効果トランジスタM11とM12のチャネル長Lが異なっており、例えば図6の電圧VPNの結果と同様に、2つの電界効果トランジスタM11及びM12からの出力電圧VNNが負の温度係数を有するL比を選ぶようにすればよい。
一方、図7及び図8において、導電性の極性が同じポリシリコンゲートを有する2つのペア電界効果トランジスタM11とM12のサイズW/Lが等しくなるように設計し、2つの電界効果トランジスタM11とM12のゲート仕事関数の温度特性の違いから正の温度係数を有する電圧VNNを得るようにしてもよい。また、図7及び図8において、導電性の極性が同じポリシリコンゲートを有する2つのペア電界効果トランジスタM11とM12のチャネル長Lが異なるようにし、前記図6の電圧VPNの結果と同様に、2つの電界効果トランジスタM11及びM12のゲート仕事関数差から得られる電圧が正の温度係数を有するような電界効果トランジスタM11及びM12のチャネル長Lの比を選ぶようにしてもよい。
また、図3〜図5の各回路において、導電性の極性が異なるポリシリコンゲートを有する2つのペア電界効果トランジスタM1とM2の各チャネル長Lが異なるようにし、2つの電界効果トランジスタM1及びM2には同一の電流が流れる。このため、電界効果トランジスタM2のゲート‐ソース間電圧は、電界効果トランジスタM1とM2のゲート仕事関数の差となり、2つの電界効果トランジスタM1,M2のゲート仕事関数の温度特性の違いから決まる温度係数を持つ電圧となる。このことから、例えば図6の結果より、2つの電界効果トランジスタM1及びM2のゲート仕事関数差から得られる電圧が正の温度係数を有するようにチャネル長Lの比を選択することにより、正の温度係数を有する電圧VNNを得ることができる。なお、前記説明では、電界効果トランジスタM11及びM12がnチャネル型である場合を例にして説明したが、電界効果トランジスタM11及びM12としてpチャネル型の電界効果トランジスタを使用してもよい。
次に、図9は、図1の減算回路5の回路例を示した図であり、図9を用いて図1の温度検出回路1の動作について説明する。
図9において、減算回路5は、演算増幅回路AMPと、抵抗R1〜R4とで構成され、演算増幅回路AMPは、差動対をなすエンハンスメント型のnチャネル型の電界効果トランジスタM21,M22、nチャネル型の電界効果トランジスタM21,M22の負荷をなすエンハンスメント型のpチャネル型の電界効果トランジスタM23,M24、及び電界効果トランジスタM21,M22に定電流を供給する定電流源21からなる差動増幅段と、エンハンスメント型のpチャネル型の電界効果トランジスタM25、及び定電流源をなすデプレッション型のnチャネル型電界効果トランジスタM26からなる増幅段とで構成されている。電界効果トランジスタM21のゲートは演算増幅回路AMPの非反転入力端をなし、電界効果トランジスタM22のゲートは演算増幅回路AMPの反転入力端をなしている。
電界効果トランジスタM21及びM22の各ソースは接続され、該接続部と接地電圧との間に定電流源21が接続されている。電源電圧VDDと電界効果トランジスタM21のドレインとの間には電界効果トランジスタM23が接続され、電源電圧VDDと電界効果トランジスタM22のドレインとの間には電界効果トランジスタM24が接続されている。電界効果トランジスタM23及びM24はカレントミラー回路を形成しており、電界効果トランジスタM23及びM24の各ゲートは接続され、該接続部は電界効果トランジスタM24のドレインに接続されている。
また、電源電圧VDDと接地電圧との間には、電界効果トランジスタM25とM26が直列に接続され、電界効果トランジスタM25のゲートは、電界効果トランジスタM23とM21との接続部に接続されている。また、電界効果トランジスタM26において、ゲートはソースに接続され、電界効果トランジスタM25とM26との接続部が、演算増幅回路AMPの出力端をなし出力電圧VOUTが出力される。第2の電圧源回路3からの電圧VNNは、演算増幅回路AMP2でインピーダンス変換された後、抵抗R1とR2で分圧されて電界効果トランジスタM21のゲートに入力され、第1の電圧源回路2からの電圧VPNは、演算増幅回路AMP1でインピーダンス変換された後、抵抗R3を介して電界効果トランジスタM22のゲートに入力され、演算増幅回路AMPの出力電圧VOUTを帰還抵抗R4を介して電界効果トランジスタM22のゲートに戻す構成をなしている。
このような構成において、電圧VPNは負の温度係数を有するため温度上昇と共に減少し、これに対して電圧VNNは、正の温度係数を有するため温度上昇と共に増加する。温度検出回路1の出力電圧VOUTは、電圧VNNから電圧VPNを減算した後、所望の温度係数にするための抵抗比による増幅倍率nをかけた値になり、下記(1)式で示すことができる。
VOUT=n×(VNN−VPN)………………(1)
一方、出力電圧VOUTのばらつきσVOUTは、電圧VPN及びVNNの各温度係数のばらつきσVPN及びσVNNの合計に増幅倍率nをかけた値になり、下記(2)式のようになる。
σVOUT=n×(σVNN+σVPN)………………(2)
増幅倍率nは、下記(3)式で示すように所望の温度係数によって決まる。
n=所望の温度係数/(電圧VNNの温度係数−電圧VPNの温度係数)………………(3)
図10は、負の温度係数を有する電圧VPNを生成する電界効果トランジスタM1及びM2のチャネル長L比を固定した場合において、正の温度係数を有する電圧VNNを生成する電界効果トランジスタM11及びM12のチャネル長L比を変化させたときの、増幅倍率n、σVOUT及び(σV1+σV2)の変化の度合いの例を示した図である。なお、図10において、横軸は、正の温度係数を有する電圧VNNを生成する電界効果トランジスタM11及びM12のチャネル長L比を示し、縦軸は、変化の度合いを示しており、電界効果トランジスタM11及びM12のチャネル長L比が0.55であるときを1.0にしている。また、図10において、四角が増幅倍率nを、三角が電圧VPNとVNNの各温度係数におけるそれぞれのばらつきの合計(σVPN+σVNN)を、丸が出力電圧VOUTの温度係数のばらつきσVOUTをそれぞれ示している。
電圧VNNの温度係数においても、電界効果トランジスタM11及びM12のチャネル長L比が小さくなるにつれて図6で示したように大きくなるため、(VNN−VPN)の温度係数も図2の点線で示した従来例よりも増加する。このため、出力電圧VOUTの温度係数をある一定の値になるように調整するには、前記温度係数の増加分だけ抵抗比による増幅倍率nを小さくする必要がある。しかし、図10から分かるように、電界効果トランジスタM11及びM12のチャネル長L比が小さくなる、すなわち電圧VNNの温度係数の増加と共にその温度係数のばらつきσVNNも増加する。従って、最終的な出力電圧VOUTの温度係数のばらつきσVOUTは、前記(2)式で示すように、電圧VNNの温度係数の増加による、増幅倍率nの低減分と(σV2+σV1)の増加分の2つの要素の兼ね合いにより決まる。
結果的に、出力電圧VOUTの温度係数のばらつきσVOUTは、図10に示すように電界効果トランジスタM11及びM12のチャネル長L比が小さくすると共に小さくなる傾向を示しており、これは、変化の度合いではない具体的な各数値において、電圧VNNの温度係数の増加による増幅倍率nの低減分が(σV2+σV1)の増加分よりも大きいためである。更に、図10で示しているように、電界効果トランジスタM11及びM12のチャネル長L比を小さくすると出力電圧VOUTの温度係数のばらつきσVOUTの変化率を約30%低減させることができるが、電圧VNNの温度係数と共に電圧VPNの温度係数も大きくすることにより出力電圧VOUTの温度係数のばらつきσVOUTの変化率を更に低減させることができる。このように、出力電圧VOUTの温度係数のばらつきの小さい高精度な温度検出回路を得ることができる。
次に、図3の回路を使用した場合の温度検出回路1の最低動作電圧Vminについて考える。最低動作電圧Vminは、電界効果トランジスタM1のドレイン‐ソース間電圧VdsM1と、電界効果トランジスタM2のドレイン‐ソース間電圧VdsM2との和になり、下記(4)式で表される。
Vmin=VdsM1+VdsM2
=(VgsM1−VthM1)+(VgsM2−VthM2)
=(0−VthM1)+VPN………………(4)
電界効果トランジスタM1及びM2の各しきい値VthM1及びVthM2がそれぞれ−0.4Vであり、電圧VPNが1Vである場合、前記(4)式からVmin=1.4Vになる。
前記のように、温度検出回路1の最低動作電圧Vminは、電界効果トランジスタM1のしきい値VthM1と電圧VPNによって決まり、温度検出回路1の消費電流は約3μAであるため、消費電力は3μA×1.4V=4.2μWになる。このように、本第1の実施の形態における温度検出回路は、低電圧動作及び低消費電力化を実現することができる。
本発明の第1の実施の形態における温度検出回路の構成例を示した図である。 図1の各電圧の温度変化に対する特性を示した図である。 図1の第1の電圧源回路2の回路例を示した図である。 図1の第1の電圧源回路2における他の回路例を示した図である。 図1の第1の電圧源回路2における他の回路例を示した図である。 電界効果トランジスタM1及びM2のチャネル長Lの比と電圧VPNの温度係数TCRとの関係例を示した図である。 図1の第2の電圧源回路3における回路例を示した図である。 図1の第2の電圧源回路3における他の回路例を示した図である。 図1の減算回路5の回路例を示した図である。 電界効果トランジスタM11及びM12のチャネル長L比を変化させたときの、増幅倍率n、σVOUT及び(σV1+σV2)の変化の度合いの例を示した図である。
符号の説明
1 温度検出回路
2 第1の電圧源回路
3 第2の電圧源回路
4 インピーダンス変換回路
5 減算回路
M1,M2,M11,M12 電界効果トランジスタ
AMP,AMP1〜AMP3 演算増幅回路
R1〜R6,R11,R12,R21,R22 抵抗

Claims (10)

  1. 2つの電界効果トランジスタのゲート電極の仕事関数差を用いて、第1の温度係数を有した第1電圧を生成する第1の電圧源回路と、
    2つの電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、前記第1の温度係数と相反する第2の温度係数を有した第2電圧を生成する第2の電圧源回路と、
    前記第1電圧と該第2電圧との減算を行い、該差分を増幅する減算回路と、
    を備えることを特徴とする温度検出回路。
  2. 前記第1の電圧源回路は、高濃度n型ゲートを有する第1の電界効果トランジスタと、高濃度p型ゲートを有する第2の電界効果トランジスタとを備え、導電型の極性が異なるポリシリコンゲートを有する前記第1及び第2の各電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、負の温度係数を有した前記第1電圧を生成することを特徴とする請求項1記載の温度検出回路。
  3. 前記第1の電圧源回路は、高濃度n型ゲートを有する第1の電界効果トランジスタと、高濃度p型ゲートを有する第2の電界効果トランジスタとを備え、導電型の極性が異なるポリシリコンゲートを有しチャネル長が異なる該第1及び第2の各電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、負の温度係数を有した前記第1電圧を生成することを特徴とする請求項1記載の温度検出回路。
  4. 前記第1の電圧源回路は、高濃度n型ゲートを有する第1の電界効果トランジスタと、低濃度n型ゲートを有する第2の電界効果トランジスタとを備え、導電型の極性が同一であるポリシリコンゲートを有しチャネル長が異なる該第1及び第2の各電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、負の温度係数を有した前記第1電圧を生成することを特徴とする請求項1記載の温度検出回路。
  5. 前記第2の電圧源回路は、高濃度n型ゲートを有する第3の電界効果トランジスタと、低濃度n型ゲートを有する第4の電界効果トランジスタとを備え、導電型の極性が同一であるポリシリコンゲートを有する前記第3及び第4の各電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、正の温度係数を有した前記第2電圧を生成することを特徴とする請求項1、2、3又は4記載の温度検出回路。
  6. 前記第2の電圧源回路は、高濃度n型ゲートを有する第3の電界効果トランジスタと、低濃度n型ゲートを有する第4の電界効果トランジスタとを備え、導電型の極性が同一であるポリシリコンゲートを有しチャネル長が異なる前記第3及び第4の各電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、正の温度係数を有した前記第2電圧を生成することを特徴とする請求項1、2、3又は4記載の温度検出回路。
  7. 前記第2の電圧源回路は、高濃度n型ゲートを有する第3の電界効果トランジスタと、高濃度p型ゲートを有する第4の電界効果トランジスタとを備え、導電型の極性が異なるポリシリコンゲートを有しチャネル長が異なる前記第3及び第4の各電界効果トランジスタにおけるゲート電極の仕事関数差を用いて、正の温度係数を有した前記第2電圧を生成することを特徴とする請求項1、2、3又は4記載の温度検出回路。
  8. 前記第1及び第2の各電圧源回路で生成された第1電圧及び第2電圧に対してそれぞれインピーダンス変換を行って前記減算回路に出力するインピーダンス変換回路を備えることを特徴とする請求項1、2、3、4、5、6又は7記載の温度検出回路。
  9. 前記第1の電圧源回路は、生成した第1電圧の電圧調整を行う電圧調整回路を備えることを特徴とする請求項2、3又は4記載の温度検出回路。
  10. 前記第2の電圧源回路は、生成した第2電圧の電圧調整を行う電圧調整回路を備えることを特徴とする請求項5、6又は7記載の温度検出回路。
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