JP2004521052A - 高純度・低比抵抗の静電チャック - Google Patents
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Abstract
Description
発明の背景
静電チャック(electrostatic chucks)は、サセプタ(susceptors)としても知られており、半導体デバイスの製造時にウエハのような種々の基板を支持するために使用される。静電チャックはセラミック材料から製造されることが多い。とりわけ、窒化アルミニウム(AlN)セラミックスは、たとえば良好な耐衝撃性、良好な熱伝導電性、シリコンに適合する良好な熱膨張、ならびにプラズマに対する良好な耐浸食および耐腐食、のような数多くの魅力的な性質を有する。
【0002】
クーロンおよびJohnson−Rahbek型の両方のチャックがウエハ製造に使用されうる。Jhonson−Rahbek態様で操作するために、チャックの体積(もしくは誘電)比抵抗(volume (or dielectric) resistivity)は、操作温度、約108〜約1013ohm・cmの範囲にあるのが通常であり、そして好ましくは約109〜約1011の範囲である。たとえば、ドライエッチングプロセスにおいて、ウエハが室温近くで処理される場合、チャックは室温で109〜1011ohm・cmの比抵抗を示すべきである。蒸着プロセス(PVDおよびCVD)については、チャックは比較的高温、たとえば約250〜約700℃で109〜1011ohm・cmの体積比抵抗の範囲を示す。
【0003】
しかし、窒化アルミニウムセラミックスの体積比抵抗は、Jhonson−Rahbek静電チャックを製造するのに適していると考えられるよりも高い傾向にあるのが通常である。たとえば、室温で、窒化アルミニウムセラミック体の体積比抵抗は、ドーパントの不在下に、1013ohm・cmを超えるのが通常である。
【0004】
密な窒化アルミニウム体の体積比抵抗を低減させるのに用いられる方法は、窒化アルミニウムに少量の金属もしくは炭素を添加することを含む。しかし、ウエハ製造においてチャック体に存在する不純物はウエハを汚染し得、一般に望ましくない。
【0005】
さらに、不純物は従来の(圧力なしの)焼成時に緻密化(densification)を促すために用いられる焼成助剤(sintering aids)の形態でAlNセラミックス中に導入されうる。焼成助剤の例は、酸化イットリウム(Y2O3),フッ化カルシウム(CaF2)、酸化カルシウム(CaO)および炭酸カルシウム(CaCO3)を含む。使用される典型的な量は0.1〜3wt%の範囲である。焼成助剤の存在についての1つの利点は、たとえばアルミン酸イットリウムのような金属−アルミン酸塩相の生成である。ウエハ製造時に、そのような相はプラズマにより改撃され得、望ましくないウエハの汚染を生じさせ得る。
【0006】
静電チャックを形成するための1つの方法は、アルミニウム以外の金属含量が約100ppmより少ない原料AlN材料を使用する。この原料は窒素のような不活性雰囲気中で焼成される。しかし、このような方法で体積比抵抗が低減されうる程度は、制限されるのが通常である。
【0007】
窒化アルミニウム体の誘電特性を変更する1つの方法は従来の(圧力なしの)焼成およびアルゴン雰囲気下で冷却することを用いる。緻密化のために数wt%ものY2O3が添加されるので、得られる材料は純度が高くなく、望ましくないアルミン酸イットリウム相を示しうる。さらに本発明方法により製造される静電チャックの室温体積比抵抗はJohnson−Rahbekの使用には高すぎる。
【0008】
したがって、Johnson−Rahbek型の静電チャックの製造に適した体積比抵抗を有する高純度窒化アルミニウムセラミックスについて、必要性が存在する。
【0009】
発明の要約
約23℃の温度で約1×1013ohm・cmより小さい室温体積比抵抗を有する、密で、高純度の窒化アルミニウムセラミック材料は、窒素が不足している(deficient in nitrogen)雰囲気中で窒化アルミニウムから本質的になるホットプレスセラミック体を熱処理することにより製造されうることが見出された。
【0010】
本発明は一般的に窒化アルミニウムから本質的になる物体の体積比抵抗を低減させる方法に関する。その方法は窒素が不足している雰囲気中で少なくとも約1000℃の浸漬(soak)温度にその物体を曝すことを含む。
【0011】
もう1つの態様において、本発明は約1×1013ohm・cmより小さい体積比抵抗を有する多結晶質窒化アルミニウム体を形成させる方法である。この態様において、本質的に窒化アルミニウムからなる未焼成体(green body)は焼成されて多結晶質体を形成する。その多結晶体は、約23℃の温度で、多結晶質体の体積比抵抗を約23℃の温度で約1×1013ohm・cmより小さくするのに十分な時間、窒素が不足している雰囲気中で少なくとも約1000℃の浸漬温度に曝される。
【0012】
もう1つの態様において、本発明は窒化アルミニウムから本質的になる静電チャックの体積比抵抗を低減させる方法である。この態様において、静電チャックの少なくとも1部分は窒素の不足している雰囲気中で少なくとも1000℃の浸漬温度に曝される。
【0013】
さらに本発明は静電チャックに関する。静電チャックは第1の面および第2の面を有する電極を含み、そしてその物体は電極の第1の面に第1の部分、そして電極の第2の面に第2の部分を有する。チャック体の第1の部分は約1×1013ohm・cmより小さい体積比抵抗を有する。第2の部分の体積比抵抗は第1の部分と1桁異なる大きさの範囲内(within one order magnitude)にある。
【0014】
本発明は数多くの利点を有する。たとえば、本発明は、理論密度の98%より大きい密度、室温で1013ohm・cmより低い体積比抵抗、ならびに1000ppm
以下の全金属不純物、そして500ppm以下の炭素、好ましくは490ppm未満の炭素を含む、多結晶質窒化アルミニウム体を製造しうる。その物体は焼成助剤の不存在下で製造され得、Johnson−Rahbek態様で操作しうる静電チャックの製造において、特に魅力的にする性質を有する。本発明の静電チャックは再現しうる態様で製造され得、そしてチャック体全体が非常に均一である体積比抵抗を有する。
【0015】
発明の詳細な説明
本発明の特徴および他の詳細は、本発明の段階として、もしくは本発明の部分の組合わせとして、添付図面によりさらに詳細に説明され、請求項において規定される。本発明の特定の態様は例示として示され、本発明を限定するものではない。本発明の主な特徴は本発明の範囲を逸脱しないで種々の態様で使用されうる。
【0016】
本発明は一般的に、窒化アルミニウムから本質的になる物体の体積比抵抗を低滅させる方法に関する。もう1つの態様において、本発明は約23℃の温度で約1×1013ohm・cm より小さい体積比抵抗を有する多結晶質窒化アルミニウム体を形成することに関する。さらなる態様において、本発明は本質的に窒化アルミニウムからなる静電チャックの体積比抵抗を低減させる方法に関する。さらにもう1つの態様において、本発明は静電チャックに関し、物体の第1の部分は約23℃の温度で約1×1013ohm・cmよりも小さい体積比抵抗を有し、そして第2の部分の体積比抵抗は第1の部分と1桁異なる大きさの範囲内にある。
【0017】
方法は、窒化アルミニウムを本質的に含む物体を窒素が不足している雰囲気に少なくとも1000℃の温度に曝すことを含む。好適には、物体は、1000ppm以下の金属不純物、もっと好ましくは500ppm以下、そして最も好ましくは250ppm以下の金属不純物を含む。「金属不純物」はここで規定されるように、アルミニウムおよびシリコン以外の金属を意味する。
【0018】
もう1つの態様において、物体は未焼成体である。ここで規定されるように「未焼成体」は、粉末の圧密予備緻密化(compacted predensified)体を意味し、焼成としても知られる緻密化に際して、セラミック体を形成する。適切な窒化アルミニウム粉末は約1000ppmより低い金属不純物含量を有する。1つの態様において、窒化アルミニウム粉末はそれぞれ約500ppmおよび100ppmより低いシリコンおよびホウ素不純物を有する。
【0019】
適切な粉末の例は、約0.1〜約5μmの範囲の平均粒径を有する粉末を含む。好適には、粉末は少なくとも約1.4μmの中間粒径を有する。さらに、好ましくは、粉末は、約4.5m2/gより小さい比表面積を有する。商業的もしくは工業グレードの粉末が使用されうる。商業的に入手しうるAlN粉末の例は、Tokuyama Soda Grade FおよびTokuyama Soda Grade H(TS−H)粉末、Elf Atochem Grade A4粉末、Stark Grade C粉末等を含むが、これらに限定されない。
【0020】
粉末はこの分野で知られるような適切な方法により未焼成体に形成されうる。未焼成体を形成する適切な方法の例は、コールドプレスである。あるいは、粉末はテープ注型(tape casting)により未焼成体に形成されうる。好ましくは、バインダーもしくは焼成助剤も使用されないで、未焼成体を形成される。
【0021】
あるいは、本質的に窒化アルミニウムからなる物体は焼成体でありうる。特に好ましい態様において、窒化アルミニウムから本質的になる物体は多結晶質である。好ましくは、多結晶質体は、理論密度の約98%より大きい相対密度を有する。
【0022】
ここで規定されるように、「窒素が不足している」(”deficient in nitrogen”)雰囲気は、約35kPaより小さい窒素分圧を含む雰囲気をいう。約1000℃を超える温度および窒素が不足している雰囲気に、本質的に窒化アルミニウムからなる粉末もしくは緻密化体を曝すことにより、増加した数の窒素の空位(vacancies)が窒化アルミニウムに創り出され、溶解した酸素不純物により窒素の置換を大幅に減少させる。
【0023】
窒化アルミニウムにおける酸素の減少した存在は、代わって、体積比抵抗を大幅に低減させる。
【0024】
任意には、雰囲気は少なくとも1つの他の適切な不活性ガスを含みうる。1つの態様において、雰囲気はアルゴン、ヘリウムもしくはそれらの混合物から本質的になる群から選ばれる。好適な態様において、雰囲気は本質的にアルゴンからなる。
【0025】
「浸漬温度」(”soak temperature”)は、ここで規定されるように、物体が窒素の不足した雰囲気中に保持され、そして1000℃を超える温度をいう。浸漬温度は、物体が同時に焼成される温度でありうる。浸漬温度は未焼成体の焼成を生じさせるのに必要であるよりも低い温度でありうる。
【0026】
1つの態様において、物体は少なくとも約1200℃の浸漬温度に曝される。好適な態様において、物体は少なくとも約1500℃の浸漬温度に曝される。特に好適な態様において、物体は少なくとも約1650℃の浸漬温度に曝される。
【0027】
物体は、約23℃の温度で約1013ohm・cmより小さく物体の体積比抵抗を生じさせるのに十分な時間、浸漬温度に曝される。1つの態様において、物体が熱平衡に達した後に、少なくとも約0.5時間、浸漬温度に曝される。好適には、物体は少なくとも約4時間、浸漬温度に曝される。
【0028】
1つの態様において、窒素が不足している雰囲気は約1Pa〜約14kPaの範囲の圧力下にある。もう1つの態様において、雰囲気は約7kPa〜約14kPaの範囲の圧力下にある。
【0029】
物体は適切な未焼成体の緻密化の前に、間に、もしくは後のいつでも、本発明方法により、窒素が不足している雰囲気中で浸漬温度に曝されうる。好適な態様において、未焼成体は物体が熱平衡に達した後に、窒素の不足している雰囲気中で約0.5〜約4時間の範囲の時間、約1000〜約2000℃の範囲の浸漬温度に曝される。最も好ましくは、この態様において、雰囲気は本質的にアルゴンからなり、そして約7kPa〜約14kPaの範囲の圧力下にある。
【0030】
なおもう1つの態様において、本発明の方法は緻密化につづいて物体を冷却する間に窒素が不足している雰囲気に緻密化した物体を曝すことを含む。この態様において、好ましくは緻密化した物体は約1650℃〜約1000℃の範囲の温度に約15℃/分より小さい速度で冷却される。最も好ましくは、緻密化した物体は約1650℃の温度に冷却される。好ましくは、緻密化した、もしくは多結晶質の物体は、ついで少なくとも約4時間、約1650℃の浸漬温度に保持される。好ましくは雰囲気は、緻密化した物体の冷却の間、そして1650℃の温度での保持の間、約7〜14kPaの圧力下に維持される。任意には、ついで緻密化した物体は約1500℃の温度に約15℃/分の速度で冷却されうる。好ましくは雰囲気は約20MPaの圧力下に保持され、そして窒素が不足している雰囲気のままである。その後、緻密化した物体は約1500℃の浸漬温度に保持されうる。1つの態様において、緻密化した物体は、物体が熱平衡に達した後に、約0.5〜約4時間の範囲の時間、1500℃の浸漬温度に保持される。ついで、緻密化した物体は外界温度に冷却される。
【0031】
もう1つの態様において、緻密化した物体は、緻密化に続いて約1500℃の温度に冷却され、そして物体が熱平衡に達した後に、約0.5〜約4時間の範囲の時間、その温度に保持される。あるいは緻密化した物体は、緻密化に続いて約1200℃の温度に冷却され、そして物体が熱平衡に達した後に、約0.5〜約4時間の範囲の時間、その温度に保持される。両方の態様において、冷却の好適な速度は約15℃/分である。さらに、両方の態様において、好ましくは雰囲気は緻密化の間に使用されるのとほとんど同一の圧力に維持される。
【0032】
1つの態様において、窒化アルミニウムから本質的になる物体は約23℃の温度での物体の体積比抵抗を約1×108ohm・cm〜約1×1013ohm・cmの範囲にするのに十分な時間、窒素が不足する雰囲気中で少なくとも約1000℃の温度に曝される。
【0033】
1つの好適な態様において、本発明は約23℃の温度で約1×1013ohm・cmより小さい体積比抵抗を有する多結晶質窒化アルミニウムを生成する方法である。方法は本質的に窒化アルミニウムからなる未焼成体を焼成して多結晶質体を生成させることを含む。1つの態様において、未焼成体は約0.1μm〜約5μmの範囲の粒径を有する窒化アルミニウム粉末を含む。好適には、窒化アルミニウム粉末はAおよびB、ならびにそれらの混合物からなる群より選ばれる。最も好ましくは、窒化アルミニウム粉末は本質的にB粉末からなる。これらの粉末についての粉末特性は表1に示される。1つの態様において、未焼成体は窒素が不足する雰囲気で焼成される。好ましくは、雰囲気は、アルゴンから本質的になる。1つの態様において、未焼成体は約10MPa〜約50MPaの範囲の圧力下で焼成される。好適には未焼成体は少なくとも約10MPaの圧力下で焼成される。1つの態様において、未焼成体は少なくとも4時間、少なくとも約1650℃の温度で焼成される。好ましくは、未焼成体は、窒化アルミニウム粉末の理論密度の少なくとも約98%に緻密化されるまで焼成される。
【0034】
任意には、窒素の不足した雰囲気中で少なくとも約1000℃の浸漬温度に曝された物体を形成するのに使用される粉末もたとえばArのような窒素に不足した雰囲気中で少なくとも約1000℃の浸漬温度に曝されうる。本発明の1つの態様において、粉末は、粉末が平衡に達した後に、少なくとも0.5時間、約1500℃の浸漬温度に曝される。もう1つの態様において粉末は、粉末が平衡に達した後に、少なくとも0.5時間、約1650℃の浸漬温度に曝される。
【0035】
1つの態様において、未焼成体は得られる多結晶質体の体積比抵抗を、約23℃の温度で約1×1013ohm・cmより小さくするのに十分な時間、窒素の不足した雰囲気中で焼成される。任意には、もしくはまたは、多結晶質体は、多結晶質体の体積比抵抗を、約23℃の温度で約1×1013ohm・cmより小さくするのに十分な時間、窒素の不足した雰囲気中で少なくとも約1000℃の温度に緻密化につづいて曝される。1つの態様において、多結晶質体は焼成温度から少なくとも約1000℃の温度に冷却される。好ましくは多結晶質体は約15℃/分より小さい速度で冷却される。多結晶質体が冷却される温度、比較的低温で保持される時間、窒素が不足する雰囲気の組成、および雰囲気の圧力、を含む条件は、緻密化した窒化アルミニウム体の処理に関して述べられたもののいずれであってもよい。
【0036】
もう1つの態様において、本質的に窒化アルミニウムからなる物体の体積比抵抗は多結晶質体のような緻密化体を窒素が不足した雰囲気中で少なくとも約1000℃の浸漬温度に加熱することにより低減されうる。物体は他の本発明の態様に関して上述されるように、浸漬温度、圧力、雰囲気および時間に保持される。
【0037】
もう1つの態様において、本発明は、図1に示されるような静電チャックである。本発明の静電チャック10は、第1の面14および第2の面16を有する電極12を含む。電極12は、たとえばモリブデン、タングステンもしくはそれらの組合わせ、のような適切な金属から形成されている。電極12は箔、プレート、メッシュ、スクリーン印刷もしくは他の適切な形状でありうる。任意に、静電チャック10は付加的な金属要素を含みうる。たとえば、静電チャック10は付加電極および/または加熱要素(図示せず)を含みうる。
【0038】
チャック体18は本質的に窒化アルミニウムからなる。さらにチャック体18は電極10の第1の面14に第1の部分20、そして電極10の第2の面16に第2の部分22、を有する。物体18の第1の部分20は約1×1013ohm・cmより小さい体積比抵抗を有する。第2の部分22の体積比抵抗は第1の部分20と1桁異なる大きさの範囲内にある。たとえば、第2の部分の体積比抵抗は第1の部分の10%より小さくなく、そして10倍以下である。端末24は電極12から伸びている。好適な静電チャックおよびその製造方法は米国特許出願No.09/457,968のElectrostatic Chuck,Susceptor and Method for Fabrication(1999年12月9日出願)(引用により全体をここに組入れられる)、ならびに米国仮特許出願No.60/169,859のElectrostatic Chuck with Flat Film Electrode(1999年12月9日出願)(引用により全体をここに組入れられる)に記載されている。
【0039】
本発明の静電チャックは上述の材料および方法により製造されうる。1つの態様において、圧密化AlN粉末の形態の第1の未焼成部分はダイ中におかれる。金属要素もしくは電極は第1の未焼成部分上に置かれる。AlN粉末の第2の部分は、金属要素もしくは電極の上に、および、かぶせて(on and overlaying)、圧密化され、そして得られるプリフォーム(preform)はホットプレスされ、多結晶質体の体積比抵抗を約23℃(室温)の温度で約1×1013ohm・cm以下にするのに十分な時間、窒素が不足する雰囲気中で少なくとも約1000℃の浸漬温度に曝される。
【0040】
本発明の静電チャックは、チャック体の緻密化もしくは焼成した第1部分を用いて製造されうる。密な部分は上述のように未焼成AlN前駆体をホットプレスすることにより得られうる。金属要素もしくは電極は密な第1の部分の1面上に置かれる。機械加工が電極を置くのに適した平らな表面を付与するのに用いられうる。機械加工は他の表面を平滑にするのにも使用されうる。AlN粉末は電極の上に、および、かぶせて置かれ、そして圧蜜化される。得られるプリフォームは、ホットプレスされ、多結晶質体の体積比抵抗を約23℃(室温)の温度で約1×1013ohm・cm以下にするのに十分な時間、窒素が不足する雰囲気中で少なくとも約1000℃の浸漬温度に曝される。
【0041】
チャックの操作時に、電圧が金属要素もしくは電極にかけられる。1つの配置において、電気的接触もしくは端末は通常1つ以上の接続により、電極に連結され電力を供給する。適切な接続は導電性のワイア、テープ、ケーブル、その他を含むが、これらに限定されない。
【0042】
本発明の1つの態様において、電極と適切なコネクターの間の電気的接触が形成されうるが、たとえば上述のように熱処理の間に、窒素が不足した雰囲気にチャックが曝される。
【0043】
1つの態様において、電気的接触はろう付けにより形成されうる。孔がチャック体に開けられ、電極の一部を曝す。ろう付け材は電極のさらされた部分上に、孔の底部に置かれ、そしてコネクターはろう付け材に接続されその場に固着される。アセンブリーは上述のように浸漬温度、および窒素が不足した雰囲気で加熱され、それによりコネクターを電極に結合する。好適な態様において、電極はMo、Wもしくはそれらの組合わせを含み、そしてろう付け材は、たとえばMo、Wおよびそれらの組合わせのような第1金属、ならびにNi、Coもしくはそれらの組合わせのような第2金属を含む。第2相もしくは金属間種を生成することなく第1および第2金属が純種(true)の溶液を形成する組成物が好適である。1つの適した組成はMo99.8%およびNi0.2%である。コネクターもしくはその部分は、第1金属、たとえばMoを含むのが好ましい。
【0044】
本発明は次の例によりさらに説明されるが、それらは例示の目的で供給され、限定的であるものではない。
例
材料および比抵抗測定
これらの実験において用いられたAlN粉末A、BおよびCの性質は下の表1に要約される。粉末AおよびBはカルボサーマル還元反応に由来するが、Cは直接窒素化により製造されると考えられる。
【0045】
クーポン試料(板状試験片)の電気比抵抗(DC)は励起時間60秒および500ボルトを用いてASTMD237−93により測定されたが、クーポンは各1mm厚さであったので、500V/mmの電場を表わす。比抵抗は最大350℃まで、選ばれたクーポンについて温度の関数として測定された。結果は表2および3(室温)、ならびに図2〜5(比抵抗対温度)に示される。
【0046】
【表1】
【0047】
例1
圧力なし(従来)焼成したAlN試料(50mm×50mm×1mm)が焼成助剤としてY2O3を有するAlN粉末Aを用いて調製された。使用されたY2O3の量は約2wt%〜約5wt%であった。25mm×25mm×1mm厚さのクーポンがこれらの試料から切取られ、下の表2に概説される熱処理サイクルに供された。各場合において、クーポンはメタノールで洗浄され、乾燥され、熱処理のためにAlNるつぼ内に置かれる。焼成されたまま、ならびに熱処理後、の比抵抗測定値は表2および図2に示される。
【0048】
表2および図2にみられるように、アルゴン(Ar)のような、窒素が不足している雰囲気でのアニ−ルはN2中よりももっと効率的に室温比抵抗を低減させた。調節された態様で1200℃に冷却することは、1500℃への冷却と有意な差異を生じなかった。結局、熱処理サイクルもしくは使用された雰囲気にかかわらず、比較例はどれも1012ohm・cmより小さい室温比抵抗を示さなかった。
例2
B、AおよびCのAlN原料粉末はステンレス鋼ダイ中でコールドプレスされ、約75mm径で20mm厚さのパック(puck)プリフォームにされた。焼成助剤はこれらの粉末とともに使用されなかった。これらのパックプリフォームは黒鉛ホットプレスダイ中に含まれるBN被覆黒鉛スリーブ中に装填された。プリフォームはBN被覆黒鉛スペーサで互いに分離された。ホットプレスは20.6MPa(3000psi)でN2中において、1850℃で2時間、実施された。加熱速度は、浸漬温度が4.5時間で到達されるようにされた。浸漬後に、装填は取除かれ、冷却速度は1500℃まで1.4℃/分に保持された。この点で、電力が止められ、アセンブリーは室温に自由に冷却された。ホットプレスされたパックのかさ密度が測定された。各パックは3.26g/cc、すなわち理論密度の100%に近づいた。ついで25mm×25mm×1mm厚さのクーポンがこれらのパックから切取られ、上述のように洗浄され、そして下の表3に概説される熱処理サイクルに供された。電気比抵抗測定値は表3および図3〜5に示される。
【0049】
【表2】
【0050】
ホットプレスされたままのクーポンは、使用された高純度AlN粉末の種類にかかわらず約1014ohm・cmの室温電気比抵抗を示した(図3参照)。それらをN2存在下で熱処理に供することは、比抵抗を有意に変えなかった。しかし、Ar中でのアニ−ルは、AにもとづくAl、そして特にBにもとづくAlNクーポンに関して比抵抗の劇的な低減を生じさせた。BのAlNについては、ほとんど5桁の大きさの低下が記録された。その劇的な比抵抗低減は比較例に照らすと、大幅で、かつ予想外であった。
【0051】
【表3】
【0052】
例3
静電チャックは次のように製造された。
(i)約305mm(12インチ)径の成型キャビティが、黒鉛ダイ、黒鉛スリーブインサート、頂部に黒鉛箔(grafoil)の薄いシートを有する黒鉛スペーサ、および黒鉛ピストンを組合わせることにより形成された。AlN原料粉末A(焼成助剤なし)が成型キャビティに直接注入された。ついで、粉末は平らな上方表面を与えるためにアルミニウムプランジャーで圧密された。孔をあけたモリブデン電極箔(約254mm(10インチ)径で0.125mm厚さ(0.005インチ))がこの表面の中央に置かれた。追加のAlN粉末が電極の頂部に注入され、そして全アセンブリーがアルミニウムプランジャーで圧密された。もう1つの黒鉛箔シートが黒鉛スペーサおよびピストンにつづく頂部の上に置かれた。このアセンブリーはついで20.6MPa(3000psi)でN2中において、1850℃で2時間ホットプレスされた。加熱速度は浸漬温度が6時間で到達されるようにされた(すなわち約5℃/分)。浸漬後に、装入は徐々に減少され、そして冷却速度は1500℃まで1.4℃/分に保持された。この点で、電力は止められ、そしてダイアセンブリーはN2外気中で室温まで自由に冷却された。得られたホットプレスチャックのかさ密度は3.333g/ccであり、チャックが比較的密なMoを埋め込まれた(embedded)電極を含む事実を表わす。微小焦点(microfocus)X線はチャック体にいかなる欠陥もしくはクラックも示さなかった。チャックの室温比抵抗(500Vで測定)は2.1×1013ohm・cmであった。
(ii)同一の方法がAlNのB粉末について繰返され300mmJohnson−Rahbekチャックを形成した。
(iii)Mo箔電極を用いる代わりに、Moメッシュ電極がAlN静電チャックを製造するのに用いられた。たとえばメッシュ電極は0.0085インチ径のワイアを用いてインチあたり30ワイア、または0.005インチ径のワイアを用いてインチあたり50ワイアを有していた。
(iv)2段階法がチャックの製造に用いられた。(i)、(ii)もしくは(iii)におけるように電極を埋め込む代わりに、密なAlNのみが第1段階として上述のようにホットプレスにより製造された。両方の面が機械処理で平らにされた後、この物体は上述の黒鉛ダイ/スリーブアセンブリに配置された.Mo電極(箔もしくはメッシュ形態)が密なAlN表面に置かれた。AlN原料粉末が電極頂部に注がれ、そしてアルミニウムプランジャーで圧蜜された。黒鉛箔シートならびに黒鉛スペーサおよびピストンがアセンブリーを完結させた。このアセンブリーは(i)におけるのと同一条件でホットプレスされた。
【0053】
(i)〜(ii)の方法に記載されるように調製されたチャックは次のように比抵抗調節に供された。
(A)300mm部品への熱処理の影響を確認するために、埋め込まれた電極を有さないブランクのチャックがアルゴン中で1700℃、4時間からなるアニ−ルサイクルに供された。AlNブランクチャックの500V/mm電場において得られた比抵抗は室温で3.3×109ohm・cmであった。ついでメッシュ電極にもとづくチャックが同一サイクルを用いてアニ−ルされた。得られた室温比抵抗は1.3×1010ohm・cmであった。
(B)上述の比抵抗調節は、さらにホットプレスサイクルに組入れられた。このために、75mmブランクパック(電極が埋め込まれていない)が通常のN2外気の代わりにArでホットプレスされた検討が実施された。うまくいったAlN緻密化(すなわち理論値の99.5%より良好な結果)のみならず、室温電気比抵抗測定値は、パックの比抵抗も5.8×1010ohm・cmに下方に調節されたことを示した。
(C)別に、埋め込まれた電極を含む300mmAlNチャックが、通常のN2雰囲気の代わりにAr雰囲気中で20.6MPa(3000psi)で、1850℃、3時間、ホットプレスすることにより製造された。浸漬後に、温度1500℃まで1.4℃/分で低下され、そこで電力が止められた。ホットプレスされたままの比抵抗は約1×1014ohm・cm(ホットプレスの間、通常のN2大気)から約1×1011〜1×1012ohm・cmに低減した。チャックの1つは、空気中に1700℃で、4時間、熱処理された。クーポンは熱処理されたチャックから比抵抗測定のためのホットプレスのままのチャックとして切取られた。これらのクーポンは2つの半径方向の位置−中央および端から約25mmで、電極の上方および下方から得られた。500V/mmで得られた室温比抵抗値は表4に示される。
【0054】
【表4】
【0055】
ホットプレスされたままのクーポンの比抵抗はすでに1011〜1012ohm・cmの範囲にあり、かなり均一である。熱処理後に、比抵抗値はすべて所望の範囲にあり、埋め込まれた電極の上方および下方ともに、すなわち、半径方向および厚さ方向に、非常に均一である。ホットプレス時にダイ/スリーブ/チャックアセンブリーがかなり蜜に充填されていること、ならびにいくつかのチャックが同時に処理されることを考えると、1段階で目標レベルに比抵抗を調節するために、組合わされたホットプレス/アニ−ルサイクルを最適化する必要がある。
例4
AlNホットプレス材料の分析は選択された材料特性を確かめるために実施された。純度の情報は燃焼分析および誘導結合プラズマ(ICP)により測定され、そしてAlN粒径情報は定量画像分析により、研磨されエッチングされた試料から得られ、表5に示される。
【0056】
【表5】
【0057】
例5
本質的に例3に示されるように、静電チャック試料が焼成され、熱処理され、もしくは窒素が不足している雰囲気に曝された。2種類の電極が用いられた:メッシュにもとづくものとスクリーン印刷。孔は静電チャックアセンブリーの後ろ(厚い方の側)から形成され、埋め込まれた電極を曝す。Mo99.8%−Ni0.2%の名目的組成を有する粉末が孔の底部に置かれ、電極の曝された部分と接触する。Moコネクターが粉末と物理的に接触して孔に挿入され、その場で固着された。試料はAr中で約1700℃に4時間加熱された。得られる試料は冷却され、2つの種類の電極間で強い電気的接触から形成されたことを示す引張り試験(pull tests)に供された。同時に、チャック体の体積比抵抗は5×109〜5×1010ohm・cmに低減した。
例6
AlN粉末のBはるつぼに入れられ、本質的に、焼成AlN体の体積比抵抗を低減させるのに用いられるように約1650℃でAr雰囲気に曝される。粉末は室温に冷却され、必要ならば解凝集され、そして上述のように、静電チャックを形成するのに用いられた。得られるチャックは500V/mmで測定して約2.2×107の室温比抵抗値を有していた。
均等物
当業者は、日常の実験以外のものを用いないで、ここに具体的に記載された本発明の特定の態様と均等な多くのことを認識し、もしくは確かめうる。このような均等物は請求の範囲に包含される。
【図面の簡単な説明】
【図1】
本発明の静電チャックの断面図。
【図2】
従来の圧力なしの焼成により調製された焼成多結晶AlN材料の比抵抗の温度依存性のプロット表示。
【図3】
粉末A、B、およびCから調製された焼成多結晶質試料の温度依存性のプロット表示。
【図4】
粉末Bから調製された焼成多結晶質試料の温度依存性のプロット表示。
【図5】
粉末Cから調製された焼成多結晶質試料の温度依存性のプロット。
Claims (46)
- 本質的に窒化アルミニウムからなる物体の体積比抵抗を低減する方法であり、その物体を窒素が不足している雰囲気において少なくとも約1000℃の温度に曝すことを含む方法。
- 該物体が多結晶質である請求項1記載の方法。
- 該雰囲気において窒素の分圧が約35kPaより小さい請求項2記載の方法。
- 該雰囲気がアルゴン、ヘリウム、およびそれらの混合物からなる群より選ばれるガスから本質的になる請求項3記載の方法。
- 該雰囲気がアルゴンから本質的になる請求項4記載の方法。
- 物体が少なくとも約1200℃の温度に曝される請求項5記載の方法。
- 物体が少なくとも約1500℃の温度に曝される請求項6記載の方法。
- 物体が少なくとも約1650℃の温度に曝される請求項7記載の方法。
- 物体が熱平衡に達した後に少なくとも約0.5時間、該温度に曝される請求項4記載の方法。
- 物体が熱平衡に達した後に少なくとも約4時間、該温度に曝される請求項9記載の方法。
- 約1200℃よりも低い温度に約15℃/分より小さい速度で物体を冷却する段階をさらに含む請求項8記載の方法。
- 約1500℃の温度に物体が冷却される請求項11記載の方法。
- 雰囲気が少なくとも約1Paの圧力下にある請求項1記載の方法。
- 雰囲気が約7kPa〜14kPaの圧力下にある請求項1記載の方法。
- 多結晶質体物体が少なくとも4時間、少なくとも約1650℃の温度で該雰囲気に曝され、そして雰囲気が約20MPaの圧力下にある請求項4載の方法。
- 約1500℃の温度に約15℃/分の速度で多結晶質体を冷却する段階をさらに含む請求項15記載の方法。
- 多結晶質体が理論密度の約98%より大きい相対密度を有する請求項16記載の方法。
- 該物体が未焼成体である請求項1記載の方法。
- 未焼成体が約0.1μm〜5.0μmの範囲の平均粒径を有する窒化アルミニウムを含む請求項18記載の方法。
- 該未焼成体を焼成する段階をさらに含む請求項19記載の方法。
- 該未焼成体が少なくとも1600℃の温度で焼成される請求項20記載の方法。
- 該未焼成体は窒素が不足している雰囲気において焼成される請求項21記載の方法。
- 該雰囲気がアルゴンから本質的になる請求項22記載の方法。
- 該未焼成体を焼成して該体を多結晶質にする請求項23記載の方法。
- 多結晶質体を窒素が不足している雰囲気に少なくとも約1000℃の温度に曝す前に、該多結晶質体を約25℃に冷却する段階をさらに含む請求項24記載の方法。
- 多結晶質体が少なくとも約4時間、少なくとも約1600℃の温度に曝される請求項25記載の方法。
- 約1500℃よりも低い温度に約15℃/分より小さい速度で多結晶質体を冷却する段階をさらに含む請求項26記載の方法。
- 多結晶質体が理論密度の約98%より大きい相対密度を有する請求項27記載の方法。
- 未焼成体が約10MPa〜50MPaの範囲の圧力下で焼成される請求項20記載の方法。
- 未焼成体が少なくとも約10MPaの圧力下で焼成される請求項20記載の方法。
- 未焼成体が約20MPaの圧力下で焼成される請求項21〜30のいずれかに記載の方法。
- 物体が、約23℃の温度で約1×108ohm・cm〜約1×1013ohm・cmの範囲の体積比抵抗を生じさせるのに十分な時間、約1000℃を超える該温度に曝される請求項1記載の方法。
- 物体はAlN粉末から形成され、該粉末は窒素が不足している雰囲気に少なくとも約1000℃の温度に曝される請求項1記載の方法。
- 約23℃の温度で約1×1013ohm・cmより小さい体積比抵抗を有する多結晶質窒化アルミニウム体の形成方法であり:
a) 本質的に窒化アルミニウムからなる未焼成体を焼成して多結晶質体を形成させること;および
b) 多結晶質体の体積比抵抗を約23℃の温度で約1×1013ohm・cmより小さくするのに十分な時間、窒素が不足している雰囲気に少なくとも約1000℃の浸漬温度に該多結晶質体を曝すこと、
の段階を含む方法。 - 窒素が不足している雰囲気がアルゴンから本質的になる請求項34記載の方法。
- 未焼成体が約0.1μm〜5.0μmの範囲の平均粒径を有する窒化アルミニウムを含む請求項35記載の方法。
- 多結晶質体が約15℃/分より小さい速度で焼成温度から冷却される請求項36記載の方法。
- 未焼成体は窒素が不足している雰囲気において焼成される請求項37記載の方法。
- 未焼成体がアルゴンから本質的になる雰囲気において焼成される請求項38記載の方法。
- 未焼成体が約10MPa〜50MPaの範囲の圧力下で焼成される請求項39記載の方法。
- 未焼成体が少なくとも約10MPaの圧力下で焼成され請求項39記載の方法。
- 未焼成体は、窒素が不足している雰囲気に少なくとも約1000℃の浸漬温度に曝されたAlN粉末から形成される請求項34記載の方法。
- 窒化アルミニウムから本質的になる静電チャックの体積比抵抗を低減させる方法であり、該静電チャックの少なくとも一部を窒素が不足している雰囲気に少なくとも約1000℃の温度に曝すことを含む方法。
- 雰囲気がアルゴンから本質的になる請求項43記載の方法。
- 静電チャックが、約23℃の温度で約1×108ohm・cm〜約1×1013ohm・cmの範囲のチャック体積比抵抗を生じさせるのに十分な時間、約1000℃を超える該温度に曝される請求項43記載の方法。
- a) 第1の面および第2の面を有する電極;ならびに
b) 窒化アルミニウムから本質的になる物体であり、該物体は該電極の第1の面に第1の部分ならびに該電極の第2の面に第2の部分を有し、該物体の第1の部分は約23℃の温度で約1×1013ohm・cmより小さい体積比抵抗を有し、そして第2の部分の体積比抵抗は第1の部分と一桁異なる大きさの範囲内にある、
ことを含む静電チャック。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010120822A (ja) * | 2008-11-21 | 2010-06-03 | Ngk Insulators Ltd | 窒化アルミニウム焼結体、その製法及びそれを用いた静電チャック |
JP2014214069A (ja) * | 2013-04-27 | 2014-11-17 | 京セラ株式会社 | 半導電性セラミックスおよび半導電性セラミックスの製造方法 |
JP2023518438A (ja) * | 2020-03-27 | 2023-05-01 | 烟台睿瓷新材料技術有限公司 | 多層複合セラミックスプレート及びその製造方法 |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10085268T1 (de) * | 1999-12-09 | 2002-12-12 | Saint Gobain Ceramics | Elektrostatische Scheibenhalter mit Flachfilmelektrode |
US6603650B1 (en) * | 1999-12-09 | 2003-08-05 | Saint-Gobain Ceramics And Plastics, Inc. | Electrostatic chuck susceptor and method for fabrication |
TWI243158B (en) * | 2000-12-21 | 2005-11-11 | Ngk Insulators Ltd | Aluminum nitride sintered bodies |
US7369393B2 (en) * | 2004-04-15 | 2008-05-06 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | Electrostatic chucks having barrier layer |
US8187525B2 (en) * | 2007-08-31 | 2012-05-29 | Corning Incorporated | Method of firing green bodies into porous ceramic articles |
TWI475594B (zh) | 2008-05-19 | 2015-03-01 | Entegris Inc | 靜電夾頭 |
US8861170B2 (en) | 2009-05-15 | 2014-10-14 | Entegris, Inc. | Electrostatic chuck with photo-patternable soft protrusion contact surface |
CN102449754B (zh) | 2009-05-15 | 2015-10-21 | 恩特格林斯公司 | 具有聚合物突出物的静电吸盘 |
US8580593B2 (en) * | 2009-09-10 | 2013-11-12 | Micron Technology, Inc. | Epitaxial formation structures and associated methods of manufacturing solid state lighting devices |
US9025305B2 (en) | 2010-05-28 | 2015-05-05 | Entegris, Inc. | High surface resistivity electrostatic chuck |
WO2012012384A1 (en) * | 2010-07-20 | 2012-01-26 | Hexatech, Inc. | Polycrystalline aluminum nitride material and method of production thereof |
JP6159982B2 (ja) * | 2012-06-28 | 2017-07-12 | 日本特殊陶業株式会社 | 静電チャックの製造方法 |
KR102339550B1 (ko) * | 2017-06-30 | 2021-12-17 | 주식회사 미코세라믹스 | 질화 알루미늄 소결체 및 이를 포함하는 반도체 제조 장치용 부재 |
Family Cites Families (39)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5944797A (ja) | 1982-09-07 | 1984-03-13 | 増田 閃一 | 物体の静電的処理装置 |
JPS60151280A (ja) * | 1984-01-19 | 1985-08-09 | 日本電気株式会社 | 窒化アルミニウム焼結体の製造方法 |
DE3608326A1 (de) | 1986-03-13 | 1987-09-17 | Kempten Elektroschmelz Gmbh | Praktisch porenfreie formkoerper aus polykristallinem aluminiumnitrid und verfahren zu ihrer herstellung ohne mitverwendung von sinterhilfsmitteln |
US4778778A (en) * | 1987-06-03 | 1988-10-18 | Keramont Advanced Ceramic Products Corporation | Process for the production of sintered aluminum nitrides |
JP2665242B2 (ja) | 1988-09-19 | 1997-10-22 | 東陶機器株式会社 | 静電チャック |
JPH0617214B2 (ja) | 1989-12-29 | 1994-03-09 | ナショナル サイエンス カウンシル | 超微粒子な窒化アルミニウム粉末の製造方法 |
EP0493089B1 (en) | 1990-12-25 | 1998-09-16 | Ngk Insulators, Ltd. | Wafer heating apparatus and method for producing the same |
EP1120817B8 (en) | 1991-03-26 | 2007-10-10 | Ngk Insulators, Ltd. | Use of a corrosion-resistant member |
EP0506537A1 (en) | 1991-03-28 | 1992-09-30 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Electrostatic chuck |
JPH06737A (ja) | 1991-03-29 | 1994-01-11 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 静電チャック基板 |
JPH0659008A (ja) | 1992-08-06 | 1994-03-04 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 物性測定装置およびその測定方法 |
US5800618A (en) | 1992-11-12 | 1998-09-01 | Ngk Insulators, Ltd. | Plasma-generating electrode device, an electrode-embedded article, and a method of manufacturing thereof |
WO1995014308A1 (fr) | 1993-11-18 | 1995-05-26 | Ngk Insulators, Ltd. | Electrode pour la production de plasma, element d'enfouissement d'electrode, et procede de fabrication de l'electrode et de l'element |
US5413360A (en) | 1992-12-01 | 1995-05-09 | Kyocera Corporation | Electrostatic chuck |
US5320990A (en) * | 1993-03-30 | 1994-06-14 | The Dow Chemical Company | Process for sintering aluminum nitride to a high thermal conductivity and resultant sintered bodies |
JPH06326175A (ja) | 1993-04-22 | 1994-11-25 | Applied Materials Inc | 集積回路処理装置において使用されるウエハサポートの誘電材への保護被覆とその形成方法 |
US5457075A (en) * | 1993-05-11 | 1995-10-10 | Hitachi Metals, Ltd. | Sintered ceramic composite and molten metal contact member produced therefrom |
EP0635870A1 (en) | 1993-07-20 | 1995-01-25 | Applied Materials, Inc. | An electrostatic chuck having a grooved surface |
US5541145A (en) | 1993-12-22 | 1996-07-30 | The Carborundum Company/Ibm Corporation | Low temperature sintering route for aluminum nitride ceramics |
JPH08507196A (ja) | 1994-01-31 | 1996-07-30 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 共形な絶縁体フィルムを有する静電チャック |
US5671116A (en) | 1995-03-10 | 1997-09-23 | Lam Research Corporation | Multilayered electrostatic chuck and method of manufacture thereof |
US5677253A (en) | 1995-03-30 | 1997-10-14 | Kyocera Corporation | Wafer holding member |
US5886863A (en) | 1995-05-09 | 1999-03-23 | Kyocera Corporation | Wafer support member |
US5817406A (en) | 1995-07-14 | 1998-10-06 | Applied Materials, Inc. | Ceramic susceptor with embedded metal electrode and brazing material connection |
US5633073A (en) | 1995-07-14 | 1997-05-27 | Applied Materials, Inc. | Ceramic susceptor with embedded metal electrode and eutectic connection |
DE69635908T2 (de) | 1995-08-03 | 2006-11-23 | Ngk Insulators, Ltd., Nagoya | Gesinterte Aluminiumnitridkörper und deren Verwendung als Subtrat in einer Vorrichtung zur Herstellung von Halbleitern |
JP3457477B2 (ja) | 1995-09-06 | 2003-10-20 | 日本碍子株式会社 | 静電チャック |
JP3670416B2 (ja) * | 1995-11-01 | 2005-07-13 | 日本碍子株式会社 | 金属包含材および静電チャック |
US6017485A (en) | 1996-03-28 | 2000-01-25 | Carborundum Corporation | Process for making a low electrical resistivity, high purity aluminum nitride electrostatic chuck |
US5764471A (en) | 1996-05-08 | 1998-06-09 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for balancing an electrostatic force produced by an electrostatic chuck |
US5708557A (en) | 1996-08-22 | 1998-01-13 | Packard Hughes Interconnect Company | Puncture-resistant electrostatic chuck with flat surface and method of making the same |
US5958813A (en) | 1996-11-26 | 1999-09-28 | Kyocera Corporation | Semi-insulating aluminum nitride sintered body |
US5705450A (en) | 1996-12-17 | 1998-01-06 | The Dow Chemical Company | A1N sintered body containing a rare earth aluminum oxynitride and method to produce said body |
JP3790000B2 (ja) | 1997-01-27 | 2006-06-28 | 日本碍子株式会社 | セラミックス部材と電力供給用コネクターとの接合構造 |
JP3954177B2 (ja) | 1997-01-29 | 2007-08-08 | 日本碍子株式会社 | 金属部材とセラミックス部材との接合構造およびその製造方法 |
US6303879B1 (en) | 1997-04-01 | 2001-10-16 | Applied Materials, Inc. | Laminated ceramic with multilayer electrodes and method of fabrication |
JP3670444B2 (ja) | 1997-06-06 | 2005-07-13 | 日本碍子株式会社 | 窒化アルミニウム基複合体、電子機能材料、静電チャックおよび窒化アルミニウム基複合体の製造方法 |
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Cited By (3)
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JP2010120822A (ja) * | 2008-11-21 | 2010-06-03 | Ngk Insulators Ltd | 窒化アルミニウム焼結体、その製法及びそれを用いた静電チャック |
JP2014214069A (ja) * | 2013-04-27 | 2014-11-17 | 京セラ株式会社 | 半導電性セラミックスおよび半導電性セラミックスの製造方法 |
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