JP2003514317A - デジタル周波数モニタリング - Google Patents

デジタル周波数モニタリング

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JP2003514317A JP2001537870A JP2001537870A JP2003514317A JP 2003514317 A JP2003514317 A JP 2003514317A JP 2001537870 A JP2001537870 A JP 2001537870A JP 2001537870 A JP2001537870 A JP 2001537870A JP 2003514317 A JP2003514317 A JP 2003514317A
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/19Monitoring patterns of pulse trains

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  • Nonlinear Science (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Abstract

(57)【要約】 パルスモニタリング回路は、受信されたデジタルシーケンスの論理ハイパルス(11)および論理ローパルス(15)の両方のパルス長をモニタする。パルス長は好ましい遷移窓と比較され、パルスが好ましい遷移窓内において遷移する場合、それらは良いパルスとして分類される。パルスモニタリング回路は、少なくとも良いパルスが2つ連続して受信された場合のみ、イネーブル信号を送出する。パルス長は、基準電圧(Vref)、第1の速い方の直線電圧ランプ(35、45)、および第2の遅い方の直線電圧ランプ(31、41)によって決定される。2つの直線電圧ランプは、受信されたデジタルシーケンスの論理変化に応答して開始され、受信されたデジタルシーケンスが状態を再度変化させるまで、その出力を上昇させ続ける。第2の状態変化時における2つの直線電圧ランプの値は、基準電圧と比較される。速い方の直線電圧ランプが基準電圧より高く遅い方の直線電圧ランプが基準電圧より低い場合、デジタルシーケンスの観察されたパルスはその好ましい遷移窓内において遷移したと判断される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【技術分野】
この発明は、パルスモニタリングシステム、特に受信された信号のパルス幅を
検出するためのシステムに関する。
【0002】
【背景技術】
送信されたデジタル信号は、送信された信号のデータ内容を受信回路が確定で
きるように、そのパルス幅を所定の許容値内にとどめる必要がある。送信された
デジタル信号は、送信媒体の周波数応答効果、距離に対するエネルギ損失、電磁
干渉等によって歪む場合がある。
【0003】 図1は、2つのサンプルパルスシーケンスを示す。2つとも論理ローから始ま
り、論理ハイへ遷移する。論理ローの場合、TLminは論理ローパルスの最小
許容パルス長を表わし、TLmaxは論理ローパルスの最大許容パルス長を表わ
す。受信回路が論理ローからハイへの遷移を受入れるためには、入来するパルス
ロー信号は、TLmaxとTLminとの差によって定義される時間窓内に遷移
すべきである。この時間窓は、図1において論理ロー遷移窓W0と定義される。
同様に、論理ハイパルスも、最小論理ハイパルス長であるTHminと最大論理
ハイパルス長であるTHmaxとにより定義されるパルス長を有する必要がある
。論理ハイからローへの遷移が受入れられるためには、この遷移はTHmaxと
THminとの差によって定義される時間窓内に起こるべきである。この時間窓
は、論理ハイ遷移窓W1と定義される。図1の2つのサンプルパルスシーケンス
に示されるように、時間窓W0およびW1は、異なる用途に対しては同じでなく
てもよいが、通常、単一の用途内では一定のままであるべきである。
【0004】 受信回路は、受信されたパルス信号のパルス長を観察するためのパルス検出サ
ブ回路を含む。先行技術のパルス検出回路は通常、受信された信号の論理ハイパ
ルス、または論理ローパルスのどちらか1つのみを観察するが、両方は観察しな
い。これは、このパルス検出回路が受信されたパルス信号の信号周期を特定でき
ず、このため信号の周波数における偏移を観察できないことを意味する。したが
って、受信されたパルス信号における周波数偏移が、未検出のエラーにつながる
おそれがある。
【0005】 先行技術のパルス検出回路は通常、2つのワンショット回路を用いて、受信さ
れた信号が所定の遷移窓にとって有効かどうかを判断する。両方のワンショット
回路は通常、受信されたパルス信号の前縁においてトリガされる。第1のワンシ
ョット回路は、最小パルス長要件に等しい長さを有する第1のパルスを送出し、
第2のワンショット回路は、最大パルス長要件に等しい長さを有する第2のパル
スを送出する。第2のパルスの終りに、受信された信号は第1および第2のパル
スと比較される。受信されたパルスの長さが第1および第2のパルス内に収まら
ない場合、検出信号は送出されず、受信されたパルス信号は無視される。しかし
、ワンショット回路は、集積回路においては制御、または調整しにくい。さらに
、それらは異なる用途に必要な遷移窓を調整する簡単な方法を提供しない。
【0006】 この先行技術のアプローチはまた、パルス検出回路が最大パルス長の経過を待
ってから受信されたパルス信号を検証するため、システムを減速し得る。実際、
受信されたパルス信号がより早くに遷移し、さらなる待機時間を必要としなくて
も、それは受信されたパルス信号の各々に対し最大限の遅延時間分待機する。レ
ーボビッツに付与された米国特許第3,735,271号は、最大許容パルス長
分待たずに有効受信パルス信号を検査するパルス幅検出回路を示している。しか
し、特許′271号の回路は、3つのワンショット回路を必要とし、各々の受信
パルス信号に遅延を加える。この加えられた遅延が実際にさらなるエラーを引き
起こす場合がある。この回路が最小必要パルス長より若干短いパルス長を有する
パルス信号を受信すると仮定すると、特許′271号によって紹介された、加え
られたパルス遅延によって、受信信号が最小パルス長要件を満たしたと回路がみ
なすことが、実際に起こり得る。
【0007】 この発明の目的は、受信されたパルス信号のパルス長とその周波数との両方を
観察するパルス検出回路を提供することにある。
【0008】 この発明の別の目的は、受信されたパルス信号の論理ハイパルスおよび論理ロ
ーパルスの両方を観察するパルス検出回路を提供することにある。
【0009】 この発明のさらに別の目的は、IC回路へ簡単に組込みやすく、その許容パル
ス遷移窓W0およびW1を、個別に、またはともに、IC回路の内部からおよび
外部から調整できるようにするパルス検出回路を提供することにある。
【0010】
【発明の概要】
上記の目的は、1対の直線電圧ランプ発生器と基準電圧源とを用い、受信され
たパルス信号に対し好ましいパルス長窓を設定するためのパルス検出回路におい
て満たされる。このパルス検出回路は、受信されたパルス信号の正のデューティ
サイクルと負のデューティサイクルの両方をモニタする。したがってそれは、受
信されたパルス信号における周波数偏移を検出できる。正または負のデューティ
サイクルが短すぎるかまたは長すぎることが判明した場合、それは「悪い」デュ
ーティサイクルとして分類され、エラー信号が送出されてチップの内部回路をデ
ィスエーブルにする。デューティサイクルが所定の時間窓、つまり好ましいパル
ス遷移窓内にある場合、それは「良い」デューティサイクルとして分類される。
悪いデューティサイクルと遭遇したためにエラー信号が送出される場合、チップ
の内部回路は、良いデューティサイクルが2回連続して観察されるまで、ディス
エーブルのままである。このパルス検出回路は、良いパルスを連続して2回、つ
まり良いローパルスに続いて良いハイパルスを、または良いハイパルスに続いて
良いローパルスを受信すると、イネーブル信号を送出して、チップの内部回路を
再度イネーブルにする。
【0011】 このデューティサイクルモニタリング回路は、2つのモニタリングサブ回路を
含む。第1のサブ回路は、入来するパルス信号の正のデューティサイクルをモニ
タし、第2のサブ回路は、入来するパルス信号の負のデューティサイクルをモニ
タする。正および負のデューティサイクルは別々のサブ回路でモニタされるので
、このパルス検出回路は、正のデューティサイクル用および負のデューティサイ
クル用の異なった好ましいパルス遷移窓に対応できる。簡略のため、ここでは、
正のデューティサイクルをモニタするための第1のサブ回路についてのみ述べる
。第2のサブ回路の回路構造は第1のサブ回路と同様で、以下の最良の形態の説
明において詳細に述べる。
【0012】 まず、「良い」正のデューティサイクル用の好ましいパルス遷移窓であるW1
について述べる。このパルス遷移窓は、一斉に動作する遅い方の直線電圧ランプ
と速い方の直線電圧ランプによって設定される。時間がたつにつれ、この遅い方
と速い方の直線電圧ランプ間の電圧差が増加し、この電圧差がデューティサイク
ル持続時間の単位となる。遅い方および速い方の直線電圧ランプ間の電圧差が望
ましいパルス遷移窓を示すようになるときの遅い方の直線電圧ランプの電圧値を
確認することによって、望ましい持続時間窓が設定される。この確認された電圧
値が基準電圧となり、これに対し入来するクロックが比較される。言換えれば、
パルス遷移窓の長さは、基準電圧を変更すること、または直線電圧ランプ発生器
の勾配を調整することによって、遅れずに調整または偏移することができる。こ
の基準電圧は回路内から生成されるか、または回路の外部から供給されてもよい
【0013】 入来するクロックの論理状態がローからハイへ変化すると、遅い方および速い
方の電圧ランプはリセットされ、再トリガされる。第1のコンパレータが、速い
方の電圧ランプの立上がり電圧値を基準電圧と比較するために用いられる。速い
方の電圧ランプが基準電圧より高く立上がると、第1のコンパレータは信号を出
す。第2のコンパレータは、遅い方の電圧ランプの立上がり電圧値を同じ基準電
圧と比較するために用いられる。遅い方のランプが基準値より高く立上がると、
第2のコンパレータは信号を出す。速い方の電圧ランプが基準値より高く、遅い
方の電圧ランプが基準値より低いときのみ、受信されたパルス信号は望ましいパ
ルス長内に収まる。このような状態が当てはまらないとどちらかのコンパレータ
が示した場合、入来するクロックのデューティサイクルは望ましい窓の外にあり
、「悪い」デューティサイクルとして分類される。
【0014】 受信パルスの後端において、コンパレータの出力が分析され、その結果が第1
のレジスタに記憶される。第2のレジスタは前の受信パルスの結果を記憶する。
現在のパルスの良いまたは悪いといった状態は、前のパルスの良いまたは悪いと
いった状態と比較される。現在のパルスの状態が悪ければ、ディスエーブル信号
が送出される。現在のパルスの状態が良いものの、前のパルスの状態が悪ければ
、ディスエーブル信号が依然として送出される。現在のパルスの状態と前のパル
スの状態が両方とも良ければ、イネーブル信号が送出される。
【0015】 さらに、開始回路が含まれており、これは、始動時にパルス信号を始めにいく
つか受信する間、一定のディスエーブル信号を維持する。これにより、パルス検
出回路によってイネーブルとされる前に既知の状態を達成する時間が、内部回路
に与えられる。
【0016】
【発明を実施するための最良の形態】
このパルスモニタリング回路は、2つのパルス検出サブ回路を用い、入来する
パルス信号の正のデューティサイクルと負のデューティサイクルを両方モニタす
る。正のデューティサイクルと負のデューティサイクルの両方をモニタすること
により、このパルスモニタリング回路は、受信されたパルス信号の全体信号周期
が所定の最小および最大期間長内にあるかどうかを判断できる。受信されたパル
ス信号の周期における偏移を確認することにより、このパルスモニタリング回路
は同様に、受信されたパルス信号の周波数における偏移を確認できる。
【0017】 図2を参照すると、2つのパルス検出サブ回路の各々は、1対の直線電圧ラン
プを用いて、受信された論理パルス信号のパルス持続時間を測定する。線図Vo
TLfおよびVoTLsは、受信された論理ローパルスを観察するために用いら
れる2つの直線電圧ランプ発生器の例示的な出力を示している。論理ローパルス
検出サブ回路は、出力VoTLsを生成する遅い方の直線電圧ランプ発生器と、
出力VoTLfを生成する速い方の直線電圧ランプ発生器とを含む。速い方およ
び遅い方の直線電圧ランプはともに、論理ローパルスを受信するとリセットされ
、所定の電圧/秒のレートで上昇し始める。このレートは、個々の直線電圧ラン
プ発生器の強さ、つまり電流供給能力を調整することにより調整されてもよい。
基準信号Vrefは、論理ローパルス用最大許容時間TLmaxを設定し、また
、論理ローパルス用最小許容時間TLminを設定する。TLminの時間限度
は、VrefとVoTLfとの交点において設定され、TLmaxの時間限度は
、VrefとVoTLsとの交点において設定される。図示されているように、
論理ローパルス用最小持続時間TLminは、速い方の直線電圧ランプVoTL
fによって決定され、論理ローパルス用最大持続時間TLmaxは、遅い方の直
線電圧ランプVoTLsによって決定される。TLmaxとTLminとの差が
、望ましい論理ロー遷移窓W0用の時間境界を定義する。W0の幅は、Vref
を増減させること、またはVoTLfおよびVoTLsの一方または両方の勾配
を変更することにより調整してもよい。受信された論理ローパルスがW0により
定義された遷移窓内で論理ハイに遷移する場合、それは「良い」受信パルスとし
て分類されるが、W0の外で遷移する場合は、「悪い」受信パルスとして分類さ
れる。
【0018】 図3は、受信パルス信号の論理ハイパルス長をモニタするために用いられる直
線電圧ランプVoTHsおよびVoTHfの例示的な線図を示す。信号VoTH
sおよびVoTHfは、論理ハイパルスを受信すると上昇し始める。前と同様、
速い方の電圧ランプVoTHfと基準電圧Vrefとの交点が、パルス幅、この
場合正のパルス幅用の最小持続時間TLminを設定する。同様に、Vrefと
遅い方の直線電圧ランプVoTHsとの交点が、正のパルス幅の最大持続時間を
設定する。この最大許容パルス持続時間TLmaxと最小パルス持続時間TLm
inとの差が、論理ハイから論理ローへの望ましい遷移窓W1用の境界を設定す
る。この好ましい実施例では、好ましい遷移窓W1はW0よりも短いが、これは
この発明にとって決定的なものではない。多くの場合、W1とW0とが同様の時
間窓を定義することが望ましい。しかし、図2のW0と図3のW1とは両方とも
、同じ基準電圧Vrefの一関数であることに注意すべきである。W0とW1の
両方が同じ基準信号Vrefに応答することは、この発明にとって決定的なもの
ではないが、好ましい。なぜなら、W0とW1両方の同時制御が簡略化されるか
らである。また、W1の幅は、VoTHfとVoTHsの一方または両方を調整
することにより調整されてもよい。
【0019】 このように、このパルス検出回路は、受信されたパルスシーケンスの論理ハイ
および論理ローサイクルにおける時間偏差を検出することができる。このことに
より、それは、論理パルスがその好ましい遷移窓の外にある場合だけでなく、そ
の周期、ゆえにその周波数が許容限度を超えて偏移する場合も検出することがで
きる。
【0020】 図4は、この発明を実施するために適切な回路のブロック図を示す。論理ロー
モニタブロック15は受信された論理ローパルスをモニタし、論理ハイモニタブ
ロック11は受信された論理ハイパルスをモニタする。論理ローモニタブロック
15および論理ハイモニタブロック11は両方とも同じ基準信号Vrefを受信
することが好ましく、両方とも、受信されたクロック信号CLKinによって例
示されているパルス信号を受信する。
【0021】 論理ハイモニタブロック11および論理ローモニタブロック15の各々は、そ
の中に、1対の直線電圧ランプと、それぞれの直線電圧ランプを基準信号Vre
fと比較するための手段とを含む。たとえば、論理ローモニタブロック15は、
図2で示されたものと同様の出力VoTLsを生成する第1の遅い方の直線電圧
ランプ発生器と、同じく図2に示されたものと同様の出力VoTLfを生成する
第2の速い方の電圧ランプ発生器とを含む。その第1および第2の直線電圧ラン
プ発生器は、論理ローパルスを受信するとリセットされ上昇し始める。受信され
たパルスが論理ローである間、そのそれぞれの出力VoTLsおよびVoTLf
は上昇し続ける。受信された信号CLKinが論理ハイへ遷移すると、VoTL
fおよびVoTLsの値は基準信号Vrefと比較される。CLKinが論理ハ
イに遷移したときにVoTLfがVrefより高い電位にありVoTLsがVr
efより低い電位にある場合、CLKinは望ましい遷移窓W0内において遷移
したことになる。したがって、論理ローモニタブロック15は、「良いパルスサ
イクル」の信号を論理ローレジスタ13へ送出する。一方、CLKinが論理ハ
イへ遷移したときに信号VoTLfがVrefより高くなく、または、信号Vo
TLsがVrefよりも低くない場合、論理パルスは短すぎたかまたは長すぎた
たかのどちらかとなり、「悪いパルスサイクル」の信号が論理ローレジスタ13
に送出される。論理ローレジスタ13は、次の論理ローパルスサイクルまで、論
理ローモニタブロック15からの結果を記憶し、その結果をフラグ発生器19に
供給する。
【0022】 同様に、論理ハイモニタブロック11は、その中に、図3に示すものと同様の
出力VoTHsを生成する第3の遅い方の直線電圧ランプと、図3のものと同様
の出力VoTHfを生成する第4の速い方の直線電圧ランプとを含む。論理ハイ
モニタブロック11はまた、VoTHsおよびVoTHfを基準電圧Vrefと
比較するための手段を含む。入力信号CLKinが論理ハイパルスを生成すると
、第3および第4の直線電圧ランプはリセットされ、信号CLKinが論理ハイ
である間、それぞれの出力VoTHsおよびVoTHfを生成し始める。入力C
LKinが再び論理ローへ遷移すると、VoTHfおよびVoTHsの値は基準
電圧Vrefと比較される。CLKinが論理ローに遷移したときにVoTHf
がVrefよりも高い電位にありVoTHsがVrefよりも低い電位にあった
場合、CLKinはW1内において遷移し、「良いパルスサイクル」の信号が論
理ハイレジスタ17に送出される。これに対し、CLKinが論理ローに遷移し
たときにVoTHfがVrefよりも高くなく、またはVoTHsがVrefよ
りも低くなかった場合、遷移は長すぎたかまたは短すぎたかのどちらかとなり、
W1内で起こらない。この場合、「悪いパルスサイクル」の信号が論理ハイレジ
スタ17に送出される。論理ハイレジスタ17は、次の論理ハイパルスサイクル
まで、論理ハイモニタ11の結果を記憶し、その記憶した結果をフラグ発生器1
9に供給する。
【0023】 クロックフラグ発生器19は、最新のパルスサイクルの結果と前のパルスサイ
クルの結果とを比較する。現在のパルスサイクルと前のパルスサイクルがともに
「良いパルスサイクル」の信号を受信していた場合、フラグ発生器19はイネー
ブル信号を生成する。現在のパルスサイクルが「悪いパルスサイクル」の信号を
受信していた場合、フラグ発生器19は、前のクロックサイクルの状態にかかわ
らず、ディスエーブル信号を送出する。現在のパルスサイクルが「良いパルスサ
イクル」の信号を受信してはいるものの、前のパルスサイクルが「悪いパルスサ
イクル」の信号を受信していた場合、フラグ発生器19はディスエーブル信号を
生成する。フラグ発生器19によって生成されたイネーブル信号およびディスエ
ーブル信号は、このパルスモニタリング回路に応答する他の回路に直接加えても
よいし、または開始回路21によりゲート制御されてもよい。
【0024】 開始回路21はタイミング手段を含み、フラグ発生器19の出力を出力信号C
LK_FLGへ選択的に転送してこのパルスモニタリング回路に応答する他の回
路に与えるようにしたり、またはディスエーブル信号を出力信号CLK_FLG
に与えることができる。
【0025】 開始回路21は、始動状態のために確保されることが好ましい。始動中、この
パルスモニタリング回路とこのパルスモニタリング回路に応答する他の回路とが
、安定した始動状態を達成するためにセットアップ期間を必要とする場合がある
。したがって、開始回路21は、他の回路に安定した始動状態に到達するための
時間を与える待機時間を始動時に提供する。始動中、開始回路21は、所定時間
の間、または所定のCLKinサイクルの間、ディスエーブル信号を出力リード
CLK_FLGに転送することによって、待機時間を開始させる。次に、待機時
間の終りに、開始回路21は、フラグ発生器19の出力が出力リードCLK_F
LGに自由に転送されるようにする。
【0026】 図5は、論理ハイモニタブロック11、論理ローモニタブロック15、基準信
号Vref、クロックフラグ発生器19の出力、および入力パルス信号CLKi
nの相互作用の図例を示す。入力信号CLKinは、7つの異なるパルス長の論
理ハイおよび論理ローパルスから構成されていることが示されている。モニタブ
ロック11および15と基準信号Vrefとの相互作用が、所定の遷移窓W0お
よびW1内にCLKinのパルス長が収まるかどうかを決定する。好ましい遷移
窓W0およびW1は斜線部分で示されており、数値0および1は、モニタブロッ
ク11および15の各々に含まれるそれぞれの直線電圧ランプを基準電圧Vre
fと比較するための手段の結果を象徴的に示している。
【0027】 図5では、論理ハイモニタブロック11は、速い方の直線電圧ランプ35およ
び遅い方の直線電圧ランプ31を用いて、信号CLKinの論理ハイパルスP1
、P3、P5、およびP7を観察することが示されている。図示されているよう
に、それぞれの直線電圧ランプ31および35は、CLKinの論理ハイパルス
を受信すると上昇し始める。直線電圧ランプ31および35の値は基準信号Vr
efと継続して比較されているよう示されているが、直線電圧ランプ31および
35が基準信号Vrefと継続して比較されることは、決定的なことではない。
少なくとも、CLKin論理ハイパルスが終ったときの直線電圧ランプ31およ
び35の値が基準信号Vrefと比較されれば十分である。この例では、直線電
圧ランプ35の上方の数字0および1は、速い方の直線電圧ランプ35を基準電
圧Vrefと比較した結果に対応する。0の値は、直線電圧ランプ35がVre
fより低いことを示し、1の値は、直線電圧ランプ35がVrefより高いこと
を示す。この例ではまた、遅い方の直線電圧ランプ31の下方の数字0および1
は、遅い方の直線電圧ランプ31を基準電圧Vrefと比較した結果の結果を示
している。1の値は直線電圧ランプ31がVrefより低いことを示し、0の値
はそれがVrefより高いことを示している。
【0028】 同様に、論理ローモニタブロック15は、速い方の直線電圧ランプ45および
遅い方の直線電圧ランプ41を用いて、信号CLKinの論理ローパルスP2、
P4、およびP6を観察することが示されている。それぞれの直線電圧ランプ4
1および45は、CLKinの論理ローパルスを受信すると上昇し始める。この
例では、直線電圧ランプ41および45は継続して基準信号Vrefと比較され
ているが、希望すれば、それらは論理ローパルスの終りにのみVrefと比較さ
れることができる。前の場合と同様、直線電圧ランプ45の上方の数字0および
1は、速い方の直線電圧ランプ45を基準電圧Vrefと比較した結果に対応し
、直線電圧ランプ41の下方の数字0および1は、遅い方の直線電圧ランプ41
を基準電圧Vrefと比較した結果の結果を示している。速い方の直線電圧ラン
プ45に当てはめると、比較値0はそれがVrefより低いことを示し、比較値
1はそれがVrefより高いことを示す。しかし、遅い方の直線電圧ランプ41
については、1の値はそれがVrefより低いことを示し、0の値はそれがVr
efより高いことを示す。
【0029】 電圧ランプ31、35、41、および45は、それらが観察しているそれぞれ
の論理ハイまたは論理ローCLKinパルスの終わりにリセットされるよう示さ
れているが、このことはこの発明にとって決定的なことではない。電圧ランプ3
1、35、41、45は、それらが観察しているそれぞれの論理ハイまたは論理
ローパルスが終わった後も上昇し続けてもよい。しかし、それらは、新たな論理
ハイまたは論理ローパルスがそれぞれ始まるまでにリセットされなければならな
い。
【0030】 パルスP1からP7までを参照すると、速い方の直線電圧ランプ35および4
5は、斜線部分で示されたそれぞれの好ましい遷移窓のより低い境界に到達する
まで、上昇しながら比較値0を維持する。このより低い境界は、それらがそれぞ
れ基準信号Vrefを越えることにより境界線が引かれる。速い方の直線電圧ラ
ンプ35および45は、一旦Vrefよりも大きな値を達成すると、比較値1を
維持する。これに対し、遅い方の直線電圧ランプ31および41は、斜線部分で
示されたそれぞれの好ましい遷移窓のより高い境界に到達するまで、上昇しなが
ら比較値1を維持する。このより高い境界は、それらがそれぞれ基準信号Vre
fを越えることにより境界線が引かれる。一旦Vrefよりも大きい値に到達す
ると、遅い方の直線電圧ランプ31および41は、それから比較値0を維持する
。1の値が直線電圧ランプがVrefより高いことを示すか低いことを示すかの
選択は任意である。この例では、比較値1は、速い方の直線電圧ランプ35およ
び45に対してはそれらがVrefより高いことを示すために用いられ、一方、
比較値1は、遅い方の直線電圧ランプ31および41に対してはそれらがVre
fより低いことを示すために用いられている。この任意の選択は、モニタブロッ
ク11および15の好ましい遷移領域が、ともに比較値1を同時に有するそれぞ
れの速い方および遅い方の直線電圧ブロックによって定義されるよう、行なわれ
る。
【0031】 論理ハイパルスP1を参照すると、論理ハイモニタブロック11は、遅い方の
直線電圧ランプ31と速い方の直線電圧ランプ35とが両方とも比較値1を有す
る間にP1が終わることを示している。したがって、P1はその好ましい遷移窓
内において遷移し、「良いパルスサイクル」を示すGのパルス状態を受取る。フ
ラグ発生器19はこの結果を受取り、それをその前のサイクルと比較する。この
例では、前のサイクルも良いパルスサイクルだったと仮定され、したがってフラ
グ発生器19はイネーブル信号ENを出力する。
【0032】 論理ローモニタブロック15は論理ローパルスP2を追跡する。パルスP2は
、速い方の直線電圧ランプ45と遅い方の直線電圧ランプ41とが両方とも比較
値1を有する間に終わることが示されている。これは、P2がその好ましい遷移
窓内において終了し、したがって、P2も「良いパルスサイクル」を示すGの状
態を受取ることを表わす。フラグ発生器19はこのG状態を受取り、それを前の
パルスP1の状態と比較する。現在のパルスP2および前のパルスP1が両方と
もG状態を有するため、フラグ発生器は再びイネーブル信号ENを送出する。
【0033】 論理ハイパルスP3は、遅い方の直線電圧ランプ31が比較値1を有するもの
の速い方の直線電圧ランプ35が比較値0を有する間に終わることが示されてい
る。ゆえにP3は、その好ましい遷移領域に到達する前に終了する。したがって
、論理ハイモニタブロック11はそれを「悪いパルスサイクル」として分類し、
それに状態Bを付与する。モニタブロック11から状態B結果を受取ると、フラ
グ発生器19はディスエーブル信号DISを送出する。
【0034】 論理ローモニタブロック15はそれから、次のパルスであるP4を観察する。
パルスP4が終わるときまでに、遅い方の直線電圧ランプ41は既にVrefを
超えて上昇しており、比較値0を得ている。P4が終わるとき、遅い方の直線電
圧41および速い方の直線電圧ランプ45はともに比較値1を有しているわけで
はないので、論理ローモニタブロック15は、P4がその好ましい遷移窓内にお
いて終了しなかったと判断して、「悪いパルスサイクル」を示すB状態をそれに
付与する。モニタブロック15から状態B結果を受取ると、フラグ発生器19は
ディスエーブル信号DISを送出する。
【0035】 論理ハイパルスP5は、直線電圧ランプ35および31によって決定された、
その好ましい遷移領域内において遷移することが示されている。したがって、論
理ハイモニタブロック11はそれを「良いパルスサイクル」として分類し、良い
状態であるGをそれに付与する。フラグ発生器19はこのG状態を受取り、それ
を直前のパルスP4の状態と比較する。P4は悪いB状態であったので、フラグ
発生器19は、現在のパルスP5が良いパルスであるにもかかわらず、その出力
においてディスエーブル信号DISを送出する。これは、この好ましい実施例に
おいては、フラグ発生器19は、良いCLKinパルスを2回連続して受取るま
ではイネーブル信号を送出しないからである。
【0036】 図示されているように、論理ローパルスP6も、論理ローモニタブロック15
によって良い状態であるGを受取る。これもまた、P6が斜線部分で示されるそ
の好ましい遷移領域内において遷移したからである。フラグ発生器19はパルス
P6からG状態を受取り、それを直前のパルスP5の状態と比較する。現在のP
6パルスと前のP5パルスがともにG状態を有するため、フラグ発生器19はそ
の出力においてイネーブル信号ENを送出する。同じことがパルスP7について
も当てはまり、直線電圧ランプ35および31がともに比較値1を有するときに
遷移したことに対し、論理ハイモニタブロック11からG状態を受取る。フラグ
発生器19はパルスP7とパルスP6とを比較し、両方がG状態を有しているの
で、フラグ発生器19はその出力においてイネーブル信号ENを維持する。
【0037】 図6は、図4のブロック図の第1の回路実装を示す。図4のものと同様の図6
の構成要素はすべて、同様の参照符号で識別され、上述されている。図4の機能
ブロック図には数多くの実装例があること、および図6に示される構造はこの好
ましい実施例におけるものでこの発明を限定するものではないことが、了解され
るものとする。たとえば、希望すれば、モニタブロック11内の直線電圧ランプ
はデジタルカウンタによって表わすことができ、図4の機能ブロック図は、ソフ
トウェア、プログラム可能な論理装置、FPGA、または当該技術分野で既知の
他の提供方法の形で実施することができる。
【0038】 論理ハイモニタブロック11は、速い方の直線電圧ランプ発生器35と遅い方
の直線電圧ランプ発生器31とを含む。遅い方の電圧ランプ発生器31からの出
力電圧ランプは、速い方の直線電圧ランプ発生器35からの出力よりも緩やかな
勾配を有している。直線電圧ランプ発生器31および35の両方は、好ましくは
、アクティブハイ素子であり、それぞれの出力電圧ランプを開始させることによ
って、入力信号CLKinの論理ハイパルスに応答する。直線電圧ランプ31か
らの出力は、第1の差動増幅器33の反転入力に加えられる。差動増幅器33の
非反転入力は、入力基準電圧Vrefを受取る。したがって、差動増幅器33は
、遅い方の直線電圧ランプ31からの出力がVrefを上回るまで、論理ハイ出
力を維持する。その時点で、差動増幅器33からの出力は論理ローへと切換えら
れる。これに対し、速い方の直線電圧ランプ発生器35の出力は、第2の差動増
幅器37の非反転入力に加えられ、Vrefが差動増幅器37の反転入力に加え
られる。したがって、差動増幅器37の出力は、速い方の直線電圧ランプ35か
らの出力がVrefを上回るまで、論理ローを維持する。その時点で、差動増幅
器37からの出力は論理ハイに切換えられる。上に説明したように、好ましい遷
移領域は、遅い方の直線電圧ランプ31からの出力がVrefより低く、速い方
の直線電圧ランプからの出力がVrefより高い期間によって定義される。この
条件の下で、第1の差動増幅器33および第2の差動増幅器37からの出力はと
もに、論理ハイ出力を同時に有する。差動増幅器33および37がともに論理ハ
イ出力を有する場合、ANDゲート39は論理ハイを送出し、観察されたパルス
がその好ましい遷移領域内にあることを示す。
【0039】 論理ローモニタブロック15の構造はモニタブロック11の構造と同様だが、
若干の変更がある。論理ローモニタブロック15の場合、遅い方の直線電圧ラン
プ発生器41と速い方の直線電圧ランプ発生器45とはアクティブロー素子であ
り、入力CLKinにおける論理ローパルスに応答する。CLKinが論理ロー
パルスに切換わると、速い方の直線電圧ランプ発生器41および遅い方の直線電
圧ランプ発生器45は両方とも、それぞれの出力電圧ランプを生成することで応
答する。遅い方の電圧ランプ発生器45の出力スローは、速い方の直線電圧ラン
プ発生器41のスローよりも緩やかである。遅い方の電圧ランプ発生器41の出
力は第3の差動増幅器43の反転入力に加えられ、入力基準電圧Vrefは差動
増幅器43に非反転入力に加えられる。差動増幅器43は、遅い方の直線電圧ラ
ンプ41がVrefを上回るまで、論理ハイを送出する。一方、速い方の直線電
圧ランプ45からの出力は、第4の差動増幅回路47の非反転入力に加えられ、
Vrefがその反転入力に加えられる。したがって、差動増幅器47は、速い方
の直線電圧ランプ発生器41からの出力がVrefを上回るまで、論理ローを送
出する。好ましい遷移窓は、差動増幅器43および47が両方とも論理ハイ出力
を同時に有する期間によって定義される。第2のANDゲート49は、差動増幅
器43および47が両方とも論理ハイ出力を有するときを特定する。
【0040】 ANDゲート39および49から結果として生じた出力は、この好ましい実施
例においてはレジスタとして実現されているメモリ素子13および17にそれぞ
れ送られることが好ましい。しかし、現在のパルスを前のパルスと比較する必要
がなければ、メモリ素子13および17は不要である。フラグ発生器19は、論
理ローレジスタメモリ13からの出力と論理ハイレジスタメモリ17からの出力
とを受取り、現在のパルス結果を前のパルス結果と比較する。フラグ発生器19
は、好ましくは、それぞれの好ましい遷移領域内において遷移した2つの連続す
るパルスを有するCLKinに応答して、イネーブル信号ENを送出する。
【0041】 フラグ発生器19からの出力は、好ましくは、開始回路21に加えられ、これ
は、始動期間の間、フラグ発生器19からの出力を遮断し、それをディスエーブ
ル信号DISに置き換える。この実施例においては、出力信号CLK_FLGに
おける論理ハイはイネーブル信号ENを表わし、CLK_FLGにおける論理ロ
ーはディスエーブル信号DISを表わす。ANDゲート53は、所定時間の間、
または信号CLKinにおける所定数のパルスの期間にわたって、フラグ発生器
19からの出力を選択的に遮断する。時間制御回路51は、いつフラグ発生器1
9からの出力を遮断するかを定める。
【0042】 図7は、図4および図6の構造のより詳細な回路レベル実装を示す。図4およ
び図6のものと同様の構成要素はすべて、同様の参照符号を有し、上述されてい
る。速い方および遅い方の直線電圧ランプ発生器31および35は、同様の実装
を有していてもよい。たとえば、各々が、容量手段63および69のそれぞれを
選択的に充電できる定電流源61および67をそれぞれ有している。各々の直線
電圧ランプ発生器の出力は、それぞれの定電流源と容量手段とを接合する接合部
66および68のそれぞれにおいて取出される。接合部66または68のいずれ
かにおける出力電圧ランプの勾配は、それぞれの電流源61/67の強さ、およ
びそれぞれの容量手段63/69の容量によって決定される。容量手段63およ
び69の容量であると仮定して、ノード66および68のランプレートは、それ
ぞれの定電流源61および67の強さを変更することにより調整してもよい。こ
の例において、定電流源61および67の強さは、それぞれの制御信号C1およ
びC2によって制御される。こうして、ノード66および68におけるランプレ
ートの差を調整し、それによって、制御線C1およびC2を調整することでW0
を調整することができる。これにより、Vrefを変更することによって、また
はC1およびC2を変更することによって、好ましい遷移窓のサイズを調整する
ことができるため、別の自由度が提供される。
【0043】 第1のスイッチ65は、ノード66における電圧電位を選択的にリセットでき
る。同様に、第2のスイッチ71は、ノード68における電圧電位を選択的にリ
セットできる。直線電圧ランプ31および35はCLKinにおける論理ローパ
ルスに応答するよう意図されているので、スイッチ65および71は、論理ロー
入力に応答するアクティブロー素子として示されている。
【0044】 論理ハイモニタブロック11の直線電圧ランプ41および45は、論理ローモ
ニタブロック15の直線電圧ランプ31および35とほぼ同じ構造を有すること
が示されている。基本的な違いは、直線電圧ランプ41および45は第2の1対
の電流制御信号C3およびC4のそれぞれに応答するよう示され、スイッチ85
および91がアクティブハイ素子として示されている点にある。したがって、ス
イッチ85および91はCLKinにおける論理ハイに応答し、モニタブロック
11がCLKinにおける正のパルスを追跡するようにする。
【0045】 メモリレジスタ13および17は、CLKinによってクロック制御されるD
型フリップフロップとして実現されていることが示されている。これにより、そ
れらは、CLKinが遷移する時点において、それぞれのANDゲート入力36
および49の結果をラッチできる。たとえば、論理ローモニタブロック15がC
LKinにおける論理ローパルスを追跡している場合、論理ローCLKinパル
スの長さがその好ましい遷移領域に入るにつれて、ANDゲート39からの出力
は時間がたつにつれ論理ローから論理ハイへと変化する。論理ローCLKinパ
ルスの長さがその好ましい遷移領域を越えると、ANDゲート39は再び、論理
ハイから論理ローへと変化する。CLKinが論理ローから論理ハイパルスに遷
移する際に論理ローレジスタ13をクロック動作させることで、レジスタ13が
ANDゲート39の現在の状態をラッチできるようになる。同様に、論理ハイレ
ジスタ17は、CLKinが論理ローに遷移する際にクロック動作され、モニタ
された論理ハイCLKinパルスが論理ローへ遷移する際のANDゲート49の
状態をラッチする。
【0046】 このように、メモリレジスタ13および17は、一方がまた現在のCLKin
パルスの状態を有し、他方が前のCLKinパルスの状態を有するようになる。
良い状態Gは論理ハイによって表わされ、悪い状態Bは論理ローによって表わさ
れるので、メモリレジスタ13および17が両方とも、それぞれの出力において
論理ハイを有する場合、前の良いCLKinパルスに引き続き現在の良いCLK
inパルスが表わされる。フラグ発生器19はANDゲート73によって表わさ
れ、メモリレジスタ13および17が両方とも論理ハイ出力を有する場合のみ、
論理ハイイネーブル信号ENを送出し、その他の場合は論理ローディスエーブル
信号DISを送出する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 デジタル信号のさまざまなパルス幅を示す図である。
【図2】 2つの直線電圧ランプ間の関係を示す図である。
【図3】 2つの直線電圧ランプ間の関係を示す図である。
【図4】 この発明の機能ブロック図である。
【図5】 パルス信号が好ましい遷移窓内において遷移するときをこの発明
がいかに特定するかを図示する、例示的な電圧対時間の線図である。
【図6】 この発明に従ったパルスモニタリング回路のより詳細な機能図で
ある。
【図7】 この発明の回路実装を示す図である。
【手続補正書】特許協力条約第34条補正の翻訳文提出書
【提出日】平成13年10月2日(2001.10.2)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0006
【補正方法】変更
【補正の内容】
【0006】 この先行技術のアプローチはまた、パルス検出回路が最大パルス長の経過を待
ってから受信されたパルス信号を検証するため、システムを減速し得る。実際、
受信されたパルス信号がより早くに遷移し、さらなる待機時間を必要としなくて
も、それは受信されたパルス信号の各々に対し最大限の遅延時間分待機する。レ
ーボビッツに付与された米国特許第3,735,271号は、最大許容パルス長
分待たずに有効受信パルス信号を検査するパルス幅検出回路を示している。しか
し、特許´271号の回路は、3つのワンショット回路を必要とし、各々の受信
パルス信号に遅延を加える。この加えられた遅延が実際にさらなるエラーを引き
起こす場合がある。この回路が最小必要パルス長より若干短いパルス長を有する
パルス信号を受信すると仮定すると、特許´271号によって紹介された、加え
られたパルス遅延によって、受信信号が最小パルス長要件を満たしたと回路がみ
なすことが、実際に起こり得る。 さらに、他の先行技術のパルス検出回路は、パルス信号用信号識別装置を開示
している日本国特許要約書JP 01175409Aと、パルス幅検出回路を開
示している日本国特許要約書JP 59005737Aとを含む。

Claims (21)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定の時間範囲内におけるパルス持続時間を認識するための
    パルスモニタリング回路であって、 第1のパルス検出装置を含み、 前記第1のパルス検出装置は、 第1の論理状態パルスと第2の論理状態パルスとに交互になる論理信号を受取
    るための論理信号入力ノードと、 前記論理信号入力ノードに結合され、前記第1の論理状態パルスを受取ると、
    第1の直線電圧ランプを生成するための第1の電圧ランプ発生器と、 前記論理信号入力ノードに結合され、前記第1の論理状態パルスを受取ると、
    第2の直線電圧ランプを生成するための第2の電圧ランプ発生器と、 基準電圧を受取るための基準電圧入力ノードと、 前記基準電圧入力ノードに結合された第1の入力ノードと前記第1の直線電圧
    ランプを受取るために結合された第2の入力ノードとを有し、前記基準電圧より
    低い電位を有する前記第1の直線電圧ランプに応答して第1の検出信号を送出す
    るために有効な第1の電圧レベル検出手段と、 前記基準電圧入力ノードに結合された第1の入力ノードと前記第2の直線電圧
    ランプを受取るために結合された第2の入力ノードとを有し、前記基準電圧より
    高い電位を有する前記第1の直線電圧ランプに応答して第2の検出信号を送出す
    るために有効な第2の電圧レベル検出手段と、 前記第1および第2の電圧レベル検出手段に結合され、前記第1の検出信号が
    前記第2の検出信号と一致するときを特定するための制御手段とを有する、パル
    スモニタリング回路。
  2. 【請求項2】 前記第2の直線電圧ランプは前記第1の直線電圧ランプより
    大きな勾配を有する、請求項1に記載のパルスモニタリング回路。
  3. 【請求項3】 前記基準電圧は時間単位に比例し、前記第2の直線電圧ラン
    プと前記第1の直線電圧ランプとの電圧差は前記第1の論理状態パルスのパルス
    持続時間に比例し、前記所定の時間範囲は前記第1の検出信号と前記第2の検出
    信号とが一致する期間により定義される、請求項1に記載のパルスモニタリング
    回路。
  4. 【請求項4】 前記第1のパルス検出装置は前記第1の制御手段の出力を記
    憶するための第1のメモリ手段をさらに含む、請求項1に記載のパルスモニタリ
    ング回路。
  5. 【請求項5】 前記第1のメモリ手段は前記第1の論理状態パルスの除去に
    応答して前記第1の制御手段の出力を記憶する、請求項4に記載のパルスモニタ
    リング回路。
  6. 【請求項6】 前記第2の論理状態パルスのパルス長が第2の時間範囲内に
    あるときを特定するために有効な第2のパルス検出装置をさらに含む、請求項1
    に記載のパルスモニタリング回路。
  7. 【請求項7】 前記第1のパルス検出装置と前記第2のパルス検出装置とに
    結合されたフラグ発生器をさらに有し、前記フラグ発生器は、連続した第1およ
    び第2の論理状態パルスがそれぞれの第1および第2のパルス検出装置によって
    決定されたようにそれぞれの所定の時間範囲内にあることに応答して、イネーブ
    ルフラグ信号を送出するために有効である、請求項6に記載のパルスモニタリン
    グ回路。
  8. 【請求項8】 前記イネーブルフラグ信号の送出は前記論理入力ノードにお
    ける論理状態の変化と同期する、請求項7に記載のパルスモニタリング回路。
  9. 【請求項9】 第1および第2のメモリ手段をさらに有し、前記第1のメモ
    リ手段は前記第1のパルス検出装置の出力を受取るために結合され、前記制御手
    段の出力を記憶するために有効であり、前記第2のメモリ手段は前記第2のパル
    ス検出装置の出力を記憶するために結合されている、請求項7に記載のパルスモ
    ニタリング回路。
  10. 【請求項10】 前記第1のメモリ手段は、前記第1の論理状態パルスの除
    去に応答して前記制御手段の出力を記憶する、請求項9に記載のパルスモニタリ
    ング回路。
  11. 【請求項11】 前記第1および第2のメモリ手段の記憶された出力は前記
    フラグ発生器に結合される、請求項9に記載のパルスモニタリング回路。
  12. 【請求項12】 前記フラグ発生器の出力を受取るために結合された開始セ
    ットアップタイマをさらに有し、前記開始セットアップタイマは、ディスエーブ
    ル信号と前記フラグ発生器の出力のうちの一方をイネーブル出力ノードへ選択的
    に転送するために有効であり、前記開始セットアップタイマは、前記論理信号入
    力ノードにおける論理状態パルスの初期のストリームに応答して、前記論理信号
    入力ノードにおける所定数の論理状態パルスの期間、前記ディスエーブル信号を
    前記イネーブル出力ノードへ転送するために有効である、請求項11に記載のパ
    ルスモニタリング回路。
  13. 【請求項13】 前記論理信号入力ノードにおける論理状態の変化が所定の
    時間起こらないことに応答して、前記ディスエーブル信号を前記イネーブル出力
    に転送するためにさらに有効である、請求項12に記載のパルスモニタリング回
    路。
  14. 【請求項14】 前記第1および第2のメモリ手段はデジタルレジスタであ
    る、請求項9に記載のパルスモニタリング回路。
  15. 【請求項15】 前記第2のパルス検出装置は、 前記論理信号入力ノードに結合され、前記第2の論理状態パルスを前記入力ノ
    ードにおいて受取ると、第3の直線電圧ランプを生成するための第3の電圧ラン
    プ発生器と、 前記論理信号入力ノードに結合され、前記第2の論理状態パルスを前記入力ノ
    ードにおいて受取ると、第4の直線電圧ランプを生成するための、前記第3の直
    線電圧ランプより大きい勾配を有する第4の電圧ランプ発生器と、 前記基準電圧を受取るための第2の基準電圧入力ノードと、 前記第2の基準電圧入力ノードに結合された第1の入力ノードと前記第3の直
    線電圧ランプを受取るために結合された第2の入力ノードとを有し、前記基準電
    圧より低い電位を有する前記第3の直線電圧ランプに応答して第3の検出信号を
    送出するために有効な第3の電圧レベル検出手段と、 前記第2の基準電圧入力ノードに結合された第1の入力ノードと前記第4の直
    線電圧ランプを受取るために結合された第2の入力ノードとを有し、前記基準電
    圧より高い電位を有する前記第4の直線電圧ランプに応答して第4の検出信号を
    送出するために有効な第4の電圧レベル検出手段と、 前記第3の電圧レベル検出手段および前記第4の電圧レベル検出手段とに結合
    され、前記第3の検出信号が前記第4の検出信号と一致するときを特定するため
    の第2の制御手段とを含む、請求項6に記載のパルスモニタリング回路。
  16. 【請求項16】 前記第1および第2の電圧ランプ発生器の勾配間の差は、
    前記第3および第4の電圧ランプ発生器の勾配間の電圧差と異なる、請求項15
    に記載のパルスモニタリング回路。
  17. 【請求項17】 前記第1、第2、第3、および第4の電圧レベル検出手段
    は差動増幅器である、請求項16に記載のパルスモニタリング回路。
  18. 【請求項18】 前記第1の電圧検出手段は差動増幅器である、請求項1に
    記載のパルスモニタリング回路。
  19. 【請求項19】 前記第1および第2の電圧ランプ発生器は、前記第1およ
    び第2の直線電圧ランプを生成する前にリセットされる、請求項1に記載のパル
    スモニタリング回路。
  20. 【請求項20】 前記第1の電圧ランプ発生器に結合され、前記第1の電圧
    ランプ出力の出力電圧ランプの勾配を変更するために有効な第1の勾配調整ノー
    ドをさらに含む、請求項1に記載のパルスモニタリング回路。
  21. 【請求項21】 前記第2の電圧ランプ発生器に結合され、前記第2の電圧
    ランプ発生器の出力電圧ランプの勾配を変更するために有効な第2の勾配調整ノ
    ードをさらに含み、前記第2の勾配調整ノードは前記第1の勾配調整ノードに依
    存しない、請求項20に記載のパルスモニタリング回路。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012529804A (ja) * 2009-06-10 2012-11-22 中興通訊股▲ふん▼有限公司 クロック検出方法及びその装置
KR20200142375A (ko) * 2019-06-12 2020-12-22 삼성전자주식회사 클락 모니터링 회로, 및 이를 포함하는 집적 회로 및 이를 포함하는 반도체 장치

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7103086B2 (en) * 2000-09-29 2006-09-05 Maxstream, Inc. Frequency hopping data radio
US7151367B2 (en) * 2004-03-31 2006-12-19 Teradyne, Inc. Method of measuring duty cycle
KR100624002B1 (ko) * 2004-05-20 2006-09-19 주식회사 키스컴 직류성분의 하이-로우 구분점 추적 기능을 갖춘 펄스 검출기
FR2911458A1 (fr) * 2007-01-11 2008-07-18 Valeo Electronique Sys Liaison Procede et dispositif de traitement d'un signal electrique binaire, module de reception de donnees
US7821302B2 (en) * 2007-05-24 2010-10-26 Atmel Rousset S.A.S. Frequency monitor
US8352651B2 (en) * 2007-06-12 2013-01-08 Siemens Aktiengesellschaft Devices, systems, and methods regarding programmable logic controller communications
US7965151B2 (en) 2009-06-02 2011-06-21 Power Integrations, Inc. Pulse width modulator with two-way integrator

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5194737A (ja) * 1975-02-18 1976-08-19
JPS60134624A (ja) * 1983-12-23 1985-07-17 Fujitsu Ltd パルス幅識別回路
JPH0260227A (ja) * 1988-08-25 1990-02-28 Fujitsu Ten Ltd 信号入力装置
JPH02220513A (ja) * 1989-02-21 1990-09-03 Fujitsu Ltd 発振停止検出回路
JPH06104708A (ja) * 1992-09-21 1994-04-15 Advantest Corp ジッタ発生装置
JPH08221150A (ja) * 1995-02-17 1996-08-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd クロック異常検出装置
JPH1197989A (ja) * 1997-09-18 1999-04-09 Toyota Autom Loom Works Ltd 誤動作防止機能を有するパルス信号生成装置

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3735271A (en) 1971-10-22 1973-05-22 Us Navy Pulse width coded signal detector
US4024414A (en) 1973-10-31 1977-05-17 Bertram Frederick McCarthy Electrical circuit means for detecting the frequency of input signals
US3906247A (en) 1974-01-16 1975-09-16 Gte Automatic Electric Lab Inc Programmable proportional clock edge delay circuit
US4223270A (en) 1978-07-20 1980-09-16 General Dynamics Corporation Pomona Division Multiplexed CCD pulse width discriminator
JPS595737A (ja) 1982-07-01 1984-01-12 Fujitsu Ltd パルス幅検出回路
GB2136608B (en) 1983-03-09 1986-01-22 Emi Ltd Timing circuits
JPH0743887B2 (ja) 1987-12-29 1995-05-15 松下電器産業株式会社 信号判別装置
US4959557A (en) 1989-05-18 1990-09-25 Compaq Computer Corporation Negative feedback circuit to control the duty cycle of a logic system clock
US5124597A (en) 1991-04-01 1992-06-23 Tektronix, Inc. Timer circuit including an analog ramp generator and a CMOS counter
US5283515A (en) 1992-05-29 1994-02-01 Analog Devices, Inc. Automatic calibration system for a ramp voltage generator
JP2926202B2 (ja) 1992-09-24 1999-07-28 ユニデン株式会社 レーザー光受信装置
US5847833A (en) 1995-04-26 1998-12-08 Sony Corporation Distance measuring method and distance measuring apparatus
US5923191A (en) 1997-05-08 1999-07-13 Vlsi Technology, Inc. Device and a method for monitoring a system clock signal

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5194737A (ja) * 1975-02-18 1976-08-19
JPS60134624A (ja) * 1983-12-23 1985-07-17 Fujitsu Ltd パルス幅識別回路
JPH0260227A (ja) * 1988-08-25 1990-02-28 Fujitsu Ten Ltd 信号入力装置
JPH02220513A (ja) * 1989-02-21 1990-09-03 Fujitsu Ltd 発振停止検出回路
JPH06104708A (ja) * 1992-09-21 1994-04-15 Advantest Corp ジッタ発生装置
JPH08221150A (ja) * 1995-02-17 1996-08-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd クロック異常検出装置
JPH1197989A (ja) * 1997-09-18 1999-04-09 Toyota Autom Loom Works Ltd 誤動作防止機能を有するパルス信号生成装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012529804A (ja) * 2009-06-10 2012-11-22 中興通訊股▲ふん▼有限公司 クロック検出方法及びその装置
KR20200142375A (ko) * 2019-06-12 2020-12-22 삼성전자주식회사 클락 모니터링 회로, 및 이를 포함하는 집적 회로 및 이를 포함하는 반도체 장치
KR102661933B1 (ko) 2019-06-12 2024-04-29 삼성전자주식회사 클락 모니터링 회로, 및 이를 포함하는 집적 회로 및 이를 포함하는 반도체 장치

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