JPH02220513A - 発振停止検出回路 - Google Patents
発振停止検出回路Info
- Publication number
- JPH02220513A JPH02220513A JP4098189A JP4098189A JPH02220513A JP H02220513 A JPH02220513 A JP H02220513A JP 4098189 A JP4098189 A JP 4098189A JP 4098189 A JP4098189 A JP 4098189A JP H02220513 A JPH02220513 A JP H02220513A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pulse
- oscillator
- level
- waveforms
- period
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 26
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 title claims description 19
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims abstract description 6
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000001934 delay Effects 0.000 claims description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 abstract description 4
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 2
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 238000009412 basement excavation Methods 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Manipulation Of Pulses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
本発明は装置を駆動しまたは装置にデータを供給するた
めのクロックパルスを発生する発振器の発振停止検出回
路に関し、 前記クロックパルスの高、低レベルのMれで障害停止し
た場合でも正確に検出できる発振停止検出回路を提供す
ることを目的とし、 該発振器のパルス出力から正反レベルを2分岐し、分岐
した各パルス列を倍周期に変換するカウンタと、該カウ
ンタの高、低レベル区間に同期するように前記パルスを
遅延させる遅延回路と、前記パルス出力の連続2パルス
の各立上りと各立下りに対応した遅延回路からの高レベ
ルパルス出力を検出する2対の検出回路より成る発振状
態検出部と、 該2対の検出回路からの高レベルパルスを積分回路を通
し、所定基準値と比較する手段より成る2対の積分比較
部とを具え、 該各積分比較部の何れかの出力が所定の高レベルに保持
されたことにより、前記発掘器の発振停止を検出する構
成とする。
めのクロックパルスを発生する発振器の発振停止検出回
路に関し、 前記クロックパルスの高、低レベルのMれで障害停止し
た場合でも正確に検出できる発振停止検出回路を提供す
ることを目的とし、 該発振器のパルス出力から正反レベルを2分岐し、分岐
した各パルス列を倍周期に変換するカウンタと、該カウ
ンタの高、低レベル区間に同期するように前記パルスを
遅延させる遅延回路と、前記パルス出力の連続2パルス
の各立上りと各立下りに対応した遅延回路からの高レベ
ルパルス出力を検出する2対の検出回路より成る発振状
態検出部と、 該2対の検出回路からの高レベルパルスを積分回路を通
し、所定基準値と比較する手段より成る2対の積分比較
部とを具え、 該各積分比較部の何れかの出力が所定の高レベルに保持
されたことにより、前記発掘器の発振停止を検出する構
成とする。
本発明は、装置を駆動しまたは装置にデータを供給する
ためのクロックパルスを発生する発振器の発振停止回路
に関するものである。
ためのクロックパルスを発生する発振器の発振停止回路
に関するものである。
近年、コンピュータシステムの高信願度化や保守の容易
化等に伴ない、障害個所の早期発見、自動復旧機能等が
求められている。
化等に伴ない、障害個所の早期発見、自動復旧機能等が
求められている。
しかし、従来の対策としては、最近の急速なIC化に伴
ない、第4図の従来例に示すように、装置(システム)
1内12)IC1−1に対し、たとえばECLより成る
ゲート■に対応してスキャン用ゲート■′を組込み、テ
スト時アドレススキャンによりテストの高速化が図られ
る。
ない、第4図の従来例に示すように、装置(システム)
1内12)IC1−1に対し、たとえばECLより成る
ゲート■に対応してスキャン用ゲート■′を組込み、テ
スト時アドレススキャンによりテストの高速化が図られ
る。
この場合、本願で問題としている装置に駆動パルスまた
はデータとして供給する発振器10を別扱いとする方法
は用いられない。
はデータとして供給する発振器10を別扱いとする方法
は用いられない。
従来の装置の障害検出方法は、第4図に示すように、テ
スタ2により装置(システム)1内の各IC等のテスト
をアドレススキャンゲートayt−用いてテストし、そ
の結果障害検出時の手順として発H4m(O20)10
のチエツクが行なわれる。
スタ2により装置(システム)1内の各IC等のテスト
をアドレススキャンゲートayt−用いてテストし、そ
の結果障害検出時の手順として発H4m(O20)10
のチエツクが行なわれる。
しかし、発振器1Qのチエツクの場合もCPU等・もよ
うに直接駆動パルスを与えている場合には発振停止が明
らかに分るが、Ilo等にデータ等として供給している
場合には、発振器側かI10側かの障害の識別が峻しい
、そこで発振器の障害について、クロックパルスの積分
を行なうことにより検出している。しかしこの方式では
、クロックパルスが低レベルの時における停止を正確に
検出できないという問題点が存在する。
うに直接駆動パルスを与えている場合には発振停止が明
らかに分るが、Ilo等にデータ等として供給している
場合には、発振器側かI10側かの障害の識別が峻しい
、そこで発振器の障害について、クロックパルスの積分
を行なうことにより検出している。しかしこの方式では
、クロックパルスが低レベルの時における停止を正確に
検出できないという問題点が存在する。
本発明の目的は、発振器のクロックパルスの高。
低レベルの何れで障害停止した場合でも正確に検出でき
る発振停止検出回路を提供することである。
る発振停止検出回路を提供することである。
前記目的を達成するため、第1図の原理説明図(α)の
概略構成図に示すように、該発振器10のパルス出力か
ら正反レベルを2分岐121 s 12s L %分岐
した各パルス列を倍周期に変換するカウンタ14h14
2と、該カウンタの高、低レベル区間に同期するように
前記パルスを遅延させる遅延回路13凰。
概略構成図に示すように、該発振器10のパルス出力か
ら正反レベルを2分岐121 s 12s L %分岐
した各パルス列を倍周期に変換するカウンタ14h14
2と、該カウンタの高、低レベル区間に同期するように
前記パルスを遅延させる遅延回路13凰。
13、と、前記パルス出力の連続2パルスの各立上りと
各立下りに対応した遅延回路からの高レベルパルス出力
を検出する2対の検出回路151〜154より成る発振
状態検出部201〜201と、該2対の検出回路からの
高レベルパルスt−積分回路161〜164を通し、所
定基準値と比較する手段171〜174より成る2対の
積分比軟11S21t〜214とを具え、 威容積分比較部の何れかの出力が所定の高レベルに保持
されたことにより、前記発掘器の発振停止を検出する構
成とする。
各立下りに対応した遅延回路からの高レベルパルス出力
を検出する2対の検出回路151〜154より成る発振
状態検出部201〜201と、該2対の検出回路からの
高レベルパルスt−積分回路161〜164を通し、所
定基準値と比較する手段171〜174より成る2対の
積分比軟11S21t〜214とを具え、 威容積分比較部の何れかの出力が所定の高レベルに保持
されたことにより、前記発掘器の発振停止を検出する構
成とする。
第1図(G)の発振器10からのクロックパルス(CL
)は出力線外に2パルス示すように、各クロックの立上
り■、ayおよび立下り01gに対応した高、低レベル
を検出するため、同図(6)の要部波形図に示すように
、発振状態検出部20. 、20.に入れ、正波形A9
反転波形KK対し、カウンタ(CNT)141 m 1
4gにより2倍周期Q波形B、Gt−作り、さらにこの
波形を反転したB’、 G’を作る。そして、A#Kを
それぞれ遅延させ、前記立上り■Jayに対してはB、
Gの高レベル区間■、■を同期させ、前記立下り■、o
′に対してはB’、G’の高レベル区間■。
)は出力線外に2パルス示すように、各クロックの立上
り■、ayおよび立下り01gに対応した高、低レベル
を検出するため、同図(6)の要部波形図に示すように
、発振状態検出部20. 、20.に入れ、正波形A9
反転波形KK対し、カウンタ(CNT)141 m 1
4gにより2倍周期Q波形B、Gt−作り、さらにこの
波形を反転したB’、 G’を作る。そして、A#Kを
それぞれ遅延させ、前記立上り■Jayに対してはB、
Gの高レベル区間■、■を同期させ、前記立下り■、o
′に対してはB’、G’の高レベル区間■。
■に同期させる。これにより同一ゲートを用いて高レベ
ルパルスを検出することができる。パルス検出部151
〜154でパルスを検出し、発振器10が正常であれば
、次の積分回路と比較器より成る積分比横部211〜2
14で高レベル区間で充電を、低レベル区間で放電をく
り返す。
ルパルスを検出することができる。パルス検出部151
〜154でパルスを検出し、発振器10が正常であれば
、次の積分回路と比較器より成る積分比横部211〜2
14で高レベル区間で充電を、低レベル区間で放電をく
り返す。
比較器における高レベル@H″の充電時間を1H″′の
最終値になるよりも短く設定し、低レベル@L”の期間
を放電に必要な時間だけ設定しておく、ここで°H”の
期間に充電された電圧値を九とし、最終値をVIiとす
ればν、くν5(VHの関係となる。
最終値になるよりも短く設定し、低レベル@L”の期間
を放電に必要な時間だけ設定しておく、ここで°H”の
期間に充電された電圧値を九とし、最終値をVIiとす
ればν、くν5(VHの関係となる。
正常に発振している時はν。以上の値にはならないが、
発振が停止すると、放電路が断となるから電圧が上昇し
、ある時間の後に最終値”j/n iC到達する。
発振が停止すると、放電路が断となるから電圧が上昇し
、ある時間の後に最終値”j/n iC到達する。
そこで、積分比較部によりV&以上の電圧を検出すれば
発掘の停止検出が可能となる。
発掘の停止検出が可能となる。
第2図は本発明の実施例の構成説明図であり、第3図は
その動作波形図である。
その動作波形図である。
第2図において、パルス検出部151〜154以前の各
構成は第1図(α)の原理説明図の構成図と同じである
。
構成は第1図(α)の原理説明図の構成図と同じである
。
パルス検出部の真体回路として、ANDゲート151〜
154が用いられ、前述OA 、 B 、 B’、 K
、 G 、 G’の外遅延回路131* 132から
の入力C,Eおよび各ANDゲート151〜154の出
力り、E、H,Jを含めた動作波形関係を第3図に示す
。
154が用いられ、前述OA 、 B 、 B’、 K
、 G 、 G’の外遅延回路131* 132から
の入力C,Eおよび各ANDゲート151〜154の出
力り、E、H,Jを含めた動作波形関係を第3図に示す
。
従って、ANDゲート151〜154の出力り、E、H
。
。
Jを直列抵抗Rと並列コンデンサCより成る積分回路1
61〜164を介して、比較器171〜174に入力し
、前述したようにそれらのうちの何れかが前述したよう
に96以上の所定の高レベル保持されることにより発振
停止が検出される。
61〜164を介して、比較器171〜174に入力し
、前述したようにそれらのうちの何れかが前述したよう
に96以上の所定の高レベル保持されることにより発振
停止が検出される。
第3図においては、発振器出力のクロックパルスからの
正レベルパルスAに対し、パルスBは倍周期の関係にあ
り、パルスCはパルスAより遅延させてパルスBK同期
させる。
正レベルパルスAに対し、パルスBは倍周期の関係にあ
り、パルスCはパルスAより遅延させてパルスBK同期
させる。
そして、パルスCとパルスBO高レベル同士のANDを
とったものがパルスDであり、パルスCとパルスBの反
転したB′との高レベル同士のANDをとつ九ものがパ
ルスEである。
とったものがパルスDであり、パルスCとパルスBの反
転したB′との高レベル同士のANDをとつ九ものがパ
ルスEである。
パルスにはパルスAを反転し良ものであり、以下G、F
、H,G’、JはB、C,D、B’、にと同様の関係に
ある。
、H,G’、JはB、C,D、B’、にと同様の関係に
ある。
その結果、パルスAと同じ発振器の出力パルスの連続2
パルスの各立上り■、ayおよび立下り■。
パルスの各立上り■、ayおよび立下り■。
jに対応するパルスを、それぞれ単独に検出して、その
停止状態をチエツクすることができる。すなわち、0R
18の出力をたとえば装置1に入力し、停止時アラーム
表示させることもできる。
停止状態をチエツクすることができる。すなわち、0R
18の出力をたとえば装置1に入力し、停止時アラーム
表示させることもできる。
〔発8Ao効果〕
以上説明したように、本発明によれば、発振器からのパ
ルス出力の立上り、立下りに対応する高低レベルのパル
スを1つずつ切分け、これを積分回路を通して比較器に
よりチエツクすることにより、正確にパルスの停止を確
認しアラームとして装置に通知できる。従来のごとく装
置の異常から逆に発振器の探索に至る手順に比し、まず
発振器の正常、異常を確認し九後装置の探索に移る方が
、早期発見の機会が格段に大きく、原因探索や復帰時間
の短縮に役立つところが極めて大きい。
ルス出力の立上り、立下りに対応する高低レベルのパル
スを1つずつ切分け、これを積分回路を通して比較器に
よりチエツクすることにより、正確にパルスの停止を確
認しアラームとして装置に通知できる。従来のごとく装
置の異常から逆に発振器の探索に至る手順に比し、まず
発振器の正常、異常を確認し九後装置の探索に移る方が
、早期発見の機会が格段に大きく、原因探索や復帰時間
の短縮に役立つところが極めて大きい。
im1図(→、(b)は本発明の原理説明図、第2図は
実施例の構成説明図、第3図は実施例の動作波形図、第
4図は従来例の説明図であり、図中1は装置(システム
)、10は発振器、11.12sは増幅器、12禽はN
OT回路、131.15.は遅延回路、141,14゜
はカウンタ、1sl、 154はANDゲート、161
〜164は積分回路、171〜174は比較器、18は
OR回路、201〜20gは発振状塵検出部、211〜
214は積分比較部を示す。 4!奸出願人富士通株式会社 復代理人 弁塊士 1)坂 善 ム 本発明の厘理観明図 実施例の構成説明図 ■■■′■′ 実施例の動作波形図 第 3 @ 従来例の説明図 第 4 図
実施例の構成説明図、第3図は実施例の動作波形図、第
4図は従来例の説明図であり、図中1は装置(システム
)、10は発振器、11.12sは増幅器、12禽はN
OT回路、131.15.は遅延回路、141,14゜
はカウンタ、1sl、 154はANDゲート、161
〜164は積分回路、171〜174は比較器、18は
OR回路、201〜20gは発振状塵検出部、211〜
214は積分比較部を示す。 4!奸出願人富士通株式会社 復代理人 弁塊士 1)坂 善 ム 本発明の厘理観明図 実施例の構成説明図 ■■■′■′ 実施例の動作波形図 第 3 @ 従来例の説明図 第 4 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 装置を駆動しまたは装置にデータを供給するためのクロ
ックパルスを発生する発振器において、該発振器のパル
ス出力から正反レベルを2分岐し、分岐した各パルス列
を倍周期に変換するカウンタと、該カウンタの高、低レ
ベル区間に同期するように前記パルスを遅延させる遅延
回路と、前記パルス出力の連続2パルスの各立上りと各
立下りに対応した遅延回路からの高レベルパルス出力を
検出する2対の検出回路より成る発振状態検出部と、 該2対の検出回路からの高レベルパルスを積分回路を通
し、所定基準値と比較する手段より成る2対の積分比較
部とを具え、 該各積分比較部の何れかの出力が所定の高レベルに保持
されたことにより、前記発振器の発振停止を検出するこ
とを特徴とする発振停止検出回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4098189A JPH02220513A (ja) | 1989-02-21 | 1989-02-21 | 発振停止検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4098189A JPH02220513A (ja) | 1989-02-21 | 1989-02-21 | 発振停止検出回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02220513A true JPH02220513A (ja) | 1990-09-03 |
Family
ID=12595610
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4098189A Pending JPH02220513A (ja) | 1989-02-21 | 1989-02-21 | 発振停止検出回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02220513A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003514317A (ja) * | 1999-11-19 | 2003-04-15 | アトメル・コーポレイション | デジタル周波数モニタリング |
-
1989
- 1989-02-21 JP JP4098189A patent/JPH02220513A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003514317A (ja) * | 1999-11-19 | 2003-04-15 | アトメル・コーポレイション | デジタル周波数モニタリング |
JP4744758B2 (ja) * | 1999-11-19 | 2011-08-10 | アトメル・コーポレイション | デジタル周波数モニタリング |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20150323594A1 (en) | Monitoring on-chip clock control during integrated circuit testing | |
US10459029B2 (en) | On-chip clock control monitoring | |
JPH02283120A (ja) | 雑音除去装置 | |
JPH02220513A (ja) | 発振停止検出回路 | |
Chen et al. | Rapid PLL monitoring by a novel min-MAX time-to-digital converter | |
CN104679639A (zh) | 一种时钟晶振频率监测方法和装置 | |
US5436927A (en) | Method and apparatus for testing frequency symmetry of digital signals | |
CN105510688B (zh) | 一种实现cp测试的电压检测器 | |
KR100895138B1 (ko) | 지연 회로 | |
JP3058130B2 (ja) | 高速半導体集積回路装置のテスト回路 | |
SU608125A1 (ru) | Устройство дл контрол параметров | |
RU2631989C1 (ru) | Устройство для диагностического контроля выполнения проверок | |
CN107561432A (zh) | 一种基于奇偶校验的时序信号故障检测方法 | |
SU1099388A1 (ru) | Устройство дл проверки счетчиков | |
JPS6213697B2 (ja) | ||
SU555354A1 (ru) | Дискриминатор логических сигналов | |
JPS61241672A (ja) | Ic試験装置 | |
JPS60169222A (ja) | 誤り計数回路 | |
RU1354989C (ru) | Устройство для контроля цифровых узлов | |
JPH0469720A (ja) | クロック異常検出装置 | |
SU1401587A1 (ru) | Устройство дл контрол последовательности чередовани импульсов | |
SU762014A1 (ru) | Устройство для диагностики неисправностей цифровых узлов 1 | |
KR930010918B1 (ko) | 분산형 프레임 구조의 병렬 프레임 검출회로 | |
JPS60144040A (ja) | 誤り計数装置 | |
SU651351A1 (ru) | Устройство дл контрол логических блоков |