JP2001308221A - モジュール基板の製造方法 - Google Patents

モジュール基板の製造方法

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 モジュール基板に反りが生じる場合であって
も端面電極をマザーボードに確実に接続できるモジュー
ル基板を製造する。 【解決手段】 分離基板6と残余の加工用基板1Cとに
分離した加工用基板1の裏面1Bに閉塞板7を取付け
る。そして、分離基板6の裏面電極4上にはクリーム半
田8を塗布した後、このクリーム半田8に半田ボール1
0を取付ける。この状態で分離基板6等を加熱し、半田
ボール10を溶融させる。これにより、溶融した半田ボ
ール10は、裏面電極4、端面電極5に沿って貫通孔2
内に侵入し、その一部が加工用基板1の裏面1Bよりも
突出した状態で裏面電極4、端面電極5に固着すること
ができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半田付けによって
マザーボードと電気的に接続するためのモジュール基板
の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、電子回路の高密度化が進んでいる
ため、その組立時には、中間検査の重要性、実装の容易
性等の観点から、電子回路の一部を予めモジュール基板
上にサブアッセンブリ化した後に、このモジュール基板
を半田付け等の手段によってマザーボード上に実装する
ことがある(例えば、特開昭63−204693号公報
等)。
【0003】この種の従来技術によるモジュール基板
は、例えば四角形状の薄板からなる絶縁性の基板を有
し、この基板は、絶縁性樹脂材料と導体からなる配線パ
ターンとを交互に積層することによって形成されてい
る。
【0004】そして、基板上には、電子部品として例え
ばトランジスタ等の能動素子、または抵抗、コンデンサ
等の受動素子が搭載され、これらの素子は配線パターン
によって接続された電子回路を構成している。また、基
板の外周縁を形成する端面には、この電子回路に対して
外部回路であるマザーボード側から電力の供給や信号の
入出力等を行うために端面電極等からなる端面スルーホ
ールが複数個設けられている。
【0005】これにより、モジュール基板には、マザー
ボード側から入力される信号に対して、所定の信号処理
機能をもつようにブロック化された電子回路が予め組立
てられている。そして、実装時には、モジュール基板が
マザーボード上に重ね合わせるように配置され、各端面
電極がマザーボード側の電極パッドに半田付け等の手段
を用いて接続され、マザーボード上に面実装状態で搭載
される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来技術によるモジュール基板では、樹脂材料等からなる
四角形状の絶縁性の基板を用い、この基板は絶縁性樹脂
材料と配線パターンとを交互に積層することによって形
成している。
【0007】しかし、基板の樹脂材料と配線パターンと
では熱膨張率が異なるため、例えば基板の加工時、端面
電極の半田付けに伴う基板への加熱時等には、配線パタ
ーンの配置、密度の偏り等が原因となって基板の一部に
反り等の変形が生じることがある。
【0008】このため、従来技術では、モジュール基板
をマザーボード上に面実装するときに、反りによって基
板がマザーボードから部分的に浮上がることがあるた
め、一部の端面電極が接続不良となる虞れがあり、信頼
性が低下するという問題がある。特に、近年はモジュー
ル基板を可能な限り薄型化する傾向があり、その基板は
僅かな加熱等でも反りが生じ易いため、モジュール基板
をマザーボード上に安定して面実装するのが難しくなっ
ている。
【0009】本発明は上述した従来技術の問題に鑑みな
されたもので、本発明の目的は、モジュール基板に反り
が生じるときであっても端面電極をマザーボートに接合
することができるモジュール基板の製造方法を提供する
ことにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、請求項1の発明によるモジュール基板の製造方
法は、加工用基板に貫通孔を穿設し、該貫通孔の周囲に
位置して前記加工用基板の裏面には裏面電極を設け、前
記貫通孔の内壁面の一部または全部には該裏面電極に接
続して端面電極を設け、前記貫通孔を通って切断するこ
とにより加工用基板から前記端面電極と裏面電極とを有
する分離基板と残余の加工用基板とを形成し、前記貫通
孔の周囲には酸化膜除去成分を含む粘着物質を設け、該
粘着物質には固形半田を取付け、前記分離基板と残余の
加工用基板とを加熱して該固形半田を溶融し、溶融した
固形半田を端面電極と裏面電極とに冷却固化するように
したことにある。
【0011】このように構成することにより、加工用基
板から前記端面電極と裏面電極とを有する分離基板と残
余の加工用基板とを形成するときに、分離基板を残余の
加工用基板に埋め戻すことによって分離基板と残余の加
工用基板との間には貫通孔を再度形成することができ
る。これにより、端面電極に半田を固着する前に加工用
基板から分離基板を分離することができる。
【0012】また、貫通孔の周囲に酸化膜除去成分を含
む粘着物質を設け、該粘着物質に固形半田を取付けるか
ら、粘着物質によって固定半田を位置決めした状態で固
定できる。さらに、分離基板と残余の加工用基板とを加
熱したときには、粘着物質が触媒として作用するから、
固形半田は粘着物質に接触した部位から溶融して貫通孔
内に侵入する。このとき、貫通孔には端面電極が設けら
れているから、溶融した固形半田は端面電極に付着する
と共に、その一部が端面電極を通じて裏面電極を覆うよ
うに移動する。
【0013】また、溶融した固形半田は、その表面張力
によって略球形状となって端面電極と裏面電極とに付着
するから、半田の一部が貫通孔から突出する。そして、
加工用基板から予め分離してある分離基板を取外したと
きには、分離基板等がモジュール基板をなすと共に、モ
ジュール基板の裏面側からマザーボードに向けて半田を
突出させることができる。このため、突出した半田によ
ってモジュール基板とマザーボードとの間の隙間を吸収
し、モジュール基板の端面電極とマザーボードの電極パ
ッドとを接続することができる。
【0014】この場合、請求項2の発明のように、加工
用基板の裏面に裏面電極を設け、前記加工用基板には該
裏面電極の位置に貫通孔を穿設し、該貫通孔の内壁面の
一部または全部には該裏面電極に接続して端面電極を設
け、前記貫通孔を通って切断することにより加工用基板
から前記端面電極と裏面電極とを有する分離基板と残余
の加工用基板とを形成し、前記貫通孔の周囲には酸化膜
除去成分を含む粘着物質を設け、該粘着物質には固形半
田を取付け、前記分離基板と残余の加工用基板とを加熱
して該固形半田を溶融し、溶融した固形半田を端面電極
と裏面電極とに冷却固化するようにしてもよい。
【0015】また、請求項3の発明は、前記加工用基板
を切断する前に残余の加工用基板側の裏面電極および貫
通孔の内壁面に設けた端面電極を除去する構成としたこ
とにある。
【0016】これにより、溶融した固形半田が残余の加
工用基板に付着するのを防ぐことができ、溶融した固形
半田を冷却固化した後に、分離基板を容易に残余の加工
用基板から取外すことができる。
【0017】この場合、請求項4の発明のように、粘着
物質を端面電極に接触して分離基板の表面に設ける構成
としてもよい。
【0018】これにより、粘着物質に固形半田を取付け
て分離基板等を加熱したときには、固形半田は粘着物質
に接触した部位から溶融する。このとき、粘着物質は端
面電極に接触しているから、溶融した固形半田は、端面
電極に付着すると共に、その一部が端面電極を通じて裏
面電極を覆うように移動する。この結果、端面電極と裏
面電極とに半田を固着することができる。
【0019】また、請求項5の発明は、粘着物質を裏面
電極に接触して分離基板の裏面に設ける構成としたこと
にある。
【0020】これにより、粘着物質に固形半田を取付け
て分離基板等を加熱したときには、固形半田は粘着物質
に接触した部位から溶融する。このとき、粘着物質は裏
面電極に接触しているから、溶融した固形半田は裏面電
極に付着すると共に、その一部が裏面電極を通じて端面
電極に達する。この結果、端面電極と裏面電極とに半田
を固着することができる。
【0021】また、請求項6の発明は、粘着物質を貫通
孔の開口近傍に位置して残余の加工用基板の表面または
裏面に設ける構成としたことにある。
【0022】これにより、粘着物質に固形半田を取付け
て分離基板等を加熱したときには、固形半田は粘着物質
に接触した部位から溶融する。このとき、粘着物質は貫
通孔の開口近傍に位置しているから、溶融した固形半田
は貫通孔の開口付近に拡がると共に貫通孔内に侵入す
る。そして、溶融した固形半田は、貫通孔内の端面電極
に接触して付着すると共に、その一部が端面電極を通じ
て裏面電極に達する。この結果、端面電極と裏面電極と
に半田を固着することができる。
【0023】また、請求項7の発明は、固形半田を貫通
孔を閉塞した状態で粘着物質に取付ける構成としたこと
にある。
【0024】これにより、加熱によって固形半田が溶融
したときには、溶融した固形半田は貫通孔内に流れ込む
から、貫通孔内の端面電極に確実に半田を付着させるこ
とができる。
【0025】さらに、請求項8の発明によるモジュール
基板の製造方法は、加工用基板に貫通孔を穿設し、該貫
通孔の周囲に位置して前記加工用基板の裏面には裏面電
極を設け、前記貫通孔の内壁面の一部または全部には該
裏面電極に接続して端面電極を設け、前記貫通孔を通っ
て切断することにより加工用基板から前記端面電極と裏
面電極とを有する分離基板と残余の加工用基板とを形成
し、前記端面電極に固形半田を取付け、該固形半田を端
面電極に取付ける前,後のいずれかで該固形半田に酸化
膜除去成分を含む粘着物質を設け、前記分離基板と残余
の加工用基板とを加熱して該固形半田を溶融し、溶融し
た固形半田を端面電極と裏面電極とに冷却固化するよう
にしたことにある。
【0026】これにより、端面電極に固形半田を取付け
て分離基板等を加熱したときには、固形半田は端面電極
に付着しつつ溶融する。このとき、溶融した固形半田
は、その一部が端面電極を通じて裏面電極を覆うように
移動する。この結果、端面電極と裏面電極とに半田を固
着することができる。
【0027】この場合、請求項9の発明のように、加工
用基板の裏面には裏面電極を設け、前記加工用基板には
該裏面電極の位置に貫通孔を穿設し、該貫通孔の内壁面
の一部または全部には該裏面電極に接続して端面電極を
設け、前記貫通孔を通って切断することにより加工用基
板から前記端面電極と裏面電極とを有する分離基板と残
余の加工用基板とを形成し、前記端面電極に固形半田を
取付け、該固形半田を端面電極に取付ける前,後のいず
れかで該固形半田に酸化膜除去成分を含む粘着物質を設
け、前記分離基板と残余の加工用基板とを加熱して該固
形半田を溶融し、溶融した固形半田を端面電極と裏面電
極とに冷却固化するようにしてもよい。
【0028】また、請求項10の発明は、前記加工用基
板を切断する前に残余の加工用基板側の裏面電極および
貫通孔の内壁面に設けた端面電極を除去する構成とした
ことにある。
【0029】これにより、溶融した固形半田が残余の加
工用基板に付着するのを防ぐことができ、溶融した固形
半田を冷却固化した後に、分離基板を容易に残余の加工
用基板から取外すことができる。
【0030】また、請求項11の発明では、固形半田
は、前記貫通孔を閉塞し、または前記貫通孔内に収容す
る構成としている。
【0031】これにより、貫通孔によって固形半田を位
置決めすることができると共に、固形半田を溶融させた
ときには、容易に貫通孔の内壁面に設けた端面電極に溶
融した固形半田を付着させることができる。
【0032】一方、請求項12によるモジュール基板の
製造方法は、加工用基板に貫通孔を穿設し、該貫通孔の
周囲に位置して前記加工用基板の裏面には裏面電極を設
け、前記貫通孔の内壁面には前記裏面電極に接続して端
面電極を設け、前記加工用基板には前記貫通孔の一部を
除去してスリット孔を設けることによって該スリット孔
に囲まれ端面電極と裏面電極とを有する非分離基板を形
成し、前記端面電極の周囲には酸化膜除去成分を含む粘
着物質を設け、該粘着物質には固形半田を取付け、前記
非分離基板と残余の加工用基板とを加熱して該固形半田
を溶融し、溶融した固形半田を端面電極と裏面電極とに
冷却固化し、その後スリット孔の位置で加工用基板から
非分離基板をモジュール基板として分離する構成とした
ことにある。
【0033】このように構成することにより、加工用基
板にスリット孔を設けることによって端面電極と裏面電
極とを有する非分離基板を形成することができる。そし
て、端面電極の周囲に酸化膜除去成分を含む粘着物質を
設け、該粘着物質に固形半田を取付けるから、粘着物質
によって固定半田を端面電極に周囲に位置決めした状態
で固定できる。また、非分離基板と残余の加工用基板と
を加熱したときには、粘着物質が触媒として機能するか
ら、固形半田は粘着物質に接触した部位から溶融して貫
通孔内に侵入する。このとき、貫通孔内には端面電極が
設けられているから、溶融した固形半田は端面電極に付
着すると共に、その一部が端面電極を通じて裏面電極を
覆うように移動する。また、溶融した固形半田は、その
表面張力によって略球形状となって端面電極と裏面電極
とに付着するから、半田の一部を貫通孔から突出させる
ことができる。
【0034】この場合、請求項13の発明のように、加
工用基板の裏面に裏面電極を設け、前記加工用基板には
該裏面電極の位置に貫通孔を穿設し、該貫通孔の内壁面
には前記裏面電極に接続して端面電極を設け、前記加工
用基板には前記貫通孔の一部を除去してスリット孔を設
けることによって該スリット孔に囲まれ端面電極と裏面
電極とを有する非分離基板を形成し、前記端面電極の周
囲には酸化膜除去成分を含む粘着物質を設け、該粘着物
質には固形半田を取付け、前記非分離基板と残余の加工
用基板とを加熱して該固形半田を溶融し、溶融した固形
半田を端面電極と裏面電極とに冷却固化し、その後スリ
ット孔の位置で加工用基板から非分離基板をモジュール
基板として分離する構成としてもよい。
【0035】また、請求項14の発明のように、粘着物
質を端面電極に接触して非分離基板の表面に設ける構成
としてもよい。
【0036】これにより、粘着物質に固形半田を取付け
て非分離基板等を加熱したときには、固形半田は粘着物
質に接触した部位から溶融する。このとき、粘着物質は
端面電極に接触しているから、溶融した固形半田は、端
面電極に付着すると共に、その一部が端面電極を通じて
裏面電極に達する。この結果、端面電極と裏面電極とに
半田を固着することができる。
【0037】また、請求項15の発明は、粘着物質を裏
面電極に接触して非分離基板の裏面に設ける構成とした
ことがある。
【0038】これにより、粘着物質に固形半田を取付け
て非分離基板等を加熱したときには、固形半田は粘着物
質に接触した部位から溶融する。このとき、粘着物質は
裏面電極に接触しているから、溶融した固形半田は裏面
電極に付着すると共に、その一部が裏面電極を通じて端
面電極に達する。この結果、端面電極と裏面電極とに半
田を固着することができる。
【0039】また、請求項16の発明は、固形半田は端
面電極に対応した位置でスリット孔の一部を閉塞した状
態で粘着物質に取付ける構成としたことにある。
【0040】これにより、加熱によって固形半田が溶融
したときには、溶融した固形半田は端面電極に対応した
位置でスリット孔内に侵入するから、スリット孔内に露
出した端面電極に確実に溶融した固形半田を付着させる
ことができる。
【0041】さらに、請求項17の発明によるモジュー
ル基板の製造方法は、加工用基板に貫通孔を穿設し、該
貫通孔の周囲に位置して前記加工用基板の裏面には裏面
電極を設け、前記貫通孔の内壁面には前記裏面電極に接
続して端面電極を設け、前記加工用基板には前記貫通孔
の一部を除去してスリット孔を設けることによって該ス
リット孔に囲まれ端面電極と裏面電極とを有する非分離
基板を形成し、前記端面電極に固形半田を取付け、該固
形半田を端面電極に取付ける前,後のいずれかで該固形
半田に酸化膜除去成分を含む粘着物質を設け、前記非分
離基板と残余の加工用基板とを加熱して該固形半田を溶
融し、溶融した固形半田を端面電極と裏面電極とに冷却
固化し、その後スリット孔の位置で加工用基板から非分
離基板をモジュール基板として分離する構成としたこと
にある。
【0042】これにより、粘着物質に固形半田を取付け
て非分離基板等を加熱したときには、固形半田は端面電
極に付着しつつ溶融する。このとき、溶融した固形半田
は、その一部が端面電極を通じて裏面電極を覆うように
移動する。この結果、端面電極と裏面電極とに半田を固
着することができる。
【0043】この場合、請求項18の発明のように、加
工用基板の裏面に裏面電極を設け、前記加工用基板には
該裏面電極の位置に貫通孔を穿設し、該貫通孔の内壁面
には前記裏面電極に接続して端面電極を設け、前記加工
用基板には前記貫通孔の一部を除去してスリット孔を設
けることによって該スリット孔に囲まれ端面電極と裏面
電極とを有する非分離基板を形成し、前記端面電極に固
形半田を取付け、該固形半田を端面電極に取付ける前,
後のいずれかで該固形半田に酸化膜除去成分を含む粘着
物質を設け、前記非分離基板と残余の加工用基板とを加
熱して該固形半田を溶融し、溶融した固形半田を端面電
極と裏面電極とに冷却固化し、その後スリット孔の位置
で加工用基板から非分離基板をモジュール基板として分
離する構成としてもよい。
【0044】また、請求項19の発明では、前記固形半
田は、前記端面電極に対応した位置でスリット孔の一部
を閉塞し、または前記端面電極に対応した位置でスリッ
ト孔内に収容する構成としている。
【0045】これにより、スリット孔よって固形半田を
位置決めすることができると共に、固形半田を溶融させ
たときには、スリット孔内に露出した端面電極に容易に
溶融した固形半田を付着させることができる。
【0046】また、請求項20の発明によるモジュール
基板の製造方法は、加工用基板に貫通孔を穿設し、該貫
通孔の周囲に位置して前記加工用基板の裏面には裏面電
極を設け、前記貫通孔の内壁面の一部または全部には前
記裏面電極に接続して端面電極を設け、前記貫通孔の周
囲には酸化膜除去成分を含む粘着物質を設け、該粘着物
質には固形半田を取付け、前記加工用基板を加熱して該
固形半田を溶融し、溶融した固形半田を端面電極と裏面
電極とに冷却固化し、その後前記貫通孔の位置で加工用
基板を切断し、モジュール基板を分離する構成としたこ
とにある。
【0047】これにより、粘着物質に固形半田を取付け
た状態で加工用基板とを加熱したときには、粘着物質が
触媒として作用するから、固形半田は粘着物質に接触し
た部位から溶融して貫通孔内に侵入する。このとき、貫
通孔には端面電極が設けられているから、溶融した固形
半田は端面電極に付着すると共に、その一部が端面電極
を通じて裏面電極を覆うように移動する。
【0048】また、溶融した固形半田は、その表面張力
によって略球形状となって端面電極と裏面電極とに付着
するから、半田の一部が貫通孔から突出する。このた
め、加工用基板を切断することによってモジュール基板
を取出したときには、突出した半田によってモジュール
基板とマザーボードとの間の隙間を吸収し、モジュール
基板の端面電極とマザーボードの電極パッドとを接続す
ることができる。
【0049】この場合、請求項21の発明のように、加
工用基板の裏面に裏面電極を設け、前記加工用基板には
該裏面電極の位置に貫通孔を穿設し、前記貫通孔の内壁
面の一部または全部には前記裏面電極に接続して端面電
極を設け、前記貫通孔の周囲には酸化膜除去成分を含む
粘着物質を設け、該粘着物質には固形半田を取付け、前
記加工用基板を加熱して該固形半田を溶融し、溶融した
固形半田を端面電極と裏面電極とに冷却固化し、その後
前記貫通孔の位置で加工用基板を切断し、モジュール基
板を分離する構成としてもよい。
【0050】また、請求項22の発明は、前記粘着物質
を設ける前に切断後に残余の加工用基板側となる位置の
裏面電極および貫通孔の内壁面に設けた端面電極を除去
する構成としたことにある。
【0051】これにより、溶融した固形半田が切断後に
モジュール基板以外の残余の加工用基板となる位置に付
着するのを防ぐことができる。このため、溶融した固形
半田を冷却固化した後に、端面電極に付着した半田を切
断することなく、モジュール基板を容易に残余の加工用
基板から分離することができる。
【0052】さらに、請求項23の発明は、粘着物質に
はフラックス単体または粉末状の半田とフラックスとか
らなるクリーム半田を用い、固形半田にはろう付け用合
金を球形状に固化した半田ボールを用いる構成としたこ
とにある。
【0053】これにより、フラックスまたはクリーム半
田によって半田ボールの位置決めと溶融の促進を行うこ
とができる。また、粘着物質にフラックスを用いたとき
には、溶融した半田ボールの体積(容量)を略一定に保
つことができるから、半田が基板の裏面よりも突出する
寸法を略一定にすることができる。一方、粘着物質にク
リーム半田を用いたときには、半田ボールはクリーム半
田と一緒に溶融するから、溶融した半田ボールをクリー
ム半田中の半田と共に端面電極と裏面電極とに固着する
ことができる。
【0054】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態による
モジュール基板の製造方法を図1ないし図59に基づき
詳細に説明する。
【0055】図1ないし図22に基づいて本発明の第1
の実施の形態によるモジュール基板の製造方法について
説明する。まず、図1ないし図4は、第1の実施の形態
に係る製造方法によって製造されたモジュール基板を示
している。
【0056】図において、100は、略四角形状のモジ
ュール基板で、該モジュール基板100は、基板10
1、端面スルーホール103、半田108等によって構
成されている。
【0057】101は例えば絶縁性樹脂材料と導体によ
る配線パターン(図示せず)を交互に積層して形成した
積層体からなる基板で、該基板101は、縦横の長さ寸
法が例えば30mm程度の略四角形状に形成されてい
る。また、基板101は、その表面101A中央側に半
導体IC、能動部品、あるいは受動部品等の電子部品1
02が実装されている。そして、基板101は、裏面1
01B側に設けられる後述のマザーボード109に接合
されるものである。また、基板101は、図1に示すよ
うにその外周縁を形成する4辺の端面101Cを有し、
該各端面101Cには後述する端面スルーホール103
が形成されている。
【0058】103,103,…は基板101の外周縁
を形成する4辺の端面101Cに設けられた端面スルー
ホールで、該各端面スルーホール103は、後述する端
面開口溝104、端面電極105、裏面電極106によ
って構成されている。
【0059】104,104,…は基板101の端面1
01Cに開口して設けられた凹湾曲状の端面開口溝で、
該各端面開口溝104は、基板101の厚さ方向に貫通
して設けられ、基板101の表面101Aと裏面101
Bとに略半円形状の開口を形成している。
【0060】105,105,…は端面開口溝104の
内壁面に設けられた端面電極で、該端面電極105は、
端面開口溝104の内壁面を全面に亘って覆い、略円弧
面状に形成されている。
【0061】106,106,…は端面開口溝104の
周囲に位置して基板101の裏面101B側に設けられ
た裏面電極で、該各裏面電極106は、略四角形状をな
し、端面電極105に接続されている。
【0062】107,107,…は端面電極105と電
子部品102との間を接続する配線で、該配線107
は、基板101の表面101A側に設けられ端面開口溝
104の周囲で円弧形状をなして端面電極105に接続
されると共に、基板101の中央部側に向けて延びてい
る。
【0063】なお、配線107は、後述の半田108が
溶融したときに配線107に引付けられて基板101の
表面101A側に突出するのを防止するために、レジス
ト膜(図示せず)に覆うことが好ましい。また、配線1
07は必ずしも基板101の表面101A側に設ける必
要はなく、基板101に積層された配線パターンを通じ
て端面電極105に接続する構成としてもよい。
【0064】108,108,…は各端面開口溝104
に収容されて固定された半田で、該半田108は、端面
開口溝104内で端面電極105に固定され、略円柱形
状となって基板101の厚さ方向に延びている。また、
半田108は、図4に示すようにその一部が裏面電極1
06を覆い、基板101の裏面101Bよりも下方(マ
ザーボード109側)に向けて突出寸法Lだけ突出した
突出部108Aとなっている。
【0065】第1の実施の形態によって製造されたモジ
ュール基板は上述の如く構成されるものであり、次に第
1の実施の形態に係るモジュール基板の製造方法を図5
ないし図19を参照しつつ説明する。なお、本実施の形
態では図5に示すように1枚の加工用基板から2枚のモ
ジュール基板を加工する場合を例に挙げている。
【0066】まず、図5に示す貫通孔加工工程では、例
えば2枚のモジュール基板を製造するための加工用基板
1を円形の金型によって打ち抜き、後述する端面電極5
を設けるための予備的な貫通孔1Dを四角形の枠形状に
沿って多数個穿設する。
【0067】次に、図6ないし図9に示す端面電極加工
工程では、例えば加工用基板1の表面1A、裏面1Bに
予め設けられた銅薄膜(図示せず)をエッチング処理に
よって部分的に除去し、図6および図7に示すように加
工用基板1の表面1A側に貫通孔2の周囲まで延びる配
線3を形成し、加工用基板1の裏面1B側に略四角形状
の裏面電極4を形成する。ここで、裏面電極4は配線3
のうち貫通孔1Dの周囲に位置する部位よりも大きな面
積に形成されている。この状態で加工用基板1の貫通孔
2に例えばメッキ処理等を施すことによって貫通孔1D
の内壁面全部に亘って端面電極5を形成する。
【0068】次に、図8および図9に示す端面電極除去
工程として貫通孔1Dのうち後述の残余の加工用基板1
C側となる外周側の一部を金型によって打ち抜き、長円
形の貫通孔2を形成する。これにより、加工用基板1の
うち多数の貫通孔2によって取囲まれた四角形状の部位
は基板101となるから、端面電極5は貫通孔2のうち
この四角形状の部位側に形成されている。また、配線
3、裏面電極4も貫通孔2によって取囲まれた四角形状
の部位側に設けられ、端面電極5は、配線3、裏面電極
4に接続されている。一方、残余の加工用基板1C側か
らは裏面電極4、端面電極5が除去されている。
【0069】次に、図10ないし図12に示すプッシュ
バック工程では、プッシュバック金型を用いて加工用基
板1から貫通孔2に取囲まれモジュール基板の基板10
1に対応した分離基板6を切断して分離する。このと
き、貫通孔2を通って加工用基板1から分離基板6を打
ち抜くから、分離基板6には貫通孔2の一部が残存する
と共に、この残存した貫通孔2は端面電極5によって覆
われる。
【0070】そして、加工用基板1から分離基板6を分
離した後には、分離基板6を略四角形状の開口が設けら
れた残余の加工用基板1Cに埋め戻す。これにより、分
離基板6と残余の加工用基板1Cとの間には、再び貫通
孔2が形成される。
【0071】次に、図13に示す貫通孔閉塞工程では、
半田が付着しにくいアルミニウム等の金属材料または耐
熱性樹脂材料からなる平板状の閉塞板7に加工用基板1
の表面1Aが接触した状態(加工用基板1を裏返した状
態)で載置する。
【0072】そして、図14および図15に示すクリー
ム半田塗布工程では、例えば酸化膜除去成分を含む粘着
物質としてのクリーム半田8を貫通孔2の周囲に位置し
て分離基板6の裏面側に塗布する。ここで、クリーム半
田8は粉末状の半田とフラックスとをペースト状に混練
して形成されている。そして、クリーム半田8は例えば
裏面電極4を全面に亘って覆う略半円弧形状をなしてい
る。なお、クリーム半田8は裏面電極4に接触していれ
ばよく、必ずしも裏面電極4を全面に亘って覆う必要は
ない。また、酸化膜除去成分を含む粘着物質としては半
田とフラックスとからなるクリーム半田8に代えてフラ
ックスのみを用いてもよい。
【0073】次に、図16に示す半田ボール取付工程で
は、吸引式のボールマウンタ9等を用いて固形半田とし
ての半田ボール10をクリーム半田8上に載置し、クリ
ーム半田8に半田ボール10を付着させる。ここで、半
田ボール10は半田をなすろう付け用合金をフラックス
を含まない状態で球形状に固化することによって構成さ
れている。そして、クリーム半田8は粘着性を有してい
るから、半田ボール10は、クリーム半田8によって裏
面電極4上に位置決めされた状態で固定される。
【0074】そして、図17および図18に示す加熱工
程では、分離基板6、残余の加工用基板1C等を全体と
して加熱炉に挿入することによって加熱する。このと
き、クリーム半田8が溶融すると共に、クリーム半田8
に含まれたフラックスが触媒として作用するから、半田
ボール10はクリーム半田8と接触する部位から徐々に
溶融する。そして、溶融した半田ボール10は、クリー
ム半田8中の半田と共に裏面電極4に沿って拡がると共
に、裏面電極4に接続された端面電極5に引き付けられ
て図16中に矢示する如く貫通孔2内に流れ込み、裏面
電極4と端面電極5とに付着する。
【0075】また、溶融した半田ボール10は、その表
面張力によって略球形状に変形する傾向があり、端面電
極5に沿って貫通孔2内から加工用基板1の裏面1Bを
越えて突出する。さらに、加工用基板1の裏面1Bには
貫通孔2の周囲に裏面電極4が設けられているから、溶
融した半田ボール10は、この裏面電極4に引付けられ
て貫通孔2からの突出量が増加し、裏面電極4を覆う位
置まで裏面1Bよりも突出する。
【0076】この状態で、加工用基板1の加熱を停止
し、冷却することによって図17に示すように端面電極
5に半田11が固定されると共に、該半田11には加工
用基板1の裏面1Bよりも後述のマザーボード109側
に突出した突出部11Aが形成される。
【0077】なお、加熱工程では、分離基板6等を加熱
炉によって加熱するものとしたが、例えば熱風を吹付け
ることによって加熱してもよく、加熱したプレート上に
分離基板6、残余の加工用基板1C、閉塞板7等を載置
することによって加熱してもよい。
【0078】また、裏面電極4、端面電極5に半田11
を固定するのと同時に、基板1の表面1A側に電子部品
102を半田付けするものとしてもよい。この場合、電
子部品102を別個に取付けるのに比べて生産性を向上
することができる。
【0079】最後に、図19に示す分離基板取外し工程
では、加工用基板1からプッシュバック工程によって予
め分離した分離基板6を残余の加工用基板1Cから取外
す。このとき、分離基板6は基板101となり、配線3
は基板101の表面101Aに設けられた配線107と
なり、裏面電極4は基板101の裏面101Bに設けら
れた裏面電極106となり、端面電極5は基板101の
端面101C側に設けられた端面電極105となり、半
田11は端面電極105に固着された半田108とな
る。このため、基板101の端面電極105に半田10
8を固定した状態でモジュール基板100が製造され
る。
【0080】第1の実施の形態によるモジュール基板の
製造方法は上述の如く構成されるものであり、次に本実
施の形態の製造方法によって製造されたモジュール基板
をマザーボード上に接合する場合について説明する。
【0081】まず、モジュール基板100をマザーボー
ド109上に載置した状態で加熱する。このとき、基板
101は絶縁性樹脂材料と配線パターンとが積層されて
いるため、基板101に反りが生じ、図20に示すよう
に、例えば基板101の両端側がマザーボード109か
ら浮き上がり、端面電極105とマザーボード109上
の電極パッド110との間に隙間が生じることがある。
【0082】しかし、各端面電極105に固定した半田
108には、基板101の裏面101Bよりも下方に突
出した突出部108Aを形成したから、この突出部10
8Aによって端面電極105と電極パッド110との間
の隙間を吸収することができる。
【0083】即ち、半田108と電極パッド110とを
位置合わせした状態でモジュール基板100をマザーボ
ード109上に載置する。このとき、図20に示すよう
に基板101に反りが発生したときには、多数の半田1
08のうち例えば基板101の中央側の半田108は電
極パッド110に接触し、基板101の両端側の半田1
08は電極パッド110から離間する。
【0084】この状態でモジュール基板100とマザー
ボード109とを加熱すると、電極パッド110に予め
塗布されたクリーム半田111が溶融する。このとき、
基板101の中央側の半田108は溶融したクリーム半
田111に接触するから、クリーム半田111からの熱
が伝わって、中央側の半田108は、両端側の半田10
8よりも先に溶融する。これにより、基板101は、図
20中の矢示A方向に向けて自重によって降下し、基板
101の両端側に位置する半田108もマザーボード1
09の電極パッド110に接触する。
【0085】この結果、図21および図22に示すよう
に基板101に反りが発生して端面電極105と電極パ
ッド110との間の隙間が形成されるときであっても、
基板101の裏面101Bからマザーボード109側に
向けて突出した半田108によってこの隙間を吸収し、
全ての端面電極105を電極パッド110に確実に接続
することができる。これにより、端面電極105と電極
パッド110との間にフィレット112を形成すること
ができる。
【0086】かくして、第1の実施の形態に係る製造方
法では、加工用基板1の貫通孔2の周囲にクリーム半田
8を塗布し、該クリーム半田8に半田ボール10を取付
けた後、加工用基板1を加熱するから、半田ボール10
をクリーム半田8に接触する部位から溶融させることが
でき、溶融した半田ボール10を貫通孔2内に流入させ
ることができる。これにより、貫通孔2内に設けた端面
電極5に溶融した半田ボール10を付着させることがで
きる。
【0087】また、クリーム半田8は裏面電極4に接触
した状態で分離基板6の裏面側に塗布したから、クリー
ム半田8に取付けた半田ボール10が加熱によって溶融
したときには、溶融した半田ボール10が裏面電極4に
沿って拡がる。そして、裏面電極4は端面電極5に接続
されているから、溶融した半田ボール10を端面電極5
に沿って貫通孔2内に導くことができ、裏面電極4と端
面電極5とに確実に半田11を固着することができる。
【0088】特に、本実施の形態では、フラックスを含
まない固形状の半田ボール10を溶融させることによっ
て裏面電極4と端面電極5に半田11を固着する。この
とき、半田ボール10はクリーム半田8と共に溶融する
から、クリーム半田8中の半田は溶融した半田ボール1
0に吸収され、フラックスの一部は蒸発する。
【0089】しかし、半田ボール10の位置決めと溶融
の促進を行うクリーム半田8は、半田ボール10に比べ
てその容量が少なく、体積が小さくなっている。このた
め、半田ボール10がクリーム半田8と共に溶融したと
きであっても、溶融した半田ボール10の体積は略一定
値に保持される。従って、溶融した半田ボール10によ
って形成される半田11(108)もその体積が一定値
に保持されるから、端面電極5等に固着した半田11
(108)毎の突出寸法Lのばらつきを抑制し、略均一
化することができる。この結果、全ての端面電極105
をマザーボード109の電極パッド110に確実に接合
することができ、信頼性、生産性を向上することができ
る。
【0090】また、本実施の形態では、フラックスを含
まない半田ボール10を用いると共に、クリーム半田8
の体積を半田ボール10に比べて小さくしたから、溶融
した半田ボール10を再度固化して形成される半田11
(108)はその表面にフラックスが付着することがな
い。このため、フラックスが絶縁膜として作用すること
がないから、検査工程等において半田108に検査用の
端子を容易に電気的に接続することができ、検査工程等
の時間を短縮でき、生産性を向上することができる。
【0091】また、加工用基板1を加熱する前に加工用
基板1の表面1A側に閉塞板7を設け、貫通孔2の一方
の開口を閉塞したから、溶融した半田ボール10が加工
用基板1の表面1Aよりも突出するのを防止できる。こ
のため、閉塞板7を設けないときに比べて貫通孔2の一
方の開口から突出する分の半田ボール10を貫通孔2の
他方の開口から加工用基板1の裏面1Bを越えて突出さ
せることができ、半田108が基板101の裏面101
B側に突出する突出寸法Lを大きくすることができる。
【0092】また、加工用基板1を切断する前に残余の
加工用基板1C側の裏面電極4、端面電極5を除去する
構成としたから、溶融した半田ボール10が残余の加工
用基板1Cに付着するのを防ぐことができる。このた
め、溶融した半田ボール10が冷却固化した後には、分
離基板6を残余の加工用基板1Cから容易に取外すこと
ができる。
【0093】さらに、端面電極5等に溶融した半田ボー
ル10を固着する前に、加工用基板1から分離基板6を
分離して該分離基板6を残余の加工用基板1Cに埋め戻
す構成としたから、ダイヤモンドカッター等によって加
工用基板1を切断する場合に比べて、モジュール基板1
00の洗浄、乾燥等を省くことができる。このため、端
面電極105に半田108を固定するときに、分離基板
6に電子部品102を取付けたとしても、この電子部品
102の特性が洗浄によって劣化することがなくなると
共に、洗浄等に要する時間が不要となるから、モジュー
ル基板100の製造に必要な時間を短縮でき、生産性を
向上することができる。
【0094】なお、本実施の形態では閉塞板7によって
貫通孔2の一方の開口を閉塞した状態で半田ボール10
を加熱、溶融する構成としたが、必ずしも閉塞板7によ
って貫通孔2を閉塞する必要はなく、例えば貫通孔2の
両方の開口を開放した状態で半田ボール10を加熱、溶
融してもよい。この場合でも裏面電極4に溶融した半田
ボール10が付着するから、半田11を加工用基板1の
裏面1B側に突出させることができる。
【0095】また、第1の実施の形態では貫通孔1Dを
形成した後、裏面電極4等を形成するものとしたが、図
23および図24に示す第1の実施の形態の変形例のよ
うに、貫通孔1Dを穿設する前に予め裏面電極4を形成
し、該裏面電極4の位置に貫通孔1Dを形成する構成と
してもよい。
【0096】次に、図25および図26に基づいて第2
の実施の形態によるモジュール基板の製造方法について
説明する。然るに、第2の実施の形態の特徴は、治具を
用いて半田ボールを位置決めし、クリーム半田に取付け
る構成としたことにある。なお、本実施の形態では前記
第1の実施の形態と同一の構成要素に同一の符号を付
し、その説明を省略するものとする。また、貫通孔加工
工程、端面電極加工工程、プッシュバック工程、貫通孔
閉塞工程、クリーム半田塗布工程は、第1の実施の形態
と同様であるため、これらの説明は省略する。
【0097】まず、図25および図26に示す半田ボー
ル取付工程では、加工用基板1の裏面1B側に半田ボー
ル10を位置決めするための治具21を取付ける。この
とき、治具21は樹脂材料等によって略平板状に形成さ
れると共に、貫通孔2に対応した位置に半田ボール10
を収容可能な位置決め孔21Aが設けられている。ま
た、位置決め孔21Aは貫通孔2のうち分離基板6側を
開放し、残余の加工用基板1C側を閉塞する。そして、
貫通孔2は、その一部が治具21によって閉塞され、そ
の開口面積は半田ボール10が通過不可能となる程度の
大きさに設定されている。
【0098】次に、図26に示すように位置決め孔21
Aに半田ボール10を挿入する。このとき、貫通孔2の
開口面積は半田ボール10が通過不可能となる程度の大
きさに設定されているから、半田ボール10はその一部
が貫通孔2に進入すると共に、貫通孔2を閉塞した状態
で固定される。また、位置決め孔21Aは貫通孔2のう
ち分離基板6側に位置しているから、半田ボール10は
裏面電極4と端面電極5とが接続された角隅に接触する
と共に、裏面電極4を覆うクリーム半田8に接触した状
態で取付けられる。
【0099】そして、加熱工程では、この状態で加工用
基板1、閉塞板7、治具21等を加熱炉で加熱すること
によって、半田ボール10は溶融し、裏面電極4と端面
電極5とに固着する。その後、分離基板取外し工程によ
って加工用基板1からモジュール基板を取出す。
【0100】かくして、本実施の形態では、治具21に
よって半田ボール10をクリーム半田8に接触した状態
で位置決めする構成としたから、例えば加熱工程におけ
る振動等によって半田ボール10がクリーム半田8から
剥離してしまうのを防止でき、半田ボール10を確実に
クリーム半田8に接触した状態で溶融させることができ
る。
【0101】また、半田ボール10はその一部が貫通孔
2に挿入された状態で固定されるから、溶融した半田ボ
ール10を貫通孔2内に流入させることができる。さら
に、半田ボール10は半田ボール10は裏面電極4と端
面電極5とが接続された角隅に接触しているから、溶融
した半田ボール10を裏面電極4と端面電極5とに確実
に固着することができる。
【0102】なお、第2の実施の形態では半田ボール取
付工程において位置決め孔21Aを有する治具21を用
いて貫通孔2の一部を閉塞する構成としたが、図27お
よび図28に示す第2の実施の形態の変形例のように耐
熱性を有するテープ22を用いることによって貫通孔2
の一部を閉塞する構成としてもよい。この場合、半田ボ
ール取付工程では残余の加工用基板1Cの裏面1Bにテ
ープ22を貼付し、貫通孔2のうち残余の加工用基板1
C側を部分的に閉塞する。その後、貫通孔2のうち開口
している部位に半田ボール10を載置し、貫通孔2を閉
塞した状態で半田ボール10を固定する。
【0103】これにより、裏面電極4、端面電極5に溶
融した半田ボール10を固着した後に分離基板取外し工
程によって分離基板6を取外すときに、テープ22は残
余の加工用基板1Cと一緒に分離基板6から取外すこと
ができる。このため、分離基板取外し工程を簡略化し生
産性を向上することができる。
【0104】次に、図29ないし図31に基づいて第3
の実施の形態によるモジュール基板の製造方法について
説明する。然るに、第3の実施の形態の特徴は、貫通孔
をその内径寸法が半田ボールの外径寸法よりも小さい円
形状に形成し、該貫通孔を閉塞した状態で半田ボールを
クリーム半田に取付ける構成としたことにある。なお、
本実施の形態では前記第1の実施の形態と同一の構成要
素に同一の符号を付し、その説明を省略するものとす
る。
【0105】まず、本実施の形態では、第1の実施の形
態と同様に貫通孔加工工程によって加工用基板31に貫
通孔32を穿設し、端面電極加工工程によって加工用基
板31の表面31Aに配線3を設け、裏面31Bに裏面
電極4を設け、貫通孔32の内壁面に端面電極5を設け
る。そして、プッシュバック工程によって、加工用基板
31から分離基板33と残余の加工用基板31Cとを分
離した後、分離基板33を残余の加工用基板31Cに埋
め戻す。このとき、貫通孔32は、その内径寸法が半田
ボール10の外径寸法よりも小さい円形状に形成されて
いる。そして、貫通孔閉塞工程によって加工用基板31
の表面31Aに閉塞板7を取付け、貫通孔2の一方の開
口を閉塞する。
【0106】次に、クリーム半田塗布工程では、図29
および図30に示すように第1の実施の形態と同様に裏
面電極4を覆ってクリーム半田8を分離基板33の裏面
側に塗布する。
【0107】そして、半田ボール取付工程では、図31
に示すように加工用基板31の貫通孔32に半田ボール
10を載置し、貫通孔32を閉塞した状態で半田ボール
10を固定する。これにより、半田ボール10は裏面電
極4と端面電極5とが接続された角隅に接触すると共
に、裏面電極4を覆うクリーム半田8に接触した状態で
取付けられる。
【0108】その後、加熱工程では、この状態で加工用
基板31、閉塞板7等を加熱炉で加熱することによっ
て、半田ボール10は溶融し、裏面電極4と端面電極5
とに固着する。最後に、分離基板取外し工程によって加
工用基板31からモジュール基板を取出す。
【0109】かくして、本実施の形態では、貫通孔32
をその内径寸法が半田ボール10の外径寸法よりも小さ
い円形状に形成し、該貫通孔32を閉塞した状態で半田
ボール10をクリーム半田8に取付ける構成としたか
ら、治具等の他の部材を用いることなく半田ボール10
を容易かつ確実に固定することができる。このため、第
2の実施の形態のように治具を用いた場合に比べて半田
ボール取付工程を簡略化し生産性を向上させることがで
きる。また、本実施の形態では第2の実施の形態の変形
例のようにテープを用いた場合に比べてテープを省くこ
とができるから、製造コストを低減することができる。
【0110】次に、図32および図33に基づいて第4
の実施の形態によるモジュール基板の製造方法について
説明する。然るに、第4の実施の形態の特徴は、半田ボ
ールを位置決めした治具の上側に加工用基板を載置し、
裏面電極が加工用基板の下側に位置した状態で該裏面電
極を覆って塗布したクリーム半田に半田ボールを接触さ
せて取付ける構成としたことにある。なお、本実施の形
態では前記第1の実施の形態と同一の構成要素に同一の
符号を付し、その説明を省略するものとする。また、貫
通孔加工工程、端面電極加工工程、プッシュバック工程
は、第1の実施の形態と同様であるため、これらの説明
は省略する。
【0111】まず、本実施の形態では、プッシュバック
工程の後にクリーム半田塗布工程を行い、第1の実施の
形態と同様に裏面電極4を覆ってクリーム半田8を分離
基板6の裏面側に塗布する。
【0112】次に、図32および図33に示す半田ボー
ル取付工程では、加工用基板1の裏面1B側が下側とな
った状態で半田ボール10を位置決めするための治具4
1の上側に加工用基板1を載置する。このとき、治具4
1は樹脂材料等によって略平板状に形成されると共に、
分離基板6の外周に沿って略四角形の枠状をなす溝41
Aが設けられると共に、該溝41Aの底部には貫通孔2
に対応した位置に半田ボール10を固定可能な位置決め
穴41Bが設けられている。
【0113】なお、治具41はいわゆる振込み治具から
なり、治具41の位置決め穴41Bに半田ボール10を
固定するときには、溝41Aに多数の半田ボール10を
収容した状態で治具41を振動させ、位置決め穴41B
に半田ボール10を挿入するものである。
【0114】また、位置決め穴41Bの深さ寸法は、該
位置決め穴41Bに半田ボール10を挿入した状態で半
田ボール10の一部が溝41Aから突出する値に設定さ
れている。このため、治具41の上側に加工用基板1を
載置したときには、半田ボール10が裏面電極4を覆う
クリーム半田8に接触して取付けられ、治具41と加工
用基板1との間には僅かな隙間が形成される。
【0115】そして、加熱工程では、この状態で加工用
基板1、治具41等を加熱炉で加熱することによって、
半田ボール10は溶融し、裏面電極4と端面電極5とに
沿って図33中の矢示方向に導かれ、突出部11Aを有
する半田11となって裏面電極4と端面電極5に固着す
る。その後、分離基板取外し工程によって加工用基板1
からモジュール基板を取出す。
【0116】かくして、本実施の形態では、裏面電極4
が加工用基板1の下側に位置した状態で該裏面電極4を
覆うクリーム半田8に半田ボール10を取付ける構成と
したから、半田ボール10が溶融したときには該半田ボ
ール10に重力が作用する。このため、半田11が加工
用基板1の表面1Aから突出するのを防ぐことができる
と共に、裏面電極4等に固着する半田11の突出部11
Aの突出寸法を大きくすることができる。
【0117】次に、図34ないし図36に基づいて第5
の実施の形態によるモジュール基板の製造方法について
説明する。然るに、第5の実施の形態の特徴は、残余の
加工用基板の裏面側にクリーム半田を塗布し、該クリー
ム半田に半田ボールを取付ける構成としたことにある。
なお、本実施の形態では前記第1の実施の形態と同一の
構成要素に同一の符号を付し、その説明を省略するもの
とする。また、貫通孔加工工程、端面電極加工工程、プ
ッシュバック工程、貫通孔閉塞工程は、第1の実施の形
態と同様であるため、これらの説明は省略する。
【0118】まず、図35に示すクリーム半田塗布工程
では、貫通孔2の略円弧状の開口近傍に位置して残余の
加工用基板1Cの裏面にクリーム半田8を塗布する。そ
の後、図36に示す半田ボール取付工程では、残余の加
工用基板1Cに塗布したクリーム半田8に半田ボール1
0を載置し、半田ボール10を固定する。
【0119】次に、加熱工程では、この状態で加工用基
板1、閉塞板7等を加熱炉で加熱する。これにより、半
田ボール10は溶融し、クリーム半田8に沿って貫通孔
2の開口端周辺に拡がると共に、図35中に矢示するよ
うに貫通孔2内に流れ込む。そして、溶融した半田ボー
ル10′は、図36に示すように貫通孔2内で拡がり、
端面電極5に接触する。このため、溶融した半田ボール
10′は、図36中に矢示するように端面電極5に沿っ
て上昇し、裏面電極4に達するから、裏面電極4、端面
電極5に半田11となって固着する。その後、分離基板
取外し工程によって加工用基板1からモジュール基板を
取出す。
【0120】かくして、本実施の形態では、残余の加工
用基板1Cにクリーム半田8を塗布し、該クリーム半田
8に半田ボール10を取付けるから、分離基板6にクリ
ーム半田8を塗布する場合に比べて分離基板6側にクリ
ーム半田8を塗布する面積を確保する必要がなくなり、
端面電極5近傍に電子部品を搭載でき、モジュール基板
の集積度を高めることができる。
【0121】次に、図37ないし図39に基づいて第6
の実施の形態によるモジュール基板の製造方法について
説明する。然るに、第6の実施の形態の特徴は、分離基
板の表面側にクリーム半田を塗布し、該クリーム半田に
半田ボールを取付ける構成としたことにある。なお、本
実施の形態では前記第1の実施の形態と同一の構成要素
に同一の符号を付し、その説明を省略するものとする。
また、貫通孔加工工程、端面電極加工工程、プッシュバ
ック工程は、第1の実施の形態と同様であるたこれらの
説明は省略する。
【0122】まず、本実施の形態では、図37および図
38に示すプッシュバック工程の後にクリーム半田塗布
工程を行い、貫通孔2の周囲に位置して分離基板6の表
面側にクリーム半田8を塗布する。このとき、配線3は
溶融した半田ボール10が付着するのを防止するために
予めレジスト膜51によって覆っておく。また、クリー
ム半田8は貫通孔2の開口に沿って略半円弧形状に塗布
され、その一部が分離基板6の厚さ方向に延びる端面電
極5の端部に接触している。
【0123】次に、図39に示す半田ボール取付工程で
は、分離基板6の表面側に位置してクリーム半田8に半
田ボール10を載置し、半田ボール10を固定する。こ
のとき、半田ボール10は加工用基板1の上側となるよ
うに配置する。
【0124】そして、加熱工程では、この状態で加工用
基板1等を加熱炉で加熱する。これにより、半田ボール
10は溶融し、クリーム半田8に沿って拡がると共に、
分離基板6の表面側に位置する端面電極5の端部に接触
する。このため、溶融した半田ボール10は、図39中
に矢示するように端面電極5に沿って下降し、裏面電極
4に達するから、裏面電極4、端面電極5に半田11と
なって固着する。その後、分離基板取外し工程によって
加工用基板1からモジュール基板を取出す。
【0125】かくして、第6の実施の形態によるモジュ
ール基板の製造方法は上述の如き構成を有するもので、
本実施の形態でも第1の実施の形態と同様の作用効果を
得ることができる。
【0126】なお、第6の実施の形態では、分離基板6
の表面側にクリーム半田8を塗布し、該クリーム半田8
上に半田ボール10を取付ける構成とした。しかし、例
えば第3の実施の形態と同様に半田ボール10の外径寸
法よりも小さい内径寸法となった貫通孔32を形成した
場合には、図40に示す第6の実施の形態の第1の変形
例のように配線3をレジスト膜51によって覆い、分離
基板33の表面側にクリーム半田8を塗布した後、半田
ボール10によって加工用基板31の表面側から貫通孔
32を閉塞し、半田ボール10をクリーム半田8に接触
させた状態で取付けてもよい。
【0127】また、図41に示す第6の実施の形態の第
2の変形例のように残余の加工用基板31Cの表面にク
リーム半田8を塗布し、該クリーム半田8上に半田ボー
ル10を取付ける構成としてもよい。
【0128】次に、図42および図43に基づいて第7
の実施の形態によるモジュール基板の製造方法について
説明する。然るに、第7の実施の形態の特徴は、貫通孔
をその内径寸法が半田ボールの外径寸法以上となる円形
状に形成し、該貫通孔に半田ボールを収容する構成とし
たことにある。なお、本実施の形態では前記第1の実施
の形態と同一の構成要素に同一の符号を付し、その説明
を省略するものとする。
【0129】まず、本実施の形態では、第1の実施の形
態と同様に貫通孔加工工程によって加工用基板61に貫
通孔62を穿設し、端面電極加工工程によって加工用基
板61の表面61Aに配線3を設け、裏面61Bに裏面
電極4を設け、貫通孔62の内壁面に端面電極5を設け
る。そして、プッシュバック工程によって、加工用基板
61から分離基板63と残余の加工用基板61Cとを分
離した後、分離基板63を残余の加工用基板61Cに埋
め戻す。このとき、貫通孔62は、その内径寸法が半田
ボール10の外径寸法よりも大きい略円形状に形成され
ている。
【0130】次に、図42に示す半田ボール収容工程で
は、半田ボール10の外径寸法を例えば貫通孔62の内
径寸法と略等しい値に設定し、この半田ボール10を貫
通孔62内に収容する。これにより、半田ボール10を
端面電極5に接触させた(取付けた)状態で、貫通孔6
2の内壁面で半田ボール10を支持することができる。
【0131】次に、図43に示すクリーム半田塗布工程
では、貫通孔62内に収容された半田ボール10にクリ
ーム半田8を塗布する。このとき、半田ボール10に付
着したクリーム半田8は、その一部が裏面電極4、端面
電極5にも接触している。なお、クリーム半田8は、必
ずしも裏面電極4等に接触した位置に設ける必要はな
く、例えば図43中に二点鎖線で示すように裏面電極4
等に接触しない頂点近傍の位置に設けてもよい。
【0132】その後、加熱工程では、この状態で加工用
基板61等を加熱炉で加熱することによって、半田ボー
ル10は溶融し、端面電極5に沿って拡がり、裏面電極
4と端面電極5とに固着する。最後に、分離基板取外し
工程によって加工用基板31からモジュール基板を取出
す。
【0133】かくして、第7の実施の形態によるモジュ
ール基板の製造方法は上述の如き構成を有するもので、
本実施の形態でも第1の実施の形態と同様の作用効果を
得ることができる。しかし、本実施の形態では第1の実
施の形態と比べて容易かつ確実に半田ボール10を位置
決めし、固定することができる。
【0134】なお、第7の実施の形態では半田ボール1
0を貫通孔62に収容した後に半田ボール10にクリー
ム半田8を塗布するものとしたが、半田ボール10に予
めクリーム半田8を塗布し、この状態で半田ボール10
を貫通孔62内に収容する構成としてもよい。
【0135】また、半田ボール10の外径寸法が貫通孔
62よりも小さいときには、図43に示すように閉塞板
7によって閉塞した状態で半田ボール10を貫通孔62
内に収容し、この状態で貫通孔62内にフラックス等を
塗布し、該フラックスの粘着力によって半田ボール10
を端面電極5に取付ける構成としてもよい。
【0136】さらに、第7の実施の形態では半田ボール
10の外径寸法を例えば貫通孔62の内径寸法と略等し
い値に設定し、この半田ボール10を貫通孔62内に収
容するものとした。しかし、本発明はこれに限らず、例
えば半田ボール10の外径寸法が貫通孔62よりも大き
いときには、第3の実施の形態と同様に貫通孔62を閉
塞する状態で半田ボール10を載置し(図31参照)、
その後半田ボール10にクリーム半田8を塗布する構成
としてもよい。
【0137】次に、図44ないし図50に基づいて第8
の実施の形態によるモジュール基板の製造方法を説明す
る。然るに、第8の実施の形態の特徴は、加工用基板に
スリット孔を設けることによって非分離基板を形成し、
該非分離基板にクリーム半田を塗布した後、該クリーム
半田に半田ボールを取り付ける構成としたことにある。
なお、本実施の形態では前記第1の実施の形態と同一の
構成要素に同一の符号を付し、その説明を省略するもの
とする。
【0138】まず、第8の実施の形態では、第1の実施
の形態と同様に貫通孔加工工程によって加工用基板71
に貫通孔71Dを穿設する。その後、図44および図4
5に示す端面電極加工工程によって、加工用基板71の
表面71Aに配線3を設け、裏面71Bに裏面電極4を
設け、該貫通孔71Dの内壁面に裏面電極4、配線3に
接続された端面電極5を設ける。
【0139】次に、図46ないし図48に示すスリット
孔加工工程では、端面電極5を残存させつつ貫通孔71
Dの一部を除去する溝状のスリット孔72を設ける。こ
のとき、スリット孔72は基板101と対応した非分離
基板73の外周縁に沿って複数個設けられる。
【0140】これにより、加工用基板1には、スリット
孔72によって取囲まれた非分離基板73と、該非分離
基板73の4隅が接続され非分離基板73を取囲む残余
の加工用基板71Cとが形成される。また、非分離基板
73には配線3、裏面電極4、端面電極5が設けられる
のに対し、スリット孔72の穿設によって残余の加工用
基板1Cからはこれら端面電極5等が除去されている。
【0141】次に、図49に示すようにスリット孔閉塞
工程によって加工用基板71の表面71A側に閉塞板7
を取付け、スリット孔72の一方の開口を閉塞する。そ
の後、クリーム半田塗布工程によって、裏面電極4を覆
って非分離基板73の裏面側にクリーム半田8を塗布す
る。そして、クリーム半田8に半田ボール10を載置
し、半田ボール10をクリーム半田8に取付けた後、加
熱工程によって加工用基板71等を加熱する。これによ
り、半田ボール10は溶融して裏面電極4と端面電極5
とに固着する。
【0142】最後に、図50に示す基板取外し工程で
は、加工用基板71から治具プレート74を取外した
後、非分離基板73と残余の加工用基板71Cとを接続
する部位を切断し、非分離基板73を加工用基板71か
ら分離する。これにより、端面電極105に半田108
を固着した状態のモジュール基板100を製造すること
ができる。
【0143】かくして、第8の実施の形態によるモジュ
ール基板の製造方法は上述の如き構成を有するもので、
本実施の形態でも第1の実施の形態と同様の作用効果を
得ることができる。
【0144】なお、第8の実施の形態では4個のスリッ
ト孔72によって非分離基板73を囲むものとしたが、
例えば略四角形の枠状のスリット孔を1個設け、この単
一のスリット孔によって非分離基板を囲む構成としても
よい。
【0145】また、第8の実施の形態では、第1の実施
の形態と同様の方法により半田ボール10をクリーム半
田8に取付ける構成とした。しかし、図51に示す第8
の実施の形態の第1の変形例のようにスリット孔72′
の幅寸法を短く形成することによって、半田ボール10
を端面電極5に対応した位置でスリット孔72′の一部
を閉塞し、この状態で裏面電極4上のクリーム半田8に
半田ボール10を取付ける構成としてもよい。この場
合、半田ボール10をスリット孔72′の一部を閉塞し
た状態で載置した後、該半田ボール10にクリーム半田
8を塗布する構成としてもよい。
【0146】さらに、図52に示す第8の実施の形態の
第2の変形例のように半田ボール10の外径寸法を端面
電極5とスリット孔72の内壁との間に挟持可能な程度
に設定することによって、端面電極5に対面した位置で
スリット孔72内に半田ボール10を収容し、該半田ボ
ール10にクリーム半田8を塗布する構成としてもよ
い。この場合、クリーム半田8は、図52中に実線で示
すように裏面電極4、端面電極5に接触する位置に設け
てもよく、図52中に二点鎖線で示すように裏面電極4
等に接触しない位置に設けてよい。また、半田ボール1
0をスリット孔72内に収容する前に半田ボール10に
予めクリーム半田8を塗布する構成としてもよい。
【0147】また、第8の実施の形態においても、第2
の実施の形態と同様に治具を用いて半田ボール10を位
置決め、固定する構成としてもよく、第4または第6と
同様の方法を用いて非分離基板73の表面または裏面に
クリーム半田8を塗布し、該クリーム半田8に半田ボー
ル10を取付ける構成としてもよい。
【0148】さらに、図53および図54に示す第8の
実施の形態の第3の変形例のように、加工用基板1に円
形の貫通孔71Dを穿設する前に基板1に配線3、裏面
電極4等を設け、該裏面電極4等の位置に円形の貫通孔
71Dを穿設し、その後端面電極5を形成してもよい。
【0149】次に、図55ないし図58に基づいて第9
の実施の形態によるモジュール基板の製造方法を説明す
る。然るに、第9の実施の形態の特徴は、端面電極に半
田を固定した後に、ダイヤモンドカッターを用いて加工
用基板を貫通孔を通って切断することにある。なお、本
実施の形態では前記第1の実施の形態と同一の構成要素
に同一の符号を付し、その説明を省略するものとする。
【0150】まず、第9の実施の形態では、第1の実施
の形態と同様に貫通孔加工工程によって加工用基板1に
予備的な円形の貫通孔(図示せず)を穿設し、端面電極
加工工程によって、図55に示すように加工用基板1の
表面1Aに配線3を形成し、裏面1Bに裏面電極4を形
成し、貫通孔の内壁面に端面電極5を形成する。その
後、端面電極5の一部を除去して貫通孔を長円形に拡張
した貫通孔2を形成する。このとき、貫通孔2に囲まれ
モジュール基板となる部位には配線3、裏面電極4、端
面電極5が設けられるのに対し、残余の部位からはこれ
らの端面電極5等は除去されている。
【0151】なお、加工用基板1に円形の貫通孔を穿設
する前に基板1に配線3、裏面電極4等を設け、該裏面
電極4等の位置に円形の貫通孔を穿設し、その後端面電
極5を形成してもよい。
【0152】次に、図56に示すように貫通孔閉塞工程
によって加工用基板1の表面1Aに閉塞板7を設け、貫
通孔2の一方の開口を閉塞した状態で、クリーム半田塗
布工程によって裏面電極4を覆ってクリーム半田8を塗
布する。そして、半田ボール取付工程によってクリーム
半田8に半田ボール10を取付けた後、加熱工程によっ
て、加工用基板1等を加熱し、裏面電極4、端面電極5
に半田11を固着する。
【0153】その後、図57に示す基板切断工程では、
ダイヤモンドカッター81を用いて加工用基板1を切断
し、加工用基板1から分離基板6を分離する。最後に、
図58に示すように加工用基板1から分離基板6を取外
す。このとき、ダイヤモンドカッター81は貫通孔2を
通過して加工用基板1を切断するから、切り離された貫
通孔2の一部は基板101の端面開口溝104となり、
端面電極5は端面開口溝104を覆う端面電極105と
なる。そして、端面電極5には半田11が固着されてい
るから、基板101の端面電極105に半田108が固
着された状態で加工用基板1から基板101を分離し、
モジュール基板100を取出すことができる。
【0154】かくして、第9の実施の形態によるモジュ
ール基板の製造方法は上述の如き構成を有するもので、
本実施の形態でも第1の実施の形態と同様の作用効果を
得ることができる。
【0155】なお、第9の実施の形態では、ダイヤモン
ドカッタ81を用いて加工用基板1を切断する構成とし
たが、図55に示すように加工用基板1に予めV字溝8
2を設け、貫通孔2を該V字溝82を跨いで設ける構成
としてもよい。この場合、端面電極5等に半田11を固
着した後、V字溝82に沿って加工用基板1を分離する
ことができる。
【0156】また、第9の実施の形態では、貫通孔2の
一部に端面電極5を設けた状態で固形半田10を溶融さ
せ冷却固化するものとしたが、例えば図59に示す第9
の実施の形態の変形例のように貫通孔1Dの内壁面全面
に亘って端面電極5を設けた状態で固形半田を溶融させ
冷却固化する構成としてもよい。この場合、端面電極5
に半田11′が固着した後、ダイヤモンドカッタ81を
用いて貫通孔1Dの中央を通って加工用基板1を切断す
るものである。
【0157】さらに、第9の実施の形態では、第1の実
施の形態と同様の方法により半田ボール10をクリーム
半田8に取付ける構成としたが、第2ないし第7の実施
の形態と同様の方法を用いて半田ボール10をクリーム
半田8に取付ける構成としてもよい。
【0158】また、前記各実施の形態では端面電極10
5(5)は略半円形状に形成するものとしたが、三角形
状、四角形状等の多角形状でもよく、さらに基板101
の端面101Cの直接設けた平面形状であってもよい。
また、裏面電極106(4)も略四角形状に限らず、多
角形状、円弧形状であってもよい。
【0159】さらに、前記各実施の形態では固形半田と
して球形状の半田ボール10を使用するものとしたが、
立方体形状等の他の形状のものを使用してもよい。
【0160】
【発明の効果】以上詳述した通り、請求項1または2の
発明によれば、貫通孔の周囲に酸化膜除去成分を含む粘
着物質を設け、該粘着物質には固形半田を取付けた後、
分離基板等を加熱して該固形半田を溶融し、溶融した固
形半田を端面電極と裏面電極とに冷却固化するようにし
たから、粘着物質によって固定半田を位置決めした状態
で固定できる。そして、分離基板と残余の加工用基板と
を加熱したときには、粘着物質が触媒として機能するか
ら、固形半田は粘着物質に接触した部位から溶融して貫
通孔内に侵入し、溶融した固形半田を裏面電極と端面電
極とに付着させることができる。また、固形半田を溶融
させて端面電極等に冷却固化するから、端面電極に固着
した半田が貫通孔から突出する突出寸法を略均一化する
ことができ、全ての端面電極をマザーボードの電極パッ
ドに確実に接続することができる。
【0161】また、請求項3の発明によれば、加工用基
板を切断する前に残余の加工用基板側の裏面電極および
端面電極を除去する構成としたから、溶融した固形半田
が残余の加工用基板に付着するのを防ぐことができ、溶
融した固形半田を冷却固化した後に、分離基板を容易に
残余の加工用基板から取外すことができる。
【0162】また、請求項4の発明によれば、粘着物質
を端面電極に接触して分離基板の表面に設ける構成とし
たから、粘着物質に固形半田を取付けて分離基板等を加
熱したときには、固形半田は粘着物質に接触した部位か
ら溶融する。これにより、溶融した固形半田は、端面電
極に付着すると共に、その一部が端面電極を通じて裏面
電極を覆うように移動するから、端面電極と裏面電極と
に半田を確実に固着することができる。
【0163】また、請求項5の発明によれば、粘着物質
を裏面電極に接触して分離基板の裏面に設ける構成とし
たから、溶融した固形半田は裏面電極に沿って拡がるか
ら、端面電極と裏面電極とに半田を確実に固着すること
ができる。
【0164】また、請求項6の発明によれば、粘着物質
を貫通孔の開口近傍に位置して残余の加工用基板の表面
または裏面に設ける構成としたから、溶融した固形半田
を貫通孔に流入させることができ、該貫通孔内の端面電
極等に半田を固着することができる。また、分離基板に
粘着物質を設ける場合に比べて分離基板の面積を小さく
することができ、電子部品等の集積度を高めることがで
きる。
【0165】また、請求項7の発明によれば、固形半田
を貫通孔を閉塞した状態で粘着物質に取付ける構成とし
たから、加熱によって固形半田が溶融したときには、溶
融した半田は貫通孔内に侵入し、貫通孔内の端面電極に
確実に半田を付着させることができる。
【0166】さらに、請求項8または9の発明によれ
ば、端面電極に固形半田を取付け、該固形半田を端面電
極に取付ける前,後のいずれかで該固形半田に粘着物質
を設ける構成としたから、分離基板等を加熱したときに
は、固形半田は、端面電極に付着しつつ溶融すると共
に、その一部が端面電極を通じて裏面電極を覆うように
移動する。この結果、端面電極と裏面電極とに半田を固
着することができる。
【0167】また、請求項10の発明によれば、加工用
基板を切断する前に残余の加工用基板側の裏面電極およ
び端面電極を除去する構成としたから、溶融した固形半
田が残余の加工用基板に付着するのを防ぐことができ、
溶融した固形半田を冷却固化した後に、分離基板を容易
に残余の加工用基板から取外すことができる。
【0168】また、請求項11の発明によれば、固形半
田は、貫通孔を閉塞し、または貫通孔内に収容する構成
としたから、貫通孔によって固形半田を位置決めするこ
とができると共に、固形半田を溶融させたときには、容
易に貫通孔の内壁面に設けた端面電極に溶融した固形半
田を付着させることができる。
【0169】一方、請求項12または13の発明によれ
ば、加工用基板にはスリット孔に囲まれ端面電極と裏面
電極とを有する非分離基板を形成し、前記端面電極の周
囲には酸化膜除去成分を含む粘着物質を設け、該粘着物
質には固形半田を取付けた後、非分離基板等を加熱して
溶融した固形半田を端面電極と裏面電極とに固着する構
成としたから、粘着物質によって固定半田を位置決めで
きると共に、固形半田は粘着物質に接触した部位から溶
融させ、貫通孔内に侵入させることができる。これによ
り、溶融した固形半田を端面電極と裏面電極とに固着す
ることができる。
【0170】また、請求項14の発明によれば、粘着物
質を端面電極に接触して非分離基板の表面に設ける構成
としたから、溶融した固形半田を端面電極に付着させる
ことができ、その一部が端面電極を通じて裏面電極に付
着させることができる。この結果、端面電極と裏面電極
とに半田を固着することができる。
【0171】また、請求項15の発明によれば、粘着物
質を裏面電極に接触して非分離基板の裏面に設ける構成
としたから、溶融した固形半田は裏面電極に付着すると
共に、その一部が裏面電極を通じて端面電極に達する。
この結果、端面電極と裏面電極とに半田を固着すること
ができる。
【0172】また、請求項16の発明によれば、固形半
田を端面電極に対応した位置でスリット孔の一部を閉塞
した状態で粘着物質に取付ける構成としたから、加熱に
よって固形半田が溶融したときには、溶融した固形半田
は貫通孔内に侵入し、貫通孔内の端面電極に確実に半田
を付着させることができる。
【0173】さらに、請求項17または18の発明によ
れば、端面電極に固形半田を取付け、該固形半田を端面
電極に取付ける前,後のいずれかで該固形半田に粘着物
質を設け、非分離基板と残余の加工用基板とを加熱して
該固形半田を溶融し、溶融した固形半田を端面電極と裏
面電極とに冷却固化し、その後スリット孔の位置で加工
用基板から非分離基板をモジュール基板として分離する
構成としたから、非分離基板等を加熱したときには、固
形半田は端面電極に付着しつつ溶融する。このとき、溶
融した固形半田は、その一部が端面電極を通じて裏面電
極を覆うように移動する。この結果、端面電極と裏面電
極とに半田を固着することができる。
【0174】また、請求項19の発明によれば、固形半
田は、端面電極に対応した位置でスリット孔の一部を閉
塞し、または端面電極に対応した位置でスリット孔内に
収容する構成としたから、スリット孔よって固形半田を
位置決めすることができると共に、固形半田を溶融させ
たときには、スリット孔内に露出した端面電極に容易に
溶融した固形半田を付着させることができる。
【0175】また、請求項20または21の発明によれ
ば、加工用基板の貫通孔の周囲には酸化膜除去成分を含
む粘着物質を設け、該粘着物質には固形半田を取付け、
加工用基板を加熱して溶融した固形半田を端面電極と裏
面電極とに冷却固化した後、貫通孔の位置で加工用基板
を切断する構成としたから、ダイヤモンドカッタ等によ
って加工用基板を切断することができ、加工用基板から
容易にモジュール基板を取出すことができる。
【0176】また、請求項22の発明によれば、粘着物
質を設ける前に切断後に残余の加工用基板側となる位置
の裏面電極および端面電極を除去する構成としたから、
溶融した固形半田が切断後にモジュール基板以外の残余
の加工用基板となる部位に付着するのを防ぐことができ
る。このため、溶融した固形半田を冷却固化した後に、
端面電極に付着した半田を切断することなく、モジュー
ル基板を容易に残余の加工用基板から分離することがで
きる。
【0177】さらに、請求項23の発明によれば、粘着
物質にはフラックス単体または粉末状の半田とフラック
スとからなるクリーム半田を用い、固形半田にはろう付
け用合金を球形状に固化した半田ボールを用いる構成と
したから、フラックス単体またはクリーム半田によって
半田ボールの位置決めと溶融の促進を行うことができ
る。また、粘着物質にフラックスを用いたときには、溶
融した半田ボールの体積(容量)を略一定に保つことが
できるから、半田が基板の裏面よりも突出する寸法を略
一定にすることができる。一方、粘着物質にクリーム半
田を用いたときには、溶融した半田ボールをクリーム半
田中の半田と共に端面電極と裏面電極とに冷却固化する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る製造方法によ
って製造されたモジュール基板を示す斜視図である。
【図2】図1中の端面スルーホールを示す平面図であ
る。
【図3】図1中の端面スルーホールを示す底面図であ
る。
【図4】端面スルーホールを図2中の矢示IV−IV方向か
らみた断面図である。
【図5】第1の実施の形態に係る製造方法において、本
実施の形態に用いる加工用基板に貫通孔を設ける貫通孔
加工工程を示す平面図である。
【図6】貫通孔の内壁面に端面電極を設ける端面電極加
工工程を示す平面図である。
【図7】図6中の加工用基板を示す底面図である。
【図8】端面電極の一部を除去する端面電極除去工程を
示す平面図である。
【図9】図8中の加工用基板を示す底面図である。
【図10】加工用基板から分離基板を分離した後、残余
の加工用基板に分離基板を埋め戻すプッシュバック工程
を示す底面図である。
【図11】図10中のa部を拡大して示す拡大底面図で
ある。
【図12】加工用基板を裏返した状態で図11中の矢示
XII−XII 方向からみた断面図である。
【図13】加工用基板に閉塞板を取付ける貫通孔閉塞工
程を示す断面図である。
【図14】裏面電極を覆ってクリーム半田を塗布するク
リーム半田塗布工程を示す断面図である。
【図15】図14中の矢示XV−XV方向からみた拡大平面
図である。
【図16】クリーム半田に半田ボールを取付ける半田ボ
ール取付工程を示す断面図である。
【図17】加熱工程において端面電極に半田が固定され
た状態を示す断面図である。
【図18】図17中の矢示 XVIII−XVIII 方向からみた
拡大平面図である。
【図19】加工用基板から分離基板を取外す分離基板取
外し工程を示す断面図である。
【図20】第1の実施の形態に係る製造方法によって製
造されたモジュール基板をマザーボードに載置した状態
を示す側面図である。
【図21】図20中のモジュール基板がマザーボードに
接合した状態を示す側面図である。
【図22】図21中の矢示XXII−XXII方向からみた断面
図である。
【図23】第1の実施の形態の変形例に係る製造方法に
おいて、加工用基板の裏面に裏面電極を設けた状態を示
す底面図である。
【図24】図23中の加工用基板に貫通孔を設けた状態
を示す底面図である。
【図25】第2の実施の形態に係る製造方法において、
半田ボール取付工程によって加工用基板に治具を取付け
た状態を示す拡大平面図である。
【図26】図25中の矢示XXVI−XXVI方向からみた断面
図である。
【図27】第2の実施の形態の変形例に係る製造方法に
おいて、半田ボール取付工程によって加工用基板にテー
プを貼着した状態を示す拡大平面図である。
【図28】図27中の矢示XXVIII−XXVIII方向からみた
断面図である。
【図29】第3の実施の形態に係る製造方法において、
裏面電極を覆ってクリーム半田を塗布するクリーム半田
塗布工程を示す拡大平面図である。
【図30】図29中の矢示 XXX−XXX 方向からみた断面
図である。
【図31】貫通孔を閉塞した状態で半田ボールを取付け
る半田ボール取付工程を示す断面図である。
【図32】第4の実施の形態に係る製造方法において、
半田ボールを保持した治具に加工用基板を取付ける半田
ボール取付工程を示す断面図である。
【図33】半田ボール取付工程によって裏面電極を覆う
クリーム半田に半田ボールを取付けた状態を示す断面図
である。
【図34】第5の実施の形態に係る製造方法において、
クリーム半田塗布工程によって残余の加工用基板にクリ
ーム半田を塗布した状態を示す拡大平面図である。
【図35】半田ボール取付工程によってクリーム半田に
半田ボールを取付けた状態で図34中の矢示XXXV−XXXV
方向からみた断面図である。
【図36】加熱工程によって半田ボールが溶融した状態
を示す断面図である。
【図37】第6の実施の形態に係る製造方法において、
プッシュバック工程によって分離基板を残余の加工用基
板に埋め戻した状態を示す拡大平面図である。
【図38】図37中の矢示 XXXVIII−XXXVIII 方向から
みた断面図である。
【図39】半田ボール取付工程によって分離基板上のク
リーム半田に半田ボールを取付けた状態を示す断面図で
ある。
【図40】第6の実施の形態の第1の変形例に係る製造
方法において、貫通孔を閉塞した状態で半田ボールを取
付ける半田ボール取付工程を示す断面図である。
【図41】第6の実施の形態の第2の変形例に係る製造
方法において、残余の加工用基板上のクリーム半田に半
田ボールを取付ける半田ボール取付工程を示す断面図で
ある。
【図42】第7の実施の形態に係る製造方法において、
貫通孔に半田ボールを収容する半田ボール取付工程を示
す断面図である。
【図43】半田ボールにクリーム半田を塗布するクリー
ム半田塗布工程を示す断面図である。
【図44】第8の実施の形態に係る製造方法において、
本実施の形態に用いる加工用基板に端面電極を設ける端
面電極加工工程を示す平面図である。
【図45】図44中の加工用基板を示す底面図である。
【図46】加工用基板にスリット孔を設けるスリット孔
加工工程を示す平面図である。
【図47】図46中の加工用基板を示す底面図である。
【図48】加工用基板を裏返した状態で図47中の矢示
XLVIII−XLVIII方向からみた断面図である。
【図49】クリーム半田塗布工程、半田ボール取付工程
によって裏面電極を覆うクリーム半田に半田ボールを取
付けた状態を示す断面図である。
【図50】加工用基板から非分離基板を分離する基板取
外し工程を示す断面図である。
【図51】第8の実施の形態の第1の変形例に係る製造
方法において、貫通孔を閉塞した状態で半田ボールを取
付ける半田ボール取付工程を示す断面図である。
【図52】第8の実施の形態の第2の変形例に係る製造
方法において、端面電極に対面した位置で半田ボールを
スリット孔に収容する半田ボール取付工程を示す断面図
である。
【図53】第8の実施の形態の第3の変形例に係る製造
方法において、加工用基板の裏面に裏面電極を設けた状
態を示す底面図である。
【図54】図53中の加工用基板に貫通孔を設けた状態
を示す底面図である。
【図55】第9の実施の形態に係る製造方法において、
加工用基板に貫通孔、端面電極等を設ける端面電極加工
工程を示す断面図である。
【図56】貫通孔閉塞工程、クリーム半田塗布工程、半
田ボール取付工程によって裏面電極を覆うクリーム半田
に半田ボールを取付けた状態を示す断面図である。
【図57】ダイヤモンドカッターを用いて加工用基板を
切断する基板切断工程を示す断面図である。
【図58】基板切断工程の後に加工用基板からモジュー
ル基板を取外した状態を示す断面図である。
【図59】第9の実施の形態の変形例に係る製造方法に
おいて、貫通孔の内壁面全部に設けた端面電極に半田を
固着した後、ダイヤモンドカッターを用いて加工用基板
を切断する状態を示す断面図である。
【符号の説明】
1,31,61,71 加工用基板 1C,31C,61C,71C 残余の加工用基板 1D,2,32,62,71D 貫通孔 4,106 裏面電極 5,105 端面電極 6,33,63 分離基板 7 閉塞板 8 クリーム半田(粘着物質) 10 半田ボール(固形半田) 21,41 治具 22 テープ 72,72′,72″ スリット孔 73 非分離基板 81 ダイヤモンドカッター 82 V字溝 100 モジュール基板 101 基板 102 電子部品 103 端面スルーホール 109 マザーボード 110 電極パッド 112 フィレット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中路 博行 京都府長岡京市天神二丁目26番10号 株式 会社村田製作所内 (72)発明者 土井 宏文 京都府長岡京市天神二丁目26番10号 株式 会社村田製作所内 (72)発明者 永井 郁 京都府長岡京市天神二丁目26番10号 株式 会社村田製作所内 (72)発明者 仲宗根 純一 京都府長岡京市天神二丁目26番10号 株式 会社村田製作所内 Fターム(参考) 5E319 AC02 BB04 CD26 GG03

Claims (23)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 加工用基板に貫通孔を穿設し、該貫通孔
    の周囲に位置して前記加工用基板の裏面には裏面電極を
    設け、前記貫通孔の内壁面の一部または全部には該裏面
    電極に接続して端面電極を設け、前記貫通孔を通って切
    断することにより加工用基板から前記端面電極と裏面電
    極とを有する分離基板と残余の加工用基板とを形成し、
    前記貫通孔の周囲には酸化膜除去成分を含む粘着物質を
    設け、該粘着物質には固形半田を取付け、前記分離基板
    と残余の加工用基板とを加熱して該固形半田を溶融し、
    溶融した固形半田を端面電極と裏面電極とに冷却固化す
    るようにしたモジュール基板の製造方法。
  2. 【請求項2】 加工用基板の裏面に裏面電極を設け、前
    記加工用基板には該裏面電極の位置に貫通孔を穿設し、
    該貫通孔の内壁面の一部または全部には該裏面電極に接
    続して端面電極を設け、前記貫通孔を通って切断するこ
    とにより加工用基板から前記端面電極と裏面電極とを有
    する分離基板と残余の加工用基板とを形成し、前記貫通
    孔の周囲には酸化膜除去成分を含む粘着物質を設け、該
    粘着物質には固形半田を取付け、前記分離基板と残余の
    加工用基板とを加熱して該固形半田を溶融し、溶融した
    固形半田を端面電極と裏面電極とに冷却固化するように
    したモジュール基板の製造方法。
  3. 【請求項3】 前記加工用基板を切断する前に残余の加
    工用基板側の裏面電極および貫通孔の内壁面に設けた端
    面電極を除去してなる請求項1または2に記載のモジュ
    ール基板の製造方法。
  4. 【請求項4】 前記粘着物質は前記端面電極に接触して
    前記分離基板の表面に設ける構成としてなる請求項1,
    2または3に記載のモジュール基板の製造方法。
  5. 【請求項5】 前記粘着物質は前記裏面電極に接触して
    前記分離基板の裏面に設ける構成としてなる請求項1,
    2または3に記載のモジュール基板の製造方法。
  6. 【請求項6】 前記粘着物質は前記貫通孔の開口近傍に
    位置して前記残余の加工用基板の表面または裏面に設け
    る構成としてなる請求項1,2または3に記載のモジュ
    ール基板の製造方法。
  7. 【請求項7】 前記固形半田は前記貫通孔を閉塞した状
    態で前記粘着物質に取付ける構成としてなる請求項1,
    2,3,4,5または6に記載のモジュール基板の製造
    方法。
  8. 【請求項8】 加工用基板に貫通孔を穿設し、該貫通孔
    の周囲に位置して前記加工用基板の裏面には裏面電極を
    設け、前記貫通孔の内壁面の一部または全部には該裏面
    電極に接続して端面電極を設け、前記貫通孔を通って切
    断することにより加工用基板から前記端面電極と裏面電
    極とを有する分離基板と残余の加工用基板とを形成し、
    前記端面電極に固形半田を取付け、該固形半田を端面電
    極に取付ける前,後のいずれかで該固形半田に酸化膜除
    去成分を含む粘着物質を設け、前記分離基板と残余の加
    工用基板とを加熱して該固形半田を溶融し、溶融した固
    形半田を端面電極と裏面電極とに冷却固化するようにし
    たモジュール基板の製造方法。
  9. 【請求項9】 加工用基板の裏面には裏面電極を設け、
    前記加工用基板には該裏面電極の位置に貫通孔を穿設
    し、該貫通孔の内壁面の一部または全部には該裏面電極
    に接続して端面電極を設け、前記貫通孔を通って切断す
    ることにより加工用基板から前記端面電極と裏面電極と
    を有する分離基板と残余の加工用基板とを形成し、前記
    端面電極に固形半田を取付け、該固形半田を端面電極に
    取付ける前,後のいずれかで該固形半田に酸化膜除去成
    分を含む粘着物質を設け、前記分離基板と残余の加工用
    基板とを加熱して該固形半田を溶融し、溶融した固形半
    田を端面電極と裏面電極とに冷却固化するようにしたモ
    ジュール基板の製造方法。
  10. 【請求項10】 前記加工用基板を切断する前に残余の
    加工用基板側の裏面電極および貫通孔の内壁面に設けた
    端面電極を除去してなる請求項8または9に記載のモジ
    ュール基板の製造方法。
  11. 【請求項11】 前記固形半田は、前記貫通孔を閉塞
    し、または前記貫通孔内に収容してなる請求項8,9ま
    たは10に記載のモジュール基板の製造方法。
  12. 【請求項12】 加工用基板に貫通孔を穿設し、該貫通
    孔の周囲に位置して前記加工用基板の裏面には裏面電極
    を設け、前記貫通孔の内壁面には前記裏面電極に接続し
    て端面電極を設け、前記加工用基板には前記貫通孔の一
    部を除去してスリット孔を設けることによって該スリッ
    ト孔に囲まれ端面電極と裏面電極とを有する非分離基板
    を形成し、前記端面電極の周囲には酸化膜除去成分を含
    む粘着物質を設け、該粘着物質には固形半田を取付け、
    前記非分離基板と残余の加工用基板とを加熱して該固形
    半田を溶融し、溶融した固形半田を端面電極と裏面電極
    とに冷却固化し、その後スリット孔の位置で加工用基板
    から非分離基板をモジュール基板として分離してなるモ
    ジュール基板の製造方法。
  13. 【請求項13】 加工用基板の裏面に裏面電極を設け、
    前記加工用基板には該裏面電極の位置に貫通孔を穿設
    し、該貫通孔の内壁面には前記裏面電極に接続して端面
    電極を設け、前記加工用基板には前記貫通孔の一部を除
    去してスリット孔を設けることによって該スリット孔に
    囲まれ端面電極と裏面電極とを有する非分離基板を形成
    し、前記端面電極の周囲には酸化膜除去成分を含む粘着
    物質を設け、該粘着物質には固形半田を取付け、前記非
    分離基板と残余の加工用基板とを加熱して該固形半田を
    溶融し、溶融した固形半田を端面電極と裏面電極とに冷
    却固化し、その後スリット孔の位置で加工用基板から非
    分離基板をモジュール基板として分離してなるモジュー
    ル基板の製造方法。
  14. 【請求項14】 前記粘着物質は前記端面電極に接触し
    て前記非分離基板の表面に設ける構成としてなる請求項
    12または13に記載のモジュール基板の製造方法。
  15. 【請求項15】 前記粘着物質は前記裏面電極に接触し
    て前記非分離基板の裏面に設ける構成としてなる請求項
    12または13に記載のモジュール基板の製造方法。
  16. 【請求項16】 前記固形半田は端面電極に対応した位
    置でスリット孔の一部を閉塞した状態で前記粘着物質に
    取付ける構成としてなる請求項12,13,14または
    15に記載のモジュール基板の製造方法。
  17. 【請求項17】 加工用基板に貫通孔を穿設し、該貫通
    孔の周囲に位置して前記加工用基板の裏面には裏面電極
    を設け、前記貫通孔の内壁面には前記裏面電極に接続し
    て端面電極を設け、前記加工用基板には前記貫通孔の一
    部を除去してスリット孔を設けることによって該スリッ
    ト孔に囲まれ端面電極と裏面電極とを有する非分離基板
    を形成し、前記端面電極に固形半田を取付け、該固形半
    田を端面電極に取付ける前,後のいずれかで該固形半田
    に酸化膜除去成分を含む粘着物質を設け、前記非分離基
    板と残余の加工用基板とを加熱して該固形半田を溶融
    し、溶融した固形半田を端面電極と裏面電極とに冷却固
    化し、その後スリット孔の位置で加工用基板から非分離
    基板をモジュール基板として分離してなるモジュール基
    板の製造方法。
  18. 【請求項18】 加工用基板の裏面に裏面電極を設け、
    前記加工用基板には該裏面電極の位置に貫通孔を穿設
    し、該貫通孔の内壁面には前記裏面電極に接続して端面
    電極を設け、前記加工用基板には前記貫通孔の一部を除
    去してスリット孔を設けることによって該スリット孔に
    囲まれ端面電極と裏面電極とを有する非分離基板を形成
    し、前記端面電極に固形半田を取付け、該固形半田を端
    面電極に取付ける前,後のいずれかで該固形半田に酸化
    膜除去成分を含む粘着物質を設け、前記非分離基板と残
    余の加工用基板とを加熱して該固形半田を溶融し、溶融
    した固形半田を端面電極と裏面電極とに冷却固化し、そ
    の後スリット孔の位置で加工用基板から非分離基板をモ
    ジュール基板として分離してなるモジュール基板の製造
    方法。
  19. 【請求項19】 前記固形半田は、前記端面電極に対応
    した位置でスリット孔の一部を閉塞し、または前記端面
    電極に対応した位置でスリット孔内に収容してなる請求
    項17または18に記載のモジュール基板の製造方法。
  20. 【請求項20】 加工用基板に貫通孔を穿設し、該貫通
    孔の周囲に位置して前記加工用基板の裏面には裏面電極
    を設け、前記貫通孔の内壁面の一部または全部には前記
    裏面電極に接続して端面電極を設け、前記貫通孔の周囲
    には酸化膜除去成分を含む粘着物質を設け、該粘着物質
    には固形半田を取付け、前記加工用基板を加熱して該固
    形半田を溶融し、溶融した固形半田を端面電極と裏面電
    極とに冷却固化し、その後前記貫通孔の位置で加工用基
    板を切断し、モジュール基板を分離してなるモジュール
    基板の製造方法。
  21. 【請求項21】 加工用基板の裏面に裏面電極を設け、
    前記加工用基板には該裏面電極の位置に貫通孔を穿設
    し、前記貫通孔の内壁面の一部または全部には前記裏面
    電極に接続して端面電極を設け、前記貫通孔の周囲には
    酸化膜除去成分を含む粘着物質を設け、該粘着物質には
    固形半田を取付け、前記加工用基板を加熱して該固形半
    田を溶融し、溶融した固形半田を端面電極と裏面電極と
    に冷却固し、その後前記貫通孔の位置で加工用基板を
    切断し、モジュール基板を分離してなるモジュール基板
    の製造方法。
  22. 【請求項22】 前記粘着物質を設ける前に切断後に残
    余の加工用基板側となる位置の裏面電極および貫通孔の
    内壁面に設けた端面電極を除去してなる請求項20また
    は21に記載のモジュール基板の製造方法。
  23. 【請求項23】 前記粘着物質にはフラックス単体また
    は粉末状の半田とフラックスとからなるクリーム半田を
    用い、前記固形半田にはろう付け用合金を球形状に固化
    した半田ボールを用いてなる請求項1,2,3,4,
    5,6,7,8,9,10,11,12,13,14,
    15,16,17,18,19,20,21または22
    に記載のモジュール基板の製造方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100819279B1 (ko) * 2006-08-07 2008-04-02 삼성전자주식회사 패널 보드 어셈블리

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002094204A (ja) * 2000-09-19 2002-03-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd 高周波モジュールとその製造方法
AU2003226213A1 (en) * 2002-04-01 2003-10-20 Interplex Nas, Inc. Solder-bearing articles and method of retaining a solder mass thereon
US20040200522A1 (en) * 2003-03-17 2004-10-14 Kyocera Corporation Solar cell element and solar cell module
JP4576431B2 (ja) * 2004-09-15 2010-11-10 モレックス インコーポレイテド はんだ要素を接触子に取付ける方法及びその方法によって形成される接触子組立体
JP2006244731A (ja) * 2005-02-28 2006-09-14 Molex Inc ターミナルおよびこのターミナルを用いたコネクタ
CN102569247A (zh) * 2012-01-17 2012-07-11 华为终端有限公司 集成模块、集成系统板和电子设备
CN103153001B (zh) * 2013-02-05 2016-11-16 浙江宇视科技有限公司 一种pcb板加工方法
US9538636B1 (en) * 2013-03-14 2017-01-03 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. Blind via edge castellation
US10165690B2 (en) * 2015-06-19 2018-12-25 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Solder joint structure of flexible printed circuit board
AU2019225148A1 (en) * 2018-02-22 2020-09-17 Dexcom, Inc. Sensor interposers employing castellated through-vias

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3653411A (en) * 1970-02-11 1972-04-04 Rca Corp Cable harness assembly board and method of making the same
JP2681215B2 (ja) * 1989-05-29 1997-11-26 株式会社ワコー 積層基板を用いたセンサの製造方法
JPH06296076A (ja) * 1993-04-07 1994-10-21 Tdk Corp Smdモジュールの側面電極形成方法
GB2283863A (en) * 1993-11-16 1995-05-17 Ibm Direct chip attach module
JPH08139427A (ja) * 1994-11-04 1996-05-31 Mitsubishi Electric Corp 球状電極の形成方法
JPH1071696A (ja) * 1996-08-30 1998-03-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd クリーム半田供給用スクリーン
US5854846A (en) * 1996-09-06 1998-12-29 Northrop Grumman Corporation Wafer fabricated electroacoustic transducer
JP3627164B2 (ja) * 1997-06-24 2005-03-09 Tdk株式会社 表面実装用電子部品
TW421980B (en) * 1997-12-22 2001-02-11 Citizen Watch Co Ltd Electronic component device, its manufacturing process, and collective circuits

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100819279B1 (ko) * 2006-08-07 2008-04-02 삼성전자주식회사 패널 보드 어셈블리

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