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Gebiet der Erfindung
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Diese
Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Bearbeiten
eines dünnen,
auf einem Substrat ausgebildeten Films unter Verwendung eines Laserstrahls.
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Beschreibung des Standes
der Technik
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Lasereinrichtungen
sind weit verbreitet beim Bearbeiten von Materialien, wie beispielsweise Schneidbearbeiten,
Schweißen,
Oberflächenbehandeln
und Entfernen von Materialien von der Oberfläche eines Substrats. Das Entfernen
von Materialien von der Oberfläche
eines Substrats erfordert das Aufbringen eines Strahls von Laserlicht
mit einer Frequenz innerhalb der Absorptionsbereiche des Materials
entweder direkt auf das Material selbst oder durch die Oberflächen eines
transparenten Substrates oder eines transparenten Films hindurch.
Die Laserenergie wird von dem betreffenden Material absorbiert und
in Wärmenergie
umgewandelt, wodurch das Material entfernt wird, indem es thermisch
verändert oder
verdampft wird. Beispielsweise beschreibt die japanische, offengelegte
Anmeldung Sho 61-14727 das Entfernen eines dünnen, auf der Oberfläche eines
transparenten Substrats ausgebildeten Films mittels Aufbringens
eines Laserstrahls auf den dünnen
Film zum Verdampfen oder zum Initiieren eines Ablöseprozesses,
um dem dünnen
Film von der Substratoberfläche
zu entfernen. Diese Technologien können bei der genauen Herstellung
von Substraten großer
Abmessung effektiv sein und werden aktiv bei der Mustererzeugung
bei der Herstellung von Plasmaanzeige (PDP)-Einheiten und Dünnfilm-Solarzellen
verwendet.
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Die
japanische, offengelegte Anmeldung Sho 57-1256 beschreibt das Herstellen
einer Solarzelle unter Verwendung der Laser-Mustererzeugungs-Technologie
zum Erzeugen mehrerer Reihenschaltungen für rechteckige, streifenförmige Dünnfilm-Solarzellenelemente
zum Ausbilden einer integrierten Struktur.
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Die
integrierte Struktur wird geformt mittels Ausbildens einer Mehrzahl
von rechteckigen, streifenförmigen,
transparenten Elektroden auf einem transparenten Substrat, wobei
die Elektroden mittels einer Mehrzahl von mit gleichem Abstand voneinander
angeordneten, ersten Isolationslinien unterteilt sind. Dann wird
eine Halbleiterschicht, die Lichtenergie umwandelt, so dass eine
Quellenspannung erzeugt wird, auf den transparenten Elektroden ausgebildet
und in streifenförmige
Elemente unterteilt, die mittels einer Mehrzahl von zweiten Isolationslinien separiert
sind. Die zweiten Isolationslinien sind mit dem gleichen Abstand
wie die ersten Isolationslinien abstandsgleich angeordnet und befinden
sich an Positionen, die benachbart, jedoch versetzt zu den ersten
Isolationslinien sind. Eine Rückseiten-Elektrodenschicht
wird dann auf der Halbleiterschicht ausgebildet und mittels einer
Mehrzahl von dritten Isolationslinien in streifenförmige Elemente
unterteilt. Die dritten Isolationslinien sind wieder mit dem gleichen Abstand
wie die ersten Isolationslinien abstandsgleich angeordnet und befinden
sich an Positionen, die versetzt zu den zweiten Isolationslinien
an der zu den ersten Isolationslinien gegenüberliegenden Seite sind. Die
benachbarten Elemente von transparenten Elektrodenstreifen und Rückseiten-Elektrodenstreifen
sind in den Bereichen der zweiten Isolationslinien verbunden. Als
Ergebnis ist eine Struktur mit einer Mehrzahl von in Reihe geschalteten
Elementen ausgebildet.
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Die
im Obigen beschriebene, integrierte Struktur sowie alternative Strukturen,
bei denen die Rückseiten-Elektrodenschicht
und die Halbleiterschicht mittels einer Mehrzahl von dritten Isolationslinien
separiert sind, wurden seit den 1980-igern verwendet. Beide dieser
Strukturen sind zum Zwecke des Abziehens der erzeugten elektrischen
Energie mit Elektroden ausgerüstet,
die an beiden Enden der Reihe von reihengeschalteten Solarzellenelementen angeordnet
sind. Die Ränder
des Substrats weisen üblicherweise
unnutzbare Grenzbereiche von 5 bis 10 mm Breite auf, die nicht zur
Stromerzeugung verwendet werden können, da die physische Umrahmung
des Moduls diese Grenzbereiche nach außen hin abschirmen wird. Ferner
ist während
des Halbleiter- und Rückseiten-Elektroden-Herstellungsprozesses
ein Rahmenhaltebereich erforderlich, was ebenfalls ein bestimmtes
Maß der
Randabschnitte abdeckt.
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In
der Vergangenheit wurden die transparenten Elektroden unter Verwendung
einer konventionellen Bedampfungstechnik aus einem Film von ITO
(Indium-Zinn-Oxid) hergestellt, jedoch ist es nun üblicher,
die transparente Elektrode unter Verwendung eines als thermische
CVD bekannten Prozesses mit SnO2 (Zinnoxid)
herzustellen. Da der thermische CVD-Prozess nicht unter Verwendung
einer Maske selektiv angewendet werden kann, wird folglich die gesamte
Substratoberfläche
mit der Zinnoxidschicht bedeckt. Die Elektrodenbereiche und die
Stromerzeugungsbereiche müssen
daher elektrisch von dem Umfangsrand isoliert werden, wo elektrische
Leiter vorhanden sind. Ein Weg zum Erzielen solch einer Isolation
ist, Isolations-Separatorlinien vorzusehen, welche die transparente
Elektrode partiell von den den Stromerzeugungsbereich und den Rückseite-Elektrodenbereich
umgebenden Bereichen trennen. Die Breite der Isolations-Separatorlinien
sollte ein Minimum von 100 μm
betragen, so dass, wenn die Solarzellenelemente mit einer organischen
Formmasse gekapselt sind, die Isolation einer Spannung von 1500
V widerstehen kann und zuverlässig
funktioniert. Die japanische, offengelegte Anmeldung Hei 8-83919
beschreibt ein Verfahren zum Herstellen von Isolations-Separatorlinien
mit geeigneten Breiten mittels mehrfachen Ziehens von Laser-Ritzlinien
auf der Substratoberfläche.
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Wie
im Obigen beschrieben hergestellte Dünnfilm-Solarzellenmodule können mittels eines Vakuum- Laminierungsverfahrens
versiegelt werden, indem eine laminierte Polymerfolie vom Ethylen-Vinylazetat
(EVA)-Typ und eine Polyvinylfluorid-Polymerfolie (Tedlar®)
auf die Dünnfilm-Solarzellen aufgetragen
werden. Die Solarzellenmodule können
mittels Anbringens eines Anschlusskastens und eines Aluminiumrahmens
komplettiert werden.
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Wie
im Obigen beschrieben, ist die Laserbearbeitung ein äußerst effektives
Mustererzeugungsmittel bei der Herstellung von Solarzellen. Jedoch
besteht ein Hauptnachteil dieses Prozesses darin, dass er langsam
und mühsam
ist, da ein einzelner Laserstrahl verwendet wird, wobei eine Einzelpunktquelle auf
dem Substrat entlangläuft.
Ferner werden, wenn das mittels des Lasers zu bearbeitende Material
dick ist, wiederholte Anwendungen des Laserstrahls erforderlich
sein. Dies erfordert, dass die Bewegungsmechanismen hochgenau und
reproduzierbar sind, was die Komplexität und die Kosten der Bearbeitungseinrichtungen
erhöht.
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Üblicherweise
ist eine Lasereinrichtung in der Lage, eine kontinuierliche Energieerzeugung
zu bewirken. Jedoch wird, wenn die bearbeiteten Materialien einen
stark verstärkten
und fokussierten Strahl erfordern, üblicherweise ein Riesenimpuls-Laserverfahren verwendet.
Bei einem Riesenimpuls-Laserprozess wird die Energie in dem Lasermedium
gespeichert, und das Licht wird mittels eines Q-Schalters erzeugt,
wenn eine adäquate
Energiemenge angesammelt ist. Pulslaser, wie beispielsweise Excimer-Laser,
sind ideal für
die im Obigen beschriebenen Arten von Materialbearbeitung, da Pulslaser üblicherweise
nur Impulse erzeugen können
und die Lasererzeugung nur für
kurze Zeiträume
existiert.
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Ein
Laserbearbeiten kann durchgeführt
werden mittels Bewegens des Substrats relativ zu dem Laserstrahl.
Jüngste
Fortschritte bei mechanischen Einrichtungen haben es ermöglicht,
das Substrat mit einer Geschwindigkeit von 100 cm/s zu bewegen.
Jedoch ist die Impulsfrequenz eines gütegesteuerten Lasers begrenzt.
Daher muss, um unter Verwendung eines einzelnen, hochintensiven,
fokussierten Strahls eine Spur von sich überlappenden Lichtpunkten zu erzeugen,
sich das Substrat mit einer geeigneten Geschwindigkeit bewegen,
die von der optimalen Frequenz der Laserimpulse bestimmt wird und
welche üblicherweise
langsamer als die mittels der mechanischen Struktur erreichbare
Geschwindigkeit ist. Dies reduziert die Bearbeitungsgeschwindigkeit.
Beispielsweise ist zum Bearbeiten einer auf eine Glasfläche aufgebrachten
Zinnoxidschicht unter Verwendung eines weithin verfügbaren Neodym-YAG-Lasers
mit einer Nennleistung von 2 W bei 10 kHz und einem Strahlpunkt
von 50 μm
im Durchmesser die obere Grenze der Bearbeitungsgeschwindigkeit
etwa 50 cm/s (50 μm × 10,000/s).
Wegen der Notwendigkeit des Überlappens
der Strahlpunkte wird die tatsächliche
Geschwindigkeit etwa 40 cm/s sein. Zum Erhöhen der Bearbeitungsgeschwindigkeit
muss die Laserimpulsfrequenz erhöht
werden. Beispielsweise muss, wenn die Bearbeitungsgeschwindigkeit
zu verdoppeln ist, die Laserimpulsfrequenz auf etwa 4 W bei 20 kHz
erhöht
werden. Zusätzlich
muss die Energiemenge in jedem Laserpunkt auf der Bearbeitungsseite
aufrechterhalten werden. Es ist schwierig, eine Lasereinrichtung
herzustellen, die solche Anforderungen erfüllt. Ein YVO2-Laser
mit einer hohen Q-Schalter-Frequenz von 100 kHz ist verfügbar, jedoch
ist dessen Leistung eine Größenordnung
zu gering, um die obige Leistungsanforderung zu erfüllen.
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Während 50
cm/s als eine hohe Geschwindigkeit erscheinen könnten, sind sie für eine Solarzellenbearbeitung
unzureichend. Beispielsweise ist zum Herstellen eines 1 m2-Solarzellenmoduls mit 10 mm breiten Solarzellenelementen
eine Laser-Verfahrdistanz von über
100 m erforderlich, was theoretisch 200 Sekunden zum Vollenden benötigt. In
der Realität
ist die Zykluszeit eher 5 Minuten, was eine Massenproduktion problematisch
macht.
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Außerdem kann
die oben beschriebene Bearbeitungsgeschwindigkeit nur beim Bearbeiten
von Dünnfilmschichten
von weniger als 1 μm
erreicht werden, wobei ein einziges Passieren des Laserstrahls ausreicht.
Zum Bearbeiten dickerer Schichten, wie beispielsweise CdTe-Schichten oder die
zunehmend populären
polykristallinen Silizium (Poly-Si)-Schichten, welche üblicherweise
in der Dicke über
2 μm sind,
muss der Laserstrahl den gleichen Filmbereich zweimal oder mehr überqueren,
was die Bearbeitungszeit zusätzlich
erhöht.
Ferner muss, wenn der Laserstrahl zweimal oder mehr auf den gleichen
Bereich aufgebracht wird, der Strahl genau repositioniert werden, üblicherweise
so, dass er innerhalb 10 μm
von den vorhergehenden Laserpunkten ist. Solche Anforderungen erhöhen die
Komplexität
und die Kosten der Bearbeitungseinrichtung.
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Die
japanische Patentanmeldung
JP
63 253674 beschreibt das partielle Entfernen eines Halbleiterfilms
und eines zweiten Elektrodenfilms bei einer fotoelektrischen Einrichtung
mittels Aufbringens von Laserstrahlen. Die pulsförmigen Strahlen weisen ein
festes Zeitintervall und einen gleichmäßigen Abstand auf.
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Die
deutsche Patentanmeldung DE-A-196 43 039 beschreibt ein Verfahren
zum Bearbeiten dünner
Filme auf einer Oberfläche
mittels Laserstrahlung, bei welchem die Dauer, die Anstiegszeit
und die Amplitude der Laserimpulse mittels Q-Schaltern gesteuert werden.
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Zusammenfassung der Erfindung
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Zum
Erhöhen
der Bearbeitungsgeschwindigkeit wurde vorgeschlagen, mehrere Laserstrahlen
zu verwenden, die gleichzeitig auf die Substratoberfläche an unterschiedlichen
Bearbeitungspunkten aufgebracht werden. Jedoch wurde die tatsächliche
Anwendung lange durch Probleme behindert, wie beispielsweise die
Schwierigkeiten beim Erzielen eines genauen Positionierens der mehreren
Strahlpunkte in Bezug aufeinander und in Bezug auf das Substrat.
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Es
ist daher ein Ziel der Erfindung, ein Laserbearbeitungsverfahren
und eine Laserbearbeitungsvorrichtung bereitzustellen, die einem
oder mehreren der Probleme infolge der Begrenzungen und Nachteile
des Standes der Technik im Wesentlichen abhelfen.
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Ein
Ziel der Erfindung ist es, eine Laserbearbeitungsvorrichtung und
ein Laserbearbeitungsverfahren bereitzustellen, die die Bearbeitungsgeschwindigkeit
erhöhen.
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Ein
anderes Ziel der Erfindung ist es, eine Laserbearbeitungsvorrichtung
und ein Laserbearbeitungsverfahren bereitzustellen, die mehrere
Laserbearbeitungen bei einem einzigen Durchlauf mit erhöhter Bearbeitungsgeschwindigkeit
und verbesserter mechanischer Genauigkeit ermöglichen.
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Zusätzliche
Merkmale und Vorteile der Erfindung werden in der Beschreibung dargelegt,
welche folgt, und werden zum Teil aus der Beschreibung ersichtlich
oder können
durch Praktizieren der Erfindung erlernt werden. Die Ziele und andere
Vorteile der Erfindung werden realisiert und erreicht durch die Struktur,
die genau in der schriftlichen Beschreibung und den Ansprüchen sowie
den beigefügten
Figuren erläutert
ist.
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Zum
Erzielen dieser und anderer Vorteile und in Übereinstimmung mit dem Zweck
der Erfindung, wie verwirklicht und ausführlich beschrieben, weist eine
Laserbearbeitungsvorrichtung auf: eine Mehrzahl von Q-Schaltern
aufweisenden Lasergeneratoren zum Erzeugen von Laserimpulsen, eine Q-Schalter-Triggereinrichtung,
die mit den Lasergeneratoren gekoppelt ist zum Triggern der Lasergeneratoren
und zum Steuern der Zeitabfolge der Impulserzeugung der Lasergeneratoren,
und ein optisches System zum Ausrichten der mittels der Mehrzahl
von Lasergeneratoren erzeugten Impulse auf im Wesentlichen den gleichen
Punkt auf einer Ebene, die von der Fläche des Werkstücks definiert
ist. Die optische Einrichtung kann eine Mehrzahl von teilweise reflektierenden
Spiegeln aufweisen oder einen Drehspiegel zum Ausrichten der Impulse
der Mehrzahl von Lasern auf eine gemeinsame Achse.
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Gemäß einem
anderen Aspekt stellt die Erfindung ein Laserbearbeitungsverfahren
zum Bearbeiten eines dünnen
Films, der auf einer Oberfläche eines
Werkstücks
ausgebildet ist, bereit durch Ausstrahlen von Laserimpulsen auf
den dünnen
Film zum wenigstens teilweisen Entfernen des dünnen Films von der Fläche des
Werkstücks,
wobei die Laserimpulse Wellenlängen
aufweisen, die innerhalb des Absorptionsbereichs des dünnen Films
sind, wobei die Laserimpulse mittels einer Mehrzahl von Lasergeneratoren
erzeugt werden, die Q-Schalter aufweisen, wobei die Laserimpulse
der Mehrzahl von Lasergeneratoren mittels eines optischen Systems auf
im Wesentlichen den gleichen Punkt auf einer Ebene ausgerichtet
werden, die von der Fläche
des Werkstücks
definiert ist, und wobei die Q-Schalter der
Mehrzahl von Lasern auf synchrone Weise betrieben werden und die
Zeitabfolge der Impulserzeugung der Mehrzahl von Lasern in Bezug
aufeinander anpassbar ist.
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Die
Mehrzahl von Lasern und ihre zugehörigen Fokussieroptiken können identisch
oder unterschiedlich in Bezug auf die Laserart, die Wellenlänge, die
Leistung, die Punktgröße usw.
sein. Ferner kann eine Mehrfachbearbeitung des Werkstücks bei
einem einzigen Durchlauf erreicht werden mittels einer geeigneten,
optischen Einstellung und zeitlichen Steuerung der mehreren Laser.
In diesem Fall ermöglicht ein
Verwenden unterschiedlicher Laser, dass mehrere Bearbeitungsschritte
mit unterschiedlichen Lasern in einem einzigen Durchlauf durchgeführt werden.
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Es
ist selbstverständlich,
dass sowohl die vorhergehende allgemeine Beschreibung und die folgende
detaillierte Beschreibung exemplarisch und erläuternd sind und dafür bestimmt
sind, eine zusätzliche
Erläuterung
der wie beanspruchten Erfindung bereitzustellen.
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Kurzbeschreibung der Figuren
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1 ist
eine schematische Ansicht einer Laserbearbeitungsvorrichtung zum
Herstellen einer Dünnfilm-Mehrschichtstruktur,
gemäß einer
ersten Ausführungsform
der Erfindung.
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2a–2d erläutern die
Zeitsteuerung der Laserimpulsfolgen gemäß der ersten Ausführungsform
der Erfindung.
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3 zeigt
schematisch eine optische Einrichtung zum Zusammenführen einer
Mehrzahl von Laserstrahlen zu einem Strahl, gemäß der ersten Ausführungsform
der Erfindung.
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4a und 4b zeigen
Spuren von Laserimpulsen, die von einer üblichen Laserbearbeitungsvorrichtung
mit einem einzigen Lasergenerator bzw. von einer Vorrichtung gemäß der ersten
Ausführungsform
der Erfindung erzeugt wurden.
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5a–5d erläutern Bearbeitungsschritte
zum Herstellen einer Dünnfilm-Solarzelle, gemäß der ersten
Ausführungsform
der Erfindung.
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6a–6d erläutern die
Zeitsteuerung der Laserimpulsfolgen gemäß einer zweiten Ausführungsform
der Erfindung.
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7a–7c zeigen
mehrere Bearbeitungsschritte gemäß der zweiten
Ausführungsform der
Erfindung.
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Detaillierte
Beschreibung der bevorzugten Ausführungsformen Bezugnehmend auf 1 weist eine
Laserbearbeitungsvorrichtung 100 gemäß einer ersten
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Ausführungsform
der Erfindung eine Mehrzahl von Lasergeneratoren 1a–1c auf
zum Erzeugen einer Mehrzahl von Laserstrahlen 101a–101c.
Die Laserstrahlen 101a–101c werden
mittels Kollimatoren in breite, parallele Strahlen umgewandelt und
in eine Fokussieroptik 2 hineinemittiert, und von der Optik 2 werden
drei Strahlen als ein Bündel 102 entlang einer
gemeinsamen optischen Achse emittiert. Die Fokussieroptik kann teilweise
reflektierende Spiegel, einen Drehspiegel, Spiegel vom „Schmetterlings"-Typ, die in den
optischen Pfad hinein und aus diesem heraus geschaltet werden können, usw.
verwenden. Der von der Fokussieroptik 2 emittierte, zusammengeführte Strahl 102 wird
mittels einer Dämpfungsglied-und-Emissionsoptik 4 auf
eine gewünschte
Intensität
eingestellt und auf die Bearbeitungsoptik 5 ausgerichtet.
Der Laserstrahl wird von der Bearbeitungsoptik 5 konzentriert
und auf der Bearbeitungsfläche
des Substrats auf einen Bearbeitungspunkt 7 ausgerichtet.
Die Optiken 4 und 5 können optische. Einrichtungen
sein, die kommerziell verfügbar
sind. Das Substrat kann auf einen Bearbeitungstisch, wie beispielsweise
einen Scanner 6, montiert sein, und eine Laserbearbeitung
wird durchgeführt
mittels Bewegens des Substrats relativ zum Bearbeitungs-Laserstrahl.
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Die
Lasergeneratoren 1a–1c können von
jeder der im Stand der Technik bekannten, geeigneten Laserarten
sein und sind mit Q-Schalter-Zeitsteuerungs-und-Trigger-Einrichtungen
ausgerüstet.
Lasermodelle, die in der Lage sind mittels externer Triggereinrichtungen
die zeitliche Abfolge der Lasererzeugung zu steuern, sind kommerziell
verfügbar.
Zum Steuern der zeitlichen Abfolge der Q-Schalter-Triggereinrichtungen
der Laser 1a–1c ist
ein externer Impulsgenerator 3 vorgesehen.
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Obwohl 1 die
drei Laserstrahlen 101a–101c als zu einem
einzigen Strahl 102 zusammengeführt zeigt, steuert in der Realität die Q-Schalter-Triggereinrichtung 3 die Lasergeneratoren 1a–1c so,
dass sie die von den drei Lasern erzeugten Laserimpulse aufeinanderfolgend
verzögert,
so dass Laserimpulse kontinuierlich und mit vorbestimmten Zeitabständen emittiert
werden. Daher wird zu einem Zeitpunkt nur ein Laserimpuls erzeugt,
wie in den 2a–2d dargestellt.
Die 2a–2c zeigen
die zeitliche Abfolge der Erzeugung der Impulsserien 1a', 1b' und 1c' mittels der
Laser 1a, 1b bzw. 1c, und 2d zeigt
die Laserimpulse in dem Laserstrahl 102, der von der Kollimations-und-Fokussieroptik 2 emittiert
wird.
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Wenn
beispielsweise die Impulsfrequenz jedes der gütegeschalteten Laser 1a–1c 1
kHz ist, dann ist der Zeitabstand zwischen den Impulsen in jeder
der Impulsserien 1a'–1c' 1 ms. Wenn
die Impulsserie 1b' in
Bezug auf die Impulsserie 1a' um
333 μs verzögert ist
und die Impulsserie 1c' in
Bezug auf die Impulsserie 1a' um
667 μs verzögert ist,
wird der Laserstrahl, der von der Fokussieroptik 2 emittiert wird
und an dem Bearbeitungspunkt 7 aufgenommen wird, einen
Impulsabstand von 333 μs
oder eine Frequenz von 3 kHz haben, entsprechend einer Laserenergie,
die das Dreifache jener jedes der Laser 1a–1c beträgt.
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Obwohl
in den 1 und 2 drei Laser
gezeigt sind, ist erkennbar, dass eine andere Anzahl von Lasern
vorgesehen sein kann. Wenn N Laser vorgesehen sind, die jeweils
mit der gleichen Impulsfrequenz und der gleichen Leistung emittieren,
dann werden die Frequenz und die Leistung des von der Fokussieroptik 2 ausgegebenen
Laserstrahls 102 das N-Fache der Frequenz und der Gesamtleistung jedes
einzelnen Lasers sein.
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In
der Fokussieroptik 2 können
teilweise reflektierende Spiegel 2a vorgesehen sein zum
Zusammenführen
der Laserstrahlen der Mehrzahl von Lasern zu einem Strahl, wie in 1 gezeigt.
Alternativ kann ein Drehspiegel vorgesehen sein. Bei einem in 3 gezeigten
Beispiel dreht sich ein üblicher 90-Grad-Reflektionsspiegel 8 wie
mittels des Pfeils angezeigt um eine Achse 8a, die senkrecht
zu der Ebene ist, in welcher die einzelnen Laserstrahlen liegen.
Bei diesem Ansatz werden die Laser 1a–1c so getriggert,
dass sie zu den genauen Zeitpunkten feuern, zu denen der Spiegel 8 auf
eine passende Position gedreht ist, in der er dem feuernden Laser
zugewandt ist. Der Drehspiegel 8, der in 3 gezeigt
ist, kann bevorzugter sein als die teilweise reflektierenden Spiegel 2a,
die in 1 gezeigt sind, vorausgesetzt, dass die Frequenz
und die Synchronisierung der Drehung des Spiegels 8 genau
steuerbar sind.
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Die
im Obigen beschriebene Ausführungsform
kann in Fällen
verwendet werden, in denen ein zuvor zusammengeführter Laserstrahl auf mehrere unterschiedliche
Bearbeitungspunkte aufgeteilt wird. D.h., Laserstrahlen von N Lasern
können
zu einem Strahl zusammengeführt
werden unter Verwendung der Vorrichtung gemäß der beschriebenen Ausführungsform
und nachfolgend in M Strahlen aufgeteilt werden. Im Vergleich zu
Bearbeitungsverfahren, die eine Laservorrichtung mit einem Strahl
verwenden, ist es möglich,
ein Werkstück
mit einer NxM so schnellen Geschwindigkeit zu bearbeiten.
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Die
Laservorrichtungen, die in der oben beschriebenen Ausführungsform
verwendet werden können,
weisen auf: Nd:YAG-Laser,
zweite und dritte Harmonische Nd:YAG-Laser (d.h. frequenzverdoppelte
oder frequenzverdreifachte Nd:YAG-Laser), Excimer-Laser, YVO2-Laser und dergleichen.
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Die 4a und 4b zeigen
einen Vergleich zwischen einem Laserbearbeitungsverfahren gemäß den Ausführungsformen
der Erfindung und einem üblichen
Verfahren, das einen Einzellaser verwendet, wobei die Geschwindigkeit
der Substratbewegung in beiden Fällen
die gleiche ist. Die Punkte 401–404 repräsentieren
schematisch die Punkte, die mittels der Laserimpulse auf dem Werkstück an der Bearbeitungsposition 7 (1)
ausgebildet werden. Bei dem üblichen
Verfahren (4a) sind die Laserpunkte 401 getrennt,
was in einer punktierten Linie resultiert. Andererseits sind, wenn
gemäß den erfindungsgemäßen Verfahren
drei Laser verwendet sind (4b), die
mittels der Laserimpulse ausgebildeten Punkte miteinander verbunden,
so dass sie eine kontinuierliche Linie 405 bilden. In 4b stammen
die drei Sätze
von Punkten 402, 403 bzw. 404 von den drei
Lasern 1a–1c her.
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Bei
einer alternativen Ausführungsform
werden die Mehrzahl von Lasern 1a–1c simultan und ohne
Verzögerung
in Bezug aufeinander getriggert. In diesem Fall hat der zusammengeführte Laserstrahl
die gleiche Impulsfrequenz wie die einzelnen Laserstrahlen, jedoch
eine höhere
Energie. Bei dieser Ausführungsform
wird die teilweise reflektierende Spiegel nutzende, optische Anordnung,
die in 1 gezeigt ist, verwendet, anstatt der Drehspiegel-Anordnung,
die in 3 gezeigt ist. Ferner können bei dieser Ausführungsform
die einzelnen, verwendeten Laser entweder gleiche oder unterschiedliche
Leistungsniveaus aufweisen. Diese Ausführungsform ist insbesondere
vorteilhaft, wenn die einzelnen Laser 1a–1c eine
hohe Impulsfrequenz, jedoch eine relativ geringe Leistung aufweisen,
wie beispielsweise oben genannte YVO2-Laser,
da der resultierende Bearbeitungsstrahl eine ausreichend hohe Frequenz
sowie ausreichend hohe Energie aufweisen wird.
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Alternativ
können
die Impulsfrequenzen der Mehrzahl von Lasern unterschiedlich sein.
In diesem Fall sind ihre Frequenzen bevorzugt ganzzahlige Vielfache
einer gemeinsamen Frequenz.
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Bei
noch einer anderen, alternativen Ausführungsform können die
mehreren Strahlen der Lasern 1a–1c so optisch zusammengeführt sein,
dass ihre optischen Achsen geringfügig versetzt sind, anstatt genau übereinstimmend.
Das Substrat kann in die zur Versatzrichtung der Strahlen senkrechte
Richtung bewegt werden, und ein breiterer Bereich kann bei jeden
Scann bearbeitet werden. Fachmänner werden
erkennen, dass diese Ausführungsform
mit jeder der zuvor beschriebenen, alternativen Ausführungsformen
kombiniert werden kann. Beispielsweise können die Laser mit oder ohne
Verzögerung
in Bezug aufeinander getriggert werden. Ferner kann der Scann auch
in der gleichen Richtung wie der Versatz der Strahlen sein.
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Im
Folgenden wird ein praktisches Beispiel beschrieben zum Herstellen
einer Dünnfilm-Solarzelle
auf einem Glassubstrat unter Verwendung mehrerer Laser gemäß der ersten
Ausführungsform
der Erfindung.
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Die 5a–5d zeigen
in Querschnittsansichten die Bearbeitungsschritte zum Herstellen einer
Dünnfilm-Solarzelle.
Zuerst wurde eine transparente Elektrodenschicht 10a auf
einem Glassubstrat 9 ausgebildet. Die transparente Elektrode 10a kann
von elektrisch leitfähigem
Oxidmaterial, wie beispielsweise Zinnoxid oder fluoriddotiertem
Zinnoxid, gebildet sein und kann mittels eines thermischen CVD-Prozesses
oder anderer, im Stand der Technik bekannter, geeigneter Prozesse
ausgebildet sein. Ein Laserstrahl wurde dann verwendet zum Ausbilden
von Isolationslinien 10b in der transparenten Elektrodenschicht 10a,
wodurch die transparente Elektrodenschicht 10a in einzelne,
streifenförmige Elektrodenelemente 10 unterteilt
ist. Bei dem dargestellten Beispiel wurde die transparente Elektrodenschicht 10 von
Zinnoxid von etwa 1 μm
Dicke auf dem Substrat 9 von etwa 2 mm Dicke ausgebildet. Nd:YAG-Laser
wurden verwendet zum Ausbilden der Isolationslinien 10b.
Da die Verdampfungstemperatur von Zinnoxid ziemlich hoch ist, sind
Hochintensitätslaserstrahlen
erforderlich. Daher wurden drei Laservorrichtungen, die jeweils
eine gütegeschaltete Frequenz
von 10 kHz und eine Ausgangsleistung von 4W aufweisen, zum Bearbeiten
verwendet. Die Größe der Laserstrahlpunkte
wurde bis auf 50 μm
runterfokussiert, so dass Punkte hoher Energiedichte bereitgestellt
wurden. Mit der oben genannten Einstellung wurde eine Bearbeitungsgeschwindigkeit
von etwa 100 cm/s erreicht.
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Eine
fotoelektrische Umwandlungsschicht 11 aus amorphem Silizium
wird über
den streifenförmigen,
transparenten Elektroden 10 ausgebildet (5(b)).
Dieser Prozess kann erzielt werden mittels eines RF-Glimmentladungsverfahrens
in einer Siliziumwasserstoff-Gasatmosphäre. Bei dem dargestellten Beispiel
war die amorphe Schicht 11 etwa 0,5 μm dick. P-i-n-Verbindungen (nicht
gezeigt) werden in der Halbleiterschicht 11 ausgebildet
unter Verwendung von Diboran und Phosphorwasserstoff als Dotiergase.
Zum Ausbilden einer seriellen Verbindung der Dünnfilm-Solarzellenelemente
mit den streifenförmigen
Elektroden 10 wird das Silizium in der fotoelektrischen
Umwandlungsschicht 11 selektiv entfernt, so dass Isolationslinien 12 ausgebildet
werden, die benachbart zu den Linien 10b in der transparenten
Elektrodenschicht sind. Für
diesen Bearbeitungsschritt wird bevorzugt das grüne Licht eines zweite Harmonische
Nd:YAG-Lasers verwendet wegen der hohen Absorption der Siliziumschicht
in diesem Wellenlängenbereich.
Wie in 5(b) gezeigt, kann der Laserstrahl
durch das Glassubstrat 9 und die transparenten Elektroden 10 hindurch
ausgestrahlt werden. Die Größe des Laserstrahlpunktes
war 100 μm.
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Die
entfernten Abschnitte 12 müssen keine geraden Linien sein,
und die Halbleiterschicht wird verdampft durch die Wärme, die
auf der Fläche
zwischen der transparente Elektrode und der Halbleiterschicht erzeugt
wird. Infolge der kurzen Laserimpulse, üblicherweise kürzer als
200 ns in der Dauer, wird ein großer Temperaturgradient erzeugt
und es ist möglich,
die zu entfernenden Materialien schnell zu verdampfen. Nach Erfahrung
der Erfinder erschien eine Laserbearbeitung unter Verwendung eins
Laserstrahls, der vereinzelt punktierte Linien erzeugt, als akzeptabel.
Ferner ist eine starke und zuverlässige Adhäsion zwischen den transparenten
Elektroden 10 und der Halbleiterschicht 11 äußerst wichtig,
um der dem Solarzellenmodul beim Anbringen der Metallkomponenten
während
der Endmontage beaufschlagten Beanspruchung zu widerstehen. Zum
Erzielen dieser starken Adhäsion
ist es bevorzugt, dass die Strahlenergie sehr schnell ansteigt,
und ein TEM00-Strahl, der auf eine Punktgröße von 100 μm fokussiert
ist, wurde als geeignet herausgefunden.
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Wie
zuvor erwähnt,
war es für
diese bestimmte Laserbearbeitung akzeptabel, vereinzelte Laserpunkte
zu verwenden. Die Erfinder waren in der Lage, einen einzelnen Laser
mit einer gütegeschalteten
Frequenz von 10 kHz und einer Ausgangsleistung von 2 W zu verwenden,
um die Halbleiterschicht 11 mit einer Bearbeitungsgeschwindigkeit
von 100 cm/s zu bearbeiten.
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5(c) zeigt den Zustand der Solarzelleneinrichtung
nach diesem Bearbeitungsschritt. 5(d) zeigt
ein vollständiges
Dünnfilm-Solarzellenmodul,
an dem Rückseite-Elektroden 13 ausgebildet
sind und isoliert sind mittels so einem Entfernen der Rückseite-Elektrode,
dass Isolationslinien ausgebildet werden, die zu den in der transparenten
Elektrodenschicht ausgebildeten Isolationslinien 10b sowie
zu den in der Halbleiterschicht ausgebildeten, punktierten Isolationslinien 12 versetzt
sind. Die Rückseite-Elektroden
sind von laminierten Schichten aus annährend 0,1 μm ZnO und annährend 0,2 μm Aluminium
gebildet. Die laminierte Struktur erhöht das Lichtreflektionsvermögen der
Rückseite-Elektrode
zum Einfangen von Sonnenenergie in dem Halbleiter und zum Maximieren
der Energieumwandlungseffizienz. Die entfernten Abschnitte oder
Isolationslinien 13a der Rückseite-Elektroden müssen kontinuierliche
Linien sein. Zum Ausbilden der Isolationslinien 13a wurde
ein Laserstrahl mit einer Punktgröße von etwa 100 μm und einer
gütegeschalteten
Frequenz von 10 kHz verwendet. Zwei Lasergeneratoren, die jeweils
eine Ausgangsleistung von 2 W haben, wurden zum Erzeugen des Laserstrahls
verwendet, und eine Bearbeitungsgeschwindigkeit von 100 cm/s wurde
erreicht.
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Bei
diesem Beispiel sind die Laseroptiken stationär und der Arbeitstisch, auf
welchem das Substrat platziert ist, wurde in der X-Richtung und
der Y-Richtung bewegt. Zum Gewährleisten
einer genauen Bewegung wurde der Bewegungsmechanismus des Arbeitstisches
mit Kugelumlaufspindeln ausgerüstet,
und ein Glasmaßstab
wurde zum Erfassen der Positionseinstellung verwendet. Der mit einer
Kugelumlaufspindel ausgerüstete
Motor, welcher die Bewegung des Arbeitstisches steuert, weist einen Steuermechanismus
mit einem geschlossenen Regelkreis auf zum Gewährleisten einer genauen Wiederholbarkeit
der Bewegungen.
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Eine
zweite Ausführungsform
der Erfindung wird im Folgenden unter Bezugnahme auf die 6a–6d und 7a–7c beschrieben. Die
Gesamteinstellung der Vorrichtung ist die gleiche wie jene, die
in 1 gezeigt ist, mit der Ausnahme, dass die Laser 1a–1c nun
unterschiedliche Arten von Laservorrichtungen sein können. Die
von den Lasern 1a–1c erzeugten
Strahlen 1a'–1c' können unterschiedliche
Parameter aufweisen, wie beispielsweise die Wellenlänge, die
Impulsfrequenz, die Impulsdauer, die Energie, die Fokuspunktgrößen auf
der Bearbeitungsfläche
usw. Diese Parameter können
gemäß den gewünschten
Prozessen ausgewählt
werden.
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Die 7a–7c erläutern das
Ausbilden eines Loches in einer Doppelschicht 71, die auf
der Oberfläche
eines eine obere Schicht 72 und eine untere Schicht 73 aufweisenden
Werkstücks
ausgebildet ist. Ein Laserstrahl 1a' des ersten Lasers 1a (1)
mit einer relativ langen Wellenlänge
und einem eng fokussierten Strahlpunkt wird zuerst auf die Doppelschicht 71 aufgebracht, öffnet ein
tiefes Loch 74a durch die obere Schicht 72 hindurch
und erreicht partiell die untere Schicht 73. Ein geringfügig verzögerter,
zweiter Strahl 1b' des
zweiten Lasers 1b mit einer kürzeren Wellenlänge wird
auf den gleichen Punkt auf dem Werkstück aufgebracht, um das Loch 74a durch
einen oberen Abschnitt der oberen Schicht 72 hindurch zu
vergrößern, so
dass ein Loch 74b ausgebildet wird. Ein dritter Strahl 1c', der geringfügig zu dem
zweiten Strahl 1b' verzögert ist,
wird dann auf den gleichen Punkt auf dem Werkstück aufgebracht. Der dritte
Strahl 1c',
welcher die gleiche Wellenlänge
wie der zweite Strahl aufweist, jedoch näher zu oder tiefer in die Doppelschicht
hinein fokussiert ist als der zweite Strahl, vergrößert das
Loch durch die gesamte obere Schicht 72 hindurch, was den Dreistufen-Prozess
vollendet.
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Wie
in 7c gezeigt, weist das fertiggestellte Loch 74c einen
tieferen Abschnitt in der Mitte und einen flacheren Abschnitt im
Außenbereich
auf. Daher kann das im Obigen beschriebene Verfahren verwendet werden
zum Ausbilden von Löchern
mit Seitenwänden,
die zwei oder mehr zunehmend größere Durchmesser
haben, oder konisch zulaufenden Seitenwänden. Konisch zulaufende Löcher, insbesondere
wenn sie in relativ dicken Schichten ausgebildet sind, können vorteilhaft
bei nachfolgenden Beschichtungsschritten sein zum Verbessern der
Seitenabdeckung. Dies ist so, da gerade Löcher oder Schlitze, die in
dicken Schichten ausgebildet sind, oft steile und tiefe Seitenwände haben
und bei nachfolgenden Beschichtungsschritten, wie beispielsweise einer
Kontaktausbildung, das aufgedampfte Metall oft eine schlechte Abdeckung
der Seitenwände
bereitstellt.
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Die 6a–6d erläutern die
zeitliche Abfolge für
Laserimpulse für
den oben genannten Dreistufen-Prozess, wobei die 6a–6c die
jeweiligen Impulsserien der einzelnen Laser 1a–1c zeigen,
wohingegen 6d die kombinierte Impulsserie auf
der Bearbeitungsseite betrachtet zeigt. Bevorzugt ist der Scanner 6,
auf welchem das Werkstück
platziert ist, mit dem Triggern der Laser so synchronisiert, dass
der Scanner während
der Gruppe von drei aufeinanderfolgenden Laserimpulsen 1a', 1b' und 1c' stationär ist und
sich zu der nächsten
Position hin bewegt, bevor die nächste
Gruppe von drei Laserimpulsen ankommt.
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Diese
Vorrichtung und dieses Verfahren, die im Obigen beschrieben wurden,
ermöglichen
es, einen Mehrstufen-Prozess in einem einzigen Durchlauf zu erzielen.
Während
hier die Herstellung eines Lochs dargestellt ist, können komplexere
Mehrstufen-Prozesse und Schnittmuster in einem einzigen Durchlauf
erzielt werden durch Steuern der Relativbewegung des Werkstücks und
des Laserstrahls, der Arten der Laser und der zeitlichen Abfolgen.
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Im
Folgenden wird ein praktisches Beispiel für ein Herstellen einer Dünnfilm-Solarzelle
auf einem Glassubstrat unter Verwendung des Einzel-Durchlauf-Mehrstufen-Prozesses
gemäß der zweiten
Ausführungsform
der Erfindung beschrieben. Wieder auf die 5a–5d bezugnehmend ist
das Verfahren gemäß der zweiten
Ausführungsform ähnlich zu
jenem der ersten, zuvor beschriebenen Ausführungsform, mit der Ausnahme,
dass die Halbleiterschicht 11 nun eine Poly-Si-Schicht
von etwa 10 μm
Dicke ist und der zu 5b korrespondierende Schritt
nun ein Einzel-Durchlauf-Mehrstufen-Verfahren verwendet zum Ausbilden
der Isolationslinien 12 in der Poly-Si-Schicht 11.
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Zum
Ausbilden der Isolationslinien 12 in der Poly-Si-Schicht 11 wurden
zwei zweite Harmonische Nd:YAG-Laser in einem Zweistufen-Prozess
verwendet. Die Laserimpulse des ersten Lasers hatten eine Punktgröße von etwa
100 μm auf
der Bearbeitungsseite und entfernten etwa 4 μm der Poly-Si-Schicht. Der zweite,
um etwa 10 μs
zu dem ersten Impuls verzögerte
Laserimpuls hatte eine geringfügig
andere Fokussierung, und der Strahlpunkt auf der Bearbeitungsseite
war etwa 80 μm.
Die Halbleiterschicht in den Isolationslinien 12 wurde
vollständig
mittels dieses Einzel-Durchlauf-Zweistufen-Prozesses
entfernt.
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Bei
den oben genannten Ausführungsformen ist
die Anzahl von Lasern, die zum Erzeugen des kombinierten Strahl
verwendet werden kann, theoretisch durch die relative Einschaltdauer
der Impulsserien der Laserstrahlen, d.h. das Verhältnis des
Zeitraums zwischen den Impulsen und der Dauer der Impulse, begrenzt. Üblicherweise
sind, wenn die Laserimpulsfrequenz zwischen 1–20 kHz beträgt, die
Laserimpulse ziemlich kurz, wie beispielsweise 200 ns. Sogar wenn
die Pulsfrequenz 20 kHz ist, dauert es 50 μs zum Erzeugen jedes Impulses,
was eine relative Einschaltdauer von 250 ergibt. Daher ist bei dieser Erfindung
die effektive Impulsfrequenz des Bearbeitungsstrahls nur von der
Anzahl von verwendeten Lasergeneratoren begrenzt. Ferner ist es
in den meisten Fällen
effizienter, die Oberfläche
unter Verwendung relativ kleiner Laserpunkte zu bearbeiten. Wegen
der mit der Geometrie der zu bearbeiteten Muster verbundenen Probleme
ist es ideal, den TEM00-Modus zu verwenden.
Diese Betrachtungen werden in der Technik alle wohlverstanden und
können
vorteilhaft bei Ausführungsformen
der Erfindung verwendet werden, wie sie Fachmännern leicht ersichtlich werden
würden.
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Obwohl
im Kontext der Herstellung von Dünnfilm-Solarzellen
eine spezielle Anwendung für diese
Erfindung beschrieben wurde, ist deren Anwendung durch kein Mittel
auf den Solarzellenbereich beschränkt.
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Es
wird Fachmännern
ersichtlich werden, dass unterschiedliche Modifikationen und Variationen
bei einem erfindungsgemäßen Verfahren
zum Herstellen eines Dünnfilm-Transistors durchgeführt werden
können
ohne vom Umfang der Erfindung abzuweichen. Daher ist es beabsichtigt,
dass die Erfindung die Modifikationen und Variationen dieser Erfindung
abdeckt, vorausgesetzt sie fallen in den Umfang der beigefügten Ansprüche.