DE68916571T2 - Verfahren zur Erzielung weisser Referenzdaten, verwendet zur Korrektur von Nichtuniformität in einer fotoelektrischen Zellenreihe. - Google Patents

Description

• Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Erzielung weißer Referenzdaten, die für die Korrektur der Nicht-Gleichförmigkeit in einem fotoelektrischen Zellenfeld verwendet wird, das in einem Bildabtastleser, etwa einem Prozeßscanner verwendet wird.
Beschreibung des Standes der Technik
• Es ist in der Technik bekannt, ein fotoelektrisches Zellenfeld in einem Bildabtastleser vorzusehen, um ein Vorlagebild für jede Abtastzeile auszulesen, wobei das lineare fotoelektrische Zellenfeld eine Anzahl von Fotozellen hat. Die jeweiligen fotoelektrischen Ausgangs-Signale der Fotozellen sind auch dann nicht gleichförmig, wenn sie ein Vorlagebild mit einer gleichförmigen optischen Dichte ablesen, da die Empfindlichkeit der Fotozellen und die Beleuchtung der Vorlage nicht gleichförmig sind und wegen Fluktuationen und Dunkelströmen in den Fotozellen. Um die Nicht-Gleichförmigkeit zu kompensieren, werden die fotoelektrischen Signale derart korrigiert, daß gleichförmige Signale gewonnen werden, wenn eine Vorlage mit einer gleichförmigen Dichte mit einein fotoelektrischen Zellenfeld ausgelesen wird. Diese Korrektur wird in dem Stand der Technik als "Schattierungskorrektur" bezeichnet, siehe beispielsweise die DE-A-3 719 553, die eine derartige Schattierungskorrektur ermöglicht.
• Bei der Schattierungskorrektur wird eine weiße Bezugsplatte mit gleichförmiger Dichte geschaffen und weiße Referenzsignale werden durch das Auslesen der weißen Ebene mit dem fotoelektrischen Zellenfeld erzeugt. Eine Schattierungskorrekturtabelle wird sodann unter Bezugnahme auf die jeweiligen Pegel der weißen Bezugssignale erzeugt.
• Jedoch kann eine weiße Referenzplatte mit einer vollständigen Gleichförmigkeit in der Dichte praktisch kaum gewonnen werden, da unterschiedliche Fehler wie Staub oder Kratzer oft auf der weißen Bezugsplatte vorliegen. Infolgedessen müssen der Hersteller und der Verwender des Bildabtastlesers die Schattierungskorrektur mit einer fehlerhaften Weißreferenzplatte ausführen.
• Bei einer der Verbesserungen der Schattierungskorrektur wird die weiße Referenzplatte mit dem linearen fotoelektrischen Zellenfeld durch ein optisches System ausgelesen, das außerhalb des Fokus ist, wodurch Fehler auf der weißen Referenzplatte in der Projektion auf das lineare fotoelektrische Zellenfeld geglättet wird. Diese Verbesserung hat jedoch insofern einen Nachteil, als die Glättung nicht ausreichend ist, wenn das Vorlagebild auf das lineare fotoelektrische Zellenfeld durch ein optisches Reduktionssystem mit einer großen Tiefe des Feldes projiziert wird. Wenn die weiße Referenzplatte von der Vorlage nach vorne verlagert wird, so daß eine ausreichende Glättung erreicht werden kann, wird die Bedingung der Beleuchtung auf der weißen Referenzplatte unterschiedlich von derjenigen der Vorlage, wodurch die Schattierungskorrektur ihre Genauigkeit verliert.
• Bei einer anderen Verbesserung der Schattierungskorrektur wird die weiße Platte für eine Mehrzahl von Abtastzeilen ausgelesen, um so mehrere Sätze von weißen Referenzsignalen zu gewinnen. Sodann werden die Mehrzahl von Sätze der weißen Referenzsignale miteinander verglichen und eine von ihnen mit den maximalen Pegeln wird zur Schattierungskorrektur verwendet. Obwohl diese Verbesserung insofern einen Vorteil hat, als es den Einfluß von Dunkelfehlern auf der weißen Referenzplatte vermeiden kann, werden elektrisches Rauschen oder zeitweilige Peaks, die in dem linearen fotoelektrischen Zellenfeld auftreten können, von einem Signalprozessor als "maximale Pegel" aufgefaßt, wodurch bedeutungslose Peaks in unerwünschter Weise für die Schattierungskorrektur verwendet werden.
• Die Erfindung ist in den Ansprüchen angegeben.
• Die vorliegende Erfindung ist auf ein Verfahren zum Gewinnen von weißen Referenzdaten gerichtet, die für die Korrektur der Nicht-Gleichförmigkeit in Ausgangssignalen eines linearen fotoelektrischen Zellenfeldes so verwendet werden , das die Ausgangssignale des linearen fotoelektrischen Zellenfeldes selektiv vergrößert werden oder aber unterdrückt werden entsprechend den weißen Referenzdaten, wenn die Ausgangssignale durch Lesen eines Bildes einer Vorlage mit dem linearen fotoelektrischen Zellenfeld gewonnen werden.
• Die vorliegende Erfindung ist weiter auf einen Bildabtastleser gerichtet, der eine Funktion zum Korregieren der Nicht-Gleichförmigkeit hat.
• Entsprechend ist es eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, weiße Referenzdaten ohne unerwünschten Einfluß von Rauschen oder Fehlern auf einer weißen Bezugsebene zu schaffen.
• Eine weitere Aufgabe ist die Gewinnung von weißen Referenzdaten wie mit einem fokussierten optischen System.
• Es ist eine weitere Aufgabe, weiße Referenzdaten unabhängig von der Tiefe des Feldes eines optischen Systems zu erzeugen.
• Diese und weitere Aufgaben, Merkmale, Aspekte und Vorteile der vorliegenden Erfindung ergeben sich deutlicher aus der nachgehenden eingehenden Beschreibung der vorliegenden Erfindung in Verbindung mit den beiliegenden Zeichnungen.
KURZE ERLÄUTERUNG DER ZEICHNUNGEN
• Fig. 1 ist eine schematische Darstellung, die einen Bildabtastleser nach einem bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung zeigt,
• Fig. 2 ist ein schematisches Diagramm, das eine weiße Bezugsebene 3a zeigt, die konzeptionell in zwei Bereiche RA und RB geteilt ist, und
• Fig. 3 ist ein Flußdiagramm, das die Verfahrensschritte, die in dem Bildabtastleser ausgeführt werden, zeigt.
• Figur 1 zeigt einen Bildabtastleser 1 vom Flachbett- Typ, bei dem ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung angewendet wird. Der Bildabtastleser weist ein transparentes Plattenelement 2 auf, auf dem eine (nicht gezeigte) Vorlage mit der Vorderseite nach unten aufgelegt ist. Eine weiße Bezugsplatte 3 ist auf einen Endabschnitt der transparenten Platte angebracht. Die weiße Referenzplatte hat die Form eines Streifens und ihre Längsrichtung ist parallel zu der Hauptabtastrichtung Y. Die weiße Referenzplatte 3 kann wie üblich ausgebildet sein, ihre Grundfläche ist eine weiße Bezugsplatte 3a.
• Eine fokussierte Projektionslinse 4 ist unter der transparenten Platte 2 vorgesehen, durch die die Dichteverteilung auf der weißen Bezugsebene 3a oder des Bildes der Vorlage auf der transparenten Platte 2 auf die Meßfläche eines linearen CCD-Fotosensors 5 projiziert ist. Der lineare CCD-Fotosensor 5 hat ein lineares Feld von (nicht gezeigten) CCD-Zellen. Eine Hauptabtastung entlang der Richtung Y wird durch serielles Abfragen der CCD-Zellen entlang deren Ausrichtung gewonnen, um so eine Reihe von fotoelektrischen Signalen SI zu erzeugen. Das Lesen des Bildes mit dem linearen CCD-Fotosensors 5 wird ausgeführt, während die transparente Platte 2 entlang der Richtung (-X) bewegt wird, wodurch ein Abtasten entlang der Richtung X für die weiße Bezugsplatte 3a oder die auf die transparente Platte 2 aufgebrachte Vorlage ausgeführt wird.
• Die fotoelektrischen Signale oder die linearen Bildsignale SI, die so von dem linearen CCD-Fotosensor gewonnen werden, werden in einem Analogverstärker 6 verstärkt und sodann in digitale Daten SD durch einen A/D-Wandler 7 gewandelt.
• Wenn die weiße Bezugsebene 3a mit dem linearen CCD- Fotosensor 5 ausgelesen wird, um weiße Referenzdaten für die Schattierungskorrektur zu gewinnen, sind die digitalen Daten SD "weiße Dichtedaten", die die zweidimensionale Verteilung der optischen Dichten auf der weißen Referenzebene 3a als Dichteverteilung auf einem Bildpunktefeld ausdrücken. Andererseits werden, wenn die Vorlage nach dem Gewinnen der Referenzdaten gelesen wird, die digitalten Daten SD "Bilddaten" sein, die das Bild der Vorlage für jeden Bildpunkt ausdrückt. Da der charakteristische Aufbau der vorliegenden Erfindung auf einem Verfahren zum Gewinnen der weißen Bezugsdaten für die Schattierungskorrektur beruht, wird sich die nachfolgende Beschreibung hauptsächlich auf den vorangehenden Schritt beziehen, in dem die weiße Bezugsebene 3a ausgelesen wird und die digitalen Daten SD die weißen Dichtdaten sind.
• Die weißen Dichtdaten SD werden einer Schaltung 10 zur Erzeugung der weißen Bezugsdaten zugeführt. Die Schaltung 10 erzeugt die weißen Bezugsdaten S für jede Abtastlinie durch einen Vorgang, der später beschrieben werden wird, die weißen Bezugsdaten S werden einem Bildprozessor 8 zugeführt. Nach der Zufuhr der weißen Referenzdaten S wird das Bild der Vorlage mit dem linearen CCD-Fotosensor 5 ausgelesen und die derart gewonnenen Bilddaten werden dem Bildprozessor 8 über einen (nicht gezeigten) Übertragungsweg unter Umgehung der Schaltung 10 zugeführt . Die Schattierungskorrektur für die Bilddaten werden in dem Prozessor 10 auf der Grundlage der weißen Bezugsdaten S gewonnen. Eine Gradationskorrektur und andere Steuerungen zur Reproduktion des Bildes auf einem fotoempfindlichem Material durch Überstreichen werden auch in dem Bildprozessor 8 ausgeführt. Der Bildprozessor 8 kann einen Dividierer zum Dividieren der weißen Referenzdaten S um eine ganzzahlige Zahl einschließen, was weiter unten beschrieben werden wird. Der Kontroller 9 kann die Schaltung 10 steuern.
B. Einzelheiten des bevorzugten Ausführungsbeispiels
• Bei dem Vorgang des Erzeugens der weißen Referenzdaten S ist die weiße Referenzebene 3a gedanklich in eine Mehrzahl von Bereichen RA und RB aufgeteilt (Fig. 2) die miteinander in der Nebenabtastrichtung X ausgerichtet sind. Während die weiße Bezugsebene 3a die Form eines Streifens hat, der sich entlang der Hauptabtastrichtung Y erstreckt, sind die Bereiche RA und RB Teilstreifen, die sich entlang der Längsrichtung der weißen Referenzebene 3a erstrecken und miteinander parallel sind. Es ist zu beachten, daß die Teilung der weißen Referenzebene 3a nur gedanklich vorhanden ist und nur zum besseren Verständnis der vorliegenden Erfindung eingeführt wird und daß die Teilung nicht eine tatsächliche Teilung der Referenzebene 3a ist. Falls erwünscht, kann die weiße Referenzplatte 3 jedoch in zwei Streifen von Unterplatten aufgeteilt sein, um die Bereiche RA und RB voneinander zu trennen. Das heißt, die Bereiche RA und RB können auf einer einzelnen Platte definiert sein, oder können alternativ auf unterschiedlichen Unterplatten ausgerichtet sein. Bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel liegen die Bereiche RA und RB auf einer einzelnen Referenzebene 3 vor, wie in Figur 2 gezeigt, um einer Erhöhung der Elemente in ihrer Anzahl zu vermeiden.
• Auf den Bereichen RA und RB sind parallele Abtastlinien LA1 - LAN (n ≥ 2) und LB1 - LBm ( m ≥ 2) angeordnet. Die ganzzahligen und können miteinander identisch sein, alternativ können sie sich auch voneinander unterscheiden. Diese Abtastlinien sind gedanklich definiert zum Abtasten der Bereiche RA und RB, es sind nicht tatsächlich auf der weißen Bezugsebene 3a gezogene Linien. Da die Teilung der weißen Referenzebene 3a und die Erstellung der Abtastlinien LA1 - LAn und LB1 - LBm gedanklich erhalten worden sind durch Datenverarbeitungen zugehörig zu dem Abtasten der weißen Referenzebene 3a, kann die weiße Referenzebene 3 selbst eine einfache weiße Platte sein.
• In Antwort auf ein Startkommando werden die optischen Dichten auf den Abtastlinien LA1 - LAn, die zu dem ersten Bereich RA gehören, für jeden Bildpunkt durch den linearen CCD-Fotosensor 5 (den Prozeßschritt 101 in Fig. 3) ausgelesen oder erkannt. Die Erkennung wird durchgeführt, während die transparente Platte 2 entlang der Richtung (-X) mit der weißen Referenzplatte 3 auf dieser bewegt wird, wodurch die jeweiligen optischen Dichten auf den Abtastlinien LA1 - LAn seriell ausgelesen oder in dieser Reihenfolge erkannt sind. Eindimensionale weiße Dichtdaten SD für die erste Abtastzeile LA1, die derart gewonnen sind, haben K Komponenten, wobei K die Anzahl der Fotozellen angibt, die in dem linearen CCD-Fotosensor 5 vorhanden sind. Die Zahl K drückt die Anzahl der Bildpunkte auf einer Abtastlinie aus, die voneinander mit jeweiligen Y-Koordinatenwerten diskriminiert werden. Die Daten SD werden in einem Zeilenspeicher 12a (Fig. 1) für jeden Bildpunkt durch einen Selektor 11a gespeichert. Sodann werden die weißen Dichtdaten SD für die erste Abtastzeile LA1 aus dem Zeilenspeicher 11a für jeden Bildpunkt als Daten SD synchron mit der Erkennung der weißen Dichtdaten SD für die zweite Abtastzeile LA2 ausgelegt. Der andere Eingang des Addierers 16 sind die Eindimensionalen Dichtdaten SD für die zweiten Dichtdaten. Diese beiden Eingangssignale des Addierers werden miteinander für jeden Bildpunkt addiert, um Daten SI zu gewinnen.
• Vor der Addition in dem Addierer 16 wird der Selektor 11a umgeschaltet, um den Zeilenspeicher 12a auf einen Selektor 13 umzuschalten und der Selektor 13 verbindet den Addierer mit dem Zeilenspeicher 12a, so daß eine Schleife, die zyklisch den Zeilenspeicher 12a, den Selektor 15, den Addierer 16 und die Selektoren 13 und 11a verbindet, erstellt wird. Infolgedessen werden die Daten SI zu einem Zeilenspeicher 12a übertragen und werden für jeden Bildpunkt unter entsprechenden Adressen in dem Zeilenspeicher 12a unter seriellem Löschen der alten Daten, die darin gespeichert waren, gespeichert. Das heißt, die alten Daten in dem Zeilenspeicher 12a werden durch die neuen Daten SI über eine Lese- Modifizier-Schreibbetrieb ersetzt. Ein weiterer Zeilenspeicher 11b und ein Komparator 14 werden während des vorangehenden Verfahrensschrittes gesperrt und tragen nicht zu dem Betrieb der Schleife bei. Jedes der Zeilenspeicher 11a und 11b hat eine Speicherkapazität, die einer Abtastlinie entspricht.
• Der Kontroller 9 kann betätigt werden, um Adreßsignale ADRS und Steuersignale CONT zu erzeugen, durch die die Schreib/Lese-Steuerung der Zeilenspeicher 11a und 11b erreicht wird. Die anderen Elemente in der Schaltung 10a werden auch bezüglich ihren Betriebszeiten durch die Steuersignale CONT gesteuert.
• Der Lese-Modifizier-Schreibvorgang wird für alle Abtastzeilen LA1 - LAn, die zu dem ersten Bereich RA gehören, wiederholt, so daß die jeweiligen weißen Dichtdaten für die Abtastzeile LA1 - LAn akkumuliert oder entlang der Nebenabtastrichtung X für jeden Y-Koordinatenwert aussummiert werden (der Verfahrensschritt 102). Daten SACC (nicht gezeigt) drücken die akkumulierten Werte oder Summen aus, die in dem Zeilenspeicher 11a gespeichert sind. Da die Akkumulation nur entlang der Nebenabtastrichtung X ausgeführt wird, weisen die Daten SACC eine Anzahl von Komponenten auf, die jeweiligen Y-Koordinatenwerten oder Bildpunkten entsprechen. Beispielsweise ist die Komponente D&sub1; der die Summe an der Position Y =Y&sub1; ausdrückende Daten SACC
• D&sub1; = IA1 + IA2 + ... + IAn ... (1)
• wobei IA1 - IAn die Werte der weißen Dichtdaten SD an den jeweiligen Bildpunkten mit der Koordinate Y = Y&sub1; der Abtastlinie LA1 - LAn sind. Entsprechend drücken die anderen Komponenten der Daten SACC die jeweiligen Summen bei den anderen Y-Koordinatenwerten aus und die Daten SD bestehen daher aus K-Komponenten.
• Die Daten SACC sind im wesentlichen einem Mittelwert SAV der jeweiligen weißen Dichtdaten für die Abtastlinien LA1 - LAn äquivalent, da die Daten SACC die Summen ausdrücken und die Anzahl oder der Faktor eine Konstante bei der Definition des Mittelwertes SAV ist:
• SAV = SACC/n ... (2)
• Der Wert des Mittelwerts AAV kann durch Dividieren des Wertes der Daten SACC durch die Zahl unterstrichen gewonnen werden. Wenn die Zahl gleich ist, kann der Mittelwert SAV durch Vorsehen eines 1/n-Dividierers an der Eingangsstufe des Schaltkreises 10 gewonnen werden. Da jedoch der Mittelwert SAV einfach aus den Daten SACC abgeschätzt werden, kann, wie in Figur 1 gezeigt, auf einen 1/n-Dividierer verzichtet werden. In der vorliegenden Erfindung wird der Begriff "Mittelwert" in seiner breiten Bedeutung verwendet und kann jede Menge sein, die den kollektiven Charakter der weißen Dichtdaten ausdrückt. Die Daten SACC sind direkt einem einfachen Mittelwert SAV proportional, diese Daten sind daher in das Konzept des "Mittelwerts" in dem breiten Sinn eingeschlossen.
• Nachdem die "gemittelten" Daten für den ersten Bereich RA in dem Zeilenspeicher 12a in Form der Daten SACC gewonnen sind, wird eine entsprechende Operation für den Zeilenbereich R8 (die Verfahrensschritte 103 und 104) ausgeführt. Bei dem Prozeß für den zweiten Bereich R8 wird der Zeilenspeicher 12b verwendet und der Sensor 15 selektiert einen Ausgang 5b des Zeilenspeichers 12b. Der Selektor 11b verbindet den Zeilenspeicher 12b des A/D-Wandlers 7, um die weißen Dichtedaten SD für die Abtastlinie LB1 in dem Zeilenspeicher 12b anzugeben. Sodann wird zu der anderen Seite umgeschaltet, um den Ausgang des Addierers 16 mit dem Zeilenspeicher 12b zu verbinden. Eine Akkumulation oder Summation durch den Lese-Modifizier-Schreibvorgang wird in einer weiteren Schleife durchgeführt, die aus den Elementen 12b, 15, 16 und 11b besteht. Wenn die Erkennung der jeweiligen Dichtelevel für die Abtastlinien LB1 - LBm, die zu dem zweiten Bereich RB abgeschlossen ist, werden die Summen oder "Mittelwerte" der jeweiligen weißen Dichtdaten für die Abtastlinien LB1 - LBm in dem Zeilenspeicher 12b in Form "gemittelter" Daten gewonnen, einschließlich einer Mehrzahl von Komponenten, die die gemittelten weißen Dichtelevel für jeden Y-Koordinatenwert oder jeden Bildpunkt ausdrücken.
• Die Komponente D&sub2; entsprechend der Position Y = Y&sub1; ist, beispielsweise, die Summe oder der Mittelwert jeweiliger weißer Dichtdaten -LB1 - LBm an der Position Y = Y&sub1; der Abtastzeilen LB1 - LBm, das heißt,
• D&sub2; = IB1 + 1B2 + ... + IBm ... (3) .
• Die ersten und zweiten gemittelten Daten, die in dem Zeilenspeicher 12a bzw. 12b gespeichert sind, werden aus diesem für jedes Bildpunkte oder jeden Y-Koordinatenwert ausgelesen, um dem Komparator 14 zugeführt zu werden. Der Komparator 14 vergleicht die jeweiligen gemittelten Daten miteinander, um den maximalen Wert MAX für jeden Y-Koordinatenwert zu bestimmen. Wenn der Speichervorgang fortschreitet, werden die gemittelten Daten, die in dem Zeilenspeicher 12a gespeichert worden sind, seriell gelöscht und durch die Daten SM ersetzt.
• Nachdem die maximalen weißen Daten SM für alle Y-Koordinatenwerte in dem Zeilenspeicher 12a gespeichert sind, werden die Daten SM aus dem Zeilenspeicher 12a in zeitlicher Reihenfolge ausgelesen, um einen Bildprozessor 8 als weiße Bezugsdaten S zugeführt zu werden. Die weißen Bezugsdaten weisen K-Komponenten auf, die der Anzahl der Bildpunkte oder der Koordinatenwerte entlang der Y-Richtung entsprechen. Bei jedem Y-Koordinatenwert drückt die entsprechende Komponente die Maximalen der ersten und zweiten gebildeten Daten aus. Wenn D&sub1; > D&sub2; bei Y = Y&sub1;, ist die Komponente der weißen Bezugsdaten Y = Y&sub1; der größere D&sub1; dieser. Für die Gleichungen (1) und (3) gelten die folgenden Beziehungen:
• wobei = . Eine ähnliche Beziehung gilt für die anderen Werte von Y.
• In dem nächsten Verfahrensschritt 106 teilt der 1/n- Dividierer, der in dem Bildprozessor 8 vorgesehen ist, die weißen Bezugszeichen S durch die Ziffer ( = ), um so Daten SC (nicht gezeigt) zu erzeugen.
• Wenn dagegen wird ein 1/n-Dividierer zwischen dem Komparator und dem Zeilenspeicher 12a eingesetzt, während ein 1/m-Dividierer zwischen dem Komparator 14 und dem Zeilenspeicher 12b eingesetzt wird. In diesem Fall ist der 1/n-Dividierer in dem Bildprozessor 8 weggelassen, da die Daten SC, die nur ein grober Mittelwert der weißen Dichtdaten sind, in der Schaltung 10 in folgender Form gewonnen sind:
• Die anderen Komponenten der Daten SC entsprechen den Y-Koordinatenwerten, die nicht Y = Y&sub1; sind, werden als Werte gewonnen, ähnlich den Ausdrücken (5) oder (6).
• Nachdem die Daten SC gewonnen worden sind, wird das Bild der Vorlage mit dem linearen CCD-Fotosensor 5 für jedes Bildpunkte auf der Abtastlinie durch die Kombination der Hauptabtastung und der Nebenabtastung gelesen (Verfahrensschritt 107), die Bilddaten werden in den Bildprozessor 8 übertragen. Der Bildprozessor 8 korrigiert die Bilddaten auf der Grundlage der Daten SC, die die Nicht-Gleichförmigkeit der CCD-Zellen ausdrücken (Verfahrensschritt 108). Das heißt, die Bilddaten für die Bildpunkte mit einem Y-Koordinatenwert, bei denen die Daten SC einen relativ kleinen Wert ausdrücken (d. h., einen "dunklen" Wert), ist relativ verstärkt, und/oder diejenigen, die einen Y-Koordinatenwert haben, bei dem die Daten SC einen relativ kleinen wert ausdrücken (d.h., "helle" Werte) ist relativ unterdrückt. Die korrigierten Bilddaten werden sodann der Gradationskorrektur und anderen Verarbeitungsschritten unterzogen (Verfahrensschritt 109), um einem (nicht gezeigten) Bildrecorder zugeführt zu werden für die Bildaufzeichnung oder die Reproduktion des Vorlagebildes für jeden Bildpunkt (Verfahrensschritt 110).
C. Vorteil des bevorzugten Ausführungsbeispiels und von Abweichungen
• Nach dem bevorzugten Ausführungsbeispiel werden die jeweiligen weißen Dichtdaten für die Mehrzahl der Abtastzeilen LA1 - LAn (LB1 - LBm) in jedem der Bereiche RA und RB gemittelt. Die Fluktation in der optischen Dichte, etwa durch kleine Fehler wie Staubkörnchen 21 oder einem Kratzer 22 (Fig. 2), werden daher ausgeglichen. Wenn relativ erheblicher Staub 23 auf der weißen Bezugsebene 3a vorliegt, kann die Einwirkung des Staubes 23 auf die weißen Bezugsdaten S durch Verwendung der maximalen Daten in den jeweiligen gemittelten weißen Dichtdaten für die Bereiche RA und RB eliminiert werden, da der Staub 23 in den meisten Fällen nicht so groß ist, daß er sich von einem Bereich zu dem anderen Bereich erstreckt. Infolgedessen sind die weißen Bezugsdaten S insofern erwünscht, als der Einfluß der Fehler erheblich eliminiert wird und die anderen Daten S sind mit denen vergleichbar, die von einer idealen vollständigen Bezugsebene ohne Fehler gewonnen worden sind.
• Wenn der Bildabtastleser 1 mit einer weißen Bezugsplatte und einer schwarzen Bezugsplatte versehen ist, um weiße Bezugsdaten und schwarze Bezugsdaten zu gewinnen, kann der Schaltkreis 10 verwendet werden, um die Bezugsdaten auch als weiße Bezugsdaten zu verwenden. Da die Schaltung 10 einen relativ einfachen Aufbau hat, kann dieser ohne Zunahme an Kosten erzeugt werden.
• Die weiße Bezugsebene 3a kann gedanklich in drei oder mehr Bereiche aufgeteilt sein. Wenn die Anzahl der Bereiche N ist (N ≥ 2), werden die Prozeßschritte des Erkennens der zweidimensionalen Verteilung der optischen Dichte in einem J-th Bereich (1 ≤ J ≤ N) und des Bildens des Mittelwerts der Nebenabtastrichtung X für alle ganzen Zahlen J innerhalb 1 ≤ J ≤ N wiederholt. Der Mittelwert der weißen Dichtdaten können eine Quadratwurzel oder eine Quadratsumme sein, ein geometrischer Mittelwert oderdergleichen. Die maximalen weißen Daten SM drücken den weißesten Dichtewert für jeden Bildpunkt in den jeweils gemittelten Daten aus und es ist daher der Maximalwert, wenn die weißen Dichtdaten SD Helligkeit ausdrücken, während es der Minimalwert ist, wenn die weißen Dichtdaten SD Dunkelheit ausdrücken. Der zweite Fall entspricht der Modifikation, bei dem die weißen Dichtdaten SD durch eine Schaltung gewonnen werden zum Nehmen des Komplementes der fotoelektrischen Signale SI. Das heißt, der Begriff "Maximum" wird in der vorliegenden Erfindung verwendet, um die hellste optische Dichte auszudrücken, so daß die örtliche Dunkelheit, die durch Fehler auf der weißen Bezugsebene verursacht werden, aus den weißen Bezugsdaten eliminiert werden. Die weiße Bezugsebene kann ein Teil der transparenten Platte 2 sein, die weiß gestrichen ist.

Claims (7)

1. Ein Verfahren zum Gewinnen von weißen Referenzdaten (S), die zum Korrigieren einer Nicht-Gleichförmigkeit von Ausgangssignalen (SI) eines linearen fotoelektrischen Zellenfeldes (5) verwendet werden, um selektiv die Ausgangssignale (2I) des linearen fotoelektrischen Zellenfeldes (5) entsprechend den weißen Referenzdaten (S) zu verstärken oder zu unterdrücken, wenn die Ausgangssignale (SI) durch das Lesen eines Bildes einer Vorlage mit dem linearen fotoelektrischen Zellenfeldes (5) gewonnen werden, wobei das Verfahren die folgenden Schritte aufweist:

(A) Lesen einer weißen Referenzplatte (2),

(B) Gewinnen weißer Referenzdaten (S) auf einer Mehrzahl von Abtastlinien (LA1, LA2, ..., LAn) und

(C) Bilden des Mittelwertes der Daten (S) gekennzeichnet durch

(1) Schaffen einer weißen Bezugsebene (3a), die erste bis N-ten Bereiche (R), die in einer ersten Richtung X angeordnet sind, wobei N eine ganze Zahl größer als 1 ist, aufweist, und

wobei die ersten N-ten Bereiche (R) Streifenbereiche (R) sind, deren jeweilige Längsrichtungen parallel zu der zweiten Richtung Y sind,

(2) Erzeugen erster bis N-ter gemittelter Daten (SD) durch die folgenden Schritte:

(2a) Auswählen eines J-ten Bereichs (RJ) innerhalb der ersten bis N-ten Bereiche, wobei J eine ganze Zahl ist, die die Bedingung 1 ≤ J ≤ N erfüllt,

(2b) Erkennen der Verteilung der optischen Dichten in dem J-ten Bereich (RJ) mittels des linearen fotoelektrischen Zellenfeldes (5) zum Erzeugen von J-ten weißen Dichtedaten, die die Verteilung angeben,

(2c) Bilden des Mittelwertes der J-ten weißen Dichtedaten in der ersten Richtung X zum Erzeugen von J-ten gemittelten Daten, die eine Mehrzahl von K-Komponenten aufweisen, denen jeweilige Positionen zugeordnet sind, die voneinander durch Y-Koordinatenwerte unterschieden sind, wobei Y eine zweite Richtung ist, die senkrecht zu der ersten Richtung X verläuft, und

(2d) Wiederholen der Schritte (2a) bis (2c) unter seriellem Erneuern der ganzen Zahl J unter der Bedingung 1 ≤ J ≤ N, um so die ersten bis N-ten gemittelten Daten (SD) zu erzeugen,

(3) Vergleichen der ersten bis N-ten gemittelten Daten (SD) miteinander, um das maximalen (MAX) der ersten bis N-ten gemittelten Daten (SD) für jede Position (Yi), das mit einem Y-Koordinatenwert versehen ist, auszuwählen, wodurch eine Mehrzahl von ausgewählten Maximalen (Dmax) entsprechend den jeweiligen Y-Koordinatenwerten (Yi) identifiziert werden, und

(4) Erzeugen von weißen Referenzdaten (SC) aus der Mehrzahl der ausgewählten Maxima (Dmax).

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Schritt (2b), den folgenden Schritt aufweist:

(2b-1) Erkennen der eindimensionalen Verteilung der optischen Dichte in jeder der verschiedenen Abtastzeilen (LA1, LA2, ..., LAn (n ≤ 2) LB1, LB2, ..., LBm (m ≤ 2)), die sich in der zweiten Richtung Y erstrecken und in der ersten Richtung X aufgereiht sind, mittels des linearen Zellenfeldes (5), um so eine Mehrzahl von eindimensionalen Dichtedaten IAn; IBm) als die J-ten weißen Dichtedaten zu erzeugen, und

der Schritt (2c) der den nachfolgenden Schritt auf weist:

(2C-1) Bilden des Mittelwerts aus der Mehrzahl der eindimensionalen Dichtedaten (IAn; IBm) in der ersten Richtung X zum Erzeugen der J-ten gemittelten Daten (SAV).

3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß das maximale Datum (Dmax) die weißeste optische Dichte innerhalb der jeweiligen Komponenten K der ersten bis N-ten gemittelten Daten (SAV), die demselben Y-Koordinatenwert zugeordnet sind, ausdrückt.

4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß eine gleiche Anzahl (n) von Abtastlinien (LA1, LA2, ..., LAn (n ≤ 2)) auf jedem der ersten bis N-ten Bereiche (R) definiert ist,

wobei die Mehrzahl der eindimensionalen Dichtedaten (SD) K Komponenten hat, wobei K eine ganze Zahl ist, die eine Anzahl von Bilddaten ausdrückt, die voneinander bezüglich der Y-Koordinatenwerte auf einer Abtastlinie unterschieden werden, und

der Schritt (2C-1) den folgenden Schritt aufweist:

(2C-1) Aufsummieren der jeweiligen Komponenten der Mehrzahl der Zeilendichtedaten (SD) für jeden Y-Koordinatenwert, um so die J-ten gemittelten Daten (SACC) zu erzeugen.

5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß

- das lineare fotoelektrische Zellenfeld in einem Bildabtastleser (1) vorgesehen ist,

- der Bildabtastleser (1) betrieben wird, um das Bild einer Vorlage durch eine Kombination eines Hauptabtastens und eines Nebenabtastens zu lesen, und

- die erste (X) und die zweite (Y) Richtung eine Nebenabtastrichtung bzw. eine Hauptabtastrichtung in dem Bildabtastleser sind.

6. Bildabtastleser (1), mit:

(1) einem Aufnahmemittel zum Tragen einer Vorlage,

(2) einer weiße Referenzplatte (3), die an dem Aufnahmemittel angebracht ist,

wobei eine Fläche der Referenzplatte (3) in einer Ebene ist, die durch eine erste Richtung (X) und eine zweite Richtung (Y), die zueinander rechtwinklig verlaufen, definiert ist,

(3) einem linearen Fotosensorfeldmittel (5), das sich in der Richtung dem Aufnahmemittel zugewandt erstrecken,

(4) einem Mittel zum relativen Bewegen des Aufnahmemittels und des linearen Fotosensorfeldmittels in der ersten Richtung,

(5) einem Mittel, das es den Mitteln nach 3) und 4) erlaubt, die Verteilung optischer Dichten auf der weißen Referenzplatte (3) für M Abtastzeilen zu erkennen, die sich jeweils in der zweiten Richtung (Y) erstrecken, wobei M eine ganze Zahl größer als eins ist,

(6) einem Mittel zum Bilden des Mittelwertes der Verteilung für Abtastzeilen innerhalb der M-Abtastzeilen für jede Position entlang der zweiten Richtung zum Erzeugen von ersten gemittelten Daten, wobei n eine ganze Zahl größer als eins ist, und

(7) einem Lesemittel zum Lesen eines Bildes der Vorlage für jede Abtastzeile mittels der Mittel nach 3) und 4), um so nichtkorrigierte Bilddaten der Vorlage zu gewinnen, und

(8) einem Korrekturmittel für die Vorlagebilddaten unter Verwendung weißer Referenzdaten (S),

gekennzeichnet durch

(9) ein Mittel zum Bilden des Mittelwerts der Verteilung Abtastzeilen innerhalb der M Abtastzeilen für eine Position entlang der zweiten Richtung, um zweite gemittelte Daten zu erzeugen, wobei M eine ganze Zahl ist, die die Bedingung M = n + m erfüllt und sowohl und ganze Zahlen größer als eins sind,

(10) einem Komparationsmittel zum Vergleichen der ersten und zweiten gemittelten Daten miteinander, um erste und zweite gemittelte Daten für jede Position entlang der zweiten Richtung auszuwählen, um einen Satz von Maximalwerten zu gewinnen, und

(11) einem Speichermittel zum Aufbereiten weißer Referenzdaten (SM) aus dem Satz der Maximalwerte (MAX).

7. Bildabtastleser nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß

- die Abtastzeilen auf einem ersten Bereich (RA) einer Fläche der weißen Referenzplatte definiert sind,

- die Abtastzeilen auf einem zweiten Bereich (RB) der Fläche definiert sind, und

- die ersten und zweiten Bereiche (RA, RB) Streifenbereiche sind, die parallel zueinander angeordnet sind.