DE2743955B2 - Halbleiterspeicher - Google Patents
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf einen Halbleiterspeicher mit einer Vielzahl von in Matrixform angeordneten
Speicherzellen.
ίο Ein Halbleiterspeicher, wie etwa ein bipolarer
Speicher, umfaßt eine Anzahl von Speicherzellen, die in Form einer Matrix angeordnet sind. Jede Zelle ist
zwischen einem Paar von in einer Zeile angeordneten Wortleitungen angeschlossen und ebenso zwischen
einem Paar von in einer Spalte angeordneten Stellenleitungen.
Wenn eine der Speicherzellen zum Schreiben oder Lesen ausgewählt wird, wird ein Adressierimpuls an
eine der Wortleitungen, die an die ausgewählte Zelle
angeschlossen ist, angelegt
Die Zugriffszeit bei dieser Art von Speicher wird
hauptsächlich sowohl durch die Anstiegs- als auch die Abfallszeit des Wortleitungspotentials bestimmt, das
sich infolge des an die Wortleitung angelegten
Was die Anstiegszeit des Potentials auf der Wortleitung anbelangt, hat die Technik bereits einige
erfolgreiche Lösungen zur Verwirklichung eines vernünftig raschen und abrupten Potential anstiegs geschaf-
fen.
Verbesserungen hinsichtlich der Abfallzeit des Potentials auf der Wortleitung galten als viel schwieriger zu
erreichen. In Fällen, wo eine große Anzahl von Speicherzellen in einem Speicherfeld verwendet wird,
müssen die ungünstigen Wirkungen von Streukapazitäten zwischen der Wortleitung und Masse auf die
Abfalizeit des Potentials auf der Wortleitung in Betracht gezogen werden. Wenn eine der Speicherzellen zum
Lesen oder Schreiben ausgewählt wird, wird die daran
«ο angeschlossene Wortleitung auf ein hohes Potential
geschaltet, mit der Folge, daß sich die Streukapazität zwischen der Wortleitung und Masse auflädt.
Nach Beendigung des Lese- oder Schreibzyklus wird die Wortleitung auf ein niedriges Potential zurückge
bracht. Wegen der während des Lese- oder Schreibzy
klus in der Streukapazität gespeicherten Ladung, ist jedoch eine relativ lange Zeit nötig, um die Wortleitung
auf das niedrige Potential zu bringen.
Dieses langsame Abfallen des Potentials auf der
Wortleitung verhindert, daß der Speicher mit hoher
Geschwindigkeit betrieben werden kann.
Ein herkömmlicher und unzureichender Versuch, dieses Problem zu lösen, besteht darin, einen zusätzlichen Strom zu der ausgewählten Zelle während der
Zeit, während der der Wortadressierimpuls an die Wortleitung angelegt wird, vorzusehen. Messungen
zeigten nämlich, daß die hierdurch erreichte Verbesserung vergleichsweise gering war.
Stand der Technik hierzu ist in den offengelegten
japanischen Patentanmeldungen 6il 036/73 und
22 829/74 beschrieben.
Aufgabe der Erfindung ist es daher, einen Halbleiterspeicher zu schaffen, der durch Versteilerung der
Rückflanke des Wortadressierimpulses mit hoher
Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, daß an die zweite Wortleitung parallel zu der Konstant stromquell eine
Stromschalteinrichtung angeschlossen ist, die während
einer vorgegebenen Zeitspanne wenigstens unmittelbar nach Abschalten des Wortadressierimpulses leitend ist
Dadurch wird die in der Streukapazität zwischen der Wortleitung und Masse gespeicherte Ladung abrupt
abgeleitet Auf diese Weise wird eine Verkürzung der Abfallzeit des Potentials auf der Wortleitung in dem
Zeitpunkt erreicht, wo der daran angelegte Wortadressierimpuls von hohem Pegel auf niedrigen Pegel
geschaltet wird.
Im folgenden werden die Erfindung und Stand der Technik anhand der Zeichnung im einzelnen beschrieben.
Auf dieser zeigt bzw. zeigen
F i g. 1 ein Schaltbild eines Stand der Technik bildenden bipolaren Speichers,
F i g. 2A und 2B an Wortleitungen und Stellenleitungen beim Schreiben bzw. Lesen angelegte Potentiale,
F i g. 3 Kurven des Potentials auf der Wortleitung, das sich auf den Wortadressierimpuls hin ändert,
Fig.4 ein Schaltbild einer ersten Ausführungsform der Erfindung,
F i g. 5 impulsformen an verschiedenen Punkten der Schaltung der F i g. 4,
F i g. 6 Kurven des Potentials auf der Wortleitung,
F i g. 7,8 und 9 Schaltbilder weiterer Ausführungsformen
der Erfindung,
Fig. 10 Impulsformen an verschiedenen Punkten der
Schaltung der F i g. 9 und
F i g. 11 ein Schaltbild, welches eine weitere Ausführungsform
der Erfindung darstellt.
Zum besseren Verständnis der Erfindung wird zunächst ein Stand der Technik bildender bipolarer
Speicher unter Bezugnahme auf F i g. 1 erläutert.
Ein Speicherfeld enthält eine große Anzahl von Speicherzellen, die in Matrixform angeordnet sind. In
F i g. 1 sind zur Vereinfachung der Erläuterung nur zwei Reihen und zwei Spalten von Speicherzellen dargestellt.
Jede Speicherzelle besteht aus einem Paar von kreuzgekoppelten Transistoren. Beispielsweise besteht
die Speicherzelle C0 aus den Transistoren Qx, und Q,\
mit Kollektoren, die über Widerstände Rux, bzw. Rlb\
mit einer Wortleitung Lm verbunden sind, mit ersten
Emittern, die mit Stellenleitungen A» bzw. An verbunden sind, und mit zweiten Emittern, die
miteinander gekoppelt sind. Die miteinander gekoppelten Emitter des Transistorenpaares Qm, Qh sind über
einen Widerstand Reo mit einer Konstantstromquelle 10a verbunden, die einen Transistor Qsro und einen
damit verbundenen Widerstand Rsto umfaßt. An die
Basiselektrode des Transistors Qsm wird eine Gleichspannung
Vcs angelegt, so daß der Transistor einen durch eine Leitung Xsto fließenden konstanten Strom
liefern kann.
Die Konstantstromquelle 10a ist vorgesehen, um den Zustand jeder an die zwei Wortleitungen Lxo und Xsto
angeschlossenen Speicherzelle durch Zufuhr des Stromes zu halten, der notwendig ist, um ihren Zustand
während des Arbeitszyklus zu halten.
Die anderen Speicherzellen Ci, C3, von denen jede ein
Paar kreuzgekoppelter Transistoren aufweist, sind in ähnlicher Weise mit einer anderen Stromquelle 106
verbunden.
Die Bezugszeichen 11,12,13 und 14 bezeichnen eine
Abfrageschaltung, eine Schreibsteuerschaltung, eine Stellenadressiersteuerschaltung und eine Konstantstromquelle.
Die Abfrageschaltung 11 enthält ein Paar
von Transistoren Qnroo und Qrcfo\, die an ihren
Emitterelektroden mit den Stellenleitungen Ax> und Ai und an ihren Basiselektroden über eine Leitung LR mit
einer Klemme R verbunden sind, an welche eine Referenzspannung angelegt wird.
Die Schreibsteuerschaltung 12 enthält einen Transistor Qivoo. der an seiner Emitterelektrode mit der
Stellenleitung Ae und an seiner Basiselektrode über eine Leitung Lw mit einer Klemme Wo verbunden ist,
und einen Transistor Qwou der an seiner Emitterelektrode mit der Stellenleitung An und an seiner Basiselektrode
über eine Leitung Lw\ mit einer Klemme Wl
ίο verbunden ist
Die Stellenadressiersteuerschaltung 13 umfaß*, ein
Paar von Transistoren Qyv>
und Qn\, deren Emitterelektroden mit den Stellenleitungen A» bzw. An und
deren Basiselektroden gemeinsam mit der Klemme Yo
verbunden sind.
Die Konstantstromquelle 14 enthält Transistoren Qroo und Qm, deren Basiselektroden mit der Gleichspannung
Vcs verbunden sind, so daß die beiden Transistoren konstante Ströme liefern können, die
durch die beiden Stellenleitungen fließen.
Der Lesevorgang wird unter Bezugnahme auf die F i g. 2A erklärt
Es sei angenommen, daß die Speicherzelle Ca für das Lesen ausgewählt wird, während die übrigen Zellen, wie
Ci, Ci und Ci, nicht ausgewählt werden. Für die
Speicherzelle Co wird willkürlich definiert, daß sie die
Information einer logischen »0« speichert wenn der Transistor Qa eingeschaltet und der Transistor Q»
ausgeschaltet ist. Umgekehrt wird definiert, daß sie eine logische »1« speichert, wenn der Transistor Qn
ausgeschaltet und der Transistor Qn eingeschaltet ist
Für die folgende Erklärung wird angenommen, daß eine logische »0« in der Speicherzelle CJ gespeichert ist
Während des Lesezyklus der ausgewählten Zelle Co
werden die in F i g. 2A bei Vxh, Vxl, VVl, Vyh und VRH
gezeigten Potentiale in entsprechender Zuordnung auf die Klemmen Xo, ΛΊ, Yo, Ki und R gelegt. Die Klemmen
Wa und IVi sind beide auf dem bei Vwl gezeigten
Potential.
Das Potential am Kollektor des ausgeschalteten Transistors CJbi sowie an der Basiselektrode des
eingeschalteten Transistors Qoo ist nahezu gleich dem Potential Vxh auf der Wortleitung Lxo. Andererseits
befinden sich die Kollektorelektrode des Transistors Qx
sowie die Basiselektrode des Transistors Cjbi auf dem
Potential (Vxh— Δ Vs), wobei Δ Vs den Spannungsabfall
über dem Widerstand Rum bezeichnet
Der mit Hilfe des Transistors Qroo gelieferte
Konstantstrom /«oo kann durch denjenigen der an die Stellenleitung Ao angeschlossenen Transistoren Qn,
Q\o, Qrefoo, Qmo, Qyoo fließen, dessen Basiselektrode sich
auf dem höchsten Potential befindet Wie sich aus F i g. 2A ergibt, ist das Potential Vxh auf der Wortleitung
Lxo sowie an der Basiselektrode des Transistors
<5bo höher als irgendein anderes Potential an den Basen
der Transistoren CAo, Qrefoo, Qwoo und (?m, so daß der
Strom Ζ«» durch den Transistor Cjbo fließen kann.
Als Ergebnis schaltet der Transistor Qrefoo ab und entwickelt auf diese Weise an seinem Kollektor einen
hohen Spannungspegel (gleich Massepotential).
Andererseits fließt der Konstantstrom /«», der mit
Hilfe des Transistors Qro\ geliefert wird, durch denjenigen der an die Stellenleitung An angeschlossenen
Transistoren CJbi, Qn, Qre/ou Qm\ und Qm, dessen
Basiselektrode sich auf dem höchsten Potential befindet.
Die Basiselektrode dieser Transistoren Qou Qu,
Qrcfou Qwot und Qyo\ befinden sich auf Potentialen
(Vxh-Δ Vs), Vxl oder (Vxl-Δ Vn), Vrh, Vwl bzw. Vn,
Der Konstantstrom /«οι kann deshalb durch den
Transistor Qrefm fließen, dessen Basispotential höher ist
als das Basispotential irgendeines anderen der mit der Stellenleitung £fo verbundenen Transistoren.
Als Folge davon wird wegen des Spannungsabfalls über den Widerstand Rso\ der Kollektor des Transistors
Qrefm auf niedrigem Potential gehalten.
Als nächstes wird angenommen, daß zur Speicherung der Information einer logischen »1« der Transistor Qoo
der Speicherzelle G, aus- und der Transistor Qm
eingeschaltet wird. In diesem Fall bietet der Transistor Qrcfoo ein niedriges Potential an seiner Kollektorelektrode,
während der Transistor Qrero\ an seinem
Kollektor ein hohes Potential bietet.
Aus den gemachten Darlegungen ergibt sich, daß sich die in der Speicherzelle Co gespeicherte Information als
Potentiale an den Kollektoren der Transistoren Qmoa
und Qrcfo) auslesen läßt.
Auf der anderen Seite wird hinsichtlich der anderen Zellen C2 und C3, die nicht ausgewählt werden, der
folgende Vorgang erreicht. Wie zuvor diskutiert, erhält, wenn die Speicherzelle Co ausgewählt wird, ein Paar von
Transistoren Qno und Qn\ an ihren Basiselektroden ein
Potential VVh, welches höher ist als irgendein anderes Potential an Basiselektroden der Transistoren CAo, Q3O,
CWto, Qmo, Qi\, Qi\, Qrcfw, Qm\- Folglich können
unabhängig von der in den Zellen Ci und Ci
gespeicherten Information die mit Hilfe der Transistoren Qr\o und Qrw gelieferten Konstantströme /rio und
/«π durch die Transistoren Qy\o bzw. Qy\\ fließen. Als
Ergebnis schalten beide Transistoren Ö-c/ίο, Qntw ab,
und erzeugen dabei einen hohen Potentialpegel (gleich Massepotential) an ihren Kollektoren, was bedeutet,
daß die in den Speicherzellen C2 und Cz gespeicherte
Information nicht ausgelesen werden kann.
Der Vorgang des Schreibens einer Information in eine ausgewählte Speicherzelle wird unter Bezugnahme
auf F i g. 2B erläutert.
Es sei angenommen, daß die Speicherzelle Co ausgewählt wird und in sie die Information einer
logischen »1« geschrieben werden soll. In diesem Fall erhalten die Klemmen Vo, Y\, Xo und X\ in entsprechender
Zuordnung die in F i g. 2B bei VVl, VVh, Vxwund V>l
gezeigten Potentiale. Ferner befinden sich die Klemmen VV0 und W] auf den Potentialen VVh bzw. VVz.. Es ist zu
beachten, daß unabhängig von der in der ausgewählten Zelle Cq gespeicherten Information das Potential VVh
an der Basiselektrode des Transistors Qwoo höher als das Potential an der Basiselektrode de1= Transistors Qoo ist,
weshalb der Konstantstrom Iroo durch den Transistor (?HW) fließt.
Andererseits ist das Potential an der Basis des Transistors Qvmi niedriger als dasjenige an der Basis des
Transistors CJbi, so daß der mit Hilfe des Transistors
Qan gelieferte Konstantstrom Im durch den Transistor
<?bi fließen kann. Beide Konstantströme //a» und /«»
werden üblicherweise in ihren Werten so gewählt daß sie größer sind als der Strom Ist, so daß die Zustände der
Transistoren Q00 und <Pbi entweder durch den Strom Ir00
oder /«π bestimmt wenden können.
Folglich wird der Transistor Qn, durch den der
Konstantstrom Imi fließt, eingeschaltet, während der
Transistor Q00 ausgeschaltet wird, wodurch das Schreiben
einer logischen »1« in die ausgewählte Zelle Ci erreicht ist
Auf ähnliche Weise werden, wenn die Information einer logischen »0« in die ausgewählte Zelle Co
geschrieben werden soll, die Potentiale Vwwund VVl auf
die Klemmen W0 bzw. IVi gelegt, wodurch der
Transistor Qoo ein- und der Transistor CA>i ausgeschaltet
wird.
Die anderen, nicht ausgewählten Zellen, beispielsweise die Speicherzelle C2, werden durch den Schreibvorgang nicht beeinflußt. Ihr Betrieb erläutert sich wie folgt. Wenn die Zelle Co ausgewählt wird, befinden sich die Basiselektroden der Transistoren <?no und (?mi auf dem in F i g. 2B bei VVh angegebenen Potential, welches höher ist, als irgendein anderes Potential an den Basiselektroden der an die Stellenleitungen A0 und Dn angeschlossenen Transistoren. Dementsprechend können die in die Transistoren ζ>«ιο und Qrh fließenden Konstantströme Ir10 und /«n durch die Transistoren Qno bzw. ζ>ηι fließen, mit dem Ergebnis, daß sie ohne jeden Einfluß auf die Speicherzelle C2 sind.
Die anderen, nicht ausgewählten Zellen, beispielsweise die Speicherzelle C2, werden durch den Schreibvorgang nicht beeinflußt. Ihr Betrieb erläutert sich wie folgt. Wenn die Zelle Co ausgewählt wird, befinden sich die Basiselektroden der Transistoren <?no und (?mi auf dem in F i g. 2B bei VVh angegebenen Potential, welches höher ist, als irgendein anderes Potential an den Basiselektroden der an die Stellenleitungen A0 und Dn angeschlossenen Transistoren. Dementsprechend können die in die Transistoren ζ>«ιο und Qrh fließenden Konstantströme Ir10 und /«n durch die Transistoren Qno bzw. ζ>ηι fließen, mit dem Ergebnis, daß sie ohne jeden Einfluß auf die Speicherzelle C2 sind.
Wie sich aus obiger Darlegung ergibt, läßt sich das Halten von in der nicht ausgewählten Speicherzelle
gespeicherter Information während des Lese- und Schreibvorgangs durch den Konstantstrom I51 erreichen,
welcher mit Hilfe der Konstantstromquellen 10a und 106 geliefert wird. Andererseits kann das Lesen und
Schreiben von Information aus der oder in die ausgewählte Speicherzelle durch Verwendung der
Konstantstromquellen Qroo, Qrou Qrw und Qru, von
denen jede einen Konstantstrom Ir liefert, gesteuert werden. Bei dieser Art von Halbleiterspeicher ist es vom
Standpunkt ihrer Zugriffszeit her wünschenswert, die Wortleitungen auf den an die Klemmen X0, ΛΊ gelegten
Adressierimpuls hin stabil und schnell auf ein bestimmtes Potential zu bringen.
Die Streukapazität (gezeigt bei Csi, Cs2) zwischen
jeder Wortleitung und Masse verhindert jedoch, daß die Wortleitungen schnell und abrupt auf die Potentiale
gebracht werden können. Insbesondere wenn eine große Anzahl von Speicherzellen in einem Speicherfeld
verwendet wird, werden sowohl der Anstieg als auch der Abfall des Potentials auf der Wortleitung durch den
vergleichsweise großen Wert der notwendigerweise zwischen den Wortleitungen und Masse vorhandenen
Streukapazität ungünstig beeinflußt
Fig.3 zeigt die Änderung des Potentials auf der
Wortleitung Lx0, wenn das an die Klemme Xo gelegte
Potential von einem niedrigen Pegel (oder einem hohen Pegel) auf einen hohen Pegel (oder einen niedrigen
Pegel) geschaltet wird.
Falls eine geringe Anzahl von Speicherzellen im Speicherfeld verwendet wird, läßt sich das Potential auf
der Wortleitung Lxn abrupt auf den hohen Pegel
verklammern, wenn der Wortadressierimpuls angelegt wird, wie dies bei a in F i g. 3 gezeigt ist, und, wie dies bei
b in F i g. 3 gezeigt ist, schnell auf einen niedrigen Pegel verklammern, wenn der Adressierzyklus beendet ist.
Wenn andererseits eine große Anzahl von Speicherzellen im Speicherfeld verwendet wird, steigt das Potential
auf der Wortleitung Lx0 langsam an und fällt langsam ab,
wie dies die Kurven cund d'm Fig.3 zeigen. In bezug
auf das Potential auf den anderen Wortleitungen, wie etwa Xsto, zeigte sich die gleiche Tendenz.
to Hinsichtlich des Ansteigens des Potentials auf der Wortleitung ist bekannt, daß erfolgreiche Lösungen, bei
welcher der Wortadressierimpuls an die Wortleitung über einen in emitterfolgerweisearbeitenden Transistor
angelegt wird, bereits gefunden werden konnten.
Was jedoch die Abfallszeit des Wortleitungspotentials betrifft, galt eine Verbesserung als sehr schwierig
zu erreichen.
Eine Ausführungsform des Halbleiterspeichers nach
Eine Ausführungsform des Halbleiterspeichers nach
der Erfindung wird nun unter Bezugnahme auf F i g. 4
beschrieben, wobei gleiche Bezugszeichen wie in F i g. 1 gleiche Elemente bezeichnen.
In F i g. 4 ist die Klemme ΛΌ über die Wortleitung Lad
mit einer einen Emitterfolgertransistor φοι enthaltenden
Signalnachweisschaltung 20a verbunden.
Dieser Transistor Q201 weist das Anlegen des
Wortadressierimpulses an die Klemme AO nach. Das Ausgangssignal der Nachweisschaltung 20a wird dann
einer Transistoren Q202 und Q203 enthaltenden Verzögerungsschaltung
21a zugeführt.
Das nachgewiesene Ausgangssignal durchfließt so einen Widerstand Λ201. einen Kollektor-Emitterpfad des
Transistors Qxn und einen Widerstand Ä202 zu einer
Gleichspannungsquelle Vee- Durch den über dem Widerstand R%>\ erzeugten Spannungsabfall wird ein
geeignetes Potential an die Basiselektrode des Emitterfolgertransistors Q203 gelegt. Das Potential an der
Basiselektrode des Transistors Q203 kann durch geeignete Wahl der Werte des Emitterwiderstands Ä202 und des
Basispotentials des Transistors Q302 willkürlich festgelegt
werden. Auf das angelegte Signal hin erzeugt die Verzögerungsschaltung 201a ein Ausgangssignal mit
einer Verzögerungszeit, die durch geeignete Wahl der Werte der Widerstände Ä201 und Λ203 willkürlich
festgelegt werden kann, weil diese Widerstände in Verbindung mit den Streukapazitäten C201 und C201 die
Zeitkonstante der Verzögerungsschaltung 21a bestimmen. In der Praxis kann parallel zum Widerstand Rx>\
ein Beschleunigungskondensator C202 geschaltet sein, um die Wirkung der Streukapazität C201 aufzuheben,
falls die gewünschte Verzögerungszeit mit Hilfe des Widerstandes Rxa und der Streukapazität C203 erzielt
werden kann.
Das verzögerte Signal wird dann an eine Stromschalt-Schaltung 22a gelegt, welche einen Transistor Q2O*
umfaßt, dessen Emitter über einen Widerstand Ä204 mit
einer Gleichspannungsquelle und dessen Kollektor mit der Leitung Xsto verbunden ist.
Die Bezugszeichen 20b, 2\b und 226 bezeichnen eine
Nachweisschaltung, eine Verzögerungsschaltung bzw. eine Stromschalt-Schaltung, die den gleichen Aufbau
wie die oben diskutierten haben.
Im folgenden wird nun die Wirkungsweise des in F i g. 4 gezeigten Speichersystems erläutert
Wie oben diskutiert, wird, wenn eine der Speicherzellen,
beispielsweise CJ, für entweder das Schreiben oder das Lesen ausgewählt wird, ein hohes Potential Vxh an
die Klemme AO gelegt. Während dieses Schreib- oder Lesezyklus können sich die Streukapazitäten Csi und so
Cs2 aufladen. Mit Beendigung des Schreib- oder
Lesezyklus wird die Klemme AO auf ein niedriges
Potential VHl zurückgebracht
Der Transistor Q20, weist das Anlegen des in F i g. 5
gezeigten Wortadressierimpulses Si nach und erzeugt an seinem Emitter ein Ausgangssignal Si.
Nach der vorgegebenen Verzögerungszeit erscheint
das Signal S3 am Emitter des Transistors Qxa und wird in
die Stromschalt-Schaltung 22a eingeführt Solange das
Ausgangssignal des Transistors Qxb an der Stromschalt- «0
Schaltung liegt, ist der Transistor Q204 eingeschaltet und
erlaubt einen erhöhten Stromfluß durch die ausgewählte Wortleitung Xsto- Da dieser zusätzliche Strom nur
durch die ausgewählte, mit der ausgewählten Zelle
verbundenen Wortleitung fließt, kann seine Amplitude
viel größer als die des von der Quelle 10s gelieferten
Konstantstromes Isto sein.
Es ist zu beachten, daß die Zufuhr des während der
Zeit von b bis U unmittelbar nach Beendigung des Lesebzw. Schreibzyklus (U bis h) fließenden Stromes dazu
dient, die Ladungen aus den Streukapazitäten Csi und
Dsi herauszuziehen und sie in Masse zu entladen, so daß die Wortleitungen schnell auf das niedrige Potential
geklammert werden können. Das wichtigste, was bei der Erfindung zu beachten ist, ist, daß nach der Rückkehr
der Klemme AO auf einen niedrigen Potentialpegel Vxl
der Transistor Q204 weiterhin für eine vorgegebene Zeit,
die gleich der Verzögerungszeit der Verzögerungsschaltung 21a ist, eingeschaltet bleibt.
Für diese Zeit können die in den Streukapazitäten gespeicherten Ladungen über den Transistor Q2Oi
abrupt entladen werden, mit dem Ergebnis, daß sich ein rasches Abfallen der Potentiale auf den Wortleitungen
erreichen läßt
Messungen haben gezeigt, daß bei der Ausführungsform der F i g. 4 das Potential auf der Wortleitung Lao
auf das Schalten des Potentials an der Klemme AO von
einem hohen Pegel auf einen niedrigen Pegel hin rasch einen niedrigen Pegel erreicht, wie dies bei e in F i g. 6
gezeigt ist.
Wenn andererseits der Transistor Q2M nur während
der gleichen Zeit wie der Lese- oder Schreibzyklus für die ausgewählte Zelle einschaltet um mit seiner Hilfe
zusätzlich zu dem Strom /« den weiteren Strom auf die ausgewählte Wortleitung zu liefern, läßt sich das
Abfallen des Potentials auf der Wortleitung nur unzureichend verbessern, wie dies bei /in F i g. 6 gezeigt
ist.
In der Ausführungsform der F i g. 4 können, ohne die Erfindung zu verlassen, einige Abwandlungen vorgenommen
werden.
Wenn in Fig.4 die Nachweisschaltung 20a zum
Nachweis des Schaltens des an die Wortleitung angelegten Potentials verwendet wird, so ist es natürlich
auch möglich, ein Ausgangssignal einer für die Wortleitungsadressierung eingesetzten Spannungserzeugerschaltung
(nicht gezeigt) zu verwenden.
Ferner kann, anstelle die Verzögerungsschaltung 21a
zu verwenden, eine Schaltung zur Vergrößerung der Breite eines daran angelegten Impulses zwischen die
Nachweisschaltung 20a und die Stromschalt-Schaltung 22a gelegt werden. In diesem Fall entspricht die an die
Stromschalt-Schaltung 22a gelegte Signalform der bei Sa in F i g. 5 gezeigten.
Da die Widerstände #201 und Ä203 gewöhnlich so
ausgewählt werden, daß sie große Werte haben, um die vorgegebene Verzögerungszeit zu liefern, ist bei der
Ausführungsform der Fig.4 der Leistungsverbrauch durch die Verzögerungsschaltung 20a vergleichsweise
klein.
F i g. 7 zeigt eine weitere Ausführungsform der Erfindung, bei welcher Wortleitungen Xsro, Xsn über
Dioden Dm bzw. D302 an eine gemeinsame Konstant
stromquelle 30 angeschlossen sind.
Diese Ausführungsform ist durch Verwendung von Dioden charakterisiert, die eine vergleichsweise lange
Erholzeit haben. Die Erholzeit ist als diejenige Zeit definiert während der die Diode weiter eingeschaltet,
d. h. durchlässig, bleibt, nachdem die Vorwärtsspannung
an ihr weggenommen ist Da diese Art Diode bekannt ist, wird auf ihren Aufbau hier nicht weiter eingegangen.
Wenn keine Speicherzelle für das Schreiben oder Lesen ausgewählt wird, sind alle Dioden ausgeschaltet,
da sie alle in Sperrichtung vorgespannt sind Wird jedoch eine der Speicherzellen, beispielsweise CJ,
ausgewählt, dann wird das Potential auf der daran
angeschlossenen Leitung Xsto höher als das auf den anderen, nicht ausgewählten Leitungen, wie dies aus den
F i g. 2A und 2B ersichtlich ist, wodurch nur die Diode DiOi in Vorwärtsrichtung vorgespannt wird.
Mit Beendigung des Schreib- oder Lesezyklus für die ausgewählte Zelle Q, wird die Leitung Xsto auf ein
niedriges Potential zurückgebracht, was dazu führt, daß die Diode Dx\ erneut in Sperrichtung vorgespannt wird.
Es ist zu beachten, daß die Diode Aoι mit einer
Verzögerungszeit in den ausgeschalteten Zustand gelangt, so daß der Konstantstrom /30 für eine
vorgegebene Zeit nach der Beendigung des Lese- oder Schreibzyklus für die ausgewählte Zelle weiterhin durch
die Diode Dm\ fließen kann.
Wie oben diskutiert, dient die Zufuhr eines solchen Stroms /30 dazu, die in den Streukapazitäten gespeicherten
Ladungen herauszuziehen und sie abrupt auf Masse zu entladen, so daß sich ein vergleichsweise rasches
Abfallen des Potentials auf den Wortleitungen Lad und
Xsto bewerkstelligen läßt.
In der Praxis zeichnet sich die Ausführungsform der F i g. 7 durch die Einfachheit ihres Schaltungsaufbaus
und die geringe Leistungsaufnahme aus, die zur Lieferung des Konstantstromes notwendig ist.
Fig.8 zeigt eine weitere Ausführungsform der Erfindung. Eine Wortadressierimpuls-Generatorschaltung
40a umfaßt ein Paar von Transistoren Q405 und <?406·
Zwischen die Kollektorelektroden der Transistoren <?405, (?406 und Masse sind Widerstände R405 bzw. A406
geschaltet. Die miteinander verbundenen Emitter sind an eine Konstantstromquelle 400 angeschlossen. An die
eine der Basiselektroden der Transistoren Q405, (?4οβ
wird ein hohes Potential und an die andere der Basiselektroden ein niedriges Potential angelegt. Das
Ausgangssignal des Kollektors des Transistors Q«* wird
über einen Emitterfolgertransistor Qw auf die Wortleitung
Lx gegeben.
Das vom Kollektor des anderen Transistors ζ>4ο5
abgeleitete Ausgangssignal wird auf eine Verzögerungsschaltung 41a, die aus einem Widerstand £401 und
einem Kondensator Qoi besteht, gegeben und dann der
Basiselektrode eines pnp-Transistors Q4Oi zugeführt Ein
am Kollektor des Transistors Qmi erscheinendes Signal
wird über eine weitere Verzögerungsschaltung 42a, welche einen Kondensator C402 und einen Widerstand
Λ403 enthält, auf einen Stromschalttransistor Q402
gegeben.
Für die tatsächliche Praxis kann der Anschluß einer der beiden Verzögerungsschaltungen 41a, 42a zur
Erzielung der gewünschten Verzögerungszeit ausreichend sein. Ferner können, anstelle die Kondensatoren
CiOi, C102 anzuschließen, Streukapazitäten zwischen den
Leitungen 43,44 und Masse verwendet werden.
Wenn als Transistor Qnt ein Transistor mit langsamer
Ansprechcharakteristik, wie etwa ein pnp-Lateraltransistor, verwendet wird, ist keine zusätzliche Verzögerungsschaltung notwendig.
Wenn die Speicherzelle Co für das Schreiben oder
Lesen ausgewählt ist, wird eine Spannung auf niedrigem Pegel vom Kollektor des Transistors Qtos abgeleitet,
während eine Spannung auf hohem Pegel auf die Wortleitung Lm gegeben wird. Die auf den Transistor
(?4oi gegebene Spannung auf niedrigem Pegel führt zu
seinem Einschalten. Das am Kollektor des Transistors Qwi erscheinende Ausgangssignal wird auf die Basiselektrode des Transistors Q402 gegeben, wodurch dieser
eingeschaltet wird und einen zusätzlichen Strom auf die ausgewählte Wortleitung Las liefert
Mit Vollendung des Schreib- oder Lesezyklus für die
ausgewählte Zelle Ca wird die Wortleitung Lm auf ein
niedriges Potential zurückgebracht, wodurch der Transistor CJ405 ein Ausgangssignal auf hohem Pegel an
seinem Kollektor erzeugt.
Wegen der mit Hilfe der Schaltung 41a und 42a gelieferten Verzögerungszeit bleibt der Transistor CA02
jedoch für eine bestimmte Zeit nach Beendigung des Lese- oder Schreibzyklus weiter eingeschaltet. Dementsprechend
läßt sich die gleiche Wirkungsweise wie die unter Bezugnahme auf die Fig.4 und 7 diskutierte
erzielen.
In Fig.9, die eine weitere Ausführungsform der
Erfindung zeigt, wird einer der Ausgänge der Wortadressiersignal-Generatorschaltung
60a direkt auf einen Emitterfolgertransistor (Tfeoi und der andere Ausgang
umgekehrter Phase über einen Transistor CJfeo4 auf eine
Verzögerungsschaltung 61a gegeben. Eleide Signale, vom Transistor Qkm und der Verzögerungsschaltung
61a, werden auf ein UND-Glied 62a gegeben, dessen Ausgangssignal einem Stromschalttransistor Qtoi zugeführt
wird.
Es sei wieder angenommen, daß die Speicherzelle Ca
für das Schreiben oder Lesen ausgewählt ist. Die Schaltung 60a erzeugt an einer Klemme P\ ein
Ausgangssignal W\ und an einer Klemme Pi ein
Ausgangssignal W2, wie diese in Fig. 10 gezeigt sind.
Das Signal an der Klemme f*> wird durch die Schaltung
61a um eine gewünschte Zeit verzögert und dann auf das UND-Glied 62a gegeben. Dementsprechend erzeugt
das UND-Glied 62a ein Ausgangssignal, wie es bei Wi in Fig. 10 gezeigt ist und welches auf den
Stromschalttransistor Q202 gegeben wird. Solange das
Ausgangssignal des UND-Glieds 62a am Transistor CJbo2
liegt, ist dieser eingeschaltet und bewirkt einen zusätzlichen Strom auf der ausgewählten Wortleitung
LxD· Es ist zu beachten, daß bei dieser Ausführungsform
der zusätzliche Strom nur während der Zeit von tj bis ti
und nicht während der Zeit von h bis U fließen kann.
Jedoch ist eine solche Zeit zur Erzielung des raschen Abfalls der Potentiale auf den Wortleitungen Lad und
Xsto gut ausreichend.
Die bisherige Beschreibung ist von einem bipolaren Speicherfeld ausgegangen, die Erfindung läßt sich
natürlich aber auch irgendwelchen anderen Arten von Speicherfeldern anpassen.
So zeigt beispielsweise F i g. 11 eine weitere Ausführungsform
der Erfindung, in welcher eine andere Art von Speicherzellen verwendet wird. Da der Schaltungsaufbau
einer solchen Speicherzelle bekannt ist, wird auf
eine ins einzelne gehende Beschreibung verzichtet
Wenn die Speicherzelle C0' ausgewählt ist, ist der
Transistor Qsm eingeschaltet, während der andere
Transistor Q502 ausgeschaltet ist Mit Beendigung der
Auswahl der Speicherzelle Cb' wird der Transistor Qso\
in den abgeschalteten Zustand zurückgebracht Beim Schalten des Transistors Qsoi vom eingeschalteten in
den ausgeschalteten Zustand verhindert das langsame Abfallen des Potentials auf den Leitungen 54a, daß der
Speicher mit hoher Geschwindigkeit betrieben werden kann.
Um diesen Nachteil zu beseitigen, kann die gleiche
Schaltungsanordnung wie die unter Bezugnahme auf F i g. 4 beschriebene verwendet werden. Die Blöcke 50a,
51a und 52a bezeichnen eine Nachweisschaltung, eine Verzögerungsschaltung bzw. eine Stromischalt-Schaltung, die den gleichen Aufbau haben wie in Fi g. 4 und
zur Lieferung eines zusätzlichen Stromes auf die
ausgewählte Wortleitung in der gleichen Weise betrieben werden können. Es ist daher einzusehen, daß
diese Ausführungsform ebenfalls das rasche Abfallen des Potentials auf der ausgewählten Leitung erreicht.
Ganz allgemein funktioniert die Erfindung also so, daß das Anlegen eines Lese- oder Schreibimpulses auf
eine der Wortleitungen nachgewiesen und das so nachgewiesene Signal auf eine Verzögerungsschaltung
gegeben wird. Das Ausgangssignal der Verzögerungsschaltung wird auf einen mit der anderen Wortleitung
verbundenen Stromschalttransistor gegeben, der dadurch während einer vorgegebenen Zeit zumindest
unmittelbar nach dem Lese- oder Schreibzyklus für die ausgewählte Zelle eingeschaltet wird, wodurch die
Wortleitungen rasch auf die vorgegebenen Potentiale geklammert werden.
Hierzu 7 Blatt Zeichnungen
Claims (9)
1. Halbleiterspeicher mit einer Vielzahl von in Matrixform angeordneten Speicherzellen, deren
jede zwischen einer ersten Wortleitung zur Zuführung eines Wortadressierimpulses und einer zweiten
mit einer Konstantstromquelle verbundenen Wortleitung liegt, dadurch gekennzeichnet, daß
an die zweite Wortleitung (Xsra, Xsri) parallel zu
der Konstantstromquelle (10* tob) eine Stromschalteinrichtung (22a, 22b; Dxn, Dm; Q«a; Qm; 52a,
52b) angeschlossen ist, die während einer vorgegebenen Zeitspanne wenigstens unmittelbar nach Abschalten des Wortadressierimpulses leitend ist
2. Halbleiterspeicher nach Anspruch I1 dadurch
gekennzeichnet, daß die Stromschalteinrichtung (22a, 22b; Qw, Qba; 52a, 52^dUrCh eine Steuerstufe
in ihren leitenden Zustand steuerbar ist, die eine erste Einrichtung (20a, 206,- <?40i; Qm; 50a; 50b) zur
Erfassung des der ersten Wortleitung (Lxo, LX])
zugeführten Wortadressierimpulses und eine mit der ersten Einrichtung verbundene zweite Einrichtung
(21a, 2ib; 42a; 62a; 51a, 516,} zur Erzeugung eines
Signals mindestens unmittelbar nach dem Abschalten des Wortadressierimpulses zur Ansteuerung der
Stromschalteinrichtung umfaßt (F i g. 4,8,9,11).
3. Halbleiterspeicher nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die zweite Einrichtung eine
Verzögerungsschaltung (21a;42a,-61a;51a, 5ib) zur
Verzögerung des Ausgangssignals der ersten Einrichtung (20a, 20Z>;
<?4oi; Qm\; 52a, 52Z>; umfaßt
(F ig. 4,8,9,11).
4. Halbleiterspeicher nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die zweite Einrichtung eine
Schaltung zur Vergrößerung der Breite des Ausgangssignals der ersten Einrichtung umfaßt.
5. Halbleiterspeicher nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die erste
Einrichtung (20a, 206; Q«>\; Qm; 50a, 50b) an die
erste Wortleitung (Lx0, LXi) an einer Klemme
angeschlossen ist, die am entgegengesetzten Ende bezüglich der Klemme liegt, an der der Wortadressierimpuls zugeführt wird.
6. Halbleiterspeicher nach einem der Ansprüche 2 bis 5, gekennzeichnet durch eine Adressierimpuls-Erzeugungsschaltung (40a; 6OaJl die ein Paar von mit
ihren Emittern an eine gemeinsame Konstantstromquelle (400; 600) angeschlossenen Transistoren (Qws,
Qw*; Quai, Qkm) umfaßt, wobei der Adressierimpuls
vom Kollektor des einen der Transistoren (Qax;
Obm) abgeleitet wird.
7. Halbleiterspeicher nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die erste Einrichtung (Qw,
Qeo\) mit dem Kollektor des anderen der Transistoren (Qm; (&») verbunden ist (F i g. 8,9).
8. Halbleiterspeicher nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die zweite Einrichtung eine
Stufe (61 a) zur Verzögerung des Signals auf der ersten Wortieitung (Lm) sowie ein UND-Glied (62a)
zur Verknüpfung des verzögerten Signals mit dem Ausgangssignal der ersten Einrichtung umfaßt
(F ig. 9).
9. Halbleiterspeicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Stromschalteinrichtung aus
einer Diode (D30I, ZJj02) mit verhältnismäßig langer
Erholzeit besteht, die so gepolt ist, daß sie durch den
Wortadressierimpuls in den leitenden Zustand
steuerbar ist (F i g. 7).
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