DE2442132A1 - Dynamisches schieberegister - Google Patents
Dynamisches schieberegisterInfo
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Description
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT München, den 3.9.1974
Berlin und München Wittelsbacherplats
VPA 74/7147
Dynamisches Schieberegister
Die Erfindung betrifft ein dynamisches Schieberegister nach dem Oberbegriff des Patentanspruches 1.
Solche - Schieberegister sind bekannt. Beispielsweise ist·in
der Veröffentlichung Electronik - Industrie 3 - 1972 Seiten
26 bis 38 die Arbeitsweise und Anwendung von MOS-Schiebe~
registern beschrieben und dargestellt". .
Ein Nachteil solcher dynamischer Schieberegister besteht darin,
daß die gespeicherte Information in Zeitabständen von ca. bis 100 ms regeneriert werden muß. Ein weiterer Nachteil besteht
darin, daß beim Abschalten der Versorgungsspannung die in dem dynamischen Schieberegister gespeicherte Information verloren V-geht.
Eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, ein dynamisches Schieberegister anzugeben, bei dem die oben beschriebenen
Nachteile vermieden sind.
Diese Aufgabe wird durch ein wie eingangs bereits erwähntes
dynamisches Schieberegister gelöst, das durch die in dem Kennzeichen
des Patentanspruches 1 aufgeführten Merkmale gekennzeichnet ist.
Ein Vorteil eines erfindungsgemäßen dynamischen Schieberegisters
besteht darin, daß die Punktionsweise des dynamischen. Schieberegisters im normalen Betrieb durch die erfindungsgeraäß
zugeschalteten MNOS-Speichertransistoren nicht gestört· wird und daß die Information nur bei längeren Speicherdauern in die
VPA 9/710/4093 c vP/Htr
6 0 9 8 11/0551
MOS-Transistoren umgespeichert wird.
Ein wesentlicher Vorteil der Erfindung besteht darin, daß durch
einen einzigen Impuls die in dem dynamischen Schieberegister gespeicherte Information.in:""däe" erfindungsgemäßen METÖS-Speiehertransistoren
eingespeichert wird.
Vorteilhafterweise kann die so in die MOS-Transistoren eingespeicherte
Information über einen längeren Zeitraum, der bis ;
zu 10 Jahren reichen kann, gespeichert werden. I
. ■ j
Weitere Erläuterungen zur Erfindung gehen aus der Beschreibung j
und der Figur hervor. j
Die Figur zeigt das Schaltbild eines erfindungsgemäßen dynamischen :
Schieberegisters.
In der Figur 1 wird das herkömmliche, bekannte dynamische
Schieberegister von den Transistoren 1 bis 6 gebildet. Das Schieberegister besteht im wesentlichen aus zwei Invertern.
Der Inverter 10 besteht aus den Transistoren 1 und 2 und dsr
Inverter 20 aus den Transistoren 4 und 5. Diese Inverter sind in
der aus äer Figur ersichtlichen Weise über den Transistor 3 verbunden.
Über die Leitung 12 und über die Anschlüsse 21 und 51 w±ä '
die Versorgungsspannung U^ an die Inverter 10 und 20 angelegt.
Vorzugsweise liegt die Leitung 12 dabei an Masse. Die Transistoren
2 und 5 dienen als Lastelemente. Vorzugsv/eise handelt es sich
bei den Transistoren 1 bis 6 um MOS-FeIdeffekt-Transistoren, wobei ·
die MOS-Transistoren 2 und 5 in bekannter Weise als statische oder dynamische Lastwiderstände geschaltet sind.
Die Information gelangt über den Anschluß 11 in den aus den Transistoren 1 und 2 bestehenden ersten Inverter 10 und wird mit
Hilfe eines Taktes 0 31, der an dem Anschluß 31 des Transistors
3 anliegt zu dem zweiten Inverter 20, der aus den Transistoren
4 und 5 gebildet ist, weiter geschoben. Von diesem wird die
Information über den Transistor 6, der durch einen Takt 0 61, der an dem Anschluß 61 anliegt, getaktet wird, zum Anschluß 62
hin verschoben. An dem Anschluß 62, der äen Ausgang des Schiebe-VPA
9/710/4093 c 609811/0551 . ■*
registers bildet,sind weitere Inverter in Serie angeschlossen.
Erfindungsgemäß sind nun zu dem bekannten dynamischen Schieberegister
in aus der Figur ersichtlichen Weise MtTOS-Speichertransistoren·hinzugeschaltet.
Zu dem ersten Inverter 10 ist der MNOS-Speichertransistor 7 so hinzugeschaltet, daß sein Sourceanschluß
mit dem Sourceanschluß des Transistors 3 und daß sein Drainanschluß mit einer Leitung 9 verbunden ist. Der Gateanschluß
des MNOS-Speichertransistors 7 ist mit einer Gateleitung 13 verbunden.
Der MNOS-Speichertransistor 8 ist in der aus der Figur ■ eigentlichen V/eise mit dem zweiten Inverter 20 so verbunden, daß
sein Sourceanschluß mit dem Drainanschluß des Transistors 6 und daß
sein Drainanschluß mit der Leitung 9 verbunden ist. Der Gateanschluß des MOS-Speichertransistors 8 ist wiederum mit der Gateleitung
13 verbunden.
Wird beispielsweise die Information "1" in das dynamische
Speicherelement eingelesen, so wird der Transistor 1 über den Anschluß 11, der den Eingang des Schieberegisters bildet,
leitend geschaltet. Dadurch wird bewirkt, daß der Sourceanschluß des MNOS-Speichertransistors 7 an Massepotential liegt.
Wird dagegen die Information '1O" in das Schieberegister eingelesen,
so wird der Transistor 1 über den Anschliß 11 gesperrt.
Dies bewirkt, daß an dem Sourceanschluß des MNOS-Speichertransistors
7 das Versorgungsspannungspotential -U-q-q anliegt. Ist die Information
in das Schieberegister eingeschrieben, so·.wird er- \ findungsgemäß an die Leitung 9 und an die Gateleitung 13 ein . :·
Spannungsimpuls angelegt. Vorzugsweise werden, p-Kanal-MfTOS-Speichertransistoren
vorausgesetzt, etwa 10 /US lang etwa -30 T
angelegt. Je nachdem, ob der Sourceanschluß des MtTOS-Speichertransistors
7 an Massepotential oder an dem Potential der Versorg
ungs spannung liegt, wird entweder die Einsatzspannung dieses
MOS-Transistors zu negativen Spannungswerten hin verschoben oder nicht. ' ;
Beim Auslesen wird durch Anlegen einer Lesespannung -Uj1 an die
Gateleitung 13 die Information von dem MOS-Transistor 7 wieder in das Schieberegister eingelesen. Dabei wird an die Leitung 9 die
Versd!?run.rrs3pannunr -U1,^ angelegt. Bei diesem Betrieb wird die
VPA 9/710Λ093 c " 6098 11/0551 ; ;
; : 2U2132
Information im Schieberegister invertiert.
Nachdem die Information, durch den Takt 0 31 bewirkt, über den Transistor 3 an das zweite Speicherelement verschoben
wurde, gilt für den MNOS-Speichertransistor 8 das oben bereits für den MOS-Speichertransistor 7 Ausgeführte.
Bei der Verwendung von n-Kanal-MTTOS-Transistoren werden zum
Einschreiben und Auslesen von Information an die Leitung 9 und an die Gateleitung 13 die entsprechenden Potentiale der
entgegengesetzten Polarität angelegt.
Anstelle der MNOS-Speichertransistoren können vorteilhafterweise
auch ganz allgemein MI^I^S-Transistoren verwendet werden.
Vorzugsweise werden MNOS-Transistören verwendet, deren
Dielektrikum aus einer etwa 1 bis 3 nin dicken SiOp-Schicht
und aus einer etwa 30 bis 60 nm dicken Si,N^-Schicht besteht.
3 Patentansprüche
1 Figur
1 Figur
YPA 9/710/4093 c
60.9.81 1/0551
Claims (4)
- Patentansprücheq) Dynamisches Schieberegister, bestehend aus wenigstens zwei Invertern, wobei der Ausgang des ersten Inverters über .einen Transistor mit dem Eingang des zweiten Inverters verbunden ist, und wobei der Eingang des ersten Inverters den Eingang des Schieberegisters darstellt, und wobei der Ausgang des zweiten Inverters, über einen Transistor (6) mit dem Ausgang des Schieberegisters verbunden ist, dadurch g e k e η η zeichnet , daß für jeweils einen Inverter jeweils ein MJ^a^-Speichertransistor (7, 8) vorgesehen ist, wobei jeweils ein Sourceanschluß jeweils eines M^S-Speichertransistors (7 bzw. 8) mit jeweils einem Ausgang eines Inverters (10 bzw. 20) verbunden ist, daß die Drainanschlüsse der M^S-Speichertransistoren (7, 8) mit einer Leitung (9) verbunden sind und daß die Gate-r anschlüsse der MNOS-Speichertransistoren (7 und 8) mit einer Gateleitung (13) verbunden sind.
- 2. Dynamisches Schieberegister nach Anspruch 1, dadurch ge kennzeichnet , daß die Transistoren (1 bis 6) MOS-Feldeffekt-Transistoren sind.
- 3. Verfahren zum Betrieb eines dynamischen Schieberegisters nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet , daß zum Uraspeichern von Information aus einem der Inverter (10 oder 20) in einen p-Kanal-MNOS-Speichertransist.or (7 oder 8) an die Leitung (9) und an die Gateleitung (13) ein negativer Spannungsimpuls angelegt wird, daß zum Auslesen der "Information aus dem MNOS-Speichertransistoren (7 oder 8) an die Gateleitung (13) eine Lesespannung -U- angelegt wird und daß gleichzeitig an die Leitung (9) die Versorgungsspannung ILy0 angelegt wird, und daß bei der Verwendung von n-Kanal-MOS-Speichertransistoren zum Umspeichern und Auslesen die entsprechenden Potentiale der entgegengesetzten Polarität an die Leitung (9) und an die Gateleitung (13) angelegt werden.VPA 9/710/4093 c 6098 11/055
- 4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekenn zeich net , daß zwei verschiedene Informationen, die eine in dem Inverter und die andere in dem Ml-^S-Speichertransistor, gespeichert werden.VPA 9/710/4093 c609811/0551
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Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS52153630A (en) * | 1976-06-16 | 1977-12-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Semiconductor memory device |
US4132904A (en) * | 1977-07-28 | 1979-01-02 | Hughes Aircraft Company | Volatile/non-volatile logic latch circuit |
JPS5457875A (en) * | 1977-10-17 | 1979-05-10 | Hitachi Ltd | Semiconductor nonvolatile memory device |
US4128773A (en) * | 1977-11-07 | 1978-12-05 | Hughes Aircraft Company | Volatile/non-volatile logic latch circuit |
DE2824727A1 (de) * | 1978-06-06 | 1979-12-13 | Ibm Deutschland | Schaltung zum nachladen der ausgangsknoten von feldeffekt-transistorschaltungen |
JPS5538664A (en) * | 1978-09-08 | 1980-03-18 | Sanyo Electric Co Ltd | Nonvolatile memory circuit |
JPH01151095A (ja) * | 1987-12-09 | 1989-06-13 | Toshiba Corp | 半導体メモリ |
JPH02199698A (ja) * | 1989-01-30 | 1990-08-08 | Kawasaki Steel Corp | 半導体集積回路 |
JP2529885B2 (ja) * | 1989-03-10 | 1996-09-04 | 工業技術院長 | 半導体メモリ及びその動作方法 |
JP2726503B2 (ja) * | 1989-08-09 | 1998-03-11 | 川崎製鉄株式会社 | 集積回路 |
US5598367A (en) * | 1995-06-07 | 1997-01-28 | International Business Machines Corporation | Trench EPROM |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2255210A1 (de) * | 1971-11-22 | 1973-05-30 | Rca Corp | Datenspeicherschaltung |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
BE788583A (fr) * | 1971-09-16 | 1973-01-02 | Intel Corp | Cellule a trois lignes pour memoire a circuit integre a acces aleatoir |
JPS5710516B2 (de) * | 1972-12-13 | 1982-02-26 | ||
US3876991A (en) * | 1973-07-11 | 1975-04-08 | Bell Telephone Labor Inc | Dual threshold, three transistor dynamic memory cell |
US3876993A (en) * | 1974-03-25 | 1975-04-08 | Texas Instruments Inc | Random access memory cell |
-
1974
- 1974-09-03 DE DE19742442131 patent/DE2442131B2/de not_active Withdrawn
- 1974-09-03 DE DE2442134A patent/DE2442134B1/de not_active Withdrawn
- 1974-09-03 DE DE2442132A patent/DE2442132C3/de not_active Expired
-
1975
- 1975-09-02 US US05/609,622 patent/US4030081A/en not_active Expired - Lifetime
- 1975-09-02 FR FR7526879A patent/FR2284165A1/fr not_active Withdrawn
- 1975-09-03 JP JP50106842A patent/JPS5152248A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2255210A1 (de) * | 1971-11-22 | 1973-05-30 | Rca Corp | Datenspeicherschaltung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2442133A1 (de) | 1976-03-18 |
DE2442134B1 (de) | 1976-02-26 |
DE2442133B2 (de) | 1976-07-08 |
DE2442132B2 (de) | 1978-04-27 |
FR2284165A1 (fr) | 1976-04-02 |
DE2442131A1 (de) | 1976-03-18 |
DE2442131B2 (de) | 1976-07-08 |
DE2442132C3 (de) | 1981-11-05 |
US4030081A (en) | 1977-06-14 |
JPS5152248A (de) | 1976-05-08 |
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Date | Code | Title | Description |
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C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |