DE2317497C2 - Verfahren zum Betrieb eines Fünf-Transistoren-Speicherelementes - Google Patents
Verfahren zum Betrieb eines Fünf-Transistoren-SpeicherelementesInfo
- Publication number
- DE2317497C2 DE2317497C2 DE19732317497 DE2317497A DE2317497C2 DE 2317497 C2 DE2317497 C2 DE 2317497C2 DE 19732317497 DE19732317497 DE 19732317497 DE 2317497 A DE2317497 A DE 2317497A DE 2317497 C2 DE2317497 C2 DE 2317497C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- transistor
- voltage
- flip
- flop
- digit line
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
- H01L27/04—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body
- H01L27/08—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind
- H01L27/085—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind including field-effect components only
- H01L27/088—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind including field-effect components only the components being field-effect transistors with insulated gate
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
- G11C11/412—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger using field-effect transistors only
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
- G11C11/413—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
- G11C11/417—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
- G11C11/419—Read-write [R-W] circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
- H01L27/12—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/353—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
- H03K3/356—Bistable circuits
- H03K3/356104—Bistable circuits using complementary field-effect transistors
Description
daß der Auswahltransistor (26) des Speicherle- 25 .
mentes leitend geschaltet wird, wodurch sich die
Spannung an der Kapazität (31) der Digitleitung
entsprechend der in dem Speicherelement gespei- Erfindun„ bezieht sich auf ein Verfahren zum
eierten Information verändert, so daß die Bewer- Die hrtindung oezu-ni s wirherHpmrnt™
terschaltung durch die Soannungsändening an der 30 Betrieb eines Fun -^ansistorm-Sp^chere eni.ntes
Digitleitung in die der eingespeicherten .„form- nach J» O^gnfr,^-^l.^ .^
sistor (26) in eine der Information entsprechende transistor besteht. Dabei ist das Gate dieses Auswah-I
iee eesetzt wird transistors mit einer Ansteuerung und der Substrat-I.Verfahren
nach Anspruch !,dadurch gekenn- 40 anschluß dieses Transistors m.t einer we.teren Anzeichnet,
daß als Bewerterschaltung cine Inverter- steigleitung verbunden. ,ih^it^^iri^r s„
stufe (1) verwendet wird, wobei der Eingang mit Es ist bekannt, einen solchen Halbleiterspeicher so
der Dig !leitung (3) verbunden ist, und wobei der zu betreiben, daß der Auswah transistor dann geöffnet
Eingang und de Ausgang über einen Qu.rtran- wird, wenn an beiden Auswah leitungen koinz.dierende
sistoV fl3) miteinanderxcrbunden sind, daß der 45 Signale anliegen^ Dadurch w,rd eine leitende Verbm-Quertrans.stor
(13) vor Beginn des Auslesezyklus dung zwischen dem Anschluß der Dig.tletung und
über eine Taktleitung leitend geschaltet wird, wo- dem Knotenpunkt des Fl.pflops hergestellt so daß
durch die vorgegebene Spannung an die D.gitlei- das Potential, das an dem Knotenpunkt des Hipflops
tung gelegt wird und daß eine der in dem Speicher- anliegt, von der D.gitlc.tung abgefragt werden kann,
element gespeicherten Information entsprechende 50 Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht
Spannungsänderung an der Digitleitung am Aus- darin, ein Verfahren zum Betneb eines HmM rangang
(16) der Inverterstufe ein elektrisches S.gnal sistoren-Speicherelementes der genannten Art anzuerzeugt,
das nach Sperren des Quertransistors (13) geben, be. dem die Information in das Speicherelement
dem vollen Spannungshub der Versorgungsspan- eingeschrieben und ausgelesen werden kann ohne daß
nung der Inverterstufe entspricht, wobei die Dirnen- 55 ein wesentlicher Geschwindigkeitsverlust durch das
sionierung der Transistoren der Inverterstuk der Umladen der Digitleitung und ein Zerstören der ge-Bewerterschaltung
bei gleichen Versorgungsspan- speicherten Information auftritt, nungcn an dem Speicherelement und an der !nver- Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren 7um Beterstufe
so gewählt wird, daß die vorgegebene trieb eines Fünf-Transistoren-SpeiLherelementes der
Spannung bei leitendem Quertransistor (13) er- 60 genannten Art in Komplcmentar-Kanal-MOS- lecnnik
reicht wird. gelöst, das durch die im Kennzeichen des Patcnt-3.
Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn- anspruches 1 angegebenen Merkmale gekennzeichnet
zeichnet, daß als Bewerterschaltung ein Flipflop (9) ist.
verwendet wird wobei ein Knoten (99) des Flip- Vortcilhaftcrweise ist eine nach dem crfmdungs-
flops mit der Digitleitung (3) verbunden ist, und 65 gemäßen Verfahren betriebene Speicheranordnung mit
wobei die beiden Knoten (99, 98) des Flipflops der Fünf-Transistoren-Speicherelementen etwa um 30%
Bewerterschaltung über einen Quertransistor (95) kleiner als die gleiche Anordnung mit Sechs-Transisto-
verbunden sind, und daß vor Beginn des Auslese- ren-Speicherelementen.
<t
Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfin-, wjrd als Bewerterschaltung eine in Komplemen-
- Kanal-(MOS)-Technik aufgebaute lnverterstufe
verwendet, wobei der Eingang mit der Digitleitung verbunden ist und wobei der Eingang und der Ausgang
"ber einen Quertransistor miteinander verbunden U· d wobei der Quertransistor vor Beginn des Auslese-S1
kius über eine Taktleitung leitend geschaltet wird,
wodurch die vorgegebene Spannung an die Digitleitung legt wird, und wobei eine der in dem Speicherelement
^speicherte Information entsprechende Spannungsänderung an der Digitleitung am Ausgang der inverterstufe
ein elektrisches Signal erzeugt, das nach Sperren des Quertransistors dem vollen Spannungshub der
Veisorgungsspannung der lnverterstufe entspricht, wobei die Dimensionierung der Transistoren der
lnverterstufe der Bewerterschaltung bei gleichen Versorgungsspannungen an dem Speicherelement und an
der lnverterstufe so gewählt wird, daß die vorgegebene Spannung bei leitendem Quertransistor erreicht wird.
Vorteilhafterweise besteht eine solche Bewerterschaltung aus nur drei Transistoren.
Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung wird als Bewerterschaltung ein Flipflop
verwendet, wobei ein Knoten des Flipflops mit der Digitleitung verbunden ist und wobei die beiden Knoten
des Flipflops über einen Quertransistor verbur.den sind und wobei zum Anlegen der vorgegebenen Spannung
an die Digitleitung der Quertransistor vor Beginn des Auslesezyklus leitend geschaltet wird, und wobei
eine der in dem Speicherelement gespeicherte Information entsprechende Spannungsänderung an der Digitleitung
nach Sperren des Quertransistors das Flipflop in eine der Information entsprechende Lage gesetzt
wird, wobei diese Lage einem stabilen Punkt des Flipflops der Bewerterschaltung entspricht, und wobei
zum Auslesen die beiden Adreß-Transistoren über den gemeinsamen Gate-Anschluß leitend geschaltet werden,
wobei die Dimensionierung der Transistoren des Flipflops der Bewerterschaltung bei gleicher Versorgungsspannung
an dem Speicherelement und an dem Flipflop der Bewerterschaltung so gewählt wird, daß
die vorgegebene Spannung bei leitendem Quertransistor erreicht wird und wobei das Flipflop des
Speicherelementen in Bezug auf den Knoten, an dem der Auswahltransistor angeschlossen ist, symmetrisch
ausgelegt wird.
Der Vorteil einer solchen Bewerterschaltung liegt der größeren Schnelligkeit und in der höheren
cnkeit
^S Erläuterungen der Erfindung gehen aus der
Beschreibung und aus den Figuren bevorzugter Aus-Su,
gsbeisg p,ele der Erfindung und ihrer Weiterhil-
EJtTiB 1 zeigt in schematisier Darstellung die
Scha tnng eines Pünf-Transisioren-Speicherelementes
^einer^ertcrsehiilning.die^cinCnvcr.erstu.e
In der Fig. I ist das Fünf-Transistoren-Speicherelement
mit 2 bezeichnet. Dieses Speicherelement besteht aus einem Flipflop, das aus den Transistoren
21, 22, 23 und 25 aufgebaut ist. Dabei liegt zwischen den Punkten 27 und 28 dieses Flipflops die Versorgungsspannung
UB- Beispielsweise ist der Punkt 27
mit Masse verbunden. Der Knoten 29 des Flipflops ist über den Auswahllransistor 26, der ebenfalls Bestandteil
des Fünf-Transistoren-Speicherelementes 2 ist, mit der Digitleitung 3 verbunden. Das Gate dieses
Transistors ist über die Wortleitung 8 ansteuerbar.
Vorteilhafterweise ist das Flipflop in Bezug auf den Knoten 29, an dem der Auswahltransistor angeschlossen
ist, elektrisch symmetrisch ausgelegt, was bedeutet, daß der labile Punkt des Flipflops genau der halben
Versorgungsspannung entspricht.
Ebenfalls mit der Digitleitung 3 ist die Bewerterschaltung
1 verbunden. Diese Bewerterschaltung 1 besteht vorzugsweise aus den Transistoren 11, 12 und
13. Dabei sind die Transistoren 11 und 12 in Reihe geschaltet. Zwischen den Punkten 14 und 15 der I η verterstufe liegt die Versorgungsspannung. Dabei ist
beispielsweise der Punkt 14 mit Masse verbunden. Die Gate-Anschlüsse der Transistoren !1 und 12 sind in
dem Punkt 17 zusammengeführt. Dieser Punkt 17, der den Eingang der Bewerterschaltung darstellt, ist
mit der Digitleitung 3 verbunden. Der Punkt 16 stellt den Ausgang der Bewerterschaltung dar. Der Eingang
17 ist über den Quertransistor 13 in der aus der Figur ersichtlichen Weise mit dem Ausgang 16 verbunden.
Der Quertransistor 13 ist über sein Gate, das mit der Taktleitung 5 verbunden ist, ansteuerbar. Der Ausgang
16 der Bewerterschaltung ist über den Adreß-Iransistor
4, der über seinen Gate-Anschluß 41 ansteuerbar
ist, mit der Lescleitung 6 verbunden.
Die Digitleitung 3 ist über den Adreß-1 ransistor sz
mit der Schreibleitung 7 verbunden. Dabei ist der Transistor 32 über seinen Gate-Anschluß 321 ansteu-
erbar. tw,,rt„r
Sowohl die Speicherelemente als auch f'e Bewerterschaltung
sind in Komplementär-Kanal-(MOSrlecnnik.
vorzugsweise auf einem isolierenden Substrat, aufgebaut.
Im folgenden wird nun das erf.ndungsgemaße Ve fahren,
zunächst das Auslesen von Information aus dem Speicherelement 2 über die mit der Dig.tle.tung
verbundene Bewerterschaltung 1 beschrieben.
Vor Beginn des Auslesezyklus wird oer Transistor
über die Leitung 5 angesteuert und leitend geschalte
Dadurch wird der Eingang 17 der lnverterstufe mit
dem Ausgang 16 dieser Stufe verbunden. D« bewirkt,
daß über dem Eingang 17 eine vorgegebene die der Spannung am Knoten 29.^.^^
entspricht, wenn sich dieses im labilen Punkt
js an die Digilleitung gelegt wird, ««lurch die P
der Digitleitung «ut diese Spannung aufgeladen w rd
Di« Kapa^t« ,der H j, ««
von
Dars,*„g die ,s STSi^Sf di Qu.rtrans.s.ors ,3 den, vollen
5 6
Arbeitskennlinie 84 beim Lesen und die Arbeitskenn- Transistor 95 leitend geschaltet, wodurch das Flipflof
linien 83, 85 beim Schreiben dargestellt. Dabei ist auf in seinen labilen Punkt gesetzt wird und wodurch somi
der X-Achse die an dem Knotenpunkt 29 des Speicher- die Digitleitung 3 beispielsweise auf etwa die halb(
elementes anliegende Spannung U und auf der K-Achse Betriebsspannung gebracht wird (Fig. 2). Nachderr
der in das Speicherelement 2 fließende Strom / einge- 5 der Auswahltransistor des Speicherelementes 2, wa;
tragen. Zunächst befindet sich beim Lesevorgang, wie im einzelnen bereits im Zusammenhang mit der Fig. 1
oben bereits beschrieben, die Digitleitung auf einer vor- beschrieben wurde, in den leitenden Zustand gebrachi
gegebenen Spannung, die hier etwa der halben Versor- worden ist, wird das Flipflop der Bewerterschaltunj
gungsspannung entspricht. Dies entpsricht in der mit Hilfe des Stromes /, der aus bzw. in das Speicher-Figur
dem Punkt UbI2- Je nach der Art der in dem io element fließt, in eine der gespeicherten Informalior
Flipflop gespeicherten Information wird die Kapazität entsprechende Richtung gebracht. In der Fig. 2 entder
Digitleitung 3 entweder auf die Versorgungsspan- spricht dieser Strom etwa dem Strom Il »0« bzw
nung Ub aufgeladen oder auf die Spannung 0 ent- dem Strom Il »1«. Sobald der Quertransistor 95 abgeladen.
Das Aufladen der Kapazität der Digitleitung schaltet ist, kippt das Bewerter-Flipflop mit Unterauf
die Versorgungsspannung Un, wofür der Kurven- 15 Stützung des Lesestromes aus dem Speicherelement
ast 81 maßgeblich ist, entspricht dem Lesen einer »1«. in die der gespeicherten Information entsprechende
Das Entladen der Kapazität der Digitleitung auf die Lage. Dabei entspricht diese Lage einem der stabilen
Spannung 0, wofür der Kurvenast 82 maßgeblich ist. Punkte des Flipflops.
entspricht dem Lesen einer »0«. Zum Einschreiben der Information wird das dei
Durch die Ausnutzung der Verstärkung der Inverter- 20 einzuschreibenden Information entsprechende Polenstufe
reicht schon eine kleine Spannungsänderung auf tial über die beiden Transistoren 42 bzw. 43 dem
der Digitleitung 3 aus, um am Ausgang der Inverter- Bewerter-Flipflop und damit über die Digitleitung 3
stufe den vollen Spannungshub, der der gesamten dem Speicherelement zugeführt. In der Fig. 2 sind
Versorgungsspannung entspricht, zu erhalten. In der dafür die Kennlinien 83 bzw. 85 maßgeblich.
Fig. 3 ist die Abhängigkeit der am Ausgang der 25 Der Vorteil der Verwendung eines Flipflops ah
Inverterstufe auftretenden Spannung U11 von der am Bewerterschaltung liegt in der größeren Schnelligkeit
Eingang der Inverterstufe auftretenden Spannung Ue und in der höheren Empfindlichkeit,
dargestellt. Für die Störsicherheit der Schaltung ist es von Das am Ausgang 16 der Inverterstufe anliegende großer Bedeutung, daß vor dem Auslesen der Infor-Signal
wird vorzugsweise über den Transistor 4 30 mation die Digitleitung etwa auf die Spannung gcausgelesen.
bracht wird, die am Knotenpunkt des Speicherelemen-Zum Einschreiben von Information in das Speicher- tes auftritt, wenn es sich im labilen Punkt befindet.
element 2 wird ein der einzuschreibenden Information Diese Bedingung kann relativ genau erfüllt werden.
entsprechender Spannungspegel über den Adreß- wenn im Ausführungsbeispiel der Fig. 1 die Inverter-Transistor
32 an die Digitleitung 3 und somit bei 35 stufe der Bewerterschaltung 1 proportional zu dem
leitendem Transistor 26 an das Flipflop des Speicher- steuernden Zweig des Speicher-Flipflops und im Auselementes
angelegt. Dadurch wird das Flipflop je nach führungsbeispiel der Fig. 4 das Bewerter-Flipflop
der zu speichernden Information in die entsprechende proportional dem Speicher-Flipflop ausgelegt wird.
Lage gesetzt. In der Fig. 2 ist dies durch die Kenn- Dabei wird unter proportional verstanden, daß das
linie 83 bzw. 85 dargestellt. 40 Verhältnis der Quotienten aus Kanalbreite und Kanal-Gemäß
einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung länge bei den entsprechenden Transistoren gleich ist.
der Erfindung besteht die Bewerterschaltung 9, wie Beim Ausführungsbeispiel der Fig. 1 entsprechen die
in der Fig. 4 dargestellt, aus dem aus den Tran- Transistoren 11 bzw. 12 der Inverterstufe den Transistoren
91, 92, 93 und 94 bestehenden Flipflop und sistoren 23 bzw. 22 des Speicherelementes und beim
dem Quertransistor 95. Dabei befindet sich zwischen 45 Ausführungsbeispiel der Fig. 4 entsprechen die
den Punkten 96 und 97 des Flipflops die Versorgungs- Transistoren 91, 92, 93, 94 des Bewerter-Flipflops den
spannung UB- Beispielsweise liegt der Punkt 96 an Transistoren 22, 23, 21, 25 des Speicherelementes.
Masse. Die Knoten 98 und 99 des Flipflops sind über In diesen beiden Fällen kann die oben erwähnte
den Quertransistor 95 miteinander verbunden. Der Forderung genau erfüllt werden, wenn man von einer
Transistor 95 ist über die Taktleitung 71 ansteuerbar. 50 eventuellen Streuung der Parameter auf dem Chip
Zum Auslesen von Information wird zunächst der absieht.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
1. Verfahren zum Betrieb eines Fünf-Transisto- ment gespeicherten J^^^^^T^
ren-Speicherelementes in Komplementär-Kanal- 5 ^™^"^"8?"^^ daFl"p15op der
MOSPTechnik, wobei das Speicherelement aus ^«J^t" ^Z °JL de Somit L? en"
einem Speicher-Flipflop mit vier Transistoren, von Bewerterschaltung '"^1"
denen je' zwei in Reihe geschaltet und mit ihren ^"^ K Be^rteSaitung
Gateelektroden gemeinsam mit dem Knotenpunkt ^S und wöbe? zum Auslesen die beiden
der jeweils anderen Reihenschaltung verbunden io entspricht una WOD^' d
sind, und einem Auswahltransistor besteht, wobei Adreß-Trans.storen (42, 43) über den gerne n-
der Auswahltransistor mit einem der Knoten des samen Gat^n«W«ß i«1) eitend j^chaUet
FHpflops und mit einer Digitleitung verbunden werden, wobei dD,m ns.on e «g ^ Jran
ist, und wobei der Auswahltransistor über eine sistoren des ^11P110P5 "" d Soeicher
WortleKung. die mit seinem Gate verbunden ist, ,s ^^^Κ^Γοίτϊ^Α'η1;
angesteuert wird, dadurch gekennzeich- element unü an aem ι μ ^nriTi._ehene Smnniln„
η «ft daß die Kapazität der Digitleitung (3, beim so gewä It wird ^ vor eg^Spannung
Ausesen mittels einer Bewerterschaltung
<!, 9), bei leitenaem «κ Sneirherlemrnte* in
die in Komplementär-KanaMMOS)-Technik auf- und daß das Flip^P ?," J^^J^"
gebaut ist, vor Beginn des Aus.esezyklus auf eine 20 Bezug auf en KnoJ^- dem der Wahl-
vorgegebene Spannung aufgeladen wird, die in tiansistor i^o; αι>&
etwa der Spannung entspricht, die an dem belaste- ausgelegt wird,
ten Knoten (29) des Speicher-Flipflops auftritt,
wenn sich dieses in seinem labilen Punkt befindet,
wenn sich dieses in seinem labilen Punkt befindet,
Priority Applications (12)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19732317497 DE2317497C2 (de) | 1973-04-06 | 1973-04-06 | Verfahren zum Betrieb eines Fünf-Transistoren-Speicherelementes |
GB914474A GB1463621A (en) | 1973-04-06 | 1974-02-28 | Transistor storage systems |
AT222774A AT338018B (de) | 1973-04-06 | 1974-03-18 | Verfahren zum betrieb eines funf-transistoren-speicherelementes |
CH409174A CH589344A5 (de) | 1973-04-06 | 1974-03-25 | |
FR7410293A FR2224836B1 (de) | 1973-04-06 | 1974-03-26 | |
SE7404122A SE390354B (sv) | 1973-04-06 | 1974-03-27 | Forfarande for drift av ett med fem transistorer forsett minneselement |
IT5007074A IT1004116B (it) | 1973-04-06 | 1974-04-04 | Elemento memorizzatore a cinque transistori e dispositivo per il suo esercizio |
NL7404635A NL7404635A (de) | 1973-04-06 | 1974-04-04 | |
CA196,877A CA1045716A (en) | 1973-04-06 | 1974-04-04 | Method for operating transistor storage flip-flop and evaluator circuit therefor |
LU69791A LU69791A1 (de) | 1973-04-06 | 1974-04-05 | |
BE142912A BE813374A (fr) | 1973-04-06 | 1974-04-05 | Element de memoire a cinq transistors et procede pour son exploitation |
JP49038065A JPS5760714B2 (de) | 1973-04-06 | 1974-04-05 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19732317497 DE2317497C2 (de) | 1973-04-06 | 1973-04-06 | Verfahren zum Betrieb eines Fünf-Transistoren-Speicherelementes |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2317497B1 DE2317497B1 (de) | 1974-06-20 |
DE2317497C2 true DE2317497C2 (de) | 1975-02-13 |
Family
ID=5877304
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19732317497 Expired DE2317497C2 (de) | 1973-04-06 | 1973-04-06 | Verfahren zum Betrieb eines Fünf-Transistoren-Speicherelementes |
Country Status (12)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5760714B2 (de) |
AT (1) | AT338018B (de) |
BE (1) | BE813374A (de) |
CA (1) | CA1045716A (de) |
CH (1) | CH589344A5 (de) |
DE (1) | DE2317497C2 (de) |
FR (1) | FR2224836B1 (de) |
GB (1) | GB1463621A (de) |
IT (1) | IT1004116B (de) |
LU (1) | LU69791A1 (de) |
NL (1) | NL7404635A (de) |
SE (1) | SE390354B (de) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS51127628A (en) * | 1975-04-28 | 1976-11-06 | Toshiba Corp | Semiconductor memory |
JPS5345939A (en) * | 1976-10-07 | 1978-04-25 | Sharp Corp | Ram circuit |
JPS53117340A (en) * | 1977-03-24 | 1978-10-13 | Toshiba Corp | Semiconductor memory |
JPS54107638A (en) * | 1978-02-10 | 1979-08-23 | Sanyo Electric Co Ltd | Memory data readout circuit in semiconductor memory unit |
US4208730A (en) * | 1978-08-07 | 1980-06-17 | Rca Corporation | Precharge circuit for memory array |
JPS57113492A (en) * | 1981-01-07 | 1982-07-14 | Nec Corp | Memory circuit |
JPS57173196U (de) * | 1982-03-25 | 1982-11-01 | ||
JPS60242582A (ja) * | 1984-05-16 | 1985-12-02 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置のセンス増幅器 |
JPS60242581A (ja) * | 1984-05-16 | 1985-12-02 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置のセンス増幅器 |
JPH0333844U (de) * | 1989-08-09 | 1991-04-03 | ||
FR2670061B1 (fr) * | 1990-11-30 | 1996-09-20 | Bull Sa | Procede et dispositif de transfert de signaux binaires differentiels et application aux additionneurs a selection de retenue. |
FR2974667B1 (fr) | 2011-04-26 | 2020-10-02 | S O I Tec Silicon On Insulator Tech | Amplificateur de detection differentiel sans transistor de commutation |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3644907A (en) * | 1969-12-31 | 1972-02-22 | Westinghouse Electric Corp | Complementary mosfet memory cell |
US3600609A (en) * | 1970-02-03 | 1971-08-17 | Shell Oil Co | Igfet read amplifier for double-rail memory systems |
-
1973
- 1973-04-06 DE DE19732317497 patent/DE2317497C2/de not_active Expired
-
1974
- 1974-02-28 GB GB914474A patent/GB1463621A/en not_active Expired
- 1974-03-18 AT AT222774A patent/AT338018B/de not_active IP Right Cessation
- 1974-03-25 CH CH409174A patent/CH589344A5/xx not_active IP Right Cessation
- 1974-03-26 FR FR7410293A patent/FR2224836B1/fr not_active Expired
- 1974-03-27 SE SE7404122A patent/SE390354B/xx unknown
- 1974-04-04 NL NL7404635A patent/NL7404635A/xx unknown
- 1974-04-04 IT IT5007074A patent/IT1004116B/it active
- 1974-04-04 CA CA196,877A patent/CA1045716A/en not_active Expired
- 1974-04-05 JP JP49038065A patent/JPS5760714B2/ja not_active Expired
- 1974-04-05 LU LU69791A patent/LU69791A1/xx unknown
- 1974-04-05 BE BE142912A patent/BE813374A/xx unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
LU69791A1 (de) | 1974-11-21 |
SE390354B (sv) | 1976-12-13 |
FR2224836B1 (de) | 1980-08-14 |
IT1004116B (it) | 1976-07-10 |
AT338018B (de) | 1977-07-25 |
BE813374A (fr) | 1974-10-07 |
NL7404635A (de) | 1974-10-08 |
FR2224836A1 (de) | 1974-10-31 |
DE2317497B1 (de) | 1974-06-20 |
GB1463621A (en) | 1977-02-02 |
JPS49131545A (de) | 1974-12-17 |
CH589344A5 (de) | 1977-06-30 |
CA1045716A (en) | 1979-01-02 |
ATA222774A (de) | 1976-11-15 |
JPS5760714B2 (de) | 1982-12-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2527486C3 (de) | Verfahren zur Prüfung bistabiler Speicherzellen | |
DE2450116C2 (de) | Dynamisches Ein-Transistor-Speicherelement für nichtflüchtige Speicher und Verfahren zu seinem Betrieb | |
DE2154024A1 (de) | Binäres Speicherelement aus einer Flip-Flop Schaltung | |
DE2317497C2 (de) | Verfahren zum Betrieb eines Fünf-Transistoren-Speicherelementes | |
DE1774708B2 (de) | ||
DE2514582C2 (de) | Schaltung zur erzeugung von leseimpulsen | |
DE2622307C2 (de) | Integrierte Halbleiterspeichervorrichtung | |
DE2620187A1 (de) | Monostabile multivibratorschaltung | |
DE2154025C3 (de) | Speicherschaltung aus Feldeffekttransistoren | |
DE2818783C3 (de) | Datenspeicherzelle | |
DE2351554C2 (de) | Speicher für direkten Zugriff mit dynamischen Speicherzellen | |
DE2519323C3 (de) | Statisches Drei-Transistoren-Speicherelement | |
EP0046551A2 (de) | Monolithische statische Speicherzelle und Verfahren zu ihrem Betrieb | |
DE2523683A1 (de) | Leitung zum transport einer ladung, insbesondere bitleitung fuer speicherelemente, die ein speicherfeld bilden | |
DE2223734A1 (de) | Monolithische Speicherzelle | |
DE2424858A1 (de) | Integrierte treiberschaltung | |
DE1959374C3 (de) | Einspeicherungs- und Ausspeicherungsschaltungsanordnung für eine binäre Halbleiter -Speicherzelle | |
DE2442134B1 (de) | Verfahren zum Betrieb eines Speicherelementes | |
DE2431079A1 (de) | Dynamischer halbleiterspeicher mit zwei-tranistor-speicherelementen | |
DE2433077A1 (de) | Dynamische speichereinrichtung | |
DE3330013A1 (de) | Statische speicherzelle | |
DE2251640A1 (de) | Elektronisches speicherelement und dieses verwendendes speicherwerk | |
DE2339735C3 (de) | Statisches Speicherelement mit einem Speicher-Flipflop | |
DE1762383C3 (de) | Dynamische Verknüpfungsschaltung zur Durchführung von logischen Verknüpfungen | |
DE2418969A1 (de) | Regenerier- und bewerterschaltung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |