DE1959374C3 - Einspeicherungs- und Ausspeicherungsschaltungsanordnung für eine binäre Halbleiter -Speicherzelle - Google Patents
Einspeicherungs- und Ausspeicherungsschaltungsanordnung für eine binäre Halbleiter -SpeicherzelleInfo
- Publication number
- DE1959374C3 DE1959374C3 DE1959374A DE1959374A DE1959374C3 DE 1959374 C3 DE1959374 C3 DE 1959374C3 DE 1959374 A DE1959374 A DE 1959374A DE 1959374 A DE1959374 A DE 1959374A DE 1959374 C3 DE1959374 C3 DE 1959374C3
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- mos
- line
- memory cell
- data
- gate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 7
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims description 8
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 66
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 1
- 238000005513 bias potential Methods 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 238000009415 formwork Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000005728 strengthening Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
- G11C11/412—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger using field-effect transistors only
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
- G11C11/413—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
- G11C11/417—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
- G11C11/413—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
- G11C11/417—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
- G11C11/419—Read-write [R-W] circuits
Description
beim Anliegen eines binären Datensignals liefern,
dadurch gekennzeichnet, daß ein
eingangsscitig mit einem Schreibbefehl beaufschlagbares Schreibgatter (108) mit seinen beiden
Ausgängen an je eine Eingangsleitung (102, 104) 15
eingangsscitig mit einem Schreibbefehl beaufschlagbares Schreibgatter (108) mit seinen beiden
Ausgängen an je eine Eingangsleitung (102, 104) 15
dev Bittreiberstufe (96) angeschlossen ist, daß Die Erfindung betrifft eine Einspeicherungs- unc
eine Datenschalteinrichtung (201) mit Umkehr- Ausspeicherungsschaltungsanordnung für eine binäre
stufen (114, 112) eingangsseitig für den Empfang als Flip-Flop aufgebaute Halbleiter-Speicherzelle, be
der zu speichernden Daten an eine Datenleitung welcher komplementäre, mit einer ersten und einei
(116) angeschlossen und mit einem ersten und ao zweiten Eingangsleitung versehene Bittreiberstufer
zweiten ausgangsseitigen Anschluß (204, 214) mit ausgangsseitig an ein Bitleitungspaar angeschlosser
den entsprechenden Eingangsleitungen (102, sind, die komplementäre Binärsignale beim Anlieger
104) der Bittreiberstufe (96) zur Einspeisung des eines binären Datensignals liefern, wobei die Halb
Datensignal sowie des komplementären Daten- Ieiter-Speicherzelle vorzugsweise aus Metalloxyd
signals verbunden ist, daß beim Anliegen des as SiliciumLalbleitern (nachfolgend als MOS bezeichnet'
Schreibbefehls am Schreibgatter und eines Daten- aufgebaut und in monolithisch integrierter Bauvveist
signals an der Datenleitung das Datensignal in herstellbar ist.
die Speicherzelle (25) einspeicherbar ist, daß ein Bekannte Halbleiterspeicher in MOS-Technik um
an sich bekanntes Lesegatter (118) mit einer fassen häufig zumindest eine MOS-Speicherzelle, dis
ersten an die Speicherzelle (25) angeschlossenen 30 zwei oder mehrere kreuzweise gekoppelte MOS
Leitung (103) mit einer zweiten Leitung (121) Transistoren in einer bistabilen Flip-Flop-Anordnunj
\ ν rillen isi, über welche ein Lesebefehl anlegbar umfaßt (FR-PS 1507 401?). Die beiden kreuzwei.i
ist, und daß das Lesegatter ausgangsseitig über gekoppelten MOS-Transistoren werden wechselweist
eine Pufferstufe (122) derart an die Datenleitung leitend, wenn die Speicherzelle von dem einen in der
(116) angeschlossen ist, daß beim Anliegen eines 35 anderen Binärzustand umgeschaltet wird. Die Spei-
Lesebefehls der binäre Signalzustand der Spei- cherzelle ist wie weitere Speicherzellen an zwei Bit
cherzelle (25) zur Datenleitung (116) übertragbar leitungen angeschlossen. Beim Schreibbetrieb sind die
ist. Speicherzellen über Bittreiberstufen mit der Daten
2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, da- leitung verbunden.
durch gekennzeichnet, daß die Pufferstufe (122) 40 Es ist auch bereits bekannt, für MOS-Flip-Flopaus
einem am Tor (218) ansteuerbaren MOS- Speicherzellen aus die charakteristischen elektrischen
Transistor (216) besteht und eine hohe Eingangs- Eigenschaften der MOS-Transistoren zu benutzen,
impedanz aufweist. um die Bitleitungen an die Dateneingangs- bzw,
3. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, da- -ausgangsleitungen über hohe Impedanzen anzudurch
gekennzeichnet, daß die Umkehrstufen 45 schließen und dabei insbesondere den Ausgang dei
(112, 114) jeweils aus einem Umkehrelement Speicherzelle über ein Lesegatter an die Datenaus-
(200 bzw. 212) bestehen und zur Erzeugung des gangs- bzw. Dateneingangsleitung anzuschließen
komplementären Datensignals in Serie geschaltet (»IBM Technical Disclosure«, Januar 1966, S. 1142
sind. und 1143). Auf Grund der den MOS-Transistoren
4. Schaltungsanordnung nach einem oder 50 eigenen charakteristischen Impedanzwerte ist die
mehreren der Ansprüche 1 bis 3, dadurch ge- Impedanz an den Anschlußklemmen der Speicherkennzeichnet,
daß das Schreibgatter (108) ein zellen verhältnismäßig hoch. Durch die gegebene
erstes, zwischen den Eingang (110) für den Anschaltung des Lesegatters am Ausgang der Spei-Schreibbefehl
und die eine Eingangsleitung (102) cherzelle reicht dieses jedoch nicht aus, um den Ausder
Bittreiberstufe (96) geschaltetes Umkehr- 55 gang der Speicherzelle ausreichend gegenüber exterelement
(190) sowie ein zweites zwischen den nen Belastungskapazitäten und über solche eingc-Eingang
(110) für den Schreibbefehl und die streute Geräusche zu entkoppeln.
zweite Eingangsleitung (104) der Bittreiberstufe Durch solche externe Belastungskapazitäten und
(96) geschaltetes Umkehrelement (186) umfaßt, die eingestreuten Geräusche kann ein unbeabsichtig-
und daß das erste und zweite Umkehrelement 60 tes Umschalten der Speicherzelle sowohl über dessen
gleichzeitig den Schreibbefehl an die Bittreiber- Eingangsseite als auch dessen Ausgangsseite bewirkt
stufe (96) anlegt, um diese während der Dauer werden. Wegen dieser nicht ausreichenden Entkopp-
des Anliegens des Schreibbefehls in einen Bereit- lung kann daher das Umladen großer Belastungs-
schaftszustand zum Einspeichern eines Daten- kapazitäten erforderlich sein,
signals zu schalten. 65 Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine
5. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, da- weitere Verbesserung der Entkopplung der Speicherdurch
gekennzeichnet, daß das Lesegatter (118) zelle und der dieser zugeordneten Bittreiberstufen
zwei parallelgeschaltete MOS-Transistoren (220, während des Einschreibens und des Auslesens von
3 4
Informationen zu schaffen, um das unbeabsichtigte teten MOS-Transistoren der Ausgang des Lesegat-
Umschalten der Speicherzelle auf Grund kapazitiver ters ist.
Belastung über die Dateneingangs- bzw. Datenaus- Die Erfindung ist in der Zeichnung beispielsweise
gangsleitung zu verhindern. Diese A-jfgabe wird er- dargestellt Es zeigt
Rndungsgemäß dadurch gelöst, daß ein eingangssei- 5 Fig. 1 ein Blockdiagramm einer Speicherschaltig
mit einem Schreibbefehl beaufschlagbares Schreib- tungsanordnung, bei dem gemäß der Erfindung eine
gatter mit seinen beiden Ausgängen an je eine Fin- Lese-Schreib-Pufferschaltung Verwendung findet,
gangsleitung der Bittreiberstufe angeschlossen ist, daß F i g. 2 ein Impulsdiagramm der binären Eingangseine Datensc^alteinrichtung mit Umkehrstufen ein- daten für die Schaltungsanordnung gemäß F i g. l,sogangsseitig für den Empfang der zu speichernden io wie der von dieser gelieferten binären Ausgangsdaten, Daten an eine Datenleitung angeschlossen und mit Fig. 3 ein Blockdiägramm der Lese-Schreib-Pufeinem ersten und rweiten ausgangsseitigen Anschluß ferschaltung gemäß der Erfindung,
mit den entsprechenden Eingangsleitungen der Bit- F i g. 4 ein Schaltbild der Lese-Schieib-Pufferschaltreiberstufe zur Einspeisung des Datensignals sowie ttuyj gemäß der Erfindung.
gangsleitung der Bittreiberstufe angeschlossen ist, daß F i g. 2 ein Impulsdiagramm der binären Eingangseine Datensc^alteinrichtung mit Umkehrstufen ein- daten für die Schaltungsanordnung gemäß F i g. l,sogangsseitig für den Empfang der zu speichernden io wie der von dieser gelieferten binären Ausgangsdaten, Daten an eine Datenleitung angeschlossen und mit Fig. 3 ein Blockdiägramm der Lese-Schreib-Pufeinem ersten und rweiten ausgangsseitigen Anschluß ferschaltung gemäß der Erfindung,
mit den entsprechenden Eingangsleitungen der Bit- F i g. 4 ein Schaltbild der Lese-Schieib-Pufferschaltreiberstufe zur Einspeisung des Datensignals sowie ttuyj gemäß der Erfindung.
des komplementären Datensignals verbunden ist, daß 15 Das in F i g. 1 dargestellte Blockdiagramm umfaßt
beim Anliegen des Schreibbefehls am Schreibgatter eine Adressier-, Umkehr- und Dekodierschaltung 10
und eines Datensignals an der Datenleitung das Da- mit vier Bit-Adressenleitungen 12,14,16 und 18 und
tensignal in die Speicherzelle einspeicherbar ist, daß einer Vorbereitungsleitung20. In einem gemäß Fig. 1
ein an sich bekanntes Lesegatter mit einer ersten an aufgebauten System umfaßt die Adressier-, Umkehr-
die Speicherzelle angeschlossenen Leitung mit einer «ο und Dekodierschaltung 10 sechzehn Metalloxydhalb-
zwciten Leitung versehen ist, über welche ein Lese- leiter (MOS) als Nor-Gatter zum Adressieren und
befehl anlegbar ist, und daß das Lesegatter ausgangs- Dekodieren. Jedes Gatter ist derart geschaltet, daß
seitig über eine Pufferstufe derart an die Datenleitung es vier Bits in einem Speicherfeld 24 mit sechzehn
angeschlossen ist, daß beim Anliegen eines Lese- Worten und vierundsechzig Bits ansteuert. Der Ein-
befehls der binäre Signalzustand der Speicherzelle zur »5 fachheit halber ist in F i g. 1 nur eine einzige Leitung
Datenleitung übertragbar ist. für die sechzehn ausgangsseitigen Wortauswahlleitun-
Eine nach den Merkmalen der Erfindung aufge- gen von diesen sechzehn Nor-Gattern dargestellt,
baute Einspeicherungs- und Ausspeicherungsschal- Das Speicherfeld 24 für sechzehn Worte und vier-
tungsanordnung bietet den Vorteil, daß externe Be- undsecruig Bits besitzt ausgangsseitig vier Bitleitungs-
lastungskapazitäten über die Dateneingangsleitung 30 paare 26-28, 30-32, 34-36 und 38-40, die mit den
nicht auf das Speicherelement über die Bittreiber- Eingängen von vier identischen Lese-Schreib-Puffer-
stufen einwirken können. Ferner wird auch eine schaltungen 42, 44, 46 und 48 verbunden sind. Die
bessere Entkopplung der Datenausgangsleitung im Lese- und Schreibdaten erscheinen an jeweils einer
Lesebetrieb gewährleistet. Ausgangsleitung 50, 52, 54 und 56, wie aus der nach-
Gemäß einer Ausgestaltung der Erfindung besteht 35 folgenden Beschreibung im einzelnen hervorgeht,
die Pufferstufe aus einem am Tor ansteuerbaren Die aus einem Schreibbefehl, einem Lesebefehl und
MOS-Transistor und weist eine hohe Eingangsimpe- einem Vorbereitungssignal bestehenden Daten sind in
danz auf. Durch die Zwischenschaltung der Puffer- F i g. 2 in einem Impulsdiagramm dargestellt. Für die
stufe läßt sich eine weitere Entkopplung der Aus- weitere Betrachtung wird als Voraussetzung ange-
gangsseite der Speicherzelle beim Lesebetrieb erzie- 40 nommen, daß eine negative Spannung — V eine
len, wobei gleichzeitig das ausgelesene Datensignal binäre 0 und die Spannung 0 oder Massepotential
a ' Grund der mit dem MOS-Transistor erzielbaren eine binäre 1 darstellen.
V L ι Stärkerwirkung verstärkt wird. Gemäß den F i g. 3 und 4 besteht das maßgebende
Die Umkehrstufen der mit den Eingargsleitungen Speicherelement, das mit der Lese-Schre:o-Pufferder
Bittreiberstufe verbundenen Datenschalteinrich- 45 schaltung 42 verbunden ist, aus einer Speicherzelle
tung bestehen jeweils aus einem Umkehrelement. Die 25, die häufig auch als Ein-Bit-Speicher bezeichnet
Umkehrelemente sind zur Erzeugung des komplemen- wird, da sie nur zur Speicherung einer aus einem Bit
tären Datensignals in Serie geschaltet. bestehenden Information in der Lage ist. Im Bein
weiterer Ausgestaltung der Erfindung ist ferner triebszustand befindet sich die Speicherzelle 25 in
vorgesehen, daß das Schreibgatter ein erstes, zwischen 5" einem von zwei fixierten Leitfähigkeitszuständen, so
den Eingang für den Schreibbefehl und die eine Ein- daß die Speicherzelle entweder eine binäre 1 oder
gangsieitung der Bittreiberstufe geschaltetes Umkehr- eine binäre 0 speichert. In dem in F i g. 1 angedeuteelement
sowie ein zweites zwischen den Eingang für ten System sind vierundsechzig derartige Speicherden
Schreibbcfehl und die zweite Eingaiigsleitung der zellen für ein Bit in vier Spalten zu sechzehn Bit pro
Bittreiberstufe geschaltetes Umkehrelement umfaßt, 55 Spalte ausgerichtet. Eine Lese-Schreib-Pufferschal-
und daß das erste und zweite Umkehrelement gleich- tung der zu beschreibenden Art wird von einer einzizeitig
den Schreibbefehl an die Bittreiberstufe anlegt, gen Spalte aus sechzehn derartigen Speicherzellen geum
diese während der Dauer des Anliegens des speist, wobei jede dieser Zellen ein Bit eines aus vier
Schreibbefehls in einen Bereitschaftszustand zum Ein- BU bestehenden Wortes repräsentiert. Diese nicht
speichern eines Datensignals zu schalten. 60 dargestellten sechzehn Zellen sind an ein gemein-Zur
Erzielung eines besser entkoppelnden Lese- sames Bitleitungspaar, z. B. die Leitungen 26 und 28
gatters ist nach einer besonderen Ausgestaltung der gemäß Fig. 1, angeschlossen, über welche die Lese-Erfindung
vorgesehen, daß das Lesegatter zwei par- Schreib-Pufferschaltung in der nachfolgend beschrieallelgeschaltete
MOS-Transistoren umfaßt, von de- benen Weise gespeist wird.
nen der eine MOS-Transistor an der Eingangsleitung 65 Gemäß den F i g. 3 und 4 sind die Bitleitungen 2(
für den Lesebefehl liegt und der andere MOS-Tran- und 28 an jeweils entsprechend zugeordnete Ab
sistor mit einer Bitleitung verbunden ist, und daß der Schlußeinrichtungen 92 und 94 angeschlossen. Ge·
eemeinsame Verbindungspunkt der parallelgeschal- maß F i g. 4 bestehen diese Abschlußeinrichtunger
aus Oberflächen-Feldeffekttransistoren 95 und 99, die rung bewirken und zwischen der Spannungsversorallgemeiner
auch unter dem Begriff »Metalloxyd- gung — V00 an der Klemme 150 und Massepotential
Halbleitervorrichtung« unter der Abkürzung MOS liegen. Eine Torvorspannung — VG(; wirkt an dem
bekannt sind. Im folgenden werden derartige Halb- Torbereich 148 des oberen MOS 142, der als Lasl
leitervorrichtungen bzw. die entsprechenden Tran- 5 für den unteren MOS 144 wirksam ist. Wenn Bitaussistoren
mit der Abkürzung MOS bezeichnet. Der wahldaten A an dem Torbereich 146 des MOS 144
Aufbau eines MOS, bestehend aus einem Quellbe- wirksam sind, wird dieser leitend, so daß die Ausreich,
einem Senkenbereich und einem Torbereich, wahlleitung 140 die dem Einschaltpotential des MOS
sowie dessen Anwendung sind allgemein bekannt. 144 entsprechende Spannung Van annimmt, welche
Wenn für die Anwendung an den Torbereich ein ent- to nahe bei dem Massepotential liegt,
sprechendes Einschakpotential angelegt wird, so be- Weitere nicht dargestellte Umkehrstufen, die wie
sprechendes Einschakpotential angelegt wird, so be- Weitere nicht dargestellte Umkehrstufen, die wie
einflußt dieses die Leitfähigkeit in dem Kanal zwi- die Umkehrstufe aus den MOS 142 und 144 aufgesehen
dem Quellbereich und dem Senkenbereich. Die baut sein können, sind mit den Torbereichen der
in Fig. 4 dargestellten MOS besitzen einen Kanal MOS 126, 130, 134 und 138 als Adressier-Umkehrmit
P-Leitung, dessen Majoritätsträger oder Defekt- »s stufen verbunden. An diese Umkehrstufen müssen
elektroden von dem Masseanschluß zur negativen Bitauswahldaten angelegt werden, um an jedem der
Spannungsversorgung -V00 fließen. Beim Anlegen MOS 126, 130, 134 und 138 eine Spannung V0n
eines negativen Potentials mit entsprechender Ampli- wirksam werden zu lassen und letztere abzuschalten,
tude an den Torbereich des MOS wird dieser leitend bevor die Wortleitung 90 negativ wird und damit die
und führt einen entsprechenden Strom über die Ka- ao Speicherzelle 25 entweder zum Empfang von Daten
nalstrecke. oder für die Abfragung vorbereitet.
Zwei aus MOS aufgebaute, im Gegentakt arbei- Die Speicher/eile 25 ist aus vier MOS 154, 156,
tende Bit-Treiber 97 und 98 bilden eine Bittreiber- 158 und 160 aufgebaut, die für ein bistabiles Umstufe
96. Sie sind über Leitungen 102 und 104 mit schaltverhalten kreuzweise miteinander gekoppelt
Umkehrstufen 112 und 114 verbunden. Das Daten- »5 sind. Die an der Klemme 161 anliegende Versoreingangssignal
auf der Datenleitung 116 wird der gungsspannung - Vuo liegt an dem Senkenbereich
Eingangsseite der Umkehrstufe 114 zugeführt und der MOS 158 und 160, die mit einer an der Klemme
nach der Umkehr in der Stufe 114 von dem aus- 159 wirksamen Vorspannung - Vüli im Torbereich
gangsseitigen Anschluß 204 über die Leitung 102 derart angesteuert werden, daß die beiden MOS 158
zum Treiber 97 übertragen. Das am Anschluß 204 so und 160 als Belastungsimpedanz für die beiden MOS
anliegende Signal wird ferner der Umkehrstufe 112 154 und 156 wirksam sind. Die Ausgangsschaltung
zugeführt und erscheint an deren ausgangsseitigem der Speicherzelle wird von zwei MOS 162 und 164
Anschluß 214 als erneut umgekehrtes Datensignal, gebildet, die die Speicherzelle 25 mit dem Bitleitungsdas
über die Leitung 104 an den Treiber 98 übertra- paar 26-28 verbinden. Die Wortleitung 90 liegt an
gen wird. Die mit der Dateneingangs- und Datenaus- 35 den Torbereichen 166 und 168 der für die Ausgangsgangsleitung
116 verbundenen Umkehrstufen 112 und schaltung vorgesehenen MOS 162 und 1164. Wenn
114 werden als DatenschaIteinnchtung201 bezeichnet. alle MOS 126,130, 134, 138 und 139 der Adressier-,
Der Schreibbefehl auf der Leitung 110 wird an die Umkehr- und Dekodierschaltung 10 abgeschaltet sind,
Eingangsseite des als Umkehrstufe arbeitenden befindet sich die Wortleitung 90 auf einem negativen
Schreibgatters 108 angelegt, von welcher der eine 40 Potential und schaltet einen der MOS 162 oder 164
Ausgang an der Leitung 102 und der andere Aus- je nach der binären Schaltlage der Speicherzelle 25
gang an der Leitung 104 liegt. Um binäre Daten in in den leitenden Zustand.
die Speicherzelle 25 einzuschreiben, müssen diese an Die Bittreiberstufe 96 der Lese-Schreib-Puffer-
der Datenleitung 116 anliegen, während gleichzeitig schaltung 42 umfaßt die beiden kreuzweise miteinein
Schreibbefehl am Eingang des Schreibgatters 108 45 ander verbundenen Gegentakt-Treiber 97 und 98.
wirksam ist. Diese Treiber liegen zwischen einer als Senke wirk-
Ein Lesegatter 118 ist über die Leitung 103 mit samen Versorgungsspannung - V00 und Masseder
einen Bitleitung 28 verbunden, wogegen die Aus- potential. Der Treiber 97 umfaßt die MOS 170 und
gangsseite des Lesegatters 118 über die Leitung 105 174. während der Treiber 98 die MOS 178 und 182
an einer ausgangsseitigen Pufferstufe 122 liegt. Der 50 enthält.
Ausgang dieser Pufferstufe 122 ist über die Leitung Die Abschlußeinrichtungen 92 and 94 für das Bit-
107 an die Datenleitung 116 angeschlossen. Durch leitungspaar 26-28 enthalten entweder Belastungv
das Anlegen eines Lesebefehls an die Klemme 120 widerstände oder, wie in der Zeichnung dargestellt,
wird die Speicherzelle 25 abgefragt MOS 95 und 99. Diese Abschlußeinrichtungen ver-
GemäB F i g. 4 umfaßt die Adressier-, Umkehr- a binden die Gegentakt-Treiber 97 and 98 mit einem
and Dekodierschaltang If fünf parallelgeschaltete fixierten Vorspannungspotential -V00. Die aus-MOS
126, 130, 134, 138 and 139, die alle zwischen gangsseitigen Anschlösse der Gegentakt-Treiber 97
der Wortlertting 90 and einem Bezagspotential bzw. and 98 sind direkt mit den entsprechenden Bitleitun-Masse
liegen. Das Potential an den Dateneingangslei- gen 26 bzw. 28 verbanden.
hingen 128, 132, 136 and 140 sowie an der Vorbe- Co Die Datenemgangs- and Datenausgangsleitung 116
reitungsleitung 20 muß ungefähr das Massepotential liegt am Torbereich 202 des MOS 200 in der ersten
annehmen, bevor die Spannung auf der Wortleitung Umkehrstufe 114. Die Senkenspannung des MOS
90 einen negativen Wert von - V erreicht and da- 200 tritt am Anschluß 204 auf, der direkt mit dem
durch die Speicherzelle 25 leitend macht. Wenn Gatterbereich 213 des MOS 212 in der zweiten Umbinäre Daten in die Speicherzene 25 eingeschrieben 65 kehrstufe 112 verbunden ist. Die MOS 200 und 212
oder werm die Speicherzelle abgefragt werden soll, in der ersten und zweiten Umkehrstufe sind jeweils
wird dies durch die Verwendung in Serie geschalteter über einen MOS 194 bzw. 206 mit der an den Klem-MOS
142 und 144 möglich, die eine Signalumkeh- men 198 und 210 wirksamen Spannung VllU ver-
bunden, wobei die MOS 194 und 206 als Last wirksam sind. Die Torbereiche 196 und 208 der MOS
194 und 206 sind jeweils mit ihrem eigenen Senkenbereich verbunden, so daß sie als strombegrenzende
Last für die MOS 200 bzw. 212 wirksam sind. Das an den Torbereich 202 des MOS 200 angelegte Dateneingangssignal
wird somit umgekehrt und über die Leitung 102 dem Gegentakt-Treiber 98 zugeführt.
Das am Anschluß 204 wirksame Ausgangssignal wird in dem MOS 212 erneut umgekehrt und
über die Leitung 104 an den Gegentakt-Treiber 97 angelegt.
Die ausgangsseitige Pufferstufe 122 umfaßt den MOS 216, dessen Torbereich 218 mit der Leitung
105 vom Lesegatter 118 verbunden ist. Der Senkenbereich des MOS 216 ist an die Leitung 107 angeschlossen,
die mit der Dateneingangs- und Datenausgangsleitung 116 in Verbindung steht.
Das Schreibgatter 108 umfaßt MOS 186 und 190, deren Torbereiche 188 und 192 gemeinsam mit der
Klemme 110 verbunden sind, über welche der Schreibbefehl zugeführt wird. Die Senkenbereiche
und damit die Ausgangsseite der MOS 186 und 190 liegen über die Leitung 104 bzw. 102 an den Gegentakt-Treibern
97 und 98. Das Schreibgatter 108 wird nachfolgend im Zusammenhang mit der Wirkungsweise
der Lese- und Schreibschaltung näher erläutert.
Das Lesegatter 118 umfaßt zwei parallelgeschaltete MOS 220 und 224, die zwischen der ausgangssei
ügen Leitung 105 und dem Bezugspotential bzw. Masse liegen. Der Torbereioh 222 des MOS 220 ist
mit der Bitleitung 28 verbunden und spricht auf das an dieser Leitung anliegende Potential an, um die
ausgangsseitige Spannung auf der Leitung 105 entsprechend zu steuern. Ein als Last wirkender MOS
228 liegt zwischen dem Senkenbereich des MOS 220 und der Versorgungsspannung — V00, die an der
Klemme 232 wirksam ist. Der Torbereich 226 des MOS 224 ist mit der Klemme 120 verbunden, über
welche ein Lesebefehl 72 bzw. 74 gemäß F i g. 2 angelegt wird, wenn die Speicherzelle 25 abgefragt werden
soll.
Für die Betrachtungsweise der Funktion der Lese-Schreib-Pufferschaltung
wird angenommen, daß eine binäre 1 in die Speicherzelle 25 eingeschrieben werden
soll, und daß die Speicherzelle 25 eine binäre 1 speichert, wenn der MOS 156 leitend und der MOS
154 nicht leitend ist. Femer soll in der Speicherzelle 25 eine binäre 0 gespeichert sein, wenn der MOS 156
nicht leitend und der MOS 154 leitend ist. Es wird ferner angenommen, daß alle MOS 126, 130, 134,
138 und 139 in den nichtleitenden Zustand ausgesteuert sind, und daß sich die Wortleitung 90 auf
einem negativen Potential befindet. Wenn sich die Wortleitung90 auf dem negativen Potential -V0n
befindet, sind bei MOS 162 und 164 leitend. Deshalb soll die Vorbereitungsspanmmg 76 gemäß F i g. 2
niemals dem Datensignal, dem Schreibbefehl oder dem I^sebefehl folgen. Für diesen Fall wurden nämlich
die Bitleitungspaare 26 bis 28 mit der Speicherzelle 25 während der Zeit fälschlich verbunden sein,
innerhalb der die Speicherzelle abgeschaltet oder gesperrt sein soll.
Um in die Speicherzelle 25 eine binäre 1 unabhängig von dem zuvor herrschenden binären Zustand
einzuschreiben, muß durch ein Differenzsignal an den Ausgängen der Gcgentakt-Treiber 97 und 98
die Bitleitung 28 auf etwa Massepotential und die Bitleitung 26 auf ein negatives Potential gebracht
werden. Ferner ist zum Einschreiben einer binären 1 in die Speicherzelle 25 erforderlich, daß gleichzeitig
ein Datensignal 60 für das Schreiben der binären 1, ein Schreibbefehl 66 und ein Vorbereitungssignal 78
an die Adressier-, Umkehr- und Dekodierschaltung 10 angelegt wird. Für die weitere Beschreibung wird
zunächst das Datensignal 60 zum Schreiben einer binären 1 und dessen Wirkung auf die Lese-Schrei b-Pufferschaltung
42 betrachtet. Anschließend wird die Wirkungsweise des Schreibbefehls 66 betrachtet, wobei
angenommen wird, daß das Vorbereitungssignal 78 anliegt und sich die Wortleitung 90 auf einem
negativen Potential befindet.
Wenn das Datensignal 60 für das Schreiben einer binären 1 an den Torbereich 202 des MOS 200 angelegt
wird, schaltet der MOS 200 ab, so daß sich am Anschluß 204 ein negatives Potential ausbildet, das
den MOS 212 einschaltet. Auf diese Weise erscheinen am Anschluß 204 und 214 der beiden Umkehrstufen
114 und 112 komplementäre Signale, von denen das eine negativ und das andere positiv verläuft.
Das negativ verlaufende Signal am Anschluß 204 wird über die Leitung 102 an die Torbereiche
172 und 184 der MOS 170 und 182 angelegt. Dieses negative Signal steuert die beiden MOS 170 und 182
in den leitenden Zustand, wodurch die Bitleitung 28 in etwa auf Massepotential und die Bitleitung 26 in
etwa auf das Potential der Senkenspannung — VnD
des MOS 170 gebracht wird. Damit sind die vorausgehend beschriebenen Bedingungen für die Bitleitungspaare
26 bis 28 gegeben, um in die Speicherzelle 25 eine binäre 1 einzuspeichern.
Wenn der MOS 212 leitend ist, werden die MOS 178 und 174 der Gegentakt-Treiber 98 und 97 in den
nichtleitenden Zustand vorgespannt, so daß die MOS 182 und 170 einerseits und die MOS 178 und 174
andererseits wechselweise leitend sind.
Da das positiv verlaufende Signal des Schreibbefehls 66 zu diesem Augenblick an dem Torbereich
188 und 192 der beiden MOS 186 und 190 des Schreibgatters 108 anliegt, werden diese MOS abgeschaltet
und haben keinen Einfluß auf das auf den Leitungen 104 und 102 wirksame Potential. Zu allen
anderen Zeiten, wenn das an den Torbereichen 188 und 192 wirksame Signal einen negativen Spannungswert — V aufweist, befinden sich die beiden MOS
186 und 190 des Schreibgatters 108 im leitenden Zustand. Damit werden alle Torbereiche 172, 176, 18t
und 184 der MOS 170, 174, 178 und 182 auf etw; Massepotential vorgespannt, so daß alle diese MOS
in der Bittreiberstufe 96 abgeschaltei sind. Wenn so mit kein Schreibbefehl an der Klemme 110 wirksan
ist, leiten die MOS 188 und 192 des Schreibgatter 108 und verhindern, daß das Bitleitungspaar 26-2!
von der Bittreiberstufe 96 beeinflußt wird.
Wenn in die Speicherzelle 25 eine binäre 0 einge schrieben werden soll, dann wird ein positiv vei
laufendes Signal 68 als Schreibbefehl an die Klemm 110 des Schreibgatters 108 angelegt, wogegen di
Datenlcitung 116 auf einer negativen Spannung fes geha'ten wird. Unter diesen Bedingungen leitet d«
MOS 200. während der MOS 212 nicht leitend is Das Potential an den Anschlüssen 204 und 214 dt
Umkehrstufen 114 und 112 steuert daher den MO 174 in den leitenden und den MOS 182 in den nich
leitenden Zustand, wodurch die zuvor beschrieben« Potentialverhältnisse auf dem Bitleitungspaar 26-i
509 631Ί
ίο
umgekehrt werden. Damit wird die Bitleitung 28 über den MOS 178 an die negative Senkenspannung
— V110 angelegt. Das nunmehr auf den Bitleitungen
26 und 28 herrschende Potential veranlaßt eine Änderung des Leitfähigkeitszustandes der Speicherzelle
25 und schaltet den MOS 156 ab, wogegen der MOS 154 eingeschaltet wird, wenn zuvor in der Speicherzelle
25 eine binäre 1 gespeichert war. Der MOS 154 wird durch das negativ verlaufende Potential, das
über den MOS 164 an den Torbereich des MOS 154 angelegt wird, eingeschaltet.
Wenn der binäre Schaltzustand der Speicherzelle 25 abgetastet, d. h. deren Speicherinhalt abgefragt
werden soll, ist es erforderlich, daß gleichzeitig das Signal 72 für den Lesebefehl und das Vorbereitungssignal 80 (F i g. 2) angelegt werden. Für die weitere
Betrachtung wird angenommen, daß in der Speicherzelle 25 eine binäre 1 gespeichert ist, und daß auf der
Datenleitung 116 eine entsprechende Anzeige als Datenausgangssignal erscheinen soll.
Für den Fall, daß eine binäre 1 in der Speicherzelle 25 gespeichert ist, befindet sich einerseits die
Bitleitung 28 etwa auf Massepotential und der MOS 220 des Lesegatters 118 im nichtleitenden Zustand.
Bevor das den Lesebefehl darstellende Signal 72 an den Torbereich 226 des MOS 224 angelegt wird, befindet
sich dieser auf Grund einer am Torbereich wirkenden negativen Spannung im leitenden Zustand.
Der Torbereich 218 des MOS 216 der Pufferstufe 122 liegt daher ebenfalls auf ungefähr Massepotential, so
daß dieser nicht leitend ist. Wenn jedoch das dem Lesebefehl entsprechende Signal 72 an den Torbereich
226 des MOS 224 angelegt wird, schaltet dieser ab, so daß sich die Spannung am Torbereich
218 des MOS 216 gegen die negative Versorgungsspannung — Vpp verschiebt, die an dem als Last
wirksame MOS 228 anliegt. Damit wird der MOS 216 leitend und hebt die Datenleitung 116 auf
Massepotential an, d. h. erzeugt den in F i g. 2 dargestellten Impuls 62, der eine ausgelesene binäre 1
auf der Datenausgangsleitung kennzeichnet.
Wenn sich die Speicherzelle 25 im Zustand einer binären 0 befindet und somit an der Bitleitung 26
etwa Massepotential und an der Bitleitung etwa die Spannung — V liegt, dann wird der MOS 220 in
den leitenden Zustand geschaltet, während der Befehlsimpuls 74 zum Lesen einer binären 0 an den
MOS 224 angelegt wird. Unter diesen Bedingungen bleibt der MOS 216 in der Pufferstufe 122 im abge-
S schalteten Zustand, so daß das Niveau der Spannung — V auf der Datenleitung 116 unverändert bleibt. Die
vorausstehend beschriebene, eine Ausführungsform der Erfindung darstellende Schaltung kann auch die
Veränderung erfahren, daß die als Last wirksamen
ίο MOS, wie die MOS 194 und 206, durch Widerstände
ersetzt werden.
Zusammenfassend ist hervorzuheben, daß die vorliegende Erfindung auf ein aus Metalloxydhalbleitern
(MOS) aufgebautes Speichersystem gerichtet ist, das Gegentakt-Treiber umfaßt, die jeweils zwischen Bitleitungspaare
und zwischen eine Dateneingangsbzw. Datenausgangsleitung geschaltet sind. Diese Bitleitungspaare
sind mit einer Speicherzelle verbunden, die als bistabiler Flip-Flop aus MOS aufgebaut ist.
ao Die Gegeniakt-Treiber sind ferner über Lese- und
Schreibgatter ansteuerbar, so daß die Gegentakt-Treiber auf entspiechende Befehlssignale ansprechen
und den Leitfähigkeitszustand der Speicherzelle steuern. Das Einspeisen einer binären Größe in die
as Speicherzelle wird durch das Anlegen eines Dateneingangssignals
über die Umkehrstufen an die Gegentakt-Treiber während des gleichzeitigen Anlegens des
Schreibbefehls an das Schreibgatter bewirkt. Das Schreibgatter ist zwischen die eine Eingangsleitung
der Bittreiberstufe und die Dateneingangs- sowie Datenausgangsleitung geschaltet. Eine binäre Anzeige
des Leitfähigkeitszustands der Speicherzelle erscheint an der Dateneingangs- bzw. Datenausgangsleitung,
wenn die Speicherzelle durch das Anlegen eines Lesebefehls an das I esegatter abgefragt wird.
Sowohl das Lesegatter als auch die Gegentakt-Treiber entkoppeln die Bitleitungen und die Speicherzelle
von der Dateneingangs- bzw. Datenausgangsleitung. Daher können sowohl von außen wirksame
und an der Dateneingangs- bzw. Datenausgangsleitung in Erscheinung tretende große kapazitive Belastungen
oder ein einwirkendes Störgeräusch nicht auf den Bitleitungen wirksam werden, da diese nur
über hohe Impedanzen mit der Dateneingangs- bzw. Datenausgangsleitung in Verbindung stehen.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
1. Einspeicherungs- und Ausspeicherungs- mit einer Bitleitung (28) verbunden ist, und dal
schaltungsanordnung für eine binäre, als Flip- 5 der gemeinsame Verbindungspunkt der parallel
Flop aufgebaute Halbleiter-Speicherzelle, bei wel- geschalteten MOS-Transistoren der Ausgang de
eher komplementäre, mit einer ersten und einer Lesegatters ist.
zweiten Eingangsleitung versehene Bittreiberstufen ausgangsseitig an ein Bitleitungspaar angeschlossen sind, die komplementäre Binärsignale io
zweiten Eingangsleitung versehene Bittreiberstufen ausgangsseitig an ein Bitleitungspaar angeschlossen sind, die komplementäre Binärsignale io
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US77972768A | 1968-11-29 | 1968-11-29 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1959374A1 DE1959374A1 (de) | 1970-11-26 |
DE1959374B2 DE1959374B2 (de) | 1974-12-12 |
DE1959374C3 true DE1959374C3 (de) | 1975-07-31 |
Family
ID=25117347
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1959374A Expired DE1959374C3 (de) | 1968-11-29 | 1969-11-26 | Einspeicherungs- und Ausspeicherungsschaltungsanordnung für eine binäre Halbleiter -Speicherzelle |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3594736A (de) |
JP (1) | JPS5551267B1 (de) |
DE (1) | DE1959374C3 (de) |
GB (1) | GB1243103A (de) |
NL (1) | NL6917870A (de) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5615070B2 (de) * | 1971-11-08 | 1981-04-08 | ||
US3747076A (en) * | 1972-01-03 | 1973-07-17 | Honeywell Inf Systems | Memory write circuit |
US3846643A (en) * | 1973-06-29 | 1974-11-05 | Ibm | Delayless transistor latch circuit |
US3917960A (en) * | 1974-01-31 | 1975-11-04 | Signetics Corp | MOS transistor logic circuit |
JPS592996B2 (ja) * | 1976-05-24 | 1984-01-21 | 株式会社日立製作所 | 半導体記憶回路 |
JPS583186A (ja) * | 1981-06-30 | 1983-01-08 | Fujitsu Ltd | スタティック半導体メモリ |
JPS58203694A (ja) * | 1982-05-21 | 1983-11-28 | Nec Corp | メモリ回路 |
JPS5952497A (ja) * | 1982-09-17 | 1984-03-27 | Nec Corp | デコ−ダ回路 |
US8351250B2 (en) * | 2008-08-28 | 2013-01-08 | Ovonyx, Inc. | Programmable resistance memory |
KR101566421B1 (ko) * | 2008-09-25 | 2015-11-05 | 삼성전자주식회사 | 자동 데이터 복원 회로 및 데이터 오류 검출 회로 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3292008A (en) * | 1963-12-03 | 1966-12-13 | Rca Corp | Switching circuit having low standby power dissipation |
US3447137A (en) * | 1965-05-13 | 1969-05-27 | Bunker Ramo | Digital memory apparatus |
-
1968
- 1968-11-29 US US779727A patent/US3594736A/en not_active Expired - Lifetime
-
1969
- 1969-11-04 GB GB54002/69A patent/GB1243103A/en not_active Expired
- 1969-11-26 DE DE1959374A patent/DE1959374C3/de not_active Expired
- 1969-11-27 NL NL6917870A patent/NL6917870A/xx unknown
- 1969-11-29 JP JP9562569A patent/JPS5551267B1/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE1959374B2 (de) | 1974-12-12 |
JPS5551267B1 (de) | 1980-12-23 |
NL6917870A (de) | 1970-06-02 |
US3594736A (en) | 1971-07-20 |
DE1959374A1 (de) | 1970-11-26 |
GB1243103A (en) | 1971-08-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2714715C3 (de) | Schaltungsanordnung, die bei jedem Zustandswechsel eines ihr zugeführten binären Eingangssignals einen Ausgangsimpuls erzeugt | |
DE2901233C2 (de) | Dynamischer Lese-Auffrischdetektor | |
DE3936676A1 (de) | Pufferschaltkreis fuer eine mit verschiedenen versorgungspotentialen arbeitende halbleitereinrichtung und verfahren zu deren betrieb | |
DE2722757B2 (de) | ||
DE2840578A1 (de) | Abtast-verstaerker | |
DE2712735C2 (de) | ||
DE2309192B2 (de) | Regenerierschaltung nach Art eines getasteten Fllpflops und Verfahren zum Betrieb einer solchen Regenerlerschaltung | |
DE1959374C3 (de) | Einspeicherungs- und Ausspeicherungsschaltungsanordnung für eine binäre Halbleiter -Speicherzelle | |
EP0012802B1 (de) | Dynamischer Halbleiterspeicher | |
DE2347968C3 (de) | Assoziative Speicherzelle | |
DE1265784B (de) | Flipflopschaltung zur Speicherung von binaeren Datensignalen | |
DE2646653C3 (de) | ||
DE2442132C3 (de) | Dynamisches Schieberegister und Verfahren zu seinem Betrieb | |
DE2609714C3 (de) | ||
DE2146905B2 (de) | Datenspeicher, insbesondere monolithisch integrierter Halbleiter-Datenspeicher | |
DE2443529A1 (de) | Anordnung zum einschreiben von binaersignalen in ausgewaehlte speicherelemente eines mos-speichers | |
DE2825444C2 (de) | Schaltungsanordnung zur Phasenaufspaltung eines Binärsignals | |
DE2360378B2 (de) | Speicherzelle | |
DE1807105B2 (de) | Treiberschaltung für Flip-Flops | |
EP0020928B1 (de) | Elektrische Speicheranordnung und Verfahren zu ihrem Betrieb | |
DE2748571B2 (de) | ||
DE2553972C3 (de) | Schaltungsanordnung zur Überwachung der Funktion einer dynamischen Decodierschaltung | |
DE4237001A1 (en) | CMOS logic input buffer threshold circuit e.g. for DRAM or microcomputer IC - has CMOS inverter comprising two series FETs of different conductivity and third FET in parallel having conductivity controlled w.r.t. supply voltage | |
DE2618760B2 (de) | Halbleiter-Speichervorrichtung | |
DE2132560C3 (de) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 |