DE2442131B2 - Dynamisches ein-transistor-speicherelement - Google Patents

Dynamisches ein-transistor-speicherelement

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DE2442131B2 DE19742442131 DE2442131A DE2442131B2 DE 2442131 B2 DE2442131 B2 DE 2442131B2 DE 19742442131 DE19742442131 DE 19742442131 DE 2442131 A DE2442131 A DE 2442131A DE 2442131 B2 DE2442131 B2 DE 2442131B2
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Description

3 4
Vorteilhafterweise kann die Information zeilenweise Spannung U7 von beispielsweise etwa —15 V und an
gelöscht werden, wobei die Information in den Re- die Gateleitung 6 ein Spannungsimpuls U6 von bei-
generierverstärkern zwischengespeichert werden kann. spielsweise etwa —30 V angelegt, so wird sich die
Weitere Erläuterungen zur Erfindung gehen aus der Einsatzspannung des MNOS-Speichertransistors 3
Beschreibung und der Figur hervor. 5 nicht verschieben. Bei einer gespeicherten »0« dagegen,
Die Figur zeigt das Schaltbild eines erfindungs- wird jedoch die Einsatzspannung des MNOS-Speicher-
gemäßen dynamischen Ein-Transistor-Speicherele- transistors 3 zu negativen Spannungswerten hin ver-
ments. schoben, da der Sourceanschluß während des Ein-
In der Figur ist der Transistor des Ein-Transistor- Schreibens an Massepotential liegt.
Speicherelements mit 1 und der Kondensator dieses 10 Zum Auslesen wird an die Wortleitung 7, einen
Speicherelements mit 2 bezeichnet. Vorzugsweise han- p-Kanal-MNOS-Speichertransistor 3 vorausgesetzt,
delt es sich bei dem Transistor um einen MOS- eine Spannung -U1 von beispielsweise etwa —15 V
Feldeffekttransistor. Dieser ist in der aus der Figur und an die Gateleitung 6 eine Lesespannung — Ul von
ersichtlichen Weise in dem Punkt 8 mit dem Konden- beispielsweise etwa —8 V angelegt. Besitzt der MNOS-
sator 2 verbunden. Der Kondensator 2 ist außerdem 15 Speichertransistor eine hohe negative Einsatzspannung,
mit dem Anschluß 5, an dem vorzugsweise Masse- so sperrt er, und der Kondensator 2 bleibt ungeladen,
potential anliegt, verbunden. Der Gateanschluß des Ist die Einsatzspannung des MNOS-Transistors 3
Transistors 1 steht mit der Wortleitung 7 in Verbin- dagegen nur leicht negativ, so leitet er beim Anlegen
dung. Der Transistor 1 steht in der aus der Figur einer Gatespannung von — Ul und lädt den Konden-
ersichtlichen Weise mit der Bitleitung 4 in Verbindung. 20 sator 2 nahezu auf die Spannung — U7' auf. Auf der
Erfindungsgemäß ist nun ein MI^S-Transistor 3, Bitleitung tritt dann ebenfalls die Spannung — U7 auf,
vorzugsweise ein MNOS-Transistor, in aus der Figur da der Transistor 1 leitet. Diese Spannung an der
ersichtlichen Weise zwischen den Punkt 8 und die Bitleitung entspricht einer gespeicherten »1«.
Wortleitung 7 geschaltet. Der Gateanschluß des Soll der MNOS-Speichertransistor 3 nicht zur Funk-
MNOS-Speichertransistors 3 ist mit einer Gatelei- 25 tion gelangen, so wird an die Gateleitung 6 das Po-
tung 6 verbunden. tential 0 V angelegt. Auf den üblichen Betrieb des
Im folgenden soll nun die Funktionsweise eines dynamischen Ein-Transistorspeicherelements hat der erfindungsgemäßen dynamischen Ein-Transistor-Spei- erfindungsgemäße MNOS-Speichertransistor 3 dann cherelements beschrieben werden. Ist in das Speicher- vorteilhafterweise keinen Einfluß,
element beispielsweise die Information »1« einge- 3° Bei der Verwendung eines n-Kanal-MNOS-Transchrieben, so ist der Kondensator 2 geladen und der sistors als Speichertransistor 3 und Schalttransistor 1 Sourceanschluß 8 des MNOS-Speichertransistors 3 werden zum Einschreiben und Auslesen an die Gateliegt an negativem Potential, beispielsweise an etwa leitung 6 und an die Wortleitung 7 und an die Bitlei-—15 V. "Wird nun gleichzeitig während des Einschrei- tung 4 die entsprechenden Potentiale der entgegenbens oder knapp danach an die Wortleitung 7 eine 35 gesetzten Polarität angelegt.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (6)

Patentansprüche:
1. Dynamisches Ein-Transistor-Speicherelement, bestehend aus einem Transistor und einem dazu in Reihe geschalteten Kondensator, wobei der Transistor einerseits mit dem Kondensator und andererseits mit einer Bitleitung verbunden ist, wobei der Gateanschluß des Transistors mit einer Wortleitung verbunden ist, und wobei zusätzlich ein Transistor vorgesehen ist, dadurch gekennzeichnet, daß der zusätzlich vorgesehene Transistor ein Ml^S-Speichertransistor (3) ist, der einerseits mit der Wortleitung (7) und andererseits mit einem Punkt (8), an dem der Transistor (1) und der Kondensator (2) in Reihe geschaltet sind, verbunden ist, und daß der Gateanschluß dieses zusätzlichen MljIaS-Speichertransistors (3) mit einer Gateleitung (6) verbunden ist.
2. Dynamisches Ein-Transistor-Speicherelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Transistor (1) ein MOS-Feldeffekttransistor ist.
3. Dynamisches Ein-Transistor-Speicherelement nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß als MIjLS-Transistor ein MNOS-Transistor verwendet ist.
4. Verfahren zum Betrieb eines dynamischen Ein-Transistor-Speicherelements nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß bei der Verwendung eines p-Kanal-MI^S-Speichertransistors <3) beim Einschreiben von Information in das Ein-Transistor-Speicherelement an die Wortleitung (7) eine negative Spannung U7 und an die Gateleitung (6) ein negativer Spannungsimpuls U6 angelegt wird, wobei die negative Spannung U7 und der negative Spannungsimpuls U6 so gewählt werden, daß sich die Einsatzspannung des M IxIaS-Speichertransistors je nach Art der gespeicherten Information verschiebt oder nicht verschiebt, daß beim Auslesen an die Wortleitung (7) eine negative Spannung U1 und an die Gateleitung (6) eine negative Lesespanmmg — Ul angelegt wird, wobei die Lesespannung —Uz und die negative Spannung U7 so gewählt werden, daß der Speicherkondensator (2) bei einer hohen Einsatzspannung des Mlil^S-Speichertransistors (3) ungeladen bleibt und daß der SpeicDerkondensator (2) bei einer kleineren Einsatzspannung des MI1I2S-Speichertransistors (3) geladen wird, und daß bei der Verwendung eines n-Kanal-MlilaS-Speichertransistors (3| beim Einschreiben von Information und beim Auslesen die Spannungen der entgegengesetzten Polarität angelegt werden.
5. Verfahren zum Betrieb eines Ein-Transistor-Speicherelements nach Ansprach 3, dadurch gekennzeichnet, daß an die Gateleitung (6) Massepotentia! angelegt wird, wenn der MSTJ^S-Speichertransistor {3| nicht zur Funktion gelangen soll.
6. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß zwei verschiedene Informationen, die eine um dem dynamischen Speicherelement und die andere in dem MI^S-Transistor, gespeichert werden.
Die Erfindung bezieht sich auf ein dynamisches Ein-Transistor-Speicherelement nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Dynamische Ein-Transistor-Speicherelemente sind bekannt. Beispielsweise ist in der deutschen Offenlegungsschrift 21 48 896 und in der deutschen Auslegeschrift 17 74 482 unter anderem ein solches Ein-Transistor-Speicherelement, das aus einem Kondensator und einem Feldeffekttransistor besteht, beschrieben. Zum Auslesen von Information aus einem solchen Ein-Transistor-Speicherelement wird der Transistor dieses Speicherelements, der einerseits mit der Bitleitung und andererseits mit dem Kondensator verbunden ist, über seinen Gateanschluß, der mit einer Auswahlleitung verbunden ist, leitend geschaltet. Dies bewirkt, daß die in dem Kondensator in Form von Ladung gespeicherte Information über den ausgewählten Feldeffekttransistor auf die Bitleitung fließt.
In der USA.-Patentschrift 37 45 539 ist ein Einao Transistor-Speicherelement beschrieben, bei dem mit der Bitleitung ein zusätzliches Schaltelement verbunden ist. Dabei besteht dieses Schaltelement aus zwei Transistoren. Dabei dient ein Transistor zum Laden des Kondensators des Ein-Transistor-Speicherelements während des Schreibzyklus und der andere Transistor zum Auslesen von möglicherweise in dem Kondensator befindlicher Ladung während des Lesezyklus. Ein Nachteil solcher dynamischer Ein-Transistor-Speicherelemente besteht darin, daß die gespeicherte Information in Zeitabständen von etwa 1 bis 100 ms regeneriert werden muß. Ein weiterer Nachteil besteht darin, daß beim Abschalten der Versorgungsspannung die in dem Ein-Transistor-Speicherelement gespeicherte Information verlorengeht.
Eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht daher darin, ein wie eingangs erwähntes Ein-Transistor-Speicherelement anzugeben, bei dem die gespeicherte Information über einen längeren Zeitraum abgespeichert werden kann.
Diese Aufgabe wird durch ein wie eingangs bereits erwähntes Ein-Transistor-Speicherelement gelöst, das durch die in dem Kennzeichen des Patentanspruchs Ϊ aufgeführten Merkmale gekennzeichnet ist.
Ein Vorteil eines erfindungsgemäßen Ein-Transistor-Speicherelements besteht darin, daß die Funktionsweise des dynamischen Ein-Transistor-Speicherelements im normalen Betrieb durch den erfindungsgemäß zugeschalteten MIJ-jS-Transistor nicht gestört wird und daß die Information nur bei längeren Speicherdauern in den MI^S-Transistor umgespeichert wird. Ein wesentlicher Vorteil der Erfindung besteht darin, daß durch einen einzigen Impuls die in dem dynamischen Ein-Transistor-Speicherelement gespeicherte Information in den MI^S-Transistor uingespeichert werden kann.
Vorteilhafterweise kann die so in den MI1I2S-Transistor eingespeicherte Information über einen längeren Zeitraum, der bis zu 10 Jahren reichen kann, gespeichert werden.
6«» Vorteilhafterweise können in dem erfradungsgemäßen Ein-Transistor-Speicherelement gleichzeitig zwei verschiedene Informationen gespeichert sein, wobei eine Information in dem Ml^S-Speichertransistor gespeichert ist und wobei die andere Information in dem Speicherkondensator gespeichert ist.
Gemäß eines weiteren Vorteils der Erfindung kann das Einschreiben von Information element-, zeilen- oder auch matrixweise erfolgen.
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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52153630A (en) * 1976-06-16 1977-12-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd Semiconductor memory device
US4132904A (en) * 1977-07-28 1979-01-02 Hughes Aircraft Company Volatile/non-volatile logic latch circuit
JPS5457875A (en) * 1977-10-17 1979-05-10 Hitachi Ltd Semiconductor nonvolatile memory device
US4128773A (en) * 1977-11-07 1978-12-05 Hughes Aircraft Company Volatile/non-volatile logic latch circuit
DE2824727A1 (de) * 1978-06-06 1979-12-13 Ibm Deutschland Schaltung zum nachladen der ausgangsknoten von feldeffekt-transistorschaltungen
JPS5538664A (en) * 1978-09-08 1980-03-18 Sanyo Electric Co Ltd Nonvolatile memory circuit
JPH01151095A (ja) * 1987-12-09 1989-06-13 Toshiba Corp 半導体メモリ
JPH02199698A (ja) * 1989-01-30 1990-08-08 Kawasaki Steel Corp 半導体集積回路
JP2529885B2 (ja) * 1989-03-10 1996-09-04 工業技術院長 半導体メモリ及びその動作方法
JP2726503B2 (ja) * 1989-08-09 1998-03-11 川崎製鉄株式会社 集積回路
US5598367A (en) * 1995-06-07 1997-01-28 International Business Machines Corporation Trench EPROM

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE788583A (fr) * 1971-09-16 1973-01-02 Intel Corp Cellule a trois lignes pour memoire a circuit integre a acces aleatoir
US3781570A (en) * 1971-11-22 1973-12-25 Rca Corp Storage circuit using multiple condition storage elements
JPS5710516B2 (de) * 1972-12-13 1982-02-26
US3876991A (en) * 1973-07-11 1975-04-08 Bell Telephone Labor Inc Dual threshold, three transistor dynamic memory cell
US3876993A (en) * 1974-03-25 1975-04-08 Texas Instruments Inc Random access memory cell

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Publication number Publication date
JPS5152248A (de) 1976-05-08
DE2442132A1 (de) 1976-03-11
DE2442133B2 (de) 1976-07-08
DE2442134B1 (de) 1976-02-26
DE2442132C3 (de) 1981-11-05
DE2442132B2 (de) 1978-04-27
DE2442133A1 (de) 1976-03-18
FR2284165A1 (fr) 1976-04-02
DE2442131A1 (de) 1976-03-18
US4030081A (en) 1977-06-14

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