DE2020409B2 - Vorrichtung zum schleifen und polieren von metallographischen und mineralogischen proben - Google Patents

Description

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bewegung um ihre Achse, wodurch ein sehr gleich- die Führungsschiene wenigstens teilweise umschliemäßiger und planer Schliff erzieit werden kann. ßenden Gleitschuh aufliegt. Dabei ist der Proben-Die Forderung, daß alle Proben möglichst nahe halter auch von der in dieser Weise gestalteten Füham Mittelpunkt der Schleifscheibe vorbei passieren rung leicht abhebbar, z. B. um das Poliertuch der sollen, setzt jedoch eine sehr enge Gruppierung der 5 Scheibe austauschen zu können.
Proben um den Mittelpunkt des Probenhalters vor- Um das Abheben des Probenhalters weiter zu eraus, so dab dieser in der Regel nur drei und höchstens, leichtern, ist es vorteilhaft, wenn der Probenhalter vier Proben aufnehmen kann. Es wird somit der mit den seiner Hin- und Herbewegung dienenden Leistungsfähigkeit der Vorrichtung eine sehr enge Antriebsmitteln lösbar gekuppelt ist. Zum gleichen Grenze gesetzt, was um so nachteiliger ist, als ge- ίο Zweck kann auch die Antriebsverbindung der Berade das Schleifen und Polieren der Probestücke lastungsmittel mit dem feststehenden Punkt der einen Engpaß im metallographischen Laboratorium Vorrichtung lösbar gekuppelt sein,
darstellt. Die für die Vorrichtung nach der Erfindung eigen-Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist, eine tümliche Parallelführung des Probenhalters bietet Schleif- und Poliervorrichtung zu schaffen, die eine 15 noch eine sehr vorteilhafte Möglichkeit eines weitegegenüber der vorstehend beschriebenen bekannten ren Ausbaus der Vorrichtung. Bekanntlich werden Vorrichtung erhöhte Leistungsfähigkeit besitzt, in- metallogräphische u. dgl. Proben in mehreren Ardem der Probenhalter zum Aufnehmen einer weit beitsstufen vorgeschliffen und poliert, wobei in der größeren Zahl von Proben ausgelegt werden kann, zweiten und den folgenden Stufen jeweils ein Schleifohne daß dabei die Vorteile der bekannten Vorrich- 20 und Poliermittel mit kleinerer Korngröße als in der tung hinsichtlich einer optimalen Schliffgüte verloren- vorhergehenden Stufe benutzt wird. Bisher war es gehen. üblich, hierfür mehrere gleiche Schleif- und Polier-Erfindungsgemäß wird das dadurch erreicht, daß vorrichtungen zu verwenden, wobei jeweils die Prodie Mittel zum Bewegen des Probenhalters in an sich ben aus der einen Vorrichtung herausgenommen bekannter Weise eine geradlinige Führung mit einer 25 werden mußten, um in die nächste eingesetzt zu den Probenhalter an dieser Führung unverd:shbar werden, eventuell nach einer zwischenliegenden hin- und herbewegenden Antriebsvorrichtung umfas- Reinigung in einem entsprechenden Reinigungsbad, sen und daß die Aufnahmeöffnungen des Probenhai- Diese weitgehend manuelle Arbeit kann nunmehr ters für die Proben innerhalb einer Umhüllungskurve praktisch ausgeschaltet werden, indem die Parallelverteilt sind, die sich im wesentlichen aus zwei 3° führung der erfindungsgemäßen Vorrichtung über Kreisbogen zusammensetzt, deren Halbmesser an- mehrere nebeneinander angeordnete Schleif- und nähernd gleich demjenigen der Schleifscheibe ist, Polierscheiben ausgestreckt wird und somit zugleich deren Mittelpunktabstand annähernd dem Weg des als Förderbahn für die Probenhalter mit den darin Probenhalters bei der hin- und hergehenden Be- aufgenommenen Proben dient,
wegung entspricht und deren Mittelpunktabstands- 35 Eine derartige Ausführung der erfindungsgemäßen linie zur geradlinigen Führung wenigstens annähernd Vorrichtung kennzeichnet sich demzufolge dadurch, parallel ist und die Achse der Schleifscheibe kreuzt. daß die geradlinige Führung sich über mehrere in Ist der Probenhalter in bekannter Weise mit darin einer zur Führung parallelen Reihe nebeneinander andrehbar gelagerten Belastungsmitteln für die Proben, geordnete Schleif- und Polierscheiben erstreckt, die im z. B. in der Gestalt von Gewichten, versehen, so läßt 40 wesentlichen in einer Ebene liegen, wobei der Prosich bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung die benhalter bzw. jeder Probenhalter in einer Arbeits-Qualität des Schliffs noch dadurch erhöhen, daß den lage an jeder Scheibe an die Bewegungsmittel für die Proben eine eigene Drehung um ihre jeweiligen hin- und hergehende Bewegung kuppelbar ist. Mit Achsen aufgezwungen wird, das heißt, die durch die dieser Vorrichtung kann somit das Schleifen und Reibungskräfte erzeugte zufällige Drehung wird 45 Polieren der Proben am laufenden Band durchgedurch eine genau festgelegte Drehbewegung ersetzt. führt werden, ohne daß ein manuelles Überwechseln Dies kann bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung jeder einzelnen Probe von einer Schleifvorrichtung in sehr einfacher Weise dadurch zustande gebracht auf die nächste erforderlich wäre, sondern die Proben werden, daß zwischen den drehbaren Belastungs- verbleiben während der verschiedenen Arbeitsstufen mitteln eine Antriebsverbindung, z. B. ein Riemen- 50 in demselben Probenhalter, der auf der Führungsantrieb, besteht, der mit einem feststehenden Punkt bahn als Ganzes von einer Schleif- und Polierscheibe der Vorrichtung verbindbar ist. Bei der geradlinigen zur nächsten weitergleiten kann,
hin- und hergehenden Bewegung des Probenhalters Um das Hinüberwechseln der Probenhalter von bleibt somit ein Punkt der Antriebsverbindung im einer Schleif- und Polierscheibe zur nächsten zu erRaum stehen und bewegt sich somit relativ zu den 55 leichtern, ist es zweckmäßig, daß die Führung einer-Belastungsmitteln, denen somit eine entsprechende scits und die Schleif- und Polierscheiben andererseits Drehbewegung aufgezwungen wird, die auf die Pro- zueinander heb- und senkbar sind, damit beim Hinben übertragen wird. Zwecks Sicherstellung einer überwechseln die Proben zunächst von den Schleifschlupffreien Übertragung dieser Drehbewegung auf und Polierscheiben abgehoben und anschließend auf die Proben kann das den Proben zugekehrte Ende 60 die nächste Scheibe aufgesetzt werden können. Dieses der Belastungsmittel eine etwa spatcnförmige Abheben und Absenken kann bei feststellender Schneide aufweisen, die gegen die Probe zum An- Führung durch ein entsprechendes Absenken bzw. liegen kommt. Anheben der Schleif- und Polierscheiben erfolgen, Für die Genauigkeit des erzeugten Schliffs ist es oder umgekehrt kann die Führung bei im Raum wesentlich, daß der Probenhalter sehr stabil geführt 65 festliegenden Scheiben angehoben bzw. abgesenkt wird. Zu diesem Zweck kann beiderseits der Schleif- werden.

scheibe je eine geradlinige Führungsschiene angeord- Damit die normalerweise in den Öffnungen des

net sein, auf denen der Probenhaltcr mit je einem Probestückhaltcrs lose gelagerten zylindrischen Pro-

ben bei diesem Vorgang im Probenhalter verbleiben Auf den Führungsschienen 3 ist ein mit cntspre-

und somit von der Schleif- und Polierscheibe abge- chenden Gleitschuhen 4 versehener Probenhaller 5 hoben werden, kann der zylindrische Probenkörper verschiebbar geführt. Die Gleitschuhe umschließen an einem Ende einen Bund aufweisen, dessen Durch- die Führungsschienen nur teilweise (Fig. 3), so daß messer größer ist als derjenige der Öffnungen des 5 der Probenhalter 5 von den Schienen 3 leicht abge-Probenhalters. hoben werden kann. Der Probenhalter 5 besteht aus

Bei Vorhandensein einer Antriebsverbindung zwi- einer oberen Platte 6, die mit den Gleitschuhen 4 sehen den Belastungsmitteln für die Proben, wie im verbunden ist, und einer in kleiner Entfernung über vorstehenden beschrieben, sollte diese Antriebsver- der Schleifscheibe 2 liegenden unteren Platte 7, die bindung ebenfalls an jeder Schleif- und Polierscheibe io durch Streben 7 α mit der oberen Platte 6 verbunden mit einem feststehenden Punkt der Vorrichtung lös- und in bekannter Weise mit kreisrunden Löchern bar kuppelbar sein. zum Aufnehmen von zylindrischen Proben versehen

Zur weiteren Automatisierung des Schleif- und ist. F i g. 3 zeigt im Schnitt zwei derartige Löcher 8, Poliervorgangs ist zweckmäßig eine mit Mitnehmern wobei in dem einen eine Probe 9 dargestellt ist. Es versehene Fördereinrichtung vorgesehen, die wenig- 15 ist üblich, die anfallenden metallischen Proben in stens beim Abheben der Proben von den Schleif- eine zylindrische Form zu legen, die anschließend mit und Polierscheiben durch relative Bewegung der Kunstharz ausgegossen wird. Der so gebildete Führung und der Scheiben den Probenhalter bzw. die zylindrische Körper mit eingebettetem Mctallstück Probenhalter in Richtung auf die nächste Scheibe wird dann an einer Endfläche geschliffen, bis der weiterbefördert. Da eine Reinigung der Proben nach 20 erwünschte Querschnitt des Metallstücks freigelegt jeder Bearbeitungsstufe erwünscht ist, können weiter und poliert ist.

Reinigungsbäder für die Proben zwischen den Zum Bewegen des Probenhalters an den Fiihrun-

Schleif- und Polierscheiben angeordnet sein. Die gen 3 relativ zur Schleifscheibe 2 ist die untere Proben können dann im Zuge der Weiterführung Platte 7 mit einem zu den Führungen 3 parallelen, von einer Schleif- und Polierscheibe zur nächsten 25 starren Arm 10 versehen, der an seinem freien Ende in die Reinigungsbäder hineingetaucht werden, z. B. einen federnden Haken 11 mit schräger Auflauffläche durch entsprechendes Absenken der Führungsbahn 12 trägt. Beim Aufsetzen des Probenhaltcrs 5 auf die für die Probestückhalter relativ zu den Reinigungs- Führungen 3 kommt dieser Haken 11 mit einem bädern. Querstift 13 am oberen Ende eines aus dem Gehäuse 1

Mit den oben geschilderten verschiedenen Aus- 30 herausragenden Schwenkhebels 14 in Eingriff, welführungsmöglichkeiten wird eine Schleif- und Polier- eher mittels des nicht dargestellten Antriebs in Pfeilvorrichtung geschaffen, die bei sehr geringem manuel- richtung (Fig. 1) hin und her geschwenkt wird und Ien Arbeitsaufwand eine besonders hohe Leistungs- dimit den Probenhalter 5 relativ zur Schleifscheibe 2 fähigkeit besitzt. Wird in Verbindung mit der Vor- hin und her verschiebt. Der Antrieb des Schwenkrichtung eine z. B. elektronische Programmsteuerung 35 hebeis erfolgt mit einer relativ niedrigen Gcschwinvorgesehen, so beschränkt sich die manuelle Arbeit digkeit, damit auf die in den Öffnungen 8 lose drehbar auf ein jeweils einmaliges Beladen der Probenhalter sitzenden Proben möglichst keine Massenkraft aus- und Einführung derselben nacheinander in die Vor- geübt werden, die ein" Kippmoment hervorrufen und richtung an einem Ende derselben, während die fertig damit einen einwandfreien Planschliff gefährden geschliffenen und polierten Proben am anderen Ende 40 könnten.

der Vorrichtung den Probenhaltern entnommen Die Proben 9 werden nicht nur durch ihr envnes

werden. Gewicht, sondern zusätzlich auch durch je ein Re-

Die Erfindung wird im Nachstehenden an Hand lastungsgewicht 15 gegen die Scheibe 2 uedriukt.

der Zeichnungen näher erläutert. Es zeigt Diese Belastungsgewichte 15 sind in der nacVi M-.end

Fig. 1 eine Seitenansicht eines Ausführungsbei- 45 näher beschriebenen Weise mit Spindeln 16 in der

spiels einer erfindungsgemäßen Vorrichtung, oberen Platte 6 drehbar und axial vcrschiebb:;·- nd

F i g. 2 eine Draufsicht, zu den Öffnungen 8 der unteren Platte 7 kon/en.;. -eh

Fig. 3 eine vergrößerte Endansicht, zum Teil im gelagert. Die in Fig. 2 dargestellte räumliche An-

Schnitt nach der Linie TII-III in Fig. 1, Ordnung der Belastungsgewichte 15 läßt daher auch

F i g. 4 eine schematische Darstellung eines Aus- 50 die entsprechende Anordnung der öffnungen 8 er-

schnitts einer Vorrichtung mit mehreren hinterein- kennen.

ander angeordneten Schleif- und Polierscheiben und Im dargestellten Beispiel ist der Probcnhalter mit

zwischenliegenden Reinigungsbädern, acht Öffnungen zum Aufnehmen von Proben ver-

Fig.5 in vergrößertem Maßstab eine schaubild- sehen, die innerhalb eines Umrisses der PIaIic 7 verliehe Darstellung einer Einzelheit an einem Proben- 55 teilt sind, der im wesentlichen aus zwei Kreisbogen halter zur Verwendung bei der Vorrichtung nach besteht, deren Halbmesser R wenigstens annähernd F i g. 4 und gleich demjenigen der Scheibe 2 ist und deren Mitlcl-

F i g. 6 und 7 einen Querschnitt bzw. eine Seiten- punkt M auf einer zu den Führungsschienen 3 paransicht einer Schleifscheibeneinheit der Vorrichtung allele, sich mit der Scheibenachse kreuzenden Linie nach F i g. 4. 60 in einem Abstand voneinander liegen, der dem Weg

Die Vorrichtung nach Fig. 1 bis 3 weist ein Ge- der durch den Schwenkhebel 14 erzeugten hin- und häuse 1 auf, das einen nicht dargestellten Antrieb für hergehenden Bewegung des Probenhalters entspricht, eine aus der oberen Wandung des Gehäuses etwas Natürlich kann sich die Platte 7 auch über den so hervorstehende, waagerecht rotierende Schleif- und definierten Umriß erstrecken, vorausgesetzt, daß Polierscheibe 2 enthält Auf dem Gehäuse 1 sind 65 jedenfalls die Aufnahmelöcher 8 für die Proben beiderseits der Scheibe 2 parallele Führungsschie- innerhalb dieses Umrisses verbleiben, damit die Ge nen 3 -vorgesehen, die in einer zur Schleifscheibe währ gegeben ist, daß die Proben über den Rand der parallelen Ebene liegen. Scheibe 2 nicht hinausbewegt werden.

(ο

Die im vorstehenden kurz erwähnte Lagerung der grundsätzlich wie der in F i g. 1 bis 3 dargestellte aus-

Belastungsgewichte in der oberen Platte 6 ist folgen- gebildet sein und ist daher in F ι g. 4 bis 7 nicht dar-

^derDie^aßobefe^e Haue6 ist mit zu den öffnungen 8 der ^Bei'der Vorrichtung nach Fig. 4 bis 7 sind sowohl unteren Platte 7 konzentrischen Lagern 17 versehen, 5 die Schleifscheibeneinheiten als auch die Reinigungs-Γη welchen je eine Keilriemenscheibe 15 α drehbar bäder in noch zu beschreibender Weise im nicht und axial unverschiebbar gelagert ist. Die Spindeln 16 näher dargestellten Maschinengestell 44 heb- und der Belastungsgewichte haben einen unrunden, z. B. senkbar angeordnet, wie in Fi g. 4 mit Pfeüen angequadratischer; Querschnitt und greifen durch ent- deutet, damit nach jede.: Schleifoperation bzw Re,-sorechend eestaltete mittige Öffnungen der Keilriemen- io nigungsoperation die Schleifscheibe bzw das Reini-SeibS S daß die Belastungsgewichte und deren gungsbad von den Proben entfernt wird und diese Soindeln mit den Keilriemenscheiben verdrehungs- ungehindert weiterbefördert werden können Zu diefes* jedoch axial verschiebbar verbunden sind. sem Zweck sind die im wesentlichen zylindrischen We aus Fig 2 ersichtlich, sind die Belastungs- Probenkörper9 (Fig. 3) an ihrem oberen Ende mit «wichte 15 mit zugehörigen Keilriemenscheiben 15 einem Bund 25 versehen, dessen Durchmesser großer 15 «(und daiS auch die Aufnahmeöffnungen 8) in ist als derjenige der Aufnahmeöffnungen 8_; so daß zwei ciuDPen zu % _vier symmetrisch zur Mittellinie die Probenkörper im Probenhalter hangen bleiben, M M eeordnet Um jede Gruppe von Keilriemen- wenn die Schleifscheibe abgesenkt wird, schaben ist ein Keilriemen, vorzugsweise ein Zahn- Jede Schleifeinheit mit Schleifscheibe 2 besteht aus Priemen 18 eeleet der in die Umfangsnuten der 20 einem Gehäuse 1, in welchem der nicht dargestellte K^inemensch'efben eingreift. Auf der Strecke zw.- Antrieb für die Schleifscheibe und für den Schwenk-SendTn beiden der Mittellinie M-M am nächsten hebel 14 angeordnet ist. Dagegen trägt das Gehäuse 1 lieeenden Belastungsgewichte 15 ist jeder Keilriemen bei dieser Ausführung keine Führungsschienen 3 da 1R mit einer Stanee 19 gelenkig verbunden, die sich diese im Maschinengestell angeordnet sind, und keiüberden Umriß dir Platten 6, 7 hinaus erstreckt. Die ,5 nen Ständer 22 zum Verankern der mit den Keilheiden Staneen 19 sind an ihrem freien Ende durch riemen 18 verbundenen Stangen 19, sondern der einen Stift 20 miteinander verbunden, der in einen Ständer wird durch die folgende Verankerungsanordnarh oben offenen Schlitz 21 eines auf dem Gehäuse 1 nung ersetzt:

EefestttTn Ständers 22 eingelegt werden kann. Beim An jeder Schleifeinheit 1, 2 ist ein U-förmiger

TTn und Herbeweeen des Probenhalters 5 mittels des 30 Bügel oder Galgen 26 mit seinen Schenkeln in senk-

Srhwenkhebels 14 bleibt somit der Anlenkpunkt der rechten Führungsbüchsen 27 des Maschinengestells

Stangen 19 an den Keilriemen 18 im Raum feststehen. 44 verschiebbar gelagert, die sich beiderseits der

wodurch den Keilriemenscheiben 15 α und damit den durch die Führungsschienen 3 gebildeten Führungs-

Bp1a«;tiines*ewichten 15 eine Drehbewegung mit ab- bahn für den Probenhalter befinden, so daß der

wrh^lnrW Drehrichtung erteilt wird. Diese Dreh- 35 Bügel gewissermaßen ein Tor bildet, durch welches

beweEunfwird durch die Spindeln 16 auf die Pro- der Probenhalter auf der Führungsbahn frei bewegt

hen 9 ühertraeen indem das untere Ende jeder Spin- werden kann. Das untere Ende der Schenkel ist über

He'116 mit einer etwa spatenförmigen Schneide 23 je einen Lenker 28 mit je einem Kurbelarm 29 einer

aiiwstaltet ist die sich eegen das obere Ende der im Maschinengestell gelagerten Querwelle 30 verbun-

PmLn leet und damit eine genügend feste Dreh- 40 den, die mittels eines Betätigungshebels 31 um etwa

vprWnHiml zwischen den Belastungsgewichten und 90° in der einen oder der anderen Richtung gedreht

verbindung ^ζ™™_{εί5{β1 Die relative} Schleifrich- werden kann, so daß damit der Bügel oder Galgen 26

aen ^rro^ ' ο rndflächen der Proben 9 ändert um ein gewisses Maß gehoben bzw. gesenkt werden

SsomUdaiernd nicht nwTnfolge "der geradlinigen kann.

VerVchiebuns der Proben über die rotierende Schleif- 45 Am mittleren Teil des Bügels ist ein nach unten

1 -h 2 sondern auch auf Grund der den Proben gerichteter Arm32 befestigt, an welchem die mit den

scheine , ^„„„HrrhhewceunE Treibriemen der Belastungsgewichte des Probenhal-

^a %irSSSS f 'sindÄ 19 sowie der ters verbundenen Stangen 19 verankert werden kön-

22 b Z d Zk d d S 19 b

%irSSSSc f sindÄ 19 sowie der ters verbundenen Stangen 19 verankert werden kön

Arrn 10 des Probenhalters mit dem Ständer 22 bzw. nen. Zu diesem Zweck sind die Stangen 19, ab-

H m Schwenkhebel 14 leicht lösbar verbunden, so 50 weichend von der m Fig. 1 bis 3 dargestellten

oem ^3L"w !,„u-iter 5 vor den Führungsschienen 3 Ausführung, an ihrem freien Ende mit einem federnd

fj\iehha7ist wenn ζ B. das Schleiftuch der schwenkbaren Haken 33 (Fig. 5) versehen, der

ieicnt aoneou , , _d gereinigt werden durch eine nicht dargestellte Feder nach oben gegen

Schlexfscheibe 2_camgetaus^ ^ J ^ ^ ^ _{Anschlag34 in die in Fig 5 dargestellte} ^B _L|_ge

sou. -t-ur dargestellter Dosierungsbehälter, aus 55 gedrückt wird, jedoch nach unten federnd nachgeben

Kannten mcni ξ _mittelsuspcnsion der Schleif- kann. Dabei sind die Stangen 19 derart ausgestaltet,

^Wt^ h_P tronienweteZugeführt wird. daß sie, wie in F i g. 1 dargestellt, in ihrer waagerechten

scheibe .^tr°P^^nwei?^e _t ^j_n ^g _{e Schleif}. _und Poliervorrich- Arbeitslage auf der oberen Platte 6 des Probenhalters

♦ Ü".tr Frfindunc mit mehreren hintereinander lose aufliegen. Der Arm 32 des Bügels 26 trägt an

tung nacn aer ^i" b _rscheiben 2 mit zwi- 6o seinem unteren Ende einen Querstift 35, auf den beim

angeordneten Schlei-una _{nschauiicht Heranführen eines Prob}enhalters an eine Schleif-

scherfiepnden Reinigun^gsDaae ^ ^ ^^ _{der Haken33} ^ ^ _Schrä^_{äche36 auf}.

Die ^F»^h™^_t^VscSfecheiben 2 und Reini- läuft, so daß der Haken nach unten |edrückt wird,

laufend über samtlicl.eacn _{probenhalter auf den bis er mit dem} Q_uerstift einklinkt und somit am Arm

gungsbader M, sou _Schi_eifscheibe zur nach- 65 32 verankert wird. Während dieses Vorgangs befindet

Fuhrungsschienej ^^f^ ^^^ _{je sich der Bügel 26 m seiner unteren} ^J

sten gleitenικ^n , Reinigungsbad Soll nun wieder ausgeklinkt werden, um den

zwei Schleife"^™,/ _Der Probenhalter kann Probenhalter auf der Führungsbahn weiterführen zu

zsστα

Seiken Se
Senken der

1, 2 und ist zu diesem

Endes

^Die ^BungAäde? können in gleicher Weise wie ^die Schleifeinheiten gehoben und gesenkt werden, so ^{S daß eine} "^ ^Bes^eibung der entsprechenden Anordnung sich erübrigt

^Dic Betätigungshebel 31 der verschiedenen Schleif^{gekuppelt sein}' ^{so daß sämtlic}^ Schleifeinheiten und

■·

hin mit Führungsbüchsen 43 an senkrechten Füh-

angehoben wird

Dabei kommen die Teile 13, 14 und 32, 35 mit * den Haken 11 und 33 außer Eingriff, so daß der Probenhalter an den Führungsschienen 3 weiterglei- und sie beim
^Wieder

an ^Schleif- ^und

Hierzu 2 Blatt Zeichnungen

Claims (7)

8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch Patentansprüche: gekennzeichnet, daß die Führung (3, 3) einerseits und die Schleif- und Polierscheiben (2) anderer-

1. Vorrichtung zum Schleifen und Polieren seits zueinander heb- und senkbar sind.

von metallographischen und mineralogischen 5 9. Vorrichtung nach Anspruch 7 oder 8, da-Proben mit einer motorisch angetriebenen durch gekennzeichnet, daß die Antriebsverbin-Schleifscheibe und einem gegenüber der Schleif- dung (18) der Belastungsmittel (15) an jeder scheibe in einer dazu parallelen Ebene beweg- Schleif- und Polierscheibe (2) mit einem festlichen Probenhalter mit Öffnungen zum dreh- stehenden Punkt (35) der Vorrichtung lösbar baren Aufnehmen mehrerer in zylindrischen io kuppelbar ist.

Kunstharzkörpern eingebetteter Probenstücke, so- 10. Vorrichtung nach den Ansprüchen 7 bis 9,

wie mit Mitteln zum Bewegen des Probenhalters, gekennzeichnet durch eine mit Mitnehmern ver-

dadurchgekennzeichnet, daß die Mittel sshcne Fördereinrichtung, die wenigstens beim

zum Bewegen des Probenhalters in an sich be- Abheben der Proben von den Schleif- und

kannter Weise eine geradlinige Führung (3, 3) mit 15 Polierscheiben durch relative Bewegung der Füh-

einer den Probenhalter (5) an dieser Führung un- rung und der Scheiben den Probenhalter bzw.

verdrehbar hin und her bewegenden Antriebsvor- die Probenhalter in Richtung auf die nächste

richtung (13, 14) umfassen und daß die Auf- Scheibe weiterbefördert.

nahmeöffnungen (8) des Probenhalters für die H. Vorrichtung nach einem jeden der An-Proben (9) innerhalb einer Umhüllungskurve 20 spräche 7 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß verteilt sind, die sich im wesentlichen aus zwei zwischen den Schleif- und Polierscheiben (2) Rei-Kreisbogen zusammensetzt, deren Halbmesser nigungsbäder (24) für die Proben angeordnet sind. (R) annähernd gleich demjenigen der Schleifscheibe (2) ist, deren Mittelpunktabstand (M-M)

annähernd dem Weg des Probenhalters bei der 25
hin- und hergehenden Bewegung entspricht und

deren Mittelpunktabstandslinie (M-M) zur gerad- Gegenstand der Erfindung ist eine Vorrichtung linigen Führung (3, 3) wenigstens annähernd par- _ZUm Schleifen und Polieren von metallographischen allel ist und die Achse der Schleifscheibe (2) und mineralogischen Proben mit einer motorisch ankreuzt. 30 getriebenen Schleifscheibe und einem gegenüber der

2. Vorrichtung nach Anspruch 1 mit im Pro- Schleifscheibe in einer dazu parallelen Ebene bewegbenhalter drehbar gelagerten Belastungsmitteln liehen Probenhalter mit Öffnungen zum drehbaren für die Proben, dadurch gekennzeichnet, daß Aufnehmen mehrerer in zylindrischen Kunstharzzwischen den drehbaren Belastungsmitteln (15) körpern eingebetteter Probestücke, sowie mit Mitteln eine Antriebsverbindung, z. B. ein Riemenantrieb 35 zum Bewegen des Probenhalters.

(18), besteht, der mit einem feststehenden Punkt Beim Schleifen von metallographischen und mine-

(22, 35) der Vorrichtung verbindbar ist. ralogischeu Proben ist es wichtig, daß diese mög-

3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch ge- liehst plan und gleichmäßig an allen Stellen der kennzeichnet, daß das den Proben (9) zugekehrte durch die Schleifscheibe bearbeiteten Fläche geEnde der Belastungsmittel eine etwa spatenför- 40 schliffen werden. Dabei dürfen die Schleifspuren mige Schneide (23) aufweist, die gegen die Probe nicht stets in einer Richtung über diese Fläche verzum Anliegen kommt. laufen, sondern ihre Richtung muß sich dauernd

4. Vorrichtung nach einem jeden der vorher- ändern.

gehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, Es ist bereits eine Polieranlage für Halbleiter-

daß die geradlinige Führung beiderseits der 45 und Metalloberflächen (Zeitschrift Feinwerktechnik,

Schleifscheibe (2) je eine geradlinige Führungs- 72. Jahrgang, 1968, Heft 8, Seite 395 und 396) bc-

schiene (3) umfaßt, auf denen der Probenhalter kanntgeworden, bei der das zu polierende Material

(5) mit die Führungsschienen wenigstens teilweise auf der Unterseite einer Polierscheibe (Trägerplatte)

umschließenden Gleitschuhen (4) aufliegt. befestigt ist, die periodisch um eine senkrechte

5. Vorrichtung nach einem jeden der vorher- 5° Achse gedreht und mittels einer geradlinigen Fühgehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, rung über einen Drehteller hin- und herbewegt wird, daß der Probenhalter (5) mit den seiner Hin- und Diese Polieranlage hat den Nachteil, daß das zu Herbewegung dienenden Antriebsmitteln (14) polierende Material auf einem Kreis mit relativ lösbar gekuppelt ist. kleinem Durchmesser verteilt werden muß, der klei-

6. Vorrichtung nach Anspruch 2 und 5, da- 55 ner ist als die Hälfte des Drehtellerdurchmessers. Es durch gekennzeichnet, daß die Antriebsvcrbin- kann also nur Material mit verhältnismäßig geringer dung (18) der Belastungsmittel mit dem fest- Oberfläche poliert werden.

stehenden Punkt (22, 35) der Vorrichtung lösbar Es ist weiter eine Vorrichtung zum Schleifen begekuppelt ist. kannt, bei welcher der Probenhalter um eine zur

7. Vorrichtung nach einem jeden der vorher- 60 Achse der Schleifscheibe parallele, außerhalb des gehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, Scheibenumfangs gelegene Achse über die Schleifdaß die geradlinige Führung (3, 3) sich über meh- scheibe hin- und hergeschwenkt wird und dabei die rere in einer zur Führung parallelen Reihe nach- Proben in seinen Öffnungen lose drehbar aufnimmt, einander angeordnete Schleif- und Polierscheiben Wenn dafür gesorgt wird, daß während der (2) erstreckt, die im wesentlichen in einer Ebene 65 Schwenkbewegung des Probenhalters die Proben liegen, wobei der Probenhalter bzw. jeder Pro- möglichst nahe am Mittelpunkt der Scheibe vorbei benhalter in einer Arbeitslagc an jeder Scheibe passieren, erhalten die Proben durch die Reibung an die Bewcgungsmittel (14) kuppelbar ist. der Schleifscheibe zugleich eine abwechselnde Dreh-