DE2020409C3 - Vorrichtung zum Schleifen und Polieren, von metallographischen und mineralogischen Proben - Google Patents

Description

bewegung um ihre Achse, wodurch ein sehr gleichmäßiger und planer Schliff erzielt werden kann.

DiI Forderung, daß alle Proben möglichst nahe am Mittelpunkt der Schleifscheibe vorbei passieren sollen, setzt jedoch eine sehr enge Gruppierung der Proben um den Mittelpunkt des Probenhate« voraus, so daß dieser in der Regel nur drei und höchstens die. Führun

ßenden Ol ^

halter auch von der

Schere;
leitern,

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_w j _ge,talteten Füh^tr «^cl^^B _Policrtuch der

zu könnet

™ "probenhalters weiter zu er, 7 _vorteühaft, wenn der Probenhalter es vorteima ' _dienenden

AAS c?

Engpaß im metallographischen Laboratorium ^punkt

Erfindung eigen-

.5

Autabe der vorliegenden Erfindung ist, eine Schleif- und Poliervorrichtung zu schaffen die eine gegenüber der vorstehend beschriebenen bekannten Vorrichtung erhöhte Leistungsfähigkeit besitzt, indem der Probenhalter zum Aufnehmen emer weil größeren Zahl von Proben ausgelegt werden kann, ohne daß dabei die Vorteile der bekannten Vornchtung hinsichtlich einer optimalen Schliffgüte verloren^geSndun_gsgem_äß wird das dadurch erreicht, daß

die Mittel zum Bewegen des Probenhalters in an s.ch bekannter Weise eine geradlinige Führung mit einer

den Probenhalter an dieser Fuhrung unverdrehb-r hin- und herbewegenden Antriebsvorrichtung ,umfffisen und daß die Aufnahmeöffnungen des Probenhaiters für die Proben innerhalb einer Umhullungskurve verteilt sind, die sich im wesentlichen aus zwei Kreisbogen zusammensetzt, deren Halbmesser annähernd gleich demjenigen der Schleifscheibe ist deren Mittelpunktabstand annähernd dem Weg des Probenhalters bei der hin- und hergehenden Bewegung entspricht und deren Mittelpunktahjandsr linie zur geradlinigen Führung wenigstens annähernd parallel ist und die Achse der Schleifscheibe kreurt. ^P 1st der Probenhalter in bekannter Weise mit dann drehbar gelagerten Belastungsmitteln fur die Proben z. B. in der Gestalt von Gewichten, versehen, so laßt sich bei der erfindungsgemaßen Vorrichtung; die Qualität des Schliffs noch dadurch erhohen, daß den Proben eine eigene Drehung um ihre Jeweiligen Achsen aufgezwungen wird, das heißt «he durch die Reibungskräfte erzeugte zufällige Drehung wird durch line genau festgelegte Drehbewegung ersetzt Dies kann bei der erfindungsgemaßen Vornchtung in sehr einfacher Weise dadurch zustande gebracht no. ^
ren Ausbaus der

reiten und d

« und Po»¹

_ung.bekanntlich werden cn g _mehreren Ar-

; und poliert, wobei in der en Stufen jeweils ein Schle.fno _Korngröß_e als in der

^WJ™^e _{tt wird} ^B Bisher war es Schleif- und Polier-

als

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^_em entsprechenden Reinigungsbad. « erne P^ ^^ ^ _h

Sdltt werden, indem die Parallelpr \^^ _ernäßen Vorrichtung über

fuhrung der,ej B _{dnele Schleif}. _und

^S^Seckt wird und somit zugle.ch fflf die Probenhalter mit den darin _{proben dient}.

^_υ5{ϋ1Β der erfindungsgemaßen Uge Au ^ _{demzufülge d durch}.

^ _Fühg sich über mehrere in gj^^,^ |_eihe nebeneinander anührung ρ _{schdben erstTeckt}, die im

^^chen η einer Ebene liegen, wobei der Prowesen««nen^n e _Uer -_{n dner Arbei}ts-

^f^^^scheibe an die Bewegungsmittel fur die lage arueder^scn _Bewegung kuppelbar ist. Mit J n- un. hergene ^ ^ ^ _d

*«^^βη am laufenden Band durchge-J™"«"^ ^ _{daß e}in manuelles Überwechseln fuhrt werden,^nne ^ Schleifvorrichtung

J^ed _{ ^e _die ^e™_c\_rforderlich wäre, sondern die Proben ^!Ä"^ verschiedenen Arbeitsstufen

daß
einer

-7

ben bei diesem Vorgang im Probenhalter verbleiben Auf den Führungsschienen 3 ist ein mit entspre-

und somit von der Schleif- und Polierscheibe abge- chenden Gleitschuhen 4 versehener Probenhalter 5 hoben werden, kann der zylindrische Probenkörper verschiebbar' geführt. Die Gleitschuhe umschließen an einem Ende einen Bund aufweisen, dessen Durch- die Führungsschienen nur teilweise (Fig. 3), so daß messer größer ist als derjenige der öffnungen des 5 der Probenhalter 5 von den Schienen 3 leicht abge-Probenhalters. hoben werden kann. Der Probenhalter S besteht aus

Bei Vorhandensein einer Antriebsverbindung zwi- einer oberen Platte 6, die mit den Gleitschuhen 4 scnen den Belastungsmitteln für die Proben, wie im verbunden ist, und einer in kleiner Entfernung über vorstehenden beschrieben, sollte diese Antriebsver- der Schleifscheibe 2 liegenden unteren Platte 7, die bindung ebenfalls an jeder Schleif- und Polierscheibe io durch Streben 7 α mit der oberen Platte 6 verbunden mit einem feststehenden Punkt der Vorrichtung lös- und in bekannter Weise mit kreisrunden Löchern bar kuppelbar sein. zum Aufnehmen von zylindrischen Proben versehen

Zur weiteren Automatisierung des Schleif- und ist. F i g. 3 zeigt im Schnitt zwei derartige Löcher 8, Poliervorgangs ist zweckmäßig eine mit Mitnehmern wobei in dem einen eine Probe 9 dargestellt ist. Es versehene Fördereinrichtung vorgesehen, die wenig- 15 ist üblich, die anfallenden metallischen Proben in stens beim Abheben der Proben von den Schleif- eine zylindrische Form zu legen, die anschließend mit und Polierscheiben durch relative Bewegung der Kunstharz ausgegossen wird. Der so gebildete Führung und der Scheiben den Probenhalter bzw. die zylindrische Körper mit eingebettetem Metallstück Probenhalter in Richtung auf die nächste Scheibe wird dann an einer Endfläche geschliffen, bis der weiterbefördert. Da eine Reinigung der Proben nach 20 erwünschte Querschnitt des Metallstücks freigelegt jeder Bearbeitungsstufe erwünscht ist, können weiter und poliert ist.

Reinigungsbäder für die Proben zwischen den Zum Bewegen des Probenhalters an den Führun-

Schleif- und Polierscheiben angeordnet sein. Die gen 3 relativ zur Schleifscheibe 2 ist die untere Proben können dann im Zuge der Weiterführung Platte 7 mit einem zu den Führungen 3 parallelen, von einer Schleif- und Polierscheibe zur nächsten as starren Arm 10 versehen, der an seinem freien Ende in die Reinigungsbäder hineingetaucht werden, z. B. einen federnden Haken 11 mit schräger Auflauffläche durch entsprechendes Absenken der Führungsbahn 12 trägt. Beim Aufsetzen des Probenhalters S auf die für die Probestückhalter relativ zu den Reinigungs- Führungen 3 kommt dieser Haken 11 mit einem bädern. Querstift 13 am oberen Ende eines aus dem Gehäuse 1

Mit den oben geschilderten verschiedenen Aus- 30 herausragenden Schwenkhebels 14 in Eingriff, welführungsmöglichkeiten wird eine Schleif- und Polier- eher mittels des nicht dargestellten Antriebs in Pfeilvorrichtung geschaffen, die bei sehr geringem manuel- richtung (Fig. 1) hin und her geschwenkt wird und len Arbeitsaufwand eine besonders hohe Leistungs- damit den Probenhalter 5 relativ zur Schleifscheibe 2 fähigkeit besitzt. Wird in Verbindung mit der Vor- hin und her verschiebt. Der Antrieb des Schwenkrichtung eine z.B. elektronische Programmsteuerung 35 hebeis erfolgt mit einer relativ niedrigen Geschwinvorgesehen, so beschränkt¹ sich die manuelle Arbeit digkeit, damit auf die in den Öffnungen 8 lose drehbar auf ein jeweils einmaliges Beladen der Probenhalter sitzenden Proben möglichst keine Massenkräfte aus- und Einführung derselben nacheinander in die Vor- geübt werden, die ein Kippmoment hervorrufen und richtung an einem Ende derselben, während die fertig damit einen einwandfreien Planschliff gefährden geschliffenen und polierten Proben am anderen Ende 40 könnten.

der Vorrichtung den Probenhaltern entnommen Die Proben 9 werden nicht nur durch ihr eigenes

werden. Gewicht, sondern zusätzlich auch durch je ein Be-

Die Erfindung wird im Nachstehenden an Hand lastungsgewicht 15 gegen die Scheibe 2 gedrückt, der Zeichnungen näher erläutert. Es zeigt Diese Belastungsgewichte 15 sind in der nachstehend

F i g. 1 eine Seitenansicht eines Ausführungsbei- 45 näher beschriebenen Weise mit Spindeln 16 in der spiels einer erfindungsgemäßen Vorrichtung, oberen Platte 6 drehbar und axial verschiebbar und

F i g. 2 eine Draufsicht, zu den öffnungen 8 der unteren Platte 7 konzentrisch

Fig. 3 eine vergrößerte Endansicht, zum Teil im gelagert. Die in Fig. 2 dargestellte räumliche An-Schnitt nach der Linie III-III in F i g. 1, Ordnung der Belastungsgewichte 15 läßt daher auch

F i g. 4 eine schematische Darstellung eines Aus- 50 die entsprechende Anordnung der Öffnungen 8 erschnitts einer Vorrichtung mit mehreren hinterein- kennen.

ander angeordneten Schleif- und Polierscheiben und Im dargestellten Beispiel ist der Probenhalter mit

zwischenliegenden Reinigungsbädern, acht Öffnungen zum Aufnehmen von Proben ver-

Fig. 5 in vergrößertem Maßstab eine schaubild- sehen, die innerhalb eines Umrisses der Platte 7 verliehe Darstellung einer Einzelheit an einem Proben- 55 teilt sind, der im wesentlichen aus zwei Kreisbogen halter zur Verwendung bei der Vorrichtung nach besteht, deren Halbmesser R wenigstens annähernd F i g. 4 und gleich demjenigen der Scheibe 2 ist und. deren Mittel-

F i g. 6 und 7 einen Querschnitt bzw. eine Seiten- punkt M auf einer zu den Führungsschienen 3 paransicht einer Schleifscheibeneinheit der Vorrichtung allele, sich mit der Scheibenachse kreuzenden Linie nach F i g. 4. 60 in einem Abstand voneinander liegen, der dem Weg

Die Vorrichtung nach Fig. 1 bis 3 weist ein Ge- der durch den Schwenkhebel 14 erzeugten hin- und bäuse 1 auf, das einen nicht dargestellten Antrieb für hergehenden Bewegung des Probenhalters entspricht, eine aus der oberen Wandung des Gehäuses etwas Natürlich kann sich die Platte 7 auch über den so hervorstehende, waagerecht rotierende Schleif- und definierten Umriß erstrecken, vorausgesetzt, daß Polierscheibe 2 enthält. Auf dem Gehäuse 1 sind 65 jedenfalls die Aufnahmelöcher 8 für die Proben beiderseits der Scheibe 2 parallele Führungsschie- innerhalb dieses Umrisses verbleiben, dam-t die Genen 3 vorgesehen, die in einer zur Schleifscheibe währ gegeben ist, daß die Proben über den Rand der parallelen Ebene liegen. Scheibe 2 nicht hinausbewegt werden.

Die im vorstehenden kurz erwähnte Lagerung der Belastungsgewichte in der oberen Platte 6 ist folgendermaßen gestaltet:

Die obere Platte (i ist mit zu den öffnungen 8 der unteren Platte 7 konzentrischen Lagern 17 versehen, in welchen je eine Keilriemenscheibe 15 α drehbar und axial unverschiebbar gelagert ist. Die Spindeln 16 der Belastungsgewichtc haben einen unrunden, z. B. quadratischen Querschnitt und greifen durch entsprechend gestaltete mittige Öffnungen der Keilriemenscheiben, so daß die Belastungsgewichte und deren Spindeln mit den Keilriemenscheiben verdrehungsfest, jedoch axial verschiebbar verbunden sind.

Wie aus F i g. 2 ersichtlich, sind die Belastungsgewichte 15 mit zugehörigen Keilriemenscheiben 15 ο (und damit auch die AufnahmeöfTnungen 8) in zwei Gruppen zu je vier symmetrisch zur Mittellinie M-M geordnet. Um jede Gruppe von Keilriemenscheiben ist ein Keilriemen, vorzugsweise ein Zahnkeilriemen 18, gelegt, der in die Umfangsnuten dp.r Keilriemenscheiben eingreift. Auf der Strecke zwischen den beiden der Mittellinie M-M am nächsten liegenden Belastungsgewichte 15 ist jeder Keilriemen 18 mit einer Stange 19 gelenkig verbunden, die sich über den Umriß der Platten 6, 7 hinaus erstreckt. Die beiden Stangen 19 sind an ihrem freien Ende durch einen Stift 20 miteinander verbunden, der in einen nach oben offenen Schlitz 21 eines auf dem Gehäuse 1 befestigten Ständers 22 eingelegt werden kann. Beim Hin- und Herbewegen des Probenhalters 5 mittels des Schwenkhebels 14 bleibt somit der Anlenkpunkt der Stangen 19 an den Keilriemen 18 im Raum feststehen, wodurch den Keilriemenscheiben 15 α und damit den Belastungsgewichten 15 eine Drehbewegung mit abwechselnder Drehrichtung erteilt wird. Diese Drehbewegung wird durch die Spindeln 16 auf die Proben 9" übertragen, indem das untere Ende jeder Spindel 16 mit einer etwa spatenförmigen Seihneide 23 ausgestaltet ist, die sich gegen das obere Ende der Proben legt und damit eine genügend feste Drehverbindung zwischen den Belastungsgewichten und den Proben gewährleistet. Die relative Schleifrichtung an den unteren Endflächen der Proben 9 ändert sich somit dauernd, nicht nur infolge der geradlinigen Verschiebung der Proben über die rotierende Schleifscheibe 2, sondern auch auf Grund der den Proben aufgezwungenen Eigendrehbewegung.

Wie ersichtlich, sind die Stangen 19 sowie der Arm 10 des Probenhalters mit dem Ständer 22 bzw. dem Schwenkhebel 14 leicht lösbar verbunden, so daß der Probenhalter 5 von den Führungsschienen 3 leicht abhebbar ist, wenn z. B. das Schleiftuch der Schleifscheibe 2 ausgetauscht oder gereinigt werden soll. Zur Vorrichtung gehört noch ein an sich bekannter, nicht dargestellter Dosierungsbehälter, aus welchem eine Schleifmittelsuspension der Schleifscheibe tropfenweise zugeführt wird.

In I- i g. 4 bis 7 ist eine Schleif- und Poliervorrichtung nach der Erfindung mit mehreren hintereinander angeordneten Schleif- und Polierscheiben 2 mit zwischcnliegendcn Reinigungsbädern 24 veranschaulicht. Die Führungsschienen 3 erstrecken sich hier fortlaufend über sämtliche Schleifscheiben 2 und Reinigungsba'der 24, so daß ein Probenhalter auf den Führungsschienen von einer Schleifscheibe zur nächsten gleiten kann, wobei die Proben zwischen je zwei Schleifscheiben noch in einen Reinigungsbad 24 guruinigl werden können. Der Probenhaltcr kann grundsätzlich wie der in F i g. 1 bis 3 dargestellte ausgebildet sein und ist daher in F i g. 4 bis 7 nicht dargestellt.

Bei der Vorrichtung nach F i g. 4 bis 7 sind sowohl S d'.e Schleifschcibeneinheiten als auch die Reinigungsbäder in noch zu beschreibender Weise im nicht näher dargestellten Maschinengestell 44 heb- und senkbar angeordnet, wie in F i g. 4 mit Pfeilen angedeutet, damit nach jeder Schleifoperation bzw. Reinigungsoperation die Schleifscheibe bzw. das Reinigungsbad von den Proben entfernt wird und diese ungehindert weiterbefördert werden können. Zu diesem Zweck sind die im wesentlichen zylindrischen Probenkörper9 (Fig. 3) an ihrem oberen Ende mit einem Bund 25 verschen, dessen Durchmesser größer ist als derjenige der AufnahmeöfTnungen 8, so daß die Probenkörper im Probenhalter hängen bleiben, wenn die Schleifscheibe abgesenkt wird.

Jede Schleifeinheit mit Schleifscheibe 2 besteht aus einem Gehäuse 1, in welchem der nicht dargestellte Antrieb für die Schleifscheibe und für den Schwenkhebel 14 angeordnet ist. Dagegen trägt das Gehäuse 1 bei dieser Ausführung keine Führungsschienen 3, da diese im Maschinengestell angeordnet sind, und keinen Ständer 22 zum Verankern der mit den Keilriemen 18 verbundenen Stangen 19, sondern der Ständer wird durch die folgende Verankerungsanordnung ersetzt:

An jeder Schleifeinheit 1, 2 ist ein U-förmiger Bügel oder Galgen 26 mit seinen Schenkeln in senkrechten Führungsbüchsen 27 des Maschinengestells 44 verschiebbar gelagert, die sich beiderseits der durch die Führungsschienen 3 gebildeten Führungsbahn für den Probenhalter befinden, so daß der Bügel gewissermaßen ein Tor bildet, durch welches der Probenhalter auf der Führungsbahn frei bewegt werden kann. Das unlere Ende der Schenkel ist über je einen Lenker 28 mit je einem Kurbelarm 29 einer im Maschinengestell gelagerten Querwelle 30 verbunden, die mittels eines Betätigungshebels 31 um etwa 90° in der einen oder der anderen Richtung gedreht werden kann, so daß damit der Bügel oder Galgen 26 um ein gewisses Maß gehoben bzw. gesenkt werden kann.

Am mittleren Teil des Bügels ist ein nach unten gerichteter Arm 32 befestigt, an welchem die mit den Treibriemen der Belastungsgewichte des Probenhalters verbundenen Stangen 19 verankert werden können. Zu diesem Zweck sind die Stangen 19, abweichend von der in F i g. 1 bis 3 dargestellten Ausführung, an ihrem freien Ende mit einem federnd schwenkbaren Haken 33 (F i g. 5) versehen, der durch eine nicht dargestellte Feder nach oben gegen einen Anschlag 34 in die in F i g. 5 dargestellte Lage

gedrückt wird, jedoch nach unten federnd nachgeben kann. Dabei sind die Stangen 19 derart ausgestaltet, daß sie, wie in F i g. 1 dargestellten ihrer waagerechten Arbeitslage auf der oberen Platte 6 des Probenhalters lose aufliegen. Der Arm 32 des Bügels 26 trägt an

seinem unteren Ende einen Querstift 35, auf den beim Heranführen eines Probenhalters an eine Schleifstation der Haken 33 mit einer Schrägfläche 36 aufläuft, so daß der Haken nach unten gedrückt wird, bis er mit dem Querstift einklinkt und somit am Arm 32 verankert wird. Während dieses Voigaugs befindet sich der Bügel 26 in seiner unteren Lage.

Soll nun wieder ausgeklinkt werden, um den Probenhalter auf der Führungsbahn weiterführen zu

können, wird die Querwelle 30 um etwa 90° gedreht, so daß der Bügel 26 mit dem Arm 32 in die obere Lage gehoben wird und der Querstift 35 mit dem Haken 33 außer Eingriff kommt.

Die Querwelle 30 steuert ebenfalls das Heben und Senken der Schleifeinheit 1, 2 und ist zu diesem Zweck an jedem Ende mit einem weiteren Kurbelarm

37 versehen, der gegenüber dem Kurbelarm 29 um etwa 90° versetzt ist. Wie aus F i g. 7 ersichtlich, befindet sich die Querwelle 30 im Bereich des einen Endes der Schleifeinheit 1, 2. Im Bereich des anderen Endes der Schleifeinheit ist ebenfalls eine Querwelle

38 im Maschinengestell gelagert, die an beiden Enden mit je einem Kurbelarm 39 versehen ist, die durch je eine waagerechte Koppel 40 mit den Kurbelarmen 37 verbunden sind. Die Schleifeinheit 1, 2 liegt mit Rollen 41 auf den Koppeln 40 auf und ist weiterhin mit Führungsbüchsen 43 an senkrechten Führungsstangen 42 des Maschinengestells 44 verschiebbar geführt. Wenn also die beiden Wellen 30 und 38 mittels des Betätigungshebels 31 entgegen dem Uhrzeigersinn aus der in F i g. 7 dargestellten Lage um etwa 90° gedreht werden, so senkt sich die Schleifeinheit 1, 2, während der Bügel 26 mit dem Arm 32 angehoben wird.

Dabei kommen die Teile 13, 14 und 32, 35 mit den Haken 11 und 33 außer Eingriff, so daß der Probenhalter an den Führungsschienen 3 weitergleiten kann, z. B. zu einem nachfolgenden Reinigungsbad oder zum Ausgang der Maschine.

Die Reinigungsbäder können in gleicher Weise wie die Schleifeinheiten gehoben und gesenkt werden, so daß eine nähere Beschreibung der entsprechenden Anordnung sich erübrigt.

Die Betätigungshebel 31 der verschiedenen Schleifeinheiten und Reinigungsbäder können einzeln von Hand betätigbar sein, oder sie können miteinander

ίο gekuppelt sein, so daß sämtliche Schleifeinheiten und Reinigungsbäder gleichzeitig abgesenkt bzw. angehoben werden. Letztere Möglichkeit ist besonders dann zweckmäßig, wenn mit mehreren Probenhaltern zu gleicher Zeit gearbeitet wird, du: sich je an einer Bearbeitungsstation (Schleifeinheit oder Reinigungsbad) befinden. Das Weiterführen der Probenhalter von einer Bearbeitungsstation zur nächsten kann von Hand erfolgen, oder es kann eine Fördereinrichtung vorgesehen sein, die für den Weitertransport der Probenhalter sorgt. Eine derartige Fördereinrichtung kann z. B. aus zwei beiderseits der Führungsbahn für die Probenhalter angeordneten Mitnehmerketten bestehen, die bei Weiterförderung der Probenhalter an deren Seiten angreifen und sie beim Einklinken an einer Bearbeitungsstation wieder freigeben. Falls erwünscht, kann der ganze mehrstufige Schleif- und Poliervorgang von einer geeigneten Programmsteuerung automatisch gesteuert werden.

Hierzu 2 Blatt Zeichnungen

Claims (7)

1 2 8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch Patentansprüche: gekennzeichnet, daß die Führung (3, 3) einerseiti und die Schleif- und Polierscheiben (2) anderer-

1. Vorrichtung zum Schleifen und Polieren seits zueinander heb- und senkbar sind.

von metallographischen und mineralogischen 5 9. Vorrichtung nach Anspruch 7 oder 8, da-Proben mit einer motorisch angetriebenen durch gekennzeichnet, daß die Antriebsverbin-Schleifscheibe und einem gegenüber der Schleif- dung (18) der Belastungsmittel (15) an jedei scheibe in einer dazu parallelen Ebene beweg- Schleif- und Polierscheibe (2) mit einem festlichen Probenhalter mit Öffnungen zum dreh- stehenden Punkt (35) der Vorrichtung lösbai baren Aufnehmen mehrerer in zylindrischen io kuppelbar ist.

Kunstharzkörpern eingebetteter Probenstücke, so- 10. Vorrichtung nach den Ansprüchen 7 bis 9,

wie mit Mitteln zum Bewegen des Probenhalters, gekennzeichnet durch eine mit Mitnehmern ver-

dadurch gekennzeichnet, daß die Mittel sehene Fördereinrichtung, die wenigstens beirr

zum Bewegen des Probenhaltefs in an sich be- Abheben der Proben von den Schleif- unc

kannter Weise eine geradlinige Führung (3, 3) mit 15 Polierscheiben durch relative Bewegung der Füh-

einer den Probenhalter (5) an dieser Führung un- rung und der Scheiben den Probenhalter bzw

verdrehbar hin und her bewegenden Antriebsvor- die Probenhalter in Richtung auf die nächste

richtung (13, 14) umfassen und daß die Auf- Scheibe weiterbefördert.

nahmeöffnungen (8) des Probenhalters für die H. Vorrichtung nach einem jeden der An-Proben (9) innerhalb einer Umhüllungskurve 20 spräche 7 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß verteilt sind, die sich im wesentlichen aus zwei zwischen den Schleif-und Polierscheiben (2) Rei-Kreisbogen zusammensetzt, deren Halbmesser nigungsbäder (24) für die Proben angeordnet sind. (R) annähernd gleich demjenigen der Schleifscheibe (2) ist, deren Mittelpunktabstand (M-Ki)

annähernd dem Weg des Probenhalters bei der 35

hin- und hergehenden Bewegung entspricht und

deren Mittelpunktabstandslinie (M-M) zur gerad- Gegenstand der Erfindung ist eine Vorrichtung

linigen Führung (3, 3) wenigstens annähernd par- _ZUm Schleifen und Polieren von metallographischeii

al'Iel ist und die Achse der Schleifscheibe (2) _Und mineralogischen Proben mit einer motorisch an·

kreuzt. 30 getriebenen Schleifscheibe und einem gegenüber dei

2. Vorrichtung nach Anspruch 1 mit im Pro- Schleifscheibe in einer dazu parallelen Ebene bewegbcnhalter drehbar gelagerten Belastungsmitteln liehen Probenhalter mit Öffnungen zum drehbarer für die Proben, dadurch gekennzeichnet, daß Aufnehmen mehrerer in zylindrischen Kunstharzzwischen den drehbaren Belastungsmitteln (15) körpern eingebetteter Probestücke, sowie mit Mittelr eine Antriebsverbindung, z. B. ein Riemenantrieb 35 zum Bewegen des Probenhalters.

(18), besteht, der mit einem feststehenden Punkt Beim Schleifen von metallographischen und mine-

(22, 35) der Vorrichtung verbindbar ist. . ralogischen Proben ist es wichtig, daß diese mög-

3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch ge- liehst plan und gleichmäßig an allen Stellen dei kennzeichnet, daß das den Proben (9) zugekehrte durch die Schleifscheibe bearbeiteten Fläche geEnde der Belastungsmittel eine etwa spatenför- 40 schliffen werden. Dabei dürfen die Schleifspurer mige Schneide (23) aufweist, die gegen die Probe nicht stets in einer Richtung über diese Fläche verzinn Anliegen kommt. laufen, sondern ihre Richtung muß sich dauernc

4. Vorrichtung nach einem jeden der vorher- ändern.

gehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, Es ist bereits eine Polieranlage für Halbleiter-

daß die geradlinige Führung beiderseits der 45 und Metalloberflächen (Zeitschrift Feinwerktechnik

Schleifscheibe (2) je eine geradlinige Führungs- 72. Jahrgang, 1968, Heft 8, Seite 395 und 396) be

schiene (3) umfaßt, auf denen der Probenhalter kanntgeworden, bei der das zu polierende Materia

(5) mit die Führungsschienen wenigstens teilweise auf der Unterseite einer Polierscheibe (Trägerplatte'

umschließenden Gleitschuhen (4) aufliegt. befestigt ist, die periodisch um eine senkrecht«

5. Vorrichtung nach einem jeden der vorher- 5° Achse gedreht und mittels einer geradlinigen Füh gehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, rung über einen Drehteller hin- und herbewegt wird daß der Probenhalter (5) mit den seiner Hin- und Diese Polieranlage hat den Nachteil, daß das zi Herbewegung dienenden Antriebsmiitteln (14) polierende Material auf einem Kreis mit relati\ lösbar gekuppelt ist. kleinem Durchmesser verteilt werden muß, der kiel·

6. Vorrichtung nach Anspruch 2 und 5, da- 55 ner ist als die Hälfte des Drehtellerdurchmessers. E; durch gekennzeichnet, daß die Antriiebsverbin- kann also nur Material mit verhältnismäßig geringei dung (18) der Belastungsmittel mit dem fest- Oberfläche poliert werden.

stehenden Punkt (22, 35) der Vorrichtung lösbar Es ist weiter eine Vorrichtung zum Schleifen begekuppelt ist. kannt, bei welcher der Probenhalter um eine zui

7. Vorrichtung nach einem jeden der vorher- 60 Achse der Schleifscheibe parallele,, außerhalb de! gehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, Schdbenumfanjjs gelegene Achse über die Schleifdaß die geradlinige Führung (3, 3) sich über meh- scheibe hin- und hergeschwenkt wird und dabei du rere in einer zur Führung parallelen Reihe nach- Proben in seinen Öffnungen lose drehbar aufnimmt einander angeordnete Schleif- und Polierscheiben Wenn dafür gesorgt wird, daß während dei (2) erstreckt, die im wesentlichen in einer Ebene 65 Schwenkbewegung des Probenhalters die Probei liegen, wobei der Probenhalter bzw. jeder Pro- möglichst nahe am Mittelpunkt der Scheibe vorbe benhalter in einer Arbeitslage an jeder Scheibe passieren, erhalten die Proben durch die Reibung an die Bewegungsmittel (14) kuppelbar ist. . der Schleifscheibe zugleich eine abwechselnde Dreh