DE102015113639A1 - Arraysubstrat und Verfahren zu dessen Herstellung sowie Berühungsanzeigetafel - Google Patents
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Abstract
Die vorliegende Erfindung offenbart ein Arraysubstrat, ein Verfahren zu dessen Herstellung und eine Berührungsanzeigetafel. Das Arraysubstrat weist eine Basis auf, mehrere Dünnschichttransistoren, die in Form einer Matrix angeordnet sind und von denen jeder eine Gate-Elektrode, eine Source-Elektrode und eine Drain-Elektrode aufweist, eine erste Isolierschicht, die auf dem Dünnschichttransistor liegt, eine berührungsempfindliche Verdrahtungsschicht, die auf der ersten Isolierschicht liegt und mehrere berührungsempfindliche Verdrahtungen aufweist, und eine Planarisierungsschicht, die die berührungsempfindliche Verdrahtungsschicht bedeckt. Bei den Ausführungsformen der vorliegenden Offenbarung bedeckt die Planarisierungsschicht die berührungsempfindliche Verdrahtungsschicht, was die Flachheit über den berührungsempfindlichen Verdrahtungen verbessert, wodurch der Lichtaustritt auf beiden Seiten der berührungsempfindlichen Verdrahtung nach dem Polieren verhindert wird.
Description
- Gebiet der Erfindung
- Die vorliegende Offenbarung betrifft das Gebiet der Flüssigkristallanzeigetechnik und insbesondere ein Arraysubstrat und ein Verfahren zu dessen Herstellung sowie eine Berührungsanzeigetafel.
- Hintergrund der Erfindung
- Eine Flüssigkristallanzeige (LCD) ist eine Anzeige mit flachem Bildschirm. Mit der Entwicklung der Wissenschaft und Technik entwickeln sich elektronische Produkte mit der LCD dahingehend, leicht, dünn, kurz und kompakt zu sein, und haben Vorteile, wie etwa eine rechtwinklige Anzeige, einen niedrigen Leistungsverbrauch, eine geringe Größe und strahlungsfrei zu sein, wodurch die Benutzer von dem besten visuellen Umfeld profitieren können.
- Eine Anzeige mit einer Berührungserfassungsfunktion wird von der Technik für Funktionsvielfalt abgeleitet, wobei die übliche Berührungstechnik die In-cell-Berührungstechnik und die On-cell-Berührungstechnik umfasst. Die Incell-Berührungstechnik betrifft das Einbetten einer Berührungserfassungsfunktion in der Flüssigkristallpixelschaltungsanordnung, während die On-cell-Berührungstechnik das Einbetten einer Struktur für die Berührungserfassungsfunktion zwischen einem Farbfiltersubstrat und einer Polarisierungsplate betrifft. Die Incell-Berührungstechnik führt zu einer dünneren Anzeige und erzeugt mehr Aufmerksamkeit.
-
1 zeigt ein Arraysubstrat mit einer Berührungserfassungsfunktion aus dem Stand der Technik. Das Arraysubstrat weist von unten nach oben eine Basis111 auf sowie eine auf der Basis111 ausgebildete polykristalline Siliziumschicht112 , eine überzogene Gateisolierschicht113 , eine erste Metallschicht, in der in einem Strukturierungsprozess Gate-Elektroden114 von Dünnschichttransistoren (TFT) und Abtastleitungen ausgebildet werden, eine die Strukturen in der ersten Metallschicht überdeckende zwischengelegte Isolierschicht115 , eine zweite Metallschicht, in der in dem Strukturierungsprozess Source-Elektroden116 , Drain-Elektroden125 der TFT und Datenleitungen ausgebildet werden, eine Planarisierungsschicht118 , eine auf der Planarisierungsschicht118 ausgebildete dritte Metallschicht (M3), wobei in dem Strukturierungsprozess berührungsempfindliche Verdrahtungen119 in der dritten Metallschicht gebildet werden, eine erste Isolierschicht120 , Berührungserfassungselektroden121 , die auf der ersten Isolierschicht120 ausgebildet sind, wobei die Berührungserfassungselektroden121 auch als gemeinsame Elektroden wirken können, eine zweite Isolierschicht122 , ein erstes Kontaktloch123 , das durch Ätzen der zweiten Isolierschicht122 , der ersten Isolierschicht120 und der Planarisierungsschicht118 gebildet wird, ein zweites Kontaktloch124 , das durch Ätzen der zweiten Isolierschicht122 und der ersten Isolierschicht120 gebildet wird, und eine Pixelelektrode117 , die auf der zweiten Isolierschicht122 ausgebildet und über das erste Kontaktloch123 mit der Drain-Elektrode125 des Dünnschichttransistors elektrisch verbunden ist, wobei durch das Material der Pixelelektrode eine Brückenstruktur gebildet wird, um die Berührungserfassungselektrode121 über das zweite Kontaktloch124 mit der berührungsempfindlichen Verdrahtung119 elektrisch zu verbinden. - Bei dem wie oben ausgebildeten Arraysubstrat wird jedoch die berührungsempfindliche Verdrahtung auf der Planarisierungsschicht ausgebildet, die Oberfläche der Filmschicht auf der berührungsempfindlichen Verdrahtung ist somit nicht flach, was die Wirkung des nachfolgenden Polierprozesses enorm beeinträchtigt und leicht zu einem Lichtaustritt auf beiden Seiten der berührungsempfindlichen Verdrahtung führt.
- Kurzzusammenfassung der Erfindung
- Mit Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung werden ein Arraysubstrat und ein Verfahren zu dessen Herstellung sowie eine Berührungsanzeigetafel bereitgestellt, wobei die Planarisierungsschicht auf der berührungsempfindlichen Verdrahtungsschicht liegt, so dass die Flachheit der Filmschichten über den berührungsempfindlichen Verdrahtungen verbessert wird, wodurch der Lichtaustritt nach dem Polierprozess verhindert wird.
- In einem ersten Aspekt wird mit den Ausführungsformen der vorliegenden Offenbarung ein Arraysubstrat bereitgestellt, das Folgendes aufweist:
eine Basis,
mehrere Dünnschichttransistoren, die in Form einer Matrix angeordnet sind, wobei jeder eine Gate-Elektrode, eine Source-Elektrode und eine Drain-Elektrode aufweist,
eine erste Isolierschicht, die auf den Dünnschichttransistoren liegt,
eine berührungsempfindliche Verdrahtungsschicht, die auf der ersten Isolierschicht liegt und mehrere berührungsempfindliche Verdrahtungen aufweist, und
eine Planarisierungsschicht, die die berührungsempfindliche Verdrahtungsschicht bedeckt. - In einem zweiten Aspekt wird mit den Ausführungsformen der vorliegenden Offenbarung eine Anzeige mit Berührungstafel bereitgestellt, die das Arraysubstrat des ersten Aspekts der vorliegenden Offenbarung aufweist, wobei die Anzeige mit Berührungstafel ferner ein Farbfiltersubstrat aufweist, das gegenüber dem Arraysubstrat angeordnet ist, sowie eine Flüssigkristallschicht, die zwischen dem Arraysubstrat und dem Farbfiltersubstrat angeordnet ist.
- In einem dritten Aspekt wird mit den Ausführungsformen der vorliegenden Offenbarung ein Verfahren zur Herstellung des Arraysubstrats bereitgestellt, das Folgendes umfasst:
- S1. Ausbilden einer ersten Metallschicht auf einer Basis und Ausbilden von Strukturen von Gate-Elektroden und Abtastleitungen auf der ersten Metallschicht durch einen Strukturierungsprozess, wobei sich die Abtastleitungen in einer ersten Richtung erstrecken,
- S2. Ausbilden einer dritten Isolierschicht auf der ersten Metallschicht,
- S3. Ausbilden einer zweiten Metallschicht auf der dritten Isolierschicht und Ausbilden von Strukturen von Source-Elektroden, Drain-Elektroden und Datenleitungen auf der zweiten Metallschicht durch den Strukturierungsprozess, wobei sich die Datenleitungen in einer zweiten Richtung, die die erste Richtung kreuzt, erstrecken,
- S4. Ausbilden einer ersten Isolierschicht auf der zweiten Metallschicht,
- S5. Ausbilden einer berührungsempfindlichen Verdrahtungsschicht auf der ersten Isolierschicht, wobei die berührungsempfindliche Verdrahtungsschicht mehrere berührungsempfindliche Verdrahtungen aufweist, die sich in der zweiten Richtung erstrecken, und
- S6. Ausbilden einer Planarisierungsschicht auf der berührungsempfindlichen Verdrahtungsschicht.
- Bei den Ausführungsformen der vorliegenden Offenbarung wird die Planarisierungsschicht auf der berührungsempfindlichen Verdrahtungsschicht angeordnet, so dass die Flachheit der Filmschichten über den berührungsempfindlichen Verdrahtungen verbessert wird, wodurch der Lichtaustritt nach dem Polierprozess verhindert wird.
- Kurze Beschreibung der Zeichnungen
-
1 ist ein schematischer Querschnitt eines Arraysubstrats, das im Stand der Technik bereitgestellt wird, -
2 ist ein schematischer Querschnitt eines Arraysubstrats, das mit einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung bereitgestellt wird, -
3 ist ein schematischer Querschnitt eines Arraysubstrats, das mit einer weiteren Ausführungsform der vorliegenden Erfindung bereitgestellt wird, -
4A ist ein schematischer Querschnitt eines Arraysubstrats, das mit einer weiteren Ausführungsform der vorliegenden Erfindung bereitgestellt wird, -
4B ist eine schematische Darstellung, die eine Position eines ersten Schlitzes in einem Arraysubstrat zeigt, das mit der weiteren Ausführungsform der vorliegenden Erfindung bereitgestellt wird, -
4C ist eine schematische Darstellung, die eine Position eines ersten Schlitzes eines Arraysubstrats zeigt, das mit der weiteren Ausführungsform der vorliegenden Erfindung bereitgestellt wird, -
4D ist eine schematische Darstellung einer Pixelelektrode in einem Arraysubstrat, das mit der weiteren Ausführungsform der vorliegenden Erfindung bereitgestellt wird, -
5 ist eine schematische Darstellung einer Berührungsanzeigetafel, die mit einer weiteren Ausführungsform der vorliegenden Erfindung bereitgestellt wird, und -
6 ist ein Flussdiagramm eines Verfahrens zur Herstellung eines Arraysubstrats, das mit einer weiteren Ausführungsform der vorliegenden Erfindung bereitgestellt wird. - Ausführliche Beschreibung der Ausführungsformen
- Die vorliegende Offenbarung wird nachfolgend in Kombination mit den beigefügten Zeichnungen und Ausführungsformen ausführlicher beschrieben. Es ist zu verstehen, dass die hier beschriebenen besonderen Ausführungsformen lediglich dazu dienen, die vorliegende Offenbarung zu veranschaulichen und nicht diese zu beschränken. Es sei auch angemerkt, dass zur Vereinfachung der Beschreibung die Zeichnungen lediglich einige Teile und nicht alle mit der vorliegenden Offenbarung zusammenhängenden Strukturen veranschaulichen.
-
2 ist ein schematischer Querschnitt eines Arraysubstrats, das mit einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung bereitgestellt wird. Wie in2 gezeigt, weist das durch die vorliegende Offenbarung bereitgestellte Arraysubstrat Folgendes auf:
eine Basis201 , mehrere Dünnschichttransistoren22 , die in Form einer Matrix angeordnet sind, wobei jeder eine Gate-Elektrode202 , eine Source-Elektrode203 und eine Drain-Elektrode204 aufweist, eine erste Isolierschicht205 , die auf dem Dünnschichttransistor22 liegt, eine berührungsempfindliche Verdrahtungsschicht, die auf der ersten Isolierschicht205 liegt und mehrere berührungsempfindliche Verdrahtungen206 aufweist, und eine Planarisierungsschicht207 , die die berührungsempfindliche Verdrahtungsschicht bedeckt. - Bei der technischen Lösung der vorliegenden Ausführungsform sind die berührungsempfindlichen Verdrahtungen
206 unter der Planarisierungsschicht207 ausgebildet, wodurch der Lichtaustritt an beiden Seiten der berührungsempfindlichen Verdrahtung nach dem Polierprozess aufgrund der unebenen Oberfläche einer auf den berührungsempfindlichen Verdrahtungen206 angeordneten Filmschicht verhindert wird. - Bei der obigen Ausführungsform wird die Hierarchiebeziehung weiterer Strukturen nicht beschränkt. Eine übliche Implementierung wird nachfolgend bereitgestellt, wie in
2 gezeigt, wobei das Arraysubstrat ferner Folgendes aufweist: eine gemeinsame Elektrodenschicht, die auf der Planarisierungsschicht liegt und mehrere gemeinsame Elektroden208 aufweist, wobei jede mit einer oder mit mehreren berührungsempfindlichen Verdrahtungen206 verbunden ist und auch als Berührungserfassungselektrode betrieben werden kann, eine zweite Isolierschicht209 , die auf der gemeinsamen Elektrodenschicht liegt, und eine Pixelelektrodenschicht, die auf der zweiten Isolierschicht209 liegt und mehrere Pixelelektroden210 aufweist. - Die gemeinsame Elektrode
208 , die als Berührungserfassungselektrode betrieben werden kann, kann auf verschiedene Arten und Weisen mit der berührungsempfindlichen Verdrahtung206 verbunden sein. Bei einer Implementierung weist die Planarisierungsschicht207 ein erstes Kontaktloch211 auf, durch das die gemeinsame Elektrode208 direkt mit der berührungsempfindlichen Verdrahtung206 verbunden ist, wie in2 gezeigt. - Das Arraysubstrat weist ferner Folgendes auf: mehrere Abtastleitungen, die sich in einer ersten Richtung erstrecken und auf der gleichen Schicht liegen wird die Gate-Elektrode
202 des Dünnschichttransistors, und mehrere Datenleitungen, die sich in einer zweiten Richtung erstrecken, die die erste Richtung kreuzt, und auf der gleichen Schicht liegen wie die Source-Elektrode203 und die Drain-Elektrode204 des Dünnschichttransistors, wobei die Erstreckungsrichtung der berührungsempfindlichen Verdrahtungen206 derjenigen der Datenleitungen entspricht. - Das Arraysubstrat der vorliegenden Ausführungsform kann mit dem nachfolgenden Verfahren hergestellt werden, das die folgenden Schritte umfasst:
- A. Ausbilden eines Musters aus einer polykristallinen Siliziumschicht (Poly-Si-Schicht)
212 auf der Basis201 unter Anwendung eines Strukturierungsprozesses, wobei die polykristalline Siliziumschicht212 eine aktive Schicht ist und aus amorphem Silizium oder aus polykristallinem Niedertemperatur-Silizium besteht, - B. Ausbilden einer Gateisolierschicht
213 auf der Basis201 , die mit dem ausgebildeten Muster versehen ist, - C. Ausbilden einer ersten Metallschicht auf der Gateisolierschicht
213 und Ausbilden der Gate-Elektrode202 des Dünnschichttransistors22 und der Abtastleitungen durch Ätzen der ersten Metallschicht unter Anwendung eines Strukturierungsprozesses, - D. Ausbilden einer aus Siliziumnitrid, Siliziumoxid oder dergleichen bestehenden zwischengelegten Isolierschicht
214 auf der Gate-Elektrode202 , - E. Ausbilden einer zweiten Metallschicht auf der zwischengelegten Isolierschicht
214 und Ausbilden der Source-Elektrode203 und der Drain-Elektrode204 des Dünnschichttransistors und der Datenleitungen durch Ätzen der zweiten Metallschicht unter Anwendung eines Strukturierungsprozesses, - F. Ausbilden der ersten Isolierschicht
205 , die aus Siliziumoxid oder aus Siliziumnitrid bestehen kann, auf der Source-Elektrode203 , der Drain-Elektrode204 und den Datenleitungen, - G. Ausbilden der berührungsempfindlichen Verdrahtungsschicht auf der ersten Isolierschicht
205 und Ätzen der berührungsempfindlichen Verdrahtungsschicht zum Ausbilden der mehreren berührungsempfindlichen Verdrahtungen206 durch einen Strukturierungsprozess, - H. Ausbilden der Planarisierungsschicht
207 auf den berührungsempfindlichen Verdrahtungen206 , d.h. Erstarrenlassen eines flüssigen organischen Films über den berührungsempfindlichen Verdrahtungen206 , um eine flache Schicht auf den berührungsempfindlichen Verdrahtungen206 auszubilden. Die Dicke der ausgebildeten Planarisierungsschicht207 beträgt im Allgemeinen zwischen 0,5 µm und 6 µm und vorzugsweise 2,2 µm. Die Planarisierungsschicht207 ist auch elektrisch isolierend, entspricht jedoch nicht der Isolierschicht aus dem Stand der Technik. Die Planarisierungsschicht207 und die Isolierschicht unterscheiden sich insbesondere im Wesentlichen hinsichtlich des Materials. Die Planarisierungsschicht207 besteht zum Beispiel aus einem organischen Film, während die Isolierschicht aus Siliziumnitrid oder Siliziumoxid besteht. Darüber hinaus unterscheidet sich der Prozess zur Herstellung der Planarisierungsschicht207 wesentlich von der Herstellung der Isolierschicht, da die Planarisierungsschicht207 im Allgemeinen durch das Erstarren des flüssigen organischen Films auf der Zielfilmschicht, die zu bedecken ist, gebildet wird, wobei dann das gewünschte Muster durch einen Fotoätzprozess in der Planarisierungsschicht207 ausgebildet wird, während die Isolierschicht üblicherweise durch chemische Abscheidung aus der Gasphase (CVD) abgeschieden wird und das endgültige Muster durch eine Kombination aus dem Fotoätzprozess und einem Ätzprozess in der Isolierschicht ausgebildet wird, - I. Ausbilden des ersten Kontaktlochs
211 durch Ätzen in der Planarisierungsschicht207 an einer Stelle, die der berührungsempfindlichen Verdrahtung206 entspricht, - J. weiteres Ausbilden der gemeinsamen Elektrodenschicht auf der Planarisierungsschicht
207 beispielsweise mit Indium-Zinn-Oxid (ITO) und Ätzen der gemeinsamen Elektrodenschicht zum Ausbilden eines Musters der mehreren gemeinsamen Elektroden durch den Strukturierungsprozess. Die gemeinsame Elektrodenschicht, die auf der Planarisierungsschicht207 liegt, weist mehrere gemeinsame Elektroden208 auf, wobei jede mit einer oder mit mehreren der berührungsempfindlichen Verdrahtungen206 verbunden ist und als Berührungserfassungselektrode betrieben werden kann. Jede der gemeinsamen Elektroden208 kann insbesondere über das erste Kontaktloch211 direkt mit der berührungsempfindlichen Verdrahtung206 verbunden sein, - K. Ausbilden der aus Siliziumoxid oder Siliziumnitrid bestehenden zweiten Isolierschicht
209 auf der gemeinsamen Elektrodenschicht, - L. Ätzen der zweiten Isolierschicht
209 , der Planarisierungsschicht207 und der ersten Isolierschicht205 an einer Stelle, die der Drain-Elektrode204 entspricht, um ein Kontaktloch zu bilden, und - M. Ausbilden der Pixelelektrodenschicht auf der zweiten Isolierschicht
209 und Ausbilden des Musters der Pixelelektrode210 durch Ätzen der Pixelelektrodenschicht unter Anwendung eines Strukturierungsprozesses, wobei die Pixelelektrode210 über das Kontaktloch mit der Drain-Elektrode204 verbunden ist. Hier ist die Pixelelektrodenschicht eine transparente Elektrodenschicht und kann aus dem gleichen Material bestehen wie die gemeinsame Elektrodenschicht, z.B. aus ITO. Die Pixelelektrode210 weist mindestens zwei bandförmige Elektroden auf, deren Erstreckungsrichtung derjenigen der berührungsempfindlichen Verdrahtungen206 entspricht. - Bei der vorliegenden Ausführungsform bedeckt die Planarisierungsschicht die berührungsempfindliche Verdrahtungsschicht, was die Flachheit über den berührungsempfindlichen Verdrahtungen verbessert, wodurch der Lichtaustritt an beiden Seiten der berührungsempfindlichen Verdrahtung nach dem Polieren verhindert.
-
3 ist ein schematischer Querschnitt eines Arraysubstrats, das mit einer weiteren Ausführungsform der vorliegenden Erfindung bereitgestellt wird. Der Unterschied zwischen der vorliegenden Ausführungsform und der vorhergehenden Ausführungsform, die in Kombination mit2 beschrieben wurde, besteht darin, dass bei der vorliegenden Ausführungsform die Planarisierungsschicht207 ein erstes Kontaktloch215 aufweist, über das die gemeinsame Elektrode208 mit der berührungsempfindlichen Verdrahtung206 verbunden ist. Die zweite Isolierschicht209 weist insbesondere ein zweites Kontaktloch216 auf, das auf das erste Kontaktloch215 ausgerichtet ist, sowie ein drittes Kontaktloch217 , so dass die gemeinsame Elektrode208 über das erste Kontaktloch215 , das zweite Kontaktloch216 und das dritte Kontaktloch217 mit der berührungsempfindlichen Verdrahtung206 verbunden ist. - Bei dem tatsächlichen Herstellungsprozess kann der oben beschriebene Schritt I ausgelassen werden, wobei in diesem Fall das dritte Kontaktloch
217 , das erste Kontaktloch215 und das zweite Kontaktloch216 in Schritt L gleichzeitig durch Ätzen ausgebildet werden. - Wenn die Pixelelektrode ist Schritt M ausgebildet wird, wird dabei eine Brückenstruktur durch Ätzen gebildet, um die gemeinsame Elektrode
208 über das erste Kontaktloch215 , das zweite Kontaktloch216 und das dritte Kontaktloch217 mit der berührungsempfindlichen Verdrahtung206 zu verbinden. - Bei der vorliegenden Offenbarung bedeckt die Planarisierungsschicht die berührungsempfindliche Verdrahtungsschicht, was die Flachheit über den berührungsempfindlichen Verdrahtungen verbessert, wodurch der Lichtaustritt nach dem Polieren verhindert wird. Darüber hinaus kann bei dieser Ausführungsform ein Schritt zum Ausbilden des Kontaktlochs ausgelassen werden.
-
4A ist ein schematischer Querschnitt eines Arraysubstrats, das mit einer weiteren Ausführungsform der vorliegenden Erfindung bereitgestellt wird. Die vorliegende Ausführungsform basiert auf der vorhergehenden Ausführungsform, die in Kombination mit2 beschrieben wurde, unterscheidet sich jedoch von dieser dadurch, dass die Planarisierungsschicht207 erste Schlitze (d.h. Öffnungen)218 aufweist, die sich jeweils in der ersten Richtung von einer Drain-Elektrode204 eines Dünnschichttransistors zu einer Drain-Elektrode204 des benachbarten Dünnschichttransistors erstrecken, wie in4B gezeigt ist. - Der erste Schlitz
218 dringt durch die Planarisierungsschicht207 und die erste Isolierschicht205 . Die gemeinsame Elektrodenschicht erstreckt sich in der zweiten Richtung in den ersten Schlitz218 , um sich mit der berührungsempfindlichen Verdrahtung206 zu verbinden. Innerhalb des ersten Schlitzes218 ist nur die berührungsempfindliche Verdrahtung206 mit der gemeinsamen Elektrodenschicht bedeckt. - Wie in
4B gezeigt, bilden bei einem konkreten Herstellungsprozess zwei benachbarte Dünnschichttransistoren22 eine Dünnschichttransistorgruppe. Es können zwei Drain-Elektroden der Dünnschichttransistorgruppe in der zweiten Richtung aufeinander ausgerichtet sein, wobei in diesem Fall die Planarisierungsschicht207 und die erste Isolierschicht205 an Stellen geätzt werden, die über den beiden Drain-Elektroden204 der Dünnschichttransistorgruppe liegen und diesen entsprechen, wodurch der erste Schlitz218 gebildet wird, wie in4B durch eine gestricheltes Gehäuse gezeigt ist. Wie in4C gezeigt, sind alternativ die beiden Drain-Elektroden der Dünnschichttransistorgruppe nicht in der zweiten Richtung aufeinander ausgerichtet, wobei in diesem Fall die Planarisierungsschicht207 und die erste Isolierschicht205 an Stellen geätzt werden, die über den beiden Drain-Elektroden204 der Dünnschichttransistorgruppe liegen und diesen entsprechen und der erste Schlitz218 gebildet wird, wie in4C durch ein gestricheltes Gehäuse gezeigt ist. Der erste Schlitz218 legt gleichzeitig die beiden Drain-Elektroden204 und die berührungsempfindliche Verdrahtung206 frei. Die gemeinsame Elektrodenschicht wird auf der Planarisierungsschicht207 ausgebildet und erstreckt sich in der zweiten Richtung in den ersten Schlitz218 , um sich elektrisch mit der freigelegten berührungsempfindlichen Verdrahtung206 zu verbinden. Innerhalb des ersten Schlitzes218 wird die gemeinsame Elektrode208 lediglich durch Ätzen unter Anwendung des Strukturierungsprozesses auf der freigelegten berührungsempfindlichen Verdrahtung206 ausgebildet. Die zweite Isolierschicht209 wird ferner auf der gemeinsamen Elektrode208 ausgebildet und bedeckt den Boden des ersten Schlitzes218 . Vierte Kontaktlöcher219 , die durch die zweite Isolierschicht209 dringen, werden durch Ätzen der zweiten Isolierschicht209 ausgebildet und liegen direkt über den Drain-Elektroden204 innerhalb des Bereichs des erstes Schlitzes218 . Die Pixelelektrodenschicht wird auf der zweiten Isolierschicht209 ausgebildet und erstreckt sich in der ersten Richtung in das vierte Kontaktloch219 , um mit der Drain-Elektrode204 verbunden zu werden, wodurch die elektrische Verbindung zwischen der Pixelelektrode210 und der Drain-Elektrode204 erhalten wird. - Bei der vorliegenden Ausführungsform bedeckt die Planarisierungsschicht die berührungsempfindliche Verdrahtungsschicht, was die Flachheit über der berührungsempfindliche Verdrahtung verbessert, wodurch der Lichtaustritt an beiden Seiten der berührungsempfindlichen Verdrahtung nach dem Polieren verhindert wird.
- Die mit den verschiedenen Ausführungsformen der vorliegenden Offenbarung bereitgestellten Arraysubstrate eignen sich vorzugsweise für Flüssigkristallanzeigetafeln mit hoher Auflösung. Wie in
4D gezeigt, weist jede Pixelelektrode210 mindestens zwei bandförmige Elektroden220 auf, die sich in der zweiten Richtung erstrecken. - Es sei angemerkt, dass die obigen beigefügten Zeichnungen lediglich beispielhaft sind und die Form und Erstreckungsrichtung der Abtastleitungen und Datenleitungen bei der vorliegenden Erfindung nicht speziell beschränkt sind. Die Abtastleitungen und die Datenleitungen können z.B. die Form einer geraden Linie, einer polygonalen Linie oder dergleichen haben. Die Anordnung des Dünnschichttransistors
22 und dessen Drain-Elektrode204 wird nicht spezifisch begrenzt. Die Drain-Elektroden204 der Dünnschichttransistoren22 können beispielsweise aufeinander ausgerichtet sein oder nicht, solange sich der erste Schlitz218 von der Drain-Elektrode204 des Dünnschichttransistors22 zur Drain-Elektrode204 des benachbarten Dünnschichttransistors22 erstreckt. - Wie in
5 gezeigt, wird bei einer Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung ferner eine Anzeige mit Berührungstafel bereitgestellt. Zusätzlich zu dem in den obigen Ausführungsformen beschriebenen Arraysubstrat31 weist die Anzeige mit Berührungstafel ferner ein Farbfiltersubstrat32 auf, das gegenüber dem Arraysubstrat31 liegt, und eine Flüssigkristallschicht33 ist zwischen dem Arraysubstrat31 und dem Farbfiltersubstrat32 angeordnet. -
6 ist ein Flussdiagramm eines Verfahrens zur Herstellung eines Arraysubstrats, das von einer weiteren Ausführungsform der vorliegenden Erfindung bereitgestellt wird, wobei das Verfahren die nachfolgenden Schritte umfasst: - S1. Ausbilden einer ersten Metallschicht auf einer Basis und Ausbilden von Strukturen der Gate-Elektroden und von Abtastleitungen in der ersten Metallschicht durch den Strukturierungsprozess, wobei sich die Abtastleitungen in einer ersten Richtung erstrecken,
- S2. Ausbilden einer dritten Isolierschicht, d.h. einer Gate-Isolierschicht auf der ersten Metallschicht,
- S3. Ausbilden einer zweiten Metallschicht auf der dritten Isolierschicht und Ausbilden von Strukturen von Source-Elektroden, von Drain-Elektroden und von Datenleitungen in der zweiten Metallschicht durch den Strukturierungsprozess, wobei sich die Datenleitungen in einer zweiten Richtung erstrecken, die die erste Richtung kreuzt,
- S4. Ausbilden einer ersten Isolierschicht auf der zweiten Metallschicht,
- S5. Ausbilden einer berührungsempfindlichen Verdrahtungsschicht auf der ersten Isolierschicht, wobei die berührungsempfindliche Verdrahtungsschicht mehrere berührungsempfindliche Verdrahtungen aufweist, die sich in der zweiten Richtung erstrecken, und
- S6. Ausbilden einer Planarisierungsschicht auf der berührungsempfindlichen Verdrahtungsschicht.
- Das mit diesem Verfahren ausgebildete Arraysubstrat ist in den Zeichnungen der vorhergehenden Ausführungsformen gezeigt.
- Bei einer Implementierung umfasst das Verfahren nach dem Ausbilden der Planarisierungsschicht auf der berührungsempfindlichen Verdrahtungsschicht Folgendes:
- S7. Ausbilden eines ersten Schlitzes in der Planarisierungsschicht, wobei sich der erste Schlitz in der ersten Richtung von der Drain-Elektrode zu der benachbarten Drain-Elektrode erstreckt und durch die Planarisierungsschicht und die erste Isolierschicht dringt,
- S8. Ausbilden einer gemeinsamen Elektrodenschicht auf der Planarisierungsschicht und Ausbilden von mehreren gemeinsamen Elektroden durch den Strukturierungsprozess, wobei sich die gemeinsame Elektrodenschicht in der zweiten Richtung in den ersten Schlitz erstreckt, um mit der berührungsempfindlichen Verdrahtung verbunden zu werden, und die gemeinsame Elektrodenschicht innerhalb des ersten Schlitzes nur die berührungsempfindliche Verdrahtung bedeckt,
- S9. Ausbilden einer zweiten Isolierschicht auf der gemeinsamen Elektrodenschicht, wobei die zweite Isolierschicht auch den Boden des ersten Schlitzes bedeckt,
- S10. Ausbilden eines vierten Kontaktlochs in der zweiten Isolierschicht, wobei das vierte Kontaktloch innerhalb des Bereichs des ersten Schlitzes direkt über der Drain-Elektrode liegt und durch die zweite Isolierschicht dringt, und
- S11. Ausbilden einer Pixelelektrodenschicht auf der zweiten Isolierschicht, wobei sich die Pixelelektrodenschicht in der ersten Richtung in das vierte Kontaktloch erstreckt, um mit der Drain-Elektrode verbunden zu werden.
- Bei der vorliegenden Ausführungsform bedeckt die Planarisierungsschicht die berührungsempfindliche Verdrahtungsschicht, was die Flachheit über der berührungsempfindliche Verdrahtung verbessert, wodurch der Lichtaustritt an beiden Seiten der berührungsempfindlichen Verdrahtung nach dem Polieren verhindert wird.
- Es sei angemerkt, dass die obige Beschreibung lediglich eine bevorzugte Ausführungsform der Offenbarung und der angewandten technischen Prinzipien ist. Der Fachmann wird erkennen, dass die vorliegende Offenbarung nicht auf die hier beschriebenen besonderen Ausführungsformen begrenzt ist. Die verschiedenen offensichtlichen Änderungen, Anpassungen und Auswechslungen können von dem üblichen Fachmann vorgenommen werden, ohne von dem Schutzumfang der vorliegenden Erfindung abzuweichen. Die vorliegende Offenbarung wurde somit mit den obigen Ausführungsformen ausführlich beschrieben, doch die vorliegende Offenbarung ist nicht auf die obigen Ausführungsformen beschränkt und umfasst auch noch weitere gleichwertige Ausführungsformen, ohne von dem Konzept der Offenbarung abzuweichen. Der Umfang der vorliegenden Offenbarung wird durch den Umfang der beigefügten Ansprüche bestimmt.
Claims (19)
- Arraysubstrat, das Folgendes aufweist: eine Basis (
201 ), mehrere Dünnschichttransistoren (22 ), die in Form einer Matrix angeordnet sind und von denen jeder eine Gate-Elektrode (202 ), eine Source-Elektrode (203 ) und eine Drain-Elektrode (204 ) aufweist, eine erste Isolierschicht (205 ), die auf dem Dünnschichttransistor (22 ) liegt, eine berührungsempfindliche Verdrahtungsschicht, die auf der ersten Isolierschicht (205 ) liegt und mehrere berührungsempfindlichen Verdrahtungen (206 ) aufweist, und eine Planarisierungsschicht (207 ), die die berührungsempfindliche Verdrahtungsschicht bedeckt. - Arraysubstrat nach Anspruch 1, das ferner Folgendes aufweist: eine gemeinsame Elektrodenschicht, die auf der Planarisierungsschicht liegt und mehrere gemeinsamen Elektrode (
208 ) aufweist, von denen jede mit einer oder mehreren berührungsempfindliche Verdrahtungen (206 ) verbunden ist und als Berührungserfassungselektrode betrieben werden kann, eine zweite Isolierschicht (209 ), die auf der gemeinsamen Elektrodenschicht liegt, und eine Pixelelektrodenschicht, die auf der zweiten Isolierschicht (209 ) liegt und mehrere Pixelelektroden (210 ) aufweist. - Arraysubstrat nach Anspruch 2, wobei die Planarisierungsschicht (
207 ) ein erstes Kontaktloch (211 ) aufweist, durch das die gemeinsame Elektrode (208 ) mit der berührungsempfindlichen Verdrahtung (206 ) verbunden ist. - Arraysubstrat nach Anspruch 2, wobei die Planarisierungsschicht (
207 ) ein erstes Kontaktloch (211 ) aufweist, durch das die gemeinsame Elektrode (208 ) direkt mit der berührungsempfindlichen Verdrahtung (206 ) verbunden ist. - Arraysubstrat nach Anspruch 3, wobei die zweite Isolierschicht (
209 ) ein auf das erste Kontaktloch (215 ) ausgerichtetes zweites Kontaktloch (216 ) und ein drittes Kontaktloch (217 ) aufweist und die gemeinsame Elektrode (208 ) über das erste Kontaktloch (215 ), das zweite Kontaktloch (216 ) und das dritte Kontaktloch (217 ) mit der berührungsempfindlichen Verdrahtung (206 ) verbunden ist. - Arraysubstrat nach Anspruch 2, das ferner Folgenden aufweist: mehrere Abtastleitungen, die sich in einer ersten Richtung erstrecken und auf der gleichen Schicht liegen wie die Gate-Elektrode (
202 ) des Dünnschichttransistors (22 ), und mehrere Datenleitungen, die auf der gleichen Schicht liegen wie die Source-Elektrode (203 ) und die Drain-Elektrode (204 ) des Dünnschichttransistors (22 ) und sich in einer zweiten Richtung erstrecken, die die erste Richtung kreuzt, wobei eine Erstreckungsrichtung der berührungsempfindlichen Verdrahtungen (206 ) derjenigen der Datenleitungen entspricht. - Arraysubstrat nach Anspruch 6, wobei die Planarisierungsschicht (
207 ) einen ersten Schlitz (218 ) aufweist, der sich in der ersten Richtung von der Drain-Elektrode (204 ) eines Dünnschichttransistors (22 ) zu einer Drain-Elektrode (204 ) eines benachbarten Dünnschichttransistors (22 ) erstreckt. - Arraysubstrat nach Anspruch 7, wobei der erste Schlitz (
218 ) durch die Planarisierungsschicht (207 ) und die erste Isolierschicht (205 ) dringt, sich die gemeinsame Elektrodenschicht in der zweiten Richtung in den ersten Schlitz (218 ) erstreckt, um sich mit der berührungsempfindlichen Verdrahtung (206 ) zu verbinden, in dem ersten Schlitz (218 ) nur die berührungsempfindliche Verdrahtung (206 ) von der gemeinsamen Elektrodenschicht bedeckt ist. - Arraysubstrat nach Anspruch 8, wobei die zweite Isolierschicht (
209 ) einen Boden des ersten Schlitzes (218 ) bedeckt, die zweite Isolierschicht (209 ) ferner ein viertes Kontaktloch (219 ) aufweist, das durch die zweite Isolierschicht (209 ) dringt und innerhalb eines Bereichs des ersten Schlitzes (218 ) direkt über der Drain-Elektrode (204 ) liegt, sich die Pixelelektrodenschicht in das vierte Kontaktloch (219 ) erstreckt, um sich in der ersten Richtung mit der Drain-Elektrode (204 ) zu verbinden. - Arraysubstrat nach Anspruch 9, wobei jede der Pixelelektroden (
210 ) mindestens zwei bandförmige Elektroden (220 ) aufweist, die sich in der zweiten Richtung erstrecken. - Arraysubstrat nach Anspruch 7, wobei zwei benachbarte Dünnschichttransistoren (
22 ) eine Dünnschichttransistorgruppe bilden und zwei Drain-Elektroden (204 ) in der Dünnschichttransistorgruppe dem gleichen ersten Schlitz (218 ) entsprechen. - Arraysubtrat nach Anspruch 1, wobei die Planarisierungsschicht (
207 ) durch einen organischen Film gebildet ist. - Arraysubstrat nach Anspruch 1, wobei eine Dicke der Planarisierungsschicht (
207 ) zwischen 0,5 µm und 6 µm beträgt. - Arraysubstrat nach Anspruch 1, wobei die erste Isolierschicht (
205 ) aus Siliziumoxid oder Siliziumnitrid besteht. - Arraysubstrat nach Anspruch 1, wobei die zweite Isolierschicht (
209 ) aus Siliziumoxid oder Siliziumnitrid besteht. - Arraysubstrat nach Anspruch 1, wobei der Dünnschichttransistor (
22 ) ferner eine aktive Schicht aus amorphem Silizium oder aus polykristallinem Niedertemperatur-Silizium aufweist. - Anzeige mit Berührungstafel mit dem Arraysubstrat nach Anspruch 1, wobei die Anzeige mit Berührungstafel ferner ein Farbfiltersubstrat (
32 ), das gegenüber dem Arraysubstrat (31 ) angeordnet ist, und eine Flüssigkristallschicht (33 ) aufweist, die zwischen dem Arraysubtrat (31 ) und dem Farbfiltersubstrat (32 ) angeordnet ist. - Verfahren zur Herstellung des Arraysubstrats, das Folgendes umfasst: Ausbilden einer ersten Metallschicht auf einer Basis (
201 ) und Ausbilden von Strukturen von Gate-Elektroden (202 ) und Abtastleitungen auf der ersten Metallschicht durch einen Strukturierungsprozess, wobei sich die Abtastleitungen in einer ersten Richtung erstrecken, Ausbilden einer dritten Isolierschicht auf der ersten Metallschicht, Ausbilden einer zweiten Metallschicht auf der dritten Isolierschicht und Ausbilden von Strukturen von Source-Elektroden (203 ), Drain-Elektroden (204 ) und Datenleitungen auf der zweiten Metallschicht durch den Strukturierungsprozess, wobei sich die Datenleitungen in einer zweiten Richtung, die die erste Richtung kreuzt, erstrecken, Ausbilden einer ersten Isolierschicht (205 ) auf der zweiten Metallschicht, Ausbilden einer berührungsempfindlichen Verdrahtungsschicht auf der ersten Isolierschicht (205 ), wobei die berührungsempfindliche Verdrahtungsschicht mehrere berührungsempfindliche Verdrahtungen (206 ) aufweist, die sich in der zweiten Richtung erstrecken, und Ausbilden einer Planarisierungsschicht (207 ) auf der berührungsempfindlichen Verdrahtungsschicht. - Verfahren zur Herstellung des Arraysubstrats nach Anspruch 18, das nach dem Ausbilden der Planarisierungsschicht (
207 ) auf der berührungsempfindlichen Verdrahtungsschicht ferner Folgendes aufweist: Ausbilden eines ersten Schlitzes (218 ) auf der Planarisierungsschicht (207 ), wobei sich der erste Schlitz (218 ) in der ersten Richtung von einer Drain-Elektrode (204 ) zu einer benachbarten Drain-Elektrode (204 ) erstreckt und durch die Planarisierungsschicht (207 ) und die erste Isolierschicht (205 ) dringt, Ausbilden einer gemeinsamen Elektrodenschicht auf der Planarisierungsschicht (207 ) und Ausbilden von mehreren gemeinsamen Elektroden (208 ) in der gemeinsamen Elektrodenschicht durch den Strukturierungsprozess, wobei sich die gemeinsame Elektrodenschicht in der zweiten Richtung in den ersten Schlitz (218 ) erstreckt, um sich mit der berührungsempfindlichen Verdrahtung (206 ) zu verbinden, wobei innerhalb des ersten Schlitzes (218 ) lediglich die berührungsempfindliche Verdrahtung (206 ) mit der gemeinsamen Elektrodenschicht bedeckt ist, Ausbilden einer zweiten Isolierschicht (209 ) auf der gemeinsamen Elektrodenschicht, wobei die zweite Isolierschicht (209 ) einen Boden des ersten Schlitzes (218 ) bedeckt, Ausbilden eines viertes Kontaktlochs (219 ) in der zweiten Isolierschicht (209 ), wobei das vierte Kontaktloch (219 ) innerhalb eines Bereichs des ersten Schlitzes (218 ) direkt über der Drain-Elektrode (204 ) liegt und durch die zweite Isolierschicht (209 ) dringt, und Ausbilden einer Pixelelektrodenschicht auf der zweiten Isolierschicht (209 ), wobei sich die Pixelelektrodenschicht in der ersten Richtung in das vierte Kontaktloch (219 ) erstreckt, um sich mit der Drain-Elektrode (204 ) zu verbinden.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201510232368.5 | 2015-05-08 | ||
CN201510232368.5A CN104777692B (zh) | 2015-05-08 | 2015-05-08 | 阵列基板及制作方法、触控显示面板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102015113639A1 true DE102015113639A1 (de) | 2016-11-10 |
Family
ID=53619245
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102015113639.2A Pending DE102015113639A1 (de) | 2015-05-08 | 2015-08-18 | Arraysubstrat und Verfahren zu dessen Herstellung sowie Berühungsanzeigetafel |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9811191B2 (de) |
CN (1) | CN104777692B (de) |
DE (1) | DE102015113639A1 (de) |
Families Citing this family (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9753590B2 (en) * | 2014-06-13 | 2017-09-05 | Lg Display Co., Ltd. | Display device integrated with touch screen panel and method of fabricating the same |
KR102363840B1 (ko) * | 2015-07-28 | 2022-02-16 | 엘지디스플레이 주식회사 | 터치 표시 장치의 박막트랜지스터를 포함하는 기판 |
CN204964955U (zh) * | 2015-07-28 | 2016-01-13 | 合肥鑫晟光电科技有限公司 | 电连接结构、阵列基板和显示装置 |
CN105183259B (zh) | 2015-09-30 | 2018-11-02 | 上海天马微电子有限公司 | 一种触控面板以及触控电子设备 |
KR102392683B1 (ko) * | 2015-11-30 | 2022-05-02 | 엘지디스플레이 주식회사 | 터치스크린 내장형 표시장치 |
CN105552106B (zh) * | 2016-01-29 | 2018-07-06 | 上海天马微电子有限公司 | Oled面板以及触控检测方法 |
KR102461634B1 (ko) * | 2016-05-26 | 2022-10-31 | 티씨엘 차이나 스타 옵토일렉트로닉스 테크놀로지 컴퍼니 리미티드 | 액정 표시 장치 및 그 제조방법 |
KR102615232B1 (ko) * | 2016-09-30 | 2023-12-15 | 엘지디스플레이 주식회사 | 인셀 터치형 액정표시장치 및 그 제조방법 |
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