DE102010016192A1 - Jittermessvorrichtung - Google Patents

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Naosuke Atsugi-shi Tsuchiya
Ken Atsugi-shi MOCHIZUKI
Seiya Atsugi-shi Suzuki
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Abstract

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum genaueren Prüfen eines Messergebnisses in einer Jittermessvorrichtung, die eine Jitterkennlinie eines Digitalsignals misst, das von einem Sender ausgegeben wird, der für die von Synchrone Digitale Hierarchie dargestellte Digitale. Die Jittermessvorrichtung umfassend einen Jitterdemodulator, der eine Jitterkomponente eines von außen eingegebenen digitalen Signals demoduliert, einen Jitterbetragdetektor, der den Amplitudenwert eines von dem Jitterdemodulator ausgegebenen Demodulationssignal detektiert, eine Anzeigeeinheit zum Anzeigen des von dem Jitterbetragdetektor detektierten Wertes, dadurch gekennzeichnet, dass: die Jittermessvorrichtung ferner einen Interpolator, der eine Periode des von dem Jitterdemodulator ausgegebenen Demodulationssignals misst und das Demodulationssignal durch Verarbeitung mit einer der gemessenen Periode entsprechenden Rate interpoliert, einen Anzeigesteuerungsabschnitt, der den von dem Jitterbetragdetektor detektierten Wert und eine von dem Interpolator interpolierte Wellenform des Demodulationssignals auf der Anzeigeeinheit anzeigt, und ein Gehäuse aufweist und dass: der Jitterdemodulator, der Jitterbetragdetektor, der Interpolator und der Anzeigesteuerungsabschnitt in dem Gehäuse aufgenommen sind und die Anzeigeeinheit an einer Außenfläche des Gehäuses montiert ist.

Description

  • ALLGEMEINER STAND DER TECHNIK
  • 1. Gebiet der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum genaueren Prüfen eines Messergebnisses in einer Jittermessvorrichtung, die eine Jitterkennlinie eines Digitalsignals misst, das von einem Sender ausgegeben wird, der für die von SDH (Synchrone Digitale Hierarchie) dargestellte digitale Hochgeschwindigkeitskommunikation verwendet wird, und das Messergebnis anzeigt.
  • 2. Beschreibung des Standes der Technik
  • In einem System, das ein binäres digitales Signal sendet, ist die durch einen Phasenwechsel in dem digitalen Signal verursachte, d. h. durch Jitter verursachte, Verschlechterung der Signalgüte ein Problem.
  • Aus diesem Grund wird ein Jitter einer Digitalsignalausgabe von einem Messobjekt, wie z. B. einem Sender, der ein digitales Signal handhabt, gemessen, um die Güte des von dem Messobjekt ausgegebenen Digitalsignals, den Jitterwiderstand, eine Übertragungskennlinie und dergleichen zu messen.
  • 6 zeigt die Konfiguration einer bekannten Jittermessvorrichtung 10, die für die oben beschriebene Aufgabe verwendet wird.
  • Die Jittermessvorrichtung 10 weist Folgendes auf: einen Jitterdemodulator 11, der ein digitales Signal Dr eines Messobjekts empfängt und eine Jitterkomponente (phasenmodulierte Komponente) demoduliert, einen Jitterbetragdetektor 12, der die Amplitude, wie z. B. einen Effektivwert (RMS) oder einen Spitze-Spitze-Wert, eines von dem Jitterdemodulator 11 ausgegebenen Demodulationssignals (wobei angenommen wird, dass es ein in den digitalen Wert umgesetztes Signal ist) als einen Jitterbetrag detektiert, und eine Anzeigeeinheit 13, die den detektierten Jitterbetrag als Zahlenwert anzeigt.
  • Der Jitterdemodulator 11 weist außerdem einen Breitbandjitterdemodulator, eine Filterschaltung eines auf ITU-T-Empfehlung 0.172 basierenden Bands und einen A/D-Umsetzer auf, der mit einer vorbestimmten Abtastrate zum Ausgeben eines Demodulationssignals als einen Digitalwert arbeitet.
  • Ein Beispiel für die Jittermessvorrichtung, die den Jitter eines digitalen Eingangssignals wie oben beschrieben misst, wird in JP-A-2001-133492 offenbart.
  • In der oben beschriebenen bekannten Vorrichtung kann aber die Wellenform eines Demodulationssignals nicht beobachtet werden. Dementsprechend ist es im Fall einer Wellenform, die ganz anders ist als die von einer messenden Person erwartete Wellenform, schwierig, die Situation anhand des numerischen Ergebnisses zu erfassen.
  • Um ein derartiges Problem zu lösen, sind in einer bekannten Vorrichtung, wie sie von der gestrichelten Linie in 6 gezeigt wird, Funktionen der Umsetzung der Ausgabe des Jitterdemodulators 11 mit einem D/A-Umsetzer 15 in ein analoges Signal, des Anlegens des umgesetzten analogen Signals an ein Filter 16, um eine bei der D/A-Umsetzungsverarbeitung erzeugte Hochfrequenzkomponente zu entfernen, und seiner Ausgabe nach außen bereitgestellt.
  • In der bekannten Vorrichtung kann die Wellenform eines Demodulationssignals daher durch Anlegen eines nach außen ausgegebenen analogen Demodulationssignals an ein Oszilloskop beobachtet werden.
  • Wenn die Wellenform des nach außen ausgegebenen analogen Demodulationssignals wie oben beschrieben beobachtet wird, kann die Amplitude der angezeigten Wellenform sich aber aufgrund der Leistung des D/A-Umsetzers 15 und des Filters 16 stark von dem Wert unterscheiden, der von dem Jitterbetragdetektor 12 detektiert wird.
  • Insbesondere der Spitze-Spitze-Wert wird stark von den analogen Kennlinien des D/A-Umsetzers 15 und des Filters 16 beeinflusst. Dementsprechend wird, da der Spitze-Spitze-Wert sich in vielen Fällen von dem an der Hauptvorrichtungsseite detektierten Wert unterscheidet, eine Verringerung der Genauigkeit auf einem Bildschirm zur Wellenformbeobachtung problematisch. Aus diesem Grund könnte man nicht sagen, dass die Leistung der bekannten Vorrichtung gut genug war, wenn im Bereich von Forschung und Entwicklung eines Senders und dergleichen genauere Wellenforminformationen erforderlich waren.
  • Außerdem gab es, da das Oszilloskop bereit sein sollte, die Wellenform eines Demodulationssignals zu beobachten, auch das Problem, dass der Anlagenstellplatz groß wurde, oder das Problem, dass die Kosten anstiegen.
  • KURZDARSTELLUNG DER ERFINDUNG
  • Die Erfindung wurde abgeschlossen, um derartige Probleme zu lösen, und es ist eine Aufgabe der Erfindung, eine Jittermessvorrichtung bereitzustellen, die die Wellenform eines Demodulationssignals allein richtig anzeigen kann.
  • Zum Lösen der obigen Aufgabe weist eine Jittermessvorrichtung nach einem ersten Aspekt der Erfindung Folgendes auf: ein Gehäuse, einen Jitterdemodulator (21), der in dem Gehäuse aufgenommen ist und der eine Jitterkomponente eines von außen eingegebenen digitalen Signals demoduliert, einen Jitterbetragdetektor (22), der in dem Gehäuse aufgenommen ist und den Amplitudenwert eines von dem Jitterdemodulator ausgegebenen Demodulationssignal detektiert, einen Interpolator (23), der in dem Gehäuse aufgenommen ist und eine Periode des von dem Jitterdemodulator ausgegebenen Demodulationssignals misst und das Demodulationssignal durch Verarbeitung mit einer der gemessenen Periode entsprechenden Rate interpoliert, eine an einer Außenfläche des Gehäuses bereitgestellte Anzeigeeinheit (25) und einen Anzeigesteuerungsabschnitt (24), der in dem Gehäuse aufgenommen ist und auf der Anzeigeeinheit den von dem Jitterbetragdetektor detektierten Wert und eine von dem Interpolator interpolierte Wellenform des Demodulationssignals anzeigt.
  • Darüber hinaus gibt es nach einem zweiten Aspekt der Erfindung bei der Jittermessvorrichtung nach dem ersten Aspekt der Erfindung vorzugsweise eine Betriebsart, in welcher der Jitterbetragdetektor die Verarbeitung zum Detektieren des Amplitudenwerts des von dem Interpolator interpolierten Demodulationssignals anstatt des von dem Jitterdemodulator ausgegebenen Demodulationssignals durchführt.
  • Nach einem dritten Aspekt der Erfindung weist die Jittermessvorrichtung nach dem ersten oder zweiten Aspekt der Erfindung darüber hinaus vorzugsweise ferner Folgendes auf: eine Triggerschaltung (26), die in dem Gehäuse aufgenommen ist und ein Triggersignal ausgibt, wenn das von dem Interpolator interpolierte Demodulationssignal sich in einer vorbestimmten Richtung ändert, um einen vorher eingerichteten Schwellenwert zu erreichen, einen Wellenformspeicher (28), der in dem Gehäuse aufgenommen ist und der das interpolierte Demodulationssignal speichert, und ein Speichersteuerungsmittel (27), das in dem Gehäuse aufgenommen ist und das interpolierte Demodulationssignal in dem Wellenformspeicher speichert, bis nach Erhalt des Triggersignals eine vorbestimmte Zeit verstrichen ist. Außerdem zeigt der Anzeigesteuerungsabschnitt vorzugsweise das Demodulationssignal, das in dem Wellenformspeicher gespeichert wird, auf der Anzeigeeinheit an.
  • Darüber hinaus weist nach einem vierten Aspekt der Erfindung die Jittermessvorrichtung nach einem der Aspekte eins bis drei der Erfindung vorzugsweise ferner einen Testdigitalsignalgeberabschnitt (30) auf, der in dem Gehäuse aufgenommen ist und ein Testdigitalsignal, dem von einem Modulationssignal Jitter verliehen wird, nach außen überträgt. Außerdem zeigt der Anzeigesteuerungsabschnitt vorzugsweise eine Wellenform des Modulationssignals, das von dem Testdigitalsignalgeberabschnitt verwendet wird, und eine Wellenform des interpolierten Demodulationssignals auf der Anzeigeeinheit an, so dass ein Vergleich der Wellenformen miteinander möglich ist.
  • Die Jittermessvorrichtung nach einem Aspekt der Eifindung hat daher Funktionen der Durchführung von Interpolationsverarbeitung an dem von dem Jitterdemodulator ausgegebenen Demodulationssignal und des Anzeigens der Wellenform des interpolierten Demodulationssignals und die Schaltungen zur Realisierung der Funktionen sind in dem gemeinsamen Gehäuse aufgenommen. Dementsprechend kann die Wellenform des Demodulationssignals von der einzelnen Vorrichtung richtig angezeigt werden.
  • Darüber hinaus kann, wenn der Jitterbetragdetektor Verarbeitung zum Detektieren der Amplitude des interpolierten Demodulationssignals durchführt, ein genauerer Amplitudenwert detektiert werden.
  • Außerdem kann das Demodulationssignal als eine gestoppte Wellenform beobachtet werden, da das interpolierte Demodulationssignal gespeichert wird, bis eine vorherbestimmte Zeit verstrichen ist, nachdem das interpolierte Demodulationssignal den Schwellenwert erreicht und die Wellenform des gestoppten Demodulationssignals angezeigt wird. Dementsprechend kann die Wellenform eingehender beobachtet werden.
  • Da die Wellenform eines Modulationssignals, das verwendet wird, um einem Testdigitalsignal Jitter zu verleihen, so angezeigt wird, dass der Vergleich mit dem interpolierten Demodulationssignal möglich ist, kann außerdem eine Jitterübertragungskennlinie des Prüfobjekts anhand der Wellenform geprüft werden.
  • KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • 1 ist eine Ansicht, die die gesamte Konfiguration in einer Ausgestaltung der Erfindung zeigt,
  • 2 ist eine Ansicht, die die Konfiguration der Hauptabschnitte der Ausgestaltung zeigt,
  • 3 ist eine Ansicht, die ein Anzeigebeispiel für ein Messergebnis in der Ausgestaltung zeigt,
  • 4 ist eine Ansicht, die eine Wellenform eines nicht interpolierten Demodulationssignals zeigt,
  • 5 ist eine Ansicht, die eine Wellenform eines interpolierten Demodulationssignals zeigt, und
  • 6 ist eine Ansicht, die die Konfiguration einer bekannten Vorrichtung zeigt.
  • BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSGESTALTUNGEN
  • Im Folgenden wird eine Ausgestaltung der Erfindung mit Bezug auf die Begleitzeichnungen beschrieben.
  • 1 zeigt die Konfiguration einer Jittermessvorrichtung 100 einer Ausgestaltung, auf die die Erfindung angewendet wurde.
  • Es wird angenommen, dass die Jittermessvorrichtung 100 ein einzelnes Gehäuse 20 hat, in dem jeder in 1 gezeigte Abschnitt aufgenommen ist und das durch die gestrichelte Linie gezeigt wird. Außen am Gehäuse sind ein Eingabeanschluss 20a zum Eingeben eines digitalen Signals Dr eines Messobjekts und ein Ausgabeanschluss 20b zum Ausgeben eines Testdigitalsignals Dt nach außen bereitgestellt.
  • In der Jittermessvorrichtung 100 ist ein Testdigitalsignalgeberabschnitt 30 zum Erzeugen des Testdigitalsignals Dt bereitgestellt.
  • In dem Testdigitalsignalgeberabschnitt 30 wird ein von einem Taktsignalgenerator 32 ausgegebenes Taktsignal C mit einer vorbestimmten Frequenz an eine Jittergeberschaltung 32 angelegt und ein von einem Modulationssignalgenerator 33 ausgegebenes Modulationssignal M (z. B. eine Sinuswelle bis zu 80 kHz bis 320 MHz) wird an die Jittergeberschaltung 32 angelegt. Dann wird unter Verwendung des Modulationssignals M die Phasenmodulation des Taktsignals durchgeführt, um ein Taktsignal CJ mit Jitter zu erzeugen, der eine der Amplitude des Modulationssignals M entsprechende Größe hat, und das Taktsignal Cj wird an einen Datengenerierungsabschnitt 34 angelegt.
  • Der Datengenerierungsabschnitt 34 erzeugt das Testdigitalsignal Dt mit einem vorherbestimmten Muster (z. B. ein Muster eines pseudozufälligen Signals), das mit dem angelegten Taktsignal Cj synchronisiert ist, und legt das Testdigitalsignal Dt erforderlichenfalls durch den Ausgabeanschluss 20b an ein externes Messobjekt an.
  • Außerdem wird das von dem Prüfobjekt ausgegebene digitale Signal durch den Eingabeanschluss 20a in einen Jitterdemodulator 21 eingespeist.
  • In den Jitterdemodulator 21 sind auf die gleiche Weise wie oben beschrieben ein Breitbandjitterdemodulator, eine Filterschaltung eines auf ITU-T-Empfehlung 0.172 basierenden Bands (z. B. ein Hochpassfilter von 80 kHz oder 16 MHz und ein Tiefpassfilter von 320 MHz, wenn die Bitrate des digitalen Signals Dr 40 Gbps beträgt) und ein A/D-Umsetzer, der mit einer vorbestiummten Abtastrate (z. B. 720 Msample/s) arbeitet, zum Ausgeben eines Demodulationssignals als digitalen Wert aufgenommen. Dementsprechend wird ein Phasenwechsel des eingegebenen Digitalsignals Dr mit Bezug auf die Bezugsphase der Taktkomponente detektiert und ein Demodulationssignal J mit einer Amplitude entsprechend dem Phasenwechsel wird als digitaler Wert ausgegeben.
  • Die Frequenz des Demodulationssignals J liegt im Bereich von 80 kHz bis 320 Mhz, wenn die Filterschaltung von einem Hochpassfilter von 80 kHz und einem Tiefpassfilter von 320 MHz gebildet wird.
  • Das Demodulationssignal J wird an einen Jitterbetragdetektor 22 und einen Interpolator 23 angelegt.
  • Der Jitterbetragdetektor 22 hat eine erste Betriebsart, in der Detektionsverarbeitung des Amplitudenwertes (ein Effektivwert und ein Spitze-Spitze-Wert) des Demodulationssignals J durchgeführt wird, und eine zweite Betriebsart, in der Detektionsverarbeitung des Amplitudenwertes (ein Effektivwert und ein Spitze-Spitze-Wert) eines von dem Interpolator 23 interpolierten Demodulationssignals J' durchgeführt wird. Die Betriebsart wird von einem Betriebsabschnitt (nicht gezeigt) der Jittermessvorrichtung 100 festgelegt.
  • Der Interpolator 23 misst eine Periode des Demodulationssignals J und interpoliert die Demodulationssignalverarbeitung mit einer der gemessenen Periode T entsprechenden Geschwindigkeit.
  • Wie in 2 gezeigt wird, speichert der Interpolator 23 das eingegebene Demodulationssignal J vorübergehend in einem Puffer 23a, führt durch ein Nullübergangsdetektionsmittel 23b die Verarbeitung zur Detektion eines Nullübergangs (in Wirklichkeit einer Null am nächsten liegenden Adressenposition) an den gespeicherten Daten durch und detektiert durch ein Periodenberechnungsmittel 23c die Periode T des Demodulationssignals J anhand der detektierten Nullübergangsposition und der Abtastrate des Demodulationssignals.
  • Außerdem ändert sich die für den Puffer 23a erforderliche Größe mit dem Band, in dem die Messung durchgeführt wird. Wenn ein Signalband nach Durchlaufen des Filters des Jitterdemodulators 21 80 kHz beträgt, wird eine Größe bevorzugt, die das Speichern von 9000 oder mehr Abtastwerten ermöglicht, wobei angenommen wird, dass die Abtastrate 720 Msample/s beträgt.
  • Ein Mittel zur Interpolationsratenermittlung 23d ermittelt unter den vorher festgelegten Interpolationsraten eine Interpolationsrate K, die der berechneten Periode T entspricht, für den Periodenbereich des Demodulationssignals J und legt die ermittelte Interpolationsrate K an einen Interpolationsverarbeitungsabschnitt 23e an.
  • Bezüglich der Interpolationsrate wird der Bereich der Periode (Frequenz) des Demodulationssignals J z. B. in vier Schritte unterteilt. Die höhere Interpolationsrate (z. B. 2 bis 20) wird einer Region mit einer höheren Frequenz zugeordnet.
  • Der Interpolationsverarbeitungsabschnitt 23e setzt die Daten von Nullstellenwerten, deren Zahl „K-1” ist, kontinuierlich zwischen Eingabedatenströme ein. Indem die Datenströme mit eingesetzten Nullstellenwerten an ein Filter vom Tiefpasstyp 23f mit einem Abgriffkoeftizienten, der der Kennline sin(x)/x entspricht, angelegt und die Verstärkung entsprechend angepasst wird, werden die Datenströme mit eingesetzten Nullstellenwerten dann in das Demodulationssignal J' umgesetzt, in welchem kontinuierliche Interpolation zwischen den ursprünglichen Daten J durchgeführt wurde. Das Demodulationssignal J wird dann ausgegeben.
  • Das vom Interpolator 23 interpolierte Demodulationssignal J' wird an den Jitterbetragdetektor 22, einen Anzeigesteuerungsabschnitt 24 und eine Triggerschaltung 26 angelegt.
  • Wie oben beschrieben, führt der Jitterbetragdetektor 22 die Verarbeitung zum Detektieren der Amplitude von einem der Demodulationssignale J und J', die von dem Benutzer festgelegt wird, durch.
  • Außerdem zeigt der Anzeigesteuerungsabschnitt 24 den Amplitudenwert (einen Effektivwert und einen Spitze-Spitze-Wert), der von dem Jitterbetragdetektor 22 detektiert wurde, als Zahlenwert auf Anzeigeeinheit 25 an und führt die Verarbeitung des Anzeigens der Wellenform des Demodulationssignals J' durch.
  • Die Triggerschaltung 26 gibt ein Triggersignal TRG an ein Speichersteuerungsmittel 27 aus, wenn das interpolierte Demodulationssignal J' in einer vorbestimmten Richtung wechselt (zunehmende oder abnehmende Richtung), um einen zuvor festgelegten Schwellenwert R zu erreichen.
  • Das Speichersteuerungsmittel 27 speichert das Demodulationssignal J' nach Erhalt des Triggersignals TRG in einem Wellenformspeicher 28, bis eine vorbestimmte Zeit (Periode zum Speichern einer erforderlichen Anzahl von Datenelementen) verstrichen ist.
  • Außerdem wird das Modulationssignal M von einem A/D-Umsetzer 29 in einen Digitalsignalstring umgesetzt und dann an den Anzeigesteuerungsabschnitt 24 angelegt.
  • Der Anzeigesteuerungsabschnitt 24 kann das Jittermessergebnis auf der Anzeigeeinheit 25 nach Festlegung durch den Benutzer in verschiedenen Modi anzeigen.
  • Das heißt, zu Beispielen für das Messergebnis, das angezeigt werden kann, gehören: der für das Demodulationssignal J detektierte Amplitudenwert (ein Effektivwert Jrms und ein Spitze-Spitze-Wert Jpp), der für das interpolierte Demodulationssignal J' detektierte Amplitudenwert (ein Effektivwert Jrms' und ein Spitze-Spitze-Wert Jpp'), die Wellenform des von dem Interpolator 23 ausgegebenen Demodulationssignals J' (in diesem Fall wird die Wellenform über eine Periode angezeigt, die größer oder gleich einer für die Interpolationsverarbeitung erforderlichen Zeit ist, eine gestoppte Wellenform kann aber durch Anzeigen der in einem Zug erfassten Wellenformdaten betrachtet werden), die in dem Wellenformspeicher 28 gespeicherte Wellenform des Demodulationssignals J' (in diesem Fall ist die Ausgangsposition einer gespeicherten und aktualisierten Wellenform die gleiche) und die Wellenform des Modulationssignals M. Diese können durch Auswahl einzeln angezeigt werden oder durch arbiträre Kombination auf dem gleichen Bildschirm der Anzeigeeinheit 25 angezeigt werden. In jedem Fall ist die Wellenformanzeige (z. B. die in 5 gezeigte Wellenformanzeige, die an späterer Stelle noch beschrieben wird) des interpolierten Demodulationssystems J' möglich. Infolgedessen kann die richtige Wellenform eines Jitterdemodulationssignals mit einer einzigen Vorrichtung beobachtet werden.
  • Unter den oben beschriebenen kann, wenn die Wellenform des Demodulationssignals J' (entweder das von dem Interpolator 23 ausgegebene Demodulationssignal oder das in dem Wellenformspeicher 28 gespeicherte Demodulationssignal) und die Wellenform des Modulationssignals M nebeneinander auf der gleichen Zeitachse angezeigt werden, so dass sie miteinander verglichen werden können, z. B. wie in 3 gezeigt, die Jitterübertragungskennlinie des Messobjekts anhand der Jitterwellenform selbst geprüft werden. In dem in 3 gezeigten Beispiel ist zu sehen, dass der Jitter unterdrückt wird.
  • Hier wird nun ein Unterschied zwischen dem Demodulationssignal J und dem interpolierten Demodulationssignal J' kurz beschrieben.
  • Angenommen, dass eine in dem digitalen Eingangssignal Dr enthaltene ursprüngliche Jitterkomponente eine Sinuswelle sin(2πft) ist, ändert sich das Demodulationssignal J, wenn die Jitterfrequenz f nahe an der Abtastrate liegt, wie von den schwarzen Punkten in 4 gezeigt (ursprüngliche Sinuswelle ist als gestrichelte Linie gezeigt).
  • Der Höchstwert einer Wellenform (durchgezogene Linie), die die scharzen Punkte verbindet, ist kleiner als der ursprüngliche Wert 1 und der Mindestwert ist größer als der ursprüngliche Wert –1. Diese Wellenform ist auch eine von der ursprünglichen Sinuswelle sehr verschiedene Wellenform (Dreieckswelle).
  • Daher ändert sich, wie oben beschrieben, die Spitzengröße aufgrund des Verlustes oder der Bandkennlinie eines Filters, selbst wenn der Datenstom nach analog umgesetzt und gefiltert wird. Infolgedessen erhält man die ursprünglichen Werte ±1 in vielen Fällen nicht.
  • Andererseits ändert sich das durch Interpolation des Demodulationssignals J mit einer Interpolationsrate 5 (Vier-Nullstellen-Einfügungs-Interpolation) erhaltene Demodulationssignal J', wie in 5 mit schwarzen Punkten gezeigt. Die Höchst- und Mindestwerte einer Wellenform (durchgezogene Linie), die die schwarzen Punkte verbindet, sind mit den ursprünglichen Werten ±1 fast gleich und die Wellenform selbst liegt nahe an einer Sinuswelle. Dementsprechend kann man annehmen, dass die richtige Spitzengröße angezeigt wird.
  • Darüber hinaus wird, wenn es Abtastwerte von nur drei Punkten in einer Periode der Wellenform gibt, wie in 4 gezeigt, die Wahrscheinlichkeit, dass die Abtastwerte gleich dem Schwellenwert R werden, sehr niedrig, selbst wenn als Schwellenwert R ein arbiträrer Wert gesetzt wird. Dementsprechend kann die Wellenformanzeige eines Triggermodus nicht glatt durchgeführt werden. Das wie in 5 gezeigt interpolierte Demodulationssignal J' hat aber die Abtastwerte von 15 Punkten in einer Periode der Wellenform. Dementsprechend kann die Anzeige einer gestoppten Wellenform in dem Triggermodus glatt durchgeführt werden, da die Wahrscheinlichkeit extrem hoch ist, dass die Abtastwerte gleich dem Schwellenwert R werden.
  • Wie oben beschrieben, kann ein Jitterzustand des digitalen Signals Dr anhand des detektierten Amplitudenwertes oder der angezeigten Wellenform genauer geprüft werden, weil die Wellenformgenauigkeit in einem Messergebnis des interpolierten Demodulationssignals J' verglichen mit dem des ursprünglichen Demodulationssignals J bemerkenswert hoch ist. Daher ist die Leistung ausreichend, wenn auf dem Gebiet der Forschung und Entwicklung eines Senders und dergleichen genauere Wellenforminformationen benötigt werden.
  • Da es möglich ist, die Wellenform mit einer einzigen Vorrichtung richtig zu beobachten, ist außerdem auch das Problem, dass der Anlagenstellplatz zu groß wird, oder das Problem, dass die Kosten ansteigen, gelöst.
  • Obwohl die Jittermessvorrichtung 100 nach der oben beschriebenen Ausgestaltung zwar den Testdigitalsignalgeberabschnitt 30 hat, ist es außerdem aber auch möglich, eine Konfiguration zu übernehmen, die den Testdigitalsignalgeberabschnitt 30 nicht aufweist.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • - JP 2001-133492 A [0007]

Claims (5)

  1. Jittermessvorrichtung, umfassend: einen Jitterdemodulator 21, der eine Jitterkomponente eines von außen eingegebenen digitalen Signals demoduliert, einen Jitterbetragdetektor 22, der den Amplitudenwert eines von dem Jitterdemodulator ausgegebenen Demodulationssignal detektiert, eine Anzeigeeinheit 25 zum Anzeigen des von dem Jitterbetragdetektor detektierten Wertes, dadurch gekennzeichnet, dass: die Jittermessvorrichtung ferner einen Interpolator 23, der eine Periode des von dem Jitterdemodulator ausgegebenen Demodulationssignals misst und das Demodulationssignal durch Verarbeitung mit einer der gemessenen Periode entsprechenden Rate interpoliert, einen Anzeigesteuerungsabschnitt 24, der den von dem Jitterbetragdetektor detektierten Wert und eine von dem Interpolator interpolierte Wellenform des Demodulationssignals auf der Anzeigeeinheit anzeigt, und ein Gehäuse 20 aufweist und dass: der Jitterdemodulator 21, der Jitterbetragdetektor 22, der Interpolator 23 und der Anzeigesteuerungsabschnitt 24 in dem Gehäuse aufgenommen sind und die Anzeigeeinheit an einer Außenfläche des Gehäuses montiert ist.
  2. Jittermessvorrichtung nach Anspruch 1, die eine Betriebsart hat, in welcher der Jitterbetragdetektor die Verarbeitung zum Detektieren des Amplitudenwertes des von dem Interpolator interpolierten Demodulationssignals anstatt des von dem Jitterdemodulator ausgegebenen
  3. Jittermessvorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, ferner umfassend: eine Triggerschaltung, die in dem Gehäuse aufgenommen ist und ein Triggersignal ausgibt, wenn das von dem Interpolator interpolierte Demodulationssignal sich in einer vorbestimmten Richtung ändert, um einen vorher eingerichteten Schwellenwert zu erreichen, einen Wellenformspeicher, der in dem Gehäuse aufgenommen ist und der das interpolierte Demodulationssignal speichert, und ein Speichersteuerungsmittel, das in dem Gehäuse aufgenommen ist und das interpolierte Demodulationssignal in dem Wellenformspeicher speichert, bis nach Erhalt des Triggersignals eine vorbestimmte Zeit verstrichen ist, wobei der Anzeigesteuerungsabschnitt das Demodulationssignal, das in dem Wellenspeicher gespeichert ist, auf der Anzeigeeinheit anzeigt.
  4. Jittermessvorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, ferner umfassend: einen Testdigitalsignalgeberabschnitt auf, der in dem Gehäuse aufgenommen ist und ein Testdigitalsignal, dem von einem Modulationssignal Jitter verliehen wird, nach außen überträgt, wobei der Anzeigesteuerungsabschnitt eine Wellenform des Modulationssignals, das von dem Testdigitalsignalgeberabschnitt verwendet wird, und eine Wellenform des interpolierten Demodulationssignals auf der Anzeigeeinheit anzeigt, so dass ein Vergleich der Wellenformen miteinander möglich ist.
  5. Verfahren zum Messen von Jitter, umfassend die folgenden Schritte: Herstellen eines Jitterdemodulators 21, der eine Jitterkomponente eines von außen eingegebenen Digitalsignals demoduliert, Herstellen eines Jitterbetragdetektors 22, der den Amplitudenwert eines von dem Jitterdemodulator ausgegebenen Demodulationssignal detektiert, Herstellen einer Anzeigeeinheit 25 zum Anzeigen des von dem Jitterbetragdetektor detektierten Wertes, dadurch gekennzeichnet, dass: das Verfahren ferner Folgendes umfasst: Herstellen eines Interpolators 23, der eine Periode des von dem Jitterdemodulator ausgegebenen Demodulationssignals misst und das Demodulationssignal durch Verarbeitung mit einer der gemessenen Periode entsprechenden Rate interpoliert, Herstellen eines Anzeigesteuerungsabschnitts 24, der eine Wellenform des von dem Interpolator interpolierten Demodulationssignals auf der Anzeigeeinheit anzeigt, und Herstellen eines Gehäuses 20 und Durchführen des Zusammenbauens nach der Aufnahme des Jitterdemodulators, des Jitterbetragdetektors, des Interpolators und anzeigesteuerungs-abschnitt in dem einen Gehäuse und Durchführen des Zusammenbauens nach der Montage der Anzeigeeinheit an einer Außenfläche des Gehäuses.
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JP2009083302A JP5256094B2 (ja) 2009-03-30 2009-03-30 ジッタ測定装置

Publications (1)

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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8878577B2 (en) * 2012-09-05 2014-11-04 IQ-Analog Corporation System and method for frequency multiplier jitter correction
JP2014174131A (ja) * 2013-03-13 2014-09-22 Fujitsu Semiconductor Ltd 受信回路、半導体集積回路及び試験方法
CN105162543B (zh) * 2015-08-17 2017-12-08 华北水利水电大学 一种用于sdh时钟抖动测试的装置及方法
US11867726B2 (en) * 2019-09-06 2024-01-09 Micron Technology, Inc. Methods for triggering oscilloscopes and oscilloscopes employing the same
CN112462120A (zh) * 2019-09-06 2021-03-09 美光科技公司 用于触发示波器的方法以及使用所述方法的示波器

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001133492A (ja) 1999-11-04 2001-05-18 Anritsu Corp ジッタ測定器

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06186315A (ja) * 1992-12-16 1994-07-08 Nec Eng Ltd パッシブ受信回路
JP3270872B2 (ja) * 1993-06-14 2002-04-02 ソニー株式会社 ディジタルデータ復調装置
JPH0783980A (ja) * 1993-09-20 1995-03-31 Advantest Corp ジッタ/ワンダ解析装置
GB9809450D0 (en) * 1998-05-01 1998-07-01 Wandel & Goltermann Limited Jitter measurement
JP2000055949A (ja) * 1998-08-10 2000-02-25 Hitachi Building Systems Co Ltd 周波数分析方法及び周波数分析装置
TW559668B (en) * 1999-02-08 2003-11-01 Advantest Corp Apparatus for and method of measuring a jitter
JP3942790B2 (ja) * 2000-02-24 2007-07-11 アンリツ株式会社 信号分析装置
US6598004B1 (en) * 2000-08-28 2003-07-22 Advantest Corporation Jitter measurement apparatus and its method
JP2002122641A (ja) * 2000-10-17 2002-04-26 Yokogawa Electric Corp 時間計測装置
JP2002142008A (ja) * 2000-10-31 2002-05-17 Hitachi Kokusai Electric Inc 通信装置
JP2003179514A (ja) * 2001-12-13 2003-06-27 Mitsubishi Electric Corp 受信装置の中間周波フィルタ補正回路
JP2004247893A (ja) * 2003-02-13 2004-09-02 Nec Engineering Ltd オーディオイコライザ装置
JP4380174B2 (ja) * 2003-02-27 2009-12-09 沖電気工業株式会社 帯域補正装置
CN1534614A (zh) * 2003-03-28 2004-10-06 上海乐金广电电子有限公司 抖动信号检测装置及方法
JP3974880B2 (ja) * 2003-07-10 2007-09-12 アンリツ株式会社 ジッタ伝達特性測定装置
JP3751612B2 (ja) * 2003-07-11 2006-03-01 アンリツ株式会社 ジッタ測定装置
JP2005198120A (ja) * 2004-01-09 2005-07-21 Yokogawa Electric Corp ジッタ発生装置
JP2005207846A (ja) * 2004-01-22 2005-08-04 Yokogawa Electric Corp デジタル通信用ジッタ測定装置
US7236555B2 (en) * 2004-01-23 2007-06-26 Sunrise Telecom Incorporated Method and apparatus for measuring jitter
JP5143341B2 (ja) * 2004-02-18 2013-02-13 株式会社アドバンテスト ジッタ測定装置、ジッタ測定方法およびプログラム
JP4837617B2 (ja) * 2006-09-14 2011-12-14 アンリツ株式会社 ジッタ測定装置及びその校正方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001133492A (ja) 1999-11-04 2001-05-18 Anritsu Corp ジッタ測定器

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