DE10142855A1 - Prüfvorrichtung für eine elektronische Vorrichtung, Zittermessvorrichtung und deren Verfahren - Google Patents
Prüfvorrichtung für eine elektronische Vorrichtung, Zittermessvorrichtung und deren VerfahrenInfo
- Publication number
- DE10142855A1 DE10142855A1 DE10142855A DE10142855A DE10142855A1 DE 10142855 A1 DE10142855 A1 DE 10142855A1 DE 10142855 A DE10142855 A DE 10142855A DE 10142855 A DE10142855 A DE 10142855A DE 10142855 A1 DE10142855 A1 DE 10142855A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- signal
- period
- jitter
- value
- measured
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31708—Analysis of signal quality
- G01R31/31709—Jitter measurements; Jitter generators
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/26—Measuring noise figure; Measuring signal-to-noise ratio
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31903—Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
Abstract
Eine Zittermeßvorrichtung zum Messen des Zitterns eines gemessenen Signals weist auf: ein Bandpaßfilter (102), welches das gemessene Signal empfängt und eine gewünschte Frequenzkomponente des gemessenen Signals als ein bandbegrenztes Signal des gemessenen Signals ausgibt; eine Zeitschätzvorrichtung (103), welche das bandbegrenzte Signal empfängt und eine Durchgangszeit bei einem vorbestimmten Wert, welche eine Zeit ist, bei der das gemessene Signal einen vorbestimmten Signalwert zeigt, auf der Grundlage des bandbegrenzten Signals berechnet; eine Periodenschätzvorrichtung (104), welche eine Periode des gemessenen Signals auf der Grundlage der Durchgangszeit bei dem vorbestimmten Wert schätzt; und einen Zitterdetektor (107), welcher das Zittern des gemessenen Signals auf der Grundlage der von der Periodenschätzvorrichtung berechneten Periode des gemessenen Signals berechnet.
Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine
Prüfvorrichtung für eine elektronische Vorrichtung,
eine Zittermeßvorrichtung und ein Zittermeßverfahren.
Eine Zeitintervall-Analysevorrichtung oder ein Oszil
loskop wurde herkömmlich bei einer Periodenzittermes
sung verwendet. Jedes solcher Verfahren wird als ein
Nulldurchgangsverfahren bezeichnet. Wie in Fig. 1 ge
zeigt ist, wird ein Taktsignal (ein zu messendes Si
gnals) x(t) beispielsweise von einem zu prüfenden
PLL (Phasenregelkreis) zu einer Zeitintervall-Ana
lysevorrichtung 12 geliefert. Bezüglich eines zu
messenden Signals x(t) schwankt eine nächste anstei
gende Kante, die einer ansteigenden Kante folgt, ge
genüber der vorhergehenden ansteigenden Kante, wie
durch strichlierte Linien gezeigt ist. D. h. ein Zei
tintervall TP zwischen zwei ansteigenden Kanten, näm
lich eine Periode, schwankt. Bei dem Nulldurchgangs
verfahren wird ein Zeitintervall (Periode) zwischen
Nulldurchgängen gemessen, eine relative Schwankung
der Periode wird durch eine Histogrammanalyse gemes
sen, und deren Histogramm wird wie in Fig. 2 gezeigt
dargestellt. Eine Zeitintervall-Analysevorrichtung
ist beispielsweise beschrieben in "Phase Digitizing
Sharpens Timing Measurements" von D. Chu, IEEE Spec
trum, Seiten 28-32, 1988, und "A Method of Serial Da
ta Jitter Analysis Using One-Shot Time Interval Mea
surements" von J. Wilstrup, Proceedings of IEEE International
Test Conference, Seiten 818-823, 1998.
Andererseits haben kürzlich Tektronix, Inc. und
Le-Croy co. digitale Oszilloskope geliefert, die jeweils
in der Lage sind, ein Zittern unter Verwendung eines
Interpolationsverfahrens zu messen. Bei diesem Zit
termeßverfahren unter Verwendung des Interpolations
verfahrens werden Daten um einen Nulldurchgang herum
aus gemessenen Daten eines zu messenden Signals, das
mit einer hohen Geschwindigkeit abgetastet wird, in
terpoliert, um die Zeit des Nulldurchgangs zu schät
zen, wodurch ein Zeitintervall zwischen Nulldurchgän
gen (Periode) mit einem kleinen Fehler geschätzt
wird, um eine relative Schwankung der Periode zu mes
sen.
D. h. es wird, wie in Fig. 3 gezeigt ist, ein zu mes
sendes Signal x(t) von dem zu prüfenden PLL 11 in ein
digitales Oszilloskop 14 eingegeben. In dem digitalen
Oszilloskop 14 wird, wie in Fig. 4 gezeigt ist, das
zu messende eingegebene Signal x(t) durch einen Ana
log/Digital-Wandler 15 in eine Digitalsignal-Datenfolge
umgewandelt. Eine Dateninterpolation wird
bei Daten um einen Nulldurchgang herum in der Digi
taldatenfolge durch eine Interpolation 16 angewendet.
Mit Bezug auf die dateninterpolierte Digitaldatenfol
ge wird ein Zeitintervall zwischen Nulldurchgängen
durch eine Periodenschätzvorrichtung 17 gemessen. Ein
Histogramm der gemessenen Werte wird durch eine Hi
stogrammschätzvorrichtung 18 angezeigt, und ein Ef
fektivwert und ein Spitze-zu-Spitze-Wert von Schwan
kungen der Zeitintervalle werden durch einen Effektiv
wert- und Spitze-zu-Spitze-Detektor 19 erhalten.
Beispielsweise werden in dem Fall, in welchem ein zu
messendes Signal x(t) eine in Fig. 5A gezeigte Wel
lenform ist, seine Periodenschwankungen wie in Fig.
5B gezeigt, gemessen.
Bei dem Zittermeßverfahren nach dem Zeitintervall-Ana
lyseverfahren wird ein Zeitintervall zwischen
Nulldurchgängen gemessen. Daher kann eine korrekte
Messung durchgeführt werden. Da jedoch bei diesem
Zittermeßverfahren eine Totzeit auftritt, wenn keine
Messung nach einer Einperiodenmessung durchgeführt
werden kann, besteht das Problem, daß es eine lange
Zeit benötigt, um eine Anzahl von Daten zu erhalten,
die für eine Histogrammanalyse erforderlich ist. Zu
sätzlich besteht bei einem Zittermeßverfahren, bei
welchem ein Breitbandoszilloskop und ein Interpolati
onsverfahren kombiniert werden, das Problem, daß ein
Zittern überschätzt wird (Überschätzung). D. h. es be
steht keine Kompatibilität in gemessenen Zitterwerten
zwischen diesem Zittermeßverfahren und dem Zeitinter
vall-Analyseverfahren. Beispielsweise ist ein Ergeb
nis der Zittermessung unter Verwendung einer Zeitin
tervall-Analysevorrichtung für ein Taktsignal von 400 MHz
in Fig. 6A gezeigt, und ein gemessenes Ergebnis
der Zittermessung unter Verwendung eines Interpolati
onsverfahrens für dasselbe Taktsignal ist in Fig. 6B
gezeigt. Solche gemessenen Ergebnisse sind ein gemes
sener Wert durch die Zeitintervall-Analysevorrichtung
von 7,72 ps (Effektivwert) gegenüber einem gemessenen
Wert durch das Interpolationsverfahren von 8,47 ps
(Effektivwert), und der letztgenannte ist größer,
d. h. der letztgenannte ist ein überschätzter Zitter
wert.
Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine
Prüfvorrichtung für eine elektronische Vorrichtung,
eine Zittermeßvorrichtung und deren Verfahren vorzu
sehen, welche einen Zitterwert schätzen können, der
kompatibel mit einem herkömmlichen Zeitintervall-Ana
lyseverfahren, d. h. einen korrekten Zitterwert in
einer kürzeren Zeitperiode. Diese Aufgabe wird gelöst
durch in den unabhängigen Ansprüchen beschriebenen
Kombinationen. Die abhängigen Ansprüchen definieren
weitere vorteilhafte und beispielhafte Kombinationen
der vorliegenden Erfindung.
Die Zittermeßvorrichtung gemäß der vorliegenden Er
findung weist auf: eine Bandpaß-Filtervorrichtung zum
selektiven Durchlassen von Komponenten, aus denen
harmonischen Komponenten eines zu messenden Signals
entfernt wurden; eine Nulldurchgangszeit-Schätzvorrichtung
zum Schätzen von Nulldurchgangszei
ten des Signals, das durch das Bandpaßfilter hin
durchgegangen ist; eine Periodenschätzvorrichtung, um
eine Momentperioden-Wellenform zu erhalten, nämliche
eine Momentanperiodenwertfolge des zu messenden Si
gnals aufgrund der geschätzten Nulldurchgangszeiten;
und eine Zittererfassungsvorrichtung, um das Zittern
des zu messenden Signals aus der
Momentperioden-Wellenform zu erhalten.
Diese Zittermeßvorrichtung enthält eine
A/D-Umwandlungsvorrichtung (Analog/Digital-Wandler) zum
Digitalisieren eines analogen Signals und zu dessen
Umwandlung in ein digitales Signal, und ein Eingangs
signal oder ein Ausgangssignal der Bandpaß-Filtervorrichtung
wird in ein digitales Signal umge
wandelt.
Zusätzlich weist bei dieser Zittermeßvorrichtung die
Nulldurchgangszeit-Schätzvorrichtung auf: eine
Wellenformdaten-Interpolationsvorrichtung zum Interpo
lieren von Wellenformdaten um den Nulldurchgang des
Signals herum, das durch die Bandpaß-Filtervorrichtung
hindurchgegangen ist; eine Null
durchgangs-Spezifizierungsvorrichtung zum Spezifizie
ren von Wellenformdaten, die dem Nulldurchgang in der
dateninterpolierten Signalwellenform am nächsten
sind; und eine Zeitschätzvorrichtung zum Schätzen der
Zeit der spezifizierten Daten.
Es ist wünschenswert, daß die Wellenformdaten-In
terpolationsvorrichtung eine polynome Interpolati
on, Kubiknutinterpolation oder dergleichen verwendet.
Zusätzlich kann die Nulldurchgangszeit-Schätz
vorrichtung eine Nulldurchgangszeit durch in
verse lineare Interpolation aus den Wellenformdaten
um den Nulldurchgang in dem Signal, das durch die
Bandpaß-Filtervorrichtung hindurchgegangen ist, herum
schätzen.
Es ist wünschenswert, daß die Bandpaß-Filtervorrichtung
aufweist: eine Zeitdomä
nen/Frequenzdomänen-Transformationsvorrichtung zum
Transformieren des zu messenden Signals in ein Signal
in der Frequenzdomäne; eine Bandbreitenbegrenzungs-Ver
arbeitungsvorrichtung zum Herausnehmen nur von
Komponenten um eine Grundfrequenz des Signals von dem
Ausgang der Zeitdomänen/Frequenzdomänen-
Transformationsvorrichtung herum; und eine Frequenz
domänen/Frequenzdomänen-Transformationsvorrichtung
für die inverse Transformation des Ausgangssignals
der Bandbreitenbegrenzungs-Verarbeitungsvorrichtung
in ein Signal in der Zeitdomäne.
Bei dieser Bandpaß-Filtervorrichtung wird, wenn das
zu messende Signal lang ist, das zu messende Signal
in einem Pufferspeicher gespeichert. Das zu messende
Signal wird in der Aufeinanderfolge so aus dem Puf
ferspeicher herausgenommen, daß das herausgenommene
gemessene Signal teilweise mit einem gemessenen Si
gnal überlappt, das gerade vorher herausgenommen wur
de.
Jedes aus dem Pufferspeicher herausgenommene Teilsi
gnal wird mit einer Fensterfunktion multipliziert,
und das Multiplikationsergebnis wird zu der Zeitdomä
nen/Frequenzdomänen-Transformationsvorrichtung gelie
fert. Das invers in die Zeitdomäne transformierte Si
gnal wird mit einer inversen Zahl der Fensterfunktion
multipliziert, um das bandbegrenzte Signal zu erhal
ten.
Zusätzlich ist es wünschenswert, daß die Zittermeß
vorrichtung eine Zyklus-zu-Zyklus-Perioden-Zit
terschätzvorrichtung enthält, in welche die von der
Periodenschätzvorrichtung erhaltene Momentperioden-Wellenform
eingegeben wird, um aufeinanderfolgend
Differenzwerte zu erhalten, die jeweils die Differenz
zwischen benachbarten Momentanperioden mit einer
Zeitdifferenz von einer Periode zwischen ihnen sind,
um eine Differenzwellenform zu berechnen, und zum
Ausgeben von Zyklus-zu-Zyklus-Perioden-
Zitterwellenformdaten.
Zusätzlich ist es bei dieser Zittermeßvorrichtung
wünschenswert, Amplitudenmodulationskomponenten des
zu messenden Signals zu entfernen mittels einer
Wellenform-Begrenzungsvorrichtung.
Die Zittererfassungsvorrichtung wird gebildet durch
eines oder mehrere Mittel aus der Spitze-zu-Spitze-Er
fassungsvorrichtung, um eine Differenz zwischen dem
Maximalwert und dem Minimalwert der Momentanperioden-
Wellenform oder der Zyklus-zu-Zyklus-Perioden-
Zitterwellenform zu erhalten, eine Effektivwert-Er
fassungsvorrichtung zum Berechnen einer Varianz der
Momentperioden-Wellenformdaten oder der Zyklus-zu-
Zyklus-Perioden-Zitterwellenformdaten, um die Stan
dardabweichung zu erhalten, und eine Histogramm
schätzvorrichtung, um ein Histogramm der Momentperi
oden-Wellenformdaten oder der Zyklus-zu-Zyklus-Pe
rioden-Zitterwellenformdaten zu erhalten.
Die Funktionen der vorliegenden Erfindung werden
nachfolgend beschrieben. Der Fall, bei welchem ein
Taktsignal als ein zu messendes oder gemessenes Si
gnal verwendet wird, ist ein Beispiel gezeigt.
Bei dem Zittermeßverfahren nach dem Zeitintervall-Ana
lyseverfahren wird eine Schwankung eines Zeitin
tervalls zwischen einem Nulldurchgang und einem näch
sten Nulldurchgangs eines zu messenden Signals, d. h.
eine Schwankung einer Periode (Grundperiode) des zu
messenden Signals gemessen. Dies entspricht der Mes
sung nur der Frequenzkomponenten um die Grundfrequenz
(entsprechend der Grundperiode) des zu messenden Si
gnals herum. D. h. ein Zeitintervall-Analyseverfahren
ist ein Meßverfahren mit einer Frequenzcharakteristik
vom Bandpaßtyp. Andererseits enthält ein Zitterwert,
der durch ein Abtastoszilloskop zum Messen des gesam
ten Frequenzbandes des zu messenden Signals unter
Verwendung des Interpolationsverfahrens geschätzt
wird, harmonische Komponenten. Folglich wird der Zit
terwert durch die harmonischen Komponenten beein
flußt, und daher kann eine korrekte Interpolation
nicht durchgeführt werden. Zusätzlich ist der Zitter
wert nicht kompatibel mit einem Zitterwert, der durch
das herkömmliche Zeitintervall-Analyseverfahren ge
messen wurde. Beispielsweise überschätzt, wie in Fig.
6B gezeigt ist, das Zittermeßverfahren unter Verwen
dung des Interpolationsverfahrens einen Zitterwert.
Demgegenüber kann ein Zitterwert, der mit dem Zeitin
tervall-Analyseverfahren kompatibel ist, geschätzt
werden durch Messen einer Periodenschwankung zwischen
Nulldurchgängen unter Verwendung eines Signals, in
welchem die Frequenzkomponenten des zu messenden Si
gnals auf die Nähe der Grundfrequenz durch das Band
paßfilter begrenzt sind. Zusätzlich kann ein Zittern
einer Signalwellenform mit einer höheren Frequenz ge
messen werden durch Abtasten eines zu messenden Si
gnals unter Verwendung eines Hochgeschwindigkeits- und
Breitband-Abtastoszilloskops. Darüber hinaus kann
ein Meßfehler eines Periodenzitterns verringert wer
den durch Verwendung des Interpolationsverfahrens, um
einen Schätzfehler einer Nulldurchgangszeit zu ver
ringern.
Bei dem Zittermeßverfahren gemäß der vorliegenden Er
findung werden beispielsweise zuerst Frequenzkompo
nenten eines zu messenden Taktsignals x(t), das in
Fig. 7A gezeigt ist, unter Verwendung eines Bandpaß
filters nur auf die Nähe der Grundfrequenz des Si
gnals x(t) bandbegrenzt, so daß zumindest harmonische
Komponenten nicht darin enthalten sind. Eine bandbe
grenzte Taktwellenform xBP(t) ist in Fig. 7B gezeigt.
Dann wird eine Nulldurchgangszeit des bandbegrenzten
Taktsignals xBP(t) als notwendig geschätzt unter Ver
wendung eines Interpolationsverfahrens oder eines in
versen Interpolationsverfahrens, um ein Zeitintervall
(Momentanperiode) T zwischen zwei Nulldurchgängen zu
messen. D. h. eine Differenz zwischen den erhaltenen
Nulldurchgangszeiten wird in der Aufeinanderfolge bei
einem vorbestimmten Intervall erhalten. Die Periode
zum Erhalten der Zeitdifferenz zwischen Nulldurch
gangszeiten ist n Periode (n = 0,5, 1, 2, 3, . . .). In
dem Fall von n = 0,5 wird eine Zeitdifferenz zwischen
einer ansteigenden (oder abfallenden) Nulldurchgangs
zeit und einer nächsten abfallenden (ansteigenden)
Nulldurchgangszeit erhalten. In dem Fall von n = 1 wird
eine Zeitdifferenz zwischen einer ansteigenden (oder
abfallenden) Nulldurchgangszeit und einer nächsten
ansteigenden (abfallenden) Nulldurchgangszeit erhal
ten. Eine gemessene Momentanperioden-Wellenform (Mo
mentperiodenwert-Folge) T[n] ist beispielsweise in
Fig. 8 gezeigt. Schließlich werden ein Effektivwert
und ein Spitze-zu-Spitze-Wert des Periodenzitterns
aus der gemessenen Momentanperiodenwert-Folge T[n]
gemessen. Ein Periodenzittern J ist eine relative
Schwankung einer Periode T gegenüber einer Grundperi
ode T0 und wird durch Gleichung (1) ausgedrückt.
T = T0 + J (1)
Daher entspricht ein Effektivwert-Zittern JRMS einer
Standardabweichung einer Momentperiode T[n] und ist
gegeben durch Gleichung (2).
In diesem Fall ist N die Anzahl von Abtastungen von
gemessenen Momentperiodendaten und T' ist ein Durch
schnittswert der Momentperiodendaten. Zusätzlich ist
ein Spitze-zu-Spitze-Periodenzittern JPP eine Diffe
renz zwischen dem Maximalwert und dem Minimalwert von
T[n] und wird durch Gleichung (3) ausgedrückt.
JPP = maxk(T[k])-mink(T[k]) (3)
Fig. 9A zeigt ein Beispiel eines Histogramm von Mo
mentanperioden, die nach dem Zittermeßverfahren gemäß
der vorliegenden Erfindung gemessen wurden, und Fig.
9B zeigt ein Histogramm, das durch die entsprechende
herkömmliche Zeitintervall-Analysevorrichtung gemes
sen wurde, so daß ein Vergleich mit dem Histogramm
nach der vorliegenden Erfindung gezogen werden kann.
Zusätzlich zeigt Fig. 10 einen Effektivwert und einen
Spitze-zu-Spitze-Wert des Periodenzitterns, die nach
dem Zittermeßverfahren gemäß der vorliegenden Erfin
dung gemessen wurden, sowie die jeweiligen Werte, die
von der herkömmlichen Zeitintervall-Ana
lysevorrichtung gemessen wurden. Hier ist der
Spitze-zu-Spitze-Wert JPP des beobachteten Perioden
zitterns im Wesentlichen proportional einer Quadrat
wurzel des Logarithmus der Anzahl von Ereignissen
(der Anzahl von Nulldurchgängen). In dem Fall von an
genähert 5000 Ereignissen ist JPP = 45 ps ein korrekter
Wert. Ein JPP-Fehler in Fig. 10 ist gezeigt unter der
Annahme, daß 45 ps der korrekte Wert sind. Wie in den
Fig. 9 und 10m gezeigt ist, kann das Zittermeßver
fahren gemäß der vorliegenden Erfindung ein gemesse
nes Ergebnis erhalten, das näher an einem Ergebnis
des herkömmlichen Zeitintervall-Analyseverfahrens ist
als es ein gemessener Wert des herkömmlichen Interpo
lationsverfahrens ist. D. h. das Zittermeßverfahren
gemäß der vorliegenden Erfindung kann einen gemesse
nen Wert für das Zittern erhalten, der kompatibel mit
dem herkömmlichen Zeitintervall-Analyseverfahren ist.
Darüber hinaus kann das Zittermeßverfahren gemäß der
vorliegenden Erfindung gleichzeitig ein Zyklus-zu-
Zyklus-Periodenzittern messen. Ein Zyklus-zu-Zyklus-Pe
riodenzittern JCC ist eine Periodenschwankung zwi
schen kontinuierlichen Zyklen und wird durch eine
Gleichung (4) ausgedrückt.
JCC[k] = T[k+1]-T[k] (4)
Daher können durch Berechnen einer Differenz für jede
Zyklusperiode zwischen den Momentanperiodendaten, die
wie vorbeschrieben gemessen wurden, und durch Berech
nen ihrer Standardabweichung und einer Differenz zwi
schen dem Maximalwert und dem Minimalwert ein Effek
tivwert JCC,RMS und ein Spitze-zu-Spitze-Wert JCC,PP
des Zyklus-zu-Zyklus-Periodenzitterns erhalten wer
den.
JCC,PP = maxk(JCC[k])-mink[JCC[k]) (6)
In diesem Fall ist M die Anzahl von Abtastungen von
Differenzdaten von gemessenen Momentanperioden. Eine
Wellenform des Zyklus-zu-Zyklus-Zitterns JCC[k] ist
beispielsweise in Fig. 11 gezeigt.
Bei dem Zittermeßverfahren gemäß der vorliegenden Er
findung kann eine Bandpaß-Filtervorrichtung angewen
det werden, nachdem ein gemessenes Analogsignal digi
talisiert wurde, oder die Bandpaß-Filtervorrichtung
kann zuerst auf ein gemessenes Analogsignal angewen
det werden und dann kann ihre Ausgangswellenform di
gitalisiert werden. Als Bandpaß-Filtervorrichtung
wird in dem letztgenannten Fall ein Analogfilter ver
wendet. In dem erstgenannten Fall kann ein Digital
filter verwendet werden, oder die Bandpaß-Filtervorrichtung
kann durch Software unter Verwen
dung der Fourier-Transformation gebildet werden.
Zusätzlich ist es wünschenswert, für die Digitalisierung
eines analogen Signals einen Hochgeschwindig
keits-AD-Wandler, einen Hochgeschwindigkeits-Di
gitalisierer oder ein Hochgeschwindigkeits-Di
gitalabtastoszilloskop (d. h. diese Zittermeßvor
richtung kann als eine Option in das Abtastoszil
loskop integriert werden) zu verwenden.
Zusätzlich kann bei dem Zittermeßverfahren gemäß der
vorliegenden Erfindung ein Periodenzittern mit hoher
Genauigkeit geschätzt werden, indem durch eine Wel
lenform-Begrenzungsvorrichtung Amplitudenmodula
tions(AM)-Komponenten eines gemessenen Signals ent
fernt werden, um nur Phasenmodulations(PM)-Komponenten
entsprechend einem Zittern zurückzubehal
ten.
Eine Bandbegrenzung eines digitalisierten Digitalsi
gnals kann durch ein Digitalfilter realisiert werden
oder sie kann auch durch eine Fourier-Transformation
erzielt werden. Als nächstes wird ein Bandpaßfilter
unter Verwendung einer FFT (schnelle Fourier-Transformation)
beschrieben. FFT ist ein Verfahren
zum Transformieren einer Signalwellenform in der
Zeitdomäne mit hoher Geschwindigkeit in ein Signal in
der Frequenzdomäne.
Zuerst wird beispielsweise ein gemessenes digitali
siertes Signal x(t), das in Fig. 12 gezeigt ist,
durch FFT in ein Signal in der Frequenzdomäne X(f)
transformiert. Fig. 13 zeigt ein Leistungsspektrum
des transformierten Signals X(f). Dann wird das Si
gnal X(f) so bandbegrenzt, daß nur Daten um die
Grundfrequenz herum zurückbehalten werden und die an
deren Daten zu Null gemacht werden. Fig. 14 zeigt
dieses bandbegrenzte Signal in der Frequenzdomäne
XBP(f). Bei diesem Beispiel wird die Grundfrequenz
400 MHz als eine Zentralfrequenz verwendet, und eine
harmonische Komponente von 800 MHz wird entfernt, in
dem die Bandpaßbreite zu 400 MHz gemacht wird.
Schließlich wird eine inverse FFT auf das bandbe
grenzte Signal XBP(f) angewendet, wodurch eine band
begrenzte Signalwellenform in der Zeitdomäne XBP(t)
erhalten werden kann. Eine so erhaltene bandbegrenzte
Signalwellenform in der Zeitdomäne XBP(t) ist in Fig.
15 gezeigt.
Wenn Werte einer Funktion y = f(x) als diskontinuierli
che Werte x1, x2, x3, . . ., xn einer Variablen x gege
benen sind, besteht die "Interpolation" darin, einen
Wert von f(x) für einen Wert von x zu schätzen, der
nicht zu xk(k = 1, 2, 3, . . ., n) gehört und zwischen
xk und xk+1 liegt.
Bei der Zeitschätzung unter Verwendung eines Interpo
lationsverfahrens, z. B. dem in Fig. 16 gezeigten,
wird ein Intervall zwischen zwei Meßpunkten xk und
xk+1, das einen vorbestimmten Wert yc, z. B. Null, ent
hält, ausreichend detailliert interpoliert. Danach
werden interpolierte Daten, die dem vorbestimmten
Wert yc am nächsten sind, gesucht, wodurch ein Zeit
punkt x, bei dem ein Funktionswert y den vorbestimm
ten Wert yc annimmt, geschätzt wird. Um einen Zeit
schätzfehler klein zu machen, ist es wünschenswert,
daß y(x) interpoliert wird, indem ein Zeitintervall
zwischen den beiden Meßpunkten xk und xk+1 gleich der
Zeitlänge gemacht wird und indem das Zeitintervall so
kurz wie möglich gemacht wird.
Zuerst wird ein Interpolationsverfahren unter Verwen
dung eines Polynoms beschrieben.
Wenn zwei Punkte (x1, y1) und (x2, y2) auf einer Ebene
gegeben sind, ist eine Linie y = P1(x), welche durch
diese zwei Punkte hindurchgeht, durch eine Gleichung
(7) gegeben und ist unitär bestimmt.
y = P1(x) = {(x-x2)/(x1-x2)}x1+{(x-x1)/(x2-x1)}y2 (7)
In ähnlicher Weise ist eine quadratische Kurve
y = P2(x), welche durch drei Punkte (x1, y1), (x2, y2)
und (x3, y3) auf einer Ebene hindurchgeht, durch eine
Gleichung (8) gegeben.
Im Allgemeinen ist eine Kurve des (N-1)-ten Grades
y = PN-1 (x), welche durch N Punkte (x1, y1), (x2, y2) . . . (xN, yN)
auf einer Ebene hindurchgeht, unitär be
stimmt und durch eine Gleichung (9) der Lagrange'n
klassischen Formel gegeben.
Bei der Interpolation durch das Polynom des (N-1)-ten
Grades wird ein Wert von y = f(x) für ein gewünschtes x
aus N Meßpunkten unter Verwendung der obigen Glei
chung (9) geschätzt. Um eine bessere Annäherung einer
Interpolationskurve PN-1(x) zu erhalten, ist es wün
schenswert, N Punkte in der Nähe von x auszuwählen.
Diese Polynominterpolation ist ein Verfahren, das
häufig angewendet wird.
Als Nächstes wird die Kubikstreifen-Interpolation be
schrieben.
"Streifen" bedeutet ein einstellbares Lineal (dünner
elastischer Stab), das zum Zeichnen verwendet wird.
Wenn ein Lineal so gebogen wird, daß das Lineal durch
vorbestimmte Punkte auf einer Ebene hindurchgeht,
wird eine glatte Kurve (Streifenkurve), die solche
Punkte miteinander verbinden, erhalten. Diese Strei
fenkurve ist eine Kurve, welche durch die vorbestimm
ten Punkte hindurchgeht, und sie hat den Minimalwert
des Quadratintegrals (proportional zu der Transforma
tionsenergie des Streifens) ihrer Krümmung.
Wenn zwei Punkte (x1, y1) und (x2, y2) auf einer Ebene
gegeben sind, ist eine Streifenkurve, welche durch
diese beiden Punkte hindurchgeht, durch eine Glei
chung (10) gegeben.
y = Ay1 + By2 + Cy1" + Dy3"
A = (x2-x)/(x2-x1)
B = 1-A = (x-x1)/(x2-x1)
C = ((1/6)A3-A) (x2-x1)3
D = (1/6) (B3-B) (x2-x1) (10)
A = (x2-x)/(x2-x1)
B = 1-A = (x-x1)/(x2-x1)
C = ((1/6)A3-A) (x2-x1)3
D = (1/6) (B3-B) (x2-x1) (10)
Hier sind y1" und y2" die zweiten abgeleiteten Werte
der Funktion y = f (x) bei (x1, y1) bzw. (x2, y2).
Bei der Kubikstreifen-Interpolation wird ein Wert
y = f(x) für ein gewünschtes x aus zwei Meßpunkten und
den zweiten abgeleiteten Werten an den Meßpunkten un
ter Verwendung der obigen Gleichung (10) geschätzt.
Um eine bessere Annäherung einer Interpolationskurve
zu erhalten, ist es wünschenswert, zwei Punkte in der
Nähe von x auszuwählen.
Die inverse Interpolation ist ein Verfahren des Ver
mutens, wenn ein Wert einer Funktion yk = f(xk) für ei
nen diskontinuierlichen Wert x1, x2, . . ., xn einer Va
riablen x gegeben ist, eines Wertes von g(y) = x für
ein willkürliches y, das nicht zu den diskontinuier
lichen yk(k = 1, 2, . . ., n) gehört, indem definiert
wird, daß eine inverse Funktion von y = f(x) gleich
x = g(y) ist. Bei der inversen linearen Interpolation
wird die lineare Interpolation verwendet, um einen
Wert von x für y zu vermuten.
Wenn zwei Punkte (x1, y1) und (x2, y2) auf einer Ebene
gegeben sind, ist eine lineare Linie, welche durch
diese beiden Punkte hindurchgeht, durch eine Glei
chung (11) gegeben.
y = {(x-x2)/(x1-x2)}y1 + {(x-x1)/(x2-x1)}y2 (11)
Eine inverse Funktion der obigen Gleichung ist durch
eine Gleichung (12) gegeben, und ein Wert von x für y
kann unitär erhalten werden.
x = {(y-y2)/(y1-y2)}x1 + {(y-y1)/(y2-y1)}x2 (12)
Bei der inversen linearen Interpolation wird, wie in
Fig. 17 gezeigt ist, ein Wert für x = g(yc)für ein ge
wünschtes yc anhand von zwei Meßpunkten (xk, yk) und
(xk+1, yk+1) unter Verwendung der, obigen Gleichung (12)
geschätzt, wodurch ein Zeitpunkt x zum Erhalten eines
vorbestimmten Spannungswertes yc unitär geschätzt
wird. Um einen Schätzfehler zu reduzieren, ist es
wünschenswert, zwei Punkte xk und xk+1 auszuwählen,
zwischen denen x enthalten ist. Diese inverse lineare
Interpolation wird auch häufig angewendet.
Die Wellenform-Begrenzungsvorrichtung entfernt
AM(Amplitudenmodulations)-Komponenten aus einem Ein
gangssignal und behält nur PM(Phasenmodulations)-Komponenten
entsprechend einem Zittern zurück. Eine
Wellenformbegrenzung wird durchgeführt durch Anwen
dung der folgenden Prozesse bei einem analogen Ein
gangssignal oder einem digitalen Eingangssignal: 1)
Multiplizieren des Wertes des Signals mit einer Kon
stanten, 2) Ersetzen eines Signals, das größer als
ein vorbestimmter Schwellenwert 1 ist, durch den
Schwellenwert 1, 3) Ersetzen eines Signals, das klei
ner als ein vorbestimmter Schwellenwert 2 ist, durch
den Schwellenwert 2. Es wird hier angenommen, daß der
Schwellenwert 1 größer als der Schwellenwert 2 ist.
Fig. 18A zeigt ein Beispiel eines Taktsignals mit
AM-Komponenten. Da die Umhüllung der zeitbasierten Wel
lenform dieses Signals schwankt, ist ersichtlich, daß
dieses Signal AM-Komponenten enthält. Fig. 18B zeigt
ein Taktsignal, das durch Begrenzen dieses Taktsi
gnals unter Verwendung der Begrenzungsvorrichtung er
halten wurde. Da die zeitbasierte Wellenform dieses
Signals eine konstante Umhüllung zeigt, ist sicherge
stellt, daß die AM-Komponenten entfernt wurden.
Die Erfindung wird im Folgenden anhand von in den Fi
guren dargestellten Ausführungsbeispielen näher er
läutert. Es zeigen:
Fig. 1 ein Diagramm, das eine Zittermeßvorrichtung
unter Verwendung einer Zeitintervall-Analysevorrichtung
zeigt,
Fig. 2 ein Diagramm, welches ein Beispiel eines Hi
stogramms von durch eine Zeitintervall-Ana
lysevorrichtung gemessenem Periodenzittern
zeigt,
Fig. 3 ein Diagramm, das eine Zittermeßvorrichtung
unter Verwendung eines Interpolationsverfah
rens (Oszilloskop) zeigt,
Fig. 4 ein Blockschaltbild einer
Zittermeß-Funktionsstruktur, welche das in Fig. 3 ge
zeigte Interpolationsverfahren anwendet,
Fig. 5A ist ein Diagramm, das ein Wellenformbeispiel
eines zu messenden oder gemessenen Signals
zeigt,
Fig. 5B ist ein Diagramm, das ein Wellenformbeispiel
von gemessenem Periodenzittern zeigt,
Fig. 6A ist ein Diagramm, das ein gemessenes Ergebnis
des nach dem Zeitintervall-Analyseverfahren
gemessenen Zitterns zeigt,
Fig. 6B ist ein Diagramm, welches ein gemessenes Er
gebnis des nach dem herkömmlichen Interpola
tionsverfahren gemessenen Zitterns zeigt,
Fig. 7A ist ein Diagramm, welches ein Wellenformbei
spiel eines gemessenen Taktsignals zeigt,
Fig. 7B ist ein Diagramm, welches ein Wellenformbei
spiel eines gemessenen, bandbegrenzten Takt
signals zeigt,
Fig. 8 ist ein Diagramm, welches ein Beispiel einer
Momentperioden-Wellenform zeigt,
Fig. 9A ist ein Diagramm, welches ein Histogramm des
Periodenzitterns zeigt, welches nach einem
Zittermeßverfahren gemäß der vorliegenden Er
findung gemessen wurde,
Fig. 9B ist ein Diagramm, das ein Histogramm des Pe
riodenzitterns zeigt, welches durch das Zei
tintervall-Analyseverfahren gemessen wurde,
Fig. 10 ist ein Diagramm, das ein gemessenes Ergebnis
des Zitterns zeigt, welches nach den herkömm
lichen Verfahren gemessen wurde, sowie ein
gemessenes Ergebnis des Zitterns, welches ge
mäß der vorliegenden Erfindung gemessen wur
de,
Fig. 11 ist ein Diagramm, welches ein Beispiel einer
Wellenform von Zyklus-zu-Zyklus-Periodenzittern
zeigt,
Fig. 12 ist ein Diagramm, welches ein Beispiel eines
gemessenen, digitalisierten Signals zeigt,
Fig. 13 ist ein Diagramm, welches ein Beispiel eines
Leistungsspektrums eines gemessenen Signals,
das durch FFT erhalten wurde, zeigt,
Fig. 14 ist ein Diagramm, welches ein Beispiel eines
bandbegrenzten Leistungsspektrums zeigt,
Fig. 15 ist ein Diagramm, welches ein Beispiel eines
gemessenen, bandbegrenzten Signals, das durch
Anwendung der inversen FFT erhalten wurde,
zeigt,
Fig. 16 ist ein Diagramm, welches ein Beispiel einer
Zeitschätzung unter Verwendung des Interpola
tionsverfahrens zeigt,
Fig. 17 ist ein Diagramm, welches ein Beispiel einer
Zeitschätzung unter Verwendung einer inversen
linearen Interpolation zeigt,
Fig. 18A ist ein Diagramm, welches ein Beispiel eines
gemessenen Taktsignals, das AM-Komponenten
enthält, zeigt,
Fig. 18B ist ein Diagramm, welches ein Beispiel eines
gemessenen Taktsignals, das keine
AM-Komponenten enthält, zeigt,
Fig. 19 ein Diagramm, welches ein Beispiel einer
funktionellen Konfiguration einer Zittermeß
vorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung
zeigt,
Fig. 20 ist ein Flußdiagramm, welches ein Beispiel
eines Zittermeßverfahrens gemäß der vorlie
genden Erfindung zeigt,
Fig. 21 ist ein Diagramm, welches ein Beispiel einer
Konfiguration einer Nulldurchgangszeit-Schätz
vorrichtung zeigt, die in der Zitter
meßvorrichtung gemäß det vorliegenden Erfin
dung verwendet wird,
Fig. 22 ist ein Flußdiagramm, welches ein Beispiel
eines Nulldurchgangszeit-Schätzverfahrens
zeigt, das bei dem Zittermeßverfahren gemäß
der vorliegenden Erfindung angewendet wird,
Fig. 23 ist ein Diagramm, welches ein Beispiel einer
Konfiguration einer Bandpaß-Filtervorrichtung
zeigt, die in der Zittermeßvorrichtung gemäß
der vorliegenden Erfindung verwendet wird,
Fig. 24 ist ein Flußdiagramm, welches ein Beispiel
eines Bandpaß-Filterverfahrens zeigt, das in
der Zittermeßvorrichtung gemäß der vorliegen
den Erfindung angewendet wird,
Fig. 25 ist ein Diagramm, welches ein anderes Bei
spiel der Konfiguration der Bandpaß-Filtervorrichtung
zeigt, die in der Zitter
meßvorrichtung gemäß der vorliegenden
Erfindung verwendet wird,
Fig. 26 ist ein Flußdiagramm, welches ein anderes
Beispiel des Bandpaß-Filterverfahrens zeigt,
das bei dem Zittermeßverfahren gemäß der vor
liegenden Erfindung angewendet wird,
Fig. 27 ist ein Diagramm, welches ein anderes Bei
spiel der funktionellen Konfiguration der
Zittermeßvorrichtung gemäß der vorliegenden
Erfindung zeigt,
Fig. 28 ist ein Flußdiagramm, welches ein anderes
Beispiel des Zittermeßverfahrens gemäß der
vorliegenden Erfindung zeigt, und
Fig. 29 ein Beispiel der Prüfvorrichtung 1900 gemäß
der vorliegenden Erfindung.
Fig. 19 zeigt das Ausführungsbeispiel der vorliegen
den Erfindung. Bei dieser Zittermeßvorrichtung 100
wird ein zu messendes analoges Signal in einen
A/D-Wandler 101 eingegeben, durch welchen das zu messende
Signal in ein digitalisiertes Digitalsignal umgewan
delt wird. Das zu messende digitalisierte Signal wird
in ein Bandpaßfilter 102 eingegeben, durch welches
Erequenzkomponenten um die Grundfrequenz herum selek
tiv hindurch gelassen werden. Das durch das Bandpaß
filter 102 hindurchgegangene Signal wird zu einer
Nulldurchgangszeit-Schätzvorrichtung 103 geliefert,
in welcher bei diesem Beispiel eine Nulldurchgangs
zeit des Signals geschätzt wird. Die geschätzte Null
durchgangszeit wird zu einer Periodenschätzvorrich
tung 104 geliefert, in welcher Momentperioden-Wel
lenformdaten anhand der Zeit erhalten werden. Die
Momentperioden-Wellenformdaten werden zu einer Zy
klus-zu-Zyklus-Peridenzittern-Schätzvorrichtung 105
geliefert, in welcher eine Differenzwellenform der
Perioden berechnet und Zyklus-zu-Zyklus-Wel
lenformzitter-Wellenformdaten ausgegeben werden.
Ein Ausgangssignal von der Periodenschätzvorrichtung
104 oder ein Ausgangssignal von der Zyklus-zu-Zyklus-Pe
rioden-Zitterschätzvorrichtung 105 wird durch einen
Schalter 106 ausgewählt, und das ausgewählte Signal
wird zu einem Zitterdetektor 107 geliefert. In dem
Zitterdetektor 107 wird ein Zittern des gemessenen
Signals aus den Momentperioden-Wellenformdaten oder
den Zyklus-zu-Zyklus-Periodenzittern-Wellenformdaten
erhalten. Es ist ein Fall gezeigt, bei welchem der
Zitterdetektor 107 einen Spitze-zu-Spitze-Detektor
108 für die Gewinnung einer Differenz zwischen dem
Maximalwert und dem Minimalwert der Momentperioden-Wel
lenformdaten oder der Zyklus-zu-Zyklus-Pe
riodenzittern-Wellenformdaten, einen
RMS(Effektivwert)-Detektor 109 zum Berechnen einer
Varianz der Momentperioden-Wellenformdaten oder der
Zyklus-zu-Zyklus-Periodenzittern-Wellenformdaten, um
deren Standardabweichung (RMS-Wert) zu erhalten, und
eine Histogrammschätzvorrichtung 110 für die Gewin
nung eines Histogramms der Momentperioden-Wel
lenformdaten oder der Zyklus-zu-Zyklus-Pe
riodenzittern-Wellenformdaten aufweist. Der Zitter
detektor 107 kann eine oder mehrere solcher Komponen
ten enthalten. Das Bandpaßfilter 102 kann ein digita
les Filter oder ein Bandpaßfilter, das durch eine
Software unter Verwendung der FFT oder dergleichen
gebildet ist, sein.
Als Nächstes wird die Operation für den Fall der
Durchführung einer Zittermessung eines zu messenden
Signals unter Verwendung der Zittermeßvorrichtung 100
gemäß der vorliegenden Erfindung beschrieben. Fig. 20
zeigt einen Verarbeitungsvorgang des Zittermeßverfah
rens gemäß der vorliegenden Erfindung. Zuerst wird im
Schritt 201 ein zu messendes Analogsignal, dessen
Zittern zu messen ist, durch den A/D-Wandler 101 ab
getastet (digitalisiert), und das zu messende Ana
logsignal wird in ein Digitalsignal umgewandelt. Als
Nächstes werden im Schritt 202 die Grundfrequenzkom
ponente und deren benachbarte Komponenten des gemes
senen digitalisierten Signals selektiv durch das
Bandpaßfilter 102 hindurch gelassen, so daß eine
Bandbegrenzung zum Entfernen der harmonischen Kompo
nenten aus dem gemessenen Signal durchgeführt wird.
Als Nächstes wird im Schritt 203 eine Nulldurchgangs
zeit des Signals, welches durch das Bandpaßfilter 102
hindurchgegangen ist, mittels der Nulldurchgangszeit-Schätz
vorrichtung 103 geschätzt.
Als Nächstes wird im Schritt 204 eine Differenz
(Zeitdifferenz) zwischen zwei Nulldurchgangszeiten,
die von der Nulldurchgangszeit-Schätzvorrichtung 103
geschätzt wurden, berechnet, um eine Momentperioden-Wel
lenform des gemessenen Signals zu erhalten. Als
Nächstes wird im Schritt 205 ein Periodenzittern des
gemessenen Signals durch den Zitterdetektor 107 er
halten anhand der Momentperioden-Wellenformdaten in
dem Zustand des Verbindens des Schalters 106 zu der
Seite der Periodenschätzvorrichtung 104. Als Nächstes
wird im Schritt 206 eine Differenzwellenform für jede
Grundperiode der Momentperioden-Wellenformdaten, die
von der Periodenschätzvorrichtung 104 erhalten wur
den, durch die Zyklus-zu-Zyklus-Periodenzittern-Schätz
vorrichtung 105 berechnet, um Zyklus-zu-Zyklus-Pe
riodenzittern-Wellenformdaten zu erhalten. Schließ
lich wird im Schritt 207 ein Zyklus-zu-Zyklus-Pe
riodenzittern durch den Zitterdetektor 107 erhalten
anhand der Zyklus-zu-Zyklus-Periodenzittern-Wellenformdaten
in dem Zustand der Verbindung des
Schalters 106 zu der Seite der Zyklus-zu-Zyklus-Pe
riodenzittern-Schätzvorrichtung 105. Dann ist der
Prozeß beendet.
D. h., die Momentperioden-Wellenformdaten von der Pe
riodenschätzvorrichtung 104 können über die
Zyklus-zu-Zyklus-Periodenzittern-Schätzvorrichtung 105 zu
dem Zitterdetektor 107 geliefert werden. Zusätzlich
kann der Schalter 106 weggelassen werden, um die Pe
riodenschätzvorrichtung 104 direkt mit dem Zitterde
tektor 107 zu verbinden. In diesem Fall wird die
Zyklus-zu-Zyklus-Periodenzittern-Schätzvorrichtung 105
weggelassen. Alternativ kann der Schalter 106 wegge
lassen werden, um die Zyklus-zu-Zyklus-Pe
riodenzittern-Schätzvorrichtung 105 direkt mit dem
Zitterdetektor 107 zu verbinden. In dem Schritt 205
zur Gewinnung eines Periodenzittern des gemessenen
Signals erhält der Spitze-zu-Spitze-Detektor 108 ei
nen Spitze-zu-Spitze-Wert des Periodenzitterns unter
Verwendung der Gleichung (3), der RMS-Detektor 109
erhält einen RMS-Wert des Periodenzitterns unter Ver
wendung der Gleichung (2), und die Histogrammschätz
vorrichtung 110 erhält ein Histogramm aus den Moment
perioden-Wellenformdaten. Ein RMS-Periodenzittern
kann aus dem Histogramm erhalten werden. Zusätzlich
erhält in dem Schritt 207 zur Gewinnung eines
Zyklus-zu-Zyklus-Periodenzitterns des gemessenen Signals der
Spitze-zu-Spitze-Detektor 108 einen Spitze-zu-Spitze-Wert
des Zyklus-zu-Zyklus-Zitterns unter Verwendung
der Gleichung (6), der RMS-Detektor 109 erhält einen
RMS-Wert des Zyklus-zu-Zyklus-Periodenzitterns unter
Verwendung der Gleichung (5), und die Histogramm
schätzvorrichtung 110 erhält ein Histogramm aus den
Zyklus-zu-Zyklus-Periodenzittern-Wellenformdaten. Ein
RMS-Wert des Zyklus-zu-Zyklus-Periodenzitterns kann
aus dem Histogramm erhalten werden.
In dem Schritt 203 zum Schätzen der Nulldurchgangs
zeit kann die Polynominterpolation unter Verwendung
der Gleichung (9), die Kubikstreifen-Interpolation
unter Verwendung der Gleichung (10) oder dergleichen
angewendet werden. Durch Interpolieren von Wellen
formdaten um einen Nulldurchgang herum kann eine Zeit
genauer geschätzt werden, oder eine Zeit kann auch
unter Verwendung der in Gleichung (12) gezeigten in
versen linearen Interpolation genauer geschätzt wer
den. D. h. die Nulldurchgangszeit-Schätzvorrichtung
103 kann wie in Fig. 21 gezeigt ausgebildet sein, um
eine Nulldurchgangszeit unter Anwendung der in Fig.
22 gezeigten Verarbeitungsprozedur zu schätzen, oder
eine Nulldurchgangszeit kann anhand von zwei Wellen
formdaten um einen Nulldurchgang herum durch die in
verse lineare Interpolation gemäß Gleichung (12) ge
schätzt werden. D. h. die in Fig. 19 gezeigte Null
durchgangszeit-Schätzvorrichtung 103 kann eine
Schätzvorrichtung zum Schätzen einer Nulldurchgangs
zeit mittels der inversen linearen Interpolation von
Wellenformdaten um einen Nulldurchgang der Wellen
formdaten des bandbegrenzten Signals herum sein.
Die in Fig. 21 gezeigte Nulldurchgangszeit-Schätz
vorrichtung 300 umfaßt eine Wellenformdaten-In
terpolationsvorrichtung 301 zum Interpolieren von
Wellenformdaten um einen Nulldurchgang eines Signals
herum, das durch das Bandpaßfilter 102 hindurchgegan
gen ist, einen Nulldurchgangsdetektor 302 zum Spezi
fizieren von Wellenformdaten, welche von den Wellen
formdaten des dateninterpolierten Signals dem Null
durchgang am nächsten sind, und eine Zeitschätzvor
richtung 303 zum Schätzen eines Zeitpunktes der
spezifizierten Daten. Die Wellenformdaten-In
terpolationsvorrichtung 301 kann Wellenformdaten
unter Anwendung der Polynominterpolation, der Ku
bikstreifen-Interpolation oder eines anderen Interpo
lationsverfahrens schätzen.
Als Nächstes wird die Operation in dem Fall des
Schätzens einer Nulldurchgangszeit eines gemessenen
Signals unter Verwendung der Nulldurchgangszeit-Schätz
vorrichtung 300 mit Bezug auf Fig. 22 beschrie
ben. Zuerst werden im Schritt 401 Wellenformdaten um
einen Nulldurchgang herum durch die Wellenformdaten-In
terpolationsvorrichtung 301 in ausreichender Ein
zelheit durch das Interpolationsverfahren unter Ver
wendung von gemessenen Daten, die nahe dem Nulldurch
gang des gemessenen Signals sind, geschätzt. Als
Nächstes werden im Schritt 402 Wellenformdaten, wel
che von den geschätzten Wellenformdaten einem Null
durchgangspegel am nächsten sind, durch den Null
durchgangsdetektor 302 spezifiziert. Schließlich wird
im Schritt 403 ein Zeitpunkt auf einer Zeitachse der
spezifizierten Wellenformdaten durch die Zeitschätz
vorrichtung 303 erhalten; und der Prozeß ist beendet.
Fig. 23 zeigt ein Konfigurationsbeispiel des in der
Zittermeßvorrichtung 100 verwendeten Bandpaßfilters
102. Dieses Bandpaßfilter 500 umfaßt eine Zeitdomä
ne/Frequenzdomäne-Transformationsvorrichtung 501 zum
Transformieren eines gemessenen Signals in ein Signal
in der Frequenzdomäne, eine Bandbreiten-Be
grenzungsvorrichtung 502 zum Herausnehmen nur der
Komponenten um eine Grundfrequenz des gemessenen Si
gnals aus einem Ausgangssignal der Zeitdomä
ne/Frequenzdomäne-Transformationsvorrichtung 501, ei
ne Frequenzdomäne/Zeitdomäne-
Transformationsvorrichtung 503 für die inverse Trans
formation eines Ausgangssignals der Bandbreiten-Be
grenzungsvorrichtung 502 in ein Signal in der Zeit
domäne. Die Zeitdomäne/Frequenzdomäne-
Transformationsvorrichtung 501 und die Frequenzdomä
ne/Zeitdomäne-Transformationsvorrichtung 503 können
so ausgebildet sein, daß sie die FFT bzw. die inverse
FFT anwenden.
Die Operation in dem Fall der Durchführung einer
Bandbreitenbegrenzung eines gemessenen Signals unter
Verwendung des Bandpaßfilters 500 wird mit Bezug auf
Fig. 24 beschrieben. Zuerst wird im Schritt 601 eine
FFT bei dem gemessenen Signal mittels der Zeitdomä
ne/Frequenzdomäne-Transformationsvorrichtung 501 an
gewendet, um das Signal in der Zeitdomäne in ein Si
gnal in der Frequenzdomäne zu transformieren. Als
Nächstes werden im Schritt 602 bezüglich des trans
formierten Signals in der Frequenzdomäne nur Kompo
nenten um eine Grundfrequenz des gemessenen Signals
herum zurückbehalten, und die anderen Frequenzkompo
nenten werden durch Null ersetzt, wodurch das Signal
in der Frequenzdomäne bandbegrenzt wird. Schließlich
wird im Schritt 603 mittels der Frequenzdomä
ne/Zeitdomäne-Transformationsvorrichtung 503 eine in
verse FFT bei dem bandbegrenzten Signal in der Fre
quenzdomäne angewendet, um das Signal in der Fre
quenzdomäne in das Signal der Zeitdomäne zu transfor
mieren; und der Prozeß ist beendet.
Fig. 25 zeigt ein anderes Konfigurationsbeispiel des
in der Zittermeßvorrichtung 100 verwendeten Bandpaß
filters 102. Diese wird verwendet, wenn ein gemesse
nes Signal lang ist. Dieses Bandpaßfilter 700 umfaßt
einen Pufferspeicher 701 zum Speichern eines gemesse
nen Signals, eine Datenauswahlvorrichtung 702 zum
Herausnehmen des Signals in einer Aufeinanderfolge
aus dem Pufferspeicher 701 in der Weise, daß das
herausgenommene Signal teilweise mit einem Signal überlappt
wird, das gerade vorher herausgenommen wurde,
eine Fensterfunktions-Multiplikationsvorrichtung 703
zum Multiplizieren jedes herausgenommenen Teilsignals
mit einer Fensterfunktion, eine Zeitdomä
ne/Frequenzdomäne-Transformationsvorrichtung 704 zum
Transformieren jedes multiplizierten Teilsignals in
ein Signal in der Frequenzdomäne, eine Bandbreiten-Be
grenzungsvorrichtung 705 zum Herausnehmen nur der
Komponenten um eine Grundfrequenz des gemessenen Si
gnals herum, eine Frequenzdomäne/Zeitdomäne-
Transformationsvorrichtung 706 für eine inverse
Transformation eines Ausgangssignals der Bandbreiten-Be
grenzungsvorrichtung 705 in ein Signal in der Zeit
domäne, und eine Amplitudenkorrekturvorrichtung 707
zum Multiplizieren des transformierten Signals in der
Zeitdomäne mit einer inversen Zahl der Fensterfunkti
on und zum Herausnehmen seines mittleren Bereichs auf
der Zeitachse in der Weise, daß der mittlere Bereich
kontinuierlich mit dem vorher verarbeiteten Signal
ist, um ein bandbegrenztes Signal zu erhalten. Die
Zeitdomäne/Frequenzdomäne-Transformationsvorrichtung
704 und die Frequenzdomäne/Zeitdomäne-
Transformationsvorrichtung 706 können so ausgebildet
sein, daß sie die FFT bzw. die inverse FFT anwenden.
Die Operation in dem Fall der Durchführung einer
Bandbreitenbegrenzung eines gemessenen Signals unter
Verwendung des Bandpaßfilters 700 wird mit Bezug auf
Fig. 26 beschrieben. Zuerst wird im Schritt 801 das
gemessene Signal in dem Pufferspeicher 701 gespei
chert. Als Nächstes wird im Schritt 802 ein Teil des
gespeicherten Signals durch die Datenauswahlvorrich
tung 702 aus dem Pufferspeicher 701 herausgenommen.
Dann wird im Schritt 803 das herausgenommene Teilsi
gnal mit einer Fensterfunktion mittels der Fenster
funktions-Multiplikationsvorrichtung 703 multipli
ziert. Als Nächstes wird im Schritt 804 mit der Zeit
domäne/Frequenzdomäne-Transformationsvorrichtung 704
die FFT bei dem Teilsignals, das mit der Fensterfunk
tion multipliziert wurde, angewendet, um das Signal
in der Zeitdomäne in ein Signal in der Frequenzdomäne
zu transformieren. Als Nächsten werden im Schritt 805
bezüglich des transformierten Signals in der Fre
quenzdomäne nur Komponenten um eine Grundfrequenz des
gemessenen Signals herum zurückbehalten und die ande
ren Frequenzkomponenten werden durch Null ersetzt,
wodurch das Signal in der Frequenzdomäne bandbegrenzt
wird. Als Nächstes wird im Schritt 806 durch die Fre
quenzdomäne/Zeitdomäne-Transformationsvorrichtung 706
die inverse FFT bei dem bandbegrenzten Signal in der
Frequenzdomäne angewendet, um das Signal in der Fre
quenzdomäne in ein Signal in der Zeitdomäne zu trans
formieren. Als Nächstes wird im Schritt 807 das in
verse transformierte Signal in der Zeitdomäne mittels
der Amplitudenkorrekturvorrichtung 707 mit einer in
versen Zahl der Fensterfunktion, welche für die Mul
tiplikation im Schritt 803 verwendet wurde, multipli
ziert, und ein mittlerer Bereich des Multiplikati
onsergebnisses auf der Zeitachse wird in der Weise
herausgenommen, daß der mittlere Bereich kontinuier
lich mit dem vorher verarbeiteten Signal ist, um ein
bandbegrenztes Signal zu erhalten. Schließlich wird
im Schritt 808 geprüft, ob irgendwelche nicht verar
beiteten Daten in dem Pufferspeicher vorhanden sind.
Wenn irgendwelche nicht verarbeiteten Daten vorhanden
sind, wird im Schritt 809 das Signal durch die Daten
auswahlvorrichtung 702 in Aufeinanderfolge aus dem
Pufferspeicher 701 in der Weise herausgenommen, daß
das herausgenommene Signal teilweise mit einem gemes
senen Signal, das gerade vorher herausgenommen wurde,
überlappt wird, und danach werden die Schritte 803,
804, 805, 806, 807 und 808 wiederholt. Wenn im
Schritt 808 keine nicht verarbeiteten Daten vorhanden
sind, wird der Prozeß beendet.
Fig. 27 zeigt ein anderes Ausführungsbeispiel der
Zittermeßvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfin
dung. Die Teile in Fig. 27, die solchen in Fig. 19
entsprechen, haben dieselben Bezugszahlen wie dieje
nigen Fig. 19. Diese Zittermeßvorrichtung 900 ist
dieselbe wie die in Fig. 19 gezeigte Zittermeßvor
richtung mit der Ausnahme, daß eine Wellenform-Be
grenzungsvorrichtung 901 zur Entfernung von
AM-Komponenten aus einem Signal zwischen den A/D-Wandler
101 und das Bandpaßfilter 102 eingefügt ist. Die Er
läuterung der überlappenden Bereiche wird weggelas
sen.
Die Operation in dem Fall der Durchführung einer Zit
termessung unter Verwendung der in Fig. 27 gezeigten
Zittermeßvorrichtung 900 wird mit Bezug auf Fig. 28
beschrieben. Das Zittermeßverfahren in diesem Fall
ist dasselbe wie das in Fig. 20 gezeigte Zittermeß
verfahren mit der Ausnahme, daß ein Schritt 1001 zum
Umwandeln eines gemessenen Analogsignals, dessen Zit
tern zu messen ist, in ein Digitalsignal unter Ver
wendung des A/D-Wandlers 101, und zum nachfolgenden
entfernen von AM-Komponenten aus dem gemessenen Si
gnal unter Verwendung einer Wellenform-Be
grenzungsvorrichtung 901 enthalten ist. Die Erläu
terung der überlappenden Bereich wird weggelassen.
Bei der Zittermeßvorrichtung und dem Zittermeßverfah
ren gemäß der vorliegenden Erfindung wird, wie durch
eine strichlierte Linie in Fig. 19 gezeigt ist, ein
zu messendes Analogsignal durch ein Bandpaßfilter 112
bandbegrenzt, und danach wird das bandbegrenzte Si
gnal zu dem A/D-Wandler 101 geliefert, so daß der
Bandpaßfilter 102 weggelassen werden kann. In diesem
Fall wird das Bandpaßfilter durch ein Analogfilter
gebildet.
Wie vorstehend beschrieben ist, kann mit der Zitter
meßvorrichtung und dem Zittermeßverfahren gemäß der
vorliegenden Erfindung, da eine Nulldurchgangszeit
aus bandbegrenzten Signal erhalten wird, ein Peri
odenzittern mit hoher Genauigkeit erhalten werden.
Insbesondere kann in dem Fall der Interpolation von
Daten um den Nulldurchgang des bandbegrenzten Signals
herum eine korrekte Interpolation durchgeführt wer
den, und ein Nulldurchgangszeit kann mit viel größe
rer Genauigkeit erhalten werden. Daher kann ein Peri
odenzittern mit hoher Genauigkeit erhalten werden.
Folglich kann, da ein Zitterwert, der mit dem Zeitin
tervall-Analyseverfahren kompatibel ist, geschätzt
werden kann, die Genauigkeit einer Zittermessung
durch ein herkömmliches Interpolationsverfahren (das
in einem Oszilloskop vorgesehen ist) beträchtlich
verbessert werden.
Fig. 29 zeigt ein Beispiel der Prüfvorrichtung 1900
nach der vorliegenden Erfindung. Die Prüfvorrichtung
beurteilt die Qualität der elektronischen Vorrichtung
1930 auf der Grundlage des Ausgangssignals der elek
tronischen Vorrichtung 1930. Die Prüfvorrichtung 1900
umfaßt einen Mustergenerator 1910, eine Wellenform-
Formungseinheit 1920, eine Zittermeßvorrichtung 1100
und eine Beurteilungseinheit 1940.
Der Mustergenerator 1910 erzeugt Prüfmuster, um die
elektronische Vorrichtung 1930 zu prüfen. Der Muster
generator 1910 erzeugt die Prüfmuster beispielsweise
auf der Grundlage eines Prüfprogramms, das von einem
Benutzer erstellt wurde, und liefert die Prüfmuster
zu dem Wellenform-Formungseinheit 1920.
Die Wellenform-Formungseinheit 1920 formt die empfan
genen Prüfmuster und liefert die Prüfmuster zu der
elektronischen Vorrichtung 1930. Beispielsweise lie
fert die Wellenform-Formungseinheit 1920 die Prüfmu
ster zu der elektronischen Vorrichtung 1930 zu einem
gewünschten Zeitpunkt, in dem die auf einem von dem
Benutzer erstellten Prüfprogramm basierenden Prüfmu
ster verzögert werden.
Die Zittermeßvorrichtung 100 mißt das Zittern des
Ausgangssignals, das die elektronische Vorrichtung
1930 auf der Grundlage der Prüfmuster ausgibt. Die
Zittermeßvorrichtung 100 kann das interne Taktsignal
der elektronischen Vorrichtung 1930 als das Ausgangs
signal empfangen und mißt das Zittern des internen
Signals.
Die Beurteilungseinheit 1940 beurteilt die Qualität
der elektronischen Vorrichtung 1930 auf der Grundlage
des von der Zittermeßvorrichtung 100 gemessenen Zit
terns des Ausgangssignals. Beispielsweise stellt die
Beurteilungseinheit 1940 fest, daß die elektronische
Vorrichtung 1930 gut ist in dem Fall, daß das gemes
sene Zittern innerhalb eines vorbestimmten Bereiches
ist.
Claims (43)
1. Zittermeßvorrichtung zum Messen des Zitterns ei
nes gemessenen Signals,
gekennzeichnet durch
ein Bandpaßfilter, welches das gemessene Signal empfängt und gewünschte Frequenzkomponenten des gemessenen Signals als ein bandbegrenztes Signal des gemessenen Signals ausgibt,
eine Zeitschätzvorrichtung, welche das bandbe grenzte Signal empfängt und eine Durchgangszeit bei einem vorbestimmten Wert berechnet, welches eine Zeit ist, bei der das gemessene Signal ei nen Vorbestimmten Signalwert zeigt, basierend auf dem bandbegrenzten Signal,
eine Periodenschätzvorrichtung, welche eine Pe riode des gemessenen Signals auf der Grundlage der Durchgangszeit bei dem vorbestimmten Wert schätzt, und
einen Zitterdetektor, welcher das Zittern des gemessenen Signals auf der Grundlage der durch die Periodenschätzvorrichtung berechneten Peri ode des gemessenen Signals berechnet.
ein Bandpaßfilter, welches das gemessene Signal empfängt und gewünschte Frequenzkomponenten des gemessenen Signals als ein bandbegrenztes Signal des gemessenen Signals ausgibt,
eine Zeitschätzvorrichtung, welche das bandbe grenzte Signal empfängt und eine Durchgangszeit bei einem vorbestimmten Wert berechnet, welches eine Zeit ist, bei der das gemessene Signal ei nen Vorbestimmten Signalwert zeigt, basierend auf dem bandbegrenzten Signal,
eine Periodenschätzvorrichtung, welche eine Pe riode des gemessenen Signals auf der Grundlage der Durchgangszeit bei dem vorbestimmten Wert schätzt, und
einen Zitterdetektor, welcher das Zittern des gemessenen Signals auf der Grundlage der durch die Periodenschätzvorrichtung berechneten Peri ode des gemessenen Signals berechnet.
2. Zittermeßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die Periodenschätzvorrich
tung die Periode des gemessenen Signals für jede
Periode des gemessenen Signals berechnet.
3. Zittermeßvorrichtung nach Anspruch 2, gekenn
zeichnet durch eine Zyklus-zu-Zyklus-Pe
riodenzittern-Schätzvorrichtung, welche eine
Differenz zwischen einer vorbestimmten Periode
des gemessenen Signals uns einer vorhergehenden
Periode der vorbestimmten Periode des gemessenen
Signals berechnet auf der Grundlage der von der
Periodenschätzvorrichtung berechneten Periode
des gemessenen Signals, und welche die Differenz
zu dem Zitterdetektor liefert,
worin der Zitterdetektor das Zittern des gemes
senen Signals auf der Grundlage der von der
Zyklus-zu-Zyklus-Periodenzittern-Schätzvorrichtung
berechneten Differenz berechnet.
4. Zittermeßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die Zeitschätzvorrichtung
eine Nulldurchgangszeit, welche die Zeit ist,
bei der das gemessene Signal im Wesentlichen den
Wert Null zeigt, als die Durchgangszeit bei ei
nem vorbestimmten Wert berechnet.
5. Zittermeßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß das Bandpaßfilter Frequenz
komponenten eines vorbestimmten Frequenzbandes,
das die Grundfrequenz eines gemessenen Signals
enthält, als das bandbegrenzte Signal des gemes
senen Signals ausgibt.
6. Zittermeßvorrichtung nach Anspruch 5, dadurch
gekennzeichnet, daß das Bandpaßfilter Frequenz
komponenten, die im Wesentlichen gleich der
Grundfrequenz des gemessenen Signals sind, als
das bandbegrenzte Signal des gemessenen Signals
ausgibt.
7. Zittermeßvorrichtung nach Anspruch 1, gekenn
zeichnet durch einen Analog/Digital-Wandler,
welcher das gemessene Signal empfängt und das
empfangene gemessene Signal in ein digitales Si
gnal umwandelt und das digitale Signal zu dem
Bandpaßfilter liefert.
8. Zittermeßvorrichtung nach Anspruch 1, gekenn
zeichnet durch einen Analog/Digital-Wandler,
welcher das bandbegrenzte Signal empfängt und
das empfangene bandbegrenzte Signal in ein digi
tales Signal umwandelt und das digitale Signal
zu der Zeitschätzvorrichtung liefert.
9. Zittermeßvorrichtung nach Anspruch 7, gekenn
zeichnet durch
eine Wellenformdaten-Interpolationsvorrichtung, welche das digitalisierte bandbegrenzte Signal empfängt und Daten der Nachbarschaft des vorbe stimmten Signalwertes des digitalisierten band begrenzten Signals interpoliert,
einen Wertdetektor, welcher das interpolierte digitalisierte bandbegrenzte Signal empfängt und Daten aus dem bandbegrenzten Signal erfaßt, de ren Signalwert dem vorbestimmten Signalwert am nächsten ist, und
eine Schätzeinheit, welche die Zeit der von dem Wertdetektor erfaßten Daten als die Durchgangs zeit bei einem vorbestimmten Wert berechnet.
eine Wellenformdaten-Interpolationsvorrichtung, welche das digitalisierte bandbegrenzte Signal empfängt und Daten der Nachbarschaft des vorbe stimmten Signalwertes des digitalisierten band begrenzten Signals interpoliert,
einen Wertdetektor, welcher das interpolierte digitalisierte bandbegrenzte Signal empfängt und Daten aus dem bandbegrenzten Signal erfaßt, de ren Signalwert dem vorbestimmten Signalwert am nächsten ist, und
eine Schätzeinheit, welche die Zeit der von dem Wertdetektor erfaßten Daten als die Durchgangs zeit bei einem vorbestimmten Wert berechnet.
10. Zittermeßvorrichtung nach Anspruch 9, dadurch
gekennzeichnet, daß die Wellenformdaten-In
terpolationsvorrichtung Daten zwischen einer
Zeit, bei der der Signalwert des bandbegrenzten
Signals kleiner ist als der vorbestimmte Signal
wert und dem vorbestimmten Wert am nächsten ist,
und einer Zeit, bei der der Signalwert des band
begrenzten Signals größer als der vorbestimmte
Signalwert und dem vorbestimmten Wert am näch
sten ist, interpoliert.
11. Zittermeßvorrichtung nach Anspruch 9, dadurch
gekennzeichnet, daß die Wellenformdaten-In
terpolationsvorrichtung die Daten zu dem band
begrenzten Signal durch Polynominterpolation in
terpoliert.
12. Zittermeßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß das Bandpaßfilter enthält:
eine Frequenzdomänen-Transformationsvorrichtung, welche das gemessene Signal in ein Signal in der Frequenzdomäne transformiert,
eine Bandbreiten-Begrenzungsvorrichtung, welche gewünschte Frequenzkomponenten aus dem Signal in der Frequenzdomäne herausnimmt, und
eine Zeitdomänen-Transformationsvorrichtung, welche die herausgenommenen gewünschten Fre quenzkomponenten in ein Signal in der Zeitdomäne transformiert.
eine Frequenzdomänen-Transformationsvorrichtung, welche das gemessene Signal in ein Signal in der Frequenzdomäne transformiert,
eine Bandbreiten-Begrenzungsvorrichtung, welche gewünschte Frequenzkomponenten aus dem Signal in der Frequenzdomäne herausnimmt, und
eine Zeitdomänen-Transformationsvorrichtung, welche die herausgenommenen gewünschten Fre quenzkomponenten in ein Signal in der Zeitdomäne transformiert.
13. Zittermeßvorrichtung nach Anspruch 12, dadurch
gekennzeichnet, daß das Bandpaßfilter weiter
enthält:
einen Speicher, welcher das gemessene Signal speichert,
eine Datenauswahlvorrichtung, welche aufeinan derfolgend in dem Speicher gespeicherte Daten herausnimmt,
eine Fensterfunktions- Multiplikationsvorrichtung, welche die herausge nommenen Daten mit einer Fensterfunktion multi pliziert und die multiplizierten Daten als das gemessene Signal zu der Frequenzdomänen- Transformationsvorrichtung liefert, und
eine Amplitudenkorrektureinheit, welche das Si gnal in der Zeitdomäne mit einer inversen Zahl der Fensterfunktion multipliziert.
einen Speicher, welcher das gemessene Signal speichert,
eine Datenauswahlvorrichtung, welche aufeinan derfolgend in dem Speicher gespeicherte Daten herausnimmt,
eine Fensterfunktions- Multiplikationsvorrichtung, welche die herausge nommenen Daten mit einer Fensterfunktion multi pliziert und die multiplizierten Daten als das gemessene Signal zu der Frequenzdomänen- Transformationsvorrichtung liefert, und
eine Amplitudenkorrektureinheit, welche das Si gnal in der Zeitdomäne mit einer inversen Zahl der Fensterfunktion multipliziert.
14. Zittermeßvorrichtung nach Anspruch 1, gekenn
zeichnet durch eine Wellenform-Be
grenzungsvorrichtung, welche Komponenten aus
dem gemessenen Signal entfernt, deren Signalwert
größer ist als ein erster Signalwert, sowie Kom
ponenten, deren Signalwert kleiner ist als ein
zweiter Signalwert.
15. Zittermeßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die Zeitschätzvorrichtung
die Durchgangszeit bei einem vorbestimmten Wert
durch inverse lineare Interpolation schätzt.
16. Zittermeßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß der Zitterdetektor einen
Spitzendetektor enthält, welcher einen Spitzen
wert des Zitterns des gemessenen Signals berech
net auf der Grundlage eines Maximal- und eines
Minimalwertes der Periode des gemessenen Si
gnals, die von der Periodenschätzvorrichtung be
rechnet wurde.
17. Zittermeßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß der Zitterdetektor eine Ef
fektivwert-Berechnungsvorrichtung enthält, wel
che einen Effektivwert des Zitterns des gemesse
nen Signals berechnet auf der Grundlage der von
der Periodenschätzvorrichtung berechneten Peri
ode des gemessenen Signals.
18. Zittermeßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß der Zitterdetektor eine Hi
stogrammschätzvorrichtung enthält, welche ein
Histogramm des Zitterns des gemessenen Signals
erzeugt auf der Grundlage der von der Perioden
schätzvorrichtung berechneten Periode des gemes
senen Signals.
19. Zittermeßvorrichtung nach Anspruch 1, gekenn
zeichnet durch eine Zyklus-zu-Zyklus-Pe
riodenzitter-Schätzvorrichtung, welche eine
Differenz zwischen einer vorbestimmten Periode
des gemessenen Signals und der vorhergehenden
Periode der vorbestimmten Periode des gemessenen
Signals berechnet auf der Grundlage der Periode
des gemessenen Signals, die von der Perioden
schätzvorrichtung berechnet wurde, und welche
die Differenz zu dem Zitterdetektor liefert,
worin der Zitterdetektor einen Spitze-zu-Spitze-Detektor
enthält, welcher einen Spitzenwert ei
nes Zyklus-zu-Zyklus-Periodenzitterns des gemes
senen Signals berechnet auf der Grundlage eines
Minimal- und eines Maximalwertes der durch die
Zyklus-zu-Zyklus-Periodenzitter-Schätz
vorrichtung berechneten Differenz.
20. Zittermeßvorrichtung nach Anspruch 1, gekenn
zeichnet durch eine Zyklus-zu-Zyklus-Pe
riodenzitter-Schätzvorrichtung, welche eine
Differenz zwischen einer vorbestimmten Periode
des gemessenen Signals und der vorhergehenden
Periode der vorbestimmten Periode des gemessenen
Signals berechnet auf der Grundlage der durch
die Periodenschätzvorrichtung berechneten
Periode des gemessenen Signals, und welche die Dif
ferenz zu dem Zitterdetektor liefert,
worin der Zitterdetektor eine Effektivwert-Be
rechnungsvorrichtung enthält, welche einen Ef
fektivwert des Zitterns des gemessenen Signals
berechnet auf der Grundlage der von der
Zyklus-zu-Zyklus-Periodenzitter-Schätzvorrichtung be
rechneten Differenz.
21. Zittermeßvorrichtung nach Anspruch 1, gekenn
zeichnet durch eine Zyklus-zu-Zyklus-Pe
riodenzitter-Schätzvorrichtung, welche eine
Differenz zwischen einer vorbestimmten Periode
des gemessenen Signals und der vorhergehenden
Periode der vorbestimmten Periode des gemessenen
Signals berechnet auf der Grundlage der von der
Periodenschätzvorrichtung berechneten Periode
des gemessenen Signals, und welche die Differenz
zu dem Zitterdetektor liefert,
worin der Zitterdetektor eine Histogrammschätz vorrichtung enthält, welche ein Histogramm des Zitterns des gemessenen Signals erzeugt auf der Grundlage der von der Zyklus-zu-Zyklus-Pe riodenzitter-Schätzvorrichtung berechneten Differenz.
worin der Zitterdetektor eine Histogrammschätz vorrichtung enthält, welche ein Histogramm des Zitterns des gemessenen Signals erzeugt auf der Grundlage der von der Zyklus-zu-Zyklus-Pe riodenzitter-Schätzvorrichtung berechneten Differenz.
22. Halbleiterprüfvorrichtung zum Prüfen einer elek
tronischen Vorrichtung, welche aufweist:
einen Mustergenerator, welcher ein Prüfmuster zum Prüfen der elektronischen Vorrichtung er zeugt,
eine Wellenform-Formungseinheit, welche das Prüfmuster formt und das geformte Prüfmuster zu der elektronischen Vorrichtung liefert,
eine Zittermeßvorrichtung, welche das Zittern eines von der elektronischen Vorrichtung auf der Grundlage des Prüfmusters ausgegebenen Ausgangs signals mißt, und
eine Beurteilungseinheit, welche die Qualität der elektronischen Vorrichtung auf der Grundlage des von der Zittermeßvorrichtung gemessenen Zit terns des Ausgangssignals beurteilt,
dadurch gekennzeichnet, daß die Zittermeßvor richtung enthält:
ein Bandpaßfilter, welches das Ausgangssignal empfängt und gewünschte Frequenzkomponenten des Ausgangssignals als ein bandbegrenztes Signal des Ausgangssignals ausgibt,
eine Zeitschätzvorrichtung, welche das bandbe grenzte Signal empfängt und eine Durchgangszeit bei einem vorbestimmten Wert, welche eine Zeit mißt, bei der das Ausgangssignal einen vorbe stimmten Signalwert zeigt, auf der Grundlage des bandbegrenzten Signals berechnet,
eine Periodenschätzvorrichtung, welche eine Pe riode des Ausgangssignals auf der Grundlage der Durchgangszeit bei dem vorbestimmten Wert schätzt, und
einen Zitterdetektor, welcher das Zittern des Ausgangssignals auf der Grundlage der von der Periodenschätzvorrichtung berechneten Periode des Ausgangssignals berechnet.
einen Mustergenerator, welcher ein Prüfmuster zum Prüfen der elektronischen Vorrichtung er zeugt,
eine Wellenform-Formungseinheit, welche das Prüfmuster formt und das geformte Prüfmuster zu der elektronischen Vorrichtung liefert,
eine Zittermeßvorrichtung, welche das Zittern eines von der elektronischen Vorrichtung auf der Grundlage des Prüfmusters ausgegebenen Ausgangs signals mißt, und
eine Beurteilungseinheit, welche die Qualität der elektronischen Vorrichtung auf der Grundlage des von der Zittermeßvorrichtung gemessenen Zit terns des Ausgangssignals beurteilt,
dadurch gekennzeichnet, daß die Zittermeßvor richtung enthält:
ein Bandpaßfilter, welches das Ausgangssignal empfängt und gewünschte Frequenzkomponenten des Ausgangssignals als ein bandbegrenztes Signal des Ausgangssignals ausgibt,
eine Zeitschätzvorrichtung, welche das bandbe grenzte Signal empfängt und eine Durchgangszeit bei einem vorbestimmten Wert, welche eine Zeit mißt, bei der das Ausgangssignal einen vorbe stimmten Signalwert zeigt, auf der Grundlage des bandbegrenzten Signals berechnet,
eine Periodenschätzvorrichtung, welche eine Pe riode des Ausgangssignals auf der Grundlage der Durchgangszeit bei dem vorbestimmten Wert schätzt, und
einen Zitterdetektor, welcher das Zittern des Ausgangssignals auf der Grundlage der von der Periodenschätzvorrichtung berechneten Periode des Ausgangssignals berechnet.
23. Zittermeßverfahren zum Messen des Zitterns eines
gemessenen Signals, gekennzeichnet durch
einen Bandpaß-Filterschritt zum Empfang des ge messenen Signals und zur Ausgabe einer gewünsch ten Frequenzkomponente des gemessenen Signals als ein bandbegrenztes Signal des gemessenen Si gnals,
einen Zeitschätzschritt zum Empfang des bandbe grenzten Signals und zum Berechnen einer Durch gangszeit bei einem vorbestimmten Wert, welche die Zeit ist, bei der das gemessene Signal einen vorbestimmten Signalwert zeigt, auf der Grundla ge des bandbegrenzten Signals,
einen Periodenschätzschritt zum Schätzen einer Periode des gemessenen Signals auf der Grundlage der Durchgangszeit bei dem vorbestimmten Wert, und
einen Zittererfassungsschritt zum Berechnen des Zitterns des gemessenen Signals auf der Grundla ge der in dem Periodenschätzschritt berechneten Periode des gemessenen Signals.
einen Bandpaß-Filterschritt zum Empfang des ge messenen Signals und zur Ausgabe einer gewünsch ten Frequenzkomponente des gemessenen Signals als ein bandbegrenztes Signal des gemessenen Si gnals,
einen Zeitschätzschritt zum Empfang des bandbe grenzten Signals und zum Berechnen einer Durch gangszeit bei einem vorbestimmten Wert, welche die Zeit ist, bei der das gemessene Signal einen vorbestimmten Signalwert zeigt, auf der Grundla ge des bandbegrenzten Signals,
einen Periodenschätzschritt zum Schätzen einer Periode des gemessenen Signals auf der Grundlage der Durchgangszeit bei dem vorbestimmten Wert, und
einen Zittererfassungsschritt zum Berechnen des Zitterns des gemessenen Signals auf der Grundla ge der in dem Periodenschätzschritt berechneten Periode des gemessenen Signals.
24. Zittermeßverfahren nach Anspruch 23, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Periodenschätzschritt die
Berechnung der Periode des gemessenen Signals in
jeder Periode des gemessenen Signals enthält.
25. Zittermeßverfahren nach Anspruch 24, gekenn
zeichnet durch einen Zyklus-zu-Zyklus-Pe
riodenzitter-Schätzschritt zum Berechnen einer
Differenz zwischen einer vorbestimmten Periode
des gemessenen Signals und der vorhergehenden
Periode der vorbestimmten Periode des gemessenen
Signals auf der Grundlage der in dem Perioden
schätzschritt berechneten Periode des gemessenen
Signals, und zum Liefern der Differenz für den
Zittererfassungsschritt,
worin der Zittererfassungsschritt die Berechnung des Zitterns des gemessenen Signals auf der Grundlage der in dem Zyklus-zu-Zyklus-Pe riodenzitter-Schätzschritt berechneten Diffe renz enthält.
worin der Zittererfassungsschritt die Berechnung des Zitterns des gemessenen Signals auf der Grundlage der in dem Zyklus-zu-Zyklus-Pe riodenzitter-Schätzschritt berechneten Diffe renz enthält.
26. Zittermeßverfahren nach Anspruch 23, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Zeitschätzschritt die Be
rechnung einer Nulldurchgangszeit, welche eine
Zeit ist, bei der das gemessene Signal im We
sentlichen den Wert Null zeigt, als die Durch
gangszeit bei dem vorbestimmten Wert enthält.
27. Zittermeßverfahren nach Anspruch 23, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Bandpaß-Filterschritt die
Ausgabe von Frequenzkomponenten eines vorbe
stimmten Frequenzbandes, welches die Grundfre
quenz des gemessenen Signals enthält, als das
bandbegrenzte Signal des gemessenen Signals ent
hält.
28. Zittermeßverfahren nach Anspruch 27, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Bandpaß-Filterschritt die
Ausgabe von Frequenzkomponenten, die im Wesent
lichen gleich der Grundfrequenz des gemessenen
Signals sind, als das bandbegrenzte Signal des
gemessenen Signals enthält.
29. Zittermeßverfahren nach Anspruch 23, gekenn
zeichnet durch einen Analog/Digital-
Umwandlungsschritt zum Empfang des gemessenen
Signals und zur Umwandlung des empfangenen ge
messenen Signals in ein digitales Signal und zur
Lieferung des digitalen. Signals für den
Bandpaß-Filterschritt.
30. Zittermeßverfahren nach Anspruch 23, gekenn
zeichnet durch einen Analog/Digital-
Umwandlungsschritt zum Empfang des bandbegrenz
ten Signals und zum Umwandeln des empfangenen
bandbegrenzten Signals in ein digitales Signal
und zum Liefern des digitalen Signals für den
Zeitschätzschritt.
31. Zittermeßverfahren nach Anspruch 29, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Zeitschätzschritt enthält:
einen Wellenformdaten-Interpolationsschritt zum Empfang des digitalisierten bandbegrenzten Sig nals und zur Interpolation von Daten zu der Nachbarschaft des vorbestimmten Signalwertes des digitalen bandbegrenzten Signals,
einen Werterfassungsschritt zum Empfang des in terpolierten digitalisierten bandbegrenzten Sig nals und zum Erfassen von Daten aus dem bandbe grenzten Signal, deren Signalwert dem vorbe stimmten Signalwert am nächsten ist, und
einen Schätzschritt zum Berechnen der Zeit der in dem Werterfassungsschritt erfaßten Daten als der Durchgangszeit bei einem vorbestimmten Wert.
einen Wellenformdaten-Interpolationsschritt zum Empfang des digitalisierten bandbegrenzten Sig nals und zur Interpolation von Daten zu der Nachbarschaft des vorbestimmten Signalwertes des digitalen bandbegrenzten Signals,
einen Werterfassungsschritt zum Empfang des in terpolierten digitalisierten bandbegrenzten Sig nals und zum Erfassen von Daten aus dem bandbe grenzten Signal, deren Signalwert dem vorbe stimmten Signalwert am nächsten ist, und
einen Schätzschritt zum Berechnen der Zeit der in dem Werterfassungsschritt erfaßten Daten als der Durchgangszeit bei einem vorbestimmten Wert.
32. Zittermeßverfahren nach Anspruch 31, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Wellenformdaten-In
terpolationsschritt die Interpolation von Da
ten zwischen einer Zeit, bei der der Signalwert
des bandbegrenzten Signals kleiner ist als der
vorbestimmte Signalwert und dem vorbestimmten
Wert am nächsten ist, und einer Zeit, bei der
der Signalwert des bandbegrenzten Signals größer
ist als der vorbestimmte Signalwert und dem vor
bestimmten Wert am nächsten ist, enthält.
33. Zittermeßverfahren nach Anspruch 31, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Wellenformdaten-In
terpolationsschritt die Interpolation der Da
ten zu dem bandbegrenzten Signal durch Polyno
minterpolation enthält.
34. Zittermeßverfahren nach Anspruch 23, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Bandpaß-Filterschritt ent
hält:
einen Frequenzdomänen-Transformationsschritt zum Transformieren des gemessenen Signals in ein Si gnal in der Frequenzdomäne,
einen Bandbreiten-Begrenzungsschritt zum Heraus nehmen der gewünschten Frequenzkomponenten aus dem Signal in der Frequenzdomäne, und
einen Zeitdomänen-Transformationsschritt, wel cher die herausgenommenen Frequenzkomponenten in ein Signal in der Zeitdomäne transformiert.
einen Frequenzdomänen-Transformationsschritt zum Transformieren des gemessenen Signals in ein Si gnal in der Frequenzdomäne,
einen Bandbreiten-Begrenzungsschritt zum Heraus nehmen der gewünschten Frequenzkomponenten aus dem Signal in der Frequenzdomäne, und
einen Zeitdomänen-Transformationsschritt, wel cher die herausgenommenen Frequenzkomponenten in ein Signal in der Zeitdomäne transformiert.
35. Zittermeßverfahren nach Anspruch 34, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Bandpaß-Filterschritt wei
terhin enthält:
einen Speicherschritt zum Speichern des gemesse nen Signals,
einen Datenauswahlschritt zum aufeinanderfolgen den Herausnehmen von in dem Speicherschritt ge speicherten Daten,
einen Fensterfunktions-Multiplikationsschritt zum Multiplizieren der herausgenommenen Daten mit einer Fensterfunktion und zum Liefern der multiplizierten Daten als das gemessene Signal für den Frequenzdomänen-Transformationsschritt, einen Amplitudenkorrekturschritt zum Multipli zieren des Signals in der Zeitdomäne mit einer inversen Zahl der Fensterfunktion.
einen Speicherschritt zum Speichern des gemesse nen Signals,
einen Datenauswahlschritt zum aufeinanderfolgen den Herausnehmen von in dem Speicherschritt ge speicherten Daten,
einen Fensterfunktions-Multiplikationsschritt zum Multiplizieren der herausgenommenen Daten mit einer Fensterfunktion und zum Liefern der multiplizierten Daten als das gemessene Signal für den Frequenzdomänen-Transformationsschritt, einen Amplitudenkorrekturschritt zum Multipli zieren des Signals in der Zeitdomäne mit einer inversen Zahl der Fensterfunktion.
36. Zittermeßverfahren nach Anspruch 23, gekenn
zeichnet durch einen Wellenform-Be
grenzungsschritt zum Entfernen von Komponenten
aus dem gemessenen Signal, deren Signalwert grö
ßer ist als ein erster Signalwert, und von Kom
ponenten, deren Signalwert kleiner ist als ein
zweiter Signalwert.
37. Zittermeßverfahren nach Anspruch 23, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Zeitschätzschritt das
Schätzen der Durchgangszeit bei einem vorbe
stimmten Wert durch inverse lineare Interpolati
on enthält.
38. Zittermeßverfahren nach Anspruch 23, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Zittererfassungsschritt
einen Spitzenerfassungsschritt enthält für die
Berechnung eines Spitzenwertes des Zitterns des
gemessenen Signals auf der Grundlage eines Maxi
mal- und eines Minimalwertes der in dem Peri
odenschätzschritt berechneten Periode des gemes
senen Signals.
39. Zittermeßverfahren nach Anspruch 23, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Zittererfassungsschritt
einen Effektivwert-Berechnungsschritt enthält
für die Berechnung eines Effektivwertes des Zit
terns des gemessenen Signals auf der Grundlage
der in dem Periodenschätzschritt berechneten Pe
riode des gemessenen Signals.
40. Zittermeßverfahren nach Anspruch 23, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Zittererfassungsschritt
einen Histogrammschätzschritt enthält für die
Erzeugung eines Histogramms des Zitterns des ge
messenen Signals auf der Grundlage der in dem
Periodenschätzschritt berechneten Periode des
gemessenen Signals.
41. Zittermeßverfahren nach Anspruch 23, gekenn
zeichnet durch einen Zyklus-zu-Zyklus-Pe
riodenzitter-Schätzschritt zum Berechnen einer
Differenz einer vorbestimmten Periode des gemes
senen Signals und der vorhergehenden Periode der
vorbestimmten Periode des gemessenen Signals auf
der Grundlage der in dem Periodenschätzschritt
berechneten Periode des gemessenen Signals, und
zum Liefern der Differenz für den Zittererfas
sungsschritt,
worin der Zittererfassungsschritt einen Spitze-zu-Spitze-Erfassungsschritt enthält für die Be rechnung eines Spitzenwertes eines Zyklus-zu- Zyklus-Periodenzitterns des gemessenen Signals auf der Grundlage eines Minimal- und eines Maxi malwertes der in dem Zyklus-zu-Zyklus-Pe riodenzitter-Schätzschritt berechneten Diffe renz.
worin der Zittererfassungsschritt einen Spitze-zu-Spitze-Erfassungsschritt enthält für die Be rechnung eines Spitzenwertes eines Zyklus-zu- Zyklus-Periodenzitterns des gemessenen Signals auf der Grundlage eines Minimal- und eines Maxi malwertes der in dem Zyklus-zu-Zyklus-Pe riodenzitter-Schätzschritt berechneten Diffe renz.
42. Zittermeßverfahren nach Anspruch 23, gekenn
zeichnet durch einen Zyklus-zu-Zyklus-Pe
riodenzitter-Schätzschritt zum Berechnen einer
Differenz zwischen einer vorbestimmten Periode
des gemessenen Signals und der vorhergehenden
Periode der vorbestimmten Periode des gemessenen
Signals auf der Grundlage der in dem Perioden
schätzschritt berechneten Periode des gemessenen
Signals, und zum Liefern der Differenz für den
Zittererfassungsschritt,
worin der Zittererfassungsschritt einen Effekti
vwert-Berechnungsschritt enthält für die Berech
nung eines Effektivwertes des Zitterns des ge
messenen Signals auf der Grundlage der in dem
Zyklus-zu-Zyklus-Periodenzitter-Schätzschritt
berechneten Differenz.
43. Zittermeßverfahren nach Anspruch 23, gekenn
zeichnet durch einen Zyklus-zu-Zyklus-Pe
riodenzitter-Schätzschritt zum Berechnen einer
Differenz zwischen einer vorbestimmten Periode
des gemessenen Signals und der vorhergehenden
Periode der vorbestimmten Periode des gemessenen
Signals auf der Grundlage der in dem Perioden
schätzschritt berechneten Periode des gemessenen
Signals, und zur Lieferung der Differenz für den
Zittererfassungsschritt,
worin der Zittererfassungsschritt einen Histo grammschätzschritt für die Erzeugung eines Hi stogramms des Zitterns des gemessenen Signals auf der Grundlage der in dem Zyklus-zu-Zyklus-Pe riodenzitter-Schätzschritt berechneten Diffe renz enthält.
worin der Zittererfassungsschritt einen Histo grammschätzschritt für die Erzeugung eines Hi stogramms des Zitterns des gemessenen Signals auf der Grundlage der in dem Zyklus-zu-Zyklus-Pe riodenzitter-Schätzschritt berechneten Diffe renz enthält.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/650,000 US6598004B1 (en) | 2000-08-28 | 2000-08-28 | Jitter measurement apparatus and its method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10142855A1 true DE10142855A1 (de) | 2002-04-04 |
Family
ID=24607079
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10142855A Withdrawn DE10142855A1 (de) | 2000-08-28 | 2001-08-28 | Prüfvorrichtung für eine elektronische Vorrichtung, Zittermessvorrichtung und deren Verfahren |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6598004B1 (de) |
JP (1) | JP2002107392A (de) |
DE (1) | DE10142855A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004031784A1 (ja) * | 2002-09-30 | 2004-04-15 | Advantest Corporation | ジッタ測定装置及びジッタ測定方法 |
DE102004058255A1 (de) * | 2004-12-03 | 2006-05-04 | Red-Ant Measurement Technologies And Services E.K. | Verfahren zur Bestimmung der Periodendauer eines Messsignals |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6721724B1 (en) | 2000-03-31 | 2004-04-13 | Microsoft Corporation | Validating multiple execution plans for database queries |
US7035325B2 (en) * | 2001-05-25 | 2006-04-25 | Tektronix, Inc. | Jitter measurement using mixed down topology |
GB0115015D0 (en) * | 2001-06-20 | 2001-08-08 | Koninkl Philips Electronics Nv | Method of, and receiver for, minimising carrier phase rotation due to signal adjustments and enhancements |
US6832179B2 (en) | 2001-06-26 | 2004-12-14 | Invensys Systems, Inc. | Evaluating a vortex flow-meter signal |
KR100398879B1 (ko) * | 2001-07-09 | 2003-09-19 | 삼성전자주식회사 | 입력신호의 영점교차 특성을 이용한 위상오차 검출장치 |
JP2004093345A (ja) * | 2002-08-30 | 2004-03-25 | Renesas Technology Corp | ジッタ測定回路 |
KR100512965B1 (ko) * | 2003-03-14 | 2005-09-07 | 삼성전자주식회사 | 입력신호의 히스토그램 정보에 기초한 주파수 오차검출장치 및 검출방법 |
US7236555B2 (en) * | 2004-01-23 | 2007-06-26 | Sunrise Telecom Incorporated | Method and apparatus for measuring jitter |
US7284141B2 (en) * | 2004-02-05 | 2007-10-16 | Anritsu Company | Method of and apparatus for measuring jitter and generating an eye diagram of a high speed data signal |
JP5143341B2 (ja) * | 2004-02-18 | 2013-02-13 | 株式会社アドバンテスト | ジッタ測定装置、ジッタ測定方法およびプログラム |
CN100357935C (zh) * | 2004-08-27 | 2007-12-26 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 泛用型抖动分析系统及方法 |
DE102005035473A1 (de) * | 2005-07-28 | 2007-02-01 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Verfahren und System zur digitalen Triggerung für Oszilloskope |
DE102005035394A1 (de) * | 2005-07-28 | 2007-02-15 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co Kg | Verfahren und System zur digitalen Triggerung von Signalen auf der Basis von zwei zeitlich beabstandeten Triggerereignissen |
US20070118361A1 (en) * | 2005-10-07 | 2007-05-24 | Deepen Sinha | Window apparatus and method |
US8068538B2 (en) * | 2005-11-04 | 2011-11-29 | Advantest Corporation | Jitter measuring apparatus, jitter measuring method and test apparatus |
US7778319B2 (en) * | 2005-11-04 | 2010-08-17 | Advantest Corporation | Jitter measuring apparatus, jitter measuring method and test apparatus |
US20070271049A1 (en) * | 2006-05-16 | 2007-11-22 | Carole James A | Method and system for measuring band pass filtered phase noise of a repetitive signal |
US7945009B1 (en) | 2006-08-22 | 2011-05-17 | Marvell International Ltd. | Jitter measurement |
DE112008000680T5 (de) * | 2007-03-13 | 2010-01-14 | Advantest Corp. | Messgerät, Messverfahren, Prüfgerät, elektronische Vorrichtung und Aufzeichnungsmedium |
US7734434B2 (en) * | 2007-03-30 | 2010-06-08 | Intel Corporation | High speed digital waveform identification using higher order statistical signal processing |
US7620861B2 (en) * | 2007-05-31 | 2009-11-17 | Kingtiger Technology (Canada) Inc. | Method and apparatus for testing integrated circuits by employing test vector patterns that satisfy passband requirements imposed by communication channels |
US7953579B2 (en) * | 2007-08-30 | 2011-05-31 | Micron Technology, Inc. | Jittery signal generation with discrete-time filtering |
JP5256094B2 (ja) * | 2009-03-30 | 2013-08-07 | アンリツ株式会社 | ジッタ測定装置 |
WO2011033588A1 (ja) * | 2009-09-18 | 2011-03-24 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置および試験方法 |
US8473248B2 (en) * | 2009-09-18 | 2013-06-25 | Advantest Corporation | Test apparatus and test method |
US8982938B2 (en) * | 2012-12-13 | 2015-03-17 | Intel Corporation | Distortion measurement for limiting jitter in PAM transmitters |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05107287A (ja) * | 1991-10-18 | 1993-04-27 | Advantest Corp | ジツタ解析装置 |
US6263290B1 (en) * | 1995-02-22 | 2001-07-17 | Michael K. Williams | Process and machine for signal waveform analysis |
EP1051631B1 (de) * | 1998-01-30 | 2005-01-12 | Wavecrest Corporation | Jitter analysator und verfahren zur jitter analyse |
US20010037189A1 (en) * | 2000-01-20 | 2001-11-01 | Dan Onu | Method of estimating phase noise spectral density and jitter in a periodic signal |
-
2000
- 2000-08-28 US US09/650,000 patent/US6598004B1/en not_active Expired - Lifetime
-
2001
- 2001-08-27 JP JP2001257052A patent/JP2002107392A/ja active Pending
- 2001-08-28 DE DE10142855A patent/DE10142855A1/de not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004031784A1 (ja) * | 2002-09-30 | 2004-04-15 | Advantest Corporation | ジッタ測定装置及びジッタ測定方法 |
DE102004058255A1 (de) * | 2004-12-03 | 2006-05-04 | Red-Ant Measurement Technologies And Services E.K. | Verfahren zur Bestimmung der Periodendauer eines Messsignals |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6598004B1 (en) | 2003-07-22 |
JP2002107392A (ja) | 2002-04-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE10142855A1 (de) | Prüfvorrichtung für eine elektronische Vorrichtung, Zittermessvorrichtung und deren Verfahren | |
DE10291162B4 (de) | Verfahren zum Messen von Zittern | |
DE69635300T2 (de) | Verfahren und anordnung zur analyse von signalwellenformen | |
DE10196047B4 (de) | Zitterschätzvorrichtung | |
DE4203819C2 (de) | System und Verfahren zum Analysieren eines Eingangssignals | |
DE112005001355T5 (de) | Vorrichtung zum Analysieren von Breitbandsignalen, Breitband-Periodenjitter und Breitbandversatz | |
DE10291532B4 (de) | Vorrichtung zum Messen des Kreuzkorrelationskoeffizienten zwischen Signalen | |
DE60221927T2 (de) | Vorrichtung und Programm zur Schallcodierung | |
DE10392587T5 (de) | Messvorrichtung und Messverfahren | |
DE102012107021B4 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Messung eines Wechselstroms | |
DE2219085A1 (de) | Frequenzanalysator | |
DE112021003222T5 (de) | Eine zyklische schleifenbilddarstellung für wellenformdaten | |
DE10114410B4 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Ermittlung eines Qualitätsmasses eines periodischen Eingangssignals | |
DE4417406A1 (de) | Hochauflösender Frequenzanalysator und Vektorspektrumanalysator | |
DE19833921A1 (de) | Schnelle Fourier-Transformationsvorrichtung | |
WO2001006265A2 (de) | Verfahren zum ermitteln von amplitude und phasenwinkel eines einem strom oder einer spannung eines elektrischen energieversorgungsnetzes entsprechenden messsignals | |
DE10297381T5 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Taktschrägemessung | |
DE102006005595B4 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Messung von Störemissionen in Echtzeit | |
EP1794602A2 (de) | Verfahren und vorrichtung zur spektrumanalyse eines nutz- oder rauschsignals | |
DE102013107567A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Messung eines Wechselstroms | |
DE602004011060T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Null-Mischungs-Spektrumanalyse mit Hilbert-Transformation | |
EP0898752A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur bearbeitung eines signals | |
DE10194690B4 (de) | Jitter-Messvorrichtung und Jitter-Messverfahren | |
EP1537750B1 (de) | Verfahren zum bestimmen der hüllkurve eines modulierten signals | |
DE102007025578A1 (de) | Schnelle Netzwerkanalyse mit Wiederholung des Referenzsignals |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |