JP2010236937A - ジッタ測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】単一の筐体内に、外部から入力されたデジタル信号のジッタ成分を復調するジッタ復調器21と、そのジッタ復調器21から出力される復調信号Jの振幅値の算出を行うジッタ量算出器22と、ジッタ復調器21から出力される復調信号Jに対する周期測定を行い、その測定された周期に応じた倍率の補間処理を行う補間器23と、表示器25と、ジッタ量算出器22の算出値および補間器23によって補間された復調信号の波形を表示器に表示させる表示制御部24とが設けられている。
【選択図】図1
Description
このジッタ測定装置10は、測定対象のデジタル信号Drを受けて、そのジッタ成分(位相変調成分)を復調するジッタ復調器11と、そのジッタ復調回路11から出力される復調信号(デジタル値に変換されているものとする)の実効値(RMS)や尖頭値(Peak to Peak)等の振幅をジッタ量として算出するジッタ量算出器12と、算出されたジッタ量を数値表示する表示器13とを有している。
筐体と、
前記筐体内に収容され、外部から入力されたデジタル信号のジッタ成分を復調するジッタ復調器(21)と、
前記筐体内に収容され、前記ジッタ復調器から出力される復調信号の振幅値の算出を行うジッタ量算出器(22)と、
前記筐体内に収容され、前記ジッタ復調器から出力される復調信号に対する周期測定を行い、該測定された周期に応じた倍率の補間処理を行う補間器(23)と、
前記筐体の外表部に設けられた表示器(25)と、
前記筐体内に収容され、前記ジッタ量算出器の算出値および前記補間器によって補間された復調信号の波形を前記表示器に表示させる表示制御部(24)とを備えている。
前記ジッタ量算出器が、前記ジッタ復調器から出力される復調信号の代わりに、前記補間器によって補間された復調信号の振幅値の算出処理を行うモードを有していることを特徴とする。
前記筐体内に収容され、前記補間器により補間した復調信号が、所定方向に変化して予め設定したしきい値に達したとき、トリガ信号を出力するトリガ回路(26)と、
前記筐体内に収容され、補間された復調信号を記憶するための波形メモリ(28)と、
前記筐体内に収容され、前記トリガ信号を受けてから所定時間が経過するまでの間、前記補間された復調信号を前記波形メモリに記憶させる記憶制御手段(27)とを備え、
前記表示制御部は、前記波形メモリに記憶された復調信号を前記表示器に表示させることを特徴とする。
前記筐体内に収容され、変調信号によってジッタが付与された試験用デジタル信号を外部に送出する試験用デジタル信号発生部(30)を有し、
前記表示制御部は、前記試験用デジタル信号発生部が用いた変調信号の波形と、前記補間された復調信号の波形とを対比可能に前記表示器に表示することを特徴とする。
図1は、本発明を適用した実施形態のジッタ測定装置20の構成を示している。
ジッタ量算出器22は、復調信号Jの振幅値(実効値と尖頭値)の算出処理を行う第1モードと、補間器23により補間された復調信号J′の振幅値(実効値と尖頭値)の算出処理を行う第2モードとを有しており、そのモードは、ジッタ測定装置20の図示しない操作部によって指定される。
入力デジタル信号Drに含まれる本来のジッタ成分がsin(2πft)の正弦波としたとき、ジッタ周波数fがサンプリングレートに近い場合の復調信号Jは、図4の黒丸に示すように遷移する(本来の正弦波を点線で示す)。
Claims (4)
- 筐体と、
前記筐体内に収容され、外部から入力されたデジタル信号のジッタ成分を復調するジッタ復調器(21)と、
前記筐体内に収容され、前記ジッタ復調器から出力される復調信号の振幅値の算出を行うジッタ量算出器(22)と、
前記筐体内に収容され、前記ジッタ復調器から出力される復調信号に対する周期測定を行い、該測定された周期に応じた倍率の補間処理を行う補間器(23)と、
前記筐体の外表部に設けられた表示器(25)と、
前記筐体内に収容され、前記ジッタ量算出器の算出値および前記補間器によって補間された復調信号の波形を前記表示器に表示させる表示制御部(24)とを備えたジッタ測定装置。 - 前記ジッタ量算出器が、前記ジッタ復調器から出力される復調信号の代わりに、前記補間器によって補間された復調信号の振幅値に対する算出処理を行うモードを有していることを特徴とする請求項1記載のジッタ測定装置。
- 前記筐体内に収容され、前記補間器により補間した復調信号が、所定方向に変化して予め設定したしきい値に達したとき、トリガ信号を出力するトリガ回路(26)と、
前記筐体内に収容され、補間された復調信号を記憶するための波形メモリ(28)と、
前記筐体内に収容され、前記トリガ信号を受けてから所定時間が経過するまでの間、前記補間された復調信号を前記波形メモリに記憶させる記憶制御手段(27)とを備え、
前記表示制御部は、前記波形メモリに記憶された復調信号を前記表示器に表示させることを特徴とする請求項1または請求項2記載のジッタ測定装置。 - 前記筐体内に収容され、変調信号によってジッタが付与された試験用デジタル信号を外部に送出する試験用デジタル信号発生部(30)を有し、
前記表示制御部は、前記試験用デジタル信号発生部が用いた変調信号の波形と、前記補間された復調信号の波形とを対比可能に前記表示器に表示することを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のジッタ測定装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009083302A JP5256094B2 (ja) | 2009-03-30 | 2009-03-30 | ジッタ測定装置 |
US12/730,639 US8208586B2 (en) | 2009-03-30 | 2010-03-24 | Jitter measuring apparatus |
CN2010101338799A CN101852830B (zh) | 2009-03-30 | 2010-03-29 | 抖动测量装置 |
DE102010016192A DE102010016192A1 (de) | 2009-03-30 | 2010-03-29 | Jittermessvorrichtung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009083302A JP5256094B2 (ja) | 2009-03-30 | 2009-03-30 | ジッタ測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010236937A true JP2010236937A (ja) | 2010-10-21 |
JP5256094B2 JP5256094B2 (ja) | 2013-08-07 |
Family
ID=42733451
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009083302A Expired - Fee Related JP5256094B2 (ja) | 2009-03-30 | 2009-03-30 | ジッタ測定装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8208586B2 (ja) |
JP (1) | JP5256094B2 (ja) |
CN (1) | CN101852830B (ja) |
DE (1) | DE102010016192A1 (ja) |
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- 2009-03-30 JP JP2009083302A patent/JP5256094B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2010
- 2010-03-24 US US12/730,639 patent/US8208586B2/en active Active
- 2010-03-29 CN CN2010101338799A patent/CN101852830B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2010-03-29 DE DE102010016192A patent/DE102010016192A1/de not_active Ceased
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US8208586B2 (en) | 2012-06-26 |
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DE102010016192A1 (de) | 2010-10-14 |
JP5256094B2 (ja) | 2013-08-07 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110307 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110830 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111026 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120710 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120906 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130416 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130422 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160426 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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R250 | Receipt of annual fees |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |