DE102007040061B4 - Wellendetektorschaltung - Google Patents
Wellendetektorschaltung Download PDFInfo
- Publication number
- DE102007040061B4 DE102007040061B4 DE102007040061A DE102007040061A DE102007040061B4 DE 102007040061 B4 DE102007040061 B4 DE 102007040061B4 DE 102007040061 A DE102007040061 A DE 102007040061A DE 102007040061 A DE102007040061 A DE 102007040061A DE 102007040061 B4 DE102007040061 B4 DE 102007040061B4
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- transistor
- collector
- base
- wave detector
- detector circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 29
- 101150056723 rcc1 gene Proteins 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 41
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 18
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 17
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 10
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 9
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 7
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 3
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/189—High-frequency amplifiers, e.g. radio frequency amplifiers
- H03F3/19—High-frequency amplifiers, e.g. radio frequency amplifiers with semiconductor devices only
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R21/00—Arrangements for measuring electric power or power factor
- G01R21/10—Arrangements for measuring electric power or power factor by using square-law characteristics of circuit elements, e.g. diodes, to measure power absorbed by loads of known impedance
- G01R21/12—Arrangements for measuring electric power or power factor by using square-law characteristics of circuit elements, e.g. diodes, to measure power absorbed by loads of known impedance in circuits having distributed constants
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/20—Power amplifiers, e.g. Class B amplifiers, Class C amplifiers
- H03F3/21—Power amplifiers, e.g. Class B amplifiers, Class C amplifiers with semiconductor devices only
- H03F3/211—Power amplifiers, e.g. Class B amplifiers, Class C amplifiers with semiconductor devices only using a combination of several amplifiers
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
- H03F2200/393—A measuring circuit being coupled to the output of an amplifier
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
- H03F2200/408—Indexing scheme relating to amplifiers the output amplifying stage of an amplifier comprising three power stages
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
- H03F2200/451—Indexing scheme relating to amplifiers the amplifier being a radio frequency amplifier
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
- H03F2200/471—Indexing scheme relating to amplifiers the voltage being sensed
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Amplifiers (AREA)
Abstract
Wellendetektorschaltung mit
einem ersten Transistor (Tr1), dessen Basis und Kollektor miteinander verbunden sind, wobei der erste Transistor (Tr1) so beschaltet ist, dass er ein AC-Signal (Vin) und eine Referenzspannung (Vref1) an der Basis und dem Kollektor empfangen kann,
einem zweiten Transistor (Tr2), dessen Basis über einen ersten Widerstand (Rbb1) mit der Basis des ersten Transistors (Tr1) verbunden ist, wobei der zweite Transistor (Tr2) so beschaltet ist, dass er an seinem Kollektor eine detektierte Spannung (Vdet) ausgeben kann,
dadurch gekennzeichnet, dass
sie weiter einen als Diode geschalteten Temperaturkompensationstransistor (Trb1, Trb2, Trb3) enthält, der zwischen Masse und die Basis und somit den Kollektor des ersten Transistors (Tr1) geschaltet ist,
wobei der erste und zweite Transistor (Tr1, Tr2) einen Stromspiegel mit einer Verstärkungsrate von weniger als 1 bilden.
einem ersten Transistor (Tr1), dessen Basis und Kollektor miteinander verbunden sind, wobei der erste Transistor (Tr1) so beschaltet ist, dass er ein AC-Signal (Vin) und eine Referenzspannung (Vref1) an der Basis und dem Kollektor empfangen kann,
einem zweiten Transistor (Tr2), dessen Basis über einen ersten Widerstand (Rbb1) mit der Basis des ersten Transistors (Tr1) verbunden ist, wobei der zweite Transistor (Tr2) so beschaltet ist, dass er an seinem Kollektor eine detektierte Spannung (Vdet) ausgeben kann,
dadurch gekennzeichnet, dass
sie weiter einen als Diode geschalteten Temperaturkompensationstransistor (Trb1, Trb2, Trb3) enthält, der zwischen Masse und die Basis und somit den Kollektor des ersten Transistors (Tr1) geschaltet ist,
wobei der erste und zweite Transistor (Tr1, Tr2) einen Stromspiegel mit einer Verstärkungsrate von weniger als 1 bilden.
Description
- Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Wellendetektorschaltung, die auf demselben Substrat wie ein GaAs-HBT-Leistungsverstärker integriert sein kann und die ein HF-Leistungssignal mit einer geringen Spannungsamplitude detektieren kann und eine verringerte Schwankung der detektierten Spannung über der Temperatur aufweist.
- GaAs-HBT (Heterojunction Bipolar Transistor) Leistungsverstarker sind weit verbreitet als Mobiltelefonleistungsverstärker für CDMA usw. und als Wireless-LAN-Leistungsverstärker. Anders als GaAs-FET-Leistungsverstärker erfordern GaAs-HBT-Leistungsverstärker keine negative Gatevorspannung, was es ermöglicht, sie an einer einzelnen Leistungsquelle zu betreiben. Außerdem schwanken ihre Vorrichtungseigenschaften nicht so sehr wie diejenigen von GaAs-FET-Leistungsverstarkern.
-
23 ,24 und25 sind Schaltbilder von GaAs-HBT-Leistungsverstärkern. In diesen Figuren bezeichnet das Symbol IN einen Eingangsanschluss, OUT einen Ausgangsanschluss, Tr11, Tr12 und Tr13 GaAs-HBTs, Cc1, Cc2 und Cc3 Kapazitäten, Vc1, Vc2 und Vc3 Leistungsversorgungsspannungen, R0, R1, R2 und R3 Widerstande, IM1, IS1, IS2 und OM1 Anpassschaltungen und Coup1 einen Richtkoppler. Die Wellendetektorschaltung zum Überwachen der Ausgangsleistung eines solchen Leistungsverstärkers ist auf der Platte an der Anschlussvorrichtung oder in dem Leistungsverstärkermodul angebracht (s. z. B.JP 2-80972 2005-109644 WO 99/37019 - Die in
23 und24 gezeigten Wellendetektorschaltungen überwachen die HF-Leistung jeweils direkt an dem Kollektor bzw. der Basis des Endstufentransistors Tr13. Die in25 gezeigte Wellendetektorschaltung dagegen überwacht die HF-Leistung über den Koppler Coup1, was ein exaktes Überwachen der Leistung der sich vorwärts ausbreitenden Welle ermöglicht. - Die in
23 gezeigte Leistungsüberwachungsschaltung ist einfach und kann verwendet werden, wenn die Genauigkeitsanforderungen nicht so streng sind, da die von der Wellenüberwachungsschaltung überwachte Leistung eine reflektierte Wellenleistung enthält, wenn eine Laständerung auftritt. Es ist beispielsweise relativ üblich, diese Leistungsüberwachungsschaltung in einem LAN-Anschluss zu verwenden, der weniger beweglich als ein Mobiltelefon ist. Andererseits überwacht die in24 gezeigte Leistungsüberwachungsschaltung nicht die Ausgangsleistung der Endstufe, da die Wellendetektorschaltung wie oben beschrieben auf der Basisseite des Endstufentransistors Tr13 bereitgestellt ist, was zu einer leicht ungenauen Leistungsüberwachung führt. Es ist jedoch kein Problem, diese Leistungsüberwachungsschaltung beim überwachen eines modulierten Signals in OFDM (Orthogonal Frequency Division Multiplexing) zu verwenden, das in Wireless-LAN-Systemen und WiMAX-Systemen in den letzten Jahren verwendet wurde. Der Grund dafür ist wie folgt: die Durchschnittsbetriebsausgangsleistung von OFDM-Leistungsverstärkern ist etwa 8–10 dB kleiner als ihre gesättigte Ausgangsleistung, d. h. sie arbeiten in einem vollkommen linearen Bereich. Daher hängt die Ausgangsleistung des Transistors Tr13 in24 lediglich von seiner Eingangsleistung und Verstärkung ab, die linear ist. Da weiter der Basis-Kollektor-Übergang des Transistors Tr13 eine Trennung bereitstellt und die Wellendetektorschaltung auf der Eingangsseite (d. h. an der Basis) des Transistors Tr13 bereitgestellt ist, kann die Wellendetektorschaltung die Leistung der sich vorwärts ausbreitenden Welle ohne Verwendung eines Kopplers auch dann genau überwachen, wenn eine Laständerung auftritt. -
26 und27 sind Schaltbilder bekannter HF-Wellendetektorschaltungen. In diesen Figuren bezeichnet das Symbol Vin eine HF-Eingangsspannung, Vref eine Referenzgleichspannung, Vdet eine detektierte Spannung oder Ausgangsspannung, Rin, Rref1, Rref2, Ra1, Ra2 und Ra3 Widerstände, Rout einen Glattungswiderstand, Tr1 und Tr2 HBTs, Cin einen Gleichspannungsblockkondensator, Cout einen Glättungskondensator und OP1 einen Operationsverstärker. Die detektierte Spannung oder Ausgangsspannung Vdet ist für gewohnlich proportional zu der HF-Eingangsspannung, und die Eingangsleistung Pin ist proportional zu dem Quadrat der HF-Eingangsspannung. Demzufolge ist die Eingangsleistung Pin wie in28 gezeigt proportional zu dem Quadrat der detektierten Spannung Vdet. - Da ein HBT für gewöhnlich einen sehr geringen Eingangswiderstand aufweist, hat die Spannung an seiner Basis eine viel kleinere Amplitude als die Spannung an seinem Kollektor. Wenn daher die in
26 gezeigte einfache Diodendetektorschaltung in dem in24 gezeigten Leistungsverstärker mit der Basis des Endstufentransistors Tr13 verbunden ist, kann es sein, dass die Detektorschaltung nicht in der Lage ist, das HF-Signal zu detektieren, da die Amplitude der Spannung an der Basis des Transistors Tr13 sehr klein ist. Die in27 gezeigte differenzielle Diodendetektorschaltung kann dagegen geringe Spannungsschwankungen detektieren. Weiter weist die in27 gezeigte Detektorschaltung im Vergleich zu der in26 gezeigten Detektorschaltung eine verringerte Schwankung der detektierten Spannung über der Temperatur auf. - Während jedoch alle Komponenten der in
26 gezeigten Detektorschaltung durch einen GaAs-HBT-Prozess hergestellt werden können, kann der Operationsverstärker OP1 der in27 gezeigten Detektorschaltung nicht durch einen GaAs-HBT-Prozess gebildet werden. Daher muss bei der in27 gezeigten Detektorschaltung eine SI-Schaltung (nämlich der Operationsverstärker OP1) auf der Platte oder dem Modulsubstrat angebracht werden. Die in27 gezeigte Detektorschaltung hat also den Nachteil, dass sie nicht integral mit dem Leistungsverstärker auf dem GaAs-HBT-Substrat gebildet werden kann. -
EP 1 050 956 A1 beschreibt eine Detektorschaltung, die auf einem Chip integriert sein kann. Sie hat einen ähnlichen Aufbau wie eine Stromspiegelschaltung. Gate und Kollektor eines ersten Feldeffekttransistors sind miteinander verbunden, und das Gate eines zweiten Feldeffekttransistors ist über einen Widerstand mit dem gemeinsamen Gate/Drain des ersten Feldeffekttransistors verbunden. Ein amplitudenmoduliertes Eingangssignal wird dem Ende des Widerstands zugeführt das mit der Basis des zweiten Feldeffekttransistors verbunden ist. An das Drain des zweiten Feldeffekttransistors ist ein Tiefpassfilter angeschlossen dass ein detektiertes Signal ausgibt. Ein an dieses Drain angeschlossener Widerstand ist 0,8-mal so groß wie ein an das Drain des ersten Feldeffekttransistors angeschlossener Widerstand. Beide Widerstände sind so groß, dass die Feldeffekttransistoren in ihrem Sättigungsbereich arbeiten. So wird aus dem Tiefpassfilter das Signal gewonnen, das mit der positiven oder negativen Einhüllenden des modulierten Signals korreliert. -
JP 02-100504 A 30 , an deren Eingang eine temperaturkompensierte Biasschaltung angeschlossen ist. -
US 7,071,783 B2 beschreibt eine Verstärkerschaltung zum Verstärken von Hochfrequenzsignalen, die eine Temperaturkompensation und eine Biaskompensation aufweist. Die Verstärkerschaltung enthält einen Hochfrequenzverstärker, der ein Hochfrequenzeingangssignal empfängt und ein verstärktes Hochfrequenzsignal ausgibt, einen ersten Transistor, dessen Basis und Kollektor miteinander verbunden sind und der als Detektordiode arbeitet, und einen zweiten Transistor zum Verstärken der Gleichspannungskomponente des Hochfrequenzsignals an Basis und Kollektor des ersten Transistors. Die Basis des zweiten Transistors ist über einen Widerstand mit der Basis des ersten Transistors verbunden. Der Kollektor des zweiten Transistors gibt ein Leistungsmesssignal aus. - Die vorliegende Erfindung wurde durchgeführt, um die obigen Probleme zu lösen. Es ist daher eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Wellendetektorschaltung bereitzustellen, die auf dem selben Substrat wie ein GaAs-HBT-Leistungsverstärker integriert werden kann und die ein HF-Leistungssignal mit einer geringen Spannungsamplitude detektieren kann und eine verringerte Schwankung der detektierten Spannung über der Temperatur aufweist.
- Die Aufgabe wird gelöst durch eine Wellendetektorschaltung gemäß einem der Ansprüche 1 bis 5 und 11. Weiterbildungen der Erfindung sind jeweils in den Unteransprüchen angegeben.
- Diese Wellendetektorschaltung kann auf dem selben Substrat wie ein GaAs-HBT-Leistungsverstärker integriert werden und ein HF-Leistungssignal mit einer geringen Spannungsamplitude detektieren und weist eine verringerte Schwankung der detektierten Spannung über der Temperatur auf.
- Weitere Merkmale und Zweckmäßigkeiten der Erfindung ergeben sich aus der Beschreibung von Ausführungsbeispielen anhand der beigefügten Zeichnungen.
-
1 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemäß einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. -
2 ist ein Diagramm, das eine Kennlinie der detektierten Spannung über der Eingangsleistung für die in1 gezeigte Schaltung zeigt. -
3 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemäß einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. -
4 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemäß einer dritten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. -
5 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemaß einer vierten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. -
6 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemäß einer fünften Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. -
7 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemäß einer sechsten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. -
8 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemäß einer siebten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. -
9 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemäß einer achten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. -
10 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemaß einer neunten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. -
11 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemäß einer zehnten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. -
12 ist ein Diagramm, das eine Kennlinie der detektierten Spannung über der Eingangsleistung für die in11 gezeigte Schaltung zeigt. -
13 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemäß einer elften Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. -
14 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemaß einer dreizehnten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. -
15 ist ein Diagramm, das eine Kennlinie der detektierten Spannung uber der Eingangsleistung für die in14 gezeigte Schaltung zeigt. -
16 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemäß einer vierzehnten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. -
17 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemaß einer funfzehnten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. -
18 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung. -
19 ist ein Diagramm, das eine Kennlinie der detektierten Spannung über der Eingangsleistung für die in18 gezeigte Schaltung zeigt. -
20 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung. -
21 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung. -
22 ist eine Draufsicht auf eine Anordnung einer Wellendetektorschaltung und eines dreistufigen Leistungsverstärkers gemäß einer neunzehnten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. -
23 ist ein Schaltbild eines GaAs-HBT-Leistungsverstärkers. -
24 ist ein Schaltbild eines anderen GaAs-HBT-Leistungsverstärkers. -
25 ist ein Schaltbild noch eines anderen GaAs-HBT-Leistungsverstarkers. -
26 ist ein Schaltbild einer bekannten HF-Wellendetektorschaltung. -
27 ist ein Schaltbild einer weiteren bekannten HF-Wellendetektorschaltung. -
28 ist ein Diagramm, das eine Kennlinie der detektierten Spannung über der Eingangsleistung für die in26 und27 gezeigten Schaltungen zeigt. -
1 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemäß einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. - Mit Bezug auf
1 sind Basis und Kollektor eines Transistors (ersten Transistors) Tr1 miteinander verbunden. Eine HF-Eingangsspannung (AC-Signal) Vin wird der Basis und somit dem Kollektor des Transistors Tr1 über einen Widerstand Rin und einen Gleichspannungsblockkondensator Cin eingegeben. Weiter wird der Basis und somit auch dem Kollektor des Transistors Tr1 auch eine Referenzspannung Vref1 über Widerstände Rref1 und Rref2 eingegeben. Der Emitter des Transistors Tr1 ist über einen Emitterwiderstand Re1 mit Masse verbunden. - Die Basis eines Transistors (zweiten Transistors) Tr2 ist über einen Widerstand (ersten Widerstand) Rbb1 mit der Basis des Transistors Tr1 verbunden. Eine Referenzspannung Vref2 wird dem Kollektor des Transistors Tr2 über einen Widerstand Rc1 eingegeben. Der Emitter des Transistors Tr2 ist über einen Emitterwiderstand Re2 mit Masse verbunden. Der Transistor Tr2 gibt an seinem Kollektor eine detektierte Spannung Vdet aus. Ein Glättungskondensator Cout und ein Glättungswiderstand Rout sind parallel zwischen Masse und die Verbindung zwischen dem Kollektor des Transistors Tr2 und dem Ausgangsanschluss fur die detektierte Spannung Vdet geschaltet.
- Ein Widerstand Rref13 und Transistoren (Temperaturkompensationstransistoren) Trb1, Trb2 und Trb3 sind in Reihe zwischen Masse und die Verbindung zwischen den Widerstanden Rref1 und Rref2 geschaltet. Basis und Kollektor jedes Transistors Trb1, Trb2 sind miteinander verbunden, und die Basis des Transistors Trb3 ist über einen Widerstand Rref4 mit dem Eingangsanschluss für die Referenzspannung Vref1 verbunden. Die Transistoren Trb1, Trb2 und Trb3 sind also als Diode geschaltet. Diese Transistoren Trb1, Trb2 und Trb3 und die Widerstände Rref13 und R Temperaturkompensationsschaltung. Es sei angemerkt, dass die Transistoren Tr1 und Tr2 sowie Trb1 bis Trb3 Heterojunction-Bipolartransistoren (HBTs) sind.
- Der Grundbetrieb dieser Wellendetektorschaltung ist wie folgt: die Verstärkungsrate zwischen den Transistoren Tr1 und Tr2 ist M:1 (M > 1). Das heißt, dass der Transistor Tr1 mehr Strom fließen lassen kann als der Transistor Tr2. Somit ist der Kollektorstrom des Transistors Tr2 das 1/M-fache des Referenzgleichstroms, der dem Transistor Tr1 von der Referenzgleichspannungsquelle Vref1 zugeführt wird. Es sei angemerkt, dass jeder Transistor so vorgespannt ist, dass die Ausgangsspannung Vdet minimal ist, wenn die HF-Eingangsspannung Vin nicht zugeführt wird.
- Wenn die dem Transistor Tr1 eingegebene HF-Eingangsspannung steigt, sinkt die Basis-Emitter-Gleichspannung des Transistors Tr1 und ebenso der Spiegelstrom, der durch den Transistor Tr2 fließt. Demzufolge steigt die detektierte Spannung oder Ausgangsspannung Vdet, weil der Spannungsabfall über den Widerstand Rc1 sinkt. Der Widerstand Rbb1 wird auf einen geeignet hohen Wert gesetzt, so dass die Kennlinie der detektierten Spannung Vdet über der Eingangsleistung Pin (die Vdet-Pin-Kennlinie) wie in
2 gezeigt eine relativ sanfte Steigung hat. Da es eine exponentielle Beziehung zwischen dem Kollektorstrom und der Basis-Emitter-Spannung eines Bipolartransistors gibt, ist es einfach, die Vdet-Pin-Kennlinie linear in dB einzustellen. - Es sei angemerkt, dass die Basis-Emitter-Spannungen der Transistoren Tr1 und Tr2 ohne die obige Temperaturkompensationsschaltung beim Ansteigen der Temperatur sinken und dass somit der Referenzstrom in dem Transistor Tr1 ansteigt, was zu einem Ansteigen des Spiegelstroms führt, der durch den Transistor Tr2 fließt, und somit zu einer Verringerung der detektierten Spannung Vdet. Mit der Temperaturkompensationsschaltung dagegen steigt bei einem Temperaturanstieg der durch die Transistoren Trb1, Trb2 und Trb3 fließende Strom an, was es ermöglicht, den Strom in dem Transistor Tr1 im wesentlichen konstant zu halten. Demzufolge ist es möglich, die detektierte Spannung Vdet (d. h. die Kollektorspannung des Transistors Tr2) auf einem konstanten Pegel zu halten.
- Somit kann die Wellendetektorschaltung der vorliegenden Ausführungsform ein HF-Leistungssignal mit einer geringen Spannungsamplitude detektieren durch Überwachen oder Erfassen kleiner Schwankungen in der Basis-Emitter-Gleichspannung des HBT. Weiter enthält diese Wellendetektorschaltung eine Temperaturkompensationsschaltung, um Schwankungen der detektierten Spannung aufgrund von Temperaturanderungen zu verringern. Weiter können alle Komponenten der Wellendetektorschaltung durch einen GaAs-HBT-Prozess gebildet werden, was es ermöglicht, die Detektorschaltung auf demselben Substrat zu integrieren wie den GaAs-HBT-Leistungsverstärker.
-
3 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemäß einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Die Wellendetektorschaltung der zweiten Ausführungsform unterscheidet sich von derjenigen der ersten Ausführungsform darin, dass sie zusätzlich einen Kondensator (zweiten Kondensator) Ce1 enthalt, der parallel zu dem Widerstand Re1 zwischen den Emitter des Transistors Tr1 und Masse geschaltet ist. Alle anderen Komponenten sind ähnlich den im Zusammenhang mit der ersten Ausführungsform beschriebenen. - Dieser Kondensator Ce1 bewirkt, dass die HF-Eingangsleistung an Re1 vorbeifließt, d. h. dass das HF-Eingangsleistungssignal uberwiegend durch den Kondensator Ce1 fließt. Das ermöglicht es der Wellendetektorschaltung, im Vergleich zu der ersten Ausführungsform eine geringere Eingangsleistung zu detektieren. Die in
2 gezeigte Vdet-Pin-Kennlinie wurde also entlang der Pin-Achse nach links verschoben. Es sei jedoch angemerkt, dass das keinen erhöhten dynamischen Eingangsleistungsbereich Pin der Wellendetektorschaltung bedeutet. Daher gerät die Wellendetektorschaltung bei einer geringeren Eingangsleistung Pin in die Sättigung. Es sei angemerkt, dass die vorliegende Ausführungsform auch die Wirkungen aufweist, die in Zusammenhang mit der ersten Ausführungsform beschrieben sind. -
4 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemäß einer dritten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Die Wellendetektorschaltung der dritten Ausführungsform unterscheidet sich von derjenigen der zweiten Ausführungsform darin, dass sie zusätzlich eine Diode variabler Kapazität usw. enthält, um eine variable Kapazität bereitzustellen. Genauer gesagt sind mit Bezug auf4 in Reihe geschaltete Kondensatoren Ce1 und Ce2 parallel zu dem Widerstand Re1 zwischen den Emitter des Transistors Tr1 und Masse geschaltet. Weiter ist ein Widerstand Rg1 zwischen einen Eingangsanschluss für eine Steuerspannung Vcnt und die Verbindung zwischen den Kondensatoren Ce1 und Ce2 geschaltet. Weiter ist eine Diode variabler Kapazität D1 an ihrer Kathode mit dem Verbindungspunkt zwischen den Kondensatoren Ce1 und Ce2 und an ihrer Anode mit Masse verbunden. Alle anderen Komponenten sind ahnlich den in Zusammenhang mit der ersten Ausführungsform beschriebenen. - Die obige Anordnung ermöglicht es, die in
2 gezeigte Vdet-Pin-Kennlinie entlang der Pin-Achse zu verschieben, indem der Kapazitätswert der Diode variabler Kapazitat D1 geändert wird. Auf diese Weise ist es möglich, eine geeignete Vdet-Pin-Kennlinie fur den erforderlichen Eingangsleistungsbereich einzustellen. Es sei angemerkt, dass die vorliegende Ausführungsform ebenfalls die Wirkungen aufweist, die in Zusammenhang mit der ersten Ausführungsform beschrieben sind. -
5 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemäß einer vierten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Die Wellendetektorschaltung der vierten Ausführungsform unterscheidet sich von derjenigen der zweiten Ausführungsform darin, dass sie anstelle der Transistoren Trb1 bis Trb3 Schottkydioden (Temperaturkompensationsdioden) D1 bis D4 enthält. - Die Schottkydioden D1 bis D4 werden für gewöhnlich in einem HBT-Prozess gebildet durch Bilden eines Metalls in einem Schottkykontakt mit einer Kollektorschicht. Das Barrierenpotential der Schottkydioden D1 bis D4 ist gering (etwa 0,7 V) verglichen mit demjenigen der Transistoren Trb1 bis Trb3 der zweiten Ausfuhrungsform (etwa 1,25 V). Daher ermoglicht es die vorliegende Ausführungsform, verschiedene Größen der Temperaturkompensation anzuwenden, was zu einem erhöhten Freiheitsgrad beim Entwurf der Temperaturkompensationsschaltung fuhrt. Es sei angemerkt, dass die resultierende Vdet-Pin-Kennlinie ähnlich derjenigen der zweiten Ausführungsform ist. Weiter weist die vorliegende Ausfuhrungsform ebenfalls die Wirkungen auf, die im Zusammenhang mit der zweiten Ausführungsform beschrieben sind.
-
6 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemäß einer fünften Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Die Wellendetektorschaltung der fünften Ausführungsform unterscheidet sich von derjenigen der zweiten Ausführungsform darin, dass ihre Temperaturkompensationsschaltung anstelle der Transistoren Trb1 bis Trb3 einen Stromspiegel und eine Konstantstromquelle Ib1 mit einem positiven Temperaturkoeffizienten enthält. Der Stromspiegel ist aus einem Transistor (erstem Temperaturkompensationstransistor) Trb1 und einem Transistor (zweiten Temperaturkompensationstransistor) Trb2 aufgebaut. Alle anderen Komponenten dieser Wellendetektorschaltung sind ähnlich denjenigen, die im Zusammenhang mit der zweiten Ausführungsform beschrieben sind. - Mit Bezug auf
6 ist der Transistor Trb2 zwischen den Widerstand Rref3 und Masse geschaltet, d. h. zwischen die Basis (und somit den Kollektor) des Transistors Tr1 und Masse. Basis und Kollektor des Transistors Trb2 sind zusammen mit der Basis des Transistors Trb1 verbunden. Die Konstantstromquelle Ib1 führt Basis und Kollektor des Transistors Trb1 einen Strom zu. - Die Konstantstromquelle Ib1 mit einem positiven Temperaturkoeffizienten kann aus einer Bandluckenreferenzspannungsquelle (BGR = Band Gap Reference), die in Si-Schaltungen häufig verwendet wird, und einem Emitterfolger aufgebaut sein. Es sei angemerkt, dass die BGR-Spannungsquelle eine Spannung von etwa 4 Vbe oder mehr aufweisen muss. Die BGR-Spannungsquelle kann so entworfen sein, dass sie leicht die Temperaturkennlinie der Konstantstromschaltung Ib1 einstellt und somit im Vergleich zu der zweiten und vierten Ausführungsform eine feinere Einstellung des Temperaturkoeffizienten der Temperaturkompensationsschaltung ermöglicht. Es sei angemerkt, dass die resultierende Vdet-Pin-Kennlinie ähnlich derjenigen der zweiten Ausführungsform ist. Weiter weist die vorliegende Ausführungsform ebenfalls die Wirkungen auf, die im Zusammenhang mit der zweiten Ausführungsform beschrieben sind.
-
7 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemäß einer sechsten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Die Wellendetektorschaltung der sechsten Ausführungsform unterscheidet sich von derjenigen der zweiten Ausführungsform darin, dass sie anstelle der aus den Transistoren Trb1 bis Trb3 gebildeten Temperaturkompensationsschaltung einen Transistor (Temperaturkompensationstransistor) Trb1 enthält, der mit dem Kollektor (der Ausgangsseite) des Transistors Tr2 verbunden ist. Alle anderen Komponenten sind ahnlich denjenigen, die im Zusammenhang mit der zweiten Ausführungsform beschrieben sind. - Der Transistor Trb1 ist zwischen den Eingangsanschluss für die Referenzspannung Vref2 und den Kollektor des Transistors Tr2 geschaltet. Basis und Kollektor des Transistors Trb1 sind miteinander verbunden, d. h. der Transistor Trb1 ist als Diode geschaltet.
- Wenn die Temperatur steigt, sinken die Basis-Emitter-Spannungen der Transistoren Tr1 und Tr2, und somit steigen der Referenzstrom in dem Transistor Tr1 und der Kollektorstrom des Transistors Tr2, was zu einem Ansteigen des Spannungsabfalls über den Widerstand Rc1 führt. Ohne den Transistor Trb1 würde dies zu einer Verringerung der detektierten Spannung Vdet führen. Mit dem Transistor Trb1 ist die Verringerung der detektierten Spannung Vdet jedoch eingeschränkt, da die Basis-Emitter-Spannung des Transistors Trb1 ebenfalls sinkt. Der Transistor Trb1 hat also eine Temperaturkompensationsfunktion. Es sei angemerkt, dass die resultierende Vdet-Pin-Kennlinie ähnlich derjenigen der zweiten Ausführungsform ist. Weiter weist die vorliegende Ausführungsform ebenfalls die Wirkungen auf, die im Zusammenhang mit der zweiten Ausführungsform beschrieben sind.
-
8 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemäß einer siebten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Die Wellendetektorschaltung der siebten Ausführungsform unterscheidet sich von derjenigen der sechsten Ausführungsform darin, dass ihre Temperaturkompensationsschaltung anstelle des Transistors Trb1 eine Schottkydiode (Temperaturkompensationsdiode) D1 enthalt. Die Verwendung der Schottkydiode erhöht den Freiheitsgrad beim Entwurf der Temperaturkompensationsschaltung. Es sei angemerkt, dass die resultierende Vdet-Pin-Kennlinie ähnlich derjenigen der zweiten Ausführungsform ist. Weiter weist die vorliegende Ausführungsform ebenfalls die Wirkungen auf, die im Zusammenhang mit der zweiten Ausfuhrungsform beschrieben sind. -
9 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemäß einer achten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Es sei angemerkt, dass die Wellendetektorschaltungen der ersten und zweiten Ausführungsform in zwei Blöcke unterteilt werden können: einen Detektorblock, der den Transistor Tr1 enthalt, und einen Spannungs-Strom-Wandlerblock, der den Transistor Tr2 enthält. Die Wellendetektorschaltung der vorliegenden Ausführungsform enthält einen einzelnen gemeinsamen Spannungs-Strom-Wandlerblock und eine Mehrzahl von Detektorblocken (nämlich zwei Detektorblöcke M1 und M2). Der Detektorblock M1 (und ebenso der Detektorblock M2) enthalten wie die Detektorblöcke der ersten und zweiten Ausführungsform einen Transistor Tr1, einen Widerstand Rbb1 und Transistoren Trb1, Trb2 und Trb3. Alle anderen Komponenten sind ähnlich denjenigen, die in Zusammenhang mit der zweiten Ausführungsform beschrieben sind. - Diese Wellendetektorschaltung ist geeignet für Mehrbandleistungsverstärker, von denen zu erwarten ist, dass sie in Zukunft weit verbreitet sein werden. Ein Mehrbandleistungsverstärker enthält so viele Ausgangseinheiten (in der Endstufe), wie Zielbänder vorhanden sind. Daher kann die Wellendetektorschaltung so aufgebaut sein, dass sie so viele Detektorblöcke enthalt, wie es Ausgabeeinheiten in dem Mehrbandleistungsverstärker gibt. So kann die Wellendetektorschaltung daran angepasst werden, unter Verwendung lediglich eines einzelnen gemeinsamen Spannungs-Strom-Wandlerblocks mit dem Mehrbandleistungsverstarker zusammenzupassen. Demzufolge erfordert die Wellendetektorschaltung der vorliegenden Ausführungsform im Vergleich zu herkömmlichen Wellendetektorschaltungen für Mehrbandleistungsverstarker lediglich einen verringerten Platz. Es sei angemerkt, dass die vorliegende Ausführungsform ebenfalls die Wirkungen aufweist, die in Zusammenhang mit der zweiten Ausführungsform beschrieben sind.
-
10 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemäß einer neunten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Die Wellendetektorschaltung der vorliegenden Ausführungsform enthält einen einzelnen gemeinsamen Detektorblock und eine Mehrzahl von Spannungs-Strom-Wandlerblöcken (nämlich zwei Spannungs-Strom-Wandlerblöcke VI1 und VI2). Der Spannungs-Strom-Wandlerblock VI1 (und ebenso der Spannungs-Strom-Wandlerblock VI2) enthält wie die Spannungs-Strom-Wandlerblöcke der ersten und zweiten Ausführungsform einen Transistor Tr2 und einen Widerstand Rbb1. Alle anderen Komponenten sind ähnlich denjenigen, die im Zusammenhang mit der zweiten Ausführungsform beschrieben sind. - Die Widerstände Rbb1 in den Spannungs-Strom-Wandlerblocken VI1 und VI2 können auf unterschiedliche Werte eingestellt sein zum Erzeugen unterschiedlicher detektierter Spannungen oder Ausgangsspannungen für dieselbe Eingangsleistung. Mit dieser Anordnung können Produkte mit verschiedenen Spezifikationen oder Verwendungen verschiedene detektierte Spannungen von derselben Wellendetektorschaltung empfangen. Es sei angemerkt, dass die vorliegende Ausfuhrungsform ebenfalls die Wirkungen aufweist, die im Zusammenhang mit der zweiten Ausführungsform beschrieben sind.
-
11 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemäß einer zehnten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Die Wellendetektorschaltung der zehnten Ausführungsform unterscheidet sich von derjenigen der zweiten Ausführungsform darin, dass sie zusätzlich einen Feldeffekttransistor F1 enthält, der parallel zu dem Widerstand Rbb1 geschaltet ist, um einen variablen Widerstand zu bilden. Genauer gesagt wird dem Gate des Feldeffekttransistor F1 über einen Widerstand Rg1 eine Steuerspannung Vcnt eingegeben. Mit dieser Anordnung wird die Steuerspannung Vcnt geändert, um die Übertragungseigenschaften der Transistoren Tr1 und Tr2 zu ändern und dadurch wie in12 gezeigt die Steigung der Vdet-Pin-Kennlinie einzustellen. Es sei angemerkt, dass die vorliegende Ausführungsform ebenfalls die Wirkungen aufweist, die im Zusammenhang mit der zweiten Ausführungsform beschrieben sind. -
13 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemäß einer elften Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Die Wellendetektorschaltung der elften Ausführungsform unterscheidet sich von derjenigen der zweiten Ausführungsform darin, dass sie zusatzlich einen Widerstand Rcc1 enthält, die zwischen die Basis und den Kollektor des Transistors Tr1 geschaltet ist. Der Wert dieses Widerstands Rcc1 kann geändert werden, um die Steigung der Vdet-Pin-Kennlinie wie in15 gezeigt zu ändern. Es sei angemerkt, dass die vorliegende Ausführungsform ebenfalls die Wirkungen aufweist, die im Zusammenhang mit der zweiten Ausführungsform beschrieben sind. - Gemaß einer zwölften Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ist der Widerstand Rbb1 in der Wellendetektorschaltung der ersten bis elften Ausführungsform durch eine Transistorbasisschicht implementiert. Da der Widerstand Rbb1, der zwischen die Transistoren Tr1 und Tr2 geschaltet ist, relativ hoch ist, beeinflusst die Gleichspannungsstromverstarkung β der Transistoren die Vdet-Pin-Kennlinie. Wenn die Gleichspannungsstromverstärkung β der Transistoren hoch ist, d. h. die Basisschicht dünn ist, ist daher der Widerstand Rbb1 hoch. Wenn dagegen die Gleichspannungsverstärkung β der Transistoren klein ist, ist der Widerstand Rbb1 klein. Somit ermöglicht die vorliegende Ausführungsform eine Einstellung der Steigung der Vdet-Pin-Kennlinie. Es sei angemerkt, dass die vorliegende Ausführungsform ebenfalls die Wirkungen aufweisen kann, die im Zusammenhang mit der ersten bis elften Ausführungsform beschrieben sind.
-
14 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemäß einer dreizehnten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Die Wellendetektorschaltung der dreizehnten Ausführungsform unterscheidet sich von derjenigen der zweiten Ausführungsform darin, dass der Stromspiegel der zweiten Ausführungsform durch einen Kaskodenspiegel ersetzt wurde. - Mit Bezug auf
14 sind Basis und Kollektor eines Transistors (ersten Transistors) Tr1a miteinander verbunden. Eine HF-Eingangsspannung (ein AC-Signal) Vin wird der Basis (und somit dem Kollektor) des Transistors Tr1a über einen Widerstand Rin und eine Gleichspannungsblockkapazität Cin1 eingegeben. Der Emitter des Transistors Tr1a ist über einen Widerstand Re1 mit Masse verbunden. Ein Kondensator (zweiter Kondensator) Ce1 ist parallel zu dem Widerstand R1 zwischen den Emitter des Transistors Tr1a und Masse geschaltet. - Die Basis eines Transistors (zweiten Transistors) Tr2a ist aber einen Widerstand (ersten Widerstand) Rbb1 mit der Basis des Transistors Tr1a verbunden. Der Emitter des Transistors Tr2a ist über einen Widerstand Re2 mit Masse verbunden.
- Der Emitter eines Transistors (dritten Transistors) Tr1b ist mit dem Kollektor des Transistors Tr1a verbunden. Basis und Kollektor des Transistors Tr1b sind miteinander verbunden. Eine Referenzspannung Vref1 wird der Basis und dem Kollektor des Transistors Tr1b über Widerstände Rref1 und Rref2 eingegeben.
- Die Basis eines Transistors (vierten Transistors) Tr2b ist uber einen Widerstand (zweiten Widerstand) Rbb2 mit der Basis des Transistors Tr1b verbunden. Eine Referenzspannung Vref2 wird dem Kollektor des Transistors Tr2b über einen Widerstand Rc1 eingegeben. Der Transistor Tr2b gibt an seinem Kollektor eine detektierte Spannung Vdet aus. Ein Glättungskondensator Cout und ein Glättungswiderstand Rout sind parallel zwischen Masse und die Verbindung zwischen dem Kollektor des Transistors Trb2 und den Ausgangsanschluss für die detektierte Spannung Vdet geschaltet.
- Ein Widerstand Rref3 und Transistoren (Temperaturkompensationstransistoren) Trb1, Trb2, Trb3 und Trb4 sind in Reihe zwischen Masse und die Verbindung zwischen den Widerständen Rref1 und Rref2 geschaltet. Basis und Kollektor jedes der Transistoren Trb1, Trb2 und Trb3 sind miteinander verbunden, und die Basis des Transistors Trb4 ist über einen Widerstand Rref4 mit dem Eingangsanschluss für die Referenzspannung Vref1 verbunden. Diese Transistoren Trb1, Trb2, Trb3 und Trb4 sind also als Diode geschaltet. Die Transistoren Trb1, Trb2, Trb3 und Trb4 und die Widerstände Rref3 und Rref4 bilden eine Temperaturkompensationsschaltung. Es sei angemerkt, dass die Transistoren Tr1a, Tr1b, Tr2a und Tr2b sowie Trb1 bis Trb4 Heterojunction-Bipolartransistoren (HBTs) sind. Die Verstärkungsrate zwischen dem Transistor Tr1a oder Tr1b und dem Transistor Tr2a oder Tr2b ist M:1 (M > 1). Die Transistoren Tr1a und Tr1b lassen also mehr Strom fließen als die Transistoren Tr2a und Tr2b.
- Bei dieser Kaskodenanordnung können die Werte der Widerstände Rbb1 und Rbb2 so eingestellt werden, dass wie in
15 gezeigt eine Vdet-Pin-Kennlinie mit einer sanften Steigung bereitgestellt wird. Die Kaskodeanordnung erfordert es, dass die Referenzspannungen Vref1 und Vref2 um 1 Vbe (oder etwa 1,3 V) höher sind als diejenigen in der zweiten Ausführungsform. Es sei angemerkt, dass die vorliegende Ausführungsform ebenfalls die Wirkungen aufweist, die im Zusammenhang mit der zweiten Ausführungsform beschrieben sind. -
16 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemäß einer vierzehnten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Die Wellendetektorschaltung der vierzehnten Ausführungsform unterscheidet sich von derjenigen der dreizehnten Ausführungsform darin, dass sie zusätzlich einen Kondensator (ersten Kondensator) Cin2 enthalt, der zwischen den Eingangsanschluss für die HF-Eingangsspannung Vin und die Basis und somit den Kollektor des Transistors Tr1b geschaltet ist. - Somit wird die HF-Eingangsspannung Vin den Transistoren Tr1a und Tr1b jeweils über die Kondensatoren Cin1 und Cin2 eingegeben, um eine Vdet-Pin-Kennlinie bereitzustellen mit einer sanfteren Steigung als die Vdet-Pin-Kennlinie der dreizehnten Ausfuhrungsform. Es sei angemerkt, dass die vorliegende Ausführungsform ebenfalls die Wirkungen aufweist, die in Zusammenhang mit der dreizehnten Ausführungsform beschrieben sind.
-
17 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung gemaß einer fünfzehnten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Die Wellendetektorschaltung der vorliegenden Ausführungsform unterscheidet sich von derjenigen der vierzehnten Ausführungsform darin, dass der Kondensator Cin1, der zwischen den Eingangsanschluss für die HF-Eingangsspannung Vin und die Basis und somit den Kollektor des Transistors Tr1a geschaltet ist, ein Variabler Kondensator und kein fester Kondensator ist. Mit dieser Anordnung kann der Wert des Kondensators Cin1 geändert werden, um die Steigung der Vdet-Pin-Kennlinie einzustellen. Es sei angemerkt, dass die vorliegende Ausfuhrungsform ebenfalls die Wirkungen aufweist, die im Zusammenhang mit der vierzehnten Ausführungsform beschrieben sind. -
18 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung. Diese Wellendetektorschaltung ist eine Detektorschaltung auf der Grundlage eines Spannungsverdopplers mit einer Temperaturkompensationsfunktion. - Mit Bezug auf
18 sind Basis und Kollektor eines Transistors (ersten Transistors) Tr1 miteinander verbunden. Eine Referenzspannung Vref1 wird der Basis und somit dem Kollektor des Transistors Tr1 uber Widerstande Rref1 und Rref2 zugeführt. Basis und Kollektor des Transistors Tr1 sind über einen Kondensator Cs1 mit Masse verbunden. Dieser Kondensator Cs1 trennt Basis und Kollektor des Transistors Tr1 gleichspannungsmäßig von Masse, um es zu ermöglichen, dass den Transistoren Tr1 und Tr2 auf einmal ein geeigneter Vorstrom von der Referenzspannungsquelle Vref1 zugeführt werden kann. - Mit Bezug weiter auf
18 sind auch Basis und Kollektor eines Transistors (zweiten Transistors) Tr2 miteinander verbunden. Der Emitter des Transistors Tr1 ist mit der Basis und daher mit dem Kollektor des Transistors Tr2 verbunden. Eine HF-Eingangsspannung (ein AC-Signal) wird der Basis und daher dem Kollektor des Transistors Tr2 über einen Widerstand Rin und einen Gleichspannungsblockkondensator Cin zugeführt. Der Transistor Tr2 gibt an seinem Kollektor eine detektierte Spannung Vdet aus. Ein Glättungskondensator Cout und ein Glättungswiderstand Rout sind parallel zwischen Masse und die Verbindung zwischen dem Kollektor des Transistors Tr2 und den Ausgangsanschluss für die detektierte Spannung Vdet geschaltet. - Ein Widerstand Rref3 und Transistoren (Temperaturkompensationstransistoren) Trb1, Trb2 und Trb3 sind in Reihe zwischen Masse und die Verbindung zwischen den Widerständen Rref1 und Rref2 geschaltet. Basis und Kollektor jedes der Transistoren Trb1 und Trb2 sind miteinander verbunden, und die Basis des Transistors Trb3 ist über einen Widerstand Rref4 mit dem Eingangsanschluss für die Referenzspannung Vref1 verbunden. Diese Transistoren Trb1, Trb2 und Trb3 sind also als Diode geschaltet. Die Transistoren Trb1, Trb2 und Trb3 und die Widerstände Rref3 und Rref4 bilden eine Temperaturkompensationsschaltung. Es sei angemerkt, dass die Transistoren Tr1 und Tr2 sowie Trb1 bis Trb3 Heterojunction-Bipolartransistoren (HBTs) sind.
-
19 ist ein Diagramm, das die Kennlinie der detektierten Spannung uber der Eingangsleistung der in18 gezeigten Wellendetektorschaltung zeigt. Da diese Wellendetektorschaltung aus einem Spannungsverdoppler aufgebaut ist, kann sie eine höhere detektierte Spannung erzeugen als die Wellendetektorschaltung der ersten Ausführungsform. Es sei angemerkt, dass die vorliegende Ausfuhrungsform ebenfalls die Wirkungen aufweist, die im Zusammenhang mit der ersten Ausführungsform beschrieben sind. -
20 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung. Die Wellendetektorschaltung unterscheidet sich von derjenigen der vorherigen Ausführungsform darin, dass ihre Temperaturkompensationsschaltung anstelle der Transistoren Trb1 bis Trb3 Schottkydioden (Temperaturkompensationsdioden) D1 bis D4 enthält. Das ermöglicht es, verschiedene Größen der Temperaturkompensation anzuwenden, was zu einem erhöhten Freiheitsgrad beim Entwurf der Temperaturkompensationsschaltung führt. Es sei angemerkt, dass die vorliegende Ausführungsform ebenfalls die Wirkungen aufweist, die im Zusammenhang mit der vorherigen Ausführungsform beschrieben sind. -
21 ist ein Schaltbild einer Wellendetektorschaltung. Die Wellendetektorschaltung unterscheidet sich von derjenigen der Ausführungsform nach18 darin, dass ihre Temperaturkompensationsschaltung anstelle der Transistoren Trb1 bis Trb3 eine Stromspiegelschaltung enthalt. Die Stromspiegelschaltung ist aus Transistoren Trb1 und Trb2 und Widerständen Rref3 und Rref4 aufgebaut. Der Widerstand Rref3 und der Transistor Trb1 sind in Reihe zwischen die Basis und daher den Kollektor des Transistors Tr1 und Masse geschaltet. Der Transistor Trb1 ist als Diode geschaltet. Weiter sind der Widerstand Rref4 und der Transistor Trb2 in Reihe zwischen Masse und die Verbindung zwischen dem Widerständen Rref1 und Rref2 geschaltet. Diese Anordnung ermöglicht es im Vergleich zu der Schaltung nach18 , die Schaltungsgröße um eine Menge zu verringern, die äquivalent zu der Größe eines Einzeltransistors ist. Es sei angemerkt, dass die vorliegende Wellendetektorschaltung ebenfalls die Wirkungen aufweist, die in Zusammenhang mit der Schaltung nach18 beschrieben sind. -
22 ist eine Draufsicht auf eine Anordnung einer Wellendetektorschaltung und eines dreistufigen Leistungsverstämrkers gemaß einer neunzehnten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. In der Figur bezeichnen die Symbole Tr11, Tr12 und Tr13 GaAs-HBTs, IM1, IS1, IS2 und OM1 Anpassschaltungen und DET die Wellendetektorschaltung. - Gemaß der vorliegenden Ausführungsform ist eine beliebige der Wellendetektorschaltungen der ersten bis fünfzehnten Ausführungsform auf dem selben Substrat wie ein GaAs-HBT-Leistungsverstarker integriert. Die Wellendetektorschaltung DET (die zum Überwachen des HF-Leistungssignals bereitgestellt ist) führt eine HF-Detektion auf der Basisseite des Endstufentransistors Tr13 des Leistungsverstärkers durch. Die Wellendetektorschaltung DET ist von der Basisleitung des Endstufentransistors Tr13 des Leistungsverstarkers auf dem Chip um einen Abstand (d) eines Zwanzigstels oder weniger der Wellenlange des AC-Signals entfernt. Das erlaubt es, dass die parasitare Induktivität der Verbindungsleitungen verringert ist, so dass Schwankungen der detektierten Spannung aufgrund von Frequenzänderung auf ein in der Praxis annehmbares Niveau begrenzt sind.
- Selbstverständlich sind im Licht der obigen Lehre zahlreiche Abwandlungen und Varianten der vorliegenden Erfindung möglich.
Claims (15)
- Wellendetektorschaltung mit einem ersten Transistor (Tr1), dessen Basis und Kollektor miteinander verbunden sind, wobei der erste Transistor (Tr1) so beschaltet ist, dass er ein AC-Signal (Vin) und eine Referenzspannung (Vref1) an der Basis und dem Kollektor empfangen kann, einem zweiten Transistor (Tr2), dessen Basis über einen ersten Widerstand (Rbb1) mit der Basis des ersten Transistors (Tr1) verbunden ist, wobei der zweite Transistor (Tr2) so beschaltet ist, dass er an seinem Kollektor eine detektierte Spannung (Vdet) ausgeben kann, dadurch gekennzeichnet, dass sie weiter einen als Diode geschalteten Temperaturkompensationstransistor (Trb1, Trb2, Trb3) enthält, der zwischen Masse und die Basis und somit den Kollektor des ersten Transistors (Tr1) geschaltet ist, wobei der erste und zweite Transistor (Tr1, Tr2) einen Stromspiegel mit einer Verstärkungsrate von weniger als 1 bilden.
- Wellendetektorschaltung mit einem ersten Transistor (Tr1), dessen Basis und Kollektor miteinander verbunden sind, wobei der erste Transistor (Tr1) so beschaltet ist, dass er ein AC-Signal (Vin) und eine Referenzspannung (Vref1) an der Basis und dem Kollektor empfangen kann, einem zweiten Transistor (Tr2), dessen Basis über einen ersten Widerstand (Rbb1) mit der Basis des ersten Transistors (Tr1) verbunden ist, wobei der zweite Transistor (Tr2) so beschaltet ist, dass er an seinem Kollektor eine detektierte Spannung (Vdet) ausgeben kann, dadurch gekennzeichnet, dass sie weiter eine Temperaturkompensationsdiode (D1–D4) enthält, die zwischen Masse und die Basis und somit den Kollektor des ersten Transistors (Tr1) geschaltet ist, wobei der erste und zweite Transistor (Tr1, Tr2) einen Stromspiegel mit einer Verstärkungsrate von weniger als 1 bilden.
- Wellendetektorschaltung mit einem ersten Transistor (Tr1), dessen Basis und Kollektor miteinander verbunden sind, wobei der erste Transistor (Tr1) so beschaltet ist, dass er ein AC-Signal (Vin) und eine Referenzspannung (Vref1) an der Basis und dem Kollektor empfangen kann, einem zweiten Transistor (Tr2), dessen Basis über einen ersten Widerstand (Rbb1) mit der Basis des ersten Transistors (Tr1) verbunden ist, wobei der zweite Transistor (Tr2) so beschaltet ist, dass er an seinem Kollektor eine detektierte Spannung (Vdet) ausgeben kann, dadurch gekennzeichnet, dass sie weiter enthält: einen ersten Temperaturkompensationstransistor (Trb2), der zwischen Masse und die Basis und somit den Kollektor des ersten Transistors (Tr1) geschaltet ist, einen zweiten Temperaturkompensationstransistor (Trb1), dessen Basis und Kollektor miteinander und mit einer Basis des ersten Temperaturkompensationstransistors (Trb2) verbunden sind, und eine Konstantstromquelle (Ib1) zum Liefern eines Stroms an Basis und Kollektor des zweiten Temperaturkompensationstransistors (Trb1), wobei die Konstantstromquelle (Ib1) einen positiven Temperaturkoeffizienten aufweist, wobei der erste und zweite Transistor (Tr1, Tr2) einen Stromspiegel mit einer Verstärkungsrate von weniger als 1 bilden.
- Wellendetektorschaltung mit einem ersten Transistor (Tr1), dessen Basis und Kollektor miteinander verbunden sind, wobei der erste Transistor (Tr1) so beschaltet ist, dass er ein AC-Signal (Vin) und eine erste Referenzspannung (Vref1) an der Basis und dem Kollektor empfangen kann, einem zweiten Transistor (Tr2), dessen Basis über einen ersten Widerstand (Rbb1) mit der Basis des ersten Transistors (Tr1) verbunden ist, wobei der zweite Transistor (Tr2) so beschaltet ist, dass er an seinem Kollektor eine detektierte Spannung (Vdet) ausgeben kann, dadurch gekennzeichnet, dass sie weiter einen als Diode geschalteten Temperaturkompensationstransistor (Trb1) enthält, der zwischen einen Eingangsanschluss für eine zweite Referenzspannung (Vref2) und den Kollektor des zweiten Transistors (Tr2) geschaltet ist, wobei der erste und zweite Transistor (Tr1, Tr2) einen Stromspiegel mit einer Verstärkungsrate von weniger als 1 bilden.
- Wellendetektorschaltung mit einem ersten Transistor (Tr1), dessen Basis und Kollektor miteinander verbunden sind, wobei der erste Transistor (Tr1) so beschaltet ist, dass er ein AC-Signal (Vin) und eine erste Referenzspannung (Vref1) an der Basis und dem Kollektor empfangen kann, einem zweiten Transistor (Tr2), dessen Basis über einen ersten Widerstand (Rbb1) mit der Basis des ersten Transistors (Tr1) verbunden ist, wobei der zweite Transistor (Tr2) so beschaltet ist, dass er an seinem Kollektor eine detektierte Spannung (Vdet) ausgeben kann, und einer Temperaturkompensationsdiode (D1–D4), die zwischen einen Eingangsanschluss für eine zweite Referenzspannung (Vref2) und den Kollektor des zweiten Transistors (Tr2) geschaltet ist, dadurch gekennzeichnet, dass der erste und zweite Transistor (Tr1, Tr2) einen Stromspiegel mit einer Verstärkungsrate von weniger als 1 bilden.
- Wellendetektorschaltung nach Anspruch 1 mit einer Mehrzahl von Blöcken (M1, M2), von denen jeder den ersten Transistor (Tr1), den ersten Widerstand (Rbb1) und den Temperaturkompensationstransistor (Trb1, Trb2, Trb3) enthält.
- Wellendetektorschaltung nach Anspruch 1 mit einer Mehrzahl von Blöcken (VI1, VI2), von denen jeder den zweiten Transistor (Tr2) und den ersten Widerstand (Rbb1) enthält.
- Wellendetektorschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, bei der der Wert des ersten Widerstands (Rbb1) verändert werden kann.
- Wellendetektorschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 8 mit einem zweiten Widerstand (Rcc1), der mit der Basis und dem Kollektor des ersten Transistors (Tr1) verbunden ist.
- Wellendetektorschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 9, bei der der erste Widerstand (Rbb1) aus einer Transistorbasisschicht gebildet ist.
- Wellendetektorschaltung mit einem ersten Transistor (Tr1a), dessen Basis und Kollektor miteinander verbunden sind, wobei der erste Transistor (Tr1a) so beschaltet ist, dass er ein AC-Signal (Vin) an der Basis und dem Kollektor empfangen kann, einem zweiten Transistor (Tr2a), dessen Basis über einen ersten Widerstand (Rbb1) mit der Basis des ersten Transistors (Tr1a) verbunden ist, einem dritten Transistor (Tr1b), dessen Basis und Kollektor miteinander verbunden sind und dessen Emitter mit dem Kollektor des ersten Transistors (Tr1a) verbunden ist, wobei der dritte Transistor (Tr1b) so beschaltet ist, dass er eine Referenzspannung (Vref1) an der Basis und dem Kollektor empfangen kann, einem vierten Transistor (Tr2b), dessen Emitter mit dem Kollektor des zweiten Transistors (Tr2a) verbunden ist und dessen Basis über einen zweiten Widerstand (Rbb2) mit der Basis des dritten Transistors (Tr1b) verbunden ist, wobei der vierte Transistor (Tr2b) so beschaltet ist, dass er an seinem Kollektor eine detektierte Spannung (Vdet) ausgeben kann, und einem als Diode geschalteten Temperaturkompensationstransistor (Trb1, Trb2, Trb3), der zwischen Masse und die Basis und somit den Kollektor des dritten Transistors (Tr1b) geschaltet ist wobei der erste bis vierte Transistor (TR1a, TR1b, Tr2a, Tr2b) einen Stromspiegel mit einer Verstärkungsrate von weniger als 1 bilden.
- Wellendetektorschaltung nach Anspruch 12 mit einem ersten Kondensator (Cin2), der zwischen einen Eingangsanschluss für das AC-Signal (Vin) und die Basis und somit den Kollektor des dritten Transistors (Tr1b) geschaltet ist.
- Wellendetektorschaltung nach Anspruch 12 oder 13 mit einem variablen Kondensator (Cin1), der der zwischen einen Eingangsanschluss für das AC-Signal (Vin) und die Basis und somit den Kollektor des ersten Transistors (Tr1a) geschaltet ist.
- Wellendetektorschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 15 mit einem zweiten Kondensator (Ce1), der zwischen den Emitter des ersten Transistors (Tr1; Tr1a) und Masse geschaltet ist.
- Wellendetektorschaltung nach Anspruch 16, bei der der Wert des zweiten Kondensators (Ce1) verändert werden kann.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006-335861 | 2006-12-13 | ||
JP2006335861A JP4689591B2 (ja) | 2006-12-13 | 2006-12-13 | 検波回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102007040061A1 DE102007040061A1 (de) | 2008-06-19 |
DE102007040061B4 true DE102007040061B4 (de) | 2013-10-10 |
Family
ID=39399893
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102007040061A Active DE102007040061B4 (de) | 2006-12-13 | 2007-08-24 | Wellendetektorschaltung |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7705658B2 (de) |
JP (1) | JP4689591B2 (de) |
DE (1) | DE102007040061B4 (de) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7688112B2 (en) * | 2006-12-13 | 2010-03-30 | Advanced Science & Novel Technology | Anti-SEE protection techniques for high-speed ICs with a current-switching architecture |
JP5024057B2 (ja) | 2008-01-07 | 2012-09-12 | 三菱電機株式会社 | 電力増幅器 |
TWI406497B (zh) * | 2009-06-02 | 2013-08-21 | Richwave Technology Corp | 具溫度和輸出功率補償機制之功率放大器積體電路 |
US8228122B1 (en) * | 2009-06-05 | 2012-07-24 | EpicCom, Inc. | Regulator and temperature compensation bias circuit for linearized power amplifier |
JP4851577B2 (ja) * | 2009-11-10 | 2012-01-11 | シャープ株式会社 | 検波回路、及び、高周波回路 |
JP2018011181A (ja) | 2016-07-13 | 2018-01-18 | 株式会社村田製作所 | 検波回路 |
CN106255251B (zh) * | 2016-08-31 | 2022-11-18 | 广东美的厨房电器制造有限公司 | 微波检测电路及包含该微波检测电路的微波炉 |
EP3333656B1 (de) * | 2016-12-08 | 2021-06-23 | Siemens Aktiengesellschaft | Schaltungsanordnung für einen digitaleingang einer peripheriebaugruppe und peripheriebaugruppe |
JP6944108B2 (ja) | 2017-08-23 | 2021-10-06 | 富士通株式会社 | 検波回路及び無線通信装置 |
JP7024703B2 (ja) * | 2018-12-28 | 2022-02-24 | 株式会社村田製作所 | 電力増幅回路及び電子機器 |
KR102262903B1 (ko) * | 2019-04-18 | 2021-06-09 | 삼성전기주식회사 | 듀얼 보상 기능을 갖는 바이어스 회로 및 증폭 장치 |
US10698435B1 (en) * | 2019-05-10 | 2020-06-30 | Groupe Veritron Inc. | Electronic current equalization module, current mirror circuit and method of assembling a current mirror circuit |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3135249A1 (de) * | 1981-09-05 | 1984-01-19 | ANT Nachrichtentechnik GmbH, 7150 Backnang | Aktiver gleichrichter |
DE3205286C2 (de) * | 1981-02-16 | 1986-03-27 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd., Kadoma, Osaka | Demodulator für ein amplitudenmoduliertes Signal |
JPH02100504A (ja) * | 1988-10-07 | 1990-04-12 | Fuji Photo Film Co Ltd | 磁気記録再生装置のエンベロープ検波回路 |
EP1050956A1 (de) * | 1998-01-20 | 2000-11-08 | T.I.F. Co., Ltd. | Detektorschaltung |
US7071783B2 (en) * | 2002-07-19 | 2006-07-04 | Micro Mobio Corporation | Temperature-compensated power sensing circuit for power amplifiers |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0280972A (ja) | 1988-09-16 | 1990-03-22 | Canon Inc | 検波回路 |
JP2002151982A (ja) * | 2000-11-15 | 2002-05-24 | Hitachi Ltd | 高周波電力増幅回路及び無線通信機並びに無線通信システム |
US6720831B2 (en) * | 2002-04-26 | 2004-04-13 | Rf Micro Devices, Inc. | Power amplifier protection circuit |
US6822515B2 (en) * | 2002-07-19 | 2004-11-23 | Ikuroh Ichitsubo | Accurate power sensing circuit for power amplifiers |
JP4267983B2 (ja) * | 2002-09-25 | 2009-05-27 | 株式会社豊田中央研究所 | 起動信号出力回路 |
JP4263065B2 (ja) * | 2003-09-29 | 2009-05-13 | シャープ株式会社 | 半導体回路、半導体装置および無線通信装置 |
US7440734B1 (en) * | 2006-02-06 | 2008-10-21 | Rf Micro Devices, Inc. | Active quadrature radio frequency power detector |
-
2006
- 2006-12-13 JP JP2006335861A patent/JP4689591B2/ja active Active
-
2007
- 2007-05-15 US US11/748,601 patent/US7705658B2/en active Active
- 2007-08-24 DE DE102007040061A patent/DE102007040061B4/de active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3205286C2 (de) * | 1981-02-16 | 1986-03-27 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd., Kadoma, Osaka | Demodulator für ein amplitudenmoduliertes Signal |
DE3135249A1 (de) * | 1981-09-05 | 1984-01-19 | ANT Nachrichtentechnik GmbH, 7150 Backnang | Aktiver gleichrichter |
JPH02100504A (ja) * | 1988-10-07 | 1990-04-12 | Fuji Photo Film Co Ltd | 磁気記録再生装置のエンベロープ検波回路 |
EP1050956A1 (de) * | 1998-01-20 | 2000-11-08 | T.I.F. Co., Ltd. | Detektorschaltung |
US7071783B2 (en) * | 2002-07-19 | 2006-07-04 | Micro Mobio Corporation | Temperature-compensated power sensing circuit for power amplifiers |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
TIETZE, U.; SCHENK, Ch.: Halbleiter-Schaltungstechnik, 9. Auflage, Springer Verlag Berlin, 1989, S. 474 - 475 und 492. - ISBN 3-540-19475-4 * |
TIETZE, U.; SCHENK, Ch.: Halbleiter-Schaltungstechnik, 9. Auflage, Springer Verlag Berlin, 1989, S. 474 - 475 und 492. – ISBN 3-540-19475-4 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20080174356A1 (en) | 2008-07-24 |
US7705658B2 (en) | 2010-04-27 |
JP2008148214A (ja) | 2008-06-26 |
DE102007040061A1 (de) | 2008-06-19 |
JP4689591B2 (ja) | 2011-05-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE102007040061B4 (de) | Wellendetektorschaltung | |
DE69736107T2 (de) | Vorspannungseinstellung für leistungsverstärker | |
DE102008062308B4 (de) | Leistungsverstärker | |
DE60009476T2 (de) | Vorverzerrer gekoppelt an einen hf verstärker | |
DE2146418C3 (de) | Gegentaktverstärker mit verbesserter Stromverstärkung bei hohen Frequenzen | |
DE3035272C2 (de) | ||
DE3009905A1 (de) | Geregelter verstaerker und pin-diode zur verwendung in einem solchen | |
DE2513906B2 (de) | Stromspiegelverstaerker | |
DE3307602C2 (de) | Schaltungsanordnung zur Verschiebung des Gleichspannungspegels von Signalen | |
DE2638801A1 (de) | Kleinsignaltransistorverstaerker | |
DE60122381T2 (de) | Hochfrequenz-halbleiterbauelement | |
DE1812292A1 (de) | Geregelte Verstaerkerschaltung | |
DE3011933C2 (de) | Leistungsverstärker | |
DE2129108A1 (de) | Verstärkerschaltung | |
DE60126477T2 (de) | Linearisierer | |
DE2462423C3 (de) | Operationsverstärker | |
DE2936286B2 (de) | Breitbandverstärker | |
DE69122424T2 (de) | Sehr breitbandige Verstärkungseinrichtung für Gleichstrom bis Mikrowellen, insbesondere geeignet für integrierte Schaltungen | |
DE2529966C3 (de) | Transistorverstärker | |
DE2833056C3 (de) | HF-Verstärker | |
DE1247405B (de) | In einem weiten Bereich regelbarer einstufiger Transistorverstaerker | |
DE4427974C1 (de) | Bipolare kaskadierbare Schaltungsanordnung zur Signalbegrenzung und Feldstärkedetektion | |
DE2949779A1 (de) | Verstaerkersystem mit automatischer verstaerkungsregelung, beispielsweise fuer einen am-rundfunkempfaenger | |
DE2120286A1 (de) | Pegelschiebeschaltung | |
DE3007715A1 (de) | Verstaerkerschaltung mit durch eine steuerspannung steuerbarer gesamtverstaerkung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R018 | Grant decision by examination section/examining division | ||
R020 | Patent grant now final |
Effective date: 20140111 |
|
R084 | Declaration of willingness to licence | ||
R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: MURATA MANUFACTURING CO., LTD., NAGAOKAKYO-SHI, JP Free format text: FORMER OWNER: MITSUBISHI ELECTRIC CO., TOKYO, JP Owner name: MURATA MANUFACTURING CO., LTD., NAGAOKAKYO-SHI, JP Free format text: FORMER OWNER: MITSUBISHI ELECTRIC CORP., TOKYO, JP |
|
R082 | Change of representative |
Representative=s name: DENNEMEYER & ASSOCIATES S.A., LU |