CN103293771A - 液晶配向检查机及方法 - Google Patents

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Abstract

一种液晶配向检测方法，包括步骤：将待检测的液晶阵列基板与液晶配向检测机连接，其中，该液晶阵列基板包括若干信号输入端，该液晶配向检测机包括探针治具、电压印加装置以及阻抗检测装置，该探针治具包括若干探针端，每一探针端均包括第一、第二探针，该若干探针端分别与液晶阵列基板的若干信号输入端连接；通过电压印加装置对液晶阵列基板的若干信号输入端输入相应的电压而对液晶阵列基板进行影像检查；通过阻抗检测装置检测液晶阵列基板的若干信号输入端两两之间的阻抗值而判断信号输入端两两之间是否发生短路。本发明还提供一种液晶配向检测机。本发明的液晶配向检测机及方法，无需停机，可完成对液晶配向检查以及基板信号输入端的短路检查。

Description

液晶配向检查机及方法
技术领域
本发明涉及一种系统，特别涉及一种液晶配向检查机及方法。
背景技术
目前，液晶显示面板已经广泛使用在液晶电视、液晶显示器等电子装置中。目前液晶显示面板的制造中，均为通过一整块的基板切割得到多个液晶显示面板。而对于该整块基板，需要进行HVA光配向，即，在给基板印加电压的情况下，通过紫外线UV光照射促使面板内单体反应，从而达到液晶配向的目的。目前，HVA光配向技术已广泛应用于高世代TFT-LCD行业中。为保证液晶在UV紫外线光照射下能形成特定的配向角，通常为通过UVM机台(紫外线光配向机台)通过电压印加装置对基板输入电压使液晶旋转形成预倾角。一般，基板边缘具有多个信号输入端(curing pad)，包括彩膜公共电极(CF_Com)信号输入端、蓝像素(Blue)信号输入端、绿像素(Green)信号输入端、红像素(Red)信号输入端、栅极奇数(Odd)信号输入端、栅极偶数(Even)信号输入端以及阵列电路公共电极(A_Com)信号输入端。UVM机台通过电压印加装置对该些多个信号输入端输入相应的电压而进行HVA光配向。目前，为了保证基板HVA光配向的良好，在基板进行了HVA光配向后，还需要通过一AOI检查机(配向后液晶检查机)检测是否配向良好。其中，该AOI检查机与UVM机台一样需通过电压印加装置给基板印加电压，而检查基板的影像是否良好而判断是否有配向不良。然而，当AOI检查机检测有配向不良时，当确认不是UVM机台造成的配向不良，则通常需在将AOI检查机停机，并手动使用电压表测量基板的各个信号输入端之间的阻抗值，判断是否有信号输入端之间短路的现象而排查配向不良的原因。
然而，在AOI检查机停机时，无法对其他基板进行检测，且现有中需要人工使用电压表检查，耽误了时间。
发明内容
本发明提供一种液晶配向检测机及方法，无需进行停机即可检测基板的配向不良以及检测基板的信号输入端之间的阻抗值而排查不良。
一种液晶配向检测机，用于对一已配向的液晶阵列基板进行检测，该液晶阵列基板包括设置于该液晶阵列基板边缘的彩膜公共电极信号输入端、蓝像素信号输入端、绿像素信号输入端、红像素信号输入端、栅极奇数信号输入端、栅极偶数信号输入端以及阵列电路公共电极信号输入端，其特征在于，该液晶配向检测机包括探针治具、电压印加装置以及阻抗检测装置。该探针治具包括若干探针端，每一探针端均包括第一、第二两个探针，该若干探针端用于在对液晶阵列基板进行检测时，分别与液晶阵列基板的彩膜公共电极信号输入端、蓝像素信号输入端、绿像素信号输入端、红像素信号输入端、栅极奇数信号输入端、栅极偶数信号输入端以及阵列电路公共电极信号输入端一一电接触。该电压印加装置，包括若干电压输出端，该若干电压输出端分别与该每一探针端的第一探针一一连接，该电压印加装置通过每一探针端的第一探针施加相应的电压至液晶阵列基板的彩膜公共电极信号输入端、蓝像素信号输入端、绿像素信号输入端、红像素信号输入端、栅极奇数信号输入端、栅极偶数信号输入端以及阵列电路公共电极信号输入端，而对液晶阵列基板进行影像检查，判断液晶阵列基板是否有配向不良。该阻抗检测装置包括若干连接端，该若干连接端分别与该每一探针端的第二探针一一连接，该阻抗检测装置用于在液晶阵列基板的影像检查完成后，通过侦测该些第二探针两两之间的阻抗值而得到液晶阵列基板的彩膜公共电极信号输入端、蓝像素信号输入端、绿像素信号输入端、红像素信号输入端、栅极奇数信号输入端、栅极偶数信号输入端以及阵列电路公共电极信号输入端两两之间的阻抗值而判断该些信号输入端两两之间是否发生短路。
其中，该阻抗检测装置包括一具有两个接头的电压表以及一可编程逻辑电路开关，该可编程逻辑电路开关连接于该电压表的两个接头与该阻抗检测装置的若干连接端之间，用于依次导通该电压表的两个接头与其中两个连接端之间的连接，从而，使得电压表的两个接头依次与探针端中的其中两个探针端的第二探针连接，而依次检测液晶阵列基板的彩膜公共电极信号输入端、蓝像素信号输入端、绿像素信号输入端、红像素信号输入端、栅极奇数信号输入端、栅极偶数信号输入端以及阵列电路公共电极信号输入端中的两个之间的阻抗值。
其中，该阻抗检测装置检测该两个信号输入端之间的阻抗值小于一定值时，则表明该两个信号输入端之间存在短路。
其中，该液晶配向检测机还包括显示设备以及可编程逻辑电路，该显示设备与该电压印加装置以及阻抗检测装置均通过可编程逻辑电路连接。
其中，电压印加装置施加给液晶阵列基板的电压值通过该可编程逻辑电路传送至该显示设备进行显示，以供用户检查施加电压是否正确。
其中，阻抗检测装置检测的阻抗值通过该可编程逻辑电路传送至该显示设备进行显示，以供用户根据该阻抗值判断液晶阵列基板的信号输入端之间是否存在短路。
一种液晶配向检测方法，包括步骤：将待检测的液晶阵列基板与一液晶配向检测机连接，其中，该液晶阵列基板包括若干信号输入端，该液晶配向检测机包括探针治具、电压印加装置以及阻抗检测装置，该探针治具包括若干探针端，每一探针端均包括第一、第二两个探针，该若干探针端分别与液晶阵列基板的该若干信号输入端一一连接；通过电压印加装置对液晶阵列基板的若干信号输入端输入相应的电压而对液晶阵列基板进行影像检查；通过阻抗检测装置检测液晶阵列基板的若干信号输入端两两之间的阻抗值而判断该些信号输入端两两之间是否发生短路。
其中，电压印加装置包括分别与该每一探针端的第一探针连接的若干电压输出端，该步骤“通过电压印加装置对液晶阵列基板的若干信号输入端输入相应的电压而对液晶阵列基板进行影像检查”包括：该电压印加装置通过每一探针端的第一探针施加相应的电压至液晶阵列基板的若干信号输入端而对液晶阵列基板进行影像检查。
其中，阻抗检测装置包括分别与该每一探针端的第二探针一一连接的若干连接端，该步骤“通过阻抗检测装置检测液晶阵列基板的若干信号输入端两两之间的阻抗值”包括：通过侦测若干第二探针两两之间的阻抗值而得到液晶阵列基板的若干信号输入端两两之间的阻抗值。
其中，该方法还包括步骤：将阻抗检测装置检测的阻抗值通过可编程逻辑电路传送至显示设备进行显示。
本发明的液晶配向检测机及方法，无需停机，可完成对液晶配向检查以及基板信号输入端的短路检查。
附图说明
图1是本发明一实施方式中液晶配向检测机的模块架构图。
图2是本发明一实施方式中液晶配向检测机中的阻抗检测装置的内部结构图。
图3是本发明一实施方式中液晶配向检测方法的流程图。
具体实施方式
请参阅图1，为本发明液晶配向检测机100的模块架构图。该液晶配向检测机100用于对一已配向的液晶阵列基板200进行检测。
其中，该液晶阵列基板200包括设置于该液晶阵列基板边缘的彩膜公共电极(CF_Com)信号输入端CP1、蓝像素(Blue)信号输入端CP2、绿像素(Green)信号输入端CP3、红像素(Red)信号输入端CP4、栅极奇数(Odd)信号输入端CP5、栅极偶数(Even)信号输入端CP6以及阵列电路公共电极(A_Com)信号输入端CP7。
该液晶配向检测机100包括探针治具10、电压印加装置20以及阻抗检测装置30。
该探测治具10包括若干探针端P1～P7，每一探针端均包括两个探针SP、SP2。该若干探针端P1～P7用于在对液晶阵列基板200进行检测时，分别与液晶阵列基板200的彩膜公共电极信号输入端CP1、蓝像素信号输入端CP2、绿像素信号输入端CP3、红像素信号输入端CP4、栅极奇数信号输入端CP5、栅极偶数信号输入端CP6以及阵列电路公共电极信号输入端CP7一一电接触。
其中，每一探针端的两个探针SP、SP2用于连接该液晶阵列基板200的同一信号输入端。即，该探针端P1的两个探针SP、SP2与彩膜公共电极信号输入端CP1电接触，探针端P2的两个探针SP、SP2与蓝像素信号输入端CP2电接触，探针端P3的两个探针SP、SP2与绿像素信号输入端CP3电接触，探针端P4的两个探针SP、SP2与红像素信号输入端CP4电接触，探针端P5的两个探针SP、SP2与栅极奇数信号输入端CP5，探针端P6的两个探针SP、SP2与栅极偶数信号输入端CP6电接触，探针端P7的两个探针SP、SP2与阵列电路公共电极信号输入端CP7电接触。
该电压印加装置20包括若干电压输出端21，该若干电压输出端分别与该每一探针端的其中一个探针SP1连接，该电压印加装置20用于通过该探针端P1～P7的探针SP1与该液晶阵列基板200的彩膜公共电极信号输入端CP1、蓝像素信号输入端CP2、绿像素信号输入端CP3、红像素信号输入端CP4、栅极奇数信号输入端CP5、栅极偶数信号输入端CP6以及阵列电路公共电极信号输入端CP7电接触。
该阻抗检测装置30包括若干连接端31，该若干连接端分别与该每一探针端的另一探针SP2连接，该阻抗检测装置30通过该探针端P1～P7的探针SP2与该液晶阵列基板200的彩膜公共电极信号输入端CP1、蓝像素信号输入端CP2、绿像素信号输入端CP3、红像素信号输入端CP4、栅极奇数信号输入端CP5、栅极偶数信号输入端CP6以及阵列电路公共电极信号输入端CP7电接触。
其中，在该液晶配向检测机100对基板200进行液晶配向检查时，首先通过该电压印加装置20施加相应的电压至液晶阵列基板200的彩膜公共电极信号输入端CP1、蓝像素信号输入端CP2、绿像素信号输入端CP3、红像素信号输入端CP4、栅极奇数信号输入端CP5、栅极偶数信号输入端CP6以及阵列电路公共电极信号输入端CP7，而对液晶阵列基板200进行影像检查，判断液晶阵列基板200是否有配向不良。其中，该检测方式与现有相同，故不在此赘述。
在对液晶阵列基板200的影像检查完成后，电压印加装置20断电，即停止对液晶阵列基板200施加电压。
该阻抗检测装置30用于在液晶阵列基板200的影像检查完成后，通过侦测该些第二探针SP2两两之间的阻抗值而检测液晶阵列基板200的彩膜公共电极信号输入端CP1、蓝像素信号输入端CP2、绿像素信号输入端CP3、红像素信号输入端CP4、栅极奇数信号输入端CP5、栅极偶数信号输入端CP6以及阵列电路公共电极信号输入端CP7两两之间的阻抗值，从而根据该些阻抗值判断彩膜公共电极信号输入端CP1、蓝像素信号输入端CP2、绿像素信号输入端CP3、红像素信号输入端CP4、栅极奇数信号输入端CP5、栅极偶数信号输入端CP6以及阵列电路公共电极信号输入端CP7之间是否发生短路。如果有，则确定短路的两个信号输入端，以供用户进行相应的维修。
具体的，请一并参考图2，如图2所示，该阻抗检测装置30包括一具有两个接头C1、C2的电压表VM以及一可编程逻辑电路(PLC)开关PS。该可编程逻辑电路开关PS连接于该电压表VM的两个接头C1、C2与该若干连接端31之间，用于依次导通该电压表VM的两个接头C1、C2与其中两个连接端31之间的连接。从而，使得电压表VM的两个接头C1、C2依次与探针端P1～P7中的其中两个探针端的探针SP2连接。如前所述，由于探针端P1～P7的探针SP2分别与液晶阵列基板200的彩膜公共电极信号输入端CP1、蓝像素信号输入端CP2、绿像素信号输入端CP3、红像素信号输入端CP4、栅极奇数信号输入端CP5、栅极偶数信号输入端CP6以及阵列电路公共电极信号输入端CP7连接。从而，电压表VM的两个接头C1、C2依次与液晶阵列基板200的彩膜公共电极信号输入端CP1、蓝像素信号输入端CP2、绿像素信号输入端CP3、红像素信号输入端CP4、栅极奇数信号输入端CP5、栅极偶数信号输入端CP6以及阵列电路公共电极信号输入端CP7连接中的两个连接。因此，电压表VM检测到的两个接头C1、C2之间的阻抗值为当前两个接头连接的两个探针端的探针SP2之间的阻抗值也为该两个探针端的探针SP2对应连接的信号输入端之间的阻抗值。
该电压表VM分别测量液晶阵列基板200的彩膜公共电极信号输入端CP1、蓝像素信号输入端CP2、绿像素信号输入端CP3、红像素信号输入端CP4、栅极奇数信号输入端CP5、栅极偶数信号输入端CP6以及阵列电路公共电极信号输入端CP7中每两个之间的阻抗值，以供根据该些阻抗值确定液晶阵列基板200的彩膜公共电极信号输入端CP1、蓝像素信号输入端CP2、绿像素信号输入端CP3、红像素信号输入端CP4、栅极奇数信号输入端CP5、栅极偶数信号输入端CP6以及阵列电路公共电极信号输入端CP7之间是否发生短路。
具体的，在该电压表测量该两个信号输入端之间的阻抗值小于一定值(例如千欧姆级)时，则说明该两个信号输入端存在短路。
其中，如图1所示，该液晶配向检测机100还包括显示设备40以及可编程逻辑电路50。该显示设备40与该电压印加装置20以及阻抗检测装置30均通过可编程逻辑电路50连接。如图1所示，该显示设备40通过两个不同的可编程逻辑电路50分别与该电压印加装置20以及阻抗检测装置30连接。在其他实施方式中，该显示设备40可通过一个可编程逻辑电路50分别与该电压印加装置20以及阻抗检测装置30连接。
其中，阻抗检测装置30的检测结果，即该电压表VM检测的阻抗值还通过该可编程逻辑电路50传送至该显示设备40进行显示，以供用户根据该阻抗值判断液晶阵列基板200的信号输入端之间是否存在短路。显然，用户也可以直接从电压表VM上读取两个信号输入端之间的阻抗值而判断该两个信号端是否短路。
其中，电压印加装置20施加给液晶阵列基板200的电压值通过该可编程逻辑电路50传送至该显示设备40进行显示，以供用户检查施加电压是否正确。
请参阅图3，为本发明一实施方式中液晶配向检测方法的流程图，应用于如图1所示的液晶配向检查机100中。首先，将待检测的液晶阵列基板200与液晶配向检测机100连接(S301)。其中，该液晶配向检测机100的探测治具10的若干包括第一探针以及第二探针的探针端分别与液晶阵列基板200的彩膜公共电极信号输入端CP1、蓝像素信号输入端CP2、绿像素信号输入端CP3、红像素信号输入端CP4、栅极奇数信号输入端CP5、栅极偶数信号输入端CP6以及阵列电路公共电极信号输入端CP7等若干信号输入端一一电接触。
通过电压印加装置20对液晶阵列基板200的若干信号输入端输入相应的电压而对液晶阵列基板进行影像检查(S302)。其中，该电压印加装置通过每一探针端的第一探针SP1施加相应的电压至液晶阵列基板200的若干信号输入端而对液晶阵列基板200进行影像检查(S303)。
通过阻抗检测装置30检测液晶阵列基板200的若干信号输入端两两之间的阻抗值(S305)。其中，该阻抗检测装置30通过侦测若干第二探针SP2两两之间的阻抗值而得到液晶阵列基板200的若干信号输入端两两之间的阻抗值。其中，当某两个信号输入端之间的阻抗值小于预定值时，则说明该两个信号端之间发生短路。
将阻抗检测装置检测的阻抗值通过该可编程逻辑电路传送至该显示设备进行显示，以供用户根据该阻抗值判断液晶阵列基板200的信号输入端之间是否存在短路(S307)。
其中，该方法还包括步骤：将电压印加装置20施加给液晶阵列基板200的电压值通过该可编程逻辑电路50传送至该显示设备40进行显示，以供用户检查施加电压是否正确。
本发明的液晶配向检测机100及方法，无需该液晶配向检测机100停机，即可完成对液晶阵列基板200的影像检测(配向检测)以及该液晶阵列基板200的若干信号输入端之间的短路检测。
以上具体实施方式对本发明进行了详细的说明，但这些并非构成对本发明的限制。本发明的保护范围并不以上述实施方式为限，但凡本领域普通技术人员根据本发明所揭示内容所作的等效修饰或变化，皆应纳入权利要求书中记载的保护范围内。

Claims (10)

1.一种液晶配向检测机，用于对一已配向的液晶阵列基板进行检测，该液晶阵列基板包括设置于该液晶阵列基板边缘的彩膜公共电极信号输入端、蓝像素信号输入端、绿像素信号输入端、红像素信号输入端、栅极奇数信号输入端、栅极偶数信号输入端以及阵列电路公共电极信号输入端，其特征在于，该液晶配向检测机包括：
探针治具，包括若干探针端，每一探针端均包括第一、第二两个探针，该若干探针端用于在对液晶阵列基板进行检测时，分别与液晶阵列基板的彩膜公共电极信号输入端、蓝像素信号输入端、绿像素信号输入端、红像素信号输入端、栅极奇数信号输入端、栅极偶数信号输入端以及阵列电路公共电极信号输入端一一电接触；
电压印加装置，包括若干电压输出端，该若干电压输出端分别与该每一探针端的第一探针一一连接，该电压印加装置通过每一探针端的第一探针施加相应的电压至液晶阵列基板的彩膜公共电极信号输入端、蓝像素信号输入端、绿像素信号输入端、红像素信号输入端、栅极奇数信号输入端、栅极偶数信号输入端以及阵列电路公共电极信号输入端，而对液晶阵列基板进行影像检查，判断液晶阵列基板是否有配向不良；以及
阻抗检测装置，包括若干连接端，该若干连接端分别与该每一探针端的第二探针一一连接，该阻抗检测装置用于在液晶阵列基板的影像检查完成后，通过侦测该些第二探针两两之间的阻抗值而得到液晶阵列基板的彩膜公共电极信号输入端、蓝像素信号输入端、绿像素信号输入端、红像素信号输入端、栅极奇数信号输入端、栅极偶数信号输入端以及阵列电路公共电极信号输入端两两之间的阻抗值，从而判断该些信号输入端两两之间是否发生短路。
2.如权利要求1所述的液晶配向检测机，其特征在于，该阻抗检测装置包括一具有两个接头的电压表以及一可编程逻辑电路开关，该可编程逻辑电路开关连接于该电压表的两个接头与该阻抗检测装置的若干连接端之间，用于依次导通该电压表的两个接头与其中两个连接端之间的连接，从而，使得电压表的两个接头依次与探针端中的其中两个探针端的第二探针连接，而依次检测液晶阵列基板的彩膜公共电极信号输入端、蓝像素信号输入端、绿像素信号输入端、红像素信号输入端、栅极奇数信号输入端、栅极偶数信号输入端以及阵列电路公共电极信号输入端中的两个之间的阻抗值。
3.如权利要求1或2所述的液晶配向检测机，其特征在于，该阻抗检测装置检测该两个信号输入端之间的阻抗值小于一定值时，则表明该两个信号输入端之间存在短路。
4.如权利要求1所述的液晶配向检测机，其特征在于，该液晶配向检测机还包括显示设备以及可编程逻辑电路，该显示设备与该电压印加装置以及阻抗检测装置均通过可编程逻辑电路连接。
5.如权利要求4所述的液晶配向检测机，其特征在于，电压印加装置施加给液晶阵列基板的电压值通过该可编程逻辑电路传送至该显示设备进行显示，以供用户检查施加电压是否正确。
6.如权利要求4所述的液晶配向检测机，其特征在于，阻抗检测装置检测的阻抗值通过该可编程逻辑电路传送至该显示设备进行显示，以供用户根据该阻抗值判断液晶阵列基板的信号输入端之间是否存在短路。
7.一种液晶配向检测方法，包括步骤：
将待检测的液晶阵列基板与一液晶配向检测机连接，其中，该液晶阵列基板包括若干信号输入端，该液晶配向检测机包括探针治具、电压印加装置以及阻抗检测装置，该探针治具包括若干探针端，每一探针端均包括第一、第二两个探针，该若干探针端分别与液晶阵列基板的该若干信号输入端一一连接；
通过电压印加装置对液晶阵列基板的若干信号输入端输入相应的电压而对液晶阵列基板进行影像检查；
通过阻抗检测装置检测液晶阵列基板的若干信号输入端两两之间的阻抗值而判断该些信号输入端两两之间是否发生短路。
8.如权利要求7所述的液晶配向检测方法，其特征在于，电压印加装置包括分别与该每一探针端的第一探针连接的若干电压输出端，该步骤“通过电压印加装置对液晶阵列基板的若干信号输入端输入相应的电压而对液晶阵列基板进行影像检查”包括：
该电压印加装置通过每一探针端的第一探针施加相应的电压至液晶阵列基板的若干信号输入端而对液晶阵列基板进行影像检查。
9.如权利要求7所述的液晶配向检测方法，其特征在于，阻抗检测装置包括分别与该每一探针端的第二探针一一连接的若干连接端，该步骤“通过阻抗检测装置检测液晶阵列基板的若干信号输入端两两之间的阻抗值”包括：
通过侦测若干第二探针两两之间的阻抗值而得到液晶阵列基板的若干信号输入端两两之间的阻抗值。
10.如权利要求7所述的液晶配向检测方法，其特征在于，该方法还包括：
将阻抗检测装置检测的阻抗值通过可编程逻辑电路传送至显示设备进行显示。
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