CN108873490A - 紫外线配向照射系统及其检测装置 - Google Patents

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Abstract

本申请提供一种紫外线配向照射系统及其检测装置，所述紫外线配向照射系统，包括：一电子计算器单元，用以发送或接收一电源供应器的指令信号；以及一加电装置，包括：一探针单元，包括若干探针端，每一探针端均包括第一探针、第二探针，该些探针端用于在对一液晶阵列基板进行检测时，分别与所述液晶阵列基板的复数个信号输入端电性接触；其中，当所述电源供应器接收所述电子计算器单元提供的一信号，并依据所述电子计算器单元所编辑电压波形信号进行电压输出。

Description

紫外线配向照射系统及其检测装置
技术领域
本申请涉及液晶配向领域，特别涉及一种紫外线配向照射系统及其检测装置。
背景技术
液晶显示装置(LCD，Liquid Crystal Display)具有机身薄、省电、无福射等众多优点，得到了广泛的应用。现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示装置，其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。液晶显示面板的工作原理是在两片平行的玻璃基板当中放置液晶分子，通过玻璃基板通电与否来控制液晶分子改变方向，将背光模组的光线折射出来产生画面。
液晶分子的配向控制技术是制造液晶显示器(liquid crystal display)最重要的基本技术之一。液晶显示器所显示的画面质量与液晶配向的优劣有关，只有使面板内的液晶材料呈稳定且均匀的排列，才能呈现高质量的画面。一般用来使液晶分子定向排列的薄层，称为液晶配向层(alignment layers)。
而UVM(Ultraviolet Meter)即配向紫外线光学照射机，是在加电的条件下通过紫外光照射，使加入液晶的Monomer(单体)形成重合体，并在聚酰亚胺(polyimide，PI)配向膜表面形成液晶预倾角，从而完成液晶配向。UVM加电方式是通过将加电装置上的探针与基板上的接口对位电接触，然后通过计算机控制电源对加电装置供电，从而对基板进行供电。
而加电装置探针单元与玻璃信号接触引脚接触不良容易造成电讯号灌入不良分段式设计缺口位置不水平，容易造成探针接触不良，加电失败，故而产生聚合反应失败，易造成液晶分子形成预倾角制程工艺失败。
因此，本申请的主要目的在于提供一种紫外线配向照射系统及其检测装置，以更优化上述所提之问题。
发明内容
为了解决上述技术问题，本申请的目的在于，提供一种紫外线配向照射系统，包括：一电子计算器单元，用以发送或接收一电源供应器的指令信号；以及一加电装置，包括：一探针单元，包括若干探针端，每一探针端均包括第一探针、第二探针，该些探针端用于在对一液晶阵列基板进行检测时，分别与所述液晶阵列基板的复数个信号输入端电性接触；其中，当所述电源供应器接收所述电子计算器单元提供的一信号，并依据所述电子计算器单元所编辑电压波形信号进行电压输出。
本申请的另一目的为一种紫外线配向照射系统，包括：一电子计算器单元，用以发送或接收一电源供应器的指令信号；以及一加电装置，包括：一探针单元，包括若干探针端，每一探针端均包括第一探针、第二探针，该些探针端用于在对一液晶阵列基板进行检测时，分别与所述液晶阵列基板的复数个信号输入端电性接触；其中，当所述电源供应器接收所述电子计算器单元提供的一信号，并依据所述电子计算器单元所编辑电压波形信号进行电压输出；所述加电装置为一体式设计，使所述加电装置的探针单元底座部分的水平度维持一致。
本申请的又一目的为一种紫外线配向照射检测装置，包括：一加电装置，包括：一探针单元，包括若干探针端，每一探针端均包括第一探针、第二探针，该些探针端用于在对一液晶阵列基板进行检测时，分别与液晶阵列基板的复数个信号输入端电性接触；一电压印加单元，包括若干电压输出端，该些电压输出端分别与所述每一探针端的第一探针一一连接，所述电压印加单元通过每一探针端的第一探针施加相应的电压至液晶阵列基板的复数个信号输入端，而对液晶阵列基板进行影像检查，判断液晶阵列基板是否有配向不良；以及一阻抗检测单元，包括若干连接端，该些连接端分别与所述每一探针端的第二探针一一连接，所述阻抗检测单元用于在液晶阵列基板的影像检查完成后，通过侦测该些第二探针两两之间的阻抗值而得到液晶阵列基板的复数个信号输入端两两之间的阻抗值，从而判断该些信号输入端两两之间是否发生短路。
本申请的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。
在本申请的一实施例中，更包括一军规接头连接线，用以连接所述电源供应器及所述加电装置。
在本申请的一实施例中，所述液晶阵列基板的复数个信号输入端为彩膜公共电极信号输入端、蓝像素信号输入端、绿像素信号输入端、红像素信号输入端、栅极奇数信号输入端、栅极偶数信号输入端以及阵列电路公共电极信号输入端。
在本申请的一实施例中，所述电源供应器还包括直流电压模块及交流电压模块。
在本申请的一实施例中，所述直流电压模块的电压范围是2～10V。
在本申请的一实施例中，所述液晶紫外线配向照射检测装置，所述液晶阵列基板的复数个信号输入端为彩膜公共电极信号输入端、蓝像素信号输入端、绿像素信号输入端、红像素信号输入端、栅极奇数信号输入端、栅极偶数信号输入端以及阵列电路公共电极信号输入端。
在本申请的一实施例中，所述液晶紫外线配向照射检测装置，所述加电装置为一体式设计，使所述加电装置的探针单元底座部分的水平度维持一致。
在本申请的一实施例中，所述液晶紫外线配向照射检测装置，所述探针单元的每一探针端中的第一探针、第二探针高度均保持一致的水平高度。
本申请使加电装置的探针单元底座，设计为一体式，一体式设计不存在缺口，水平度好，探针与电信号引脚接触良好，加电成功率高，从而提升制程良率。
附图说明
图1为范例式的加电装置的探针单元底座示意图；
图2a为本申请一实施例的加电装置的探针单元底座示意图；
图2b为本申请一实施例的加电装置的探针单元示意图；
图3为本申请一实施例的紫外线配向照射系统示意图；
图4为本申请一实施例的紫外线配向照射检测装置示意图。
具体实施方式
以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本申请可用以实施的特定实施例。本申请所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本申请，而非用以限制本申请。
附图和说明被认为在本质上是示出性的，而不是限制性的。在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。另外，为了理解和便于描述，附图中示出的每个组件的尺寸和厚度是任意示出的，但是本申请不限于此。
在附图中，为了清晰起见，夸大了层、膜、面板、区域等的厚度。在附图中，为了理解和便于描述，夸大了一些层和区域的厚度。将理解的是，当例如层、膜、区域或基底的组件被称作“在”另一组件“上”时，所述组件可以直接在所述另一组件上，或者也可以存在中间组件。
另外，在说明书中，除非明确地描述为相反的，否则词语“包括”将被理解为意指包括所述组件，但是不排除任何其它组件。此外，在说明书中，“在......上”意指位于目标组件上方或者下方，而不意指必须位于基于重力方向的顶部上。
为更进一步阐述本申请为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及具体的实施例，对依据本申请提出的一种液晶紫外线配向照射系统及其检测装置，其具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。
图1为范例式的加电装置的探针单元底座示意图。请参考图1，一种加电装置探针单元与玻璃信号接触引脚接触不良，容易造成电讯号灌入不良分段式15设计缺口位置不水平，容易造成探针接触不良，加电失败，故而产生聚合反应失败，易造成液晶分子形成预倾角制程工艺失败。
图2a为本申请一实施例的加电装置的探针单元底座示意图、图2b为本申请一实施例的加电装置的探针单元示意图及图3为本申请一实施例的紫外线配向照射系统示意图。请参考图2a、图2b及图3，在本申请的一实施例中，一种紫外线配向照射系统11，包括：一电子计算器单元160，用以发送或接收一电源供应器150的指令信号；以及一加电装置100，包括：一探针单元120，包括若干探针端，每一探针端均包括第一探针110、第二探针112，该些探针端用于在对一液晶阵列基板200进行检测时，分别与所述液晶阵列基板200的复数个信号输入端130电性接触；其中，当所述电源供应器150接收所述电子计算器单元160提供的一信号，并依据所述电子计算器单元160所编辑电压波形信号进行电压输出。
请参考图3，在本申请的一实施例中，更包括一军规接头连接线250，用以连接所述电源供应器150及所述加电装置100。
请参考图3，在本申请的一实施例中，所述液晶阵列基板200的复数个信号输入端130为彩膜公共电极信号输入端、蓝像素信号输入端、绿像素信号输入端、红像素信号输入端、栅极奇数信号输入端、栅极偶数信号输入端以及阵列电路公共电极信号输入端。
请参考图3，在本申请的一实施例中，所述电源供应器150还包括直流电压模块152及交流电压模块154。
请参考图3，在本申请的一实施例中，所述直流电压模块152的电压范围是2～10V。
请参考图2a、图2b及图3，在本申请的一实施例中，一种紫外线配向照射系统11，包括：一电子计算器单元160，用以发送或接收一电源供应器150的指令信号；一加电装置100，包括：一探针单元120，包括若干探针端，每一探针端均包括第一探针110、第二探针112，该些探针端用于在对一液晶阵列基板200进行检测时，分别与所述液晶阵列基板200的复数个信号输入端130电性接触；以及一军规接头连接线250，用以连接所述电源供应器150及所述加电装置100；其中，当所述电源供应器150接收所述电子计算器单元160提供的一信号，并依据所述电子计算器单元160所编辑电压波形信号进行电压输出；所述加电装置100为一体式设计，使所述加电装置100的探针单元120底座部分101的水平度维持一致。
图4为本申请一实施例的紫外线配向照射检测装置示意图。请参考图2a、图2b及图4，在本申请的一实施例中，一种紫外线配向照射检测装置12，包括：一加电装置100，包括：一探针单元120，包括若干探针端，每一探针端均包括第一探针110、第二探针112，该些探针端用于在对一液晶阵列基板200进行检测时，分别与液晶阵列基板200的复数个信号输入端130电性接触；一电压印加单元20，包括若干电压输出端21，该些电压输出端21分别与所述每一探针端的第一探针110一一连接L1，所述电压印加单元20通过每一探针端的第一探针110施加相应的电压至液晶阵列基板200的复数个信号输入端130，而对液晶阵列基板200进行影像检查，判断液晶阵列基板200是否有配向不良；以及一阻抗检测单元30，包括若干连接端31，该些连接端31分别与所述每一探针端的第二探针112一一连接L2，所述阻抗检测单元30用于在液晶阵列基板200的影像检查完成后，通过侦测该些第二探针112两两之间的阻抗值而得到液晶阵列基板200的复数个信号输入端130两两之间的阻抗值，从而判断该些信号输入端130两两之间是否发生短路。
请参考图2a、图2b及图4，在本申请的一实施例中，所述液晶阵列基板200的复数个信号输入端130为彩膜公共电极信号输入端、蓝像素信号输入端、绿像素信号输入端、红像素信号输入端、栅极奇数信号输入端、栅极偶数信号输入端以及阵列电路公共电极信号输入端。
请参考图2a及图2b，在本申请的一实施例中，所述加电装置100为一体式设计，使所述加电装置100的探针单元120底座部分101的水平度维持一致。
请参考图2a及图2b，在本申请的一实施例中，所述探针单元120的每一探针端中的第一探针110、第二探针112高度均保持一致的水平高度。
本申请使加电装置之探针单元底座，设计为一体式，一体式设计不存在缺口，水平度好，探针与电信号引脚接触良好，加电成功率高，从而提升制程良率。
“在一些实施例中”及“在各种实施例中”等用语被重复地使用。所述用语通常不是指相同的实施例；但它也可以是指相同的实施例。“包含”、“具有”及“包括”等用词是同义词，除非其前后文意显示出其它意思。
以上所述，仅是本申请的实施例，并非对本申请作任何形式上的限制，虽然本申请已以具体的实施例揭露如上，然而并非用以限定本申请，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本申请技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本申请技术方案的内容，依据本申请的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本申请技术方案的范围内。

Claims (10)

1.一种紫外线配向照射系统，其特征在于，包括：
一电子计算器单元，用以发送或接收一电源供应器的指令信号；以及
一加电装置，包括：
一探针单元，包括若干探针端，每一探针端均包括第一探针、第二探针，该些探针端用于在对一阵列基板进行检测时，分别与所述阵列基板的复数个信号输入端电性接触；其中，当所述电源供应器接收所述电子计算器单元提供的一信号，并依据所述电子计算器单元所编辑电压波形信号进行电压输出。
2.如权利要求1所述紫外线配向照射系统，其特征在于，更包括一军规接头连接线，用以连接所述电源供应器及所述加电装置。
3.如权利要求1所述紫外线配向照射系统，其特征在于，所述阵列基板的复数个信号输入端为彩膜公共电极信号输入端、蓝像素信号输入端、绿像素信号输入端、红像素信号输入端、栅极奇数信号输入端、栅极偶数信号输入端以及阵列电路公共电极信号输入端。
4.如权利要求1所述紫外线配向照射系统，其特征在于，所述电源供应器还包括直流电压模块及交流电压模块。
5.如权利要求4所述紫外线配向照射系统，其特征在于，所述直流电压模块的电压范围是2～10V。
6.一种紫外线配向照射系统，其特征在于，包括：
一电子计算器单元，用以发送或接收一电源供应器的指令信号；以及
一加电装置，包括：
一探针单元，包括若干探针端，每一探针端均包括第一探针、第二探针，该些探针端用于在对一液晶阵列基板进行检测时，分别与所述液晶阵列基板的复数个信号输入端电性接触；其中，当所述电源供应器接收所述电子计算器单元提供的一信号，并依据所述电子计算器单元所编辑电压波形信号进行电压输出；所述加电装置为一体式设计，使所述加电装置的探针单元底座部分的水平度维持一致。
7.一种紫外线配向照射检测装置，其特征在于，包括：
一加电装置，包括：
一探针单元，包括若干探针端，每一探针端均包括第一探针、第二探针，该些探针端用于在对一液晶阵列基板进行检测时，分别与液晶阵列基板的复数个信号输入端电性接触；
一电压印加单元，包括若干电压输出端，该些电压输出端分别与所述每一探针端的第一探针一一连接，所述电压印加单元通过每一探针端的第一探针施加相应的电压至液晶阵列基板的复数个信号输入端，而对液晶阵列基板进行影像检查，判断液晶阵列基板是否有配向不良；以及
一阻抗检测单元，包括若干连接端，该些连接端分别与所述每一探针端的第二探针一一连接，所述阻抗检测单元用于在液晶阵列基板的影像检查完成后，通过侦测该些第二探针两两之间的阻抗值而得到液晶阵列基板的复数个信号输入端两两之间的阻抗值，从而判断该些信号输入端两两之间是否发生短路。
8.如权利要求7所述紫外线配向照射检测装置，其特征在于，所述液晶阵列基板的复数个信号输入端为彩膜公共电极信号输入端、蓝像素信号输入端、绿像素信号输入端、红像素信号输入端、栅极奇数信号输入端、栅极偶数信号输入端以及阵列电路公共电极信号输入端。
9.如权利要求7所述紫外线配向照射检测装置，其特征在于，所述加电装置为一体式设计，使所述加电装置的探针单元底座部分的水平度维持一致。
10.如权利要求7所述紫外线配向照射检测装置，其特征在于，所述探针单元的每一探针端中的第一探针、第二探针高度均保持一致的水平高度。
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