CN107561746B - 光配向膜的配向能力检测方法、装置及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种光配向膜的配向能力检测方法、装置及存储介质，属于配向膜领域。所述方法包括：获取待测光配向膜的第一表面电阻值，第一表面电阻值是待测光配向膜上的第一线段的两个端点之间的电阻值；获取待测光配向膜的第二表面电阻值，第二表面电阻值是待测光配向膜上的第二线段的两个端点之间的电阻值，第一线段与第一目标方向的第一夹角不等于第二线段与第一目标方向的第二夹角；当第一表面电阻值和第二表面电阻值的差距大于或等于预设差距阈值时，确定待测光配向膜的配向能力合格。本发明的配向能力的检测可以不受基板反光能力的限制，从而提高了光配向膜配向能力检测的适用范围。

Description

光配向膜的配向能力检测方法、装置及存储介质

技术领域

本发明涉及配向膜领域，特别涉及一种光配向膜的配向能力检测方法、装置及存储介质。

背景技术

在液晶显示面板中，通常需要在彩膜基板和阵列基板上设置用于控制液晶分子排列方向和角度的配向膜，实际应用中，配向膜的种类较多，其中一种是光配向膜，光配向膜指的是采用光配向技术制备的配向膜。在光配向技术中，可以利用线性偏振光照射感光膜层，从而使该感光膜层具备配向能力。实际应用中通常需要对光配向膜的配向能力进行测试，以避免配向能力不合格的光配向膜对液晶显示面板的显示质量造成负面影响。

相关技术中提供一种光配向膜的配向能力检测方法，在该配向能力检测方法中，可以使用测试光照射光配向膜，并接收光配向膜的不同部位反射的测试光，而后可以根据光配向膜的不同部位反射的测试光的相位差来判断光配向膜的配向能力是否合格。

在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术至少存在以下问题：

在采用相关技术中的方法对光配向膜的配向能力进行检测时，需要保证光配向膜所在基板不会反射测试光，因此相关技术的配向能力检测会受到基板反光能力的限制，适用范围较窄。

发明内容

本发明实施例提供了一种光配向膜的配向能力检测方法、装置及存储介质。本发明实施例提供的技术方案对光配向膜的配向能力检测不受基板反光能力的限制，适用范围较宽，所述技术方案如下：

第一方面，提供了一种光配向膜的配向能力检测方法，所述方法包括：

获取待测光配向膜的第一表面电阻值，所述第一表面电阻值是所述待测光配向膜上的第一线段的两个端点之间的电阻值；

获取所述待测光配向膜的第二表面电阻值，所述第二表面电阻值是所述待测光配向膜上的第二线段的两个端点之间的电阻值，所述第一线段与第一目标方向的第一夹角不等于所述第二线段与所述第一目标方向的第二夹角，所述第一目标方向为在制备所述待测光配向膜时使用的线性偏振光的偏振方向；

当所述第一表面电阻值和所述第二表面电阻值的差距大于或等于预设差距阈值时，确定所述待测光配向膜的配向能力合格。

可选的，所述第一线段与所述第二线段垂直。

可选的，所述第一线段与所述第一目标方向的第一夹角为0。

可选的，所述第一线段的长度等于所述第二线段的长度。

可选的，在所述获取待测光配向膜的第一表面电阻值之前，所述方法还包括：

获取预设的合格的光配向膜的第一理想表面电阻值，所述第一理想表面电阻值是所述合格的光配向膜上的第三线段的两个端点之间的电阻值；

获取所述合格的光配向膜的第二理想表面电阻值，所述第二理想表面电阻值是所述合格的光配向膜上的第四线段的两个端点之间的电阻值；

根据所述第一理想表面电阻值和所述第二理想表面电阻值计算所述预设差距阈值；

其中，所述第一线段、所述第二线段和所述第一目标方向所在直线组成第一图形，所述第三线段、所述第四线段和第二目标方向所在直线组成第二图形，所述第一图形与所述第二图形全等，所述第二目标方向为在制备所述合格的光配向膜时使用的线性偏振光的偏振方向。

第二方面，提供了一种光配向膜的配向能力检测装置，所述装置包括：

第一获取模块，用于获取待测光配向膜的第一表面电阻值，所述第一表面电阻值是所述待测光配向膜上的第一线段的两个端点之间的电阻值；

第二获取模块，用于获取所述待测光配向膜的第二表面电阻值，所述第二表面电阻值是所述待测光配向膜上的第二线段的两个端点之间的电阻值，所述第一线段与第一目标方向的第一夹角不等于所述第二线段与所述第一目标方向的第二夹角，所述第一目标方向为在制备所述待测光配向膜时使用的线性偏振光的偏振方向；

确定模块，用于在所述第一表面电阻值和所述第二表面电阻值的差距大于或等于预设差距阈值时，确定所述待测光配向膜的配向能力合格。

可选的，所述第一线段与所述第二线段垂直；和/或，所述第一线段与所述第一目标方向的第一夹角为0；和/或，所述第一线段的长度等于所述第二线段的长度。

可选的，所述装置还包括阈值获取模块；所述阈值获取模块，用于：

获取预设的合格的光配向膜的第一理想表面电阻值，所述第一理想表面电阻值是所述合格的光配向膜上的第三线段的两个端点之间的电阻值；

获取所述合格的光配向膜的第二理想表面电阻值，所述第二理想表面电阻值是所述合格的光配向膜上的第四线段的两个端点之间的电阻值；

根据所述第一理想表面电阻值和所述第二理想表面电阻值计算所述预设差距阈值；

其中，所述第一线段、所述第二线段和所述第一目标方向所在直线组成第一图形，所述第三线段、所述第四线段和第二目标方向所在直线组成第二图形，所述第一图形与所述第二图形全等，所述第二目标方向为在制备所述合格的光配向膜时使用的线性偏振光的偏振方向。

第三方面，提供了一种光配向膜的配向能力检测装置，所述装置包括：处理器和存储器，所述处理器被配置为执行所述存储器中存储的指令，所述处理器通过执行所述指令来实现上述第一方面任一所述的光配向膜的配向能力检测方法。

第四方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当所述指令在计算机的处理组件上运行时，使得所述处理组件能够执行上述第一方面任一所述的光配向膜的配向能力检测方法。

本发明实施例提供的技术方案带来的有益效果是：

本发明实施例在检测光配向膜的配向能力是否合格时，可以获取待测光配向膜在不同方向上的第一表面电阻和第二表面电阻，并通过第一表面电阻和第二表面电阻的差距大小判断待测光配向膜的配向能力是否合格，这样就不需要利用测试光来对光配向膜的配向能力进行测试，从而使配向能力的检测可以不受基板反光能力的限制，提高了光配向膜配向能力检测的适用范围。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是光配向膜中包括的分子链的示意图。

图2是本发明实施例提供的一种光配向膜配向能力的检测方法的流程图。

图3-1是本发明实施例提供的一种光配向膜配向能力的检测方法的流程图。

图3-2是本发明实施例提供的一种测量第一表面电阻值的示意图。

图3-3是本发明实施例提供的一种测量第二表面电阻值的示意图。

图4是本发明实施例提供的一种光配向膜配向能力的检测装置的框图。

图5是本发明实施例提供的一种光配向膜配向能力的检测装置的框图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。

为了使读者容易理解本发明实施例提供的技术方案，下面，本发明实施例将对制备光配向膜的技术过程进行简要说明：

在制备光配向膜时，可以先在基板(可以为彩膜基板或阵列基板)上形成一层由感光材料制备的感光膜层，该感光材料的分子链中包括感光基团，而后使用线偏振紫外光照射该感光膜层，在照射过程中，感光膜层中平行于紫外光偏振方向上的分子链可以吸收较多的光照能量，而感光膜层中垂直于紫外光偏振方向上的分子链吸收的光照能量较少，吸收较多光照能量的分子链中的感光基团会发生断裂，感光基团发生断裂后可以形成小分子分散在感光膜层中，利用小分子容易挥发的特性，对感光膜层进行加热，使小分子挥发，从而在基板上只留下未发生断裂的分子链，这样，如图1所示，整个感光膜层g就只剩下垂直于紫外光偏振方向上的分子链f(图1中x方向为紫外光偏振方向)，其中，仅包括垂直于紫外光偏振方向上的分子链的感光膜层具有配向能力，其也即是光配向膜。

在实际应用中，通常需要对光配向膜的配向能力进行检测，以避免配向能力不合格的光配向膜对液晶显示面板的图像显示带来负面影响，光配向膜的配向能力检测通常指的是检测光配向膜中是否只包括垂直于紫外光偏振方向上的分子链。

相关技术提供了一种光配向膜配向能力的检测方法，在该检测方法中，可以使用测试光对光配向膜进行照射，光配向膜可以对测试光进行反射，但是测试光在光配向膜中存在分子链的区域和不存在分子链的区域的光程差不同，在接收到光配向膜反射的测试光后，可以根据光配向膜不同部位反射的测试光的相位差来判断反射的测试光在光配向膜不同部位的光程差是否满足预设条件，当反射的测试光在光配向膜不同部位的光程差满足预设条件时，说明光配向膜中只包括垂直于紫外光偏振方向上的分子链，也即是说明光配向膜的配向能力合格。

然而，在相关技术提供的光配向膜配向能力的检测方法中，为了避免对配向能力检测结果造成影响，需要保证光配向膜所在基板不会反射测试光，也即是相关技术的配向能力检测会受到基板反光能力的限制，适用范围较窄。

为了解决相关技术的上述问题，本发明实施例提供了一种新的光配向膜的配向能力检测方法。如上文所述，光配向膜中的分子链垂直于紫外光偏振方向，因此，当光配向膜中的电子沿着垂直于紫外光偏振方向运动(也即是电子沿着图1中y方向运动)时，光配向膜中的分子链可以起到传递电子的作用，而当光配向膜中的电子沿着平行于紫外光偏振方向运动(也即是电子沿着图1中x方向运动)时，光配向膜中的分子链无法起到传递电子的作用。换句话说，光配向膜的表面电阻具有各向异性的特性，其中，光配向膜垂直于紫外光偏振方向上的表面电阻较小，而平行于紫外光偏振方向上的表面电阻较大。

基于光配向膜表面电阻各向异性的特性，本发明实施例提供的光配向膜配向能力检测方法可以检测光配向膜上不同方向的表面电阻值，并根据不同方向上表面电阻值的差距判断光配向膜中是否只包含垂直于紫外光偏振方向的分子链，也即是判断光配向膜的配向能力是否合格。由于本发明实施例提供的配向能力检测方法在检测过程中不需要使用测试光，因此，配向能力的检测可以不受基板反光能力的限制，从而提高了光配向膜配向能力检测的适用范围。

图2是根据一示例性实施例示出的一种光配向膜的配向能力检测方法的流程图，如图2所示，该光配向膜的配向能力检测方法用于配向能力检测装置，包括以下步骤。

步骤201、配向能力检测装置获取待测光配向膜的第一表面电阻值，该第一表面电阻值是待测光配向膜上的第一线段的两个端点之间的电阻值。

步骤202、配向能力检测装置获取待测光配向膜的第二表面电阻值，该第二表面电阻值是待测光配向膜上的第二线段的两个端点之间的电阻值，其中，第一线段与第一目标方向的第一夹角不等于第二线段与第一目标方向的第二夹角，该第一目标方向为在制备待测光配向膜时使用的线性偏振光的偏振方向。

步骤203、当第一表面电阻值和第二表面电阻值的差距大于或等于预设差距阈值时，配向能力检测装置确定待测光配向膜的配向能力合格。

综上所述，本发明实施例提供的光配向膜的配向能力检测方法，在检测光配向膜的配向能力是否合格时，可以获取待测光配向膜在不同方向上的第一表面电阻和第二表面电阻，并通过第一表面电阻和第二表面电阻的差距大小判断待测光配向膜的配向能力是否合格，这样就不需要利用测试光来对光配向膜的配向能力进行测试，从而使配向能力的检测可以不受基板反光能力的限制，提高了光配向膜配向能力检测的适用范围。

图3-1是根据一示例性实施例示出的一种光配向膜的配向能力检测方法的流程图，如图3-1所示，该光配向膜的配向能力检测方法用于配向能力检测装置，包括以下步骤。

步骤301、配向能力检测装置获取待测光配向膜的第一表面电阻值，其中，该第一表面电阻值是待测光配向膜上的第一线段的两个端点之间的电阻值。

如图3-2所示，配向能力检测装置可以包括两个探针，在测量待测光配向膜的第一表面电阻时，可以令一个探针a与待测光配向膜m中第一线段x1的一个端点d11接触，另一个探针b与待测光配向膜m中第一线段x1的另一个端点d12接触，而后配向能力检测装置可以测量探针a和探针b之间的电阻值，该电阻值即为待测光配向膜m的第一表面电阻值。

在本发明的一个实施例中，第一线段x1可以与第一目标方向u平行，也即是第一线段x1与第一目标方向u的第一夹角为0°，其中，第一目标方向u为在制备待测光配向膜时使用的线性偏振光的偏振方向。

步骤302、配向能力检测装置获取待测光配向膜的第二表面电阻值，该第二表面电阻值是待测光配向膜上的第二线段的两个端点之间的电阻值。

与步骤301的技术过程类似地，如图3-3所示，在测量待测光配向膜的第二表面电阻时，可以令配向能力检测装置的一个探针a与待测光配向膜m中第二线段x2的一个端点d21接触，另一个探针b与待测光配向膜m中第二线段x2的另一个端点d22接触，而后配向能力检测装置可以测量探针a和探针b之间的电阻值，该电阻值即为待测光配向膜m的第二表面电阻值。

其中，第一线段x1与第一目标方向u之间的夹角为第一夹角，第二线段x2与第一目标方向u的夹角为第二夹角，在本发明实施例中，第一夹角与第二夹角不相等，换句话说，第一线段x1与第二线段x2不平行，且，第一目标方向u所在直线也不是第一线段x1与第二线段x2形成的夹角的平分线。这是因为，若第一夹角和第二夹角相等，则电子沿第一线段x1方向运动时受到的分子链的传递作用与电子沿第二线段x2方向运动时受到的分子链的传递作用相差不大，因此，第一表面电阻值和第二表面电阻值的差距也不大，无法反映待测光配向膜表面电阻各向异性的特性，在这种情况下，就无法利用待测光配向膜表面电阻各向异性的特性对待测光配向膜的配向能力进行检测，因此，在本发明实施例中，需要保证第一夹角和第二夹角不相等。

为了测量和计算方便，在本发明实施例中，第一线段x1与第二线段x2可以互相垂直，在第一线段x1与第二线段x2互相垂直时，电子沿第一线段x1方向运动时受到的分子链的传递作用与电子沿第二线段x2方向运动时受到的分子链的传递作用相差较大，在这种情况下测得的第一表面电阻值和第二表面电阻值差距也较大，可以充分反映待测光配向膜表面电阻各向异性的特性，因此，利用在这种情况下测得的第一表面电阻值和第二表面电阻值对待测光配向膜的配向能力进行检测准确性较高。进一步地，在本发明的一个实施例中，第一线段x1可以与第一目标方向u平行，第二线段x2可以与第一目标方向u垂直。

此外，在本发明的实施例中，第一线段x1的长度可以等于第二线段x2的长度，这样就可以消除由第一线段x1和第二线段x2的长度差距给第一表面电阻值和第二表面电阻值带来的差距，以简化后续步骤中的计算。

步骤303、配向能力检测装置获取预设差距阈值。

在本发明实施例中，配向能力检测装置获取预设差距阈值的技术过程可以为：

A、配向能力检测装置获取预设的合格的光配向膜的第一理想表面电阻值和第二理想表面电阻值。

预设的合格的光配向膜指的是制备过程与待测光配向膜相同，且配向能力合格的光配向膜，第一理想表面电阻值是该合格的光配向膜上的第三线段的两个端点之间的电阻值，第二理想表面电阻值是该合格的光配向膜上的第四线段的两个端点之间的电阻值。其中，第一线段、第二线段和第一目标方向所在直线组成第一图形，第三线段、第四线段和第二目标方向所在直线组成第二图形，该第一图形与该第二图形全等，且第二目标方向为在制备合格的光配向膜时使用的线性偏振光的偏振方向。

在本发明的实施例中，配向能力检测装置获取第一理想表面电阻值和第二理想表面电阻值的方式可以与上述配向能力检测装置获取待测光配向膜的第一表面电阻值和第二表面电阻值的方式同理，也即是配向能力检测装置可以通过实验方式获取第一理想表面电阻值和第二理想表面电阻值，此外，配向能力检测装置还可以通过计算机模拟的方式获取第一理想表面电阻值和第二理想表面电阻值，配向能力检测装置也可以根据技术人员的经验获取第一理想表面电阻值和第二理想表面电阻值。

B、配向能力检测装置根据第一理想表面电阻值和第二理想表面电阻值计算预设差距阈值。

在步骤B中，配向能力检测装置可以计算第一理想表面电阻值和第二理想表面电阻值的差值，并将该差值获取为预设差距阈值，或者，配向能力检测装置可以计算第一理想表面电阻值和第二理想表面电阻值的差值，并将该差值与第一理想表面电阻值的比值获取为预设差距阈值，或者，配向能力检测装置可以将该差值与第二理想表面电阻值的比值获取为预设差距阈值，或者，配向能力检测装置可以将第一理想表面电阻值与第二理想表面电阻值的比值获取为预设差距阈值。

如上所述，由于合格的光配向膜指的是制备过程与待测光配向膜相同，且配向能力合格的光配向膜，且，第一图形与该第二图形全等，因此上述预设差距阈值为在待测光配向膜配向能力合格的情况下，第一表面电阻值和第二表面电阻值之间的差距。

在实际应用中，配向能力检测装置中可以存储有上述预设差距阈值，在这种情况下，配向能力检测装置可以不执行上述步骤A和B，而是直接获取自身中存储的预设差距阈值。

步骤304、当第一表面电阻值和第二表面电阻值的差距大于或等于预设差距阈值时，配向能力检测装置确定待测光配向膜的配向能力合格。

如上所述，预设差距阈值为在待测光配向膜配向能力合格的情况下，第一表面电阻值和第二表面电阻值之间的差距，因此，当步骤301和302中获取的第一表面电阻值和第二表面电阻值的差距大于或等于预设差距阈值时，说明待测光配向膜的配向能力合格。需要说明的是，步骤304中的第一表面电阻值和第二表面电阻值的差距的计算方式与步骤303中第一理想表面电阻值和第二理想表面电阻值的差距的计算方式相同。

在本发明的实施例中，配向能力检测装置可以获取多个第二表面电阻值，其中，每个第二表面电阻值对应的第二线段的长度以及第二线段与第一目标方向的第二夹角均不同，配向能力检测装置可以在该多个第二表面电阻值中每个第二表面电阻值与第一表面电阻值的差距均大于等于预设差距阈值时确定待测光配向膜的配向能力合格，或者，配向能力检测装置可以在该多个第二表面电阻值中任一个第二表面电阻值与第一表面电阻值的差距大于等于预设差距阈值时确定待测光配向膜的配向能力合格，或者，配向能力检测装置可以在与第一表面电阻值的差距大于等于预设差距阈值的第二表面电阻值的个数大于个数阈值时确定待测光配向膜的配向能力合格。

在本发明的实施例中，配向能力检测装置可以在待测光配向膜的不同位置获取上述第一表面电阻值和第二表面电阻值，并判断不同位置获取的第一表面电阻值和第二表面电阻值的差距是否大于或等于预设差距阈值，从而确定待测光配向膜的不同位置的光配向能力是否合格。

综上所述，本发明实施例提供的光配向膜的配向能力检测方法，在检测光配向膜的配向能力是否合格时，可以获取待测光配向膜在不同方向上的第一表面电阻和第二表面电阻，并通过第一表面电阻和第二表面电阻的差距大小判断待测光配向膜的配向能力是否合格，这样就不需要利用测试光来对光配向膜的配向能力进行测试，从而使配向能力的检测可以不受基板反光能力的限制，提高了光配向膜配向能力检测的适用范围。

图4是根据一示例性实施例示出的一种光配向膜的配向能力检测装置400的框图。参照图4，该光配向膜的配向能力检测装置400包括第一获取模块401、第二获取模块402和确定模块403。

该第一获取模块401，用于获取待测光配向膜的第一表面电阻值，该第一表面电阻值是该待测光配向膜上的第一线段的两个端点之间的电阻值。

该第二获取模块402，用于获取该待测光配向膜的第二表面电阻值，该第二表面电阻值是该待测光配向膜上的第二线段的两个端点之间的电阻值，该第一线段与第一目标方向的第一夹角不等于该第二线段与该第一目标方向的第二夹角，该第一目标方向为在制备该待测光配向膜时使用的线性偏振光的偏振方向。

该确定模块403，用于在该第一表面电阻值和该第二表面电阻值的差距大于或等于预设差距阈值时，确定该待测光配向膜的配向能力合格。

在本发明的一个实施例中，该第一线段与该第二线段垂直。

在本发明的一个实施例中，该第一线段与该第一目标方向的夹角为0。

在本发明的一个实施例中，该第一线段的长度等于该第二线段的长度。

本发明实施例还提供了另一种光配向膜的配向能力检测装置500，该光配向膜的配向能力检测装置500除了包括光配向膜的配向能力检测装置400的各模块外，还可以包括阈值获取模块404。

该阈值获取模块404，用于：获取预设的合格的光配向膜的第一理想表面电阻值，该第一理想表面电阻值是该合格的光配向膜上的第三线段的两个端点之间的电阻值；获取该合格的光配向膜的第二理想表面电阻值，该第二理想表面电阻值是该合格的光配向膜上的第四线段的两个端点之间的电阻值；根据该第一理想表面电阻值和该第二理想表面电阻值计算该预设差距阈值；其中，该第一线段、该第二线段和该第一目标方向所在直线组成第一图形，该第三线段、该第四线段和第二目标方向所在直线组成第二图形，该第一图形与该第二图形全等，该第二目标方向为在制备该合格的光配向膜时使用的线性偏振光的偏振方向。

综上所述，本发明实施例提供的光配向膜的配向能力检测装置，在检测光配向膜的配向能力是否合格时，可以获取待测光配向膜在不同方向上的第一表面电阻和第二表面电阻，并通过第一表面电阻和第二表面电阻的差距大小判断待测光配向膜的配向能力是否合格，这样就不需要利用测试光来对光配向膜的配向能力进行测试，从而使配向能力的检测可以不受基板反光能力的限制，提高了光配向膜配向能力检测的适用范围。

需要说明的是：上述实施例提供的光配向膜的配向能力检测装置在对光配向膜的配向能力进行检测时，仅以上述各功能模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成，即将装置的内部结构划分成不同的功能模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。另外，上述实施例提供的光配向膜的配向能力检测装置与光配向膜的配向能力检测方法实施例属于同一构思，其具体实现过程详见方法实施例，这里不再赘述。

还需要指出的是，在实际应用中，上述图4或图5所示实施例中光配向膜的配向能力检测装置可以为电脑、手机、服务器等具有处理功能的电子设备，该光配向膜的配向能力检测装置可以包括存储器和处理器，其中，处理器被配置为执行存储器中存储的指令，处理器通过执行存储器中存储的指令来实现上述图2或图3所示实施例中的光配向膜的配向能力检测方法。

本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质为非易失性可读存储介质，该计算机可读存储介质中存储有指令，当指令在计算机的处理组件上运行时，使得处理组件能够执行上述图2或图3所示实施例中光配向膜的配向能力检测方法。

本发明实施例中的“A和/或B”包括以下两种情况，分别为：A和B、A或B。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成，也可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。

以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种光配向膜的配向能力检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待测光配向膜的第一表面电阻值，所述第一表面电阻值是所述待测光配向膜上的第一线段的两个端点之间的电阻值；

获取所述待测光配向膜的第二表面电阻值，所述第二表面电阻值是所述待测光配向膜上的第二线段的两个端点之间的电阻值，所述第一线段与第一目标方向的第一夹角不等于所述第二线段与所述第一目标方向的第二夹角，所述第一目标方向为在制备所述待测光配向膜时使用的线性偏振光的偏振方向；

当所述第一表面电阻值和所述第二表面电阻值的差距大于或等于预设差距阈值时，确定所述待测光配向膜的配向能力合格。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一线段与所述第二线段垂直。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一线段与所述第一目标方向的第一夹角为0。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一线段的长度等于所述第二线段的长度。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述获取待测光配向膜的第一表面电阻值之前，所述方法还包括：

获取预设的合格的光配向膜的第一理想表面电阻值，所述第一理想表面电阻值是所述合格的光配向膜上的第三线段的两个端点之间的电阻值；

获取所述合格的光配向膜的第二理想表面电阻值，所述第二理想表面电阻值是所述合格的光配向膜上的第四线段的两个端点之间的电阻值；

根据所述第一理想表面电阻值和所述第二理想表面电阻值计算所述预设差距阈值；

其中，所述第一线段、所述第二线段和所述第一目标方向所在直线组成第一图形，所述第三线段、所述第四线段和第二目标方向所在直线组成第二图形，所述第一图形与所述第二图形全等，所述第二目标方向为在制备所述合格的光配向膜时使用的线性偏振光的偏振方向。

6.一种光配向膜的配向能力检测装置，其特征在于，所述装置包括：

第一获取模块，用于获取待测光配向膜的第一表面电阻值，所述第一表面电阻值是所述待测光配向膜上的第一线段的两个端点之间的电阻值；

第二获取模块，用于获取所述待测光配向膜的第二表面电阻值，所述第二表面电阻值是所述待测光配向膜上的第二线段的两个端点之间的电阻值，所述第一线段与第一目标方向的第一夹角不等于所述第二线段与所述第一目标方向的第二夹角，所述第一目标方向为在制备所述待测光配向膜时使用的线性偏振光的偏振方向；

确定模块，用于在所述第一表面电阻值和所述第二表面电阻值的差距大于或等于预设差距阈值时，确定所述待测光配向膜的配向能力合格。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第一线段与所述第二线段垂直；

和/或，所述第一线段与所述第一目标方向的第一夹角为0；

和/或，所述第一线段的长度等于所述第二线段的长度。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括阈值获取模块；所述阈值获取模块，用于：

获取预设的合格的光配向膜的第一理想表面电阻值，所述第一理想表面电阻值是所述合格的光配向膜上的第三线段的两个端点之间的电阻值；

获取所述合格的光配向膜的第二理想表面电阻值，所述第二理想表面电阻值是所述合格的光配向膜上的第四线段的两个端点之间的电阻值；

根据所述第一理想表面电阻值和所述第二理想表面电阻值计算所述预设差距阈值；

其中，所述第一线段、所述第二线段和所述第一目标方向所在直线组成第一图形，所述第三线段、所述第四线段和第二目标方向所在直线组成第二图形，所述第一图形与所述第二图形全等，所述第二目标方向为在制备所述合格的光配向膜时使用的线性偏振光的偏振方向。

9.一种光配向膜的配向能力检测装置，所述装置包括：处理器和存储器，所述处理器被配置为执行所述存储器中存储的指令，其特征在于，所述处理器通过执行所述指令来实现权利要求1至5任一所述的光配向膜的配向能力检测方法。

10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，其特征在于，当所述指令在计算机的处理组件上运行时，使得所述处理组件能够执行权利要求1至5任一所述的光配向膜的配向能力检测方法。

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