JP2010054551A

JP2010054551A - 表示装置及びこの表示装置の検査プローブ

Info

Publication number: JP2010054551A
Application number: JP2008216271A
Authority: JP
Inventors: Takashi Kunimori; 隆志國森; Yasushi Yamazaki; 泰志山崎; Hajime Nakao; 元中尾
Original assignee: Epson Imaging Devices Corp
Current assignee: Epson Imaging Devices Corp
Priority date: 2008-08-26
Filing date: 2008-08-26
Publication date: 2010-03-11
Also published as: US7880495B2; US20100052713A1

Abstract

【課題】液晶駆動用の配線のみならず光検出部に接続された配線の中間機能検査をも容易
に行うことが可能な光検出部を有する液晶表示装置を提供すること。
【解決手段】本発明の液晶表示装置１０Ａは、走査線ＧＷ及び信号線ＳＷとＩＣチップＤ
ｒが搭載されるチップ搭載領域ＣＡとが設けられたアレイ基板ＡＲと、カラーフィルタ層
が設けられたカラーフィルタ基板ＣＦと、光センサＬＳを有する光検出部ＬＤと、静電保
護用ＴＦＴＰＴと光検出部ＬＤの配線に連結したセンサ引回し配線Ｌ１〜Ｌ３及び静電保
護用引回し配線Ｌ４を備え、複数のセンサ引回し配線Ｌ１〜Ｌ４のそれぞれに一端が接続
され他端がチップ搭載領域ＣＡ内まで延設された複数のセンサ検査用配線が形成されると
共にセンサ検査用配線の他端にはセンサ検査用端子３１〜３４がそれぞれ形成されている
。
【選択図】図５

Description

本発明は表示装置及びこの表示装置の検査プローブに関する。詳しくは、本発明は環境
光を検知する光検出部を有し、この光検出部で検出された環境光の強さに応じて自動的に
照光手段の明るさや表示装置の明るさを制御するとともに、光センサ特性の検査を容易に
行うことが可能な表示装置及びこの表示装置の検査プローブに関するものである。

近年、表示装置としては、液晶表示装置、有機ＥＬ表示装置、プラズマディスプレイ等
が多く使用されている、これらの表示装置は外光（周囲）の明るさによって表示画像が見
え難くなることがあるため、表示装置に光センサを設け、この光検知器の出力に応じて、
例えば液晶表示パネルであれば、バックライト、サイドライトないしフロントライト等の
明るさを制御し、或いは他の表示装置であれば表示画像の発光輝度を制御することが行わ
れている。

例えば、下記特許文献１には、液晶表示パネルの基板に薄膜トランジスタ（ＴＦＴ：Th
in Film Transistor）からなる光センサ（以下、「ＴＦＴ光センサ」という。）を形成し
、このＴＦＴ光センサの光リーク電流を検出することにより、周囲の明るさに応じてバッ
クライト等を自動的にオン／オフさせるようにした液晶表示装置の発明が開示されている
。また、下記特許文献２には、ＴＦＴ光センサを使用し、液晶表示パネルの基板に外光照
度検出用ＴＦＴ光センサ及びバックライト照度検出用ＴＦＴ光センサを配設し、両センサ
の検出結果に基づいてバックライト等を制御するようにした液晶表示装置の発明が開示さ
れている。下記特許文献１及び２に開示された液晶表示装置によれば、ＴＦＴ光センサの
出力に基づいてバックライト等の明るさを外光の明るさに応じて自動的に制御できるため
、外光の明るさが変化しても表示画像を良好に視認できるようになる。

ところで、この種の表示装置においては、光センサは表示装置の表示領域の周辺領域等
に形成されている。そして、この周辺領域に配設された光センサに電気的に接続するため
の配線は、表示装置を駆動するための配線とは入出力される信号が全く異なるため、異な
る領域に引回されている。しかしながら、このような光センサに電気的に接続するための
配線においても、表示装置の駆動用の配線と同様、断線や近接する他の配線とのショート
等の配線不良が生じる恐れがあるため、製造工程において検査を行う必要がある。

このような表示装置の駆動用配線と光センサの配線等に生じる配線不良を検出する機能
を備えた表示装置の発明が、下記特許文献３に開示されている。下記特許文献３に開示さ
れた発明では、画素に映像電圧を印加する信号線と光センサ素子とを接続するスイッチン
グ素子を有し、検査時にはスイッチング素子をオンさせることで光センサ配線を介して光
センサ素子に所定の検査電圧を印加した時の表示パネルの点灯状態に応じて光センサ素子
と光センサ配線の不良を検査し、通常使用時にはスイッチング素子をＯＦＦさせて画素と
光センサを独立させることができるというものである。
特開２００２−１３１７１９号公報特開２０００−１２２５７５号公報特開２００８− ９２４６号公報特開２００６−２４３７０６号公報

上記特許文献３に開示されている表示装置では、製造工程において、一応、表示パネル
の表示不良と光センサの不良を別々に測定し得るという利点を有している。しかしながら
、表示パネルや光センサの不良としては低抵抗となるショート不良の他、例えば数十キロ
Ω以上の高抵抗でのショート（以下、「高抵抗ショート」という。）も存在している。係
る点に関し、上記特許文献３に開示されている表示装置においては、光センサ素子の電極
間に数十キロΩ以上の高抵抗ショートが生じていた場合、信号線の電圧はほとんど変化し
ないため、画素の点灯状態の差異に基づいた光センサ素子の不良の検出は困難である。す
なわち、上記特許文献３に開示されている表示装置においては、低抵抗となるショート不
良のみ検出可能である。

そこで、光センサの高抵抗ショートを検出するためには、検査端子間に流れる微少な電
流値を確実に検出できる手法が必要となる。また、検査プローブを用いて表示装置を簡便
に検査するための手段については、上記特許文献４にも開示されているが、このような従
来から使用されている検査プローブや検査設備を変更することなく点灯検査と光センサ不
良の検査を両立できる検査の仕組みが必要となる。

本発明は上述した従来技術の問題点を解決するためになされたものであって、本発明の
目的は、光センサを有する表示装置において、表示装置の点灯検査や光センサのショート
不良だけでなく、光センサの高抵抗ショートの検出も容易に行うことができる表示装置及
びこの表示装置の検査プローブを提供することにある。

上記目的を達成するため、本発明の表示装置は、互いに交差するように配置される複数
本の信号線及び複数本の走査線と、コモン配線と、前記信号線及び走査線の交点近傍に配
置されたスイッチング素子としてのＴＦＴと、前記ＴＦＴに電気的に接続された画素電極
と、を備える表示画素が複数個マトリクス状に配置されていると共に、光量を検出するＴ
ＦＴからなる光センサ素子と、前記光センサ素子を静電気から保護するためのＴＦＴから
なる静電保護素子と、がそれぞれ同一基板上に形成され、前記複数本の信号線、前記複数
本の走査線及び前記コモン配線が引き出された引き出し部において、前記複数本の信号線
、前記複数本の走査線及び前記コモン配線にはそれぞれ検査端子が接続されている表示装
置において、前記光センサ素子の第１電極及び第２電極からそれぞれ引き出された光セン
サ素子信号線と、前記光センサ素子の制御電極から引き出された光センサ素子制御線と、
前記静電保護素子の制御電極から引き出された静電保護素子制御線が前記引き出し部まで
引き伸ばされていると共に、前記複数本の信号線の検査端子と前記光センサ素子信号線の
検査端子が隣接して配置され、更に、前記コモン配線の検査端子と前記光センサ素子制御
線の検査端子と前記静電保護素子制御線の検査端子とが隣接して配置されていることを特
徴とする。

本発明の表示装置では、複数本の信号線、複数本の走査線及びコモン配線だけでなく、
光センサ素子の第１電極及び第２電極からそれぞれ引き出された光センサ素子信号線と、
光センサ素子の制御電極から引き出された光センサ素子制御線と、静電保護素子の制御電
極から引き出された静電保護素子制御線とが引き出し部まで引き伸ばされ、それぞれ検査
端子が接続されている。このような構成とすると、光センサ素子及び静電保護素子は、コ
モン配線の検査端子にカットオフ電圧を印加することにより常にＯＦＦ状態とできるので
、複数本の信号線の検査端子とコモン配線が光センサ素子又は静電保護素子によってショ
ートされることがなくなる。そのため、本発明の液晶表示装置によれば、光センサと表示
装置とを別々に検査することができるようになる。

加えて、本発明の液晶表示装置では、複数本の信号線の検査端子と光センサ素子信号線
の検査端子が隣接して配置され、更に、コモン配線の検査端子と光センサ素子制御線の検
査端子と静電保護素子制御線の検査端子とが隣接して配置されているため、検査時に複数
本の信号線の検査端子と光センサ素子信号線の検査端子とに同じ検査電圧を印加すること
ができ、また、コモン配線の検査端子と光センサ素子制御線の検査端子と静電保護素子制
御線の検査端子とに同じ検査電圧を印加することができる。そのため、本発明の表示装置
によれば、コモン配線の検査端子にカットオフ電圧を印加すると光センサ素子及び静電保
護素子もＯＦＦ状態となるため、表示領域の点灯検査及び低抵抗ショート検査を行うこと
ができる他、光センサ素子の高抵抗ショートも検出することができるようになる。また、
上述した従来例の表示装置では、光センサと信号線とを接続するスイッチング素子が必要
であったが、本発明の表示装置では、このような光センサと信号線とを接続するスイッチ
ング素子がなくても、点灯検査と光センサの検査を行うことができるようになる。

また、本発明の表示装置においては、前記複数本の信号線は一定の順番で異なる色を表
示できるよう設けられており、前記複数本の信号線の検査端子は対応する色ごとに異なる
列に位置するよう複数列に配設されており、前記光センサ素子の第１電極及び第２電極か
らそれぞれ引き出された光センサ素子信号線の検査端子は、それぞれ前記複数列のいずれ
かの延長上に位置するように異なる列に配設され、前記コモン配線の検査端子と前記光セ
ンサ素子制御線の検査端子と前記静電保護素子制御線の検査端子は同列に配設されている
ことが好ましい。

係る態様の表示装置によれば、上記本発明の表示装置の効果を奏することができる他、
更に表示装置の点灯検査及び低抵抗ショートの検査を色毎に行うことができるようになる
。

また、本発明の表示装置においては、前記複数本の走査線は第１走査線群〜第４走査線
群に４分割されて前記第１走査線群〜第４走査線群のそれぞれ毎に前記引き出し部まで引
き延ばされ、前記複数本の走査線のそれぞれに接続された検査用端子が前記第１走査線群
〜第４走査線群毎に近接配置されていることが好ましい。

係る態様の表示装置によれば、上記本発明の表示装置の効果を奏することができるほか
、更に、４つの走査線群毎に点灯検査及び低抵抗ショート検査を行うことができるように
なる。

また、本発明の表示装置においては、前記引き出し部には第１スイッチ素子及び第２ス
イッチ素子が形成され、前記光センサ素子制御線が前記第１スイッチ素子の第１電極に接
続され、前記静電保護素子制御線が前記第２スイッチ素子の第１電極に接続され、前記第
１スイッチ素子及び第２スイッチ素子の第２電極及び制御電極には検査端子が接続され、
前記複数本の信号線の検査端子と光センサ素子信号線の検査端子を隣接して配置すると共
に、前記第１スイッチ素子及び第２スイッチ素子の第２電極及び制御電極に接続された検
査端子を、それぞれ前記第１走査線群〜第４走査線群の異なる群の検査用端子に隣接して
配置したものとすることが好ましい。

係る態様の表示装置においては、４つの走査線群毎に印加する電圧を変えることによっ
て前記第１スイッチ素子及び第２スイッチ素子をＯＮ状態及びＯＦＦ状態に替えることが
できる。この場合、前記第１スイッチ素子及び第２スイッチ素子をＯＮ状態とすることに
よって、光センサ素子の制御電極及び静電保護素子の制御電極は４つの走査線群のいずれ
かと電気的に接続されるので、表示装置の点灯検査及び低抵抗検査を行うことができる。
そのため、係る態様の表示装置によれば、上記本発明の表示装置の効果を奏することがで
きるほか、光センサ素子の制御電極及び静電保護素子の制御電極とコモン配線との間のシ
ョートも検出することができるようになる。

また、本発明の表示装置においては、前記引き出し部には第１スイッチ素子〜第４スイ
ッチ素子が形成され、前記光センサ素子制御線が前記第１スイッチ素子の第１電極及び前
記第３スイッチ素子の第１電極に接続され、前記静電保護素子制御線が前記第２スイッチ
素子の第１電極及び前記第４スイッチ素子の第１電極に接続され、前記第１スイッチ素子
〜第４スイッチ素子の第２電極及び制御電極には検査端子が接続され、前記複数本の信号
線の検査端子と光センサ素子信号線の検査端子を隣接して配置すると共に、前記第１スイ
ッチ素子〜第４スイッチ素子の第２電極に接続された検査端子のうち、何れか２つと前記
コモン配線の検査端子を隣接配置し、残りの２つをそれぞれ前記第１走査線群〜第４走査
線群の異なる群の検査用端子に隣接して配置し、更に、前記第１スイッチ素子〜第４スイ
ッチ素子の制御電極に接続された検査端子をそれぞれ前記第１走査線群〜第４走査線群の
異なる群の検査用端子に隣接して配置したものとすることが好ましい。

係る態様の表示装置においては、第１スイッチ素子〜第４スイッチ素子の全てをＯＦＦ
状態となるようにすると、光センサ素子の制御電極及び静電保護素子の制御電極はフロー
ティング状態となるので、表示装置の点灯検査及び低抵抗検査を行うことができる。また
、第１スイッチ素子及び第３スイッチ素子をＯＦＦ状態とすると、光センサ素子の制御電
極はフローティング状態となるので、光センサ素子の高抵抗ショートを検出することがで
きる。更に、第２スイッチ素子及び第４スイッチ素子をＯＦＦ状態とすると、静電保護素
子の制御電極はフローティング状態となるので、静電保護素子の高抵抗ショートを検知す
ることができるようになる。

更に、本発明の表示装置の検査プローブは、請求項１に記載の表示装置の検査プローブ
であって、前記基板上において前記引き出し部の引き出し方向と交差する方向に前記検査
端子の配置に対応して延設され、前記検査端子の上から圧接された際に、前記複数の走査
線の検査端子に接触する配線部と、前記複数本の信号線の検査端子と前記光センサ素子信
号線の検査端子とに接触する配線部と、前記コモン配線の検査端子と前記光センサ素子制
御線の検査端子と前記静電保護素子制御線の検査端査端子とに接触する配線部と、を備え
ることを特徴とする。

また、本発明の表示装置の検査プローブは、請求項２に記載の表示装置の検査プローブ
であって、前記基板上において前記引き出し部の引き出し方向と交差する方向に前記検査
端子の配置に対応して延設され、前記検査端子の上から圧接された際に、前記複数の走査
線の検査端子に接触する配線部と、前記複数本の信号線の検査端子の前記複数列のうちの
一列と前記光センサ素子信号線の検査端子の一方とに接触する配線部と、前記複数本の信
号線の検査端子の前記複数列のうちの別の一列と前記光センサ素子信号線の検査端子の他
方とに接触する配線部と、前記複数本の信号線の検査端子の前記複数列のうちの他の列と
接触する配線部と、前記コモン配線の検査端子と前記光センサ素子制御線の検査端子と前
記静電保護素子制御線の検査端子とに接触する配線部と、を備えることを特徴とする。

また、本発明の表示装置の検査プローブは、請求項３に記載の表示装置の検査プローブ
であって、前記基板上において前記引き出し部の引き出し方向と交差する方向に前記検査
端子の配置に対応して延設され、前記検査端子の上から圧接された際に、前記第１走査線
群〜第４走査線群の検査端子にそれぞれ個別に接触する配線部と、前記複数本の信号線の
検査端子と前記光センサ素子信号線の検査端子とに接触する配線部と、前記コモン配線の
検査端子と前記光センサ素子制御線の検査端子と前記静電保護素子制御線の検査端子とに
接触する配線部と、を備えることを特徴とする。

また、本発明の表示装置の検査プローブは、請求項４に記載の表示装置の検査プローブ
であって、前記基板上において前記引き出し部の引き出し方向と交差する方向に前記検査
端子の配置に対応して延設され、前記検査端子の上から圧接された際に、前記第１走査線
群の検査端子と前記第１スイッチ素子の第２電極の検査端子に接触する配線部と、前記第
２走査線群の検査端子と前記第２スイッチ素子の第２電極の検査端子に接触する配線部と
、前記第３走査線群の検査端子と前記第１スイッチ素子の制御電極の検査端子に接触する
配線部と、前記第４走査線群の検査端子と前記第２スイッチ素子の制御電極の検査端子に
接触する配線部と、前記複数本の信号線の検査端子と前記光センサ素子信号線の検査端子
とに接触する配線部と、前記コモン配線に接触する配線部と、を備えることを特徴とする
。

また、本発明の表示装置の検査プローブは、請求項５に記載の表示装置の検査プローブ
であって、前記基板上において前記引き出し部の引き出し方向と交差する方向に前記検査
端子の配置に対応して延設され、前記検査端子の上から圧接された際に、前記第１走査線
群の検査端子と前記第１スイッチ素子の第２電極の検査端子に接触する配線部と、前記第
２走査線群の検査端子と前記第２スイッチ素子の制御電極の検査端子と前記第３スイッチ
素子の制御電極の検査端子に接触する配線部と、前記第３走査線群の検査端子と前記第１
スイッチ素子の制御電極の検査端子と前記第４スイッチ素子の制御電極の検査端子に接触
する配線部と、前記第４走査線群の検査端子と前記第２スイッチ素子の第２電極の検査端
子に接触する配線部と、前記複数本の信号線の検査端子と前記光センサ素子信号線の検査
端子とに接触する配線部と、前記コモン配線の検査端子と前記第３スイッチ素子の第２電
極と前記第４スイッチ素子の第２電極の検査端子とに接触する配線部と、を備えることを
特徴とする。

また、本発明の表示装置の検査プローブは、請求項３〜５のいずれかに記載の表示装置
の検査プローブであって、前記基板上において前記引き出し部の引き出し方向と交差する
方向に前記検査端子の配置に対応して延設され、前記検査端子の上から圧接された際に、
前記第１走査線群の検査端子と前記第１スイッチ素子の第２電極の検査端子に接触する配
線部と、前記第２走査線群の検査端子と前記第２スイッチ素子の制御電極の検査端子と前
記第３スイッチ素子の制御電極の検査端子に接触する配線部と、前記第３走査線群の検査
端子と前記第１スイッチ素子の制御電極の検査端子と前記第４スイッチ素子の制御電極の
検査端子に接触する配線部と、前記第４走査線群の検査端子と前記第２スイッチ素子の第
２電極の検査端子に接触する配線部と、前記複数本の信号線の検査端子の前記複数列のう
ちの一列と前記光センサ素子信号線の検査端子の一方とに接触する配線部と、前記複数本
の信号線の検査端子の前記複数列のうちの別の一列と前記光センサ素子信号線の検査端子
の他方とに接触する配線部と、前記複数本の信号線の検査端子の前記複数列のうちの他の
列と接触する配線部と、前記コモン線の検査端子と前記第３スイッチ素子の第２電極と前
記第４スイッチ素子の第２電極の検査端子とに接触する配線部と、を備えることを特徴と
する。

本発明の検査プローブによれば、上記本発明の表示装置のそれぞれの態様に対応した検
査プローブとなる。すなわち、単にそれぞれの検査プローブを上記本発明の表示装置の検
査端子に押し当て、検査プローブの各端子に予め定めた所定の電圧を印加することによっ
て、本発明の表示装置の点灯検査及び低抵抗ショート、光センサ素子及び静電保護素子の
低抵抗ショート及び高抵抗ショートの検知を行うことができるようになる。

以下、図面を参照して本発明の最良の実施形態を説明する。但し、以下に示す各実施形
態は、本発明の技術思想を具体化するための表示装置としての液晶表示装置を例示するも
のであって、本発明をこの液晶表示装置に特定することを意図するものではなく、特許請
求の範囲に含まれるその他の実施形態のものにも等しく適応し得るものである。なお、こ
の明細書における説明のために用いられた各図面においては、各層や各部材を図面上で認
識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材毎に縮尺を異ならせて表示しており、必
ずしも実際の寸法に比例して表示されているものではない。

図１は本発明の実施形態１に係る液晶表示装置のカラーフィルタ基板を透視してアレイ
基板を模式的に示した平面図である。図２は図１のII−II線で切断した概略断面図である
。図３は光検出部の等価回路図である。図４は実施形態１の表示装置の等価回路図である
。図５は図３の検査用端子領域の拡大図である。図６は各検査用端子に接触される検査治
具を示す斜視図である。図７は実施形態２の表示装置の等価回路図である。図８は図７の
検査用端子領域の拡大図である。図９は実施形態３の表示装置の等価回路図である。図１
０は図９の検査用端子領域の拡大図である。

［実施形態１］
実施形態１に係る液晶表示装置１０Ａは、図１及び図２に示すように、矩形状の透明絶
縁材料、例えばガラス板からなる透明基板１１上に種々の配線等を施してなるアレイ基板
ＡＲと、アレイ基板ＡＲの透明基板１１に対向配置される矩形状の透明絶縁材料からなる
透明基板１２上に種々の配線等を施してなるカラーフィルタ基板ＣＦとを有するＴＮ（Tw
isted Nematic）モードあるいはＶＡモード（Vertical Alignment）等で駆動する透過型
又は半透過型液晶表示装置である。アレイ基板ＡＲの透明基板１１は、カラーフィルタ基
板ＣＦの透明基板１２と対向配置させたときに所定スペースの張出し部１３が形成される
ようにカラーフィルタ基板ＣＦの透明基板１２よりサイズが大きいものが使用され、これ
らアレイ基板ＡＲ及びカラーフィルタ基板ＣＦの外周囲にはシール材１４が塗布されて、
内部にセルギャップ調整用のスペーサ（図示せず）が形成されているとともに、液晶ＬＣ
が封入された構成となっている。

アレイ基板ＡＲは、それぞれ対向する短辺１１ａ、１１ｂ及び長辺１１ｃ、１１ｄを有
し、一方の短辺１１ｂ側が張出し部１３となっており、この張出し部１３に設けられたチ
ップ搭載領域ＣＡにはソースドライバ及びゲートドライバ用のＩＣチップＤｒが搭載され
、他方の短辺１１ａ側にはＴＦＴからなる光センサＬＳを有する光検出部ＬＤが配設され
ている。また、アレイ基板ＡＲの背面には照光手段としてのバックライト（図示省略）が
設けられている。このバックライトは光検出部ＬＤの出力に基づいて、図示しない外部制
御手段によって制御される。

このアレイ基板ＡＲの対向面、すなわち液晶ＬＣと接触する面には、行方向（図１の横
方向）に延在するとともに互いに所定間隔をあけて配列された複数本の走査線ＧＷと、こ
れらの走査線ＧＷと絶縁されて列方向（図１の縦方向）に延在するとともに互いに所定間
隔をあけて配列された複数本の信号線ＳＷとが設けられている。これらの信号線ＳＷと走
査線ＧＷとはマトリクス状に配線されており、互いに交差する走査線ＧＷと信号線ＳＷと
で囲まれる各領域に、走査線ＧＷからの走査信号によってオン状態となるスイッチング素
子及び信号線ＳＷからの映像信号がスイッチング素子を介して供給される画素電極が形成
されている。なお、図２においては、走査線ＧＷ、信号線ＳＷ、スイッチング素子及び画
素電極等の各構成をまとめて第１構造物１５として示している。

これらの走査線ＧＷと信号線ＳＷとで囲まれる各領域は表示画素を構成し、これらの表
示画素が形成されたエリアが表示領域ＤＡとなっている。また、スイッチング素子には例
えばＴＦＴが使用される。各走査線ＧＷ及び各信号線ＳＷは、表示領域ＤＡの周囲、すな
わち額縁領域へ延出されてゲート引回し配線ＧＬ及びソース引回し配線ＳＬにそれぞれ接
続されている。そして、このゲート引回し配線ＧＬ及びソース引回し配線ＳＬは表示領域
ＤＡ外の外周辺の領域に引回されてＩＣチップＤｒに接続されている。加えて、ゲート引
回し配線ＧＬの外側には、表示領域ＤＡを囲むようにコモン配線ＣＯＭが配置されている
。このコモン配線ＣＯＭの端部はゲート引回し配線ＧＬ及びソース引回し配線ＳＬと同様
にＩＣチップＤｒに接続されている。

また、このアレイ基板ＡＲの一方の長辺１１ｄ側には後述する光検出部ＬＤのＴＦＴか
らなる光センサＬＳから導出された光センサ引回し配線Ｌ１〜Ｌ３が引回されて端子Ｔ１
〜Ｔ３に接続されている。各端子Ｔ１〜Ｔ３には図示しない外部制御回路が接続されてお
り、この外部制御回路から光検出部ＬＤへ基準電圧等が供給され、更に光検出部ＬＤから
の出力が送出される。なお、光検出部ＬＤの構成については後に詳述する。

カラーフィルタ基板ＣＦの対向面、すなわち液晶ＬＣと接触する面には、走査線ＧＷ、
信号線ＳＷ、スイッチング素子及び額縁領域を覆うように遮光層が形成され、また、表示
領域ＤＡ内におけるこの遮光層に囲まれた領域には、複数色、例えばＲ（赤）、Ｇ（緑）
、Ｂ（青）の３色からなるカラーフィルタ層が形成され、更に、このカラーフィルタ層等
を覆うように透明材料からなる保護膜（何れも図示省略）が形成されている。なお、図２
においては、上述した各構成をまとめて第２構造物１６として示している。また、上述の
カラーフィルタ層は、色毎にアレイ基板ＡＲの信号線ＳＷの延在方向に沿って例えばスト
ライプ状に設けられている。

光検出部ＬＤは、図４に示すように、それぞれ複数個の光センサＬＳを備えており、こ
れらの複数個の光センサＬＳは、互いに隣接しかつ平行な状態で、それぞれ一列に設けら
れている。また、各光センサは、各光センサに入射した光量の平均値を検出するために、
互いに並列接続されている。ここで、図３を参照して光検出部ＬＤの構成について説明す
る。なお、実施形態１の液晶表示装置１０Ａにおいては、光検出部ＬＤとして複数個のＴ
ＦＴからなる光センサＬＳを有するものが使用されているが、図３においては１個のＴＦ
Ｔからなる光センサについて説明する。

これらの光センサＬＳは、ドレイン電極Ｄｐとソース電極Ｓｐ間のそれぞれにコンデン
サＣが並列接続され、ソース電極ＳｐとコンデンサＣの一方の端子が引回し配線Ｌ１を介
して端子Ｔ１に接続されており、また、この端子Ｔ１は、スイッチ素子Ｓを介して第１基
準電圧源Ｖｓに接続されていると共に、出力電圧ＶＡが出力されるようになっている。ま
た、光センサＬＳのドレイン電極Ｄｐ及びコンデンサＣの他方の端子は引回し配線Ｌ２を
介して端子Ｔ２に接続されており、この端子Ｔ２には所定の直流電圧を供給する第２基準
電圧源ＶＲＥＦが接続されている。なお、端子Ｔ２は第２基準電圧源ＶＲＥＦに接続され
ているものとしたが、これに限らず、例えば接地されていてもよい。更に、光センサＬＳ
のゲート電極Ｇｐは引回し配線Ｌ３を介して光センサＬＳをゲートオフ状態に維持する所
定の電圧ＶＧの供給源に接続されている。

上述のような構成を備える光検出部ＬＤは、光センサＬＳのゲート電極Ｇｐに端子Ｔ３
及び引回し配線Ｌ３を介してゲートオフ領域となる一定の逆バイアス電圧ＶＧ（例えば−
１０Ｖ）を印加する。そしてドレイン電極ＤｐとコンデンサＣの一端にスイッチ素子Ｓを
介して第１基準電圧源Ｖｓを接続し、スイッチ素子Ｓをオン状態にして所定の電圧（例え
ば＋２Ｖ）をコンデンサＣの両端に印加した後、スイッチ素子Ｓをオフ状態とする。その
後コンデンサＣの充電電圧を検出回路において測定し、この充電電圧が予め定めた一定の
電圧となるまでの時間を求めることにより、環境光の強度を検出することができる。この
検出回路としては、例えばスイッチ素子Ｓのオン／オフに同期した公知のサンプリングホ
ールド回路によってアナログ出力電圧に変換し、このアナログ出力電圧をＡ／Ｄ変換器に
よってデジタル変換した後にデジタル演算処理し、予め定めた検量線に基づいて環境光の
強度（明るさ）を測定することができる。このようにして検出された環境光の強度に基づ
いて、図示しない外部制御回路によりバックライトの制御がなされる。

次に、チップ搭載領域ＣＡに配線された各種配線について、図１、図４及び図５を参照
して説明する。チップ搭載領域ＣＡの一方の長辺部分には、ゲート引回し配線ＧＬ、ソー
ス引回し配線ＳＬ及びコモン配線ＣＯＭの端部が引回されている。チップ搭載領域ＣＡの
各長辺部分に引回されたこれらの配線の端部には、ＩＣチップＤｒのバンプ用端子に接続
される各バンプ端子ＳＢ、ＧＢ、ＣＯＭＢ（図５参照）がそれぞれ形成されており、これ
らの各バンプ端子ＳＢ、ＧＢ、ＣＯＭＢは表面が露出するように形成され、ＩＣチップＤ
ｒがこのチップ搭載領域ＣＡに搭載された際に異方導電性接着剤等を介して電気的に接続
されることになる。

すなわち、ソース引回し配線ＳＬはチップ搭載領域ＣＡの一方の長辺部分における中央
部分に設けられた信号線出力パッド領域ＳＡ内のそれぞれの信号線用バンプ端子ＳＢに接
続されるように引回されている。また、ゲート引回し配線ＧＬはこの信号線出力パッド領
域ＳＡの両側部に設けられた走査線出力パッド領域ＧＡ１及びＧＡ２内のそれぞれの走査
線用バンプ端子ＧＢに接続されるように引回されている。更に、コモン配線ＣＯＭは走査
線出力パッド領域ＧＡ１及びＧＡ２の更に外側に設けられたコモン配線パッド領域ＣＯＭ
Ａ内のコモン配線用バンプ端子ＣＯＭＢにそれぞれ接続されるように引回されている。そ
して、ゲート引回し配線ＧＬ、ソース引回し配線ＳＬ及びコモン配線ＣＯＭの端部に形成
された各バンプ端子ＳＢ、ＧＢ、ＣＯＭＢからは、更に引出し線が導出され、更にこの引
出し線の端部には所定の規則性をもって検査用端子が設けられている。以下では、この引
出し線及び検査用端子の配列構造について説明する。

複数のソース引回し配線ＳＬの端部にそれぞれ形成されたバンプ用端子ＳＢからは、チ
ップ搭載領域ＣＡの内部に向かって、ソース引出し線４０Ｒ、４０Ｇ、４０Ｂが延びてい
る。そして、このソース引出し線４０Ｒ、４０Ｇ、４０Ｂの端部には、それぞれ赤検査用
端子４１Ｒ、緑検査用端子４１Ｇ、青検査用端子４１Ｂが形成されている。複数本のソー
ス引出し線４０Ｒ、４０Ｇ、４０Ｂはその長さがそれぞれ異なっている。すなわち、この
ソース引出し線４０Ｒ、４０Ｇ、４０Ｂのうち、表示領域ＤＡ内のＲ（赤）を表示する画
素に信号を送る信号線ＳＷに接続されたソース引出し線４０Ｒは、他のソース引出し線４
０Ｇ、４０Ｂに比して最も短く、このソース引き出し線４０Ｒに接続された赤検査用端子
４１Ｒは赤検査用端子領域Ｓｒに配置されている。また、表示領域ＤＡ内のＢ（青）を表
示する画素に信号を送る信号線ＳＷに接続されたソース引出し線４０Ｂは、他のソース引
出し線４０Ｒ、４０Ｇに比して最も長く、このソース引き出し線４０Ｂに接続された青検
査用端子４１Ｂは青検査用端子領域Ｓｂに配置されている。更に、ソース引出し線４０Ｇ
は、ソース引出し線４０Ｒより長く且つソース引出し線４０Ｂより短く形成されており、
このソース引き出し線４０Ｇに接続された緑検査用端子４１Ｇは緑検査用端子領域Ｓｇに
配置されている。

このようにソース引出し線４０Ｒ、４０Ｇ、４０Ｂの長さを変えることにより、これら
のソース引出し線４０Ｒ、４０Ｇ、４０Ｂに接続された赤検査用端子４１Ｒ、緑検査用端
子４１Ｇ、青検査用端子、４１Ｂは、それぞれ同一色の画素を表示する信号線ＳＷに接続
されたもの毎に赤検査用端子領域Ｓｒ、緑検査用端子領域Ｓｇ及び青検査用端子領域Ｇｂ
の計３列に配列することになる。

また、複数のゲート引回し配線ＧＬの端部にそれぞれ形成されたバンプ用端子ＧＢから
は、赤検査用端子領域Ｓｒ、緑検査用端子領域Ｓｇ及び青検査用端子領域Ｓｂの両側にお
いて、チップ搭載領域ＣＡの内部に向かってそれぞれゲート引出し線４５Ｐ１、４５Ｐ２
が延びている。そして、このゲート引出し線４５Ｐ１、４５Ｐ２の端部にはゲート検査用
端子４６Ｐ１、４６Ｐ２が形成されている。これらの複数本のゲート引出し線４５Ｐ１、
４５Ｐ２はその長さがそれぞれ異なっている。すなわち、このゲート引出し線４５Ｐ１、
４５Ｐ２のうち、奇数番目の走査線ＧＷに接続されたゲート引出し線４５Ｐ１は他方のゲ
ート引出し線４５Ｐ２に比して短く、反対に偶数番目の走査線ＧＷに接続されたゲート引
出し線４５Ｐ２は他のゲート引出し線４５Ｐ１に比して長く形成されている。

このようにゲート引出し線４５Ｐ１、４５Ｐ２の長さを変えることにより、これらのゲ
ート引出し線４５Ｐ１、４５Ｐ２にそれぞれ接続されたゲート検査用端子４６Ｐ１、４６
Ｐ２は、奇数番目と偶数番目とで互い違いに、それぞれ２列の走査線検査領域Ｇ１ａ及び
Ｇ１ｂ、Ｇ２ａ及びＧ２ｂの合計４列に配列することになる。このような構成とすること
により、走査線ＧＷを４つの群に分けて検査することができるようになる。なお、これら
の走査線ＧＷの４つの群が本発明の第１走査線群〜第４走査線群に対応するが、このよう
に４つの群に分けて検査する必要がない場合は、１つの群に纏めて検査しても良いが、表
示領域を細かく検査できるようにするために、少なくとも２つの群に分けて検査するよう
にした方がよい。

また、コモン配線パッド領域ＣＯＭＡに形成されたコモン配線用バンプ端子ＣＯＭＢか
らは、チップ搭載領域ＣＡの内部に向かってコモン引出し線５０が延びている。そして、
このコモン引出し線５０の端部には、コモン検査用端子領域ｃｏｍにおいてコモン検査用
端子５１が形成されている。なお、このコモン検査用端子５１は他の端子の検査等に支障
を来たさない位置に設けておけばよいが、実施形態１の液晶表示装置１０Ａではアレイ基
板ＡＲの長辺側の端部側に２箇所形成した。

上述した構成に加えて、実施形態１に係る液晶表示装置１０Ａでは、図４及び図５に示
すように、光検出部ＬＤの第１引回し配線Ｌ１及び第２引き回し配線Ｌ２とコモン配線Ｃ
ＯＭとの間には、それぞれ光センサの静電保護用ＴＦＴＰＴが接続されている。この静電
保護用ＴＦＴＰＴの制御電極（ゲート電極）は第４引回し配線Ｌ４を経て端子Ｔ４に接続
されている。この端子Ｔ４には、静電保護用ＴＦＴＰＴをオン状態又はオフ状態とするた
めの電圧ＶＧＯＦＦが印加される。なお、通常の画像表示時には静電保護用ＴＦＴＰＴが
オフ状態となる電圧が印加される。

加えて、実施形態１に係る液晶表示装置１０Ａでは、光検出部ＬＤから延在する３本の
引回し配線Ｌ１〜Ｌ３及び光センサの静電保護用ＴＦＴＰＴの引回し配線Ｌ４に光センサ
ＬＳの中間機能検査を行うための光センサ検査用端子３１〜３４が設けられている。この
うち、引回し配線Ｌ１に接続された光センサ検査用端子３１は、緑検査用端子領域Ｓｇの
緑検査用端子４１Ｇに隣接して配置されている。また、引回し配線Ｌ２に接続された光セ
ンサ検査用端子３２は、赤検査用端子領域Ｓｒの赤検査用端子４１Ｒに隣接して配置され
ている。また、引回し配線Ｌ３に接続された光センサ検査用端子３３は、コモン検査用端
子５１に隣接して配置されている。更に、引回し配線Ｌ４に接続された光センサ検査用端
子３４は別のコモン検査用端子５１に隣接して配置されている。

このように、複数の光センサ検査用端子３１〜３４をそれぞれ異なる位置に配列された
他の配線の検査用端子と同列に配置することにより、後の中間機能検査において検査治具
７０（図６参照）の接触作業を統一して行うことができるようになる。そこで、以下では
上述の構成を備える液晶表示装置１０Ａの中間機能検査に用いられる検査治具７０及びそ
の検査方法について説明を行う。なお、図６には、検査治具７０の複数の導電材料がチッ
プ搭載領域ＣＡ内の何れの領域に対応するかが分かるよう、各導電材料に対応する領域の
符号も付与している。

実施形態１の液晶表示装置１０Ａの中間機能検査に用いられる検査治具７０は、絶縁性
のラバー７４上に複数の導電材料が設けられたものである。そして、この導電材料を介し
て各検査用端子に所定の電圧を印加することにより中間機能検査を実行する。この導電材
料は、ソース接触部材７１Ｒ、７１Ｇ、７１Ｂと、ゲート接触部材７２Ｐ１、７２Ｐ２と
コモン接触部材７３とで構成されている。

ソース接触部材７１Ｒ、７１Ｇ、７１Ｂは、３本の帯状導電材が所定間隔をおいて平行
に配設されたものである。また、この３本のソース接触部材７１Ｒ、７１Ｇ、７１Ｂのう
ち、ソース接触部材７１Ｒは図５におけるソース検査用端子４１Ｒが配列された赤検査用
端子領域Ｓｒに接触し、同じくソース接触部材７１Ｇはソース検査用端子４１Ｇが配列さ
れた緑検査用端子領域Ｓｇに接触し、同じくソース接触部材７１Ｂはソース検査用端子４
１Ｂが配列された青検査用端子領域Ｓｂに接触するようにその位置が調整されている。そ
して、これらのソース接触部材７１Ｒ、７１Ｇ、７１Ｂの長手方向の長さは、信号線出力
パッド領域に加えて光センサ検査用端子３１及び３２も覆うことができるように調整され
ている。

また、ゲート接触部材７２Ｐ１、７２Ｐ２は、ソース接触部材７１Ｒ、７１Ｇ、７１Ｂ
の長手方向両端部に近接する位置に、２本ずつ計４本の帯状導電材が所定間隔をおいて平
行に配設されたものである。また、この４本のゲート接触部材７２Ｐ１、７２Ｐ２のうち
、ゲート接触部材７２Ｐ１は、図５において奇数番目のゲート検査用端子４６Ｐ１が配列
された走査線検査領域Ｇ１ａないしＧ２ａに接触し、ゲート接触部材７２Ｐ２は、図５に
おいて偶数番目のゲート検査用端子４６Ｐ２が配列された走査線検査領域Ｇ１ｂないしＧ
２ｂに接触するようにその位置が調整されている。更に、コモン接触部材７３はゲート接
触部材７２Ｐ１、７２Ｐ２の長手方向の端部の両側に近接する位置に配置された矩形状導
電材からなり、その位置及び長さは、コモン検査用端子５１と光センサ検査用端子３３及
びコモン検査用端子５１と光センサ検査用端子３４にそれぞれ接触できるように調整され
ている。

以下において、上述の検査治具７０を用いた液晶表示装置１０Ａの中間機能検査に関し
て説明する。この中間機能検査は、ＩＣチップＤｒをチップ搭載領域ＣＡに搭載する直前
に行われる。先ず、既に配線等が形成され互いに対向させて貼り合わされたアレイ基板Ａ
Ｒ及びカラーフィルタ基板ＣＦの間に液晶ＬＣを封入する。そして、チップ搭載領域ＣＡ
に検査治具７０を載置する。この検査治具７０は、検査治具７０の各導電材料をチップ搭
載領域ＣＡ内の各検査領域内の各検査端子と接触するように位置合わせした状態で載置さ
れる。そして、検査治具７０の各導電材料に各検査端子に対して所定の電圧を印加するこ
とによって走査線ＧＷ、信号線ＳＷ、コモン配線ＣＯＭ及び光センサＬＳの配線検査を実
行する。

このように、実施形態１の液晶表示装置１０Ａでは、（１）引回し配線Ｌ２及び端子Ｔ
１に接続された光センサ検査用端子３２が赤検査用端子領域Ｓｒに形成されていること、
（２）引回し配線Ｌ１及び端子Ｔ２に接続された光センサ検査用端子３１が緑検査用端子
領域Ｓｇに形成されていること、及び、（３）コモン検査用端子領域ｃｏｍ内のコモン検
査用端子５１に印加される電圧をゲートオフとなる電圧とすると、静電保護用ＴＦＴＰＴ
及びＴＦＴからなる光センサＬＳは常にＯＦＦ状態となること、から、光センサＬＳの各
電極がコモン配線ＣＯＭとショートすることがないので、点灯検査と同時に光センサＬＳ
の試験を行うことができるようになる。

すなわち、実施形態１の液晶表示装置１０Ａによれば、静電保護用ＴＦＴＰＴ及びＴＦ
Ｔからなる光センサＬＳが常にオフ状態となるようにし、各検査用端子に印加する電圧を
種々変更することにより、（１）走査線検査用端子群Ｇ２ｂ、Ｇ２ａ、Ｇ１ｂ及びＧ１ａ
の何れかと他の端子との間の短絡検査、（２）検査用端子領域Ｓｒ、Ｓｇ及びＳｂの何れ
かと他の端子との間の短絡検査（３）点灯検査（４）光センサＬＳのショート試験、を行
うことができるようになる。しかも、この光センサＬＳのショート試験時に光センサＬＳ
に流れる電流値を測定すれば、この電流値の大小を測定することにより、低抵抗ショート
だけでなく高抵抗ショートも測定できるようになる。

このように、本発明の液晶表示装置１０Ａにおいては、中間機能検査時に、検査治具７
０の取替えあるいは載置位置の変更を行うことなく、単にそれぞれの接触部材に印加する
電圧を変更するだけで光検出部ＬＤの中間機能検査をも行うことができる。したがって、
この中間機能検査の工程を簡略化することが可能であると共に、高価なＩＣチップＤｒを
チップ搭載領域ＣＡに搭載する前に、光検出部ＬＤを含めた機能検査が行えるので、ＩＣ
チップＤｒの無駄をなくすることができる。

［実施形態２］
実施形態１の液晶表示装置１０Ａでは、一応表示領域の点灯検査と共に光センサＬＳの
高抵抗ショートも検知することができる。しかしながら、この液晶表示装置１０Ａでは、
（１）引回し配線Ｌ２及び端子Ｔ１に接続された光センサ検査用端子３２が赤検査用端子
領域Ｓｒに形成されていると共に、（２）引回し配線Ｌ１及び端子Ｔ２に接続された光セ
ンサ検査用端子３１が緑検査用端子領域Ｓｇに形成されているので、光センサＬＳのゲー
ト電極Ｇｐとコモン配線ＣＯＭとの間のショート検査及び光センサＬＳの静電保護用ＴＦ
ＴＰＴのゲート電極とコモン配線ＣＯＭとの間のショート検査を行うことができない。

このような光センサＬＳのゲート電極Ｇｐとコモン配線ＣＯＭとの間のショート検査及
び光センサＬＳの静電保護用ＴＦＴＰＴのゲート電極とコモン配線ＣＯＭとの間のショー
ト検査を行うことができる実施形態２の液晶表示装置１０Ｂを図７及び図８を用いて説明
する。なお、実施形態２の液晶表示装置１０Ｂにおいては、実施形態１の液晶表示装置１
０Ａと同一の構成部分には同一の参照符号を付与して、その詳細な説明は省略する。実施
形態２の液晶表示装置１０Ｂが実施形態１の液晶表示装置１０Ａと構成が相違する点は、
（１）第３の引回し配線Ｌ３と第３の端子Ｔ３との間にスイッチング素子としてのＴＦＴ
５５ａを配置し、第４の引回し配線Ｌ４と第４の端子Ｔ４の間にスイッチング素子として
のＴＦＴ５５ｂを配置し、（２）ＴＦＴ５５ａのゲート電極を走査線検査用端子領域Ｇ１
ｂに配置された端子５６ａ及び走査線出力パッド領域ＧＡ１に配置された端子５６ｂに接
続し、ＴＦＴ５５ｂのゲート電極を走査線検査用端子領域Ｇ２ｂに配置された端子５６ｃ
及び走査線出力パッド領域ＧＡ２に配置された端子５６ｄに接続し、（３）ＴＦＴ５５ａ
と第３の端子Ｔ３との間を走査線検査用端子領域Ｇ１ａに配置された光センサ検査用端子
３３に接続し、ＴＦＴ５５ｂと第４の端子Ｔ４との間を走査線検査用端子領域Ｇ２ａに配
置された光センサ検査用端子３４に接続した点である。

この実施形態２の液晶表示装置１０Ｂにおいては、光センサＬＳのゲート電極Ｇｐとコ
モン配線ＣＯＭとの間のショート検査及び光センサＬＳの静電保護用ＴＦＴＰＴのゲート
電極とコモン配線ＣＯＭとの間のショート検査を独立して行うことができる。加えて、例
えば走査線検査用端子領域Ｇ１ａに１５Ｖを印加するときに、走査線検査用端子領域Ｇ１
ｂを−１０Ｖにすれば、ＴＦＴ５５ａはＯＦＦ状態となり、走査線検査用端子領域Ｇ１ａ
とコモン配線ＣＯＭとの間はフローティング状態をなるので、実施形態１の液晶表示装置
１０Ａの場合と同様の検査を行うことができるようになる。

［実施形態３］
光センサＬＳのゲート電極Ｇｐとコモン配線ＣＯＭとの間のショート検査及び光センサ
ＬＳの静電保護用ＴＦＴＰＴのゲート電極とコモン配線ＣＯＭとの間のショート検査を行
うことができる別の実施形態である実施形態３の液晶表示装置１０Ｃを図９及び図１０を
用いて説明する。この実施形態３の液晶表示装置１０Ｃにおいては、実施形態１の液晶表
示装置１０Ａと同一の構成部分には同一の参照符号を付与して、その詳細な説明は省略す
る。実施形態３の液晶表示装置１０Ｃが実施形態１の液晶表示装置１０Ａと構成が相違す
る点は、（１）第３の引回し配線Ｌ３と第３の端子Ｔ３との間にスイッチング素子として
のＴＦＴ５５ａ及び５５ａ'を配置し、第４の引回し配線Ｌ４と第４の端子Ｔ４の間にス
イッチング素子としてのＴＦＴ５５ｂ及び５５ｂ'を配置し、（２）ＴＦＴ５５ａのゲー
ト電極を走査線検査用端子領域Ｇ１ｂに配置された端子５６ａ及び走査線出力パッド領域
ＧＡ１に配置された端子５６ｂに接続すると共にＴＦＴ５５ｂ'のゲート電極に接続し、
ＴＦＴ５５ａ'のゲート電極を走査線検査用端子領域Ｇ２ａに配置された端子５６ｃ及び
走査線出力パッド領域ＧＡ２に配置された端子５６ｄに接続し、（３）ＴＦＴ５５ｂのゲ
ート電極を走査線検査用端子領域Ｇ２ａに配置された端子５６ｃ及び走査線出力パッド領
域ＧＡ２に配置された端子５６ｄに接続し、（３）ＴＦＴ５５ａの一方の端子を走査線検
査用端子領域Ｇ１ａに配置された端子５６ｅに接続し、ＴＦＴ５５ｂの他方の端子を走査
線検査用端子領域Ｇ２ｂに配置された端子５６ｆに接続した点である。

この実施形態３の液晶表示装置１０Ｃにおいては、光センサＬＳのゲート電極Ｇｐとコ
モン配線ＣＯＭとの間のショート検査及び光センサＬＳの静電保護用ＴＦＴＰＴのゲート
電極とコモン配線ＣＯＭとの間のショート検査を独立して行うことができる。加えて、パ
ネル点灯時には、全てのスイッチング素子としてのＴＦＴをオフ状態となるようにすれば
、走査線検査用端子領域Ｇ１ａとコモン配線ＣＯＭとの間をフローティング状態とするこ
とができるので、実施形態１の液晶表示装置１０Ａの場合と同様の検査を行うことができ
るようになる。

なお、上記実施形態１〜３に示した液晶表示装置１０Ａ〜１０Ｃにおいては、ＴＮモー
ドあるいはＶＡモードで駆動するものを説明したが、これに限定されることなく、例えば
画素電極と共通電極が何れもアレイ基板ＡＲに形成されるＩＰＳ（In-Plane Switching）
モードあるいはＦＦＳ（Fringe Field Switching）モードの液晶表示装置にも同様に適応
可能である。更に、本発明は液晶表示装置のみならずアクティブマトリクス型として駆動
される表示装置、例えば、有機ＥＬ表示装置、プラズマ表示装置等の周知の表示装置に対
しても等しく適用可能である。

本発明の一実施形態１に係る液晶表示装置のカラーフィルタ基板を透視してアレイ基板を模式的に示した平面図である。図１のII−II線で切断した概略断面図である。光検出部の等価回路図である。実施形態１の表示装置の等価回路図である。図３の検査用端子領域の拡大図である。各検査用端子に接触される検査治具を示す斜視図である。実施形態２の表示装置の等価回路図である。図７の検査用端子領域の拡大図である。実施形態３の表示装置の等価回路図である。図９の検査用端子領域の拡大図である。

符号の説明

１０Ａ〜１０Ｃ：液晶表示装置１１、１２：透明基板１３：張り出し部１４：シー
ル材１５：第１構造物１６：第２構造物３１〜３４：光センサ検査用端子４０Ｒ
、４０Ｇ、４０Ｂ：ソース引出し線４１Ｒ：赤検査用端子４１Ｇ：緑検査用端子４
１Ｂ：青検査用端子４５Ｐ１、４５Ｐ２：ゲート引出し線４６Ｐ１、４６Ｐ２：ゲ
ート検査用端子５０：コモン引出し線５１：コモン検査用端子５５ａ、５５ｂ、５５
ａ'、５５ｂ'：スイッチング素子５６ａ〜５６ｆ：端子ＡＲ：アレイ基板ＣＦ：カ
ラーフィルタ基板ＧＷ：走査線ＳＷ：信号線ＧＬ：ゲート引き回し配線ＳＬ：ソ
ース引き回し配線ＣＯＭ：コモン配線Ｌ１〜Ｌ４：引回し配線ＤＡ：表示領域Ｄ
ｒ：ＩＣチップＬＤ：光検出部ＬＳ：光センサＰＴ：静電保護用ＴＦＴＴ１〜Ｔ
４：端子Ｄｐ：（光センサの）ドレイン電極Ｓｐ：（光センサの）ソース電極Ｇｐ
：（光センサの）ゲート電極Ｓ：スイッチ素子Ｃ：コンデンサＶＧ：逆バイアス電
圧Ｖｓ：第１基準電圧源ＶＡ：出力電圧ＶＲＥＦ：第２基準電圧源ＣＡ：チップ
搭載領域ＴＡ：検査用端子領域ＳＡ：信号線出力パッド領域ＧＡ１、ＧＡ２：走査
線出力パッド領域ＣＯＭＡ：コモン配線パッド領域ＣＯＭＢ：コモン配線用バンプ端
子ｃｏｍ：コモン配線検査用端子領域ＳＢ：信号線用バンプ端子ＧＢ：走査線用バ
ンプ端子Ｇ１ａ、Ｇ１ｂ、Ｇ２ａ、Ｇ２ｂ：走査線検査用端子領域Ｓｒ：赤検査用端
子領域Ｓｇ：緑検査用端子領域Ｓｂ：青検査用端子領域

Claims

互いに交差するように配置される複数本の信号線及び複数本の走査線と、コモン配線と
、前記信号線及び走査線の交点近傍に配置されたスイッチング素子としての薄膜トランジ
スタと、前記薄膜トランジスタに電気的に接続された画素電極と、を備える表示画素が複
数個マトリクス状に配置されていると共に、光量を検出する薄膜トランジスタからなる光
センサ素子と、前記光センサ素子を静電気から保護するための薄膜トランジスタからなる
静電保護素子と、がそれぞれ同一基板上に形成され、前記複数本の信号線、前記複数本の
走査線及び前記コモン配線が引き出された引き出し部において、前記複数本の信号線、前
記複数本の走査線及び前記コモン配線にはそれぞれ検査端子が接続されている表示装置に
おいて、
前記光センサ素子の第１電極及び第２電極からそれぞれ引き出された光センサ素子信号
線と、前記光センサ素子の制御電極から引き出された光センサ素子制御線と、前記静電保
護素子の制御電極から引き出された静電保護素子制御線が前記引き出し部まで引き伸ばさ
れていると共に、前記複数本の信号線の検査端子と前記光センサ素子信号線の検査端子が
隣接して配置され、更に、前記コモン配線の検査端子と前記光センサ素子制御線の検査端
子と前記静電保護素子制御線の検査端子とが隣接して配置されていることを特徴とする表
示装置。
前記複数本の信号線は一定の順番で異なる色を表示できるよう設けられており、前記複
数本の信号線の検査端子は対応する色ごとに異なる列に位置するよう複数列に配設されて
おり、前記光センサ素子の第１電極及び第２電極からそれぞれ引き出された光センサ素子
信号線の検査端子は、それぞれ前記複数列のいずれかの延長上に位置するように異なる列
に配設され、前記コモン配線の検査端子と前記光センサ素子制御線の検査端子と前記静電
保護素子制御線の検査端子は同列に配設されていることを特徴とする請求項１に記載の表
示装置。
前記複数本の走査線は第１走査線群〜第４走査線群に４分割されて前記第１走査線群〜
第４走査線群のそれぞれ毎に前記引き出し部まで引き延ばされ、前記複数本の走査線のそ
れぞれに接続された検査用端子が前記第１走査線群〜第４走査線群毎に近接配置されてい
ることを特徴とする請求項１又は２に記載の表示装置。
前記引き出し部には第１スイッチ素子及び第２スイッチ素子が形成され、前記光センサ
素子制御線が前記第１スイッチ素子の第１電極に接続され、前記静電保護素子制御線が前
記第２スイッチ素子の第１電極に接続され、前記第１スイッチ素子及び第２スイッチ素子
の第２電極及び制御電極には検査端子が接続され、前記複数本の信号線の検査端子と光セ
ンサ素子信号線の検査端子を隣接して配置すると共に、前記第１スイッチ素子及び第２ス
イッチ素子の第２電極及び制御電極に接続された検査端子を、それぞれ前記第１走査線群
〜第４走査線群の異なる群の検査用端子に隣接して配置したことを特徴とする請求項３に
記載の表示装置。
前記引き出し部には第１スイッチ素子〜第４スイッチ素子が形成され、前記光センサ素
子制御線が前記第１スイッチ素子の第１電極及び前記第３スイッチ素子の第１電極に接続
され、前記静電保護素子制御線が前記第２スイッチ素子の第１電極及び前記第４スイッチ
素子の第１電極に接続され、前記第１スイッチ素子〜第４スイッチ素子の第２電極及び制
御電極には検査端子が接続され、前記複数本の信号線の検査端子と光センサ素子信号線の
検査端子を隣接して配置すると共に、前記第１スイッチ素子〜第４スイッチ素子の第２電
極に接続された検査端子のうち、何れか２つと前記コモン配線の検査端子を隣接配置し、
残りの２つをそれぞれ前記第１走査線群〜第４走査線群の異なる群の検査用端子に隣接し
て配置し、更に、前記第１スイッチ素子〜第４スイッチ素子の制御電極に接続された検査
端子をそれぞれ前記第１走査線群〜第４走査線群の異なる群の検査用端子に隣接して配置
したことを特徴とする請求項３に記載の表示装置。
請求項１に記載の表示装置の検査プローブであって、
前記基板上において前記引き出し部の引き出し方向と交差する方向に前記検査端子の配置
に対応して延設され、前記検査端子の上から圧接された際に、前記複数の走査線の検査端
子に接触する配線部と、前記複数本の信号線の検査端子と前記光センサ素子信号線の検査
端子とに接触する配線部と、前記コモン配線の検査端子と前記光センサ素子制御線の検査
端子と前記静電保護素子制御線の検査端査端子とに接触する配線部と、を備えることを特
徴とする表示装置の検査プローブ。
請求項２に記載の表示装置の検査プローブであって、
前記基板上において前記引き出し部の引き出し方向と交差する方向に前記検査端子の配置
に対応して延設され、前記検査端子の上から圧接された際に、前記複数の走査線の検査端
子に接触する配線部と、前記複数本の信号線の検査端子の前記複数列のうちの一列と前記
光センサ素子信号線の検査端子の一方とに接触する配線部と、前記複数本の信号線の検査
端子の前記複数列のうちの別の一列と前記光センサ素子信号線の検査端子の他方とに接触
する配線部と、前記複数本の信号線の検査端子の前記複数列のうちの他の列と接触する配
線部と、前記コモン配線の検査端子と前記光センサ素子制御線の検査端子と前記静電保護
素子制御線の検査端子とに接触する配線部と、を備えることを特徴とする表示装置の検査
プローブ。
請求項３に記載の表示装置の検査プローブであって、前記基板上において前記引き出し
部の引き出し方向と交差する方向に前記検査端子の配置に対応して延設され、前記検査端
子の上から圧接された際に、前記第１走査線群〜第４走査線群の検査端子にそれぞれ個別
に接触する配線部と、前記複数本の信号線の検査端子と前記光センサ素子信号線の検査端
子とに接触する配線部と、前記コモン配線の検査端子と前記光センサ素子制御線の検査端
子と前記静電保護素子制御線の検査端査端子とに接触する配線部と、を備えることを特徴
とする表示装置の検査プローブ。
請求項４に記載の表示装置の検査プローブであって、前記基板上において前記引き出し
部の引き出し方向と交差する方向に前記検査端子の配置に対応して延設され、前記検査端
子の上から圧接された際に、前記第１走査線群の検査端子と前記第１スイッチ素子の第２
電極の検査端子に接触する配線部と、前記第２走査線群の検査端子と前記第２スイッチ素
子の第２電極の検査端子に接触する配線部と、前記第３走査線群の検査端子と前記第１ス
イッチ素子の制御電極の検査端子に接触する配線部と、前記第４走査線群の検査端子と前
記第２スイッチ素子の制御電極の検査端子に接触する配線部と、前記複数本の信号線の検
査端子と前記光センサ素子信号線の検査端子とに接触する配線部と、
前記コモン配線に接触する配線部と、を備えることを特徴とする表示装置の検査プロー
ブ。
請求項５に記載の表示装置の検査プローブであって、前記基板上において前記引き出し
部の引き出し方向と交差する方向に前記検査端子の配置に対応して延設され、前記検査端
子の上から圧接された際に、前記第１走査線群の検査端子と前記第１スイッチ素子の第２
電極の検査端子に接触する配線部と、前記第２走査線群の検査端子と前記第２スイッチ素
子の制御電極の検査端子と前記第３スイッチ素子の制御電極の検査端子に接触する配線部
と、前記第３走査線群の検査端子と前記第１スイッチ素子の制御電極の検査端子と前記第
４スイッチ素子の制御電極の検査端子に接触する配線部と、前記第４走査線群の検査端子
と前記第２スイッチ素子の第２電極の検査端子に接触する配線部と、前記複数本の信号線
の検査端子と前記光センサ素子信号線の検査端子とに接触する配線部と、前記コモン配線
の検査端子と前記第３スイッチ素子の第２電極と前記第４スイッチ素子の第２電極の検査
端子とに接触する配線部と、を備えることを特徴とする表示装置の検査プローブ。
請求項３〜５のいずれかに記載の表示装置の検査プローブであって、前記基板上におい
て前記引き出し部の引き出し方向と交差する方向に前記検査端子の配置に対応して延設さ
れ、前記検査端子の上から圧接された際に、前記第１走査線群の検査端子と前記第１スイ
ッチ素子の第２電極の検査端子に接触する配線部と、前記第２走査線群の検査端子と前記
第２スイッチ素子の制御電極の検査端子と前記第３スイッチ素子の制御電極の検査端子に
接触する配線部と、前記第３走査線群の検査端子と前記第１スイッチ素子の制御電極の検
査端子と前記第４スイッチ素子の制御電極の検査端子に接触する配線部と、前記第４走査
線群の検査端子と前記第２スイッチ素子の第２電極の検査端子に接触する配線部と、前記
複数本の信号線の検査端子の前記複数列のうちの一列と前記光センサ素子信号線の検査端
子の一方とに接触する配線部と、前記複数本の信号線の検査端子の前記複数列のうちの別
の一列と前記光センサ素子信号線の検査端子の他方とに接触する配線部と、前記複数本の
信号線の検査端子の前記複数列のうちの他の列と接触する配線部と、前記コモン線の検査
端子と前記第３スイッチ素子の第２電極と前記第４スイッチ素子の第２電極の検査端子と
に接触する配線部と、を備えることを特徴とする表示装置の検査プローブ。