CN114859589B - 一种显示面板及显示面板的点亮方法 - Google Patents

Abstract

本申请实施例公开了一种显示面板及显示面板的点亮方法，显示面板包括：多个金属层，叠设于阵列基底上；多个绝缘层，相邻的两金属层之间至少设置一个绝缘层；其中，显示面板还包括至少一个第一测试键和多个第二测试键；至少一个金属层构成第一公共电极，第一测试键的厚度大于第二测试键的厚度，第一测试键电连接第一公共电极，二测试键电连接第一公共电极以外的电极或电路。本申请实施例通过设置第一测试键的厚度大于第二测试键的厚度，在使用测试治具点亮显示面板时，测试治具上的至少一探针先接触第一测试键，第一测试键电连接第一公共电极，第一公共电极可以更好的释放静电，避免了静电导致显示面板损坏的发生。

Description

一种显示面板及显示面板的点亮方法

技术领域

本申请涉及显示领域，具体涉及一种显示面板及显示面板的点亮方法。

背景技术

随着显示技术的发展，显示面板已经广泛用于人们生活中，例如手机、电脑等的显示屏幕。在显示面板的生产制造等过程中，需要将显示面板通过测试治具进行点亮，以判断显示面板是否存在亮点、亮线等不良，测试治具包括多个探针，显示面板上设置有多个测试键，在点亮显示面板时，探针会接触或扎入对应的测试键之中。

然而，测试治具的探针接触或扎入显示面板的测试键时，通常会产生静电，静电通过探针导入显示面板，就会导致显示面板损坏。

发明内容

本申请实施例提供了一种显示面板及显示面板的制造方法，可以解决测试治具的探针接触或扎入显示面板的测试键时，产生静电，静电通过探针导入显示面板，导致显示面板损坏的问题。

本申请实施例提供了一种显示面板，包括：

阵列基底；

多个金属层，叠设于所述阵列基底上；

多个绝缘层，相邻的两所述金属层之间至少设置一个所述绝缘层；

其中，所述显示面板还包括设置于所述阵列基底上的多个测试键，多个所述测试键包括至少一个第一测试键和多个第二测试键，所述第一测试键和所述第二测试键均由至少一个所述金属层构成；

至少一个所述金属层构成第一公共电极，所述第一测试键的厚度大于所述第二测试键的厚度，所述第一测试键电连接所述第一公共电极，所述二测试键电连接所述第一公共电极以外的电极或电路。

可选地，在本申请的一些实施例中，多个所述第二测试键的厚度相同。

可选地，在本申请的一些实施例中，构成所述第一测试键的所述金属层的数量大于构成所述第二测试键的所述金属层的数量。

可选地，在本申请的一些实施例中，构成所述第一测试键的所述金属层的数量等于构成所述第二测试键的所述金属层的数量，构成所述第一测试键的至少一个所述金属层的厚度大于构成所述第二测试键的至少一个所述金属层的厚度。

可选地，在本申请的一些实施例中，还包括：

对侧基底，与所述阵列基底相对设置；

第二公共电极，设置于所述对侧基底上，且多个所述金属层、多个所述绝缘层和所述第二公共电极均设置于所述阵列基底和所述对侧基底之间；

所述第一公共电极和所述第二公共电极电连接。

可选地，在本申请的一些实施例中，至少两个所述金属层构成所述第一测试键，构成所述第一测试键的相邻两所述金属层之间还设置有至少一个绝缘层。

可选地，在本申请的一些实施例中，至少两个所述金属层构成所述第一测试键，构成所述第一测试键的相邻两所述金属层直接接触。

可选地，在本申请的一些实施例中，多个所述金属层包括扫描线金属层、数据线金属层和像素电极金属层；

所述第一测试键至少由所述扫描线金属层、数据线金属层和像素电极金属层构成，所述第二测试键至少由所述扫描线金属层和数据线金属层中一种，以及所述像素电极金属层构成。

可选地，在本申请的一些实施例中，所述显示面板还包括设置于所述阵列基底上的数据线、扫描线和扫描驱动电路，所述数据线和所述扫描线交错设置，所述扫描驱动电路电连接所述扫描线；

多个所述第二测试键包括至少一个第一子测试键和至少一个第二子测试键，所述第一子测试键电连接所述扫描驱动电路，所述第二子测试键电连接所述数据线。

相应的，本申请实施例还提供了一种显示面板的点亮方法，对上述任一项所述的显示面板进行点亮，所述显示面板的点亮方法包括：

提供一测试治具，所述测试治具包括探针件，所述探针件包括多个探针，多个所述探针包括至少一个第一探针和多个第二探针，所述第一探针对应所述第一测试键，多个所述第二探针对应多个所述第二测试键；

将所述探针件的多个所述探针与多个所述测试键对位并接触，其中，在所述第一探针接触所述第一测试键之后，所述第二探针再接触所述第二测试键；

通过所述测试治具提供给所述显示面板对应的电信号，以点亮所述显示面板

本申请实施例中，提供了一种显示面板及显示面板的点亮方法，显示面板包括：阵列基底；多个金属层，叠设于阵列基底上；多个绝缘层，相邻的两金属层之间至少设置一个绝缘层；其中，显示面板还包括设置于阵列基底上的多个测试键，多个测试键包括至少一个第一测试键和多个第二测试键，第一测试键和第二测试键均由至少一个金属层构成；至少一个金属层构成第一公共电极，第一测试键的厚度大于第二测试键的厚度，第一测试键电连接第一公共电极，二测试键电连接第一公共电极以外的电极或电路。本申请实施例通过设置第一测试键的厚度大于第二测试键的厚度，在使用测试治具点亮显示面板，探针接触或扎入对应的测试键之中时，测试治具上的至少一探针先接触第一测试键，第一测试键电连接第一公共电极，由于第一公共电极面积较大、或厚度较大、或不电连接像素中的薄膜晶体管，第一公共电极可以更好的释放静电，在静电释放后，测试治具上的其他探针再接触对应的第二测试键，从而避免静电进入第一公共电极之外的其他电极或电路，避免了静电导致显示面板损坏的发生。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请一实施例提供的一种显示面板的俯视示意图；

图2为本申请一实施例提供的一种显示面板的中CD虚线部位的第一种截面示意图；

图3为本申请一实施例提供的一种显示面板的中CD虚线部位的第二种截面示意图；

图4为本申请一实施例提供的一种显示面板的中CD虚线部位的第三种截面示意图；

图5为本申请一实施例提供的一种显示面板的中CD虚线部位的第四种截面示意图；

图6为本申请一实施例提供的一种显示面板的点亮方法的流程步骤示意图；

图7为本申请一实施例提供的一种显示面板的点亮方法的第一中间过程示意图；

图8为本申请一实施例提供的一种显示面板的点亮方法的第二中间过程示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。此外，应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本申请，并不用于限制本申请。在本申请中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上”和“下”通常是指装置实际使用或工作状态下的上和下，具体为附图中的图面方向；而“内”和“外”则是针对装置的轮廓而言的。

本申请提供了一种显示面板，显示面板包括：阵列基底；多个金属层，叠设于阵列基底上；多个绝缘层，相邻的两金属层之间至少设置一个绝缘层；其中，显示面板还包括设置于阵列基底上的多个测试键，多个测试键包括至少一个第一测试键和多个第二测试键，第一测试键和第二测试键均由至少一个金属层构成；至少一个金属层构成第一公共电极，第一测试键的厚度大于第二测试键的厚度，第一测试键电连接第一公共电极，二测试键电连接第一公共电极以外的电极或电路。本申请还提供了一种对前述显示面板进行点亮的方法。以下分别进行详细说明。需说明的是，以下实施例的描述顺序不作为对实施例优选顺序的限定。

实施例一

请参阅图1至图3，图1为本申请一实施例提供的一种显示面板的俯视示意图；图2为本申请一实施例提供的一种显示面板的中CD虚线部位的第一种截面示意图，图3为本申请一实施例提供的一种显示面板的中CD虚线部位的第二种截面示意图；图4为本申请一实施例提供的一种显示面板的中CD虚线部位的第三种截面示意图。

本申请实施例提供了一种显示面板200，显示面板200包括阵列基底21、多个金属层30和多个绝缘层40，多个金属层30叠设于阵列基底21上；相邻的两金属层30之间至少设置一个绝缘层40；其中，显示面板200还包括设置于阵列基底21上的多个测试键10，多个测试键10包括至少一个第一测试键11和多个第二测试键12，第一测试键11和第二测试键12均由至少一个金属层30构成；至少一个金属层30构成第一公共电极13，第一测试键11的厚度大于第二测试键12的厚度，第一测试键11电连接第一公共电极13，第二测试键12电连接第一公共电极13以外的电极或电路。

具体地，阵列基底21可以为阵列基板的基底，阵列基板包括多个薄膜晶体管、信号走线和电路等结构，在此不再赘述。

具体地，多个金属层30和多个绝缘层40可以为阵列基板上的膜层结构，在后续详细说明。

具体地，如图1所示，显示面板200包括显示区AA和非显示区BB，非显示区BB至少部分围绕显示区AA设置，图1中举例示意了多个测试键10设置于非显示区BB，但不限于此。

具体地，如图1所示，图1中举例示意了第一公共电极13位于非显示区BB，但不限于此，例如第一公共电极13可以位于非显示区BB，或者第一公共电极13可以部分位于非显示区BB、部分位于显示区AA，或者第一公共电极13可以位于显示区AA，在此不做限定。

具体地，如图1所示，第一公共电极13为输入公共电压的电极、走线等结构。

具体地，如图2、图3和图4所示，为了便于说明显示面板的显示区AA和测试键10的结构，图2、图3和图4示意了图1中CD虚线部位的截面结构，多个测试键10包括至少一个第一测试键11和多个第二测试键12，第一测试键11和第二测试键12均由至少一个金属层30构成，即多个金属层30参与构成显示区AA部位的结构，同时多个金属层30中至少一个也参与构成了测试键10的结构。

具体地，第一测试键11的厚度大于第二测试键12的厚度，即第一测试键11在阵列基底21上的厚度或高度大于第二测试键12在阵列基底21上的厚度或高度。

具体地，第一测试键11电连接第一公共电极13，第一公共电极13为设置于阵列基底21上的输入公共电压的电极或走线等结构，第一测试键11还可以通过第一公共电极13电连接其他电极等结构。

具体地，第二测试键12电连接第一公共电极13以外的电极或电路，例如，一个第二测试键12电连接数据线、另一个第二测试键12电连接栅极驱动电路等。

在一些实施例中，多个第二测试键12的厚度相同。

具体地，多个第二测试键12在阵列基底21上的厚度或高度相同，保证每一探针与对应的第二测试键12正常接触或导通。

在本实施例中，通过设置第一测试键11的厚度大于第二测试键12的厚度，在使用测试治具点亮显示面板200，探针接触或扎入对应的测试键10之中时，测试治具上的至少一探针先接触第一测试键11，第一测试键11电连接第一公共电极13，由于第一公共电极13面积较大、或厚度较大、或不电连接像素中的薄膜晶体管，第一公共电极13可以更好的释放静电，在静电释放后，测试治具上的其他探针再接触对应的第二测试键12，从而避免静电进入第一公共电极13之外的其他电极或电路，避免了静电导致显示面板200损坏的发生。

实施例二

本实施例与实施例一相同或相似，不同之处在于进一步描述了显示面板200或测试键10的结构。

在一些实施例中，构成第一测试键11的金属层的数量大于构成第二测试键12的金属层的数量。

具体地，如图2和图4所示，构成第一测试键11的金属层的数量大于构成第二测试键12的金属层的数量，从而使得第一测试键11的厚度大于第二测试键的厚度。

具体地，图2和图4中举例示意了，多个金属层30包括第一金属层31、第二金属层32和第三金属层33，第一金属层31、第二金属层32和第三金属层33层叠/层叠设置，多个金属层30还可以包括其他金属层。图2中举例示意了，多个绝缘层40包括第一绝缘层41和第二绝缘层42，多个绝缘层40还可以包括其他绝缘层。图2中举例示意了，在显示区AA中，第一绝缘层41位于第一金属层31和第二金属32之间，第二绝缘层42位于第二金属层32和第三金属33之间。

具体地，图4中举例示意了，构成第一测试键11的金属层30包括第一金属层31、第二金属层32和第三金属层33，构成第二测试键12的金属层30包括第一金属层31和第二金属层32。

在一些实施例中，构成第一测试键11的金属层30的数量等于构成第二测试键12的金属层30的数量，构成第一测试键11的至少一个金属层的厚度大于构成第二测试键12的至少一个金属层30的厚度。

具体地，图3中举例示意了，构成第一测试键11的金属层包括第一金属层31，构成第二测试键12的金属层30包括第二金属层32，即构成第一测试键11和构成第二测试键12的金属层的数量相同，构成第一测试键11和构成第二测试键12的金属层的数量均为一个，但构成第一测试键11的第一金属层31的厚度大于构成第二测试键12的第二金属层32的厚度，从而使得第一测试键11的厚度大于第二测试键的厚度。

具体地，构成第一测试键11的金属层也可以大于一个，构成第二测试键12的金属层也可以大于一个，构成第一测试键11的金属层30的数量等于构成第二测试键12的金属层30的数量，但构成第一测试键11的至少一个金属层的厚度大于构成第二测试键12的至少一个金属层的厚度，从而使得第一测试键11的厚度大于第二测试键12的厚度。

在本实施例中，举例示意了几种使得第一测试键11的厚度大于第二测试键12的厚度的实施情况，具有实施例一相同的有益效果。

实施例三

本实施例与上述实施例中任一项的显示面板200或测试键10相同或相似，不同之处在于进一步描述了显示面板200或测试键10的结构。

需要说明的是，在实施例一、实施例二中的显示面板200，显示面板200可以为液晶显示面板，液晶显示面板可以IPS(In-Plane Switching，平面转换)模式的液晶面板、FFS(Fringe Field Switching，边缘场开关技术)模式的液晶面板、VA(vertical alignment，垂直配向)模式的液晶面板等模式的液晶显示面板，本实施例针对VA(verticalalignment，垂直配向)模式的液晶面板等对侧基底上设置有第二公共电极的液晶显示面板进行进一步说明。

需要说明的是，在实施例一、实施例二中的显示面板200，显示面板200可以为液晶显示面板，此时，图2、图3和图4中没有示意出彩膜基板或对侧基底，但不制约本领域技术人员对液晶显示面板结构的理解。

请参阅图5，图5为本申请一实施例提供的一种显示面板的中CD虚线部位的第四种截面示意图。

在一些实施例中，显示面板200还包括对侧基底51和第二公共电极52，对侧基底51与阵列基底21相对设置；第二公共电极52设置于对侧基底51上，且多个金属层30、多个绝缘层40和第二公共电极52均设置于阵列基底21和对侧基底51之间；第一公共电极13和第二公共电极52电连接。

具体地，阵列基底21可以为阵列基板的基底，对侧基底51可以为彩膜基板的基底或是与阵列基底21相对设置的基底，阵列基底21和对侧基底51之间还可以设置液晶层60。

具体地，显示面板200可以为液晶显示面板，液晶显示面板为VA(verticalalignment，垂直配向)模式的液晶面板时，对侧基底51上还设置有第二公共电极52，此时第一公共电极13为阵列基板上的公共走线或电极，第二公共电极52为对侧基底51或彩膜基板上的公共电极。

具体地，第一公共电极13和第二公共电极52电连接的方式可以为现有技术中的任一种方式，第二公共电极52具有更大的面积，第一公共电极13和第二公共电极52电连接，测试治具上探针上的静电可以释放到第一公共电极13和第二公共电极52上，释放静电的电极的面积更大，可以更好的避免显示面板的损坏。

实施例四

本实施例与上述实施例中任一项的显示面板200或测试键10相同或相似，不同之处在于进一步描述了显示面板200或测试键10的结构。

在一些实施例中，至少两个金属层30构成第一测试键11，构成第一测试键11的相邻两金属层30之间还设置有至少一个绝缘层40。

具体地，如图2所示，至少两个金属层30构成第一测试键11，构成第一测试键11的相邻两金属层30之间还设置有至少一个绝缘层40。图2中举例示意了构成第一测试键11的金属层30包括第一金属层31、第二金属层32和第三金属层33。在第一测试键11中，第一绝缘层41位于第一金属层31和第二金属32之间，第二绝缘层42位于第二金属层32和第三金属33之间。

进一步地，如图2所示，至少两个金属层30构成第二测试键12，构成第二测试键12的相邻两金属层30之间还设置有至少一个绝缘层40。图2中举例示意了构成第二测试键12的金属层30包括第一金属层31和第二金属层32。在第二测试键12中，第一绝缘层41位于第一金属层31和第二金属32之间。

在一些实施例中，至少两个金属层30构成第一测试键11，构成第一测试键11的相邻两金属层30直接接触。

具体地，如图4所示，至少两个金属层30构成第一测试键11，构成第一测试键11的相邻两金属层30直接接触。图4中举例示意了，构成第一测试键11的金属层30包括第一金属层31、第二金属层32和第三金属层33。在第一测试键11中，第一金属层31和第二金属32直接接触，第二金属层32和第三金属33直接接触。

进一步地，如图4所示，至少两个金属层30构成第二测试键12，构成第二测试键12的相邻两金属层30直接接触。图4中举例示意了构成第二测试键12的金属层30包括第一金属层31和第二金属层32。在第二测试键12中，第一金属层31和第二金属32直接接触。

在一些实施例中，多个金属层30包括扫描线金属层、数据线金属层和像素电极金属层；第一测试键11至少由扫描线金属层、数据线金属层和像素电极金属层构成，第二测试键12至少由扫描线金属层和数据线金属层中一种，以及像素电极金属层构成。

具体地，如图2、图4和图5所示，多个金属层30包括扫描线金属层、数据线金属层和像素电极金属层，例如第一金属层31为扫描线金属层，第二金属层32为数据线金属层，第三金属层33为像素电极金属层，利用与显示区AA的层结构中相同的金属层，或者利用与显示区AA的层结构中相同的金属层和绝缘层，形成测试键，可以简化制作工艺。

在一些实施例中，显示面板200还包括设置于阵列基底21上的数据线14、扫描线15和扫描驱动电路16，数据线14和扫描线15交错设置，扫描驱动电路16电连接扫描线15；多个第二测试键12包括至少一个第一子测试键121和至少一个第二子测试键122，第一子测试键121电连接扫描驱动电路16，第二子测试键122电连接数据线14。

具体地，请结合图1，第一子测试键121电连接扫描驱动电路16，使得扫描驱动电路16打开，并供给扫描线15对应的电信号；第二子测试键122电连接数据线14，并供给像素电极对应的电信号；第一测试键11电连接第一公共电极13，并供给第一公共电极13、或第一公共电极和第二公共电极52对应的电信号，使得显示面板点亮，显示面板显示对应的图像。

实施例五

本实施例还提供了一种显示面板的点亮方法，对上述实施例中的任一项的显示面板200进行点亮。

请参阅图6至图8，图6为本申请一实施例提供的一种显示面板的点亮方法的流程步骤示意图；图7为本申请一实施例提供的一种显示面板的点亮方法的第一中间过程示意图；图8为本申请一实施例提供的一种显示面板的点亮方法的第二中间过程示意图。图6中对显示面板的点亮方法的流程步骤进行编号，是为了更好的说明显示面板的点亮过程，不对流程顺序做限定。

显示面板的点亮方法包括步骤：S100、S200和S300。

S100：提供一测试治具，测试治具包括探针件，探针件包括多个探针，多个探针包括至少一个第一探针和多个第二探针，第一探针对应第一测试键，多个第二探针对应多个第二测试键。

具体地，如图7所示，提供一测试治具300，测试治具300包括探针件301，探针件301包括多个探针3011，多个探针3011包括至少一个第一探针30111和多个第二探针30112，第一探针30111对应第一测试键11，多个第二探针30112对应多个第二测试键12。

S200：将探针件的多个探针与多个测试键对位并接触，其中，在第一探针接触第一测试键之后，第二探针接触再接触第二测试键。

具体地，将探针件301的多个探针3011与多个测试键10对位并接触，其中，如图7所示，在第一探针30111接触第一测试键11之后，如图8所示，第二探针30112再接触第二测试键12。

S300：通过测试治具提供给显示面板对应的电信号，以点亮显示面板。

具体地，通过测试治具300提供给显示面板200对应的电信号，以点亮显示面板200。

具体地，显示面板200为液晶显示面板时，通过测试治具300提供给显示面板200对应的电信号可以包括：第一子测试键121电连接扫描驱动电路16，使得扫描驱动电路16打开，并供给扫描线15对应的电信号；第二子测试键122电连接数据线14，并供给像素电极对应的电信号；第一测试键11电连接第一公共电极13，并供给第一公共电极13、或第一公共电极和第二公共电极52对应的电信号，使得显示面板点亮，显示面板显示对应的图像。但通过测试治具300提供给显示面板200对应的电信号不限于此。

在本实施例中，在使用测试治具点亮显示面板200，探针接触或扎入对应的测试键10之中时，由于第一测试键11的厚度大于第二测试键12的厚度，测试治具300上的第一探针30111先接触第一测试键11，第一测试键11电连接第一公共电极13，由于第一公共电极13面积较大、或厚度较大、或不电连接像素中的薄膜晶体管，第一公共电极13可以更好的释放静电，在静电释放后，测试治具上的第二探针30112再接触对应的第二测试键12，从而避免静电进入第一公共电极13之外的其他电极或电路，避免了静电导致显示面板200损坏的发生。

以上对本申请实施例所提供的一种显示面板及显示面板的点亮方法进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (10)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：

阵列基底；

多个金属层，叠设于所述阵列基底上；

多个绝缘层，相邻的两所述金属层之间至少设置一个所述绝缘层；

其中，所述显示面板还包括设置于所述阵列基底上的多个测试键，多个所述测试键包括至少一个第一测试键和多个第二测试键，所述第二测试键由至少一个所述金属层构成，所述第一测试键由至少两个所述金属层构成；

至少一个所述金属层构成第一公共电极，所述第一测试键的厚度大于所述第二测试键的厚度，所述第一测试键电连接所述第一公共电极，所述第二测试键电连接所述第一公共电极以外的电极或电路。

2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，多个所述第二测试键的厚度相同。

3.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，构成所述第一测试键的所述金属层的数量大于构成所述第二测试键的所述金属层的数量。

4.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，构成所述第一测试键的所述金属层的数量等于构成所述第二测试键的所述金属层的数量，构成所述第一测试键的至少一个所述金属层的厚度大于构成所述第二测试键的至少一个所述金属层的厚度。

5.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，还包括：

对侧基底，与所述阵列基底相对设置；

第二公共电极，设置于所述对侧基底上，且多个所述金属层、多个所述绝缘层和所述第二公共电极均设置于所述阵列基底和所述对侧基底之间；

所述第一公共电极和所述第二公共电极电连接。

6.如权利要求1至5中任一项所述的显示面板，其特征在于，构成所述第一测试键的相邻两所述金属层之间还设置有至少一个绝缘层。

7.如权利要求1至5中任一项所述的显示面板，其特征在于，构成所述第一测试键的相邻两所述金属层直接接触。

8.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，多个所述金属层包括扫描线金属层、数据线金属层和像素电极金属层；

所述第一测试键至少由所述扫描线金属层、数据线金属层和像素电极金属层构成，所述第二测试键至少由所述扫描线金属层和数据线金属层中一种，以及所述像素电极金属层构成。

9.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括设置于所述阵列基底上的数据线、扫描线和扫描驱动电路，所述数据线和所述扫描线交错设置，所述扫描驱动电路电连接所述扫描线；

多个所述第二测试键包括至少一个第一子测试键和至少一个第二子测试键，所述第一子测试键电连接所述扫描驱动电路，所述第二子测试键电连接所述数据线。

10.一种显示面板的点亮方法，其特征在于，对如权利要求1至9中任一项所述的显示面板进行点亮，所述显示面板的点亮方法包括：

提供一测试治具，所述测试治具包括探针件，所述探针件包括多个探针，多个所述探针包括至少一个第一探针和多个第二探针，所述第一探针对应所述第一测试键，多个所述第二探针对应多个所述第二测试键；

将所述探针件的多个所述探针与多个所述测试键对位并接触，其中，在所述第一探针接触所述第一测试键之后，所述第二探针再接触所述第二测试键；

通过所述测试治具提供给所述显示面板对应的电信号，以点亮所述显示面板。