JP2021503591A - 品質検査装置、方法、システム及び一体型プローブ組立体 - Google Patents

Abstract

本発明は、溶接品質検査の分野、具体的には品質検査装置に関し、前記品質検査装置は、集積プローブ組と、駆動モジュールと、収集モジュールとを含み、前記集積プローブ組は、対をなして設けられる一つの駆動端と一つの収集端とで構成される複数の一体型プローブ組立体を含み、前記一体型プローブ組立体の駆動端は、対をなして設けられた別の一体型プローブ組立体の駆動端に対応するように設けられ、前記一体型プローブ組立体の収集端は、対をなして設けられた別の一体型プローブ組立体の収集端に対応するように設けられている。本発明は、さらに品質検査システム、品質検査方法及び一体型プローブ組立体に関する。本発明による品質検査装置、システム及び継ぎ目に基づく品質検査方法によれば、集積プローブ組と駆動モジュールと収集モジュールの連携により、継ぎ目全体の溶接品質に対する迅速な検査が実現されている。【選択図】図１

Description

本発明は溶接品質検査の分野に関し、具体的に、品質検査装置、方法、システム及び一体型プローブ組立体に関するものである。

レーザ溶接は、高エネルギ密度のレーザを熱源として金属を溶解させて溶接ジョイントとする精密な溶接手法で、その精度が高くて作業が速く、溶接変形も小さく、真空雰囲気も必要とせず、２０世紀７０年代から主に薄肉材料の溶接や低速溶接に適用され始め、熱伝達型の溶接プロセスとなっている。即ち、レーザ放射でワーク表面を加熱し、熱伝達により内部へと表面の熱が広がり、レーザパルスの幅やエネルギ、ピーク出力及び繰返し率等のパラメータを制御することでワークを溶解させて特定の溶融池とするものとして知られている。その特有の長所のため、微細な小型部品の精密溶接へ広く適用されていた。

レーザ機器の進歩に従って、レーザ溶接の作業速度がますます速くなり、例えばガルバノメータ走査による溶接速度は、駆動プローブでは２００ｍｍ／ｓとなるため、溶接品質検査の効率への企業による要求がますます高くなっている。検査方法としては、例えば磁粉探傷、浸透探傷、超音波探傷、放射線探傷がよく用いられている。

磁粉探傷は、欠陥付近での漏れ磁界における磁粉の堆積から強磁性材料の表面又は表面近くでの欠陥を検査する非破壊検査方法である。この探傷方法は、鉄鋼等の磁性材料より作製されたワークを磁化させ、その欠陥部位での漏れ磁束による磁粉に対する吸引に起因した磁粉の分布に応じて被検体表面や表面近くでの欠陥を示すものであり、効率が低くてワークへの汚染がもたらされていた。

浸透探傷は、毛細管現象により材料の表面欠陥を検査する非破壊検査方法であるが、効率が高くないものであった。

超音波探傷は、超音波エネルギが金属材料の奥行きまで達し、一つの断面からもう一つの断面へ渡る場合における界面の縁での反射により部品の欠陥を検査する方法であり、超音波束がプローブを介して部品表面から金属内部まで達すると、欠陥や部品底面のそれぞれに出会うと反射波が生じ、スクリーンにおいてパルス波形が発生し、そして、これらのパルス波形から欠陥の位置や大きさが判断されるようになっており、操作員に対する要求が高い一方、キャビティがある構造に適していなかった。

放射線探傷は、ある種の放射線で継ぎ目内部の欠陥を検査する方法であるが、器材コストが高くて検査速度が遅い。

抵抗による継ぎ目品質検査は、新規な溶接品質検査手法として知られ、現在の研究においては、四つのプローブが並び、つまり、駆動プローブとしての二つのプローブが外側でパルス電流を放出し、収集プローブとしての二つのプローブが内側である継ぎ目両側でその電圧変化を収集して、抵抗計で継ぎ目の抵抗を分析し計算することは一般的である。検査では、同時に四本のプローブを摺動させながら継ぎ目全体の抵抗を検出することが多い。原理上は実行可能であるが、実際の検査中には多くの問題があった。例えば、プローブの摺動でワーク表面にすり傷ができ、プローブの複数回の摺動による摩耗は検査結果に影響を与えてしまう。特に摺動検査はワーク表面の粗さに対する要求が非常に高く、極めて異常値が出やすく、検査結果の信頼性への影響が大きい。プローブ摺動検査にはさらに、プローブが曲がり変形しやすく、プローブの摺動速度が低く、検査効率が低い等の問題が
ある。そこで、プローブの摺動で継ぎ目の抵抗を検出し、その品質を判断することは実際の生産への応用が現在困難である。

幅広く用いられていた抵抗計としては、例えばＡｐｐｌｅｎｔ社、日置社等によるマイクロ抵抗計が市販されている。計器は計測原理が同一で、いずれも四線で抵抗を測定するものであり、そのうち、二本の駆動線が抵抗計の駆動ポート（Ｄｒｉｖｅ）及びプローブに接続され、他の二本の収集線が収集ポート（Ｓｅｎｓｅ）に接続されている。駆動線が接続されているプローブは継ぎ目両側で直流電流を放出し、収集線が接続されているプローブは継ぎ目両側の電圧変化を収集し、抵抗計を通じて抵抗値を出力する。しかしながら、現在の計器は、チャネルとして二つの駆動ポートと二つの収集ポートのみで一つの検査チャネルが構成され、継ぎ目のある箇所の抵抗しか検出できず、その全体を迅速に検査し溶接品質を判断することが難しい。

本発明は、従来技術の上記欠陥に対して、単一チャネルでの検査によるワーク表面のすり傷や低い検査効率及び高くない信頼性という短所を改善した品質検査装置を提供することを目的とする。

本発明は、従来技術の上記欠陥に対して、単一チャネルでの検査によるワーク表面のすり傷や低い検査効率及び高くない信頼性という短所を改善した品質検査システムを提供することを目的とする。

本発明は、従来技術の上記欠陥に対して、単一チャネルでの検査によるワーク表面のすり傷や低い検査効率及び高くない信頼性という短所を改善した品質検査方法を提供することを目的とする。

この課題を解決するために、本発明は、集積プローブ組と、駆動モジュールと、収集モジュールとを含み、前記集積プローブ組は、対をなして設けられる一つの駆動端と一つの収集端とで構成される複数の一体型プローブ組立体を含み、前記一体型プローブ組立体の駆動端は、対をなして設けられた別の一体型プローブ組立体の駆動端と対応するように設けられ、前記一体型プローブ組立体の収集端は、対をなして設けられた別の一体型プローブ組立体の収集端に対応するように設けられ、前記駆動モジュールは、対応する駆動端を通して、当接した導体と電流回路を形成するように電流を放出し、前記収集モジュールは、対応する収集端が当接した導体において形成された電流回路領域の抵抗値を取得する品質検査装置を提供する。

この課題を解決するために、本発明は、前記品質検査装置により実現されるものであって、対をなす一体型プローブ組立体をそれぞれ導体における継ぎ目両側に当接させることと、対応する駆動端を通して、当接した導体と電流回路を形成するように電流を放出することと、対応する収集端が、当接した導体において形成された電流回路領域の電気情報を取得し、複数の走査チャネルを形成することと、収集された電気情報を抵抗値に変換して継ぎ目の品質を取得することとを含む品質検査方法を提供する。

この課題を解決するために、本発明は、品質検査装置を含み、集積プローブ組と移動部材とを固定するためのものであって、前記移動部材は、ホルダと導体との相対運動を実現するようにホルダ又は導体と接続され、前記ホルダは、二列に設けられ、対応する一体型プローブ組立体をそれぞれ固定する固定端を含み、移動部材によって動かされることにより、対をなして設けられた一体型プローブ組立体を対応する導体の継ぎ目両側に当接させ
る品質検査システムを提供する。

この課題を解決するために、本発明は、集積して設けられた駆動端と収集端とを含み、前記駆動端は、外部駆動モジュールと接続され、駆動モジュールの作用により、対応する別の駆動端と連携して、当接した導体と電流回路を形成するように電流を放出し、前記収集端は、外部収集モジュールと接続され、収集モジュールの作用により、対応する収集端と連携して、当接した導体において形成された電流回路領域の電信号を取得する一体型プローブ組立体を提供する。

従来技術に比べて、本発明による品質検査装置、システム及び継ぎ目に基づく品質検査方法は、集積プローブ組と駆動モジュールと収集モジュールの連携により、継ぎ目全体の溶接品質に対する迅速な検査が実現され、また、複数の走査チャネルによる検査ではプローブの摺動が不要となるため、被検ワークにすり傷が出来ず、ワーク表面の粗さに対する要求が低くなり、さらに、プローブが摺動しなくなることで、信頼性が一層高くなり、異常波動が低減し、さらに、複数のチャネルを迅速に走査して抵抗を取得することで、検査効率が一層高くなる一方、より継ぎ目の大量検査にも適するようになり、さらに、検査速度が速くて効率が高いながら汚染がなくて安定性が高い等の利点を持ち、レーザ溶接による継ぎ目の溶接品質検査の方法が広げられ、さらに、一体型プローブ組立体によれば、プローブ構造が最適化され、異なる被検導体の幅に対応可能になる。

以下、図面及び実施例に合わせて本発明をさらに説明する。

本発明による品質検査装置の原理模式図である。 本発明による平行溶接導体に基づく品質検査装置の構造模式図である。 本発明による垂直溶接導体に基づく品質検査装置の構造模式図である。 本発明による一体型プローブ組立体の第一の技術案の構造模式図である。 本発明による一体型プローブ組立体の第二の技術案の構造模式図である。 本発明による一体型プローブ組立体の第三の技術案の構造模式図である。 本発明による品質検査装置の構造模式図である。 図７の複数の切替モジュールに基づく構造模式図である。 本発明による品質検査方法のフロー模式図である。 本発明による抵抗値の異常の有無の判断に基づく品質検査方法のフロー模式図である。 本発明による得られた抵抗値と導体の自己抵抗値との比の計算に基づく品質検査方法のフロー模式図である。 本発明による品質検査システムの構造模式図である。 図１２の一部構造模式図である。 本発明による一体型プローブ組立体と導体が当接した場合の構造模式図である。

以下、図面に合わせて、本発明の好ましい実施例を詳細に説明する。

図１〜図３に示されるように、本発明は品質検査装置の好ましい実施例を提供する。

品質検査装置は、集積プローブ組と、駆動モジュール１３０と、収集モジュール１２０を含み、前記集積プローブ組は、対をなして設けられる一つの駆動端１１２と一つの収集端１１１とで構成される複数の一体型プローブ組立体１１０を含み、前記一体型プローブ
組立体１１０の駆動端１１２は、対をなして設けられた別の一体型プローブ組立体１１０の駆動端１１２に対応するように設けられ、前記一体型プローブ組立体１１０の収集端１１１は、対をなして設けられた別の一体型プローブ組立体１１０の収集端１１１に対応するように設けられ、前記駆動モジュール１３０は、対応する駆動端１１２を通して、当接した導体２００と電流回路を形成するように電流を放出し、前記収集モジュール１２０は、対応する収集端１１１が当接した導体２００において形成された電流回路領域の電気抵抗を取得する。

好ましくは、複数の前記一体型プローブ組立体１１０は二列に設けられ、一列中の一体型プローブ組立体１１０と他の列中の一体型プローブ組立体１１０とは対をなして設けられている。そのうち、互いに対をなして設けられ、それぞれ二列に設けられている二つの一体型プローブ組立体１１０は、駆動端１１２が駆動モジュール１３０を介して一つの駆動回路が構成され、それらの収集端１１１が収集モジュール１２０を介して一つの収集回路が構成されることで、複数の走査チャネルが形成されている。そして、導体２００の継ぎ目両側に一体型プローブ組立体１１０をそれぞれ一列設けて複数の走査チャネルを形成し、継ぎ目の品質検査を行う。

具体的には、図２と図３を参照すると、溶接した導体２００を用意し、二列に設けられている一体型プローブ組立体１１０を、導体２００の継ぎ目２１０両側に設けるようにそれぞれ導体２００に当接させ、対をなす一体型プローブ組立体１１０同士の間隔は適切であり、大きすぎたり小さすぎたりしない。大きすぎると、計測精度が不足し、小さすぎると、互いに干渉されて計測結果に影響したり、資源の浪費を招きやすくなったりしてしまう。そして、駆動端１１２と収集端１１１はともに導体２００の対応する位置に当接すると、対応する駆動端１１２へ通電するように駆動モジュール１３０を制御して、導体２００とともに継ぎ目２１０をわたって電流回路を形成してから、対応する継ぎ目２１０の位置の電圧値を収集するように、対応する収集端１１１によりここでの導体２００の電気情報を取得し、電気情報に基づいて継ぎ目２１０の品質を判断する。

また、品質検査装置は、収集モジュール１２０と接続される主制御モジュールをさらに含み、前記主制御モジュールは、前記収集モジュール１２０により取得された電気情報、例えば電圧値を取得し、電圧値に基づいて継ぎ目２１０の電気抵抗値を取得し、そして電気抵抗値に基づいて継ぎ目２１０の品質を判断する。

さらには、全ての一体型プローブ組立体１１０による電気情報の収集が完了するまで対をなす一体型プローブ組立体１１０を順に作動させてもよい。例えば、対応する駆動端１１２へ順次通電し、対応する収集端１１１によりパラメータを収集することで、駆動モジュール１３０と収集モジュール１２０の多重化が実現される。あるいは、駆動端１１２へ同時に通電し、対応する収集端１１１によりパラメータを収集することで、同時作動が実現され、品質検査の効率が向上する。

図４〜図６に示されるように、本発明は一体型プローブ組立体の好ましい実施例を提供する。

本実施例では、一体型プローブ組立体１１０の技術案は三つ提供されている。一体型プローブ組立体１１０によれば、駆動端１１２と収集端１１１が組み込まれるように設けられ、構造が簡略化されて検査が容易になり、エラー率が低下するようになる。特に駆動端１１２と収集端１１１が同時に導体２００に当接することが要求される場合においては接触不良が発生しやすいからである。さらには、接触する必要のある導体面積が小さく、狭い継ぎ目に対する検査に便利である。

接触短絡を防ぐために、前記駆動端１１２と収集端１１１は絶縁するように設けられていることは言うまでもない。

第一の技術案として、前記一体型プローブ組立体１１０は、外部に設けられた第一プローブと内部に設けられた第二プローブとを含み、前記第一プローブの端面と第二プローブの端面は、一体型プローブ組立体１１０が導体に当接している時に揃うように設けられ、そのうち、前記第一プローブは駆動端１１２と収集端１１１のうちの一種類であり、前記第二プローブは駆動端１１２と収集端１１１のうちの他の一種類である。

好ましくは、図４を参照すると、前記第一プローブに端部凹溝１１２１が設けられ、前記第二プローブは端部凹溝１１２１に設けられている。さらには、集積して設けられた駆動端１１２と収集端１１１とを含み、前記駆動端１１２は、外部駆動モジュールと接続され、駆動モジュールの作用により、対応する別の駆動端１１２と連携して、当接した導体と電流回路を形成するように電流を放出し、前記収集端１１１は、外部収集モジュールと接続され、収集モジュールの作用により、対応する収集端１１１と連携して当接した導体において形成された電流回路領域の電気信号を取得する前記一体型プローブ組立体１１０を提供する。前記一体型プローブ組立体１１０は、外部において駆動端１１２として設けられた駆動プローブと、内部において収集端１１１として設けられた収集プローブとを含み、前記駆動プローブの端面と収集プローブの端面は、一体型プローブ組立体１１０が導体に当接している時に揃うように設けられている。

具体的には、端部凹溝１１２１の底部には収集プローブを取り付けるための取付構造があり、絶縁ブロックにより絶縁取付けが行われ、また、端部凹溝１１２１の底部には外部接続線や接続導体を通過させる通路があり、前記外部接続線や接続導体は駆動プローブと絶縁して設けられている。そして、前記収集プローブの探知端は、少なくとも導体２００に当接している時に駆動プローブの探知端と揃うようになっている。

第二の技術案として、図５を参照すると、第一の技術案をもとに、前記第一プローブは環形の管状構造となし、前記第二プローブは第一プローブの中空構造に設けられている。そのうち、前記第一プローブは駆動端１１２と収集端１１１のうちの一種類であり、前記第二プローブは駆動端１１２と収集端１１１のうちの他の一種類である。

具体的には、前記一体型プローブ組立体１１０は底部に設けられた基板１１４をさらに含み、収集プローブも基板１１４に取り付けられ、好ましくは、駆動プローブは環状の中空管状構造で、収集プローブは円柱状構造であり、また、前記収集プローブの探知端は少なくとも導体２００に当接している時に駆動プローブの探知端と揃うようになっている。

第三の技術案として、図６を参照すると、前記一体型プローブ組立体１１０は両側に設けられた第一プローブと第二プローブとを含み、前記第一プローブと第二プローブは絶縁するように設けられている。具体的には、基板をさらに含み、前記第一プローブと第二プローブとともに基板１１５に固定されている。そのうち、前記第一プローブは駆動端１１２と収集端１１１のうちの一種類であり、前記第二プローブは駆動端１１２と収集端１１１のうちの他の一種類である。

本実施例では、第一の技術案と第二の技術案において、前記一体型プローブ組立体１１０は弾性体をさらに含み、前記弾性体は第二プローブの底部に設けられ、外力によって動かされることにより、第二プローブを第一プローブの端面と水平な箇所にて伸縮移動させ、あるいは、前記弾性体は第一プローブの底部に設けられ、外力によって動かされることにより、第一プローブを第二プローブの端面と水平な箇所にて伸縮移動させる。

一般的に、第一プローブは弾性体により第二プローブの開口から伸びており、一体型プローブ組立体１１０を導体２００に当接させる時、圧力により第一プローブが縮むように移動して、第一プローブと第二プローブのいずれも導体２００に当接する。

また、第三の技術案において、前記一体型プローブ組立体１１０は弾性体をさらに含み、前記弾性体は第一プローブの端部と基板１１５、あるいは、第二プローブの端部と基板１１５に設けられており、弾性体により駆動プローブと収集プローブが揃うことが可能である。

本実施例では、前記一体型プローブ組立体１１０は底部に設けられた延伸端１１３をさらに含み、前記延伸端１１３は、それぞれ駆動端１１２と駆動モジュールに電気的に接続されている第一接続線と、それぞれ収集端１１１と収集モジュールに電気的に接続されている第二接続線とを囲んでいる。

本実施例では、第一の技術案において、好ましくは、第一プローブは駆動端１１２とし、第二プローブは収集端１１１とすることで、駆動端１１２同士の間の電流の流れに影響せず、正確性が向上する一方、内部に設けられた収集端１１１によれば、電気情報が正確に取得され、収集データの精確性が確保されている。

図７と図８に示されるように、本発明は回路制御の好ましい実施例を提供する。

前記品質検査装置は、複数の切替モジュール１４０を有する集積回路をさらに含み、対応して設けられた前記駆動端１１２と収集端１１１は、一つの切替モジュール１４０を介して、それぞれ、駆動モジュール１３０と収集モジュール１２０に接続されており、前記集積回路は、順に切替モジュール１４０をオンにして駆動モジュール１３０から電流を放出させることにより、対応する駆動端１１２を通して、当接した導体２００と電流回路を形成し、収集モジュール１２０は、対応する収集端１１１が当接した導体２００において形成された電流回路領域の電気抵抗値を取得する。

好ましくは、前記集積回路は、データを伝送するためのＰＬＣモジュール１５０と、切替モジュール１４０を構成するリレーとを含み、前記ＰＬＣモジュール１５０は、それぞれ、駆動モジュール１３０や収集モジュール１２０及び複数のリレーと接続され、前記各リレーは対をなして設けられた二つの駆動端１１２と二つの収集端１１１に接続されている。

具体的には、一体型プローブ組立体１１０が継ぎ目２１０の両側に設けられるようにそれぞれ導体２００に当接して設けられている場合、駆動端１１２と収集端１１１はいずれも導体２００の表面に接触することで、電気的な接続が実現される。一体型プローブ組立体１１０は駆動線１１２１と収集線１１１１を介して一つの切替モジュール１４０の第一駆動インタフェースと第一収集インタフェースに接続され、それと対をなして設けられた一体型プローブ組立体１１０も駆動線１１２１と収集線１１１１を介して前記切替モジュール１４０の第二駆動インタフェースと第二収集インタフェースに接続され、さらにＰＬＣモジュール１５０を介してデータを駆動モジュール１３０と収集モジュール１２０のそれぞれに伝送する。前記作動フローとしては、１．一つの切替モジュール１４０がオンになり、残りの切替モジュール１４０がオフになることと、２．駆動モジュール１３０はオンである切替モジュール１４０を介して電流を対応する駆動端１１２に出力して、電流回路、即ち駆動モジュール１３０--ＰＬＣモジュール１５０（駆動出力端）--切替モジュール１４０（第一駆動インタフェースから出力）--駆動端１１２（第一駆動インタフェースと接続されている駆動端）--導体２００--継ぎ目２１０--導体２００--駆動端１１２（第二駆動インタフェースと接続されている駆動端）--切替モジュール１４０（第二駆動イン
タフェースから入力）--ＰＬＣモジュール１５０（駆動入力端）--駆動モジュール１３０を形成することと、３．収集モジュール１２０はオンである切替モジュール１４０を介してその際の継ぎ目両端の電圧値を取得し、電気抵抗値に変換する。

本実施例では、前記駆動モジュール１３０と収集モジュール１２０はマイクロ抵抗計３００として集積して設けられており、前記マイクロ抵抗計３００は、電流を出力しながら駆動モジュール１３０と接続するための駆動系と、電気情報を収集しながら収集モジュール１２０と接続するための収集系とを含む。

制御の原理は、リレー同士の間の切替え（一つのリレーがオフ、もう一つのリレーが同期してオンになること）によって、マイクロ抵抗計がリレーに接続されている一体型プローブ組立体１１０を走査することにより、対をなす一体型プローブ組立体１１０同士の間での継ぎ目の抵抗値を検出することである。

図９、図１０及び図１１に示されるように、本発明は継ぎ目に基づく品質検査方法の好ましい実施例を提供する。

前記品質検査装置により実現される、継ぎ目に基づく品質検査方法は、
対をなす一体型プローブ組立体をそれぞれ導体における継ぎ目両側に当接させるステップＳ１０と、
対応する駆動端を通して、当接した導体と電流回路を形成するように電流を放出するステップＳ２０と、
対応する収集端が、当接した導体において形成された電流回路領域の電気情報を取得し、複数の走査チャネルを形成するステップＳ３０と、
収集された電気情報を抵抗値に変換して継ぎ目の品質を取得するステップＳ４０と、
を含む。

具体的には、導体２００における継ぎ目２１０の両側にて列になるように一体型プローブ組立体１１０を導体２００に当接させ、前記対をなす駆動端１１２は揃うようにそれぞれ継ぎ目２１０両側に設けられ、前記対をなす収集端１１１は揃うようにそれぞれ継ぎ目２１０両側に設けられ、駆動モジュール１３０は駆動端１１２へ通電させて、対をなす駆動端１１２、導体２００、及び継ぎ目２１０を介して電流回路が形成され、収集モジュール１２０が収集端１１１を介して対応する電流回路領域の電気情報を収集して複数の走査チャネルが形成され、主制御モジュールは継ぎ目２１０の品質を取得する。

本実施例では、前記品質検査方法は、
収集端を介して対応する電流回路領域の電圧値を収集し、通電した電流値から対応する位置の電気抵抗値を取得するステップＳ４２と、
電気抵抗値の異常の有無を判断し、正常であれば継ぎ目の合格とし、逆であれば継ぎ目の欠陥とするステップＳ４３と、
をさらに含む。

さらに、前記継ぎ目の品質の判断は、
予め数値の大きい順に第一の比区間、第二の比区間及び第三の比区間を設けるステップＳ４１と、
得られた抵抗値と導体の自己抵抗値との比を計算するステップＳ４２１と、
前記比が第一の比区間にあれば、継ぎ目の合格とするステップＳ４３１と、
前記比が第二の比区間にあれば、溶接不完全とするステップＳ４３２と、
前記比が第三の比区間にあれば、溶接漏れとするステップＳ４３３と、
を含む。

好ましくは、第一の比区間が９０％〜１１０％で、第二の比区間が１１０％〜２１０％で、第三の比区間が２１０％以上である。

ただし、ステップＳ４２１の結果に応じて、対応するステップ、例えば、ステップＳ４３１やステップＳ４３２やステップＳ４３３になることである。

図１２〜図１４に示されるように、本発明は品質検査システムの好ましい実施例を提供する。

前記品質検査システムは、品質検査装置を含み、集積プローブ組と移動部材とを固定するためのものであって、前記移動部材は、ホルダ３１０と導体２００との相対運動を実現するようにホルダ３１０又は導体２００と接続され、前記ホルダ３１０は、二列に設けられ、対応する一体型プローブ組立体１１０をそれぞれ固定する固定端３１１を含み、移動部材によって動かされることにより、対をなして設けられた一体型プローブ組立体を対応する導体の継ぎ目２１０の両側に当接させる。

本実施例では、図１３を参照すると、前記品質検査システムは、作業台３２０と、作業台３２０中央に設けられた導体挟持端と、作業台両側に設けられたホルダ３１０とを含み、前記移動部材は作業台３２０とホルダ３１０との間に設けられ、ホルダ３１０を動かして作業台３２０に沿って中央又は外方へ移動させる。

上記は本発明にかかる最適な実施例にすぎず、本発明の範囲を制限するものではなく、本発明の特許請求の範囲に基づく等価な変形や改良の全ては本発明に含まれるものである。

Claims (18)

1. 集積プローブ組と、駆動モジュールと、収集モジュールとを含み、前記集積プローブ組は、対をなして設けられる一つの駆動端と一つの収集端とで構成される複数の一体型プローブ組立体を含み、前記一体型プローブ組立体の駆動端は、対をなして設けられた別の一体型プローブ組立体の駆動端に対応するように設けられ、前記一体型プローブ組立体の収集端は、対をなして設けられた別の一体型プローブ組立体の収集端に対応するように設けられ、前記駆動モジュールは、対応する駆動端を通して、当接した導体と電流回路を形成するように電流を放出し、前記収集モジュールは、対応する収集端が当接した導体において形成された電流回路領域の電気抵抗値を取得することを特徴とする品質検査装置。
2. 複数の前記一体型プローブ組立体は二列に設けられ、一列中の一体型プローブ組立体と他の列中の一体型プローブ組立体とは対をなして設けられていることを特徴とする請求項１に記載の品質検査装置。
3. 前記一体型プローブ組立体は、外部に設けられた第一プローブと内部に設けられた第二プローブとを含み、前記第一プローブの端面と第二プローブの端面は、一体型プローブ組立体が導体に当接している時に揃うように設けられ、そのうち、前記第一プローブは駆動端と収集端のうちの一種類であり、前記第二プローブは駆動端と収集端のうちの他の一種類であることを特徴とする請求項１に記載の品質検査装置。
4. 前記第一プローブに端部凹溝が設けられ、前記第二プローブは端部凹溝に設けられていることを特徴とする請求項３に記載の品質検査装置。
5. 前記第一プローブは環形の管状構造となし、前記第二プローブは第一プローブの中空構造に設けられていることを特徴とする請求項３に記載の品質検査装置。
6. 前記一体型プローブ組立体は弾性体をさらに含み、前記弾性体は第二プローブの底部に設けられ、外力によって動かされることにより、第二プローブを第一プローブの端面と水平な箇所にて伸縮移動させ、あるいは、前記弾性体は第一プローブの底部に設けられ、外力によって動かされることにより、第一プローブを第二プローブの端面と水平な箇所にて伸縮移動させることを特徴とする請求項３〜５のいずれか一つに記載の品質検査装置。
7. 前記一体型プローブ組立体は、底部に設けられた延伸端をさらに含み、前記延伸端は、それぞれ駆動端と駆動モジュールに電気的に接続されている第一接続線と、それぞれ収集端と収集モジュールに電気的に接続されている第二接続線とを囲んでいることを特徴とする請求項１〜５のいずれか一つに記載の品質検査装置。
8. 複数の切替モジュールを有する集積回路をさらに含み、対応して設けられた前記駆動端と収集端は一つの切替モジュールを介してそれぞれ駆動モジュールと収集モジュールに接続されており、前記集積回路は、順に切替モジュールをオンにして駆動モジュールから電流を放出させることにより、対応する駆動端を通して、当接した導体と電流回路を形成し、収集モジュールは、対応する収集端が当接した導体において形成された電流回路領域の電気抵抗値を取得することを特徴とする請求項１に記載の品質検査装置。
9. 前記集積回路は、データを伝送するためのＰＬＣモジュールと、切替モジュールを構成するリレーとを含み、前記ＰＬＣモジュールは、それぞれ、駆動モジュールや収集モジュール及び複数のリレーと接続され、前記各リレーは対をなして設けられた二つの駆動端と二つの収集端に接続されていることを特徴とする請求項８に記載の品質検査装置。
10. 前記駆動モジュールと収集モジュールはマイクロ抵抗計として集積して設けられており、前記マイクロ抵抗計は、電流を出力しながら駆動モジュールと接続するための駆動系と、電気情報を収集しながら収集モジュールと接続するための収集系とを含むことを特徴とする請求項１、８又は９に記載の品質検査装置。
11. 請求項１〜１０のいずれかに記載の品質検査装置により実現されるものであって、
    対をなす一体型プローブ組立体をそれぞれ導体における継ぎ目両側に当接させることと、
    対応する駆動端を通して、当接した導体と電流回路を形成するように電流を放出することと、
    対応する収集端が、当接した導体において形成された電流回路領域の電気情報を取得し、複数の走査チャネルを形成することと、
    収集された電気情報を抵抗値に変換して継ぎ目の品質を取得することと、
    を含むことを特徴とする継ぎ目に基づく品質検査方法。
12. 収集端を介して対応する電流回路領域の電圧値を収集し、通電した電流値から対応する位置の電気抵抗値を取得することと、
    電気抵抗値の異常の有無を判断し、正常であれば継ぎ目の合格とし、逆であれば継ぎ目の欠陥とすることとをさらに含むことを特徴とする請求項１１に記載の品質検査方法。
13. 前記継ぎ目の品質の判断は、
    予め数値の大きい順に第一の比区間、第二の比区間及び第三の比区間を設けることと、
    得られた電気抵抗値と導体の自己抵抗値との比を計算することと、
    前記比が第一の比区間にあれば、継ぎ目の合格とし、前記比が第二の比区間にあれば、溶接不完全とし、前記比が第三の比区間にあれば、溶接漏れとすることと、
    を含むことを特徴とする請求項１１又は１２に記載の品質検査方法。
14. 請求項１〜１０のいずれか一つに記載の品質検査装置を含み、集積プローブ組と移動部材とを固定するためのものであって、前記移動部材は、ホルダと導体との相対運動を実現するようにホルダ又は導体と接続され、前記ホルダは、二列に設けられ、対応する一体型プローブ組立体をそれぞれ固定する固定端を含み、移動部材によって動かされることにより、対をなして設けられた一体型プローブ組立体を対応する導体の継ぎ目両側に当接させることを特徴とする品質検査システム。
15. 作業台と、作業台中央に設けられた導体挟持端と、作業台両側に設けられたホルダとを含み、前記移動部材は作業台とホルダとの間に設けられ、ホルダを動かして作業台に沿って中央又は外方へ移動させることを特徴とする請求項１に記載の品質検査システム。
16. 集積して設けられた駆動端と収集端とを含み、前記駆動端は、外部駆動モジュールと接続され、駆動モジュールの作用により、対応する別の駆動端と連携して当接した導体と電流回路を形成するように電流を放出し、前記収集端は、外部収集モジュールと接続され、収集モジュールの作用により、対応する収集端と連携して当接した導体において形成された電流回路領域の電気信号を取得することを特徴とする一体型プローブ組立体。
17. 外部において駆動端として設けられた駆動プローブと、内部において収集端として設けられた収集プローブとを含み、前記駆動プローブの端面と収集プローブの端面は、一体型プローブ組立体が導体に当接している時に揃うように設けられていることを特徴とする請求項１６に記載の一体型プローブ組立体。
18. 前記駆動プローブの端面に端部凹溝が設けられ、前記収集プローブは端部凹溝に設けら
    れていることを特徴とする請求項１７に記載の一体型プローブ組立体。

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