JPS6167556U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6167556U JPS6167556U JP15091984U JP15091984U JPS6167556U JP S6167556 U JPS6167556 U JP S6167556U JP 15091984 U JP15091984 U JP 15091984U JP 15091984 U JP15091984 U JP 15091984U JP S6167556 U JPS6167556 U JP S6167556U
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- Japan
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- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
第１図ａは本考案の一実施例を示す要部を断面
にした構成説明図、同図ｂは上記実施例に於ける
プローブのセツテイング機構を示す上面図、同図
ｃは同図ｂのＡ−Ａ線に沿う断面図及び上記実施
例に於ける接続構成を示す図、第２図は従来のプ
ローブ構造を説明するためのプローブ本体を断面
にした構成説明図である。 １…コネクタ、２…ビス、３…リード線、４…
軸受板、５…接触針受け、６…ばね、７…接触針
、８…ロツク用金具、９…上蓋、１０…底板、１
１…ガイド軸、１２…取手、１３…ナツト。
にした構成説明図、同図ｂは上記実施例に於ける
プローブのセツテイング機構を示す上面図、同図
ｃは同図ｂのＡ−Ａ線に沿う断面図及び上記実施
例に於ける接続構成を示す図、第２図は従来のプ
ローブ構造を説明するためのプローブ本体を断面
にした構成説明図である。 １…コネクタ、２…ビス、３…リード線、４…
軸受板、５…接触針受け、６…ばね、７…接触針
、８…ロツク用金具、９…上蓋、１０…底板、１
１…ガイド軸、１２…取手、１３…ナツト。
Claims (1)
- 接触針の間隔を設定するスライド機構及びロツ
ク機構を有してなる電気抵抗探傷法用測定プロー
ブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15091984U JPS6167556U (ja) | 1984-10-05 | 1984-10-05 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15091984U JPS6167556U (ja) | 1984-10-05 | 1984-10-05 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6167556U true JPS6167556U (ja) | 1986-05-09 |
Family
ID=30709050
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15091984U Pending JPS6167556U (ja) | 1984-10-05 | 1984-10-05 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6167556U (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109596677A (zh) * | 2018-11-02 | 2019-04-09 | 大族激光科技产业集团股份有限公司 | 一种质量检测装置、方法、系统及一体式探针组件 |
| KR20200051627A (ko) * | 2018-11-02 | 2020-05-13 | 한스 레이저 테크놀러지 인더스트리 그룹 컴퍼니 리미티드 | 품질 검사 장치, 방법, 시스템 및 일체형 프로브 어셈블리 |
-
1984
- 1984-10-05 JP JP15091984U patent/JPS6167556U/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109596677A (zh) * | 2018-11-02 | 2019-04-09 | 大族激光科技产业集团股份有限公司 | 一种质量检测装置、方法、系统及一体式探针组件 |
| KR20200051627A (ko) * | 2018-11-02 | 2020-05-13 | 한스 레이저 테크놀러지 인더스트리 그룹 컴퍼니 리미티드 | 품질 검사 장치, 방법, 시스템 및 일체형 프로브 어셈블리 |
| JP2021503591A (ja) * | 2018-11-02 | 2021-02-12 | ハンズ レーザー テクノロジー インダストリー グループ カンパニー リミテッド | 品質検査装置、方法、システム及び一体型プローブ組立体 |