WO2020107796A1 - 显示面板以及显示面板的裂纹检测方法 - Google Patents

显示面板以及显示面板的裂纹检测方法 Download PDF

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WO2020107796A1
WO2020107796A1 PCT/CN2019/084501 CN2019084501W WO2020107796A1 WO 2020107796 A1 WO2020107796 A1 WO 2020107796A1 CN 2019084501 W CN2019084501 W CN 2019084501W WO 2020107796 A1 WO2020107796 A1 WO 2020107796A1
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张鑫
薛景峰
苗思文
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武汉华星光电技术有限公司
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    • H01L27/1214—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • H01L27/124—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition, shape or layout of the wiring layers specially adapted to the circuit arrangement, e.g. scanning lines in LCD pixel circuits

Definitions

  • the present application relates to the field of electronic devices, and in particular to a display panel and a crack detection method of the display panel.
  • Embodiments of the present application provide a display panel and a crack detection method of the display panel to reduce the difficulty of crack detection of the display panel.
  • a display panel includes:
  • a panel body having a display area and a non-display area
  • ground wire located in the non-display area and surrounding the display area, the ground wire having a first end and a second end;
  • a first ground connection portion and a first test connection portion, the first ground connection portion and the first test connection portion are connected in parallel to the first end;
  • a second ground connection portion and a second test connection portion, the second ground connection portion and the second test connection portion are connected in parallel to the second end portion;
  • a first switch and a second switch the first switch is electrically connected to the first ground connection and the first Between the ends, the second switch is electrically connected between the second ground connection and the second end.
  • the first ground connection portion includes a first ground lead and a first ground pin, the first ground lead is electrically connected to the first switch and the Between the first ground pins, the second ground connection portion includes a second ground lead and a second ground pin, and the second ground lead is electrically connected to the second switch and the second ground pin between.
  • the first test connection portion includes a first test lead and a first test pin, the first test lead is electrically connected to the first end and Between the first test pins, the second test connection includes a second test lead and a second test pin, and the second test lead is electrically connected to the second end and the second ground Between pins.
  • the first switch and the second switch are both thin film transistor switches, and the first switch and the second switch are located in a non-display area of the panel body, so The first switch and the second switch are arranged in the same layer as the thin film transistor layer of the panel body.
  • the non-display area surrounds the display area, the non-display area includes a binding area, and the binding area is located on one side of the display area, The first ground connection, the first test connection, the second ground connection, the second test connection, the first switch, and the second switch are located in the binding area.
  • the display panel further includes a flexible circuit board, the flexible circuit board is electrically connected to one side of the panel body, the second ground connection portion and the first The second test connection is located on the flexible circuit board.
  • the display panel further includes a flexible circuit board, the flexible circuit board is electrically connected to one side of the panel body, the first ground connection portion, the first A test connection part, a second ground connection part, a second test connection part, a first switch and a second switch are located on the flexible circuit board.
  • the first end has a first electrical connection pad
  • the second end has a second electrical connection pad
  • the first ground connection and the first A test connection portion is electrically connected to the first electrical connection pad
  • the second ground connection portion and the second test connection portion are electrically connected to the second electrical connection pad
  • the first electrical connection pad and the first Two electrical connection pads are located in the non-display area.
  • a crack testing method of a display panel including: [0018] A display panel is provided, the display panel comprising:
  • a panel body having a display area and a non-display area
  • ground wire located in the non-display area and surrounding the display area, the ground wire having a first end and a second end;
  • a first ground connection portion and a first test connection portion, the first ground connection portion and the first test connection portion are connected in parallel to the first end;
  • a second ground connection portion and a second test connection portion, the second ground connection portion and the second test connection portion are connected in parallel to the second end portion;
  • a first switch and a second switch the first switch is electrically connected between the first ground connection and the first end, the second switch is electrically connected to the second ground connection Between the second end and the second end;
  • the first switch and the second switch input off voltage, so that between the first ground connection and the first end and A disconnection is formed between the second ground connection and the second end;
  • the judging whether the non-display area has a crack according to the voltage value, the resistance value or the current value includes:
  • the judging whether the non-display area has a crack according to the voltage value, the resistance value or the current value includes:
  • the judging whether the non-display area has a crack according to the voltage value, the resistance value or the current value includes:
  • the according to the voltage value or The step of determining whether there is a crack in the non-display area by the resistance value further includes:
  • the resistance value is within a preset resistance range, or the current value is within a preset current range, it is determined that the ground wire is normal and the non-display area is not Cracks
  • the first ground connection portion includes a first ground lead and a first ground pin, and the first ground lead is electrically connected to the first Between a switch and the first ground pin, the second ground connection portion includes a second ground lead and a second ground pin, and the second ground lead is electrically connected to the second switch and the first ground pin Between the two ground pins.
  • the first test connection portion includes a first test lead and a first test pin, and the first test lead is electrically connected to the first Between one end and the first test pin, the second test connection part includes a second test lead and a second test pin, and the second test lead is electrically connected to the second end and the Between the second ground pins.
  • the first switch and the second switch are both thin-film transistor switches, and the first switch and the second switch are located on the non- In the display area, the first switch and the second switch are arranged in the same layer as the thin film transistor layer of the panel body.
  • the non-display area surrounds the display area, the non-display area includes a binding area, and the binding area is located in the display area On one side, the first ground connection, the first test connection, the second ground connection, the second test connection, the first switch, and the second switch are located in the binding area.
  • the display panel further includes a flexible circuit board, the flexible circuit board is electrically connected to one side of the panel body, and the second ground The connection part and the second test connection part are located on the flexible circuit board.
  • the display panel further includes a flexible circuit board, the flexible circuit board is electrically connected to one side of the panel body, and the first ground The connection part, the first test connection part, the second ground connection part, the second test connection part, the first switch and the second switch are located on the flexible circuit board.
  • the first end has a first electrical connection pad
  • the second end has a second electrical connection pad
  • the first ground Connection and first test The connection part is electrically connected to the first electrical connection pad
  • the second ground connection part and the second test connection part are electrically connected to the second electrical connection pad
  • the first electrical connection pad and the second electrical connection pad The connection pad is located in the non-display area.
  • the present application provides a display panel and a crack detection method of the display panel.
  • the display panel includes a panel body, a ground wire, a first ground connection, a first test connection, a second ground connection, a second test connection, a first switch, and a second switch, and the panel body has a display area And a non-display area, the ground wire is located in the non-display area and is arranged around the display area, the ground wire has a first end and a second end, the first ground connection and the first test The connection portion is parallel to the first end portion, the second ground connection portion and the second test connection portion are parallel to the second end portion, and the first switch is electrically connected to the first ground connection portion and the Between the first end, the second switch is electrically connected between the second ground connection and the second end, by measuring the first test connection and the second test connection Between the voltage value, the resistance value or the current value, when the voltage value is zero, the resistance value is infinity, or the current value is zero, it is determined that there is a diss
  • FIG. 1 is a schematic structural diagram of a first implementation manner of a display panel provided by the present application.
  • FIG. 2 is a schematic structural diagram of a second implementation manner of a display panel provided by this application.
  • FIG. 3 is a schematic structural diagram of a third implementation manner of a display panel provided by this application.
  • FIG. 4 is a schematic structural diagram of a fourth implementation manner of a display panel provided by the present application.
  • the display panel 10 includes a panel body 11, a ground wire 12, a first ground connection 13, a first test connection 14, a second ground connection 15, a second test connection 16, a first switch 17, and a second switch 18.
  • the panel body 11 has a display area 11a and a non-display area 11b.
  • the display panel 10 may be a liquid crystal display panel or an organic light emitting diode display panel.
  • the ground wire 12 is located in the non-display area 11b.
  • the ground wire 12 is disposed around the display area 11a.
  • the ground wire 12 has a first end 121 and a second end 122.
  • the ground wire 12 may be provided in the same layer as the metal layer of the display panel 10.
  • the first ground connection portion 13 and the first test connection portion 14 are parallel to the first end portion 121.
  • the first end 121 is provided with a first electrical connection pad 1211.
  • the first ground connection portion 13 and the first test connection portion 14 are both electrically connected to the first electrical connection pad 1211.
  • the first switch 17 is electrically connected between the first ground connection 13 and the first end 121.
  • the first ground connection portion 13 includes a first ground lead 131 and a first ground pin 132.
  • the first ground lead 131 is electrically connected between the first switch 17 and the first ground pin 132.
  • the first test connection 14 includes a first test lead 141 and a first test pin 142.
  • the first test lead 141 is electrically connected between the first end 121 and the first test pin 142.
  • the second ground connection portion 15 and the second test connection portion 16 are parallel to the second end portion 122.
  • the second end 122 is provided with a second electrical connection pad 1221.
  • the second ground connection 15 and the second test connection 16 are both electrically connected to the second electrical connection pad 1221.
  • the second switch 18 is electrically connected between the second ground connection 15 and the second end 122.
  • the second ground connection portion 15 includes a second ground lead 151 and a second ground pin 152.
  • the second ground lead 151 is electrically connected between the second switch 18 and the second ground pin 152.
  • the second test connection 16 includes a second test lead 161 and a second test pin 162.
  • the second test lead 161 is electrically connected between the second end 122 and the second test pin 162.
  • the first switch 17 and the second switch 18 are both thin film transistor switches.
  • the first switch 17 and the second switch 18 are both arranged in the same layer as the thin film transistor layer of the display panel 10.
  • the first switch 17 may include a first switch body 171, a first switch lead 172, and a first switch pin 173.
  • the first switch body 171 is electrically connected between the first ground connection portion 13 and the first end 121.
  • the first switch lead 172 is electrically connected between the first switch body 171 and the first switch pin 173, and a control circuit is connected through the first switch pin 173 to input the first switch 17 Turn on or turn off the voltage.
  • the second switch 18 may include a second switch body 181, a second switch lead 182, and a second switch pin 183.
  • the second switch body 181 is electrically connected between the second ground connection 15 and the second end 122.
  • the second switch lead 182 is electrically connected between the second switch body 181 and the second switch pin 183, and a control circuit is connected through the second switch pin 183 to input to the second switch 18 Turn on or turn off the voltage.
  • the non-display area 11b surrounds the display area 11a.
  • the non-display area l ib includes a binding area l lbl.
  • the binding area 111b is located on one side of the display area 11a.
  • the first ground connection portion 13, the first test connection portion 14, the second ground connection portion 15, the second test connection portion 16, the first switch 17 and the second switch 18 are located in the binding area 111b.
  • the second test leads 161 can all be arranged in the same layer as the metal layer of the display panel 10.
  • the first switch body 171 and the second switch body 181 may be disposed in the same layer as the thin film transistor layer of the display panel 10.
  • the first ground pin 132, the second ground pin 152, the first test pin 142, the second test pin 162, the first switch pin 173 and the second switch pin 183 are all provided on the display panel 10 on the edge.
  • the present application also provides a display panel 10.
  • the display panel 10 shown in FIG. 2 is different from the display panel 10 shown in FIG. 1 in that it further includes a flexible circuit board 19.
  • the flexible circuit board 19 is electrically connected to one side of the display panel 10.
  • the ground wire 12, the first electrical connection pad 1211, the second electrical connection pad 1 221, a portion of the first switch lead 172, a portion of the second switch lead 182, a portion of the first ground lead 131, a portion of the second ground lead 151, test lead 141 and a first portion of the second test lead 161 can be the same layer as the metal layer is provided with the display panel 10, and is disposed on the display panel 10 of the non-display area 11b, thereby achieving a narrow border of the display panel 10.
  • the switch pin 173 and the second switch pin 183 are both provided on the display panel 10.
  • the first ground pin 132, the second ground pin 152, the first test pin 142, the second test pin 162, the first switch pin 173 and the second switch pin 183 are all provided on the display panel 10 are all disposed on the edge of the flexible circuit board 19.
  • the present application also provides a display panel 10.
  • the difference between the display panel 10 shown in FIG. 3 and the display panel 10 shown in FIG. 1 is that a flexible circuit board 19 is also included.
  • the flexible circuit board 19 is electrically connected to one side of the display panel 10.
  • the ground wire 12, the first electrical connection pad 1211, and the second electrical connection pad 1 221 can all be disposed in the same layer as the metal layer of the display panel 10, and are disposed in the non-display area 11b of the display panel 10, thereby A display panel 10 with a narrow bezel is realized.
  • the first switch 17, the second switch 18, the first ground connection 13, the second ground connection 15, the first test connection 14, and the second test connection 16 are all provided on the display panel 10, specifically ,
  • the first switch body 171, the second switch body 181, the first switch lead 172, the second switch lead 182, the first ground lead 131, the second ground lead 151, the first test lead 141, the second test lead 161, the first ground pin 132, the second ground pin 152, the first test pin 142, the second test pin 162, the first switch pin 173, and the second switch pin 183 are all provided on the display panel 10.
  • the first ground pin 132, the second ground pin 152, the first test pin 142, the second test pin 162, the first switch pin 173 and the second switch pin 183 are all provided on the display panel 10 are all disposed on the edge of the flexible circuit board 19.
  • the present application also provides a display panel 10.
  • the display panel 10 shown in FIG. 4 is different from the display panel 10 shown in FIG. 1 in that it further includes a flexible circuit board 19.
  • the flexible circuit board 19 is electrically connected to one side of the display panel 10.
  • the ground wire 12 may be disposed in the same layer as the metal layer of the display panel 10 and disposed in the non-display area 11b of the display panel 10, so as to realize a narrow-frame display panel 10.
  • the first electrical connection pad 1211, the second electrical connection pad 1221, the first switch 17, the second switch 18, the first ground connection 13, the second ground connection 15, the first test connection 14, the second test The connection portions 16 are all provided on the display panel 10.
  • the second switch lead 18 2 the first ground lead 131, the second ground lead 151, the first test lead 141, the second test lead 161, the first ground pin 132, the second ground pin 152, the first test plug Pin 142, second test pin 162
  • the first switch pin 173 and the second switch pin 183 are both provided on the display panel 10.
  • the first ground pin 132, the second ground pin 152, the first test pin 142, the second test pin 162, the first switch pin 173 and the second switch pin 183 are all provided on the display panel 10 are all disposed on the edge of the flexible circuit board 19.
  • the present application also provides a crack test method for a display panel.
  • the display panel 10 is as described above and will not be repeated here.
  • the voltage value, the resistance value, or the current value can determine whether the grounding wire 12 is broken, so as to infer whether the display panel 10 has a crack.
  • the voltmeter When a voltmeter is used to measure the voltage value, the voltmeter is electrically connected between the first test pin 142 and the second test pin 162, when the voltage value is zero, that is, the If there is a disconnection in the grounding wire 12, it is determined that there is a crack in the non-display area l ib; when the voltage value is within a preset voltage range, that is, the grounding wire 12 is in a normal conduction state, the grounding is determined The wire 12 is normal and there is no crack in the non-display area 11b.
  • the resistance meter When a resistance meter is used for resistance value measurement, the resistance meter is electrically connected between the first test pin 142 and the second test pin 162, and when the resistance value is infinite, that is, the If there is a disconnection in the ground wire 12, it is determined that there is a crack in the non-display area l ib; when the resistance value is within a preset resistance range, that is, the ground wire 12 is in a normal conduction state, the ground is determined The wire 12 is normal and there is no crack in the non-display area 11b.
  • the ammeter When an ammeter is used for current value measurement, the ammeter is electrically connected between the first test pin 142 and the second test pin 162, and when the current value is zero, that is, the ground wire If there is an open circuit in 12, it is determined that there is a crack in the non-display area l ib; when the current value is within a preset current range, also That is, the ground wire 12 is in a normal conduction state, and it is determined that the ground wire 12 is normal and that there is no crack in the non-display area 11b.
  • the present application provides a display panel and a crack detection method of the display panel.
  • the display panel includes a panel body, a ground wire, a first ground connection, a first test connection, a second ground connection, a second test connection, a first switch, and a second switch, and the panel body has a display area And a non-display area, the ground wire is located in the non-display area and is arranged around the display area, the ground wire has a first end and a second end, the first ground connection and the first test The connection portion is parallel to the first end portion, the second ground connection portion and the second test connection portion are parallel to the second end portion, and the first switch is electrically connected to the first ground connection portion and the Between the first end, the second switch is electrically connected between the second ground connection and the second end, by measuring the first test connection and the second test connection Between the voltage value, the resistance value or the current value, when the voltage value is zero, the resistance value is infinity, or the current value is zero, it is determined that there is a diss

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Abstract

一种显示面板（10）和显示面板（10）的裂纹检测方法，显示面板（10）包括面板主体（11）、接地导线（12）、第一接地连接部（13）、第一测试连接部（14）、第二接地连接部（15）、第二测试连接部（16）、第一开关（17）和第二开关（18），接地导线（12）围绕显示区域（11a），第一接地连接部（13）和第一测试连接部（14）并联于接地导线（12）一端，第二接地连接部（15）和第二测试连接部（16）并联于接地导线（12）另一端，第一开关（17）电连接于第一接地连接部（13）和接地导线（12）一端之间，第二开关（18）电连接于第二接地连接部（15）和接地导线（12）另一端之间。该显示面板（10）及其裂纹检测方法降低了裂纹检测难度。

Description

显示面板以及显示面板的裂纹检测方法 技术领域
[0001] 本申请涉及电子设备领域， 具体涉及一种显示面板以及显示面板的裂纹检测方 法。
背景技术
[0002] 在显示面板的制造过程中， 通常先制造多个显示面板的阵列， 然后通过切割的 方式将所述多个显示面板进行分离， 在切割的过程中容易在显示面板上产生裂 纹而导致显示面板失效， 因此， 检测显示面板在切割后是否产生裂纹是产品质 检关键步骤， 但是， 裂纹往往是细小的， 肉眼无法观测的， 使得裂纹检测的难 度大大提高。 因此， 如何实现一种具有裂纹检测功能的显示面板以及所述显示 面板的裂纹检测方法是目前亟待解决的问题。
发明概述
技术问题
[0003] 本申请实施例提供一种显示面板以及显示面板的裂纹检测方法， 以降低显示面 板的裂纹检测的难度。
问题的解决方案
技术解决方案
[0004] 一种显示面板， 包括：
[0005] 面板主体， 所述面板主体具有显示区域和非显示区域；
[0006] 接地导线， 所述接地导线位于所述非显示区域、 且围绕所述显示区域设置， 所 述接地导线具有第一端部和第二端部；
[0007] 第一接地连接部和第一测试连接部， 所述第一接地连接部和第一测试连接部并 联于所述第一端部；
[0008] 第二接地连接部和第二测试连接部， 所述第二接地连接部和第二测试连接部并 联于所述第二端部； 以及
[0009] 第一开关和第二开关， 所述第一开关电连接于所述第一接地连接部和所述第一 端部之间， 所述第二开关电连接于所述第二接地连接部和所述第二端部之间。
[0010] 在本申请实施例所提供的显示面板中， 所述第一接地连接部包括第一接地引线 和第一接地插针， 所述第一接地引线电连接于所述第一开关和所述第一接地插 针之间， 所述第二接地连接部包括第二接地引线和第二接地插针， 所述第二接 地引线电连接于所述第二开关和所述第二接地插针之间。
[0011] 在本申请实施例所提供的显示面板中， 所述第一测试连接部包括第一测试引线 和第一测试插针， 所述第一测试引线电连接于所述第一端部和所述第一测试插 针之间， 所述第二测试连接部包括第二测试引线和第二测试插针， 所述第二测 试引线电连接于所述第二端部和所述第二接地插针之间。
[0012] 在本申请实施例所提供的显示面板中， 所述第一开关和第二开关均为薄膜晶体 管开关， 所述第一开关和第二开关位于所述面板主体的非显示区域， 所述第一 开关和第二开关与所述面板主体的薄膜晶体管层同层设置。
[0013] 在本申请实施例所提供的显示面板中， 所述非显示区域围绕所述显示区域， 所 述非显示区域包括绑定区域， 所述绑定区域位于所述显示区域的一侧， 所述第 一接地连接部、 第一测试连接部、 第二接地连接部、 第二测试连接部、 第一开 关和第二开关位于所述绑定区域。
[0014] 在本申请实施例所提供的显示面板中， 所述显示面板还包括柔性电路板， 所述 柔性电路板电连接于所述面板主体的一侧， 所述第二接地连接部和第二测试连 接部位于所述柔性电路板。
[0015] 在本申请实施例所提供的显示面板中， 所述显示面板还包括柔性电路板， 所述 柔性电路板电连接于所述面板主体的一侧， 所述第一接地连接部、 第一测试连 接部、 第二接地连接部、 第二测试连接部、 第一开关和第二开关位于所述柔性 电路板。
[0016] 在本申请实施例所提供的显示面板中， 所述第一端部具有第一电连接垫， 所述 第二端部具有第二电连接垫， 所述第一接地连接部和第一测试连接部电连接于 所述第一电连接垫， 所述第二接地连接部和第二测试连接部电连接于所述第二 电连接垫， 所述第一电连接垫和所述第二电连接垫位于所述非显示区域。
[0017] 一种显示面板的裂纹测试方法， 包括： [0018] 提供一显示面板， 所述显示面板包括：
[0019] 面板主体， 所述面板主体具有显示区域和非显示区域；
[0020] 接地导线， 所述接地导线位于所述非显示区域、 且围绕所述显示区域设置， 所 述接地导线具有第一端部和第二端部；
[0021] 第一接地连接部和第一测试连接部， 所述第一接地连接部和第一测试连接部并 联于所述第一端部；
[0022] 第二接地连接部和第二测试连接部， 所述第二接地连接部和第二测试连接部并 联于所述第二端部； 以及
[0023] 第一开关和第二开关， 所述第一开关电连接于所述第一接地连接部和所述第一 端部之间， 所述第二开关电连接于所述第二接地连接部和所述第二端部之间； [0024] 对所述第一开关和第二开关输入关断电压， 以使得在所述第一接地连接部和所 述第一端部之间和所述第二接地连接部和所述第二端部之间均形成断路；
[0025] 测量所述第一测试连接部和所述第二测试连接部之间的电压值、 电阻值或电流 值； 以及
[0026] 根据所述电压值、 电阻值或电流值判断所述非显示区域是否存在裂纹。
[0027] 在本申请实施例所提供的显示面板的裂纹检测方法中， 所述根据所述电压值、 电阻值或电流值判断所述非显示区域是否存在裂纹包括：
[0028] 当所述电压值为零时， 判定所述接地导线中存在断路以及所述非显示区域存在 裂纹。
[0029] 在本申请实施例所提供的显示面板的裂纹检测方法中， 所述根据所述电压值、 电阻值或电流值判断所述非显示区域是否存在裂纹包括：
[0030] 当所述电阻值无穷大时， 判定所述接地导线中存在断路以及所述非显示区域存 在裂纹。
[0031] 在本申请实施例所提供的显示面板的裂纹检测方法中， 所述根据所述电压值、 电阻值或电流值判断所述非显示区域是否存在裂纹包括：
[0032] 当所述电流值为零时， 判定所述接地导线中存在断路以及所述非显示区域存在 裂纹。
[0033] 在本申请实施例所提供的显示面板的裂纹检测方法中， 所述根据所述电压值或 电阻值判断所述非显示区域是否存在裂纹的步骤还包括：
[0034] 当所述电压值在预设电压范围内、 所述电阻值在预设电阻范围或者所述电流值 在预设电流范围内时， 判定所述接地导线正常以及所述非显示区域不存在裂纹
[0035] 在本申请实施例所提供的显示面板的裂纹检测方法中， 所述第一接地连接部包 括第一接地引线和第一接地插针， 所述第一接地引线电连接于所述第一开关和 所述第一接地插针之间， 所述第二接地连接部包括第二接地引线和第二接地插 针， 所述第二接地引线电连接于所述第二开关和所述第二接地插针之间。
[0036] 在本申请实施例所提供的显示面板的裂纹检测方法中， 所述第一测试连接部包 括第一测试引线和第一测试插针， 所述第一测试引线电连接于所述第一端部和 所述第一测试插针之间， 所述第二测试连接部包括第二测试引线和第二测试插 针， 所述第二测试引线电连接于所述第二端部和所述第二接地插针之间。
[0037] 在本申请实施例所提供的显示面板的裂纹检测方法中， 所述第一开关和第二开 关均为薄膜晶体管开关， 所述第一开关和第二开关位于所述面板主体的非显示 区域， 所述第一开关和第二开关与所述面板主体的薄膜晶体管层同层设置。
[0038] 在本申请实施例所提供的显示面板的裂纹检测方法中， 所述非显示区域围绕所 述显示区域， 所述非显示区域包括绑定区域， 所述绑定区域位于所述显示区域 的一侧， 所述第一接地连接部、 第一测试连接部、 第二接地连接部、 第二测试 连接部、 第一开关和第二开关位于所述绑定区域。
[0039] 在本申请实施例所提供的显示面板的裂纹检测方法中， 所述显示面板还包括柔 性电路板， 所述柔性电路板电连接于所述面板主体的一侧， 所述第二接地连接 部和第二测试连接部位于所述柔性电路板。
[0040] 在本申请实施例所提供的显示面板的裂纹检测方法中， 所述显示面板还包括柔 性电路板， 所述柔性电路板电连接于所述面板主体的一侧， 所述第一接地连接 部、 第一测试连接部、 第二接地连接部、 第二测试连接部、 第一开关和第二开 关位于所述柔性电路板。
[0041] 在本申请实施例所提供的显示面板的裂纹检测方法中， 所述第一端部具有第一 电连接垫， 所述第二端部具有第二电连接垫， 所述第一接地连接部和第一测试 连接部电连接于所述第一电连接垫， 所述第二接地连接部和第二测试连接部电 连接于所述第二电连接垫， 所述第一电连接垫和所述第二电连接垫位于所述非 显示区域。
发明的有益效果
有益效果
[0042] 本申请提供了一种显示面板和所述显示面板的裂纹检测方法。 所述显示面板包 括面板主体、 接地导线、 第一接地连接部、 第一测试连接部、 第二接地连接部 、 第二测试连接部、 第一开关和第二开关， 所述面板主体具有显示区域和非显 示区域， 所述接地导线位于所述非显示区域、 且围绕所述显示区域设置， 所述 接地导线具有第一端部和第二端部， 所述第一接地连接部和第一测试连接部并 联于所述第一端部， 所述第二接地连接部和第二测试连接部并联于所述第二端 部， 所述第一开关电连接于所述第一接地连接部和所述第一端部之间， 所述第 二开关电连接于所述第二接地连接部和所述第二端部之间， 通过测量所述第一 测试连接部和所述第二测试连接部之间的电压值、 电阻值或电流值， 当所述电 压值为零、 所述电阻值无穷大或者所述电流值为零时， 判定所述接地导线中存 在断路以及所述非显示区域存在裂纹， 从而降低了显示面板的裂纹检测的难度 对附图的简要说明
附图说明
[0043] 为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案， 下面将对实施例描述中所需要 使用的附图作简单地介绍， 显而易见地， 下面描述中的附图仅仅是本申请的一 些实施例， 对于本领域技术人员来讲， 在不付出创造性劳动的前提下， 还可以 根据这些附图获得其他的附图。
[0044] 图 1为本申请所提供的显示面板的第一种实施方式的结构示意图。
[0045] 图 2为本申请所提供的显示面板的第二种实施方式的结构示意图。
[0046] 图 3为本申请所提供的显示面板的第三种实施方式的结构示意图。
[0047] 图 4为本申请所提供的显示面板的第四种实施方式的结构示意图。 发明实施例
本发明的实施方式
[0048] 请参阅图 1， 本申请提供一种显示面板 10。 所述显示面板 10包括面板主体 11、 接地导线 12、 第一接地连接部 13、 第一测试连接部 14、 第二接地连接部 15、 第 二测试连接部 16、 第一开关 17和第二开关 18。
[0049] 所述面板主体 11具有显示区域 11a和非显示区域 l ib。 所述显示面板 10可以为液 晶显示面板， 也可以为有机发光二极管显示面板。
[0050] 所述接地导线 12位于所述非显示区域 l ib。 所述接地导线 12围绕所述显示区域 1 la设置。 所述接地导线 12具有第一端部 121和第二端部 122。 所述接地导线 12可以 与所述显示面板 10的金属层同层设置。
[0051] 所述第一接地连接部 13和第一测试连接部 14并联于所述第一端部 121。 所述第 一端部 121设置有第一电连接垫 1211。 所述第一接地连接部 13和第一测试连接部 14均电连接于所述第一电连接垫 1211。 所述第一开关 17电连接于所述第一接地 连接部 13和所述第一端部 121之间。
[0052] 所述第一接地连接部 13包括第一接地引线 131和第一接地插针 132。 所述第一接 地引线 131电连接于所述第一开关 17和所述第一接地插针 132之间。 所述第一测 试连接部 14包括第一测试引线 141和第一测试插针 142。 所述第一测试引线 141电 连接于所述第一端部 121和所述第一测试插针 142之间。
[0053] 所述第二接地连接部 15和第二测试连接部 16并联于所述第二端部 122。 所述第 二端部 122设置有第二电连接垫 1221 所述第二接地连接部 15和第二测试连接部 16均电连接于所述第二电连接垫 1221。 所述第二开关 18电连接于所述第二接地 连接部 15和所述第二端部 122之间。
[0054] 所述第二接地连接部 15包括第二接地引线 151和第二接地插针 152。 所述第二接 地引线 151电连接于所述第二开关 18和所述第二接地插针 152之间。 所述第二测 试连接部 16包括第二测试引线 161和第二测试插针 162。 所述第二测试引线 161电 连接于所述第二端部 122和所述第二测试插针 162之间。
[0055] 在一种实施例中， 所述第一开关 17和第二开关 18均为薄膜晶体管开关。 所述第 一开关 17和第二开关 18均与所述显示面板 10的薄膜晶体管层同层设置。 [0056] 所述第一开关 17可以包括第一开关主体 171、 第一开关引线 172和第一开关插针 173。 所述第一开关主体 171电连接于所述第一接地连接部 13和所述第一端部 121 之间。 所述第一开关引线 172电连接于所述第一开关主体 171和所述第一开关插 针 173之间， 通过所述第一开关插针 173连接控制电路以给所述第一开关 17输入 开启电压或者关断电压。
[0057] 所述第二开关 18可以包括第二开关主体 181、 第二开关引线 182和第二开关插针 183。 所述第二开关主体 181电连接于所述第二接地连接部 15和所述第二端部 122 之间。 所述第二开关引线 182电连接于所述第二开关主体 181和所述第二开关插 针 183之间， 通过所述第二开关插针 183连接控制电路以给所述第二开关 18输入 开启电压或者关断电压。
[0058] 在一种实施例中， 所述非显示区域 l ib围绕所述显示区域 11a。 所述非显示区域 l ib包括绑定区域 l lbl。 所述绑定区域 l lbl位于所述显示区域 11a的一侧。 所述第 一接地连接部 13、 第一测试连接部 14、 第二接地连接部 15、 第二测试连接部 16 、 第一开关 17和第二开关 18位于所述绑定区域 l lbl。 所述接地导线 12、 第一电 连接垫 1211、 第二电连接垫 1221、 第一开关引线 172、 第二开关引线 182、 第一 接地引线 131、 第二接地引线 151、 第一测试引线 141和第二测试引线 161均可以 与所述显示面板 10的金属层同层设置。 所述第一开关主体 171和第二开关主体 18 1可以与所述显示面板 10的薄膜晶体管层同层设置。 所述第一接地插针 132、 第 二接地插针 152、 第一测试插针 142、 第二测试插针 162、 第一开关插针 173和第 二开关插针 183均设置于所述显示面板 10的边缘。
[0059] 请参阅图 2， 本申请还提供一种显示面板 10。 图 2所示的显示面板 10与图 1所示 的显示面板 10的区别在于还包括一柔性电路板 19。 所述柔性电路板 19电连接于 所述显示面板 10的一侧。 所述接地导线 12、 第一电连接垫 1211、 第二电连接垫 1 221、 一部分第一开关引线 172、 一部分第二开关引线 182、 一部分第一接地引线 131、 一部分第二接地引线 151、 一部分第一测试引线 141和一部分第二测试引线 161均可以与所述显示面板 10的金属层同层设置、 且设置于所述显示面板 10的非 显示区域 11b， 从而实现窄边框的显示面板 10。 另一部分第一开关引线 172、 另 一部分第二开关引线 182、 另一部分第一接地引线 131、 另一部分第二接地引线 1 51、 另一部分第一测试引线 141、 另一部分第二测试引线 161、 所述第一接地插 针 132、 第二接地插针 152、 第一测试插针 142、 第二测试插针 162、 第一开关插 针 173和第二开关插针 183均设置于所述显示面板 10。 所述第一接地插针 132、 第 二接地插针 152、 第一测试插针 142、 第二测试插针 162、 第一开关插针 173和第 二开关插针 183均设置于所述显示面板 10均设置于所述柔性电路板 19的边缘。
[0060] 请参阅图 3， 本申请还提供一种显示面板 10。 图 3所示的显示面板 10与图 1所示 的显示面板 10的区别在于还包括一柔性电路板 19。 所述柔性电路板 19电连接于 所述显示面板 10的一侧。 所述接地导线 12、 第一电连接垫 1211、 第二电连接垫 1 221均可以与所述显示面板 10的金属层同层设置、 且设置于所述显示面板 10的非 显示区域 11b， 从而实现窄边框的显示面板 10。 所述第一开关 17、 第二开关 18、 第一接地连接部 13、 第二接地连接部 15、 第一测试连接部 14、 第二测试连接部 1 6均设置于所述显示面板 10, 具体的， 所述第一开关主体 171、 第二开关主体 181 、 第一开关引线 172、 第二开关引线 182、 第一接地引线 131、 第二接地引线 151 、 第一测试引线 141、 第二测试引线 161、 第一接地插针 132、 第二接地插针 152 、 第一测试插针 142、 第二测试插针 162、 第一开关插针 173和第二开关插针 183 均设置于所述显示面板 10。 所述第一接地插针 132、 第二接地插针 152、 第一测 试插针 142、 第二测试插针 162、 第一开关插针 173和第二开关插针 183均设置于 所述显示面板 10均设置于所述柔性电路板 19的边缘。
[0061] 请参阅图 4， 本申请还提供一种显示面板 10。 图 4所示的显示面板 10与图 1所示 的显示面板 10的区别在于还包括一柔性电路板 19。 所述柔性电路板 19电连接于 所述显示面板 10的一侧。 所述接地导线 12可以与所述显示面板 10的金属层同层 设置、 且设置于所述显示面板 10的非显示区域 11b， 从而实现窄边框的显示面板 10。 所述第一电连接垫 1211、 第二电连接垫 1221、 第一开关 17、 第二开关 18、 第一接地连接部 13、 第二接地连接部 15、 第一测试连接部 14、 第二测试连接部 1 6均设置于所述显示面板 10, 具体的， 所述第一电连接垫 1211、 第二电连接垫 12 21、 第一开关主体 171、 第二开关主体 181、 第一开关引线 172、 第二开关引线 18 2、 第一接地引线 131、 第二接地引线 151、 第一测试引线 141、 第二测试引线 161 、 第一接地插针 132、 第二接地插针 152、 第一测试插针 142、 第二测试插针 162 、 第一开关插针 173和第二开关插针 183均设置于所述显示面板 10。 所述第一接 地插针 132、 第二接地插针 152、 第一测试插针 142、 第二测试插针 162、 第一开 关插针 173和第二开关插针 183均设置于所述显示面板 10均设置于所述柔性电路 板 19的边缘。
[0062] 本申请还提供一种显示面板的裂纹测试方法。 所述显示面板 10如前所述， 在此 不再赘述。
[0063] 在对所述显示面板 10进行裂纹测试时， 首先， 对所述第一开关 17和第二开关 18 输入关断电压， 以使得在所述第一接地连接部 13和所述第一端部 121之间和所述 第二接地连接部 15和所述第二端部 122之间均形成断路， 然后， 测量所述第一测 试连接部 14和所述第二测试连接部 16之间的电压值、 电阻值或电流值， 最后， 根据所述电压值、 电阻值或电流值判断所述非显示区域 l ib是否存在裂纹。
[0064] 如果所述显示面板 10在切割过程中产生了裂纹， 那么将导致所述接地导线 12断 裂， 因此， 通过根据所述第一测试连接部 14和所述第二测试连接部 16之间的电 压值、 电阻值或电流值即可判断出所述接地导线 12师是否存在断裂的情况， 从 而推断出所述显示面板 10是否存在裂纹。
[0065] 当采用电压表进行电压值测量时， 将电压表电连接于所述第一测试插针 142和 第二测试插针 162之间， 当所述电压值为零时， 也即所述接地导线 12中存在断路 ， 则判定所述非显示区域 l ib存在裂纹； 当所述电压值在预设电压范围内时， 也 即所述接地导线 12为正常导通状态， 则判定所述接地导线 12正常以及所述非显 示区域 l ib不存在裂纹。
[0066] 当采用电阻表进行电阻值测量时， 将电阻表电连接于所述第一测试插针 142和 第二测试插针 162之间， 当所述电阻值为无穷大时， 也即所述接地导线 12中存在 断路， 则判定所述非显示区域 l ib存在裂纹； 当所述电阻值在预设电阻范围内时 ， 也即所述接地导线 12为正常导通状态， 则判定所述接地导线 12正常以及所述 非显示区域 l ib不存在裂纹。
[0067] 当采用电流表进行电流值测量时， 将电流表电连接于所述第一测试插针 142和 第二测试插针 162之间， 当所述电流值为零时， 也即所述接地导线 12中存在断路 ， 则判定所述非显示区域 l ib存在裂纹； 当所述电流值在预设电流范围内时， 也 即所述接地导线 12为正常导通状态， 则判定所述接地导线 12正常以及所述非显 示区域 l ib不存在裂纹。
[0068] 在测试完成后， 在使用所述接地导线 12为正常导通状态、 所述非显示区域 l ib 不存在裂纹的显示面板 10时， 通过所述第一开关插针 173和所述第二开关插针 18 3接通控制电路， 所述控制电路对所述第一开关 17和所述第二开关 18输入开启电 压， 从而将所述第一接地连接部 13和第二接地连接部 14与所述接地导线 12导通 ， 以使得所述接地导线 12恢复接地功能。
[0069] 本申请提供了一种显示面板和所述显示面板的裂纹检测方法。 所述显示面板包 括面板主体、 接地导线、 第一接地连接部、 第一测试连接部、 第二接地连接部 、 第二测试连接部、 第一开关和第二开关， 所述面板主体具有显示区域和非显 示区域， 所述接地导线位于所述非显示区域、 且围绕所述显示区域设置， 所述 接地导线具有第一端部和第二端部， 所述第一接地连接部和第一测试连接部并 联于所述第一端部， 所述第二接地连接部和第二测试连接部并联于所述第二端 部， 所述第一开关电连接于所述第一接地连接部和所述第一端部之间， 所述第 二开关电连接于所述第二接地连接部和所述第二端部之间， 通过测量所述第一 测试连接部和所述第二测试连接部之间的电压值、 电阻值或电流值， 当所述电 压值为零、 所述电阻值无穷大或者所述电流值为零时， 判定所述接地导线中存 在断路以及所述非显示区域存在裂纹， 从而降低了显示面板的裂纹检测的难度
[0070] 以上对本申请实施例进行了详细介绍， 本文中应用了具体个例对本申请的原理 及实施例进行了阐述， 以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请。 同时， 对 于本领域的技术人员， 依据本申请的思想， 在具体实施例及应用范围上均会有 改变之处， 综上所述， 本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims

权利要求书
[权利要求 1] 一种显示面板， 其中， 包括：
面板主体， 所述面板主体具有显示区域和非显示区域；
接地导线， 所述接地导线位于所述非显示区域、 且围绕所述显示区域 设置， 所述接地导线具有第一端部和第二端部； 第一接地连接部和第一测试连接部， 所述第一接地连接部和第一测试 连接部并联于所述第一端部；
第二接地连接部和第二测试连接部， 所述第二接地连接部和第二测试 连接部并联于所述第二端部； 以及
第一开关和第二开关， 所述第一开关电连接于所述第一接地连接部和 所述第一端部之间， 所述第二开关电连接于所述第二接地连接部和所 述第二端部之间。
[权利要求 2] 如权利要求 1所述的显示面板， 其中， 所述第一接地连接部包括第一 接地引线和第一接地插针， 所述第一接地引线电连接于所述第一开关 和所述第一接地插针之间， 所述第二接地连接部包括第二接地引线和 第二接地插针， 所述第二接地引线电连接于所述第二开关和所述第二 接地插针之间。
[权利要求 3] 如权利要求 1所述的显示面板， 其中， 所述第一测试连接部包括第一 测试引线和第一测试插针， 所述第一测试引线电连接于所述第一端部 和所述第一测试插针之间， 所述第二测试连接部包括第二测试引线和 第二测试插针， 所述第二测试引线电连接于所述第二端部和所述第二 接地插针之间。
[权利要求 4] 如权利要求 1所述的显示面板， 其中， 所述第一开关和第二开关均为 薄膜晶体管开关， 所述第一开关和第二开关位于所述面板主体的非显 示区域， 所述第一开关和第二开关与所述面板主体的薄膜晶体管层同 层设置。
[权利要求 5] 如权利要求 4所述的显示面板， 其中， 所述非显示区域围绕所述显示 区域， 所述非显示区域包括绑定区域， 所述绑定区域位于所述显示区 域的一侧， 所述第一接地连接部、 第一测试连接部、 第二接地连接部 、 第二测试连接部、 第一开关和第二开关位于所述绑定区域。
[权利要求 6] 如权利要求 4所述的显示面板， 其中， 所述显示面板还包括柔性电路 板， 所述柔性电路板电连接于所述面板主体的一侧， 所述第二接地连 接部和第二测试连接部位于所述柔性电路板。
[权利要求 7] 如权利要求 1所述的显示面板， 其中， 所述显示面板还包括柔性电路 板， 所述柔性电路板电连接于所述面板主体的一侧， 所述第一接地连 接部、 第一测试连接部、 第二接地连接部、 第二测试连接部、 第一开 关和第二开关位于所述柔性电路板。
[权利要求 8] 如权利要求 1所述的显示面板， 其中， 所述第一端部具有第一电连接 垫， 所述第二端部具有第二电连接垫， 所述第一接地连接部和第一测 试连接部电连接于所述第一电连接垫， 所述第二接地连接部和第二测 试连接部电连接于所述第二电连接垫， 所述第一电连接垫和所述第二 电连接垫位于所述非显示区域。
[权利要求 9] 一种显示面板的裂纹测试方法， 其中， 包括：
提供一显示面板， 所述显示面板包括：
面板主体， 所述面板主体具有显示区域和非显示区域；
接地导线， 所述接地导线位于所述非显示区域、 且围绕所述显示区域 设置， 所述接地导线具有第一端部和第二端部； 第一接地连接部和第一测试连接部， 所述第一接地连接部和第一测试 连接部并联于所述第一端部；
第二接地连接部和第二测试连接部， 所述第二接地连接部和第二测试 连接部并联于所述第二端部； 以及
第一开关和第二开关， 所述第一开关电连接于所述第一接地连接部和 所述第一端部之间， 所述第二开关电连接于所述第二接地连接部和所 述第二端部之间；
对所述第一开关和第二开关输入关断电压， 以使得在所述第一接地连 接部和所述第一端部之间和所述第二接地连接部和所述第二端部之间 均形成断路；
测量所述第一测试连接部和所述第二测试连接部之间的电压值、 电阻 值或电流值； 以及
根据所述电压值、 电阻值或电流值判断所述非显示区域是否存在裂纹
[权利要求 10] 如权利要求 9所述的显示面板的裂纹测试方法， 其中， 所述根据所述 电压值、 电阻值或电流值判断所述非显示区域是否存在裂纹包括： 当所述电压值为零时， 判定所述接地导线中存在断路以及所述非显示 区域存在裂纹。
[权利要求 11] 如权利要求 9所述的显示面板的裂纹测试方法， 其中， 所述根据所述 电压值、 电阻值或电流值判断所述非显示区域是否存在裂纹包括： 当所述电阻值无穷大时， 判定所述接地导线中存在断路以及所述非显 示区域存在裂纹。
[权利要求 12] 如权利要求 9所述的显示面板的裂纹测试方法， 其中， 所述根据所述 电压值、 电阻值或电流值判断所述非显示区域是否存在裂纹包括： 当所述电流值为零时， 判定所述接地导线中存在断路以及所述非显示 区域存在裂纹。
[权利要求 13] 如权利要求 9所述的显示面板的裂纹测试方法， 其中， 所述根据所述 电压值或电阻值判断所述非显示区域是否存在裂纹的步骤还包括： 当所述电压值在预设电压范围内、 所述电阻值在预设电阻范围或者所 述电流值在预设电流范围内时， 判定所述接地导线正常以及所述非显 示区域不存在裂纹。
[权利要求 14] 如权利要求 9所述的显示面板的裂纹测试方法， 其中， 所述第一接地 连接部包括第一接地引线和第一接地插针， 所述第一接地引线电连接 于所述第一开关和所述第一接地插针之间， 所述第二接地连接部包括 第二接地引线和第二接地插针， 所述第二接地引线电连接于所述第二 开关和所述第二接地插针之间。
[权利要求 15] 如权利要求 9所述的显示面板的裂纹测试方法， 其中， 所述第一测试 连接部包括第一测试引线和第一测试插针， 所述第一测试引线电连接 于所述第一端部和所述第一测试插针之间， 所述第二测试连接部包括 第二测试引线和第二测试插针， 所述第二测试引线电连接于所述第二 端部和所述第二接地插针之间。
[权利要求 16] 如权利要求 9所述的显示面板的裂纹测试方法， 其中， 所述第一开关 和第二开关均为薄膜晶体管开关， 所述第一开关和第二开关位于所述 面板主体的非显示区域， 所述第一开关和第二开关与所述面板主体的 薄膜晶体管层同层设置。
[权利要求 17] 如权利要求 16所述的显示面板的裂纹测试方法， 其中， 所述非显示区 域围绕所述显示区域， 所述非显示区域包括绑定区域， 所述绑定区域 位于所述显示区域的一侧， 所述第一接地连接部、 第一测试连接部、 第二接地连接部、 第二测试连接部、 第一开关和第二开关位于所述绑 定区域。
[权利要求 18] 如权利要求 16所述的显示面板的裂纹测试方法， 其中， 所述显示面板 还包括柔性电路板， 所述柔性电路板电连接于所述面板主体的一侧， 所述第二接地连接部和第二测试连接部位于所述柔性电路板。
[权利要求 19] 如权利要求 9所述的显示面板的裂纹测试方法， 其中， 所述显示面板 还包括柔性电路板， 所述柔性电路板电连接于所述面板主体的一侧， 所述第一接地连接部、 第一测试连接部、 第二接地连接部、 第二测试 连接部、 第一开关和第二开关位于所述柔性电路板。
[权利要求 20] 如权利要求 9所述的显示面板的裂纹测试方法， 其中， 所述第一端部 具有第一电连接垫， 所述第二端部具有第二电连接垫， 所述第一接地 连接部和第一测试连接部电连接于所述第一电连接垫， 所述第二接地 连接部和第二测试连接部电连接于所述第二电连接垫， 所述第一电连 接垫和所述第二电连接垫位于所述非显示区域。
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Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109342512B (zh) * 2018-11-29 2020-11-24 武汉华星光电技术有限公司 显示面板以及显示面板的裂纹检测方法
CN109342513B (zh) * 2018-11-30 2020-08-11 武汉华星光电技术有限公司 显示面板以及显示面板的裂纹检测方法
US11266021B2 (en) * 2019-08-27 2022-03-01 Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. Flexible display panel
CN111223408B (zh) * 2020-02-11 2022-03-25 京东方科技集团股份有限公司 显示面板、边缘破损检测方法、制备方法、及显示装置
CN111445797B (zh) * 2020-04-07 2023-06-30 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板、其制作方法及显示装置
CN111524450B (zh) * 2020-04-29 2022-03-08 昆山国显光电有限公司 显示装置、及其绑定阻抗检测方法和屏体裂纹检测方法
CN111508399A (zh) * 2020-05-28 2020-08-07 霸州市云谷电子科技有限公司 一种显示面板及显示装置
CN111508401A (zh) * 2020-06-12 2020-08-07 京东方科技集团股份有限公司 裂纹检测电路、显示面板及裂纹检测方法
CN113916733A (zh) * 2020-07-09 2022-01-11 北京智感度衡科技有限公司 一种传感器和颗粒物检测装置
CN112863410A (zh) * 2021-01-11 2021-05-28 京东方科技集团股份有限公司 显示基板、其裂纹检测方法及显示装置
CN113284441A (zh) * 2021-05-18 2021-08-20 京东方科技集团股份有限公司 一种显示模组、破裂检测方法及显示装置
CN113380166A (zh) * 2021-06-15 2021-09-10 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN203324610U (zh) * 2013-07-25 2013-12-04 京东方科技集团股份有限公司 显示装置
CN104535620A (zh) * 2015-01-16 2015-04-22 友达光电(厦门)有限公司 显示面板及其裂纹检测方法
JP2017096876A (ja) * 2015-11-27 2017-06-01 株式会社電子工学センター 渦電流探傷検査装置のプローブ及び渦電流探傷検査装置
CN107255655A (zh) * 2017-06-29 2017-10-17 武汉天马微电子有限公司 一种柔性显示面板、监测其上的裂纹的方法及显示装置
CN208111041U (zh) * 2018-05-17 2018-11-16 北京京东方技术开发有限公司 显示面板以及显示装置
CN109342513A (zh) * 2018-11-30 2019-02-15 武汉华星光电技术有限公司 显示面板以及显示面板的裂纹检测方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW201234247A (en) * 2010-12-28 2012-08-16 Sharp Kk Touch panel, display device provided with same, as well as manufacturing method for touch panel
KR102002495B1 (ko) * 2013-02-28 2019-07-23 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 패널
KR102037206B1 (ko) * 2013-04-03 2019-10-29 삼성디스플레이 주식회사 유기발광 표시장치 및 그것의 검사 방법
CN103268029B (zh) * 2013-05-24 2015-11-25 深圳市华星光电技术有限公司 一种显示模组及显示器
CN105679215B (zh) * 2014-11-19 2018-12-11 昆山国显光电有限公司 显示屏及其裂纹检测方法
KR20160102644A (ko) * 2015-02-23 2016-08-31 삼성전자주식회사 불량 검출 방법과 이를 운용하는 디스플레이 모듈 및 전자 장치
CN105976744B (zh) * 2016-06-24 2023-03-31 山东影响力智能科技有限公司 一种屏模组、电子设备及屏模组的微裂纹检测方法
KR102561277B1 (ko) * 2016-08-01 2023-07-28 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN203324610U (zh) * 2013-07-25 2013-12-04 京东方科技集团股份有限公司 显示装置
CN104535620A (zh) * 2015-01-16 2015-04-22 友达光电(厦门)有限公司 显示面板及其裂纹检测方法
JP2017096876A (ja) * 2015-11-27 2017-06-01 株式会社電子工学センター 渦電流探傷検査装置のプローブ及び渦電流探傷検査装置
CN107255655A (zh) * 2017-06-29 2017-10-17 武汉天马微电子有限公司 一种柔性显示面板、监测其上的裂纹的方法及显示装置
CN208111041U (zh) * 2018-05-17 2018-11-16 北京京东方技术开发有限公司 显示面板以及显示装置
CN109342513A (zh) * 2018-11-30 2019-02-15 武汉华星光电技术有限公司 显示面板以及显示面板的裂纹检测方法

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