CN104535620A - 显示面板及其裂纹检测方法 - Google Patents

显示面板及其裂纹检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN104535620A
CN104535620A CN201510022956.6A CN201510022956A CN104535620A CN 104535620 A CN104535620 A CN 104535620A CN 201510022956 A CN201510022956 A CN 201510022956A CN 104535620 A CN104535620 A CN 104535620A
Authority
CN
China
Prior art keywords
driver circuit
gate driver
depth
line
gate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201510022956.6A
Other languages
English (en)
Other versions
CN104535620B (zh
Inventor
颜华生
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
AU Optronics Xiamen Corp
AU Optronics Corp
Original Assignee
AU Optronics Xiamen Corp
AU Optronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by AU Optronics Xiamen Corp, AU Optronics Corp filed Critical AU Optronics Xiamen Corp
Priority to CN201510022956.6A priority Critical patent/CN104535620B/zh
Priority to TW104106528A priority patent/TWI553601B/zh
Publication of CN104535620A publication Critical patent/CN104535620A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN104535620B publication Critical patent/CN104535620B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)

Abstract

本发明公开了一种显示面板及其裂纹检测方法。显示面板包含多条栅极线、多级栅极驱动电路以及多级裂纹检测单元。每一级裂纹检测单元包含第一开关以及第一检测线路。每一级栅极驱动电路包含输入端以及输出端,输出端耦接至栅极线其中一条相对应的栅极线。第一开关,耦接于栅极驱动电路的输出端与相对应的栅极线之间。第一检测线路,耦接于栅极驱动电路的输出端与对应的栅极线之间且分别耦接于第一开关的两端,第一检测线路与基板的边缘相距第一深度,当第一开关截止时,第一检测线路检测基板是否存在超过第一深度的裂纹。

Description

显示面板及其裂纹检测方法
技术领域
本发明内容是有关于一种显示面板及其裂纹检测方法,且特别是有关于一种利用栅极驱动电路的显示面板及其裂纹检测方法。
背景技术
现今的显示器、触控屏幕为了使像素发出的光线清晰地透出,一般采用玻璃基板或者塑胶基板等轻薄的基板,然而显示面板的生产过程中容易造成碎裂而在基板边缘生成裂纹。若是裂纹的深度过大,而使原先在显示面板上的驱动电路形成断路,则会使像素的驱动异常而无法发出光线。
传统的裂纹检测方式中,在显示面板生产完后,设定检测站点使用人工的方式用肉眼判断,当发现类似出现裂纹的显示面板时,再进一步置于显微镜下观测其深度及形状。然而人工的方式费时费力,并非有效率的检测方式。为此,尔后又出现改良的裂纹检测方法,在显示面板的边缘设置环状金属线并使环状的其中一部分留有缺口,利用外加的检测信号从缺口一端输入信号,并由缺口另一端是否接收到输出信号来判定环状金属线是否被裂纹截断。然而,这样的裂纹检测方法虽可得裂纹的深度,但无法得到裂纹的数量、长度以及位置,仍然需要通过人工的方式加以判断。
发明内容
为解决上述问题,本发明文件提出一种显示面板及其裂纹检测方法,利用原先显示面板上的栅极驱动电路(Gate Driver on Array,GOA)在距离基板边缘不同深度设置检测线路,由于每一行的显示像素都分别对应一级栅极驱动电路,如此一来在检测模式下检测人员可以经由每一行像素的显示与否来快速判定裂纹的深度、数量、长度以及位置,进而节省了检测的人力与时间。
本发明内容的一态样是在提供一种显示面板其包含多条栅极线、多级栅极驱动电路以及多级裂纹检测单元。多级栅极驱动电路设置于一基板上,分别对应栅极线,每一级栅极驱动电路包含一输入端以及一输出端,输出端耦接至栅极线其中一条相对应的栅极线。多级裂纹检测单元,分别对应多级栅极驱动电路,其中每一级裂纹检测单元包含一第一开关以及一第一检测线路。第一开关耦接于栅极驱动电路的输出端与相对应的栅极线之间。第一检测线路,耦接于栅极驱动电路的输出端与对应的栅极线之间且分别耦接于第一开关的两端,第一检测线路与基板的一边缘相距一第一深度,当第一开关截止时,第一检测线路检测基板是否存在超过第一深度的至少一裂纹。
在一实施例中,当第一开关截止时,若基板存在一个大于第一深度的裂纹且截断其中一级裂纹检测单元的第一检测线路,使相对应的栅极驱动电路与相对应的栅极线断路。
在次一实施例中,若基板存在多个大于第一深度的裂纹,且裂纹截断其中多级裂纹检测单元中的第一检测线路,使相对应的多级栅极驱动电路与相对应的多个栅极线断路。
在另一实施例中,当第一开关导通时,相对应的栅极驱动电路输出一信号至相对应的栅极线。
在又一实施例中,每一级栅极驱动电路的输入端耦接至前一级栅极驱动电路的输出端,每一级裂纹检测单元更包含一第二开关以及一第二检测线路,第二开关耦接于前一级栅极驱动电路的输出端与栅极驱动电路的输入端之间。第二检测线路,耦接于前一级栅极驱动电路的输出端与栅极驱动电路的输入端之间且分别耦接于第二开关的两端,且第二检测线路与基板的边缘相距一第二深度,当第二开关截止时,第二检测线路检测该基板是否存在超过该第二深度的一裂纹,其中第二深度与第一深度不同。
在一实施例中,当第二开关截止时,若基板存在大于第二深度并截断裂纹检测单元中的第二检测线路,相对应的栅极驱动电路与相对应的前一级栅极线断路。
本发明内容的次一态样是在提供一种显示面板其包含多条栅极线以及多级裂纹检测单元。多级裂纹检测单元,分别对应栅极线,多级裂纹检测单元包含多个晶体管以及多条第一检测线路,晶体管彼此并联,且晶体管分别通过第一检测线路各自耦接至栅极线,第一检测线路各自设置于一基板上与基板的一边缘相距一第一深度,当晶体管导通时,第一检测线路检测基板是否存在超过第一深度的一裂纹。
在一实施例中,当晶体管导通时,若基板存在裂纹,且裂纹超过第一深度并截断其中一级裂纹检测单元中的第一检测线路,相对应的晶体管的第二端与相对应的栅极线断路。
在次一实施例中,每一级栅极驱动电路的输入端耦接至前一级栅极驱动电路的输出端,每一级裂纹检测单元更包含一第二检测线路。第二检测线路耦接于对应的晶体管的控制端与对应前一级的晶体管的控制端之间,且第二检测线路与基板的边缘相距一第二深度,当晶体管导通时,第二检测线路检测基板是否存在超过第二深度的一裂纹,其中第二深度与第一深度不同。
本发明内容的另一态样是在提供一种裂纹检测方法,用于一显示面板包含一栅极驱动电路、一传输线路以及一栅极线。栅极驱动电路用以传输一信号至栅极线,其中裂纹检测方法包含:设置一检测线路于栅极驱动电路与栅极线之间;设置一开关于传输线路上,当开关截止时,信号由极驱动电路通过检测线路传输至栅极线;以及当开关截止时,通过栅极线是否接收到信号,判断检测线路是否被截断。
附图说明
为让本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂,所附图式的说明如下。然而,应了解到,为符合在产业中实务利用的情况,许多的特征并未符合比例绘示。实际上,为了阐述以下的讨论,许多特征的尺寸可能被任意地增加或缩减。
图1绘示根据本揭示的一实施例中一种显示面板在无裂纹情况下的示意图;
图2绘示关于图1中的显示面板的像素显示情况;
图3绘示图1中的显示面板在基板边缘出现一个第一深度裂纹的示意图;
图4绘示绘示图3中的显示面板的像素显示情况;
图5绘示图1中的显示面板在基板边缘出现两个第一深度裂纹的示意图;
图6绘示关于图5中的显示面板的像素显示情况;
图7绘示图1中的显示面板在基板边缘出现三个第一深度裂纹的示意图;
图8绘示关于图7中的显示面板的像素显示情况;
图9绘示根据本揭示的次一实施例中一种显示面板在基板边缘出现一个第一深度裂纹以及一个第二深度裂纹的示意图;
图10绘示关于图9中的显示面板的像素显示情况;
图11绘示根据本揭示的另一实施例中一种显示面板在无裂痕情况下的示意图;
图12绘示图11中的显示面板在基板边缘出现一个第一深度裂纹以及一个第二深度裂纹的示意图;以及
图13绘示图12中的显示面板的像素显示情况。
其中,附图标记:
100:显示面板
102:基板边缘
121,122,123,124,125:栅极驱动电路
126,127,128,129,130,1111,1112,1113,1114,1115:第一检测线路
131,132,133,134,135,1101,1102,1103,1104,1105:裂纹检测单元
142,143,144,145:连接线路
221,222,223,224,225,241,261:像素
320,520,720,920,1220,1240:裂纹
902,903,904,905,1121,1122,1123,1124,1125:第二检测线路
D1:第一深度
D2:第二深度
L1:像素长度
GL1,GL2,GL3,GL4,GL5:栅极线
Q1,Q2,Q3,Q4,Q5:第一开关
Q6,Q7,Q8,Q9:第二开关
Q10,Q11,Q12,Q13,Q14:晶体管
VC,V1,V2:控制信号
VI:初始触发信号
具体实施方式
以下揭示提供许多不同实施例或例证用以实施本发明的不同特征。特殊例证中的元件及配置在以下讨论中被用来简化本揭示。所讨论的任何例证只用来作解说的用途,并不会以任何方式限制本发明或其例证的范围和意义。此外,本揭示在不同例证中可能重复引用数字符号且/或字母,这些重复皆为了简化及阐述,其本身并未指定以下讨论中不同实施例且/或配置之间的关系。
关于本文中所使用的“耦接”或“连接”,均可指二或多个元件相互直接作实体或电性接触,或是相互间接作实体或电性接触,而“耦接”或“连接”还可指二或多个元件相互操作或动作。在本文中,使用第一、第二与第三等等的词汇,是用于描述各种元件、组件、区域、层与/或区块是可以被理解的。但是这些元件、组件、区域、层与/或区块不应该被这些术语所限制。这些词汇只限于用来辨别单一元件、组件、区域、层与/或区块。因此,在下文中的一第一元件、组件、区域、层与/或区块也可被称为第二元件、组件、区域、层与/或区块,而不脱离本发明的本意。如本文所用,词汇“与/或”包含了列出的关联项目中的一个或多个的任何组合。
请参阅图1,其绘示根据本发明的一实施例中一种显示面板100在无裂纹情况下的示意图,显示面板100包含栅极线GL1~GL5、栅极驱动电路121~125以及裂纹检测单元131~135。其中裂纹检测单元131~135又各自包含第一开关Q1~Q5以及第一检测线路126~130。栅极驱动电路121用以处理初始触发信号VI并产生输出信号可供栅极线GL1驱动像素或提供下一级栅极驱动电路122作为其触发信号。实际应用中,显示面板100可为电视、电脑、行动装置的显示器或其他用来显示画面的显示器。
由于栅极驱动电路122~125的输入端分别耦接至前一级栅极驱动电路121~124的输出端,栅极驱动电路122~125接收来自前一级栅极驱动电路121~124的输出信号作为其触发信号并同样产生各自的输出信号可分别提供栅极线GL2~GL5以及下一级栅极驱动电路使用。如图1所示,栅极驱动电路121的输出端经由第一检测线路126以及连接线路142耦接至下一级栅极驱动电路122的输入端,藉此触发下一级栅极驱动电路122。依此类推,栅极驱动电路121~125可依序触发。
实际应用中栅极线GL1~GL5分别耦接至显示面板上每一行像素,在此可一并参阅图1以及图2,图2绘示关于图1中的显示面板的像素显示情况,栅极线GL1耦接至像素221及其同行的像素,栅极线GL2~GL5分别耦接至像素222~225及其同行的像素,当来自栅极线GL1~GL5的输出信号驱动像素222~225及其同行的像素时,被驱动的整行像素将正常显示画面(图2中尚无异常显示的像素),图1仅示范图2的部分区块,实际上假设图1中往后延伸的栅极驱动电路亦正常供应输出信号至对应的栅极线而使图2的全画面显示正常。一般来说,显示面板用以显示彩色影像的像素可分为红(R)绿(G)蓝(B)三种,但并不以此为限,图2中所示范的像素221~225为发出红光的像素(R),像素241以及像素261分别为发出绿光的像素(G)以及发出蓝光的像素(B)。
须注意的是,图1中的每一级栅极驱动电路121~125的输出端分别耦接至裂纹检测单元131~135,以裂纹检测单元131为例,第一开关Q1耦接于栅极驱动电路121的输出端与栅极线GL1之间。第一检测线路126,耦接于栅极驱动电路121的输出端与栅极线GL1之间。也就是说,第一开关Q1与第一检测线路126彼此并联。实际应用中,第一开关Q1~Q5可为薄膜晶体管(TFT)、金氧半场效晶体管(MOSFET)、双极性晶体管(BJT),图1中所示范的为一般正电压导通的n通道MOSFET,但并不以此为限。
另一方面,第一开关Q1~Q5的控制端耦接至控制信号VC,当控制信号VC使第一开关Q1导通时,栅极驱动电路121的输出信号可同时通过第一开关Q1以及第一检测线路126传送至栅极线GL1以驱动像素221及其同行的像素,亦即存在两个路径可供栅极驱动电路121传送输出信号至栅极线GL1。此模式即为一般操作模式。在一般操作模式下,若是每一级的栅极驱动电路皆正常传送输出信号至对应的栅极线,每一行的像素皆正常驱动并使全画面显示正常,如图2所示。
须补充的是,第一检测线路126的至少一部份线路(如图1与图3中所示第一检测线路126的左侧垂直部份线路)与显示面板100的基板边缘102相距第一深度D1。此第一深度D1可依不同应用需求对于裂纹深度的要求不同而设置,例如使用在行动装置的显示面板或是使用在电视的显示面板对于裂纹深度的要求不同而设置第一深度为0.1mm~0.4mm范围内的数值。当控制信号VC使第一开关Q1截止时,栅极驱动电路121的输出信号只能通过第一检测线路126传至栅极线GL1。此模式即为检测模式。
须说明的是,在检测模式下,由于每一级的栅极驱动电路121~125仍然存在对应的第一检测线路126~130能使输出信号传送至栅极线GL1~GL5,因此每一行的像素仍然能够正常驱动并使全画面显示正常,如图2所示。然而,请一并参阅图3以及图4,若是显示面板100存在超过第一深度D1的裂纹320,可以看到的是裂纹320使得第一检测线路127截断,也就是说第一检测线路127与栅极线GL2之间断路。所以在检测模式下,栅极驱动电路122无法通过第一开关Q2将输出信号传送至栅极线GL2,亦无法通过第一检测线路127传送而导致栅极线GL2所驱动的像素222及其同行的像素无法正常驱动,此行的像素即无法正常显示,如图4所示。由于第一检测线路127的截断仍然可使输出信号顺利地传送至栅极驱动电路123,并无影响后续数级栅极驱动电路122~125输出信号的产生,故图4中除了栅极线GL2所驱动的像素222及其同行的像素显示异常,其余像素均正常显示。
请参阅图4,当检测人员观察到像素222及其同行的像素显示异常时,可依此判断显示面板100存在至少一裂纹,位于像素222的边缘且其深度距离显示面板100基板边缘102已超过第一深度D1。在此须补充的是,由于每一像素皆有像素长度L1,故在上述判断中在像素长度L1之间可能存在不止一个裂纹,亦即若在像素222的边缘同时存在两个裂纹超过第一深度D1(图式中无画出)截断第一检测线路127,显示面板100的显示情况仍保持图4中所示。在本实施例中仅揭露第一检测线路126~130距离显示面板100左侧基板边缘102第一深度D1的情况,实际应用中,第一检测线路126~130亦可设置在距离显示面板100右侧基板边缘402,或是同时设置在左/右两侧,并不以此为限。
值得注意的是,当图3并非操作在检测模式下,亦即当控制信号VC使第一开关Q1~Q5导通,操作在一般操作模式时,尽管第一检测线路127已被裂纹320截断,但栅极驱动电路122仍可通过第一开关Q2向栅极线GL2提供输出信号,因此像素222及其同行的像素依然可以被驱动而正常显示,也就是说,一般操作模式下并不因为裂纹320截断第一检测线路127而影响像素的显示,使用者仍可正常使用显示面板100。
请参阅图5,图5绘示显示面板100在基板边缘102出现裂纹320及裂纹520的示意图。可以看到的是,裂纹320及裂纹520均超过第一深度D1且分别截断第一检测线路127及第一检测线路129,并同样地操作在检测模式亦即使控制信号VC让第一开关Q1~Q5截止,栅极线GL2以及GL4无法接收到栅极驱动电路122、栅极驱动电路124的输出信号而使对应的像素222、224及其同行的像素皆无法正常显示,如图6所示。同样地当检测人员观察到像素222、224及其同行的像素显示异常时,可依此判断显示面板100存在至少两个裂纹,一个位于像素222的边缘,另一个位于像素224的边缘且其深度距离显示面板100基板边缘102均超过第一深度D1。也就是说,检测人员可快速得知显示面板100在基板边缘102出现的裂纹深度、数量、及位置。
同样地,若是图5操作在一般操作模式下,并不因第一检测线路127、第一检测线路129被裂纹320、裂纹520截断而影响像素的显示,使用者仍可正常使用显示面板100。
请参阅图7,图7绘示显示面板100在基板边缘102出现裂纹320、裂纹520及裂纹720的示意图。当操作在检测模式下,同上述图3及图5情况,裂纹320、裂纹520及裂纹720分别截断第一检测线路127~129,栅极线GL2~GL4无法接收到栅极驱动电路122~124的输出信号而使对应的像素222~224及其同行的像素皆无法正常显示,如图8所示。同样地当检测人员观察到像素222~224及其同行的像素显示异常时,可依此判断显示面板100存在至少三个裂纹,分别位于像素222、像素223以及像素224的边缘且其深度距离显示面板100基板边缘102均超过第一深度D1。须注意的是,检测人员亦可能将其视为一裂纹同时截断检测线路127~129,亦即一裂纹位于像素222、像素223以及像素224的边缘且其长度约为3个像素长度L1(图式中无画出)。通过检测电路的设置,检测人员不仅可得知裂纹深度、数量及位置,亦可得知裂纹的长度。
请参阅图9,图9绘示根据本发明的次一实施例中显示面板100在基板边缘102出现裂纹320以及裂纹920的示意图。相较于先前实施例(如图1及图3所示裂纹检测单元131~135),图9的实施例中裂纹检测单元132~135更分别包含第二开关Q6~Q9以及第二检测线路902~905,第二开关Q6~Q9耦接于前一级栅极驱动电路的输出端与栅极驱动电路的输入端之间,举例来说,第二开关Q6耦接于栅极驱动电路121的输出端与栅极驱动电路122的输入端之间的连接线路142上,其余Q7~Q9亦同此耦接方式分别耦接于线路143~145上。第二检测线路902~905分别耦接于第二开关Q6~Q9的两端,亦即第二检测线路902~905与第二开关Q6~Q9两端并联。
须注意的是,第二检测线路902~905的至少一部份线路(如图9中所示第二检测线路902的左侧垂直部份线路)与显示面板100的基板边缘102相距第二深度D2。此第二深度D2可为一大于第一深度D1的数值,也就是说第一深度若为0.2mm,第二深度可为0.3mm或0.4mm,如图9所示,但第二深度D2实际上可为任意不同于第一深度D1的数值并不以此为限。
由于第二开关Q6~Q9的控制端亦耦接至控制信号VC,因此当控制信号VC使第一开关Q1~Q5导通进入一般操作模式时,第二开关Q6~Q9亦同时导通。栅极驱动电路121的输出信号可同时通过第二开关Q6以及第二检测线路902传送至栅极驱动电路122,亦即存在两个路径可供栅极驱动电路121传送输出信号至栅极驱动电路122作为其触发信号。上述仅以第二开关Q6以及第二检测线路902为例说明,第二开关Q7~Q9以及第二检测线路903~905亦同样供应两个路径使前一级的栅极驱动电路往后级传送输出信号。
在检测模式下,亦即第一开关Q1~Q5以及第二开关Q6~Q9截止的情况下,若是显示面板100存在超过第二深度D2的裂纹920如图9所示,可以看到的是裂纹920使得第一检测线路130以及第二检测线路905截断,也就是说第一检测线路130与栅极线GL5之间断路且栅极驱动电路124的输出端与栅极驱动电路125的输入端之间断路。所以在检测模式下,栅极驱动电路124无法通过第一开关Q2将输出信号传送至栅极驱动电路125,亦无法通过第二检测线路905传送而导致栅极驱动电路125无触发信号可产生其输出信号。因此,栅极驱动电路125的输出端没有输出信号,且其后级的栅极驱动电路(图式中无画出)也因此没有输出信号。造成的是不仅栅极线GL5所耦接的像素225及其同行的像素无法正常显示,同样使得其后行的全部像素皆无法正常显示,如图10所示,在此需留意的是裂纹320导致像素222及其同行的像素的异常显示同先前实施例,由于裂纹320的深度介于第一深度D1以及第二深度D2之间,亦即仅截断第一检测线路127并未截断第二检测线路902,因此栅极驱动电路122仍能接收到栅极驱动电路121的触发信号而产生输出信号提供给栅极驱动电路123,故像素223、224及其同行的像素仍保持正常显示。
请参阅图11,图11绘示根据本发明的另一实施例中显示面板100在无裂痕情况下的示意图。在此实施例中,裂纹检测单元1101~1105,分别对应栅极线GL1~GL5。裂纹检测单元1101~1105分别包含晶体管Q10~Q14、第一检测线路1111~1115以及第二检测线路1121~1125。晶体管Q10~Q14的第一端彼此并联耦接至控制信号V1,其第二端分别通过第一检测线路1111~1115耦接至栅极线GL1~GL5,以及其控制端彼此通过第二检测线路1121~1125并联耦接至控制信号V2如图11所示。
不同于上述各实施例,在此实施例中的检测模式下,晶体管Q10~Q14为导通,举例来说,晶体管Q10~Q14为正电压导通的n通道MOSFET,控制信号V1为一高电平正电压,控制信号V2亦为一超过导通电压的正电压,晶体管Q10~Q14的第二端可因此提供一稳定的输出电流作为输出信号。须注意的是,在检测模式下,初始触发信号VI并不提供至栅极驱动电路121,也就是说在检测模式下栅极驱动电路121~125并无供应输出信号至栅极线GL1~GL5,栅极线GL1~GL5仅接收来自晶体管Q10~Q14的输出信号。相反地,当晶体管Q10~Q14截止时,初始触发信号VI提供至栅极驱动电路121并触发后级的栅极驱动电路122、123、124、125产生对应的输出信号至栅极线GL1~GL5,此即为一般操作模式。
第一检测线路1111~1115与显示面板100的基板边缘102相距第一深度D1以及第二检测线路1121~1125与显示面板100的基板边缘102相距第二深度D2。此第一深度D1与第二深度D2同先前实施例可依不同应用需求对于裂纹深度的要求不同而设置,在此不另赘述。
请一并参阅图12及图13,在检测模式下,若显示面板100存在裂纹1220及裂纹1240。裂纹1240截断第一检测线路1114,可以看到的是晶体管Q13的第二端与栅极线GL4之间断路,晶体管Q13无法传送输出信号至栅极线GL4,使得栅极线GL4耦接的像素224以及其同行的像素无法正常显示,如图13所示。另外,裂纹1220同时截断第一检测线路1112以及第二检测线路1122,裂纹1220不仅使晶体管Q11的第二端与栅极线GL2之间断路,还使晶体管Q10、Q11的控制端之间断路,亦即控制信号V2与晶体管Q10控制端之间断路,晶体管Q10截止,其第二端无法提供输出信号至栅极线GL1,使得栅极线GL1、GL2耦接的像素221、222以及其同行的像素无法正常显示,如图13所示。检测人员可依此判断显示面板100在基板边缘102出现的裂纹深度、数量以及位置。
综上所述,本发明文件提出一种显示面板及其裂纹检测方法,利用原先显示面板上的栅极驱动电路在距离基板边缘不同深度设置检测线路,由于每一行的显示像素都分别对应一级栅极驱动电路,如此一来在检测模式下检测人员可以经由每一行像素的显示与否来快速判定裂纹的深度、数量、长度以及位置,进而节省了检测的人力与时间。
虽然本发明内容已以实施方式揭露如上,然其并非用以限定本发明内容,任何熟习此技艺者,在不脱离本发明内容的精神和范围内,当可作各种的更动与润饰,因此本发明内容的保护范围当视后附的申请专利范围所界定者为准。

Claims (10)

1.一种显示面板,其特征在于,包含:
多条栅极线;
多级栅极驱动电路设置于一基板上,分别对应所述栅极线,每一级栅极驱动电路包含一输入端以及一输出端,该输出端耦接至所述栅极线其中一条相对应的栅极线;以及
多级裂纹检测单元,分别对应该多级栅极驱动电路,每一级裂纹检测单元包含:
一第一开关,耦接于该栅极驱动电路的该输出端与该相对应的栅极线之间;以及
一第一检测线路,耦接于该栅极驱动电路的该输出端与该对应的栅极线之间且分别耦接于该第一开关的两端,该第一检测线路与该基板的一边缘相距一第一深度,当该第一开关截止时,该第一检测线路检测该基板是否存在超过该第一深度的至少一裂纹。
2.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,当该第一开关截止时,若该基板存在一个大于该第一深度的裂纹且截断其中一级裂纹检测单元的该第一检测线路,使相对应的该级栅极驱动电路与相对应的该栅极线断路。
3.根据权利要求2所述的显示面板,其特征在于,若该基板存在多个大于该第一深度的裂纹,且所述裂纹截断其中多级裂纹检测单元中的所述第一检测线路,使相对应的该多级栅极驱动电路与相对应的该多栅极线断路。
4.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,当该第一开关导通时,相对应的该级栅极驱动电路输出一信号至相对应的该栅极线。
5.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,每一级栅极驱动电路的该输入端耦接至前一级栅极驱动电路的该输出端,每一级裂纹检测单元更包含:
一第二开关,耦接于前一级栅极驱动电路的该输出端与该级栅极驱动电路的该输入端之间;以及
一第二检测线路,耦接于前一级栅极驱动电路的该输出端与该级栅极驱动电路的该输入端之间且分别耦接于该第二开关的两端,且该第二检测线路与该基板的该边缘相距一第二深度,当该第二开关截止时,该第二检测线路检测该基板是否存在超过该第二深度的一裂纹,其中该第二深度与该第一深度不同。
6.根据权利要求5所述的显示面板,其特征在于,当该第二开关截止时,若该基板存在大于该第二深度并截断该裂纹检测单元中的该第二检测线路,相对应的该级栅极驱动电路与相对应的该前一级栅极线断路。
7.一种显示面板,其特征在于,包含:
多条栅极线;以及
多级裂纹检测单元,分别对应所述栅极线,该多级裂纹检测单元包含多个晶体管以及多条第一检测线路,所述晶体管彼此并联,且所述晶体管分别通过所述第一检测线路各自耦接至所述栅极线,所述第一检测线路各自设置于一基板上与该基板的一边缘相距一第一深度,当所述晶体管导通时,所述第一检测线路检测该基板是否存在超过该第一深度的一裂纹。
8.根据权利要求7所述的显示面板,其特征在于,当该晶体管导通时,若该基板存在该裂纹,且该裂纹超过该第一深度并截断其中一级裂纹检测单元中的该第一检测线路,相对应的该晶体管的该第二端与相对应的该栅极线断路。
9.根据权利要求8所述的显示面板,其特征在于,每一级栅极驱动电路的该输入端耦接至前一级栅极驱动电路的该输出端,每一级裂纹检测单元更包含:
一第二检测线路,耦接于对应该级的该晶体管的该控制端与对应前一级的该晶体管的该控制端之间,且该第二检测线路与该基板的该边缘相距一第二深度,当该晶体管导通时,该第二检测线路检测该基板是否存在超过该第二深度的一裂纹,其中该第二深度与该第一深度不同。
10.一种裂纹检测方法,用于一显示面板包含一栅极驱动电路、一传输线路以及一栅极线,该栅极驱动电路用以传输一信号至该栅极线,其特征在于,该裂纹检测方法包含:
设置一检测线路于该栅极驱动电路与该栅极线之间;
设置一开关于该传输线路上,当该开关截止时,该信号由该栅极驱动电路通过该检测线路传输至该栅极线;以及
当该开关截止时,通过该栅极线是否接收到该信号,判断该检测线路是否被截断。
CN201510022956.6A 2015-01-16 2015-01-16 显示面板及其裂纹检测方法 Active CN104535620B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510022956.6A CN104535620B (zh) 2015-01-16 2015-01-16 显示面板及其裂纹检测方法
TW104106528A TWI553601B (zh) 2015-01-16 2015-03-02 顯示面板及其裂紋偵測方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510022956.6A CN104535620B (zh) 2015-01-16 2015-01-16 显示面板及其裂纹检测方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN104535620A true CN104535620A (zh) 2015-04-22
CN104535620B CN104535620B (zh) 2017-05-24

Family

ID=52851191

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510022956.6A Active CN104535620B (zh) 2015-01-16 2015-01-16 显示面板及其裂纹检测方法

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN104535620B (zh)
TW (1) TWI553601B (zh)

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109142447A (zh) * 2018-08-30 2019-01-04 上海天马微电子有限公司 显示面板及其裂纹检测方法、显示装置
CN109142453A (zh) * 2018-08-30 2019-01-04 武汉华星光电技术有限公司 显示面板及显示面板检测方法
CN109342513A (zh) * 2018-11-30 2019-02-15 武汉华星光电技术有限公司 显示面板以及显示面板的裂纹检测方法
CN109345985A (zh) * 2018-10-25 2019-02-15 昆山国显光电有限公司 显示装置
CN109493772A (zh) * 2018-11-30 2019-03-19 昆山国显光电有限公司 显示装置和裂纹检测方法
CN109725224A (zh) * 2018-11-30 2019-05-07 昆山国显光电有限公司 显示装置和裂纹检测方法
CN109817131A (zh) * 2019-02-19 2019-05-28 京东方科技集团股份有限公司 裂纹检测电路、方法和显示装置
CN110097841A (zh) * 2019-03-29 2019-08-06 昆山国显光电有限公司 显示面板
WO2019184371A1 (zh) * 2018-03-27 2019-10-03 京东方科技集团股份有限公司 显示基板及其检测方法、显示装置
CN110333268A (zh) * 2019-07-11 2019-10-15 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板、显示装置和裂纹检测方法
WO2019218709A1 (zh) * 2018-05-17 2019-11-21 京东方科技集团股份有限公司 显示面板及其裂纹检测方法、显示装置
CN110827728A (zh) * 2019-11-22 2020-02-21 昆山国显光电有限公司 显示面板和显示装置
CN110853558A (zh) * 2019-12-19 2020-02-28 京东方科技集团股份有限公司 一种柔性显示屏、其检测方法及显示装置
CN111192543A (zh) * 2020-02-28 2020-05-22 武汉天马微电子有限公司 显示面板及显示装置、裂纹检测方法
CN111289610A (zh) * 2020-01-19 2020-06-16 Tcl华星光电技术有限公司 基板裂纹检测的方法及系统、存储介质
CN114974114A (zh) * 2022-05-26 2022-08-30 合肥京东方卓印科技有限公司 显示驱动电路、方法、显示面板及其制备方法、装置
CN115561571A (zh) * 2022-01-13 2023-01-03 深圳荣耀智能机器有限公司 一种裂纹检测电路、系统以及集成电路、电子设备

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102522469B1 (ko) * 2018-07-18 2023-04-19 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6275061B1 (en) * 1998-09-25 2001-08-14 Kabushiki Kaisha Toshiba Testing method for a substrate of active matrix display panel
US20060092372A1 (en) * 2004-10-29 2006-05-04 Kim Ki Y Liquid crystal display device and repairing method thereof
CN101488310A (zh) * 2008-10-24 2009-07-22 友达光电股份有限公司 检测信号线缺陷的驱动电路及使用该驱动电路的检测方法
US20100006838A1 (en) * 2006-07-31 2010-01-14 Masahiro Yoshida Active matrix substrate, display device, and active matrix substrate inspecting method
CN101652705A (zh) * 2007-04-25 2010-02-17 夏普株式会社 液晶显示面板及其检查方法
CN201413440Y (zh) * 2009-06-12 2010-02-24 华映视讯(吴江)有限公司 能测试液晶单元缺陷、点线缺陷和配线缺陷的液晶显示面板
CN101995671A (zh) * 2009-08-28 2011-03-30 北京京东方光电科技有限公司 液晶显示面板边缘缺陷的测试系统及其测试方法
US8159254B2 (en) * 2008-02-13 2012-04-17 Infineon Technolgies Ag Crack sensors for semiconductor devices

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW472276B (en) * 2000-12-19 2002-01-11 Acer Display Tech Inc Plasma display
CN101527305A (zh) * 2008-03-07 2009-09-09 中华映管股份有限公司 有源元件阵列基板
CN101567160B (zh) * 2009-05-31 2011-02-09 上海广电光电子有限公司 带屏内栅极驱动器的液晶显示面板及其检测方法
US8212581B2 (en) * 2009-09-30 2012-07-03 Global Oled Technology Llc Defective emitter detection for electroluminescent display
CN103513477B (zh) * 2012-06-26 2018-03-09 富泰华工业(深圳)有限公司 液晶显示器及其检测方法

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6275061B1 (en) * 1998-09-25 2001-08-14 Kabushiki Kaisha Toshiba Testing method for a substrate of active matrix display panel
US20060092372A1 (en) * 2004-10-29 2006-05-04 Kim Ki Y Liquid crystal display device and repairing method thereof
US20100006838A1 (en) * 2006-07-31 2010-01-14 Masahiro Yoshida Active matrix substrate, display device, and active matrix substrate inspecting method
CN101652705A (zh) * 2007-04-25 2010-02-17 夏普株式会社 液晶显示面板及其检查方法
US8159254B2 (en) * 2008-02-13 2012-04-17 Infineon Technolgies Ag Crack sensors for semiconductor devices
CN101488310A (zh) * 2008-10-24 2009-07-22 友达光电股份有限公司 检测信号线缺陷的驱动电路及使用该驱动电路的检测方法
CN201413440Y (zh) * 2009-06-12 2010-02-24 华映视讯(吴江)有限公司 能测试液晶单元缺陷、点线缺陷和配线缺陷的液晶显示面板
CN101995671A (zh) * 2009-08-28 2011-03-30 北京京东方光电科技有限公司 液晶显示面板边缘缺陷的测试系统及其测试方法

Cited By (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019184371A1 (zh) * 2018-03-27 2019-10-03 京东方科技集团股份有限公司 显示基板及其检测方法、显示装置
WO2019218709A1 (zh) * 2018-05-17 2019-11-21 京东方科技集团股份有限公司 显示面板及其裂纹检测方法、显示装置
US11232728B2 (en) 2018-05-17 2022-01-25 Boe Technology Group Co., Ltd. Display panel and crack detecting method thereof, display apparatus
CN109142447A (zh) * 2018-08-30 2019-01-04 上海天马微电子有限公司 显示面板及其裂纹检测方法、显示装置
CN109142453A (zh) * 2018-08-30 2019-01-04 武汉华星光电技术有限公司 显示面板及显示面板检测方法
CN109142447B (zh) * 2018-08-30 2021-04-16 上海天马微电子有限公司 显示面板及其裂纹检测方法、显示装置
CN109345985A (zh) * 2018-10-25 2019-02-15 昆山国显光电有限公司 显示装置
CN109725224A (zh) * 2018-11-30 2019-05-07 昆山国显光电有限公司 显示装置和裂纹检测方法
CN109493772A (zh) * 2018-11-30 2019-03-19 昆山国显光电有限公司 显示装置和裂纹检测方法
US11187742B2 (en) 2018-11-30 2021-11-30 Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Display panel and method for testing for occurrence of crack in display panel
WO2020107796A1 (zh) * 2018-11-30 2020-06-04 武汉华星光电技术有限公司 显示面板以及显示面板的裂纹检测方法
CN109493772B (zh) * 2018-11-30 2021-08-10 昆山国显光电有限公司 显示装置和裂纹检测方法
CN109342513A (zh) * 2018-11-30 2019-02-15 武汉华星光电技术有限公司 显示面板以及显示面板的裂纹检测方法
CN109817131A (zh) * 2019-02-19 2019-05-28 京东方科技集团股份有限公司 裂纹检测电路、方法和显示装置
CN110097841A (zh) * 2019-03-29 2019-08-06 昆山国显光电有限公司 显示面板
CN110333268A (zh) * 2019-07-11 2019-10-15 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板、显示装置和裂纹检测方法
CN110827728A (zh) * 2019-11-22 2020-02-21 昆山国显光电有限公司 显示面板和显示装置
CN110827728B (zh) * 2019-11-22 2022-08-23 昆山国显光电有限公司 显示面板和显示装置
CN110853558A (zh) * 2019-12-19 2020-02-28 京东方科技集团股份有限公司 一种柔性显示屏、其检测方法及显示装置
CN111289610A (zh) * 2020-01-19 2020-06-16 Tcl华星光电技术有限公司 基板裂纹检测的方法及系统、存储介质
CN111192543A (zh) * 2020-02-28 2020-05-22 武汉天马微电子有限公司 显示面板及显示装置、裂纹检测方法
CN111192543B (zh) * 2020-02-28 2022-05-17 武汉天马微电子有限公司 显示面板及显示装置、裂纹检测方法
CN115561571A (zh) * 2022-01-13 2023-01-03 深圳荣耀智能机器有限公司 一种裂纹检测电路、系统以及集成电路、电子设备
CN115561571B (zh) * 2022-01-13 2023-12-08 深圳荣耀智能机器有限公司 一种裂纹检测电路、系统以及集成电路、电子设备
CN114974114A (zh) * 2022-05-26 2022-08-30 合肥京东方卓印科技有限公司 显示驱动电路、方法、显示面板及其制备方法、装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN104535620B (zh) 2017-05-24
TWI553601B (zh) 2016-10-11
TW201627965A (zh) 2016-08-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104535620A (zh) 显示面板及其裂纹检测方法
CN103927973B (zh) 一种显示面板及其像素驱动方法
CN105590573B (zh) Amoled显示面板线缺陷的修复结构及修复方法
CN104049400B (zh) 像素阵列以及应用其的显示器
CN105070259B (zh) 液晶驱动电路、背光灯电路、终端、装置及方法
CN104361858B (zh) 电压驱动像素电路、显示面板及其驱动方法
CN104992686A (zh) 一种显示面板及其驱动方法、驱动装置
CN104766564A (zh) 一种显示面板、其驱动方法及显示装置
CN109597226A (zh) 一种显示面板和显示装置
CN107195272B (zh) Amoled驱动装置
CN105388677B (zh) 一种电致变色显示器件及其驱动方法
CN105513556A (zh) 一种栅极驱动电路、显示面板及显示装置
CN105590572A (zh) 一种显示装置和显示测试方法
CN104503113A (zh) 液晶面板及显示装置
CN105045007A (zh) 一种液晶显示面板
CN109243309A (zh) 显示控制器、显示面板及显示装置
CN105044948A (zh) 一种显示基板及其修复方法、显示面板
US10008140B2 (en) Bright dot detection method and display panel
CN105551423A (zh) 一种栅极集成驱动电路、阵列基板及其修复方法
CN106782292A (zh) 一种led显示屏及其显示控制装置与列控制电路
CN104006324A (zh) 一种背光模组以及包含该背光模组的显示装置
CN105093602A (zh) 一种液晶显示面板及其驱动方法
CN102708802A (zh) Led显示系统
US9565423B2 (en) Display panel and image displaying method thereof
CN106023897A (zh) Amoled驱动系统及amoled驱动方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant