CN102227764B - 驱动电路、显示装置以及驱动电路的自检测/自修复方法 - Google Patents

Abstract

本发明的驱动电路（20）具备：输出电路块（30）、预备输出电路块（40）、参照输出电路块（41）、比较判定电路（50）切换电路（60）、（61）。在自检测时，切换电路（60）从输出电路块（40）选择1个输出电路，将选择的输出电路和显示面板（80）的数据线的连接切断，并且将预备输出电路块（40）连接于显示面板（80）的数据线。比较判定电路（50）对来自选择的输出电路的测试用输出信号、和来自参照输出电路块（41）的参照用输出信号进行比较，基于该比较结果判定选择的输出电路是否不良。由此，实现能够不使显示不良产生而一边进行显示面板的驱动，一边检测输出电路的故障的驱动电路。

Description

驱动电路、显示装置以及驱动电路的自检测/自修复方法

技术领域

本发明涉及具备驱动电路的显示装置，该驱动电路具有进行自检测/自修复的功能。

背景技术

在液晶显示装置等中，在显示面板安装多个以半导体集成电路（LSI）构成的驱动电路，通过驱动电路对显示面板输出灰度电压，进行显示。

在这样的显示装置中，在驱动电路中产生故障的情况下，成为显示不良而被用户直接识别。在产生这样的故障的情况下，需要显示装置的厂商迅速地进行故障处的修理，优选尽可能在用户使用显示装置的场所以短时间完成修理。如果是处理显示信号那样的控制基板的话，由于与显示面板以连接器连接，所以容易更换。可是，驱动电路由于不经由连接器等而直接连接在显示面板，所以在用户使用显示装置的场所进行更换。

进而，在将驱动电路与显示装置一体化的制品中，在制品完成后难以更换或修理驱动电路。

因此，在专利文献1中，公开了使将显示面板和驱动电路一体化了的制品的驱动电路具有冗余性，在制品完成后也能够修复驱动电路的技术。此外，在专利文献1中，也公开了如下技术，在驱动电路内设置预备的输出电路，对驱动电路内的1个输出电路的输出和预备的输出电路的输出进行比较，判断这些输出相互是否相等，由此进行确认输出电路是正常的情况的自检测，并且在该自检测中，代替检测对象的输出电路，以预备的输出电路进行显示面板的驱动。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本公表专利公报“特表2004-511022号公报（公开日：2004年4月8日）”。

发明内容

发明要解决的问题

在专利文献1中，使检测对象的输出电路从显示面板分离，通过预备的输出电路进行显示面板的驱动，并且对预备的输出电路的输出、与检测对象的输出电路的输出进行比较，判定检测对象的输出电路的好坏。可是，由于对检测对象的输出电路、和预备的输出电路同时输入用于进行显示的灰度数据，所以用于比较的数据被限制。

在专利文献1所述的技术中，在选择模拟钳位电压并输出的情况下，认为从显示数据对一部分数据进行比较，对预备的输出电路的输出、和检测对象的输出电路的输出进行比较是可能的。另一方面，在进行利用数字数据的多灰度化的驱动电路中，需要输出与数字数据对应的灰度电压的DA变换电路（DAC电路），在256灰度显示的驱动电路中，需要 选择256的灰度数据的DA变换电路。为了检测DAC电路的故障，需要针对输出256的灰度电压的全部的输入数据进行比较，在检测对象的输出电路和预备的输出电路不进行显示面板的驱动的状态下，需要对检测对象的输出电路和预备的输出电路赋予与显示数据无关的数据，进行故障的检测。

可是，为了进行输出电路的故障的检测，当使检测对象的输出电路和预备的输出电路为不进行显示面板的驱动的状态时，由于检测对象的输出电路应该进行驱动的显示面板的数据线不被驱动，所以产生显示不良。

本发明正是鉴于上述问题点而完成的，其目的在于实现一种能够不使显示不良产生而一边进行显示面板的驱动，一边检测输出电路的故障的驱动电路。

用于解决课题的方案

本发明的驱动电路为了解决上述课题，具有：对显示装置输出视频信号的n个（n是2以上的自然数）输出端子；以及检测自身的不良，进行修复的单元，其特征在于，具备：n个第1输出电路，将输入数据变换为视频信号，并且以能够切断的方式连接于所述输出端子；p个以上（p是1以上n以下的自然数）的第2输出电路，将输入数据变换为视频信号，并且以能够切断的方式连接于所述输出端子；第3输出电路，不与所述输出端子连接，将输入数据变换为视频信号；切换单元，从所述第1输出电路选择p个输出电路，切断与所述输出端子的连接，并且从所述第2输出电路将p个输出电路连接于所述输出端子；比较单元，对来自选择的第1输出电路的视频信号、和来自所述第3输出电路的视频信号进行比较；以及判定单元，基于该比较单元的比较结果，判定所述选择的第1输出电路是否不良。

根据上述结构，第1输出电路以能够切断的方式连接于输出端子，通过切换单元，在通常工作时，全部的第1输出电路连接于数据线，第2输出电路没有连接于数据线。另一方面，在自检测时，通过切换单元切断选择的第1输出电路和输出端子的连接，连接第2输出电路与输出端子。这时，比较单元对来自从输出端子切断的状态的选择的第1输出电路的视频信号和来自第3输出电路的视频信号进行比较，判定单元基于其比较结果，判定选择的第1输出电路是否不良。

即，在自检测时，除了选择的第1输出电路之外的第1输出电路和第2输出电路连接于输出端子，这些输出电路驱动显示面板。像这样，因为代替成为检测对象的选择的第1输出电路，第2输出电路进行显示面板的驱动，所以发挥能够实现不使显示不良产生而能够一边进行显示面板的驱动，一边检测输出电路的故障的驱动电路的效果。

在本发明的驱动电路中，优选所述切换单元在选择了第q个到第q+p-1个（q+p-1是n以下的自然数）的所述第1输出电路的情况下，将第r个的所述第1输出电路连接于第r个（r是不足q的自然数）的所述输出端子，并且将第s+p个的所述第1输出电路连接于第s个（s是q以上n-p以下的自然数）的所述输出端子，将所述第2输出电路连接于第t个（t是大于n-p且n以下的自然数）的所述输出端子。

根据上述的结构，例如在选择了1个第1输出电路的情况下（p=1），在自检测时，从选择的第1输出电路的下一列的输出电路到最后列的输出电路为止的各输出电路，对从选择的第1输出电路到最后列的输出电路的前一列的输出电路为止的各输出电路在通常驱动时连接的各输出端子输出视频信号。此外，在自检测时第2输出电路对最后列的输出电路在通常驱动时连接的输出端子输出视频信号。即，对从选择的第1输出电路在通常驱动时连接的输出端子到最后列的前一列的输出端子，连接在通常驱动时连接的输出电路的邻接的输出电路，对最后列的输出端子连接第2输出电路。由此，在自检测时，以除了选择的第1输出电路之外的第1输出电路和第2输出电路，能够不使显示不良产生而进行显示面板的驱动。

在本发明的驱动电路中，优选所述切换单元将所述选择的第1输出电路切断了连接的输出端子与所述第2输出电路连接。

根据上述的结构，在自检测时第2输出电路对选择的第1输出电路在通常驱动时连接的输出端子输出视频信号。因此，即使在自检测时，以除了选择的第1输出电路之外的第1输出电路和第2输出电路，能够不使显示不良产生而进行显示面板的驱动。

在本发明的驱动电路中，优选具备：具备：控制单元，经由供给所述输入数据的数据总线，对所述第1~第3输出电路输入所述输入数据，所述控制单元以输入到所述选择的第1输出电路的输入数据、和输入到所述第3输出电路的输入数据成为不同值的输入数据的方式进行控制。

在本发明的驱动电路中，优选所述数据总线由第1~第3数据总线构成，所述控制单元，经由所述第1数据总线，对除了所述选择的第1输出电路之外的第1输出电路和所述第2输出电路输入所述输入数据，经由所述第2数据总线，对所述选择的第1输出电路输入所述输入数据，经由所述第3数据总线，对所述第3输出电路输入所述输入数据。

根据上述结构，能够经由第2数据总线和第3数据总线，供给用于自检测的输入数据。因此，与经由1个数据总线供给输入数据的情况相比，能够缩短用于自检测的时间。

在本发明的驱动电路中，优选所述控制单元经由1个数据总线对所述第1~第3输出电路输入所述输入数据。

根据上述结构，与设置多个数据总线的情况相比，能够减小驱动电路的面积。

在本发明的驱动电路中，所述视频信号是灰度电压，所述第1~第3输出电路具备将所述输入数据变换为所述灰度电压的数模转换器，所述比较单元对来自所述选择的第1输出电路所具备的数模转换器的灰度电压、和来自所述第3输出电路所具备的数模转换器的灰度电压进行比较也可。

在本发明的驱动电路中，优选所述第1输出电路具备运算放大器作为所述数模转换器的输出缓冲器，所述运算放大器在具备该运算放大器的第1输出电路通过所述切换单元被选择并没有与所述输出端子连接时，作为比较器而工作，所述比较单元是作为所述比较器而工作的运算放大器。

根据上述结构，能够将第1输出电路具备的运算放大器作为比较单元进行利用，因此不需要与第1输出电路另外设置比较单元。因此，能够减小驱动电路的面积。

在本发明的驱动电路中，优选所述第3输出电路连接于作为所述比较器而工作的运算放大器。

根据上述结构，能够通过运算放大器，对来自选择的第1输出电路的灰度电压和来自第3输出电路的灰度电压进行比较。

在本发明的驱动电路中，优选所述运算放大器在具备该运算放大器的第1输出电路与所述输出端子连接时，作为电压跟随器而工作。

在本发明的驱动电路中，优选所述判定单元将与分别输入到所述选择的第1输出电路和所述第3输出电路的输入数据对应的、来自所述比较单元的比较结果作为期待值进行存储，在所述比较结果和所述期待值不同的情况下，将所述选择的第1输出电路判定为不良。

例如，对选择的第1输出电路输入灰度m的输入信号，对第3输出电路输入灰度m+1的输入信号。再有，灰度m的灰度电压是比灰度m+1的灰度电压低的电压。在这里，如果选择的第1输出电路正常的话，比较单元输出表示从第3输出电路输入的灰度电压高的信号。另一方面，在选择的第1输出电路中有缺陷，即使输入灰度m的信号，选择的第1输出电路也只能输出高灰度电压的情况下，比较单元输出表示由选择的第1输出电路输入的灰度电压高的信号。

像这样，比较单元对由选择的第1输出电路和第3输出电路输出的灰度电压进行比较，在选择的第1输出电路中有缺陷的情况和没有的情况下，输出不同值的信号。此外，判定单元通过由比较单元输出的信号，判定选择的第1输出电路是否不良。具体地，在如上述那样的、对选择的第1输出电路输入灰度m的输入信号，对第3输出电路输入灰度m+1的输入信号的情况下，在将表示来自选择的第1输出电路的灰度电压高的信号由比较单元输入时，判定为选择的第1输出电路不良。另一方面，在将表示来自第3输出电路的灰度电压高的信号通过比较单元输入的情况下，判定单元判定为选择的第1输出电路不是不良。

由此，能够容易地检测输出电路的缺陷，在输出电路中有缺陷的情况下能够自修复。

本发明的驱动电路，具有：对显示装置输出视频信号的n个（n是2以上的自然数）输出端子；以及检测自身的不良，进行修复的单元，其特征在于，具备：n个第1输出电路，将输入数据变换为视频信号，并且以能够切断的方式连接于所述输出端子；u个以上（u是2以上n以下的偶数）的第2输出电路，将输入数据变换为视频信号，并且以能够切断的方式连接于所述输出端子；切换单元，从所述第1输出电路选择u个输出电路，切断与所述输出端子的连接，并且从所述第2输出电路将u个输出电路连接于所述输出端子；比较单元，将选择的第1输出电路中的任意的2个作为第1选择输出电路和第2选择输出电路，对来自所述第1选择输出电路的视频信号和所述第2选择输出电路的视频信号进行比较；以及判定单元，基于该比较单元的比较结果，判定所述选择的第1输出电路是否不良。

根据上述结构，第1输出电路以能够切断的方式连接于输出端子，通过切换单元，在通常工作时，全部的第1输出电路连接于输出端子，第2输出电路没有连接于输出端子。另一方面，在自检测时，通过切换单元切断选择的u个第1输出电路和输出端子的连接，连接u个第2输出电路与输出端子。这时，比较单元在从输出端子切断的状态的选择的第1输出电路中，对来自第1选择输出电路和第2选择输出电路的2个视频信号进行比较，判定单元基于其比较结果，判定选择的第1输出电路是否不良。

即，在自检测时，除了选择的第1输出电路之外的第1输出电路和第2输出电路连接于输出端子，这些输出电路驱动显示面板。像这样，因为代替成为检测对象的选择的第1输出电路，第2输出电路进行显示面板的驱动，所以发挥能够实现不使显示不良产生而能够一边进行显示面板的驱动，一边检测输出电路的故障的驱动电路的效果。

在本发明的驱动电路中，优选所述切换单元在选择了第v个到第v+u-1个（v+u-1是n以下的自然数）的所述输出电路的情况下，将第w个的所述第1输出电路连接于第w个（w是不足v的自然数）的所述输出端子，并且将第x+u个的所述第1输出电路连接于第x个（x是v以上n-u以下的自然数）的所述输出端子，将所述第2输出电路连接于第y个（y是大于n-u且n以下的自然数）的所述输出端子。

根据上述的结构，例如在选择了2个第2输出电路的情况下（u=2），在自检测时，从选择的第1输出电路中的后列侧的下一列的输出电路到最后列的输出电路为止的各输出电路，对从选择的第1输出电路到最后列的输出电路的前前列的输出电路为止的各输出电路在通常驱动时连接的各输出端子输出视频信号。此外，在自检测时2个第2输出电路对最后列的输出电路和其前一列的输出电路在通常驱动时连接的输出端子输出视频信号。即，对从选择的第1输出电路在通常驱动时连接的输出端子到最后列的前前列为止的输出端子，连接在通常驱动时连接的输出电路的隔1个邻接的输出电路，对最后列和其前一列的输出端子连接第2输出电路。由此，即使在自检测时，以除了选择的第1输出电路之外的第1输出电路和第2输出电路，能够不使显示不良产生而进行显示面板的驱动。

在本发明的驱动电路中，优选所述切换单元将所述选择的第1输出电路切断了连接的输出端子与所述第2输出电路连接。

根据上述的结构，在自检测时第2输出电路对选择的第1输出电路在通常驱动时连接的输出端子输出视频信号。因此，在自检测时，以除了选择的第1输出电路之外的第1输出电路和第2输出电路，能够不使显示不良产生而进行显示面板的驱动。

在本发明的驱动电路中，优选具备：控制单元，对所述第1和第2输出电路输入所述输入数据，所述控制单元以输入到所述第1选择输出电路的输入数据、和输入到所述第2选择输出电路的输入数据成为不同值的输入数据的方式进行控制。

在本发明的驱动电路中，所述视频信号是灰度电压，所述第1输出电路具备将所述输入数据变换为所述灰度电压的数模转换器，所述比较单元对来自所述第1选择输出电路所具备的数模转换器的灰度电压、和来自所述第2选择输出电路所具备的数模转换器的灰度电压进行比较也可。

在本发明的驱动电路中，优选所述第1输出电路具备运算放大器作为所述数模转换器的输出缓冲器，所述运算放大器在具备该运算放大器的第1输出电路通过所述切换单元被选择并没有与所述输出端子连接时，作为比较器而工作，所述比较单元是作为所述比较器而工作的运算放大器。

根据上述结构，能够将第1输出电路具备的运算放大器作为比较单元进行利用，因此不需要与第1输出电路另外设置比较单元。因此，能够减小驱动电路的面积。

在本发明的驱动电路中，优选所述运算放大器在具备该运算放大器的第1输出电路与所述输出端子连接时，作为电压跟随器而工作。

在本发明的驱动电路中，优选所述判定单元将与输入到所述第1选择输出电路和所述第2选择输出电路的输入数据对应的、来自所述比较单元的比较结果作为期待值进行存储，在所述比较结果和所述期待值不同的情况下，将所述选择的第1输出电路判定为不良。

例如，对第1选择输出电路输入灰度m的输入信号，对第2选择输出电路输入灰度m+1的输入信号。再有，灰度m的灰度电压是比灰度m+1的灰度电压低的电压。在这里，如果第1选择输出电路正常的话，比较单元输出表示从第2选择输出电路输入的灰度电压高的信号。另一方面，在选择的第1输出电路的任一个有缺陷，即使输入灰度m的信号，选择的第1输出电路也只能输出高灰度电压的情况下，比较单元输出表示由选择的第1输出电路输入的灰度电压高的信号。

像这样，比较单元对由第1选择输出电路和第2选择输出电路输出的灰度电压进行比较，在选择的第1输出电路的任一个有缺陷的情况和没有的情况下，输出不同值的信号。此外，判定单元通过由比较单元输出的信号，判定选择的第1输出电路的任一个是否不良。具体地，在如上述那样的、对第1选择输出电路输入灰度m的输入信号，对第2选择输出电路输入灰度m+1的输入信号的情况下，在将表示来自第1选择输出电路的灰度电压高的信号由比较单元输入时，判定为选择的第1输出电路的任一个不良。另一方面，在将表示来自第2选择输出电路的灰度电压高的信号通过比较单元输入的情况下，判定单元判定为选择的第1输出电路不是不良。

由此，能够容易地检测输出电路的缺陷，在输出电路中有缺陷的情况下能够自修复。

在本发明的驱动电路中，具备：控制单元，对所述第1和第2输出电路输入所述输入数据，所述控制单元以输入到所述第1选择输出电路的输入数据、和输入到所述第2选择输出电路的输入数据成为不同值的输入数据的方式进行控制，所述第1输出电路具备：采样电路，将所述输入数据以时分方式取入并保持；以及保持电路，将在所述采样电路中保持的输入数据以时分方式取入并输出到所述数模转换器，所述控制单元，在通常驱动时对所述采样电路输入所述输入数据，在自检测时对所述选择的第1输出电路的数模转换器输入所述输入数据也可。

本发明的显示装置的特征在于，具备上述驱动电路。

根据上述结构，能够实现能够不使显示不良产生而一边进行显示，一边检测驱动电路的输出电路的故障的显示装置。

本发明的驱动电路的自检测/自修复方法，对驱动电路的不良进行检测修复，该驱动电路具备：n个（n是2以上的自然数）输出端子，对显示装置输出视频信号；n个第1输出电路，将输入数据变换为视频信号，并且以能够切断的方式连接于所述输出端子；p个以上（p是1以上n以下的自然数）的第2输出电路，将输入数据变换为视频信号，并且以能够切断的方式连接于所述输出端子；以及第3输出电路，不与所述输出端子连接，将输入数据变换为视频信号，该自检测/自修复方法的特征在于，具有：切换步骤，从所述第1输出电路选择p个输出电路，将选择的第1输出电路与所述输出端子的连接切断，并且从所述第2输出电路将p个输出电路连接于所述输出端子；比较步骤，对来自所述选择的第1输出电路的视频信号、和来自所述第3输出电路的视频信号进行比较；以及判定步骤，基于所述比较步骤的比较结果，判定所述选择的第1输出电路是否不良。

根据上述结构，第1输出电路以能够切断的方式连接于输出端子，在通常工作时，全部的第1输出电路连接于输出端子，第2输出电路没有连接于输出端子。另一方面，在切换步骤中，切断选择的第1输出电路和输出端子的连接，连接第2输出电路与输出端子。在比较步骤中，对来自从输出端子切断的状态的选择的第1输出电路的视频信号和来自第3输出电路的视频信号进行比较，在判定步骤中，基于其比较结果，判定选择的第1输出电路是否不良。

即，在自检测时，除了选择的第1输出电路之外的第1输出电路和第2输出电路连接于输出端子，这些输出电路驱动显示面板。像这样，因为代替成为检测对象的选择的第1输出电路，第2输出电路进行显示面板的驱动，所以能够不使显示不良产生而能够一边进行显示面板的驱动，一边检测输出电路的故障。

本发明的驱动电路的自检测/自修复方法，对驱动电路的不良进行检测修复，该驱动电路具备：n个（n是2以上的自然数）输出端子，对显示装置输出视频信号；n个第1输出电路，将输入数据变换为视频信号，并且以能够切断的方式连接于所述输出端子；以及u个以上（u是2以上n以下的偶数）的第2输出电路，将输入数据变换为视频信号，并且以能够切断的方式连接于所述输出端子，该自检测/自修复方法的特征在于，具有：切换步骤，从所述第1输出电路选择u个输出电路，将选择的第1输出电路与所述输出端子的连接切断，并且从所述第2输出电路将u个输出电路连接于所述输出端子；比较步骤，将所述选择的第1输出电路中的任意的2个作为第1选择输出电路和第2选择输出电路，对来自所述选择的第1选择输出电路的视频信号和来自所述第2选择输出电路的视频信号进行比较；以及判定步骤，基于所述比较步骤的比较结果，判定所述选择的第1输出电路是否不良。 

根据上述结构，第1输出电路以能够切断的方式连接于输出端子，在通常工作时，全部的第1输出电路连接于输出端子，第2输出电路没有连接于输出端子。另一方面，在切换步骤中，切断选择的第1输出电路和输出端子的连接，连接第2输出电路与输出端子。在比较步骤中，对来自从输出端子切断的状态的选择的第1输出电路的一方的视频信号和来自另一方的视频信号进行比较，在判定步骤中，基于其比较结果，判定选择的第1输出电路是否不良。

即，在自检测时，除了选择的第1输出电路之外的第1输出电路和第2输出电路连接于输出端子，这些输出电路驱动显示面板。像这样，因为代替成为检测对象的选择的第1输出电路，第2输出电路进行显示面板的驱动，所以能够不使显示不良产生而能够一边进行显示面板的驱动，一边检测输出电路的故障。

发明的效果

如上所述，本发明的驱动装置具有：对显示装置输出视频信号的n个（n是2以上的自然数）输出端子；以及检测自身的不良，进行修复的单元，其特征在于，具备：n个第1输出电路，将输入数据变换为视频信号，并且以能够切断的方式连接于所述输出端子；p个以上（p是1以上n以下的自然数）的第2输出电路，将输入数据变换为视频信号，并且以能够切断的方式连接于所述输出端子；第3输出电路，不与所述输出端子连接，将输入数据变换为视频信号；切换单元，从所述第1输出电路选择p个输出电路，切断与所述输出端子的连接，并且从所述第2输出电路将p个输出电路连接于所述输出端子；比较单元，对来自选择的第1输出电路的视频信号、和来自所述第3输出电路的视频信号进行比较；以及判定单元，基于该比较单元的比较结果，判定所述选择的第1输出电路是否不良。

如上所述，本发明的驱动电路，具有：对显示装置输出视频信号的n个（n是2以上的自然数）输出端子；以及检测自身的不良，进行修复的单元，其特征在于，具备：n个第1输出电路，将输入数据变换为视频信号，并且以能够切断的方式连接于所述输出端子；u个以上（u是2以上n以下的偶数）的第2输出电路，将输入数据变换为视频信号，并且以能够切断的方式连接于所述输出端子；切换单元，从所述第1输出电路选择u个输出电路，切断与所述输出端子的连接，并且从所述第2输出电路将u个输出电路连接于所述输出端子；比较单元，将选择的第1输出电路中的任意的2个作为第1选择输出电路和第2选择输出电路，对来自所述第1选择输出电路的视频信号和所述第2选择输出电路的视频信号进行比较；以及判定单元，基于该比较单元的比较结果，判定所述选择的第1输出电路是否不良。

如上所述，本发明的驱动电路的自检测/自修复方法，对驱动电路的不良进行检测修复，该驱动电路具备：n个（n是2以上的自然数）输出端子，对显示装置输出视频信号；n个第1输出电路，将输入数据变换为视频信号，并且以能够切断的方式连接于所述输出端子；p个以上（p是1以上n以下的自然数）的第2输出电路，将输入数据变换为视频信号，并且以能够切断的方式连接于所述输出端子；以及第3输出电路，不与所述输出端子连接，将输入数据变换为视频信号，该自检测/自修复方法的特征在于，具有：切换步骤，从所述第1输出电路选择p个输出电路，将选择的第1输出电路与所述输出端子的连接切断，并且从所述第2输出电路将p个输出电路连接于所述输出端子；比较步骤，对来自所述选择的第1输出电路的视频信号、和来自所述第3输出电路的视频信号进行比较；以及判定步骤，基于所述比较步骤的比较结果，判定所述选择的第1输出电路是否不良。

如上所述，本发明的驱动电路的自检测/自修复方法，对驱动电路的不良进行检测修复，该驱动电路具备：n个（n是2以上的自然数）输出端子，对显示装置输出视频信号；n个第1输出电路，将输入数据变换为视频信号，并且以能够切断的方式连接于所述输出端子；以及u个以上（u是2以上n以下的偶数）的第2输出电路，将输入数据变换为视频信号，并且以能够切断的方式连接于所述输出端子，该自检测/自修复方法的特征在于，具有：切换步骤，从所述第1输出电路选择u个输出电路，将选择的第1输出电路与所述输出端子的连接切断，并且从所述第2输出电路将u个输出电路连接于所述输出端子；比较步骤，将所述选择的第1输出电路中的任意的2个作为第1选择输出电路和第2选择输出电路，对来自所述选择的第1选择输出电路的视频信号和来自所述第2选择输出电路的视频信号进行比较；以及判定步骤，基于所述比较步骤的比较结果，判定所述选择的第1输出电路是否不良。 

因此，发挥如下效果，即，能够不使显示不良产生而一边进行显示面板的驱动，一边检测输出电路的故障。

附图说明

图1是表示本发明的一个实施方式的液晶电视机的结构的框图。

图2是表示本发明的第1实施方式的显示装置的概略结构的框图。

图3是表示本发明的第1实施方式的驱动电路的结构的说明图。

图4是表示用于生成测试信号test和反转测试信号testB的测试信号生成电路的电路图。

图5是表示图3所示的驱动电路中的工作确认测试时的、复位信号RESET、信号TESTSP、信号TESTCK和测试信号test1~testn的波形的图。

图6是表示图3所示的驱动电路中的工作确认测试时的、复位信号RESET、信号TESTSP、信号TESTCK、测试信号test1~testn和信号Flag2的波形的图。

图7是表示用于生成测试信号test和反转测试信号testB的其它的测试信号生成电路的电路图。

图8是表示本发明的第1实施方式的、工作确认测试的第1个过程的流程图。

图9是表示本发明的第1实施方式的、工作确认测试的第2个过程的流程图。

图10是表示本发明的第1实施方式的、工作确认测试的第3个过程的流程图。

图11是表示本发明的第1实施方式的、工作确认测试的第4个过程的流程图。

图12是表示本发明的第1实施方式的、工作确认测试的第5个过程的流程图。

图13是表示本发明的第1实施方式的、自修复过程的流程图。

图14是表示本发明的第2实施方式的显示装置的概略结构的框图。

图15是表示本发明的第2实施方式的驱动电路的结构的说明图。

图16是表示本发明的第3实施方式的显示装置的概略结构的框图。

图17是表示本发明的第3实施方式的驱动电路的结构的说明图。

图18是表示用于生成测试信号test和反转测试信号testB的再一个测试信号生成电路的电路图。

图19是表示图17所示的驱动电路中的工作确认测试时的、复位信号RESET、信号TESTSP、信号TESTCK和测试信号test1~test（n/2）的波形的图。

图20是表示图17所示的驱动电路中的工作确认测试时的、复位信号RESET、信号TESTSP、信号TESTCK、测试信号test1~testn和信号Flag2的波形的图。

图21是表示本发明的第4实施方式的显示装置的概略结构的框图。

图22是表示本发明的第4实施方式的驱动电路的结构的说明图。

图23是表示本发明的第5实施方式的显示装置的概略结构的框图。

图24是表示本发明的第5实施方式的驱动电路的结构的说明图。

图25是表示图24所示的驱动电路的工作确认测试时的、采样信号STR1~STR3、来自采样电路6-1~6-3的输出、信号LS、来自保持电路7-1~7-3的输出、以及来自输出端子OUT的输出的波形的图。

图26是表示图24所示的驱动电路中的工作确认测试时的、信号LS、信号TCLK1、TCLK2、栅极信号TA1~TA3、TB1~TB3、测试信号test1~test3、以及测试信号testA1~testA3的波形的图。

图27是表示图26所示的信号TCLK1、TCLK2交替地变为“H”电平的期间前后的、信号LS、信号TCLK1、TCLK2、栅极信号TA1、测试信号testA1、栅极信号TB1、测试信号test1、信号TSTR1、TSTR2的波形的图。

具体实施方式

以下，基于附图说明本发明的实施方式。

[实施方式1]

针对本发明的第1实施方式，参照图1~图13在以下进行说明。

（液晶电视机400）

作为使用了显示用驱动电路的显示装置的代表性的装置，能够举出以液晶电视为代表的薄型电视。液晶电视（液晶显示装置）在显示面板安装多个以半导体集成电路（LSI）制作的驱动电路，进行显示。在这样的显示装置中，在显示驱动用电路中产生故障的情况下，直接作为显示不良而被用户识别。在产生这样的故障的情况下，需要迅速地进行故障处的修理，优选尽可能在用户进行使用的场所以短时间完成修理。如果是处理显示信号那样的控制基板的话，由于与显示面板以连接器进行连接，所以容易更换，但由于显示驱动用电路不以连接器等连接，而直接连接于显示面板，所以难以在用户使用制品的场所进行更换。

因此，本申请人提出了具有对显示驱动用电路自身的故障进行自诊断自修复的功能（自检测和自修复功能）的驱动电路（例如，日本特愿2007-302289、日本特愿2008-048639、日本特愿2008-048640、日本特愿2008-054130、日本特愿2008-130848、日本特愿2008-246724、日本特愿2008-246725、日本特愿2008-246726、以及日本特愿2008-246727，这些在本申请前的确认时刻均没有公开）。

图1是表示本发明的液晶电视机400的结构的框图。如同图所示，液晶电视机400构成为包含：TFT-LCD模块（显示装置）90、开关按钮401、DVD装置402、HDD装置403、以及DVD/HDD控制装置404。进而，显示装置90具备：源极驱动器（驱动电路）10、TFT-LCD面板（显示面板）80、栅极驱动器99、以及控制器100。而且，源极驱动器10是具有上述的自检测和自修复功能的显示用驱动用电路。

（显示装置90的结构）

参照图2，说明本实施方式的显示装置90的概略结构。图2是表示图1所示的显示装置90的概略结构的框图。

如同图所示，显示装置90具备：显示面板80；以及基于从外部输入的灰度数据来驱动显示面板80的显示驱动用电路（以下，称为驱动电路）20。此外，驱动电路20具备：切换电路60（切换单元）、切换电路61（控制单元）、输出电路块30（第1输出电路）、预备输出电路块40（第2输出电路）、参照输出电路块41（第3输出电路）、以及比较判定电路50（比较单元、判定单元、自检测/自修复单元）。此外，显示面板80具备：被施加来自驱动电路20的灰度电压的像素70。如后述那样，输出电路块30具备：与供给灰度数据的数据总线并联连接的n（n是偶数）列的输出电路。

（显示装置90的基本工作）

接着，说明显示装置90中的基本工作。在显示装置90中，驱动电路20将从外部输入的灰度数据变换为灰度电压（输出信号），显示面板80基于该灰度电压进行显示视频的通常工作，并且驱动电路20检测输出电路块30是否不良，在输出电路块30中有不良的输出电路的情况下，驱动电路20进行对自身进行自修复的自检测修复工作。

以下，针对驱动电路20进行的自检测修复工作的概略进行说明。首先，在进行自检测修复工作的情况下，切换电路61从输出电路块30选择1个输出电路，对该输出电路输入测试用灰度数据，并且对参照输出电路块41输入参照用灰度数据。测试用灰度数据和参照用灰度数据是相互不同的数据。

这时，上述选择的输出电路以不驱动显示面板80的方式，切断与像素70的连接。取而代之使用切换电路60、61，以输出电路块30的剩余的输出电路和预备输出电路块40与像素70连接的方式，变更连接状态。由此，在进行自检测修复工作的期间，能够持续进行显示面板80的驱动。

上述选择的输出电路将输入的测试用灰度数据变换成测试用输出信号，输出到比较判定电路50。此外，参照输出电路块41将输入的参照用灰度数据变换成参照输出信号，输出到比较判定电路50。比较判定电路50对测试用输出信号和参照输出信号的大小进行比较，确认该大小关系是不是对于上述不同的数据预先设定的关系，判定选择的输出电路是否不良。

依次切换利用切换电路61的输出电路的选择，进行同样的判定，针对输出电路块30内的全部输出电路判定是否为不良。

进而，比较判定电路50将表示输出电路块30是否为不良的判定结果对切换电路61和切换电路60输出。切换电路61基于来自比较判定电路50的判定结果，切换来自外部的灰度数据的输出目的地。另一方面，切换电路60由各个输出电路30和预备输出电路块40被输入灰度电压，基于来自比较电路的判定结果，从输入的灰度电压中，选择输出到显示面板80的灰度电压。

更具体地说，切换电路61当被输入表示输出电路块30的选择的输出电路是不良的判定结果时，中止被判定为不良的输出电路的使用。这时，在通常工作时输入到选择的输出电路的灰度数据，被输入到下一列的输出电路，在通常工作时输入到该下一列的输出电路的灰度数据，被输入到再下一列的输出电路。同样地，灰度数据被输入到在通常工作时输入到的输出电路的下一列的输出电路，在通常工作时输入到最后列的输出电路的灰度数据，被输入到预备输出电路块40。

通过切换电路61维持该连接状态，驱动电路20即使在输出电路块30的任一个输出电路变为不良的情况下，也能够代替被判定为不良的输出电路而使用预备输出电路块，对显示面板80输出正常的灰度电压。

如上所述，本实施方式的驱动电路20通过具备比较判定电路50、切换电路60和切换电路61，从而能够检测自身的故障，进而能够对自身的故障进行自修复。换句话说，驱动电路20具备检测自身的故障，进而对自身的故障进行自修复的自检测/自修复电路（自检测/自修复单元）。

（驱动电路20的结构）

参照图3，针对本实施方式的驱动电路20的结构进行说明。图3是表示驱动电路20的概略结构的框图。

如同图所示，驱动电路20具备：n个采样电路6-1~6-n（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为采样电路6），通过灰度数据输入端子（未图示）经由数据总线输入与n个液晶驱动用信号输出端子OUT1~OUTn（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为输出端子OUT）的每一个对应的灰度数据；n个保持电路7-1~7-n（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为保持电路7）；将灰度数据变换为灰度电压信号的n个DAC电路8-1~8-n、预备的DAC电路8-B（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为DAC电路8）；将参照用灰度数据变换成参照输出信号的参照用DAC电路8-A；n个运算放大器1-1~1-n和预备的运算放大器1-B（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为运算放大器1），具有对于来自DAC电路8的灰度电压信号的缓冲电路的作用；n个判定电路3-1~3-n（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为判定电路3）；n个判定标记4-1~4-n（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为判定标记4）；n个上拉/下拉电路5-1~5-n（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为上拉/下拉电路5）。

进而，如同图所示，驱动电路20具备：多个开关2a，通过测试信号test（test1~testn）切换ON、OFF；多个开关2b，通过将测试信号test反转了的反转测试信号testB（testB1~testBn）切换ON、OFF；（n-1）个开关SWA1~SWA（n-1）（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为开关SWA），通过栅极信号 T1~T（n-1）变更连接目的地；n个开关SWB1~SWBn（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为开关SWB），通过栅极信号T1~Tn变更连接目的地。

开关2a、2b均在输入了“H”电平的信号的情况下变为ON，在输入了“L”电平的信号的情况下变为OFF。

此外，开关SWA/SWB分别具备：端子0、端子1以及端子2，是具有将端子0和端子1连接的状态、以及将端子0和端子2连接的状态的2个连接状态的开关电路。具体地，开关SWAi（i=1~n-1）的端子0、1和2分别连接于DAC电路8-（i+1）、保持电路7-（i+1）、和保持电路7-i。此外，开关SWBi（i=1~n-1）的端子0、1、2分别连接于输出端子OUTi、运算放大器1-i的输出端子、以及运算放大器1-（i+1）的输出端子，开关SWBn的端子0、1、2分别连接于输出端子OUTn、运算放大器1-n的输出端子、以及预备的运算放大器1-B的输出端子。

开关SWA/SWB的连接状态基于栅极信号的值而切换。具体地，在栅极信号为“H”时，连接（导通）端子0和端子2，在栅极信号为“L”时，连接（导通）端子0和端子1。栅极信号T1~Tn以下述的数式1表示的逻辑式表示。

[数式1]

即，栅极信号Tk（k=1~n）成为测试信号test1~testk的逻辑和。

再有，在图3中，DAC电路8和运算放大器1相当于图2所示的输出电路块30，参照用DAC电路8-A相当于图2所示的参照输出电路块41，预备的DAC电路8-B相当于图2所示的预备输出电路块40。此外，运算放大器1、判定电路3、以及判定标记4相当于图2所示的比较判定电路50，运算放大器1兼作输出电路块30的缓冲器、和比较判定电路50的比较器用。此外，开关SWA以及与DAC电路8-1~8-n的输入端子连接的开关2a、2b相当于图2所示的切换电路61。此外，开关SWB相当于图2所示的切换电路60。再有，图2所示的驱动电路20经由输出端子OUT1~OUTn与图2所示的显示面板80连接，在图3中省略显示面板80的图示。

运算放大器1在通常工作时，使输出对负极性输入反馈，作为电压跟随器（Voltage follower）的缓冲器而发挥功能。另一方面，在工作确认时，以运算放大器1作为比较器而发挥功能的方式变更连接，将来自与自身串联连接的DAC电路8的输出向自身的正极性输入端子输入，进而将来自参照用DAC电路8-A的输出向自身的负极性输入端子输入。具体地，如同图所示，运算放大器1-1将来自DAC电路8-1的输出向自身的正极性输入端子输入，将来自参照用DAC电路8-A的输出经由通过信号test1控制的开关2a向自身的负极性输入端子输入。同样地，运算放大器1-2将来自DAC电路8-2的输出向自身的正极性输入端子输入，将来自参照用DAC电路8-A的输出经由通过信号test2控制的开关2a向自身的负极性输入端子输入。即，运算放大器1-k（k=1~n）将来自DAC电路8-k的输出向自身的正极性输入端子输入，将来自参照用DAC电路8-A的输出经由通过信号testk控制的开关2a向自身的负极性输入端子输入。

（驱动电路20的通常工作）

图4是表示用于生成测试信号test和反转测试信号testB的测试信号生成电路51的电路图。测试信号生成电路51具备：n个D型双稳态多谐振荡器（flip flop）DFF1~DFFn、1个NOR门NOR1、1个AND门AND1、和n个反相器（inverter）INV1~INVn，D型双稳态多谐振荡器DFF1~DFFn构成移位寄存器301。

对各双稳态多谐振荡器DFF1~DFFn的复位端子R输入复位信号RESET。在驱动电路20的通常工作时，复位信号RESET保持“H”电平，移位寄存器301成为复位状态。此外，对各双稳态多谐振荡器DFF1~DFFn的时钟端子CK输入来自AND门AND1的时钟TCK。此外，对第1列的双稳态多谐振荡器DFF1的数据输入端子D输入信号TESTSP。来自各双稳态多谐振荡器DFFk（k=1~n）的输出端子Q的输出信号成为测试信号testk，该输出信号通过反相器INVk而被反转的信号成为反转测试信号testBk。由此，当移位寄存器301被复位时，测试信号test1~testn成为“L”电平，反转测试信号testB1~testBn成为“H”电平。这时，根据数式1，栅极信号T1~T（n-1）全部成为“L”电平。

此外，对AND门AND1的2个输入端子输入信号TESTCK和来自NOR门OR1的信号Flag_HB。NOR门NOR1具有n个输入端子，对各输入端子输入从图3所示的判定标记4-1~4-n输出的信号Flag1~Flagn（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为信号Flag）。如后述那样，信号Flag仅在运算放大器1的工作异常被检测出时变为“H”电平，因此在通常工作时，信号Flag_HB是“H”电平。

在图3中，为了对供给到数据总线的灰度数据进行采样，从未图示的指示器（pointer）用移位寄存器输入到采样电路6-1~6-n的栅极的采样信号STR1~STRn（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为采样信号STR）依次变为“H”电平。采样电路6以在栅极是“H”电平的期间中取入灰度数据的闩锁电路构成，在采样信号STR为“H”电平的期间，采样电路取入数据总线的灰度数据，在采样信号STR为“L”电平的情况下，保持在“H”电平的期间中取入的灰度数据。

在采样电路6-1~6-n的数据取入结束后，对连接于保持电路7的信号LS线供给“H”电平的信号LS。信号LS对保持电路7-1~7-n的栅极供给，在栅极为“H”电平的期间，保持电路7-1~7-n取入与自身连接的采样电路6-1~6-n保持的灰度数据。此外，保持电路7-1~7-n在信号LS变为“L”电平后，保持取入的灰度数据。

在驱动电路20中，在取入灰度数据的期间也需要进行显示。因此，如上述那样，保持电路7保持取入的灰度数据，根据保持的数据输出显示用驱动信号。此外，保持电路7在输出显示用驱动信号的期间，从数据总线进行数据的取入。

如上所述，输入到开关SWA1~SWA（n-1）的栅极信号T1~T（n-1）全部是“L”电平，因此在开关SWA连接端子0和端子1。由此，保持电路7-1~7-n的灰度数据分别输出到DAC电路8-1~8-n。由此，DAC电路8-1~8-n将被保持电路7-1~7-n保持的灰度数据变换为灰度电压信号，作为灰度电压对运算放大器1-1~1-n的正极性输入端子输出。

在这里，运算放大器1-1~1-n的输出由于开关2b为ON，所以向自身的负极性输入端子负反馈。由此，运算放大器1-1~1-n作为电压跟随器而进行工作。由此，运算放大器1-1~1-n对来自DAC电路8-1~8-n的灰度电压进行缓冲，输出到对应的各输出端子OUT1~OUTn。

（工作确认测试概要）

图5是表示驱动电路20中的工作确认测试时的复位信号RESET、信号TESTSP、信号TESTCK和测试信号test1~testn的波形的图。工作确认测试通过使信号TESTSP为“H”电平而开始。通过信号TESTCK的上升，双稳态多谐振荡器DFF1识别信号TESTSP是“H”电平。由此，移位寄存器301的各双稳态多谐振荡器DFF1~DFFn将与信号TESTCK的上升同步的脉冲信号作为测试信号test1~testn和反转测试信号testB1~testBn依次输出。

这时，在图3中，在测试信号test1为“H”电平时（即，反转测试信号testB1为“L”电平时），根据数式1，栅极信号T1~Tn全部变为“H”电平，在开关SWA1~SWAn和开关SWB1~SWBn中，端子0和端子2成为连接状态。由此，保持电路7-1与DAC电路8-2连接，保持电路7-2与DAC电路8-3连接，连接依次向前移位，最后保持电路7-n与预备的DAC电路8-B连接。此外，输出端子OUT与运算放大器1-2连接，输出端子OUT2与运算放大器1-3连接，连接依次向后移位，最后输出端子OUTn与预备的运算放大器1-B连接。

如上所述，通过变更开关SWA/SWB的连接状态，DAC电路8-1和保持电路7-1的连接、以及运算放大器1-1和输出端子OUT1的连接分别切断，DAC电路8-1和运算放大器1-1与显示面板的驱动变得无关。在这里，由于测试信号test1是“H”，所以与运算放大器1-1的输入端子和输出端子连接的开关2a和开关2b分别变为“ON”“OFF”。由此，运算放大器1-1的负极性输入端子和输出端子的连接切断，在运算放大器1-1的负极性输入端子连接参照用DAC电路8-A。通过该连接，运算放大器1-1作为对DAC电路8-1的电压和参照用DAC电路8-A的电压进行比较的比较器而工作，运算放大器1-1的输出被输出到判定电路3-1。此外，在运算放大器1-1的正极性输入端子，除了DAC电路8-1之外，还连接上拉/下拉电路5-1。

另一方面，向DAC电路8-1的输入从保持电路7-1向测试用数据总线TDATA2切换。此外，在参照用DAC电路8-A的输入，连接有与测试用数据总线TDATA2不同的测试用数据总线TDATA1。

由此，从测试用数据总线TDATA1和TDATA2对参照用DAC电路8-A和DAC电路8-1分别输入参照用灰度数据和测试用灰度数据。相对于此，参照用DAC电路8-A和DAC电路8-1分别输出参照输出信号和测试用输出信号。由此，对运算放大器1-1的负极性输入端子输入参照用DAC电路8-A的参照输出信号，对运算放大器1-1的正极性输入端子输入来自DAC电路8-1的测试用输出信号。在这里，参照用灰度数据和测试用灰度数据是相互不同的灰度数据，因此来自参照用DAC电路8-A的参照输出信号和来自DAC电路8-1的测试用输出信号成为不同的电压。

因为运算放大器1-1作为比较器而发挥功能，所以如果向正极性输入端子的输入电压比向负极性输入端子的输入电压大的话，即如果来自DAC电路8-1的测试用输出信号比来自参照用DAC电路8-A的参照用灰度数据大的话，运算放大器1-1的输出变为“H”。另一方面，如果向正极性输入端子的输入电压比向负极性输入端子的输入电压值小的话，即如果来自DAC电路8-1的测试用输出信号比来自参照用DAC电路8-A的参照用灰度数据小的话，运算放大器1-1的输出变为“L”。

根据对参照用DAC电路8-A和DAC电路8-1输入的灰度数据运算放大器的输出电压是“H”还是“L”，能预先作为期待值而设定。在判定电路3-1存储有该期待值，通过判定电路3-1判定期待值和运算放大器1-1的输出是否一致，如果运算放大器1-1的输出与期待值不同的话，对判定标记4-1输入“H”电平的信号，从判定标记4-1输出的信号Flag1成为“H”电平。

如上所述，在测试信号test1为“H”的期间，通过开关SWA和SWB的连接切换，保持电路7-i（i=1~n-1）与DAC电路8-（i+1）连接，最后列的保持电路7-n与预备的DAC电路8-B连接，运算放大器1-j（j=2~n）与输出端子OUT（j-1）连接 ，预备的运算放大器1-B与最后列的输出端子OUTn连接。即，运算放大器1-2~1-n和预备的运算放大器1-B作为通常工作的缓冲器而发挥功能。因此，能够一边将从通常工作用的数据总线输入的灰度数据变换为灰度电压从输出端子OUT输出，进行显示面板80的驱动，一边进行DAC电路8-1的功能工作的确认。

接着，在测试信号test2变为“H”电平，反转测试信号testB2变为“L”电平时，根据数式1，栅极信号T1变为“L”电平，栅极信号T2~Tn变为“H”电平。由于栅极信号T1是“L”电平，所以与通常工作时同样地，保持电路7-1与DAC电路8-1连接，运算放大器1-1与输出端子OUT1连接。

另一方面，由于栅极信号T2~Tn是“H”电平，所以保持电路7-2与DAC电路8-3连接，保持电路7-3与DAC电路8-4连接，连接依次向前移位，最后列的保持电路7-n与预备的DAC电路8-B连接。此外，输出端子OUT2与运算放大器1-3连接，输出端子OUT3与运算放大器1-4连接，连接依次向后移位，最后列的输出端子OUTn与预备的运算放大器1-B连接。

如上所述，通过变更开关SWA/SWB的连接状态，DAC电路8-2和保持电路7的连接、以及运算放大器1-2和输出端子OUT1的连接分别切断，DAC电路8-2和运算放大器1-2与显示工作变得无关。在这里，由于测试信号test2是“H”电平，所以与运算放大器1-2的输入端子和输出端子连接的开关2a和开关2b分别变为“ON”“OFF”。由此，运算放大器1-2的负极性输入端子和输出端子的连接切断，在运算放大器1-2的负极性输入端子连接参照用DAC电路8-A。通过该连接的切换，运算放大器1-2作为对DAC电路8-2的电压和参照用DAC电路8-A的电压进行比较的比较器而工作，运算放大器1-2的输出被输出到判定电路3-2。此外，运算放大器1-2的正极性输入端子，除了DAC电路8-2之外，还连接上拉/下拉电路5-2。

另一方面，向DAC电路8-2的输入从保持电路7-2向测试用数据总线TDATA2切换。由此，从测试用数据总线TDATA1和TDATA2对参照用DAC电路8-A和DAC电路8-2分别输入作为相互不同的灰度数据的参照用灰度数据和测试用灰度数据。对运算放大器1-2的正极性输入端子输入来自DAC电路8-2的测试用灰度数据，对运算放大器1-2的负极性输入端子输入来自参照用DAC电路8-A的参照用灰度数据，运算放大器1-2作为比较器而发挥功能。

在这里，因为来自参照用DAC电路8-A的参照输出信号和来自DAC电路8-2的测试用输出信号是相互不同的电压，所以如果来自DAC电路8-2的测试用输出信号比来自参照用DAC电路8-A的参照用灰度数据大的话，运算放大器1-2的输出变为“H”，如果来自DAC电路8-2的测试用输出信号比来自参照用DAC电路8-A的参照用灰度数据小的话，运算放大器1-2的输出变为“L”。根据对参照用DAC电路8-A和DAC电路8-2输入的灰度数据运算放大器的输出电压是“H”还是“L”，能预先作为期待值而设定。因此，通过判定电路3-2判定该期待值和运算放大器1-2的输出是否一致，如果运算放大器1-2的输出与期待值不同的话，从判定标记4-2输出的信号Flag2成为“H”电平。

如上所述，在进行显示面板的驱动的同时，能够进行DAC电路8-2的工作确认。

同样地，在测试信号test3~testn为“H”电平的期间，分别进行连接的变更，进行DAC电路8-3到DAC电路8-n的工作确认。在这里，在从判定标记4输出的信号Flag全部是“L”电平的情况下，如上述那样到最后列的DAC电路8-n为止进行工作确认。另一方面，在工作确认的途中任一个信号Flag变为“H”电平的情况下，即，在任一个输出电路被判定为不良的情况下，进行以下的工作。作为例子，说明在图3所示的运算放大器1-2被判断为不良，信号Flag2变为“H”电平的情况。

图6是表示复位信号RESET、信号TESTSP、信号TESTCK、测试信号test1~testn和信号Flag2的波形的图。当测试信号test2变为“H”电平时，反转测试信号testB2变为“L”电平，因此通过DAC电路8-2以外的DAC电路8（即，DAC电路8-1、8-3~8-n和预备的DAC电路8-B）以及运算放大器1-2以外的运算放大器1（即运算放大器1-1、1-3~1-n和预备的运算放大器1-B），进行通常的显示驱动。

在信号Flag2变为“H”电平时，图4所示的NOR门NOR1的输出信号FlagHB变为“L”电平。因此，如图6所示，使移位寄存器301工作的时钟TCK变为“L”，在该状态下被保持。由此，测试信号test2被保持为“H”电平的状态，反转测试信号testB2被保持为“L”的状态。由此，在信号Flag2变为“H”电平的时刻的连接状态下，持续显示面板的驱动。即，通过DAC电路8-2以外的DAC电路8和运算放大器1-2以外的运算放大器1进行通常的显示驱动。因此，不再使用被认为工作不良的运算放大器1-2，而通过其它的运算放大器1进行显示面板的驱动。

再有，在图4所示的测试信号生成电路51中，当由于电源供给的停止等而移位寄存器301的值变化时，由于不再能够保持信号Flag变为“H”的时刻的连接状态，所以需要再次进行工作确认，进行信号Flag的设定。因此，在以下基于图7，说明当一旦检测出工作不良的运算放大器时，即使移位寄存器301的值变化也保持检测时刻的连接状态，不需要信号Flag的再设定的结构。

图7是表示用于生成测试信号test和反转测试信号testB的测试信号生成电路52的电路图。测试信号生成电路52构成为在图4所示的测试信号生成电路51中，进一步设置了n个OR门OR1~ORn。OR门OR1~ORn的输入端子的一方分别连接于双稳态多谐振荡器DFF1~DFFn的输出端子Q。此外，OR门OR1~ORn的输入端子的另一方分别被输入信号Flag1~Flagn，OR门OR1~ORn的输出成为测试信号test1~testn。

图3所示的判定标记4以非易失性存储装置构成。当检测出工作不良的运算放大器而“H”电平的信号Flag被储存在对应的判定标记4中时，即使电源供给停止，该信号Flag的值也不变化。在测试信号生成电路52中，因为经由OR门OR1~ORn输出测试信号test1~testn，所以即使移位寄存器301被复位，从被输入“H”电平的信号Flag的OR门，也输出“H”电平的测试信号test。因此，不需要信号Flag的再设定。

（实施方式1的工作确认测试1）

接着，参照图8在以下说明第1实施方式的、工作确认测试的第1个过程。图8是表示第1实施方式的工作确认测试的第1个过程的流程图。

在同图所示的步骤S1（以下，简称为S1）中，使测试信号test1为“H”电平，使反转测试信号testB1为“L”电平（S1）。由此，运算放大器1-1作为比较器而进行工作（S2）。

接着，未图示的控制电路将判定电路3-1的期待值设为“L”电平，将自身具备的计数器m初始化为0（S3）。

接着，控制电路对与运算放大器1-1的正极性输入相连的DAC电路8-1输入灰度m的测试用灰度数据，并且对与运算放大器1-1的负极性输入端子相连的参照用DAC电路8-A输入灰度m+1的测试用灰度数据（S4）。

在这里，在计数器m的值为0的情况下，对运算放大器1-1的正极性输入端子，从DAC电路8-1输入灰度0的测试用输出信号。此外，对运算放大器1-1的负极性输入端子，从参照用DAC电路8-A输入灰度1的参照输出信号。如果与运算放大器1-1的2个输入端子连接的DAC电路8-1是正常的话，由于灰度m的电压值比灰度m+1的电压值低，所以运算放大器1-1的输出变为“L”电平。

接着，判定电路3-1判定来自运算放大器1-1的输出信号的电平、与自身存储的期待值是否一致（S5）。在这里，在来自运算放大器1-1的输出与期待值不同的情况下，判定电路3-1对判定标记4-1输入“H”电平的信号，判定标记4-1输出“H”电平的信号Flag（S6）。

一个一个地增加计数器m的值，到计数器m的值变为t-1为止，反复进行以上的S4~S6的处理（S7、S8）。再有，“t”是驱动电路20能够输出的灰度数。

（实施方式1的工作确认测试2）

接着，参照图9在以下说明第1实施方式的、工作确认测试的第2个过程。图9是表示第1实施方式的工作确认测试的第2个过程的流程图。该工作确认测试2是使工作确认测试1中的、对正极性输入端子和负极性输入端子分别输入的测试用输出信号和参照输出信号的电压关系相反了的结构。

首先，未图示的控制电路将判定电路3-1的期待值设为“H”电平，将自身具备的计数器m初始化为0（S11）。

接着，控制电路对与运算放大器的正极性输入相连的DAC电路8-1输入灰度m+1的测试用灰度数据，并且对与运算放大器的负极性输入端子相连的参照用DAC电路8-A输入灰度m的测试用灰度数据（S12）。如果与运算放大器1的2个输入端子连接的DAC电路8-1是正常的话，由于灰度m+1的电压值比灰度m的电压值高，所以运算放大器1的输出变为“H”电平。

接着，判定电路3-1判定来自运算放大器1的输出信号的电平、与自身存储的期待值是否一致（S13）。在这里，在来自运算放大器1-1的输出与期待值不同的情况下，判定电路3-1对判定标记4-1输入“H”电平的信号，判定标记4-1输出“H”电平的信号Flag（S14）。

一个一个地增加计数器m的值，到计数器m的值变为t-1为止，反复进行以上的S12~S14的处理（S15、S16）。

（实施方式1的工作确认测试3）

接着，参照图10在以下说明第1实施方式的、工作确认测试的第3个过程。

在DAC电路8-1中，在有输出变为开放（open）的故障的情况下，运算放大器1对通过执行完成的确认测试而输入到运算放大器1-1的灰度电压持续保持，有在工作确认测试1和2中不能检测出故障的情况。工作确认测试1是检测出正极性输入端子的电压比负极性输入端子的电压低的情况的结构。可是，即使在从与正极性输入端子连接的DAC电路没有输出一部分的灰度的情况下，由于先前输出的电压通过寄生电容等被保持，所以正极性输入端子的电压变得比负极性输入端子的电压低。因此为了发现DAC电路的开放不良，暂时使DAC电路的输出为“H”电平，之后从DAC电路的输出使按照灰度数据的电压输出。

图10是表示第1实施方式的工作确认测试的第3个过程的流程图。

首先，与工作确认测试1~2同样，未图示的控制电路将自身具备的计数器m的值初始化为0（S21）。此外，驱动电路20在DAC电路8-1的正极性输入端子连接上拉/下拉电路5-1。控制电路将判定电路3-1的期待值设定为“L”电平。

在这里，以对运算放大器1-1的正极性输入端子的电位进行上拉的方式，控制电路对上拉/下拉电路5-1进行控制（S22）。

接着，使上拉/下拉电路5-1为非连接，控制电路对与运算放大器1-1的正极性输入相连的DAC电路8-1输入灰度m的测试用灰度数据，并且对与运算放大器1-1的负极性输入端子相连的参照用DAC电路8-A输入灰度m+1的测试用灰度数据（S23）。

如果与正极性输入端子连接的DAC电路8-1正常的话，输出灰度m的电压，但在开放不良的情况下，保持通过上拉/下拉电路5-1赋予的电压。因为被上拉的电压是比灰度m+1高的电压，所以运算放大器1-1的输出变为“H”电平。此外，如果与运算放大器1-1的2个输入端子连接的DAC电路8-1是正常的话，由于灰度m的电压值比灰度m+1的电压值低，所以运算放大器1-1的输出变为“L”。

接着，判定电路3-1判定来自运算放大器1-1的输出信号的电平、与自身存储的期待值是否一致（S24）。在这里，在来自运算放大器1-1的输出与期待值不同的情况下，判定电路3-1对判定标记4-1输入“H”电平的信号，判定标记4-1输出“H”电平的信号Flag（S25）。一个一个地增加计数器m的值，到计数器m的值变为t-1为止，反复进行以上的S22~S25的处理（S26、S27）。

（实施方式1的工作确认测试4）

接着，参照图11在以下说明第1实施方式的、工作确认测试的第4个过程。图11是表示第1实施方式的工作确认测试的第4个过程的流程图。

在这里，目的在于检测出与上述的工作确认测试3同样的故障。首先，与工作确认测试3同样，未图示的控制电路将自身具备的计数器m的值初始化为0（S31）。此外，驱动电路20在DAC电路8-1的正极性输入端子连接上拉/下拉电路5-1。控制电路将判定电路3-1的期待值设定为“H”电平。

在这里，以对运算放大器1-1的正极性输入端子的电位进行下拉的方式，控制电路对上拉/下拉电路5-1进行控制（S33）。

接着，使上拉/下拉电路5-1为非连接，控制电路对与运算放大器1-1的正极性输入相连的DAC电路8-1输入灰度m+1的测试用灰度数据，并且对与运算放大器1-1的负极性输入端子相连的DAC电路输入灰度m的测试用灰度数据（S33）。

如果与正极性输入端子连接的DAC电路8-1正常的话，输出灰度m+1的电压，但在开放不良的情况下，保持通过上拉/下拉电路5-1赋予的电压。因为被上拉的电压是比灰度m低的电压，所以运算放大器1-1的输出变为“L”电平。此外，如果与运算放大器1-1的2个输入端子连接的DAC电路8是正常的话，由于灰度m+1的电压值比灰度m的电压值高，所以运算放大器1的输出变为“H”电平。

接着，判定电路3-1判定来自运算放大器1-1的输出信号的电平、与自身存储的期待值是否一致（S34）。在这里，在来自运算放大器1-1的输出与期待值不同的情况下，判定电路3-1对判定标记4-1输入“H”电平的信号，判定标记4-1输出“H”电平的信号Flag（S35）。一个一个地增加计数器m的值，到计数器m的值变为t-1为止，反复进行以上的S32~S35的处理（S36、S37）。

（实施方式1的工作确认测试5）

接着，参照图12在以下说明第1实施方式的、工作确认测试的第5个过程。图12是表示第1实施方式的工作确认测试的第5个过程的流程图。

在DAC电路中，存在自身邻接的2个灰度变为短路（short）的故障。像这样，在邻接的2个灰度短路的情况下，DAC电路输出短路了的2个灰度的中间电压。在该故障的情况下，DAC电路输出的灰度电压与正常的情况相比，不会成为1个灰度以上的电压偏移，因此在工作确认测试1~4中，不能够检测出该故障。因此，工作确认测试5的目的在于，检测这样的DAC电路中的邻接的2个灰度短路了的故障。

首先，未图示的控制电路将自身具备的计数器m的值初始化为0（S41）。接着，将对与运算放大器1-1的正极性输入和负极性输入相连的DAC电路8-1和参照用DAC电路8-A分别输入的测试用灰度数据和参照用灰度数据的灰度设为m。即，对DAC电路8-1和参照用DAC电路8-A输出相同灰度m的灰度电压（S142）。

接着，经由未图示的开关，控制电路使运算放大器1-1的正极性输入端子和负极性输入端子短路。通过使该运算放大器1-1的正极性输入端子和负极性输入端子短路。对运算放大器1-1的正极性输入端子和负极性输入端子输入相同的电压，因此通过运算放大器1-1具有的偏置（offset），运算放大器1-1的输出变为“H”电平或“L”电平。接着，判定电路3-1将运算放大器1-1的正极性输入端子和负极性输入端子短路了的情况下的运算放大器1-1的输出的电平作为期待值进行存储（S43）。

接着，使未图示的开关OFF，解除运算放大器1-1的正极性输入端子和负极性输入端子的短路。接着，对运算放大器1-1的正极性输入端子和负极性输入端子输入灰度m的灰度电压。在这里，判定电路3-1对自身存储的期待值、和来自运算放大器1-1的输出进行比较（S44）。

进而，在来自运算放大器1-1的输出、与判定电路3-1自身存储的期待值不同的情况下，判定标记4-1输出“H”电平的信号Flag（S45）。进而，判定标记4-1将由判定电路3-1输入的“H”标记储存在自身的内部。

接着，控制电路使用未图示的开关，对输入到运算放大器1-1的正极性输入端子的信号、和输入到负极性输入端子的信号进行调换（S46）。只要，进行与S44的处理相同的处理（S47）。此外，与S45同样地，在来自运算放大器1-1的输出、与判定电路3-1自身存储的期待值不同的情况下，判定标记4-1输出“H”电平的信号Flag（S48）。

一个一个地增加计数器m的值，到计数器m的值变为t为止，反复进行以上的S142~S148的处理（S49、S50）。

（实施方式1的自修复）

接着，针对判定标记4存储有“H”电平的信号Flag的情况下、换句话说在上述工作确认测试1~5中判定电路3判定为DAC电路8有故障时的自修复，参照图13在以下进行说明。图13是表示第1实施方式的自修复过程的流程图。

通过上述的工作确认测试1~5，第1列的输出电路的工作确认测试结束。在该工作确认测试1~5中，在从判定标记4-1输出“H”电平的信号Flag1的情况下，即转移到S6、S14、S25、S35、S45、S48的任一个步骤的情况下（在S51中为“是”），结束工作确认，保持从判定标记4-1输出“H”电平的信号Flag1的时刻的连接状态（S55）。由此，在判断为故障的DAC电路8-1和显示面板的连接切断的状态下，通过DAC电路8-1以外的DAC电路8、和运算放大器1-1以外的运算放大器1，进行通常的显示面板的驱动。

另一方面，在工作确认测试1~5中判定标记4没有输出“H”电平的信号Flag1的情况下（在S51为“否”），与上述工作确认测试1~5同样地进行下一列的输出电路（DAC电路8-2和运算放大器1-2）的工作确认测试（S53）。在该情况下，在从判定标记4-2输出“H”电平的信号Flag2的情况下（S54中为“是”），结束工作确认，保持从判定标记4-2输出“H”电平的信号Flag2的时刻的连接状态（S55）。

到最终段的输出电路（DAC电路8-n和运算放大器1-n）为止进行S53和S54，当一次也没有从判定标记4输出“H”电平的信号Flag，全部的输出电路的工作确认结束时（S55中为“是”），全部的测试信号test和反转测试信号testB分别变为“L”电平和“H”电平，转移到通常工作。

[实施方式2]

针对本发明的第2实施方式，参照图14和图15在以下进行说明。在本实施方式中，针对作为第1实施方式的显示装置90的变形例的显示装置190进行说明。

（显示装置190的结构）

参照图14，说明本实施方式的显示装置190的概略结构。图14是表示显示装置190的概略结构的框图。显示装置190具备显示面板80和驱动电路120。驱动电路120是在图2所示的驱动电路20中，将切换电路60和61分别置换为切换电路160和161的结构。

在图2所示的驱动电路20中，在工作确认测试时，通过以将来自外部的灰度数据对通常时输入的输出电路的下一列的输出电路进行输入，将输入到最后列的输出电路的灰度数据输入到预备输出电路块40的方式，切换电路60、61切换连接状态，从显示面板切断成为工作确认对象的输出电路。另一方面，图14所示的切换电路160、161将在通常工作时对工作确认对象的输出电路输入的输入数据向预备的输出电路输入，将在通常工作时连接于工作确认对象的输出电路的输出端子连接到预备的输出电路，由此从显示面板的驱动将工作确认对象的输出电路切断。

（驱动电路120的结构）

参照图15，针对本实施方式的驱动电路120的结构进行说明。图15是表示驱动电路120的概略结构的框图。

如同图所示，驱动电路20具备：n个采样电路6-1~6-n（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为采样电路6），通过灰度数据输入端子（未图示）经由数据总线输入与n个液晶驱动用信号输出端子OUT1~OUTn（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为输出端子OUT）的每一个对应的灰度数据；n个保持电路7-1~7-n（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为保持电路7）；将灰度数据变换为灰度电压信号的n个DAC电路8-1~8-n、预备的DAC电路8-B（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为DAC电路8）；将参照用灰度数据变换成参照输出信号的参照用DAC电路8-A；n个运算放大器1-1~1-n和预备的运算放大器1-B（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为运算放大器1），具有对于来自DAC电路8的灰度电压信号的缓冲电路的作用；n个判定电路3-1~3-n（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为判定电路3）；n个判定标记4-1~4-n（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为判定标记4）；n个上拉/下拉电路5-1~5-n（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为上拉/下拉电路5）。

进而，如同图所示，驱动电路20具备：多个开关2a，通过测试信号test（test1~testn）切换ON、OFF；以及多个开关2b，通过将测试信号test反转了的反转测试信号testB（testB1~testBn）切换ON、OFF。再有，开关2a、2b均在输入了“H”电平的信号的情况下变为ON，在输入了“L”电平的信号的情况下变为OFF。

再有，在图15中，DAC电路8和运算放大器1相当于图14所示的输出电路块30，参照用DAC电路8-A相当于图14所示的参照输出电路块41，预备的DAC电路8-B相当于图14所示的预备输出电路块40。此外，运算放大器1、判定电路3、以及判定标记4相当于图14所示的比较判定电路50，运算放大器1兼作输出电路块30的缓冲器、和比较判定电路50的比较器用。此外，在保持电路7和预备的DAC电路8-B之间设置的开关2a、在保持电路7-1~7-n和DAC电路8-1~8-n之间设置的开关2b、以及在DAC电路8-1~8-n和测试用数据总线之间设置的开关2a，相当于图14所示的切换电路161。此外，开关SWB相当于图14所示的切换电路160。再有，图14所示的驱动电路120经由输出端子OUT1~OUTn与图14所示的显示面板80连接，在图15中省略显示面板80的图示。

测试信号test和反转测试信号testB通过图4所示的测试信号生成电路51生成。即，本实施方式中的测试信号test和反转测试信号testB的波形与上述的第1实施方式中的测试信号test和反转测试信号testB的波形相同。再有，本实施方式中的测试信号test和反转测试信号testB通过图7所示的测试信号生成电路52生成也可。

（驱动电路120的通常工作）

在通常工作时，在图4所示的测试信号生成电路51中，由于移位寄存器被复位，所以测试信号test1~testn全部是“L”电平。

在图15中，为了对供给到数据总线的灰度数据进行采样，从未图示的指示器（pointer）用移位寄存器输入到采样电路6-1~6-n的栅极的采样信号STR1~STRn（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为采样信号STR）依次变为“H”电平。采样电路6以在栅极是“H”电平的期间中取入数据的闩锁电路构成，在采样信号为“H”电平的期间，采样电路6取入数据总线的数据，在栅极信号为“L”电平的情况下，保持在“H”电平的期间中取入的数据。

在采样电路6-1~6-n的数据取入结束后，对连接于保持电路7的信号LS线供给“H”电平的信号LS。信号LS对保持电路7的栅极供给，在栅极为“H”电平的期间，保持电路7取入与自身连接的采样电路6保持的数据。此外，保持电路7在信号LS变为“L”电平后，保持取入的数据。

这时，测试信号test1~testn全部是“L”电平，因此反转测试信号testB1~testBn全部是“H”电平。由此，来自保持电路7-1~7-n的灰度数据分别输入到DAC电路8-1~8-n。接着，DAC电路8-1~8-n将被保持电路7-1~7-n保持的输入灰度数据变换为灰度电压信号，作为灰度电压对运算放大器1-1~1-n的正极性输入端子输出。

在这里，运算放大器1-1~1-n的输出由于开关2b为ON，所以向自身的负极性输入端子负反馈。由此，运算放大器1-1~1-n作为电压跟随器而进行工作。像这样，运算放大器1-1~1-n对来自DAC电路8-1~8-n的灰度电压进行缓冲，输出到对应的各输出端子OUT1~OUTn。

（工作确认测试概要）

当工作确认测试开始时，测试信号test1变为“H”电平，反转测试信号testB1变为“L”电平。这时，通过在保持电路7-1的输出和预备的DAC电路8-B之间设置的开关2a为ON，保持电路7-1与预备的DAC电路8-B连接。其它的保持电路7-2~7-n和DAC电路8-2~8-n的连接与通常工作时相同。

此外，通过在输出端子OUT1和预备的运算放大器1-B之间设置的开关2a为ON，输出端子OUT1和预备的运算放大器1-B连接。其它的输出端子OUT2~n和运算放大器1-2~1-n的连接与通常工作时相同。

如上所述，因为反转测试信号testB1变为“L”电平，所以在DAC电路8-1和保持电路7-1之间、以及运算放大器1-1和输出端子OUT1之间设置的开关2b变为OFF。由此，DAC电路8-1和保持电路7-1的连接、以及运算放大器1-1和输出端子OUT1的连接分别切断，DAC电路8-1和运算放大器1-1与显示面板的驱动变得无关。

以下，运算放大器1-1和DAC电路8-1的工作确认测试的具体内容与第1实施方式中的工作确认测试1~5相同。即，由于测试信号test1是“H”，所以与运算放大器1-1的输入端子和输出端子连接的开关2a和开关2b分别变为“ON”“OFF”。由此，运算放大器1-1的负极性输入端子和输出端子的连接切断，在运算放大器1-1的负极性输入端子连接参照用DAC电路8-A。通过该连接，运算放大器1-1作为对DAC电路8-1的电压和参照用DAC电路8-A的电压进行比较的比较器而工作，运算放大器1-1的输出被输出到判定电路3-1。此外，由于运算放大器1-2~1-n和预备的运算放大器1-B作为通常工作的缓冲器而发挥功能，所以能够一边进行工作确认测试，一边进行显示面板的驱动。

当DAC电路8-1和运算放大器1-1的工作确认结束时，测试信号test2变为“H”电平，反转测试信号testB2变为“L”电平。这时，通过在保持电路7-2的输出和预备的DAC电路8-B之间设置的开关2a为ON，保持电路7-2与预备的DAC电路8-B连接。其它的保持电路7-1、7-3~7-n和DAC电路8-1、8-3~8-n的连接与通常工作时相同。

此外，通过在输出端子OUT2和预备的运算放大器1-B之间设置的开关2a为ON，输出端子OUT2和预备的运算放大器1-B连接。其它的输出端子OUT1、3~n和运算放大器1-1、1-3~1-n的连接与通常工作时相同。

如上所述，因为在测试信号test2为“H”电平的期间，反转测试信号testB2变为“L”电平，所以在DAC电路8-2和保持电路7-2之间、以及运算放大器1-2和输出端子OUT2之间设置的开关2b变为OFF。由此，DAC电路8-2和保持电路7-2的连接、以及运算放大器1-2和输出端子OUT2的连接分别切断，DAC电路8-2和运算放大器1-2与显示面板的驱动变得无关。

以下，运算放大器1-2和DAC电路8-2的工作确认测试的具体内容与第1实施方式中的工作确认测试1~5相同。此外，由于运算放大器1-1、1-3~1-n和预备的运算放大器1-B作为通常工作的缓冲器而发挥功能，所以能够一边进行工作确认测试，一边进行显示面板的驱动。

同样地，在测试信号test3~testn为“H”电平的期间，分别进行连接的变更，进行DAC电路8-3到DAC电路8-n的工作确认。在这里，在从判定标记4输出的信号Flag全部为“L”电平的情况下、以及在工作确认的途中任一个信号Flag变为“H”电平的情况下的具体的处理内容与第1实施方式中的相同。

[实施方式3]

针对本发明的第3实施方式，参照图16~图19在以下进行说明。在本实施方式中，针对作为第1实施方式的显示装置90的其它的变形例的显示装置290进行说明。

（显示装置290的结构）

首先，参照图16，说明本实施方式的显示装置290的概略结构。图16是表示显示装置290的概略结构的框图。显示装置290具备显示面板80和驱动电路220。驱动电路220是在图2所示的驱动电路20中，不设置参照输出电路块41，将切换电路60和61分别置换为切换电路260和261的结构。

在图2所示的驱动电路20中，在工作确认测试时，对来自输出电路块30的被选择的输出电路的输出信号、和来自参照输出电路块41的参照输出信号进行比较。另一方面，在图16所示的驱动电路220中，是通过对来自输出电路块30的被选择的2个输出电路的测试用输出信号进行比较，从而检测输出电路的不良的结构。

（驱动电路220的结构）

参照图17，针对本实施方式的驱动电路220的结构进行说明。在图3所示的驱动电路20中，是在工作确认测试时，切换保持电路7和DAC电路8之间的连接的结构，但在图17所示的驱动电路220中，是切换采样电路6和保持电路7之间的连接的结构。

如图17所示，驱动电路220具备：n个采样电路6-1~6-n（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为采样电路6），通过灰度数据输入端子（未图示）经由数据总线输入与n个液晶驱动用信号输出端子OUT1~OUTn（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为输出端子OUT）的每一个对应的灰度数据；n个保持电路7-1~7-n、和2个预备的保持电路7-C、7-D（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为保持电路7）；将灰度数据变换为灰度电压信号的n个DAC电路8-1~8-n、和2个预备的DAC电路8-C、8-D（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为DAC电路8）；n个运算放大器1-1~1-n和预备的运算放大器1-C、1-D（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为运算放大器1），具有对于来自DAC电路8的灰度电压信号的缓冲电路的作用；n个判定电路3-1~3-n和2个预备的判定电路3-C、3-D（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为判定电路3）；n个判定标记4-1~4-n和2个预备的判定标记4-C、4-D（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为判定标记4）；n个上拉/下拉电路5-1~5-n和2个预备的上拉/下拉电路5-C、5-D（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为上拉/下拉电路5）。

进而，如同图所示，驱动电路220具备：多个开关2a，通过测试信号test（test0~test（n/2））切换ON、OFF；多个开关2b，通过将测试信号test反转了的反转测试信号testB（testB0~testB（n/2））切换ON、OFF；n个开关SWA1~SWAn（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为开关SWA），通过栅极信号 T1~T（n/2-1）变更连接目的地；n个开关SWB1~SWBn（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为开关SWB），通过栅极信号T1~T(n/2)变更连接目的地。开关2a、2b均在输入了“H”电平的信号的情况下变为ON，在输入了“L”电平的信号的情况下变为OFF。

此外，开关SWA/SWB分别具备：端子0、端子1以及端子2，是具有将端子0和端子1连接的状态、以及将端子0和端子2连接的状态的2个连接状态的开关电路。具体地，开关SWAh（h=1~n-2）的端子0经由开关2b与保持电路7-（h+2）连接，开关SWAh（h=1~n-2）的端子1和2分别与采样电路6-（h+2）、和采样电路6-i连接。此外，开关SWA（n-1）的端子0经由开关2b与预备的保持电路7-C连接，开关SWA（n-1）的端子1和2分别与数据总线、和采样电路6-（n-1）连接。此外，开关SWAn的端子0经由开关2b与预备的保持电路7-D连接，开关SWAn的端子1和2分别与数据总线、和采样电路6-n连接。

另一方面，开关SWBh（h=1~n-2）的端子0、1和2分别与输出端子OUTh、运算放大器1-h的输出端子、以及运算放大器1-（h+2）的输出端子连接。此外，开关SWB（n-1）的端子0、1和2分别与输出端子OUT（n-1）、运算放大器1-（n-1）的输出端子、以及预备的运算放大器1-C的输出端子连接。此外，开关SWBn的端子0、1和2分别与输出端子OUTn、运算放大器1-n的输出端子、以及预备的运算放大器1-D的输出端子连接。

开关SWA/SWB的连接状态基于栅极信号的值而切换。具体地，在栅极信号为“H”时，连接（导通）端子0和端子2，在栅极信号为“L”时，连接（导通）端子0和端子1。栅极信号T1~Tn以下述的数式2表示的逻辑式表示。

[数式2]

再有，在图17中，DAC电路8和运算放大器1相当于图16所示的输出电路块30，预备的DAC电路8-C、8-D相当于图16所示的预备输出电路块40。此外，运算放大器1、判定电路3、以及判定标记4相当于图14所示的比较判定电路50，运算放大器1兼作输出电路块30的缓冲器、和比较判定电路50的比较器用。此外，在保持电路7和预备的DAC电路8-D之间设置的开关2a、与保持电路7连接的开关2a、2b、以及开关SWA相当于图16所示的切换电路261。此外，开关SWB相当于图16所示的切换电路260。再有，图16所示的驱动电路220经由输出端子OUT1~OUTn与图16所示的显示面板80连接，在图17中省略显示面板80的图示。

运算放大器1在通常工作时，使输出对负极性输入反馈，作为电压跟随器（Voltage follower）的缓冲器而发挥功能。另一方面，在工作确认时，以运算放大器1作为比较器而发挥功能的方式变更连接，将来自与自身串联连接的DAC电路8的输出向自身的正极性输入端子输入，并且将来自与该DAC电路8邻接的DAC电路8的输出向自身的负极性输入端子输入。

具体地，如图17所示，运算放大器1-1将来自DAC电路8-1的输出向自身的正极性输入端子输入，并且将来自DAC电路8-2的输出经由通过信号test1控制的开关2a向自身的负极性输入端子输入。同样地，运算放大器1-2将来自DAC电路8-2的输出向自身的正极性输入端子输入，并且将来自DAC电路8-1的输出经由通过信号test1控制的开关2a向自身的负极性输入端子输入。

（驱动电路220的通常工作）

图18是表示用于生成测试信号test和反转测试信号testB的测试信号生成电路53的图。测试信号生成电路53是在图4所示的测试信号生成电路51中，将移位寄存器301和NOR门NOR1分别置换为移位寄存器302和NOR门NOR2的结构。

移位寄存器302以（n/2）+1个的D型双稳态多谐振荡器DFF0~DFF(n/2)构成。此外，NOR门NOR2具有（n/2）个输入端子，对各输入端子输入从图17所示的判定标记4-1~4-n输出的信号Flag1~Flag（n/2）（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为信号Flag）。如后述那样，信号Flag仅在运算放大器1的工作异常被检测出时变为“H”电平，因此在通常工作时，信号Flag_HB是“H”电平。

在驱动电路20的通常工作时，复位信号RESET保持“H”电平，移位寄存器302成为复位状态。由此，测试信号test1~test（n/2）成为“L”电平，反转测试信号testB1~testB（n/2）成为“H”电平。这时，根据数式2，栅极信号T1~T（n/2）全部成为“L”电平。

在图17中，为了对供给到数据总线的灰度数据进行采样，从未图示的指示器（pointer）用移位寄存器输入到采样电路6-1~6-n的栅极的采样信号STR1~STRn（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为采样信号STR）依次变为“H”电平。采样电路6以在栅极是“H”电平的期间中取入数据的闩锁电路构成，在采样信号STR为“H”电平的期间，采样电路取入数据总线的灰度数据，在采样信号STR为“L”电平的情况下，保持在“H”电平的期间中取入的灰度数据。

如上所述，栅极信号T1~T（n/2）全部是“L”电平，因此在开关SWA连接端子0和端子1。因此，采样电路6-1~6-n分别连接于保持电路7-1~7-n。

在采样电路6-1~6-n的数据取入结束后，对经由开关2b连接于保持电路7-1~7-n的信号LS线供给“H”电平的信号LS。这时，因为反转测试信号testB全部是“H”电平，所以信号LS对保持电路7-1~7-n的栅极供给，在栅极为“H”电平的期间，保持电路7-1~7-n取入与自身连接的采样电路6-1~6-n保持的灰度数据。此外，保持电路7-1~7-n在信号LS变为“L”电平后，保持取入的灰度数据。

在驱动电路220中，在取入灰度数据的期间也需要进行显示。因此，如上述那样，保持电路7保持取入的灰度数据，根据保持的数据输出显示用驱动信号。此外，保持电路7在输出显示用驱动信号的期间，从数据总线进行数据的取入。

由此，DAC电路8-1~8-n将被保持电路7-1~7-n分别保持的灰度数据变换为灰度电压信号，作为灰度电压对运算放大器1-1~1-n的正极性输入端子输出。在这里，运算放大器1-1~1-n的输出由于开关2b为ON，所以向自身的负极性输入端子负反馈。由此，运算放大器1-1~1-n作为电压跟随器而进行工作。由此，运算放大器1-1~1-n对来自DAC电路8-1~8-n的灰度电压进行缓冲，输出到对应的各输出端子OUT1~OUTn。

（工作确认测试概要）

图19是表示驱动电路220中的工作确认测试时的复位信号RESET、信号TESTSP、信号TESTCK和测试信号test1~test（n/2）的波形的图。工作确认测试通过使信号TESTSP为“H”电平而开始。通过信号TESTCK的上升，双稳态多谐振荡器DFF0识别信号TESTSP是“H”电平。由此，移位寄存器302的各双稳态多谐振荡器DFF0~DFF（n/2）将与信号TESTCK的上升同步的脉冲信号作为测试信号test0~test（n/2）和反转测试信号testB0~testB（n/2）依次输出。

这时，在图17中，在测试信号test0为“H”电平时（即，反转测试信号testB0为“L”电平时），根据数式2，栅极信号T1~Tn全部变为“L”电平，在开关SWA1~SWAn和开关SWB1~SWBn中，端子0和端子1成为连接状态。即，测试信号test0为“H”电平的期间，是预备输出电路的工作确认测试期间。

这时，预备的保持电路7-A、7-B的输入端子与测试用数据总线连接。由此，对预备的保持电路7-C的栅极输入作为工作确认测试用的采样信号的信号TSTR1，对预备的保持电路7-D的栅极输入作为工作确认测试用的采样信号的信号TSTR2。这些信号TSTR1、TSTR2相当于图16所示的测试用灰度数据。

在这里，对测试用数据总线设置灰度数据，使信号TSTR1为“H”电平，由此使预备的保持电路7-A保持灰度数据。接着，对测试用数据总线设置不同的灰度数据，使信号TSTR2为“H”电平，由此能够使预备的保持电路7-B保持不同的灰度数据。通过使预备的保持电路7-A和7-B保持不同的灰度数据，来自预备的DAC电路8-C的测试用输出信号和来自预备的DAC电路8-D的测试用输出信号成为不同的电压。

由此，对预备的运算放大器1-C的正极性输入端子输入来自预备的DAC电路8-C的测试用输出信号，对预备的运算放大器1-C的负极性输入端子输入来自预备的DAC电路8-D的测试用输出信号。预备的运算放大器1-C进行比较器的工作，如果向正极性输入端子的输入比向负极性输入端子的输入电压值大的话，使输出为“H”，反之的话使输出为“L”。根据对预备的DAC电路8-C和DAC电路8-B输入的灰度数据预备的运算放大器1-C的输出电压是“H”电平还是“L”电平，能预先作为期待值而设定。

因此，通过预备的判定电路3-C对该期待值和预备的运算放大器1-C的输出进行判定，如果与期待值不同的话，向预备的判定标记4-C输入“H”电平的信号。在预备的运算放大器1-D和预备的判定电路3-D中，也进行来自预备的运算放大器1-D的输出和期待值的比较，预备的判定电路3-D对预备的判定标记4-D输入判定结果。在这里，因为来自预备的判定电路3-C的判定结果和来自预备的判定电路3-D的判定结果的逻辑和成为信号Flag0，所以如果预备的运算放大器1-D和预备的判定电路3-D的任一个的判定结果为“H”电平的话，信号Flag0成为“H”电平。

以上述方式进行预备的输出电路的工作确认。关于工作确认的具体的内容，有对DAC电路赋予灰度数据，还是对保持电路赋予灰度数据的差异，但与第1实施方式中的工作确认测试大致相同。

接着，在使测试信号test1为“H”电平，反转测试信号testB1为“L”电平时，根据数式2，栅极信号T1~T（n/2）全部变为“H”电平。由此，采样电路6-1与保持电路7-3连接，采样电路6-2与保持电路7-4连接，其它的采样电路6与保持电路7的连接也依次向前移位。即，采样电路6-h（h=1~n-2）与保持电路7-（h+2）连接，采样电路6-（n-1）与预备的保持电路7-C连接，最后列的采样电路6-n与预备的保持电路7-D的连接。

此外，输出端子OUT1与运算放大器1-3连接，输出端子OUT2与运算放大器1-4连接，其它的输出端子OUT与运算放大器1的连接也依次向前移位。即，输出端子OUTh（h=1~n-2）与运算放大器1-（h+2）连接，输出端子OUT（n-1）与预备的运算放大器1-A连接，最后列的输出端子OUTn与预备的运算放大器1-B连接。

如上所述，通过变更开关SWA/SWB的连接状态，采样电路6-1和保持电路7-1的连接、以及采样电路6-2和保持电路7-2的连接切断，运算放大器1-1和输出端子OUT1的连接以及运算放大器1-2和输出端子OUT2的连接切断。由此，保持电路7-1、DAC电路8-1、输出端子OUT1、保持电路7-2、DAC电路8-2、以及输出端子OUT2变得与显示面板的驱动无关。

由于测试信号test1是“H”电平，所以与运算放大器1-2、1-2的输入端子和输出端子连接的开关2a和开关2b分别变为“ON”“OFF”。运算放大器1-1的负极性输入端子和输出端子的连接切断，在运算放大器1-1的负极性输入端子连接DAC电路8-2。通过该连接，运算放大器1-1作为对来自DAC电路8-1的测试用输出信号和来自DAC电路8-2的测试用输出信号进行比较的比较器而工作，运算放大器1-1的输出被连接到判定电路3-1。

同样地，在运算放大器1-2的负极性输入端子连接DAC电路8-1。由此，运算放大器1-2作为对来自DAC电路8-2的测试用输出信号和来自DAC电路8-1的测试用输出信号进行比较的比较器而工作，运算放大器1-2的输出被连接到判定电路3-2。此外，在运算放大器1-1、1-2的正极性输入端子，除了DAC电路8-1、8-2之外，还分别连接上拉/下拉电路5-1、5-2。

向保持电路7-1、7-2的输入从采样电路6-1、6-2切换到测试用数据总线。由此，对保持电路7-1的栅极输入信号TSTR1，对保持电路7-2的栅极输入信号TSTR2。

在这里，对测试用数据总线设置灰度数据，使信号TSTR1为“H”电平，由此使保持电路7-1保持灰度数据。接着，对测试用数据总线设置不同的灰度数据，使信号TSTR2为“H”电平，由此能够使保持电路7-2保持不同的灰度数据。通过使保持电路7-1和保持电路7-2保持不同的灰度数据，从而DAC电路8-1和DAC电路8-2的灰度电压信号成为具有差的电压。来自DAC电路8-1的测试用输出信号和来自DAC电路8-2的测试用输出信号是不同的电压。

由此，对运算放大器1-1的正极性输入端子输入来自DAC电路8-1的测试用输出信号，对运算放大器1-1的负极性输入端子输入来自DAC电路8-2的测试用输出信号。运算放大器1-1进行比较器的工作，如果向正极性输入端子的输入比向负极性输入端子的输入电压值大的话，使输出为“H”，反之的话使输出为“L”。根据对DAC电路8-1和DAC电路8-2输入的灰度数据运算放大器1-1的输出电压是“H”电平还是“L”电平，能预先作为期待值而设定。

因此，通过判定电路3-1对该期待值和运算放大器1-1的输出进行判定，如果与期待值不同的话，向判定标记4-1输入“H”电平的信号。在运算放大器1-2和判定电路3-2中，也进行来自运算放大器1-2的输出和期待值的比较，判定电路3-2对判定标记4-2输入判定结果。在这里，因为来自判定电路3-1的判定结果和来自判定电路3-2的判定结果的逻辑和成为信号Flag1，所以如果运算放大器1-2和判定电路3-2的任一个的判定结果为“H”电平的话，信号Flag1成为“H”电平。

以上述方式进行第1列和第2段的输出电路的工作确认。测试信号test1是“H”电平的期间，通过开关SWA/SWB的连接状态的切换，采样电路6-1~6-n、和保持电路7-3~7-n/预备的保持电路7-C、7-D、和DAC电路8-3~8-n/预备的DAC电路8-C、8-D、和运算放大器1-3~1-n/预备的运算放大器1-C、1-D、和输出端子OUT1~OUTn分别连接。这时，运算放大器1-3~1-n和预备的运算放大器1-C、1-D作为对来自DAC电路8-3~8-n和预备的DAC电路8-C、8-D的灰度电压分别进行放大的缓冲器而发挥功能。因此，能够一边进行显示面板80的驱动，一边进行保持电路7-1、7-2、DAC电路8-1、8-2和运算放大器1-1、1-2的工作确认。

再有，在本实施方式中，连接状态的切换的定时是重要的。如在（驱动电路220的通常工作）中说明的那样，驱动电路220对显示面板80进行常时驱动，数据采样中也通过被保持电路7保持的数据，输出显示用驱动信号。在驱动电路220中，能够不切换保持电路7和DAC电路8的连接，保持电路7的数据仅能够以LS进行变更。在通过测试信号test进行连接状态的切换时，进行DAC电路8和输出端子OUT的连接的切换，但由于保持电路7的灰度数据不切换，所以产生显示不良。为了防止该不良，在通过测试信号test进行连接状态的切换时，需要输入信号LS，对保持电路7再输入采样电路6的数据。

作为具体的方法，考虑使对图18所示的AND门AND1输入的信号TESTCK作为与信号LS同步的信号。由此，移位寄存器302每当信号LS变为“H”电平时，测试信号test0~test（n/2）依次变为“H”电平，因此根据测试信号test的连接状态的切换与信号LS同步进行。

再有，即使在逻辑地同时变化的信号中，在实际的电路中，由于负载电容的差异，不会完全同时地变化。可是，因为保持电路7在信号LS的“H”电平期间取入灰度数据，所以以在信号LS为“H”电平的期间中，根据测试信号test的连接状态的切换和保持电路7的灰度数据的取入完成的方式进行电路设计即可。

接着，在测试信号test2变为“H”电平，反转测试信号testB2变为“L”电平时，根据数式2，栅极信号T1变为“L”电平，栅极信号T2~T（n/2）变为“H”电平。由于栅极信号T1是“L”电平，所以采样电路6-1和保持电路7-1的连接、以及采样电路6-2和保持电路7-2的连接与通常工作时相同。

另一方面，由于栅极信号T2~T（n/2）是“H”电平，所以采样电路6-3与保持电路7-5连接，采样电路6-4与保持电路7-6连接，其它的采样电路6与保持电路7的连接也依次向前移位。即，采样电路6-f（f=3~n-2）与保持电路7-（f+2）连接，采样电路6-（n-1）与预备的保持电路7-C连接，最后列的采样电路6-n与预备的保持电路7-D的连接。

此外，输出端子OUT1和运算放大器1-1的连接、以及输出端子OUT2和运算放大器1-2的连接与通常工作时相同。另一方面，输出端子OUT3与运算放大器1-5连接，输出端子OUT4与运算放大器1-6连接，其它的输出端子OUT与运算放大器1的连接也依次向前移位。即，输出端子OUTf（f=3~n-2）与运算放大器1-（f+2）连接，输出端子OUT（n-1）与预备的运算放大器1-A连接，最后列的输出端子OUTn与预备的运算放大器1-B连接。

如上所述，通过变更开关SWA/SWB的连接状态，采样电路6-3和保持电路7-3的连接、以及采样电路6-4和保持电路7-4的连接切断，运算放大器1-3和输出端子OUT3的连接以及运算放大器1-4和输出端子OUT4的连接切断。由此，保持电路7-3、DAC电路8-3、输出端子OUT3、保持电路7-4、DAC电路8-4、以及输出端子OUT4变得与显示面板80的驱动无关。

由于测试信号test2是“H”电平，所以与运算放大器1-3、1-4的输入端子和输出端子连接的开关2a和开关2b分别变为“ON”“OFF”。运算放大器1-3的负极性输入端子和输出端子的连接切断，在运算放大器1-3的负极性输入端子连接DAC电路8-4。通过该连接，运算放大器1-3作为对来自DAC电路8-3的测试用输出信号和来自DAC电路8-4的测试用输出信号进行比较的比较器而工作，运算放大器1-3的输出被连接到判定电路3-3。

同样地，在运算放大器1-4的负极性输入端子连接DAC电路8-3。由此，运算放大器1-4作为对来自DAC电路8-4的测试用输出信号和来自DAC电路8-3的测试用输出信号进行比较的比较器而工作，运算放大器1-4的输出被连接到判定电路3-4。此外，在运算放大器1-3、1-4的正极性输入端子，除了DAC电路8-3、8-4之外，还分别连接上拉/下拉电路5-3、5-4。

向保持电路7-3、7-4的输入从采样电路6-3、6-4切换到测试用数据总线。由此，对保持电路7-3的栅极输入信号TSTR1，对保持电路7-4的栅极输入信号TSTR2。

在这里，对测试用数据总线设置灰度数据，使信号TSTR1为“H”电平，由此使保持电路7-3保持灰度数据。接着，对测试用数据总线设置不同的灰度数据，使信号TSTR2为“H”电平，由此能够使保持电路7-4保持不同的灰度数据。通过使保持电路7-3和保持电路7-4保持不同的灰度数据，从而DAC电路8-3和DAC电路8-4的灰度电压信号成为具有差的电压。来自DAC电路8-3的测试用输出信号和来自DAC电路8-4的测试用输出信号是不同的电压。

由此，对运算放大器1-3的正极性输入端子输入来自DAC电路8-3的测试用输出信号，对运算放大器1-3的负极性输入端子输入来自DAC电路8-4的测试用输出信号。运算放大器1-3进行比较器的工作，如果向正极性输入端子的输入比向负极性输入端子的输入电压值大的话，使输出为“H”，反之的话使输出为“L”。根据对DAC电路8-3和DAC电路8-4输入的灰度数据运算放大器1-3的输出电压是“H”电平还是“L”电平，能预先作为期待值而设定。

因此，通过判定电路3-3对该期待值和运算放大器1-3的输出进行判定，如果与期待值不同的话，向判定标记4-3输入“H”电平的信号。在运算放大器1-4和判定电路3-4中，也进行来自运算放大器1-4的输出和期待值的比较，判定电路3-4对判定标记4-4输入判定结果。在这里，因为来自判定电路3-3的判定结果和来自判定电路3-4的判定结果的逻辑和成为信号Flag2，所以如果运算放大器1-4和判定电路3-4的任一个的判定结果为“H”电平的话，信号Flag2成为“H”电平。这时，图18所示的测试信号输出电路53的信号波形变为以下那样。

图20是表示复位信号RESET、信号TESTSP、信号TESTCK、测试信号test1~testn和信号Flag2的波形的图。在测试信号test2变为“H”电平之后，信号Flag2变为“H”电平时，图18所示的NOR门NOR1的输出信号FlagHB变为“L”电平。因此，如图20所示，使移位寄存器302工作的时钟TCK变为“L”，在该状态下被保持。由此，测试信号test2被保持为“H”电平的状态，反转测试信号testB2被保持为“L”的状态。由此，在信号Flag2变为“H”电平的时刻的连接状态下，持续显示面板的驱动。即，通过保持电路7-3、7-4以外的保持电路7、DAC电路8-3、8-4以外的DAC电路8和运算放大器1-3、1-4以外的运算放大器1进行通常的显示驱动。因此，不再使用被认为工作不良的第3段和第4段的输出电路，而通过其它的输出电路进行显示面板的驱动。

即，在测试信号test2是“H”电平的期间，通过开关SWA/SWB的连接状态的切换，采样电路6-1~6-n、和保持电路7-1、7-2、7-5~7-n/预备的保持电路7-C、7-D、和DAC电路8-1、8-2、8-5~8-n/预备的DAC电路8-C、8-D、和运算放大器1-1、1-2、1-5~1-n/预备的运算放大器1-C、1-D、和输出端子OUT1~OUTn分别连接。这时，运算放大器1-1、1-2、1-5~1-n和预备的运算放大器1-C、1-D作为对来自DAC电路8-3~8-n和预备的DAC电路8-C、8-D的灰度电压分别进行放大的缓冲器而发挥功能。因此，能够一边将从通常工作用的数据总线输入的灰度数据变换为灰度电压从输出端子OUT输出，进行显示面板80的驱动，一边进行保持电路7-3、7-4和DAC电路8-3、8-4的功能工作的确认。

以上述方式进行第3段和第4段的输出电路的工作确认和自修复。在测试信号test3~test（n/2）分别为“H”电平的期间中，也同样地进行连接状态的切换，结束全部的输出电路的工作确认。关于在从判定标记4输出的信号Flag全部为“L”电平的情况、在工作确认的途中任一个信号Flag变为“H”电平的情况，虽然电路结构少许相异，但处理内容与第1实施方式中的工作确认测试大致相同。

[实施方式4]

针对本发明的第4实施方式，参照图21和图22在以下进行说明。在本实施方式中，针对作为第1实施方式的显示装置90的再一个的变形例的显示装置390进行说明。

（显示装置390的结构）

首先，参照图21，说明本实施方式的显示装置390的概略结构。图21是表示显示装置390的概略结构的框图。显示装置390具备显示面板80和驱动电路320。驱动电路320是在图16所示的驱动电路220中，将切换电路260和261分别置换为切换电路360和361的结构。

在第3实施方式的驱动电路220中，构成为将在通常工作时对成为工作确认对象的输出电路输入的灰度数据对该输出电路相邻的输出电路输入，将在通常工作时对该相邻的输出电路输入的灰度数据对进一步相邻的输出电路输入，将灰度数据向输出电路的输入依次接转，将在通常工作时对最后列的输出电路输入的灰度数据向预备的输出电路输入。另一方面，在本实施方式的驱动电路320中，构成为将在通常工作时对成为工作确认对象的输出电路输入的灰度数据在工作确认时对预备的输出电路输入，由此将成为工作确认对象的输出电路从显示面板的驱动切断。

（驱动电路320的结构）

参照图22，针对本实施方式的驱动电路320的结构进行说明。图22是表示驱动电路320的概略结构的框图。

如同图所示，驱动电路320具备：n个采样电路6-1~6-n（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为采样电路6），通过灰度数据输入端子（未图示）经由数据总线输入与n个液晶驱动用信号输出端子OUT1~OUTn（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为输出端子OUT）的每一个对应的灰度数据；n个保持电路7-1~7-n、和2个预备的保持电路7-C、7-D（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为保持电路7）；将灰度数据变换为灰度电压信号的n个DAC电路8-1~8-n、和2个预备的DAC电路8-C、8-D（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为DAC电路8）；n个运算放大器1-1~1-n和预备的运算放大器1-C、1-D（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为运算放大器1），具有对于来自DAC电路8的灰度电压信号的缓冲电路的作用；n个判定电路3-1~3-n和2个预备的判定电路3-C、3-D（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为判定电路3）；n个判定标记4-1~4-n和2个预备的判定标记4-C、4-D（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为判定标记4）；n个上拉/下拉电路5-1~5-n和2个预备的上拉/下拉电路5-C、5-D（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为上拉/下拉电路5）。

进而，如同图所示，驱动电路320具备：多个开关2a，通过测试信号test（test0~test（n/2））切换ON、OFF；以及多个开关2b，通过将测试信号test反转了的反转测试信号testB（testB0~testB（n/2））切换ON、OFF。开关2a、2b均在输入了“H”电平的信号的情况下变为ON，在输入了“L”电平的信号的情况下变为OFF。再有，在本实施方式中，与第3实施方式同样，测试信号test和反转测试信号testB从图18所示的测试信号生成电路53输出。

（驱动电路320的通常工作）

通常工作时与第3实施方式的通常工作同样，测试信号test0~test（2/n）全部是“L”电平，因此反转测试信号testB0~testB（n/2）全部是“H”电平。因此，采样电路6-1~6-n分别连接于保持电路7-1~7-n，预备的保持电路7-C、7-D不与任何采样电路6连接。

在图22中，为了对供给到数据总线的灰度数据进行采样，从未图示的指示器（pointer）用移位寄存器输入到采样电路6-1~6-n的栅极的采样信号STR1~STRn（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为采样信号STR）依次变为“H”电平。采样电路6以在栅极是“H”电平的期间中取入数据的闩锁电路构成，在采样信号为“H”电平的期间，采样电路6取入数据总线的数据，在栅极信号为“L”电平的情况下，保持在“H”电平的期间中取入的数据。

在采样电路6-1~6-n的数据取入结束后，对经由开关2b连接于保持电路7-1~7-n的信号LS线供给“H”电平的信号LS。这时，因为反转测试信号testB全部是“H”电平，所以信号LS对保持电路7-1~7-n的栅极供给，在栅极为“H”电平的期间，保持电路7-1~7-n取入与自身连接的采样电路6-1~6-n保持的灰度数据。此外，保持电路7-1~7-n在信号LS变为“L”电平后，保持取入的灰度数据。

由此，DAC电路8-1~8-n将被保持电路7-1~7-n分别保持的灰度数据变换为灰度电压信号，作为灰度电压对运算放大器1-1~1-n的正极性输入端子输出。在这里，运算放大器1-1~1-n的输出由于开关2b为ON，所以向自身的负极性输入端子负反馈。由此，运算放大器1-1~1-n作为电压跟随器而进行工作。由此，运算放大器1-1~1-n对来自DAC电路8-1~8-n的灰度电压进行缓冲，输出到对应的各输出端子OUT1~OUTn。

（工作确认测试概要）

工作确认测试通过在图18所示的测试信号生成电路53中使信号TESTSP为“H”电平而开始。由此，如图19所示，测试信号test0~test（n/2）依次变为“H”电平。

在测试信号test0变为“H”电平时，反转测试信号testB0变为“L”电平。因此，在预备的输出电路中，预备的保持电路7-C、7-D的输入端子均与测试用数据总线连接。另一方面，在其它的输出电路中，保持电路7-1~7-n分别与采样电路6-1~6-n连接。因此，对显示面板80进行驱动的输出电路与通常工作时相同。即，与第3实施方式同样，测试信号test0为“H”电平的期间是预备的输出电路的工作确认测试期间，预备的输出电路的工作确认的具体内容与第3实施方式的内容相同。

接着，在使测试信号test1为“H”电平，使反转测试信号testB1为“L”电平时，采样电路6-1与预备的保持电路7-C连接，采样电路6-2与预备的保持电路7-D连接。另一方面，输出端子OUT1与预备的运算放大器1-C连接，输出电路OUT2与预备的运算放大器1-D连接。

在这里，在本实施方式中，即使测试信号test1变为“H”电平，其它的输出电路的连接状态也不被变更。即，在测试信号test1为“H”电平的期间中，采样电路6-3~6-n和保持电路7-3~7-n的连接、以及输出端子OUT3~OUTn和运算放大器1-3~1-n的连接状态，与测试信号test0为“H”电平的期间中的连接状态相同。

如上所述，通过变更开关2a、2b的连接状态，采样电路6-1和保持电路7-1的连接、以及采样电路6-2和保持电路7-2的连接切断，运算放大器1-1和输出端子OUT1的连接以及运算放大器1-2和输出端子OUT2的连接切断。由此，保持电路7-1、DAC电路8-1、输出端子OUT1、保持电路7-2、DAC电路8-2、以及输出端子OUT2变得与显示面板的驱动无关，进行第1列和第2段的输出电路的工作确认。再有，该工作确认的具体内容与第3实施方式中的内容相同。

这时，采样电路6-3~6-n、和保持电路7-3~7-n/预备的保持电路7-C、7-D、和DAC电路8-3~8-n/预备的DAC电路8-C、8-D、和运算放大器1-3~1-n/预备的运算放大器1-C、1-D、和输出端子OUT1~OUTn分别连接。此外，这时，运算放大器1-3~1-n和预备的运算放大器1-C、1-D作为对来自DAC电路8-3~8-n和预备的DAC电路8-C、8-D的灰度电压分别进行放大的缓冲器而发挥功能。因此，能够一边进行显示面板80的驱动，一边进行保持电路7-1、7-2、DAC电路8-1、8-2和运算放大器1-1、1-2的工作确认。

再有，在图22所示的驱动电路320中，也与图17所示的驱动电路220同样地，灰度数据输入的切换在采样电路6和保持电路7之间进行。因此，如在第3实施方式中说明的那样，测试信号test和信号LS需要是相互同步的信号。

接着，在使测试信号test2为“H”电平，使反转测试信号testB2为“L”电平时，采样电路6-3与预备的保持电路7-C连接，采样电路6-4与预备的保持电路7-D连接。此外，输出端子OUT3与预备的运算放大器1-C连接，输出电路OUT4与预备的运算放大器1-D连接。

像这样，通过变更开关2a、2b的连接状态，保持电路7-3、7-4和采样电路6-3、6-4的连接切断，输出端子OUT3、OUT4和运算放大器1-3、1-4的连接切断。因此，保持电路7-3、7-4、DAC电路8-3、8-4和运算放大器1-3、1-4变得与显示面板80的驱动无关。

由此，第3段和第4段的输出电路的工作确认和自修复与第3实施方式的同样地进行。在测试信号test3~test（n/2）分别为“H”电平的期间中，也同样地进行连接状态的切换，结束全部的输出电路的工作确认。关于在从判定标记4输出的信号Flag全部为“L”电平的情况、在工作确认的途中任一个信号Flag变为“H”电平的情况，虽然电路结构少许相异，但处理内容与第1实施方式中的工作确认测试大致相同。

[实施方式5]

针对本发明的第5实施方式，参照图23~图27在以下进行说明。在本实施方式中，针对作为第1实施方式的显示装置90的再一个的变形例的显示装置490进行说明。

（显示装置190的结构）

参照图23，说明本实施方式的显示装置490的概略结构。图23是表示显示装置490的概略结构的框图。显示装置490具备显示面板80和驱动电路420。驱动电路420是在图2所示的驱动电路20中，将切换电路61置换为切换电路461的结构。

在上述第1~第4实施方式的驱动电路20、120、220、320中，工作确认测试时的测试用灰度数据、参照用灰度数据经由测试用的专用总线对输出电路块供给。另一方面，本实施方式中的驱动电路420是将测试用灰度数据和参照用灰度数据经由用于在通常工作时供给灰度数据的数据总线对输出电路块供给的结构。

（驱动电路420的结构）

参照图24，针对本实施方式的驱动电路420的结构进行说明。图24是表示驱动电路420的概略结构的框图。

如同图所示，驱动电路420具备：n个采样电路6-1~6-n（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为采样电路6），通过灰度数据输入端子（未图示）经由数据总线输入与n个液晶驱动用信号输出端子OUT1~OUTn（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为输出端子OUT）的每一个对应的灰度数据；参照用采样电路6-A和预备的采样电路6-B；n个保持电路7-1~7-n（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为保持电路7）；参照用保持电路7-A和预备的保持电路7-B；将灰度数据变换为灰度电压信号的n个DAC电路8-1~8-n（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为DAC电路8）；参照用DAC电路8-A和预备的DAC电路8-B；n个运算放大器1-1~1-n和预备的运算放大器1-B（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为运算放大器1），具有对于来自DAC电路8的灰度电压信号的缓冲电路的作用；n个判定电路3-1~3-n（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为判定电路3）；n个判定标记4-1~4-n（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为判定标记4）；n个上拉/下拉电路5-1~5-n（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为上拉/下拉电路5）。

进而，如同图所示，驱动电路420具备：多个开关2a，通过测试信号test（test1~testn）或测试信号testA（testA1~testAn）切换ON、OFF；多个开关2b，通过将测试信号test反转了的反转测试信号testB（testB1~testBn）切换ON、OFF；n个开关SWA1~SWAn（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为开关SWA），通过栅极信号 TA1~TAn变更连接目的地；n个开关SWB1~SWBn（以下，在本实施方式中进行总称的情况下，称为开关SWB），通过栅极信号TB1~TBn变更连接目的地。

开关2a、2b均在输入了“H”电平的信号的情况下变为ON，在输入了“L”电平的信号的情况下变为OFF。

此外，开关SWA/SWB分别具备：端子0、端子1以及端子2，是具有将端子0和端子1连接的状态、以及将端子0和端子2连接的状态的2个连接状态的开关电路。具体地，开关SWAk（k=1~n）的端子0分别与供给采样信号STR1~STRn的数据总线连接，开关SWAk的端子1与采样电路6-k连接。此外，开关SWAi（i=1~n-1）的端子2分别与采样电路6-（i+1）连接，开关SWAn的端子2与预备的采样电路6-B连接。另一方面，开关SWBk（k=1~n）的端子0和1分别与输出端子OUTk以及运算放大器1-k的输出端子连接。此外，开关SWBi（i=1~n-1）的端子2分别与运算放大器1-（i+1）的输出端子连接，开关SWBn的端子2与预备的运算放大器1-B的输出端子连接。

此外，开关SWA1~SWAn的端子1和采样电路6-1~6-n之间的各连接点，经由开关2a连接于对作为工作确认测试用的采样信号的信号TSTR2进行供给的数据总线。

开关SWA/SWB的连接状态基于栅极信号的值而切换。具体地，在栅极信号为“H”时，连接（导通）端子0和端子2，在栅极信号为“L”时，连接（导通）端子0和端子1。栅极信号TA1~TAn以下述的数式3表示的逻辑式表示，栅极信号TB1~TBn以下述的数式4表示的逻辑式表示。

[数式3]

[数式4]

（通常工作时的灰度数据的采样）

图25是表示驱动电路420的工作确认测试时的、采样信号STR1~STR3、来自采样电路6-1~6-3的输出、信号LS、来自保持电路7-1~7-3的输出、以及来自输出端子OUT的输出的波形的图。采样信号STR1~STR3是通过未图示的指示器用移位寄存器制作的脉冲信号，分别输入到采样电路6-1~6-3的栅极，控制采样电路6-1~6-3的工作。在图25中，采样信号仅表示到采样信号STR3，但在驱动电路420中，采样信号STR1~STRn分别输入到采样电路6-1~6-n的栅极。再有，对参照用采样电路6-A的栅极输入作为工作确认测试用的采样信号的信号TSTR1。

在采样信号STR1为“H”电平的期间，采样电路6-1对来自数据总线的灰度数据A进行采样，输出到保持电路7-1。在采样信号STR1变为“L”电平后，采样电路6-1对采样信号STR1变为“L”电平稍前的灰度数据（图25的灰度数据A）进行保持。同样地，采样信号STR2决定在采样电路6-2中保持的灰度数据，采样信号STR3决定在采样电路6-3中保持的灰度数据。

当采样电路6-1~6-n的对来自数据总线的数据保持结束时，使信号LS为“H”电平。信号LS输入到保持电路7的栅极，控制保持电路7的工作。在信号LS为“H”电平的期间，保持电路7取入来自分别连接的采样电路6的灰度数据并保持。保持电路7在信号LS变为“L”电平后也保持取入的灰度数据，因此能够从输出端子OUT持续输出基于保持电路7保持的灰度数据的灰度电压。再有，从上述的工作可知，在LS为“H”的期间以外，通常对数据总线供给显示用数据。

（工作确认时的灰度数据的采样）

在工作确认测试中，对数据总线除了供给通常显示用的灰度数据之外，还供给参照用灰度数据和测试用灰度数据。针对供给通常显示用的灰度数据、参照用灰度数据和测试用灰度数据的定时，基于图26和图27进行说明。

图26是表示信号LS、信号TCLK1、TCLK2、栅极信号TA1~TA3、TB1~TB3、测试信号test1~test3、以及测试信号testA1~testA3的波形的图。

同图所示的信号TCLK1、TCLK2是每当对信号LS进行规定次数的计数时变为“H”电平的信号。测试信号test1~testn每当信号TCLK2上升时依次变为“H”电平。这样的test1~testn能够通过与图4所示的移位寄存器301同样的电路而生成。

在这里，针对采样电路6-1、保持电路7-1、DAC电路8-1和运算放大器1-1的故障检测，基于图27进行说明。

图27是表示图26所示的信号TCLK1、TCLK2交替地变为“H”电平的期间前后的、信号LS、信号TCLK1、TCLK2、栅极信号TA1、测试信号testA1、栅极信号TB1、测试信号test1、信号TSTR1、TSTR2的波形的图。到信号LS最初上升的定时Tim1为止，这些信号全部是“L”电平，对数据总线供给通常驱动用的灰度数据。

（定时Tim1）

在信号LS最初上升的定时Tim1，图24所示的驱动电路420以下述的（1）~（4）那样进行工作。

（1）信号LS变为“H”电平，在采样电路6保持的灰度数据被传输到保持电路7。

（2）测试信号testA1变为“H”电平，通过数式3，栅极信号TA1~TAn从“L”电平切换到“H”电平。由此，在开关SWA1~SWAn中，端子0和端子2被连接，采样信号STRi（i=1~n-1）被输入到采样电路6-（i+1），采样信号STRn被输入到预备的采样电路6-B。

（3）对数据总线代替通常驱动用的灰度数据，供给自检测中使用的参照用灰度数据。

（4）通过使输入到参照用采样电路6-A的栅极的信号TSTR1为“H”电平，参照用采样电路6-A从数据总线取入参照用灰度数据。因为输入到参照用保持电路7-A的信号LS是“H”电平，所以同时参照用灰度数据从参照用采样电路6-A输入到参照用保持电路7-A，参照用保持电路7-A保持参照用灰度数据。

（定时Tim2）

接着，在信号LS下降的定时Tim2中，因为保持电路7和DAC电路8的连接不被变更，所以被保持电路7-1保持的灰度数据通过DAC电路8-1被变换为灰度电压，从输出端子OUT1输出。也就是说，从输出端子OUT1输出的灰度电压与在保持定时Tim1前的采样电路6-1和输出端子OUT1的连接关系的状态下从输出端子OUT1输出的灰度电压相同。同样地，来自输出端子OUT2~OUTn的灰度电压，与在保持定时Tim1前的采样电路6-2~6-n和输出端子OUT2~n的连接关系的状态下从输出端子OUT2~n输出的灰度电压分别相同。

（定时Tim3）

接着，在信号LS上升的定时Tim3，驱动电路420以下述的（1）~（6）的方式进行工作。

（1）信号LS变为“H”电平，在采样电路6保持的灰度数据被传输到保持电路7。

（2）测试信号test1变为“H”电平，通过数式4，栅极信号TB1~TBn从“L”电平切换到“H”电平。由此，在开关SWB1~SWBn中，端子0和端子2被连接，输出端子OUTi（i=1~n-1）被输入到运算放大器1-（i+1），输出端子OUTn被输入到预备的运算放大器1-B。由此，采样电路6-1、保持电路7-1、DAC电路8-1和运算放大器1-1变得与显示面板80的驱动无关。

（3）对数据总线代替通常驱动用的灰度数据，供给自检测中使用的测试用灰度数据。

（4）由于信号TSTR2变为“H”电平，测试信号testA1是“H”电平，所以信号TSTR2被输入到采样电路6-1的栅极。由此，采样电路6-1从数据总线取入测试用灰度数据。此外，因为输入到保持电路7-1的信号LS是“H”电平，所以同时测试用灰度数据从采样电路6-1输入到保持电路7-1，保持电路7-1保持测试用灰度数据。

（5）因为测试信号test1是“H”电平，反转测试信号testB1是“L”电平，所以运算放大器1-1作为比较器而发挥功能。在这里，由此，从DAC电路8-1对运算放大器1-1的正极性输入端子输入测试用输出信号，从参照用DAC电路8-A对运算放大器1-1的负极性输入端子输入参照输出信号。

（6）来自运算放大器1-1的输出被输入到判定电路3-1，在判定电路3-1中，对自身存储的期待值、和来自运算放大器1-1的输出进行比较。该期待值能够基于参照用灰度数据和测试用灰度数据而设定。由此，检测第1列的输出电路的故障。

在从定时Tim3到接下来信号LS下降的定时Tim4的期间，采样电路6-1、保持电路7-1、DAC电路8-1和运算放大器1-1与显示面板80的驱动无关，因此能够一边进行显示面板80的驱动，一边进行第1列的输出电路的功能工作的确认。

（定时Tim4）

对数据总线代替测试用灰度数据，供给通常驱动用的灰度数据。再有，驱动电路420在定时Tim3的连接状态下，继续向显示面板的灰度电压的输出。

（定时Tim5）

进而接下来在信号LS上升的定时Tim5，代替通常驱动用的灰度数据，对数据总线供给参照用灰度数据。此外，输入到参照用采样电路6-A的栅极的信号TSTR1再次变为“H”电平，在参照用采样电路6-A、参照用保持电路7-A中保持参照用灰度数据。

（定时Tim6）

在定时Tim5的接下来信号LS下降的定时Tim6，对数据总线代替参照用灰度数据，供给通常驱动用的灰度数据。驱动电路420在定时Tim3的连接状态下，继续向显示面板的灰度电压的输出。

（定时Tim7）

在定时Tim6的接下来信号LS上升的定时Tim7，对数据总线代替通常驱动用的灰度数据，供给测试用灰度数据。同时，使信号TSTR2为“H”电平，使采样电路6-1和保持电路7-1保持测试用灰度数据。由此，与定时Tim3同样地，成为在参照用保持电路7-A中保持参照用灰度数据，在保持电路7-1中保持测试用灰度数据的状态。运算放大器1-1作为比较器而发挥功能，与定时Tim3同样地，进行第1列的输出电路的故障的检测。

在这里，通过使在定时Tim5、Tim7供给到数据总线的参照用灰度数据和测试用灰度数据，与在定时Tim1、Tim3供给到数据总线的参照用灰度数据和测试用灰度数据分别不同，从而能够通过不同的参照用灰度数据和测试用灰度数据进行多次第1列的输出电路的故障的检测。能够变更参照用灰度数据和测试用灰度数据的次数根据在信号TCLK1、TCLK2的周期中包含的信号LS的次数来决定。因此，只要适宜地变更生成信号TCLK1、TCLK2和信号LS的电路，决定上述次数即可。

如图26所示，因为在信号TCLK1的第2次的上升中测试信号testA2上升，所以供给采样信号STR的数据总线和采样电路6的连接被变更，成为工作确认对象的输出电路被变更。像这样，通过依次变更成为工作确认对象的输出电路，与参照输出电路进行比较，从而能够进行全部输出电路的故障的检测。

再有，在图24表示的驱动电路420中，与参照用DAC电路8-A连接的参照用采样电路6-A与其它的采样电路6连接于共同的数据总线，但也能够将参照用采样电路6-A连接的专用数据总线与上述共同的数据总线独立地设置。

相对于此，在针对成为工作确认对象的采样电路6-1~6-n、保持电路7-1~7-n和DAC电路8-1~8-n，专用地设置数据总线的情况下，芯片的占有面积变多，共同化的情况下，芯片面积有利。

可是，在将参照用采样电路6-A连接的专用数据总线与上述共同的数据总线独立地设置的情况下，因为搭载驱动电路420的芯片的占有面积变大，所以通过使参照用采样电路6-A连接的数据总线、和采样电路6-1~6-n连接的数据总线共同化，能够减小芯片的占有面积。可是，参照用DAC电路8-A不在显示面板80的驱动中使用，此外 ，参照用DAC电路8-A对驱动电路420只设置1个，因此即使专用地设置参照用采样电路6-A连接的数据总线，芯片的占有面积也不变得过大。因此，并不一定需要使参照用采样电路6-A连接的数据总线与采样电路6-1~6-n连接的数据总线共同化。

此外，通过专用地设置参照用采样电路6-A连接的数据总线，从而不需要图27表示的定时Tim5中的参照用灰度数据的供给。由此，在定时Tim5中，通过对与在定时3中供给的测试用灰度数据不同的测试用灰度数据进行供给，从而能够进行多次输出电路的故障检测，因此能够缩短工作确认测试的时间。

[实施方式的总结]

在上述的实施方式1和2中，设置通常的输出电路、预备的输出电路、以及参照用输出电路，同时进行各输出电路的比较和显示面板的驱动，驱动显示面板的输出电路的切换通过对DAC电路和保持电路的连接、和运算放大器与输出端子的连接进行切换而进行。此外，在上述的实施方式3和4中，设置通常的输出电路和预备的输出电路，同时进行各输出电路的比较和显示面板的驱动，驱动显示面板的输出电路的切换通过对采样电路和保持电路的连接、和运算放大器与输出端子的连接进行切换而进行。此外，在实施方式5中，设置通常的输出电路、预备的输出电路、以及参照用输出电路，同时进行各输出电路的比较和显示面板的驱动，驱动显示面板的输出电路的切换通过对数据总线和采样电路的连接、和切换、以及运算放大器与输出端子的连接进行切换而进行。

但是，驱动显示面板的输出电路的切换不限于上述的实施方式1~5。例如，设置通常的输出电路、预备的输出电路、和参照用输出电路，同时进行各输出电路的比较和显示面板的驱动，驱动显示面板的输出电路的切换通过对采样电路和保持电路的连接、以及运算放大器与输出端子的连接进行切换而进行也可。此外，设置通常的输出电路和预备的输出电路，同时进行各输出电路的比较和显示面板的驱动，驱动显示面板的输出电路的切换通过对保持电路和采样电路的连接、以及运算放大器与输出端子的连接进行切换而进行也可。像这样，对驱动显示面板的输出电路进行切换的方法，能够在可同时进行各输出电路的比较和显示面板的驱动的范围中适宜地变更。

此外，在实施方式1、2和5中，是从通常的输出电路选择1个，对选择的输出电路和参照用输出电路进行比较的结构，但选择的输出电路的数量是2~n个也可。此外，在实施方式3和4中，是从通常的输出电路选择2个，对选择的输出电路彼此进行比较的结构，但选择的输出电路的数量是4~n个的偶数也可。在任何情况下，通过将预备的输出电路设置为与选择的输出电路的数量是同等以上，将向输出端子的连接从选择的输出电路向预备的输出电路进行切换，从而能够不使显示不良产生而进行工作确认。

再有，在实施方式1、2和5中，在选择的输出电路的数量是2个以上的情况下，参照用输出电路是2个以上也可，仅是1个也可。在选择的输出电路的数量是2个以上，参照用输出电路是1个的情况下，一个一个地切换选择的输出电路，与参照用输出电路进行比较也可，将参照用输出电路与多个比较单元连接，同时进行比较也可。

此外，在上述的各实施方式中，是各输出电路输出灰度电压的结构，但并不局限于此，在液晶显示装置是STN方式的情况下，也可以采用各输出电路输出灰度电压以外的视频信号的结构。

本发明并不限于上述的格式是发生，在权利要求表示的范围中能够进行各种变更，关于将在不同的实施方式中公开的技术手段适宜组合而获得的实施方式也包含在本发明的技术范围中。

产业上的利用可能性

本发明提供一种显示装置，其具备输出电路的缺陷的检测和自修复的具体的单元，具备能够更容易地应对输出电路的故障的显示驱动用集成电路，特别是适于能够一边进行通常的显示面板的驱动，一边不使显示不良产生而进行自检测和自修复的液晶显示装置。此外，本发明不仅适用于液晶显示装置，也能够应用于其它的显示装置。

附图标记说明

1-1~1-n、1-A~1-D 运算放大器；

3-1~3-n、3-C、3-D 判定电路（判定单元）；

6-1~6-n、6-A、6-B 采样电路；

7-1~7-n、7-A~7-D 保持电路；

8-1~8-n、8-A~8-D DAC电路（数模转换器）；

10 源极驱动器（驱动电路）；

20、120、220、320、420 驱动电路；

30 输出电路块（第1输出电路）；

40 预备输出电路块（第2输出电路）；

41 参照输出电路块（第3输出电路）；

50 比较判定电路（比较单元、判定单元、自检测/自修复单元）；

60、160、260、360 切换电路（切换单元、自检测/自修复单元）；

61、161、261、361、461 切换电路（控制单元、自检测/自修复单元）；

80 显示面板；

90、190、290、390、490 显示装置；

SWA1~SWAn 开关（控制电路）；

SWB1~SWBn 开关（切换电路）；

TDATA 测试用数据总线（数据总线）。

Claims (9)

1.一种驱动电路，具有：对显示装置输出视频信号的n个输出端子；以及检测自身的不良，进行修复的单元，其中n是2以上的自然数，其特征在于，具备：

n个第1输出电路，将输入数据变换为视频信号，并且以能够切断的方式连接于所述输出端子；

u个以上的第2输出电路，将输入数据变换为视频信号，并且以能够切断的方式连接于所述输出端子，其中u是2以上n以下的偶数；

切换单元，从所述第1输出电路选择u个输出电路，切断与所述输出端子的连接，并且将所述第2输出电路的u个输出电路连接于所述输出端子；

比较单元，将选择的第1输出电路中的任意的2个作为第1选择输出电路和第2选择输出电路，对来自所述第1选择输出电路的视频信号和所述第2选择输出电路的视频信号进行比较；以及

判定单元，基于该比较单元的比较结果，判定选择的所述第1输出电路是否不良，

所述切换单元在选择了第v个到第v+u-1个的所述第1输出电路的情况下，将第w个的所述第1输出电路连接于第w个的所述输出端子，并且将第x+u个的所述第1输出电路连接于第x个的所述输出端子，将所述第2输出电路连接于第y个的所述输出端子，其中，v+u-1是n以下的自然数，w是不足v的自然数，x是v以上n-u以下的自然数，y是大于n-u且n以下的自然数。

2.根据权利要求1所述的驱动电路，其特征在于，

具备：控制单元，对所述第1和第2输出电路输入所述输入数据，

所述控制单元以输入到所述第1选择输出电路的输入数据、和输入到所述第2选择输出电路的输入数据成为不同值的输入数据的方式进行控制。

3.根据权利要求1所述的驱动电路，其特征在于，

所述视频信号是灰度电压，所述第1输出电路具备将所述输入数据变换为所述灰度电压的数模转换器，

所述比较单元对来自所述第1选择输出电路所具备的数模转换器的灰度电压、和来自所述第2选择输出电路所具备的数模转换器的灰度电压进行比较。

4.根据权利要求3所述的驱动电路，其特征在于，

所述第1输出电路具备运算放大器作为所述数模转换器的输出缓冲器，

所述运算放大器在具备该运算放大器的第1输出电路通过所述切换单元被选择并没有与所述输出端子连接时，作为比较器而工作，

所述比较单元是作为所述比较器而工作的运算放大器。

5.根据权利要求4所述的驱动电路，其特征在于，所述运算放大器在具备该运算放大器的第1输出电路与所述输出端子连接时，作为电压跟随器而工作。

6.根据权利要求1所述的驱动电路，其特征在于，

所述判定单元将与输入到所述第1选择输出电路和所述第2选择输出电路的输入数据对应的、来自所述比较单元的比较结果作为期待值进行存储，

在所述比较结果和所述期待值不同的情况下，将选择的所述第1输出电路判定为不良。

7.根据权利要求3所述的驱动电路，其特征在于，

具备：控制单元，对所述第1和第2输出电路输入所述输入数据，

所述控制单元以输入到所述第1选择输出电路的输入数据、和输入到所述第2选择输出电路的输入数据成为不同值的输入数据的方式进行控制，

所述第1输出电路具备：

采样电路，将所述输入数据以时分方式取入并保持；以及

保持电路，将在所述采样电路中保持的输入数据以时分方式取入并输出到所述数模转换器，

所述控制单元，

在通常驱动时对所述采样电路输入所述输入数据，

在自检测时对选择的所述第1输出电路的数模转换器输入所述输入数据。

8.一种显示装置，其特征在于，具备：权利要求1所述的驱动电路。

9.一种自检测/自修复方法，对驱动电路的不良进行检测修复，该驱动电路具备：

n个输出端子，对显示装置输出视频信号，其中n是2以上的自然数；

n个第1输出电路，将输入数据变换为视频信号，并且以能够切断的方式连接于所述输出端子；以及

u个以上的第2输出电路，将输入数据变换为视频信号，并且以能够切断的方式连接于所述输出端子，其中u是2以上n以下的偶数，

该自检测/自修复方法的特征在于，具有：

切换步骤，从所述第1输出电路选择u个输出电路，将选择的第1输出电路与所述输出端子的连接切断，并且将所述第2输出电路的u个输出电路连接于所述输出端子；

比较步骤，将选择的所述第1输出电路中的任意的2个作为第1选择输出电路和第2选择输出电路，对来自所述第1选择输出电路的视频信号和来自所述第2选择输出电路的视频信号进行比较；以及

判定步骤，基于所述比较步骤的比较结果，判定选择的所述第1输出电路是否不良，

在所述切换步骤中，

在选择了第v个到第v+u-1个的所述第1输出电路的情况下，将第w个的所述第1输出电路连接于第w个的所述输出端子，并且将第x+u个的所述第1输出电路连接于第x个的所述输出端子，将所述第2输出电路连接于第y个的所述输出端子，其中v+u-1是n以下的自然数，w是不足v的自然数，x是v以上n-u以下的自然数，y是大于n-u且n以下的自然数。

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