TWI424402B - 驅動電路、顯示裝置及驅動電路之自我檢測及自我修復方法 - Google Patents

驅動電路、顯示裝置及驅動電路之自我檢測及自我修復方法 Download PDF

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Description

驅動電路、顯示裝置及驅動電路之自我檢測及自我修復方法
本發明係有關於一種包含具有進行自我檢測及自我修復之功能之驅動電路的顯示裝置者。
液晶顯示裝置等之中，係將複數個包含半導體積體電路(LSI(Large Scale Integration，大規模積體電路))之驅動電路安裝於顯示面板上，藉由驅動電路對顯示面板輸出階度電壓而進行顯示。
於此種顯示裝置中，當驅動電路發生故障時，會作為顯示不良而被使用者所直接識別。當發生此種故障時，顯示裝置之製造商必需迅速進行故障部位之修理，若有可能，則理想的是於使用者正在使用顯示裝置之場所短時間內完成修理。若為處理顯示訊號之類的控制基板，則由於係利用連接器與顯示面板連接，故而易於更換。但是，驅動電路係不經由連接器等而直接連接於顯示面板，因而難以於使用者正在使用顯示裝置之場所進行更換。
此外，於將驅動電路與顯示面板一體化而成之製品中，難以於製品完成後對驅動電路進行更換或修理。
因此，專利文獻1中已揭示有如下技術：使將顯示面板與驅動電路一體化所得之製品之驅動電路具有冗長性，於製品完成後亦可對驅動電路進行修復。又，專利文獻1中，亦揭示有如下技術：於驅動電路內設置備用之輸出電路，比較驅動電路中之1個輸出電路之輸出與備用之輸出電路之輸出，判斷該等輸出是否彼此相等，藉此進行確認輸出電路為正常之自我檢測，並且於該自我檢測過程中，以備用之輸出電路代替檢測對象之輸出電路進行顯示面板之驅動。
[先行技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本公表專利公報「特表2004-511022號公報(公表日期：2004年4月8日)」
專利文獻1中，係將檢測對象之輸出電路自顯示面板切斷，藉由備用之輸出電路進行顯示面板之驅動，並且比較備用之輸出電路之輸出與檢測對象之輸出電路之輸出，而判定檢測對象之輸出電路之好壞。但是，由於對檢測對象之輸出電路與備用之輸出電路係被同時輸入用以進行顯示之階度資料，故而用以進行比較之資料受限。
專利文獻1所揭示之技術中，當選擇類比箝位電壓輸出時，可認為自顯示資料中對一部分資料進行比較，可檢測出備用之輸出電路之輸出與檢測對象之輸出電路之輸出之差。另一方面，於已藉由數位資料進行多階度化之驅動電路中，輸出與數位資料相對應之階度電壓的DA(Digital to Analog，數位類比)轉換電路(DAC(Digital to Analog Convertor，數位類比轉換器)電路)成為必需，於256階度顯示之驅動電路中選擇256之階度資料之DA轉換電路成為必需。為了檢測DAC電路之故障，必需對輸出256之階度電壓之所有輸入資料進行比較，因此必需設為檢測對象之輸出電路與備用之輸出電路不進行顯示面板之驅動之狀態，將與顯示資料無關之資料供給至檢測對象之輸出電路與備用之輸出電路，從而進行故障之檢測。
但是，若為了進行輸出電路之故障檢測，而設為檢測對象之輸出電路與備用之輸出電路不進行顯示面板之驅動之狀態，則檢測對象之輸出電路應進行驅動之顯示面板之資料線不會被驅動，故而會產生顯示不良。
本發明係鑒於上述問題而完成者，其目的在於實現可一面進行顯示面板之驅動、一面檢測輸出電路之故障而不會產生顯示不良之驅動電路。
為了解決上述問題，本發明之驅動電路之特徵在於：其係包含對顯示裝置輸出影像訊號之n個(n為2以上之自然數)輸出端子、及檢測並修復自身之不良之機構者，且包含：n個第1輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；p個以上(p為1以上n以下之自然數)之第2輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；第3輸出電路，其不與上述輸出端子連接，且將輸入資料轉換成影像訊號；切換機構，其係自上述第1輸出電路中選擇p個輸出電路，切斷與上述輸出端子之連接，並且自上述第2輸出電路將p個輸出電路連接於上述輸出端子；比較機構，其係比較來自所選擇之第1輸出電路之影像訊號與來自上述第3輸出電路之影像訊號；以及判定機構，其係根據該比較機構之比較結果，判定上述所選擇之第1輸出電路是否不良。
根據上述構成，第1輸出電路係可切斷地連接於輸出端子，且藉由切換機構於通常動作時所有第1輸出電路與資料線連接，第2輸出電路則不與資料線連接。另一方面，於自我檢測時，藉由切換機構切斷所選擇之第1輸出電路與輸出端子之連接，而將第2輸出電路與輸出端子連接。此時，比較機構比較來自已與輸出端子切斷之狀態之所選擇之第1輸出電路的影像訊號與來自第3輸出電路的影像訊號，判定機構根據其比較結果，判定所選擇之第1輸出電路是否不良。
亦即，於自我檢測時，將除所選擇之第1輸出電路以外之第1輸出電路及第2輸出電路與輸出端子連接，由該等輸出電路驅動顯示面板。如此，第2輸出電路代替成為檢測對象之所選擇之第1輸出電路進行顯示面板之驅動，因此發揮能夠實現可一面進行顯示面板之驅動而不會發生顯示不良，一面檢測輸出電路之故障之驅動電路之效果。
於本發明之驅動電路中，較好的是上述切換機構係於已選擇第q個至第q+p-1個(q+p-1為n以下之自然數)上述第1輸出電路之情形時，對第r個(r為未達q之自然數)上述輸出端子連接第r個上述第1輸出電路，並且對第s個(s為q以上n-p以下之自然數)上述輸出端子連接第s+p個上述第1輸出電路，且對第t個(t為大於n-p且n以下之自然數)上述輸出端子連接上述第2輸出電路。
根據上述構成，例如，當第1輸出電路已選擇1個時(p=1)，於自我檢測時，自所選擇之第1輸出電路之下一行之輸出電路至最後行之輸出電路為止之各輸出電路，對自所選擇之第1輸出電路至最後行之輸出電路之前一行之輸出電路為止的各輸出電路於通常驅動時所連接之各輸出端子輸出影像訊號。又，於自我檢測時，第2輸出電路對最後行之輸出電路於通常驅動時所連接之輸出端子輸出影像訊號。亦即，於自所選擇之第1輸出電路於通常驅動時所連接之輸出端子至最後行之前一行之輸出端子上，連接有通常驅動時所連接之輸出電路之相鄰之輸出電路，於最後行之輸出端子上連接有第2輸出電路。藉此，於自我檢測時，亦可藉由除所選擇之第1輸出電路以外之第1輸出電路及第2輸出電路，進行顯示面板之驅動而不會產生顯示不良。
於本發明之驅動電路中，較好的是上述切換機構係將已為上述所選擇之第1輸出電路所切斷連接之輸出端子與上述第2輸出電路連接。
根據上述構成，於自我檢測時，第2輸出電路對所選擇之第1輸出電路於通常驅動時所連接之輸出端子輸出影像訊號。因此，於自我檢測時，亦可藉由除所選擇之第1輸出電路以外之第1輸出電路與第2輸出電路，進行顯示面板之驅動而不會產生顯示不良。
於本發明之驅動電路中，較好的是包含經由供給上述輸入資料之資料匯流排對上述第1至第3輸出電路輸入上述輸入資料之控制機構，且上述控制機構係以使輸入至上述所選擇之第1輸出電路之輸入資料與輸入至上述第3輸出電路之輸入資料成為不同之值的輸入資料之方式進行控制。
於本發明之驅動電路中，較好的是上述資料匯流排包含第1至第3資料匯流排，上述控制機構係經由上述第1資料匯流排，對除上述所選擇之第1輸出電路以外之第1輸出電路及上述第2輸出電路輸入上述輸入資料，經由上述第2資料匯流排對上述所選擇之第1輸出電路輸入上述輸入資料，且經由上述第3資料匯流排對上述第3輸出電路輸入上述輸入資料。
根據上述構成，可經由第2資料匯流排及第3資料匯流排，供給用以進行自我檢測之輸入資料。因此，與經由1個資料匯流排供給輸入資料之情形時相比，可縮短用以進行自我檢測之時間。
於本發明之驅動電路中，較好的是上述控制機構係經由1個資料匯流排對上述第1至第3輸出電路輸入上述輸入資料。
藉由上述構成，與設置複數個資料匯流排之情形時相比，可縮小驅動電路之面積。
於本發明之驅動電路中亦可為，上述影像訊號為階度電壓，上述第1至第3輸出電路包含將上述輸入資料轉換成上述階度電壓之數位類比轉換器，上述比較機構係比較來自上述所選擇之第1輸出電路中所包含之數位類比轉換器之階度電壓、與來自上述第3輸出電路中所包含之數位類比轉換器之階度電壓。
於本發明之驅動電路中，較好的是上述第1輸出電路包含運算放大器作為上述數位類比轉換器之輸出緩衝器，且上述運算放大器係於包含該運算放大器之第1輸出電路由上述切換機構所選擇而未與上述輸出端子連接時，作為比較器而動作，上述比較機構係作為上述比較器而動作之運算放大器。
根據上述構成，可將第1輸出電路所包含之運算放大器用作比較機構，因此無需與第1輸出電路分開另外設置比較機構。因此，可縮小驅動電路之面積。
於本發明之驅動電路中，較好的是上述第3輸出電路係連接於作為上述比較器而動作之運算放大器。
根據上述構成，可藉由運算放大器，比較來自所選擇之第1輸出電路之階度電壓與來自第3輸出電路之階度電壓。
於本發明之驅動電路中，較好的是上述運算放大器係於包含該運算放大器之第1輸出電路與上述輸出端子連接時，作為電壓隨動器而動作。
於本發明之驅動電路中，較好的是上述判定機構係將對應於分別輸入至上述所選擇之第1輸出電路及上述第3輸出電路之輸入資料之、來自上述比較機構之比較結果作為期望值而記憶，當上述比較結果與上述期望值不同時，判定上述所選擇之第1輸出電路為不良。
例如，對所選擇之第1輸出電路輸入階度m之輸入訊號，對第3輸出電路輸入階度m+1之輸入訊號。再者，階度m之階度電壓為低於階度m+1之階度電壓的電壓。此處，若所選擇之第1輸出電路為正常，則比較機構輸出表示自第3輸出電路所輸入之階度電壓更高之訊號。另一方面，當所選擇之第1輸出電路中存在缺陷，即使輸入階度m之訊號，所選擇之第1輸出電路亦只能輸出較高之階度電壓時，比較機構輸出表示自所選擇之第1輸出電路所輸入之階度電壓更高之訊號。
如此，比較機構比較自所選擇之第1輸出電路及第3輸出電路所輸出之階度電壓，於所選擇之第1輸出電路中存在缺陷之情形時與不存在缺陷之情形時，輸出不同之值的訊號。又，判定機構根據自比較機構所輸出之訊號，判定所選擇之第1輸出電路是否不良。具體而言，於如上所述之對所選擇之第1輸出電路輸入階度m之輸入訊號，對第3輸出電路輸入階度m+1之輸入訊號之情形時，當自比較機構已輸入表示來自所選擇之第1輸出電路之階度電壓較高之訊號時，判定為所選擇之第1輸出電路不良。另一方面，當自比較機構已輸入表示來自第3輸出電路之階度電壓較高之訊號時，判定機構判定為所選擇之第1輸出電路良好。
藉此，可容易地檢測出輸出電路之缺陷，且可於輸出電路中存在缺陷之情形時進行自我修復。
本發明之驅動電路之特徵在於：其係包含對顯示裝置輸出影像訊號之n個(n為2以上之自然數)輸出端子、及檢測並修復自身之不良之機構者，且包含：n個第1輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；u個以上(u為2以上n以下之偶數)之第2輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；切換機構，其係自上述第1輸出電路中選擇u個輸出電路，切斷與上述輸出端子之連接，並且自上述第2輸出電路將u個輸出電路連接於上述輸出端子；比較機構，其係將所選擇之第1輸出電路中之任意兩個設為第1選擇輸出電路及第2選擇輸出電路，且比較來自上述第1選擇輸出電路之影像訊號與來自上述第2選擇輸出電路之影像訊號；以及判定機構，其係根據該比較機構之比較結果，判定上述所選擇之第1輸出電路是否不良。
根據上述構成，第1輸出電路係可切斷地連接於輸出端子，且藉由切換機構於通常動作時所有第1輸出電路與輸出端子連接，第2輸出電路則不與輸出端子連接。另一方面，於自我檢測時，藉由切換機構，切斷所選擇之u個第1輸出電路與輸出端子之連接，而將u個第2輸出電路與輸出端子連接。此時，比較機構比較來自已與輸出端子切斷之狀態之所選擇的第1輸出電路之中第1選擇輸出電路與第2選擇輸出電路之兩個影像訊號，判定機構根據其比較結果，判定所選擇之第1輸出電路是否不良。
亦即，於自我檢測時，將除所選擇之第1輸出電路以外之第1輸出電路及第2輸出電路與輸出端子連接，由該等輸出電路驅動顯示面板。如此，第2輸出電路代替成為檢測對象之所選擇之第1輸出電路進行顯示面板之驅動，因此發揮能夠實現可一面進行顯示面板之驅動、一面檢測輸出電路之故障而不會產生顯示不良之驅動電路的效果。
於本發明之驅動電路中，較好的是上述切換機構係於已選擇第v個至第v+u-1個(v+u-1為n以下之自然數)上述輸出電路之情形時，對第w個(w為未達v之自然數)上述輸出端子連接第w個上述第1輸出電路，並且對第x個(x為v以上n-u以下之自然數)上述輸出端子連接第x+u個上述第1輸出電路，且對第y個(y為大於n-u且n以下之自然數)上述輸出端子連接上述第2輸出電路。
根據上述構成，例如，當已選擇兩個第1輸出電路時(u=2)，於自我檢測時，自所選擇之第1輸出電路中之後行側之下一行之輸出電路至最後行之輸出電路為止之各輸出電路，對自所選擇之第1輸出電路至最後行之輸出電路之前兩行之輸出電路為止的各輸出電路於通常驅動時所連接之各輸出端子，輸出影像訊號。又，於自我檢測時，兩個第2輸出電路對最後行之輸出電路與其前一行之輸出電路於通常驅動時所連接之輸出端子輸出影像訊號。亦即，於自所選擇之第1輸出電路於通常驅動時所連接之輸出端子至最後行之前兩行為止之輸出端子上，連接有通常驅動時所連接之輸出電路之兩個相鄰的輸出電路，於最後行及其前一行之輸出端子上連接有第2輸出電路。藉此，於自我檢測時，亦可藉由除所選擇之第1輸出電路以外之第1輸出電路及第2輸出電路，進行顯示面板之驅動而不會產生顯示不良。
於本發明之驅動電路中，較好的是上述切換機構係將已為上述所選擇之第1輸出電路所切斷連接之輸出端子與上述第2輸出電路連接。
根據上述構成，於自我檢測時，第2輸出電路對所選擇之第1輸出電路於通常驅動時所連接之輸出端子輸出影像訊號。因此，於自我檢測時，亦可藉由除所選擇之第1輸出電路以外之第1輸出電路及第2輸出電路，進行顯示面板之驅動而不會產生顯示不良。
於本發明之驅動電路中，較好的是包含對上述第1及第2輸出電路輸入上述輸入資料之控制機構，且上述控制機構係以使輸入至上述第1選擇輸出電路之輸入資料與輸入至上述第2選擇輸出電路之輸入資料成為不同之值的輸入資料之方式進行控制。
於本發明之驅動電路中，亦可上述影像訊號為階度電壓，上述第1輸出電路包含將上述輸入資料轉換成上述階度電壓之數位類比轉換器，上述比較機構係比較來自上述第1選擇輸出電路中所包含之數位類比轉換器之階度電壓、與來自上述第2選擇輸出電路中所包含之數位類比轉換器之階度電壓。
於本發明之驅動電路中，較好的是上述第1輸出電路包含運算放大器作為上述數位類比轉換器之輸出緩衝器，且上述運算放大器係於包含該運算放大器之第1輸出電路由上述切換機構所選擇而未與上述輸出端子連接時，作為比較器而動作，上述比較機構係作為上述比較器而動作之運算放大器。
根據上述構成，可將第1輸出電路所包含之運算放大器用作比較機構，因此無需與第1輸出電路分開另外設置比較機構。因此，可縮小驅動電路之面積。
於本發明之驅動電路中，較好的是上述運算放大器係於包含該運算放大器之第1輸出電路與上述輸出端子連接時，作為電壓隨動器而動作。
於本發明之驅動電路中，較好的是上述判定機構係將對應於輸入至上述第1選擇輸出電路及上述第2選擇輸出電路之輸入資料之、來自上述比較機構之比較結果作為期望值而記憶，當上述比較結果與上述期望值不同時，判定上述所選擇之第1輸出電路為不良。
例如，對第1選擇輸出電路輸入階度m之輸入訊號，對第2選擇輸出電路輸入階度m+1之輸入訊號。再者，階度m之階度電壓為低於階度m+1之階度電壓的電壓。此處，若第1選擇輸出電路為正常，則比較機構輸出表示自第2選擇輸出電路所輸入之階度電壓更高之訊號。另一方面，當所選擇之第1輸出電路中之任一者存在缺陷，即使輸入階度m之訊號，所選擇之第1輸出電路亦只能輸出較高之階度電壓時，比較機構輸出表示自所選擇之第1輸出電路所輸入之階度電壓更高之訊號。
如此，比較機構比較第1選擇輸出電路及第2選擇輸出電路所輸出之階度電壓，於所選擇之第1輸出電路中之任一者存在缺陷之情形時與不存在缺陷之情形時，輸出不同之值的訊號。又，判定機構根據自比較機構所輸出之訊號，判定所選擇之第1輸出電路中之任一者是否不良。具體而言，於如上所述之對第1選擇輸出電路輸入階度m之輸入訊號，對第2選擇輸出電路輸入階度m+1之輸入訊號之情形時，當自比較機構輸入表示來自第1選擇輸出電路之階度電壓較高之訊號時，判定為所選擇之第1輸出電路中之任一者不良。另一方面，當自比較機構輸入表示來自第2選擇輸出電路之階度電壓較高之訊號時，判定機構判定為所選擇之第1輸出電路良好。
藉此，可容易地檢測出輸出電路之缺陷，且可於輸出電路中存在缺陷之情形時進行自我修復。
於本發明之驅動電路中，亦可包含對上述第1及第2輸出電路輸入上述輸入資料之控制機構，且上述控制機構係以使輸入至上述第1選擇輸出電路之輸入資料與輸入至上述第2選擇輸出電路之輸入資料成為不同之值的輸入資料之方式進行控制，上述第1輸出電路包含分時獲取並保持上述輸入資料之取樣電路、以及分時獲取上述取樣電路中所保持之輸入資料並輸入至上述數位類比轉換器之保持電路，上述控制機構係於通常驅動時對上述取樣電路輸入上述輸入資料，於自我檢測時對上述所選擇之第1輸出電路之數位類比轉換器輸入上述輸入資料。
本發明之顯示裝置之特徵在於包含上述驅動電路。
根據上述構成，能夠實現可一面進行顯示、一面檢測驅動電路之輸出電路之故障而不會產生顯示不良的顯示裝置。
本發明之驅動電路之自我檢測及自我修復方法之特徵在於：其係檢測並修復驅動電路之不良者，該驅動電路包含：n個(n為2以上之自然數)輸出端子，其係對顯示裝置輸出影像訊號；n個第1輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；p個以上(p為1以上n以下之自然數)之第2輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；以及第3輸出電路，其不與上述輸出端子連接，且將輸入資料轉換成影像訊號；該驅動電路之自我檢測及自我修復方法包含如下步驟：切換步驟，自上述第1輸出電路中選擇p個輸出電路，切斷所選擇之第1輸出電路與上述輸出端子之連接，並且自上述第2輸出電路將p個輸出電路連接於上述輸出端子；比較步驟，比較來自上述所選擇之第1輸出電路之影像訊號與來自上述第3輸出電路之影像訊號；以及判定步驟，根據上述比較步驟之比較結果，判定上述所選擇之第1輸出電路是否不良。
根據上述構成，第1輸出電路係可切斷地連接於輸出端子，且於通常動作時，所有的第1輸出電路與輸出端子連接，第2輸出電路則不與輸出端子連接。另一方面，於切換步驟中，切斷所選擇之第1輸出電路與輸出端子之連接，而將第2輸出電路與輸出端子連接。於比較步驟中， 比較來自已與輸出端子切斷之狀態之所選擇之第1輸出電路之影像訊號與來自第3輸出電路之影像訊號，於判定步驟中，根據其比較結果，判定所選擇之第1輸出電路是否不良。
亦即，於自我檢測時，將除所選擇之第1輸出電路以外之第1輸出電路及第2輸出電路與輸出端子連接，由該等輸出電路驅動顯示面板。如此，第2輸出電路取代作為檢測對象之所選擇之第1輸出電路進行顯示面板之驅動，因此可一面進行顯示面板之驅動、一面檢測輸出電路之故障而不會產生顯示不良。
本發明之驅動電路之自我檢測及自我修復方法之特徵在於：其係檢測並修復驅動電路之不良者，該驅動電路包含：n個(n為2以上之自然數)輸出端子，其係對顯示裝置輸出影像訊號；n個第1輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；以及u個以上(u為2以上n以下之偶數)之第2輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；該驅動電路之自我檢測及自我修復方法包含如下步驟：切換步驟，自上述第1輸出電路中選擇u個輸出電路，切斷所選擇之第1輸出電路與上述輸出端子之連接，並且自上述第2輸出電路將u個輸出電路連接於上述輸出端子；比較步驟，將上述所選擇之第1輸出電路中之任意兩個設為第1選擇輸出電路及第2選擇輸出電路，且比較來自上述所選擇之第1選擇輸出電路之影像訊號與來自上述第2選擇輸出電路之影像訊號；以及判定步驟，根據上述比較步驟之比較結果，判定上述所選擇之第1輸出電路是否不良。
根據上述構成，第1輸出電路係可切斷地連接於輸出端子，且於通常動作時，所有的第1輸出電路與輸出端子連接，第2輸出電路則不與輸出端子連接。另一方面，於切換步驟中，切斷所選擇之第1輸出電路與輸出端子之連接，而將第2輸出電路與輸出端子連接。於比較步驟中，比較來自已與輸出端子切斷之狀態的所選擇之第1輸出電路中之一者之影像訊號與來自另一者之影像訊號，於判定步驟中，根據其比較結果，判定所選擇之第1輸出電路是否不良。
亦即，於自我檢測時，將除所選擇之第1輸出電路以外之第1輸出電路及第2輸出電路與輸出端子連接，由該等輸出電路驅動顯示面板。如此，第2輸出電路代替成為檢測對象之所選擇之第1輸出電路進行顯示面板之驅動，故而可一面進行顯示面板之驅動、一面檢測輸出電路之故障而不會產生顯示不良。
如以上所述，本發明之驅動裝置之特徵在於：其係包含對顯示裝置輸出影像訊號之n個(n為2以上之自然數)輸出端子、及檢測並修復自身之不良之機構的驅動電路，且包含：n個第1輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；p個以上(p為1以上n以下之自然數)之第2輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；第3輸出電路，其不與上述輸出端子連接，且將輸入資料轉換成影像訊號；切換機構，其係自上述第1輸出電路中選擇p個輸出電路，切斷與上述輸出端子之連接，並且自上述第2輸出電路將p個輸出電路連接於上述輸出端子；比較機構，其係比較來自所選擇之第1輸出電路之影像訊號與來自上述第3輸出電路之影像訊號；以及判定機構，其係根據該比較機構之比較結果，判定上述所選擇之第1輸出電路是否不良。
如以上所述，本發明之驅動電路之特徵在於：其係包含對顯示裝置輸出影像訊號之n個(n為2以上之自然數)輸出端子、及檢測並修復自身之不良之機構的驅動電路，且包含：n個第1輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；u個以上(u為2以上n以下之偶數)之第2輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；切換機構，其係自上述第1輸出電路中選擇u個輸出電路，切斷與上述輸出端子之連接，並且自上述第2輸出電路將u個輸出電路連接於上述輸出端子；比較機構，其係將所選擇之第1輸出電路中之任意兩個設為第1選擇輸出電路及第2選擇輸出電路，且比較來自上述第1選擇輸出電路之影像訊號與上述第2選擇輸出電路之影像訊號；以及判定機構，其係根據該比較機構之比較結果，判定上述所選擇之第1輸出電路是否不良。
如以上所述，本發明之驅動電路之自我檢測及自我修復方法之特徵在於：其係檢測並修復驅動電路之不良者，該驅動電路包含：n個(n為2以上之自然數)輸出端子，其係對顯示裝置輸出影像訊號；n個第1輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；p個以上(p為1以上n以下之自然數)之第2輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；以及第3輸出電路，其不與上述輸出端子連接，且將輸入資料轉換成影像訊號；該驅動電路之自我檢測及自我修復方法包含如下步驟：切換步驟，自上述第1輸出電路中選擇p個輸出電路，切斷所選擇之第1輸出電路與上述輸出端子之連接，並且自上述第2輸出電路將p個輸出電路連接於上述輸出端子；比較步驟，比較來自上述所選擇之第1輸出電路之影像訊號與來自上述第3輸出電路之影像訊號；以及判定步驟，根據上述比較步驟之比較結果，判定上述所選擇之第1輸出電路是否不良。
如以上所述，本發明之驅動電路之自我檢測及自我修復方法之特徵在於：其係檢測並修復驅動電路之不良者，該驅動電路包含：n個(n為2以上之自然數)輸出端子，其係對顯示裝置輸出影像訊號；n個第1輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；以及u個以上(u為2以上n以下之偶數)之第2輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；該驅動電路之自我檢測及自我修復方法包含如下步驟：切換步驟，自上述第1輸出電路中選擇u個輸出電路，切斷所選擇之第1輸出電路與上述輸出端子之連接，並且自上述第2輸出電路將u個輸出電路連接於上述輸出端子；比較步驟，將上述所選擇之第1輸出電路中之任意兩個設為第1選擇輸出電路及第2選擇輸出電路，且比較來自上述所選擇之第1選擇輸出電路之影像訊號與來自上述第2選擇輸出電路之影像訊號；以及判定步驟，根據上述比較步驟之比較結果，判定上述所選擇之第1輸出電路是否不良。
因此，可發揮一面進行顯示面板之驅動，一面檢測輸出電路之故障而不會產生顯示不良之效果。
以下，根據圖式說明本發明之實施形態。
[實施形態1]
以下，參照圖1~圖13，說明本發明之第1實施形態。
(液晶電視機400)
作為使用顯示用驅動電路之顯示裝置之具有代表性者，可列舉以液晶電視機為代表之薄型電視機。液晶電視機(液晶顯示裝置)係將複數個由半導體積體電路(LSI)所製成之驅動電路安裝於顯示面板而進行顯示。於此種顯示裝置中，當顯示驅動用電路發生故障時，會直接作為顯示不良而被使用者所識別。當發生此種故障時，必需迅速進行故障部位之修理，若有可能則較理想的是於使用者正在使用之場所在短時間內完成修理。若為處理顯示訊號之類的控制基板，則由於係利用連接器而與顯示面板連接，故而易於更換，但是顯示驅動用電路並未經由連接器等連接，而係直接連接於顯示面板，故而難以於使用者正在使用製品之場所進行更換。
因此，本申請人提出了具有針對顯示驅動用電路自身之故障的自我診斷自我修復功能(自我檢測及自我修復功能)的驅動電路(例如，日本專利特願2007-302289、日本專利特願2008-048639、日本專利特願2008-048640、日本專利特願2008-054130、日本專利特願2008-130848、日本專利特願2008-246724、日本專利特願2008-246725、日本專利特願2008-246726及日本專利特願2008-246727：於本案申請前之確認時點均未公開)。
圖1係表示本發明之液晶電視機400之構成的方塊圖。如該圖所示，液晶電視機400包含TFT-LCD(Thin-Film Transistor-Liquid Crystal Display，薄膜電晶體-液晶顯示器)模組(顯示裝置)90、開關按鈕401、DVD(digital versatile disc，數位化多功能光碟)裝置402、HDD(Hard Disk Drive，硬碟驅動器)裝置403、及DVD‧HDD控制裝置404而構成。此外，顯示裝置90包含源極驅動器(source driver)(驅動電路)10、TFT-LCD面板(顯示面板)80、閘極驅動器99及控制器(controller)100。並且，源極驅動器10係具有上述自我檢測及自我修復功能之顯示用驅動用電路。
(顯示裝置90之構成)
參照圖2，說明本實施形態之顯示裝置90之概略構成。圖2係表示圖1所示之顯示裝置90之概略構成的方塊圖。
如該圖所示，顯示裝置90包含顯示面板80、以及根據自外部所輸入之階度資料驅動顯示面板80之顯示驅動用電路(以下稱為驅動電路)20。又，驅動電路20包含切換電路60(切換機構)、切換電路61(控制機構)、輸出電路塊30(第1輸出電路)、備用輸出電路塊40(第2輸出電路)、參考輸出電路塊41(第3輸出電路)及比較判定電路50(比較機構、判定機構、自我檢測及自我修復機構)。又，顯示面板80包含被施加來自驅動電路20之階度電壓的像素70。如後所述，輸出電路塊30包含與供給有階度資料之資料匯流排並聯連接之n(n為偶數)行之輸出電路。
(顯示裝置90之基本動作)
其次，說明顯示裝置90中之基本動作。顯示裝置90中，驅動電路20將自外部輸入之階度資料轉換成階度電壓(輸出訊號)，顯示面板80進行根據該階度電壓顯示影像之通常動作，與此同時，驅動電路20檢測輸出電路塊30是否不良，當輸出電路塊30存在不良之輸出電路時，驅動電路20進行對自身進行自我修復之自我檢測修復動作。
以下，說明驅動電路20所進行之自我檢測修復動作之概略。首先，於進行自我檢測修復動作之情形時，切換電路61自輸出電路塊30中選擇1個輸出電路，對該輸出電路輸入測試用階度資料，並且對參考輸出電路塊41輸入參考用階度資料。測試用階度資料與參考用階度資料為彼此不同之資料。
此時，上述所選擇之輸出電路與像素70之連接被切斷，以使得不對顯示面板80進行驅動。取而代之，使用切換電路60、61，以使輸出電路塊30之剩餘之輸出電路及備用輸出電路塊40與像素70連接之方式變更連接狀態。藉此，於進行自我檢測修復動作期間，亦可繼續進行顯示面板80之驅動。
上述所選擇之輸出電路將所輸入之測試用階度資料轉換成測試用輸出訊號，並輸出至比較判定電路50。又，參考輸出電路塊41將所輸入之參考用階度資料轉換成參考輸出訊號，並輸出至比較判定電路50。比較判定電路50對測試用輸出訊號與參考輸出訊號之大小進行比較，確認該大小關係是否為對上述不同之資料預先設定者，從而判定所選擇之輸出電路是否不良。
藉由切換電路61依次切換輸出電路之選擇而進行相同之判定，並對輸出電路塊30內之所有輸出電路判定是否不良。
此外，比較判定電路50將表示輸出電路塊30是否不良之判定結果輸出至切換電路61及切換電路60。切換電路61根據來自比較判定電路50之判定結果，切換來自外部之階度資料之輸出目的地。另一方面，切換電路60自輸出電路塊30及備用輸出電路塊40之各個輸入有階度電壓，根據來自比較判定電路之判定結果，自所輸入之階度電壓之中選擇輸出至顯示面板80之階度電壓。
若更具體地進行說明，則切換電路61於輸入有表示輸出電路塊30之被選擇出的輸出電路為不良之判定結果時，中止使用判定為不良之輸出電路。此時，通常動作時輸入至所選擇之輸出電路中之階度資料係輸入至下一行之輸出電路，通常動作時輸入至該下一行之輸出電路的階度資料則係輸入至更下一行之輸出電路。同樣地，階度資料係輸入至通常動作時所輸入之輸出電路之下一行之輸出電路，通常動作時輸入至最後行之輸出電路之階度資料係輸入至備用輸出電路塊40。
藉由切換電路61維持該連接狀態，即使輸出電路塊30中之任一輸出電路為不良，驅動電路20亦可使用備用輸出電路塊代替判定為不良之輸出電路，將正常的階度電壓輸出至顯示面板80。
如以上所述，本實施形態之驅動電路20可藉由包含比較判定電路50、切換電路60及切換電路61，檢測自身之故障，進而對自身之故障進行自我修復。換而言之，驅動電路20包含檢測自身之故障，進而對自身之故障進行自我修復之自我檢測及自我修復電路(自我檢測及自我修復機構)。
(驅動電路20之構成)
參照圖3，說明本實施形態之驅動電路20之構成。圖3係表示驅動電路20之概略構成的方塊圖。
如該圖所示，驅動電路20包含：n個取樣電路6-1~6-n(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為取樣電路6)，其係自階度資料輸入端子(未圖示)經由資料匯流排而輸入與n個液晶驅動用訊號輸出端子OUT1~OUTn(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為輸出端子OUT)之各個對應之階度資料；n個保持電路7-1~7-n(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為保持電路7)；將階度資料轉換成階度電壓訊號之n個DAC電路8-1~8-n、備用之DAC電路8-B(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為DAC電路8)、及將參考用階度資料轉換成參考輸出訊號之參考用DAC電路8-A；n個運算放大器1-1~1-n及備用之運算放大器1-B(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為運算放大器1)，其具有針對來自DAC電路8之階度電壓訊號之緩衝器電路的作用；n個判定電路3-1~3-n(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為判定電路3)；n個判定旗標4-1~4-n(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為判定旗標4)；以及n個提昇(pull-up)‧下拉(pull-down)電路5。1~5-n(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為提昇‧下拉電路5)。
此外，如該圖所示，驅動電路20包含：複數個開關2a，其係藉由測試訊號test(test1~testn)切換ON(接通)、OFF(斷開)；複數個開關2b，其係藉由將測試訊號test反轉而成之反轉測試訊號testB(testB1~testBn)切換ON、OFF；(n-1)個開關SWA1~SWA(n-1)(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為開關SWA)，其係藉由閘極訊號T1~T(n-1)而變更連接目的地；以及n個開關SWB1~SWBn(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為開關SWB)，其係藉由閘極訊號T1~Tn而變更連接目的地。
開關2a、2b均係於輸入有「H」位準之訊號之情形時為ON，於輸入有「L」位準之訊號之情形時為OFF。
又，開關SWA‧SWB分別為包含端子0、端子1及端子2，且具有連接端子0與端子1之狀態及連接端子0與端子2之狀態的兩個連接狀態的開關電路。具體而言，開關SWAi(i=1~n-1)之端子0、1及2分別連接於DAC電路8-(i+1)、保持電路7-(i+1)及保持電路7-i。又，開關SWBi(i=1~n-1)之端子0、1及2分別連接於輸出端子OUTi、運算放大器1-i之輸出端子及運算放大器1-(i+1)之輸出端子，開關SWBn之端子0、1及2分別連接於輸出端子OUTn、運算放大器1-n之輸出端子及備用之運算放大器1-B之輸出端子。
開關SWA‧SWB之連接狀態係根據閘極訊號之值進行切換。具體而言，當閘極訊號為「H」時將端子0與端子2加以連接(導通)，當閘極訊號為「L」時將端子0與端子1連接(導通)。閘極訊號T1~Tn係由下述數1所示之邏輯式表示。
亦即，閘極訊號Tk(k=1~n)為測試訊號test1~testk之邏輯和。
再者，於圖3中，DAC電路8及運算放大器1相當於圖2所示之輸出電路塊30，參考用DAC電路8-A相當於圖2所示之參考輸出電路塊41，＆＆備用之DAC電路8-B相當於圖2所示之備用輸出電路塊40。又，運算放大器1、判定電路3及判定旗標4相當於圖2所示之比較判定電路50，運算放大器1兼用作輸出電路塊30之緩衝器及比較判定電路50之比較器。又，開關SWA、及與DAC電路8-1~8-n之輸入端子連接之開關2a、2b，相當於圖2所示之切換電路61。又，開關SWB相當於圖2所示之切換電路60。再者，圖2所示之驅動電路20經由輸出端子OUT1~OUTn而與圖2所示之顯示面板80連接，於圖3中省略了顯示面板80之圖示。
運算放大器1於通常動作時，使輸出反饋為負極性輸入而作為電壓隨動器之緩衝器發揮作用。另一方面，於動作確認時則變更連接，以使運算放大器1作為比較器而發揮作用，且使來自串聯連接於自身之DAC電路8之輸出，輸入至自身之正極性輸入端子，進而使來自參考用DAC電路8-A之輸出，輸入至自身之負極性輸入端子。具體而言，如該圖所示，運算放大器1-1使來自DAC電路8-1之輸出輸入至自身之正極性輸入端子，使來自參考用DAC電路8-A之輸出，經由藉由測試訊號test1所控制之開關2a而輸入至自身之負極性輸入端子。同樣地，運算放大器1-2使來自DAC電路8-2之輸出輸入至自身之正極性輸入端子，使來自參考用DAC電路8-A之輸出，經由藉由測試訊號test2所控制之開關2a而輸入至自身之負極性輸入端子。亦即，運算放大器1-k(k=1~n)使來自DAC電路8-k之輸出輸入至自身之正極性輸入端子，使來自參考用DAC電路8-A之輸出，經由藉由測試訊號testk所控制之開關2a而輸入至自身之負極性輸入端子。
(驅動電路20之通常動作)
圖4係表示用以生成測試訊號test及反轉測試訊號testB之測試訊號生成電路51的電路圖。測試訊號生成電路51包含n個D型正反器(flip-flop)DFF1~DFFn、1個NOR(非或)閘NOR1、1個AND(及)閘AND1及n個反相器INV1~INVn，D型正反器DFF1~DFFn構成移位暫存器301。
對各正反器DFF1~DFFn之重置端子R輸入重置訊號RESET。於驅動電路20之通常動作時，重置訊號RESET保持為「H」位準，移位暫存器301為重置狀態。又，對各正反器DFF1~DFFn之時脈端子CK輸入來自AND閘AND1之時脈TCK。又，對第1行正反器DFF1之資料輸入端子D輸入訊號TESTSP。來自各正反器DFFk(k=1~n)之輸出端子Q之輸出訊號為測試訊號testk，將該輸出訊號藉由反相器INVk加以反轉而成之訊號，為反轉測試訊號testBk。藉此，若將移位暫存器301加以重置，則測試訊號test1~testn成為「L」位準，反轉測試訊號testB1~testBn成為「H」位準。此時，根據算式1，閘極訊號T1~T(n-1)均成為「L」位準。
又，對AND閘AND1之兩個輸入端子輸入訊號TESTCK以及來自NOR閘NOR1之訊號Flag_HB。NOR閘NOR1具有n個輸入端子，對各輸入端子輸入自圖3所示之判定旗標4-1~4-n所輸出之訊號Flag1~Flagn(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為訊號Flag)。如後所述，訊號Flag僅於檢測到運算放大器1之動作異常時成為「H」位準，故而於通常動作時，訊號Flag_HB為「H」位準。
於圖3中，為了對供給至資料匯流排之階度資料進行取樣，使自未圖示之指標(pointer)用移位暫存器輸入至取樣電路6-1~6-n之閘極的取樣訊號STR1~STRn(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為取樣訊號STR)依次成為「H」位準。取樣電路6由於閘極為「H」位準之期間獲取階度資料之閂鎖電路(latch circuit)而構成，於取樣訊號STR為「H」位準之期間，取樣電路獲取資料匯流排之階度資料，於取樣訊號STR為「L」位準之情形時，保持為「H」位準期間所獲取之階度資料。
藉由取樣電路6-1~6-n之資料獲取結束後，對與保持電路7連接之訊號LS線供給「H」位準之訊號LS。訊號LS被供給至保持電路7-1~7-n之閘極，於閘極為「H」位準之期間，保持電路7-1~7-n獲取與自身連接之取樣電路6-1~6-n所保持之階度資料。又，保持電路7-1~7-n於訊號LS成為「L」位準之後，保持所獲取之階度資料。
於驅動電路20中，於獲取到階度資料期間，亦必需進行顯示。因此，如上所述，保持電路7保持所獲取之階度資料，並根據所保持之資料而輸出顯示用驅動訊號。又，保持電路7於輸出顯示用驅動訊號期間，自資料匯流排進行資料之獲取。
如上所述，輸入至開關SWA1~SWA(n-1)之閘極訊號T1~T(n-1)均為「L」位準，因此於開關SWA中，端子0與端子1相連接。因此，保持電路7-1~7-n之階度資料分別被輸入至DAC電路8-1~8-n。藉此，DAC電路8-1~8-n將保持於保持電路7-1~7-n中之階度資料轉換成階度電壓訊號，並作為階度電壓而輸出至運算放大器1-1~1-n之正極性輸入端子。
此處，由於開關2b為ON，故而運算放大器1-1~1-n之輸出成為朝向自身之負極性輸入端子的負反饋。藉此，運算放大器1-1~1-n作為電壓隨動器而動作。因此，運算放大器1-1~1-n將來自DAC電路8-1~8-n之階度電壓緩衝後，輸出至所對應之各輸出端子OUT1~OUTn。
(動作確認測試概要)
圖5係表示驅動電路20中之動作確認測試時之重置訊號RESET、訊號TESTSP、訊號TESTCK及測試訊號test1~testn之波形的圖。動作確認測試係藉由將訊號TESTSP設為「H」位準而開始。藉由訊號TESTCK之上升，訊號TESTSP為「H」位準被正反器DFF1所識別。藉此，移位暫存器301之各正反器DFF1~DFFn將與訊號TESTCK之上升同步之脈衝訊號作為測試訊號test1~testn及反轉測試訊號testB1~testBn而依次輸出。
此時，於圖3中，當測試訊號test1為「H」位準時(亦即，反轉測試訊號testB1為「L」位準時)，根據數1，閘極訊號T1~Tn均成為「H」位準，於開關SWA1~SWAn及開關SWB1~SWBn中，端子0與端子2成為連接狀態。藉此，保持電路7-1與DAC電路8-2連接，保持電路7-2與DAC電路8-3連接，依次使連接往下推延，最後，保持電路7-n與備用之DAC電路8-B連接。又，輸出端子OUT1與運算放大器1-2連接，輸出端子OUT2與運算放大器1-3連接，依次使連接往下推延，最後，輸出端子OUTn與備用之運算放大器1-B連接。
如上所述，藉由變更開關SWA‧SWB之連接狀態，而使得DAC電路8-1與保持電路7-1之連接、及運算放大器1-1與輸出端子OUT1之連接分別被切斷，DAC電路8-1及運算放大器1-1變得與顯示面板之驅動無關。此處，由於測試訊號test1為「H」，故而與運算放大器1-1之輸入端子及輸出端子連接之開關2a及開關2b分別成為「ON」「OFF」。因此，運算放大器1-1之負極性輸入端子與輸出端子之連接被切斷，於運算放大器1-1之負極性輸入端子上連接有參考用DAC電路8-A。藉由該連接，運算放大器1-1作為對DAC電路8-1之電壓與參考用DAC電路8-A之電壓加以比較之比較器而進行動作，運算放大器1-1之輸出被輸出至判定電路3-1。又，於運算放大器1-1之正極性輸入端子上，除了DAC電路8-1以外，亦連接有提昇.下拉電路5-1。
另一方面，對DAC電路8-1之輸入係自保持電路7-1向測試用資料匯流排TDATA2進行切換。又，於參考用DAC電路8-A之輸入上連接有與測試用資料匯流排TDATA2不同之測試用資料匯流排TDATA1。
藉此，自測試用資料匯流排TDATA1及TDATA2向參考用DAC電路8-A及DAC電路8-1分別輸入有參考用階度資料及測試用階度資料。相對於此，參考用DAC電路8-A及DAC電路8-1分別輸出參考輸出訊號及測試用輸出訊號。因此，運算放大器1-1之負極性輸入端子中輸入有參考用DAC電路8-A之參考輸出訊號，運算放大器1-1之正極性輸入端子中輸入有來自DAC電路8-1之測試用輸出訊號。此處，參考用階度資料與測試用階度資料為各不相同之階度資料，因此來自參考用DAC電路8-A之參考輸出訊號與來自DAC電路8-1之測試用輸出訊號成為不同的電壓。
運算放大器1-1係作為比較器而發揮作用，因此若對正極性輸入端子之輸入電壓大於對負極性輸入端子之輸入電壓，亦即，若來自DAC電路8-1之測試用輸出訊號大於來自參考用DAC電路8-A之參考用階度資料，則運算放大器1-1之輸出成為「H」。另一方面，若對正極性輸入端子之輸入電壓小於對負極性輸入端子之輸入電壓值，亦即，若來自DAC電路8-1之測試用輸出訊號小於來自參考用DAC電路8-A之參考用階度資料，則運算放大器1-1之輸出成為「L」。
可根據輸入至參考用DAC電路8-A及DAC電路8-1之階度資料，預先設定運算放大器之輸出電壓為「H」或為「L」作為期望值。於判定電路3-1中記憶該期望值，藉由判定電路3-1判定期望值與運算放大器1-1之輸出是否一致，若運算放大器1-1之輸出與期望值不同，則對判定旗標4-1輸入「H」位準之訊號，從而判定旗標4-1所輸出之訊號Flag1成為「H」位準。
如上所述，測試訊號test1為「H」之期間，藉由開關SWA及SWB之連接切換，保持電路7-i(i=1~n-1)與DAC電路8-(i+1)連接，最後行之保持電路7-n與備用之DAC電路8-B連接，運算放大器1-j(j=2~n)與輸出端子OUT(j-1)連接，備用之運算放大器1-B與最後行之輸出端子OUTn連接。亦即，運算放大器1-2~1-n及備用之運算放大器1-B作為通常動作之緩衝器而發揮作用。因此，可一面將自通常動作用之資料匯流排所輸入之階度資料轉換成階度電壓並自輸出端子OUT輸出而進行顯示面板80之驅動，一面進行DAC電路8-1之功能動作之確認。
其次，當測試訊號test2成為「H」位準，反轉測試訊號testB2成為「L」位準時，根據數1，閘極訊號T1成為「L」位準，閘極訊號T2~Tn成為「H」位準。由於閘極訊號T1為「L」位準，故而與通常動作時同樣地，保持電路7-1與DAC電路8-1連接，運算放大器1-1與輸出端子OUT1連接。
另一方面，由於閘極訊號T2~Tn為「H」位準，故而保持電路7-2與DAC電路8-3連接，保持電路7-3與DAC電路8-4連接，依次使連接往下推延，最後行之保持電路7-n與備用之DAC電路8-B連接。又，輸出端子OUT2與運算放大器1-3連接，輸出端子OUT3與運算放大器1-4連接，依次使連接往下推延，最後行之輸出端子OUTn與備用之運算放大器1-B連接。
如上所述，藉由變更開關SWA‧SWB之連接狀態，而使得DAC電路8-2與保持電路7之連接、及運算放大器1-2與輸出端子OUT1之連接分別被切斷，DAC電路8-2及運算放大器1-2變得與顯示動作無關。此處，由於測試訊號test2為「H」位準，故而與運算放大器1-2之輸入端子及輸出端子連接之開關2a及開關2b分別成為「ON」「OFF」。因此，運算放大器1-2之負極性輸入端子與輸出端子之連接被切斷，於運算放大器1-2之負極性輸入端子上連接有參考用DAC電路8-A。藉由該連接之切換，運算放大器1-2作為對DAC電路8-2之電壓與參考用DAC電路8-A之電壓加以比較之比較器而進行動作，運算放大器1-2之輸出被輸出至判定電路3-2。又，運算放大器1-2之正極性輸入端子除了DAC電路8-2以外，亦連接有提昇.下拉電路5-2。
另一方面，對DAC電路8-2之輸入係自保持電路7-2向測試用資料匯流排TDATA2進行切換。藉此，自測試用資料匯流排TDATA1及TDATA2向參考用DAC電路8-A及DAC電路8-2分別輸入有互不相同之階度資料即參考用階度資料及測試用階度資料。運算放大器1-2之正極性輸入端子輸入有來自DAC電路8-2之測試用階度資料，運算放大器1-2之負極性輸入端子輸入有來自參考用DAC電路8-A之參考用階度資料，運算放大器1-2係作為比較器而發揮作用。
此處，來自參考用DAC電路8-A之參考輸出訊號與來自DAC電路8-2之測試用輸出訊號為互不相同之電壓，故而若來自DAC電路8-2之測試用輸出訊號大於來自參考用DAC電路8-A之參考用階度資料，則運算放大器1-2之輸出成為「H」，若來自DAC電路8-2之測試用輸出訊號小於來自參考用DAC電路8-A之參考用階度資料，則運算放大器1-2之輸出成為「L」。可根據輸入至參考用DAC電路8-A及DAC電路8-2之階度資料，預先設定運算放大器之輸出電壓為「H」或為「L」作為期望值。因此，藉由判定電路3-2判定該期望值與運算放大器1-2之輸出是否一致，若運算放大器1-2之輸出與期望值不同，則判定旗標4-2所輸出之訊號Flag2成為「H」位準。
如上所述，可與進行顯示面板之驅動同時進行DAC電路8-2之動作確認。
同樣地，於測試訊號test3~testn為「H」位準之期間，分別進行連接之變更，進行自DAC電路8-3至DAC電路8-n之動作確認。此處，當自判定旗標4輸出之訊號Flag均為「L」位準時，如上所述進行動作確認直至最後行之DAC電路8-n為止。另一方面，當於動作確認之途中任一訊號Flag成為「H」位準時，亦即，當任一輸出電路被判定為不良時，進行如以下所述之動作。作為示例，說明圖3所示之運算放大器1-2被判定為不良，訊號Flag2成為「H」位準之情形。
圖6係表示重置訊號RESET、訊號TESTSP、訊號TESTCK、測試訊號test1~testn及訊號Flag2之波形的圖。當測試訊號test2成為「H」位準時，反轉測試訊號testB2為「L」位準，因此藉由DAC電路8-2以外之DAC電路8(亦即，DAC電路8-1、8-3~8-n及備用之DAC電路8-B)及運算放大器1-2以外之運算放大器1(亦即，運算放大器1-1，1-3~1-n及備用之運算放大器1-B)，進行通常之顯示驅動。
當訊號Flag2成為「H」位準時，圖4所示之NOR閘NOR1之輸出訊號FlagHB成為「L」位準。因此，如圖6所示，使移位暫存器301進行動作之時脈TCK成為「L」並一直保持。因此，一直保持著測試訊號test2為「H」位準、反轉測試訊號testB2為「L」位準之狀態。藉此，保持著訊號Flag2成為「H」位準之時點之連接狀態，繼續顯示面板之驅動。亦即，藉由除DAC電路8-2以外之DAC電路8及除運算放大器1-2以外之運算放大器1進行通常之顯示驅動。因此，不再使用被認為動作不良之運算放大器1-2，而藉由其他運算放大器1進行顯示面板之驅動。
再者，於圖4所示之測試訊號生成電路51中，若移位暫存器301之值因供電停止等而改變，則訊號Flag成為「H」位準之時點之連接狀態將無法保持，故而必需再次進行動作確認而進行訊號Flag之設定。因此，以下根據圖7說明如下構成：一旦檢測出動作不良之運算放大器，則即使移位暫存器301之值發生改變，亦保持檢測時點之連接狀態而無需進行訊號Flag之重新設定。
圖7係表示用以生成測試訊號test及反轉測試訊號testB之測試訊號生成電路52的電路圖。測試訊號生成電路52係於圖4所示之測試訊號生成電路51中進而設有n個OR(或)閘OR1~ORn之構成。OR閘OR1~ORn之輸入端子中之一者分別連接於正反器DFF1~DFFn之輸出端子Q。又，OR閘OR1~ORn之輸入端子中之另一者中分別有輸入訊號Flag1~Flagn，從而OR閘OR1~ORn之輸出成為測試訊號test1~testn。
圖3所示之判定旗標4包含非揮發性記憶裝置。若對動作不良之運算放大器進行檢測並將「H」位準之訊號Flag存儲於對應之判定旗標4中，則即使供電停止，該訊號Flag之值亦不會變化。於測試訊號生成電路52中，經由OR閘OR1~ORn而輸出有測試訊號test1~testn，故而即使將移位暫存器301加以重置，亦會自輸入有「H」位準之訊號FIag之OR閘輸出「H」位準之測試訊號test。因此，無需進行訊號Flag之重新設定。
(實施形態1之動作確認測試1)
其次，以下參照圖8，說明第1實施形態之動作確認測試之第1順序。圖8係表示第1實施形態之動作確認測試之第1順序之流程圖。
於該圖所示之步驟S1(以下簡稱為S1)中，將測試訊號test1設為「H」位準，將反轉測試訊號testB1設為「L」位準(S1)。藉此，運算放大器1-1作為比較器而動作(S2)。
其次，未圖示之控制電路將判定電路3-1之期望值設定為「L」位準，使自身所包含之計數器m初始化為0(S3)。
繼而，控制電路對與運算放大器1-1之正極性輸入相連之DAC電路8-1輸入階度m之測試用階度資料，並且對與運算放大器1-1之負極性輸入端子相連之參考用DAC電路8-A輸入階度m+1之測試用階度資料(S4)。
此處，當計數器m之值為0時，自DAC電路8-1向運算放大器1-1之正極性輸入端子中輸入有階度0之測試用輸出訊號。又，自參考用DAC電路8-A向運算放大器1-1之負極性輸入端子中輸入有階度1之參考輸出訊號。若與運算放大器1-1之兩個輸入端子連接之DAC電路8-1為正常，則階度m之電壓值低於階度m十1之電壓值，故而運算放大器1-1之輸出成為「L」位準。
其次，判定電路3-1判定來自運算放大器1-1之輸出訊號之位準是否與自身所記憶之期望值相一致(S5)。此處，當來自運算放大器1-1之輸出與期望值不同時，判定電路3--1對判定旗標4-1輸入「H」位準之訊號，判定旗標4-1輸出「H」位準之訊號Flag(S6)。
逐個增加計數器m之值，重複進行以上之S4~S6為止之處理，直至計數器m之值達到t-1為止(S7、S8)。再者，「t」為驅動電路20可輸出之階度數。
(實施形態1之動作確認測試2)
其次，以下參照圖9，說明第1實施形態之動作確認測試之第2順序。圖9係表示第1實施形態之動作確認測試之第2順序的流程圖。該動作確認測試2係使動作確認測試1中之分別輸入至正極性輸入端子及負極性輸入端子之測試用輸出訊號及參考輸出訊號之電壓關係顛倒之構成。
首先，未圖示之控制電路將判定電路3-1之期望值設定為「H」位準，使自身所包含之計數器m初始化為0(S11)。
繼而，控制電路對與運算放大器之正極性輸入相連之DAC電路8-1輸入階度m+1之測試用階度資料，並且對與運算放大器之負極性輸入端子相連之參考用DAC電路8-A輸入階度m之測試用階度資料(S12)。若與運算放大器1之兩個輸入端子連接之DAC電路8-1為正常，則階度m+1之電壓值高於階度m之電壓值，故而運算放大器1之輸出成為「H」位準。
其次，判定電路3-1判定來自運算放大器1之輸出訊號之位準是否與自身所記憶之期望值相一致(S13)。此處，當來自運算放大器1-1之輸出與期望值不同時，判定電路3-1對判定旗標4-1輸入「H」位準之訊號，判定旗標4-1輸出「H」位準之訊號Flag(S14)。
逐個增加計數器m之值，重複進行以上之S12~S14為止之處理，直至計數器m之值達到t-1為止(S15、S16)。
(實施形態1之動作確認測試3)
其次，以下參照圖10，說明第1實施形態之動作確認測試之第3順序。
於DAC電路8-1中，當存在輸出為開路(open)之故障時，運算放大器1繼續保持藉由執行完畢之確認測試而輸入至運算放大器1-1之階度電壓，於動作確認測試1及2中，有時無法檢測故障。動作確認測試1係檢測正極性輸入端子之電壓低於負極性輸入端子之電壓之構成。但是，即使於一部分階度無法自與正極性輸入端子連接之DAC電路輸入之情形時，由於先輸出之電壓由寄生電容等所保持，故而正極性輸入端子之電壓亦低於負極性輸入端子之電壓。因此為了發現DAC電路之開路不良，暫將DAC電路之輸出設為「H」位準，其後使基於階度資料之電壓自DAC電路之輸出而輸出。
圖10係表示第1實施形態之動作確認測試之第3順序的流程圖。
首先，與動作確認測試1~2同樣地，未圖示之控制電路使自身所包含之計數器m之值初始化為0(S21)。又，驅動電路20將提昇‧下拉電路5-1連接於DAC電路8-1之正極性輸入端子。控制電路將判定電路3-1之期望值設定為「L」位準。
此處，控制電路以提昇運算放大器1-1之正極性輸入端子之電位之方式控制提昇‧下拉電路5-1(S22)。
其次，將提昇‧下拉電路5-1設為非連接，控制電路對與運算放大器1-1之正極性輸入相連之DAC電路8-1輸入階度m之測試用階度資料，並且對與運算放大器1-1之負極性輸入端子相連之參考用DAC電路8-A輸入階度m+1之測試用階度資料(S23)。
若與正極性輸入端子連接之DAC電路8-1為正常，則輸出階度m之電壓，但若為開路不良時，則成為保持著由提昇‧下拉電路5-1所施加之電壓之狀態。所提昇之電壓係較階度m+1更高之電壓，故而運算放大器1-1之輸出成為「H」位準。又，若與運算放大器1-1之兩個輸入端子連接之DAC電路8-1為正常，則階度m之電壓值低於階度m+1之電壓值，故而運算放大器1-1之輸出成為「L」。
其次，判定電路3-1判定來自運算放大器1-1之輸出訊號之位準是否與自身所記憶之期望值相一致(S24)。此處，當來自運算放大器1-1之輸出與期望值不同時，判定電路3-1對判定旗標4-1輸入「H」位準之訊號，從而判定旗標4-1輸出「H」位準之訊號Flag(S25)。逐個增加計數器m之值，重複進行以上之S22~S25為止之處理，直至計數器m之值達到t-1為止(S26、S27)。
(實施形態1之動作確認測試4)
其次，以下參照圖11，說明第1實施形態之動作確認測試之第4順序。圖11係表示第1實施形態之動作確認測試之第4順序的流程圖。
此處，目的在於檢測與上述動作確認測試3同樣之故障。首先，與動作確認測試3同樣地，未圖示之控制電路將自身所包含之計數器m之值初始化為0(S31)。又，驅動電路20將提昇‧下拉電路5-1連接於DAC電路8-1之正極性輸入端子。控制電路將判定電路3-1之期望值設定為「H」位準。
此處，控制電路對提昇.下拉電路5-1進行控制，以使得下拉運算放大器1-1之正極性輸入端子之電位(S33)。
其次，將提昇.下拉電路5-1設為非連接，控制電路對與運算放大器1-1之正極性輸入相連之DAC電路8-1輸入階度m+1之測試用階度資料，並且對與運算放大器1-1之負極性輸入端子相連之DAC電路輸入階度m之測試用階度資料(S33)。
若與正極性輸入端子連接之DAC電路8-1為正常，則輸出階度m+1之電壓，但當開路不良時，則依舊保持著由提昇‧下拉電路5-1所供給之電壓。所提昇之電壓為較階度m更低之電壓，因此運算放大器1-1之輸出成為「L」位準。又，若與運算放大器1-1之兩個輸入端子連接之DAC電路8為正常，則由於階度m+1之電壓值較階度m之電壓值更高，因此運算放大器1之輸出成為「H」位準。
其次，判定電路3-1判定來自運算放大器1-1之輸出訊號之位準是否與自身所記憶之期望值相一致(S34)。此處，當來自運算放大器1-1之輸出與期望值不同時，判定電路3-1對判定旗標4-1輸入「H」位準之訊號，判定旗標4-1輸出「H」位準之信號Flag(S35)。逐個增加計數器m之值，重複進行以上之S32~S35為止之處理，直至計數器m之值達到t-1為止(S36、S37)。
(實施形態1之動作確認測試5)
其次，以下參照圖12，說明第1實施形態之動作確認測試之第5順序。圖12係表示第1實施形態之動作確認測試之第5順序的流程圖。
於DAC電路中，有時會發生自身之鄰接之兩個階度短路(short)之故障。當如此般鄰接之兩個階度已發生短路時，DAC電路會輸出已發生短路之兩個階度之中間電壓。於此故障之情形時，DAC電路所輸出之階度電壓與正常情況相比不會產生1階度以上之電壓之偏差，因此於動作確認測試1~4中，無法檢測出該故障。因此，動作確認測試5之目的在於檢測此種DAC電路中之鄰接之兩個階度已發生短路之故障。
首先，未圖示之控制電路將自身所包含之計數器m之值初始化為0(S41)。其次，將分別輸入至與運算放大器1-1之正極性輸入及負極性輸入相連之DAC電路8-1以及參考用DAC電路8-A的測試用階度資料及參考用階度資料之階度設為m。亦即，對DAC電路8-1及參考用DAC電路8-A輸出相同階度m之階度電壓(S142)。
其次，經由未圖示之開關，控制電路使運算放大器1-1之正極性輸入端子與負極性輸入端子發生短路。藉由使該運算放大器1-1之正極性輸入端子與負極性輸入端子發生短路，而對運算放大器1-1之正極性輸入端子及負極性輸入端子輸入有相同電壓，因此藉由運算放大器1-1所具有之偏差，而使運算放大器1-1之輸出成為「H」位準或「L」位準。其次，判定電路3-1將已使運算放大器1-1之正極性輸入端子與負極性輸入端子發生短路時之運算放大器1-1之輸出的位準作為期望值加以記憶(S43)。
其次，將未圖示之開關設為OFF，從而解除運算放大器1-1之正極性輸入端子與負極性輸入端子之短路。繼而，對運算放大器1-1之正極性輸入端子、負極性輸入端子輸入有階度m之階度電壓。此處，判定電路3-1對自身所記憶之期望值與來自運算放大器1-1之輸出進行比較(S44)。
此外，於判定電路3-1判定為來自運算放大器1-1之輸出與自身所記憶之期望值不同之情形時，判定旗標4-1輸出「H」位準之訊號Flag(S45)。此外，判定旗標4-1將由判定電路3-1所輸入之「H」旗標記憶於自身之內部。
其次，控制電路使用未圖示之開關，將輸入至運算放大器1-1之正極性輸入端子的訊號與輸入至負極性輸入端子的訊號加以調換(S46)。其後，進行與S44之處理相同之處理(S47)。又，與S45同樣地，於判定電路3-1判定為來自運算放大器1-1之輸出與自身所記憶之期望值不同之情形時，判定旗標4-1輸出「H」位準之訊號Flag(S48)。
逐個增加計數器m之值，重複進行以上之S142~S148之處理，直至計數器m之值達到t為止(S49、S50)。
(實施形態1之自我修復)
其次，以下參照圖13，說明判定旗標4記憶有「H」位準之訊號Flag之情形時、換而言之、於上述動作確認測試1~5中判定電路3判定為DAC電路8存在故障之情形時的自我修復。圖13係表示第1實施形態之自我修復順序的流程圖。
藉由上述動作確認測試1~5，第1行之輸出電路之動作確認測試結束。當於該動作確認測試1~5中，自判定旗標4-1輸出「H」位準之訊號Flag1時，即，轉移至S6、S14、S25、S35、S45、S48中之任一步驟時(S51中「是(YES)」)，結束動作確認，保持自判定旗標4-1輸出「H」位準之訊號Flag1之時點的連接狀態(S55)。藉此，保持著已切斷判定為存在故障之DAC電路8-1與顯示面板之連接的狀態，藉由DAC電路8-1以外之DAC電路8及運算放大器1-1以外之運算放大器1，進行通常之顯示面板之驅動。
另一方面，當於動作確認測試1~5中，並未自判定旗標4輸出「H」位準之訊號Flag1時(S51中「否(NO)」)，與上述動作確認測試1~5同樣地進行下一行之輸出電路(DAC電路8-2及運算放大器1-2)之動作確認測試(S53)。此時，亦係於自判定旗標4-2輸出「H」位準之訊號Flag2之情形時(S54中「是」)，結束動作確認，保持自判定旗標4-2輸出「H」位準之訊號FIag2之時點之連接狀態(S55)。
進行S53及S54直至最終段之輸出電路(DAC電路8-n及運算放大器1-n)為止，若一次也未自判定旗標4輸出「H」位準之訊號Flag便結束所有輸出電路之動作確認(S55中「是」)，則所有測試訊號test及反轉測試訊號testB分別成為「L」位準及「H」位準，而轉移至通常動作。
[實施形態2]
以下參照圖14及圖15，說明本發明之第2實施形態。於本實施形態中，說明第1實施形態之顯示裝置90之變形例即顯示裝置190。
(顯示裝置190之構成)
參照圖14，說明本實施形態之顯示裝置190之概略構成。圖14係表示顯示裝置190之概略構成的方塊圖。顯示裝置190包含顯示面板80及驅動電路120。驅動電路120是於圖2所示之驅動電路20中將切換電路60及61分別置換成切換電路160及161的構成。
於圖2所示之驅動電路20中，切換電路60、61切換連接狀態，以使得於動作確認測試時，將來自外部之階度資料輸入至通常動作時所輸入之輸出電路之下一行之輸出電路，並將輸入至最後行之輸出電路的階度資料輸入至備用輸出電路塊40，藉此使成為動作確認對象之輸出電路自顯示面板切斷。另一方面，圖14所示之切換電路160、161是如下構成：將通常動作時被輸入至動作確認對象之輸出電路的輸入資料輸入至備用之輸出電路，並將通常動作時連接於動作確認對象之輸出電路之輸出端子連接於備用之輸出電路，藉此使動作確認對象之輸出電路自顯示面板之驅動切斷。
(驅動電路120之構成)
參照圖15，說明本實施形態之驅動電路120之構成。圖15係表示驅動電路120之概略構成的方塊圖。
如該圖所示，驅動電路20包含：n個取樣電路6-1~6-n(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為取樣電路6)，其係自階度資料輸入端子(未圖示)經由資料匯流排而輸入與n個液晶驅動用訊號輸出端子OUT1~OUTn(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為輸出端子OUT)之各個對應之階度資料；n個保持電路7-1~7-n(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為保持電路7)；將階度資料轉換成階度電壓訊號之n個DAC電路8-1~8-n、備用之DAC電路8-B(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為DAC電路8)、以及將參考用階度資料轉換成參考輸出訊號之參考用DAC電路8-A；n個運算放大器1-1~1-n及備用之運算放大器1-B(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為運算放大器1)，其具有針對來自DAC電路8之階度電壓訊號之緩衝器電路的作用；n個判定電路3-1~3-n(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為判定電路3)；n個判定旗標4-1~4-n(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為判定旗標4)；以及n個提昇‧下拉電路5-1~5-n(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為提昇‧下拉電路5)。
此外，如該圖所示，驅動電路20包含：複數個開關2a，其係藉由測試訊號test(test1~testn)切換ON與OFF；以及複數個開關2b，其係藉由將測試訊號test反轉而成之反轉測試訊號testB(testB1~testBn)切換ON與OFF。再者，開關2a、2b均為當輸入有「H」位準之訊號時成為ON，當輸入有「L」位準之訊號時成為OFF。
再者，於圖15中，DAC電路8及運算放大器1相當於圖14所示之輸出電路塊30，參考用DAC電路8-A相當於圖14所示之參考輸出電路塊41，備用之DAC電路8-B相當於圖14所示之備用輸出電路塊40。又，運算放大器1、判定電路3及判定旗標4相當於圖14所示之比較判定電路50，運算放大器1兼用作輸出電路塊30之緩衝器與比較判定電路50之比較器。又，保持電路7與備用之DAC電路8-B之間所設置之開關2a、保持電路7-1~7-n與DAC電路8-1~8-n之間所設置之開關2b、及DAC電路8-1~8-n與測試用資料匯流排之間所設置之開關2a相當於圖14所示之切換電路161。又，開關SWB相當於圖14所示之切換電路160。再者，圖14所示之驅動電路120經由輸出端子OUT1~OUTn與圖14所示之顯示面板80連接，於圖15中，省略了顯示面板80之圖示。
測試訊號test及反轉測試訊號testB是藉由圖4所示之測試訊號生成電路51而生成。亦即，本實施形態中之測試訊號test及反轉測試訊號testB之波形與上述第1實施形態中之測試訊號test及反轉測試訊號testB之波形相同。再者，亦可藉由圖7所示之測試訊號生成電路52而生成本實施形態中之測試訊號test及反轉測試訊號testB。
(驅動電路120之通常動作)
通常動作時，於圖4所示之測試訊號生成電路51中，並未重置暫存器，因此測試訊號test1~testn均為「L」位準。
圖15中，為了對供給至資料匯流排之階度資料進行取樣，自未圖示之指標用暫存器輸入至取樣電路6-1~6-n之閘極的取樣訊號STR1~STRn(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為取樣訊號STR)依次成為「H」位準。取樣電路6係由閘極為「H」位準之期間獲取資料之閂鎖電路所構成，於取樣訊號為「H」位準之期間，取樣電路6獲取資料匯流排之資料，當閘極訊號為「L」位準時，保持為「H」位準期間所獲取之資料。
藉由取樣電路6-1~6-n而進行之資料獲取結束後，對與保持電路7連接之訊號LS線供給「H」位準之訊號LS。訊號LS被供給至保持電路7之閘極，於閘極為「H」位準之期間，保持電路7獲取與自身連接之取樣電路6所保持之資料。又，保持電路7於訊號LS成為「L」位準後，保持所獲取之資料。
此時，測試訊號test1~testn均為「L」位準，故而反轉測試訊號testB1~testBn均為「H」位準。藉此，來自保持電路7-1~7-n之階度資料分別被輸入至DAC電路8-1~8-n。繼而，DAC電路8-1~8-n將保持電路7-1~7-n中所保持之輸入階度資料轉換成階度電壓訊號，並作為階度電壓而輸出至運算放大器1-1~1-n之正極性輸入端子。
此處，由於開關2b為ON，故而運算放大器1-1~1-n之輸出成為朝向自身之負極性輸入端子的負反饋。藉此，運算放大器1-1~1-n作為電壓隨動器而動作。如此，運算放大器1-1~1-n將來自DAC電路8-1~8-n之階度電壓緩衝後，輸出至所對應之各輸出端子OUT1~OUTn。
(動作確認測試概要)
當動作確認測試開始時，測試訊號test1成為「H」位準，反轉測試訊號testB1成為「L」位準。此時，於保持電路7-1之輸出與備用之DAC電路8-B之間所設置之開關2a為ON，藉此保持電路7-1與備用之DAC電路8-B連接。其他保持電路7-2~7-n與DAC電路8-2~8-n之連接於通常動作時係相同。
又，於輸出端子OUT1與備用之運算放大器1-B之間所設置之開關2a為ON，藉此輸出端子OUT1與備用之運算放大器1-B連接。其他輸出端子OUT2~n與運算放大器1-2~1-n之連接於通常動作時係相同。
如上所述，由於反轉測試訊號testB1成為「L」位準，故而於DAC電路8-1與保持電路7-1之間及於運算放大器1-1與輸出端子OUT1之間所設置之開關2b成為OFF。藉此，DAC電路8-1與保持電路7-1之連接、及運算放大器1-1與輸出端子OUT1之連接分別被切斷，DAC電路8-1及運算放大器1-1變得與顯示面板之驅動無關。
以下，運算放大器1-1及DAC電路8-1之動作確認測試之具體內容係與第1實施形態中之動作確認測試1~5相同。亦即，由於測試訊號test1為「H」，故而與運算放大器1-1之輸入端子及輸出端子連接之開關2a及開關2b分別成為「ON」「OFF」。因此，運算放大器1-1之負極性輸入端子與輸出端子之連接被切斷，從而於運算放大器1-1之負極性輸入端子上連接有參考用DAC電路8-A。藉由該連接，運算放大器1-1作為對DAC電路8-1之電壓與參考用DAC電路8-A之電壓加以比較之比較器而進行動作，運算放大器1-1之輸出被輸出至判定電路3-1。又，運算放大器1-2~1-n及備用之運算放大器1-B作為通常動作之緩衝器而發揮作用，故而可一面進行動作確認測試，一面進行顯示面板之驅動。
當DAC電路8-1及運算放大器1-1之動作確認結束時，測試訊號test2成為「H」位準，反轉測試訊號testB2成為「L」位準。此時，於保持電路7-2之輸出與備用之DAC電路8-B之間所設置之開關2a為ON，藉此保持電路7-2與備用之DAC電路8-B連接。其他保持電路7-1、7-3~7-n與DAC電路8-1、8-3~8-n之連接於通常動作時係相同。
又，於輸出端子OUT2與備用之運算放大器1-B之間所設置之開關2a為ON，藉此輸出端子OUT2與備用之運算放大器1-B連接。其他輸出端子OUT1、3~n與運算放大器1-1、1-3~1-n之連接於通常動作時係相同。
如上所述，於測試訊號test2為「H」位準之期間，反轉測試訊號testB2成為「L」位準，因此於DAC電路8-2與保持電路7-2之間、及於運算放大器1-2與輸出端子OUT2之間所設置之開關2b成為OFF。藉此，DAC電路8-2與保持電路7-2之連接、及運算放大器1-2與輸出端子OUT2之連接分別被切斷，DAC電路8-2及運算放大器1-2變得與顯示面板之驅動無關。
以下，運算放大器1-2及DAC電路8-2之動作確認測試之具體內容與第1實施形態中之動作確認測試1~5相同。又，運算放大器1-1、1-3~1-n及備用之運算放大器1-B作為通常動作之緩衝器而發揮作用，因此可一面進行動作確認測試，一面進行顯示面板之驅動。
同樣地，於測試訊號test3~testn為「H」位準之期間，分別進行連接之變更，進行自DAC電路8-3至DAC電路8-n之動作確認。此處，當自判定旗標4所輸出之訊號Flag均為「L」位準時、及於動作確認之過程中任一訊號Flag成為「H」位準時之具體處理內容與第1實施形態相同。
[實施形態3]
以下參照圖16~圖19，說明本發明之第3實施形態。於本實施形態中，說明第1實施形態之顯示裝置90之另一變形例即顯示裝置290。
(顯示裝置290之構成)
首先，參照圖16，說明本實施形態之顯示裝置290之概略構成。圖16係表示顯示裝置290之概略構成的方塊圖。顯示裝置290包含顯示面板80及驅動電路220。驅動電路220是於圖2所示之驅動電路20中，未設置參考輸出電路塊41，且將切換電路60及61分別置換成切換電路260及261之構成。
於圖2所示之驅動電路20中，係於動作確認測試時，對來自輸出電路塊30之被選擇出的輸出電路之輸出訊號與來自參考輸出電路塊41之參考輸出訊號進行比較。另一方面，於圖16所示之驅動電路220中，係藉由對來自輸出電路塊30之被選擇出的兩個輸出電路之測試用輸出訊號進行比較，檢測輸出電路之不良的構成。
(驅動電路220之構成)
參照圖17，說明本實施形態之驅動電路220之構成。於圖3所示之驅動電路20中，係於動作確認測試時，將保持電路7與DAC電路8之間之連接加以切換之構成，而於圖17所示之驅動電路220中，係將取樣電路6與保持電路7之間之連接加以切換之構成。
如圖17所示，驅動電路220包含：n個取樣電路6-1~6-n(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為取樣電路6)，其係自階度資料輸入端子(未圖示)經由資料匯流排而輸入與n個液晶驅動用訊號輸出端子OUT1~OUTn(以下，於本實施形態中進行總稱時，稱為輸出端子OUT)之各個對應之階度資料；n個保持電路7-1~7-n、以及2個備用之保持電路7-C、7-D(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為保持電路7)；將階度資料轉換成階度電壓訊號之n個DAC電路8-1~8-n、及2個備用之DAC電路8-C、8-D(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為DAC電路8)；n個運算放大器1-1~1-n及備用之運算放大器1-C、1-D(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為運算放大器1)，其具有針對來自DAC電路8之階度電壓訊號的緩衝器電路之作用；n個判定電路3-1~3-n及2個備用之判定電路3-C、3-D(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為判定電路3)；n個判定旗標4-1~4-n及2個備用之判定旗標4-C、4-D(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為判定旗標4)；以及n個提昇.下拉電路5-1~5-n及2個備用之提昇‧下拉電路5-C、5-D(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為提昇‧下拉電路5)。
此外，如該圖所示，驅動電路220包含：複數個開關2a，其係藉由測試訊號test(test0~test(n/2))切換ON、OFF；複數個開關2b，其係藉由將測試訊號test加以反轉而成之反轉測試訊號testB(testB0~testB(n/2))切換ON、OFF；n個開關SWA1~SWAn(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為開關SWA)，其係藉由閘極訊號T1~T(n/2-1)變更連接目的地；以及n個開關SWB1~SWBn(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為開關SWB)，其係藉由閘極訊號T1~T(n/2)變更連接目的地。開關2a、2b均為當輸入有「H」位準之訊號時成為ON，當輸入「L」有位準之訊號時成為OFF。
又，開關SWA‧SWB分別為包含端子0、端子1及端子2，且具有連接端子0與端子1之狀態及連接端子0與端子2之狀態之兩個連接狀態的開關電路。具體而言，開關SWAh(h=1~n-2)之端子0經由開關2b而與保持電路7-(h+2)連接，開關SWAh(h=1~n-2)之端子1及2分別與取樣電路6-(h+2)及取樣電路6-i連接。又，開關SWA(n-1)之端子0經由開關2b而與備用之保持電路7-C連接，開關SWA(n-1)之端子1及2分別與資料匯流排及取樣電路6-(n-1)連接。又，開關SWAn之端子0經由開關2b而與備用之保持電路7-D連接，開關SWAn之端子1及2分別與資料匯流排及取樣電路6-n連接。
另一方面，開關SWBh(h=1~n-2)之端子0、1及2分別與輸出端子OUTh、運算放大器1-h之輸出端子及運算放大器1-(h+2)之輸出端子連接。又，開關SWB(n-1)之端子0、1及2分別與輸出端子OUT(n-1)、運算放大器1-(n-1)之輸出端子及備用之運算放大器1-C之輸出端子連接。又，開關SWBn之端子0、1及2分別與輸出端子OUTn、運算放大器1-n之輸出端子及備用之運算放大器1-D之輸出端子連接。
開關SWA‧SWB之連接狀態係根據閘極訊號之值切換。具體而言，閘極訊號為「H」時端子0與端子2連接(導通)，閘極訊號為「L」時端子0與端子1連接(導通)。閘極訊號T1~Tn由下述數2所示之邏輯式表示。
再者，圖17中，DAC電路8及運算放大器1相當於圖16所示之輸出電路塊30，備用之DAC電路8-C、8-D相當於圖16所示之備用輸出電路塊40。又，運算放大器1、判定電路3及判定旗標4相當於圖14所示之比較判定電路50，運算放大器1兼用作輸出電路塊30之緩衝器與比較判定電路50之比較器。又，於保持電路7與備用之DAC電路8-D之間所設置之開關2a、與保持電路7連接之開關2a、2b及開關SWA相當於圖16所示之切換電路261。又，開關SWB相當於圖16所示之切換電路260。再者，圖16所示之驅動電路220經由輸出端子OUT1~OUTn而與圖16所示之顯示面板80連接，於圖17中，省略了顯示面板80之圖示。
運算放大器1於通常動作時，使輸出反饋為負極性輸入而作為電壓隨動器之緩衝器發揮作用。另一方面，於動作確認時，運算放大器1變更連接以便作為比較器而發揮作用，使來自與自身串聯連接之DAC電路8之輸出輸入至自身之正極性輸入端子，並且使來自與該DAC電路8鄰接之DAC電路8之輸出輸入至自身之負極性輸入端子。
具體而言，如圖17所示，運算放大器1-1將來自DAC電路8-1之輸出輸入至自身之正極性輸入端子，並且經由藉由測試訊號test1而控制之開關2a，使來自DAC電路8-2之輸出輸入至自身之負極性輸入端子。同樣地，運算放大器1-2使來自DAC電路8-2之輸出輸入至自身之正極性輸入端子，並且經由藉由測試訊號test1而控制之開關2a，使來自DAC電路8-1之輸出輸入至自身之負極性輸入端子。
(驅動電路220之通常動作)
圖18係表示用以生成測試訊號test及反轉測試訊號testB之測試訊號生成電路53的圖。測試訊號生成電路53是於圖4所示之測試訊號生成電路51中，將移位暫存器301及NOR閘NOR1分別置換成移位暫存器302及NOR閘NOR2之構成。
移位暫存器302由(n/2)+1個D型正反器DFF0~DFF(n/2)所構成。又，NOR閘NOR2具有(n/2)個輸入端子，各輸入端子中輸入有自圖17所示之判定旗標4-1~4-n所輸出之訊號Flag1~Flag(n/2)(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為訊號Flag)。如後所述，訊號Flag僅於檢測出運算放大器1之動作異常時成為「H」位準，因此於通常動作時，訊號Flag_HB為「H」位準。
於驅動電路20之通常動作時，重置訊號RESET保持為「H」位準，移位暫存器302成為重置狀態。藉此，測試訊號test1~test(n/2)成為「L」位準，反轉測試訊號testB1~testB(n/2)成為「H」位準。此時，根據數2，閘極訊號T1~T(n/2)均成為「L」位準。
於圖17中，為了對供給至資料匯流排之階度資料進行取樣，自未圖示之指標用暫存器輸入至取樣電路6-1~6-n之閘極的取樣訊號STR1~STRn(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為取樣訊號STR)依次成為「H」位準。取樣電路6係由閘極為「H」位準之期間獲取資料之閂鎖電路所構成，於取樣訊號STR為「H」位準之期間，取樣電路獲取資料匯流排之階度資料，於取樣訊號STR為「L」位準之情形時，保持為「H」位準期間所獲取之階度資料。
如上所述，閘極訊號T1~T(n/2)均為「L」位準，因此於開關SWA中，端子0與端子1連接。因此，取樣電路6-1~6-n分別與保持電路7-1~7-n連接。
藉由取樣電路6-1~6-n而進行之資料獲取結束後，經由開關2b而與保持電路7-1~7-n連接之訊號LS線中供給有「H」位準之訊號LS。此時，反轉測試訊號testB均為「H」位準，因此訊號LS被供給至保持電路7-1~7-n之閘極，於閘極為「H」位準之期間，保持電路7-1~7-n獲取與自身連接之取樣電路6-1~6-n所保持之階度資料。又，保持電路7-1~7-n於訊號LS成為「L」位準後，保持所獲取之階度資料。
於驅動電路220中，於獲取階度資料期間亦必需進行顯示。因此，如上所述，保持電路7保持所獲取之階度資料，並藉由所保持之資料而輸出顯示用驅動訊號。又，保持電路7於輸出顯示用驅動訊號期間，自資料匯流排進行資料之獲取。
藉此，DAC電路8-1~8-n分別將保持電路7-1~7-n中所保持之階度資料轉換成階度電壓訊號，並作為階度電壓而輸出至運算放大器1-1~1-n之正極性輸入端子。此處，由於開關2b為ON，故而運算放大器1-1~1-n之輸出成為朝向自身之負極性輸入端子的負反饋。藉此，運算放大器1-1~1-n作為電壓隨動器而動作。因此，運算放大器1-1~1-n將來自DAC電路8-1~8-n之階度電壓緩衝後，輸出至所對應之各輸出端子OUT1~OUTn。
(動作確認測試概要)
圖19係表示驅動電路220中之動作確認測試時之重置訊號RESET、訊號TESTSP、訊號TESTCK及測試訊號test1~test(n/2)之波形的圖。動作確認測試係藉由將訊號TESTSP設為「H」位準而開始。藉由訊號TESTCK之上升，訊號TESTSP為「H」位準被正反器DFF0所識別。藉此，移位暫存器302之各正反器DFF0~DFF(n/2)依次輸出與訊號TESTCK之上升同步之脈衝訊號作為測試訊號test0~test(n/2)及反轉測試訊號testB0~testB(n/2)。
此時，於圖17中，測試訊號test0為「H」位準時(亦即，反轉測試訊號testB0為「L」位準之時)，根據數2，閘極訊號T1~Tn均成為「L」位準，於開關SWA1~SWAn及開關SWB1~SWBn中，端子0與端子1成為連接狀態。亦即，測試訊號test0為「H」位準之期間係備用輸出電路之動作確認測試期間。
此時，備用之保持電路7-A、7-B之輸入端子與測試用資料匯流排連接。藉此，備用之保持電路7-C之閘極中輸入有動作確認測試用之取樣訊號即訊號TSTR1，備用之保持電路7-D之閘極中輸入有動作確認測試用之取樣訊號即訊號TSTR2。該等訊號TSTR1、TSTR2相當於圖16所示之測試用階度資料。
此處，對測試用資料匯流排設置階度資料，將訊號TSTR1設為「H」位準，藉此使階度資料保持於備用之保持電路7-A。繼而，對測試用資料匯流排設置不同之階度資料，將訊號TSTR2設為「H」位準，藉此可使備用之保持電路7-B保持不同之階度資料。藉由於備用之保持電路7-A及7-B中保持有各不相同之階度資料，來自備用之DAC電路8-C的測試用輸出訊號與來自備用之DAC電路8-B的測試用輸出訊號成為不同之電壓。
藉此，備用之運算放大器1-C之正極性輸入端子中輸入有來自備用之DAC電路8-C之測試用輸出訊號，備用之運算放大器1-C之負極性輸入端子中輸入有來自備用之DAC電路8-D之測試用輸出訊號。備用之運算放大器1-C進行比較器之動作，若對正極性輸入端子之輸入大於對負極性輸入端子之輸入電壓值，則將輸出設為「H」，若反之則將輸出設為「L」。可根據輸入至備用之DAC電路8-C及DAC電路8-B之階度資料，預先設定備用之運算放大器1-C之輸出電壓為「H」位準或為「L」位準作為期望值。
因此，藉由備用之判定電路3-C判定該期望值及備用之運算放大器1-C之輸出，若與期望值不同，則對備用之判定旗標4-C輸入「H」位準之訊號。於備用之運算放大器1-D及備用之判定電路3-D中，亦進行來自備用之運算放大器1-D之輸出與期望值之比較，且備用之判定電路3-D對備用之判定旗標4-D輸入判定結果。此處，來自備用之判定電路3-C之判定結果與來自備用之判定電路3-D之判定結果的邏輯和成為訊號Flag0，因此若備用之運算放大器1-D及備用之判定電路3-D中之任一者中之判定結果成為「H」位準，則訊號Flag0成為「H」位準。
如以上所述，進行備用之輸出電路之動作確認。關於動作確認之具體內容，雖然存在對DAC電路供給階度資料或者對保持電路供給階度資料之差異，但是與第1實施形態中之動作確認測試大致相同。
繼而，當將測試訊號test1設為「H」位準，將反轉測試訊號testB1設為「L」位準時，根據數2，閘極訊號T1~T(n/2)均成為「H」位準。藉此，取樣電路6-1與保持電路7-3連接，取樣電路6-2與保持電路7-4連接，其他取樣電路6與保持電路7之連接亦依次往下推延。亦即，取樣電路6-h(h=1~n-2)與保持電路7-(h+2)連接，取樣電路6-(n-1)與備用之保持電路7-C連接，最後行之取樣電路6-n與備用之保持電路7-D連接。
又，輸出端子OUT1與運算放大器1-3連接，輸出端子OUT2與運算放大器1-4連接，其他輸出端子OUT與運算放大器1之連接亦依次往下推延。亦即，輸出端子OUTh(h=1~n-2)與運算放大器1-(h+2)連接，輸出端子OUT(n-1)與備用之運算放大器1-A連接，最後行之輸出端子OUTn與備用之運算放大器1-B連接。
如上所述，開關SWA‧SWB之連接狀態已變更，藉此取樣電路6-1與保持電路7-1之連接及取樣電路6-2與保持電路7-2之連接被切斷，運算放大器1-1與輸出端子OUT1之連接以及運算放大器1-2與輸出端子OUT2之連接被切斷。藉此，保持電路7-1、DAC電路8-1、輸出端子OUT1、保持電路7-2、DAC電路8-2及輸出端子OUT2變得與顯示面板之驅動無關。
由於測試訊號test1為「H」位準，故而與運算放大器1-1、1-2之輸入端子及輸出端子連接之開關2a及開關2b分別成為「ON」「OFF」。運算放大器1-1之負極性輸入端子與輸出端子之連接被切斷，於運算放大器1-1之負極性輸入端子上連接有DAC電路8-2。藉由該連接，運算放大器1-1作為對來自DAC電路8-1之測試用輸出訊號與來自DAC電路8-2之測試用輸出訊號加以比較之比較器而進行動作，且運算放大器1-1之輸出與判定電路3-1連接。
同樣地，於運算放大器1-2之負極性輸入端子上連接有DAC電路8-1。藉此，運算放大器1-2作為對來自DAC電路8-2之測試用輸出訊號與來自DAC電路8-1之測試用輸出訊號加以比較之比較器而進行動作，運算放大器1-2之輸出與判定電路3-2連接。又，於運算放大器1-1、1-2之正極性輸入端子上，分別除了DAC電路8-1、8-2以外，亦連接有提昇‧下拉電路5-1、5-2。
對保持電路7-1、7-2之輸入被自取樣電路6-1、6-2切換至測試用資料匯流排。藉此，保持電路7-1之閘極中輸入有訊號TSTR1，保持電路7-2之閘極中輸入有訊號TSTR2。
此處，對測試用資料匯流排設置階度資料，將訊號TSTR1設為「H」位準，藉此使保持電路7-1保持階度資料。繼而，對測試用資料匯流排設置不同之階度資料，將訊號TSTR2設為「H」位準，藉此可使保持電路7-2保持不同之階度資料。藉由於保持電路7-1及7-2中保持不同之階度資料，DAC電路8-1及DAC電路8-2之階度電壓訊號成為具有差之電壓。來自DAC電路8-1之測試用輸出訊號與來自DAC電路8-2之測試用輸出訊號成為不同之電壓。
藉此，運算放大器1-1之正極性輸入端子中輸入有來自DAC電路8-1之測試用輸出訊號，運算放大器1-1之負極性輸入端子中輸入有來自DAC電路8-2之測試用輸出訊號。運算放大器1-1進行比較器之動作，若對正極性輸入端子之輸入大於對負極性輸入端子之輸入電壓值，則將輸出設為「H」，若反之則將輸出設為「L」。可根據輸入至DAC電路8-1及DAC電路8-2之階度資料，預先設定運算放大器1-1之輸出電壓為「H」位準或為「L」位準作為期望值。
因此，藉由判定電路3-1判定該期望值與運算放大器1-1之輸出，若與期望值不同，則對判定旗標4-1輸入「H」位準之訊號。於運算放大器1-2及判定電路3-2中，亦進行來自運算放大器1-2之輸出與期望值之比較，且判定電路3-2對判定旗標4-2輸入判定結果。此處，來自判定電路3-1之判定結果與來自判定電路3-2之判定結果的邏輯和成為訊號Flag1，因此若運算放大器1-2及判定電路3-2中之任一者中之判定結果成為「H」位準，則訊號Flag1成為「H」位準。
如以上所述，進行第1行及第2段之輸出電路之動作確認。於測試訊號test1「H」位準之期間，藉由開關SWA‧SWB之連接狀態之切換，而使取樣電路6-1~6-n，保持電路7-3~7-n‧備用之保持電路7-C、7-D，DAC電路8-3~8-n‧備用之DAC電路8-C、8-D，運算放大器1-3~1-n‧備用之運算放大器1-C、1-D，以及輸出端子OUT1~OUTn分別連接。此時，運算放大器1-3~1-n及備用之運算放大器1-C、1-D係作為使來自DAC電路8-3~8-n及備用之DAC電路8-C、8-D之階度電壓分別放大之緩衝器而發揮作用。因此，可一面進行顯示面板80之驅動，一面進行保持電路7-1、7-2、DAC電路8-1、8-2及運算放大器1-1、1-2之動作確認。
再者，於本實施形態中，連接狀態之切換之時序變得重要。如(驅動電路220之通常動作)中所說明，驅動電路220對顯示面板80一直進行驅動，資料取樣中亦藉由保持於保持電路7中之資料，而輸出顯示用驅動訊號。驅動電路220中，保持電路7與DAC電路8之連接不會切換，保持電路7之資料僅可藉由訊號LS而變更。當藉由測試訊號test而進行連接狀態之切換時，雖會進行DAC電路8與輸出端子OUT之連接之切換，但不會切換保持電路7之階度資料，故而會發生顯示不良。為了防止該顯示不良，於藉由測試訊號test進行連接狀態之切換時，必需輸入訊號LS，而對保持電路7重新輸入取樣電路6之資料。
作為具體方法，可考慮將輸入至圖18所示之AND閘AND1的訊號TESTCK設為與訊號LS同步之訊號。藉此，移位暫存器302於每當訊號LS成為「H」位準時，測試訊號test0~test(n/2)依次成為「H」位準，故而藉由測試訊號test而進行之連接狀態的切換與訊號LS同步進行。
再者，即使邏輯上同時變化之訊號，於實際電路中，亦不會因負載電容之不同而完全同時變化。但是，由於保持電路7係於訊號LS之「H」位準期間獲取階度資料，故而只要以使藉由測試訊號test而進行之連接狀態的切換與保持電路7之階度資料之獲取於訊號LS為「H」位準之期間結束之方式進行電路設計即可。
其次，當測試訊號test2成為「H」位準，反轉測試訊號testB2成為「L」位準時，根據數2，閘極訊號T1成為「L」位準，閘極訊號T2~T(n/2)成為「H」位準。由於閘極訊號T1為「L」位準，故而取樣電路6-1與保持電路7-1之連接及取樣電路6-2與保持電路7-2之連接於通常動作時係相同。
另一方面，由於閘極訊號T2~T(n/2)為「H」位準，故而取樣電路6-3與保持電路7-5連接，取樣電路6-4與保持電路7-6連接，其他取樣電路6與保持電路7之連接亦依次往下推延。亦即，取樣電路6-f(f=3~n-2)與保持電路7-(f+2)連接，取樣電路6-(n-1)與備用之保持電路7-C連接，最後行之取樣電路6-n與備用之保持電路7-D連接。
又，輸出端子OUT1與運算放大器1-1之連接及輸出端子OUT2與運算放大器1-2之連接於通常動作時係相同。另一方面，輸出端子OUT3與運算放大器1-5連接，輸出端子OUT4與運算放大器1-6連接，其他輸出端子OUT與運算放大器1之連接亦依次往下推延。亦即，輸出端子OUTf(f=3~n-2)與運算放大器1-(f+2)連接，輸出端子OUT(n-1)與備用之運算放大器1-A連接，最後行之輸出端子OUTn與備用之運算放大器1-B連接。
如上所述，開關SWA‧SWB之連接狀態已變更，藉此取樣電路6-3與保持電路7-3之連接及取樣電路6-4與保持電路7-4之連接被切斷，運算放大器1-3與輸出端子OUT3之連接及運算放大器1-4與輸出端子OUT4之連接被切斷。藉此，保持電路7-3、DAC電路8-3、輸出端子OUT3、保持電路7-4、DAC電路8-4及輸出端子OUT4變得與顯示面板80之驅動無關。
由於測試訊號test2為「H」位準，故而與運算放大器1-3、1-4之輸入端子及輸出端子連接之開關2a及開關2b分別成為「ON」「OFF」。運算放大器1-3之負極性輸入端子與輸出端子之連接被切斷，於運算放大器1-3之負極性輸入端子上連接有DAC電路8-4。藉由該連接，運算放大器1-3作為對來自DAC電路8-3之測試用輸出訊號與來自DAC電路8-4之測試用輸出訊號加以比較之比較器而進行動作，且運算放大器1-3之輸出與判定電路3-3連接。
同樣地，於運算放大器1-4之負極性輸入端子上連接有DAC電路8-3。藉此，運算放大器1-4作為對來自DAC電路8-4之測試用輸出訊號與來自DAC電路8-3之測試用輸出訊號加以比較之比較器而進行動作，且運算放大器1-4之輸出與判定電路3-4連接。又，於運算放大器1-3、1-4之正極性輸入端子上，分別除了DAC電路8-3、8-4以外，亦連接提昇‧下拉電路5-3、5-4。
對保持電路7-3、7-4之輸入被自取樣電路6-3、6-4切換至測試用資料匯流排。藉此，保持電路7-3之閘極中輸入有訊號TSTR1，保持電路7-4之閘極中輸入有訊號TSTR2。
此處，對測試用資料匯流排設置階度資料，將訊號TSTR1設為「H」位準，藉此使保持電路7-3中保持階度資料。繼而，對測試用資料匯流排設置不同之階度資料，將訊號TSTR2設為「H」位準，藉此可使保持電路7-4中保持不同之階度資料。藉由保持電路7-3及7-4中保持有不同之階度資料，DAC電路8-3及DAC電路8-4之階度電壓訊號成為具有差之電壓。來自DAC電路8-3之測試用輸出訊號與來自DAC電路8-4之測試用輸出訊號成為不同之電壓。
藉此，運算放大器1-3之正極性輸入端子中輸入有來自DAC電路8-3之測試用輸出訊號，運算放大器1-3之負極性輸入端子中輸入有來自DAC電路8-4之測試用輸出訊號。運算放大器1-3進行比較器之動作，若對正極性輸入端子之輸入大於對負極性輸入端子之輸入電壓值，則將輸出設為「H」，若反之則將輸出設為「L」。可根據輸入至DAC電路8-3及DAC電路8-4之階度資料，預先設定運算放大器1-3之輸出電壓為「H」位準或為「L」位準作為期望值。
因此，藉由判定電路3-3判定該期望值與運算放大器1-3之輸出，若與期望值不同則對判定旗標4-3輸入「H」位準之訊號。於運算放大器1-4及判定電路3-4中，亦進行來自運算放大器1-4之輸出與期望值之比較，且判定電路3-4對判定旗標4-4輸入判定結果。此處，由於來自判定電路3-3之判定結果與來自判定電路3-4之判定結果之邏輯和成為訊號Flag2，故而若運算放大器1-4及判定電路3-4中之任一者中之判定結果成為「H」位準，則訊號Flag2成為「H」位準。此時，圖18所示之測試訊號生成電路53中之訊號波形為以下所述。
圖20係表示重置訊號RESET、訊號TESTSP、訊號TESTCK、測試訊號test1~testn及訊號Flag2之波形的圖。於測試訊號test2成為「H」位準後，訊號Flag2成為「H」位準時，圖18所示之NOR閘NOR1之輸出訊號FlagHB成為「L」位準。因此，如圖20所示，使移位暫存器302進行動作之時脈TCK成為「L」，並一直保持。因此，一直保持著測試訊號test2為「H」位準、反轉測試訊號testB2為「L」位準之狀態。藉此，保持著訊號FIag2成為「H」位準之時點之連接狀態，繼續顯示面板之驅動。亦即，藉由除保持電路7-3、7-4以外之保持電路7、除DAC電路8-3、8-4以外之DAC電路8以及除運算放大器1-3、1-4以外之運算放大器1進行通常之顯示驅動。因此，不再使用被認為動作不良之第3段及第4段之輸出電路，而藉由其他輸出電路進行顯示面板之驅動。
亦即，於測試訊號test2為「H」位準之期間，藉由開關SWA‧SWB之連接狀態之切換，而使取樣電路6-1~6-n，保持電路7-1、7-2、7-5~7-n‧備用之保持電路7-C、7-D，DAC電路8-1、8-2、8-5~8-n‧備用之DAC電路8-C、8-D，運算放大器1-1、1-2、1-5~1-n‧備用之運算放大器1-C、1-D，輸出端子OUT1~OUTn分別連接。此時，運算放大器1-1、1-2、1-5~1-n及備用之運算放大器1-C、1-D係作為使來自DAC電路8-3~8-n及備用之DAC電路8-C、8-D之階度電壓分別放大之緩衝器而發揮作用。因此，可一面將自通常動作用之資料匯流排所輸入之階度資料轉換成階度電壓並自輸出端子OUT輸出而進行顯示面板80之驅動，一面進行保持電路7-3、7-4及DAC電路8-3、8-4之動作確認。
如以上所述，進行第3段及第4段之輸出電路之動作確認及自我修復。於測試訊號test3~test(n/2)之各個為「H」位準之期間，亦同樣地進行連接狀態之切換，從而所有輸出電路之動作確認結束。於自判定旗標4所輸出之訊號Flag均為「L」位準之情形時，或者於動作確認之過程中任一訊號Flag成為「H」位準之情形時，雖然電路構成多少有些不同，但處理內容與第1實施形態中之動作確認測試大致相同。
[實施形態4]
以下參照圖21及圖22，說明本發明之第4實施形態。於本實施形態中，說明第1實施形態之顯示裝置90之又一變形例即顯示裝置390。
(顯示裝置390之構成)
首先，參照圖21，說明本實施形態之顯示裝置390之概略構成。圖21係表示顯示裝置390之概略構成的方塊圖。顯示裝置390包括顯示面板80及驅動電路320。驅動電路320是於圖16所示之驅動電路220中，將切換電路260及261分別置換成切換電路360及361之構成。
於第3實施形態之驅動電路220中，係將通常動作時輸入至成為動作確認對象之輸出電路的階度資料輸入至該輸出電路之相鄰之輸出電路，將通常動作時輸入至該相鄰之輸出電路之階度資料輸入至進而相鄰之輸出電路，將對階度資料之輸出電路之輸入加以依次類推，將通常動作時輸入至最後行之輸出電路之階度資料輸入至備用之輸出電路之構成。另一方面，於本實施形態之驅動電路320中，係將通常動作時輸入至成為動作確認對象之輸出電路的階度資料於動作確認時輸入至備用之輸出電路，藉此將成為動作確認對象之輸出電路自顯示面板之驅動切斷之構成。
(驅動電路320之構成)
參照圖22，說明本實施形態之驅動電路320之構成。圖22係表示驅動電路320之概略構成的方塊圖。
如該圖所示，驅動電路320包含：n個取樣電路6-1~6-n(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為取樣電路6)，其係自階度資料輸入端子(未圖示)經由資料匯流排而輸入與n個液晶驅動用訊號輸出端子OUT1~OUTn(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為輸出端子OUT)之各個對應之階度資料；n個保持電路7-1~7-n、以及2個備用之保持電路7-C、7-D(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為保持電路7)；將階度資料轉換成階度電壓訊號之n個DAC電路8-1~8-n、及2個備用之DAC電路8-C、8-D(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為DAC電路8)；n個運算放大器1-1~1-n以及備用之運算放大器1-C、1-D(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為運算放大器1)，其具有針對來自DAC電路8之階度電壓訊號之緩衝器電路的作用；n個判定電路3-1~3-n及2個備用之判定電路3-C、3-D(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為判定電路3)；n個判定旗標4-1~4-n及2個備用之判定旗標4-C、4-D(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為判定旗標4)；以及n個提昇‧下拉電路5-1~5-n及2個備用之提昇‧下拉電路5-C、5-D(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為提昇‧下拉電路5)。
此外，如該圖所示，驅動電路320包含：複數個開關2a，其係藉由測試訊號test(test0~test(n/2))切換ON、OFF；以及複數個開關2b，其係藉由將測試訊號test加以反轉而成之反轉測試訊號testB(testB0~testB(n/2))切換ON、OFF。開關2a、2b均為於輸入有「H」位準之訊號時成為ON，於輸入有「L」位準之訊號時成為OFF。再者，於本實施形態中，測試訊號test及反轉測試訊號testB亦與第3實施形態同樣地，係自圖18所示之測試訊號生成電路53輸出。
(驅動電路320之通常動作)
通常動作時，與第3實施形態中之通常動作同樣地，測試訊號test0~test(n/2)均為「L」位準，反轉測試訊號testB0~testB(n/2)均為「H」位準。因此，取樣電路6-1~6-n分別與保持電路7-1~7-n連接，備用之保持電路7-C、7-D則未與任一取樣電路6連接。
於圖22中，為了對供給至資料匯流排之階度資料進行取樣，自未圖示之指標用暫存器輸入至取樣電路6-1~6-n之閘極的取樣訊號STR1~STRn(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為取樣訊號STR)依次成為「H」位準。取樣電路6由閘極為「H」位準之期間獲取資料之閂鎖電路所構成，於取樣訊號為「H」位準之期間，取樣電路6獲取資料匯流排之資料，於閘極訊號為「L」位準之情形時，保持「H」位準期間所獲取之資料。
藉由取樣電路6-1~6-n而進行之資料獲取結束後，對經由開關2b而與保持電路7-1~7-n連接之訊號LS線供給「H」位準之訊號LS。此時，反轉測試訊號testB均為「H」位準，因此訊號LS被供給至保持電路7-1~7-n之閘極，於閘極為「H」位準之期間，保持電路7-1~7-n獲取與自身連接之取樣電路6-1~6-n所保持之階度資料。又，保持電路7-1~7-n於訊號LS成為「L」位準之後，保持所獲取之階度資料。
藉此，DAC電路8-1~8-n分別將保持電路7-1~7-n中所保持之階度資料轉換成階度電壓訊號，並作為階度電壓而輸出至運算放大器1-1~1-n之正極性輸入端子。此處，由於開關2b為ON，故而運算放大器1-1~1-n之輸出成為朝向自身之負極性輸入端子的負反饋。藉此，運算放大器1-1~1-n作為電壓隨動器而動作。因此，運算放大器1-1~1-n將來自DAC電路8-1~8-n之階度電壓緩衝後，輸出至所對應之各輸出端子OUT1~OUTn。
(動作確認測試概要)
動作確認測試於圖18所示之測試訊號生成電路53中，藉由將訊號TESTSP設為「H」位準而開始。藉此，如圖19所示，測試訊號test0~test(n/2)依次成為「H」位準。
當測試訊號test0成為「H」位準時，反轉測試訊號testB0成為「L」位準。因此，於備用之輸出電路中，備用之保持電路7-C、7-D之輸入端子均與測試用資料匯流排連接。另一方面，於其他輸出電路中，保持電路7-1~7-n分別與取樣電路6-1~6-n連接。因此，對顯示面板80進行驅動之輸出電路與通常動作時相同。亦即，與第3實施形態同樣地，測試訊號test0為「H」位準之期間為備用之輸出電路之動作確認測試期間，備用之輸出電路之動作確認的具體內容與第3實施形態相同。
繼而，當將測試訊號test1設為「H」位準，將反轉測試訊號testB1設為「L」位準時，取樣電路6-1與備用之保持電路7-C連接，取樣電路6-2與備用之保持電路7-D連接。另一方面，輸出端子OUT1與備用之運算放大器1-C連接，輸出電路OUT2與備用之運算放大器1-D連接。
此處，於本實施形態中，即使測試訊號test1成為「H」位準，其他輸出電路中之連接狀態亦不會變更。亦即，即使於測試訊號test1為「H」位準之期間內，取樣電路6-3~6-n與保持電路7-3~7-n之連接、及輸出端子OUT3~OUTn與運算放大器1-3~1-n之連接狀態亦與測試訊號test0為「H」位準之期間內之連接狀態相同。
如上所述開關2a、2b之連接狀態已變更，藉此取樣電路6-1與保持電路7-1之連接、及取樣電路6-2與保持電路7-2之連接被切斷，運算放大器1-1與輸出端子OUT1之連接及運算放大器1-2與輸出端子OUT2之連接被切斷。藉此，保持電路7-1、DAC電路8-1、輸出端子OUT1、保持電路7-2、DAC電路8-2及輸出端子OUT2變得與顯示面板之驅動無關，從而進行第1行及第2段之輸出電路之動作確認。再者，該動作確認之具體內容與第3實施形態中者相同。
此時，取樣電路6-3~6-n，保持電路7-3~7-n‧備用之保持電路7-C、7-D，DAC電路8-3~8-n‧備用之DAC電路8-C、8-D，運算放大器1-3~1-n‧備用之運算放大器1-C、1-D，以及輸出端子OUT1~OUTn分別連接。又，此時，運算放大器1-3~1-n及備用之運算放大器1-C、1-D係作為使來自DAC電路8-3~8-n及備用之DAC電路8-C、8-D之階度電壓分別放大之緩衝器而發揮作用。因此，可一面進行顯示面板80之驅動，一面進行保持電路7-1、7-2、DAC電路8-1、8-2及運算放大器1-1、1-2之動作確認。
再者，於圖22所示之驅動電路320中，亦與圖17所示之驅動電路220同樣，階度資料輸入之切換係於取樣電路6與保持電路7之間進行。因此，如第3實施形態所說明，測試訊號test與訊號LS必需為彼此同步之訊號。
其次，當將測試訊號test2設為「H」位準，將反轉測試訊號testB2設為「L」位準時，取樣電路6-3與備用之保持電路7-C連接，取樣電路6-4與備用之保持電路7-D連接。又，輸出端子OUT3與備用之運算放大器1-C連接，輸出端子OUT4與備用之運算放大器1-D連接。
如上所述，開關2a、2b之連接狀態已變更，藉此保持電路7-3、7-4與取樣電路6-3、6-4之連接被切斷，輸出端子OUT3、OUT4與運算放大器1-3、1-4之連接被切斷。因此，保持電路7-3、7-4、DAC電路8-3、8-4及運算放大器1-3、1-4變得與顯示面板80之驅動無關。
藉此，第3段及第4段之輸出電路之動作確認及自我修復與第3實施形態中者同樣地進行。即使於測試訊號test3~test(n/2)之各個為「H」位準之期間內，亦同樣地進行連接狀態之切換，從而所有輸出電路之動作確認結束。於判定旗標4所輸出之訊號Flag均為「L」位準之情形時，或者於動作確認之過程中任一訊號Flag成為「H」位準之情形時，雖然電路構成多少有些不同，但處理內容與第1實施形態中之動作確認測試大致相同。
[實施形態5]
以下參照圖23~圖27，說明本發明之第5實施形態。於本實施形態中，說明第1實施形態之顯示裝置90之又一變形例即顯示裝置490。
(顯示裝置190之構成)
參照圖23，說明本實施形態之顯示裝置490之概略構成。圖23係表示顯示裝置490之概略構成的方塊圖。顯示裝置490包括顯示面板80及驅動電路420。驅動電路420係於圖2所示之驅動電路20中，將切換電路61置換成切換電路461之構成。
於上述第1~第4實施形態之驅動電路20、120、220、320中，動作確認測試時之測試用階度資料或參考用階度資料係經由測試用之專用匯流排而供給至輸出電路塊。另一方面，本實施形態之驅動電路420係將測試用階度資料及參考用階度資料經由用以於通常動作時供給階度資料之資料匯流排而供給至輸出電路塊之構成。
(驅動電路420之構成)
參照圖24，說明本實施形態之驅動電路420之構成。圖24係表示驅動電路420之概略構成的方塊圖。
如該圖所示，驅動電路420包含：n個取樣電路6-1~6-n(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為取樣電路6)，其係自階度資料輸入端子(未圖示)經由資料匯流排而輸入至與n個液晶驅動用訊號輸出端子OUT1~OUTn(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為輸出端子OUT)之各個對應之階度資料；參考用取樣電路6-A及備用之取樣電路6-B；n個保持電路7-1~7-n(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為保持電路7)、參考用保持電路7-A及備用之保持電路7-B；將階度資料轉換成階度電壓訊號之n個DAC電路8-1~8-n(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為DAC電路8)、參考用DAC電路8-A及備用之DAC電路8-B；n個運算放大器1-1~1-n及備用之運算放大器1-B(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為運算放大器1)，其具有針對來自DAC電路8之階度電壓訊號的緩衝器電路的作用；n個判定電路3-1~3-n(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為判定電路3)；n個判定旗標4-1~4-n(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為判定旗標4)；以及n個提昇‧下拉電路5-1~5-n(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為提昇‧下拉電路5)。
此外，如該圖所示，驅動電路420包含：複數個開關2a，其係藉由測試訊號test(test1~testn)或測試訊號testA(testA1~testAn)切換ON、OFF；複數個開關2b，其係藉由將測試訊號test加以反轉而成之反轉測試訊號testB(testB1~testBn)切換ON、OFF；n個開關SWA1~SWAn(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為開關SWA)，其係藉由閘極訊號TA1~TAn變更連接目的地；以及n個開關SWB1~SWBn(以下，於本實施形態中進行統稱時，稱為開關SWB)，其係藉由閘極訊號TB1~TBn變更連接目的地。
開關2a、2b均為於輸入有「H」位準之訊號時成為ON，於輸入有「L」位準之訊號時成為OFF。
又，開關SWA‧SWB分別為包含端子0、端子1及端子2，且具有連接端子0與端子1之狀態及連接端子0與端子2之狀態之兩個連接狀態的開關電路。具體而言，開關SWAk(k=1~n)之端子0分別與供給有取樣訊號STR1~STRn之資料匯流排連接，開關SWAk之端子1與取樣電路6-k連接。又，開關SWAi(i=1~n-1)之端子2分別與取樣電路6-(i+1)連接，開關SWAn之端子2與備用之取樣電路6-B連接。另一方面，開關SWBk(k=1~n)之端子0及1分別與輸出端子OUTk及運算放大器1-k之輸出端子連接。又，開關SWBi(i=1~n-1)之端子2與運算放大器1-(i+1)之輸出端子連接，開關SWBn之端子2與備用之運算放大器1-B之輸出端子連接。
又，於開關SWA1~SWAn之端子1與取樣電路6-1~6-n之間之各連接點上，經由開關2a而連接有供給動作確認測試用之取樣訊號即訊號TSTR2之資料匯流排。
開關SWA‧SWB之連接狀態係根據閘極訊號之值切換。具體而言，當閘極訊號為「H」時端子0與端子2連接(導通)，當閘極訊號為「L」時端子0與端子1連接(導通)。閘極訊號TA1~TAn係由下述數3所示之邏輯式表示，閘極訊號TB1~TBn係由下述數4所示之邏輯式表示。
[數3]
(通常動作時之階度資料之取樣)
圖25係表示驅動電路420中之動作確認測試時之取樣訊號STR1~STR3、來自取樣電路6-1~6-3之輸出、訊號LS、來自保持電路7-1~7-3之輸出及來自輸出端子OUT之輸出之波形的圖。取樣訊號STR1~STR3為藉由未圖示之指標用暫存器而作成之脈衝訊號，且分別輸入至取樣電路6-1~6-3之閘極，以控制取樣電路6-1~6-3之動作。於圖25中，取樣訊號僅表示至取樣訊號STR3為止，但於驅動電路420中，取樣訊號STR1~STRn分別被輸入至取樣電路6-1~6-n之閘極。再者，參考用取樣電路6-A之閘極中輸入有動作確認測試用之取樣訊號即訊號TSTR1。
於取樣訊號STR1為「H」位準之期間，取樣電路6-1對來自資料匯流排之階度資料A進行取樣並輸出至保持電路7-1。於取樣訊號STR1成為「L」位準後，取樣電路6-1保持取樣訊號STR1即將成為「L」位準之前之階度資料(圖25中為階度資料A)。同樣地，取樣訊號STR2確定取樣電路6-2中所保持之階度資料，取樣訊號STR3確定取樣電路6-3中所保持之階度資料。
當藉由取樣電路6-1~6-n而保持來自資料匯流排之資料結束時，將訊號LS設為「H」位準。訊號LS被輸入至保持電路7之閘極，以控制保持電路7之動作。於訊號LS為「H」位準之間，保持電路7獲取並保持來自與各個保持電路7連接之取樣電路6的階度資料。保持電路7於訊號LS成為「L」位準後，亦保持所獲取之階度資料，故而自輸出端子OUT，可持續輸出基於保持電路7所保持之階度資料的階度電壓。再者，如由上述動作所知，於LS為「H」之期間以外，資料匯流排中供給有顯示用資料係通常情況。
(動作確認時之階度資料之取樣)
於動作確認測試中，對資料匯流排，除了供給通常顯示用之階度資料以外，亦供給參考用階度資料及測試用階度資料。根據圖26及圖27，說明供給通常顯示用之階度資料、參考用階度資料及測試用階度資料之時序。
圖26係表示訊號LS、訊號TCLK1、TCLK2、閘極訊號TA1~TA3、TB1~TB3、測試訊號test1~test3及測試訊號testA1~testA3之波形的圖。
該圖所示之訊號TCLK1、TCLK2係每當對訊號LS計數至特定次數時而成為「H」位準之訊號。測試訊號test1~testn於每當訊號TCLK2上升時依次成為「H」位準。此種test1~testn可藉由與圖4所示之移位暫存器301同樣之電路而生成。
此處，根據圖27，說明取樣電路6-1、保持電路7-1、DAC電路8-1及運算放大器1-1之故障檢測。
圖27係表示圖26所示之訊號TCLK1、TCLK2交替成為「H」位準之期間前後之訊號LS、訊號TCLK1、TCLK2、閘極訊號TA1、測試訊號testA1、閘極訊號TB1、測試訊號test1、訊號TSTR1、TSTR2之波形的圖。至訊號LS最初上升之時序Tim1為止，該等訊號均為「L」位準，資料匯流排中供給有通常驅動用之階度資料。
(時序Tim1)
於訊號LS最初上升之時序Tim1，圖24所示之驅動電路420係以下述(1)~(4)之方式進行動作。
(1)訊號LS成為「H」位準，取樣電路6中所保持之階度資料被傳輸至保持電路7。
(2)測試訊號testA1成為「H」位準，根據數3，閘極訊號TA1~TAn自「L」位準切換為「H」位準。藉此，於開關SWA1~SWAn中，端子0與端子2連接，取樣訊號STRi(i=1~n-1)被輸入至取樣電路6-(i+1)，取樣訊號STRn被輸入至備用之取樣電路6-B。
(3)對資料匯流排供給用於自我檢測之參考用階度資料，代替通常驅動用之階度資料。
(4)將輸入至參考用取樣電路6-A之閘極的訊號TSTR1設為「H」位準，藉此參考用取樣電路6-A自資料匯流排獲取參考用階度資料。由於輸入至參考用保持電路7-A之訊號LS為「H」位準，故而同時，參考用階度資料被自參考用取樣電路6-A輸入至參考用保持電路7-A，且參考用保持電路7-A保持參考用階度資料。
(時序Tim2)
繼而，於訊號LS下降之時序Tim2，保持電路7與DAC電路8之連接並未變更，故而保持電路7-1中所保持之階度資料藉由DAC電路8-1而轉換成階度電壓後，自輸出端子OUT1輸出。亦即，自輸出端子OUT1所輸出之階度電壓係與在保持著時序Tim1之前之取樣電路6-1與輸出端子OUT1之連接關係的狀態下自輸出端子OUT1輸出之階度電壓相同。同樣地，來自輸出端子OUT2~OUTn之階度電壓係與在保持著時序Tim1之前之取樣電路6-2~6-n與輸出端子OUT2~n之連接關係的狀態下自輸出端子OUT2~n輸出之階度電壓分別相同。
(時序Tim3)
其次，於訊號LS上升之時序Tim3，驅動電路420係以如下(1)~(6)之方式進行動作。
(1)訊號LS成為「H」位準，取樣電路6中所保持之階度資料被傳輸至保持電路7。
(2)測試訊號test1成為「H」位準，根據數4，閘極訊號TB1~TBn自「L」位準切換為「H」位準。藉此，於開關SWB1~SWBn中，端子0與端子2連接，輸出端子OUTi(i=1~n-1)被輸入至運算放大器1-(i+1)，輸出端子OUTn被輸入至備用之運算放大器1-B。藉此，取樣電路6-1、保持電路7-1、DAC電路8-1及運算放大器1-1變得與顯示面板80之驅動無關。
(3)對資料匯流排供給用於自我檢測之測試用階度資料，代替通常驅動用之階度資料。
(4)訊號TSTR2成為「H」位準，從而測試訊號testA1為「H」位準，故而訊號TSTR2被輸入至取樣電路6-1之閘極。藉此，取樣電路6-1自資料匯流排獲取測試用階度資料。又，由於輸入至保持電路7-1之訊號LS為「H」位準，故而同時，測試用階度資料被自取樣電路6-1輸入至保持電路7-1，且保持電路7-1保持測試用階度資料。
(5)測試訊號test1為「H」位準，反轉測試訊號testB1為「L」位準，因此運算放大器1-1作為比較器而發揮作用。此處，藉此，自DAC電路8-1將測試用輸出訊號輸入至運算放大器1-1之正極性輸入端子，自參考用DAC電路8-A將參考輸出訊號輸入至運算放大器1-1之負極性輸入端子。
(6)來自運算放大器1-1之輸出被輸入至判定電路3-1，並於判定電路3-1中，對自身所記憶之期望值與來自運算放大器1-1之輸出進行比較。該期望值可根據參考用階度資料及測試用階度資料人設定。藉此，檢測第1行之輸出電路之故障。
於自時序Tim3至其次訊號LS下降之時序Tim4為止期間，取樣電路6-1、保持電路7-1、DAC電路8-1及運算放大器1-1與顯示面板80之驅動無關，因此可一面進行顯示面板80之驅動，一面進行第1行之輸出電路之功能動作的確認。
(時序Tim4)
對資料匯流排供給通常驅動用之階度資料代替測試用階度資料。再者，驅動電路420在時序Tim3之連接狀態下，對顯示面板繼續輸出階度電壓。
(時序Tim5)
於進而其次訊號LS上升之時序Tim5，對資料匯流排供給參考用階度資料代替通常驅動用之階度資料。又，輸入至參考用取樣電路6-A之閘極的訊號TSTR1再次成為「H」位準，並於參考用取樣電路6-A、參考用保持電路7-A中保持參考用階度資料。
(時序Tim6)
於時序Tim5之其次訊號LS下降之時序Tim6，對資料匯流排供給通常驅動用之階度資料代替參考用階度資料。驅動電路420在時序Tim3之連接狀態下，對顯示面板繼續輸出階度電壓。
(時序Tim7)
於時序Tim6之其次訊號LS上升之時序Tim7，對資料匯流排供給測試用階度資料代替通常驅動用之階度資料。同時，將訊號TSTR2設為「H」位準，使取樣電路6-1及保持電路7-1中保持測試用階度資料。藉此，與時序Tim3同樣地，形成為於參考用保持電路7-A中保持有參考用階度資料，於保持電路7-1中保持有測試用階度資料之狀態。運算放大器1-1係作為比較器而發揮作用，與時序Tim3同樣地進行第1行之輸出電路之故障檢測。
此處，藉由使於時序Tim5、Tim7供給至資料匯流排之參考用階度資料及測試用階度資料，與於時序Tim1、Tim3供給至資料匯流排之參考用階度資料及測試用階度資料各不相同，可藉由不同之參考用階度資料及測試用階度資料進行複數次第1行之輸出電路之故障檢測。可變更參考用階度資料及測試用階度資料之次數，係藉由訊號TCLK1、TCLK2之週期中所包含之訊號LS之次數而決定。因此，可適當變更生成訊號TCLK1、TCLK2及訊號LS之電路而確定上述次數。
如圖26所示，測試訊號testA2因訊號TCLK1之第2次上升而上升，因此供給取樣訊號STR之資料匯流排與取樣電路6之連接發生變更，成為動作確認對象之輸出電路發生變更。如此，依次變更成為動作確認對象之輸出電路，並與參考用輸出電路進行比較，藉此可進行所有輸出電路之故障檢測。
再者，於圖24所示之驅動電路420中，與參考用DAC電路8-A連接之參考用取樣電路6-A係連接於與其他取樣電路6共用之資料匯流排，但亦可將連接參考用取樣電路6-A之專用資料匯流排與上述共用之資料匯流排分開另外設置。
與此相對，關於成為動作確認對象之取樣電路6-1~6-n、保持電路7-1~7-n及DAC電路8-1~8-n，於設有專用之資料匯流排之情形時，晶片上之佔有面積將增多，因此就晶片面積而言，加以共用化更為有利。
但是，當將連接參考用取樣電路6-A之專用資料匯流排與共用之資料匯流排分開另外設置時，搭載驅動電路420之晶片之佔有面積將增大，因此將連接參考用取樣電路6-A之資料匯流排與連接取樣電路6-1~6-n之資料匯流排加以共用化，可更縮小晶片之佔有面積。但是，參考用DAC電路8-A並不用於顯示面板80之驅動，且參考用DAC電路8-A於驅動電路420上僅設有1個，因此即使設有連接參考用取樣電路6-A之專用資料匯流排，晶片之佔有面積亦幾乎不會增大。因此，未必需要將連接參考用取樣電路6-A之資料匯流排與連接取樣電路6-1~6-n之資料匯流排加以共用化。
又，藉由設置連接參考用取樣電路6-A之專用資料匯流排，而無需於圖27所示之時序Tim5供給參考用階度資料。因此，於時序Tim5，供給與於時序Tim3所供給之測試用階度資料不同之測試用階度資料，藉此可進行複數次輸出電路之故障檢測，因此縮短動作確認測試之時間成為可能。
[實施形態之總結]
於上述實施形態1及2中，係設置通常之輸出電路、備用之輸出電路及參考用輸出電路，同時進行各輸出電路之比較與顯示面板之驅動，對顯示面板進行驅動之輸出電路之切換係藉由切換DAC電路與保持電路之連接及運算放大器與輸出端子之連接而進行。又，於實施形態3及4中，係設置通常之輸出電路及備用之輸出電路，同時進行各輸出電路之比較與顯示面板之驅動，對顯示面板進行驅動之輸出電路之切換係藉由切換取樣電路與保持電路之連接及運算放大器與輸出端子之連接而進行。又，於實施形態5中，係設置通常之輸出電路、備用之輸出電路及參考用輸出電路，同時進行各輸出電路之比較與顯示面板之驅動，對顯示面板進行驅動之輸出電路之切換係藉由切換資料匯流排與取樣電路之連接以及運算放大器與輸出端子之連接而進行。
但是，對顯示面板進行驅動之輸出電路之切換並不限定於上述實施形態1~5，例如，亦可設置通常之輸出電路、備用之輸出電路及參考用輸出電路，同時進行各輸出電路之比較與顯示面板之驅動，對顯示面板進行驅動之輸出電路之切換係藉由切換取樣電路與保持電路之連接及運算放大器與輸出端子之連接而進行。又，亦可設置通常之輸出電路及備用之輸出電路，同時進行各輸出電路之比較與顯示面板之驅動，對顯示面板進行驅動之輸出電路之切換係藉由切換保持電路與取樣電路之連接及運算放大器與輸出端子之連接而進行。如上所述，切換對顯示面板進行驅動之輸出電路的方法，可於同時進行各輸出電路之比較與顯示面板之驅動的範圍內適當變更。
又，於實施形態1、2及5中，係自通常之輸出電路中選擇1個，並對所選擇之輸出電路與參考用輸出電路進行比較之構成，但所選擇之輸出電路之數目亦可為2~n個。又，於實施形態3及4中，係自通常之輸出電路中選擇2個，並對所選擇之輸出電路彼此進行比較之構成，但所選擇之輸出電路之數目亦可為4~n個之偶數。任一情形時均係設置與所選擇之輸出電路之數目相等數目以上的備用之輸出電路，且將對輸出端子之連接自所選擇之輸出電路切換為備用之輸出電路，藉此可進行動作確認而不會發生顯示不良。
再者，於實施形態1、2及5中，當所選擇之輸出電路之數為2個以上時，參考用輸出電路既可為2個以上，亦可僅為1個。當所選擇之輸出電路之數目為2個以上，且參考用輸出電路僅為1個時，既可逐個切換所選擇之輸出電路而與參考用輸出電路進行比較，亦可將參考用輸出電路連接於複數個比較機構而同時進行比較。
又，於上述各實施形態中，係各輸出電路輸出階度電壓之構成，但並不限定於此，於液晶顯示裝置為STN(Super Twisted Nematic，超扭轉向列)方式之情形時，亦可為各輸出電路輸出階度電壓以外之影像訊號的構成。
本發明並不限定於上述各實施形態，而可於請求項所示之範圍內進行各種變更，關於將不同實施形態中分別所揭示之技術手段加以適當組合而獲得之實施形態，亦包含於本發明之技術範圍內。
[產業上之可利用性]
本發明係提供一種包含輸出電路之缺陷檢測及自我修復之具體機構，且包含可更容易地處理輸出電路之故障的顯示驅動用積體電路之顯示裝置者，特別適用於可一面進行通常之顯示面板之驅動，一面進行自我檢測及自我修復而不會產生顯示不良之液晶顯示裝置。又，本發明不僅可應用於液晶顯示裝置，而且可應用於其他顯示裝置。
1-1~1-n、1-A~1-D．．．運算放大器
3-1~3-n、3-C、3-D．．．判定電路(判定機構)
6-1~6-n、6-A、6-B．．．取樣電路
7-1~7-n、7-A~7-D‧‧‧保持電路
8-1~8-n、8-A~8-D‧‧‧DAC電路(數位類比轉換器)
10‧‧‧源極驅動器(驅動電路)
20、120、220、320、420‧‧‧驅動電路
30‧‧‧輸出電路塊(第1輸出電路)
40‧‧‧用輸出電路塊(第2輸出電路)
41‧‧‧參考輸出電路塊(第3輸出電路)
50‧‧‧比較判定電路(比較機構、判定機構、自我檢測及自我修復機構)
60、160、260、360‧‧‧切換電路(切換機構、自我檢測．自我修復機構)
61、161、261、361、461‧‧‧切換電路(控制機構、自我檢測．自我修復機構)
80‧‧‧顯示面板
90、190、290、390、490‧‧‧顯示裝置
SWA1~SWAn‧‧‧開關(控制電路)
SWB1~SWBn‧‧‧開關(切換電路)
TDATA‧‧‧測試用資料匯流排(資料匯流排)
圖1係表示本發明之一實施形態之液晶電視機之構成的方塊圖；
圖2係表示本發明之第1實施形態之顯示裝置之概略構成的方塊圖；
圖3係表示本發明之第1實施形態之驅動電路之構成的說明圖；
圖4係表示用以生成測試訊號test及反轉測試訊號testB之測試訊號生成電路的電路圖；
圖5係表示圖3所示之驅動電路中之動作確認測試時的重置訊號RESET、訊號TESTSP、訊號TESTCK及測試訊號test1~testn之波形的圖；
圖6係表示圖3所示之驅動電路中之動作確認測試時的重置訊號RESET、訊號TESTSP、訊號TESTCK、測試訊號test1~testn及訊號Flag2之波形的圖；
圖7係表示用以生成測試訊號test及反轉測試訊號testB之另一測試訊號生成電路的電路圖；
圖8係表示本發明之第1實施形態之動作確認測試之第1順序的流程圖；
圖9係表示本發明之第1實施形態之動作確認測試之第2順序的流程圖；
圖10係表示本發明之第1實施形態之動作確認測試之第3順序的流程圖；
圖11係表示本發明之第1實施形態之動作確認測試之第4順序的流程圖；
圖12係表示本發明之第1實施形態之動作確認測試之第5順序的流程圖；
圖13係表示本發明之第1實施形態之自我修復順序的流程圖；
圖14係表示本發明之第2實施形態之顯示裝置之概略構成的方塊圖；
圖15係表示本發明之第2實施形態之驅動電路之構成的說明圖；
圖16係表示本發明之第3實施形態之顯示裝置之概略構成的方塊圖；
圖17係表示本發明之第3實施形態之驅動電路之構成的說明圖；
圖18係表示用以生成測試訊號test及反轉測試訊號testB之又一測試訊號生成電路的電路圖；
圖19係表示圖17所示之驅動電路中之動作確認測試時的重置訊號RESET、訊號TESTSP、訊號TESTCK及測試訊號test1~test(n/2)之波形的圖；
圖20係表示圖17所示之驅動電路中之動作確認測試時的重置訊號RESET、訊號TESTSP、訊號TESTCK、測試訊號test1~testn及訊號Flag2之波形的圖；
圖21係表示本發明之第4實施形態之顯示裝置之概略構成的方塊圖；
圖22係表示本發明之第4實施形態之驅動電路之構成的說明圖；
圖23係表示本發明之第5實施形態之顯示裝置之概略構成的方塊圖；
圖24係表示本發明之第5實施形態之驅動電路之構成的說明圖；
圖25係表示圖24所示之驅動電路中之動作確認測試時的取樣訊號STR1~STR3、來自取樣電路6-1~6-3之輸出、訊號LS、來自保持電路7-1~7-3之輸出、及來自輸出端子OUT之輸出之波形的圖；
圖26係表示圖24所示之驅動電路中之動作確認測試時的訊號LS、訊號TCLK1與TCLK2、閘極訊號TA1~TA3與TB1~TB3、測試訊號test1~test3以及測試訊號testA1~testA3之波形的圖；及
圖27係表示於圖26所示之訊號TCLK1與TCLK2交替成為「H」位準之期間前後之訊號LS、訊號TCLK1與TCLK2、閘極訊號TA1、測試訊號testA1、閘極訊號TB1、測試訊號test1、訊號TSTR1與TSTR2之波形的圖。
20．．．驅動電路
30．．．輸出電路塊
40．．．備用輸出電路塊
41．．．參考輸出電路塊
50．．．比較判定電路
60．．．切換電路
61．．．切換電路
70．．．像素
80．．．顯示面板
90．．．顯示裝置

Claims (24)

  1. 一種驅動電路，其特徵在於，其係包含對顯示裝置輸出影像訊號之n個(n為2以上之自然數)輸出端子、及檢測並修復自身之不良之機構者，且包含：n個第1輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；p個以上(p為1以上n以下之自然數)之第2輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；第3輸出電路，其不與上述輸出端子連接，且將輸入資料轉換成影像訊號；切換機構，其係自上述第1輸出電路中選擇p個輸出電路，切斷與上述輸出端子之連接，並且自上述第2輸出電路將p個輸出電路連接於上述輸出端子；比較機構，其係比較來自所選擇之第1輸出電路之影像訊號與來自上述第3輸出電路之影像訊號；以及判定機構，其係根據該比較機構之比較結果，判定上述所選擇之第1輸出電路是否不良。
  2. 如請求項1之驅動電路，其中上述切換機構係於已選擇第q個至第q+p-1個(q+p-1為n以下之自然數)上述第1輸出電路之情形時，對第r個(r為未達q之自然數)上述輸出端子連接第r個上述第1輸出電路，並且對第s個(s為q以上n-p以下之自然數)上述輸出端子連接第s+p個上述第1輸出電路，且對第t個(t為大於n-p 且n以下之自然數)上述輸出端子連接上述第2輸出電路。
  3. 如請求項1之驅動電路，其中上述切換機構係將已為上述所選擇之第1輸出電路所切斷連接之輸出端子與上述第2輸出電路連接。
  4. 如請求項1至3中任一項之驅動電路，其中包含經由供給上述輸入資料之資料匯流排對上述第1至第3輸出電路輸入上述輸入資料之控制機構，上述控制機構係以使輸入至上述所選擇之第1輸出電路之輸入資料與輸入至上述第3輸出電路之輸入資料成為不同之值的輸入資料之方式進行控制。
  5. 如請求項4之驅動電路，其中上述資料匯流排包含第1至第3資料匯流排，上述控制機構係經由上述第1資料匯流排，對除上述所選擇之第1輸出電路以外之第1輸出電路及上述第2輸出電路輸入上述輸入資料，經由上述第2資料匯流排對上述所選擇之第1輸出電路輸入上述輸入資料，且經由上述第3資料匯流排對上述第3輸出電路輸入上述輸入資料。
  6. 如請求項4之驅動電路，其中上述控制機構係經由1個資料匯流排對上述第1至第3輸出電路輸入上述輸入資料。
  7. 如請求項1至3中任一項之驅動電路，其中 上述影像訊號為階度電壓，上述第1至第3輸出電路包含將上述輸入資料轉換成上述階度電壓之數位類比轉換器，上述比較機構係比較來自上述所選擇之第1輸出電路中所包含之數位類比轉換器之階度電壓、與來自上述第3輸出電路中所包含之數位類比轉換器之階度電壓。
  8. 如請求項7之驅動電路，其中上述第1輸出電路包含運算放大器作為上述數位類比轉換器之輸出緩衝器，上述運算放大器係於包含該運算放大器之第1輸出電路由上述切換機構所選擇而未與上述輸出端子連接時，作為比較器而動作，上述比較機構係作為上述比較器而動作之運算放大器。
  9. 如請求項8之驅動電路，其中上述第3輸出電路係連接於作為上述比較器而動作之運算放大器。
  10. 如請求項8之驅動電路，其中上述運算放大器係於包含該運算放大器之第1輸出電路與上述輸出端子連接時，作為電壓隨動器而動作。
  11. 如請求項1至3中任一項之驅動電路，其中上述判定機構係將對應於分別輸入至上述所選擇之第1輸出電路及上述第3輸出電路之輸入資料之、來自上述比較機構之比較結果作為期望值而記憶， 當上述比較結果與上述期望值不同時，判定上述所選擇之第1輸出電路為不良。
  12. 一種驅動電路，其特徵在於，其係包含對顯示裝置輸出影像訊號之n個(n為2以上之自然數)輸出端子、及檢測並修復自身之不良之機構者，且包含：n個第1輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；u個以上(u為2以上n以下之偶數)之第2輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；切換機構，其係自上述第1輸出電路中選擇u個輸出電路，切斷與上述輸出端子之連接，並且自上述第2輸出電路將u個輸出電路連接於上述輸出端子；比較機構，其係將所選擇之第1輸出電路中之任意兩個設為第1選擇輸出電路及第2選擇輸出電路，且比較來自上述第1選擇輸出電路之影像訊號與來自上述第2選擇輸出電路之影像訊號；以及判定機構，其係根據該比較機構之比較結果，判定上述所選擇之第1輸出電路是否不良。
  13. 如請求項12之驅動電路，其中上述切換機構係於已選擇第v個至第v+u-1個(v+u-1為n以下之自然數)上述輸出電路之情形時，對第w個(w為未達v之自然數)上述輸出端子連接第w個上述第1輸出電路，並且對第x個(x為v以上n-u以下之自然數)上述輸出 端子連接第x+u個上述第1輸出電路，且對第y個(y為大於n-u且n以下之自然數)上述輸出端子連接上述第2輸出電路。
  14. 如請求項12之驅動電路，其中上述切換機構係將已為上述所選擇之第1輸出電路所切斷連接之輸出端子與上述第2輸出電路連接。
  15. 如請求項12至14中任一項之驅動電路，其中包含對上述第1及第2輸出電路輸入上述輸入資料之控制機構，上述控制機構係以使輸入至上述第1選擇輸出電路之輸入資料與輸入至上述第2選擇輸出電路之輸入資料成為不同之值的輸入資料之方式進行控制。
  16. 如請求項12至14中任一項之驅動電路，其中上述影像訊號為階度電壓，上述第1輸出電路包含將上述輸入資料轉換成上述階度電壓之數位類比轉換器，上述比較機構係比較來自上述第1選擇輸出電路中所包含之數位類比轉換器之階度電壓、與來自上述第2選擇輸出電路中所包含之數位類比轉換器之階度電壓。
  17. 如請求項16之驅動電路，其中上述第1輸出電路包含運算放大器作為上述數位類比轉換器之輸出緩衝器，上述運算放大器係於包含該運算放大器之第1輸出電路由上述切換機構所選擇而未與上述輸出端子連接時，作為比較器而動作， 上述比較機構係上述作為比較器而動作之運算放大器。
  18. 如請求項17之驅動電路，其中上述運算放大器係於包含該運算放大器之第1輸出電路與上述輸出端子連接時，作為電壓隨動器而動作。
  19. 如請求項12至14中任一項之驅動電路，其中上述判定機構係將對應於輸入至上述第1選擇輸出電路及上述第2選擇輸出電路之輸入資料之、來自上述比較機構之比較結果作為期望值而記憶，當上述比較結果與上述期望值不同時，判定上述所選擇之第1輸出電路為不良。
  20. 如請求項16之驅動電路，其中包含對上述第1及第2輸出電路輸入上述輸入資料之控制機構，上述控制機構係以使輸入至上述第1選擇輸出電路之輸入資料與輸入至上述第2選擇輸出電路之輸入資料成為不同之值的輸入資料之方式進行控制，上述第1輸出電路包含：取樣電路，其係分時獲取並保持上述輸入資料；以及保持電路，其係分時獲取上述取樣電路中所保持之輸入資料並輸入至上述數位類比轉換器；且上述控制機構係於通常驅動時，對上述取樣電路輸入上述輸入資 料，於自我檢測時，對上述所選擇之第1輸出電路之數位類比轉換器輸入上述輸入資料。
  21. 一種顯示裝置，其特徵在於，其係包含驅動電路者，該驅動電路包含對顯示裝置輸出影像訊號之n個(n為2以上之自然數)輸出端子、及檢測並修復自身之不良之機構，且上述驅動電路包含：n個第1輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；p個以上(p為1以上n以下之自然數)之第2輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；第3輸出電路，其不與上述輸出端子連接，且將輸入資料轉換成影像訊號；切換機構，其係自上述第1輸出電路中選擇p個輸出電路，切斷與上述輸出端子之連接，並且自上述第2輸出電路將p個輸出電路連接於上述輸出端子；比較機構，其係比較來自所選擇之第1輸出電路之影像訊號與來自上述第3輸出電路之影像訊號；以及判定機構，其係根據該比較機構之比較結果，判定上述所選擇之第1輸出電路是否不良。
  22. 一種顯示裝置，其特徵在於，其係包含驅動電路者，該驅動電路包含對顯示裝置輸出影像訊號之n個(n為2以上 之自然數)輸出端子、及檢測並修復自身之不良之機構，且上述驅動電路包含：n個第1輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；u個以上(u為2以上n以下之偶數)之第2輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；切換機構，其係自上述第1輸出電路中選擇u個輸出電路，切斷與上述輸出端子之連接，並且自上述第2輸出電路將u個輸出電路連接於上述輸出端子；比較機構，其係將所選擇之第1輸出電路中之任意兩個設為第1選擇輸出電路及第2選擇輸出電路，且比較來自上述第1選擇輸出電路之影像訊號與上述第2選擇輸出電路之影像訊號；以及判定機構，其係根據該比較機構之比較結果，判定上述所選擇之第1輸出電路是否不良。
  23. 一種自我檢測及自我修復方法，其特徵在於，其係檢測並修復驅動電路之不良者，該驅動電路包含：n個(n為2以上之自然數)輸出端子，其係對顯示裝置輸出影像訊號；n個第1輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；p個以上(p為1以上n以下之自然數)之第2輸出電路，其 係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；以及第3輸出電路，其不與上述輸出端子連接，且將輸入資料轉換成影像訊號；該自我檢測及自我修復方法包含如下步驟：切換步驟，自上述第1輸出電路中選擇p個輸出電路，切斷所選擇之第1輸出電路與上述輸出端子之連接，並且自上述第2輸出電路將p個輸出電路連接於上述輸出端子；比較步驟，比較來自上述所選擇之第1輸出電路之影像訊號、與來自上述第3輸出電路之影像訊號；以及判定步驟，根據上述比較步驟之比較結果，判定上述所選擇之第1輸出電路是否不良。
  24. 一種自我檢測及自我修復方法，其特徵在於，其係檢測並修復驅動電路之不良者，該驅動電路包含：n個(n為2以上之自然數)輸出端子，其係對顯示裝置輸出影像訊號；n個第1輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；以及u個以上(u為2以上n以下之偶數)之第2輸出電路，其係將輸入資料轉換成影像訊號，並且可切斷地連接於上述輸出端子；該自我檢測及自我修復方法包含如下步驟：切換步驟，自上述第1輸出電路中選擇u個輸出電路， 切斷所選擇之第1輸出電路與上述輸出端子之連接，並且自上述第2輸出電路將u個輸出電路連接於上述輸出端子；比較步驟，將上述所選擇之第1輸出電路中之任意兩個設為第1選擇輸出電路及第2選擇輸出電路，且比較來自上述所選擇之第1選擇輸出電路之影像訊號與來自上述第2選擇輸出電路之影像訊號；以及判定步驟，根據上述比較步驟之比較結果，判定上述所選擇之第1輸出電路是否不良。
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