CH480648A - Mikroskoptisch mit Träger an einem Mikroskop - Google Patents

Mikroskoptisch mit Träger an einem Mikroskop

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CH480648A
CH480648A CH1659968A CH1659968A CH480648A CH 480648 A CH480648 A CH 480648A CH 1659968 A CH1659968 A CH 1659968A CH 1659968 A CH1659968 A CH 1659968A CH 480648 A CH480648 A CH 480648A
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CH
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microscope
carrier
microscope stage
objective
stage
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CH1659968A
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English (en)
Inventor
Saenger Otto
Willi Dr Horn
Original Assignee
Leitz Ernst Gmbh
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/24Base structure

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description


      Mikroskoptisch    mit Träger an einem     Mikroskop       Es ist bekannt,     dass    die gebräuchlichen Mikroskop  stative, bei denen der Mikroskoptisch auf der Grund  platte montiert ist, gegen Verformung und Erschütte  rungen insbesondere dann empfindlich sind, wenn das  Gerät mit einem     Objektivrevolver    ausgerüstet ist, der  das Stativ gewichtsmässig zusätzlich belastet. Das aber  stört, wenn es um eine exakte Fixierung des Abstandes  zwischen dem Objekt und dem Objektiv geht, insbe  sondere bei Beobachtungen von     Interferenzerscheinun-          gen.     



  Es wurden schon verschiedene Anordnungen vor  geschlagen, um hier Abhilfe zu schaffen. So ist ein  Mikroskop bekannt, dessen Tubus über drei Stativ  arme mit der Grundplatte verbunden ist. Wegen der  zusätzlichen Arme ist man in der Bedienung des Gerä  tes behindert. Auch handelt- es sich hier um ein Spe  zialgerät; vorhandene Geräte bekannter Bauart sind  daher nicht entsprechend     nachrüstbar.     



  Auch wurde bereits versucht, mittels einer zwi  schen Objektiv und     Grundplatte    einsetzbaren Stange  die     vorgenannten-Nachteile    zu beseitigen. Die dabei er  zielten Ergebnisse waren jedoch unbefriedigend.  



  Auch ist ein optisches     Beobachtungsintrument,     insbesondere ein Mikroskop bekannt, welches mit  einem     Einstrahlphotometer    und einem Vergleichsob  jekt (Reflexionsstandard) ausgerüstet ist und bei dem  auf den     Objektivstützen    ein mit einer mindestens teil  weise     ferromagnetischen    Stirnfläche versehener Ring  aufgesetzt ist, dem ein mit Haftmagneten versehener  Träger für das Vergleichsobjekt zugeordnet ist.  



  Schliesslich ist ein Mikroskoptisch mit Träger an  einem Mikroskop     bekannt,    der ein an das Mikroskop  objektiv oder an den     Objektivhalter        ansetzbares,    den  Mikroskoptisch tragendes und einen geschlossenen  mechanischen Kreis bildendes Bauteil umfasst, welches  zwei Traversen enthält, die mittels     zweier    Abstands  stücke in zueinander paralleler Lage starr miteinander  verbunden sind. Die eine Traverse ist mit einer Aus  sparung zum Durchstecken eines Objektivs versehen  und ihr ist eine entsprechende Vorrichtung zum Befe-         stigen    des Trägers am durchgesteckten Objektiv oder  am     Objektivhalter    zugeordnet.

   Die andere Traverse  trägt einen Mikroskoptisch, welcher in seiner Höhen  lage verstellt werden kann.  



  Der letztgenannte Tisch ist bereits relativ fein ein  stellbar. Es liegt daher die Aufgabe vor, den Träger so  zu verbessern, dass sich der Tisch sehr fein und so ge  nau einstellen lässt, dass sich der Mikroskoptisch auch  bei     Interferenzeinrichtungen    verwenden lässt.  



       Gegenstand    der     Erfindung        ist        daher        ein.        Mikroskop-          tisch    mit Träger der letztgenannten Art an     einem     Mikroskop, welcher sich dadurch auszeichnet, dass die  Abstandsstücke als Federn umschliessende, Schlitze  aufweisenden Hülsen ausgeführt sind und dass der  Mikroskoptisch welcher mit einer Spindel in einem Ge  winde der Traverse geführt ist, mit seitlichen     Fortsät-          zen    in die Schlitze eingreift. An einer der Traversen  kann eine geknickte Feder anliegen, die sich mittels  einer Schraube spannen lässt.

   Auch können die Tra  verse mit der Aussparung zum Durchstecken des Ob  jektivs und die ihr zugeordnete Vorrichtung zum An  setzen des Trägers     mechanisch        getrennte        Bauteile        sein.     



  Die neue Halterung mit geschlossenem mechani  schem Kreis erfüllt, wie sich bei     Interferenzuntersu-          chungen    gezeigt hat, voll die gestellte Aufgabe. Der be  sondere Vorteil der neuen Halterung liegt darin, dass  sich mit ihr nahezu jedes Mikroskop üblicher Bauart  aus- bzw. nachrüsten lässt, ohne dass ein Umbau des  Mikroskops selbst stattfinden muss.  



  Ein Ausführungsbeispiel für den Gegenstand der  Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt.  



  Die     rechteckförmige    Halterung besteht aus zwei  Traversen 10, 11, die mittels als Hülsen 12, 13 ausge  bildeter Abstandsstücke parallel zueinander liegend  starr miteinander verbunden sind. Die Traverse 10  weist eine Aussparung 14 auf, durch die das Objektiv  15 eines Mikroskops gesteckt ist. Dabei kann dieses  Objektiv direkt oder mittels einer Revolverscheibe am  Mikroskoptubus angesetzt sein. In der Traverse 10  sind mittels einer     Rändelschraube    16     betätigbare         Klemmbacken eingebaut, die die Traverse auf dem  Objektiv festklemmen. Die Traverse 11 weist der Aus  sparung 14 der Traverse 10 gegenüberliegend eine  Bohrung 18 mit Innengewinde auf, in der eine Spindel  19 geführt ist. Diese kann mittels eines Handrades 20  betätigt werden.

   Sie trägt an ihrem freien Ende den  Mikroskoptisch. Dieser besteht aus einer Unterplatte  21, auf der die eigentliche Tischplatte 22 ruht. Die  Platte 22 ist gegen die Platte 21 verschiebbar.  



  Falls die Tischplatte 22 aus Stahl gefertigt ist, kön  nen in die Platte 21 eingelassene Dauermagnete 23 zur  Fixierung der Relativlagen verwendet werden. An der  Unterplatte 21 sind einander gegenüberliegende Fort  sätze 25 vorhanden, die in ihrer Länge so bemessen  sind, dass sie in parallel zur Längsachse der Hülsen  12, 13 verlaufende Führungsschlitze 26 in den Hülsen  greifen. In den Hülsen sind Federn 27 gelagert, die auf  diesen     Fortsätzen    aufsitzen und dadurch den Tisch  nach unten drücken und so stets in gutem Kontakt mit  der Spindel 19 halten.  



  Es ist selbstverständlich, dass sich mit der gezeig  ten Führung für den Tisch 22 eine echte Feinverstel  lung des Tisches nicht erreichen lässt. Aus diesem  Grunde ist auf die Traverse 11 eine geknickte Blattfe  der 30 montiert, die linksseitig an der Traverse befe  stigt ist und eine Aussparung aufweist, mit der sie die  Spindel 19 frei umschliesst. Das freie Ende dieser  Blattfeder ist mit einer länglichen, sich parallel zur  Längsachse der Traverse 11 erstreckenden Aussparung  versehen, durch die eine     Rändelschraube    31 greift.  Diese     Rändelschraube    ist rechtsseitig in der Traverse  11 geführt. Durch Drehen der Schraube 31 wird mit  tels der starken Blattfeder die Traverse verspannt und  dadurch eine sehr feine Verschiebung des Objektti  sches längs der optischen Achse erreicht.  



  Eine solche Feinverstellung ist insbesondere dann  wünschenswert, wenn beispielsweise     Interferenzmes-          sungen    durchgeführt werden sollen. Zu diesem Zweck  wird dann noch dem Objektiv eine in der Zeichnung  angedeutete     Interferenzeinrichtung    vorgeschaltet. Da  diese     Interferenzeinrichtung    bereits mit einer Klemm  vorrichtung zum Ansetzen an ein Mikroskopobjektiv  ausgerüstet ist, kann für den Fall, dass die neue Halte  rung nur für     Interferenzuntersuchungen    verwendet  werden soll, auf die Klemmbacken in der Traverse 10    verzichtet werden, wenn die     Interferenzeinrichtung,    wie  ebenfalls in der Zeichnung angedeutet ist, mit der Tra  verse 10 starr verbunden wird.  



  Modifikationen der neuen Halterung sind möglich.  So kann grundsätzlich die Blattfeder 30 auch auf der  Oberseite der Traverse 11 oder an der Traverse 10 an  gesetzt sein. Auch kann eine andere Führung als die  gezeigte einfache     Spindelführung    für den Mikroskop  tisch verwendet werden.

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH Mikroskoptisch mit Träger an einem Mikroskop, der ein an das Mikroskopobjektiv oder an den Objek- tivhalter ansetzbares, den Mikroskoptisch tragendes und einen geschlossenen mechanischen Kreis bildendes Bauteil umfasst, welches zwei Traversen enthält, die mittels zweier Abstandsstücke in zueinander paralleler Lage starr miteinander verbunden sind, von denen die eine mit einer Aussparung zum Durchstecken eines Objektivs versehen ist und die andere einen Mikro- skoptisch trägt, welcher in seiner Höhe verstellt werden kann,
    und bei dem der einen Traverse eine Vorrich tung zum Ansetzen des Trägers an das durchgesteckte Objektiv oder an den Objektivhalter zugeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Abstandsstücke (12, 13) als Federn (27) umschliessende, Schlitze (26) auf weisende Hülsen ausgeführt sind und dass der Mikroskoptisch (21, 22), welcher mit einer Spindel (19) in einem Gewinde der Traverse (11) geführt ist, mit seitlichen Fortsätzen (25) in die Schlitze (26) ein greift. UNTERANSPRÜCHE 1. Mikroskoptisch mit Träger nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass an einer der Traversen (11) eine geknickte Feder (30) anliegt, die sich mittels einer Schraube (31) spannen lässt. 2.
    Mikroskoptisch mit Träger nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die eine Traverse (10) und die ihr zugeordnete Vorrichtung zum Ansetzen des Trägers mechanisch getrennte Bauteile sind. 3. Mikroskoptisch mit Träger nach Patentanspruch oder einem der vorangehenden Unteransprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung zum Ansetzen des Trägers Bestandteil einer Interferenzein- richtung ist.
CH1659968A 1967-12-13 1968-11-07 Mikroskoptisch mit Träger an einem Mikroskop CH480648A (de)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6239905B1 (en) * 1997-08-27 2001-05-29 Nikon Corporation Inverted microscope

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6239905B1 (en) * 1997-08-27 2001-05-29 Nikon Corporation Inverted microscope
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DE19832319B4 (de) * 1997-08-27 2016-06-16 Nikon Corporation Umgekehrtes Mikroskop
DE19861507B3 (de) * 1997-08-27 2017-03-16 Nikon Corporation Umgekehrtes Mikroskop

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AT289413B (de) 1971-04-26

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