WO2019225441A1 - プローブピン - Google Patents

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WO2019225441A1
WO2019225441A1 PCT/JP2019/019332 JP2019019332W WO2019225441A1 WO 2019225441 A1 WO2019225441 A1 WO 2019225441A1 JP 2019019332 W JP2019019332 W JP 2019019332W WO 2019225441 A1 WO2019225441 A1 WO 2019225441A1
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contact spring
spring portion
probe pin
contact
connection
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直哉 笹野
宏真 寺西
貴浩 酒井
時薫 崔
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オムロン株式会社
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    • H01R31/00—Coupling parts supported only by co-operation with counterpart
    • H01R31/06—Intermediate parts for linking two coupling parts, e.g. adapter

Definitions

  • This disclosure relates to a probe pin that can be placed on a connector that can be connected to a connection object.
  • a continuity test and an operation characteristic test are generally performed in the manufacturing process. These inspections are performed by connecting the inspection apparatus and the electronic component module with a connector.
  • the connector includes a base portion that can be disposed on the board, a fitting portion that extends parallel to the upper surface of the board from the upper portion of the base portion, and can be fitted to the electronic component module, and a plurality of contacts that are attached to the base portion. And a member.
  • the movement restricting portion provided in the base portion and the movement restricting portion provided in the fitting portion are engaged with a gap, and the fitting portion is within the range of the gap. It is movable relative to the part. Thereby, even when an electronic component module is connected in an oblique direction with respect to the fitting direction, the electronic component module can be smoothly fitted and connected.
  • the movement restricting portions are respectively provided at both ends in the longitudinal direction of the base portion and the fitting portion, unless the members of the base portion and the fitting portion are formed with high accuracy, It may be difficult to move the fitting portion as designed. In this case, when the electronic component module is connected in an oblique direction with respect to the fitting direction, stress is applied to the contact member in a direction crossing the planned contact direction, and the contact member is damaged. There is a possibility that.
  • This disclosure is intended to provide a probe pin that is not easily damaged even when a stress in a direction that intersects a planned contact direction is applied.
  • An example probe pin of the present disclosure is: A probe pin that can be placed on a connector that can be connected to a connection object, A first contact spring portion and a second contact spring portion; An intermediate portion and a buffer spring portion arranged in series between the first contact spring portion and the second contact spring portion; The intermediate part has both ends in the first direction connected to the first contact spring part and the buffer spring part, respectively.
  • the buffer spring portion has both end portions in the first direction connected to the intermediate portion and the second contact spring portion, respectively, and the first contact spring portion, the intermediate portion, It is configured to be elastically deformable in a second direction intersecting a first direction which is an arrangement direction of the buffer spring portion and the second contact spring portion,
  • the first contact spring part and the second contact spring part are configured to be elastically deformable in the third direction intersecting the first direction and the second direction with respect to the intermediate part.
  • the buffer spring portion is configured to be elastically deformable in a second direction intersecting a first direction that is an arrangement direction of the first contact spring portion, the intermediate portion, the buffer spring portion, and the second contact spring portion with respect to the intermediate portion
  • the first contact spring portion and the second contact spring portion are configured to be elastically deformable in a first direction and a third direction intersecting the second direction with respect to the intermediate portion.
  • the perspective view which shows the connector of 1st Embodiment of this indication Sectional drawing along the II-II line of FIG. Sectional drawing along the III-III line of FIG.
  • the side view by the side of the 1st terminal connection part of the connector of FIG. The perspective view which shows the 1st terminal connection part of the connector of FIG. Sectional drawing along the VI-VI line of FIG.
  • the perspective view which shows the 1st modification of the connector of FIG. The side view by the side of the 1st terminal connection part in the state where the connector housing of the connector of Drawing 9 was removed.
  • the perspective view of the 1st terminal connection part which shows the 3rd modification of the connector of FIG. Sectional drawing along the II-II line of FIG. 1 which shows the 4th modification of the connector of FIG. The top view which shows the state before the 1st contact spring part of the probe pin of FIG. 7 elastically deforms. The top view which shows the state after the 1st contact spring part of the probe pin of FIG. 7 has elastically deformed.
  • the perspective view which shows the 5th modification of the connector of FIG. The perspective view which shows the 1st modification of the probe pin of FIG.
  • the perspective view which shows the 3rd modification of the probe pin of FIG. The perspective view which shows the 4th modification of the probe pin of FIG.
  • the perspective view which shows the 5th modification of the probe pin of FIG. The perspective view which shows the 6th modification of the probe pin of FIG.
  • the perspective view which shows the 7th modification of the probe pin of FIG. The perspective view which shows the 8th modification of the probe pin of FIG.
  • the perspective view which shows the 9th modification of the probe pin of FIG. The top view which shows the state before the 1st contact spring part and 2nd contact spring part of the probe pin of FIG. 25 elastically deform.
  • the perspective view which shows the probe pin of 2nd Embodiment of this indication The top view which shows the state before the 1st contact spring part of the probe pin of FIG.
  • the perspective view which shows the modification of the probe pin of FIG. FIG. 32 is a plan view showing a state before the first contact spring portion and the second contact spring portion of the probe pin of FIG. 31 are elastically deformed.
  • the connector 1 according to the first embodiment of the present disclosure is configured to be connectable to an inspection apparatus 100 and an inspection object 200 as an example of an object to be connected (see FIG. 3).
  • a first terminal connecting portion 20 (an example of the housing of the connector 1) supported by the connector housing 10 so as to be swingable is provided.
  • An urging portion 30 is provided inside the connector housing 10 as shown in FIG.
  • the connector housing 10 has, for example, a substantially rectangular box shape, and includes an upper housing 11 and a lower housing 12 stacked in the thickness direction (that is, the vertical direction in FIG. 1). Yes.
  • the connector housing 10 has an opening surface 13 on one of the side surfaces facing the longitudinal direction (that is, the first direction X), and the opening surface 13 is provided with a substantially elliptical opening 14. .
  • the connector housing 10 is provided with a substrate 40 and a second terminal connection portion 50 that can be connected to the inspection apparatus 100.
  • the board 40 is electrically connected to the first terminal connection part 20 and the second terminal connection part 50 via connection terminals 41 (shown in FIG. 6) provided at both ends of the plate surface in the first direction X.
  • connection terminals 41 shown in FIG. 6
  • the second terminal connection portion 50 is disposed on the opposite side of the first terminal connection portion 20 in the first direction X with respect to the substrate 40.
  • the first terminal connecting portion 20 has a first end 201 that is one end portion in the first direction X intersecting (for example, orthogonal to) the opening surface 13 and is located inside the connector housing 10.
  • a second end 202 that is the other end in the first direction X is exposed to the outside of the connector housing 10 so that the inspection object 200 can be connected.
  • the inspection target 200 is, for example, an electronic component module having a USB connector or an HDMI connector.
  • the first terminal connecting portion 20 is located in the opening 14 and between the edges of the opening 14 at the reference position P, and the first terminal connecting portion 20 is illustrated on the opening surface 13. 4 is supported by the connector housing 10 so as to be swingable in any direction of up, down, left and right.
  • the gap 15 is provided at the reference position P over the entire circumference around the first direction X of the first terminal connection portion 20 (that is, the paper surface penetration direction in FIG. 2).
  • the first terminal connecting portion 20 and the plate-like probe pin 60 extend in the first direction X and cross in the first direction X (for example, orthogonal) to the second direction Y ( 4) and a connection housing 21 provided with a first housing portion 22 capable of housing the probe pin 60 so that the plate surfaces face each other.
  • the first terminal connection portion 20 has a plurality of probe pins 60
  • the connection housing 21 has a plurality of pieces arranged at intervals along the second direction Y.
  • a pair of first accommodating portions 22 is provided, and the probe pins 60 are accommodated in the respective first accommodating portions 22.
  • each pair of first accommodating portions 22 is viewed in the third direction Z as viewed from the first direction X and intersects (for example, orthogonally intersects) the first direction X and the second direction Y of the first terminal connection portion 20. They are arranged symmetrically with respect to the center line L1 and are electrically independent from each other. That is, the probe pin 60 accommodated in each pair of first accommodating portions 22 can hold the inspection object 200 from the third direction Z by a first contact spring portion 61 described later, and a second contact spring portion described later. 62, the substrate 40 can be sandwiched from the third direction Z.
  • a support portion 211 that supports a biasing member (that is, a coil spring 31) of a biasing portion 30 described later is provided at an end portion of the connection housing 21 on the first end portion 201 side.
  • a recess 23 that opens in the first direction X and can accommodate the inspection object 200 from the first direction X, and a confirmation window 24 are provided.
  • a first contact spring portion 61 (described later) of each probe pin 60 is disposed inside the recess 23. That is, the inspection target 200 is connected to the first terminal connection unit 20 along the first direction X.
  • the confirmation window 24 communicates with the first housing portion 22 and the outside of the connection housing 21 so that the first contact spring portion 61 of each probe pin 60 can be confirmed from the outside of the connection housing 21.
  • the first terminal connection portion 20 covers the outer surface of the connection housing 21 and also includes a conductive outer shell portion 25 provided with a ground terminal 26 disposed inside the connector housing 10.
  • the outer shell portion 25 is made of a metal such as iron and covers a region excluding the second end portion 202 on the outer surface of the connection housing 21 while being electrically independent from each probe pin 60. Yes.
  • a pair of ground terminals 26 is provided at each of both end portions of the outer shell portion 25 in the second direction Y.
  • a concave portion 212 that can accommodate the outer shell portion 25 is provided on the outer surface of the connection housing 21.
  • the recess 212 has an outer surface of the accommodated outer shell portion 25 with respect to an outer surface of a portion where the recess 212 of the connection housing 21 is not provided (for example, the end 213 on the second end 202 side of the connection housing 21). And are configured to be located on the same plane.
  • each pair of ground terminals 26 is arranged so as to face the third direction Z, and is configured to be able to contact the substrate 40 connection terminal 41 in a state of being elastically deformed in the third direction Z. ing.
  • the urging portion 30 is disposed inside the connector housing 10 and urges the first terminal connection portion 20 toward the reference position P with respect to the connector housing 10.
  • the urging unit 30 includes a plurality of urging members (four coil springs 31 in this embodiment), and the four coil springs 31 are imaginary straight lines (for example, first lines) orthogonal to the first direction X.
  • the one-terminal connecting portion 20 is disposed symmetrically with respect to the center line L1) in the third direction Z.
  • Each coil spring 31 is provided in each of the substantially cylindrical recess 214 provided in the support portion 211 of the connection housing 21 and the recess 214 of the connection housing 21 provided in each of the upper housing 11 and the lower housing 12. Is housed in a coil spring housing portion 16 that is composed of substantially cylindrical recesses 111 and 121 arranged in the inner space. By using the coil spring 31 as the urging member, the first terminal connecting portion 20 can be swung in the first direction X in addition to an arbitrary direction on the opening surface 13.
  • each probe pin 60 has a plate shape, and the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62, and the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62 are between the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62.
  • An intermediate portion 63 and a buffer spring portion 64 arranged in series along the direction X are provided. That is, the first contact spring part 61, the intermediate part 63, the buffer spring part 64, and the second contact spring part 62 are arranged along the first direction X.
  • Each probe pin 60 is formed by, for example, an electroforming method, and the first contact spring portion 61, the intermediate portion 63, the buffer spring portion 64, and the second contact spring portion 62 are integrally formed.
  • Each of the first contact spring part 61 and the second contact spring part 62 has a meandering shape when viewed from the second direction Y, and is configured to be elastically deformable in the third direction Z with respect to the intermediate part 63.
  • the first contact spring portion 61 is composed of a plurality of elastic pieces (in this embodiment, two belt-like elastic pieces 611 and 612 as an example) arranged with a gap 65 therebetween.
  • the first contact spring portion 61 has a wave shape or a meandering shape bent at two locations in the first direction X.
  • the elastic pieces 611 and 612 are connected to each other at an end portion far from the intermediate portion 63 in the extending direction of the first contact spring portion 61 (that is, the first direction X).
  • the gap 65 is surrounded by the elastic pieces 611 and 612 and the intermediate portion 63 and extends from one end to the other end in the extending direction of the first contact spring portion 61.
  • the inspection object 200 accommodated in the recess 23 can be contacted from the third direction Z through the opening 14.
  • a contact point 66 is provided (see FIG. 3). The contact portion 66 contacts the inspection object 200 in addition to the third direction Z in a state where a force in the third direction Z is applied by the inspection object 200 connected to the connector 1 (see FIGS. 14 and 15).
  • the gap 65 is configured to be elastically deformed in the direction in which the area increases, and the gap 65 becomes narrow. That is, in the state where the force in the third direction Z is applied by the inspection target 200 connected to the connector 1, the first contact spring portion 61 has an area that contacts the inspection target 200 in addition to the third direction Z. It is also configured to be elastically deformable in the direction, and the gap 65 between adjacent elastic pieces among the plurality of elastic pieces 611 and 612 is configured to be narrow. By comprising in this way, the 1st contact spring part 61 can be elastically deformed more smoothly, and the durability of the 1st contact spring part 61 can be improved.
  • the 1st contact spring part 61 elastically deforms more smoothly, the damage of the test object 200 by the contact of the 1st contact spring part 61 can be reduced more reliably.
  • the first contact spring portion 61 that comes into contact with the inspection object 200 that is inserted and removed more frequently than the board 40 with respect to the connector 1 is constituted by a plurality of elastic pieces 611 and 612.
  • the 2nd contact spring part 62 has the same structure as the 1st contact spring part 61 except the point comprised with one elastic piece. That is, the second contact spring portion 62 has a wave shape or a meandering shape bent at two locations in the first direction X, and the substrate 40 is located in the vicinity of the bent portion farther from the buffer spring portion 64 in the first direction X. On the other hand, a contact portion 68 that can be contacted from the third direction Z is provided (see FIG. 3).
  • the intermediate portion 63 has a substantially rectangular shape, and both end portions in the first direction X are connected to the first contact spring portion 61 and the buffer spring portion 64, respectively.
  • a direction toward the second contact spring portion 62 in the first direction X of the probe pin 60 when accommodated in the first accommodating portion 22 of the connection housing 21 is provided at an end portion of the intermediate portion 63 on the buffer spring portion 64 side.
  • a first positioning portion 631 that restricts the movement of the first positioning portion 631 is provided.
  • the first positioning portion 631 is configured by a plane extending in the direction away from the buffer spring portion 64 in the third direction Z.
  • the buffer spring portion 64 has a substantially rectangular frame shape protruding from the intermediate portion 63 in the third direction Z, and both end portions in the first direction X are connected to the intermediate portion 63 and the second contact spring portion 62, respectively.
  • the part 63 is configured to be elastically deformable in the second direction Y (that is, the plate thickness direction).
  • the probe pin 60 is accommodated in the first direction X and toward the first contact spring portion 61 when accommodated in the first accommodating portion 22 of the connection housing 21.
  • a second positioning portion 641 that restricts movement is provided.
  • the second positioning portion 641 is configured by a plane extending in the third direction Z in the direction away from the buffer spring portion 64 and in the direction opposite to the first positioning portion 631 of the intermediate portion 63.
  • a protruding portion that extends from the second positioning portion 641 along the first direction X toward the first contact spring portion 61. 642 is provided.
  • the projection 642 is provided in the support portion 211 of the connection housing 21 in the third direction Z, and is accommodated in a recess 215 disposed between the coil spring 31 and the intermediate portion 63. Yes.
  • each of the second contact spring portion 62 and the buffer spring portion 64 is located outside the connection housing 21 and inside the connector housing 10.
  • the buffer spring portion 64 is accommodated in the second accommodating portion 17 provided in the connector housing 10, and the second contact spring portion 62 is accommodated in the third accommodating portion 18 provided in the connector housing 10. Yes.
  • the shortest distance D1 between the plate surface of the intermediate portion 63 and the first accommodating portion 22 in the second direction Y is equal to the plate surface of the buffer spring portion 64 in the second direction Y. It is smaller than the shortest distance D ⁇ b> 2 between the housing portion 17. Further, the plate thickness W1 of each probe pin 60 is configured to be 1/2 or less (preferably 1/3 or less) of the shortest distance W2 between the plate surfaces of adjacent probe pins 60. Although not shown, the shortest distance between the plate surface of the second contact spring portion 62 and the third housing portion 18 in the second direction Y is the same as that of the plate surface of the intermediate portion 63 in the second direction Y. It is substantially the same as the shortest distance D ⁇ b> 1 between the housing portion 22.
  • the connector housing 10 having the opening surface 13 provided with the opening 14 is disposed at the reference position P where the gap 15 is provided between the opening 14 and the edge of the opening 14.
  • the first terminal connection portion 20 supported by the connector housing 10 in a swingable manner on the opening surface 13 and the urging portion 30 that urges the first terminal connection portion 20 toward the reference position P. I have. With such a configuration, even when the inspection target 200 is connected from the direction intersecting the connection direction to the first terminal connection unit 20 (that is, the first direction X), the biasing unit 30 is attached.
  • the first terminal connection portion 20 can be returned to the reference position P by the urging force of the urging portion 30 after the first terminal connection portion 20 once deviates from the reference position P against the force. Therefore, since the first terminal connection portion 20 can be self-aligned with the inspection object 200, the connector 1 that can be connected without damaging the connection object such as the inspection object 200 can be realized.
  • the first terminal connection portion 20 has a conductive outer shell portion 25 that covers the outer surface and is provided with a ground terminal 26 disposed inside the connector housing 10.
  • the outer shell portion 25 can reduce the loss of signals in the high frequency region flowing through the connector.
  • a board 40 electrically connected to the first terminal connection portion 20 is provided inside the connector housing 10, and the ground terminal 26 contacts the connection terminal 41 of the board 40 in an elastically deformed state. It is configured to be possible. With such a configuration, the contact pressure between the ground terminal 26 and the connection terminal 41 of the substrate 40 can be increased, and the contact reliability between the ground terminal 26 and the connection terminal 41 can be increased.
  • the urging unit 30 is configured by a plurality of urging members (for example, coil springs 31), and the plurality of urging members are arranged symmetrically with respect to a virtual straight line L1 orthogonal to the first direction X. ing.
  • a plurality of urging members for example, coil springs 31
  • the plurality of urging members are arranged symmetrically with respect to a virtual straight line L1 orthogonal to the first direction X. ing.
  • the first terminal connecting portion 20 has a plate-like probe pin 60 and a first housing portion 22 that can house the probe pin 60 so that the plate surface faces the plate direction in the second direction Y extending in the first direction X.
  • the probe pin 60 has a first direction between the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62, and the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62.
  • An intermediate portion 63 and a buffer spring portion 64 arranged in series along X are provided.
  • the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62 are configured to be elastically deformable in the third direction Z with respect to the intermediate portion 63, and the intermediate portion 63 has a first contact at both ends in the first direction X, respectively.
  • the buffer spring part 64 is connected to the spring part 61 and the buffer spring part 64, and the buffer spring part 64 is connected to the intermediate part 63 and the second contact spring part 62 at both ends in the first direction X, respectively. It is configured to be elastically deformable in the second direction Y.
  • the second contact spring portion 62 and the buffer spring portion 64 are located outside the connection housing 21 and inside the connector housing 10.
  • the connector housing 10 can extend in the first direction X and accommodate the buffer spring portion 64.
  • a second accommodating portion 17 is provided.
  • the shortest distance D1 between the plate surface of the intermediate portion 63 and the first storage portion 22 in the second direction Y is between the plate surface of the buffer spring portion 64 and the second storage portion 17 in the second direction Y. It is smaller than the shortest distance D2.
  • the inspection object 200 is connected to the first terminal connecting portion 20 from the direction intersecting the contact direction (that is, the first direction X), and intersects the contact direction planned for the probe pin 60. Even if stress (for example, the second direction Y) is applied, the stress can be dispersed by the buffer spring portion 64, and damage to the probe pin 60 can be reduced. That is, even when a connection object such as the inspection object 200 is connected to the first terminal connection unit 20 from a direction crossing the contact direction, the probe pin 60 that is not easily damaged can be realized.
  • stress for example, the second direction Y
  • connection housing 21 communicates with the first housing portion 22 and the outside of the connection housing 21, and has a confirmation window 24 through which the first contact spring portion 61 can be confirmed from the outside of the connection housing 21.
  • this confirmation window 24 With this confirmation window 24, the accommodation state of the first contact spring part 61 of the probe pin 60 accommodated in the first accommodation part 22 can be easily confirmed.
  • the first terminal connection portion 20 includes a plurality of probe pins 60 and a plurality of first accommodation portions 22 that are arranged at intervals in the second direction Y and each probe pin 60 is accommodated.
  • the plate thickness W1 of each probe pin 60 is 1 ⁇ 2 or less of the shortest distance W2 between the plate surfaces of the adjacent probe pins 60. With such a configuration, the insulation of each probe pin 60 can be reliably ensured.
  • the probe pin 60 is provided between the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62, and is in the first direction X with respect to the first terminal connection portion 20 when accommodated in the first accommodation portion 22.
  • Positioning parts 631 and 641 for determining the position are further provided. The positioning portions 631 and 641 can reduce the dropout of the probe pin 60 from the first housing portion 22.
  • the positioning portion is provided on one side in the third direction Z of the intermediate portion 63, and the first positioning that restricts the movement in one side of the first direction X (for example, the direction toward the second contact spring portion 62).
  • Part 631 and a second positioning part that is provided on the other side in the third direction Z of the buffer spring part 64 and restricts the movement in the other side of the first direction X (for example, the direction toward the first contact spring part 61). 641.
  • the connector housing 10 includes the upper housing 11 and the lower housing 12 stacked in the third direction Z.
  • the present invention is not limited to this.
  • the left housing 71 and the right housing 72 may be stacked in the second direction Y.
  • the four coil springs 31 of the urging portion 30 are in the second direction of the first terminal connection portion 20 when viewed from the first direction X (that is, the paper surface penetration direction in FIG. 10). They can be arranged symmetrically with respect to the Y center line L2.
  • the shortest distance D1 between the plate surface of the intermediate portion 63 of the probe pin 60 housed in the first housing portion 22 and the first housing portion 22 is equal to the plate surface of the buffer spring portion 64 of the probe pin 60 and the first surface. 2 is configured to be smaller than the shortest distance D ⁇ b> 2 between the housing portions 17, but is not limited thereto.
  • the shortest distance D ⁇ b> 1 and the shortest distance D ⁇ b> 2 may be the same.
  • the outer shell 25 is not limited to being configured to cover a part of the connection housing 21, and may be configured to cover the entire connection housing 21, for example, as illustrated in FIG. 9. If it is not necessary to consider the loss of signals in the high frequency region, it can be omitted.
  • the ground terminal 26 is configured not to be in contact with the connection terminal 41 of the substrate 40 in an elastically deformed state, but to be in contact with the connection terminal 41 of the substrate 40 in a state of not being elastically deformed. May be.
  • the ground terminal 26 may be connected to the connection terminal 41 of the substrate 40 by soldering or the like to improve contact reliability.
  • the urging unit 30 is not limited to the case where the urging unit 30 is configured by four coil springs 31.
  • the urging unit 30 may be configured by one to three coil springs 31, or may be configured by five or more coil springs 31.
  • the urging unit 30 is not limited to the case where the plurality of coil springs 31 are arranged above and below the third direction Z, and the plurality of coil springs 31 are added to the top and bottom of the third direction Z and the left and right in the second direction Y You may arrange
  • the urging member is not limited to the coil spring 31 and may be configured by a plate spring 32 as shown in FIG. 12, for example.
  • a plate spring 32 as shown in FIG. 12, for example.
  • two leaf springs 32 are arranged above and below the third direction Z (FIG. 12 shows only three leaf springs 32), and the leaf springs 32 are arranged on both the left and right sides in the second direction Y, respectively. Two are arranged.
  • the configuration of the terminal connection portion can be changed as appropriate according to the design of the connector 1 or the like.
  • the probe pin of the first terminal connection unit 20 is not limited to the probe pin 60, and a probe pin having another configuration can be used.
  • a probe pin formed by a method other than electroforming can be used as the probe pin of the first terminal connection unit 20, or a probe pin without the positioning units 631 and 641 can be used.
  • connection housing 21 is not limited to the case where the connection housing 21 includes a plurality of pairs of first housing portions 22 arranged at intervals along the second direction Y.
  • a plurality of first accommodating portions 22 may be provided only on one side with respect to the center line L1 (in FIG. 13, the upper housing 11 side of the center line L1 in the third direction Z).
  • the ground terminal 26 of the outer shell portion 25 may be provided only on one side of the center line L1 in the third direction Z.
  • the plurality of probe pins 60 of the first terminal connection portion 20 are such that the tip ends of the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62 are aligned along the second direction Y.
  • positions so that it may be located in a line only the 2nd contact spring part 62 is shown in FIG. 5
  • the plurality of probe pins 60 may be arranged in a zigzag pattern in which the tip portions of the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62 are alternately shifted in the first direction X.
  • the confirmation window 24 may be omitted.
  • the plate thickness W1 of each probe pin 60 is not limited to be configured to be 1/2 or less (preferably 1/3 or less) of the shortest distance W2 between the plate surfaces of adjacent probe pins 60.
  • the plate thickness W1 of each probe pin 60 can be configured to be larger than 1 ⁇ 2 of the shortest distance W2 between the plate surfaces of the adjacent probe pins 60.
  • the probe pin 60 includes a first contact spring portion 61 and a second contact spring portion 62, and an intermediate portion 63 and a buffer spring portion 64 arranged in series between the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62.
  • the buffer spring part 64 is elastically deformable in the second direction Y with respect to the intermediate part 63, and each of the first contact spring part 61 and the second contact spring part 62 is third with respect to the intermediate part 63. Any configuration can be adopted as long as it can be elastically deformed in the direction Z.
  • the first contact spring portion 61 can be composed of one elastic piece
  • the second contact spring portion 62 can be composed of a plurality of elastic pieces.
  • the second contact spring portion 62 includes two elastic pieces 621 and 622 that are arranged with a gap 67 therebetween.
  • each of the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62 can be composed of a plurality of elastic pieces.
  • the first contact spring portion 61 includes three elastic pieces 611, 612, and 613 that are arranged with a gap 65 therebetween, and the second contact spring portion 62 has a gap between each other. It is composed of three elastic pieces 621, 622, and 623 arranged with 67 therebetween.
  • the buffer spring portion 64 is not limited to a frame shape, and any configuration can be adopted as long as it can be elastically deformed in the second direction Y with respect to the intermediate portion 63.
  • the buffer spring portion 64 includes a first connection portion 643 connected to the intermediate portion 63, a second connection portion 644 connected to the second contact spring portion 62, and a first connection portion. 643 and the second connection portion 644 and a third connection portion 645 having a wave shape or a meandering shape extending in the first direction X.
  • the third connection portion 645 may have a rod shape extending in the first direction X.
  • the buffer spring portion 64 can have ribs 647 that partition through holes 646 that penetrate the buffer spring portion 64 in the second direction Y.
  • one rib 647 that partitions the through hole 646 into two in the third direction Z is provided.
  • two ribs 647 that partition the through hole 646 into three in the first direction X are provided.
  • the protrusion 642 of the buffer spring portion 64 can be omitted as shown in FIG.
  • press-fitting protrusions 648 can be provided on both sides of the protrusion 642 in the third direction Z. Each protrusion 648 protrudes in a direction away from each other in the third direction Z as it goes from the intermediate portion 63 to the second contact spring portion 62 in the first direction X.
  • a protruding portion 649 can be provided at the end of the buffer spring portion 64 on the second contact spring portion 62 side in the first direction X.
  • the protrusion 649 is disposed at one end in the third direction Z on the side surface of the buffer spring 64 to which the second contact spring 62 in the first direction X is connected.
  • the protruding portion 649 is configured to be able to contact the inner surface of the connector housing 10 in a state where the tip thereof is accommodated in the connector housing 10.
  • the 2nd contact spring part 62 is connected to the other end of the 3rd direction Z in the side surface of the buffer spring part 64 in which the protrusion part 649 is provided.
  • two elastic pieces 611 and 612 are integrated at the distal end 614 far from the intermediate portion 63 in the first direction X of the first contact spring portion 61.
  • a force in the third direction Z is applied to the contact portion 66 of the first contact spring portion 61 by the inspection target 200 connected to the connector 1.
  • the gap 65 is narrowed by being elastically deformed in the direction in which the area in contact with the inspection object 200 is increased.
  • the contact portion 68 of the second contact spring portion 62 is elastic in the direction in which the area in contact with the substrate 40 increases in addition to the third direction Z. It deform
  • Each of the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62 is not limited to having a wave shape or a meandering shape bent at two locations in the first direction X.
  • 1 in the first direction X It may be substantially L-shaped or substantially J-shaped bent at a location.
  • the probe pin 60 of the second embodiment of the present disclosure is different from the probe pin 60 of the first embodiment in that the buffer spring portion 64 is not provided.
  • the same parts as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, description thereof is omitted, and differences from the first embodiment will be described.
  • the intermediate part 63 includes an intermediate part main body 163 and an auxiliary intermediate part 164.
  • the intermediate part main body 163 has the same shape and configuration as the intermediate part 63 of the probe pin 60 of FIG.
  • the auxiliary intermediate portion 164 has the same shape and configuration as the buffer spring portion 64 of the probe pin 60 of FIG. 7 except that the through hole 646 is not provided. That is, the auxiliary intermediate portion 164 has higher rigidity than the buffer spring portion 64 and is configured not to be elastically deformed in the second direction Y with respect to the intermediate portion main body 163 as compared with the buffer spring portion 64.
  • the probe pin 60 of FIG. 28 has the same contact point 66 of the first contact spring portion 61 as the probe pin 60 of FIG.
  • the gap 65 is configured to be elastically deformed in the direction in which the area in contact with the inspection object 200 increases in addition to the third direction Z.
  • the probe pin 60 of the second embodiment is configured to be disposed on the connector 1 in a state where the first contact spring portion 61 can contact the inspection target 200 (FIG. 3).
  • the probe pin 60 is disposed on the connector 1 in a state where the first contact spring portion 61 can contact the inspection object 200, and a continuity test or an operation characteristic test is performed.
  • the repetition frequency of connection and disconnection of the inspection object 200 with respect to the connector 1 is determined based on the inspection apparatus 100 and the board 40 electrically connected to the second terminal connection portion 50 that can be connected to the inspection apparatus 100. (That is, the inspection device 100 and the substrate 40 are examples of first connection objects, and the inspection object 200 is an example of second connection objects).
  • the probe pin for inspection is required to be durable because connection and disconnection of the connection object are frequently repeated. If the probe pin is formed of a material having high hardness such as a nickel alloy or a titanium alloy in order to ensure durability, the connection object may be damaged. Conversely, if the probe pin is formed of a material with low hardness such as beryllium steel or phosphor bronze, the probe pin cannot have sufficient durability, and sliding wear due to repeated connection and disconnection to the connection object. The contact part may deteriorate due to the above.
  • the first contact spring portion 61 is elastically deformed more smoothly, and the durability of the first contact spring portion 61 is improved. Damage to the connection object can be reduced more reliably. That is, the life of the connector 1 in which the probe pins 60 are arranged can be extended.
  • the contact pin 66 in contact with the inspection object 200 is made more flexible by reducing the plate thickness of the first contact spring portion 61 while forming the probe pin 60 with a material having high hardness such as nickel alloy or titanium alloy.
  • the first contact spring 61 can be elastically deformed more smoothly by being displaced. Further, by connecting the tips of the elastic pieces 611 and 612 of the first contact spring portion 61 to each other and surrounding the gap 65 with the elastic pieces 611 and 612 and the intermediate portion 63, the strength of the first contact spring portion 61 is increased. And the durability of the first contact spring portion 61 can be further enhanced.
  • the first contact spring portion 61 is composed of a plurality of elastic pieces 611 and 612, a plurality of electrical paths from the contact portion with the inspection object 200 to the intermediate portion 63 are formed, and the electric power of the probe pin 60 is Resistance can be reduced.
  • each of the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62 extends along the first direction X.
  • the present invention is not limited to this case.
  • the second contact spring portion 62 may be arranged so as to extend along the second direction Y.
  • the 2nd contact spring part 62 should just be comprised so that elastic deformation is possible in the direction which cross
  • the second contact spring portion 62 can be constituted by a plurality of elastic pieces.
  • the second contact spring portion 62 is composed of two elastic pieces 621 and 622.
  • the probe pin 60 of FIG. 31 is similar to the probe pin 60 of FIG. 25 in that the contact portion 66 of the first contact spring portion 61 is changed by the inspection object 200 connected to the connector 1.
  • the gap 65 is configured to be elastically deformed in the direction in which the area in contact with the inspection object 200 increases in addition to the third direction Z.
  • the contact portion 68 of the second contact spring portion 62 is elastically deformed not only in the third direction but also in the direction in which the area in contact with the substrate 40 increases.
  • the gap 67 is configured to be narrow.
  • the probe pin 60 includes: A probe pin 60 that can be placed on the connector 1 that can be connected to the connection object 100, 200, A first contact spring portion 61 and a second contact spring portion 62; An intermediate portion 63 and a buffer spring portion 64 disposed in series between the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62; The intermediate part 63 has both ends in a first direction X that is an arrangement direction of the first contact spring part 61, the intermediate part 63, the buffer spring part 64, and the second contact spring part 62 with respect to the intermediate part 63. Parts are connected to the first contact spring part 61 and the buffer spring part 64, respectively.
  • the shock-absorbing spring part 64 is elastic in a second direction Y intersecting the first direction X while both ends in the first direction X are connected to the intermediate part 63 and the second contact spring part 62, respectively. Configured to be deformable, The first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62 are configured to be elastically deformable with respect to the intermediate portion 63 in a third direction Z that intersects the first direction X and the second direction Y. Yes.
  • the probe pin 60 of the first aspect even if a stress in a direction crossing the planned contact direction is applied, the stress is dispersed by the buffer spring portion 64, and damage to the probe pin 60 can be reduced. . As a result, the probe pin 60 that is not easily damaged can be realized.
  • the probe pin 60 includes: A positioning portion 631 that is provided between the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62 and determines the position of the first direction X relative to the housing 10 when the connector 1 is housed in the housing 10; 641 is further provided.
  • the positioning portions 631 and 641 can reduce the dropout of the probe pin 60 from the first housing portion 22.
  • the probe pin 60 includes: The positioning part is A first positioning part 631 provided on one side of the third direction Z of the intermediate part 63 and restricting movement to the one side of the first direction X; And a second positioning portion 641 that is provided on the other side of the third direction Z of the buffer spring portion 64 and restricts movement of the buffer spring portion 64 to the other side of the first direction X.
  • the dropping of the probe pin 60 from the first accommodating portion 22 can be further reduced.
  • the probe pin 60 includes: At least one of the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62 is composed of a plurality of elastic pieces 611 and 612 arranged with a gap 65 therebetween.
  • the probe pin 60 includes: The first contact spring portion 61 is elastically deformed in a direction in which an area in contact with the connection target object 200 increases in a state where a force in the third direction Z is applied by the contact of the connected connection target object 200. It is configured to be possible.
  • the probe pin 60 of the sixth aspect of the present disclosure is: In the state where the force in the third direction Z is applied to the first contact spring portion 61 by the contact of the connected connection object 200, between the adjacent elastic pieces among the plurality of elastic pieces 611 and 612.
  • the gap 65 is configured to be narrow.
  • the first contact spring portion 61 is elastically deformed more smoothly and the durability of the first contact spring portion 61 is improved, while the first contact spring portion 61 is improved in durability. Damage to the connection object due to contact can be more reliably reduced.
  • the probe pin 60 of the seventh aspect of the present disclosure is: A probe pin 60 that can be placed on the connector 1 that can be connected to the connection object 100, 200, A plate-like first contact spring portion 61 extending along the first direction X; A plate-like second contact spring portion 62; An intermediate portion 63 disposed between the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62; The first contact spring portion 61 has a third direction that intersects the first direction X and a second direction Y that is the plate thickness direction of each of the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62. It is composed of a plurality of elastic pieces 611 and 612 that are elastically deformable to Z and arranged with a gap 65 therebetween.
  • the second contact spring part 62 is configured to be elastically deformable in a direction Z intersecting the extending direction of the second contact spring part and the second direction,
  • Each of the plurality of elastic pieces 611 and 612 is connected to end portions farther from the intermediate portion in the first direction.
  • the first contact spring portion 61 is elastically deformed more smoothly, and the durability of the first contact spring portion 61 is improved. The damage to the object can be reduced more reliably.
  • the probe pin 60 includes: As the connection objects 100 and 200, the first connection object 100 and the second connection object 200 having a higher repetition frequency of connection and disconnection to the connector 1 than the first connection object 100 are included.
  • the first contact spring portion 61 is configured to be disposed on the connector 1 in a state where the first contact spring portion 61 can contact the second connection object 200.
  • the first contact spring portion 61 is configured to be able to contact the second connection object 200 that is more frequently connected to and disconnected from the connector 1. Thus, the life of the connector 1 can be extended.
  • the probe pin 60 of the ninth aspect of the present disclosure is: In the state where the force in the third direction Z is applied to the first contact spring portion 61 by the contact of the connected connection object 200, between the adjacent elastic pieces among the plurality of elastic pieces 611 and 612.
  • the gap 65 is configured to be narrow.
  • the probe pin 60 of the tenth aspect of the present disclosure includes:
  • the first contact spring portion 61 is elastically deformed in a direction in which an area in contact with the connection target object 200 increases in a state where a force in the third direction Z is applied by the contact of the connected connection target object 200. It is configured to be possible.
  • the first contact spring part 61 is improved while the first contact spring part 61 is elastically deformed more smoothly and the durability of the first contact spring part 61 is improved. It is possible to more reliably reduce damage to the connection object due to the contact.
  • the inspection method includes: A probe pin 60 that can be placed on the connector 1 that can be connected to the connection object 100, 200, A plate-like first contact spring portion 61 extending along the first direction X; A plate-like second contact spring portion 62; An intermediate portion 63 disposed between the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62; The first contact spring part 61 intersects the first direction X and a second direction Y that is the thickness direction of each of the first contact spring part 61 and the second contact spring part 62. It is composed of a plurality of elastic pieces 611 and 612 that are elastically deformable to Z and arranged with a gap 65 therebetween.
  • the second contact spring part 62 is configured to be elastically deformable in a direction intersecting the extending direction of the second contact spring part 62 and the second direction Y,
  • Each of the plurality of elastic pieces 611 and 612 is an inspection method using a probe pin 60 in which end portions far from the intermediate portion 63 in the first direction X are connected to each other.
  • Examples of the connection objects 100 and 200 include a first connection object 100 and a second connection object 200 having a higher repetition frequency of connection and disconnection to the connector 1 than the first connection object 100.
  • the probe pin 60 is disposed on the connector 1 in a state where the first contact spring portion 61 can contact the second connection object 200.
  • the probe pin is arranged such that the first contact spring portion 61 having high durability comes into contact with the second connection object 200 having a high repetition frequency of connection and disconnection to the connector 1.
  • 60 is arranged in the connector 1. With such a configuration, the life of the connector 1 can be extended.
  • the probe pin of the present disclosure can be applied to a connector used for inspection of a USB device or an HDMI device, for example.

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Abstract

プローブピンが、第１接触ばね部および第２接触ばね部と、第１接触ばね部および第２接触ばね部の間に直列的に配置された中間部および緩衝ばね部とを備える。緩衝ばね部が、中間部に対して第１接触ばね部、中間部、緩衝ばね部および第２接触ばね部の配列方向である第１方向に交差する第２方向に弾性変形可能に構成され、第１接触ばね部および第２接触ばね部が、中間部に対して第１方向およびに第２方向に交差する第３方向に弾性変形可能に構成されている。

Description

プローブピン
　本開示は、接続対象物に接続可能なコネクタに配置可能なプローブピンに関する。
　ＵＳＢデバイス等の電子部品モジュールでは、一般に、その製造工程において、導通検査および動作特性検査等が行われる。これらの検査は、検査装置と電子部品モジュールとをコネクタで接続することにより行われる。
　このようなコネクタとしては、特許文献１に記載されたものがある。このコネクタは、基板上に配置可能なベース部と、ベース部の上部から基板の上面と平行に延びて、電子部品モジュールと嵌合可能な嵌合部と、ベース部に取り付けられた複数のコンタクト部材とを備えている。前記コネクタでは、ベース部に設けられた移動規制部と、嵌合部に設けられた移動規制部とが、間隙を有して係合されており、この間隙の範囲内で嵌合部がベース部に対して相対的に移動可能になっている。これにより、嵌合方向に対して斜め方向に電子部品モジュールが接続される場合でも、電子部品モジュールをスムーズに嵌合接続できるようになっている。
特開２０１５－１５８９９０号公報
　しかし、前記コネクタでは、ベース部および嵌合部の各々の長手方向の両端部にそれぞれ移動規制部が設けられているため、高い精度でベース部および嵌合部の各部材を形成しなければ、設計通り嵌合部を移動させることが困難になる場合がある。この場合、電子部品モジュールが嵌合方向に対して斜め方向に電子部品モジュールが接続されると、コンタクト部材に対して、予定している接触方向に交差する方向の応力が加わり、コンタクト部材が損傷してしまう可能性がある。
　本開示は、予定している接触方向に交差する方向の応力が加えられたとしても、損傷し難いプローブピンを提供することを課題とする。
　本開示の一例のプローブピンは、
　接続対象物に接続可能なコネクタに配置可能なプローブピンであって、
　第１接触ばね部および第２接触ばね部と、
　前記第１接触ばね部および前記第２接触ばね部の間に直列的に配置された中間部および緩衝ばね部と
を備え、
　前記中間部は、前記第１方向の両端部がそれぞれ前記第１接触ばね部および前記緩衝ばね部に接続され、
　前記緩衝ばね部は、前記第１方向の両端部がそれぞれ前記中間部および前記第２接触ばね部に接続されていると共に、前記中間部に対して前記第１接触ばね部、前記中間部、前記緩衝ばね部および前記第２接触ばね部の配列方向である第１方向に交差する第２方向に弾性変形可能に構成され、
　前記第１接触ばね部および前記第２接触ばね部は、前記中間部に対して前記第１方向およびに第２方向に交差する第３方向に弾性変形可能に構成されている。
　前記プローブピンによれば、第１接触ばね部および第２接触ばね部と、第１接触ばね部および第２接触ばね部の間に直列的に配置された中間部および緩衝ばね部とを備え、緩衝ばね部が、中間部に対して第１接触ばね部、中間部、緩衝ばね部および第２接触ばね部の配列方向である第１方向に交差する第２方向に弾性変形可能に構成され、第１接触ばね部および第２接触ばね部が、中間部に対して第１方向およびに第２方向に交差する第３方向に弾性変形可能に構成されている。このような構成により、予定している接触方向に交差する方向の応力が加えられたとしても、緩衝ばね部によりその応力を分散させて、プローブピンの損傷を低減できる。その結果、損傷し難いプローブピンを実現できる。
本開示の第１実施形態のコネクタを示す斜視図。 図１のII-II線に沿った断面図。 図１のIII-III線に沿った断面図。 図１のコネクタの第１端子接続部側の側面図。 図１のコネクタの第１端子接続部を示す斜視図。 図１のVI-VI線に沿った断面図。 図１のコネクタのプローブピンを示す斜視図。 図１のVIII-VIII線に沿った断面図。 図１のコネクタの第１の変形例を示す斜視図。 図９のコネクタのコネクタハウジングを取り除いた状態における第１端子接続部側の側面図。 図１のコネクタの第２の変形例を示す斜視図。 図１のコネクタの第３の変形例を示す第１端子接続部の斜視図。 図１のコネクタの第４の変形例を示す図１のII-II線に沿った断面図。 図７のプローブピンの第１接触ばね部が弾性変形する前の状態を示す平面図。 図７のプローブピンの第１接触ばね部が弾性変形した後の状態を示す平面図。 図１のコネクタの第５の変形例を示す斜視図。 図７のプローブピンの第１の変形例を示す斜視図。 図７のプローブピンの第２の変形例を示す斜視図。 図７のプローブピンの第３の変形例を示す斜視図。 図７のプローブピンの第４の変形例を示す斜視図。 図７のプローブピンの第５の変形例を示す斜視図。 図７のプローブピンの第６の変形例を示す斜視図。 図７のプローブピンの第７の変形例を示す斜視図。 図７のプローブピンの第８の変形例を示す斜視図。 図７のプローブピンの第９の変形例を示す斜視図。 図２５のプローブピンの第１接触ばね部および第２接触ばね部が弾性変形する前の状態を示す平面図。 図２５のプローブピンの第１接触ばね部および第２接触ばね部が弾性変形した後の状態を示す平面図。 本開示の第２実施形態のプローブピンを示す斜視図。 図２８のプローブピンの第１接触ばね部が弾性変形する前の状態を示す平面図。 図２８のプローブピンの第１接触ばね部が弾性変形した後の状態を示す平面図。 図２８のプローブピンの変形例を示す斜視図。 図３１のプローブピンの第１接触ばね部および第２接触ばね部が弾性変形する前の状態を示す平面図。 図３２のプローブピンの第１接触ばね部および第２接触ばね部が弾性変形した後の状態を示す平面図。
　以下、本開示の一例を添付図面に従って説明する。なお、以下の説明では、必要に応じて特定の方向あるいは位置を示す用語（例えば、「上」、「下」、「右」、「左」を含む用語）を用いるが、それらの用語の使用は図面を参照した本開示の理解を容易にするためであって、それらの用語の意味によって本開示の技術的範囲が限定されるものではない。また、以下の説明は、本質的に例示に過ぎず、本開示、その適用物、あるいは、その用途を制限することを意図するものではない。さらに、図面は模式的なものであり、各寸法の比率等は現実のものとは必ずしも合致していない。
　（第１実施形態）
　本開示の第１実施形態のコネクタ１は、接続対象物の一例の検査装置１００および検査対象２００に接続可能に構成され（図３参照）、図１に示すように、コネクタハウジング１０と、このコネクタハウジング１０に揺動可能に支持されている第１端子接続部２０（コネクタ１のハウジングの一例）とを備えている。コネクタハウジング１０の内部には、図２に示すように、付勢部３０が設けられている。
　コネクタハウジング１０は、図１に示すように、一例として、略矩形の箱状で、厚さ方向（すなわち、図１の上下方向）に積み重ねられた上ハウジング１１と下ハウジング１２とで構成されている。このコネクタハウジング１０は、その長手方向（すなわち、第１方向Ｘ）に対向する側面の一方に開口面１３を有し、この開口面１３には、略楕円形状の開口部１４が設けられている。
　図３に示すように、コネクタハウジング１０の内部には、基板４０と、検査装置１００に接続可能な第２端子接続部５０が設けられている。基板４０は、その板面における第１方向Ｘの両端部に設けられた接続端子４１（図６に示す）を介して、第１端子接続部２０および第２端子接続部５０に電気的に接続されている。第２端子接続部５０は、基板４０に対して第１方向Ｘにおける第１端子接続部２０の反対側に配置されている。
　第１端子接続部２０は、図３に示すように、開口面１３に交差（例えば、直交）する第１方向Ｘの一端部である第１端部２０１がコネクタハウジング１０の内部に位置しかつ第１方向Ｘの他端部である第２端部２０２が検査対象２００を接続可能にコネクタハウジング１０の外部に露出している。なお、検査対象２００は、例えば、ＵＳＢコネクタあるいはＨＤＭＩコネクタを有する電子部品モジュールである。
　また、第１端子接続部２０は、図４に示すように、開口部１４内であって開口部１４の縁部との間に隙間１５が基準位置Ｐに配置され、開口面１３上で図４の上下左右の任意の方向に対して揺動可能な状態で、コネクタハウジング１０に支持されている。この実施形態では、隙間１５は、基準位置Ｐにおいて、第１端子接続部２０の第１方向Ｘ（すなわち、図２の紙面貫通方向）まわりの全周に亘って設けられている。
　詳しくは、第１端子接続部２０は、図３に示すように、板状のプローブピン６０と、第１方向Ｘに延びて第１方向Ｘに交差（例えば、直交）する第２方向Ｙ（図４に示す）に板面が対向するようにプローブピン６０を収容可能な第１収容部２２が設けられた接続ハウジング２１とを有している。この実施形態では、第１端子接続部２０は、図２に示すように、複数のプローブピン６０を有し、接続ハウジング２１には、第２方向Ｙに沿って間隔を空けて配置された複数対の第１収容部２２が設けられ、各第１収容部２２にプローブピン６０がそれぞれ収容されている。これにより、各対の第１収容部２２は、第１方向Ｘから見て、第１端子接続部２０の第１方向Ｘおよび第２方向Ｙに交差（例えば、直交）する第３方向Ｚの中心線Ｌ１に対して対称に配置され、相互に電気的独立している。すなわち、各対の第１収容部２２に収容されたプローブピン６０は、後述する第１接触ばね部６１によって検査対象２００を第３方向Ｚから挟持可能であると共に、後述する第２接触ばね部６２によって基板４０を第３方向Ｚから挟持可能に構成されている。
　図３に示すように、接続ハウジング２１の第１端部２０１側の端部には、後述する付勢部３０の付勢部材（すなわち、コイルばね３１）を支持する支持部２１１が設けられ、接続ハウジング２１の第２端部２０２側の端部には、第１方向Ｘに開口して第１方向Ｘから検査対象２００を収容可能な凹部２３と、確認用窓２４とが設けられている。凹部２３の内部には、各プローブピン６０の後述する第１接触ばね部６１が配置されている。すなわち、検査対象２００は、第１方向Ｘに沿って第１端子接続部２０に接続される。また、確認用窓２４は、第１収容部２２と接続ハウジング２１の外部とに連通して、各プローブピン６０の第１接触ばね部６１を接続ハウジング２１の外部から確認可能になっている。
　また、図５に示すように、第１端子接続部２０は、接続ハウジング２１の外面を覆うと共に、コネクタハウジング１０の内部に配置されるグランド端子２６が設けられた導電性の外殻部２５を有している。この実施形態では、外殻部２５は、鉄等の金属で構成され、各プローブピン６０とは電気的に独立した状態で接続ハウジング２１の外面の第２端部２０２を除いた領域を覆っている。このように構成することで、第１端子接続部２０に検査対象２００等の接続対象物を接続するときに、検査対象２００等の接続対象物が外殻部２５に接触することがなくなり、第１端子接続部２０への接続時における検査対象２００等の接続対象物の損傷を低減できる。また、グランド端子２６は、外殻部２５の第２方向Ｙの両端部のそれぞれに一対ずつ設けられている。
　接続ハウジング２１の外面には、図３に示すように、外殻部２５を収容可能な凹部２１２が設けられている。この凹部２１２は、収容された外殻部２５の外面が、接続ハウジング２１の凹部２１２が設けられていない部分（例えば、接続ハウジング２１の第２端部２０２側の端部２１３）の外面に対して、同一平面上に位置するように構成されている。
　各対のグランド端子２６は、図６に示すように、第３方向Ｚに対向するように配置され、第３方向Ｚに弾性変形した状態で基板４０接続端子４１に対して接触可能に構成されている。
　付勢部３０は、図２に示すように、コネクタハウジング１０の内部に配置されて、コネクタハウジング１０に対して第１端子接続部２０を基準位置Ｐに向かって付勢する。詳しくは、付勢部３０は、複数の付勢部材（この実施形態では、４つのコイルばね３１）で構成され、４つのコイルばね３１が、第１方向Ｘに直交する仮想直線（例えば、第１端子接続部２０の第３方向Ｚの中心線Ｌ１）に対して対称に配置されている。
　各コイルばね３１は、接続ハウジング２１の支持部２１１に設けられた略円柱状の凹部２１４と、上ハウジング１１および下ハウジング１２の各々に設けられ相互に接続ハウジング２１の凹部２１４にそれぞれ対向するように配置された略円柱状の凹部１１１、１２１とで構成されるコイルばね収容部１６に収容されている。付勢部材としてコイルばね３１を用いることで、第１端子接続部２０を開口面１３上の任意の方向に加えて、第１方向Ｘに揺動させることができる。
　各プローブピン６０は、図７に示すように、板状で、第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２と、第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２の間に第１方向Ｘに沿って直列的に配置された中間部６３および緩衝ばね部６４とを備えている。すなわち、第１接触ばね部６１、中間部６３、緩衝ばね部６４および第２接触ばね部６２は、第１方向Ｘに沿って配列されている。また、各プローブピン６０は、例えば、電鋳法で形成され、第１接触ばね部６１、中間部６３、緩衝ばね部６４および第２接触ばね部６２が、一体に構成されている。
　第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２の各々は、第２方向Ｙから見て、蛇行形状を有し、中間部６３に対して第３方向Ｚに弾性変形可能に構成されている。また、第１接触ばね部６１は、相互に隙間６５を空けて配置された複数の弾性片（この実施形態では、一例として、２つの帯状の弾性片６１１、６１２）で構成されている。この第１接触ばね部６１は、一例として、第１方向Ｘの２箇所で屈曲した波形状または蛇行形状を有している。各弾性片６１１、６１２は、第１接触ばね部６１の延在方向（すなわち、第１方向Ｘ）の中間部６３から遠い方の端部において相互に接続されている。すなわち、隙間６５は、各弾性片６１１、６１２および中間部６３で取り囲まれて、第１接触ばね部６１の延在方向の一端から他端まで延びている。第１接触ばね部６１の第１方向Ｘにおいて中間部６３から遠い方の屈曲部近傍には、開口部１４を介して凹部２３に収容された検査対象２００に対して第３方向Ｚから接触可能な接点部６６が設けられている（図３参照）。接点部６６は、コネクタ１に接続された検査対象２００によって第３方向Ｚの力が加えられた状態において（図１４および図１５参照）、第３方向Ｚに加えて、検査対象２００に接触する面積が広がる方向にも弾性変形して、隙間６５が狭くなるように構成されている。すなわち、第１接触ばね部６１は、コネクタ１に接続された検査対象２００によって第３方向Ｚの力が加えられた状態において、第３方向Ｚに加えて、検査対象２００に接触する面積が広がる方向にも弾性変形可能に構成され、また、複数の弾性片６１１、６１２のうちの隣接する弾性片間の隙間６５が狭くなるように構成されている。このように構成することにより、第１接触ばね部６１をより円滑に弾性変形させて、第１接触ばね部６１の耐久性を向上させることができる。また、第１接触ばね部６１がより円滑に弾性変形するので、第１接触ばね部６１の接触による検査対象２００の損傷をより確実に低減できる。なお、この実施形態では、コネクタ１に対して基板４０よりも頻繁に抜き差しされる検査対象２００と接触する第１接触ばね部６１を複数の弾性片６１１、６１２で構成している。
　なお、第２接触ばね部６２は、１つの弾性片で構成されている点を除いて、第１接触ばね部６１と同じ構成を有している。すなわち、第２接触ばね部６２は、第１方向Ｘの２箇所で屈曲した波形状または蛇行形状を有し、第１方向Ｘにおいて緩衝ばね部６４から遠い方の屈曲部近傍には、基板４０に対して第３方向Ｚから接触可能な接点部６８が設けられている（図３参照）。
　中間部６３は、略矩形状を有し、第１方向Ｘの両端部がそれぞれ第１接触ばね部６１および緩衝ばね部６４に接続されている。この中間部６３の緩衝ばね部６４側の端部には、接続ハウジング２１の第１収容部２２に収容されたときのプローブピン６０の第１方向Ｘでかつ第２接触ばね部６２に向かう方向の移動を規制する第１位置決め部６３１が設けられている。第１位置決め部６３１は、第３方向Ｚにおいて緩衝ばね部６４から離れる方向に延びる平面で構成されている。
　緩衝ばね部６４は、中間部６３から第３方向Ｚにおいて突出した略矩形の枠状を有し、第１方向Ｘの両端部がそれぞれ中間部６３および第２接触ばね部６２に接続され、中間部６３に対して第２方向Ｙ（すなわち、板厚方向）に弾性変形可能に構成されている。緩衝ばね部６４の中間部６３側の端部には、接続ハウジング２１の第１収容部２２に収容されたときのプローブピン６０の第１方向Ｘでかつ第１接触ばね部６１に向かう方向の移動を規制する第２位置決め部６４１が設けられている。第２位置決め部６４１は、第３方向Ｚにおいて緩衝ばね部６４から離れる方向でかつ中間部６３の第１位置決め部６３１とは反対方向に延びる平面で構成されている。
　また、第２位置決め部６４１の第３方向Ｚにおける中間部６３のから遠い方の端部には、第２位置決め部６４１から第１方向Ｘ沿いを第１接触ばね部６１に向かって延びる突起部６４２が設けられている。この突起部６４２は、図３に示すように、第３方向Ｚにおいて、接続ハウジング２１の支持部２１１に設けられ、コイルばね３１と中間部６３との間に配置された凹部２１５に収容されている。
　図３に示すように、第２接触ばね部６２および緩衝ばね部６４の各々は、接続ハウジング２１の外部でかつコネクタハウジング１０の内部に位置している。緩衝ばね部６４は、コネクタハウジング１０の内部に設けられた第２収容部１７に収容され、第２接触ばね部６２は、コネクタハウジング１０の内部に設けられた第３収容部１８に収容されている。
　また、図８に示すように、第２方向Ｙにおける中間部６３の板面と第１収容部２２との間の最短距離Ｄ１が、第２方向Ｙにおける緩衝ばね部６４の板面と第２収容部１７との間の最短距離Ｄ２よりも小さくなっている。さらに、各プローブピン６０の板厚Ｗ１が、隣接するプローブピン６０の板面間の最短距離Ｗ２の１／２以下（好ましくは１／３以下）になるように構成されている。なお、図示していないが、第２方向Ｙにおける第２接触ばね部６２の板面と第３収容部１８との間の最短距離は、第２方向Ｙにおける中間部６３の板面と第１収容部２２との間の最短距離Ｄ１と略同一になっている。
　前記コネクタ１では、開口部１４が設けられた開口面１３を有するコネクタハウジング１０と、開口部１４内であって開口部１４の縁部との間に隙間１５が設けられる基準位置Ｐに配置され、開口面１３上で揺動可能な状態でコネクタハウジング１０に支持されている第１端子接続部２０と、第１端子接続部２０を基準位置Ｐに向かって付勢する付勢部３０とを備えている。このような構成により、検査対象２００が第１端子接続部２０への接続方向（すなわち、第１方向Ｘ）に対して交差する方向から接続された場合であっても、付勢部３０の付勢力に抗して第１端子接続部２０が基準位置Ｐから一旦ずれたのち付勢部３０の付勢力で第１端子接続部２０を基準位置Ｐに戻すことができる。よって、第１端子接続部２０を検査対象２００に対してセルフアライメントさせることができるので、検査対象２００等の接続対象物を損傷させることなく接続可能なコネクタ１を実現できる。
　また、第１端子接続部２０が、その外面を覆うと共に、コネクタハウジング１０の内部に配置されたグランド端子２６が設けられた導電性の外殻部２５を有している。この外殻部２５により、コネクタを流れる高周波領域の信号の損失を低減できる。
　また、コネクタハウジング１０の内部に、第１端子接続部２０に対して電気的に接続された基板４０が設けられており、グランド端子２６が、弾性変形した状態で基板４０の接続端子４１に接触可能に構成されている。このような構成により、グランド端子２６の基板４０の接続端子４１に対する接圧を高めて、グランド端子２６と接続端子４１との間の接触信頼性を高めることができる。
　また、付勢部３０が、複数の付勢部材（例えば、コイルばね３１）で構成されており、複数の付勢部材が、第１方向Ｘに直交する仮想直線Ｌ１に対して対称に配置されている。このような構成により、第１端子接続部２０に対する付勢力のばらつきを低減して、より確実に第１端子接続部２０を設計通りに揺動させることができる。その結果、第１端子接続部２０を検査対象２００等の接続対象物に対してより確実にセルフアライメントさせることができる。
　また、第１端子接続部２０が、板状のプローブピン６０と、第１方向Ｘに延びて第２方向Ｙで板面が対向するようにプローブピン６０を収容可能な第１収容部２２が設けられた接続ハウジング２１とを有し、プローブピン６０は、第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２と、第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２の間に第１方向Ｘに沿って直列的に配置された中間部６３および緩衝ばね部６４とを備えている。第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２は、中間部６３に対して第３方向Ｚに弾性変形可能に構成され、中間部６３は、第１方向Ｘの両端部がそれぞれ第１接触ばね部６１および緩衝ばね部６４に接続され、緩衝ばね部６４は、第１方向Ｘの両端部がそれぞれ中間部６３および第２接触ばね部６２に接続されていると共に、中間部６３に対して第２方向Ｙに弾性変形可能に構成されている。第２接触ばね部６２および緩衝ばね部６４は、接続ハウジング２１の外部でかつコネクタハウジング１０の内部に位置し、コネクタハウジング１０には、第１方向Ｘに延びて緩衝ばね部６４を収容可能な第２収容部１７が設けられている。そして、第２方向Ｙにおける中間部６３の板面と第１収容部２２との間の最短距離Ｄ１が、第２方向Ｙにおける緩衝ばね部６４の板面と第２収容部１７との間の最短距離Ｄ２よりも小さい。このような構成により、検査対象２００が接触方向（すなわち、第１方向Ｘ）に交差する方向から第１端子接続部２０に接続されて、プローブピン６０に予定している接触方向に交差する方向（例えば、第２方向Ｙ）の応力が加えられたとしても、緩衝ばね部６４によりその応力を分散させて、プローブピン６０の損傷を低減できる。すなわち、検査対象２００等の接続対象物が接触方向に交差する方向から第１端子接続部２０に接続された場合であっても、損傷し難いプローブピン６０を実現できる。
　また、接続ハウジング２１が、第１収容部２２と接続ハウジング２１の外部とに連通すると共に、第１接触ばね部６１を接続ハウジング２１の外部から確認可能な確認用窓２４を有している。この確認用窓２４により、第１収容部２２に収容されたプローブピン６０の第１接触ばね部６１の収容状態を容易に確認できる。
　また、第１端子接続部２０が、複数のプローブピン６０と、第２方向Ｙに間隔を空けて配置され、各プローブピン６０がそれぞれ収容された複数の第１収容部２２とを有し、各プローブピン６０の板厚Ｗ１が、隣接するプローブピン６０の板面間の最短距離Ｗ２の１／２以下である。このような構成により、各プローブピン６０の絶縁性を確実に確保することができる。
　また、前記プローブピン６０が、第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２の間に設けられ、第１収容部２２に収容されたときの第１端子接続部２０に対する第１方向Ｘの位置を決める位置決め部６３１、６４１をさらに備えている。この位置決め部６３１、６４１により、プローブピン６０の第１収容部２２からの脱落を低減できる。
　また、位置決め部が、中間部６３の第３方向Ｚの一方側に設けられ、第１方向Ｘの一方側（例えば、第２接触ばね部６２に向かう方向）への移動を規制する第１位置決め部６３１と、緩衝ばね部６４の第３方向Ｚの他方側に設けられ、第１方向Ｘの他方側（例えば、第１接触ばね部６１に向かう方向）への移動を規制する第２位置決め部６４１とを有している。このような構成により、プローブピン６０の第１収容部２２からの脱落をより低減できる。
　なお、前記コネクタ１では、コネクタハウジング１０が、第３方向Ｚに積層された上ハウジング１１および下ハウジング１２で構成されているが、これに限らない。例えば、図９に示すように、第２方向Ｙに積層された左ハウジング７１および右ハウジング７２で構成してもよい。この場合、図１０に示すように、付勢部３０の４つのコイルばね３１は、第１方向Ｘ（すなわち、図１０の紙面貫通方向）から見て、第１端子接続部２０の第２方向Ｙの中心線Ｌ２に対して対称に配置することができる。
　また、第１収容部２２に収容されたプローブピン６０の中間部６３の板面と第１収容部２２との間の最短距離Ｄ１が、このプローブピン６０の緩衝ばね部６４の板面と第２収容部１７との間の最短距離Ｄ２よりも小さくなるように構成されているが、これに限らず、例えば、最短距離Ｄ１と最短距離Ｄ２とが同じになるように構成してもよい。
　外殻部２５は、接続ハウジング２１の一部を覆うように構成されている場合に限らず、例えば、図９に示すように、接続ハウジング２１の全体を覆うように構成してもよいし、高周波領域の信号の損失をあまり考慮する必要がない場合には、省略することもできる。
　グランド端子２６は、弾性変形した状態で基板４０の接続端子４１に接触するように構成されている場合に限らず、弾性変形していない状態で基板４０の接続端子４１に接触するように構成してもよい。この場合、例えば、グランド端子２６は、基板４０の接続端子４１に半田付け等により接続して、接触信頼性を高めるようにしてもよい。
　付勢部３０は、４つのコイルばね３１で構成されている場合に限らず、例えば、１～３のコイルばね３１で構成してもよいし、５以上のコイルばね３１で構成してもよい。また、付勢部３０は、複数のコイルばね３１を第３方向Ｚの上下に配置する場合に限らず、複数のコイルばね３１を第３方向Ｚの上下に加えて、第２方向Ｙの左右の一方または両方に配置してもよい。
　付勢部材は、コイルばね３１に限らず、例えば、図１２に示すように、板ばね３２で構成してもよい。図１２では、第３方向Ｚの上下に板ばね３２をそれぞれ２つずつ配置し（図１２には、３つの板ばね３２のみ示す）、第２方向Ｙの左右の両方に板ばね３２をそれぞれ２つずつ配置している。
　端子接続部は、コネクタ１の設計等に応じて、その構成を適宜変更できる。
　例えば、第１端子接続部２０のプローブピンは、前記プローブピン６０に限らず、他の構成のプローブピンを用いることもできる。例えば、第１端子接続部２０のプローブピンとして、電鋳法以外の方法で形成されたプローブピンを用いることもできるし、位置決め部６３１、６４１を設けていないプローブピンを用いることもできる。
　また、接続ハウジング２１は、第２方向Ｙに沿って間隔を空けて配置された複数対の第１収容部２２を有する場合に限らず、例えば、図１３に示すように、第３方向Ｚの中心線Ｌ１に対する一方側（図１３では、第３方向Ｚの中心線Ｌ１の上ハウジング１１側）のみに、複数の第１収容部２２を設けてもよい。この場合、外殻部２５のグランド端子２６も、第３方向Ｚの中心線Ｌ１の一方側のみに設ければよい。
　また、第１端子接続部２０の複数のプローブピン６０は、図５に示すように、第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２の先端部が、第２方向Ｙに沿って一直線に並ぶように配置されている（図５では、第２接触ばね部６２のみ示す）が、これに限らない。例えば、第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２の先端部が交互に第１方向Ｘにずれた千鳥状に、複数のプローブピン６０を配置してもよい。
　また、図１６に示すように、確認用窓２４を省略してもよい。
　また、各プローブピン６０の板厚Ｗ１が、隣接するプローブピン６０の板面間の最短距離Ｗ２の１／２以下（好ましくは１／３以下）になるように構成されている場合に限らず、各プローブピン６０の板厚Ｗ１が、隣接するプローブピン６０の板面間の最短距離Ｗ２の１／２よりも大きくなるように構成することもできる。
　プローブピン６０は、第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２と、第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２の間に直列的に配置された中間部６３および緩衝ばね部６４とを備え、緩衝ばね部６４が中間部６３に対して第２方向Ｙに弾性変形可能であり、第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２の各々が中間部６３に対して第３方向Ｚに弾性変形可能であれば、任意の構成を採用できる。
　例えば、図１７に示すように、第１接触ばね部６１を１つの弾性片で構成し、第２接触ばね部６２を複数の弾性片で構成することができる。図１７のプローブピン６０では、第２接触ばね部６２は、相互に隙間６７を空けて配置された２つの弾性片６２１、６２２で構成されている。
　また、図１８に示すように、第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２の各々を複数の弾性片で構成することができる。図１８のプローブピン６０では、第１接触ばね部６１は、相互に隙間６５を空けて配置された３つの弾性片６１１、６１２、６１３で構成され、第２接触ばね部６２は、相互に隙間６７を空けて配置された３つの弾性片６２１、６２２、６２３で構成されている。
　緩衝ばね部６４は、枠状に限らず、中間部６３に対して第２方向Ｙに弾性変形可能であれば、任意の構成を採用できる。例えば、緩衝ばね部６４は、図１９に示すように、中間部６３に接続された第１接続部６４３と、第２接触ばね部６２に接続された第２接続部６４４と、第１接続部６４３および第２接続部６４４に接続されて第１方向Ｘに延びる波状または蛇行形状の第３接続部６４５とで構成することができる。第３接続部６４５は、図２０に示すように、第１方向Ｘに延びる棒状であってもよい。
　また、緩衝ばね部６４は、図２１および図２２に示すように、第２方向Ｙに緩衝ばね部６４を貫通する貫通孔６４６を仕切るリブ６４７を有することができる。図２１のプローブピン６０では、貫通孔６４６を第３方向Ｚに２つに仕切る１つのリブ６４７が設けられている。図２２のプローブピン６０では、貫通孔６４６を第１方向Ｘに３つに仕切る２つのリブ６４７が設けられている。
　緩衝ばね部６４の突起部６４２は、図２３に示すように、省略することができる。また、図２４に示すように、突起部６４２の第３方向Ｚの両側に、圧入用の突起６４８を設けることもできる。各突起６４８は、第１方向Ｘにおいて中間部６３から第２接触ばね部６２に向かうに従って、第３方向Ｚにおいて相互に離れる方向に突出している。
　図２５に示すように、緩衝ばね部６４の第１方向Ｘにおける第２接触ばね部６２側の端部に、突出部６４９を設けることもできる。この突出部６４９は、緩衝ばね部６４の第１方向Ｘの第２接触ばね部６２が接続されている側面における第３方向Ｚの一端に配置されている。また、突出部６４９は、その先端が、コネクタハウジング１０に収容された状態で、コネクタハウジング１０の内面に接触可能に構成されている。なお、突出部６４９が設けられている緩衝ばね部６４の側面における第３方向Ｚの他端には、第２接触ばね部６２が接続されている。また、図２５のプローブピン６０では、第１接触ばね部６１の第１方向Ｘにおける中間部６３から遠い方の先端６１４において、２つの弾性片６１１、６１２が一体化されている。
　図２６および図２７に示すように、図２５のプローブピン６０では、第１接触ばね部６１の接点部６６が、コネクタ１に接続された検査対象２００によって第３方向Ｚの力が加えられた状態において、第３方向Ｚに加えて、検査対象２００に接触する面積が広がる方向にも弾性変形して、隙間６５が狭くなるように構成されている。また、第２接触ばね部６２の接点部６８が、基板４０によって第３方向Ｚの力が加えられた状態において、第３方向Ｚに加えて、基板４０に接触する面積が広がる方向にも弾性変形して、隙間６７が狭くなるように構成されている。
　第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２の各々は、第１方向Ｘの２箇所で屈曲した波形状または蛇行形状を有している場合に限らず、例えば、第１方向Ｘの１箇所で屈曲した略Ｌ字状または略Ｊ字状であってもよい。
　（第２実施形態）
　本開示の第２実施形態のプローブピン６０は、図２８に示すように、緩衝ばね部６４を備えていない点で、第１実施形態のプローブピン６０とは異なっている。なお、第２実施形態では、第１実施形態と同一部分に同一参照番号を付して説明を省略し、第１実施形態と異なる点について説明する。
　図２８に示すように、第２実施形態のプローブピン６０では、中間部６３が、中間部本体１６３と補助中間部１６４とで構成されている。中間部本体１６３は、図７のプローブピン６０の中間部６３と同じ形状および構成を有している。補助中間部１６４は、貫通孔６４６が設けられていない点を除いて、図７のプローブピン６０の緩衝ばね部６４と同じ形状および構成を有している。すなわち、補助中間部１６４は、緩衝ばね部６４よりも剛性が高く、緩衝ばね部６４と比較して中間部本体１６３に対して第２方向Ｙに弾性変形しないように構成されている。
　図２９および図３０に示すように、図２８のプローブピン６０も図７のプローブピン６０と同様に、第１接触ばね部６１の接点部６６が、コネクタ１に接続された検査対象２００によって第３方向Ｚの力が加えられた状態において、第３方向Ｚに加えて、検査対象２００に接触する面積が広がる方向にも弾性変形して、隙間６５が狭くなるように構成されている。
　第２実施形態のプローブピン６０も第１実施形態のプローブピン６０と同様に、第１接触ばね部６１が検査対象２００に接触可能な状態で、コネクタ１に配置可能に構成されている（図３参照）。このように、第１接触ばね部６１が検査対象２００に接触可能な状態で、プローブピン６０がコネクタ１に配置されて、導通検査あるいは動作特性検査等が行われる。このような検査において、検査対象２００のコネクタ１に対する接続および接続解除の繰り返し頻度は、検査装置１００、および、検査装置１００に接続可能な第２端子接続部５０に電気的に接続される基板４０よりも高くなる（すなわち、検査装置１００および基板４０は、第１接続対象物の一例であり、検査対象２００は、第２接続対象物の一例である）。
　ところで、検査用のプローブピンは、一般に、頻繁に接続対象物に対する接続および接続解除が繰り返されるため、耐久性が要求される。耐久性を確保するために、ニッケル合金あるいはチタン合金などの硬度の高い材料でプローブピンを形成すると、接続対象物を損傷してしまうおそれがある。逆に、ベリリウム鋼あるいはリン青銅などの硬度の低い材料でプローブピンを形成すると、プローブピンが充分な耐久性を備えることができなくなり、接続対象物に対する接続および接続解除の繰り返しによる摺動の摩耗により接点部が劣化する場合がある。
　第２実施形態のプローブピン６０によれば、第１接触ばね部６１をより円滑に弾性変形させて、第１接触ばね部６１の耐久性を向上させつつ、第１接触ばね部６１の接触による接続対象物の損傷をより確実に低減できる。すなわち、プローブピン６０が配置されたコネクタ１の寿命を延ばすことができる。
　なお、ニッケル合金あるいはチタン合金などの硬度の高い材料でプローブピン６０を形成しつつ、第１接触ばね部６１の板厚を薄くすることで、検査対象２００と接触する接点部６６をよりしなやかに変位させて、第１接触ばね部６１をさらに円滑に弾性変形させることができる。また、第１接触ばね部６１の各弾性片６１１、６１２の先端を相互に接続して、隙間６５を各弾性片６１１、６１２および中間部６３で取り囲むことで、第１接触ばね部６１の強度が高まり、第１接触ばね部６１の耐久性をさらに高めることができる。さらに、第１接触ばね部６１を複数の弾性片６１１、６１２で構成しているので、検査対象２００との接触部分から中間部６３に至る電気的な経路が複数形成され、プローブピン６０の電気抵抗を低減できる。
　図２８に示すプローブピン６０では、第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２の各々が、第１方向Ｘに沿って延びているが、この場合に限らない。例えば、第２接触ばね部６２が、第２方向Ｙに沿って延びるように配置されていてもよい。なお、第２接触ばね部６２は、その延在方向と第２方向Ｙとに交差する方向に弾性変形可能に構成されていればよい。
　また、図３１に示すように、図２８のプローブピン６０において、第２接触ばね部６２を複数の弾性片で構成することもできる。図３１のプローブピン６０では、第２接触ばね部６２を２つの弾性片６２１、６２２で構成している。
　図３２および図３３に示すように、図３１のプローブピン６０も図２５のプローブピン６０と同様に、第１接触ばね部６１の接点部６６が、コネクタ１に接続された検査対象２００によって第３方向Ｚの力が加えられた状態において、第３方向Ｚに加えて、検査対象２００に接触する面積が広がる方向にも弾性変形して、隙間６５が狭くなるように構成されている。また、第２接触ばね部６２の接点部６８が、基板４０によって第３方向Ｚの力が加えられた状態において、第３方向に加えて、基板４０に接触する面積が広がる方向にも弾性変形して、隙間６７が狭くなるように構成されている。
　以上、図面を参照して本開示における種々の実施形態を詳細に説明したが、最後に、本開示の種々の態様について説明する。なお、以下の説明では、一例として、参照符号も添えて記載する。
　本開示の第１態様のプローブピン６０は、
　接続対象物１００，２００に接続可能なコネクタ１に配置可能なプローブピン６０であって、
　第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２と、
　前記第１接触ばね部６１および前記第２接触ばね部６２の間に直列的に配置された中間部６３および緩衝ばね部６４と
を備え、
　前記中間部６３は、前記中間部６３に対して前記第１接触ばね部６１、前記中間部６３、前記緩衝ばね部６４および前記第２接触ばね部６２の配列方向である第１方向Ｘの両端部がそれぞれ前記第１接触ばね部６１および前記緩衝ばね部６４に接続され、
　前記緩衝ばね部６４は、前記第１方向Ｘの両端部がそれぞれ前記中間部６３および前記第２接触ばね部６２に接続されていると共に、前記第１方向Ｘに交差する第２方向Ｙに弾性変形可能に構成され、
　前記第１接触ばね部６１および前記第２接触ばね部６２は、前記中間部６３に対して前記第１方向Ｘおよび前記第２方向Ｙに交差する第３方向Ｚに弾性変形可能に構成されている。
　第１態様のプローブピン６０によれば、予定している接触方向に交差する方向の応力が加えられたとしても、緩衝ばね部６４によりその応力を分散させて、プローブピン６０の損傷を低減できる。その結果、損傷し難いプローブピン６０を実現できる。
　本開示の第２態様のプローブピン６０は、
　前記第１接触ばね部６１および前記第２接触ばね部６２の間に設けられ、前記コネクタ１のハウジング１０に収容されたときの前記ハウジング１０に対する前記第１方向Ｘの位置を決める位置決め部６３１、６４１をさらに備える。
　第２態様のプローブピン６０によれば、位置決め部６３１、６４１により、プローブピン６０の第１収容部２２からの脱落を低減できる。
　本開示の第３態様のプローブピン６０は、
　前記位置決め部が、
　前記中間部６３の前記第３方向Ｚの一方側に設けられ、前記第１方向Ｘの一方側への移動を規制する第１位置決め部６３１と、
　前記緩衝ばね部６４の前記第３方向Ｚの他方側に設けられ、前記第１方向Ｘの他方側への移動を規制する第２位置決め部６４１と
を有している。
　第３態様のプローブピン６０によれば、プローブピン６０の第１収容部２２からの脱落をより低減できる。
　本開示の第４態様のプローブピン６０は、
　前記第１接触ばね部６１および前記第２接触ばね部６２の少なくとも一方が、相互に隙間６５を空けて配置された複数の弾性片６１１、６１２で構成されている。
　本開示の第５態様のプローブピン６０は、
　前記第１接触ばね部６１が、接続された前記接続対象物２００の接触によって前記第３方向Ｚの力が加えられた状態において、前記接続対象物２００に接触する面積が広がる方向にも弾性変形可能に構成されている。
　本開示の第６態様のプローブピン６０は、
　前記第１接触ばね部６１が、接続された前記接続対象物２００の接触によって前記第３方向Ｚの力が加えられた状態において、前記複数の弾性片６１１、６１２のうちの隣接する弾性片間の前記隙間６５が狭くなるように構成されている。
　第４～第６態様のプローブピン６０によれば、第１接触ばね部６１をより円滑に弾性変形させて、第１接触ばね部６１の耐久性を向上させつつ、第１接触ばね部６１の接触による接続対象物の損傷をより確実に低減することができる。
　本開示の第７態様のプローブピン６０は、
　接続対象物１００、２００に接続可能なコネクタ１に配置可能なプローブピン６０であって、
　第１方向Ｘに沿って延びる板状の第１接触ばね部６１と、
　板状の第２接触ばね部６２と、
　前記第１接触ばね部６１および前記第２接触ばね部６２の間に配置された中間部６３と
を備え、
　前記第１接触ばね部６１は、前記第１方向Ｘと、前記第１接触ばね部６１および前記第２接触ばね部６２の各々の板厚方向である第２方向Ｙとに交差する第３方向Ｚに弾性変形可能であると共に、相互に隙間６５を空けて配置された複数の弾性片６１１、６１２で構成され、
　前記第２接触ばね部６２は、前記第２接触ばね部の延在方向と前記第２方向とに交差する方向Ｚに弾性変形可能に構成され、
　前記複数の弾性片６１１、６１２の各々は、前記第１方向における前記中間部から遠い方の端部が相互に接続されている。
　第７態様のプローブピン６０によれば、第１接触ばね部６１をより円滑に弾性変形させて、第１接触ばね部６１の耐久性を向上させつつ、第１接触ばね部６１の接触による接続対象物の損傷をより確実に低減できる。
　本開示の第８態様のプローブピン６０は、
　前記接続対象物１００、２００として、第１接続対象物１００と、前記第１接続対象物１００よりも前記コネクタ１に対する接続および接続解除の繰り返し頻度が高い第２接続対象物２００とが含まれ、
　前記第１接触ばね部６１が前記第２接続対象物２００に接触可能な状態で、前記コネクタ１に配置可能に構成されている。
　第８態様のプローブピン６０によれば、コネクタ１に対してより頻繁に接続および接続解除される第２接続対象物２００に、第１接触ばね部６１が接触可能に構成されているので、配置したコネクタ１の寿命を延ばすことができる。
　本開示の第９態様のプローブピン６０は、
　前記第１接触ばね部６１が、接続された前記接続対象物２００の接触によって前記第３方向Ｚの力が加えられた状態において、前記複数の弾性片６１１、６１２のうちの隣接する弾性片間の前記隙間６５が狭くなるように構成されている。
　本開示の第１０態様のプローブピン６０は、
　前記第１接触ばね部６１が、接続された前記接続対象物２００の接触によって前記第３方向Ｚの力が加えられた状態において、前記接続対象物２００に接触する面積が広がる方向にも弾性変形可能に構成されている。
　第９態様および第１０態様のプローブピン６０によれば、第１接触ばね部６１をより円滑に弾性変形させて、第１接触ばね部６１の耐久性を向上させつつ、第１接触ばね部６１の接触による接続対象物の損傷をより確実に低減することができる。
　本開示の第１１態様の検査方法は、
　接続対象物１００、２００に接続可能なコネクタ１に配置可能なプローブピン６０であって、
　第１方向Ｘに沿って延びる板状の第１接触ばね部６１と、
　板状の第２接触ばね部６２と、
　前記第１接触ばね部６１および前記第２接触ばね部６２の間に配置された中間部６３と
を備え、
　前記第１接触ばね部６１は、前記第１方向Ｘと、前記第１接触ばね部６１および前記第２接触ばね部６２の各々の板厚方向である第２方向Ｙとに交差する第３方向Ｚに弾性変形可能であると共に、相互に隙間６５を空けて配置された複数の弾性片６１１、６１２で構成され、
　前記第２接触ばね部６２は、前記第２接触ばね部６２の延在方向と前記第２方向Ｙとに交差する方向に弾性変形可能に構成され、
　前記複数の弾性片６１１、６１２の各々は、前記第１方向Ｘにおける前記中間部６３から遠い方の端部が相互に接続されている、プローブピン６０を用いた検査方法であって、
　前記接続対象物１００，２００として、第１接続対象物１００と、前記第１接続対象物１００よりも前記コネクタ１に対する接続および接続解除の繰り返し頻度が高い第２接続対象物２００とが含まれ、
　前記第１接触ばね部６１が前記第２接続対象物２００に接触可能な状態で、前記プローブピン６０が前記コネクタ１に配置される。
　第１１態様の検査方法によれば、コネクタ１に対する接続および接続解除の繰り返し頻度が高い第２接続対象物２００に対して、耐久性の高い第１接触ばね部６１が接触するように、プローブピン６０がコネクタ１に配置される。このような構成により、コネクタ１の寿命を延ばすことができる。
　なお、前記様々な実施形態または変形例のうちの任意の実施形態または変形例を適宜組み合わせることにより、それぞれの有する効果を奏するようにすることができる。また、実施形態同士の組み合わせまたは実施例同士の組み合わせまたは実施形態と実施例との組み合わせが可能であると共に、異なる実施形態または実施例の中の特徴同士の組み合わせも可能である。
　本開示は、添付図面を参照しながら好ましい実施形態に関連して充分に記載されているが、この技術の熟練した人々にとっては種々の変形や修正は明白である。そのような変形や修正は、添付した請求の範囲による本開示の範囲から外れない限りにおいて、その中に含まれると理解されるべきである。
　本開示のプローブピンは、例えば、ＵＳＢデバイスあるいはＨＤＭＩデバイスの検査に用いるコネクタに適用できる。
１　コネクタ
１０　コネクタハウジング
１１　上ハウジング
１１１　凹部
１２　下ハウジング
１２１　凹部
１３　開口面
１４　開口部
１５　隙間
１６　コイルばね収容部
１７　第２収容部
１８　第３収容部
２０　第１端子接続部
２０１　第１端部
２０２　第２端部
２１　接続ハウジング
２１１　支持部
２１２　凹部
２１３　端部
２１４、２１５　凹部
２２　第１収容部
２３　凹部
２４　確認用窓
２５　外殻部
２６　グランド端子
３０　付勢部
３１　コイルばね
３２　板ばね
４０　基板
５０　第２端子接続部
６０　プローブピン
６１　第１接触ばね部
６１１、６１２、６１３　弾性片
６１４　
６２　第２接触ばね部
６２１、６２２、６２３　弾性片
６３　中間部
１６３　中間部本体
１６４　補助中間部
６３１　第１位置決め部
６４　緩衝ばね部
６４１　第２位置決め部
６４２　突起部
６４３　第１接続部
６４４　第２接続部
６４５　第３接続部
６４６　貫通孔
６４７　リブ
６４８　突起
６４９　突出部
６５、６７　隙間
６６、６８　接点部
７１　左ハウジング
７２　右ハウジング
１００　検査装置
２００　検査対象
Ｌ１、Ｌ２　中心線
Ｐ　基準位置
Ｘ　第１方向
Ｙ　第２方向
Ｚ　第３方向
Ｄ１、Ｄ２　最短距離
Ｗ１　板厚
Ｗ２　最短距離

Claims (11)

  1. 　接続対象物に接続可能なコネクタに配置可能なプローブピンであって、
    　第１接触ばね部および第２接触ばね部と、
    　前記第１接触ばね部および前記第２接触ばね部の間に直列的に配置された中間部および緩衝ばね部と
    を備え、
    　前記中間部は、前記中間部に対して前記第１接触ばね部、前記中間部、前記緩衝ばね部および前記第２接触ばね部の配列方向である第１方向の両端部がそれぞれ前記第１接触ばね部および前記緩衝ばね部に接続され、
    　前記緩衝ばね部は、前記第１方向の両端部がそれぞれ前記中間部および前記第２接触ばね部に接続されていると共に、前記第１方向に交差する第２方向に弾性変形可能に構成され、
    　前記第１接触ばね部および前記第２接触ばね部は、前記中間部に対して前記第１方向および前記第２方向に交差する第３方向に弾性変形可能に構成されている、プローブピン。
  2. 　前記第１接触ばね部および前記第２接触ばね部の間に設けられ、前記コネクタのハウジングに収容されたときの前記ハウジングに対する前記第１方向の位置を決める位置決め部をさらに備える、請求項１のプローブピン。
  3. 　前記位置決め部が、
    　前記中間部の前記第３方向の一方側に設けられ、前記第１方向の一方側への移動を規制する第１位置決め部と、
    　前記緩衝ばね部の前記第３方向の他方側に設けられ、前記第１方向の他方側への移動を規制する第２位置決め部と
    を有している、請求項２のプローブピン。
  4. 　前記第１接触ばね部および前記第２接触ばね部の少なくとも一方が、相互に隙間を空けて配置された複数の弾性片で構成されている、請求項１から３のいずれか１つのプローブピン。
  5. 　前記第１接触ばね部が、接続された前記接続対象物の接触によって前記第３方向の力が加えられた状態において、前記接続対象物に接触する面積が広がる方向に弾性変形可能に構成されている、請求項４のプローブピン。
  6. 　前記第１接触ばね部が、接続された前記接続対象物の接触によって前記第３方向の力が加えられた状態において、前記複数の弾性片のうちの隣接する弾性片間の前記隙間が狭くなるように構成されている、請求項４または５のプローブピン。
  7. 　接続対象物に接続可能なコネクタに配置可能なプローブピンであって、
    　第１方向に沿って延びる板状の第１接触ばね部と、
    　板状の第２接触ばね部と、
    　前記第１接触ばね部および前記第２接触ばね部の間に配置された中間部と
    を備え、
    　前記第１接触ばね部は、前記第１方向と、前記第１接触ばね部および前記第２接触ばね部の各々の板厚方向である第２方向とに交差する第３方向に弾性変形可能であると共に、相互に隙間を空けて配置された複数の弾性片で構成され、
    　前記第２接触ばね部は、前記第２接触ばね部の延在方向と前記第２方向とに交差する方向に弾性変形可能に構成され、
    　前記複数の弾性片の各々は、前記第１方向における前記中間部から遠い方の端部が相互に接続されている、プローブピン。
  8. 　前記接続対象物として、第１接続対象物と、前記第１接続対象物よりも前記コネクタに対する接続および接続解除の繰り返し頻度が高い第２接続対象物とが含まれ、
    　前記第１接触ばね部が前記第２接続対象物に接触可能な状態で、前記コネクタに配置可能に構成されている、請求項７のプローブピン。
  9. 　前記第１接触ばね部が、接続された前記接続対象物の接触によって前記第３方向の力が加えられた状態において、前記複数の弾性片のうちの隣接する弾性片間の前記隙間が狭くなるように構成されている、請求項７または８のプローブピン。
  10. 　前記第１接触ばね部が、接続された前記接続対象物の接触によって前記第３方向の力が加えられた状態において、前記接続対象物に接触する面積が広がる方向に弾性変形可能に構成されている、請求項７から９のいずれか１つのプローブピン。
  11. 　接続対象物に接続可能なコネクタに配置可能なプローブピンであって、
    　第１方向に沿って延びる板状の第１接触ばね部と、
    　板状の第２接触ばね部と、
    　前記第１接触ばね部および前記第２接触ばね部の間に配置された中間部と
    を備え、
    　前記第１接触ばね部は、前記第１方向と、前記第１接触ばね部および前記第２接触ばね部の各々の板厚方向である第２方向とに交差する第３方向に弾性変形可能であると共に、相互に隙間を空けて配置された複数の弾性片で構成され、
    　前記第２接触ばね部は、前記第２接触ばね部の延在方向と前記第２方向とに交差する方向に弾性変形可能に構成され、
    　前記複数の弾性片の各々は、前記第１方向における前記中間部から遠い方の端部が相互に接続されている、プローブピンを用いた検査方法であって、
    　前記接続対象物として、第１接続対象物と、前記第１接続対象物よりも前記コネクタに対する接続および接続解除の繰り返し頻度が高い第２接続対象物とが含まれ、
    　前記第１接触ばね部が前記第２接続対象物に接触可能な状態で、前記プローブピンが前記コネクタに配置される、検査方法。
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102009036807A1 (de) * 2009-08-10 2011-03-03 Tyco Electronics Amp Gmbh Elektrische Steckverbinderanordnung mit verringerter Steckkraft
US20140134883A1 (en) * 2012-11-15 2014-05-15 Iriso Electronics Co., Ltd. Electric Connection Terminal and Connector Including the Same

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3294634B2 (ja) 1991-04-26 2002-06-24 アンプ インコーポレイテッド 電気コネクタ
JP4579361B2 (ja) 1999-09-24 2010-11-10 軍生 木本 接触子組立体
US6551126B1 (en) 2001-03-13 2003-04-22 3M Innovative Properties Company High bandwidth probe assembly
JP4522975B2 (ja) * 2006-06-19 2010-08-11 東京エレクトロン株式会社 プローブカード
JP4293254B2 (ja) 2007-03-27 2009-07-08 パナソニック電工株式会社 コネクタ
US7455528B2 (en) * 2006-09-08 2008-11-25 Siemens Energy & Automation, Inc. Devices and/or systems for coupling a PLC bus
JP2011112491A (ja) * 2009-11-26 2011-06-09 Micronics Japan Co Ltd プローブ装置
CN201845904U (zh) 2010-10-08 2011-05-25 得意精密电子(苏州)有限公司 电连接器
CN202550167U (zh) * 2012-05-11 2012-11-21 合兴集团汽车电子有限公司 一种浮动式板对板连接器
JP5454646B1 (ja) 2012-09-25 2014-03-26 第一精工株式会社 電気コネクタ
JP5999192B2 (ja) 2012-11-07 2016-09-28 オムロン株式会社 接続端子およびこれを用いた導通検査器具
TWI614947B (zh) 2013-11-13 2018-02-11 Iriso Electronics Co Ltd 電連接器
DE102013226205A1 (de) 2013-12-17 2015-06-18 Conti Temic Microelectronic Gmbh Einschubmodul für eine Motoreinheit
JP6192567B2 (ja) 2014-02-21 2017-09-06 ケル株式会社 フローティング型コネクタ
KR101891021B1 (ko) * 2014-05-30 2018-09-28 몰렉스 엘엘씨 전기 커넥터
TW201622267A (zh) * 2014-09-19 2016-06-16 蔡周賢 電連接器
JP6531438B2 (ja) * 2015-03-13 2019-06-19 オムロン株式会社 プローブピン、および、これを備えたプローブユニット
TWM542266U (zh) * 2015-06-12 2017-05-21 蔡周賢 雙向電連接器
TWI602358B (zh) * 2015-07-30 2017-10-11 凡甲科技股份有限公司 線纜連接器
CN105186155B (zh) * 2015-07-30 2018-04-13 凡甲电子(苏州)有限公司 线缆连接器
TWI669866B (zh) * 2015-08-20 2019-08-21 美商摩勒克斯公司 Electrical connector and electrical connection device
JP6641818B2 (ja) 2015-09-15 2020-02-05 オムロン株式会社 プローブピン、および、これを備えた検査治具
JP6325505B2 (ja) * 2015-10-28 2018-05-16 日本航空電子工業株式会社 コネクタ
TWI630764B (zh) * 2016-01-18 2018-07-21 台灣立訊精密有限公司 電連接器
JP6610322B2 (ja) * 2016-02-15 2019-11-27 オムロン株式会社 プローブピンおよびそれを用いた検査装置
JP6473435B2 (ja) 2016-10-18 2019-02-20 モレックス エルエルシー コネクタ
WO2019116512A1 (ja) 2017-12-14 2019-06-20 オムロン株式会社 ソケット、検査治具、検査ユニットおよび検査装置
KR102086390B1 (ko) 2019-11-05 2020-03-09 주식회사 플라이업 프로브 핀

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102009036807A1 (de) * 2009-08-10 2011-03-03 Tyco Electronics Amp Gmbh Elektrische Steckverbinderanordnung mit verringerter Steckkraft
US20140134883A1 (en) * 2012-11-15 2014-05-15 Iriso Electronics Co., Ltd. Electric Connection Terminal and Connector Including the Same

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