WO2013108626A1 - 構造化照明装置、構造化照明顕微鏡装置、構造化照明方法 - Google Patents

構造化照明装置、構造化照明顕微鏡装置、構造化照明方法 Download PDF

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WO2013108626A1
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light beam
structured
lighting device
optical axis
diffracted light
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PCT/JP2013/000207
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大内 由美子
和浩 ▲高▼砂
浩明 中山
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株式会社ニコン
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Definitions

  • the present invention relates to a structured illumination device, a structured illumination microscope device, and a structured illumination method.
  • the specimen In the field of specimen (specimen) observation and measurement, to achieve a resolution that exceeds the performance of the objective lens, the specimen is illuminated with spatially modulated illumination light (structured illumination light) to produce an image (modulated image).
  • structured illumination light spatially modulated illumination light
  • a structured illumination microscope that generates a super-resolution image (demodulated image) of a sample by acquiring and removing (demodulating) a modulation component included in the modulated image has been proposed (see, for example, Patent Document 1). ).
  • a light beam emitted from a light source is branched into a plurality of light beams by a diffraction grating or the like, and these light beams interfere with each other in the vicinity of the sample to form interference fringes.
  • This is structured illumination light.
  • the present invention has been made in view of such circumstances, and an object thereof is to provide a structured illumination apparatus, a structured illumination microscope apparatus, and a structured illumination method capable of adjusting or controlling a super-resolution effect.
  • An example of the structured illuminating device of the present invention includes a branching unit that branches an emitted light beam from a light source into at least two branched light beams, and the two branched light beams are condensed at different positions on the pupil plane, respectively.
  • An illumination optical system that causes the two branched light beams to interfere with each other and illuminates the specimen with the interference fringes, and a height from the optical axis of the illumination optical system to the two condensing points formed on the pupil plane by the two branched light beams Adjusting means for adjusting the height.
  • An example of the structured illumination microscope apparatus includes the structured illumination apparatus according to the present invention and an imaging optical system that forms an image of a light beam observed from the sample modulated by the interference fringes on a photodetector. Prepare.
  • FIG. 6 is a diagram for explaining the function of a half-wave plate 17. It is a figure explaining the function of the light beam selection member. It is a figure explaining the function of the half-wave plate 17 and the light beam selection member 18.
  • FIG. It is a figure explaining the shape of the light beam selection member. It is a figure explaining the function of 15 A of translation mechanisms. It is a figure which shows the optical path of the illumination optical system 10 which does not provide the space
  • FIG. It is a figure which shows the optical path of the illumination optical system 10 which does not provide the space
  • FIG. It is a figure which shows the optical path of the illumination optical system 10 provided with the space
  • FIG. 1 is a configuration diagram of the structured illumination microscope apparatus 1.
  • the structured illumination microscope apparatus 1 is used as a total reflection fluorescence microscope (TIRFM: Total Internal Reflection Fluorescence Microscopy) for observing a very thin layer on the surface of a fluorescent sample (specimen) 5 will be described. .
  • TRFM Total Internal Reflection Fluorescence Microscopy
  • the structured illumination microscope apparatus 1 includes a laser unit 100, an optical fiber 11, an illumination optical system 10, an imaging optical system 30, an image sensor 35, a control device 39, an image storage / An arithmetic device 40 and an image display device 45 are provided.
  • the illumination optical system 10 is an epi-illumination type, and the specimen 5 is illuminated using the objective lens 6 and the dichroic mirror 7 of the imaging optical system 30.
  • the laser unit 100 includes a first laser light source 101, a second laser light source 102, shutters 1031, 1032, a mirror 105, a dichroic mirror 106, and a lens 107.
  • Each of the first laser light source 101 and the second laser light source 102 is a coherent light source, and the emission wavelengths thereof are different from each other.
  • the wavelength ⁇ 1 of the first laser light source 101 is longer than the wavelength ⁇ 2 of the second laser light source 102 ( ⁇ 1> ⁇ 2).
  • the first laser light source 101, the second laser light source 102, and the shutters 1031 and 1032 are driven by the control device 39, respectively.
  • the optical fiber 11 is composed of, for example, a polarization-preserving single mode fiber in order to guide the laser light emitted from the laser unit 100.
  • the position of the output end of the optical fiber 11 in the optical axis AZ direction can be adjusted by the position adjusting mechanism 11A.
  • the position adjusting mechanism 11A is driven by the control device 39.
  • the illumination optical system 10 includes, in order from the emission end side of the optical fiber 11, a collector lens 12, a polarizing plate 23, a light beam branching unit 15, a condenser lens 16, a distance adjusting unit 200, and a light beam selecting unit 24.
  • the lens 25, the field stop 26, the field lens 27, the excitation filter 28, the dichroic mirror 7, and the objective lens 6 are disposed.
  • the light beam splitting unit 15 includes a diffractive optical element (diffraction grating) 13 and a translation mechanism 15A, and the interval adjustment unit 200 includes a plurality of prisms (details will be described later) and an adjustment mechanism 200A.
  • the light beam selection unit 24 includes a half-wave plate 17, a light beam selection member 18, and a rotation mechanism 24A.
  • the translation mechanism 15A, the adjustment mechanism 200A, and the rotation mechanism 24A are driven by the control device 39.
  • an objective lens 6, a dichroic mirror 7, a barrier filter 31, and a second objective lens 32 are arranged in this order from the sample 5 side.
  • Specimen 5 is, for example, a culture solution dropped on a parallel plate-like glass surface, and fluorescent cells (cells stained with a fluorescent dye) are present in the vicinity of the glass interface in the culture solution. is doing. In this cell, both the first fluorescent region excited by light of wavelength ⁇ 1 and the second fluorescent region excited by light of wavelength ⁇ 2 are expressed.
  • the objective lens 6 is configured as an immersion type (oil immersion type) objective lens in order to enable total reflection fluorescence observation. That is, the gap between the objective lens 6 and the glass of the sample 5 is filled with the immersion liquid (oil).
  • the image sensor 35 is a two-dimensional image sensor composed of a CCD, a CMOS, or the like.
  • the image pickup device 35 picks up an image formed on the image pickup surface 36 and generates an image. This image is taken into the image storage / arithmetic device 40 via the control device 39.
  • the control device 39 drives and controls the laser unit 100, the position adjustment mechanism 11A, the translation mechanism 15A, the adjustment mechanism 200A, the rotation mechanism 24A, and the image sensor 35.
  • the image storage / arithmetic unit 40 performs an operation on the image given via the control unit 39, stores the calculated image in an internal memory (not shown), and sends it to the image display unit 45.
  • the laser beam (first laser beam) having the wavelength ⁇ 1 emitted from the first laser light source 101 enters the mirror 105 through the shutter 1031, the laser beam is reflected by the mirror 105 and enters the dichroic mirror 106.
  • the laser light having the wavelength ⁇ 2 (second laser light) emitted from the second laser light source 102 enters the beam splitter 106 via the shutter 1032 and is integrated with the first laser light.
  • the first laser beam and the second laser beam emitted from the dichroic mirror 106 enter the incident end of the optical fiber 11 through the lens 107.
  • the laser light incident on the incident end of the optical fiber 11 propagates inside the optical fiber 11 to generate a point light source at the output end of the optical fiber 11.
  • the laser light emitted from the point light source is converted into a parallel light beam by the collector lens 12 and is incident on the diffraction grating 13 via the polarizing plate 23, and is branched into diffracted light beams of respective orders.
  • the diffracted light beams of these orders are condensed by the condenser lens 16 at different positions on the pupil conjugate plane 6A ′.
  • the pupil conjugate plane 6A ′ is a focal position (rear focal position) of the condenser lens 16, and is a field with respect to a pupil 6A of the objective lens 6 described later (a position where ⁇ first-order diffracted light is condensed). This is a conjugate position through the lens 27 and the lens 25.
  • conjugate position here includes a position determined by a person skilled in the art in consideration of design necessary matters such as aberration and vignetting of the objective lens 6, the field lens 27, and the lens 25. Shall.
  • the polarizing plate 23 can be omitted, but it is effective for surely cutting off an extra polarization component. Further, in order to increase the utilization efficiency of the laser light, it is desirable that the axis of the polarizing plate 23 coincides with the polarization direction of the laser light emitted from the optical fiber 11.
  • the diffracted light beams of the respective orders toward the pupil conjugate plane 6A ′ are similarly arranged in the vicinity of the pupil conjugate plane 6A ′ via the interval adjusting unit 200 disposed in the vicinity of the pupil conjugate plane 6A ′.
  • the light beam selection unit 24 only includes a pair of diffracted light beams among the incident diffracted light beams of each order. It is assumed that (only ⁇ first-order diffracted light beam here) is selectively passed.
  • the ⁇ first-order diffracted light beam that has passed through the light beam selection unit 24 forms a plane conjugate with the diffraction grating 13 in the vicinity of the field stop 26 by the lens 25, is then converted into convergent light by the field lens 27, and further passes through the excitation filter 28.
  • Each of the ⁇ first-order diffracted light beams collected on the pupil plane 6A becomes a parallel light beam when emitted from the tip of the objective lens 6 and interferes with each other on the surface of the sample 5 to form interference fringes.
  • This interference fringe is used as structured illumination light.
  • the structured illumination microscope apparatus 1 of the present embodiment is used as a TIRFM (total reflection fluorescence microscope)
  • TIRFM total reflection fluorescence microscope
  • the generation conditions total reflection conditions
  • TIRF condition total reflection condition
  • the condensing point of the ⁇ 1st-order diffracted light beam on the pupil plane 6A needs to be located in a predetermined annular zone located on the outermost periphery of the pupil plane 6A.
  • the interval adjusting unit 200 described above is provided to adjust the interval between the condensing points of the pair of diffracted light beams on the pupil plane 6A so that the two condensing points are within a predetermined annular zone (details). Will be described later). As a result of this adjustment, an evanescent field due to interference fringes occurs near the surface of the sample 5.
  • the fluorescence generated near the surface (evanescent field) of the specimen 5 is incident on the objective lens 6, it is converted into parallel light by the objective lens 6, and then transmitted through the dichroic mirror 7 and the barrier filter 31, and the second objective lens 32. Then, a modulated image of the sample 5 is formed on the imaging surface 36 of the imaging device 35.
  • the modulated image is imaged by the image sensor 35, and a modulated image of the fluorescent region is generated.
  • the modulated image is taken into the image storage / arithmetic device 40 via the control device 39.
  • a known demodulation operation is performed on the captured modulated image in the image storage / arithmetic apparatus 40, and a demodulated image (super-resolution image) is generated.
  • the super-resolution image is stored in an internal memory (not shown) of the image storage / arithmetic device 40 and is sent to the image display device 45.
  • a known demodulation operation for example, a method disclosed in US Pat. No. 8,115,806 is used.
  • FIG. 2A is a diagram of the diffraction grating 13 viewed from the direction of the optical axis AZ
  • FIG. 2B is a diagram showing the positional relationship between the condensing points formed on the pupil conjugate plane by the ⁇ first-order diffracted light beams. It is. 2A is a schematic diagram, the structure period of the diffraction grating 13 illustrated in FIG. 2A is not necessarily the same as the actual structure period.
  • the diffraction grating 13 is a diffraction grating having a periodic structure in a plurality of different directions within a plane perpendicular to the optical axis AZ of the illumination optical system 10.
  • the material of the diffraction grating 13 is, for example, glass.
  • the diffraction grating 13 is a three-way diffraction grating having a periodic structure in each of the first direction V 1 , the second direction V 2 , and the third direction V 3 that are different by 120 °, and the period of these periodic structures is (Pitch) is assumed to be common.
  • the periodic structure of the diffraction grating 13 is either a concentration-type periodic structure formed using concentration (transmittance) or a phase-type periodic structure formed using steps (phase difference).
  • the phase difference type periodic structure is preferable in that the diffraction efficiency of the + 1st order diffracted light is higher.
  • Such parallel light beams incident on the diffraction grating 13 are branched in the first direction V 1 , the second diffracted light beam group branched in the second direction V 2 , and the third direction V 3. Converted into the third diffracted light beam group.
  • the first diffracted light beam group includes a 0th order diffracted light beam and a ⁇ 1st order diffracted light beam, and of these, the ⁇ 1st order diffracted light beam having a common order travels in a symmetric direction with respect to the optical axis AZ.
  • the second diffracted light beam group includes a 0th-order diffracted light beam and a ⁇ 1st-order diffracted light beam, and of these, the ⁇ 1st-order diffracted light beams having common orders travel in a symmetric direction with respect to the optical axis AZ. To do.
  • the third diffracted light beam group includes a 0th-order diffracted light beam and a ⁇ 1st-order diffracted light beam, of which the ⁇ 1st-order diffracted light beams having the same order travel in a direction symmetric with respect to the optical axis AZ. To do.
  • the ⁇ 1st order diffracted light beam of the first diffracted light beam group, the ⁇ 1st order diffracted light beam of the second diffracted light beam group, and the ⁇ 1st order diffracted light beam of the third diffracted light beam group are brought into the pupil conjugate plane by the condenser lens 16 described above. Are condensed at different positions.
  • the condensing points 14d and 14g of the ⁇ first-order diffracted light beams of the first diffracted light beam group are symmetric with respect to the optical axis AZ, and the arrangement direction of the condensing points 14d and 14g is It corresponds to the first direction V 1.
  • the distance D from the optical axis AZ to the condensing points 14d and 14g is It is represented by
  • the focal point 14c of ⁇ 1-order diffracted light flux of the second diffracted light beam group, 14f is symmetrical with respect to the optical axis AZ, the focal point 14c, the arrangement direction of 14f, corresponding to the second direction V 2 Yes.
  • the distance from the condensing points 14c and 14f of the second diffracted light beam group to the optical axis AZ is the same as the distance from the condensing points 14d and 14g of the first diffracted light beam group to the optical axis AZ.
  • the third diffracted beam group ⁇ 1-order diffracted beam of the focal point 14b, 14e is symmetrical with respect to the optical axis AZ, the focal point 14b, the arrangement direction of the 14e, corresponding to the third direction V 3 Yes.
  • the distance from the condensing points 14b and 14e of the third light beam group to the optical axis AZ is the same as the distance from the condensing points 14d and 14g of the first diffracted light beam group to the optical axis AZ.
  • the “focusing point” here refers to the position of the center of gravity of an area having 80% or more of the maximum intensity. Therefore, the illumination optical system 10 does not need to collect the light beam until a complete condensing point is formed.
  • the diffraction grating 13 described above can be translated by a translation mechanism 15A (see FIG. 1) composed of a piezo motor or the like.
  • the direction of translational movement of the diffraction grating 13 by the translation mechanism 15A is a direction perpendicular to the optical axis AZ of the illumination optical system 10, and is in the first direction V 1 , the second direction V 2 , and the third direction V 3 described above .
  • the direction is non-perpendicular to each.
  • FIG. 3 is a diagram for explaining the function of the half-wave plate 17, and FIG. 4 is a diagram for explaining the function of the light beam selection member 18.
  • the half-wave plate 17 is a wave plate for setting the polarization direction of the incident diffracted light beam of each order, and as shown in FIG. 4, the light beam selection member 18 includes the first to third light beams. It is a mask that selectively allows only one group of ⁇ first-order diffracted light beams to pass through.
  • the half-wave plate 17 and the light beam selection member 18 can be rotated around the optical axis AZ by a rotation mechanism 24A (see FIG. 1).
  • the rotation mechanism 24A rotates the light beam selection member 18 to switch the selected ⁇ 1st order diffracted light beam between the first to third diffracted light beam groups, and in conjunction with the light beam selection member 18, 1 /
  • the polarization direction when the selected ⁇ 1st-order diffracted light beams enter the sample 5 is maintained as S-polarized light.
  • the half-wave plate 17 and the light beam selection member 18 switch the direction of interference fringes while maintaining the state of interference fringes.
  • the conditions for maintaining the stripe state will be specifically described.
  • the direction of the fast axis of the half-wave plate 17 is determined according to the branch direction (any one of the first direction V 1 to the third direction V 3 ) of the selected ⁇ first-order diffracted light beam and its ⁇ first-order diffraction. It is necessary to set the direction of polarization of the light beam to be perpendicular.
  • the fast axis of the half-wave plate 17 is a direction in which the amount of phase delay when light polarized in the direction of the axis passes through the half-wave plate 17 is minimized. It is.
  • the opening pattern of the light beam selection member 18 includes a first opening portion 19 and a second opening portion 20 that individually allow one and the other of the ⁇ first-order diffracted light beams belonging to the same diffracted light beam group to pass therethrough.
  • the length of each of the first opening 19 and the second opening 20 around the optical axis AZ is set such that a diffracted light beam linearly polarized in the above-described direction can pass therethrough. Therefore, each shape of the 1st opening part 19 and the 2nd opening part 20 is a shape close
  • first reference position the rotational position of the half-wave plate 17 when the direction of the fast axis of the half-wave plate 17 is parallel to the direction of the axis of the polarizing plate 23, This is used as a reference for the rotational position of the half-wave plate 17 (hereinafter referred to as “first reference position”).
  • the amount of rotation of the half-wave plate 17 from the first reference position is controlled to one half of the amount of rotation of the light beam selection member 18 from the second reference position. It should be. That is, when the rotation amount of the half-wave plate 17 from the first reference position is ⁇ / 2, the rotation amount of the light beam selection member 18 from the second reference position should be set to ⁇ .
  • the rotation mechanism 24A selects the ⁇ first-order diffracted light beam (the branch direction is the first direction V 1 ) of the first diffracted light beam group, as shown in FIG.
  • the fast axis direction of the half-wave plate 17 is changed to the right from the first reference position. Is rotated by a rotation angle ⁇ 1/2 .
  • the polarization directions of the diffracted light beams of the respective orders before passing through the half-wave plate 17 are parallel to the direction of the axis of the polarizing plate 23 as shown by the broken line double arrow in FIG.
  • the polarization directions of the diffracted light beams of the respective orders after passing through the half-wave plate 17 rotate to the right by the rotation angle ⁇ 1, so the polarization directions of the selected ⁇ 1st order diffracted light beams are 4A, it is perpendicular to the branching direction (first direction V 1 ) of the ⁇ 1st-order diffracted light beams, as indicated by the solid line double arrow in FIG.
  • the rotation mechanism 24A selects the ⁇ first-order diffracted light beam (the branch direction is the second direction V 2 ) of the second diffracted light beam group, If a light beam selection direction of the light beam selecting member 18 is rotated by the rotation angle theta 2 from the second reference position to the right, the direction of the fast axis of the 1/2-wavelength plate 17, right from the first reference position only the rotation angle theta 2/2 is rotated.
  • the polarization direction of the diffracted light beam of each order before passing through the half-wave plate 17 is parallel to the direction of the axis of the polarizing plate 23 as shown by the broken line in FIG. 4B.
  • the polarization direction of each order of the diffracted light beam after passing through the half-wave plate 17 is rotated to the right by the rotation angle ⁇ 2, so the polarization direction of the selected ⁇ 1st order diffracted light beam Is perpendicular to the branching direction (second direction V 2 ) of the ⁇ first-order diffracted light beams, as indicated by the solid double arrows in FIG.
  • the polarization direction (the axial direction of the polarizing plate 23) that the ⁇ 1st-order diffracted light beam incident on the / 2 wavelength plate 17 had and the polarization direction that the ⁇ 1st-order diffracted light beam emitted from the half-wave plate 17 should have (the bisector direction of angle formed vertical) and are in the second direction V 2, is set.
  • the rotation mechanism 24A selects the ⁇ first-order diffracted light beam (the branch direction is the third direction V 3 ) of the third diffracted light beam group,
  • the rotation angle ⁇ 3 the direction of the fast axis of the half-wave plate 17 and it is rotated by the rotation angle theta 3/2 to the left from the first reference position.
  • the polarization directions of the diffracted light beams of the respective orders before passing through the half-wave plate 17 are parallel to the direction of the axis of the polarizing plate 23, as indicated by the broken line in FIG. 4C.
  • the polarization direction of each order diffracted light beam after passing through the half-wave plate 17 rotates to the left by the rotation angle ⁇ 3, so the polarization direction of the selected ⁇ 1st order diffracted light beam Is perpendicular to the branching direction (third direction V 3 ) of the ⁇ first-order diffracted light beams, as indicated by the actual double arrows in FIG.
  • the rotation mechanism 24A only needs to interlock the half-wave plate 17 and the light beam selection member 18 with a gear ratio of 2: 1.
  • FIG. 5 is a diagram illustrating the functions of the half-wave plate 17 and the light beam selection member 18 described above.
  • a double arrow surrounded by a circular frame indicates the polarization direction of the light beam
  • a double arrow surrounded by a square frame indicates the axial direction of the optical element.
  • the rotatable half-wave plate 17 is used to keep the ⁇ first-order diffracted light beam incident on the specimen 5 as S-polarized light.
  • a fixed liquid crystal element may be used, and the liquid crystal element may function as the half-wave plate 17. If the orientation of the liquid crystal element is electrically controlled, the refractive index anisotropy of the liquid crystal element can be controlled, so that the fast axis as a half-wave plate can be rotated around the optical axis AZ.
  • there are other methods for keeping the ⁇ first-order diffracted light beam incident on the specimen 5 in S polarization (described later).
  • a plurality of (six in the example shown in FIG. 6) notches 21 are formed on the outer peripheral portion of the light beam selecting member 18, and a rotating mechanism 24A (see FIG. 1). Includes a timing sensor 22 for detecting these notches 21.
  • the rotation mechanism 24A can detect the rotation position of the light beam selector 24 and thus the rotation position of the half-wave plate 17.
  • FIG. 7 is a diagram illustrating the function of the translation mechanism 15A.
  • the modulated image generated by the structured illumination microscope apparatus 1 includes a 0th order modulation component, a + 1st order modulation component, ⁇ This is because a primary modulation component is included, and in order to make these three unknown parameters known by demodulation calculation, a plurality of modulated images are required.
  • the translation mechanism 15A shifts the phase of the interference fringes, as shown in FIG. 7A, in the direction perpendicular to the optical axis AZ of the illumination optical system 10 and the first direction V 1 described above.
  • the diffraction grating 13 is shifted in a direction (x direction) that is non-perpendicular to all of the second direction V 2 and the third direction V 3 .
  • the shift amount L of the diffraction grating 13 needed to the phase of the interference fringe is shifted by a desired shift amount ⁇ is the case the light beam selected direction of the light beam selecting unit 24 is the first direction V 1, the second direction When it is V 2 and when it is the third direction V 3 , it is not necessarily the same.
  • the structural period (pitch) of each of the first direction V 1 , the second direction V 2 , and the third direction V 3 of the diffraction grating 13 is P
  • the shift direction of the diffraction grating 13 The angle between the x direction) and the first direction V 1 is ⁇ 1
  • the angle between the shift direction (x direction) of the diffraction grating 13 and the second direction V 2 is ⁇ 2
  • the diffraction grating 13 is shifted.
  • ) is represented by, x-direction shift amount L 2 of the diffraction grating 13 requires the light beam selected direction is the second direction V 2 is, L 2 ⁇ ⁇ P / (4 ⁇ ⁇
  • the shift amount L in the x direction of the diffraction grating 13 necessary for setting the phase shift amount of the interference fringes to a desired value ⁇ is the wavelength selection direction (first direction V 1 , second direction V 2 , third direction). Any one of V 3 ) and the angle ⁇ formed by the x direction is expressed as in Expression (1).
  • the shift amount L in the x direction of the diffraction grating 13 necessary for setting the phase shift amount ⁇ of the fringes of the structured illumination light to 2 ⁇ is P / (2 ⁇
  • the phase of the structured illumination light can be shifted by one period only by shifting the diffraction grating 13 by a half period (because the fringe pitch of the structured illumination light composed of ⁇ first-order diffracted light is the structural period of the diffraction grating 13. Is equivalent to twice.).
  • FIG. 8 shows the optical path of the illumination optical system 10 when the interval adjusting unit 200 is not provided
  • FIG. 9 shows the optical path of the illumination optical system 10 when the interval adjusting unit 200 is provided.
  • . 8A and 9A show the case where the light source wavelength is a long wavelength ⁇ 1
  • FIGS. 8B and 9B show the case where the light source wavelength is a short wavelength ⁇ 2.
  • the interval adjustment unit 200 when the light source wavelength is switched from the long wavelength ⁇ 1 to the short wavelength ⁇ 2, the diffraction angle (branching amount) of the ⁇ first-order diffracted light beams emitted from the diffraction grating 13 decreases. Therefore, if the interval adjustment unit 200 is not provided, as shown at the left end of FIGS. 8A and 8B, the height from the optical axis AZ of the condensing point of each ⁇ first-order diffracted light beam on the pupil plane 6A. Will change.
  • the distance from the optical axis AZ to the light beam is simply referred to as “height”.
  • the super-resolution effect is the ratio of the resolving power at the time of modulation (the resolving power by the structured illumination light) based on the resolving power at the time of non-modulation (resolving power by the uniform illumination light).
  • (Resolving power by structured illumination light) / (Resolving power by uniform illumination light) (pupil diameter + distance between condensing points) / (pupil diameter). Therefore, the greater the ratio of the height of the focal point to the pupil radius of the objective lens 6, the higher the super-resolution effect.
  • the interval adjusting unit 200 deflects the direction of the optical path of one of the ⁇ first-order diffracted light beams incident from the condenser lens 16 side (here, the + 1st-order diffracted light beam).
  • Prism 202 here, the deflection direction is a direction away from the optical axis AZ
  • the + 1st order diffracted light beam deflected by the prism 202 is reflected, and the optical path direction of the + 1st order diffracted light beam is set to the original direction.
  • a prism 201 for returning to the same direction as the optical path when entering the prism 202.
  • the interval adjusting unit 200 includes a prism for deflecting the direction of the optical path of the other ⁇ 1st order diffracted light beam (here, the ⁇ 1st order diffracted light beam) incident from the condenser lens 16 side.
  • 202 ′ (here, the deflection direction is a direction away from the optical axis AZ) and the ⁇ 1st order diffracted light beam deflected by the prism 202 ′ is reflected, and the direction of the optical path of the ⁇ 1st order diffracted light beam is
  • a prism 201 ′ for returning to the direction (the same direction as the optical path when entering the prism 202 ′).
  • the diffracted light beam used for the structured illumination light of the present embodiment is a diffracted light beam having a common order (the first order diffracted light beam) described above, and the optical path of the ⁇ first order diffracted light beam is the optical axis AZ. Need to be kept in a symmetric relationship.
  • the arrangement relationship of the reflecting surfaces of the prisms 202 and 202 ′ on the upstream side of the interval adjusting unit 200 is kept symmetrical with respect to the optical axis AZ, and the arrangement relationship of the reflecting surfaces of the prisms 201 and 201 ′ on the downstream side is A symmetric relationship is maintained with respect to the optical axis AZ.
  • the prisms 202 and 202 ′ on the upstream side of the interval adjusting unit 200 maintain the mutual positional relationship in a symmetrical relationship with respect to the optical axis AZ, and It is possible to change the interval.
  • the interval between the prisms 202 and 202 ′ is adjusted according to the light source wavelength, the interval between the condensing points of the ⁇ first-order diffracted light beams on the pupil plane 6A is constant. Can be kept in. Thereby, the super-resolution effect is also kept constant.
  • the condensing point of the ⁇ first-order diffracted light beam on the pupil plane 6A is a predetermined annular zone (TIRF region that satisfies the evanescent field generation condition) ) Is not always within the range.
  • the interval between the prisms 201 and 201 ′ on the downstream side of the interval adjusting unit 200 is such that the condensing point formed by the ⁇ 1st-order diffracted light beam on the pupil plane 6A is a predetermined annular zone region (evanescent field).
  • the optimum value is kept within a TIRF region that satisfies the generation condition.
  • the evanescent field generation condition (TIRF condition) is maintained.
  • the interval adjusting unit 200 as described above, even when the diffraction angle (branching amount) of the ⁇ 1st-order diffracted light beam is small, the interval between the focusing points of the ⁇ 1st-order diffracted light beam on the pupil plane 6A is set to an appropriate value. Therefore, the degree of freedom with respect to the structure pitch of the diffraction grating 13 is high.
  • control device 39 described above automatically switches the interval between the prisms 202 and 202 'according to the switching of the light source wavelength so that the interval between the condensing points on the pupil plane 6A is maintained at an optimum value.
  • the interval between the prisms 202 and 202 ′ by the control device 39 is switched via the adjustment mechanism 200 ⁇ / b> A of the interval adjustment unit 200.
  • the control device 39 described above compensates for such a deviation of the condensing point by interlocking the distance between the prisms 202 and 202 ′ with the position of the exit end of the optical fiber 11 in the optical axis AZ direction. Is desirable.
  • the adjustment of the position of the emission end by the control device 39 is performed via the position adjustment mechanism 11A (see FIG. 1).
  • FIG. 10 is a diagram illustrating a specific example of the adjustment mechanism 200A of the interval adjustment unit 200.
  • the adjustment mechanism 200A shown in FIG. 10 includes a wedge-shaped member 203 that is inserted into and removed from a part of the gap between the prisms 201 and 202 (a position that does not interfere with the optical path) and a part of the gap between the prisms 201 ′ and 202 ′ (the optical path). And a wedge-shaped member 203 ′ that is inserted into and removed from the position).
  • one wedge-shaped member 203 is inserted from the sample side into the gap between the prisms 201 and 202, and the thickness of the wedge-shaped member 203 in the direction perpendicular to the optical axis AZ is set to be thicker toward the sample side.
  • the other wedge-shaped member 203 ′ is inserted into the gap between the prisms 201 ′ and 202 ′ from the sample side, and the thickness of the wedge-shaped member 203 in the direction perpendicular to the optical axis AZ is set to be thicker toward the sample side. Yes.
  • the adjusting mechanism 200A includes a guide member (not shown) that restricts the moving direction of the wedge-shaped members 203 and 203 ′ in the optical axis AZ direction, and the moving direction of the prisms 202 and 202 ′ as the optical axis AZ.
  • a guide member (not shown) that restricts to a direction perpendicular to the axis, a fixing member (not shown) that fixes the prisms 201 and 201 ′, and the like are also provided.
  • the wedge-shaped members 203 and 203 ′ are configured by members common to each other. Also good. Alternatively, the wedge-shaped members 203 and 203 'may be fixed to each other.
  • the direction of the interference fringes is switched between the above-described three directions (the first direction V 1 , the second direction V 2 , and the third direction V 3 ).
  • the interval adjusting unit 200 also includes the above-described prism group (prisms 201, 202, 201 ′, 202 ′) and the adjusting mechanism 200A in the three directions (first direction V 1 , Two directions V 2 and a third direction V 3 ) are prepared in advance.
  • FIG. 11 is a view of an example of the interval adjusting unit 200 as viewed from the light source side.
  • prisms (prism 201,202,201 ', 202') are arranged three groups, of which one group, the branch direction for guiding ⁇ 1-order diffracted light beam which is the first direction V 1 a prism group for, the other one group is a prism group for guiding the ⁇ 1-order diffracted beam dividing direction is the second direction V 2, the remaining one group, the branch direction is a third is a prism group for guiding the ⁇ 1-order diffracted light beam is the direction V 3.
  • the wedge-shaped member in each direction is formed of a common member (reference numeral 203).
  • a member denoted by reference numeral 204 in FIG. 11 is a fixing member for fixing the prisms 201 and 201 ′ in each direction.
  • both the interval adjustment unit 200 and the light beam selection unit 24 are arranged in the vicinity of the same pupil conjugate plane 6A ′.
  • the number of pupil conjugate planes may be increased by inserting a system, and the interval adjustment unit 200 and the light beam selection unit 24 may be individually arranged in the vicinity of one of the two different pupil conjugate planes and the vicinity of the other.
  • the insertion destination of the light beam selection unit 24 is downstream of the insertion destination of the interval adjustment unit 200. This is because, if the light beam selection unit 24 is disposed downstream of the space adjustment unit 200, the incident position of the ⁇ first-order diffracted light beam on the light beam selection member 18 is not changed by the operation of the space adjustment unit 200. This is because the size of the opening of the light beam selection member 18 can be minimized.
  • the number of switching of the number of light source wavelengths is 2, but it may be expanded to 3 or more.
  • the number of variable steps of the interval between the prisms 202 and 202 ′ in the interval adjusting unit 200 may be set to 3 or more.
  • the interval adjusting unit 200 moves the prism group (prisms 201, 202, 201 ′, 202 ′) in three directions (first direction V 1 , second direction V 2 , third direction V 3 ).
  • Each of the prism groups (prisms 201, 202, 201 ′, 202 ′) is prepared in advance for each direction, and further includes a mechanism for rotating the entire prism group (prisms 201, 202, 201 ′, 202 ′) around the optical axis AZ. Good.
  • control device 39 described above may link the rotation position of the prism group (prisms 201, 202, 201 ′, 202 ′) with the rotation position of the light beam selection unit 18.
  • the interval adjusting unit 200 includes a prism (prisms 201 and 201 ′) disposed on the downstream side and a prism (prisms 202 and 202 disposed on the upstream side, as indicated by arrows in FIG. Only the latter interval is variable among '), but in addition, the interval between the prisms (prisms 201, 201') arranged on the downstream side may be variable as indicated by the arrows in FIG.
  • the prisms 201 and 201 are arranged so that the condensing point of the ⁇ 1st-order diffracted light flux does not deviate from the outermost ring-shaped region (region for satisfying the evanescent field generation condition) of the pupil plane 6A. It is desirable to limit the range of adjustment of the interval.
  • the interval between the prisms 201 and 201 ′ is finely adjusted, as indicated by an arrow at the left end of FIG.
  • the incident angle of the ⁇ first-order diffracted light beam incident on the surface is finely adjusted, and the depth of the evanescent field is finely adjusted.
  • control device 39 described above performs this fine adjustment in accordance with an instruction from the user.
  • the user can freely adjust the depth of the evanescent field.
  • the light source wavelength is variable in the first embodiment, when the light source wavelength is not changed, the diffraction angle (branching amount) of the ⁇ 1st-order diffracted light beams emitted from the diffraction grating 13 is not changed, so that the upstream
  • the interval between the prisms on the side may be unchanged, and only the interval between the prisms on the downstream side (prisms 201 and 201 ′) may be variable.
  • the deflection angle (chief ray) of the diffracted light beam in each of the prisms 201 and 201 ′ is about 90 °, but it may be an angle deviating from 90 °. Needless to say.
  • the deflection angle (chief ray) of the diffracted light beam in each of the prisms 202 and 202 ′ is 90 °, but it goes without saying that the angle may deviate from 90 °.
  • the diffraction grating 13 (see FIG. 2A) that simultaneously generates a plurality of diffracted light flux groups having different branching directions is used as means for branching the light flux emitted from the light source.
  • a diffraction grating (one-direction diffraction grating) that generates only one group of common diffracted light beams may be used.
  • a mechanism for rotating the one-way diffraction grating around the optical axis AZ is provided.
  • a non-rotating 0th-order light cut mask may be used instead of the rotatable light beam selector 18.
  • the 0th-order light cut mask has a mask portion disposed in an area that can be an optical path of a second-order or higher-order diffracted light beam, and an opening is disposed in an area that can be an optical path of a ⁇ 1st-order diffracted light beam.
  • This is a mask in which a mask portion is arranged in an area that becomes an optical path of a folded light beam.
  • the distance adjustment unit 200 is disposed near the pupil conjugate plane, but the optical paths of the diffracted light beams that contribute to the structured illumination light are separated from each other (the 0th order diffracted light beam and +1 As long as the order diffracted light beam and the ⁇ 1st order diffracted light beam are spatially separated from each other, the part may be located slightly away from the pupil conjugate plane. However, since the cross section of the diffracted light beam to be reflected by the prism becomes smaller near the pupil conjugate plane, it becomes easy to secure the movable range of the prism by reducing the size of the prism.
  • the half-wave plate 17 that can rotate around the optical axis AZ is used in order to keep the ⁇ first-order diffracted light beam incident on the sample 5 as S-polarized light.
  • a quarter-wave plate and a quarter-wave plate that can rotate around the optical axis AZ may be used.
  • the rotation position of the quarter-wave plate with respect to the first reference position is set to be the same as the rotation position of the light beam selection member 18 with reference to the second reference position.
  • the structured illumination microscope apparatus 1 is used as a total reflection fluorescence microscope (TIRFM) has been described.
  • the structured illumination microscope apparatus 1 is replaced with a three-dimensional structured illumination microscope apparatus (3D-SIM). : 3D-Structured (Illumination (Microscopy)).
  • the 0th-order diffracted light beam generated by the diffraction grating 13 is incident on the specimen 5 together with the ⁇ 1st-order diffracted light without being cut at the pupil conjugate plane 6A ′.
  • a light beam selection member 18 ′ shown in FIG. 13 may be used instead of the light beam selection member 18 shown in FIG. 6.
  • This light beam selection member 18 ' is the same as the light beam selection member 18 shown in FIG. 6, but is provided with an opening 29 through which the 0th-order diffracted light beam passes.
  • the opening 29 is formed in the vicinity of the optical axis AZ, and the shape of the opening 29 is, for example, a circle. According to such a light beam selection member 18 ', not only the ⁇ 1st order diffracted light beam but also the 0th order diffracted light beam can contribute to the interference fringes.
  • the interference fringes generated by the interference of the three diffracted light beams are spatially modulated not only in the surface direction of the sample 5 but also in the depth direction of the sample 5. Therefore, according to this interference fringe, it is possible to obtain a super-resolution effect also in the depth direction of the specimen 5.
  • the outer shape of the interval adjusting unit 200 is appropriately arranged so as not to obstruct the optical path of the 0th-order diffracted light beam.
  • the interval adjusting unit 200 adjusts the interval between the prisms 202 and 202 'according to the light source wavelength, the super-resolution effect can be kept constant.
  • the interval adjusting unit 200 adjusts the interval between the prisms 201 and 201 ', the super-resolution effect can be adjusted.
  • the diffraction angle (branching amount) of the ⁇ first-order diffracted light beam in the diffraction grating 13 is relatively small, and as shown in FIGS. Is provided to the interval adjusting unit 200.
  • the diffraction angle (branching amount) of the ⁇ first-order diffracted light beam in the diffraction grating 13 is relatively large, as shown in FIG. What is necessary is just to provide the space
  • the deflection direction of the ⁇ first-order diffracted light beams by the upstream prisms 202 and 202 ′ is not the direction away from the optical axis AZ, but the direction approaching the optical axis AZ. Is located on the inner side (side closer to the optical axis AZ) than the prisms 201 and 201 ′ on the downstream side.
  • interval adjustment part 200 of 1st Embodiment used the prism group (prisms 201, 202, 201 ', 202'), you may use a reflective mirror instead of a part or all of these prisms. Needless to say.
  • the structured illumination microscope apparatus 1 when used as a TIRF-SIM, a combination of a + 1st order diffracted light beam and a ⁇ 1st order diffracted light beam is used as a diffracted light beam contributing to interference fringes.
  • a combination of a + 1st order diffracted light beam and a ⁇ 1st order diffracted light beam is used as a diffracted light beam contributing to interference fringes.
  • other combinations may be used.
  • the diffracted light beam contributing to the interference fringes includes a + 1st order diffracted light beam, a ⁇ 1st order diffracted light beam, and a 0th order diffracted light beam.
  • the replacement of the objective lens 6 is not mentioned.
  • the adjustment mechanism is changed according to the switching of the objective lens 6. It is desirable to maintain the super-resolution effect by driving 200A.
  • the structured illumination device includes the branching unit (13) that splits the light beam emitted from the light source (100) into at least two branched light beams, and the pupil of the objective lens (6).
  • An illumination optical system that causes the two branched light beams to interfere with each other on the object side of the objective lens (6) by condensing them at different positions on the surface (6A), and illuminates the specimen (5) with the interference fringes ( 10) and an adjustment for adjusting or controlling the height from the optical axis (AZ) of the illumination optical system (10) to the two condensing points formed by the two branched light beams on the pupil plane (6A).
  • Means (200), and the adjusting means (200) is an optical member (201, 202, 201 ′, 202 ′) for deflecting the two branched light beams at a deflection angle corresponding to the wavelength of the two branched light beams. including.
  • the adjusting means (200) is configured to deflect the optical path of the first light flux, which is one of the two branched light fluxes, and the first reflective surface (202) deflected by the first reflective surface (202).
  • the structured illumination apparatus of the first embodiment can adjust or control the super-resolution effect of the structured illumination microscope apparatus (1).
  • the structured illumination device of the first embodiment further includes position adjusting means (11A) for adjusting the positions of the two condensing points in the optical axis (AZ) direction.
  • the structured illumination device of the first embodiment can cope with a focus shift that may occur when adjusting the super-resolution effect.
  • the adjusting means (200) keeps the positional relationship between the two condensing points in a symmetrical relationship with respect to the optical axis (AZ).
  • the structured illumination device of the first embodiment can prevent the degradation of the quality of interference fringes that may occur when adjusting the super-resolution effect.
  • the branching means (13) is a diffractive optical element.
  • the branching amount of the two branched light beams depends on the wavelength, so that the two focusing points from the optical axis (AZ) are high.
  • Depends on the wavelength, that is, the super-resolution effect may depend on the wavelength.
  • the structured illumination device of the first embodiment includes the adjusting means (200), it is possible to suppress the wavelength dependency of the super-resolution effect.
  • the height is adjusted to a value within a predetermined range, and the predetermined range is a range in which the two branched light beams can generate an evanescent field near the surface of the sample.
  • the structured illumination device of the first embodiment can prevent the collapse of the TIRF condition that may occur when adjusting the super-resolution effect.
  • the height is finely adjusted within the predetermined range in accordance with an instruction from the user.
  • the user can freely adjust the super-resolution effect within a range in which the TIRF condition is not broken.
  • the light source (100) can switch the wavelength of the emitted light beam, and the height is adjusted to a predetermined value regardless of the switching of the wavelength.
  • the structured illumination device of the first embodiment can reliably suppress the wavelength dependence of the super-resolution effect.
  • the structured illumination device of the first embodiment further includes switching means (18) for switching the positions of the two condensing points between a plurality of rotational positions around the optical axis (AZ), and the adjusting means (200) is prepared for each of the plurality of rotational positions.
  • the structured illumination device includes a first switching unit (18) for switching the positions of the two light condensing points between a plurality of rotational positions around the optical axis (AZ), and the adjusting unit ( 200) and a second switching means for switching the position between the plurality of rotational positions.
  • the structured illumination device of the first embodiment further includes phase shift means (15A) for shifting the phase of the interference fringes.
  • the structured illumination device of the first embodiment can switch the direction and phase of the interference fringes projected on the specimen (5).
  • the structured illumination microscope apparatus (1) of the first embodiment includes any one of the structured illumination apparatuses described above and an observation light beam from the sample (5) modulated by the interference fringe with a photodetector ( And an imaging optical system (30) that forms an image on (35).
  • the structured illumination microscope apparatus (1) of the first embodiment can image the modulated image of the specimen (5).
  • the structured illumination microscope apparatus (1) of the first embodiment further includes a calculation means (40) for calculating a demodulated image of the sample (5) based on an image generated by the photodetector (35).
  • the structured illumination microscope apparatus (1) of the first embodiment can acquire a super-resolution image of the specimen (5).
  • the structure of the structured illumination microscope apparatus of this embodiment will be described.
  • the main difference from the first embodiment is the configuration and location of the interval adjustment unit 200.
  • interval adjustment part 200 of this embodiment since simultaneous observation by two types of wavelengths becomes possible, the structural example of the apparatus for performing simultaneous observation is demonstrated here.
  • the structured illumination microscope apparatus 1 of the present embodiment includes a laser unit 100, an optical fiber 11, an illumination optical system 10, an imaging optical system 30, a first image sensor 351, and a second image sensor.
  • An image sensor 352, a control device 39, an image storage / arithmetic device 40, and an image display device 45 are provided.
  • the illumination optical system 10 is an epi-illumination type, and the specimen 5 is illuminated using the objective lens 6 and the dichroic mirror 7 of the imaging optical system 30.
  • the laser unit 100 includes a first laser light source 101, a second laser light source 102, shutters 1031, 1032, a mirror 105, a dichroic mirror 106, and a lens 107.
  • Each of the first laser light source 101 and the second laser light source 102 is a coherent light source, and the emission wavelengths thereof are different from each other.
  • the wavelength ⁇ 1 of the first laser light source 101 is longer than the wavelength ⁇ 2 of the second laser light source 102 ( ⁇ 1> ⁇ 2).
  • the first laser light source 101, the second laser light source 102, and the shutters 1031 and 1032 are driven by the control device 39, respectively.
  • the optical fiber 11 is composed of, for example, a polarization-preserving single mode fiber in order to guide the laser light emitted from the laser unit 100.
  • the position of the output end of the optical fiber 11 in the optical axis AZ direction can be adjusted by the position adjusting mechanism 11A.
  • the position adjusting mechanism 11A is driven by the control device 39.
  • the collector lens 12, the polarizing plate 23, the light beam branching unit 15, the interval adjusting unit 200, the condensing lens 16, and the light beam selecting unit 24 are sequentially arranged from the emission end side of the optical fiber 11.
  • the lens 25, the field stop 26, the field lens 27, the excitation filter 28, the dichroic mirror 7, and the objective lens 6 are disposed.
  • the light beam splitting unit 15 includes a diffractive optical element (diffraction grating) 13 similar to that in the first embodiment and a translation mechanism 15A similar to that in the first embodiment, and the interval adjusting unit 200 includes a plurality of prisms (
  • the light beam selection unit 24 includes a half-wave plate 17 similar to the first embodiment, a light beam selection member 18 similar to the first embodiment, and the same as the first embodiment.
  • a rotation mechanism 24A The translation mechanism 15A and the rotation mechanism 24A are driven by the control device 39 in the same manner as in the first embodiment.
  • an objective lens 6, a dichroic mirror 7, a barrier filter 31, a second objective lens 32, and a second dichroic mirror 35 are arranged in this order from the sample 5 side.
  • Specimen 5 is, for example, a culture solution dropped on a parallel plate-like glass surface, and fluorescent cells (cells stained with a fluorescent dye) are present in the vicinity of the glass interface in the culture solution. is doing. In this cell, both the first fluorescent region excited by light of wavelength ⁇ 1 and the second fluorescent region excited by light of wavelength ⁇ 2 are expressed.
  • the first fluorescent region generates the first fluorescence having the center wavelength ⁇ 1 ′ in response to the light having the wavelength ⁇ 1
  • the second fluorescent region generates the second fluorescence having the center wavelength ⁇ 2 ′ in response to the light having the wavelength ⁇ 2.
  • the objective lens 6 is configured as an immersion type (oil immersion type) objective lens in order to enable total reflection fluorescence observation. That is, the gap between the objective lens 6 and the glass of the sample 5 is filled with the immersion liquid (oil).
  • Each of the first image sensor 351 and the second image sensor 352 is a two-dimensional image sensor composed of a CCD, a CMOS, or the like.
  • an image formed on each of the imaging surface 361 of the first imaging element 351 and the imaging surface 362 of the second imaging element 352. Is captured and an image is generated. Images generated by the first image sensor 351 and the second image sensor 352 are taken into the image storage / arithmetic device 40 via the control device 39.
  • the control device 39 drives and controls the laser unit 100, the position adjustment mechanism 11A, the translation mechanism 15A, the rotation mechanism 24A, the first image sensor 351, and the second image sensor 352.
  • the image storage / arithmetic unit 40 performs an operation on the image given via the control unit 39, stores the calculated image in an internal memory (not shown), and sends it to the image display unit 45.
  • the laser beam (first laser beam) having the wavelength ⁇ 1 emitted from the first laser light source 101 enters the mirror 105 through the shutter 1031, the laser beam is reflected by the mirror 105 and enters the dichroic mirror 106.
  • the laser light having the wavelength ⁇ 2 (second laser light) emitted from the second laser light source 102 enters the beam splitter 106 via the shutter 1032 and is integrated with the first laser light.
  • the first laser beam and the second laser beam emitted from the dichroic mirror 106 enter the incident end of the optical fiber 11 through the lens 107.
  • the light source wavelength can be set to both the long wavelength ⁇ 1 and the short wavelength ⁇ 2.
  • the laser light incident on the incident end of the optical fiber 11 propagates inside the optical fiber 11 to generate a point light source at the output end of the optical fiber 11.
  • the laser light emitted from the point light source is converted into a parallel light beam by the collector lens 12 and is incident on the diffraction grating 13 via the polarizing plate 23, and is branched into diffracted light beams of respective orders.
  • the diffracted light beams of the respective orders enter the condenser lens 16 via the interval adjusting unit 200, the diffracted light beams are condensed by the condenser lens 16 at different positions on the pupil conjugate plane 6 ⁇ / b> A ′.
  • the pupil conjugate plane 6A ′ is a focal position (rear focal position) of the condenser lens 16, and is a field with respect to a pupil 6A of the objective lens 6 described later (a position where ⁇ first-order diffracted light is condensed). This is a conjugate position through the lens 27 and the lens 25.
  • conjugate position here includes a position determined by a person skilled in the art in consideration of design necessary matters such as aberration and vignetting of the objective lens 6, the field lens 27, and the lens 25. Shall.
  • the polarizing plate 23 can be omitted, but it is effective for reliably cutting off the extra polarized component. Further, in order to increase the utilization efficiency of the laser light, it is desirable that the axis of the polarizing plate 23 coincides with the polarization direction of the laser light emitted from the optical fiber 11.
  • the diffracted light beams of respective orders toward the pupil conjugate plane 6A ' are incident on the light beam selector 24 arranged in the vicinity of the pupil conjugate plane 6A'.
  • the light beam selection unit 24 only includes a pair of diffracted light beams among the incident diffracted light beams of each order. It is assumed that (only ⁇ first-order diffracted light beam here) is selectively passed.
  • the ⁇ 1st-order diffracted light beam that has passed through the light beam selection unit 24 forms a plane conjugate with the diffraction grating 13 in the vicinity of the field stop 26 by the lens 25, is then converted into parallel light by the field lens 27, and further passes through the excitation filter 28.
  • Each of the ⁇ first-order diffracted light beams collected on the pupil plane 6A becomes a parallel light beam when emitted from the tip of the objective lens 6 and interferes with each other on the surface of the sample 5 to form interference fringes.
  • This interference fringe is used as structured illumination light.
  • the structured illumination microscope apparatus 1 of the present embodiment is used as a TIRFM (total reflection fluorescence microscope)
  • the incident angle when entering the surface of the specimen 5 is an evanescent field generation condition (total reflection condition). Meet.
  • the total reflection condition is referred to as “TIRF condition”.
  • the condensing point of the ⁇ 1st-order diffracted light beam on the pupil plane 6A needs to be located in a predetermined annular zone located on the outermost periphery of the pupil plane 6A.
  • the interval adjusting unit 200 described above is provided to adjust the interval between the condensing points of the pair of diffracted light beams on the pupil plane 6A so that the two condensing points are within a predetermined annular zone (details). Will be described later). As a result of this adjustment, an evanescent field due to interference fringes occurs near the surface of the sample 5.
  • Fluorescence generated in the vicinity of the surface of the specimen 5 enters the objective lens 6, is converted into parallel light by the objective lens 6, passes through the dichroic mirror 7 and the barrier filter 31, and is then transmitted to the second dichroic mirror 35.
  • the first fluorescence having the wavelength ⁇ 1 ′ incident on the second dichroic mirror 35 is reflected by the second dichroic mirror 35, and the second fluorescence having the wavelength ⁇ 2 ′ incident on the second dichroic mirror 35 is transmitted through the second dichroic mirror 35.
  • the first fluorescence reflected from the second dichroic mirror 35 forms a modulated image of the first fluorescence region on the imaging surface 361 of the first imaging element 351, and the second fluorescence transmitted through the second dichroic mirror 35 is second A modulated image of the second fluorescent region is formed on the imaging surface 362 of the imaging element 352.
  • the modulated image of the first fluorescent region formed on the imaging surface 361 and the modulated image of the second fluorescent region formed on the imaging surface 362 are individually imaged by the first imaging device 351 and the second imaging device 352, and A modulated image of one fluorescent region and a modulated image of the second fluorescent region are generated.
  • the modulated image of the first fluorescent region and the modulated image of the second fluorescent region are taken into the image storage / calculation device 40 via the control device 39. Further, each of the captured modulated image of the first fluorescent region and the modulated image of the second fluorescent region is subjected to a known demodulation operation in the image storage / arithmetic device 40, and the demodulated image of the first fluorescent region ( A super-resolution image) and a demodulated image (super-resolution image) of the second fluorescent region are generated. These super-resolution images are stored in an internal memory (not shown) of the image storage / arithmetic device 40 and are sent to the image display device 45. As a known demodulation operation, for example, a method disclosed in US Pat. No. 8,115,806 is used.
  • FIG. 16 shows the optical path of the illumination optical system 10 when the interval adjustment unit 200 is not provided
  • FIG. 17 shows the optical path of the illumination optical system 10 when the interval adjustment unit 200 is provided.
  • 16A and 17A show the case where the light source wavelength is the long wavelength ⁇ 1
  • FIG. 16B and FIG. 17B show the case where the light source wavelength is the short wavelength ⁇ 2.
  • the illustration of the excitation filter 28 and the dichroic mirror 7 is omitted.
  • the diffraction angle (branching amount) of the ⁇ 1st-order diffracted light beams emitted from the diffraction grating 13 is different, and therefore FIG.
  • the interval adjusting unit 200 is not provided as shown in FIG. 16B, the height of the condensing point of the ⁇ 1st order diffracted light beam on the pupil plane 6A is different (the interval between the condensing points of the ⁇ 1st order diffracted light beam). Is different.)
  • the distance from the optical axis AZ to the light beam is simply referred to as “height”.
  • the super-resolution effect is also different between the wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2.
  • the super-resolution effect is a ratio of the resolving power at the time of modulation (resolving power by the structured illumination light) based on the resolving power at the time of non-modulation (resolving power by the uniform illumination light), and the pupil radius of the objective lens 6 The higher the ratio of the height of the light condensing point to, the higher the super-resolution effect.
  • the TIRF region is a predetermined annular zone region located on the outermost periphery of the pupil plane 6A. Since the TIRF condition cannot be satisfied unless the focusing point is placed in this TIRF region, total reflection observation cannot be performed. .
  • an interval adjusting unit 200 (see FIG. 17) as shown in FIG. 17 is adopted.
  • the disposition adjusting unit 200 is disposed at a location where the 0th-order diffracted light beam, the + 1st-order diffracted light beam, and the ⁇ 1st-order diffracted light beam are spatially separated in the optical path from the diffraction grating 13 to the pupil plane 6A. Thus, it is a place deviated from the pupil plane 6A or the pupil conjugate plane 6A ′. Incidentally, if the arrangement destination of the interval adjusting unit 200 is too close to the pupil plane 6A or the pupil conjugate plane 6A ', the function of the interval adjusting unit 200 cannot be sufficiently exhibited.
  • the interval adjusting unit 200 is disposed at a location where each of the + 1st order diffracted light beam and the ⁇ 1st order diffracted light beam is a condensed light beam or a divergent light beam (between the condensing lens 16 and the lens 25, a field lens). 27 (between the diffraction grating 13 and the condenser lens 16, the lens 25 and the field). It is desirable that it is between the lens 27). This is because the design of the interval adjusting unit 200 becomes easier.
  • the interval adjusting unit 200 is disposed at a location where the + 1st order diffracted light beam and the ⁇ 1st order diffracted light beam travel away from each other (between the diffraction grating 13 and the condenser lens 16, the field stop 26, the field lens 27, Or + 1st-order diffracted light beam and -1st-order diffracted light beam may proceed at a position where they are close to each other (between the lens 25 and the field stop 26). Which one is to be arranged may be appropriately selected according to the arrangement space in the illumination optical system 10.
  • the arrangement destination of the interval adjusting unit 200 is between the diffraction grating 13 and the condenser lens 16 as shown in FIG.
  • This arrangement destination is a place where each of the + 1st order diffracted light beam and the ⁇ 1st order diffracted light beam becomes a parallel light beam, and the + 1st order diffracted light beam and the ⁇ 1st order diffracted light beam travel away from each other.
  • the interval adjusting unit 200 includes a refractive member (prism) 201 inserted into the single optical path of the + 1st order diffracted light beam and a refractive member (prism) 201 ′ inserted into the single light path of the ⁇ 1st order diffracted light beam. It is done.
  • the material of the prism 201 and the material of the prism 201 ′ are equal to each other, and the relationship between the shape of the prism 201 and the shape of the prism 201 ′ is symmetric with respect to the optical axis AZ. Therefore, there is no possibility that the symmetry of the + 1st order diffracted light beam and the ⁇ 1st order diffracted light beam with respect to the optical axis AZ is destroyed by the arrangement of the interval adjusting unit 200.
  • each of the pair of prisms 201 and 201 'in the optical axis AZ direction is set to increase as the distance from the optical axis AZ increases.
  • the + 1st order diffracted light beam and the ⁇ 1st order diffracted light beam traveling while being separated from each other are deflected in a direction (a direction away from the optical axis AZ) such that the divergence amount between them is further increased.
  • the angle of the ⁇ first-order diffracted light beam toward the condenser lens 16 becomes large.
  • the angle of the light beam is expanded for both wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2.
  • the angle formed by the light beam with the optical axis AZ is simply referred to as “angle”.
  • the first-order diffracted light beams are applied to the pair of prisms 201 and 201 ′ in the direction in which the height of the condensing point on the pupil conjugate plane 6A ′ (and consequently the height of the condensing point on the pupil plane 6A) is enlarged.
  • each of the pair of prisms 201 and 201 ' is, for example, glass, and the refractive index of the glass is larger for the short wavelength ⁇ 2 than for the long wavelength ⁇ 1. For this reason, the deflection angle by the pair of prisms 201 and 201 ′ is greater in the value for the short wavelength ⁇ 2 (see FIG. 17B) than in the value for the long wavelength ⁇ 1 (see FIG. 17A). .
  • the angle of the light beam having the short wavelength ⁇ 2 emitted from the diffraction grating 13 at a small angle approaches the angle of the light beam having the long wavelength ⁇ 1 emitted from the diffraction grating 13 at a large angle.
  • the pair of prisms 201 and 201 ′ can make the height of the condensing point on the pupil conjugate plane 6A ′ (and thus the height of the condensing point on the pupil plane 6A) closer between the wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2. .
  • each of the pair of prisms 201 and 201 ′ it is desirable to use a material (high dispersion glass) having as high a dispersion as possible with respect to the wavelengths ⁇ ⁇ b> 1 and ⁇ ⁇ b> 2. In this way, the difference in deflection angle given to the wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2 by the pair of prisms 201 and 201 'can be increased.
  • the difference in deflection angle that the pair of prisms 201 and 201 ′ gives to the wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2 cancels the difference in diffraction angle that the diffraction grating 13 gives to the wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2. It is set to such a value.
  • the angle of the light beam having the short wavelength ⁇ 2 emitted from the diffraction grating 13 at a small angle coincides with the angle of the light beam having the long wavelength ⁇ 1 emitted from the diffraction grating 13 at a large angle
  • the light is condensed on the pupil conjugate plane 6A ′.
  • the height of the point (and thus the height of the condensing point on the pupil plane 6A) is common between the wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2.
  • the super-resolution effect is common between the wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2.
  • the degree of the deflection angle that the pair of prisms 201 and 201 ′ gives to both of the wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2 is set to a value that allows the condensing point on the pupil plane 6A to fall within the TIRF region. .
  • total reflection observation can be performed at both wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2.
  • the posture of each of the pair of prisms 201 and 201 ′ is set so that the incident angle of the light incident on each of the pair of prisms 201 and 201 ′ is close to 0 °. Is desirable. By doing so, the deflection angle of the light beam by the pair of prisms 201, 201 'can be increased, and thus a prism having a small apex angle can be used as each of the pair of prisms 201, 201'.
  • the deflection angle given to the light beam by the pair of prisms 201 and 201 ′ is increased, even if the diffraction angle (branching amount) given to the light beam by the diffraction grating 13 is small, the pupil plane Since the height of the condensing point in 6A can be increased, a diffraction grating having a rough structure period can be used as the diffraction grating 13.
  • the arrangement destination of the interval adjusting unit 200 is located upstream from the arrangement destination of the light beam selection member 18, the incident position of the light beam with respect to the light beam selection member 18 is unchanged between the wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2. Therefore, in the present embodiment, the size in the height direction of the openings 19 and 20 formed in the light beam selection member 18 can be minimized.
  • the direction of the interference fringes is switched between the above-described three directions (the first direction V 1 , the second direction V 2 , and the third direction V 3 ).
  • the interval adjusting unit 200 also includes the above-described pair of prisms 201 and 201 ′ in the three directions (first direction V 1 , second direction V 2 , and third direction V 3) as shown in FIG. ) Are prepared in advance.
  • FIG. 18 shows an example of the interval adjusting unit 200 as viewed from the light source side.
  • a pair of prisms 201 and 201 ′ are arranged in each of three directions (first direction V 1 , second direction V 2 , and third direction V 3 ), of which a certain pair prism is a prism for branch direction to guide the ⁇ 1-order diffracted light beam which is a first direction V 1, the prism of another pair, ⁇ 1-order diffracted branch direction is the second direction V 2 a prism for guiding the light beam, the remaining pair of prisms, a prism for branch direction to guide the ⁇ 1-order diffracted light beam which is the third direction V 3.
  • the distance adjustment unit 200 is disposed between the diffraction grating 13 and the condenser lens 16 as shown in FIG. 15, but between the field stop 26 and the field lens 27. Also good.
  • the arrangement destination of the interval adjusting unit 200 is downstream from the arrangement destination of the light beam selection member 18, the incident position of the ⁇ first-order diffracted light beam on the light beam selection member 18 is shifted between the wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2. End up.
  • the distance adjusting unit 200 is disposed at a place where the + 1st order diffracted light beam and the ⁇ 1st order diffracted light beam travel away from each other. It is good also as a location (between the lens 25 and the field stop 26) which advances while approaching each other.
  • the thickness of each of the pair of prisms 201 and 201 ′ in the optical axis AZ direction is set to be smaller as the distance from the optical axis AZ increases. That is, in this case, the shape of the pair of prisms 201 and 201 'is reversed.
  • Such a pair of prisms 201, 201 ′ is such that the + 1st-order diffracted light beam and the ⁇ 1st-order diffracted light beam traveling while approaching each other are in such a direction that the amount of divergence between them is further reduced (direction approaching the optical axis AZ). To deflect.
  • the interval adjusting unit 200 of the second embodiment includes three pairs of prisms 201 and 201 ′ (see FIG. 18) in order to cope with switching of the direction of interference fringes (see FIG. 18).
  • a part or all of the above may be formed of a common member.
  • all the prisms may be constituted by a single ring-shaped member.
  • the interval adjusting unit 200 includes three pairs of prisms 201 and 201 ′ (see FIG. 18) in order to cope with switching of the direction of interference fringes (see FIG. 18).
  • a single prism 201 and 201 ′ may be provided, and a mechanism for rotating the entire pair of prisms 201 and 201 ′ around the optical axis AZ may be further provided.
  • control device 39 described above may link the rotation position of the pair of prisms 201 and 201 ′ with the rotation position of the light beam selection unit 18.
  • the diffraction grating 13 (see FIG. 2A) that simultaneously generates a plurality of diffracted light flux groups having different branching directions is used as a means for branching the light flux emitted from the light source.
  • a diffraction grating (one-direction diffraction grating) that generates only one group of common diffracted light beams may be used.
  • a mechanism for rotating the one-way diffraction grating around the optical axis AZ is provided to switch the direction of the interference fringes.
  • a non-rotating 0th-order light cut mask may be used instead of the rotatable light beam selector 18.
  • the 0th-order light cut mask has a mask portion disposed in an area that can be an optical path of a second-order or higher-order diffracted light beam, and an opening is disposed in an area that can be an optical path of a ⁇ 1st-order diffracted light beam.
  • This is a mask in which a mask portion is arranged in an area that becomes an optical path of a folded light beam.
  • the half-wave plate 17 that can rotate around the optical axis AZ is used to keep the ⁇ first-order diffracted light beam incident on the sample 5 as S-polarized light.
  • a quarter-wave plate and a quarter-wave plate that can rotate around the optical axis AZ may be used.
  • the rotation position of the quarter-wave plate with respect to the first reference position is set to be the same as the rotation position of the light beam selection member 18 with reference to the second reference position.
  • the structured illumination microscope apparatus 1 is used as a total reflection fluorescence microscope (TIRFM) has been described.
  • the structured illumination microscope apparatus 1 is replaced with a three-dimensional structured illumination microscope apparatus (3D-SIM). : 3D-Structured (Illumination (Microscopy)).
  • the 0th-order diffracted light beam generated by the diffraction grating 13 is incident on the specimen 5 together with the ⁇ 1st-order diffracted light without being cut at the pupil conjugate plane 6A ′.
  • a light beam selection member 18 ′ shown in FIG. 13 may be used instead of the light beam selection member 18 shown in FIG. 6.
  • This light beam selection member 18 ' is the same as the light beam selection member 18 shown in FIG. 6, but is provided with an opening 29 through which the 0th-order diffracted light beam passes.
  • the opening 29 is formed in the vicinity of the optical axis AZ, and the shape of the opening 29 is, for example, a circle. According to such a light beam selection member 18 ', not only the ⁇ 1st order diffracted light beam but also the 0th order diffracted light beam can contribute to the interference fringes.
  • the interference fringes generated by the interference of the three diffracted light beams are spatially modulated not only in the surface direction of the sample 5 but also in the depth direction of the sample 5. Therefore, according to this interference fringe, it is possible to obtain a super-resolution effect also in the depth direction of the specimen 5.
  • the outer shape of the pair of prisms 201 and 201 ' is appropriately arranged so as not to obstruct the optical path of the 0th-order diffracted light beam.
  • the angle of the 0th-order diffracted light beam emitted from the diffraction grating 13 is zero regardless of the wavelength ⁇ 1 or ⁇ 2. Therefore, it is not necessary to arrange a prism in the optical path of the 0th-order diffracted light beam.
  • the structured illumination microscope apparatus 1 when used as a TIRF-SIM, a combination of a + 1st order diffracted light beam and a ⁇ 1st order diffracted light beam is used as a diffracted light beam contributing to interference fringes.
  • a combination of a + 1st order diffracted light beam and a ⁇ 1st order diffracted light beam is used as a diffracted light beam contributing to interference fringes.
  • other combinations may be used.
  • the diffracted light beam contributing to the interference fringes includes a + 1st order diffracted light beam, a ⁇ 1st order diffracted light beam, and a 0th order diffracted light beam.
  • the number of light source wavelengths is “2” and the number of imaging elements is “2”, two types of fluorescence modulation images are simultaneously captured by simultaneously exciting two types of fluorescence. Can do.
  • the number of imaging elements may be 1, and two types of fluorescence modulation images may be sequentially captured by sequentially exciting two types of fluorescence.
  • the number of light source wavelengths is “2”, but it goes without saying that the number may be expanded to 3 or more.
  • the interval adjusting unit 200 is provided for each objective lens. And the interval adjustment unit 200 may be switched in accordance with the switching of the objective lens 6.
  • the diffractive optical element (13) that branches the emitted light beam from the light source (100) into at least two branched light beams, and the two branched light beams of the objective lens (6).
  • An illumination optical system that causes the two branched light beams to interfere with each other on the object side of the objective lens (6) by condensing the pupil plane (6A) at different positions, and illuminates the specimen (5) with the interference fringes. (10) and the height from the optical axis (AZ) of the illumination optical system (10) to the two condensing points formed by the two branched light beams on the pupil plane (6A) is adjusted or controlled.
  • Adjusting means (200), and the adjusting means (200) includes an optical member (201, 201 ′) for deflecting the two branched light beams at a deflection angle corresponding to the wavelength of the two branched light beams.
  • the adjusting means (200) has at least two types of heights from the optical axis (AZ) to the two condensing points formed on the pupil plane (6A) by the two branched light beams. Are substantially matched between the emitted light beams ( ⁇ 1, ⁇ 2).
  • the adjusting means (200) deflects each of the two branched light beams, and the difference in deflection angle that the adjusting means (200) gives to the two types of emitted light beams is the diffractive optical element.
  • the element (13) is set to a value that cancels out the difference in diffraction angles given to the two kinds of emitted light beams.
  • the arrangement place of the adjusting means (200) is a place where the two branched light beams are spatially separated.
  • the adjusting means (200) includes a refracting member (201, 201 ′) disposed at a position where the two branched light beams travel away from each other, and the thickness of the refracting member in the optical axis (AZ) direction. Is set larger as the distance from the optical axis (AZ) increases.
  • the adjusting means (200) includes a refracting member (not shown) arranged at a position where the two branched light beams travel while approaching each other, and is arranged in the optical axis (AZ) direction of the refracting member (not shown).
  • the thickness is set smaller as the distance from the optical axis (AZ) increases.
  • the structured illumination device of the second embodiment can share the super-resolution effect between the two types of emitted light beams ( ⁇ 1, ⁇ 2).
  • the light source (100) emits the two types of emitted light beams ( ⁇ 1, ⁇ 2) simultaneously or sequentially.
  • the structured illumination device of the second embodiment can perform illumination with the two types of emitted light beams ( ⁇ 1, ⁇ 2) simultaneously or sequentially.
  • the structured illumination device of the second embodiment further includes switching means (18) for switching the positions of the two condensing points between a plurality of rotational positions around the optical axis (AZ), and the adjusting means ( 200) is prepared for each of the plurality of rotational positions.
  • the structured illumination device includes a first switching unit (18) for switching the positions of the two light condensing points between a plurality of rotational positions around the optical axis (AZ), and the adjusting unit ( 200) is further provided with second switching means (not shown) for switching the position between the plurality of rotational positions.
  • the structured illumination device of the second embodiment further includes phase shift means (15A) for shifting the phase of the interference fringes.
  • the structured illumination device of the second embodiment can switch the direction and phase of the interference fringes projected on the specimen (5).
  • the structured illumination microscope apparatus (1) of the second embodiment includes any one of the structured illumination apparatuses described above and an observation light beam from the sample (5) modulated by the interference fringe with a photodetector ( 351, 352) and an imaging optical system (30).
  • the structured illumination microscope apparatus (1) of the second embodiment can image the modulated image of the specimen (5).
  • the structured illumination microscope apparatus (1) of the second embodiment further includes a calculation means (40) for calculating a demodulated image of the sample (5) based on the image generated by the photodetector (351, 352). Prepare.
  • the structured illumination microscope apparatus (1) of the second embodiment can acquire a super-resolution image of the specimen (5).
  • FIG. 19 is a diagram illustrating the interval adjusting unit 200 according to the third embodiment.
  • illustration of the ⁇ 1st order diffracted light beam is omitted, and a + 1st order diffracted light beam having a long wavelength ⁇ 1 and a + 1st order diffracted light beam having a short wavelength ⁇ 2 are drawn simultaneously.
  • a light beam emitted from the diffraction grating 13 at a large angle is a + 1st order diffracted light beam having a long wavelength ⁇ 1
  • a light beam emitted from the diffraction grating 13 at a small angle is a + 1st order diffracted light beam having a short wavelength ⁇ 2.
  • the interval adjusting unit 200 includes a pair of auxiliary refraction members (prisms) 202 and 202 ′ in addition to the pair of prisms 201 and 201 ′.
  • auxiliary refraction members priss
  • 201, 201 ′ and prisms 202, 202 ′ are sequentially arranged in series with each other.
  • the pair of prisms 201 and 201 'arranged on the upstream side has a symmetrical shape with respect to the optical axis AZ and the same material.
  • one prism 201 is disposed at the optical path of the + 1st order diffracted light beam
  • the other prism 201 ' is disposed at the optical path of the ⁇ 1st order diffracted light beam.
  • the thicknesses of the prisms 201 and 201 ′ in the direction of the optical axis AZ are set to increase as the distance from the optical axis AZ increases.
  • such a pair of prisms 201 and 201 ′ has a function of deflecting ⁇ first-order diffracted light beams in a direction that further increases the difference between the two. .
  • the difference between the deflection angles given to the wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2 by the pair of prisms 201 and 201 ′ in this embodiment is larger than that in the second embodiment, and immediately after the pair of prisms 201 and 201 ′ is emitted. It is assumed that the angle of the light beam having the short wavelength ⁇ 2 is larger than the angle of the light beam having the long wavelength ⁇ 1. Therefore, it is desirable that the material of the pair of prisms 201 and 201 'in the present embodiment is as high as possible with respect to the wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2.
  • the pair of prisms 202 and 202 ′ arranged on the downstream side have a symmetrical shape with respect to the optical axis AZ and the same material.
  • one prism 202 is disposed at the optical path of the + 1st order diffracted light beam
  • the other prism 202 ' is disposed at the optical path of the ⁇ 1st order diffracted light beam.
  • the thickness of each of these prisms 202 and 202 ′ in the optical axis AZ direction is set to decrease as the distance from the optical axis AZ increases.
  • the angle of the ⁇ 1st-order diffracted light beam is suppressed, and in particular, the angle of the short wavelength ⁇ 2 is strongly suppressed, so that both the angle of the wavelength ⁇ 1 and the angle of the wavelength ⁇ 2 can be obtained.
  • the material of the pair of prisms 202 and 202 ' is a material having as low dispersion as possible with respect to the wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2.
  • the angle of the light beam incident on the condenser lens 16 is set to a small value for both wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2.
  • the upstream prisms 201, 201 ′ Will interfere with the function.
  • the material of the downstream prisms 202 and 202 ′ is more than the material of the upstream prisms 201 and 201 ′. It is desirable to use one with low dispersion.
  • the arrangement destination of the interval adjusting unit 200 in the third embodiment can be changed in the same manner as that in the second embodiment.
  • the arrangement destination of the interval adjusting unit 200 in the third embodiment is a place where the + 1st order diffracted light beam and the ⁇ 1st order diffracted light beam travel while approaching each other (between the lens 25 and the field stop 26)
  • What is necessary is just to invert each shape of prism 201, 201 ', 202, 202'. That is, the thickness of each of the pair of prisms 201 and 201 ′ in the optical axis AZ direction is set to decrease as the distance from the optical axis AZ increases, and the thickness of each of the pair of prisms 202 and 202 ′ in the optical axis AZ direction is set. Is set larger as the distance from the optical axis AZ increases.
  • the arrangement destination of the upstream prisms 201 and 201 ′ may be opposite to the arrangement destination of the downstream prisms 202 and 202 ′.
  • the adjusting means (200) of the third embodiment includes the refractive members (201, 201 ′) arranged at the places where the two branched light beams travel while being separated from each other, and the refractive members (201, 201 ′). And an auxiliary refractive member (202, 202 ') having a weaker dispersion than the refractive member (201, 201'), and an optical axis (AZ) of the auxiliary refractive member (202, 202 ') The thickness in the) direction is set smaller as the distance from the optical axis (AZ) increases.
  • the adjusting means (not shown) of the third embodiment includes a refracting member (not shown) disposed at a position where the two branched light beams travel while approaching each other, and is provided on the front side of the refracting member (not shown) or
  • An auxiliary refractive member (not shown) that is disposed on the rear side and has a smaller dispersion than the refractive member (not shown) is provided, and the thickness of the auxiliary refractive member (not shown) in the optical axis (AZ) direction is the light The larger the distance from the axis (AZ), the larger the setting.
  • a lens having a weak refractive power can be used as a condensing lens (16) for forming a condensing point. An effect is also obtained.
  • FIG. 20 is a diagram illustrating the interval adjusting unit 200 according to the fourth embodiment.
  • the illustration of the ⁇ 1st order diffracted light beam is omitted, and the + 1st order diffracted light beam having the long wavelength ⁇ 1 and the + 1st order diffracted light beam having the short wavelength ⁇ 2 are drawn simultaneously.
  • the light beam emitted from the diffraction grating 13 at a large diffraction angle is a + 1st order diffracted light beam having a long wavelength ⁇ 1
  • the light beam emitted from the diffraction grating 13 at a small diffraction angle is a + 1st order diffracted light beam having a short wavelength ⁇ 2.
  • the interval adjusting unit 200 of the present embodiment includes a pair of prisms 203 and 203 'that are symmetrical with respect to the optical axis AZ and are made of the same material.
  • one prism 203 is disposed at the optical path of the + 1st order diffracted light beam
  • the other prism 203 ' is disposed at the optical path of the ⁇ 1st order diffracted light beam.
  • the thicknesses of the prisms 203 and 203 'in the optical axis AZ direction are set to increase as the distance from the optical axis AZ increases.
  • a material of each of the pair of prisms 203 and 203 ' a material having as low dispersion as possible with respect to the wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2 is used.
  • the diffractive optical surface 203a and the diffractive optical surface 203a ' are individually formed on the light incident surface of the prism 203 and the light incident surface of the prism 203'.
  • the relationship between the structure of the diffractive optical surface 203a and the structure of the diffractive optical surface 203a ' is symmetric with respect to the optical axis AZ.
  • Such prisms 203 and 203 ' have both a function as a prism and a function as a diffraction grating.
  • Each of such prisms 203 and 203 ′ can be regarded as “a diffraction grating formed by forming a diffraction pattern on a wedge-shaped substrate”.
  • the angle of the wavelength ⁇ 1 in the prism and the wavelength are reduced by suppressing the angle of the ⁇ first-order diffracted light beam emitted from the diffraction grating 13, and particularly suppressing the angle of the long wavelength ⁇ 1 strongly. It works to make both the angle of ⁇ 2 a small value (for example, zero).
  • each of the diffractive optical surfaces 203 a and 203 a ′ is set to be approximately the same as the structural period of the diffraction grating 13.
  • diffraction components of different orders with different angles are generated on the diffractive optical surface 203a.
  • the effective light beam that can be emitted from the diffractive optical surface 203a and reach the specimen 5 is only the ⁇ 1st order diffraction component generated in the diffraction grating 203a as shown in FIG. 19, and the diffractive optical surface 203a. Ignore invalid rays generated in.
  • diffraction components of each order are also generated on the diffractive optical surface 203a '.
  • the effective light beam that can be emitted from the diffractive optical surface 203a ′ and reach the sample 5 is only the + 1st order diffraction component generated on the diffractive optical surface 203a ′, and is generated on the diffractive optical surface 203a ′. Ignore invalid rays.
  • the structural period of each of the diffractive optical surfaces 203 a and 203 a ′ is set to be approximately the same as the structural period of the diffraction grating 13.
  • each of the angle of the wavelength ⁇ 1 inside the prism and the angle of the wavelength ⁇ 2 inside the prism is almost zero.
  • the diffractive optical surfaces 203 a and 203 a ′ can be formed by creating a diffractive optical element in advance and attaching the diffractive optical elements to the light incident surface of the prism 203 and the light incident surface of the prism 203 ′. It is also possible to directly form the light incident surface and the light incident surface of the prism 203 ′ by etching or the like.
  • the thickness of each of the pair of prisms 203 and 203 ′ in the optical axis AZ direction is set to increase as the distance from the optical axis AZ increases, and the material of the pair of prisms 203 and 203 ′.
  • the dispersion with respect to the wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2 is set as low as possible.
  • the angle of the light beam toward the condenser lens 16 is equal between the wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2, and the height of the condensing point on the pupil conjugate plane 6A ′ (the condensing point on the pupil plane 6A).
  • the height is also equal between the wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2.
  • the angle of the light beam inside the prism is completely matched between the wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2, the angle of the light beam emitted from the prism is slightly shifted between the wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2. This is because the prism dispersion cannot be made completely zero.
  • the structural period of each of the diffraction gratings 203a and 203a ′ is larger than the structural periodicity of the diffraction grating 13 so that the angle immediately after exiting the prism completely matches between the wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2. It is desirable to set it slightly larger.
  • the arrangement destination of the interval adjusting unit 200 in the fourth embodiment can be changed in the same manner as that in the first embodiment.
  • the location of the interval adjusting unit 200 in the fourth embodiment is a place where the + 1st-order diffracted light beam and the ⁇ 1st-order diffracted light beam travel while approaching each other (between the lens 25 and the field stop 26)
  • the shapes of the prisms 203 and 203 ′ may be reversed. That is, the thickness of each of the pair of prisms 203 and 203 ′ in the optical axis AZ direction is set to decrease as the distance from the optical axis AZ increases.
  • the diffractive optical surfaces 203a and 203a ′ are formed on the incident surface side of the prisms 203 and 203 ′, but may also be formed on the exit surface side of the prisms 203 and 203 ′. Good.
  • the diffractive optical surface is formed on the prism (wedge-shaped substrate), but may be a parallel plate.
  • the combination of the arrangement posture of the parallel plate and the structural period of the diffractive optical surface so that the angle of the light beam emitted from the parallel plate is an appropriate value other than zero. Is to be optimized.
  • the adjusting means (200) of the fourth embodiment includes the diffractive optical surfaces (203a, 203a ′), and the structural period of the diffractive optical surfaces (203a, 203a ′) is the diffractive optical ( 13) is set to the same degree as the structural period.
  • the adjusting means (200) of the fourth embodiment includes a refracting member (203, 203 ′) disposed at a position where the two branched light beams travel away from each other, and the refracting member (203, 203 ′).
  • the diffractive optical surfaces (203a, 203a ′) are formed on the surface of the optical element, and the thickness of the refractive member (203, 203 ′) in the optical axis (AZ) direction is set to increase as the distance from the optical axis (AZ) increases. Has been.
  • the adjusting means (not shown) of the fourth embodiment is formed on a refracting member (not shown) disposed at a position where two branched light beams travel while approaching each other, and the refracting member (not shown).
  • the diffractive optical element (not shown) is provided, and the thickness of the refractive member (not shown) in the optical axis (AZ) direction is set smaller as the distance from the optical axis (AZ) increases.
  • the fourth embodiment can achieve the same effects as those of the second embodiment.
  • FIG. 21 is a schematic configuration diagram of the structured illumination microscope in the present embodiment
  • FIG. 21A is a state when the relay variable power optical system is in a high magnification end state
  • FIG. It is a state when the relay variable power optical system is in the low magnification end state.
  • elements that are not necessary for explanation such as elements such as a wave plate, a light beam selection member, a mechanism, and a control device, are omitted.
  • a symbol L is a point light source
  • a symbol Gc is a collector lens
  • a symbol Gr is a diffraction grating
  • a symbol P is a pupil conjugate plane
  • symbol Gt is a field lens
  • symbol DM is a dichroic mirror
  • symbol Pob is a pupil of an objective lens
  • symbol Gob is an objective lens
  • symbol S is a specimen surface
  • symbol Gi is an imaging lens (second objective lens)
  • symbol CCD indicates an imaging surface.
  • a solid line in FIG. 21 indicates a light beam related to the conjugate of the diffraction grating Gr and the sample surface S
  • a broken line indicates a light beam related to the conjugate of the point light source L and the pupil Pob of the objective lens Gob.
  • the first lens group G1 to the fifth lens group G5 (a first lens group G1 having a positive refractive power, a second lens group G2 having a negative refractive power, and a third lens having a positive refractive power).
  • the group G3, the fourth lens group G4 having positive refracting power, and the fifth lens group G5 having positive refracting power constitute a relay variable power optical system.
  • the first lens group G1 to the fourth lens group G4 are zooming optical systems having a zooming function
  • the fifth lens group G5 is an imaging optical system having an imaging function.
  • the diffraction grating Gr is disposed at the position of the front focal point of the relay variable power optical systems G1 to G5.
  • the light from the light source L becomes parallel light by the collector lens Gc, and illuminates the diffraction grating Gr.
  • the light beam from the diffraction grating Gr is changed in magnification by the variable magnification optical system (G1 to G4), and then the field stop F.D. S.
  • the image is formed at the position of. Field stop F.F. S.
  • the light from the beam becomes convergent light by the field lens Gt, is reflected by the dichroic mirror DM, is condensed at the position of the pupil Pob, and becomes parallel light by the objective lens Gob and irradiates the sample surface S.
  • the light beam from the sample surface S is captured by the objective lens Gob, and when passing through the pupil Pob, is transmitted through the dichroic mirror DM to form the imaging lens Gi. To form an image on the imaging surface CCD.
  • the relay variable power optical systems G1 to G5 are used.
  • the arrangement destination of each of the first lens group G1 to the fifth lens group G5 is set so as to reduce the magnification (see FIG. 21B)
  • the light source wavelength is set to the short wavelength ⁇ 2 (that is, the diffraction grating).
  • the arrangement destinations of the first lens group G1 to the fifth lens group G5 are set so that the magnifications of the relay variable power optical systems G1 to G5 are increased.
  • the super-resolution effect can be made common between the wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2.
  • the magnifications of the relay variable power optical systems G1 to G5 are adjusted so that the condensing point of the ⁇ 1st-order diffracted light beam falls within the TIRF region.
  • the evanescent field generation conditions TIRF conditions
  • a converging position shift characteristic depending on the wavelength may be imparted to the relay variable power optical systems G1 to G5.
  • This condensing position deviation characteristic is specifically a condensing position deviation characteristic in a direction orthogonal to the optical axis AZ.
  • this condensing position shift characteristic is simply referred to as “magnification chromatic aberration”.
  • This chromatic aberration of magnification is set so that the condensing point of ⁇ first-order diffracted light continues to fall within the TIRF region regardless of switching of the wavelength used ⁇ .
  • This lateral chromatic aberration dY ( ⁇ ) satisfies the following conditional expression.
  • fo is the focal length of the objective lens Gob
  • f is the focal length of the relay variable magnification optical systems G1 to G5
  • P is the grating pitch of the diffraction grating Gr
  • NA is the numerical aperture of the objective lens Gob
  • nw is the refractive index of the sample. is there.
  • nw is substantially equal to the refractive index of water.
  • M 3
  • conditional expression (2)
  • the diffraction angle ⁇ of the first-order diffracted light generated in the diffraction grating Gr according to the laser light having the wavelength ⁇ used is expressed by the following equation: expressed.
  • conditional expression (2) is a conditional expression for keeping the condensing point of ⁇ first-order diffracted light in the TIRF region (maintaining the TIRF condition) regardless of switching of the used wavelength ⁇ . .
  • an optical system (relay variable magnification optical systems G1 to G5) that is rotationally symmetric with respect to the optical axis (AZ) is used to control the height from the optical axis (AZ) to the condensing point. ), The symmetry of each condensing point with respect to the optical axis (AZ) is reliably maintained.
  • an optical system (relay variable magnification optical systems G1 to G5) that is rotationally symmetric with respect to the optical axis (AZ) is used to control the height from the optical axis (AZ) to the condensing point. ) Can be used to change the direction of interference fringes.
  • the exit pupil position of the relay variable power optical systems G1 to G5 hardly changes.
  • the telecentricity of the microscope apparatus is maintained.
  • variable magnification optical systems G1 to G4 since the pupils of the variable magnification optical systems G1 to G4 are located outside the variable magnification optical systems G1 to G4 (behind the variable magnification optical system), an optical element that controls interference fringes. Even if the above-described light beam selection unit is disposed at the pupil, it does not hinder the zooming of the relay zooming optical systems G1 to G5.
  • At least one lens group in the fifth embodiment may be composed of a plurality of lenses or a single lens.
  • the single lens may be a cemented lens in which a plurality of lenses are cemented.
  • the fifth embodiment can be modified similarly to the first embodiment.
  • the number of switching of the number of light source wavelengths may be expanded to 3 or more.
  • the number of variable steps of the magnifications of the relay variable power optical systems G1 to G5 (arrangements of the lens groups G1 to G5) may be set to 3 or more.
  • the magnifications of the relay variable power optical systems G1 to G5 may be variable during a period in which the light source wavelength is constant.
  • the magnifications of the relay variable power optical systems G1 to G5 are set so that the condensing point of the ⁇ 1st-order diffracted light beam does not deviate from the TIRF region described above. It is desirable to limit the adjustment range of each of the arrangement destinations.
  • control device 39 performs this fine adjustment in accordance with an instruction from the user. As a result, the user can freely adjust the depth of the evanescent field.
  • the adjusting means (G1 to G5) of the fifth embodiment is a variable magnification optical system including a plurality of lens groups, and the arrangement of the plurality of lens groups is the wavelength of the two branched light beams, that is, the branching.
  • the means (Gr) is set according to the deflection angle given to the two branched light beams.
  • the illumination optical system 10 of the first to fifth embodiments is configured by an epi-illumination optical system using the objective lens 6, the present invention is not limited to this, and transmission / reflection illumination using a condenser lens instead of the objective lens 6 is possible. You may comprise with an optical system. In this case, the condensing point is formed on the pupil plane of the condenser lens.
  • DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Structured illumination microscope apparatus, 100 ... Laser unit, 11 ... Optical fiber, 10 ... Illumination optical system, 30 ... Imaging optical system, 35 ... Imaging element, 39 ... Control apparatus, 40 ... Image storage and calculation apparatus, 45 DESCRIPTION OF SYMBOLS ... Image display apparatus, 12 ... Collector lens, 23 ... Polarizing plate, 15 ... Light beam splitting part, 16 ... Condensing lens, 200 ... Space

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Abstract

本発明の目的は、超解像効果を調整又は制御することにあり、本発明の構造化照明装置の一例は、光源(11)からの射出光束を少なくとも2つの分岐光束に分岐する分岐手段(13)と、前記2つの分岐光束を瞳面(6A)の互いに異なる位置へそれぞれ集光させて、前記2つの分岐光束を互いに干渉させ、その干渉縞で標本(5)を照明する照明光学系(16、25、28)と、前記照明光学系の光軸から、前記2つの分岐光束が前記瞳面に形成する2つの集光点までの高さを、調整する調整手段とを備える。

Description

構造化照明装置、構造化照明顕微鏡装置、構造化照明方法
 本発明は、構造化照明装置、構造化照明顕微鏡装置、構造化照明方法に関する。
 試料(標本)の観察や計測の分野では、対物レンズの性能を超えた解像度を達成するために、空間変調された照明光(構造化照明光)により標本を照明して画像(変調画像)を取得し、その変調画像に含まれる変調成分を除去(復調)することにより、標本の超解像画像(復調画像)を生成する構造化照明顕微鏡が提案されている(例えば、特許文献1を参照)。
 特に、下記特許文献1に開示された構造化照明顕微鏡では、光源から射出した光束を回折格子等により複数の光束に分岐し、それらの光束を標本の近傍で互いに干渉させることで干渉縞を形成し、これを構造化照明光としている。
米国発行特許発明第6239909号明細書
 しかしながら、構造化照明顕微鏡においても、他の顕微鏡と同様、光源波長を切り替えたいという要求が生じ得るが、光源波長を切り替えると超解像効果(非変調時の解像力を基準とした変調時の解像力の割合)が変動する虞のあることが判明した。
 本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、超解像効果を調整又は制御することの可能な構造化照明装置、構造化照明顕微鏡装置、構造化照明方法を提供することを目的とする。
 本発明の構造化照明装置の一例は、光源からの射出光束を少なくとも2つの分岐光束に分岐する分岐手段と、前記2つの分岐光束を瞳面の互いに異なる位置へそれぞれ集光させて、前記2つの分岐光束を互いに干渉させ、その干渉縞で標本を照明する照明光学系と、前記照明光学系の光軸から、前記2つの分岐光束が前記瞳面に形成する2つの集光点までの高さを、調整する調整手段とを備える。
 また、本発明の構造化照明顕微鏡装置の一例は、本発明の構造化照明装置と、前記干渉縞で変調された前記標本からの観察光束を光検出器に結像する結像光学系とを備える。
第1実施形態の構造化照明顕微鏡装置1の構成図である。 回折格子13を説明する図である。 1/2波長板17の機能を説明する図である。 光束選択部材18の機能を説明する図である。 1/2波長板17及び光束選択部材18の機能を説明する図である。 光束選択部材18の形状を説明する図である。 並進機構15Aの機能を説明する図である。 間隔調整部200を備えない照明光学系10の光路を示す図である。 第1実施形態の間隔調整部200を備えた照明光学系10の光路を示す図である。 楔状部材203、203’とプリズム201、202、201’、202’との関係を示す図である。 第1実施形態における間隔調整部200の一例を光軸方向から見た図である。 第1実施形態における間隔調整部200の変形例を説明する図である。 構造化照明顕微鏡装置1を3D-SIMとして使用する場合に使用される光束選択部材18’を説明する図である。 間隔調整部200の別の変形例を説明する図である。 第2実施形態の構造化照明顕微鏡装置1の構成図である。 間隔調整部200を備えない照明光学系10の光路を示す図である。 第2実施形態の間隔調整部200を備えた照明光学系10の光路を示す図である。 第2実施形態における間隔調整部200の一例を光軸方向から見た図である。 第3実施形態の間隔調整部200を説明する図である。 第4実施形態の間隔調整部200を説明する図である。 第5実施形態における構造化照明顕微鏡の概略構成図である。
 [第1実施形態]
 以下、本発明の第1実施形態として構造化照明顕微鏡装置を説明する。
 図1は、構造化照明顕微鏡装置1の構成図である。ここでは、構造化照明顕微鏡装置1を、蛍光性を有した試料(標本)5の表面の極めて薄い層を観察する全反射蛍光顕微鏡(TIRFM:Total Internal Reflection Fluorescence  Microscopy)として使用する場合を説明する。
 先ず、構造化照明顕微鏡装置1の構成を説明する。
 図1に示すとおり構造化照明顕微鏡装置1には、レーザユニット100と、光ファイバ11と、照明光学系10と、結像光学系30と、撮像素子35と、制御装置39と、画像記憶・演算装置40と、画像表示装置45とが備えられる。なお、照明光学系10は落射型であり、結像光学系30の対物レンズ6及びダイクロイックミラー7を利用して標本5の照明を行う。
 レーザユニット100には、第1レーザ光源101、第2レーザ光源102、シャッタ1031、1032、ミラー105、ダイクロイックミラー106、レンズ107が備えられる。第1レーザ光源101及び第2レーザ光源102の各々は可干渉光源であって、互いの出射波長は異なる。ここでは、第1レーザ光源101の波長λ1は、第2レーザ光源102の波長λ2よりも長いと仮定する(λ1>λ2)。これらの第1レーザ光源101、第2レーザ光源102、シャッタ1031、1032は、それぞれ制御装置39によって駆動される。
 光ファイバ11は、レーザユニット100から射出したレーザ光を導光するために、例えば、偏波面保存型のシングルモードファイバによって構成される。この光ファイバ11の出射端の光軸AZ方向の位置は、位置調整機構11Aによって調節可能である。この位置調整機構11Aは、制御装置39によって駆動される。
 照明光学系10には、光ファイバ11の出射端側から順に、コレクタレンズ12と、偏光板23と、光束分岐部15と、集光レンズ16と、間隔調整部200と、光束選択部24と、レンズ25と、視野絞り26と、フィールドレンズ27と、励起フィルタ28と、ダイクロイックミラー7と、対物レンズ6とが配置される。
 光束分岐部15には、回折光学素子(回折格子)13と、並進機構15Aとが備えられ、間隔調整部200には、複数のプリズム(詳細は後述)と、調整機構200Aとが備えられ、光束選択部24には、1/2波長板17と、光束選択部材18と、回動機構24Aとが備えられる。なお、並進機構15A、調整機構200A、回動機構24Aは、制御装置39によって駆動される。
 結像光学系30には、標本5の側から順に、対物レンズ6と、ダイクロイックミラー7と、バリアフィルタ31と、第2対物レンズ32とが配置される。
 標本5は、例えば、平行平板状のガラス表面に滴下された培養液であって、その培養液におけるガラス界面の近傍には、蛍光性を有した細胞(蛍光色素で染色された細胞)が存在している。この細胞には、波長λ1の光によって励起される第1蛍光領域と、波長λ2の光によって励起される第2蛍光領域との双方が発現している。
 対物レンズ6は、全反射蛍光観察を可能とするために、液浸型(油浸型)の対物レンズとして構成される。つまり、対物レンズ6と標本5のガラスとの間隙は、浸液(油)で満たされている。
 撮像素子35は、CCDやCMOS等からなる二次元の撮像素子である。撮像素子35は、制御装置39によって駆動されると、その撮像面36に形成された像を撮像し、画像を生成する。この画像は、制御装置39を介して画像記憶・演算装置40へと取り込まれる。
 制御装置39は、レーザユニット100、位置調整機構11A、並進機構15A、調整機構200A、回動機構24A、撮像素子35を駆動制御する。
 画像記憶・演算装置40は、制御装置39を介して与えられた画像に対して演算を施し、演算後の画像を不図示の内部メモリに格納すると共に、画像表示装置45へ送出する。
 次に、構造化照明顕微鏡装置1におけるレーザ光の振る舞いを説明する。
 第1レーザ光源101から射出した波長λ1のレーザ光(第1レーザ光)は、シャッタ1031を介してミラー105へ入射すると、ミラー105を反射し、ダイクロイックミラー106へ入射する。一方、第2レーザ光源102から射出した波長λ2のレーザ光(第2レーザ光)は、シャッタ1032を介してビームスプリッタ106へ入射し、第1レーザ光と統合される。ダイクロイックミラー106から射出した第1レーザ光及び第2レーザ光は、レンズ107を介して光ファイバ11の入射端に入射する。
 なお、制御装置39は、レーザユニット100のシャッタ1031、1032を制御することにより、光ファイバ11の入射端に入射するレーザ光の波長(=光源波長)を、長い波長λ1と短い波長λ2との間で切り替えることができる。
 光ファイバ11の入射端に入射したレーザ光は、光ファイバ11の内部を伝搬して光ファイバ11の出射端に点光源を生成する。その点光源から射出したレーザ光は、コレクタレンズ12によって平行光束に変換され、偏光板23を介して回折格子13へ入射すると、各次数の回折光束に分岐される。これら各次数の回折光束は、集光レンズ16によって瞳共役面6A’の互いに異なる位置に集光される。
 ここで、瞳共役面6A’は、集光レンズ16の焦点位置(後ろ側焦点位置)であって、後述する対物レンズ6の瞳6A(±1次回折光が集光する位置)に対してフィールドレンズ27、レンズ25を介して共役な位置のことである。但し、ここでいう「共役な位置」の概念には、当業者が対物レンズ6、フィールドレンズ27、レンズ25の収差、ビネッティング等の設計上必要な事項を考慮して決定した位置も含まれるものとする。
 また、光ファイバ11から射出したレーザ光は基本的に直線偏光しているので、偏光板23は、省略することも可能であるが、余分な偏光成分を確実にカットするために有効である。また、レーザ光の利用効率を高めるため、偏光板23の軸は、光ファイバ11から射出したレーザ光の偏光方向に一致していることが望ましい。
 瞳共役面6A’に向かった各次数の回折光束は、瞳共役面6A’の近傍に配置された間隔調整部200を介して、同じく瞳共役面6A’の近傍に配置された光束選択部24へ入射する。
 ここで、本実施形態の構造化照明顕微鏡装置1は、TIRFM(全反射蛍光顕微鏡)として利用されるので、光束選択部24は、入射した各次数の回折光束のうち、1対の回折光束のみ(ここでは±1次回折光束のみ)を選択的に通過させるものとする。
 光束選択部24を通過した±1次回折光束は、レンズ25によって視野絞り26付近で回折格子13と共役な面を形成した後に、フィールドレンズ27により収束光に変換され、さらに励起フィルタ28を経てからダイクロイックミラー7で反射し、対物レンズ6の瞳面6A上の互いに異なる位置に集光される。
 瞳面6A上に集光した±1次回折光束の各々は、対物レンズ6の先端から射出される際には平行光束となり、標本5の表面で互いに干渉し、干渉縞を形成する。この干渉縞が、構造化照明光として使用される。
 ここで、本実施形態の構造化照明顕微鏡装置1は、TIRFM(全反射蛍光顕微鏡)として利用されるので、標本5の表面に入射する際の±1次回折光束の入射角度は、エバネッセント場の生成条件(全反射条件)を満たしている。以下、全反射条件を「TIRF条件」と称す。
 TIRF条件を満たすためには、瞳面6Aにおける±1次回折光束の集光点は、瞳面6Aの最外周に位置する所定の輪帯状領域に位置している必要がある。前述した間隔調整部200は、瞳面6Aにおける1対の回折光束の集光点の間隔を調整し、両者の集光点を所定の輪帯状領域に収めるために設けられたものである(詳細は後述)。この調整の結果、標本5の表面近傍には、干渉縞によるエバネッセント場が生起する。
 このような干渉縞により標本5を照明すると、干渉縞の周期構造と標本5上の蛍光領域の周期構造との差に相当するモアレ縞が現れるが、このモアレ縞においては、蛍光領域の高周波数の構造が元の周波数より低周波数側にシフトしているため、この構造を示す蛍光は、元の角度よりも小さい角度で対物レンズ6へ向かうことになる。よって、干渉縞により標本5を照明すると、蛍光領域の高周波数の構造情報までもが対物レンズ6によって伝達される。
 標本5の表面近傍(エバネッセント場)で発生した蛍光は、対物レンズ6に入射すると、対物レンズ6で平行光に変換された後、ダイクロイックミラー7及びバリアフィルタ31を透過し、第2対物レンズ32を介して撮像素子35の撮像面36上に標本5の変調像を形成する。
 この変調像は、撮像素子35により画像化され、蛍光領域の変調画像が生成される。その変調画像は、制御装置39を介して画像記憶・演算装置40へと取り込まれる。さらに、取り込まれた変調画像には、画像記憶・演算装置40において公知の復調演算が施され、復調画像(超解像画像)が生成される。そして、この超解像画像は、画像記憶・演算装置40の内部メモリ(図示せず)に記憶されるとともに、画像表示装置45へと送出される。なお、公知の復調演算としては、例えば、米国特許8115806号明細書に開示された方法が用いられる。
 次に、回折格子13を詳しく説明する。
 図2(A)は、回折格子13を光軸AZ方向から見た図であり、図2(B)は、±1次回折光束が瞳共役面に形成する集光点の位置関係を示す図である。なお、図2(A)は模式図であるため、図2(A)に示した回折格子13の構造周期は実際の構造周期と同じとは限らない。
 図2(A)に示すように、回折格子13は、照明光学系10の光軸AZと垂直な面内において互いに異なる複数方向にかけて周期構造を有した回折格子である。この回折格子13の材質は、例えばガラスである。ここでは、回折格子13は、120°ずつ異なる第1方向V、第2方向V、第3方向Vの各々にかけて周期構造を有した3方向回折格子であって、それら周期構造の周期(ピッチ)は共通であると仮定する。
 なお、回折格子13の周期構造は、濃度(透過率)を利用して形成された濃度型の周期構造、または段差(位相差)を利用して形成された位相型の周期構造の何れであってもよいが、位相差型の周期構造の方が+1次回折光の回折効率が高いという点で好ましい。
 このような回折格子13に入射した平行光束は、第1方向Vにかけて分岐した第1回折光束群と、第2方向Vにかけて分岐した第2回折光束群と、第3方向Vにかけて分岐した第3回折光束群とに変換される。
 第1回折光束群には、0次回折光束及び±1次回折光束が含まれ、このうち互いの次数が共通である±1次回折光束は、光軸AZに関して対称な方向に進行する。
 同様に、第2回折光束群には、0次回折光束及び±1次回折光束が含まれ、このうち互いの次数が共通である±1次回折光束は、光軸AZに関して対称な方向に進行する。
 同様に、第3回折光束群には、0次回折光束及び±1次回折光束が含まれ、このうち互いの次数が共通である±1次回折光束は、光軸AZに関して対称な方向に進行する。
 これら第1回折光束群の±1次回折光束、第2回折光束群の±1次回折光束、第3回折光束群の±1次回折光束は、前述した集光レンズ16により、瞳共役面内の互いに異なる位置に集光される。
 そして、図2(B)に示すように、第1回折光束群の±1次回折光束の集光点14d、14gは、光軸AZに関して対称であり、集光点14d、14gの配列方向は第1方向Vに対応している。
 光ファイバ11から射出されるレーザ光の波長をλ、回折格子13のピッチをP、レンズ16の焦点距離をfcとすると、光軸AZから集光点14d、14gまでの距離Dは下記の式で表される。
 D=2fcλ/P
 したがって、レーザ光の波長を変更すると、集光点14d、14gの位置にずれが生じる。
 また、第2回折光束群の±1次回折光束の集光点14c、14fは、光軸AZに関して対称であり、集光点14c、14fの配列方向は、第2方向Vに対応している。なお、第2回折光束群の集光点14c、14fから光軸AZまでの距離は、第1回折光束群の集光点14d、14gのから光軸AZまでの距離と同じである。
 また、第3回折光束群の±1次回折光束の集光点14b、14eは、光軸AZに関して対称であり、集光点14b、14eの配列方向は、第3方向Vに対応している。なお、第3光束群の集光点14b、14eから光軸AZまでの距離は、第1回折光束群の集光点14d、14gから光軸AZまでの距離と同じである。
 なお、ここでいう「集光点」とは、最大強度の8割以上の強度を有する領域の重心位置のことである。そのため、照明光学系10は、完全な集光点が形成されるまで光束を集光する必要はない。
 そして、以上の回折格子13は、ピエゾモータ等からなる並進機構15A(図1参照)によって並進移動が可能である。並進機構15Aによる回折格子13の並進移動の方向は、照明光学系10の光軸AZと垂直な方向であって、前述した第1方向V、第2方向V、第3方向Vの各々に対して非垂直な方向である。この方向に回折格子13が並進移動すると、干渉縞の位相がシフトする(詳細は後述。)。
 次に、1/2波長版17及び光束選択部材18の機能を詳しく説明する。
 図3は、1/2波長板17の機能を説明する図であり、図4は、光束選択部材18の機能を説明する図である。
 図3に示すとおり、1/2波長板17は、入射した各次数の回折光束の偏光方向を設定する波長板であって、図4に示すとおり、光束選択部材18は、第1~第3回折光束群のうち何れか1群の±1次回折光束のみを選択的に通過させるマスクである。
 そして、これらの1/2波長版17及び光束選択部材18は、回動機構24A(図1参照)によって光軸AZの周りに回動可能である。回動機構24Aは、光束選択部材18を回動させることにより、選択される±1次回折光束を第1~第3回折光束群の間で切り替えると共に、光束選択部材18に連動して1/2波長板17を光軸AZの周りに回動させることにより、選択された±1次回折光束が標本5に入射するときの偏光方向をS偏光に保つ。
 つまり、1/2波長板17及び光束選択部材18は、干渉縞の状態を保ちつつ、干渉縞の方向を切り替える。以下、縞の状態を保つための条件を具体的に説明する。
 先ず、1/2波長板17の進相軸の向きは、選択される±1次回折光束の分岐方向(第1方向V~第3方向Vのいずれか)と、その±1次回折光束の偏光方向とが垂直となるように設定される必要がある。なお、ここでいう1/2波長板17の進相軸とは、その軸の方向に偏光した光が1/2波長板17を通過するときの位相遅延量が最小となるような方向のことである。
 また、光束選択部材18の開口パターンは、同一の回折光束群に属する±1次回折光束の一方及び他方を個別に通過させる第1の開口部19及び第2の開口部20からなり、これら第1の開口部19と第2の開口部20との各々の光軸AZ周りの長さは、前述した方向に直線偏光した回折光束が通過できるような長さに設定されている。よって、第1の開口部19及び第2の開口部20の各々の形状は、部分輪帯状に近い形状である。
 ここで、図3(A)に示すように、1/2波長板17の進相軸の方向が偏光板23の軸の方向と平行になるときの1/2波長板17の回転位置を、1/2波長板17の回転位置の基準とする(以下、「第1の基準位置」と称する。)。
 また、光束選択部材18の光束選択方向(=選択される±1次回折光束の分岐方向)が、偏光板23の軸の方向と垂直になるときの光束選択部材18の回転位置を、光束選択部材18の回転位置の基準とする(以下、「第2の基準位置」と称する。)。
 このとき、図3(B)に示すように、1/2波長板17の第1基準位置からの回転量は、光束選択部材18の第2基準位置からの回転量の2分の1に制御されるべきである。すなわち、1/2波長板17の第1基準位置からの回転量がθ/2であるときには、光束選択部材18の第2基準位置からの回転量は、θに設定されるべきである。
 そこで、回動機構24A(図1参照)は、第1回折光束群の±1次回折光束(分岐方向は第1方向V)を選択するために、図4(A)に示すように、光束選択部材18の光束選択方向を第2の基準位置から右方に回転角θだけ回転させた場合、1/2波長板17の進相軸の方向を、第1の基準位置から右方に回転角θ/2だけ回転させる。
 このとき、1/2波長板17を通過する前における各次数の回折光束の偏光方向は、図4(A)中に破線両矢印で示すとおり、偏光板23の軸の方向と平行となっているのに対し、1/2波長板17を通過した後における各次数の回折光束の偏光方向は、右方に回転角θだけ回転するので、選択された±1次回折光束の偏光方向は、図4(A)に実線両矢印で示すとおり、それら±1次回折光束の分岐方向(第1方向V)に対して垂直となる。
 換言すると、1/2波長板17の進相軸の方向は、光束選択部材18により選択される±1次回折光束の分岐方向(=第1方向V)に応じた方向であって、1/2波長板17へ入射する±1次回折光束が有していた偏光方向(=偏光板23の軸方向)と、1/2波長板17から射出する±1次回折光束が有するべき偏光方向(=第1方向Vに垂直)とが成す角度の2等分線方向に、設定される。
 また、回動機構24A(図1参照)は、第2回折光束群の±1次回折光束(分岐方向は第2方向V)を選択するために、図4(B)に示すように、光束選択部材18の光束選択方向を第2の基準位置から右方に回転角θだけ回転させた場合、1/2波長板17の進相軸の方向を、第1の基準位置から右方に回転角θ/2だけ回転させる。
 このとき、1/2波長板17を通過する前における各次数の回折光束の偏光方向は、図4(B)中に破線両矢線で示すとおり、偏光板23の軸の方向と平行となっているのに対し、1/2波長板17を通過した後における各次数の回折光束の偏光方向は、右方に回転角θだけ回転するので、選択された±1次回折光束の偏光方向は、図4(B)に実線両矢印で示すとおり、それら±1次回折光束の分岐方向(第2方向V)に対して垂直となる。
 換言すると、1/2波長板17の進相軸の方向は、光束選択部材18により選択される±1次回折光束の分岐方向(=第2方向V)に応じた方向であって、1/2波長板17へ入射する±1次回折光束が有していた偏光方向(偏光板23の軸方向)と、1/2波長板17から射出する±1次回折光束が有するべき偏光方向(第2方向Vに垂直)とが成す角度の2等分線方向に、設定される。
 また、回動機構24A(図1参照)は、第3回折光束群の±1次回折光束(分岐方向は第3方向V)を選択するために、図4(C)に示すように、光束選択部材18の光束選択方向を第2の基準位置から左方(標本側から見て。以下同じ)に回転角θだけ回転させた場合、1/2波長板17の進相軸の方向を、第1の基準位置から左方に回転角θ/2だけ回転させる。
 このとき、1/2波長板17を通過する前における各次数の回折光束の偏光方向は、図4(C)中に破線両矢線で示すとおり、偏光板23の軸の方向と平行となっているのに対し、1/2波長板17を通過した後における各次数の回折光束の偏光方向は、左方に回転角θだけ回転するので、選択された±1次回折光束の偏光方向は、図4(C)に実両矢印で示すとおり、それら±1次回折光束の分岐方向(第3方向V)に対して垂直となる。
 換言すると、1/2波長板17の進相軸の方向は、光束選択部材18により選択される±1次回折光束の分岐方向(=第3方向V)に応じた方向であって、1/2波長板17へ入射する±1次回折光束が有していた偏光方向(=偏光板23の軸方向)と、1/2波長板17から射出する±1次回折光束が有するべき偏光方向(=第3方向Vに垂直)とが成す角度の2等分線方向に、設定される。
 したがって、回動機構24Aは、1/2波長板17及び光束選択部材18をギア比2:1で連動すればよい。
 図5は、以上説明した1/2波長板17及び光束選択部材18の機能を説明する図である。なお、図5において円形枠で囲まれた両矢線は、光束の偏光方向を示し、四角枠で囲まれた両矢線は、光学素子の軸方向を示している。
 なお、以上の説明では、標本5に入射する±1次回折光束をS偏光に保つために回動可能な1/2波長板17を使用したが、回動可能な1/2波長板17の代わりに固定配置された液晶素子を使用し、その液晶素子を1/2波長板17として機能させてもよい。液晶素子の配向を電気的に制御すれば、液晶素子の屈折率異方性を制御することができるので、1/2波長板としての進相軸を光軸AZ周りに回転させることができる。因みに、標本5に入射する±1次回折光束をS偏光に保つための方法は他にもある(後述)。
 また、図6に示すように、光束選択部材18の外周部には、複数の(図6に示す例では6個の)切り欠き21が形成されており、回動機構24A(図1参照)には、これらの切り欠き21を検出するためのタイミングセンサ22が備えられている。これによって、回動機構24Aは、光束選択部24の回動位置、ひいては1/2波長板17の回動位置を検知することができる。
 次に、並進機構15A(図1参照)の機能を詳しく説明する。
 図7は、並進機構15Aの機能を説明する図である。
 先ず、上述した復調演算を可能とするためには、例えば、同一の標本5かつ同一方向の干渉縞に関する変調画像であって、干渉縞の位相の異なる3枚以上の変調画像が使用される。なぜなら、構造化照明顕微鏡装置1が生成する変調画像には、標本5の蛍光領域の構造のうち、干渉縞により空間周波数の変調された構造情報である0次変調成分、+1次変調成分、-1次変調成分が含まれており、それら3つの未知パラメータを復調演算で既知とするためには、複数数の変調画像が必要だからである。
 そこで、並進機構15Aは、干渉縞の位相をシフトするために、図7(A)に示すように、照明光学系10の光軸AZと垂直な方向であって、前述した第1方向V、第2方向V、第3方向Vの全てに対して非垂直な方向(x方向)にかけて回折格子13をシフトさせる。
 但し、干渉縞の位相を所望のシフト量φだけシフトさせるのに必要な回折格子13のシフト量Lは、光束選択部24による光束選択方向が第1方向Vであるときと、第2方向Vであるときと、第3方向Vであるときとでは、同じとは限らない。
 図7(B)に示すとおり、回折格子13の第1方向V、第2方向V、第3方向Vの各々の構造周期(ピッチ)をPとおき、回折格子13のシフト方向(x方向)と第1方向Vとのなす角をθとおき、回折格子13のシフト方向(x方向)と第2方向Vとのなす角をθとおき、回折格子13のシフト方向(x方向)と第3方向Vとのなす角をθとおくと、光束選択方向が第1方向Vであるときに必要な回折格子13のx方向のシフト量Lは、L=φ×P/(4π×|cosθ|)で表され、光束選択方向が第2方向Vであるときに必要な回折格子13のx方向のシフト量Lは、L=φ×P/(4π×|cosθ|)で表され、光束選択方向が第3方向Vであるときに必要な回折格子13のx方向のシフト量Lは、L=φ×P/(4π×|cosθ|)で表される。
 すなわち、干渉縞の位相シフト量を所望の値φとするために必要な回折格子13のx方向のシフト量Lは、波長選択方向(第1方向V、第2方向V、第3方向Vの何れか)とx方向とのなす角θにより式(1)のとおり表される。
 L=φ×P/(4π×|cosθ|) …(1)
 因みに、構造化照明光の縞の位相シフト量φを2πとするために必要な回折格子13のx方向のシフト量Lは、P/(2×|cosθ|)となる。これは、回折格子13の半周期に相当する量である。つまり、回折格子13を半周期分シフトさせるだけで、構造化照明光の位相を1周期分シフトできる(なぜなら、±1次回折光からなる構造化照明光の縞ピッチは、回折格子13の構造周期の2倍に相当する。)。
 次に、間隔調整部200を詳しく説明する。
 図8は、間隔調整部200が備えられなかった場合の照明光学系10の光路を示しており、図9は、間隔調整部200が備えられた場合の照明光学系10の光路を示している。図8、図9における(A)は、光源波長が長い波長λ1であった場合を示しており、図8、図9における(B)は、光源波長が短い波長λ2であった場合を示している。なお、図8、図9では、励起フィルタ28及びダイクロイックミラー7の図示は省略した。
 図8(A)→図8(B)に示すとおり、光源波長が長い波長λ1から短い波長λ2へ切り替わると、回折格子13から射出する±1次回折光束の回折角度(分岐量)が小さくなるため、間隔調整部200が仮に備えられなかった場合は、図8(A)、(B)の左端に示すとおり瞳面6Aにおける±1次回折光束それぞれの集光点の光軸AZからの高さが変化してしまう。なお、ここでは、光軸AZから光線までの距離を単に「高さ」と称す。
 このように集光点の高さが波長λ1、λ2の間で変化してしまうと、波長λ1、λ2の間で超解像効果が変化してしまう。超解像効果とは、非変調時の解像力(一様照明光による解像力)を基準とした変調時の解像力(構造化照明光による解像力)の割合のことであって、(超解像効果)=(構造化照明光による解像力)/(一様照明光による解像力)=(瞳径+集光点間の距離)/(瞳径)が成り立つ。よって、対物レンズ6の瞳半径に対する集光点の高さの割合が大きいほど、超解像効果は高くなる。
 そこで、図9に示すとおり、間隔調整部200には、集光レンズ16の側から入射した±1次回折光束の一方(ここでは+1次回折光束とする。)の光路の方向を偏向するためのプリズム202(ここではその偏向方向を光軸AZから離れる方向とする。)と、プリズム202にて偏向した+1次回折光束を反射し、その+1次回折光束の光路の方向を、元の方向(プリズム202へ入射する際の光路と同じ方向)に戻すためのプリズム201とが備えられる。
 また、図9に示すとおり、間隔調整部200には、集光レンズ16の側から入射する±1次回折光束の他方(ここでは-1次回折光束)の光路の方向を偏向するためのプリズム202’(ここではその偏向方向を光軸AZから離れる方向とする。)と、プリズム202’にて偏向した-1次回折光束を反射し、その-1次回折光束の光路の方向を、元の方向(プリズム202’へ入射する際の光路と同じ方向)に戻すためのプリズム201’とが備えられる。
 なお、本実施形態の構造化照明光に使用される回折光束は、前述したとり次数が共通の回折光束(±1次回折光束)であり、その±1次回折光束の光路は、光軸AZに関して対称な関係に保たれる必要がある。
 よって、間隔調整部200の上流側のプリズム202、202’の反射面の配置関係は、光軸AZに関して対称な関係に保たれ、下流側のプリズム201、201’の反射面の配置関係は、光軸AZに関して対称な関係に保たれる。
 そして、間隔調整部200の上流側のプリズム202、202’は、図9(A)→図9(B)に示すとおり、互いの位置関係を光軸AZに関して対称な関係に保ちつつ、互いの間隔を変化させることが可能である。
 したがって、図9(A)、(B)に示すとおり、光源波長に応じてプリズム202、202’の間隔を調整すれば、瞳面6Aにおける±1次回折光束の集光点の間隔を、一定に保つことができる。これによって、超解像効果も一定に保たれる。
 また、図8に示すとおり、間隔調整部200が備えられなかった場合は、瞳面6Aにおける±1次回折光束の集光点は、所定の輪帯状領域(エバネッセント場の生成条件を満たすTIRF領域)に収まっているとは限らない。
 よって、図9に示すとおり、間隔調整部200の下流側のプリズム201、201’の間隔は、±1次回折光束が瞳面6Aに形成する集光点が所定の輪帯状領域(エバネッセント場の生成条件を満たすTIRF領域)に収まるような最適値に保たれる。これによって、エバネッセント場の生成条件(TIRF条件)が維持される。
 また、このような間隔調整部200によれば、±1次回折光束の回折角度(分岐量)が小さかったとしても、瞳面6Aにおける±1次回折光束の集光点の間隔を適正値にすることができるので、回折格子13の構造ピッチに対する自由度が高い。
 したがって、本実施形態では、回折格子13として、構造ピッチの粗い安価な回折格子(製造が容易な回折格子)を使用することが可能である。
 また、上述した制御装置39は、瞳面6Aにおける集光点の間隔が最適値に保たれるよう、光源波長の切り替えに応じてプリズム202、202’の間隔を自動的に切り替えることが望ましい。なお、制御装置39によるプリズム202、202’の間隔の切り替えは、間隔調整部200の調整機構200Aを介して行われる。
 但し、プリズム202、202’の間隔が変化すると、±1次回折光束の光路長も変化するため、±1次回折光束の集光点が瞳面6Aの前側又は後側へとずれる可能性がある。そこで、上述した制御装置39は、プリズム202、202’の間隔と、光ファイバ11の出射端の光軸AZ方向の位置とを連動させることにより、このような集光点のズレを補償することが望ましい。なお、制御装置39による出射端の位置の調整は、位置調整機構11A(図1を参照。)を介して行われる。
 以下、間隔調整部200の調整機構200Aの具体例を説明する。
 図10は、間隔調整部200の調整機構200Aの具体例を示す図である。図10に示す調整機構200Aは、プリズム201、202の間隙の一部(光路を妨げない位置)に対して挿脱される楔状部材203と、プリズム201’、202’の間隙の一部(光路を妨げない位置)に対して挿脱される楔状部材203’とを備える。
 このうち一方の楔状部材203は、プリズム201、202の間隙に対して標本側から挿入され、楔状部材203の光軸AZと垂直な方向の厚さは、標本側ほど厚く設定されている。
 また、他方の楔状部材203’は、プリズム201’、202’の間隙に対して標本側から挿入され、楔状部材203の光軸AZと垂直な方向の厚さは、標本側ほど厚く設定されている。
 よって、楔状部材203、203’の各々の挿入量が多いほど、上流側のプリズム202、202’の間隔は狭まり、楔状部材203、203’の各々の挿入量が少ないほど、上流側のプリズム202、202’の間隔は広がる。
 なお、図示省略したが、この調整機構200Aには、楔状部材203、203’の移動方向を光軸AZ方向に制限する不図示のガイド部材や、プリズム202、202’の移動方向を光軸AZと垂直な方向に制限する不図示のガイド部材や、プリズム201、201’を固定する不図示の固定部材なども備えられる。
 また、楔状部材203の移動方向及び移動量と、楔状部材203’の移動方向及び移動量とは、互いに共通であるので、これらの楔状部材203、203’は、互いに共通の部材で構成されてもよい。或いは、これらの楔状部材203、203’は、互いに固定されていてもよい。
 ところで、本実施形態では、干渉縞の方向を上述した3方向(第1方向V、第2方向V、第3方向V)の間で切り替える。それに対応するため、間隔調整部200も、以上のプリズム群(プリズム201、202、201’、202’)及び調整機構200Aを、図11に示すとおり上述した3方向(第1方向V、第2方向V、第3方向V)の各々について予め用意している。
 なお、図11に示すのは、間隔調整部200の一例を光源側から見た図である。この例では、プリズム群(プリズム201、202、201’、202’)が3群配置されており、そのうち1群は、分岐方向が第1方向Vである±1次回折光束を導光するためのプリズム群であり、他の1群は、分岐方向が第2方向Vである±1次回折光束を導光するためのプリズム群であり、残りの1群は、分岐方向が第3方向Vである±1次回折光束を導光するためのプリズム群である。
 また、この例では、各方向の楔状部材が共通の部材(符号203)で構成されている。また、図11の符号204で示す部材は、各方向のプリズム201、201’を固定するための固定部材である。
 [第1実施形態の変形例]
 なお、第1実施形態では、図1に示したとおり同一の瞳共役面6A’の近傍に間隔調整部200と光束選択部24との双方を配置したが、照明光学系10に対してリレー光学系を挿入することで瞳共役面の数を増やし、互いに異なる2つの瞳共役面の一方の近傍及び他方の近傍に対して間隔調整部200及び光束選択部24を個別に配置してもよい。
 但し、その場合も、光束選択部24の挿入先は、間隔調整部200の挿入先よりも下流側であることが望ましい。なぜなら、光束選択部24の配置先を間隔調整部200の配置先よりも下流側にしておけば、光束選択部材18に対する±1次回折光束の入射位置が間隔調整部200の作用により不変となるため、光束選択部材18の開口部のサイズを最小限とすることができるからである。
 また、第1実施形態では、光源波長の数の切り替え数を2としたが、3以上に拡張してもよい。その場合、間隔調整部200におけるプリズム202、202’の間隔の可変ステップ数を3以上とすればよい。
 また、第1実施形態の間隔調整部200は、プリズム群(プリズム201、202、201’、202’)を3方向(第1方向V、第2方向V、第3方向V)の各々について予め用意したが、1方向についてのみ用意すると共に、それらのプリズム群(プリズム201、202、201’、202’)の全体を光軸AZの周りに回動させる機構を、更に備えてもよい。
 その場合、上述した制御装置39は、そのプリズム群(プリズム201、202、201’、202’)の回動位置を、光束選択部18の回動位置に連動させればよい。
 また、第1実施形態の間隔調整部200は、図9に矢印で示したとおり、下流側に配置されたプリズム(プリズム201、201’)と、上流側に配置されたプリズム(プリズム202、202’)のうち、後者の間隔のみを可変としたが、それに加えて、図12に矢印で示すとおり、下流側に配置されたプリズム(プリズム201、201’)の間隔を可変としてもよい。
 但し、その場合であっても、瞳面6Aの最外周の輪帯状領域(エバネッセント場の生成条件を満たすための領域)から±1次回折光束の集光点が外れないよう、プリズム201、201’の間隔の調整範囲を制限することが望ましい。
 このようにすれば、エバネッセント場の生成条件(TIRF条件)を維持しながら、エバネッセント場の深さ(=標本5に対するエバネッセント光の浸み出し量)を微調整することができる。具体的には、プリズム201、201’の間隔が微調整されれば、図12の左端に矢印で示すとおり、±1次回折光束の集光点の間隔が微調整されるので、標本5の表面に入射する±1次回折光束の入射角度が微調整され、エバネッセント場の深さが微調整される。
 また、上述した制御装置39は、この微調整をユーザからの指示に応じて行うことが望ましい。これによってユーザは、エバネッセント場の深さを自由に調整することが可能となる。
 また、第1実施形態では光源波長を可変としたが、光源波長が不変である場合には、回折格子13から射出する±1次回折光束の回折角度(分岐量)が不変となるので、上流側のプリズム(プリズム202、202’)の間隔を不変とし、下流側のプリズム(プリズム201、201’)の間隔のみを可変としてもよい。
 また、第1実施形態の図9、図12では、プリズム201、201’の各々における回折光束の(主光線の)偏向角度を約90°としたが、90°から外れた角度としてもよいことは言うまでもない。同様に、図9、図12では、プリズム202、202’の各々における回折光束の(主光線の)偏向角度を90°としたが、90°から外れた角度としてもよいことは言うまでもない。
 また、第1実施形態では、光源からの射出光束を分岐する手段として、分岐方向の異なる複数の回折光束群を同時に生成する回折格子13(図2(A)参照)を使用したが、分岐方向が共通の回折光束群を1群のみ生成する回折格子(1方向回折格子)を使用してもよい。但し、その場合は、構造化照明光の縞方向を切り替えるために、1方向回折格子を光軸AZの周りに回動させる機構が備えられる。
 また、その場合は、回動可能な光束選択部18の代わりに、非回動の0次光カットマスクを使用してもよい。0次光カットマスクは、2次以降の高次回折光束の光路となり得る領域にマスク部を配し、かつ、±1次回折光束の光路となり得る領域に開口部を配し、かつ、0次回折光束の光路となる領域にマスク部を配したマスクである。
 また、第1実施形態では、間隔調整部200の配置先を瞳共役面の近傍としたが、構造化照明光に寄与する回折光束の光路が互いに分離されている箇所(0次回折光束と+1次回折光束と-1次回折光束とが空間的に分離されている箇所)であれば、瞳共役面から多少離れた箇所としてもよい。但し、瞳共役面に近い方がプリズムで反射すべき回折光束の断面が小さくなるので、プリズムのサイズを小さくしてプリズムの可動範囲を確保することが容易となる。
 また、第1実施形態では、標本5に入射する±1次回折光束をS偏光に保つために、光軸AZの周りを回動可能な1/2波長板17を使用したが、固定配置された1/4波長板と光軸AZの周りを回動可能な1/4波長板とを使用してもよい。但し、その場合は、第1の基準位置を基準とした1/4波長板の回転位置は、第2の基準位置を基準とした光束選択部材18の回転位置と同じに設定される。
 また、第1実施形態では、構造化照明顕微鏡装置1が全反射蛍光顕微鏡(TIRFM)として利用される場合を説明したが、構造化照明顕微鏡装置1を3次元構造化照明顕微鏡装置(3D-SIM:3D-Structured Illumination Microscopy)として利用することもできる。
 但し、構造化照明顕微鏡装置1を3D-SIMとして使用する場合は、回折格子13で発生した0次回折光束を瞳共役面6A’にてカットせずに±1次回折光と共に標本5へ入射させる必要がある。そのためには、例えば、図6に示した光束選択部材18の代わりに、図13に示すような光束選択部材18’を使用すればよい。この光束選択部材18’は、図6に示した光束選択部材18において、0次回折光束を通過するための開口部29を設けたものである。
 なお、この開口部29の形成先は、光軸AZの近傍であって、この開口部29の形状は、例えば円形である。このような光束選択部材18’によると、±1次回折光束だけでなく0次回折光束をも干渉縞に寄与させることができる。
 このように、3つの回折光束の干渉(3光束干渉)によって生成される干渉縞は、標本5の面方向だけでなく、標本5の深さ方向にも空間変調されている。よって、この干渉縞によると、標本5の深さ方向にも超解像効果を得ることが可能となる。
 但し、構造化照明顕微鏡装置1を3D-SIMとして使用する場合、間隔調整部200の外形は、0次回折光束の光路を妨げないよう適切に整えられるものとする。
 そして、この3次元構造化照明顕微鏡装置においては、間隔調整部200がプリズム202、202’の間隔を光源波長に応じて調整すれば、超解像効果を一定に保つことができる。
 また、この3次元構造化照明顕微鏡装置においては、間隔調整部200がプリズム201、201’の間隔を調整すれば、超解像効果を調整することができる。
 また、第1実施形態では、回折格子13における±1次回折光束の回折角度(分岐量)が比較的小さい場合を想定し、図9、図12に示すとおり、それら±1次回折光束の光路の間隔を広げる機能を間隔調整部200へ付与したが、回折格子13における±1次回折光束の回折角度(分岐量)が比較的大きい場合には、図14に示すとおり、それら±1次回折光束の光路の間隔を狭める機能を間隔調整部200へ付与すればよい。
 その場合、上流側のプリズム202、202’による±1次回折光束の偏向方向は、光軸AZから離れる方向ではなく、光軸AZに近づく方向となるので、上流側のプリズム202、202’の方が、下流側のプリズム201、201’よりも内側(光軸AZに近い側)に位置する。
 また、第1実施形態の間隔調整部200は、プリズム群(プリズム201、202、201’、202’)を使用したが、それらプリズムの一部又は全部の代わりに反射鏡を使用してもよいことは言うまでもない。
 また、第1実施形態では、構造化照明顕微鏡装置1をTIRF-SIMとして使用する際に、干渉縞に寄与する回折光束として、+1次回折光束と-1次回折光束との組み合わせを使用したが、他の組み合わせを使用してもよいことは言うまでもない。
 また、第1実施形態では、構造化照明顕微鏡装置1を3D-SIMとして使用する際に、干渉縞に寄与する回折光束として、+1次回折光束と-1次回折光束と0次回折光束との組み合わせを使用したが、他の組み合わせを使用してもよいことは言うまでもない。
 また、以上の説明では、対物レンズ6の交換について言及しなかったが、瞳面サイズの異なる複数の対物レンズの間で対物レンズ6が切り替わる場合には、対物レンズ6の切り替えに応じて調整機構200Aを駆動することにより、超解像効果を維持することが望ましい。
 [第1実施形態の作用効果]
 以上、第1実施形態の構造化照明装置は、光源(100)からの射出光束を少なくとも2つの分岐光束に分岐する分岐手段(13)と、前記2つの分岐光束を対物レンズ(6)の瞳面(6A)の互いに異なる位置へそれぞれ集光させることで前記2つの分岐光束を前記対物レンズ(6)の物体側で互いに干渉させ、その干渉縞で標本(5)を照明する照明光学系(10)と、前記照明光学系(10)の光軸(AZ)から、前記2つの分岐光束が前記瞳面(6A)に形成する2つの集光点までの高さを、調整又は制御する調整手段(200)とを備え、前記調整手段(200)は、前記2つの分岐光束の波長に応じた偏向角で前記2つの分岐光束を偏向する光学部材(201、202、201’、202’)を含む。
 そして、前記調整手段(200)は、前記2つの分岐光束の一方である第1光束の光路を偏向するための第1反射面(202)と、前記第1反射面(202)で偏向した前記第1光束の光路の方向を元の方向に戻すための第2反射面(201)と、前記2つの分岐光束の他方である第2光束の光路を偏向するための第3反射面(202’)と、前記第3反射面(202’)で偏向した前記第2光束の光路の方向を元の方向に戻すための第4反射面(201’)とを備え、前記1反射面(202)及び前記第3反射面(202’)の位置関係と、前記第2反射面(201)及び前記第4反射面(201’)の位置関係との少なくとも一方は、可変である。
 したがって、第1実施形態の構造化照明装置は、構造化照明顕微鏡装置(1)の超解像効果を調整又は制御することが可能である。
 なお、第1実施形態の構造化照明装置は、前記2つの集光点の光軸(AZ)方向の位置を調整するための位置調整手段(11A)を更に備える。
 したがって、第1実施形態の構造化照明装置は、前記超解像効果の調整時に発生し得るフォーカスズレにも対処できる。
 また、前記調整手段(200)は、前記2つの集光点の位置関係を光軸(AZ)に関して対称な関係に保つ。
 したがって、第1実施形態の構造化照明装置は、前記超解像効果の調整時に発生し得る干渉縞の品質低下を防ぐことができる。
 また、前記分岐手段(13)は、回折光学素子である。
 このように、前記分岐手段(13)として回折光学素子を使用すると、前記2つの分岐光束の分岐量が波長に依存してしまうので、前記2つの集光点の光軸(AZ)からの高さが波長に依存する、つまり、超解像効果が波長に依存する虞があった。しかし、第1実施形態の構造化照明装置は、前記調整手段(200)を備えるので、超解像効果の波長依存性を抑えることが可能である。
 また、前記高さは、所定範囲内の値に調整され、前記所定範囲は、前記2つの分岐光束が前記標本の表面近傍にエバネッセント場を生成可能な範囲のことである。
 したがって、第1実施形態の構造化照明装置は、超解像効果の調整時に発生し得るTIRF条件の崩れを防止することができる。
 また、前記高さは、ユーザからの指示に応じて前記所定範囲内で微調整される。
 したがって、ユーザは、TIRF条件が崩れない範囲内で自由に超解像効果を調節することができる。
 また、前記光源(100)は、前記射出光束の波長を切り替え可能であり、前記高さは、前記波長の切り替えに拘らず所定値に調整される。
 したがって、第1実施形態の構造化照明装置は、超解像効果の波長依存性を確実に抑えることができる。
 また、第1実施形態の構造化照明装置は、前記2つの集光点の位置を光軸(AZ)の周りの複数の回転位置の間で切り替える切替手段(18)を更に備え、前記調整手段(200)は、前記複数の回転位置毎に用意されている。
 或いは、第1実施形態の構造化照明装置は、前記2つの集光点の位置を光軸(AZ)周りの複数の回転位置の間で切り替える第1切替手段(18)と、前記調整手段(200)の位置を前記複数の回転位置の間で切り替える第2切替手段とを更に備える。
 また、第1実施形態の構造化照明装置は、前記干渉縞の位相をシフトさせる位相シフト手段(15A)を更に備える。
 したがって、第1実施形態の構造化照明装置は、標本(5)に投影される干渉縞の方向及び位相を切り替えることが可能である。
 また、第1実施形態の構造化照明顕微鏡装置(1)は、以上説明した何れかの構造化照明装置と、前記干渉縞で変調された前記標本(5)からの観察光束を光検出器(35)に結像する結像光学系(30)とを備える。
 したがって、第1実施形態の構造化照明顕微鏡装置(1)は、前記標本(5)の変調像を画像化することができる。
 また、第1実施形態の構造化照明顕微鏡装置(1)は、前記光検出器(35)が生成した画像に基づき前記標本(5)の復調像を演算する演算手段(40)を更に備える。
 したがって、第1実施形態の構造化照明顕微鏡装置(1)は、前記標本(5)の超解像画像を取得することができる。
 [第2実施形態]
 以下、本発明の第2実施形態として構造化照明顕微鏡装置を説明する。
 先ず、本実施形態の構造化照明顕微鏡装置の構成を説明する。第1実施形態との主な相違点は、間隔調整部200の構成及び配置先である。
 なお、本実施形態の間隔調整部200によると、2種類の波長による同時観察が可能となるので、ここでは同時観察を行うための装置の構成例を説明する。
 図15に示すとおり本実施形態の構造化照明顕微鏡装置1には、レーザユニット100と、光ファイバ11と、照明光学系10と、結像光学系30と、第1撮像素子351と、第2撮像素子352と、制御装置39と、画像記憶・演算装置40と、画像表示装置45とが備えられる。なお、照明光学系10は落射型であり、結像光学系30の対物レンズ6及びダイクロイックミラー7を利用して標本5の照明を行う。
 レーザユニット100には、第1レーザ光源101、第2レーザ光源102、シャッタ1031、1032、ミラー105、ダイクロイックミラー106、レンズ107が備えられる。第1レーザ光源101及び第2レーザ光源102の各々は可干渉光源であって、互いの出射波長は異なる。ここでは、第1レーザ光源101の波長λ1は、第2レーザ光源102の波長λ2よりも長いと仮定する(λ1>λ2)。これらの第1レーザ光源101、第2レーザ光源102、シャッタ1031、1032は、それぞれ制御装置39によって駆動される。
 光ファイバ11は、レーザユニット100から射出したレーザ光を導光するために、例えば、偏波面保存型のシングルモードファイバによって構成される。この光ファイバ11の出射端の光軸AZ方向の位置は、位置調整機構11Aによって調節可能である。この位置調整機構11Aは、制御装置39によって駆動される。
 照明光学系10には、光ファイバ11の出射端側から順に、コレクタレンズ12と、偏光板23と、光束分岐部15と、間隔調整部200と、集光レンズ16と、光束選択部24と、レンズ25と、視野絞り26と、フィールドレンズ27と、励起フィルタ28と、ダイクロイックミラー7と、対物レンズ6とが配置される。
 光束分岐部15には、第1実施形態と同様の回折光学素子(回折格子)13と、第1実施形態と同様の並進機構15Aとが備えられ、間隔調整部200には、複数のプリズム(詳細は後述)が備えられ、光束選択部24には、第1実施形態と同様の1/2波長板17と、第1実施形態と同様の光束選択部材18と、第1実施形態と同様の回動機構24Aとが備えられる。なお、並進機構15A、回動機構24Aは、制御装置39によって第1実施形態と同様に駆動される。
 結像光学系30には、標本5の側から順に、対物レンズ6と、ダイクロイックミラー7と、バリアフィルタ31と、第2対物レンズ32と、第2ダイクロイックミラー35と、が配置される。
 標本5は、例えば、平行平板状のガラス表面に滴下された培養液であって、その培養液におけるガラス界面の近傍には、蛍光性を有した細胞(蛍光色素で染色された細胞)が存在している。この細胞には、波長λ1の光によって励起される第1蛍光領域と、波長λ2の光によって励起される第2蛍光領域との双方が発現している。
 なお、第1蛍光領域は、波長λ1の光に応じて中心波長λ1’の第1蛍光を発生させ、第2蛍光領域は、波長λ2の光に応じて中心波長λ2’の第2蛍光を発生させる。
 対物レンズ6は、全反射蛍光観察を可能とするために、液浸型(油浸型)の対物レンズとして構成される。つまり、対物レンズ6と標本5のガラスとの間隙は、浸液(油)で満たされている。
 第1撮像素子351、第2撮像素子352の各々は、CCDやCMOS等からなる二次元の撮像素子である。第1撮像素子351、第2撮像素子352の各々は、制御装置39によって駆動されると、第1撮像素子351の撮像面361、第2撮像素子352の撮像面362の各々に形成された像を撮像し、画像を生成する。これら第1撮像素子351、第2撮像素子352の各々が生成した画像は、制御装置39を介して画像記憶・演算装置40へと取り込まれる。
 制御装置39は、レーザユニット100、位置調整機構11A、並進機構15A、回動機構24A、第1撮像素子351、第2撮像素子352を駆動制御する。
 画像記憶・演算装置40は、制御装置39を介して与えられた画像に対して演算を施し、演算後の画像を不図示の内部メモリに格納すると共に、画像表示装置45へ送出する。
 次に、構造化照明顕微鏡装置1におけるレーザ光の振る舞いを説明する。
 第1レーザ光源101から射出した波長λ1のレーザ光(第1レーザ光)は、シャッタ1031を介してミラー105へ入射すると、ミラー105を反射し、ダイクロイックミラー106へ入射する。一方、第2レーザ光源102から射出した波長λ2のレーザ光(第2レーザ光)は、シャッタ1032を介してビームスプリッタ106へ入射し、第1レーザ光と統合される。ダイクロイックミラー106から射出した第1レーザ光及び第2レーザ光は、レンズ107を介して光ファイバ11の入射端に入射する。
 なお、制御装置39は、レーザユニット100のシャッタ1031、1032を制御することにより、光ファイバ11の入射端に入射するレーザ光の波長(=光源波長)を、長い波長λ1と短い波長λ2との間で切り替えたり、光源波長を長い波長λ1と短い波長λ2との双方に設定したりすることができる。
 光ファイバ11の入射端に入射したレーザ光は、光ファイバ11の内部を伝搬して光ファイバ11の出射端に点光源を生成する。その点光源から射出したレーザ光は、コレクタレンズ12によって平行光束に変換され、偏光板23を介して回折格子13へ入射すると、各次数の回折光束に分岐される。これら各次数の回折光束は、間隔調整部200を介して集光レンズ16に入射すると、集光レンズ16によって瞳共役面6A’の互いに異なる位置に集光される。
 ここで、瞳共役面6A’は、集光レンズ16の焦点位置(後ろ側焦点位置)であって、後述する対物レンズ6の瞳6A(±1次回折光が集光する位置)に対してフィールドレンズ27、レンズ25を介して共役な位置のことである。但し、ここでいう「共役な位置」の概念には、当業者が対物レンズ6、フィールドレンズ27、レンズ25の収差、ビネッティング等の設計上必要な事項を考慮して決定した位置も含まれるものとする。
 なお、光ファイバ11から射出したレーザ光は基本的に直線偏光しているので、偏光板23は、省略することも可能であるが、余分な偏光成分を確実にカットするために有効である。また、レーザ光の利用効率を高めるため、偏光板23の軸は、光ファイバ11から射出したレーザ光の偏光方向に一致していることが望ましい。
 瞳共役面6A’に向かった各次数の回折光束は、瞳共役面6A’の近傍に配置された光束選択部24へ入射する。
 ここで、本実施形態の構造化照明顕微鏡装置1は、TIRFM(全反射蛍光顕微鏡)として利用されるので、光束選択部24は、入射した各次数の回折光束のうち、1対の回折光束のみ(ここでは±1次回折光束のみ)を選択的に通過させるものとする。
 光束選択部24を通過した±1次回折光束は、レンズ25によって視野絞り26付近で回折格子13と共役な面を形成した後に、フィールドレンズ27により平行光に変換され、さらに励起フィルタ28を経てからダイクロイックミラー7で反射し、対物レンズ6の瞳面6A上の互いに異なる位置に集光される。
 瞳面6A上に集光した±1次回折光束の各々は、対物レンズ6の先端から射出される際には平行光束となり、標本5の表面で互いに干渉し、干渉縞を形成する。この干渉縞が、構造化照明光として使用される。
 また、本実施形態の構造化照明顕微鏡装置1は、TIRFM(全反射蛍光顕微鏡)として利用されるので、標本5の表面に入射する際の入射角度は、エバネッセント場の生成条件(全反射条件)を満たしている。以下、全反射条件を「TIRF条件」と称す。
 TIRF条件を満たすためには、瞳面6Aにおける±1次回折光束の集光点は、瞳面6Aの最外周に位置する所定の輪帯状領域に位置している必要がある。前述した間隔調整部200は、瞳面6Aにおける1対の回折光束の集光点の間隔を調整し、両者の集光点を所定の輪帯状領域に収めるために設けられたものである(詳細は後述)。この調整の結果、標本5の表面近傍には、干渉縞によるエバネッセント場が生起する。
 このような干渉縞により標本5を照明すると、干渉縞の周期構造と標本5上の蛍光領域の周期構造との差に相当するモアレ縞が現れるが、このモアレ縞においては、蛍光領域の高周波数の構造が元の周波数より低周波数側にシフトしているため、この構造を示す蛍光は、元の角度よりも小さい角度で対物レンズ6へ向かうことになる。よって、干渉縞により標本5を照明すると、蛍光領域の高周波数の構造情報までもが対物レンズ6によって伝達される。
 標本5の表面近傍(エバネッセント場)で発生した蛍光は、対物レンズ6に入射すると、対物レンズ6で平行光に変換された後、ダイクロイックミラー7及びバリアフィルタ31を透過し、第2ダイクロイックミラー35へ入射する。第2ダイクロイックミラー35へ入射した波長λ1’の第1蛍光は、第2ダイクロイックミラー35を反射し、第2ダイクロイックミラー35へ入射した波長λ2’の第2蛍光は、第2ダイクロイックミラー35を透過する。
 第2ダイクロイックミラー35を反射した第1蛍光は、第1撮像素子351の撮像面361上に第1蛍光領域の変調像を形成し、第2ダイクロイックミラー35を透過した第2蛍光は、第2撮像素子352の撮像面362上に第2蛍光領域の変調像を形成する。
 撮像面361に形成された第1蛍光領域の変調像、撮像面362に形成された第2蛍光領域の変調像は、第1撮像素子351、第2撮像素子352によって個別に画像化され、第1蛍光領域の変調画像と、第2蛍光領域の変調画像とが生成される。
 第1蛍光領域の変調画像と、第2蛍光領域の変調画像とは、制御装置39を介して画像記憶・演算装置40へと取り込まれる。さらに、取り込まれた第1蛍光領域の変調画像と、第2蛍光領域の変調画像との各々には、画像記憶・演算装置40において公知の復調演算が施され、第1蛍光領域の復調画像(超解像画像)と、第2蛍光領域の復調画像(超解像画像)とが生成される。そして、これらの超解像画像は、画像記憶・演算装置40の内部メモリ(図示せず)に記憶されるとともに、画像表示装置45へと送出される。なお、公知の復調演算としては、例えば、米国特許8115806号明細書に開示された方法が用いられる。
 次に、本実施形態の間隔調整部200を詳しく説明する。
 図16は、間隔調整部200が備えられなかった場合の照明光学系10の光路を示しており、図17は、間隔調整部200が備えられた場合の照明光学系10の光路を示している。図16、図17における(A)は、光源波長が長い波長λ1であった場合を示しており、図16、図17における(B)は、光源波長が短い波長λ2であった場合を示している。なお、図16、図17では、励起フィルタ28及びダイクロイックミラー7の図示は省略した。
 光源波長が長い波長λ1である場合と光源波長が短い波長λ2である場合を比較すると、回折格子13から射出する±1次回折光束の回折角度(分岐量)が異なるため、図16(A)、図16(B)に示すとおり間隔調整部200が仮に備えられないと、瞳面6Aにおける±1次回折光束の集光点の高さが異なる(±1次回折光束の集光点の間隔が異なる。)。なお、ここでは、光軸AZから光線までの距離を単に「高さ」と称す。
 このように集光点の高さが波長λ1、λ2の間で異なると、超解像効果も波長λ1、λ2の間で異なる。超解像効果とは、非変調時の解像力(一様照明光による解像力)を基準とした変調時の解像力(構造化照明光による解像力)の割合のことであって、対物レンズ6の瞳半径に対する集光点の高さの割合が大きいほど、超解像効果は高くなる。
 また、集光点の高さが波長λ1、λ2の間で異なると、波長λ1、λ2の双方の集光点をTIRF領域に収めることができない虞がある。TIRF領域とは、瞳面6Aの最外周に位置する所定の輪帯状領域であって、このTIRF領域に集光点を収めなければTIRF条件を満すことができないので、全反射観察ができなくなる。
 そこで、本実施形態では、図17に示すような間隔調整部200(図17参照)を採用する。
 先ず、間隔調整部200の配置先は、回折格子13から瞳面6Aまでの光路のうち、0次回折光束と+1次回折光束と-1次回折光束とが空間的に分離されている箇所であって、瞳面6A又は瞳共役面6A’から外れた箇所である。因みに、間隔調整部200の配置先が瞳面6A又は瞳共役面6A’に近過ぎると、間隔調整部200の機能を十分に発揮させることができなくなる。
 また、間隔調整部200の配置先は、+1次回折光束と-1次回折光束との各々が集光光束又は発散光束となっている箇所(集光レンズ16とレンズ25との間、フィールドレンズ27と瞳面6Aとの間)よりも、+1次回折光束と-1次回折光束との各々が平行光束となっている箇所(回折格子13と集光レンズ16との間、レンズ25とフィールドレンズ27との間)である方が望ましい。その方が間隔調整部200の設計が容易になるからである。
 また、間隔調整部200の配置先は、+1次回折光束と-1次回折光束とが互いに離れながら進行する箇所(回折格子13と集光レンズ16との間、視野絞り26とフィールドレンズ27との間)であっても、+1次回折光束と-1次回折光束とが互いに近づきながら進行する箇所(レンズ25と視野絞り26との間)であっても構わない。配置先をどちらにするかは、照明光学系10内の配置スペースに応じて適切に選択されればよい。
 ここでは、間隔調整部200の配置先を、図17に示すとおり回折格子13と集光レンズ16との間と仮定する。この配置先は、+1次回折光束と-1次回折光束との各々が平行光束となり、かつ、+1次回折光束と-1次回折光束とが互いに離れながら進行する箇所である。
 さて、間隔調整部200には、+1次回折光束の単独光路へ挿入される屈折部材(プリズム)201と、-1次回折光束の単独光路へ挿入される屈折部材(プリズム)201’とが備えられる。プリズム201の材質とプリズム201’の材質とは互いに等しく、プリズム201の形状とプリズム201’の形状との関係は光軸AZに関して対称である。よって、光軸AZに関する+1次回折光束と-1次回折光束との対称性が間隔調整部200の配置によって崩れる虞はない。
 また、1対のプリズム201、201’の各々の光軸AZ方向の厚さは、光軸AZから離れるほど大きく設定されている。この場合、互いに離れながら進行する+1次回折光束と-1次回折光束とは、両者の乖離量が更に大きくなるような方向(光軸AZから離れる方向)へと偏向される。
 この場合、集光レンズ16に向かう±1次回折光束の角度は、大きくなる。波長λ1、波長λ2の間では角度の拡大量に差異はあるものの、光線の角度は波長λ1、λ2の双方について拡大される。なお、ここでは、光線が光軸AZと成す角度を単に「角度」と称す。
 したがって、1対のプリズム201、201’には、瞳共役面6A’における集光点の高さ(ひいては瞳面6Aにおける集光点の高さ)が拡大される方向に±1次回折光束を偏向する機能がある。
 ここで、1対のプリズム201、201’の各々の材質は、例えばガラスであって、ガラスの屈折率は、長い波長λ1の光に対する値よりも、短い波長λ2に対する値の方が大きい。このため、1対のプリズム201、201’による偏向角度は、長い波長λ1に対する値(図17(A)参照)よりも、短い波長λ2に対する値(図17(B)参照)の方が大きくなる。
 この場合、回折格子13から小角度で射出した短い波長λ2の光線の角度は、回折格子13から大角度で射出した長い波長λ1の光線の角度に近づく。
 したがって、1対のプリズム201、201’は、瞳共役面6A’における集光点の高さ(ひいては瞳面6Aにおける集光点の高さ)を、波長λ1、λ2の間で近づけることができる。
 なお、1対のプリズム201、201’の各々の材質としては、波長λ1、λ2に対する分散がなるべく高いもの(高分散ガラス)が使用されていることが望ましい。このようにすれば、1対のプリズム201、201’が波長λ1、λ2に与える偏向角度の差を大きくすることができる。
 これを利用し、本実施形態では、1対のプリズム201、201’が波長λ1、λ2に与える偏向角度の差は、回折格子13が波長λ1、λ2に与えた回折角度の差が相殺されるような値に設定される。
 この場合、回折格子13から小角度で射出した短い波長λ2の光線の角度は、回折格子13から大角度で射出した長い波長λ1の光線の角度と一致するので、瞳共役面6A’における集光点の高さ(ひいては瞳面6Aにおける集光点の高さ)は、波長λ1、λ2の間で共通となる。
 したがって、本実施形態では、波長λ1、λ2の間で超解像効果が共通になる。
 しかも、本実施形態では、1対のプリズム201、201’が波長λ1、λ2の双方に与える偏向角度の程度は、瞳面6Aにおける集光点がTIRF領域に収まるような値に設定されている。
 したがって、本実施形態では、全反射観察を波長λ1、λ2の双方で実施することができる。
 なお、本実施形態において、1対のプリズム201、201’の各々の姿勢は、1対のプリズム201、201’の各々に入射する光線の入射角度が0°近傍となるように設定されることが望ましい。このようにすれば、1対のプリズム201、201’による光線の偏向角度を大きくすることができるので、1対のプリズム201、201’の各々として頂角の小さいプリズムを使用することができる。
 また、本実施形態のように、1対のプリズム201、201’が光線に与える偏向角度を大きくすれば、回折格子13が光線に与える回折角度(分岐量)が仮に小さかったとしても、瞳面6Aにおける集光点の高さを大きくすることができるので、回折格子13として構造周期の粗い回折格子を使用することができる。
 また、本実施形態では、間隔調整部200の配置先を光束選択部材18の配置先より上流側としたので、光束選択部材18に対する光線の入射位置が波長λ1、λ2の間で不変となる。よって、本実施形態では、光束選択部材18に形成される開口部19、20の高さ方向のサイズを最小限に抑えることができる。
 ところで、本実施形態では、干渉縞の方向を上述した3方向(第1方向V、第2方向V、第3方向V)の間で切り替える。それに対応するため、間隔調整部200も、前述した1対のプリズム201、201’を、図18に示すとおり上述した3方向(第1方向V、第2方向V、第3方向V)の各々について予め用意しているものとする。
 なお、図18に示すのは、間隔調整部200の一例を光源側から見た図である。この例では、1対のプリズム201、201’が3方向(第1方向V、第2方向V、第3方向V)の各々に亘って配置されており、そのうち或る1対のプリズムは、分岐方向が第1方向Vである±1次回折光束を導光するためのプリズムであり、他の1対のプリズムは、分岐方向が第2方向Vである±1次回折光束を導光するためのプリズムであり、残りの1対のプリズムは、分岐方向が第3方向Vである±1次回折光束を導光するためのプリズムである。
 [第2実施形態の変形例]
 なお、第2実施形態では、間隔調整部200の配置先を、図15に示したとおり回折格子13と集光レンズ16との間にしたが、視野絞り26とフィールドレンズ27との間にしてもよい。
 但し、その場合は、間隔調整部200の配置先が光束選択部材18の配置先より下流側となるので、光束選択部材18に対する±1次回折光束の入射位置が波長λ1、λ2の間でずれてしまう。
 よって、その場合は、光束選択部材18の開口部19、20の高さ方向のサイズを大きめにしておく必要がある。
 また、第2実施形態では、間隔調整部200の配置先を、+1次回折光束と-1次回折光束と互いに離れながら進行する箇所としたが、+1次回折光束と-1次回折光束とが互いに近づきながら進行する箇所(レンズ25と視野絞り26との間)としてもよい。
 但し、その場合、1対のプリズム201、201’の各々の光軸AZ方向の厚さは、光軸AZから離れるほど小さく設定される。つまり、その場合は、1対のプリズム201、201’の形状が反転する。このような1対のプリズム201、201’は、互いに近づきながら進行する+1次回折光束と-1次回折光束とを、両者の乖離量が更に小さくなるような方向(光軸AZに近づく方向)へと偏向する。
 また、第2実施形態の間隔調整部200は、干渉縞の方向の切り替えに対処するために、1対のプリズム201、201’を3組み備えたが(図18を参照。)、これらのプリズムの一部又は全部を共通の部材で構成してもよい。例えば、全てのプリズムを1つのリング状部材で構成してもよい。
 また、第2実施形態の間隔調整部200は、干渉縞の方向の切り替えに対処するために、1対のプリズム201、201’を3組み備えたが(図18を参照。)、1対のプリズム201、201’を1組みだけ備えると共に、その1対のプリズム201、201’の全体を光軸AZの周りに回動させる機構を更に備えてもよい。
 その場合、上述した制御装置39は、1対のプリズム201、201’の回動位置を、光束選択部18の回動位置に連動させればよい。
 また、第2実施形態では、光源からの射出光束を分岐する手段として、分岐方向の異なる複数の回折光束群を同時に生成する回折格子13(図2(A)参照)を使用したが、分岐方向が共通の回折光束群を1群のみ生成する回折格子(1方向回折格子)を使用してもよい。但し、その場合は、干渉縞の方向を切り替えるために、1方向回折格子を光軸AZの周りに回動させる機構が備えられる。
 また、その場合は、回動可能な光束選択部18の代わりに、非回動の0次光カットマスクを使用してもよい。0次光カットマスクは、2次以降の高次回折光束の光路となり得る領域にマスク部を配し、かつ、±1次回折光束の光路となり得る領域に開口部を配し、かつ、0次回折光束の光路となる領域にマスク部を配したマスクである。
 また、第2実施形態では、標本5に入射する±1次回折光束をS偏光に保つために、光軸AZの周りを回動可能な1/2波長板17を使用したが、固定配置した1/4波長板と光軸AZの周りを回動可能な1/4波長板とを使用してもよい。但し、その場合は、第1の基準位置を基準とした1/4波長板の回転位置は、第2の基準位置を基準とした光束選択部材18の回転位置と同じに設定される。
 また、第2実施形態では、構造化照明顕微鏡装置1が全反射蛍光顕微鏡(TIRFM)として利用される場合を説明したが、構造化照明顕微鏡装置1を3次元構造化照明顕微鏡装置(3D-SIM:3D-Structured Illumination Microscopy)として利用することもできる。
 但し、構造化照明顕微鏡装置1を3D-SIMとして使用する場合は、回折格子13で発生した0次回折光束を瞳共役面6A’にてカットせずに±1次回折光と共に標本5へ入射させる必要がある。そのためには、例えば、図6に示した光束選択部材18の代わりに、図13に示すような光束選択部材18’を使用すればよい。この光束選択部材18’は、図6に示した光束選択部材18において、0次回折光束を通過するための開口部29を設けたものである。
 なお、この開口部29の形成先は、光軸AZの近傍であって、この開口部29の形状は、例えば円形である。このような光束選択部材18’によると、±1次回折光束だけでなく0次回折光束をも干渉縞に寄与させることができる。
 このように、3つの回折光束の干渉(3光束干渉)によって生成される干渉縞は、標本5の面方向だけでなく、標本5の深さ方向にも空間変調されている。よって、この干渉縞によると、標本5の深さ方向にも超解像効果を得ることが可能となる。
 但し、構造化照明顕微鏡装置1を3D-SIMとして使用する場合、1対のプリズム201、201’の外形は、0次回折光束の光路を妨げないよう適切に整えられるものとする。なお、回折格子13から射出する0次回折光束の角度は、波長λ1、λ2の何れであってもゼロとなるので、0次回折光束の光路にプリズムを配置する必要は無い。
 また、第2実施形態では、構造化照明顕微鏡装置1をTIRF-SIMとして使用する際に、干渉縞に寄与する回折光束として、+1次回折光束と-1次回折光束との組み合わせを使用したが、他の組み合わせを使用してもよいことは言うまでもない。
 また、第2実施形態では、構造化照明顕微鏡装置1を3D-SIMとして使用する際に、干渉縞に寄与する回折光束として、+1次回折光束と-1次回折光束と0次回折光束との組み合わせを使用したが、他の組み合わせを使用してもよいことは言うまでもない。
 また、第2実施形態では、光源波長の数を「2」とし、撮像素子の個数を「2」としたので、2種類の蛍光を同時励起して2種類の蛍光変調像を同時に撮像することができる。しかし、第2実施形態では、撮像素子の個数を1とし、2種類の蛍光を順次に励起して2種類の蛍光変調像を順次に撮像することにしても構わない。
 また、第2実施形態では、光源波長の数を「2」としたが、3以上に拡張してもよいことは言うまでもない。
 また、第2実施形態では、間隔調整部200を1つしか備えなかったが、瞳面サイズの異なる複数の対物レンズの間で対物レンズ6が切り替わる場合には、間隔調整部200を対物レンズ毎に用意し、対物レンズ6の切り替えに応じて間隔調整部200を切り替えればよい。
 [第2実施形態の作用効果]
 以上、第2実施形態の構造化照明装置は、光源(100)からの射出光束を少なくとも2つの分岐光束に分岐する回折光学素子(13)と、前記2つの分岐光束を対物レンズ(6)の瞳面(6A)の互いに異なる位置へそれぞれ集光させることで前記2つの分岐光束を前記対物レンズ(6)の物体側で互いに干渉させ、その干渉縞で標本(5)を照明する照明光学系(10)と、前記照明光学系(10)の光軸(AZ)から、前記2つの分岐光束が前記瞳面(6A)に形成する2つの集光点までの高さを、調整又は制御する調整手段(200)とを備え、前記調整手段(200)は、前記2つの分岐光束の波長に応じた偏向角で前記2つの分岐光束を偏向する光学部材(201、201’)を含む。
 そして、前記調整手段(200)は、前記光軸(AZ)から、前記2つの分岐光束が前記瞳面(6A)に形成する2つの集光点までの高さを、波長の異なる少なくとも2種類の前記射出光束(λ1、λ2)の間で略一致させる。
 具体的に、前記調整手段(200)は、前記2つの分岐光束の各々を偏向するものであり、前記調整手段(200)が前記2種類の射出光束に与える偏向角度の差は、前記回折光学素子(13)が前記2種類の射出光束に与える回折角度の差を相殺する値に設定されている。
 また、前記調整手段(200)の配置先は、前記2つの分岐光束が空間的に分離した箇所である。
 また、前記調整手段(200)は、前記2つの分岐光束が互いに離れながら進行する箇所に配置された屈折部材(201、201’)を備え、前記屈折部材の光軸(AZ)方向の厚さは、前記光軸(AZ)から離れるほど大きく設定されている。
 或いは、前記調整手段(200)は、前記2つの分岐光束が互いに近づきながら進行する箇所に配置された屈折部材(不図示)を備え、前記屈折部材(不図示)の光軸(AZ)方向の厚さは、前記光軸(AZ)から離れるほど小さく設定されている。
 したがって、第2実施形態の構造化照明装置は、前記2種類の射出光束(λ1、λ2)の間で超解像効果を共通にすることができる。
 なお、前記光源(100)は、前記2種類の射出光束(λ1、λ2)を同時又は順次に出射する。
 したがって、第2実施形態の構造化照明装置は、前記2種類の射出光束(λ1、λ2)による照明を同時又は順次に行うことができる。
 また、第2実施形態の構造化照明装置は、前記2つの集光点の位置を光軸(AZ)周りの複数の回転位置の間で切り替える切替手段(18)を更に備え、前記調整手段(200)は、前記複数の回転位置毎に用意されている。
 或いは、第2実施形態の構造化照明装置は、前記2つの集光点の位置を光軸(AZ)周りの複数の回転位置の間で切り替える第1切替手段(18)と、前記調整手段(200)の位置を前記複数の回転位置の間で切り替える第2切替手段(不図示)とを更に備える。
 また、第2実施形態の構造化照明装置は、前記干渉縞の位相をシフトさせる位相シフト手段(15A)を更に備える。
 したがって、第2実施形態の構造化照明装置は、標本(5)に投影される干渉縞の方向及び位相を切り替えることが可能である。
 また、第2実施形態の構造化照明顕微鏡装置(1)は、以上説明した何れかの構造化照明装置と、前記干渉縞で変調された前記標本(5)からの観察光束を光検出器(351、352)に結像する結像光学系(30)とを備える。
 したがって、第2実施形態の構造化照明顕微鏡装置(1)は、前記標本(5)の変調像を画像化することができる。
 また、第2実施形態の構造化照明顕微鏡装置(1)は、前記光検出器(351、352)が生成した画像に基づき前記標本(5)の復調像を演算する演算手段(40)を更に備える。
 したがって、第2実施形態の構造化照明顕微鏡装置(1)は、前記標本(5)の超解像画像を取得することができる。
 [第3実施形態]
 以下、本発明の第3実施形態として第2実施形態の変形例を説明する。ここでは、第2実施形態との相違点のみを説明する。相違点は、間隔調整部200の構成にある。
 図19は、第3実施形態の間隔調整部200を説明する図である。但し、図19では、-1次回折光束の図示を省略し、長い波長λ1の+1次回折光束と短い波長λ2の+1次回折光束とを同時に描いた。図19において、回折格子13から大角度で射出した光束が、長い波長λ1の+1次回折光束であり、回折格子13から小角度で射出した光束が、短い波長λ2の+1次回折光束である。
 図19に示すとおり、本実施形態の間隔調整部200には、1対のプリズム201、201’に加えて、1対の補助屈折部材(プリズム)202、202’とが備えられ、これらのプリズム201、201’と、プリズム202、202’とは、互いに直列の関係で順に配置される。
 先ず、上流側に配置された1対のプリズム201、201’は、光軸AZに関して対称な形状、かつ、互いに同じ材質を有している。このうち一方のプリズム201の配置先は+1次回折光束の光路であり、他方のプリズム201’の配置先は-1次回折光束の光路である。これらのプリズム201、201’の各々の光軸AZ方向の厚さは、光軸AZから離れるほど大きく設定されている。このような1対のプリズム201、201’には、第2実施形態における1対のプリズムと同様、±1次回折光束を両者の乖離量が更に大きくなるような方向へと偏向する機能がある。
 但し、本実施形態における1対のプリズム201、201’が波長λ1、λ2に与える偏向角度の差は、第2実施形態におけるそれよりも大きく、1対のプリズム201、201’を射出した直後では、短い波長λ2の光線の角度が、長い波長λ1の光線の角度よりも大きくなっているものとする。そのために、本実施形態における1対のプリズム201、201’の材質としては、波長λ1、λ2に対する分散がなるべく高いものが使用されていることが望ましい。
 次に、下流側に配置された1対のプリズム202、202’は、光軸AZに関して対称な形状、かつ、互いに同じ材質を有している。このうち一方のプリズム202の配置先は+1次回折光束の光路であり、他方のプリズム202’の配置先は-1次回折光束の光路である。これらのプリズム202、202’の各々の光軸AZ方向の厚さは、光軸AZから離れるほど小さく設定されている。このような1対のプリズム202、202’には、±1次回折光束の角度を抑え、特に、短い波長λ2の角度を強く抑えることにより、波長λ1の角度と波長λ2の角度との双方を小さな値にするという機能がある。そのために、1対のプリズム202、202’の材質としては、波長λ1、λ2に対する分散がなるべく低いものが使用されていることが望ましい。
 したがって、本実施形態では、集光レンズ16へ入射する光線の角度が、波長λ1、λ2の双方について小さな値に設定される。
 よって、本実施形態では、第2実施形態と同様の効果が得られるだけでなく、集光レンズ16として屈折力の弱いレンズを使用できるという更なる効果も得られる。
 なお、本実施形態では、下流側のプリズム202、202’の材質に上流側のプリズム201、201’の材質よりも分散の高いものを使用してしまうと、上流側のプリズム201、201’の機能を妨げてしまう。
 よって、本実施形態では、上流側のプリズム201、201’の機能を無駄にしないためにも、下流側のプリズム202、202’の材質には、上流側のプリズム201、201’の材質よりも分散の低いものが使用されることが望ましい。
 [第3実施形態の変形例]
 なお、第3実施形態も第2実施形態と同様に変形することが可能である。
 例えば、第3実施形態における間隔調整部200の配置先は、第2実施形態におけるそれと同様に変更することが可能である。
 例えば、第3実施形態における間隔調整部200の配置先を、+1次回折光束と-1次回折光束とが互いに近づきながら進行する箇所(レンズ25と視野絞り26との間)とした場合は、プリズム201、201’、202、202’の各々の形状を反転させればよい。つまり、1対のプリズム201、201’の各々の光軸AZ方向の厚さは、光軸AZから離れるほど小さく設定され、1対のプリズム202、202’の各々の光軸AZ方向の厚さは、光軸AZから離れるほど大きく設定される。
 また、第3実施形態の間隔調整部200においては、上流側のプリズム201、201’の配置先と、下流側のプリズム202、202’の配置先とを、反対にしても構わない。
 [第3実施形態の作用効果]
 以上、第3実施形態の調整手段(200)は、2つの分岐光束が互いに離れながら進行する箇所に配置された屈折部材(201、201’)を備えると共に、前記屈折部材(201、201’)の前側又は後側へ配置され、かつ前記屈折部材(201、201’)より分散の弱い補助屈折部材(202、202’)を備え、前記補助屈折部材(202、202’)の光軸(AZ)方向の厚さは、前記光軸(AZ)から離れるほど小さく設定されている。
 或いは、第3実施形態の調整手段(不図示)は、2つの分岐光束が互いに近づきながら進行する箇所に配置された屈折部材(不図示)を備えると共に、前記屈折部材(不図示)の前側又は後側へ配置され、かつ前記屈折部材(不図示)より分散の弱い補助屈折部材(不図示)を備え、前記補助屈折部材(不図示)の光軸(AZ)方向の厚さは、前記光軸(AZ)から離れるほど大きく設定されている。
 したがって、第3実施形態では、第2実施形態と同様の効果が得られるだけでなく、集光点を形成するための集光レンズ(16)として、屈折力の弱いレンズを使用できるという更なる効果も得られる。
 [第4実施形態]
 以下、本発明の第4実施形態として第2実施形態の変形例を説明する。ここでは、第2実施形態との相違点のみを説明する。相違点は、間隔調整部200の構成にある。
 図20は、第4実施形態の間隔調整部200を説明する図である。但し、図20では、-1次回折光束の図示を省略し、長い波長λ1の+1次回折光束と短い波長λ2の+1次回折光束とを同時に描いた。図20において、回折格子13から大きな回折角度で射出した光束が、長い波長λ1の+1次回折光束であり、回折格子13から小さな回折角度で射出した光束が、短い波長λ2の+1次回折光束である。
 図20に示すとおり、本実施形態の間隔調整部200には、光軸AZに関して対称な形状、かつ互いに同じ材質の1対のプリズム203、203’が備えられる。このうち一方のプリズム203の配置先は+1次回折光束の光路であり、他方のプリズム203’の配置先は-1次回折光束の光路である。これらのプリズム203、203’の各々の光軸AZ方向の厚さは、光軸AZから離れるに従って大きく設定されている。また、1対のプリズム203、203’の各々の材質としては、波長λ1、λ2に対する分散のなるべく低いものが使用される。
 さて、本実施形態では、プリズム203の光入射面、プリズム203’の光入射面に、回折光学面203a、回折光学面203a’が個別に形成されている。回折光学面203aの構造と、回折光学面203a’の構造との関係は、光軸AZに関して対称である。
 このようなプリズム203、203’は、プリズムとしての機能と、回折格子としての機能とを併せ持つ。このようなプリズム203、203’の各々は、「楔状基板に回折パターンを形成してなる回折格子」とみなすこともできる。
 これらの回折光学面203a、203a’には、回折格子13を射出した±1次回折光束の角度を抑え、特に、長い波長λ1の角度を強く抑えることにより、プリズム内部における波長λ1の角度と波長λ2の角度との双方を小さな値(例えばゼロ)にする働きがある。
 そのために、回折光学面203a、203a’の各々の構造周期は、回折格子13の構造周期と同程度に設定される。
 なお、図示省略したが、回折光学面203aでは角度の異なる各次数の回折成分が発生している。但し、本実施形態では、回折光学面203aから射出し標本5に到達できる有効な光線は、図19に示すとおり、回折格子203aで発生した-1次回折成分のみと仮定し、回折光学面203aで発生した無効な光線は無視する。
 同様に、回折光学面203a’でも各次数の回折成分が発生している。しかし、本実施形態では、回折光学面203a’から射出し標本5に到達できる有効な光線は、回折光学面203a’で発生した+1次回折成分のみと仮定し、回折光学面203a’で発生した無効な光線は無視する。
 さて、上述したとおり本実施形態では、回折光学面203a、203a’の各々の構造周期を、回折格子13の構造周期と同程度に設定した。
 したがって、プリズム内部における波長λ1の角度と、プリズム内部における波長λ2の角度との各々は、ほぼゼロとなる。
なお、回折光学面203a、203a’は、予め回折光学素子を作成し、プリズム203の光入射面、プリズム203’の光入射面に貼り付けることによって形成することも可能であるし、プリズム203の光入射面、プリズム203’の光入射面にそれぞれエッチング等により直接形成することも可能である。
また、上述したとおり、1対のプリズム203、203’の各々の光軸AZ方向の厚さは、光軸AZから離れるに従って大きく設定されており、しかも、1対のプリズム203、203’の材質の波長λ1、λ2に対する分散はなるべく低く設定されている。
 したがって、プリズムから射出する際に、波長が共通の1対の光束(図20では一方の光束は不図示。)は、互いに離れる方向へと偏向され、しかも、その偏向角度は、図20に示すとおり、波長λ1、λ2の間でほぼ共通となる。
 したがって、図20に示すとおり、集光レンズ16へ向かう光線の角度は、波長λ1、λ2の間で等しくなり、瞳共役面6A’における集光点の高さ(瞳面6Aにおける集光点の高さ)も、波長λ1、λ2の間で等しくなる。
 したがって、本実施形態においても、第2実施形態と同様の効果を得ることができる。
 なお、本実施形態では、プリズム内部における光線の角度を波長λ1、λ2の間で完全に一致させてしまうと、プリズムを射出する光線の角度が波長λ1、λ2の間で若干ずれてしまう。なぜなら、プリズムの分散を完全にゼロとすることはできないからである。
 そこで、本実施形態では、プリズムを射出した直後の角度が波長λ1、λ2の間で完全に一致するよう、回折格子203a、203a’の各々の構造周期は、回折格子13の構造周期格よりも僅かに大きく設定しておくことが望ましい。
 [第4実施形態の変形例]
 なお、第4実施形態も、第2実施形態と同様に変形することが可能である。
 例えば、第4実施形態における間隔調整部200の配置先は、第1実施形態におけるそれと同様に変更することが可能である。
 例えば、第4実施形態における間隔調整部200の配置先を、+1次回折光束と-1次回折光束とが互いに近づきながら進行する箇所(レンズ25と視野絞り26との間)とした場合は、プリズム203、203’の各々の形状を反転させればよい。つまり、1対のプリズム203、203’の各々の光軸AZ方向の厚さは、光軸AZから離れるほど小さく設定される。
 また、第4実施形態の間隔調整部200においては、回折光学面203a、203a’の形成先を、プリズム203、203’の入射面側としたが、プリズム203、203’の射出面側としてもよい。
 また、第4実施形態の間隔調整部200は、回折光学面の形成先をプリズム(楔状基板)としたが、平行平板としてもよい。但し、その場合は、平行平板から射出する光線の角度(波長λ1、λ2の光線の角度)がゼロ以外の適正値となるように、平行平板の配置姿勢と回折光学面の構造周期との組み合わせが最適化されるものとする。
 [第4実施形態の作用効果]
 以上、第4実施形態の調整手段(200)は、回折光学面(203a、203a’)を備え、前記回折光学面(203a、203a’)の構造周期は、射出光束を分岐する前記回折光学(13)の構造周期と同程度に設定されている。
 また、第4実施形態の前記調整手段(200)は、2つの分岐光束が互いに離れながら進行する箇所に配置された屈折部材(203、203’)を備え、前記屈折部材(203、203’)の表面には前記回折光学面(203a、203a’)が形成され、前記屈折部材(203、203’)の光軸(AZ)方向の厚さは、前記光軸(AZ)から離れるほど大きく設定されている。
 或いは、第4実施形態の前記調整手段(不図示)は、2つの分岐光束が互いに近づきながら進行する箇所に配置された屈折部材(不図示)と、前記屈折部材(不図示)に形成された前記回折光学素子(不図示)とを備え、前記屈折部材(不図示)の光軸(AZ)方向の厚さは、前記光軸(AZ)から離れるほど小さく設定されている。
 したがって、第4実施形態でも、第2実施形態と同様の効果を得ることができる。
 [第5実施形態]
 以下、本発明の第5実施形態として第1実施形態の変形例を説明する。ここでは、第1実施形態との相違点のみを説明する。相違点は、照明光学系に間隔調整部を備える代わりに変倍機能を搭載した点にある。
 図21は、本実施形態における構造化照明顕微鏡の概略構成図であり、図21(A)は、リレー変倍光学系が高倍端状態にあるときの様子であり、図21(B)は、リレー変倍光学系が低倍端状態にあるときの様子である。
 図21(A)、(B)では、説明に必要の無い要素、例えば波長板、光束選択部材、機構、制御装置などの要素の図示を省略した。
 図21(A)、(B)における符号Lは点光源、符号Gcはコレクタレンズ、符号Grは回折格子、符号Pは瞳共役面、符号F.S.は視野絞り、符号Gtはフィールドレンズ、符号DMはダイクロイックミラー、符号Pobは対物レンズの瞳、符号Gobは対物レンズ、符号Sは標本面、符号Giは結像レンズ(第2対物レンズ)、符号CCDは撮像面を示している。また、図21における実線は、回折格子Grと標本面Sとの共役に関する光線を示しており、破線は、点光源Lと対物レンズGobの瞳Pobとの共役に関する光線を示している。
 図21(A)、(B)において、第1レンズ群G1~第5レンズ群G5(正屈折力の第1レンズ群G1、負屈折力の第2レンズ群G2、正屈折力の第3レンズ群G3、正屈折力の第4レンズ群G4、正屈折力の第5レンズ群G5)がリレー変倍光学系を構成している。このうち、第1レンズ群G1~第4レンズ群G4は、変倍機能を有した変倍光学系であって、第5レンズ群G5は、結像機能を有した結像光学系である。なお、回折格子Grが配置されるのは、リレー変倍光学系G1~G5の前側焦点の位置である。
 さて、図21(A)、(B)に破線で示すように、光源Lからの光線は、コレクタレンズGcによって平行光となり、回折格子Grを照明する。回折格子Grからの光線は、変倍光学系(G1~G4)によって変倍された後、結像光学系(G5)によって視野絞りF.S.の位置に結像する。視野絞りF.S.からの光線は、フィールドレンズGtによって収束光となり、ダイクロイックミラーDMで反射した後、瞳Pobの位置に集光し、対物レンズGobにより平行光となって標本面Sを照射する。
 また、図21(A)、(B)に実線で示すように、標本面Sからの光線は、対物レンズGobに捕らえられ、瞳Pobを通過すると、ダイクロイックミラーDMを透過し、結像レンズGiによって撮像面CCDに結像する。
 本実施形態の構造化照明顕微鏡装置では、光源波長が長い波長λ1にセットされた場合(つまり回折格子Grにおける±1次回折光束の回折角度が大きい場合)は、リレー変倍光学系G1~G5の倍率が低くなるように第1レンズ群G1~第5レンズ群G5の各々の配置先を設定し(図21(B)参照)、光源波長が短い波長λ2にセットされた場合(つまり回折格子Grにおける±1次回折光束の回折角度が小さい場合)は、リレー変倍光学系G1~G5の倍率が高くなるように第1レンズ群G1~第5レンズ群G5の各々の配置先を設定することにより(図21(A)参照)、波長λ1、λ2の間で超解像効果を共通にすることができる。
 特に、本実施形態の構造化照明顕微鏡装置では、±1次回折光束の集光点が前述したTIRF領域に収まるようにリレー変倍光学系G1~G5の倍率(つまり第1レンズ群G1~第5レンズ群G5の各々の配置先)を制御すれば、エバネッセント場の生成条件(TIRF条件)を維持することもできる。
 また、リレー変倍光学系G1~G5に対して、波長に依存した集光位置ズレ特性を付与してもよい。この集光位置ズレ特性は、具体的には、光軸AZに直交する方向における集光位置ズレ特性である。以下、この集光位置ズレ特性を、単に「倍率色収差」という。
 この倍率色収差は、使用波長λの切り替えに依らず±1次回折光の集光点がTIRF領域に収まり続けるように設定される。
 この倍率色収差dY(λ)は、以下の条件式を満たす。
 (fo・nw -afλ/P) ≦ dY(λ) ≦ (fo・NA  - afλ/P)、
 a=1(M=1、2の場合)、
 a=2(M=3の場合)            …(2)
 但し、Mは回折格子Grが有する周期構造の方向数であり、λは複数波長の各々であり、dY(λ)は、複数波長の基準をλとしたときに、像高2f・λ/Pにおけるリレー変倍光学系G1~G5の倍率色収差である。また、foは対物レンズGobの焦点距離、fはリレー変倍光学系G1~G5の焦点距離、Pは回折格子Grの格子ピッチ、NAは対物レンズGobの開口数、nwは標本の屈折率である。
 因みに、本実施形態では細胞を標本としたので、nwは水の屈折率にほぼ等しい。また、本実施形態では回折格子Grの周期構造の方向数を3としたので、M=3である。
 以下、条件式(2)の意義を説明する。
 先ず、回折格子Grの格子ピッチがP、周期構造の方向数がMである場合、使用波長λのレーザ光に応じて回折格子Grで発生する1次回折光の回折角度θは、下記の式で表される。
 ここで、θは極めて小さいので、sinθ=θで近似する。
 θ=aλ/P、
 a=1(M=1、2の場合)、
 a=2(M=3の場合) …(3)
 また、リレー変倍光学系G1~G5が仮に無収差であって、リレー変倍光学系G1~G5の焦点距離がfであった場合、回折格子Grから回折角度θで射出した1次回折光は、瞳面上で光軸AZからの高さがYである位置に集光する。この高さYは、下記の式で表される。
 ここで、θは極めて小さいので、tanθ=θで近似する。
 Y=fθ …(4)
 また、対物レンズGobの焦点距離がfo、対物レンズGobの開口数がNAである場合、対物レンズGobの瞳半径rは下記の式で表される。
 r=foNA …(5)
 よって、使用波長λの切り替えに依らず(Y+dY(λ))が下記の条件式を満たしていれば、使用波長λの切り替えに依らず1次回折光の集光点がTIRF領域に収まり続ける。つまり、TIRF条件が維持される。
 nwfo≦Y+dY(λ)≦r …(6)
 この式(6)に式(3)(4)(5)を代入し、dYについて解くと、条件式(2)が得られる。
 以上の結果、条件式(2)は、使用波長λの切り替えに依らず±1次回折光の集光点をTIRF領域に収め続けるため(TIRF条件を維持するため)の条件式であることがわかる。
 また、本実施形態の構造化照明顕微鏡装置では、光軸(AZ)から集光点までの高さの制御に、光軸(AZ)に関して回転対称な光学系(リレー変倍光学系G1~G5)を利用するので、光軸(AZ)に関する各集光点の対称性は、確実に維持される。
 また、本実施形態の構造化照明顕微鏡装置では、光軸(AZ)から集光点までの高さの制御に、光軸(AZ)に関して回転対称な光学系(リレー変倍光学系G1~G5)を利用するので、干渉縞の方向切り替えにも対応できる。
 また、本実施形態の構造化照明顕微鏡装置では、リレー変倍光学系G1~G5の倍率を変化させても、リレー変倍光学系G1~G5の射出瞳位置が殆ど変動しないので、構造化照明顕微鏡装置のテレセントリック性は維持される。
 また、本実施形態では、変倍光学系G1~G4の瞳が、その変倍光学系G1~G4の外部(変倍光学系の後方)に位置しているので、干渉縞を制御する光学要素(前述した光束選択部など)がその瞳へ配置されても、リレー変倍光学系G1~G5の変倍の妨げにはならない。
 [第5実施形態の変形例]
 なお、第5実施形態における少なくとも1つのレンズ群は、複数のレンズで構成されても単一レンズで構成されても構わない。また、その単一レンズは、複数のレンズを接合した接合レンズであっても構わない。
 また、第5実施形態も第1実施形態と同様に変形することが可能である。
 例えば、第5実施形態では、光源波長の数の切り替え数を3以上に拡張してもよい。その場合、リレー変倍光学系G1~G5の倍率(レンズ群G1~G5の各々の配置先)の可変ステップ数を3以上とすればよい。
 また、第5実施形態では、光源波長が一定である期間にリレー変倍光学系G1~G5の倍率(第1レンズ群G1~第5レンズ群G5の各々の配置先)を可変としてもよい。
 但し、その場合であっても、前述したTIRF領域から±1次回折光束の集光点が外れないよう、リレー変倍光学系G1~G5の倍率(第1レンズ群G1~第5レンズ群G5の各々の配置先)の調整範囲を制限することが望ましい。
 このようにすれば、エバネッセント場の生成条件(TIRF条件)を維持しながら、エバネッセント場の深さ(=標本5に対するエバネッセント光の浸み出し量)を微調整することができる。
 また、制御装置39は、この微調整をユーザからの指示に応じて行うことが望ましい。これによってユーザは、エバネッセント場の深さを自由に調整することが可能となる。
 [第5実施形態の作用効果]
 以上、第5実施形態の調整手段(G1~G5)は、複数のレンズ群からなる変倍光学系であり、前記複数のレンズ群の配置は、前記2つの分岐光束の波長、つまり、前記分岐手段(Gr)が前記2つの分岐光束に与える偏向角に応じて設定される。
 したがって、第5実施形態では、第1実施形態と同様の効果を得ることができる。
[その他]
 なお、第1実施形態~第5実施形態の照明光学系10は、対物レンズ6よる落射照明光学系で構成されたが、これに限られず、対物レンズ6に代えてコンデサレンズによる透過・反射照明光学系で構成されてもよい。その場合、集光点が形成されるのは、コンデサレンズの瞳面である。
 また、上述の各実施形態の要件は、適宜組み合わせることができる。また、一部の構成要素を用いない場合もある。また、法令で許容される限りにおいて、上述の各実施形態及び変形例で引用した装置などに関する全ての公開公報及び米国特許の開示を援用して本文の記載の一部とする。
 1…構造化照明顕微鏡装置、100…レーザユニット、11…光ファイバ、10…照明光学系、30…結像光学系、35…撮像素子、39…制御装置、40…画像記憶・演算装置、45…画像表示装置、12…コレクタレンズ、23…偏光板、15…光束分岐部、16…集光レンズ、200…間隔調整部、24…光束選択部、25…レンズ、26…視野絞り、27…フィールドレンズ、28…励起フィルタ、7…ダイクロイックミラー、6…対物レンズ、5…標本、351…第1撮像素子、352…第2撮像素子

Claims (31)

  1.  光源からの射出光束を少なくとも2つの分岐光束に分岐する分岐手段と、
     前記2つの分岐光束を瞳面の互いに異なる位置へそれぞれ集光させて、前記2つの分岐光束を互いに干渉させ、その干渉縞で標本を照明する照明光学系と、
     前記照明光学系の光軸から、前記2つの分岐光束が前記瞳面に形成する2つの集光点までの高さを、調整する調整手段と、
     を備えたことを特徴とする構造化照明装置。
  2.  請求項1に記載の構造化照明装置において、
     前記調整手段は、
     前記2つの分岐光束の波長に応じた偏向角で前記2つの分岐光束を偏向する光学部材を含む
     ことを特徴とする構造化照明装置。
  3.  請求項1又は請求項2に記載の構造化照明装置において、
     前記調整手段は、
     前記2つの分岐光束の一方である第1光束の光路を偏向するための第1反射面と、前記第1反射面で偏向した前記第1光束の光路の方向を元の方向に戻すための第2反射面と、
     前記2つの分岐光束の他方である第2光束の光路を偏向するための第3反射面と、前記第3反射面で偏向した前記第2光束の光路の方向を元の方向に戻すための第4反射面とを備え、
     前記1反射面及び前記第3反射面の位置関係と、前記第2反射面及び前記第4反射面の位置関係との少なくとも一方は、可変である
     ことを特徴とする構造化照明装置。
  4.  請求項1又は請求項2に記載の構造化照明装置において、
     前記調整手段は、
     複数のレンズ群からなる変倍光学系であり、
     前記複数のレンズ群の配置は、
     前記分岐手段が前記2つの分岐光束に与える偏向角に応じて設定される
     ことを特徴とする構造化照明装置。
  5.  請求項1~請求項3の何れか一項に記載の構造化照明装置において、
     前記2つの集光点の光軸方向の位置を調整するための位置調整手段を更に備えた
     ことを特徴とする構造化照明装置。
  6.  請求項1~請求項5の何れか一項に記載の構造化照明装置において、
     前記調整手段は、
     前記2つの集光点の位置関係を前記光軸に関して対称な関係に保つ
     ことを特徴とする構造化照明装置。
  7.  請求項1~請求項6の何れか一項に記載の構造化照明装置において、
     前記分岐手段は、
     回折光学素子である
     ことを特徴とする構造化照明装置。
  8.  請求項1~請求項7の何れか一項に記載の構造化照明装置において、
     前記高さは、所定範囲内の値に調整される
     ことを特徴とする構造化照明装置。
  9.  請求項8に記載の構造化照明装置において、
     前記所定範囲とは、
     前記2つの分岐光束が前記標本の表面近傍にエバネッセント場を生成可能な範囲のことである
     ことを特徴とする構造化照明装置。
  10.  請求項8又は請求項9に記載の構造化照明装置において、
     前記高さは、
     ユーザからの指示に応じて前記所定範囲内で微調整される
     ことを特徴とする構造化照明装置。
  11.  請求項1~請求項7の何れか一項に記載の構造化照明装置において、
     前記光源は、
     前記射出光束の波長を切り替え可能であり、
     前記高さは、
     前記波長の切り替えに拘わらず所定値に調整される
     ことを特徴とする構造化照明装置。
  12.  請求項1~請求項3、請求項5の何れか一項に記載の構造化照明装置において、
     前記2つの集光点の位置を光軸の周りの複数の回転位置の間で切り替える切替手段を更に備え、
     前記調整手段は、
     前記複数の回転位置毎に用意されている
     ことを特徴とする構造化照明装置。
  13.  請求項1~請求項3、請求項5の何れか一項に記載の構造化照明装置において、
     前記2つの集光点の位置を光軸周りの複数の回転位置の間で切り替える第1切替手段と、
     前記調整手段の位置を前記複数の回転位置の間で切り替える第2切替手段と、
     を更に備えたことを特徴とする構造化照明装置。
  14.  請求項1~請求項13の何れか一項に記載の構造化照明装置において、
     前記干渉縞の位相をシフトさせる位相シフト手段を更に備えた
     ことを特徴とする構造化照明装置。
  15.  請求項1~請求項14の何れか一項に記載の構造化照明装置と、
     前記干渉縞で変調された前記標本からの観察光束を光検出器に結像する結像光学系と、
     を備えたことを特徴とする構造化照明顕微鏡装置。
  16.  請求項1又は請求項2に記載の構造化照明装置において、
     前記分岐手段は、回折光学素子であり、
     前記調整手段は、
     前記光軸から、前記2つの分岐光束が前記瞳面に形成する2つの集光点までの高さを、波長の異なる少なくとも2種類の前記射出光束の間で略一致させる
     ことを特徴とする構造化照明装置。
  17.  請求項16に記載の構造化照明装置において、
     前記調整手段は、前記2つの分岐光束の各々を偏向する部材であり、
     前記調整手段が前記2種類の射出光束に与える偏向角度の差は、前記回折光学素子が前記2種類の射出光束に与える回折角度の差を相殺する値に設定されている
     ことを特徴とする構造化照明装置。
  18.  請求項16又は請求項7に記載の構造化照明装置において、
     前記調整手段の配置先は、前記2つの分岐光束が空間的に分離した箇所である
     ことを特徴とする構造化照明装置。
  19.  請求項18に記載の構造化照明装置において、
     前記調整手段は、前記2つの分岐光束が互いに離れながら進行する箇所に配置された屈折部材を備え、
     前記屈折部材の光軸方向の厚さは、前記光軸から離れるほど大きく設定される
     ことを特徴とする構造化照明装置。
  20.  請求項18に記載の構造化照明装置において、
     前記調整手段は、前記2つの分岐光束が互いに近づきながら進行する箇所に配置された屈折部材を備え、
     前記屈折部材の光軸方向の厚さは、前記光軸から離れるほど小さく設定される
     ことを特徴とする構造化照明装置。
  21.  請求項19に記載の構造化照明装置において、
     前記調整手段は、前記屈折部材の前側又は後側へ配置され、かつ前記屈折部材より分散の弱い補助屈折部材を更に備え、
     前記補助屈折部材の光軸方向の厚さは、前記光軸から離れるほど小さく設定される
     ことを特徴とする構造化照明装置。
  22.  請求項20に記載の構造化照明装置において、
     前記調整手段は、前記屈折部材の前側又は後側へ配置され、かつ前記屈折部材より分散の弱い補助屈折部材を更に備え、
     前記補助屈折部材の光軸方向の厚さは、前記光軸から離れるほど大きく設定される
     ことを特徴とする構造化照明装置。
  23.  請求項18に記載の構造化照明装置において、
     前記調整手段は、回折光学面を備え、
     前記調整手段における前記回折光学面の構造周期は、前記射出光束を分岐する前記回折光学素子の構造周期と同程度に設定される
     ことを特徴とする構造化照明装置。
  24.  請求項23に記載の構造化照明装置において、
     前記調整手段は、前記2つの分岐光束が互いに離れながら進行する箇所に配置された屈折部材を備え、
     前記屈折部材の表面には、前記回折光学面が形成され、前記屈折部材の光軸方向の厚さは、前記光軸から離れるほど大きく設定される
     ことを特徴とする構造化照明装置。
  25.  請求項23に記載の構造化照明装置において、
     前記調整手段は、前記2つの分岐光束が互いに近づきながら進行する箇所に配置された屈折部材を備え、
     前記屈折部材の表面には、前記回折光学面が形成され、前記屈折部材の光軸方向の厚さは、前記光軸から離れるほど小さく設定される
     ことを特徴とする構造化照明装置。
  26.  請求項16~請求項25の何れか一項に記載の構造化照明装置において、
     前記光源は、
     前記2種類の射出光束を同時又は順次に出射する
     ことを特徴とする構造化照明装置。
  27.  請求項16~請求項26の何れか一項に記載の構造化照明装置において、
     前記2つの集光点の位置を光軸周りの複数の回転位置の間で切り替える切替手段を更に備え、
     前記調整手段は、
     前記複数の回転位置毎に用意されている
     ことを特徴とする構造化照明装置。
  28.  請求項16~請求項26の何れか一項に記載の構造化照明装置において、
     前記2つの集光点の位置を光軸周りの複数の回転位置の間で切り替える第1切替手段と、
     前記調整手段の位置を前記複数の回転位置の間で切り替える第2切替手段と、
     を更に備えたことを特徴とする構造化照明装置。
  29.  請求項16~請求項28の何れか一項に記載の構造化照明装置において、
     前記干渉縞の位相をシフトさせる位相シフト手段を更に備えた
     ことを特徴とする構造化照明装置。
  30.  請求項16~請求項29の何れか一項に記載の構造化照明装置と、
     前記干渉縞で変調された前記標本からの観察光束を光検出器に結像する結像光学系と、
     を備えたことを特徴とする構造化照明顕微鏡装置。
  31.  請求項30に記載の構造化照明顕微鏡装置において、
     前記光検出器が生成した画像に基づき前記標本の復調像を演算する演算手段を更に備えた
     ことを特徴とする構造化照明顕微鏡装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014017067A1 (ja) * 2012-07-27 2014-01-30 株式会社ニコン 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡
JP2014137501A (ja) * 2013-01-17 2014-07-28 Nikon Corp 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置
WO2015033514A1 (ja) * 2013-09-06 2015-03-12 株式会社ニコン 照明装置及び構造化照明顕微鏡装置
JP2015049467A (ja) * 2013-09-04 2015-03-16 株式会社ニコン 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置
JP2015052673A (ja) * 2013-09-06 2015-03-19 株式会社ニコン 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置
JP2015064438A (ja) * 2013-09-24 2015-04-09 株式会社ニコン 構造化照明顕微鏡装置
WO2015052936A1 (ja) * 2013-10-09 2015-04-16 株式会社ニコン 構造化照明顕微鏡装置
JP2015099177A (ja) * 2013-11-18 2015-05-28 株式会社ニコン 構造化照明装置、および構造化照明顕微鏡装置
JP2015125084A (ja) * 2013-12-27 2015-07-06 セイコーエプソン株式会社 蛍光観察装置、及び光学部材
JP2015141395A (ja) * 2014-01-30 2015-08-03 オリンパス株式会社 顕微鏡照明装置、顕微鏡照明方法および顕微鏡
JP2015230439A (ja) * 2014-06-06 2015-12-21 株式会社ニコン 照明光学系、顕微鏡装置、及び照明方法
JP2016061967A (ja) * 2014-09-18 2016-04-25 オリンパス株式会社 顕微鏡照明装置、顕微鏡照明方法および顕微鏡
JP2018523100A (ja) * 2015-05-20 2018-08-16 フェイスブック,インク. ポリゴンを用いて光パターンを生成するための方法およびシステム
WO2019136290A1 (en) * 2018-01-08 2019-07-11 Illumina, Inc. Multiplexing of an active sensor detector using structured illumination
US10352862B2 (en) 2014-08-18 2019-07-16 Nanophoton Corporation Raman spectroscopic microscope and Raman scattered light observation method
DE102018108657A1 (de) 2018-04-12 2019-10-17 Jenoptik Optical Systems Gmbh Mikroskop mit strukturierter Beleuchtung
KR20200021473A (ko) * 2018-01-08 2020-02-28 일루미나, 인코포레이티드 구조화 조명을 이용한 능동센서 감지기의 다중화

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013108626A1 (ja) * 2012-01-18 2013-07-25 株式会社ニコン 構造化照明装置、構造化照明顕微鏡装置、構造化照明方法
JP5888416B2 (ja) * 2012-07-19 2016-03-22 株式会社ニコン 構造化照明顕微鏡装置
DE102014119255A1 (de) 2014-12-19 2016-06-23 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zur lichtblattmikroskopischen Untersuchung einer Probe
JP6940413B2 (ja) 2015-12-03 2021-09-29 浜松ホトニクス株式会社 検査装置及び検査方法
WO2017103976A1 (ja) * 2015-12-14 2017-06-22 オリンパス株式会社 観察装置
DE102016119727A1 (de) * 2016-10-17 2018-04-19 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Vorrichtung zur Strahlmanipulation für ein Scanning-Mikroskop und Mikroskop
EP3683611A4 (en) * 2017-09-12 2021-06-09 Nikon Corporation MICROSCOPE AND OBSERVATION PROCEDURE
SG11201911784PA (en) 2018-01-08 2020-01-30 Illumina Inc Systems and devices for high-throughput sequencing with semiconductor-based detection
US11561196B2 (en) 2018-01-08 2023-01-24 Illumina, Inc. Systems and devices for high-throughput sequencing with semiconductor-based detection
NL2020620B1 (en) * 2018-01-16 2019-07-25 Illumina Inc Pattern angle spatial selection structured illumination imaging
NL2020622B1 (en) * 2018-01-24 2019-07-30 Lllumina Cambridge Ltd Reduced dimensionality structured illumination microscopy with patterned arrays of nanowells
US11609084B2 (en) * 2020-02-24 2023-03-21 The Government Of The United States Of America, As Represented By The Secretary Of The Navy 3D printed mechanical testing device for micro-scale material specimens
DE102022103051A1 (de) 2022-02-09 2023-08-10 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Vorrichtung für die mikroskopie mit strukturierter beleuchtung, verfahren zum beleuchten einer probe und verfahren zur mikroskopie mit strukturierter beleuchtung
WO2024102496A1 (en) * 2022-11-12 2024-05-16 Lumencor, Inc. Confocal microscopy system with free-space optics linkage

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11242189A (ja) * 1997-12-25 1999-09-07 Olympus Optical Co Ltd 像形成法、像形成装置
JP2006268004A (ja) * 2005-02-25 2006-10-05 Nikon Corp 顕微鏡装置
WO2007043382A1 (ja) * 2005-10-07 2007-04-19 Nikon Corporation 顕微鏡装置及び画像生成方法
JP2009063666A (ja) * 2007-09-04 2009-03-26 Olympus Corp 顕微鏡
JP2009098215A (ja) * 2007-10-12 2009-05-07 Nikon Corp 顕微鏡装置、及び顕微鏡装置における位相変化量の算出方法。
WO2011135819A1 (ja) * 2010-04-26 2011-11-03 株式会社ニコン 構造化照明顕微鏡装置
US8115806B2 (en) 2005-03-30 2012-02-14 Nikon Corporation Image forming method and microscope device

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6384967B1 (en) * 1998-09-11 2002-05-07 Olympus Optical Co., Ltd. Illumination apparatus for a microscope
DE10155002A1 (de) * 2001-11-08 2003-05-22 Zeiss Carl Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur tiefenaufgelösten optischen Erfassung einer Probe
DE10144243A1 (de) * 2001-09-05 2003-03-20 Zeiss Carl Zoom-System für eine Beleuchtungseinrichtung
US6960035B2 (en) * 2002-04-10 2005-11-01 Fuji Photo Film Co., Ltd. Laser apparatus, exposure head, exposure apparatus, and optical fiber connection method
JP2004347777A (ja) * 2003-05-21 2004-12-09 Olympus Corp 全反射蛍光顕微鏡
US7283209B2 (en) * 2004-07-09 2007-10-16 Carl Zeiss Smt Ag Illumination system for microlithography
DE102004034991A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Zoomoptik für ein Lichtrastermikroskop
DE102004034962A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-16 Carl Zeiss Jena Gmbh Mikroskop mit erhöhter Auflösung
US20080158668A1 (en) * 2005-10-07 2008-07-03 Nikon Corporation Microscope and Image Generation Method
JP4844137B2 (ja) * 2006-01-30 2011-12-28 株式会社ニコン 顕微鏡装置
DE102006047912A1 (de) * 2006-10-06 2008-04-10 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren und Anordnung zur parallelisierten mikroskopischen Bildgebung
JP5206681B2 (ja) * 2007-09-05 2013-06-12 株式会社ニコン 構造化照明顕微鏡装置
FR2922658B1 (fr) * 2007-10-18 2011-02-04 Centre Nat Rech Scient Systeme d'illuminations structuree d'un echantillon
US8379187B2 (en) * 2007-10-24 2013-02-19 Nikon Corporation Optical unit, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US8537461B2 (en) * 2007-11-26 2013-09-17 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Method and configuration for the optical detection of an illuminated specimen
JP5028249B2 (ja) * 2007-12-25 2012-09-19 オリンパス株式会社 顕微鏡
JP5344588B2 (ja) 2009-03-27 2013-11-20 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理装置の制御方法、及び制御プログラム
DE102009037366A1 (de) * 2009-08-13 2011-02-17 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Mikroskop, insbesondere zur Messung von Totalreflexions-Fluoreszenz, und Betriebsverfahren für ein solches
JP5549740B2 (ja) * 2010-10-14 2014-07-16 株式会社ニコン 構造化照明装置、構造化照明顕微鏡装置、及び面形状測定装置
DE102010044013A1 (de) * 2010-11-16 2012-05-16 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Tiefenauflösungsgesteigerte Mikroskopie
WO2013108626A1 (ja) * 2012-01-18 2013-07-25 株式会社ニコン 構造化照明装置、構造化照明顕微鏡装置、構造化照明方法
JP5888416B2 (ja) * 2012-07-19 2016-03-22 株式会社ニコン 構造化照明顕微鏡装置
JP5915748B2 (ja) * 2012-07-27 2016-05-11 株式会社ニコン 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11242189A (ja) * 1997-12-25 1999-09-07 Olympus Optical Co Ltd 像形成法、像形成装置
US6239909B1 (en) 1997-12-25 2001-05-29 Olympus Optical Co. Ltd. Image-forming method and image-forming apparatus
JP2006268004A (ja) * 2005-02-25 2006-10-05 Nikon Corp 顕微鏡装置
US8115806B2 (en) 2005-03-30 2012-02-14 Nikon Corporation Image forming method and microscope device
WO2007043382A1 (ja) * 2005-10-07 2007-04-19 Nikon Corporation 顕微鏡装置及び画像生成方法
JP2009063666A (ja) * 2007-09-04 2009-03-26 Olympus Corp 顕微鏡
JP2009098215A (ja) * 2007-10-12 2009-05-07 Nikon Corp 顕微鏡装置、及び顕微鏡装置における位相変化量の算出方法。
WO2011135819A1 (ja) * 2010-04-26 2011-11-03 株式会社ニコン 構造化照明顕微鏡装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP2806262A4

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014017067A1 (ja) * 2012-07-27 2014-01-30 株式会社ニコン 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡
JP2014137501A (ja) * 2013-01-17 2014-07-28 Nikon Corp 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置
JP2015049467A (ja) * 2013-09-04 2015-03-16 株式会社ニコン 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置
JPWO2015033514A1 (ja) * 2013-09-06 2017-03-02 株式会社ニコン 照明装置及び構造化照明顕微鏡装置
WO2015033514A1 (ja) * 2013-09-06 2015-03-12 株式会社ニコン 照明装置及び構造化照明顕微鏡装置
JP2015052673A (ja) * 2013-09-06 2015-03-19 株式会社ニコン 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置
JP2015064438A (ja) * 2013-09-24 2015-04-09 株式会社ニコン 構造化照明顕微鏡装置
WO2015052936A1 (ja) * 2013-10-09 2015-04-16 株式会社ニコン 構造化照明顕微鏡装置
JP2015099177A (ja) * 2013-11-18 2015-05-28 株式会社ニコン 構造化照明装置、および構造化照明顕微鏡装置
JP2015125084A (ja) * 2013-12-27 2015-07-06 セイコーエプソン株式会社 蛍光観察装置、及び光学部材
JP2015141395A (ja) * 2014-01-30 2015-08-03 オリンパス株式会社 顕微鏡照明装置、顕微鏡照明方法および顕微鏡
JP2015230439A (ja) * 2014-06-06 2015-12-21 株式会社ニコン 照明光学系、顕微鏡装置、及び照明方法
US10352862B2 (en) 2014-08-18 2019-07-16 Nanophoton Corporation Raman spectroscopic microscope and Raman scattered light observation method
JP2016061967A (ja) * 2014-09-18 2016-04-25 オリンパス株式会社 顕微鏡照明装置、顕微鏡照明方法および顕微鏡
JP2018523100A (ja) * 2015-05-20 2018-08-16 フェイスブック,インク. ポリゴンを用いて光パターンを生成するための方法およびシステム
WO2019136290A1 (en) * 2018-01-08 2019-07-11 Illumina, Inc. Multiplexing of an active sensor detector using structured illumination
KR20200021473A (ko) * 2018-01-08 2020-02-28 일루미나, 인코포레이티드 구조화 조명을 이용한 능동센서 감지기의 다중화
KR102296574B1 (ko) 2018-01-08 2021-09-01 일루미나, 인코포레이티드 구조화 조명을 이용한 능동센서 감지기의 다중화
DE102018108657A1 (de) 2018-04-12 2019-10-17 Jenoptik Optical Systems Gmbh Mikroskop mit strukturierter Beleuchtung
DE102018108657B4 (de) 2018-04-12 2024-03-28 Jenoptik Optical Systems Gmbh Vorrichtung zur Aufnahme wenigstens eines mikroskopischen Bildes und Verfahren zur Aufnahme eines mikroskopischen Bildes

Also Published As

Publication number Publication date
US10222599B2 (en) 2019-03-05
JP5900515B2 (ja) 2016-04-06
JPWO2013108626A1 (ja) 2015-05-11
EP2806262A1 (en) 2014-11-26
US20190146201A1 (en) 2019-05-16
EP2806262A4 (en) 2015-09-23
US10802259B2 (en) 2020-10-13
US20140320957A1 (en) 2014-10-30

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