JP6264377B2 - 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置 - Google Patents
構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6264377B2 JP6264377B2 JP2015527148A JP2015527148A JP6264377B2 JP 6264377 B2 JP6264377 B2 JP 6264377B2 JP 2015527148 A JP2015527148 A JP 2015527148A JP 2015527148 A JP2015527148 A JP 2015527148A JP 6264377 B2 JP6264377 B2 JP 6264377B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical system
- wavelength
- structured illumination
- light beam
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000005286 illumination Methods 0.000 title claims description 173
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 303
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 claims description 53
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 27
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 25
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 claims description 4
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 claims 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 66
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 34
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 30
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 23
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 22
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 15
- 230000006870 function Effects 0.000 description 14
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 10
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 8
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 7
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 4
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 4
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 4
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 239000007850 fluorescent dye Substances 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 1
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000008707 rearrangement Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- 238000010865 video microscopy Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0032—Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/6428—Measuring fluorescence of fluorescent products of reactions or of fluorochrome labelled reactive substances, e.g. measuring quenching effects, using measuring "optrodes"
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
- G01N21/6456—Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
- G01N21/6458—Fluorescence microscopy
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0076—Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/16—Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
- G02B21/365—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
- G02B21/367—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes providing an output produced by processing a plurality of individual source images, e.g. image tiling, montage, composite images, depth sectioning, image comparison
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/58—Optics for apodization or superresolution; Optical synthetic aperture systems
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/6428—Measuring fluorescence of fluorescent products of reactions or of fluorochrome labelled reactive substances, e.g. measuring quenching effects, using measuring "optrodes"
- G01N2021/6439—Measuring fluorescence of fluorescent products of reactions or of fluorochrome labelled reactive substances, e.g. measuring quenching effects, using measuring "optrodes" with indicators, stains, dyes, tags, labels, marks
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/063—Illuminating optical parts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/063—Illuminating optical parts
- G01N2201/0638—Refractive parts
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
但し、Mは前記回折部材が有する周期構造の方向数であり、λは前記複数の波長の各々であり、dY(λ)は、前記複数の波長の基準波長をλ0としたとき、基準波長λ0の像高2f・λ0/Pと、前記複数の波長の各々の波長λの像高2f・λ/Pとの差であり、foは前記第1の光学系の波長λの焦点距離、fは前記第2の光学系の波長λの焦点距離、Pは前記回折部材の構造周期、NAは前記第1の光学系の開口数であり、nwは標本の波長λの屈折率である。
以下、本発明の第1実施形態として構造化照明顕微鏡装置を説明する。
したがって、レーザ光の波長λを変更すると、集光点25d、25gの位置にズレが生じる。
このとき、1/2波長板19を通過する前における各次数の回折光束の偏光方向は、図4(B)中に破線両矢線で示すとおり、偏光板13の軸の方向と平行となっているのに対し、1/2波長板19を通過した後における各次数の回折光束の偏光方向は、右方に回転角θ2だけ回転するので、選択された±1次回折光束の偏光方向は、図4(B)に実線両矢印で示すとおり、それら±1次回折光束の分岐方向(第2方向V2)に対して垂直となる。
因みに、干渉縞の位相シフト量φを2πとするために必要な回折格子16のx方向のシフト量Lは、P/(a×2×|cosθ|)となる。これは、回折格子16の半周期に相当する量である。つまり、回折格子16を半周期分シフトさせるだけで、構造化照明光の位相を1周期分シフトできる(なぜなら、±1次回折光からなる干渉縞の縞周期は、回折格子16の構造周期の2倍に相当する。)。
a=1(M=1、2の場合)、
a=2(M=3の場合) …(2)
但し、dY(λ)は、使用波長λの基準波長をλ0としたときに、像高2f・λ0/Pにおける集光光学系の波長λでの倍率色収差である。また、foは対物レンズ31の焦点距離、fは集光光学系(レンズ17、21、23)の全系の焦点距離、Pは回折格子16の構造周期、NAは対物レンズ31の開口数、Mは回折格子16が有する周期構造の方向数、nwは標本2の屈折率である。
a=1(M=1、2の場合)、
a=2(M=3の場合) …(3)
また、集光光学系(レンズ17、21、23)が仮に無収差であって、集光光学系(レンズ17、21、23)の焦点距離がfであった場合、回折格子16から回折角度θで射出した1次回折光は、瞳面32上で光軸Oからの高さがYである位置に集光する。この高さYは、下記の式で表される。
また、対物レンズ31の焦点距離がfo、対物レンズ31の開口数がNAである場合、対物レンズ31の瞳半径rは下記の式で表される。
よって、使用波長λの切り替えに依らず(Y+dY(λ))が下記の条件式を満たしていれば、使用波長λの切り替えに依らず1次回折光の集光点がTIRF領域に収まり続ける。つまり、TIRF条件が維持される。
この式(6)に式(3)(4)(5)を代入し、dYについて解くと、条件式(2)が得られる。
SR=(fo×NA+d)/(fo×NA)…(10)である。
SR={fo×NA+(a×f/P)×λ}/(fo×NA)
と書き換えられ、超解像効果SRにλ依存性が残ることがわかる。このため、従来の構造化照明顕微鏡装置では、使用波長λが切り替わると、超解像効果SR=(R+K)/Rが変化していた。
以下、本発明の第2実施形態として構造化照明顕微鏡装置を説明する。
(0.75fo・NA -afλ/P) ≦ dY(λ) ≦ (fo ・NA - afλ/P)、
a=1(M=1、2の場合)、
a=2(M=3の場合)
但し、Mは回折格子16が有する周期構造の方向数であり、λは使用波長であり、dY(λ)は、使用波長λの基準波長をλ0としたときに、像高2f・λ0/Pにおける集光光学系の波長λでの倍率色収差である。また、foは対物レンズ31の焦点距離、fは集光光学系の全系の焦点距離、Pは回折格子16の構造周期、NAは対物レンズ31の開口数である。
以下、本発明の第3実施形態として構造化照明顕微鏡装置を説明する。
a=1(M=1、2の場合)、
a=2(M=3の場合) …(2)
但し、dY(λ)は、使用波長λの基準波長をλ0としたときに、像高2f・λ0/Pにおける集光光学系の波長λでの倍率色収差である。また、foは対物レンズ31の焦点距離、fは集光光学系(レンズ317、321、323)の全系の焦点距離、Pは回折格子16の構造周期、NAは対物レンズ31の開口数、Mは回折格子16が有する周期構造の方向数、nwは標本2の屈折率である。
なお、上述した実施形態では、標本2に入射する±1次回折光束をS偏光に保つために、光軸の周りを回動可能な1/2波長板19を使用したが、固定配置された1/4波長板と光軸の周りを回動可能な1/4波長板とを使用してもよい。但し、その場合は、第1の基準位置を基準とした1/4波長板の回転位置は、第2の基準位置を基準とした光束選択部材20の回転位置と同じに設定される。
上述した実施形態の構造化照明装置(レーザユニット100、光ファイバ11、照明光学系10)は、複数の波長の光を同時又は順次に射出する光源(レーザユニット100)から射出された光を回折する回折部材(回折格子16)と、前記回折部材(回折格子16)で回折された回折光の少なくとも一部を干渉させて干渉縞を標本面に形成する光学系(照明光学系10)とを備え、前記光学系(照明光学系10)は、第1の光学系(対物レンズ31)と、前記回折光の少なくとも一部を前記第1の光学系(対物レンズ31)の瞳面(32)又は瞳近傍面へ集光させる第2の光学系(集光光学系17、21、23、317、321、323)とを含み、前記複数の波長に対する前記第2の光学系の倍率特性dY(λ)は、以下の条件を満たす。
但し、Mは前記回折部材が有する周期構造の方向数であり、λは前記複数の波長の各々であり、dY(λ)は、前記複数の波長の基準波長をλ0としたとき、基準波長λ0の像高2f・λ0/Pと、前記複数の波長の各々の波長λの像高2f・λ/Pとの差であり、foは前記第1の光学系の波長λの焦点距離、fは前記第2の光学系の波長λの焦点距離、Pは前記回折部材の構造周期、NAは前記第1の光学系の開口数であり、nwは標本の波長λの屈折率である。
以下、復調演算の例を説明する。
また、ここでは、2D−SIMモードについて説明したが、3D−SIMモードにおいては、変調画像に重畳される変調成分が、−2次変調成分、−1次変調成分、0次変調成分、+1次変調成分、+2次変調成分の5種類になるので(すなわち、l=−2、−1、0、+1、+2となるので)、これらの変調成分を互いに分離すればよい。よって、3D−SIMモードでは、例えば、位相数Nmaxを5以上として、一連の変調画像のフレーム数を増やせばよい。
[その他]
なお、上述の各実施形態の要件は、適宜組み合わせることができる。また、一部の構成要素を用いない場合もある。また、法令で許容される限りにおいて、上述の各実施形態及び変形例で引用した装置などに関する全ての公開公報及び米国特許の開示を援用して本文の記載の一部とする。
Claims (14)
- 複数の波長の光を同時又は順次に射出する光源から射出された光を回折する回折部材と、
前記回折部材で回折された回折光の少なくとも2つを干渉させて干渉縞を標本面に形成する光学系とを備え、
前記光学系は、第1の光学系と、前記回折光の少なくとも2つを前記第1の光学系の瞳面又は瞳近傍面へ集光させる第2の光学系とを含み、
前記複数の波長に対する前記第2の光学系の倍率特性dY(λ)は、以下の条件を満たす
(fo・nw−afλ/P) ≦ dY(λ) ≦ (fo・NA −afλ/P)、
a=1(M=1、2の場合)、
a=2(M=3の場合)
構造化照明装置。
但し、Mは前記回折部材が有する周期構造の方向数であり、λは前記複数の波長の各々であり、dY(λ)は、前記複数の波長の基準波長をλ0としたとき、基準波長λ0の像高2f・λ0/Pと、前記複数の波長の各々の波長λの像高2f・λ/Pとの差であり、foは前記第1の光学系の波長λの焦点距離、fは前記第2の光学系の波長λの焦点距離、Pは前記回折部材の構造周期、NAは前記第1の光学系の開口数であり、nwは標本の波長λの屈折率である。 - 請求項1に記載の構造化照明装置において、
前記回折部材は、光路に対して挿脱可能であり、
前記第2の光学系は、前記倍率特性の異なる別の第2の光学系へと交換可能である
構造化照明装置。 - 請求項2に記載の構造化照明装置において、
前記第2の光学系の交換対象は、前記第2の光学系の一部の要素である
構造化照明装置。 - 請求項2又は請求項3に記載の構造化照明装置において、
前記第2の光学系のうち少なくとも交換対象となる要素は、接合レンズによって構成される
構造化照明装置。 - 請求項1〜請求項4の何れか一項に記載の構造化照明装置において、
前記回折部材の前記構造周期を切り替える制御部を更に備える
構造化照明装置。 - 請求項1〜請求項5の何れか一項に記載の構造化照明装置において、
前記回折光の少なくとも一部の集光位置を前記第1の光学系の光軸方向に調整するための位置調整部を更に備える
構造化照明装置。 - 請求項1〜請求項6の何れか一項に記載の照明装置において、
前記干渉縞の位相をシフトさせるための位相シフト部を更に備える
構造化照明装置。 - 請求項1〜請求項7の何れか一項に記載の構造化照明装置において、
前記回折部材は、前記光学系の光軸に垂直な面内の互いに異なる複数の方向に亘って周期構造を有し、
前記回折部材で回折された前記複数の方向の回折光のうち所定の方向の回折光のみを選択する光選択部を更に備える
構造化照明装置。 - 請求項1〜請求項7の何れか一項に記載の構造化照明装置において、
前記回折部材は、前記光学系の光軸に垂直な面内の単一方向に亘って周期構造を有し、
前記回折光を前記光軸の周りに回転させる回転部を更に備える
構造化照明装置。 - 請求項1〜請求項9の何れか一項に記載の構造化照明装置において、
前記複数の波長は、400nmから700nmの波長範囲内に収められる
構造化照明装置。 - 請求項1〜請求項10の何れか一項に記載の構造化照明装置において、
前記回折部材と前記瞳面との間の光路に対して光学部材を挿脱することにより、標本を照明する光を、前記干渉縞による構造化照明光と、前記光源とは異なる第2光源を利用した別の照明光との間で切り換える切換部を更に備える
構造化照明装置。 - 請求項1〜請求項11の何れか一項に記載の構造化照明装置と、
前記干渉縞で変調された前記標本からの観察光を光検出器に結像する結像光学系と、
構造化照明顕微鏡装置。 - 請求項12に記載の構造化照明顕微鏡装置において、
前記光検出器が生成した画像に基づき前記標本の復調像を演算する演算部を更に備えた
構造化照明顕微鏡装置。 - 複数の波長の光を同時又は順次に射出する光源から射出された光を回折する回折部材と、
前記回折部材で回折された回折光の少なくとも2つを干渉させて干渉縞を標本面に形成する光学系とを備え、
前記光学系は、第1の光学系と、前記回折光の少なくとも2つを前記第1の光学系の瞳面又は瞳近傍面へ集光させる第2の光学系とを含み、
前記複数の波長に対する前記第2の光学系の倍率特性dY(λ)は、以下の条件を満たす
(0.75fo・NA−afλ/P) ≦ dY(λ) ≦ (fo・NA−afλ/P)、
a=1(M=1、2の場合)、
a=2(M=3の場合)
構造化照明装置。
但し、Mは前記回折部材が有する周期構造の方向数であり、λは前記複数の波長の各々であり、dY(λ)は、前記複数の波長の基準波長をλ0としたとき、基準波長λ0の像高2f・λ0/Pと、前記複数の波長の各々の波長λの像高2f・λ/Pとの差であり、foは前記第1の光学系の波長λの焦点距離、fは前記第2の光学系の波長λの焦点距離、Pは前記回折部材の構造周期、NAは前記第1の光学系の開口数である。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013148730 | 2013-07-17 | ||
JP2013148730 | 2013-07-17 | ||
PCT/JP2014/002855 WO2015008415A1 (ja) | 2013-07-17 | 2014-05-29 | 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2015008415A1 JPWO2015008415A1 (ja) | 2017-03-02 |
JP6264377B2 true JP6264377B2 (ja) | 2018-01-24 |
Family
ID=52345901
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015527148A Expired - Fee Related JP6264377B2 (ja) | 2013-07-17 | 2014-05-29 | 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9897790B2 (ja) |
JP (1) | JP6264377B2 (ja) |
WO (1) | WO2015008415A1 (ja) |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6270615B2 (ja) * | 2014-05-02 | 2018-01-31 | オリンパス株式会社 | 標本像データ生成装置、及び、標本像データ生成方法 |
WO2016125281A1 (ja) * | 2015-02-05 | 2016-08-11 | 株式会社ニコン | 構造化照明顕微鏡、観察方法、及び制御プログラム |
US10989661B2 (en) * | 2015-05-01 | 2021-04-27 | The Board Of Regents Of The University Of Texas System | Uniform and scalable light-sheets generated by extended focusing |
US9774765B2 (en) * | 2015-09-15 | 2017-09-26 | Mitutoyo Corporation | Chromatic aberration correction in imaging system including variable focal length lens |
US10257918B2 (en) * | 2015-09-28 | 2019-04-09 | Kla-Tencor Corporation | System and method for laser-sustained plasma illumination |
JP6692660B2 (ja) * | 2016-03-01 | 2020-05-13 | 株式会社Screenホールディングス | 撮像装置 |
WO2017180680A1 (en) | 2016-04-12 | 2017-10-19 | The Board Of Regents Of The University Of Texas System | LIGHT-SHEET MICROSCOPE WITH PARALLELIZED 3D lMAGE ACQUISITION |
JP6797574B2 (ja) * | 2016-06-16 | 2020-12-09 | オリンパス株式会社 | 走査型顕微鏡 |
LU93117B1 (de) * | 2016-06-23 | 2018-01-24 | Leica Microsystems | Beleuchtungsvorrichtung für ein Mikroskop |
EP3330763A1 (en) * | 2016-12-05 | 2018-06-06 | Gnothis AB | Apparatus for characterizing luminescent entities |
CN106547079B (zh) * | 2017-01-17 | 2018-11-20 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 实时三维激光荧光显微成像装置 |
JP7054266B2 (ja) | 2017-10-02 | 2022-04-13 | ナノトロニクス イメージング インコーポレイテッド | 顕微鏡撮像における口径食を低減するための装置および方法 |
WO2019164452A1 (en) * | 2018-02-22 | 2019-08-29 | Agency For Science, Technology And Research | Methods and apparatus for fluorescence microscopy |
US10876972B2 (en) * | 2018-05-30 | 2020-12-29 | Jackson State University | Full scale Raman imaging for early caries detection |
DE102018113054A1 (de) * | 2018-05-31 | 2019-12-05 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren zur Beleuchtung von Proben in mikroskopischen Abbildungsverfahren |
US10901202B2 (en) | 2018-09-19 | 2021-01-26 | Illumina, Inc. | Structured illumination of a sample |
FR3096146B1 (fr) * | 2019-05-16 | 2022-07-29 | Univ Grenoble Alpes | Dispositif de creation d’un champ evanescent a motifs sur une surface et procede associe |
JP2022069273A (ja) * | 2020-10-23 | 2022-05-11 | 株式会社リガク | 結像型x線顕微鏡 |
CN113406111B (zh) * | 2021-05-31 | 2022-09-23 | 清华大学深圳国际研究生院 | 一种基于结构光场视频流的缺陷检测方法和装置 |
KR102628867B1 (ko) * | 2021-06-14 | 2024-01-25 | 연세대학교 산학협력단 | 구조조명 현미경 시스템 및 그 제어방법 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5424552A (en) * | 1991-07-09 | 1995-06-13 | Nikon Corporation | Projection exposing apparatus |
US6304317B1 (en) * | 1993-07-15 | 2001-10-16 | Nikon Corporation | Projection apparatus and method |
US5671085A (en) | 1995-02-03 | 1997-09-23 | The Regents Of The University Of California | Method and apparatus for three-dimensional microscopy with enhanced depth resolution |
JP3718397B2 (ja) * | 2000-01-07 | 2005-11-24 | ペンタックス株式会社 | マルチビーム光学系 |
JP4158757B2 (ja) * | 2003-12-24 | 2008-10-01 | セイコーエプソン株式会社 | 光学表示装置及び投射型表示装置 |
WO2005121862A1 (ja) * | 2004-06-14 | 2005-12-22 | Olympus Corporation | 光走査型顕微鏡観察装置 |
US8115806B2 (en) * | 2005-03-30 | 2012-02-14 | Nikon Corporation | Image forming method and microscope device |
US20080204682A1 (en) * | 2005-06-28 | 2008-08-28 | Nikon Corporation | Exposure method and exposure apparatus, and device manufacturing method |
EP1936422A4 (en) * | 2005-10-13 | 2013-01-16 | Nikon Corp | MICROSCOPE |
JP5136422B2 (ja) * | 2006-12-12 | 2013-02-06 | 株式会社ニコン | 顕微鏡装置及び画像処理方法 |
JP2009098215A (ja) * | 2007-10-12 | 2009-05-07 | Nikon Corp | 顕微鏡装置、及び顕微鏡装置における位相変化量の算出方法。 |
JP2009157084A (ja) * | 2007-12-26 | 2009-07-16 | Nikon Corp | 顕微鏡装置 |
DE102008049878A1 (de) * | 2008-09-30 | 2010-04-01 | Carl Zeiss Microlmaging Gmbh | Verbesserte Verfahren und Vorrichtungen für die Mikroskopie mit strukturierter Beleuchtung |
JP4849134B2 (ja) * | 2009-01-26 | 2012-01-11 | ソニー株式会社 | 対物レンズ、光ピックアップ及び光ディスク装置 |
EP2472299A3 (en) * | 2009-01-29 | 2015-09-09 | Nikon Corporation | Imaging Optical System, Microscope Apparatus Including The Imaging Optical System, and Stereoscopic Microscope Apparatus |
DE102009055216A1 (de) * | 2009-12-22 | 2011-06-30 | Carl Zeiss Microlmaging GmbH, 07745 | Lumineszenzmikroskopie |
WO2011135819A1 (ja) * | 2010-04-26 | 2011-11-03 | 株式会社ニコン | 構造化照明顕微鏡装置 |
CN103430075B (zh) * | 2011-03-11 | 2016-01-20 | 富士胶片株式会社 | 可变放大率光学系统和成像设备 |
WO2013021615A1 (ja) * | 2011-08-11 | 2013-02-14 | 株式会社ニコン | 構造化照明装置及び構造化照明方法、並びに構造化照明顕微鏡装置 |
DE102012202730A1 (de) * | 2012-02-22 | 2013-08-22 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Wellenlängenselektive und örtlich hochauflösende Fluoreszenzmikroskopie |
-
2014
- 2014-05-29 JP JP2015527148A patent/JP6264377B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2014-05-29 WO PCT/JP2014/002855 patent/WO2015008415A1/ja active Application Filing
-
2016
- 2016-01-15 US US14/996,717 patent/US9897790B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2015008415A1 (ja) | 2015-01-22 |
US20160131885A1 (en) | 2016-05-12 |
JPWO2015008415A1 (ja) | 2017-03-02 |
US9897790B2 (en) | 2018-02-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6264377B2 (ja) | 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置 | |
US10802259B2 (en) | Structured illuminating apparatus, structured illuminating microscopy apparatus, and structured illuminating method | |
JP5878207B2 (ja) | 照明された試料を光学的に捕捉するための方法および装置 | |
US9709785B2 (en) | Structured illumination apparatus, structured illumination microscopy apparatus, and profile measuring apparatus | |
JP6627871B2 (ja) | 構造化照明顕微鏡システム、方法及びプログラム | |
JP5888416B2 (ja) | 構造化照明顕微鏡装置 | |
JP6194710B2 (ja) | 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置 | |
JP5915748B2 (ja) | 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡 | |
WO2015052936A1 (ja) | 構造化照明顕微鏡装置 | |
JP6137324B2 (ja) | 照明装置及び構造化照明顕微鏡装置 | |
US9729800B2 (en) | Image generation system | |
JP6364750B2 (ja) | 構造化照明装置、および構造化照明顕微鏡装置 | |
JP6127451B2 (ja) | 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置 | |
JP6191140B2 (ja) | 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置 | |
JPWO2016056465A1 (ja) | 結像光学系、照明装置および顕微鏡装置 | |
JP6268826B2 (ja) | 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置 | |
WO2015052920A1 (ja) | 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置 | |
WO2014020911A1 (ja) | 観察装置 | |
JP6409260B2 (ja) | 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置 | |
JP2020112735A (ja) | 構造化照明装置、構造化照明顕微鏡装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20161115 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170116 |
|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7426 Effective date: 20170323 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20170323 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20170327 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170523 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20170712 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170921 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20171121 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20171204 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6264377 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |