JP5136422B2 - 顕微鏡装置及び画像処理方法 - Google Patents

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Description

本発明は、顕微鏡装置及び画像処理方法に関するものである。
生物標本などの被観察物を超解像観察するための手法に、照明光を空間変調する手法があり、特開平11−242189号公報(特許文献1)、米国再発行特許第38307号公報(特許文献2)、W.Lukosz,"Optical systems with resolving powers exceeding the clasical limit.II",Journal of the Optical Society of America,Vol.37,PP.932,1967(非特許文献1)、W.Lukosz and M.Marchand,Opt. Acta. 10,241,1963(非特許文献2)等に記載されている。
これらの手法では、空間変調された照明光で被観察物の構造の空間周波数を変調し、解像限界を超える高い空間周波数の情報を顕微鏡光学系の結像に寄与させる。但し、超解像画像を観察するためには変調された被観察物の像(変調像)を復調する必要がある。復調の方法は大別して2種類あり、光学的な復調(非特許文献1、2参照)と、演算による復調(特許文献1、2参照)とがある。なお、光学的な復調は、回折格子などの空間変調素子を用いて変調像を再変調することによって実現する。
特開平11−242189号公報 米国再発行特許発明第38307号明細書 W.Lukosz,"Optical systems with resolving powers exceeding the clasical limit.II",Journal of the Optical Society of America,Vol.37,PP.932,1967 W.Lukosz and M.Marchand,Opt. Acta. 10,241,1963
しかし、演算による復調は複雑な演算処理を要するので時間がかかり、被観察物をリアルタイム観察することが難しい。一方、光学的な復調は回折格子などの空間変調素子を用いるので時間はかからないが、その復調精度は空間変調素子の形状精度や配置精度などに依存するので、良好な超解像画像を得ることが難しい。
因みに、非特許文献2に記載の復調方法(光学的な復調)では、変調に関する光路と復調に関する光路とを平行にし、変調と変調とに共通の回折格子の異なる部分を用いることで配置精度の問題改善を図っているが、変調に関わる光学系の瞳と復調に関わる光学系の瞳とを共役にすることができないため、観察視野が極端に狭いという欠点がある。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、高速に超解像画像の情報を生成することのできる顕微鏡装置を提供すること、及びそれを使用して超解像画像を得ることができる画像処理方法を提供することを課題とする。
前記課題を解決するための第1の手段は、斜め入射する略平行光束の、0次回折光である照射光を受光して、前記0次回折光と1次回折光とを形成する空間変調素子と、前記0次回折光と前記1次回折光とを試料面上で干渉させて干渉縞を形成し、前記試料面上において前記干渉縞によって変調を受けた光を前記空間変調素子面に結像させる対物光学系と、撮像手段と、前記空間変調素子面で再変調された光の像を前記撮像手段の撮像面に結像させるリレー光学系とを有することを特徴とする顕微鏡装置である。
前記課題を解決するための第2の手段は、前記第1の手段であって、前記対物光学系と前記リレー光学系を合わせた光学系の光軸、光源から前記試料面に至る照明光学系の光軸、少なくとも前記空間変調素子よりも光源側の所定位置から前記試料面まで同一とされており、前記光源からの照明光の中心軸を前記同一の光軸よりずらす光路移動光学系と、前記光路移動光学系を通過した前記照明光を、前記空間変調素子に対して斜め入射する略平行光束の照射光に変える照射光学系
を有することを特徴とするものである。
前記課題を解決するための第3の手段は、前記第2の手段であって、前記照射光学系が、前記リレー光学系の一部であることを特徴とするものである。
前記課題を解決するための第4の手段は、前記第2の手段又は第3の手段であって、前記光源から発散する照明光を略平行光束に変換するコレクタレンズと、前記コレクタレンズを透過した前記照明光を集光して2次光源を形成するコリメータレンズと、前記コリメータレンズを透過した前記照明光を反射して、その主光線が前記リレー光学系の光軸上を前記試料面方向に進む光とし、前記光路移動光学系に入射させる光路偏向手段とを有し、前記照明光の主光線は、前記コレクタレンズの中心、前記コリメータレンズの中心、前記リレー光学系の光軸を通って、前記光路移動光学系に入射するようにされていることを特徴とするものである。
ここで、光路偏向部材には、所定の比率で光を透過、及び反射させるミラー又はプリズムや、ダイクロイックミラー、ダイクロイックプリズムが含まれる。又、主光線とは、光源の中心から射出する最も強度の強い光線を示す。
前記課題を解決するための第5の手段は、前記第2の手段又は第3の手段であって、前記光源から発散する照明光を略平行光束に変換するコレクタレンズと、前記コレクタレンズを透過した前記照明光を集光して2次光源を形成するコリメータレンズと、前記コリメータレンズを透過した前記照明光を反射して、その主光線が前記リレー光学系の光軸と平行に前記試料面方向に進む光とし、前記照射光学系に入射させる光路偏向部材とを有し、前記光源からの照明光は、前記光路移動光学系を透過した後、前記コレクタレンズに入射し、前記光路偏向部材により反射された後、前記照射光学系に入射するようにされていることを特徴とするものである。
前記課題を解決するための第6の手段は、前記第2の手段から第5の手段のいずれかであって、前記空間変調素子が光軸を中心として回転可能とされると共に、前記光路移動光学系も光軸を中心として回転可能とされ、前記空間変調素子の回転量と前記光路移動光学系を回転させたときにそれに伴って回転する主光線の回転量とを同一にすることが可能とされていることを特徴とするものである。
前記課題を解決するための第7の手段は、前記第2の手段から第5の手段のいずれかであって、前記空間変調素子が光軸を中心として回転可能とされると共に、前記光路移動光学系に、光路を移動させる光学素子が複数設けられ、複数の当該光学素子は、それぞれ光軸に垂直な異なった方向に光路を移動させるものであり、前記空間変調素子の回転量に合わせて、切り替えて使用可能とされていることを特徴とするものである。
前記課題を解決するための第8の手段は、前記第1の手段であって、前記対物光学系と前記リレー光学系を合わせた光学系の光軸、光源から前記試料面に至る照明光学系の光軸、少なくとも前記空間変調素子よりも光源側の所定位置から前記試料面まで同一とされており、前記照明光学系の光軸から離れた位置に設けられた光源と、前記光源から発散する照明光を略平行光束に変換するコレクタレンズと、前記コレクタレンズを透過した前記照明光を集光して2次光源を形成するコリメータレンズと、前記コリメータレンズを透過した前記照明光を反射して、その主光線が前記リレー光学系の光軸に平行に前記試料面方向に進む光とする光路偏向部材と、前記光路偏向部材で反射された照明光を、前記空間変調素子に対して斜め入射する略平行光束の照射光に変える照射光学系とを有することを特徴とするものである。
前記課題を解決するための第9の手段は、前記第8の手段であって、前記照射光学系が、前記リレー光学系の1部であることを特徴とするものである。
前記課題を解決するための第10の手段は、前記第8の手段又は第9の手段であって、前記空間変調素子が光軸を中心として回転可能とされると共に、前記光源も前記照明光学系の光軸を中心として回転可能とされ、両者の回転量を同一にすることが可能とされていることを特徴とするものである。
前記課題を解決するための第11の手段は、前記第8の手段又は第9の手段であって、前記空間変調素子が光軸を中心として回転可能とされると共に、前記光源が複数設けられ、複数の当該光源は、それぞれ光軸に垂直な異なった方向に光路を移動させるものであり、前記空間変調素子の回転量に合わせて、切り替えて使用可能とされていることを特徴とする。
前記課題を解決するための第12の手段は、前記第1の手段から第11の手段のいずれかであって、前記空間変調素子と前記対物光学系によって前記試料面上に形成される干渉縞の位相を変化させることが可能とされており、前記撮像手段の撮像時間は、前記位相が整数周期変化する時間とほぼ等しくされていることを特徴とするものである。
前記課題を解決するための第13の手段は、前記第6の手段、第7の手段、第10の手段、第11の手段のいずれかである顕微鏡装置を使用して、前記空間変調素子の回転量を変えて試料の撮像を複数回行い、得られた複数枚の画像データをフーリエ変換して、フーリエ変換データ画像を取得し、これらのフーリエ変換画像データに対して2次元平面上で、MTFを考慮したデコンボリューション処理を行って合成した後、逆フーリエ変換により、画像データを得ることを特徴とする画像処理方法である。
本発明によれば、高速に超解像画像の情報を生成することのできる顕微鏡装置を提供すること、及びそれを使用して精度の良い映像を得ることができる画像処理方法を提供することができる。
本発明の第1の実施の形態である顕微鏡装置の光学系の概要を示す図である。 回折格子を光軸周りに回転させるときの様子を示す図である。 本発明の第2の実施の形態である顕微鏡装置の光学系の概要を示す図である。 本発明の第3の実施の形態である顕微鏡装置の光学系の概要を示す図である。 本発明の第4の実施の形態である顕微鏡装置の光学系の概要を示す図である。 本発明の第5の実施の形態である顕微鏡装置の光学系のうち、光源から回折格子までの光学系を示す概念図である。 本発明の第6の実施の形態である顕微鏡装置の光学系のうち、光源から回折格子までの光学系を示す概念図である。 制御・演算装置の制御に関する動作フローチャートである。 制御・演算装置の演算に関する動作フローチャートである。 復調像の画像データを示す図である。 3方向の復調された画像データを合成する状態を示す図である。
符号の説明
1…光源、2…コレクタレンズ、3…コリメータレンズ、4…励起フィルタ、5…ダイクロイックミラー、6…蛍光フィルタ、7…平行平板ガラス、8…レンズ、9…回折格子、10…第2対物レンズ、11…第1対物レンズ、12…標本(蛍光試料)、13…レンズ、14…イメージローテータ、22…標本共役面、23…像、24…拡大像、25…撮像装置、31…光源像(瞳共役面)、32…第1対物レンズの瞳面、40…アクチュエータ、41…回転ステージ、42…制御・演算装置、43…画像表示装置、51…回転ステージ、52…電動ステージ、53…回転ステージ、101…光源、102…ミラー、103…ミラー、104…ミラー、105…光ファイバ、105a…射出端、106…光ファイバ、106a…射出端、107…光ファイバ、107a…射出端、112…部分透過ミラー、113…部分透過ミラー、121…回転拡散板、122…軸、123…カップリングレンズ、S1〜S3…シャッタ、LS1…照明光学系、LS2…観察光学系、LS21…対物光学系、LS22…リレー光学系、D0…0次回折光、D1…1次回折光
以下、本発明の実施の形態の例を、図を用いて説明する。図1は、本発明の第1の実施の形態である顕微鏡装置の光学系の概要を示す図である。この顕微鏡装置は、光源1、コレクタレンズ2、コリメータレンズ3、励起フィルタ4、ダイクロイックミラー5、蛍光フィルタ6、光路移動光学系である平行平板ガラス7、照射光学系であるレンズ8、空間変調素子である回折格子9、第2対物レンズ10、第1対物レンズ11、レンズ13、撮像装置(CCDカメラなど)25、制御・演算装置(回路やコンピュータなど)42、画像表示装置43、アクチュエータ40、回転ステージ41等から構成され、標本(蛍光試料)12から発生する蛍光による標本12の像を撮像装置25で撮像して処理する。
このうち、光源1、コレクタレンズ2、コリメータレンズ3、励起フィルタ4、ダイクロイックミラー5、平行平板ガラス7、レンズ8、回折格子9、第2対物レンズ10、第1対物レンズ11は照明光学系LS1を構成する。また、第1対物レンズ11、第2対物レンズ10、回折格子9、レンズ8、平行平板ガラス7、蛍光フィルタ6、ダイクロイックミラー5、レンズ13は観察光学系LS2を構成する。また、第1対物レンズ11と第2対物レンズ10とが対物光学系LS21を構成し、レンズ8とレンズ13とがリレー光学系LS22を構成している。照明光学系LS1と観察光学系LS2とは、第1対物レンズ11からダイクロイックミラー5までの光路を共有している。
光源1からの発散光はコレクタレンズ2によって平行光線に変換され、コリメータレンズ3によって瞳共役面に光源像31を形成する。その光源像31からの光は、励起フィルタ4によって波長選択された後、ダイクロイックミラー5によって反射され、標本面の方向へと進む。標本の反射像を観察する場合には、ダイクロイックミラーの代わりにハーフミラーを使用してもよい。又、場合によっては、偏光ビームスプリッタを使用することができる。
そして、この光が平行平板ガラス7を通過する際、光源の中心から発せられ、コレクタレンズ2、コリメータレンズ3の中心を通る光軸上の光線(以下、この光線を便宜的に「主光線」と称する)は、平行平板ガラス7の両面での屈折により、光軸から所定距離dだけシフトする。その後、レンズ8によって光軸に対して所定角度傾いた平行光線に変換され、標本共役面22に配置された回折格子9を照射する。
回折格子9は、そのまま直進する0次回折光と光軸に関して対称な方向に1次回折光を生じさせるように、予め格子常数を設定してある。それぞれの光束は第2対物レンズ10によって光軸に平行な平行光線に変換され、第1対物レンズ11によって標本面上で干渉し、二光束干渉縞を形成する。これによって標本12は、空間変調された照明光で照明(構造化照明)される。
ここで、回折格子9は、例えば、1次元の周期構造をもつ位相型又は振幅型の回折格子である。位相型の回折格子は、回折次数の強度比を設定する自由度が高いという利点がある。又、振幅型の回折格子は波長特性が良いため、光源1に白色光源を使用できる利点がある。光源1としては、白色光源の代わりに単一波長の光源を用いてもよいし、レーザ光源からの光を光ファイバで導き、その端面に形成される二次光源を光源1として用いてもよい。
また、構造化照明の輝度分布(回折格子9の像23の輝度分布)を正弦波状にするために、回折格子9で生じる−1次成分及び次数2以上の余分な回折成分を除去することが望ましい。その際には、回折格子9よりも後段の適当な箇所(例えば第1対物レンズ11の瞳面32)で除去するとよい。あるいは、回折格子9の濃度分布を予め正弦波状にしておけば、2次以上の回折成分の発生を抑え、光量の損失を抑えることができる。
本実施の形態では、回折格子9により生じる回折光のうち、0次回折光D0と1次回折光D1が対物光学系(第2対物レンズ10、第1対物レンズ11)の光軸に対して対称になるように、照明光を回折格子9に対して所定の角度傾けて入射させている。それは、レンズ8の前に配置した平行平板ガラス7によって主光線を光軸からずらすことで実現させている。照明光を所定角度傾けるために必要なずれ量dは、光源1の波長、レンズ8の焦点距離、回折格子9のピッチから計算で求めることができる。
光源1の波長をλ、レンズ8の焦点距離をf、回折格子9のピッチをPとすると、必要なずれ量dは、
d= f×λ/(2×P) …(1)
となる。
一方、平行平板ガラス7の屈折率をn、厚さをt、傾け角をαとしたとき、平行平板ガラスによる光線ののずれ量dは、
Figure 0005136422
となる。
ここで、平行平板ガラス7の傾け角αとは、回折格子9の格子線の方向を回転軸として回転する角度を意味する。
したがって、(1)、(2)式を満たす光学系を組むことで、回折格子9により生じる回折光のうち、0次回折光D0と1次回折光D1が対物レンズの光軸に対称になるようにすることが可能となる。
さて、0次回折光D0と1次回折光D1は、第1対物レンズ11の瞳面32にそれぞれ集光する。この集光点は、第1対物レンズ11の瞳径のなるべく端(光軸から離れた位置)に設定すると、超解像の効果が高いので望ましい。その場合、回折格子9による照明光の回折光のうち、0次回折光と1次回折光以外の光は、第1対物レンズ11の有効径内には入射できないのでその後の系に影響しない。第1対物レンズ11の瞳面32にそれぞれ集光した0次回折光D0と1次回折光D1は、それぞれ平行光束となって対物レンズを出射し、標本12上で干渉し、二光束干渉縞を形成する。
これにより、標本12上では、構造化照明された光を励起光として蛍光が発生する。このときに第1対物レンズ11側から見た標本12の構造は、構造化照明により変調されている。変調された構造には、モアレ縞が生じている。このモアレ縞は、標本12が有する微細構造と構造化照明のパターンとが成すモアレ縞であり、標本12の微細構造が、構造化照明の空間周波数の分だけ低い空間周波数帯域に変換されている。よって、解像限界を超える高い空間周波数の構造の光までもが、第1対物レンズ11によって捉えられることになる。
第1対物レンズ11によって捉えられた蛍光は、第1対物レンズ11及び第2対物レンズ10からなる対物光学系LS21により、標本共役面22上に標本12の変調像を形成する。その変調像は、その標本共役面22に配置された回折格子9によって再変調される。このようにして生じた再変調像では、空間周波数を変化させた標本12の構造が、元の空間周波数に戻される。この再変調像に、標本12の復調像が含まれている。
但し、この再変調像には、復調像にとって不要な回折成分が含まれている。不要な回折成分とは、標本12から射出された構造化照明による0次回折光に対し回折格子9で生じた±1次回折成分、標本12から射出された構造化照明による−1次回折光に対する0次回折成分、標本12から射出された構造化照明による+1次回折光に対する0次回折成分である。これらの不要な回折成分を再変調像から除去するためには、回折格子9を1周期分若しくはN周期分(Nは自然数)動かして平均化すればよい。
再変調像からの蛍光は、レンズ8を介してダイクロイックミラー5を透過した後、観察光学系LS2の単独光路へ入り、蛍光フィルタ6を透過したのち、レンズ13を介して再変調像の拡大像24を形成する。つまり、回折格子9で再変調された再変調像は、レンズ8及びレンズ13からなるリレー光学系LS22によって、拡大像24へとリレーされる。この拡大像24は、撮像装置25によって撮像され、再変調像の画像データが生成される。なお、撮像装置25で撮像する場合、回折格子9を1周期若しくはN周期(Nは自然数)動かしている間、再変調像を蓄積することによって平均化すれば、復調像の画像データを得ることができる。
この画像データは、標本12を構造化照明によって超解像観察するための情報を含む。その画像データは、制御・演算装置42によって取り込まれ、演算が施されてから、画像表示装置43へと送出される。
以上、本顕微鏡装置は、標本12の共役面(標本共役面)22から標本12までの光路を照明光学系LS1と観察光学系LS2とで完全に共通光路にすると共に、その標本共役面22に回折格子9を配置している。本顕微鏡装置ではこの回折格子9により、標本12の微細構造の変調を図る。そして、変調された標本12の微細構造は、この位置に配置された回折格子9により、自動的に再変調される。
なお、回折格子9は、アクチュエータ40によって格子線に直交する方向Dbへ移動可能である。この移動により、構造化照明の位相が変化する。制御・演算装置42がアクチュエータ40及び撮像装置25を制御し、1フレーム分の画像データを蓄積している間にその位相を1周期分若しくはN周期分(Nは自然数)だけ変化させることで、その画像データから、構造化照明のパターンと、再変調時に生じた不要な回折成分とを消去する。
あるいは、撮像装置25の撮像素子としてCCDなど電荷蓄積型の撮像素子を用い、構造化照明の位相が1周期分若しくはN周期分(Nは自然数)だけ変化するのに必要な時間を蓄積時間とすることで、構造化照明のパターンと、再変調時に生じた不要な回折成分を消去してもよい。
あるいは、撮像装置25の撮像素子としてNMOS、CMOSなど電荷蓄積型ではない撮像素子を用い、更に各画素の出力にローパスフィルター、もしくは、積分回路を接続しておくことで、構造化照明のパターンと、再変調時に生じた不要な回折成分を消去してもよい。その際には、接続するローパスフィルター、もしくは、積分回路の時定数として構造化照明の位相が1周期分若しくはN周期分(Nは自然数)だけ変化するのに必要な時間以上とする。
また、回折格子9は、回転ステージ41によってアクチュエータ40と共に光軸の周りを回転可能である。この回転により、構造化照明の方向が変化する。制御・演算装置42が回転ステージ41及び撮像装置25を制御し、構造化照明の方向を複数方向に変化させる度に画像データを取得すれば、複数方向に亘り超解像観察するための情報を得ることができる。これにより、標本12の二次元の超解像観察が可能となる。以上の動作に必要なプログラムは、例えばCD−ROMなどの記録媒体やインターネットを介して制御・演算装置42に予めインストールされている。
ここで、構造化照明の方向を変化させるためには、回折格子9の回転に伴って、照明光の斜入射の方向も回転させなければならない。回折格子9を回転させる際、平行平板ガラス7も光軸に対して回転させる必要がある。図2に、回折格子9を光軸周りに回転させるときの様子を示す。回折格子9について、図1の紙面右方向をx軸の正の方向、紙面に垂直に手前をy軸の正の方向、光軸をz軸とし対物レンズに向かう方向を正の方向とする。そして、回折格子9をz軸周りにθ回転させた状態が図2に示されている。このとき、平行平板ガラス7も同様にz軸周りにθ回転させればよい。これは、平行平板ガラス7と回折格子9を同一の回転ステージ上に固定し、それをz軸周りに回転させることで実現される。以上、本実施形態では、平行平板ガラス7と回折格子9を同一の回転ステージに固定して回転するので、斜光照明の向きを精度良く再現することができる。
図3は、本発明の第2の実施の形態である顕微鏡装置の光学系の概要を示す図である。
次に本発明の第2実施形態について説明する。以下の図において、前出の図に示された構成要素と同じ構成要素には、同じ符号を付してその説明を省略することがある。この実施の形態と第1の実施の形態の違いは、本実施の形態においては、図1においてダイクロイックミラー5の後に配置されていた平行平板ガラス7を、光源1の直後に配置することである。このようにしても、回折格子9により生じる回折光のうち、0次回折光D0と1次回折光D1が対物レンズの光軸に対称になるように、平行平板ガラス7によって軸上光線を光軸からずらすことが可能となる。必要なずれ量dは、光源1の波長、コレクタレンズ2、コリメータレンズ3、レンズ8の合成焦点距離、回折格子9のピッチから計算で求めることができ、それを達成するための平行平板のパラメータも計算で求めることができる。
光源1の波長をλ、コレクタレンズ2、コリメータレンズ3、レンズ8の合成焦点距離をf、回折格子9のピッチをPとすると、必要なずれ量dは、前記(1)式と同じとなる。また、平行平板ガラス7の屈折率をn、厚さをt、傾け角をαとしたとき、平行平板ガラス7による軸上光線の光軸からのずれ量dは、前記(2)式と同じとなる。したがって、(1)、(2)式を満たす光学系を組むことで、回折格子9により生じる回折光のうち、0次回折光D0と1次回折光D1が対物レンズの光軸に対称にすることが可能となる。
回折格子9を回転させて構造化照明の方向を変化させる際、光源像31も同じ角度だけ回転させて、斜光照明の方向を回転させる必要がある。そのためには、平行平板ガラス7を、光軸を回転軸として、回折格子9の回転角と同じだけ回転させればよい。これは、平行平板ガラスを回転ステージ51上に設置し、これを制御・演算装置42によって、回折格子9の回転ステージ41の駆動と同期させて制御することで実現される。本実施の形態によれば、平行平板ガラス7の回転機構を対物光学系と離して配置するので、平行平板ガラス7の回転による振動が、対物光学系に伝わりにくいという利点がある。
図4は、本発明の第3の実施の形態である顕微鏡装置の光学系の概要を示す図である。第2の実施の形態においては、図3において、回折格子9を回転させる際、平行平板ガラス7を回転ステージ51によって光軸を回転軸として回転させる必要があった。本実施の形態においては、予め回折格子の停止位置を決めておき、各停止角度について、格子線の方向を回転軸として傾け角αだけ回転させた平行平板ガラス71、72、73を用意し、回折格子9の回転停止角度に合わせて切り替えることで、斜光照明の方向を切り替える。
回折格子9の回転は、現実には3方向で十分であり、一次元回折格子のため、180°回転しても機能は同じである。光源像31の光軸周りの角度が、(3)式を満たすようなθ1、θ2、θ3となるように傾けた3つの平行平板ガラス71、72、73を電動ステージ52上に設置する。
θ3−θ2=θ2−θ1=60° …(3)
そして、回折格子の角度がθ1、θ2、θ3のとき、平行平板ガラス71、72、73がそれぞれ光路に入るように電動ステージ52をスライドさせる。これによって、回折格子の回転停止角度に合わせて切り替えることで、斜光照明の方向を切り替えることが可能となる。本実施の形態によれば、平行平板ガラス71、72、73の角度を初めに精度良く調整しておけば、その後の繰り返し再現性がよいという利点がある。
図5は、本発明の第4の実施の形態である顕微鏡装置の光学系の概要を示す図である。この実施の形態と第2の実施の形態の違いは、図3において平行平板ガラス7の代わりにイメージローテータ14を配置すること、光源1を光軸(コレクタレンズ、コリメータレンズ3の中心軸)からずらすことである。これによって、回折格子9により生じる回折光のうち、0次回折光D0と1次回折光D1が対物レンズの光軸に対称になるように、軸上光線を光軸からずらすことが可能となる。このとき、必要な光源1の偏芯量dは、(1)式で表される。
そして、回折格子9を回転させる際、光源像31も同じ角度だけ回転させる必要がある。そのためには、イメージローテータ14を光軸を回転軸に、回折格子9の回転角の半分だけ回転させればよい。これは、イメージローテータ14を回転ステージ53上に設置し、これを制御・演算装置42によって、回折格子9の回転ステージ41の駆動と同期させて制御することで実現される。本実施の形態によれば、イメージローテータ14の回転角は回折格子9の回転角の半分で済むので、回転ステージの回転量を抑えられるという利点がある。又、イメージローテータ14を使用せず、光源1を光軸の回りに、回折格子9と同じ回転角だけ回転させてもよい。
図6は、本発明の第5の実施の形態である顕微鏡装置の光学系のうち、光源1から回折格子9までの光学系を示す概念図である。各構成要素の実際の配置を無視して、互いの関係だけを示すものである。各構成要素の位置関係は、光源部を除いて、図5に示すものと同じである。ただし、励起フィルタ4およびダイクロイックミラー5を省略して描いてある。
図6(a)に示すように、レーザなどの光源101からの光はミラー102、103、104のいずれかで折り曲げられ、光ファイバ105、106、107に入射する。光ファイバ105、106、107の射出端105a、106a、107aのいずれかから射出された光は、この射出面を2次光源として、コレクタレンズ2、コリメータレンズ3、レンズ8によって、回折格子9を照明し、0次光と1次光を光軸に対称に生じさせる。
光源101がレーザの場合、ビームに拡がりがない、コヒーレンスノイズを除去する必要があるなどのために、回転拡散板121を光路に挿入することができる。回転拡散板121は円盤状の拡散板を軸122を回転軸に高速で回転させるものである。そして、回転拡散板121によって拡散され拡がりをもった光束を、光ファイバ105、106、107に効率よく導入するために、カップリングレンズ123を使用して、適当な倍率で回転拡散板121上の光束径を光ファイバ入射端面に結像することができる。こうすれば、光量損失を抑えた上で、ビームに拡がりを持たせ、コヒーレンスノイズを抑えることができる。
また、光源101と回転拡散板121の間に、NDフィルタや公知のアッテネータを挿入することにより、光源の出力光量を光学系に必要な光量まで低減することが可能である。
さて、回折格子9の回転は、現実には3方向で十分である。(図6(d))。したがって、図6(b)に示すように、光ファイバの射出端面Aにおいて、3本の光ファイバ端は、例えば式(3)を満たすようなθ1、θ2、θ3の角度で、光軸からdだけ偏心した位置に固定しておく。
θ3−θ2=θ2−θ1=60° … (3)
0次光と1次光の左右を問わなければ図3(c)に示すように、射出端106aを(b)の位置から反転させθ2+180°の位置にし、バランスよく固定することも可能である。この場合、θ1、θ2、θ3のいずれを180度反転させてもよい。
そして、ミラー102と103は光路から除外できるように切替え可能としておく。そして、回折格子9の角度がθ1であるとき、ミラー102を挿入、回折格子9の角度がθ2であるとき、ミラー102を除外の上、ミラー103を挿入、回折格子9の角度がθ3であるとき、ミラー102、103とも除外すれば、対応した角度に光ファイバ端を配置することができ、回折格子の回転に伴って斜光照明の方向を回転することができる。
この実施の形態では、可動部が光ファイバを介して顕微鏡本体から離れるので、振動が伝わりにくいという利点がある。
図7は、本発明の第6の実施の形態である顕微鏡装置の光学系のうち、光源1から回折格子9までの光学系を示す概念図である。各構成要素の実際の配置を無視して、互いの関係だけを示すものである。各構成要素の位置関係は、光源部を除いて、図5に示すものと同じである。ただし、励起フィルタ4およびダイクロイックミラー5を省略して描いてある。
本実施の形態の、第5の実施の形態との違いは、ミラー102、103、104の代わりに、部分透過ミラー112と113を配置して、光源からの光を光ファイバ105、106、107に各々1/3ずつ光量分割している点である。そして各光ファイバの手前にシャッタS1、S2、S3を配置し、回折格子9の方向変換に伴って、該当する光路のシャッタのみ開く構成にする。すなわち、回折格子9が角度θ1の時は、S1のみ開けて、S2、S3は閉じ、回折格子9が角度θ2の時はS2のみ開け、S1、S3は閉じ、回折格子9が角度θ3の時はS3のみ開け、S1、S2は閉じるといった具合である。この実施の形態では、可動部がシャッタのみのため切替が高速にできるという利点がある。
なお、図6、図7では、3本の光ファイバ105、106、107を別々に描いたが、本発明はこれに限定されるものではなく3本の光ファイバを一束にバンドルしたものでも良いし、予め一つのクラッドの中に3本のコアを配置した光ファイバを利用することもできる。
なお、上述した各実施形態の顕微鏡装置は、リレーされた再変調像(拡大像24)を撮像装置25で検出したが、拡大像24を接眼レンズを介して肉眼で観察できるように変形されてもよい。
また、上述した各実施形態の顕微鏡装置は、空間変調素子として回折格子を使用したが、入射光束に対し同様の作用をする別の空間変調素子を使用してもよい。例えば、回折格子9の代わりに透過型液晶表示素子などの空間変調素子を用いれば、構造化照明の位相変化及び方向変化を電気的に行うことができ、アクチュエータや回転ステージを用いずに構成し、さらなる高速化を図ることができる。さらに、上述の各実施形態では蛍光顕微鏡への応用であったが、特にこれに限定されるものではなく、同様に反射顕微鏡を構成することもできる。
以下、図1〜図5に示された、制御・演算装置42の制御に関する動作を説明する。図8は、制御・演算装置42の制御に関する動作フローチャートである。図8に示すとおり、制御・演算装置42は、再変調像の画像データを取得するに当たり、撮像装置25の露光開始(ステップS11)から露光終了(ステップS13)までの期間に、構造化照明の位相を1周期分だけ変化させる(ステップS12)。
このようにして取得された画像データは、構造化照明の位相変化中における再変調像の時間積分であり、構造化照明の輝度分布は正弦波状なので、この画像データからは、構造化照明のパターンは消去される。また、この画像データからは、再変調時に生じた不要な回折成分も消去される。よって、この画像データは、復調像を表す。なお、これらの消去には、これ以外にも、上述したとおり何通りかの方法が適用可能である。
さらに、制御・演算装置42は、構造化照明の方向を変化させてから(ステップS15)、再びステップS11〜S13の処理を行い、構造化照明のパターンの消去された別の復調像の画像データを取得する。
そして、以上のステップS11〜S13における復調像の画像データの取得処理は、構造化照明の方向が予め決められた全方向に設定されるまで(ステップS14がYESとなるまで)繰り返され、構造化照明のパターンの消去された復調像の画像データが、設定された方向の数だけ取得される。
例えば、制御・演算装置42は、ステップS11〜S13の処理を、構造化照明の方向が0°,120°,240°の3方向に設定されるまで繰り返し、構造化照明のパターンの消去された3つの復調像の画像データI、I、Iを取得する。これらの復調像の画像データI、I、Iの間では、超解像の方向が120°ずつ異なる。
図9は、制御・演算装置42の演算に関する動作フローチャートである。ここでは、超解像の方向が120°ずつ異なる3つの復調像の画像データI、I、Iを取得した場合の演算を説明する。
先ず、制御・演算装置42は、3つの復調像の画像データI、I、Iの各々をフーリエ変換し、波数空間で表現された3つの復調像の画像データIk1、Ik2、Ik3を得る(ステップS21)。これら復調像の画像データIk1、Ik2、Ik3を図10(A),(B),(C)に示した。
図10(A),(B),(C)において符号Ik+1、Ik−1は、変調された状態で(±1次回折光として)対物光学系LS21によって伝達された成分(±1次変調成分)を示し、符号Ik0は、変調されない状態で(0次回折光として)対物光学系LS21によって伝達された成分(0次変調成分)を示す。各々の円内は、MTF(Modulation Transfer Function)が0でない領域を示す。また、符号Dbは、超解像の方向(構造化照明の方向)を示し、符号Kは、構造化照明の空間周波数を示す。
続いて、制御・演算装置42は、3つの復調像の画像データIk1、Ik2、Ik3を、図11に示すとおり波数空間上で合成し、1つの合成画像データIを得る(ステップS22)。この演算は、単純な加算でもよいが、MTFを考慮してデコンボリューションを施す処理であることが望ましい。デコンボリューション処理としては、例えばウィナーフィルタを利用した手法があるが、このとき、Iは、周波数fの関数として以下のように計算される。
Figure 0005136422
ただし、jは回折格子9の方向(0°、120°、240°)、MTF(f)は、回折格子の各方向における復調後の実効MTFであり、対物光学系のNTF(f)を用いて以下の(5)式で表される。ただし、G、Gはそれぞれ回折格子の0次、1次回折効率、fは回鉄格子による変調周波数である。また、MTF (f)の*は、このMTFが複素数であることを示す。
Figure 0005136422
kj(f)は空間周波数fにおけるj番目の画像の信号強度、Cは、ノイズのパワースペクトルから決まる定数を示す。
この処理によって、合成画像データIの低周波数成分の寄与が大きくなりすぎるのを抑えることで、高周波数成分の相対的な寄与が小さくなるのを防ぐことができる。
続いて、制御・演算装置42は、合成画像データIを逆フーリエ変換し、実空間で表現された画像データIを得る。この画像データIは、120°ずつ異なる3方向に亘る標本12の超解像画像を表現する(ステップS23)。制御・演算装置42は、この画像データIを画像表示装置43へ送出し、超解像画像を表示する。
以上、本実施の形態における顕微鏡装置では、標本12からの光が回折格子9で再変調され、さらに回折格子9を動かして平均化して不要な回折成分を除去することによって復調像を得ている。従って、復調演算をしない分だけ復調像の画像データは高速に得られる。
しかも、変調と再変調とに同一の回折格子9の同一の領域が用いられるので、仮にその回折格子9に形状誤差や配置誤差、あるいはその回転角に誤差があったとしても、変調のパターンと再変調のパターンとを同一にすることができる。従って、回折格子9の形状誤差や配置誤差、回転調整誤差は、復調像の画像データに対しノイズを殆ど与えない。このことは、構造化照明の位相を変化させたときや、構造化照明の方向を変化させたときにも同様に当てはまる。したがって、本顕微鏡装置では超解像画像が高精度に得られる。
また、本顕微鏡装置では、複数の画像データを合成する際に(図9ステップS22)、
デコンボリューションを行うので、高周波数成分の減衰の少ない良好な超解像画像を得ることができる。

Claims (16)

  1. 斜め入射する略平行光束の、0次回折光である照射光を受光して、前記0次回折光と1次回折光とを形成する空間変調素子と、
    前記0次回折光と前記1次回折光とを試料面上で干渉させて干渉縞を形成し、前記試料面上において前記干渉縞によって変調を受けた光を前記空間変調素子面に結像させる対物光学系と、
    撮像手段と、
    前記空間変調素子面で再変調された光の像を前記撮像手段の撮像面に結像させるリレー光学系と、
    を有することを特徴とする顕微鏡装置。
  2. 請求項1に記載の顕微鏡装置であって、
    前記対物光学系と前記リレー光学系を合わせた光学系の光軸、光源から前記試料面に至る照明光学系の光軸、少なくとも前記空間変調素子よりも光源側の所定位置から前記試料面まで同一とされており、
    前記光源からの照明光の中心軸を前記同一の光軸よりずらす光路移動光学系と、
    前記光路移動光学系を通過した前記照明光を、前記空間変調素子に対して斜め入射する略平行光束の照射光に変える照射光学系
    を有することを特徴とする顕微鏡装置。
  3. 前記照射光学系が、前記リレー光学系の一部であることを特徴とする請求項2に記載の顕微鏡装置。
  4. 請求項2に記載の顕微鏡装置であって、
    前記光源から発散する照明光を略平行光束に変換するコレクタレンズと、
    前記コレクタレンズを透過した前記照明光を集光して2次光源を形成するコリメータレンズと、
    前記コリメータレンズを透過した前記照明光を反射して、その主光線が前記リレー光学系の光軸上を前記試料面方向に進む光とし、前記光路移動光学系に入射させる光路偏向部材
    とを有し、
    前記照明光の主光線は、前記コレクタレンズの中心、前記コリメータレンズの中心、前記リレー光学系の光軸を通って、前記光路移動光学系に入射するようにされていることを特徴とする顕微鏡装置。
  5. 請求項2に記載の顕微鏡装置であって、
    前記光源から発散する照明光を略平行光束に変換するコレクタレンズと、
    前記コレクタレンズを透過した前記照明光を集光して2次光源を形成するコリメータレンズと、
    前記コリメータレンズを透過した前記照明光を反射して、その主光線が前記リレー光学系の光軸と平行に前記試料面方向に進む光とし、前記照射光学系に入射させる光路偏向部材
    とを有し、
    前記光源からの照明光は、前記光路移動光学系を透過した後、前記コレクタレンズに入射し、前記光路偏向部材により反射された後、前記照射光学系に入射するようにされていることを特徴とする顕微鏡装置。
  6. 請求項2に記載の顕微鏡装置であって、前記空間変調素子が光軸を中心として回転可能とされると共に、前記光路移動光学系も光軸を中心として回転可能とされ、前記空間変調素子の回転量と前記光路移動光学系を回転させたときにそれに伴って回転する主光線の回転量とを同一にすることが可能とされていることを特徴とする顕微鏡装置。
  7. 請求項2に記載の顕微鏡装置であって、前記空間変調素子が光軸を中心として回転可能とされると共に、前記光路移動光学系に、光路を移動させる光学素子が複数設けられ、複数の当該光学素子は、それぞれ光軸に垂直な異なった方向に光路を移動させるものであり、前記空間変調素子の回転量に合わせて、切り替えて使用可能とされていることを特徴とする顕微鏡装置。
  8. 請求項1に記載の顕微鏡装置であって、
    前記対物光学系と前記リレー光学系を合わせた光学系の光軸、光源から前記試料面に至る照明光学系の光軸、少なくとも前記空間変調素子よりも光源側の所定位置から前記試料面まで同一とされており、
    前記照明光学系の光軸から離れた位置に設けられた光源と、
    前記光源から発散する照明光を略平行光束に変換するコレクタレンズと、
    前記コレクタレンズを透過した前記照明光を集光して2次光源を形成するコリメータレンズと、
    前記コリメータレンズを透過した前記照明光を反射して、その主光線が前記リレー光学系の光軸に平行に前記試料面方向に進む光とする光路偏向部材と、
    前記光路偏向部材で反射された照明光を、前記空間変調素子に対して斜め入射する略平行光束の照射光に変える照射光学系
    とを有することを特徴とする顕微鏡装置。
  9. 前記照射光学系が、前記リレー光学系の一部であることを特徴とする請求項8に記載の顕微鏡装置。
  10. 請求項8に記載の顕微鏡装置であって、前記空間変調素子が光軸を中心として回転可能とされると共に、前記光源も前記照明光学系の光軸を中心として回転可能とされ、両者の回転量を同一にすることが可能とされていることを特徴とする顕微鏡装置。
  11. 請求項8に記載の顕微鏡装置であって、前記空間変調素子が光軸を中心として回転可能とされると共に、前記光源が複数設けられ、複数の当該光源は、それぞれ光軸に垂直な異なった方向に光路を移動させるものであり、前記空間変調素子の回転量に合わせて、切り替えて使用可能とされていることを特徴とする顕微鏡装置。
  12. 請求項1に記載の顕微鏡装置であって、前記空間変調素子と前記対物光学系によって前記試料面上に形成される干渉縞の位相を変化させることが可能とされており、前記撮像手段の撮像時間は、前記位相が整数周期変化する時間とほぼ等しくされていることを特徴とする顕微鏡装置。
  13. 請求項6に記載の顕微鏡装置を使用して、前記空間変調素子の回転量を変えて試料の撮像を複数回行い、得られた複数枚の画像データをフーリエ変換してフーリエ変換データ画像を取得し、これらのフーリエ変換画像データに対して2次元平面上で、MTFを考慮したデコンボリューション処理を行って合成した後、逆フーリエ変換により、画像データを得ることを特徴とする画像処理方法。
  14. 請求項7項に記載の顕微鏡装置を使用して、前記空間変調素子の回転量を変えて試料の撮像を複数回行い、得られた複数枚の画像データをフーリエ変換してフーリエ変換データ画像を取得し、これらのフーリエ変換画像データに対して2次元平面上で、MTFを考慮したデコンボリューション処理を行って合成した後、逆フーリエ変換により、画像データを得ることを特徴とする画像処理方法。
  15. 請求項10に記載の顕微鏡装置を使用して、前記空間変調素子の回転量を変えて試料の撮像を複数回行い、得られた複数枚の画像データをフーリエ変換してフーリエ変換データ画像を取得し、これらのフーリエ変換画像データに対して2次元平面上で、MTFを考慮したデコンボリューション処理を行って合成した後、逆フーリエ変換により、画像データを得ることを特徴とする画像処理方法。
  16. 請求項11に記載の顕微鏡装置を使用して、前記空間変調素子の回転量を変えて試料の撮像を複数回行い、得られた複数枚の画像データをフーリエ変換してフーリエ変換データ画像を取得し、これらのフーリエ変換画像データに対して2次元平面上で、MTFを考慮したデコンボリューション処理を行って合成した後、逆フーリエ変換により、画像データを得ることを特徴とする画像処理方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014137501A (ja) * 2013-01-17 2014-07-28 Nikon Corp 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置

Families Citing this family (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2907214B1 (fr) * 2006-10-16 2009-01-16 Imagine Optic Sa "procede de correction d'un analyseur de front d'onde,et analyseur implementant ce procede"
FR2922658B1 (fr) * 2007-10-18 2011-02-04 Centre Nat Rech Scient Systeme d'illuminations structuree d'un echantillon
EP2610662B1 (en) * 2010-08-25 2018-04-04 Nikon Corporation Microscope optical assembly and microscope system
CN103477209B (zh) * 2011-03-01 2016-03-30 通用电气医疗集团生物科学公司 用于荧光显微镜中照明相位控制的系统和方法
WO2013001805A1 (ja) * 2011-06-29 2013-01-03 株式会社ニコン 構造化照明光学系および構造化照明顕微鏡装置
DE102011054914A1 (de) * 2011-10-28 2013-05-02 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und Anordnung zur Beleuchtung einer Probe
GB201118962D0 (en) * 2011-11-03 2011-12-14 Univ Nottingham Apparatus and method for making illumination patterns for microscopy
JP5741709B2 (ja) * 2011-12-01 2015-07-01 株式会社ニコン 構造化照明装置、その構造化照明装置の調整方法、コンピュータ実行可能な調整プログラム、構造化照明顕微鏡装置、面形状測定装置
EP2841926B1 (en) * 2012-04-23 2017-07-26 Siemens Healthcare Diagnostics Inc. Biological assay sample analyzer
US9243886B1 (en) * 2012-06-26 2016-01-26 Kla-Tencor Corporation Optical metrology of periodic targets in presence of multiple diffraction orders
JP5915748B2 (ja) * 2012-07-27 2016-05-11 株式会社ニコン 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡
JP5939301B2 (ja) * 2012-08-01 2016-06-22 株式会社ニコン 構造化照明観察装置
JP2014063151A (ja) * 2012-08-29 2014-04-10 Canon Inc 顕微鏡用照明光学系およびこれを用いた顕微鏡
JP2014048423A (ja) * 2012-08-30 2014-03-17 Canon Inc 撮像光学系、撮像装置および撮像システム
DE102012017922B4 (de) * 2012-09-11 2024-03-14 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optikanordnung und Lichtmikroskop
DE102012020877A1 (de) * 2012-10-17 2014-04-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optikanordnung und Lichtmikroskop
EP2976619B1 (en) 2013-03-20 2021-11-10 Siemens Healthcare Diagnostics Inc. Light and shutter for a sample analyzer
JP6124774B2 (ja) * 2013-03-22 2017-05-10 オリンパス株式会社 位相分布計測方法、及び、位相分布計測装置
WO2014169197A1 (en) * 2013-04-12 2014-10-16 Duky University Systems and methods for structured illumination super-resolution phase microscopy
WO2015008415A1 (ja) * 2013-07-17 2015-01-22 株式会社ニコン 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置
US9426383B1 (en) * 2014-06-20 2016-08-23 Amazon Technologies, Inc. Digital camera for capturing spectral and spatial information
CN104199182B (zh) * 2014-09-26 2017-05-03 江苏大学 一种两步衍射相位成像方法及对应相位恢复方法
CN104570315B (zh) * 2014-12-30 2017-06-27 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种基于结构照明的彩色三维层析显微成像系统及方法
JP6635052B2 (ja) * 2015-02-05 2020-01-22 株式会社ニコン 構造化照明顕微鏡、及び観察方法
WO2016127140A1 (en) 2015-02-05 2016-08-11 Duke University Compact telescope configurations for light scanning systems and methods of using the same
US10238279B2 (en) 2015-02-06 2019-03-26 Duke University Stereoscopic display systems and methods for displaying surgical data and information in a surgical microscope
EA032988B1 (ru) * 2016-03-10 2019-08-30 Общество С Ограниченной Ответственностью "Цифровая Медицина" Устройство для получения изображения микрообъектов
US10694939B2 (en) 2016-04-29 2020-06-30 Duke University Whole eye optical coherence tomography(OCT) imaging systems and related methods
WO2018081711A1 (en) * 2016-10-30 2018-05-03 University Of Vienna High speed deep tissue imaging system using multiplexed scanned temporal focusing
US10295827B1 (en) * 2017-04-27 2019-05-21 Facebook Technologies, Llc Diffractive optics beam shaping for structured light generator
NL2020621B1 (en) * 2018-01-08 2019-07-15 Illumina Inc Multiplexing of an active sensor detector using structured illumination
DK3622272T3 (da) 2018-01-08 2021-11-15 Illumina Inc Indretninger til højgennemløbssekventering med halvlederbaseret detektering
NL2020620B1 (en) 2018-01-16 2019-07-25 Illumina Inc Pattern angle spatial selection structured illumination imaging
TWI725875B (zh) 2018-01-16 2021-04-21 美商伊路米納有限公司 結構照明成像系統和使用結構化光來創建高解析度圖像的方法
NL2020619B1 (en) 2018-01-16 2019-07-25 Illumina Inc Dual optical grating slide structured illumination imaging
NL2020623B1 (en) 2018-01-24 2019-07-30 Illumina Inc Structured illumination microscopy with line scanning
NL2020622B1 (en) 2018-01-24 2019-07-30 Lllumina Cambridge Ltd Reduced dimensionality structured illumination microscopy with patterned arrays of nanowells
CN108319009B (zh) * 2018-04-11 2020-07-17 中国科学院光电技术研究所 基于结构光调制的快速超分辨成像方法
NL2021258B1 (en) 2018-06-14 2019-12-20 Illumina Inc Device for luminescent imaging
TWI792150B (zh) 2018-06-29 2023-02-11 美商伊路米納有限公司 用於預測結構照明參數之方法、系統和非暫時性電腦可讀取媒體
US10901202B2 (en) 2018-09-19 2021-01-26 Illumina, Inc. Structured illumination of a sample
CN112485899B (zh) * 2020-12-04 2023-03-28 上海交通大学医学院附属第九人民医院 一种设置紧凑型结构光光路的方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11242189A (ja) * 1997-12-25 1999-09-07 Olympus Optical Co Ltd 像形成法、像形成装置
JP2002196253A (ja) * 2000-12-26 2002-07-12 Nikon Corp 干渉縞投影光学系及びこの光学系を用いた顕微鏡

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5671085A (en) 1995-02-03 1997-09-23 The Regents Of The University Of California Method and apparatus for three-dimensional microscopy with enhanced depth resolution
JP2007199397A (ja) * 2006-01-26 2007-08-09 Nikon Corp 顕微鏡装置
JP2007199572A (ja) * 2006-01-30 2007-08-09 Nikon Corp 顕微鏡装置
JP4844137B2 (ja) * 2006-01-30 2011-12-28 株式会社ニコン 顕微鏡装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11242189A (ja) * 1997-12-25 1999-09-07 Olympus Optical Co Ltd 像形成法、像形成装置
JP2002196253A (ja) * 2000-12-26 2002-07-12 Nikon Corp 干渉縞投影光学系及びこの光学系を用いた顕微鏡

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014137501A (ja) * 2013-01-17 2014-07-28 Nikon Corp 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置

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