WO2011162057A1 - 走査信号線駆動回路およびそれを備えた表示装置 - Google Patents

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高橋 佳久
泰章 岩瀬
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シャープ株式会社
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Definitions

  • the present invention relates to a display device and a driving circuit thereof, and more particularly to a scanning signal line driving circuit including a shift register that drives a scanning signal line disposed in a display unit of the display device.
  • CMOS gate drivers for driving gate bus lines (scanning signal lines) have been advanced in liquid crystal display devices.
  • the gate driver is often mounted as an IC (Integrated Circuit) chip on the periphery of the substrate constituting the liquid crystal panel, but in recent years, the gate driver is gradually formed directly on the substrate. ing.
  • Such a gate driver is called a “monolithic gate driver”.
  • a monolithic gate driver In a liquid crystal display device including a monolithic gate driver, a thin film transistor using amorphous silicon (a-Si) is typically employed as a drive element.
  • a-Si amorphous silicon
  • thin film transistors using polycrystalline silicon, microcrystalline silicon, oxide semiconductors (for example, IGZO), and the like are being adopted as driving elements.
  • the display portion of the active matrix type liquid crystal display device includes a plurality of source bus lines (video signal lines), a plurality of gate bus lines, a plurality of source bus lines, and a plurality of gate bus lines.
  • a pixel circuit including a plurality of pixel forming portions provided corresponding to the intersections with each other is formed.
  • the plurality of pixel forming portions are arranged in a matrix to form a pixel array.
  • Each pixel formation unit holds a thin film transistor, which is a switching element in which a gate terminal is connected to a gate bus line passing through a corresponding intersection and a source terminal is connected to a source bus line passing through the intersection, and a pixel voltage value It includes a pixel capacity and the like.
  • the active matrix liquid crystal display device is also provided with the gate driver described above and a source driver (video signal line driving circuit) for driving the source bus line.
  • a video signal indicating a pixel voltage value is transmitted by a source bus line, but each source bus line cannot transmit a video signal indicating a pixel voltage value for a plurality of rows at a time (simultaneously). For this reason, the writing (charging) of the video signal to the pixel capacitors in the above-described pixel formation portion arranged in a matrix is sequentially performed row by row. Therefore, the gate driver is constituted by a shift register having a plurality of stages so that a plurality of gate bus lines are sequentially selected for a predetermined period. As described above, the active scanning signal is sequentially output from each stage of the shift register (hereinafter, a circuit constituting each stage of the shift register is also referred to as a “stage configuration circuit”). The video signal is written to the capacitor one line at a time.
  • each stage (each stage constituent circuit) of the shift register is configured as shown in FIG. 36 (FIG. 2 of Japanese Patent Laid-Open No. 2006-127630), for example.
  • the stage configuration circuit is provided with an output control transistor in which a source terminal is connected to an output terminal for a scanning signal and a clock signal is supplied to a drain terminal. Then, the on / off state of the output control transistor is controlled by controlling the potential of the node connected to the gate terminal of the output control transistor, and the clock signal when the output control transistor is in the on state is controlled. Appears as a scanning signal.
  • FIG. 36 FIG. 2 of Japanese Patent Laid-Open No. 2006-127630
  • the gate voltage (voltage of node A) of the output control transistor is increased stepwise by the scanning signal output from the previous stage and the scanning signal output from the previous stage. It is done. As a result, the gate voltage of the output control transistor is remarkably increased, and the scanning signal is quickly raised and lowered.
  • the period during which the scanning signal completely rises and the original (video signal) writing to the pixel capacitor is performed is referred to as a “main charging period”.
  • a period from the start of the rise of the scan signal to the start of the fall of the scan signal (a period during which an operation for writing to the pixel capacitor is performed) is referred to as a “write operation period”.
  • Japanese Unexamined Patent Publication No. 2006-127630 Japanese Special Table No. 2008-508654, Japanese Special Table No. 2008-537275, Japanese Unexamined Patent Publication No. 2003-202840, and Japanese Unexamined Patent Publication No. 2008 -61323 also discloses a configuration of a shift register provided in a display device or the like.
  • a clock signal is supplied to the drain terminal of the output control transistor. Then, the amplitude of the clock signal appears almost as the amplitude of the scanning signal.
  • the amplitude of the scanning signal is larger than the voltage amplitude necessary for the switching operation of the transistor so that the pixel capacitor is charged as desired regardless of the magnitude of the video signal voltage. For this reason, the amplitude of the clock signal is made larger than the voltage amplitude necessary for the switching operation of the transistor.
  • the parasitic capacitance of the clock wiring (signal wiring for transmitting the clock signal) is large.
  • the power consumption increases as the amplitude of the clock signal and the parasitic capacitance of the clock wiring increase, it has been a challenge to reduce the power consumption of the gate driver.
  • the amplitude of the clock signal is reduced in order to reduce power consumption in the conventional configuration, the amplitude of the scanning signal is also reduced. Therefore, if the amplitude of the clock signal is reduced to such an extent that the effect of reducing power consumption can be sufficiently obtained, a scanning signal that sufficiently charges the pixel capacitor cannot be obtained.
  • an object of the present invention is to reduce the power consumption of the monolithic gate driver as compared with the conventional technique without reducing the voltage of the scanning signal applied to the gate bus line.
  • a first aspect of the present invention is a scanning signal line driving circuit of a display device for driving a plurality of scanning signal lines arranged in a display unit, Based on a plurality of clock signals input from the outside, comprising a shift register consisting of a plurality of stages for sequentially outputting on-level scanning signals to sequentially drive the plurality of scanning signal lines,
  • the stage configuration circuit constituting each stage of the shift register is: A first output node connected to the scanning signal line for outputting a scanning signal for driving the scanning signal line; A second output node for outputting another stage control signal for controlling the operation of the stage constituent circuits of different stages;
  • a third node configured as: A first potential difference holding unit for holding a potential difference between the first node and the second node; A second potential difference holding unit for holding a potential difference between the second node and the third node;
  • the other stage control signal output from the stage constituent circuit two or more stages before each stage constituent circuit is given as the first node set signal
  • one or more signals are given as a node region set signal including the second node set signal
  • the first node changes from an off level to an on level based on the first node set signal
  • the second node changes from an off level to an on level based on the second node set signal
  • the third node changes from an off level to an on level after the second node changes from an off level to an on level,
  • the first node is in
  • the node region is formed only by the second node;
  • Each stage component circuit is given only the second node set signal as the node region set signal,
  • the first potential difference holding unit includes a capacitor having one end connected to the first node and the other end connected to the second node.
  • Each stage component circuit is given as a reset signal the other stage control signal output from the stage component circuit of the next stage of each stage component circuit,
  • Each stage configuration circuit A first node turn-off switching element for changing the level of the first node toward an off level based on the reset signal; And a second node turn-off switching element for changing the level of the second node toward the off level based on the reset signal.
  • the first electrode is supplied with the reset signal, the second electrode is connected to the first node, and the third electrode is connected to the second node.
  • the reset signal is applied to the first electrode, the second electrode is connected to the second node, and the third electrode is connected to the first output node or the second output node. It is connected.
  • a sixth aspect of the present invention is the fifth aspect of the present invention.
  • Each stage configuration circuit includes an output node turn-off switching element for changing a level of a node connected to the third electrode of the second node turn-off switching element toward an off level based on the reset signal. Furthermore, it is characterized by having.
  • the first electrode is supplied with the reset signal
  • the second electrode is connected to the second node
  • the third electrode is connected to the first node.
  • a first third node turn-on switching element for changing the third node from an off level to an on level;
  • the second electrode of the second output control switching element included in the other stage control signal output from the stage constituent circuit of the stage preceding each stage constituent circuit or the stage constituent circuit of the stage preceding each stage constituent circuit And a third node turn-off switching element for maintaining the third node at an off level before the start of the main charging period based on a clock signal applied to the first charging period.
  • a ninth aspect of the present invention is the eighth aspect of the present invention, In each stage constituent circuit, the third node changes from an off level to an on level based on the other stage control signal output from the stage constituent circuit.
  • a tenth aspect of the present invention is the eighth aspect of the present invention, In each stage constituent circuit, the third node changes from an off level to an on level based on a clock signal applied to the second electrode of the second output control switching element included in the stage constituent circuit.
  • Each stage constituent circuit is a switching element for turning on the first third node.
  • a twelfth aspect of the present invention is the eighth aspect of the present invention,
  • Each stage configuration circuit A second electrode connected to the first output node, and an off-level DC power supply potential is applied to the third electrode.
  • a second first output for changing the level of the first output node toward the off-level.
  • Switching element for node turn-off A fourth node connected to the first electrode of the second first output node turn-off switching element;
  • a clock signal supplied to the second electrode of the second output control switching element included in the stage constituent circuit in the stage preceding each stage constituent circuit is supplied to the first electrode, and the second electrode is supplied to the third node.
  • a fourth node controlling switching element connected and having a third electrode connected to the fourth node;
  • a fourth node turn-off switching element for changing the level of the fourth node toward an off level based on the first node set signal or the potential of the first node.
  • a thirteenth aspect of the present invention is the eighth aspect of the present invention, In each stage configuration circuit, The first electrode and the second electrode of the first third-node turn-on switching element have other stage control signals output from the respective stage constituent circuits or second output control included in the respective stage constituent circuits. A clock signal applied to the second electrode of the switching element; The third electrode of the first third-node turn-on switching element is connected to the third node.
  • a fourteenth aspect of the present invention is the eighth aspect of the present invention.
  • Each stage configuration circuit maintains the third node at an off level before the start of the main charging period based on the potential of the first node or the potential of the second node, and It further has a third node control switching element for changing the third node from the off level to the on level at the start time.
  • Each stage constituent circuit further includes a first first output node turn-off switching element for changing a level of the first output node toward an off level based on the reset signal.
  • Each stage configuration circuit maintains the third node at an off level before the start of the main charging period based on the potential of the first node or the potential of the second node, and the second node It further has a third node control switching element for changing the third node from the off level to the on level during a period from the time when it becomes the on level to the time when the main charging period ends.
  • the third node and the second output node are the same node.
  • Each stage constituent circuit further includes a second node set signal turn-off switching element for changing the level of the second node set signal toward an off level based on the potential of the third node.
  • the nineteenth aspect of the present invention is the eighteenth aspect of the present invention,
  • the third node is maintained at an on level during a period before the time when the first node changes from an off level to an on level and a period after the end of the main charging period.
  • Each stage constituent circuit is provided with a reset signal as another stage control signal output from the stage constituent circuit of the stage after each stage constituent circuit.
  • Each stage constituent circuit further includes a second third node turn-on switching element for changing the level of the third node toward the on level based on the reset signal.
  • the 21st aspect of the present invention is the 20th aspect of the present invention
  • the second third node turn-on switching element is characterized in that the reset signal is applied to the first electrode and the second electrode, and the third electrode is connected to the third node.
  • the node region is formed by m (m is an integer of 2 or more) nodes including the second node
  • the first potential difference holding unit includes m pieces connected in series between the first node and the second node via nodes other than the second node among nodes forming the node region.
  • a capacitor, Each stage component circuit is provided with m signals as the node region set signal,
  • the m nodes forming the node region sequentially change from an off level to an on level based on the node region set signal, Each node forming the node region is in a floating state during a period from the change from an off level to an on level to the start of the main charging period.
  • a node at a position electrically close to the first node among the m nodes forming the node region (k is an integer of 1 to m) is the stage constituent circuit. Changing from the off level to the on level based on the signal output from the k-th stage configuration circuit among the m stage configuration circuits that output m signals given as the node region set signal. It is characterized by.
  • Each stage constituent circuit is provided with a reset signal as another stage control signal output from the stage constituent circuit of the stage after each stage constituent circuit.
  • Each stage configuration circuit further includes m second node turn-off switching elements for changing the level of m nodes forming the node region toward an off level based on the reset signal.
  • a switching element provided corresponding to a node other than the second node among m nodes forming the node region
  • the reset signal is given to the first electrode
  • the second electrode is connected to a node that is electrically close to the first node among the first nodes, and the first node among the m nodes forming the node region is electrically connected to the first node x
  • the third electrode is connected to any one of the node closest to the position x, z + 1 to m or less, the first node, the first output node, and the second output node. That.
  • An operation start signal generation circuit is further provided for generating a signal to be used as the first node set signal and the node region set signal based on one start pulse signal input from the outside.
  • the shift register is supplied with two clock signals having an on-duty of approximately 1 ⁇ 2 and phases shifted from each other by 180 degrees as the plurality of clock signals.
  • each stage constituent circuit is all thin-film transistors having the same channel.
  • a twenty-ninth aspect of the present invention is a display device, A scanning signal line drive circuit according to any one of the first to 28th aspects of the present invention is provided, including the display section.
  • a plurality of scans arranged in a display unit by a scanning signal line driving circuit including a shift register having a plurality of stages and operating based on a plurality of externally input clock signals.
  • a method of driving a signal line About the stage configuration circuit constituting each stage of the shift register, A first node turn-on step for changing a first node included in the stage constituent circuit from an off level to an on level; A second node turn-on step for changing a second node included in the stage constituent circuit from an off level to an on level; A third node turn-on step for changing a third node included in the stage constituent circuit from an off level to an on level,
  • the stage configuration circuit is: A first output node connected to the scanning signal line for outputting a scanning signal for driving the scanning signal line; A second output node for outputting another stage control signal for controlling the operation of the stage constituent circuits of different stages; A first output control switching element in which an on-level DC power supply potential is applied to the second electrode, and a third electrode is connected to the first output node; A second output control switching element in which the clock signal is applied to a second electrode and a third electrode is connected to the second output node; The first node connected to the first electrode of the first output control
  • a scanning signal for driving a scanning signal line connected to each stage constituent circuit is different from each stage constituent circuit.
  • the other stage control signal for controlling the stage configuration circuit is output.
  • a DC power supply potential is applied to the second electrode of the first output control switching element for controlling the potential of the scanning signal.
  • a clock signal is applied to the second electrode of the second output control switching element for controlling the potential of the other stage control signal.
  • the first node connected to the first electrode of the first output control switching element receives the first node set signal (output from the stage constituent circuit two or more stages before the respective stage constituent circuit).
  • the shift register is operated with a clock signal having a relatively small amplitude, the level of the scanning signal in the main charging period can be reached to the extent that writing to the pixel capacitor is sufficiently performed.
  • the power consumption in the shift register can be reduced more than before without reducing the voltage applied to the scanning signal line during the main charging period.
  • the parasitic capacitance of the clock wiring is reduced and the power consumption is reduced. Further, since the influence of the clock wiring load on the clock signal is reduced, the occurrence of waveform rounding of the clock signal is suppressed, and the stability of the circuit operation is improved. As a result, display quality is improved. Furthermore, the potential of the scanning signal changes stepwise from the start of the main charging period toward the on level. Therefore, during the main charging period, the scanning signal quickly reaches a sufficient level, and the pixel capacitor is sufficiently charged. Thereby, display quality improves.
  • the same effects as in the first aspect of the present invention can be obtained with a relatively simple configuration.
  • the first node and the second node are surely set to the off level after the end of the write operation period. For this reason, generation of noise of the scanning signal and the other stage control signal during the normal operation period is suppressed.
  • a voltage corresponding to the difference between the potential of the first node and the potential of the second node is applied between the second electrode and the third electrode of the first node turn-off switching element. Is done. Since the potential of the second node changes toward the on level during the write operation period, the voltage between the second electrode and the third electrode of the first node turn-off switching element during the period becomes relatively small. This suppresses the outflow of charge from the first node via the first node turn-off switching element during the write operation period. As a result, the potential of the first node is suppressed from changing toward the off level during the write operation period, and the stability of the circuit operation is improved.
  • the difference between the potential of the second node and the potential of the first output node or the second output node is between the second electrode and the third electrode of the second node turn-off switching element.
  • a voltage corresponding to is applied. Since the potential of the first output node (the potential of the scanning signal) and the potential of the second output node (the potential of the other-stage control signal) change toward the on level during the writing operation period, the second node during the period
  • the voltage between the second electrode and the third electrode of the turn-off switching element is relatively small. This suppresses the outflow of charges from the second node through the second node turn-off switching element during the write operation period. As a result, the potential of the second node is suppressed from changing toward the off level during the write operation period, and the stability of the circuit operation is improved.
  • the potential of the first output node or the second output node is reliably set to the off level after the end of the write operation period. For this reason, generation of noise of the scanning signal or the other-stage control signal during the normal operation period is suppressed.
  • the seventh aspect of the present invention since the third electrode of the second node turn-off switching element is connected to the first node, the potential of the second node changes as the potential of the first node changes. To do. For this reason, the time until the second node is turned off after the end of the write operation period becomes relatively long. Thereby, after the writing operation period, the other-stage control signal is quickly turned off via the second output control switching element.
  • the third node based on the other stage control signal and the clock signal, the third node is maintained at the off level before the start of the main charging period, and the third node at the start of the main charging period.
  • the node is on level. In this way, the potential of the third node can be controlled without being based on the potential of the first node or the second node.
  • the first third-node turn-on switching element for setting the third node to the on level is turned on based on the other stage control signal.
  • the other stage control signal is turned on only during one horizontal scanning period in one vertical scanning period. Therefore, even when the third node is set to the off level during the normal operation period, the period during which the high voltage is applied between the second electrode and the third electrode of the first third node turn-on switching element is shortened. The deterioration of the first third node turn-on switching element is suppressed. For this reason, the deterioration of the waveform when the third node changes from the off level to the on level is suppressed, and the shift register can be stably operated over a long period of time.
  • charge is supplied to the third node at a relatively short period. This ensures that the third node is maintained at the on level during the normal operation period even if current leakage occurs in the switching element connected to the third node. Thereby, the stability of the circuit operation is enhanced.
  • the deterioration of the waveform when the third node changes from the off level to the on level is suppressed, and the shift register can be operated stably over a long period of time. Is possible. Further, as in the tenth aspect of the present invention, the third node is reliably maintained at the on level during the normal operation period, and the stability of the circuit operation is improved.
  • the fourth node when the fourth node is in the on level, the second first output node turn-off switching element is in the on state, and the potential of the scanning signal goes to the off level. And drawn.
  • the fourth node should be maintained at the off level so that the second first output node turn-off switching element is turned off. Since the write operation period is longer than the clock cycle, a complicated configuration is required to turn on the fourth node using the clock signal.
  • another stage control signal output from the subsequent stage configuration circuit can be used.
  • the potential of the fourth node changes toward the off level during the normal operation period, and the circuit operation becomes unstable.
  • charge is supplied from the third node to the fourth node each time the clock signal applied to the first electrode of the fourth node control switching element is turned on.
  • the voltage between the first electrode and the second electrode of the first third-node turn-on switching element is zero. Therefore, when the third node is maintained at the on level during the normal operation period, even if the potential of the first electrode of the first third node turn-on switching element becomes the off level, the first third The voltage between the first electrode and the third electrode received by the node turn-on switching element is also zero, and the deterioration of the first third node turn-on switching element is suppressed.
  • the level of the third node can be changed more quickly.
  • the fifteenth aspect of the present invention it is possible to reliably set the scanning signal to the off level after the end of the main charging period.
  • the potential of the third node can be controlled with a relatively simple configuration.
  • the seventeenth aspect of the present invention it is possible to relatively reduce the number of switching required for the stage constituent circuit constituting the shift register. For this reason, the mounting area is reduced, and the display device can be downsized or the display area can be enlarged.
  • the third node when the third node is set to the on level, the potential of the second node set signal is drawn to the off level, and the second node can be surely brought into the floating state. For this reason, the second node is surely turned on during the main charging period, and the stability of the circuit operation is improved.
  • the potential of the second node set signal is pulled to the off level during the normal operation period. For this reason, in each stage constituent circuit, the influence of the noise of the other stage control signal given from the previous stage is suppressed, and the stability of the circuit operation is improved.
  • the third node changes toward the on level based on the reset signal after the end of the main charging period. For this reason, even if the first node and the second node change from the on level to the off level after the end of the main charging period, the third node does not become the off level. Therefore, the third node is reliably maintained at the on level during the normal operation period. Thereby, in each stage constituent circuit, the influence of the noise of the other stage control signal given from the previous stage is surely suppressed, and the stability of the circuit operation is improved.
  • the first node after the first node changes from the off level to the on level based on the first node set signal, the first node further changes toward the on level by three or more bootstraps. Therefore, even when the shift register is operated with a clock signal having a smaller amplitude, the level of the scanning signal in the main charging period can be reached to the extent that writing to the pixel capacitor is sufficiently performed. As a result, the power consumption in the shift register can be significantly reduced as compared with the prior art without reducing the voltage applied to the scanning signal line during the main charging period.
  • the power consumption in the shift register is made lower than before without reducing the voltage applied to the scanning signal line during the main charging period. Can be significantly reduced.
  • the node forming the node region is reliably set to the off level. For this reason, the stability of the circuit operation in the normal operation period is improved.
  • the voltage between the second electrode and the third electrode of the second node turn-off switching element is reduced. This suppresses the outflow of charges via the second node turn-off switching element during the write operation period. As a result, the potential of the node forming the node region is suppressed from changing toward the off level during the write operation period, and the stability of the circuit operation is improved.
  • the number of signals necessary for starting the operation of the shift register is reduced.
  • the power consumption is more effectively reduced.
  • the manufacturing cost of the scanning signal line driving circuit can be reduced.
  • a display device including a scanning signal line driving circuit capable of obtaining the same effect as any one of the first to twenty-eighth aspects of the present invention is realized.
  • FIG. 2 is a circuit diagram illustrating a configuration of a stage configuration circuit included in a shift register in a gate driver in the liquid crystal display device according to the first embodiment of the present invention.
  • it is a block diagram which shows the whole structure of a liquid crystal display device.
  • it is a block diagram for demonstrating the structure of a gate driver.
  • FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a shift register in a gate driver in the first embodiment.
  • it is a signal waveform diagram for demonstrating the relationship between the amplitude of a scanning signal, and the amplitude of a clock signal.
  • FIG. 1st Embodiment it is a block diagram which shows the whole structure of a liquid crystal display device.
  • it is a block diagram for demonstrating the structure of a gate driver.
  • FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a shift register in a gate driver in the first embodiment.
  • it is a signal waveform diagram for demonstrating the relationship between the amplitude of a scanning
  • FIG. 6 is a signal waveform diagram for explaining the operation of the gate driver in the first embodiment.
  • FIG. 6 is a signal waveform diagram for describing an operation of the stage constituent circuit in the first embodiment. It is a figure which shows the simulation result in the said 1st Embodiment. It is a circuit diagram which shows the structure of the stage structure circuit in the 1st modification of the said 1st Embodiment.
  • FIG. 10 is a signal waveform diagram for describing the operation of the stage constituent circuit in the first modification example of the first embodiment. It is a circuit diagram which shows the structure of the stage structure circuit in the 2nd modification of the said 1st Embodiment.
  • FIG. 10 is a signal waveform diagram for explaining the operation of the stage constituent circuit in the second modification example of the first embodiment.
  • it is a signal waveform diagram for demonstrating operation
  • it is a circuit diagram which shows the structure of the stage structure circuit in the 4th Embodiment of this invention.
  • it is a signal waveform diagram for demonstrating operation
  • it is a circuit diagram which shows the structure of the stage structure circuit in the 1st modification of the said 4th Embodiment.
  • the 1st modification of the said 4th Embodiment it is a signal waveform diagram for demonstrating operation
  • FIG. 11 is a circuit diagram illustrating a configuration example of one stage of a shift register in a conventional liquid crystal display device.
  • the gate terminal (gate electrode) of the thin film transistor corresponds to the first electrode
  • the drain terminal (drain electrode) corresponds to the second electrode
  • the source terminal (source electrode) corresponds to the third electrode.
  • FIG. 2 is a block diagram showing the overall configuration of the active matrix liquid crystal display device according to the first embodiment of the present invention. As shown in FIG. 2, this liquid crystal display device is common to a power supply 100, a DC / DC converter 110, a display control circuit 200, a source driver (video signal line driving circuit) 300, and a gate driver (scanning signal line driving circuit) 400. An electrode driving circuit 500 and a display unit 600 are provided. Note that the gate driver 400 is formed over a display panel including the display portion 600 using amorphous silicon, polycrystalline silicon, microcrystalline silicon, an oxide semiconductor (eg, IGZO), or the like. That is, in this embodiment, the gate driver 400 and the display unit 600 are formed on the same substrate (an array substrate that is one of the two substrates constituting the liquid crystal panel).
  • the display unit 600 includes a plurality (j) of source bus lines (video signal lines) SL1 to SLj, a plurality (i) of gate bus lines (scanning signal lines) GL1 to GLi, and their source buses.
  • a pixel circuit including a plurality (i ⁇ j) of pixel forming portions provided corresponding to the intersections of the lines SL1 to SLj and the gate bus lines GL1 to GLi is formed.
  • the plurality of pixel forming portions are arranged in a matrix to form a pixel array.
  • Each pixel forming portion includes a thin film transistor (TFT) 60 which is a switching element having a gate terminal connected to a gate bus line passing through a corresponding intersection and a source terminal connected to a source bus line passing through the intersection.
  • a pixel electrode connected to the drain terminal of the thin film transistor 60, a common electrode Ec which is a common electrode provided in the plurality of pixel formation portions, and a pixel provided in common in the plurality of pixel formation portions
  • the liquid crystal layer is sandwiched between the electrode and the common electrode Ec.
  • a pixel capacitor Cp is constituted by a liquid crystal capacitor formed by the pixel electrode and the common electrode Ec.
  • an auxiliary capacitor is provided in parallel with the liquid crystal capacitor in order to hold the electric charge in the pixel capacitor Cp with certainty.
  • the auxiliary capacitor is not directly related to the present invention, its description and illustration are omitted.
  • the power supply 100 supplies a predetermined power supply voltage to the DC / DC converter 110, the display control circuit 200, and the common electrode drive circuit 500.
  • the DC / DC converter 110 generates a predetermined DC voltage for operating the source driver 300 and the gate driver 400 from the power supply voltage and supplies it to the source driver 300 and the gate driver 400.
  • the common electrode drive circuit 500 gives a predetermined potential Vcom to the common electrode Ec.
  • the display control circuit 200 receives an image signal DAT and a timing signal group TG such as a horizontal synchronization signal and a vertical synchronization signal sent from the outside, and receives a digital video signal DV and a source start pulse for controlling image display on the display unit 600.
  • a signal SSP, a source clock signal SCK, a latch strobe signal LS, a gate start pulse signal GSP, a gate end pulse signal GEP, and a gate clock signal GCK are output.
  • the gate start pulse signal GSP is composed of two signals GSP1 (hereinafter referred to as “first gate start pulse signal”) and GSP2 (hereinafter referred to as “second gate start pulse signal”).
  • the gate clock signal GCK is composed of a two-phase clock signal GCK1 (hereinafter referred to as “first gate clock signal”) and GCK2 (hereinafter referred to as “second gate clock signal”).
  • the source driver 300 receives the digital video signal DV, the source start pulse signal SSP, the source clock signal SCK, and the latch strobe signal LS output from the display control circuit 200, and drives the video signal S for driving to the source bus lines SL1 to SLj. (1) to S (j) are applied.
  • the gate driver 400 Based on the gate start pulse signal GSP, the gate end pulse signal GEP, and the gate clock signal GCK output from the display control circuit 200, the gate driver 400 generates each gate of the active scanning signals GOUT (1) to GOUT (i). The application to the bus lines GL1 to GLi is repeated with one vertical scanning period as a cycle. A detailed description of the gate driver 400 will be given later.
  • the driving video signals S (1) to S (j) are applied to the source bus lines SL1 to SLj, and the scanning signals GOUT (1) to GOUT (i) are applied to the gate bus lines GL1 to GLi. Is applied, an image based on the image signal DAT sent from the outside is displayed on the display unit 600.
  • the gate driver 400 includes a shift register 410 having a plurality of stages.
  • a pixel matrix of i rows ⁇ j columns is formed, and each stage of the shift register 410 is provided so as to correspond to each row of the pixel matrix on a one-to-one basis.
  • the shift register 410 includes i stage configuration circuits SR (1) to SR (i). These i stage constituent circuits SR (1) to SR (i) are connected in series with each other.
  • FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of the shift register 410 in the gate driver 400.
  • the shift register 410 includes i stage configuration circuits SR (1) to SR (i).
  • FIG. 4 shows stage configuration circuits from the (n ⁇ 2) th stage to the (n + 2) th stage.
  • Each stage constituent circuit has an input terminal for receiving a clock signal CKA (hereinafter referred to as “first clock”), an input terminal for receiving a clock signal CKB (hereinafter referred to as “second clock”), An input terminal for receiving a level DC power supply potential VDD (the magnitude of this potential is also referred to as “VDD potential”) and a low-level DC power supply potential VSS (this potential magnitude is referred to as “VSS potential”).
  • first clock hereinafter referred to as “first clock”
  • CKB hereinafter referred to as “second clock”
  • VDD level DC power supply potential
  • VSS this potential magnitude is referred to as “VSS potential”.
  • other stage control signal a signal for controlling the operation of the stage constituent circuit different from each stage constituent circuit
  • each stage constituent circuit of the shift register 410 The signals given to the input terminals of each stage (each stage constituent circuit) of the shift register 410 are as follows (see FIG. 4).
  • the second gate clock signal GCK2 is given as the first clock CKA
  • the first gate clock signal GCK1 is given as the second clock CKB.
  • the first gate clock signal GCK1 is given as the first clock CKA
  • the second gate clock signal GCK2 is given as the second clock CKB.
  • the other stage control signal Z output from the preceding stage is given as the first set signal S1, and the other stage control signal Z outputted from the previous stage is given as the second set signal S2.
  • the other stage control signal Z output from the next stage is given as the reset signal R.
  • the first gate start pulse signal GSP1 is given as the first set signal S1
  • the second gate start pulse signal GSP2 is given as the second set signal S2.
  • the second gate start pulse signal GSP2 is given as the first set signal S1.
  • the gate end pulse signal GEP is given as the reset signal R.
  • the high-level DC power supply potential VDD and the low-level DC power supply potential VSS are commonly applied to all the stage configuration circuits.
  • the scanning signal GOUT and the other stage control signal Z are output from each stage (each stage constituent circuit) of the shift register 410.
  • the scanning signal GOUT output from each stage is given to the corresponding gate bus line.
  • the other stage control signal Z output from each stage is given to the previous stage as the reset signal R, given to the next stage as the second set signal S2, and given to the next stage as the first set signal S1.
  • the power source that generates the scanning signal GOUT and the power source that generates the clock signal are different systems, and the amplitude VCK of the clock signal is the scanning signal as shown in FIG.
  • the amplitude of GOUT (corresponding to the difference between VDD potential and VSS potential) is made smaller than VG.
  • the amplitude VCK of the clock signal is 0.7 times the amplitude VG of the scanning signal GOUT.
  • the first gate clock signal GCK1 and the second gate clock signal GCK2 which are two-phase clock signals supplied to the shift register 410 are 180 degrees out of phase (almost one horizontal scanning period). In any case, both are in a high level (H level) only during one horizontal scanning period of two horizontal scanning periods.
  • the first gate start pulse signal GSP1 as the first set signal S1 and the second gate start pulse as the second set signal S2 are applied to the first stage SR (1) of the shift register 410.
  • the gate clock signal GCK first Based on the gate clock signal GCK1 and the second gate clock signal GCK2
  • the shift pulse included in the other stage control signal Z output from each stage changes from the first stage SR (1) to the i stage SR (i). It is transferred sequentially.
  • the scanning signal GOUT output from each stage SR (1) to SR (i) is sequentially set to the high level. At this time, as will be described later, the potential of the scanning signal GOUT increases stepwise. As a result, a scanning signal having a waveform as shown in FIG. 6 is applied to the gate bus line in the display unit 600.
  • FIG. 1 is a circuit diagram showing the configuration of the stage configuration circuit (configuration of one stage of the shift register 410) in the present embodiment.
  • the stage configuration circuit includes nine thin film transistors M1 to M9 and two capacitors C1 and C2.
  • this stage configuration circuit includes four input terminals 41, 43, 44, 49 and two input terminals. Output terminals 51 and 52.
  • the input terminal that receives the first clock CKA is denoted by reference numeral 41
  • the input terminal that receives the first set signal S1 is denoted by reference numeral 43
  • the input terminal that receives the second set signal S2 is denoted by reference numeral.
  • the input terminal for receiving the reset signal R is denoted by reference numeral 49.
  • An output terminal that outputs the scanning signal GOUT is denoted by reference numeral 51
  • an output terminal that outputs the other stage control signal Z is denoted by reference numeral 52.
  • the source terminal of the thin film transistor M1, the drain terminal of the thin film transistor M4, the gate terminal of the thin film transistor M7, and one end of the capacitor C1 are connected to each other.
  • a region (wiring) in which these are connected to each other is referred to as a “first node” for convenience.
  • the source terminal of the thin film transistor M2, the drain terminal of the thin film transistor M3, the drain terminal of the thin film transistor M5, the gate terminal of the thin film transistor M6, the gate terminal of the thin film transistor M9, the other end of the capacitor C1, and one end of the capacitor C2 are connected to each other.
  • a region (wiring) in which these are connected to each other is referred to as a “second node” for convenience.
  • the thin film transistor M9 and the other end of the capacitor C2 are connected to each other.
  • a region (wiring) in which these are connected to each other is referred to as a “third node” for convenience.
  • the first node is denoted by reference numeral N1
  • the second node is denoted by reference numeral N2
  • the third node is denoted by reference numeral N3.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 43, the drain terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VDD, and the source terminal is connected to the first node N1.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 44, the drain terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VDD, and the source terminal is connected to the second node N2.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 43, the drain terminal is connected to the second node N2, and the source terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VSS.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 49, the drain terminal is connected to the first node N1, and the source terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VSS.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 49, the drain terminal is connected to the second node N2, and the source terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VSS.
  • the gate terminal is connected to the second node N2, the drain terminal is connected to the input terminal 41, and the source terminal is connected to the output terminal 52.
  • the gate terminal is connected to the first node N1
  • the drain terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VDD
  • the source terminal is connected to the output terminal 51.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 49
  • the drain terminal is connected to the output terminal 51
  • the source terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VDD.
  • the gate terminal is connected to the second node N2
  • the drain terminal is connected to the input terminal 41
  • the source terminal is connected to the third node N3.
  • the capacitor C1 has one end connected to the first node N1 and the other end connected to the second node N2.
  • the capacitor C2 has one end connected to the second node N2 and the other end connected to the third node N3.
  • the thin film transistor M1 changes the potential of the first node N1 toward the VDD potential when the first set signal S1 is at a high level.
  • the thin film transistor M2 changes the potential of the second node N2 toward the VDD potential when the second set signal S2 is at a high level.
  • the thin film transistor M3 changes the potential of the second node N2 toward the VSS potential when the first set signal S1 is at a high level.
  • the thin film transistor M4 changes the potential of the first node N1 toward the VSS potential when the reset signal R is at a high level.
  • the thin film transistor M5 changes the potential of the second node N2 toward the VSS potential when the reset signal R is at a high level.
  • the thin film transistor M6 gives the potential of the first clock CKA to the output terminal 52 when the potential of the second node N2 is at a high level.
  • the thin film transistor M7 applies the VDD potential to the output terminal 51 when the potential of the first node N1 is at a high level.
  • the thin film transistor M8 changes the potential of the output terminal 51 (scanning signal GOUT) toward the VSS potential when the reset signal R is at a high level.
  • the thin film transistor M9 applies the potential of the first clock CKA to the third node N3 when the potential of the second node N2 is at a high level.
  • the capacitor C1 functions to increase the potential of the first node N1 as the potential of the second node N2 increases.
  • the capacitor C2 functions to increase the potential of the second node N2 as the potential of the third node N3 increases. That is, the capacitors C1 and C2 function as bootstrap capacitors.
  • the first node turn-off switching element is realized by the thin film transistor M4, the second node turn-off switching element is realized by the thin film transistor M5, and the second output control switching element is realized by the thin film transistor M6.
  • the first output control switching element is realized by the thin film transistor M7
  • the first first output node turn-off switching element is realized by the thin film transistor M8, and the third node control switching element is realized by the thin film transistor M9.
  • the first output node is realized by the output terminal 51 that outputs the scanning signal GOUT
  • the second output node is realized by the output terminal 52 that outputs the other-stage control signal Z.
  • the first node set signal is realized by the first set signal S1, and the second node set signal is realized by the second set signal S2.
  • a node region is realized only by the second node N2, a first potential difference holding unit is realized by the capacitor C1, and a second potential difference holding unit is realized by the capacitor C2.
  • stage configuration circuit a period during which original writing to the pixel capacitor is performed is referred to as a “main charging period”, and is a period from the start of the rise of the scan signal GOUT to the start of the fall of the scan signal GOUT. This is called a “write operation period”. Further, a period in which an operation for lowering the scanning signal GOUT is performed is referred to as a “reset period”, and a period other than the “writing operation period and the reset period” is referred to as a “normal operation period”. In FIG.
  • the period from time t0 to time t3 corresponds to the writing operation period
  • the period from time t2 to time t3 corresponds to the main charging period
  • the period from time t3 to time t4 is the reset period.
  • the period before time t0 and the period after time t4 correspond to the normal operation period.
  • the potential of the first node N1, the potential of the second node N2, the potential of the third node N3, the potential of the scanning signal GOUT (the potential of the output terminal 51), and the potential of the other stage control signal Z (The potential of the output terminal 52) is maintained at a low level.
  • the first set signal S1 changes from low level to high level.
  • the thin film transistors M1 and M3 are turned on.
  • the potential of the first node N1 rises, and when the thin film transistor M3 is turned on, the potential of the second node N2 is drawn to the VSS potential.
  • the capacitor C1 is charged.
  • the thin film transistor M7 is turned on, and the potential of the scanning signal GOUT is increased.
  • the second set signal S2 changes from the low level to the high level.
  • the thin film transistor M2 is turned on.
  • the first set signal S1 changes from the high level to the low level. Accordingly, the thin film transistors M1 and M3 are turned off.
  • the potential of the second node N2 rises.
  • the thin film transistor M1 is in an off state and the first node N1 is in a floating state, the potential at the first node N1 rises via the capacitor C1 as the potential at the second node N2 rises ( The first node N1 is bootstrapped).
  • the potential of the scanning signal GOUT further increases. Note that, during the period from the time point t1 to the time point t2, the potential of the second node N2 is at a high level and the thin film transistors M6 and M9 are turned on, but the first clock CKA is at a low level. The potential of the 3-node N3 and the potential of the other stage control signal Z are maintained at a low level.
  • the second set signal S2 changes from high level to low level.
  • the thin film transistor M2 is turned off, and the second node N2 is in a floating state.
  • the first clock CKA changes from the low level to the high level.
  • the potential of the third node N3 rises. Since the first node N1 and the second node N2 are in a floating state, the potential of the second node N2 rises via the capacitor C2 as the potential of the third node N3 rises, and the potential of the second node N2 As the voltage rises, the potential of the first node N1 rises via the capacitor C1 (the first node N1 is bootstrapped).
  • the potential of the first node N1 becomes higher than the VDD potential, and the potential of the scanning signal GOUT is increased to the VDD potential. Further, since the thin film transistor M6 is on and the first clock CKA is at a high level, the potential of the first clock CKA is applied to the output terminal 52. As a result, the potential of the other-stage control signal Z becomes high level.
  • the first clock CKA changes from high level to low level.
  • the potential of the other stage control signal Z decreases as the potential of the input terminal 41 decreases.
  • the reset signal R changes from the low level to the high level.
  • the thin film transistors M4, M5, and M8 are turned on.
  • the thin film transistor M4 is turned on, the potential of the first node N1 becomes a low level.
  • the thin film transistor M5 is turned on, the potential of the second node N2 becomes a low level, and when the thin film transistor M8 is turned on, scanning is performed.
  • the potential of the signal GOUT becomes low level.
  • the potential of the third node N3 also decreases via the capacitor C2.
  • the potential of the first node N1 As in the period before time t0, the potential of the first node N1, the potential of the second node N2, the potential of the third node N3, the potential of the scanning signal GOUT, and the other stage control signal Z The potential is maintained at a low level.
  • each stage constituent circuit in the shift register 410 includes a scanning signal GOUT for driving a gate bus line connected to each stage constituent circuit and a stage at a stage different from each stage constituent circuit.
  • the other stage control signal Z for controlling the constituent circuits is output.
  • a high-level DC power supply potential VDD is applied to the drain terminal of the thin film transistor M7 for controlling the potential of the scanning signal GOUT.
  • a clock signal is applied to the drain terminal of the thin film transistor M6 for controlling the potential of the other stage control signal Z.
  • the potential of the first node N1 connected to the gate terminal of the thin film transistor M7 rises based on the first set signal S1 (another stage control signal output from the preceding stage configuration circuit). After that, it rises twice by bootstrap. Therefore, even if the shift register 410 is operated with a clock signal having a relatively small amplitude, the potentials of the scanning signals GOUT (1) to GOUT (i) to be applied to the gate bus lines GL1 to GLi are sufficiently increased. Is possible. As described above, according to the present embodiment, it is possible to reduce the power consumption in the shift register 410 as compared with the prior art without reducing the voltage applied to the gate bus line during the main charging period. .
  • the power consumption W in the monolithic gate driver is proportional to the product of the capacitance value C of the parasitic capacitance in the circuit, the square of the voltage (amplitude) V, and the frequency f.
  • the frequency f of the clock signal is large and the power consumption W is proportional to the square of the voltage V
  • the power consumption W is greatly reduced by reducing the amplitude of the clock signal.
  • the amplitude of the scanning signal GOUT is larger than the voltage amplitude necessary for the switching operation of the thin film transistor so that the pixel capacitor is charged regardless of the magnitude of the video signal voltage.
  • the amplitude of the clock signal is larger than the voltage amplitude necessary for the switching operation of the thin film transistor.
  • the amplitude of the clock signal can be reduced, so that the power consumption is greatly reduced as compared with the conventional case.
  • FIG. 8 is a diagram showing a simulation result when the amplitude VCK of the clock signal is set to 0.7 times the amplitude VG of the scanning signal GOUT in the present embodiment.
  • the potential of the first node N1 is increased stepwise, and accordingly, the potential of the scanning signal GOUT is also increased stepwise.
  • the potential of the scanning signal GOUT is sufficiently increased.
  • the amplitude VCK of the clock signal is 0.7 times the amplitude VG of the scanning signal GOUT
  • the power consumption W is proportional to the square of the voltage V. The power consumption is almost halved.
  • a thin film transistor having a large size is used as a thin film transistor for controlling the potential of the scanning signal GOUT.
  • the parasitic capacitance of the clock wiring is large.
  • the drain terminal of the thin film transistor M7 for controlling the potential of the scanning signal GOUT is supplied with the high-level DC power supply potential VDD instead of the clock signal.
  • the parasitic capacitance of the clock wiring is reduced and the power consumption is reduced as compared with the conventional case.
  • the influence of the clock wiring load on the clock signal is reduced, the occurrence of waveform rounding of the clock signal is suppressed, and the stability of the circuit operation is improved. As a result, display quality is improved.
  • the scanning signal GOUT is stepwise before the start of the main charging period (period from time t2 to time t3 in FIG. 7), which is a period during which original writing to the pixel capacitor is performed. To be launched. Then, immediately before the start of the main charging period, the scanning signal GOUT has reached a relatively high potential. Therefore, during the main charging period, the scanning signal GOUT quickly reaches a sufficiently high potential, and the pixel capacitor is sufficiently charged. Thereby, display quality improves.
  • the maximum value of the voltage between the gate and the source of the thin film transistor M7 for controlling the potential of the scanning signal GOUT is reduced, and the breakdown of the thin film transistor M7 is suppressed.
  • FIG. 9 is a circuit diagram showing a configuration of the stage constituent circuit in the first modification of the first embodiment.
  • the stage constituent circuit is not provided with the thin film transistor M9 in the constituent elements in the first embodiment. Instead, the other end of the capacitor C2 and the source terminal of the thin film transistor M6 are connected. Thereby, the output terminal 52 also functions as the third node N3 in the first embodiment.
  • the operation of the stage constituent circuit in this modification will be described with reference to FIG. 9 and FIG. Note that the period before time t2 and the period after time t3 are the same as those in the first embodiment, and a description thereof will be omitted.
  • the second set signal S2 changes from the high level to the low level.
  • the thin film transistor M2 is turned off, and the second node N2 is in a floating state.
  • the first clock CKA changes from the low level to the high level.
  • the thin film transistor M6 since the thin film transistor M6 is in the ON state, the potential of the output terminal 52 rises, and the potential of the other-stage control signal Z becomes high level.
  • the potential of the second node N2 rises via the capacitor C2 as the potential of the output terminal 52 rises, and the potential of the second node N2 increases.
  • the potential of the first node N1 rises via the capacitor C1 (the first node N1 is bootstrapped). Thereby, the potential of the first node N1 becomes higher than the VDD potential, and the potential of the scanning signal GOUT is increased to the VDD potential.
  • the gate bus lines GL1 to GLi can be driven as in the first embodiment without providing the thin film transistor M9 (see FIG. 1) in the first embodiment. Accordingly, the number of transistors necessary for the shift register 410 included in the gate driver 400 is reduced, and the mounting area is reduced. As a result, the display device can be downsized or the display area can be enlarged.
  • FIG. 11 is a circuit diagram showing the configuration of the stage constituent circuit in the second modification of the first embodiment.
  • a thin film transistor M12 is provided in addition to the components in the first embodiment shown in FIG.
  • the thin film transistor M12 realizes a second node set signal turn-off switching element.
  • the gate terminal is connected to the third node N3, the drain terminal is connected to the input terminal 44, and the source terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VSS.
  • the thin film transistor M12 changes the potential of the input terminal 44 toward the VSS potential when the potential of the third node N3 is at a high level.
  • the potential of the third node N3 needs to be maintained at a high level during the normal operation period.
  • the thin film transistor M12 is turned on, and the potential of the input terminal 44 is pulled to the VSS potential. For this reason, in each stage constituent circuit, the influence of the noise of the other stage control signal Z (n ⁇ 1) given from the previous stage is suppressed, and the stability of the circuit operation is improved.
  • FIG. 13 is a circuit diagram showing a configuration of the stage constituent circuit in the third modification of the first embodiment.
  • a thin film transistor M13 is further provided.
  • the thin film transistor M13 realizes a second third-node turn-on switching element.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 49
  • the drain terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VDD
  • the source terminal is connected to the third node N3.
  • the thin film transistor M13 changes the potential of the third node N3 toward the VDD potential when the reset signal R is at a high level.
  • the potential of the third node N3 since the potential of the first node N1 decreases at time t3, the potential of the third node N3 also decreases via the capacitors C1 and C2 (see FIG. 12). For this reason, there is a concern that the potential of the third node N3 drops to a low level at time t3.
  • the reset signal R becomes high level, whereby the thin film transistor M13 is turned on, and the potential of the third node N3 changes toward the VDD potential. For this reason, the potential of the third node N3 does not drop to the low level at the time point t3. Accordingly, during the normal operation period, the potential of the third node N3 is reliably maintained at a high level. Thereby, in each stage constituent circuit, the influence of the noise of the other stage control signal Z (n ⁇ 1) given from the previous stage is surely suppressed, and the stability of the circuit operation is improved.
  • a configuration in which the gate and the drain of the thin film transistor M13 are connected may be employed.
  • the potential of the third node N3 is maintained at a high level during the normal operation period, when the potential of the gate terminal of the thin film transistor M13 is at a low level, the gate-source between the thin film transistor M13 is not present. A negative voltage is applied. For this reason, there is a concern about the deterioration of the thin film transistor M13.
  • the potential of the gate terminal is low, the potential of the drain terminal is also low. Thereby, the voltage between the gate and the drain of the thin film transistor M13 is maintained at zero.
  • the thin film transistors M1 and M2 may be configured so that the gate and the drain are connected.
  • FIG. 15 is a circuit diagram showing a configuration of a stage constituent circuit in a fourth modification of the first embodiment.
  • the source terminal of the thin film transistor M4 is connected to the second node N2.
  • a voltage corresponding to the difference between the potential of the first node N1 and the potential of the second node N2 is applied between the drain and source of the thin film transistor M4.
  • the DC power supply potential VSS is applied to the source terminal of the thin film transistor M4.
  • the drain-source voltage of the thin film transistor M4 is reduced. This suppresses the outflow of charges from the first node N1 through the thin film transistor M4 during the write operation period. As a result, the potential of the first node N1 is suppressed from decreasing during the write operation period, and the stability of the circuit operation is improved.
  • FIG. 16 is a circuit diagram showing a configuration of a stage constituent circuit in a fifth modification of the first embodiment.
  • the source terminal of the thin film transistor M5 is connected to the output terminal 52.
  • a thin film transistor M17 is provided.
  • the thin film transistor M17 realizes an output node turn-off switching element.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 49
  • the drain terminal is connected to the output terminal 52
  • the source terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VSS.
  • the thin film transistor M17 changes the potential of the output terminal 52 (the potential of the other-stage control signal Z) toward the VSS potential when the reset signal R is at a high level.
  • the source terminal of the thin film transistor M5 may be connected to the output terminal 51.
  • a voltage corresponding to the difference between the potential of the second node N2 and the potential of the other-stage control signal Z is applied between the drain and source of the thin film transistor M5.
  • the DC power supply potential VSS is applied to the source terminal of the thin film transistor M5.
  • the voltage between the drain and source of the thin film transistor M5 becomes smaller. This suppresses the outflow of charges from the second node N2 via the thin film transistor M5 during the write operation period.
  • the potential of the second node N2 is suppressed from decreasing during the write operation period, and the stability of the circuit operation is improved.
  • the thin film transistor M17 by providing the thin film transistor M17, it is possible to obtain an effect that the other stage control signal Z is surely set to the low level after the end of the write operation period.
  • FIG. 17 is a circuit diagram showing a configuration of a stage constituent circuit in a sixth modification of the first embodiment.
  • the source terminal of the thin film transistor M5 is connected to the first node N1.
  • the reset signal R becomes high level and the thin film transistor M5 is turned on, so that the potential of the second node N2 is directly reduced.
  • the potential of the second node N2 decreases as the potential of the first node N1 decreases.
  • the time until the potential of the second node N2 becomes the low level becomes longer.
  • the potential of the other-stage control signal Z quickly decreases to the low level via the thin film transistor M6 during the reset period.
  • the potential of the third node N3 drops at the timing of the time point t3, but the present invention is not limited to this. If the potential of the third node N3 increases at the timing of the time point t2, the timing at which the potential of the third node N3 decreases is not particularly limited.
  • the drain terminal of the thin film transistor M9 is connected to the input terminal 41.
  • the drain terminal of the thin film transistor M9 may be connected to the output terminal 52. That is, either the first clock CKA or the other stage control signal Z may be supplied to the drain terminal of the thin film transistor M9.
  • the gate terminal of the thin film transistor M9 is connected to the second node N2, but the gate terminal of the thin film transistor M9 may be connected to the first node N1.
  • FIG. 18 is a circuit diagram showing the configuration of the stage constituent circuit in the second embodiment of the present invention.
  • the overall configuration and operation of the liquid crystal display device and the configuration and operation of the gate driver are the same as those in the first embodiment, and a description thereof will be omitted.
  • the stage constituent circuit is provided with thin film transistors M10 and M11 in place of the thin film transistor M9 in the first embodiment shown in FIG.
  • a thin film transistor M10 realizes a first third node turn-on switching element
  • a thin film transistor M11 realizes a third node turn-off switching element.
  • the gate terminal is connected to the output terminal 52, the drain terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VDD, and the source terminal is connected to the third node N3.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 44, the drain terminal is connected to the third node N3, and the source terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VSS.
  • the thin film transistor M10 changes the potential of the third node N3 toward the VDD potential when the other stage control signal Z is at the high level.
  • the thin film transistor M11 changes the potential of the third node N3 toward the VSS potential when the second set signal S2 is at a high level.
  • the thin film transistor M10 for increasing the potential of the third node N3 is turned on based on the other stage control signal Z. For this reason, as shown in FIG. 12, at the time point t2, the potential of the third node N3 changes from the low level to the high level.
  • the other-stage control signal Z becomes high level only during one horizontal scanning period in one vertical scanning period. Therefore, the period during which a high voltage is applied between the gate and source of the thin film transistor M10 is short, and deterioration of the thin film transistor for increasing the potential of the third node N3 is suppressed. For this reason, deterioration of the boost waveform of the potential of the third node N3 is suppressed, and the shift register 410 can be stably operated over a long period of time.
  • FIG. 19 is a circuit diagram showing a configuration of the stage constituent circuit in the first modification of the second embodiment.
  • the gate terminal of the thin film transistor M10 is connected to the input terminal 41. Therefore, in the present modification, the thin film transistor M10 changes the potential of the third node N3 toward the VDD potential when the first clock CKA is at a high level.
  • the thin film transistor M10 is turned on each time the first clock CKA becomes high level. For this reason, the potential of the third node N3 is raised toward the VDD potential in a relatively short cycle. This ensures that the potential of the third node N3 is maintained at a high level even during the normal operation period, even if current leakage occurs in the thin film transistor (for example, the thin film transistor M11) connected to the third node N3. Thereby, the stability of the circuit operation is enhanced.
  • a thin film transistor M10a having a gate terminal connected to the output terminal 52, a drain terminal connected to the input terminal for the DC power supply potential VDD, and a source terminal connected to the third node N3
  • the stage configuration circuit may include a thin film transistor M10b having a terminal connected to the input terminal 41, a drain terminal connected to the input terminal for the DC power supply potential VDD, and a source terminal connected to the third node N3.
  • the configuration in the vicinity of the thin film transistors M10 and M11 in the second embodiment can be generalized as shown in FIG. That is, the first clock CKA may be supplied to the gate terminal of the thin film transistor M10, or the other stage control signal Z may be supplied. Further, a VDD potential, a first clock CKA, or another stage control signal Z may be applied to the drain terminal of the thin film transistor M10. Further, the second clock CKB may be supplied to the gate terminal of the thin film transistor M11, or the other stage control signal Z (n ⁇ 1) of the previous stage may be supplied. Furthermore, the VSS potential may be applied to the source terminal of the thin film transistor M11, or the first clock CKA may be applied.
  • a configuration in which the gate and drain of the thin film transistor M10 are connected may be employed. Thereby, the deterioration of the thin film transistor M10 is suppressed as in the configuration shown in FIG. 22
  • FIG. 23 is a circuit diagram showing a configuration of a stage constituent circuit in a second modification of the second embodiment.
  • a thin film transistor M12 is provided in addition to the components in the second embodiment shown in FIG.
  • the thin film transistor M12 realizes a second node set signal turn-off switching element.
  • the gate terminal is connected to the third node N3, the drain terminal is connected to the input terminal 44, and the source terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VSS.
  • the thin film transistor M12 changes the potential of the input terminal 44 toward the VSS potential when the potential of the third node N3 is at a high level.
  • the gate terminal of the thin film transistor M10 is connected to the input terminal 41.
  • the thin film transistor M12 is turned on, and the potential of the input terminal 44 is pulled to the VSS potential. For this reason, in each stage constituent circuit, the influence of the noise of the other stage control signal Z (n ⁇ 1) given from the previous stage is suppressed, and the stability of the circuit operation is improved.
  • FIG. 24 is a diagram showing a simulation result when the amplitude VCK of the clock signal is set to 0.7 times the amplitude VG of the scanning signal GOUT in the present modification.
  • the potential of the scanning signal GOUT is increased stepwise, and the potential of the scanning signal GOUT is sufficiently increased during the period from time t2 to time t3. Further, the potential of the third node N3 once decreases at the time point t3, but immediately increases to a high level.
  • the power consumption in the shift register 410 is reduced as compared with the prior art without reducing the voltage applied to the gate bus line during the main charging period.
  • FIG. 25 is a circuit diagram showing a configuration of a stage constituent circuit in a third modification of the second embodiment.
  • a thin film transistor M13 is further provided.
  • the thin film transistor M13 realizes a second third-node turn-on switching element.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 49
  • the drain terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VDD
  • the source terminal is connected to the third node N3.
  • the thin film transistor M13 changes the potential of the third node N3 toward the VDD potential when the reset signal R is at a high level.
  • the potential of the third node N3 is reliably maintained at a high level during the normal operation period.
  • the stage constituent circuit may be configured to include the thin film transistor M9 in the constituent elements in the first embodiment shown in FIG. 1 in addition to the constituent elements in the second embodiment shown in FIG. Thereby, at time t2 (see FIG. 12), the potential of the third node N3 rises more rapidly.
  • FIG. 26 is a circuit diagram showing the configuration of the stage constituent circuit in the third embodiment of the present invention.
  • the overall configuration and operation of the liquid crystal display device and the configuration and operation of the gate driver are the same as those in the first embodiment, and a description thereof will be omitted.
  • this stage configuration circuit includes 15 thin film transistors M1 to M8 and M9 to M16 and two capacitors C1 and C2.
  • this stage configuration circuit includes five input terminals 41 to 44, 49 and two output terminals. 51, 52.
  • reference numeral 42 is attached to an input terminal for receiving the second clock CKB.
  • the source terminal of the thin film transistor M10, the drain terminal of the thin film transistor M11, the gate terminal of the thin film transistor M12, the source terminal of the thin film transistor M13, the drain terminal of the thin film transistor M14, and the other end of the capacitor C2 are connected to each other via the third node N3.
  • the source terminal of the thin film transistor M14, the drain terminal of the thin film transistor M15, and the gate terminal of the thin film transistor M16 are connected to each other. Note that a region (wiring) in which these are connected to each other is referred to as a “fourth node” for convenience.
  • the fourth node is denoted by reference numeral N4.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 41, the drain terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VDD, and the source terminal is connected to the third node N3.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 44, the drain terminal is connected to the third node N3, and the source terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VSS.
  • the gate terminal is connected to the third node N3, the drain terminal is connected to the input terminal 44, and the source terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VSS.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 49, the drain terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VDD, and the source terminal is connected to the third node N3.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 42, the drain terminal is connected to the third node N3, and the source terminal is connected to the fourth node N4.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 43, the drain terminal is connected to the fourth node N4, and the source terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VSS.
  • the gate terminal is connected to the fourth node N4, the drain terminal is connected to the output terminal 51, and the source terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VSS.
  • the gate terminal of the thin film transistor M15 may be connected to the first node N1.
  • the thin film transistor M10 changes the potential of the third node N3 toward the VDD potential when the first clock CKA is at a high level.
  • the thin film transistor M11 changes the potential of the third node N3 toward the VSS potential when the second set signal S2 is at a high level.
  • the thin film transistor M12 changes the potential of the input terminal 44 toward the VSS potential when the potential of the third node N3 is at a high level.
  • the thin film transistor M13 changes the potential of the third node N3 toward the VDD potential when the reset signal R is at a high level.
  • the thin film transistor M14 moves charges between the third node N3 and the fourth node N4 when the second clock CKB is at a high level.
  • the thin film transistor M15 changes the potential of the fourth node N4 toward the VSS potential when the first set signal S1 is at a high level.
  • the thin film transistor M16 changes the potential of the output terminal 51 toward the VSS potential when the potential of the fourth node N4 is at a high level.
  • a first third node turn-on switching element is realized by the thin film transistor M10
  • a third node turn-off switching element is realized by the thin film transistor M11
  • a second node set signal turn-off switching is realized by the thin film transistor M12.
  • a second node turn-on switching element is realized by the thin film transistor M13
  • a fourth node control switching element is realized by the thin film transistor M14
  • a fourth node turn-off switching element is realized by the thin film transistor M15.
  • a thin film transistor M16 realizes a second first output node turn-off switching element.
  • FIG. Here, attention is focused on the n-th stage configuration circuit.
  • the potential of the first node N1, the potential of the second node N2, the potential of the scanning signal GOUT (potential of the output terminal 51), and the potential of the other stage control signal Z (potential of the output terminal 52) Is maintained at a low level, and the potential of the third node N3 and the potential of the fourth node N4 are maintained at a high level.
  • the first set signal S1 changes from low level to high level.
  • the thin film transistors M1, M3, and M15 are turned on.
  • the potential of the first node N1 rises, and when the thin film transistor M3 is turned on, the potential of the second node N2 is drawn to the VSS potential.
  • the capacitor C1 is charged.
  • the thin film transistor M15 is turned on, the potential of the fourth node N4 is pulled to the VSS potential.
  • the potential of the first node N1 is increased, the thin film transistor M7 is turned on, and the potential of the scanning signal GOUT is increased.
  • the second set signal S2 changes from the low level to the high level.
  • the thin film transistors M2 and M11 are turned on.
  • the potential of the third node N3 decreases.
  • the first set signal S1 changes from the high level to the low level.
  • the thin film transistors M1, M3, and M15 are turned off.
  • the thin film transistor M2 is turned on and the thin film transistor M3 is turned off, the potential of the second node N2 rises.
  • the thin film transistor M1 since the thin film transistor M1 is in an off state and the first node N1 is in a floating state, the potential at the first node N1 rises via the capacitor C1 as the potential at the second node N2 rises ( The first node N1 is bootstrapped). As a result, the potential of the scanning signal GOUT further increases. At time t1, the second clock CKB changes from the low level to the high level. As a result, the thin film transistor M14 is turned on. At this time, since the potential of the third node N3 is at the low level, the potential of the fourth node N4 is maintained at the low level.
  • the potential of the second node N2 is at a high level and the thin film transistor M6 is turned on, but the first clock CKA is at a low level.
  • the potential of the signal Z is maintained at a low level.
  • the second set signal S2 changes from high level to low level.
  • the thin film transistor M2 is turned off, and the second node N2 is in a floating state.
  • the first clock CKA changes from the low level to the high level.
  • the thin film transistor M10 is turned on, and the potential of the third node N3 rises. Since the first node N1 and the second node N2 are in a floating state, the potential of the second node N2 rises via the capacitor C2 as the potential of the third node N3 rises, and the potential of the second node N2 As the voltage rises, the potential of the first node N1 rises via the capacitor C1 (the first node N1 is bootstrapped).
  • the potential of the first node N1 becomes higher than the VDD potential, and the potential of the scanning signal GOUT is increased to the VDD potential. Further, since the thin film transistor M6 is on and the first clock CKA is at a high level, the potential of the first clock CKA is applied to the output terminal 52. As a result, the potential of the other-stage control signal Z becomes high level. Note that, during the period from the time point t2 to the time point t3, since the second clock CKB is at a low level, the thin film transistor M14 is turned off, and the potential of the fourth node N4 is maintained at a low level.
  • the first clock CKA changes from high level to low level.
  • the potential of the other stage control signal Z decreases as the potential of the input terminal 41 decreases.
  • the reset signal R changes from the low level to the high level.
  • the thin film transistors M4, M5, M8, and M13 are turned on.
  • the thin film transistor M4 is turned on, the potential of the first node N1 becomes a low level.
  • the thin film transistor M5 is turned on, the potential of the second node N2 becomes a low level, and when the thin film transistor M8 is turned on, scanning is performed.
  • the potential of the signal GOUT becomes low level.
  • the thin film transistor M13 is turned on, the potential of the third node N3 becomes high level.
  • the second clock CKB is at a high level, the thin film transistor M14 is turned on, and charge is supplied from the third node N3 to the fourth node N4. As a result, the potential of the fourth node N4 becomes high level.
  • the potential of the first node N1 is maintained at a low level
  • the potential of the third node N3 and the potential of the fourth node N4 are maintained at a high level.
  • the second clock CKB is at the high level, so that the charge from the third node N3 to the fourth node N4 is caused by the thin film transistor M14 being turned on. Is supplied.
  • the charge is supplied from the third node N3 to the fourth node N4 every time the second clock CKB becomes high level. Therefore, during the normal operation period, the potential of the fourth node N4 is reliably maintained at a high level. As described above, with a simple configuration, generation of noise for the scanning signal GOUT during the normal operation period is suppressed.
  • FIG. 28 is a circuit diagram showing the configuration of the stage constituent circuit in the fourth embodiment of the present invention.
  • this stage configuration circuit includes 13 thin film transistors M1, M2 (1) to M2 (3), M3 (1) to M3 (3), M4 to M9, and 4 capacitors C1 ( 1) to C1 (3), C2.
  • this stage configuration circuit includes six input terminals 41, 43 to 46, 49 and two input terminals. Output terminals 51 and 52.
  • differences from the first embodiment will be mainly described.
  • the other stage control signal Z (n-4) output from the stage configuration circuit four stages before is supplied to the input terminal 43 as the set signal S1, and the stage three stages before is input to the input terminal 44.
  • the other stage control signal Z (n ⁇ 3) output from the constituent circuit is given as the set signal S21, and the other stage control signal Z (n ⁇ 2) output from the preceding stage constituent circuit is applied to the input terminal 45.
  • Is provided as the set signal S22, and the other stage control signal Z (n-1) output from the preceding stage configuration circuit is provided as the set signal S23 to the input terminal 46.
  • the first node set signal is realized by the set signal S1
  • the second node set signal is realized by the set signal S23
  • the node region set signal is realized by the set signals S21 to S23.
  • the source terminal of the thin film transistor M1, the drain terminal of the thin film transistor M4, the gate terminal of the thin film transistor M7, and one end of the capacitor C1 (1) are connected to each other via the first node N1.
  • the source terminal of the thin film transistor M2 (1), the drain terminal of the thin film transistor M3 (1), the other end of the capacitor C1 (1), and one end of the capacitor C1 (2) are connected to each other through a node N2 (1).
  • the source terminal of the thin film transistor M2 (2), the drain terminal of the thin film transistor M3 (2), the other end of the capacitor C1 (2), and one end of the capacitor C1 (3) are connected to each other through a node N2 (2).
  • the source terminal of the thin film transistor M2 (3), the drain terminal of the thin film transistor M3 (3), the drain terminal of the thin film transistor M5, the gate terminal of the thin film transistor M6, the gate terminal of the thin film transistor M9, the other end of the capacitor C1 (3), and one end of the capacitor C2 Are connected to each other via a node N2 (3).
  • the second node is realized by the node N2 (3), the node region is realized by the nodes N2 (1) to N2 (3), and the second node is realized by the capacitors C1 (1) to C1 (3). 1 potential difference holding unit is realized.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 44, the drain terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VDD, and the source terminal is connected to the node N2 (1).
  • the gate terminal is connected to the input terminal 43, the drain terminal is connected to the node N2 (1), and the source terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VSS.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 45, the drain terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VDD, and the source terminal is connected to the node N2 (2).
  • the gate terminal is connected to the input terminal 44, the drain terminal is connected to the node N2 (2), and the source terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VSS.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 46, the drain terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VDD, and the source terminal is connected to the node N2 (3).
  • the gate terminal is connected to the input terminal 45, the drain terminal is connected to the node N2 (3), and the source terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VSS.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 49, the drain terminal is connected to the node N2 (3), and the source terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VSS.
  • the gate terminal is connected to the node N2 (3), the drain terminal is connected to the input terminal 41, and the source terminal is connected to the output terminal 52.
  • the gate terminal is connected to the node N2 (3), the drain terminal is connected to the input terminal 41, and the source terminal is connected to the third node N3.
  • One end of the capacitor C1 (1) is connected to the first node N1, and the other end is connected to the node N2 (1).
  • One end of the capacitor C1 (2) is connected to the node N2 (1), and the other end is connected to the node N2 (2).
  • One end of the capacitor C1 (3) is connected to the node N2 (2), and the other end is connected to the node N2 (3).
  • the capacitor C2 one end is connected to the node N2 (3), and the other end is connected to the third node N3.
  • the thin film transistor M2 (1) changes the potential of the node N2 (1) toward the VDD potential when the set signal S21 is at a high level.
  • the thin film transistor M2 (2) changes the potential of the node N2 (2) toward the VDD potential when the set signal S22 is at a high level.
  • the thin film transistor M2 (3) changes the potential of the node N2 (3) toward the VDD potential when the set signal S23 is at a high level.
  • the thin film transistor M3 (1) changes the potential of the node N2 (1) toward the VSS potential when the set signal S1 is at a high level.
  • the thin film transistor M3 (2) changes the potential of the node N2 (2) toward the VSS potential when the set signal S21 is at a high level.
  • the thin film transistor M3 (3) changes the potential of the node N2 (3) toward the VSS potential when the set signal S22 is at a high level.
  • the thin film transistor M5 changes the potential of the node N2 (3) toward the VSS potential when the reset signal R is at a high level.
  • the thin film transistor M6 supplies the potential of the first clock CKA to the output terminal 52 when the potential of the node N2 (3) is at a high level.
  • the thin film transistor M9 applies the potential of the first clock CKA to the third node N3 when the potential of the node N2 (3) is at a high level.
  • the capacitor C1 (1) functions to increase the potential of the first node N1 as the potential of the node N2 (1) increases.
  • the capacitor C1 (2) functions to increase the potential of the node N2 (1) as the potential of the node N2 (2) increases.
  • the capacitor C1 (3) functions to increase the potential of the node N2 (2) as the potential of the node N2 (3) increases.
  • the capacitor C2 functions to increase the potential of the node N2 (3) as the potential of the third node N3 increases. That is, the capacitors C1 (1) to C1 (3) and C2 function as bootstrap capacitors.
  • the set signal S1 changes from low level to high level.
  • the thin film transistors M1 and M3 (1) are turned on.
  • the potential of the first node N1 is increased, and when the thin film transistor M3 (1) is turned on, the potential of the node N2 (1) is pulled to the VSS potential.
  • the capacitor C1 (1) is charged.
  • the thin film transistor M7 is turned on, and the potential of the scanning signal GOUT is increased.
  • the set signal S21 changes from the low level to the high level. Accordingly, the thin film transistors M2 (1) and M3 (2) are turned on. At time t1, the set signal S1 changes from the high level to the low level. Accordingly, the thin film transistors M1 and M3 (1) are turned off.
  • the potential of the node N2 (1) is increased.
  • the potential of the first node N1 passes through the capacitor C1 (1) as the potential of the node N2 (1) increases. Rises (first node N1 is bootstrapped). As a result, the potential of the scanning signal GOUT further increases.
  • the set signal S22 changes from the low level to the high level. Accordingly, the thin film transistors M2 (2) and M3 (3) are turned on. At time t2, the set signal S21 changes from the high level to the low level. Accordingly, the thin film transistors M2 (1) and M3 (2) are turned off.
  • the potential of the node N2 (2) is increased.
  • the first node passes through the capacitors C1 (2) and C1 (1) as the potential of the node N2 (2) increases.
  • the potential of N1 rises (first node N1 is bootstrapped). As a result, the potential of the scanning signal GOUT further increases.
  • the set signal S23 changes from the low level to the high level. Accordingly, the thin film transistor M2 (3) is turned on. At time t3, the set signal S22 changes from the high level to the low level. Accordingly, the thin film transistors M2 (2) and M3 (3) are turned off.
  • the potential of the node N2 (3) is increased. At this time, since the first node N1, the node N2 (1), and the node N2 (2) are in a floating state, the capacitors C1 (3), C1 (2) are increased as the potential of the node N2 (3) increases.
  • the potential of the first node N1 rises (the first node N1 is bootstrapped). As a result, the potential of the scanning signal GOUT further increases. Note that in the period from the time point t3 to the time point t4, the node N2 (3) is at the high level and the thin film transistors M6 and M9 are in the on state, but the first clock CKA is at the low level. The potential of the node N3 and the potential of the other stage control signal Z are maintained at a low level.
  • the set signal S23 changes from high level to low level. Accordingly, the thin film transistor M2 (3) is turned off, and the node N2 (3) is in a floating state.
  • the first clock CKA changes from the low level to the high level.
  • the potential of the third node N3 rises. Since the first node N1 and the nodes N2 (1) to N2 (3) are in a floating state, the capacitors C2, C1 (3), C1 (2), and C1 are increased as the potential of the third node N3 increases. The potential of the first node N1 rises via (1) (the first node N1 is bootstrapped).
  • the potential of the first node N1 becomes higher than the VDD potential, and the potential of the scanning signal GOUT is increased to the VDD potential. Further, since the thin film transistor M6 is on and the first clock CKA is at a high level, the potential of the first clock CKA is applied to the output terminal 52. As a result, the potential of the other-stage control signal Z becomes high level.
  • the first clock CKA changes from the high level to the low level.
  • the potential of the other stage control signal Z decreases as the potential of the input terminal 41 decreases.
  • the reset signal R changes from the low level to the high level.
  • the thin film transistors M4, M5, and M8 are turned on.
  • the thin film transistor M4 is turned on, the potential of the first node N1 becomes low level, and when the thin film transistor M5 is turned on, the potential of the node N2 (3) becomes low level and the thin film transistor M8 is turned on.
  • the potential of the scanning signal GOUT becomes a low level.
  • the potential of the first node N1 the potential of the node N2 (3), the potential of the scanning signal GOUT (the potential of the output terminal 51), and the potential of the other stage control signal Z (the potential of the output terminal 52).
  • the potential of the first node N1 rises based on the set signal S1, and then rises four times by bootstrap. Therefore, with respect to the clock signal (here, the first clock CKA), the potential of the scanning signals GOUT (1) to GOUT (i) to be applied to the gate bus lines GL1 to GLi is sufficiently increased with a smaller amplitude. Is possible. As a result, the power consumption in the shift register 410 can be significantly reduced as compared with the prior art without reducing the voltage applied to the gate bus line during the main charging period.
  • FIG. 30 is a circuit diagram showing a configuration of the stage constituent circuit in the first modification of the fourth embodiment.
  • the stage constituent circuit is provided with thin film transistors M5 (1) to M5 (3) instead of the thin film transistor M5 (see FIG. 28) in the fourth embodiment.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 49
  • the source terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VSS.
  • the drain terminal of the thin film transistor M5 (1) is connected to the node N2 (1)
  • the drain terminal of the thin film transistor M5 (2) is connected to the node N2 (2)
  • the drain terminal of the thin film transistor M5 (3) is connected to the node N2 ( 3).
  • FIG. 31 is a signal waveform diagram for explaining the operation of the stage constituent circuit in this modification.
  • the thin film transistors M5 (1) to M5 (3) are turned on.
  • the potentials of the nodes N2 (1) to N2 (3) become low level.
  • the potentials of the nodes N2 (1) to N2 (3) are maintained at the low level during the normal operation period.
  • the gate-source voltage of the thin film transistors M2 (1) to M2 (3) during the normal operation period is reduced, and deterioration of the thin film transistors M2 (1) to M2 (3) is suppressed. Thereby, the stability of the circuit operation is enhanced.
  • FIG. 32 is a circuit diagram showing a configuration of a stage constituent circuit in a second modification of the fourth embodiment.
  • the source terminals of the thin film transistors M5 (1) to M5 (3) are connected to the input terminal for the DC power supply potential VSS.
  • the thin film transistor M5 The source terminal of (1) is connected to the node N2 (2), the source terminal of the thin film transistor M5 (2) is connected to the node N2 (3), and the source terminal of the thin film transistor M5 (3) is connected to the output terminal 52. Yes.
  • the source terminal of the thin film transistor M4 is connected to the node N2 (1).
  • a thin film transistor M17 is provided in which the gate terminal is connected to the input terminal 49, the drain terminal is connected to the output terminal 52, and the source terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VSS. .
  • the voltage between the drain and source of the thin film transistor M4 and the thin film transistors M5 (1) to M5 (3) is reduced as in the fourth modification of the first embodiment. This suppresses the outflow of charges via the thin film transistors M4, M5 (1) to M5 (3) during the write operation period. As a result, the potential of the first node N1 and the potentials of the nodes N2 (1) to N3 (3) are suppressed from decreasing during the write operation period, and the stability of the circuit operation is improved.
  • the present invention is not limited to this.
  • the potential of the first node N1 may be increased three times by bootstrap, or may be increased five times or more.
  • m is an integer equal to or greater than 1, and the thin film transistors M2 (1) to M2 (m), M3 (1) to M3 (m), capacitors C1 (1) to C1 (m), and the node N2 A configuration including (1) to N2 (m) may be used.
  • the shift register 410 starts operating based on the gate start pulse signal GSP sent from the display control circuit 200.
  • the first gate start pulse signal GSP1 is supplied as the first set signal S1 of the first stage
  • the second gate start pulse signal GSP2 is supplied to the second set of the first stage.
  • the signal S2 and the first set signal S1 of the second stage are provided. That is, in each of the above embodiments, two or more signals need to be sent from the display control circuit 200 to the gate driver 400 as the gate start pulse signal GSP.
  • a configuration in which a circuit (hereinafter referred to as a “set signal generation circuit”) that generates a set signal is provided at the uppermost stage of the shift register (the stage before the first stage) will be described below. If this configuration is employed, one signal may be sent from the display control circuit 200 to the gate driver 400 as the gate start pulse signal GSP.
  • FIG. 33 is a block diagram showing a configuration of the shift register 411 including the set signal generation circuit SR (0).
  • the set signal generation circuit SR (0) has an input terminal for receiving the first clock CKA, an input terminal for receiving the second clock CKB, an input terminal for receiving the high-level DC power supply potential VDD, An input terminal for receiving the low-level DC power supply potential VSS, an input terminal for receiving the gate start pulse signal GSP, an input terminal for receiving the reset signal R, and an output terminal for outputting the signal SOUT Is provided.
  • FIG. 34 is a circuit diagram showing a detailed configuration of the set signal generation circuit.
  • the set signal generation circuit includes three thin film transistors M71 to M73 and one capacitor C7.
  • the set signal generation circuit includes three input terminals 71 to 73 and one output terminal 74. And have.
  • the input terminal that receives the gate start pulse signal GSP is denoted by reference numeral 71
  • the input terminal that receives the first clock CKA is denoted by reference numeral 72
  • the input terminal that receives the reset signal R is denoted by reference numeral 73.
  • the output terminal for outputting the signal SOUT is denoted by reference numeral 74.
  • the configuration of the set signal generation circuit is the same as the configuration in the vicinity of between the second node N2 and the second output node (output terminal 52) in the stage configuration circuit of the shift register described in the above embodiments.
  • the constituent elements of the set signal generating circuit are compared with the constituent elements of the stage constituent circuit shown in FIG. 1, for example, the thin film transistor M71, the thin film transistor M72, the thin film transistor M73, the capacitor C7, the input terminal 71, and the input terminal 72 in the set signal generating circuit.
  • Input terminal 73, and output terminal 74 correspond to thin film transistor M2, thin film transistor M6, thin film transistor M5, capacitor C2, input terminal 44, input terminal 41, input terminal 49, and output terminal 52, respectively, in the stage configuration circuit shown in FIG.
  • the set signal generation circuit has the same configuration as the stage configuration circuit of the shift register and the gate start pulse signal GSP is input as the second node set signal (second set signal S2), the second output node The output of the signal SOUT from is obtained.
  • the source terminal of the thin film transistor M71, the gate terminal of the thin film transistor M72, the drain terminal of the thin film transistor M73, and one end of the capacitor C7 are connected to each other through a node N7.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 71
  • the drain terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VDD
  • the source terminal is connected to the node N7.
  • the thin film transistor M72 the gate terminal is connected to the node N7
  • the drain terminal is connected to the input terminal 72
  • the source terminal is connected to the output terminal 74.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 73
  • the drain terminal is connected to the node N7
  • the source terminal is connected to the input terminal for the DC power supply potential VSS.
  • the capacitor C7 has one end connected to the node N7 and the other end connected to the output terminal 74.
  • the thin film transistor M71 changes the potential of the node N7 toward the VDD potential when the gate start pulse signal GSP is at a high level.
  • the thin film transistor M72 applies the potential of the first clock CKA to the output terminal 74 when the potential of the node N7 is at a high level.
  • the thin film transistor M73 changes the potential of the node N7 toward the VSS potential when the reset signal R is at a high level.
  • the capacitor C7 functions to change the potential of the node N7 as the potential of the output terminal 74 changes when the node N7 is in a floating state.
  • FIG. 35 the names of signals and the like when focusing on the set signal generation circuit SR (0) are shown on the left of each signal waveform, and the first stage component circuit SR is shown on the right of each signal waveform.
  • the names of signals and the like when focusing on (1) are shown.
  • the gate start pulse signal GSP changes from low level to high level.
  • the gate start pulse signal GSP becomes high level, the thin film transistor M71 is turned on, and the capacitor C7 is charged. Accordingly, the potential of the node N7 changes from the low level to the high level, and the thin film transistor M72 is turned on.
  • the first clock CKA is at a low level, so the potential of the signal SOUT is maintained at a low level.
  • the gate start pulse signal GSP changes from high level to low level. Accordingly, the thin film transistor M71 is turned off, and the node N7 is in a floating state.
  • the first clock CKA changes from the low level to the high level. Since a parasitic capacitance exists between the gate and drain of the thin film transistor M72, the potential of the node N7 also rises as the potential of the input terminal 72 rises (the node N7 is bootstrapped). As a result, a large voltage is applied between the gate and source of the thin film transistor M72, and the potential of the first clock CKA is applied to the output terminal 74. As a result, the signal SOUT becomes high level.
  • the first clock CKA changes from high level to low level. Since the thin film transistor M72 is in the on state at the time t12, the potential of the signal SOUT decreases as the potential of the input terminal 72 decreases. As the potential of the signal SOUT decreases in this way, the potential of the node N7 also decreases via the capacitor C7. At time 12, the reset signal R changes from the low level to the high level. Therefore, the thin film transistor M73 is turned on, and the potential of the node N7 is completely at a low level.
  • the gate start pulse signal GSP sent from the display control circuit 200 is given to the set signal generation circuit SR (0) and at the first stage of the shift register 411 as the first set signal S1. Is given to SR (1). Further, the signal SOUT output from the set signal generation circuit SR (0) is given to the first stage SR (1) of the shift register 411 as the second set signal S2, and the shift register as the first set signal S1. 411 is provided to the second stage SR (2). Accordingly, it is possible to cause the shift register 410 to perform a desired operation while reducing the number of signals to be supplied from the display control circuit 200 to the gate driver 400.
  • the liquid crystal display device has been described as an example, but the present invention is not limited to this.
  • the present invention can also be applied to other display devices such as an organic EL (Electro Luminescence).
  • Source driver video signal line drive circuit 400: Gate driver (scanning signal line driving circuit) 410, 411 ... shift register 600 ... display section SR (1) to SR (i) ... stage configuration circuit C1, C2 ... capacitors (capacitance elements) M1 to M17 Thin film transistors N1 to N4 First to fourth nodes GL1 to GLi Gate bus lines SL1 to SLj Source bus lines GCK1, GCK2 First gate clock signals and second gate clock signals CKA, CKB First Clock, second clock S1, S2 ... first set signal, second set signal R ... reset signal Z ... other stage control signal GOUT ... scanning signal GSP ... gate start pulse signal VDD ... high level DC power supply potential VSS ... Low level DC power supply potential

Abstract

 モノリシックゲートドライバにおいて、ゲートバスラインに印加される走査信号の電圧を従来よりも低下させることなく、従来よりも消費電力を低減させる。 段構成回路は、第1~第3ノードと、第1ノードの電位がハイレベルの時に走査信号の電位をVDD電位に向けて変化させる薄膜トランジスタ(M7)と、第2ノードの電位がハイレベルの時に他段制御信号の電位をクロック(CKA)の電位に向けて変化させる薄膜トランジスタ(M6)と、第1ノード-第2ノード間に設けられたキャパシタ(C1)と、第2ノード-第3ノード間に設けられたキャパシタ(C2)とを備える。異なる段の段構成回路から出力された他段制御信号に基づいて第1ノードの電位を上昇させた後、第2ノードの電位,第3ノードの電位を順次に上昇させる。ここで、クロックの振幅は走査信号の振幅よりも小さくされる。

Description

走査信号線駆動回路およびそれを備えた表示装置
 本発明は、表示装置およびその駆動回路に関し、詳しくは、表示装置の表示部に配設された走査信号線を駆動するシフトレジスタを備えた走査信号線駆動回路に関する。
 近年、液晶表示装置において、ゲートバスライン(走査信号線)を駆動するためのゲートドライバ(走査信号線駆動回路)のモノリシック化が進んでいる。従来、ゲートドライバは液晶パネルを構成する基板の周辺部にIC(Integrated Circuit)チップとして搭載されることが多かったが、近年、基板上に直接的にゲートドライバを形成することが徐々に多くなされている。このようなゲートドライバは「モノリシックゲートドライバ」などと呼ばれている。モノリシックゲートドライバを備えた液晶表示装置では、典型的には、アモルファスシリコン(a-Si)を用いた薄膜トランジスタが駆動素子として採用されている。しかしながら、近年、多結晶シリコン,微結晶シリコン,酸化物半導体(例えばIGZO)などを用いた薄膜トランジスタが駆動素子として採用されつつある。
 ところで、アクティブマトリクス型の液晶表示装置の表示部には、複数本のソースバスライン(映像信号線)と、複数本のゲートバスラインと、それら複数本のソースバスラインと複数本のゲートバスラインとの交差点にそれぞれ対応して設けられた複数個の画素形成部とを含む画素回路が形成されている。上記複数個の画素形成部はマトリクス状に配置されて画素アレイを構成している。各画素形成部は、対応する交差点を通過するゲートバスラインにゲート端子が接続されるとともに当該交差点を通過するソースバスラインにソース端子が接続されたスイッチング素子である薄膜トランジスタや、画素電圧値を保持するための画素容量などを含んでいる。アクティブマトリクス型の液晶表示装置には、また、上述したゲートドライバと、ソースバスラインを駆動するためのソースドライバ(映像信号線駆動回路)とが設けられている。
 画素電圧値を示す映像信号はソースバスラインによって伝達されるが、各ソースバスラインは複数行分の画素電圧値を示す映像信号を一時(同時)に伝達することができない。このため、マトリクス状に配置された上述の画素形成部内の画素容量への映像信号の書き込み(充電)は1行ずつ順次に行われる。そこで、複数本のゲートバスラインが所定期間ずつ順次に選択されるように、ゲートドライバは複数段からなるシフトレジスタによって構成されている。そして、シフトレジスタの各段(以下、シフトレジスタの各段を構成する回路のことを「段構成回路」ともいう)から順次にアクティブな走査信号が出力されることによって、上述のように、画素容量への映像信号の書き込みが1行ずつ順次に行われる。
 従来の表示装置においては、シフトレジスタの各段(各段構成回路)は、例えば図36(日本の特開2006-127630号公報の図2)に示すように構成されている。図36に示すように、段構成回路には、ソース端子が走査信号用の出力端子に接続され、ドレイン端子にクロック信号が与えられる出力制御用トランジスタが設けられている。そして、出力制御用トランジスタのゲート端子に接続されたノードの電位が制御されることによって出力制御用トランジスタのオン/オフ状態が制御され、出力制御用トランジスタがオン状態になっている時のクロック信号の電位が走査信号として現れる。ここで、図36に示した構成によれば、出力制御用トランジスタのゲート電圧(ノードAの電圧)が、前々段から出力される走査信号および前段から出力される走査信号によって段階的に高められる。これにより、出力制御用トランジスタのゲート電圧が顕著に高められ、走査信号の立ち上げおよび立ち下げが速やかに行われる。なお、以下においては、走査信号が完全に立ち上がって画素容量への本来的な(映像信号の)書き込みが行われる期間のことを「本充電期間」という。また、走査信号の立ち上げ開始時点から走査信号の立ち下げ開始時点までの期間(画素容量への書き込みのための動作が行われる期間)のことを「書込動作期間」という。
 上述した日本の特開2006-127630号公報の他、日本の特表2008-508654号公報,日本の特表2008-537275号公報,日本の特開2003-202840号公報,および日本の特開2008-61323号公報にも、表示装置等に設けられるシフトレジスタの構成が開示されている。
日本の特開2006-127630号公報 日本の特表2008-508654号公報 日本の特表2008-537275号公報 日本の特開2003-202840号公報 日本の特開2008-61323号公報
 上述したように、従来の構成においては、出力制御用トランジスタのドレイン端子にはクロック信号が与えられている。そして、そのクロック信号の振幅がほぼ走査信号の振幅となって現れる。一般に、走査信号の振幅については、映像信号電圧の大きさにかかわらず画素容量に所望の充電が施されるよう、トランジスタのスイッチング動作に必要な電圧振幅よりも大きくされている。このため、クロック信号の振幅はトランジスタのスイッチング動作に必要な電圧振幅よりも大きくされている。また、一般に、出力制御用トランジスタにはサイズの大きいトランジスタが採用されるので、クロック配線(クロック信号を伝達するための信号配線)の寄生容量が大きくなっている。クロック信号の振幅やクロック配線の寄生容量が大きいほど消費電力は大きくなるので、ゲートドライバの消費電力を低減させることが従来より課題となっている。この点に関し、従来の構成において消費電力の低減を図るために仮にクロック信号の振幅を小さくすると、走査信号の振幅も小さくなる。従って、消費電力低減の効果が充分に得られる程度にまでクロック信号の振幅を小さくすると、画素容量への充電が充分に行われるような走査信号は得られない。
 そこで本発明は、モノリシックゲートドライバにおいて、ゲートバスラインに印加される走査信号の電圧を従来よりも低下させることなく、従来よりも消費電力を低減させることを目的とする。
 本発明の第1の局面は、表示部に配設された複数の走査信号線を駆動する、表示装置の走査信号線駆動回路であって、
 外部から入力される複数のクロック信号に基づいて、前記複数の走査信号線を順次に駆動するためにオンレベルの走査信号を順次に出力する、複数の段からなるシフトレジスタを備え、
 前記シフトレジスタの各段を構成する段構成回路は、
  前記走査信号線を駆動する走査信号を出力するための、前記走査信号線に接続された第1出力ノードと、
  異なる段の段構成回路の動作を制御する他段制御信号を出力するための第2出力ノードと、
  オンレベルの直流電源電位が第2電極に与えられ、前記第1出力ノードに第3電極が接続された第1の出力制御用スイッチング素子と、
  前記クロック信号が第2電極に与えられ、前記第2出力ノードに第3電極が接続された第2の出力制御用スイッチング素子と、
  前記第1の出力制御用スイッチング素子の第1電極に接続された第1ノードと、
  前記第2の出力制御用スイッチング素子の第1電極に接続された第2ノードを含む1以上のノードによって形成されるノード領域と、
  前記第2ノードがオンレベルとなる時点から前記第1出力ノードから出力される走査信号がオンレベルとされるべき期間である本充電期間の終了時点までの期間にオフレベルからオンレベルに変化するように構成された第3ノードと、
  前記第1ノードと前記第2ノードとの間の電位差を保持するための第1の電位差保持部と、
  前記第2ノードと前記第3ノードとの間の電位差を保持するための第2の電位差保持部と
を有し、
 各段構成回路には、
  当該各段構成回路よりも2段以上前の段構成回路から出力される他段制御信号が第1ノードセット信号として与えられ、
  当該各段構成回路よりも前の段の段構成回路から出力される他段制御信号であって、かつ、前記第1ノードセット信号としての他段制御信号を出力する段構成回路よりも後の段の段構成回路から出力される他段制御信号のうち、1以上の信号が、第2ノードセット信号を含むノード領域セット信号として与えられ、
 各段構成回路において、
  前記第1ノードは、前記第1ノードセット信号に基づいてオフレベルからオンレベルに変化し、
  前記第2ノードは、前記第2ノードセット信号に基づいてオフレベルからオンレベルに変化し、
  前記第3ノードは、前記第2ノードがオフレベルからオンレベルに変化した後にオフレベルからオンレベルに変化し、
  前記第1ノードは、前記ノード領域を形成するノードがオフレベルからオンレベルに変化する期間および前記第3ノードがオフレベルからオンレベルに変化する期間にはフローティング状態とされ、
  前記ノード領域を形成するノードは、前記第3ノードがオフレベルからオンレベルに変化する期間にはフローティング状態とされ、
 前記クロック信号の振幅は前記走査信号の振幅よりも小さくされていることを特徴とする。
 本発明の第2の局面は、本発明の第1の局面において、
 前記ノード領域は、前記第2ノードのみによって形成され、
 各段構成回路には、前記ノード領域セット信号として前記第2ノードセット信号のみが与えられ、
 前記第1の電位差保持部は、前記第1ノードに一端が接続され、前記第2ノードに他端が接続されたキャパシタからなることを特徴とする。
 本発明の第3の局面は、本発明の第2の局面において、
 各段構成回路には、当該各段構成回路の次の段の段構成回路から出力される他段制御信号がリセット信号として与えられ、
 各段構成回路は、
  前記リセット信号に基づいて前記第1ノードのレベルをオフレベルに向けて変化させるための第1ノードターンオフ用スイッチング素子と、
  前記リセット信号に基づいて前記第2ノードのレベルをオフレベルに向けて変化させるための第2ノードターンオフ用スイッチング素子と
を更に有することを特徴とする。
 本発明の第4の局面は、本発明の第3の局面において、
 前記第1ノードターンオフ用スイッチング素子について、第1電極には前記リセット信号が与えられ、第2電極は前記第1ノードに接続され、第3電極は前記第2ノードに接続されていることを特徴とする。
 本発明の第5の局面は、本発明の第3の局面において、
 前記第2ノードターンオフ用スイッチング素子について、第1電極には前記リセット信号が与えられ、第2電極は前記第2ノードに接続され、第3電極は前記第1出力ノードまたは前記第2出力ノードに接続されていることを特徴とする。
 本発明の第6の局面は、本発明の第5の局面において、
 各段構成回路は、前記リセット信号に基づいて、前記第2ノードターンオフ用スイッチング素子の第3電極に接続されているノードのレベルをオフレベルに向けて変化させるための出力ノードターンオフ用スイッチング素子を更に有することを特徴とする。
 本発明の第7の局面は、本発明の第3の局面において、
 前記第2ノードターンオフ用スイッチング素子について、第1電極には前記リセット信号が与えられ、第2電極は前記第2ノードに接続され、第3電極は前記第1ノードに接続されていることを特徴とする。
 本発明の第8の局面は、本発明の第2の局面において、
 隣接する2つの段の段構成回路に含まれる2つの第2の出力制御用スイッチング素子の第2電極には、オンデューティがほぼ2分の1とされ互いに位相が180度ずらされたクロック信号が与えられ、
 各段構成回路は、
  当該各段構成回路から出力される他段制御信号または当該各段構成回路に含まれる第2の出力制御用スイッチング素子の第2電極に与えられるクロック信号に基づいて前記本充電期間の開始時点に前記第3ノードをオフレベルからオンレベルに変化させるための第1の第3ノードターンオン用スイッチング素子と、
  当該各段構成回路の前の段の段構成回路から出力される他段制御信号または当該各段構成回路の前の段の段構成回路に含まれる第2の出力制御用スイッチング素子の第2電極に与えられるクロック信号に基づいて前記本充電期間の開始前には前記第3ノードをオフレベルで維持するための第3ノードターンオフ用スイッチング素子と
を更に有することを特徴とする。
 本発明の第9の局面は、本発明の第8の局面において、
 各段構成回路において、前記第3ノードは、当該各段構成回路から出力される他段制御信号に基づいてオフレベルからオンレベルに変化することを特徴とする。
 本発明の第10の局面は、本発明の第8の局面において、
 各段構成回路において、前記第3ノードは、当該各段構成回路に含まれる第2の出力制御用スイッチング素子の第2電極に与えられるクロック信号に基づいてオフレベルからオンレベルに変化することを特徴とする。
 本発明の第11の局面は、本発明の第8の局面において、
 各段構成回路は、前記第1の第3ノードターンオン用スイッチング素子として、
  当該各段構成回路から出力される他段制御信号に基づいて前記第3ノードをオフレベルからオンレベルに変化させるスイッチング素子と、
  当該各段構成回路に含まれる第2の出力制御用スイッチング素子の第2電極に与えられるクロック信号に基づいて前記第3ノードをオフレベルからオンレベルに変化させるスイッチング素子と
を有することを特徴とする。
 本発明の第12の局面は、本発明の第8の局面において、
 各段構成回路は、
  前記第1出力ノードに第2電極が接続され、オフレベルの直流電源電位が第3電極に与えられる、前記第1出力ノードのレベルをオフレベルに向けて変化させるための第2の第1出力ノードターンオフ用スイッチング素子と、
  前記第2の第1出力ノードターンオフ用スイッチング素子の第1電極に接続された第4ノードと、
  当該各段構成回路の前の段の段構成回路に含まれる第2の出力制御用スイッチング素子の第2電極に与えられるクロック信号が第1電極に与えられ、第2電極が前記第3ノードに接続され、第3電極が前記第4ノードに接続された第4ノード制御用スイッチング素子と、
  前記第1ノードセット信号または前記第1ノードの電位に基づいて前記第4ノードのレベルをオフレベルに向けて変化させるための第4ノードターンオフ用スイッチング素子と
を更に有することを特徴とする。
 本発明の第13の局面は、本発明の第8の局面において、
 各段構成回路において、
  前記第1の第3ノードターンオン用スイッチング素子の第1電極および第2電極には、当該各段構成回路から出力される他段制御信号または当該各段構成回路に含まれる第2の出力制御用スイッチング素子の第2電極に与えられるクロック信号が与えられ、
  前記第1の第3ノードターンオン用スイッチング素子の第3電極は、前記第3ノードに接続されていることを特徴とする。
 本発明の第14の局面は、本発明の第8の局面において、
 各段構成回路は、前記第1ノードの電位または前記第2ノードの電位に基づいて、前記本充電期間の開始前には前記第3ノードをオフレベルで維持し、かつ、前記本充電期間の開始時点に前記第3ノードをオフレベルからオンレベルに変化させるための第3ノード制御用スイッチング素子を更に有することを特徴とする。
 本発明の第15の局面は、本発明の第1の局面において、
 各段構成回路は、前記リセット信号に基づいて前記第1出力ノードのレベルをオフレベルに向けて変化させるための第1の第1出力ノードターンオフ用スイッチング素子を更に有することを特徴とする。
 本発明の第16の局面は、本発明の第1の局面において、
 各段構成回路は、前記第1ノードの電位または前記第2ノードの電位に基づいて、前記本充電期間の開始前には前記第3ノードをオフレベルで維持し、かつ、前記第2ノードがオンレベルとなる時点から前記本充電期間の終了時点までの期間に前記第3ノードをオフレベルからオンレベルに変化させるための第3ノード制御用スイッチング素子を更に有することを特徴とする。
 本発明の第17の局面は、本発明の第1の局面において、
 前記第3ノードと前記第2出力ノードとが同一のノードであることを特徴とする。
 本発明の第18の局面は、本発明の第1の局面において、
 各段構成回路は、前記第3ノードの電位に基づいて前記第2ノードセット信号のレベルをオフレベルに向けて変化させるための第2ノードセット信号ターンオフ用スイッチング素子を更に有することを特徴とする。
 本発明の第19の局面は、本発明の第18の局面において、
 前記第3ノードは、前記第1ノードがオフレベルからオンレベルに変化する時点以前の期間および前記本充電期間の終了時点以降の期間にはオンレベルで維持されることを特徴とする。
 本発明の第20の局面は、本発明の第19の局面において、
 各段構成回路には、当該各段構成回路よりも後の段の段構成回路から出力される他段制御信号がリセット信号として与えられ、
 各段構成回路は、前記リセット信号に基づいて前記第3ノードのレベルをオンレベルに向けて変化させるための第2の第3ノードターンオン用スイッチング素子を更に有することを特徴とする。
 本発明の第21の局面は、本発明の第20の局面において、
 前記第2の第3ノードターンオン用スイッチング素子について、第1電極および第2電極には前記リセット信号が与えられ、第3電極は前記第3ノードに接続されていることを特徴とする。
 本発明の第22の局面は、本発明の第1の局面において、
 前記ノード領域は、前記第2ノードを含むm個(mは2以上の整数)のノードによって形成され、
 前記第1の電位差保持部は、前記ノード領域を形成するノードのうちの前記第2ノード以外のノードを介して前記第1ノードと前記第2ノードとの間に直列に接続されたm個のキャパシタからなり、
 各段構成回路には、m個の信号が前記ノード領域セット信号として与えられ、
 前記ノード領域を形成するm個のノードは、前記ノード領域セット信号に基づいて順次にオフレベルからオンレベルに変化し、
 前記ノード領域を形成する各ノードは、オフレベルからオンレベルに変化した後、前記本充電期間の開始時点までの期間にはフローティング状態とされることを特徴とする。
 本発明の第23の局面は、本発明の第22の局面において、
 各段構成回路において、前記ノード領域を形成するm個のノードのうち前記第1ノードに電気的にk番目(kは1以上m以下の整数)に近い位置のノードは、当該各段構成回路に前記ノード領域セット信号として与えられるm個の信号を出力するm個の段構成回路のうちk番目の段の段構成回路から出力される信号に基づいて、オフレベルからオンレベルに変化することを特徴とする。
 本発明の第24の局面は、本発明の第22の局面において、
 各段構成回路には、当該各段構成回路よりも後の段の段構成回路から出力される他段制御信号がリセット信号として与えられ、
 各段構成回路は、前記ノード領域を形成するm個のノードのレベルを前記リセット信号に基づいてオフレベルに向けて変化させるためのm個の第2ノードターンオフ用スイッチング素子を更に有することを特徴とする。
 本発明の第25の局面は、本発明の第24の局面において、
 前記m個の第2ノードターンオフ用スイッチング素子のうちの、前記ノード領域を形成するm個のノードのうち前記第2ノード以外のノードに対応して設けられているスイッチング素子であって、前記第1ノードに電気的にz番目(zは1以上m-1以下の整数)に近い位置に配置されたスイッチング素子について、第1電極には前記リセット信号が与えられ、前記ノード領域を形成するm個のノードのうち前記第1ノードに電気的にz番目に近い位置のノードに第2電極が接続され、前記ノード領域を形成するm個のノードのうち前記第1ノードに電気的にx(xはz+1以上m以下の整数)番目に近い位置のノード,前記第1ノード,前記第1出力ノード,および前記第2出力ノードのいずれかに第3電極が接続されていることを特徴とする。
 本発明の第26の局面は、本発明の第1の局面において、
 外部から入力される1つのスタートパルス信号に基づいて前記第1ノードセット信号および前記ノード領域セット信号とされるべき信号を生成する動作開始信号生成回路を更に備えることを特徴とする。
 本発明の第27の局面は、本発明の第1の局面において、
 前記シフトレジスタには、前記複数のクロック信号として、オンデューティがほぼ2分の1とされ互いに位相が180度ずらされた2つのクロック信号が入力されることを特徴とする。
 本発明の第28の局面は、本発明の第1の局面において、
 各段構成回路に含まれるスイッチング素子は、すべてが同一チャネルの薄膜トランジスタであることを特徴とする。
 本発明の第29の局面は、表示装置であって、
 前記表示部を含み、本発明の第1から第28までのいずれかの局面に係る走査信号線駆動回路を備えていることを特徴とする。
 本発明の第30の局面は、複数の段からなり外部から入力される複数のクロック信号に基づいて動作するシフトレジスタを備えた走査信号線駆動回路によって、表示部に配設された複数の走査信号線を駆動する方法であって、
 前記シフトレジスタの各段を構成する段構成回路について、
  前記段構成回路に含まれる第1ノードをオフレベルからオンレベルに変化させるための第1ノードターンオンステップと、
  前記段構成回路に含まれる第2ノードをオフレベルからオンレベルに変化させるための第2ノードターンオンステップと、
  前記段構成回路に含まれる第3ノードをオフレベルからオンレベルに変化させるための第3ノードターンオンステップと
を含み、
 前記段構成回路は、
  前記走査信号線を駆動する走査信号を出力するための、前記走査信号線に接続された第1出力ノードと、
  異なる段の段構成回路の動作を制御する他段制御信号を出力するための第2出力ノードと、
  オンレベルの直流電源電位が第2電極に与えられ、前記第1出力ノードに第3電極が接続された第1の出力制御用スイッチング素子と、
  前記クロック信号が第2電極に与えられ、前記第2出力ノードに第3電極が接続された第2の出力制御用スイッチング素子と、
  前記第1の出力制御用スイッチング素子の第1電極に接続された前記第1ノードと、
  前記第2の出力制御用スイッチング素子の第1電極に接続された前記第2ノードと、
  前記第3ノードと、
  前記第1ノードと前記第2ノードとの間の電位差を保持するための第1の電位差保持部と、
  前記第2ノードと前記第3ノードとの間の電位差を保持するための第2の電位差保持部と
を有し、
 各段構成回路において、
  前記第1ノードターンオンステップ、前記第2ノードターンオンステップ、前記第3ノードターンオンステップの順序で各ステップが実行され、
  前記第1ノードターンオンステップでは、当該各段構成回路よりも2段以上前の段構成回路から出力される他段制御信号に基づいて、前記第1ノードがオフレベルからオンレベルに変化し、
  前記第2ノードターンオンステップでは、当該各段構成回路よりも前の段の段構成回路から出力される他段制御信号であって、かつ、前記第1ノードターンオンステップで用いられる他段制御信号を出力する段構成回路よりも後の段の段構成回路から出力される他段制御信号に基づいて、前記第2ノードがオフレベルからオンレベルに変化し、
  前記第2ノードターンオンステップが実行される時には、前記第1ノードはフローティング状態とされ、
  前記第3ノードターンオンステップが実行される時には、前記第1ノードおよび前記第2ノードはフローティング状態とされ、
 前記クロック信号の振幅は前記走査信号の振幅よりも小さくされていることを特徴とする。
 本発明の第1の局面によれば、シフトレジスタ内の各段構成回路からは、当該各段構成回路に接続された走査信号線を駆動する走査信号と、当該各段構成回路とは異なる段の段構成回路を制御するための他段制御信号とが出力される。ここで、走査信号の電位を制御するための第1の出力制御用スイッチング素子の第2電極には直流電源電位が与えられる。一方、他段制御信号の電位を制御するための第2の出力制御用スイッチング素子の第2電極にはクロック信号が与えられる。このような構成において、第1の出力制御用スイッチング素子の第1電極に接続された第1ノードは、第1ノードセット信号(当該各段構成回路よりも2段以上前の段構成回路から出力される他段制御信号)に基づいてオフレベルからオンレベルに変化した後、複数回のブートストラップによって更にオンレベルに向けて変化する。このため、比較的小さい振幅のクロック信号でシフトレジスタを動作させても、本充電期間における走査信号のレベルを画素容量への書き込みが充分に行われる程度にまで到達させることが可能となる。以上より、本充電期間に走査信号線に印加される電圧を従来よりも低下させることなく、シフトレジスタにおける消費電力を従来よりも低減させることが可能となる。
 また、従来と比較して、クロック配線の寄生容量が小さくなり、消費電力が低減される。さらに、クロック配線の負荷がクロック信号に及ぼす影響が小さくなるので、クロック信号の波形なまりの発生が抑制され、回路動作の安定性が高められる。その結果、表示品位が向上する。さらにまた、走査信号の電位は本充電期間の開始前からオンレベルに向けて段階的に変化する。このため、本充電期間には、走査信号は速やかに充分なレベルに到達し、画素容量への充電が充分に施される。これにより、表示品位が向上する。
 本発明の第2の局面によれば、比較的簡易な構成で、本発明の第1の局面と同様の効果が得られる。
 本発明の第3の局面によれば、書込動作期間終了後に第1ノードおよび第2ノードが確実にオフレベルとされる。このため、通常動作期間における走査信号および他段制御信号のノイズの発生が抑制される。
 本発明の第4の局面によれば、第1ノードターンオフ用スイッチング素子の第2電極-第3電極間には、第1ノードの電位と第2ノードの電位との差に相当する電圧が印加される。第2ノードの電位は書込動作期間中にオンレベルに向けて変化するので、当該期間中における第1ノードターンオフ用スイッチング素子の第2電極-第3電極間の電圧は比較的小さくなる。これにより、書込動作期間において、第1ノードからの第1ノードターンオフ用スイッチング素子を介した電荷の流出が抑制される。その結果、第1ノードの電位が書込動作期間中にオフレベルに向けて変化することが抑制され、回路動作の安定性が高められる。
 本発明の第5の局面によれば、第2ノードターンオフ用スイッチング素子の第2電極-第3電極間には、第2ノードの電位と第1出力ノードまたは第2出力ノードの電位との差に相当する電圧が印加される。第1出力ノードの電位(走査信号の電位)および第2出力ノードの電位(他段制御信号の電位)は書込動作期間中にオンレベルに向けて変化するので、当該期間中における第2ノードターンオフ用スイッチング素子の第2電極-第3電極間の電圧は比較的小さくなる。これにより、書込動作期間において、第2ノードからの第2ノードターンオフ用スイッチング素子を介した電荷の流出が抑制される。その結果、第2ノードの電位が書込動作期間中にオフレベルに向けて変化することが抑制され、回路動作の安定性が高められる。
 本発明の第6の局面によれば、書込動作期間終了後に第1出力ノードまたは第2出力ノードの電位が確実にオフレベルとされる。このため、通常動作期間における走査信号または他段制御信号のノイズの発生が抑制される。
 本発明の第7の局面によれば、第2ノードターンオフ用スイッチング素子の第3電極が第1ノードに接続されているので、第1ノードの電位の変化に伴って第2ノードの電位が変化する。このため、書込動作期間終了後に第2ノードがオフレベルとなるまでの時間が比較的長くなる。これにより、書込動作期間終了後に第2の出力制御用スイッチング素子を介して他段制御信号が速やかにオフレベルとなる。
 本発明の第8の局面によれば、他段制御信号やクロック信号に基づいて、本充電期間の開始前には第3ノードはオフレベルで維持され、本充電期間の開始時点には第3ノードはオンレベルとされる。このように、第1ノードや第2ノードの電位に基づくことなく、第3ノードの電位を制御することが可能となる。
 本発明の第9の局面によれば、第3ノードをオンレベルにするための第1の第3ノードターンオン用スイッチング素子は、他段制御信号に基づいてオン状態となる。ここで、他段制御信号は1垂直走査期間中の1水平走査期間だけオンレベルとなる。従って、通常動作期間において第3ノードがオフレベルとされる場合においても第1の第3ノードターンオン用スイッチング素子の第2電極-第3電極間に高電圧が印加される期間は短くなり、第1の第3ノードターンオン用スイッチング素子の劣化が抑制される。このため、第3ノードがオフレベルからオンレベルに変化する際の波形の劣化が抑制され、シフトレジスタの長期間における安定動作が可能となる。
 本発明の第10の局面によれば、第3ノードには比較的短い周期で電荷が供給される。これにより、通常動作期間中、第3ノードに接続されているスイッチング素子で電流のリークが生じても、第3ノードは確実にオンレベルで維持される。これにより、回路動作の安定性が高められる。
 本発明の第11の局面によれば、本発明の第9の局面と同様、第3ノードがオフレベルからオンレベルに変化する際の波形の劣化が抑制され、シフトレジスタの長期間における安定動作が可能となる。また、本発明の第10の局面と同様、通常動作期間中に第3ノードは確実にオンレベルで維持され、回路動作の安定性が高められる。
 本発明の第12の局面によれば、第4ノードがオンレベルになっているときに、第2の第1出力ノードターンオフ用スイッチング素子はオン状態となって、走査信号の電位がオフレベルへと引き込まれる。ここで、書込動作期間には、第2の第1出力ノードターンオフ用スイッチング素子がオフ状態となるように、第4ノードはオフレベルで維持されるべきである。書込動作期間がクロック周期よりも長いため、クロック信号を用いて第4ノードをオンレベルにするためには、複雑な構成が必要となる。また、本充電期間の終了時点に第4ノードをオンレベルにするための構成に関し、後段の段構成回路から出力される他段制御信号を用いることができる。しかしながら、電流のリークが生じると、通常動作期間中に第4ノードの電位がオフレベルに向けて変化し、回路動作が不安定となる。この点、本発明の第12の局面によれば、第4ノード制御用スイッチング素子の第1電極に与えられるクロック信号がオンレベルになる毎に、第3ノードから第4ノードに電荷が供給される。以上より、簡易な構成で、書込動作期間には第4ノードをオフレベルで維持しつつ、通常動作期間には第4ノードをオンレベルで維持することができ、通常動作期間中における走査信号についてのノイズの発生が抑制される。
 本発明の第13の局面によれば、第1の第3ノードターンオン用スイッチング素子の第1電極-第2電極間の電圧は0となる。このため、通常動作期間中に第3ノードがオンレベルで維持される場合に、第1の第3ノードターンオン用スイッチング素子の第1電極の電位がオフレベルとなっても、第1の第3ノードターンオン用スイッチング素子が受ける第1電極-第3電極間の電圧も0となり、第1の第3ノードターンオン用スイッチング素子の劣化が抑制される。
 本発明の第14の局面によれば、第3ノードのレベルをより速やかに変化させることが可能となる。
 本発明の第15の局面によれば、本充電期間の終了後に走査信号を確実にオフレベルとすることが可能となる。
 本発明の第16の局面によれば、比較的簡易な構成で第3ノードの電位を制御することが可能となる。
 本発明の第17の局面によれば、シフトレジスタを構成する段構成回路に必要なスイッチングの数を比較的少なくすることができる。このため、実装面積が削減され、表示装置の小型化あるいは表示領域の拡大が可能となる。
 本発明の第18の局面によれば、第3ノードをオンレベルとするとき、第2ノードセット信号の電位はオフレベルへと引き込まれ、第2ノードを確実にフローティング状態とすることができる。このため、本充電期間において第2ノードが確実にオンレベルとされ、回路動作の安定性が向上する。
 本発明の第19の局面によれば、通常動作期間中、第2ノードセット信号の電位はオフレベルへと引き込まれる。このため、各段構成回路において、前段から与えられる他段制御信号のノイズの影響が抑制され、回路動作の安定性が向上する。
 本発明の第20の局面によれば、本充電期間終了後、リセット信号に基づいて第3ノードはオンレベルに向けて変化する。このため、本充電期間終了後に、第1ノードおよび第2ノードがオンレベルからオフレベルに向けて変化しても、第3ノードがオフレベルとなることはない。従って、通常動作期間中、第3ノードは確実にオンレベルで維持される。これにより、各段構成回路において、前段から与えられる他段制御信号のノイズの影響が確実に抑制され、回路動作の安定性が向上する。
 本発明の第21の局面によれば、本発明の第13の局面と同様、第2の第3ノードターンオン用スイッチング素子の劣化が抑制される。
 本発明の第22の局面によれば、第1ノードは、第1ノードセット信号に基づいてオフレベルからオンレベルに変化した後、3回以上のブートストラップによって更にオンレベルに向けて変化する。このため、より小さい振幅のクロック信号でシフトレジスタを動作させても、本充電期間における走査信号のレベルを画素容量への書き込みが充分に行われる程度にまで到達させることが可能となる。これにより、本充電期間に走査信号線に印加される電圧を従来よりも低下させることなく、シフトレジスタにおける消費電力を従来よりも顕著に低減させることが可能となる。
 本発明の第23の局面によれば、本発明の第22の局面と同様、本充電期間に走査信号線に印加される電圧を従来よりも低下させることなく、シフトレジスタにおける消費電力を従来よりも顕著に低減させることが可能となる。
 本発明の第24の局面によれば、書込動作期間終了後に、ノード領域を形成するノードが確実にオフレベルとされる。このため、通常動作期間における回路動作の安定性が高められる。
 本発明の第25の局面によれば、第2ノードターンオフ用スイッチング素子の第2電極-第3電極間の電圧が低減される。これにより、書込動作期間において、第2ノードターンオフ用スイッチング素子を介した電荷の流出が抑制される。その結果、ノード領域を形成するノードの電位が書込動作期間中にオフレベルに向けて変化することが抑制され、回路動作の安定性が高められる。
 本発明の第26の局面によれば、シフトレジスタの動作を開始するために必要となる信号の数が削減される。
 本発明の第27の局面によれば、シフトレジスタの動作に用いられるクロック信号の数が比較的少なく、また、そのクロック信号の周波数が比較的低くなるので、より効果的に消費電力が低減される。
 本発明の第28の局面によれば、走査信号線駆動回路の製造コストを下げることができる。
 本発明の第29の局面によれば、本発明の第1から第28までのいずれかの局面と同様の効果が得られる走査信号線駆動回路を備えた表示装置が実現される。
本発明の第1の実施形態に係る液晶表示装置において、ゲートドライバ内のシフトレジスタに含まれる段構成回路の構成を示す回路図である。 上記第1の実施形態において、液晶表示装置の全体構成を示すブロック図である。 上記第1の実施形態において、ゲートドライバの構成を説明するためのブロック図である。 上記第1の実施形態において、ゲートドライバ内のシフトレジスタの構成を示すブロック図である。 上記第1の実施形態において、走査信号の振幅とクロック信号の振幅との関係について説明するための信号波形図である。 上記第1の実施形態において、ゲートドライバの動作を説明するための信号波形図である。 上記第1の実施形態において、段構成回路の動作について説明するための信号波形図である。 上記第1の実施形態におけるシミュレーション結果を示す図である。 上記第1の実施形態の第1の変形例における段構成回路の構成を示す回路図である。 上記第1の実施形態の第1の変形例において、段構成回路の動作について説明するための信号波形図である。 上記第1の実施形態の第2の変形例における段構成回路の構成を示す回路図である。 上記第1の実施形態の第2の変形例において、段構成回路の動作について説明するための信号波形図である。 上記第1の実施形態の第3の変形例における段構成回路の構成を示す回路図である。 上記第1の実施形態の変形例について説明するための図である。 上記第1の実施形態の第4の変形例における段構成回路の構成を示す回路図である。 上記第1の実施形態の第5の変形例における段構成回路の構成を示す回路図である。 上記第1の実施形態の第6の変形例における段構成回路の構成を示す回路図である。 本発明の第2の実施形態における段構成回路の構成を示す回路図である。 上記第2の実施形態の第1の変形例における段構成回路の構成を示す回路図である。 上記第2の実施形態の変形例について説明するための回路図である。 上記第2の実施形態の変形例について説明するための回路図である。 上記第2の実施形態の変形例について説明するための図である。 上記第2の実施形態の第2の変形例における段構成回路の構成を示す回路図である。 上記第2の実施形態の第2の変形例におけるシミュレーション結果を示す図である。 上記第2の実施形態の第3の変形例における段構成回路の構成を示す回路図である。 本発明の第3の実施形態における段構成回路の構成を示す回路図である。 上記第3の実施形態において、段構成回路の動作について説明するための信号波形図である。 本発明の第4の実施形態における段構成回路の構成を示す回路図である。 上記第4の実施形態において、段構成回路の動作について説明するための信号波形図である。 上記第4の実施形態の第1の変形例における段構成回路の構成を示す回路図である。 上記第4の実施形態の第1の変形例において、段構成回路の動作について説明するための信号波形図である。 上記第4の実施形態の第2の変形例における段構成回路の構成を示す回路図である。 セット信号生成回路を備えたシフトレジスタの構成を示すブロック図である。 セット信号生成回路の詳細な構成を示す回路図である。 セット信号生成回路の動作について説明するための信号波形図である。 従来の液晶表示装置において、シフトレジスタの一段分の構成例を示す回路図である。
 以下、添付図面を参照しつつ、本発明の実施形態について説明する。なお、以下の説明においては、薄膜トランジスタのゲート端子(ゲート電極)は第1電極に相当し、ドレイン端子(ドレイン電極)は第2電極に相当し、ソース端子(ソース電極)は第3電極に相当する。また、シフトレジスタ内に設けられている薄膜トランジスタはすべてnチャネル型であるものとして説明する。
<1.第1の実施形態>
<1.1 全体構成および動作>
 図2は、本発明の第1の実施形態に係るアクティブマトリクス型の液晶表示装置の全体構成を示すブロック図である。図2に示すように、この液晶表示装置は、電源100とDC/DCコンバータ110と表示制御回路200とソースドライバ(映像信号線駆動回路)300とゲートドライバ(走査信号線駆動回路)400と共通電極駆動回路500と表示部600とを備えている。なお、ゲートドライバ400は、アモルファスシリコン,多結晶シリコン,微結晶シリコン,酸化物半導体(例えばIGZO)などを用いて、表示部600を含む表示パネル上に形成されている。すなわち、本実施形態においては、ゲートドライバ400と表示部600とは同一基板(液晶パネルを構成する2枚の基板のうちの一方の基板であるアレイ基板)上に形成されている。
 表示部600には、複数本(j本)のソースバスライン(映像信号線)SL1~SLjと、複数本(i本)のゲートバスライン(走査信号線)GL1~GLiと、それらのソースバスラインSL1~SLjとゲートバスラインGL1~GLiとの交差点にそれぞれ対応して設けられた複数個(i×j個)の画素形成部とを含む画素回路が形成されている。上記複数個の画素形成部はマトリクス状に配置されて画素アレイを構成している。各画素形成部は、対応する交差点を通過するゲートバスラインにゲート端子が接続されると共に当該交差点を通過するソースバスラインにソース端子が接続されたスイッチング素子である薄膜トランジスタ(TFT)60と、その薄膜トランジスタ60のドレイン端子に接続された画素電極と、上記複数個の画素形成部に共通的に設けられた対向電極である共通電極Ecと、上記複数個の画素形成部に共通的に設けられ画素電極と共通電極Ecとの間に挟持された液晶層とからなる。そして、画素電極と共通電極Ecとにより形成される液晶容量により、画素容量Cpが構成される。なお、通常、画素容量Cpに確実に電荷を保持すべく、液晶容量に並列に補助容量が設けられるが、補助容量は本発明には直接に関係しないのでその説明および図示を省略する。
 電源100は、DC/DCコンバータ110と表示制御回路200と共通電極駆動回路500とに所定の電源電圧を供給する。DC/DCコンバータ110は、ソースドライバ300およびゲートドライバ400を動作させるための所定の直流電圧を電源電圧から生成し、それをソースドライバ300およびゲートドライバ400に供給する。共通電極駆動回路500は、共通電極Ecに所定の電位Vcomを与える。
 表示制御回路200は、外部から送られる画像信号DATおよび水平同期信号や垂直同期信号などのタイミング信号群TGを受け取り、デジタル映像信号DVと、表示部600における画像表示を制御するためのソーススタートパルス信号SSP,ソースクロック信号SCK,ラッチストローブ信号LS,ゲートスタートパルス信号GSP,ゲートエンドパルス信号GEP,およびゲートクロック信号GCKとを出力する。なお、本実施形態においては、ゲートスタートパルス信号GSPは、2つの信号GSP1(以下「第1ゲートスタートパルス信号」という。)およびGSP2(以下「第2ゲートスタートパルス信号」という。)で構成され、ゲートクロック信号GCKは、2相のクロック信号GCK1(以下「第1ゲートクロック信号」という。)およびGCK2(以下「第2ゲートクロック信号」という。)で構成されている。
 ソースドライバ300は、表示制御回路200から出力されるデジタル映像信号DV,ソーススタートパルス信号SSP,ソースクロック信号SCK,およびラッチストローブ信号LSを受け取り、各ソースバスラインSL1~SLjに駆動用映像信号S(1)~S(j)を印加する。
 ゲートドライバ400は、表示制御回路200から出力されるゲートスタートパルス信号GSP,ゲートエンドパルス信号GEP,およびゲートクロック信号GCKに基づいて、アクティブな走査信号GOUT(1)~GOUT(i)の各ゲートバスラインGL1~GLiへの印加を1垂直走査期間を周期として繰り返す。なお、このゲートドライバ400についての詳しい説明は後述する。
 以上のようにして、各ソースバスラインSL1~SLjに駆動用映像信号S(1)~S(j)が印加され、各ゲートバスラインGL1~GLiに走査信号GOUT(1)~GOUT(i)が印加されることにより、外部から送られた画像信号DATに基づく画像が表示部600に表示される。
<1.2 ゲートドライバの構成および動作>
 次に、図3~図6を参照しつつ、本実施形態におけるゲートドライバ400の構成および動作の概要について説明する。図3に示すように、ゲートドライバ400は複数段からなるシフトレジスタ410によって構成されている。表示部600にはi行×j列の画素マトリクスが形成されているところ、それら画素マトリクスの各行と1対1で対応するようにシフトレジスタ410の各段が設けられている。シフトレジスタ410にはi個の段構成回路SR(1)~SR(i)が含まれている。それらi個の段構成回路SR(1)~SR(i)は互いに直列に接続されている。
 図4は、ゲートドライバ400内のシフトレジスタ410の構成を示すブロック図である。上述したように、このシフトレジスタ410はi個の段構成回路SR(1)~SR(i)で構成されている。なお、図4には、(n-2)段目から(n+2)段目までの段構成回路を示している。各段構成回路には、クロック信号CKA(以下「第1クロック」という。)を受け取るための入力端子と、クロック信号CKB(以下「第2クロック」という。)を受け取るための入力端子と、ハイレベルの直流電源電位VDD(この電位の大きさのことを「VDD電位」ともいう。)を受け取るための入力端子と、ローレベルの直流電源電位VSS(この電位の大きさのことを「VSS電位」ともいう。)を受け取るための入力端子と、第1のセット信号S1を受け取るための入力端子と、第2のセット信号S2を受け取るための入力端子と、リセット信号Rを受け取るための入力端子と、走査信号GOUTを出力するための出力端子と、当該各段構成回路とは異なる段の段構成回路の動作を制御する信号(以下、「他段制御信号」という。)Zを出力するための出力端子とが設けられている。なお、第2クロックCKBを受け取るための入力端子については、必ずしも設けられていなくても良い。
 シフトレジスタ410の各段(各段構成回路)の入力端子に与えられる信号は次のようになっている(図4参照)。(n-1)段目については、第2ゲートクロック信号GCK2が第1クロックCKAとして与えられ、第1ゲートクロック信号GCK1が第2クロックCKBとして与えられる。n段目については、第1ゲートクロック信号GCK1が第1クロックCKAとして与えられ、第2ゲートクロック信号GCK2が第2クロックCKBとして与えられる。シフトレジスタ410の全ての段を通して、(n-1)段目からn段目までの構成と同様の構成が2段ずつ繰り返される。また、任意の段について、前々段から出力される他段制御信号Zが第1のセット信号S1として与えられ、前段から出力される他段制御信号Zが第2のセット信号S2として与えられ、次段から出力される他段制御信号Zがリセット信号Rとして与えられる。但し、1段目については、第1ゲートスタートパルス信号GSP1が第1のセット信号S1として与えられ、第2ゲートスタートパルス信号GSP2が第2のセット信号S2として与えられる。また、2段目については、第2ゲートスタートパルス信号GSP2が第1のセット信号S1として与えられる。さらに、z段目(最終段目)については、ゲートエンドパルス信号GEPがリセット信号Rとして与えられる。なお、ハイレベルの直流電源電位VDDおよびローレベルの直流電源電位VSSについては、全ての段構成回路に共通的に与えられる。
 シフトレジスタ410の各段(各段構成回路)からは走査信号GOUTと他段制御信号Zとが出力される。各段から出力される走査信号GOUTは、対応するゲートバスラインに与えられる。各段から出力される他段制御信号Zについては、リセット信号Rとして前段に与えられ、第2のセット信号S2として次段に与えられ、第1のセット信号S1として次々段に与えられる。
 ところで、本実施形態においては、走査信号GOUTの生成元となる電源とクロック信号の生成元となる電源とは別系統となっていて、図5に示すように、クロック信号の振幅VCKは走査信号GOUTの振幅(VDD電位とVSS電位との差に相当)VGよりも小さくされている。例えば、クロック信号の振幅VCKは走査信号GOUTの振幅VGの0.7倍とされる。また、シフトレジスタ410に与えられる2相のクロック信号である第1ゲートクロック信号GCK1と第2ゲートクロック信号GCK2とについては、図6に示すように、互いに位相が180度(ほぼ1水平走査期間に相当する期間)ずれており、いずれも2水平走査期間中のほぼ1水平走査期間だけハイレベル(Hレベル)の状態となる。
 以上のような構成において、シフトレジスタ410の1段目SR(1)に第1のセット信号S1としての第1ゲートスタートパルス信号GSP1のパルスと第2のセット信号S2としての第2ゲートスタートパルス信号GSP2のパルスとが与えられ、シフトレジスタ410の2段目SR(2)に第1のセット信号S1としての第2ゲートスタートパルス信号GSP2のパルスが与えられると、ゲートクロック信号GCK(第1ゲートクロック信号GCK1および第2ゲートクロック信号GCK2)に基づいて、各段から出力される他段制御信号Zに含まれるシフトパルスが1段目SR(1)からi段目SR(i)へと順次に転送される。そして、このシフトパルスの転送に応じて、各段SR(1)~SR(i)から出力される走査信号GOUTが順次にハイレベルとなる。このとき、後述するように、走査信号GOUTの電位は段階的に上昇する。これにより、図6に示すような波形の走査信号が表示部600内のゲートバスラインに与えられる。
<1.3 段構成回路の構成>
 図1は、本実施形態における段構成回路の構成(シフトレジスタ410の一段分の構成)を示す回路図である。図1に示すように、この段構成回路は、9個の薄膜トランジスタM1~M9と、2個のキャパシタC1,C2とを備えている。また、この段構成回路は、ハイレベルの直流電源電位VDD用の入力端子およびローレベルの直流電源電位VSS用の入力端子のほか、4個の入力端子41,43,44,49と2個の出力端子51,52とを有している。ここで、第1クロックCKAを受け取る入力端子には符号41を付し、第1のセット信号S1を受け取る入力端子には符号43を付し、第2のセット信号S2を受け取る入力端子には符号44を付し、リセット信号Rを受け取る入力端子には符号49を付している。また、走査信号GOUTを出力する出力端子には符号51を付し、他段制御信号Zを出力する出力端子には符号52を付している。
 次に、この段構成回路内における構成要素間の接続関係について説明する。薄膜トランジスタM1のソース端子,薄膜トランジスタM4のドレイン端子,薄膜トランジスタM7のゲート端子,およびキャパシタC1の一端は互いに接続されている。なお、これらが互いに接続されている領域(配線)のことを便宜上「第1ノード」という。薄膜トランジスタM2のソース端子,薄膜トランジスタM3のドレイン端子,薄膜トランジスタM5のドレイン端子,薄膜トランジスタM6のゲート端子,薄膜トランジスタM9のゲート端子,キャパシタC1の他端,およびキャパシタC2の一端は互いに接続されている。なお、これらが互いに接続されている領域(配線)のことを便宜上「第2ノード」という。薄膜トランジスタM9とキャパシタC2の他端とは互いに接続されている。なお、これらが互いに接続されている領域(配線)のことを便宜上「第3ノード」という。第1ノードには符号N1を付し、第2ノードには符号N2を付し、第3ノードには符号N3を付している。
 薄膜トランジスタM1については、ゲート端子は入力端子43に接続され、ドレイン端子は直流電源電位VDD用の入力端子に接続され、ソース端子は第1ノードN1に接続されている。薄膜トランジスタM2については、ゲート端子は入力端子44に接続され、ドレイン端子は直流電源電位VDD用の入力端子に接続され、ソース端子は第2ノードN2に接続されている。薄膜トランジスタM3については、ゲート端子は入力端子43に接続され、ドレイン端子は第2ノードN2に接続され、ソース端子は直流電源電位VSS用の入力端子に接続されている。薄膜トランジスタM4については、ゲート端子は入力端子49に接続され、ドレイン端子は第1ノードN1に接続され、ソース端子は直流電源電位VSS用の入力端子に接続されている。薄膜トランジスタM5については、ゲート端子は入力端子49に接続され、ドレイン端子は第2ノードN2に接続され、ソース端子は直流電源電位VSS用の入力端子に接続されている。薄膜トランジスタM6については、ゲート端子は第2ノードN2に接続され、ドレイン端子は入力端子41に接続され、ソース端子は出力端子52に接続されている。薄膜トランジスタM7については、ゲート端子は第1ノードN1に接続され、ドレイン端子は直流電源電位VDD用の入力端子に接続され、ソース端子は出力端子51に接続されている。薄膜トランジスタM8については、ゲート端子は入力端子49に接続され、ドレイン端子は出力端子51に接続され、ソース端子は直流電源電位VDD用の入力端子に接続されている。薄膜トランジスタM9については、ゲート端子は第2ノードN2に接続され、ドレイン端子は入力端子41に接続され、ソース端子は第3ノードN3に接続されている。キャパシタC1については、一端は第1ノードN1に接続され、他端は第2ノードN2に接続されている。キャパシタC2については、一端は第2ノードN2に接続され、他端は第3ノードN3に接続されている。
 次に、各構成要素のこの段構成回路における機能について説明する。薄膜トランジスタM1は、第1のセット信号S1がハイレベルになっているときに、第1ノードN1の電位をVDD電位に向けて変化させる。薄膜トランジスタM2は、第2のセット信号S2がハイレベルになっているときに、第2ノードN2の電位をVDD電位に向けて変化させる。薄膜トランジスタM3は、第1のセット信号S1がハイレベルになっているときに、第2ノードN2の電位をVSS電位に向けて変化させる。薄膜トランジスタM4は、リセット信号Rがハイレベルになっているときに、第1ノードN1の電位をVSS電位に向けて変化させる。薄膜トランジスタM5は、リセット信号Rがハイレベルになっているときに、第2ノードN2の電位をVSS電位に向けて変化させる。薄膜トランジスタM6は、第2ノードN2の電位がハイレベルになっているときに、第1クロックCKAの電位を出力端子52に与える。薄膜トランジスタM7は、第1ノードN1の電位がハイレベルになっているときに、VDD電位を出力端子51に与える。薄膜トランジスタM8は、リセット信号Rがハイレベルになっているときに、出力端子51(走査信号GOUT)の電位をVSS電位に向けて変化させる。薄膜トランジスタM9は、第2ノードN2の電位がハイレベルになっているときに、第1クロックCKAの電位を第3ノードN3に与える。キャパシタC1は、第2ノードN2の電位の上昇に伴って第1ノードN1の電位を上昇させるよう機能する。キャパシタC2は、第3ノードN3の電位の上昇に伴って第2ノードN2の電位を上昇させるよう機能する。すなわち、キャパシタC1,C2はブートストラップ容量として機能する。
 なお、本実施形態においては、薄膜トランジスタM4によって第1ノードターンオフ用スイッチング素子が実現され、薄膜トランジスタM5によって第2ノードターンオフ用スイッチング素子が実現され、薄膜トランジスタM6によって第2の出力制御用スイッチング素子が実現され、薄膜トランジスタM7によって第1の出力制御用スイッチング素子が実現され、薄膜トランジスタM8によって第1の第1出力ノードターンオフ用スイッチング素子が実現され、薄膜トランジスタM9によって第3ノード制御用スイッチング素子が実現されている。また、走査信号GOUTを出力する出力端子51によって第1出力ノードが実現され、他段制御信号Zを出力する出力端子52によって第2出力ノードが実現されている。さらに、第1のセット信号S1によって第1ノードセット信号が実現され、第2のセット信号S2によって第2ノードセット信号が実現されている。さらにまた、第2ノードN2のみによってノード領域が実現され、キャパシタC1によって第1の電位差保持部が実現され、キャパシタC2によって第2の電位差保持部が実現されている。
<1.4 段構成回路の動作>
 次に、図1および図7を参照しつつ、本実施形態における段構成回路の動作について説明する。ここでは、n段目の段構成回路に着目する。なお、上述したように、画素容量への本来的な書き込みが行われる期間のことを「本充電期間」といい、走査信号GOUTの立ち上げ開始時点から走査信号GOUTの立ち下げ開始時点までの期間のことを「書込動作期間」という。また、走査信号GOUTを立ち下げるための動作が行われる期間のことを「リセット期間」といい、「書込動作期間およびリセット期間」以外の期間のことを「通常動作期間」という。図7においては、時点t0から時点t3までの期間が書込動作期間に相当し、時点t2から時点t3までの期間が本充電期間に相当し、時点t3から時点t4までの期間がリセット期間に相当し、時点t0以前の期間および時点t4以降の期間が通常動作期間に相当する。
 時点t0以前の期間には、第1ノードN1の電位,第2ノードN2の電位,第3ノードN3の電位,走査信号GOUTの電位(出力端子51の電位),および他段制御信号Zの電位(出力端子52の電位)はローレベルで維持されている。
 時点t0になると、第1のセット信号S1がローレベルからハイレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタM1,M3はオン状態となる。薄膜トランジスタM1がオン状態となることによって第1ノードN1の電位は上昇し、薄膜トランジスタM3がオン状態となることによって第2ノードN2の電位はVSS電位へと引き込まれる。その結果、キャパシタC1が充電される。また、第1ノードN1の電位が上昇することによって薄膜トランジスタM7はオン状態となり、走査信号GOUTの電位が上昇する。
 時点t1になると、第2のセット信号S2がローレベルからハイレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタM2はオン状態となる。また、時点t1には、第1のセット信号S1がハイレベルからローレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタM1,M3はオフ状態となる。薄膜トランジスタM2がオン状態かつ薄膜トランジスタM3がオフ状態となることによって、第2ノードN2の電位が上昇する。このとき、薄膜トランジスタM1はオフ状態となって第1ノードN1はフローティング状態となっているので、第2ノードN2の電位の上昇に伴ってキャパシタC1を介して第1ノードN1の電位が上昇する(第1ノードN1がブートストラップされる)。その結果、走査信号GOUTの電位は更に上昇する。なお、時点t1から時点t2までの期間には、第2ノードN2の電位がハイレベルとなって薄膜トランジスタM6,M9がオン状態となるが、第1クロックCKAがローレベルとなっているので、第3ノードN3の電位および他段制御信号Zの電位はローレベルで維持される。
 時点t2になると、第2のセット信号S2がハイレベルからローレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタM2はオフ状態となって、第2ノードN2はフローティング状態となる。また、時点t2には、第1クロックCKAがローレベルからハイレベルに変化する。このとき、薄膜トランジスタM9はオン状態となっているので、第3ノードN3の電位は上昇する。第1ノードN1および第2ノードN2はフローティング状態となっているので、第3ノードN3の電位の上昇に伴ってキャパシタC2を介して第2ノードN2の電位が上昇し、第2ノードN2の電位の上昇に伴ってキャパシタC1を介して第1ノードN1の電位が上昇する(第1ノードN1がブートストラップされる)。これにより、第1ノードN1の電位はVDD電位よりも高くなり、走査信号GOUTの電位がVDD電位にまで高められる。また、薄膜トランジスタM6がオン状態かつ第1クロックCKAがハイレベルとなっていることから、第1クロックCKAの電位が出力端子52に与えられる。これにより、他段制御信号Zの電位がハイレベルとなる。
 時点t3になると、第1クロックCKAがハイレベルからローレベルに変化する。これにより、入力端子41の電位の低下とともに他段制御信号Zの電位は低下する。また、時点t3には、リセット信号Rがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタM4,M5,およびM8がオン状態となる。薄膜トランジスタM4がオン状態となることによって第1ノードN1の電位はローレベルとなり、薄膜トランジスタM5がオン状態となることによって第2ノードN2の電位はローレベルとなり、薄膜トランジスタM8がオン状態となることによって走査信号GOUTの電位がローレベルとなる。このとき、キャパシタC2を介して第3ノードN3の電位も低下する。
 時点t4以降の期間には、時点t0以前の期間と同様、第1ノードN1の電位,第2ノードN2の電位,第3ノードN3の電位,走査信号GOUTの電位,および他段制御信号Zの電位はローレベルで維持される。
<1.5 効果>
 本実施形態によれば、シフトレジスタ410内の各段構成回路からは、当該各段構成回路に接続されたゲートバスラインを駆動する走査信号GOUTと、当該各段構成回路とは異なる段の段構成回路を制御するための他段制御信号Zとが出力される。ここで、走査信号GOUTの電位を制御するための薄膜トランジスタM7のドレイン端子には、ハイレベルの直流電源電位VDDが与えられる。一方、他段制御信号Zの電位を制御するための薄膜トランジスタM6のドレイン端子には、クロック信号が与えられる。このような構成において、薄膜トランジスタM7のゲート端子に接続された第1ノードN1の電位は、第1のセット信号S1(前々段の段構成回路から出力される他段制御信号)に基づいて上昇した後、ブートストラップによって2回上昇する。このため、比較的小さい振幅のクロック信号でシフトレジスタ410を動作させても、各ゲートバスラインGL1~GLiに印加されるべき走査信号GOUT(1)~GOUT(i)の電位を充分に高めることが可能となる。以上のように、本実施形態によれば、本充電期間にゲートバスラインに印加される電圧を従来よりも低下させることなく、シフトレジスタ410における消費電力を従来よりも低減させることが可能となる。
 一般に、モノリシックゲートドライバにおける消費電力Wは、回路内の寄生容量の容量値Cと電圧(振幅)Vの2乗と周波数fとの積に比例する。ここで、クロック信号については周波数fが大きく、また、消費電力Wが電圧Vの2乗に比例していることから、クロック信号の振幅を小さくすることによって消費電力Wは大きく低減される。また、一般に、走査信号GOUTの振幅については、映像信号電圧の大きさにかかわらず画素容量に所望の充電が施されるよう、薄膜トランジスタのスイッチング動作に必要な電圧振幅よりも大きくされている。このため、従来の構成においては、クロック信号の振幅は薄膜トランジスタのスイッチング動作に必要な電圧振幅よりも大きくされている。この点、本実施形態によれば、クロック信号の振幅を小さくすることができるので、従来と比較して消費電力が大きく低減される。
 図8は、本実施形態において、クロック信号の振幅VCKを走査信号GOUTの振幅VGの0.7倍にしたときのシミュレーション結果を示す図である。図8から把握されるように、第1ノードN1の電位は段階的に高められ、それに伴って、走査信号GOUTの電位も段階的に高められている。そして、時点t2から時点t3までの期間には、走査信号GOUTの電位は充分に上昇している。ここで、クロック信号の振幅VCKが走査信号GOUTの振幅VGの0.7倍となっていること、および、消費電力Wが電圧Vの2乗に比例していることから、従来と比較して消費電力はほぼ2分の1となる。
 また、一般に、走査信号GOUTの電位を制御するための薄膜トランジスタには、サイズの大きい薄膜トランジスタが採用される。このため、従来の構成においては、クロック配線の寄生容量が大きくなっていた。この点、本実施形態によれば、走査信号GOUTの電位を制御するための薄膜トランジスタM7のドレイン端子にはクロック信号に代えてハイレベルの直流電源電位VDDが与えられる。このため、従来と比較して、クロック配線の寄生容量が小さくなり、消費電力が低減される。さらに、クロック配線の負荷がクロック信号に及ぼす影響が小さくなるので、クロック信号の波形なまりの発生が抑制され、回路動作の安定性が高められる。その結果、表示品位が向上する。
 さらに、本実施形態によれば、画素容量への本来的な書き込みが行われる期間である本充電期間(図7の時点t2から時点t3までの期間)の開始前に、走査信号GOUTは段階的に立ち上げられる。そして、本充電期間の開始時点の直前には、走査信号GOUTは比較的高い電位に到達している。このため、本充電期間には、走査信号GOUTは速やかに充分に高い電位に到達し、画素容量への充電が充分に施される。これにより、表示品位が向上する。
 さらにまた、走査信号GOUTの電位を段階的に高めることによって、走査信号GOUTの電位を制御するための薄膜トランジスタM7のゲート-ソース間の電圧の最大値が小さくなり、薄膜トランジスタM7の破壊が抑制される。
<1.6 変形例>
 次に、上記第1の実施形態の変形例について説明する。なお、各変形例に関し、液晶表示装置の全体構成および動作,ゲートドライバの構成および動作については、上記第1の実施形態と同様であるので説明を省略する。
<1.6.1 第1の変形例>
 図9は、上記第1の実施形態の第1の変形例における段構成回路の構成を示す回路図である。本変形例においては、段構成回路には、上記第1の実施形態における構成要素中の薄膜トランジスタM9が設けられていない。その代わりに、キャパシタC2の他端と薄膜トランジスタM6のソース端子とが接続された構成となっている。これにより、出力端子52が上記第1の実施形態における第3ノードN3としても機能している。
 次に、図9および図10を参照しつつ、本変形例における段構成回路の動作について説明する。なお、時点t2以前の期間および時点t3以降の期間については、上記第1の実施形態と同様であるので説明を省略する。時点t2になると、第2のセット信号S2がハイレベルからローレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタM2はオフ状態となって、第2ノードN2はフローティング状態となる。また、時点t2には、第1クロックCKAがローレベルからハイレベルに変化する。このとき、薄膜トランジスタM6はオン状態となっているので、出力端子52の電位が上昇し、他段制御信号Zの電位がハイレベルとなる。第1ノードN1および第2ノードN2はフローティング状態となっているので、出力端子52の電位の上昇に伴ってキャパシタC2を介して第2ノードN2の電位が上昇し、第2ノードN2の電位の上昇に伴ってキャパシタC1を介して第1ノードN1の電位が上昇する(第1ノードN1がブートストラップされる)。これにより、第1ノードN1の電位はVDD電位よりも高くなり、走査信号GOUTの電位がVDD電位にまで高められる。
 本変形例によれば、上記第1の実施形態における薄膜トランジスタM9(図1参照)を備えることなく、上記第1の実施形態と同様にゲートバスラインGL1~GLiを駆動することができる。これにより、ゲートドライバ400を構成するシフトレジスタ410に必要なトランジスタの数が少なくなり、実装面積が削減される。その結果、表示装置の小型化あるいは表示領域の拡大が可能となる。
<1.6.2 第2の変形例>
 図11は、上記第1の実施形態の第2の変形例における段構成回路の構成を示す回路図である。本変形例においては、図1に示した第1の実施形態における構成要素に加えて、薄膜トランジスタM12が設けられている。この薄膜トランジスタM12によって、第2ノードセット信号ターンオフ用スイッチング素子が実現されている。薄膜トランジスタM12については、ゲート端子は第3ノードN3に接続され、ドレイン端子は入力端子44に接続され、ソース端子は直流電源電位VSS用の入力端子に接続されている。薄膜トランジスタM12は、第3ノードN3の電位がハイレベルになっているときに、入力端子44の電位をVSS電位に向けて変化させる。なお、本変形例においては、図12に示すように、通常動作期間中、第3ノードN3の電位がハイレベルで維持される必要がある。
 本変形例によれば、通常動作期間中、薄膜トランジスタM12がオン状態となって入力端子44の電位がVSS電位へと引き込まれる。このため、各段構成回路において、前段から与えられる他段制御信号Z(n-1)のノイズの影響が抑制され、回路動作の安定性が向上する。
<1.6.3 第3の変形例>
 図13は、上記第1の実施形態の第3の変形例における段構成回路の構成を示す回路図である。本変形例においては、図11に示した第2の変形例における構成要素に加えて、更に薄膜トランジスタM13が設けられている。この薄膜トランジスタM13によって、第2の第3ノードターンオン用スイッチング素子が実現されている。薄膜トランジスタM13については、ゲート端子は入力端子49に接続され、ドレイン端子は直流電源電位VDD用の入力端子に接続され、ソース端子は第3ノードN3に接続されている。薄膜トランジスタM13は、リセット信号Rがハイレベルになっているときに、第3ノードN3の電位をVDD電位に向けて変化させる。
 上記第2の変形例においては、時点t3には、第1ノードN1の電位が低下するので、キャパシタC1,C2を介して第3ノードN3の電位も低下する(図12参照)。このため、第3ノードN3の電位が時点t3にローレベルにまで低下することが懸念される。しかしながら、本変形例によれば、時点t3になると、リセット信号Rがハイレベルとなることにより薄膜トランジスタM13がオン状態となって、第3ノードN3の電位がVDD電位に向けて変化する。このため、時点t3に第3ノードN3の電位がローレベルにまで低下することはない。従って、通常動作期間中、第3ノードN3の電位が確実にハイレベルで維持される。これにより、各段構成回路において、前段から与えられる他段制御信号Z(n-1)のノイズの影響が確実に抑制され、回路動作の安定性が向上する。
 ところで、図14に示すように、薄膜トランジスタM13のゲート-ドレイン間が接続された構成であっても良い。上述したように通常動作期間中には第3ノードN3の電位がハイレベルで維持されるため、薄膜トランジスタM13のゲート端子の電位がローレベルになっている時、薄膜トランジスタM13のゲート-ソース間には負の電圧が印加される。このため、薄膜トランジスタM13の劣化が懸念される。この点、薄膜トランジスタM13のゲート-ドレイン間が接続された構成であれば、ゲート端子の電位がローレベルになっている時、ドレイン端子の電位もローレベルとなる。これにより、薄膜トランジスタM13のゲート-ドレイン間の電圧は0で維持される。その結果、薄膜トランジスタM13が受けるゲート-ソース間は0となり、薄膜トランジスタM13の劣化が抑制される。なお、薄膜トランジスタの劣化が抑制されるという効果は得られないが、薄膜トランジスタM1,M2についても、ゲート-ドレイン間が接続された構成にしても良い。
<1.6.4 第4の変形例>
 図15は、上記第1の実施形態の第4の変形例における段構成回路の構成を示す回路図である。本変形例においては、薄膜トランジスタM4のソース端子が第2ノードN2に接続されている。
 本変形例によれば、薄膜トランジスタM4のドレイン-ソース間には、第1ノードN1の電位と第2ノードN2の電位との差に相当する電圧が印加される。図7に示すように時点t1から時点t3までの期間には第2ノードN2の電位はVSS電位よりも高くなっているので、薄膜トランジスタM4のソース端子に直流電源電位VSSが与えられる構成である上記第1の実施形態と比較して、薄膜トランジスタM4のドレイン-ソース間の電圧が低減される。これにより、書込動作期間において、第1ノードN1からの薄膜トランジスタM4を介した電荷の流出が抑制される。その結果、第1ノードN1の電位が書込動作期間中に低下することが抑制され、回路動作の安定性が高められる。
<1.6.5 第5の変形例>
 図16は、上記第1の実施形態の第5の変形例における段構成回路の構成を示す回路図である。本変形例においては、薄膜トランジスタM5のソース端子が出力端子52に接続されている。また、図1に示した第1の実施形態における構成要素に加えて、薄膜トランジスタM17が設けられている。この薄膜トランジスタM17によって、出力ノードターンオフ用スイッチング素子が実現されている。薄膜トランジスタM17については、ゲート端子は入力端子49に接続され、ドレイン端子は出力端子52に接続され、ソース端子は直流電源電位VSS用の入力端子に接続されている。薄膜トランジスタM17は、リセット信号Rがハイレベルになっているときに、出力端子52の電位(他段制御信号Zの電位)をVSS電位に向けて変化させる。なお、薄膜トランジスタM5のソース端子が出力端子51に接続された構成であっても良い。
 本変形例によれば、薄膜トランジスタM5のドレイン-ソース間には、第2ノードN2の電位と他段制御信号Zの電位との差に相当する電圧が印加される。図7に示すように時点t2から時点t3までの期間には他段制御信号Zの電位はVSS電位よりも高くなっているので、薄膜トランジスタM5のソース端子に直流電源電位VSSが与えられる構成である上記第1の実施形態と比較して、薄膜トランジスタM5のドレイン-ソース間の電圧が小さくなる。これにより、書込動作期間において、第2ノードN2からの薄膜トランジスタM5を介した電荷の流出が抑制される。その結果、第2ノードN2の電位が書込動作期間中に低下することが抑制され、回路動作の安定性が高められる。なお、薄膜トランジスタM17については必ずしも備える必要はないが、薄膜トランジスタM17を備えておくことにより書込動作期間終了後に他段制御信号Zを確実にローレベルにする効果が得られる。
<1.6.6 第6の変形例>
 図17は、上記第1の実施形態の第6の変形例における段構成回路の構成を示す回路図である。本変形例においては、薄膜トランジスタM5のソース端子が第1ノードN1に接続されている。
 上記第1の実施形態においては、時点t3になると、リセット信号Rがハイレベルとなり薄膜トランジスタM5がオン状態となることによって、直接的に第2ノードN2の電位が低下していた。これに対して、本変形例によれば、時点t3になった後、第1ノードN1の電位が低下することによって第2ノードN2の電位は低下する。このため、上記第1の実施形態と比較して、時点t3になった後、第2ノードN2の電位がローレベルとなるまでの時間が長くなる。これにより、リセット期間に他段制御信号Zの電位が薄膜トランジスタM6を介して速やかにローレベルにまで低下する。
<1.6.7 その他の変形例>
 上記第1の実施形態においては、第3ノードN3の電位は時点t3のタイミングで低下しているが、本発明はこれに限定されない。時点t2のタイミングで第3ノードN3の電位が上昇するのであれば、第3ノードN3の電位が低下するタイミングは特に限定されない。
 また、上記第1の実施形態においては薄膜トランジスタM9のドレイン端子は入力端子41に接続されているが、薄膜トランジスタM9のドレイン端子が出力端子52に接続された構成であっても良い。すなわち、薄膜トランジスタM9のドレイン端子には、第1クロックCKAまたは他段制御信号Zのいずれかが与えられれば良い。さらに、上記第1の実施形態においては薄膜トランジスタM9のゲート端子は第2ノードN2に接続されているが、薄膜トランジスタM9のゲート端子が第1ノードN1に接続された構成であっても良い。
<2.第2の実施形態>
<2.1 段構成回路の構成>
 図18は、本発明の第2の実施形態における段構成回路の構成を示す回路図である。なお、液晶表示装置の全体構成および動作,ゲートドライバの構成および動作については、上記第1の実施形態と同様であるので説明を省略する。本実施形態においては、段構成回路には、図1に示した第1の実施形態における薄膜トランジスタM9に代えて、薄膜トランジスタM10,M11が設けられている。薄膜トランジスタM10によって第1の第3ノードターンオン用スイッチング素子が実現され、薄膜トランジスタM11によって第3ノードターンオフ用スイッチング素子が実現されている。薄膜トランジスタM10については、ゲート端子は出力端子52に接続され、ドレイン端子は直流電源電位VDD用の入力端子に接続され、ソース端子は第3ノードN3に接続されている。薄膜トランジスタM11については、ゲート端子は入力端子44に接続され、ドレイン端子は第3ノードN3に接続され、ソース端子は直流電源電位VSS用の入力端子に接続されている。薄膜トランジスタM10は、他段制御信号Zがハイレベルになっているときに、第3ノードN3の電位をVDD電位に向けて変化させる。薄膜トランジスタM11は、第2のセット信号S2がハイレベルになっているときに、第3ノードN3の電位をVSS電位に向けて変化させる。
<2.2 効果>
 本実施形態によれば、第3ノードN3の電位を高めるための薄膜トランジスタM10は、他段制御信号Zに基づいてオン状態となる。このため、図12に示すように、時点t2になると第3ノードN3の電位はローレベルからハイレベルに変化する。ここで、他段制御信号Zは1垂直走査期間中の1水平走査期間だけハイレベルとなる。従って、薄膜トランジスタM10のゲート-ソース間に高電圧が印加される期間は短く、第3ノードN3の電位を高めるための薄膜トランジスタの劣化が抑制される。このため、第3ノードN3の電位の昇圧波形の劣化が抑制され、シフトレジスタ410の長期間における安定動作が可能となる。
<2.3 変形例>
<2.3.1 第1の変形例>
 図19は、上記第2の実施形態の第1の変形例における段構成回路の構成を示す回路図である。本変形例においては、薄膜トランジスタM10のゲート端子が入力端子41に接続されている。従って、本変形例においては、薄膜トランジスタM10は、第1クロックCKAがハイレベルになっているときに、第3ノードN3の電位をVDD電位に向けて変化させる。
 本変形例によれば、薄膜トランジスタM10は第1クロックCKAがハイレベルとなる毎にオン状態となる。このため、第3ノードN3の電位は比較的短い周期でVDD電位に向けて高められる。これにより、通常動作期間中、第3ノードN3に接続されている薄膜トランジスタ(例えば薄膜トランジスタM11)で電流のリークが生じても、第3ノードN3の電位は確実にハイレベルで維持される。これにより、回路動作の安定性が高められる。
 なお、図20に示すように、ゲート端子が出力端子52に接続され、ドレイン端子が直流電源電位VDD用の入力端子に接続され、ソース端子が第3ノードN3に接続された薄膜トランジスタM10aと、ゲート端子が入力端子41に接続され、ドレイン端子が直流電源電位VDD用の入力端子に接続され、ソース端子が第3ノードN3に接続された薄膜トランジスタM10bとを段構成回路が備える構成としても良い。これにより、第3ノードN3の電位の昇圧波形の劣化が抑制されるとともに、第3ノードN3の電位は通常動作期間中に確実にハイレベルで維持される。
 ところで、上記第2の実施形態における薄膜トランジスタM10,M11の近傍の構成については、図21に示すように一般化して表すことができる。すなわち、薄膜トランジスタM10のゲート端子には、第1クロックCKAが与えられても良いし、他段制御信号Zが与えられても良い。また、薄膜トランジスタM10のドレイン端子には、VDD電位が与えられても良いし、第1クロックCKAが与えられても良いし、他段制御信号Zが与えられても良い。さらに、薄膜トランジスタM11のゲート端子には、第2クロックCKBが与えられても良いし、前段の他段制御信号Z(n-1)が与えられても良い。さらにまた、薄膜トランジスタM11のソース端子には、VSS電位が与えられても良いし、第1クロックCKAが与えられても良い。
 なお、図22に示すように、薄膜トランジスタM10のゲート-ドレイン間が接続された構成であっても良い。これにより、上述の図14に示した構成と同様、薄膜トランジスタM10の劣化が抑制される。
<2.3.2 第2の変形例>
 図23は、上記第2の実施形態の第2の変形例における段構成回路の構成を示す回路図である。本変形例においては、図18に示した第2の実施形態における構成要素に加えて、薄膜トランジスタM12が設けられている。この薄膜トランジスタM12によって、第2ノードセット信号ターンオフ用スイッチング素子が実現されている。薄膜トランジスタM12については、ゲート端子は第3ノードN3に接続され、ドレイン端子は入力端子44に接続され、ソース端子は直流電源電位VSS用の入力端子に接続されている。薄膜トランジスタM12は、第3ノードN3の電位がハイレベルになっているときに、入力端子44の電位をVSS電位に向けて変化させる。また、上記第1の変形例と同様、薄膜トランジスタM10のゲート端子が入力端子41に接続されている。
 本変形例によれば、通常動作期間中、薄膜トランジスタM12がオン状態となって入力端子44の電位がVSS電位へと引き込まれる。このため、各段構成回路において、前段から与えられる他段制御信号Z(n-1)のノイズの影響が抑制され、回路動作の安定性が向上する。
 図24は、本変形例において、クロック信号の振幅VCKを走査信号GOUTの振幅VGの0.7倍にしたときのシミュレーション結果を示す図である。図24から把握されるように、走査信号GOUTの電位は段階的に高められ、時点t2から時点t3までの期間には、走査信号GOUTの電位は充分に上昇している。また、第3ノードN3の電位については、時点t3に一旦低下しているが、すぐにハイレベルにまで上昇している。以上より、本充電期間にゲートバスラインに印加される電圧を従来よりも低下させることなく、シフトレジスタ410における消費電力が従来よりも低減される。
<2.3.3 第3の変形例>
 図25は、上記第2の実施形態の第3の変形例における段構成回路の構成を示す回路図である。本変形例においては、図23に示した第2の変形例における構成要素に加えて、更に薄膜トランジスタM13が設けられている。この薄膜トランジスタM13によって、第2の第3ノードターンオン用スイッチング素子が実現されている。薄膜トランジスタM13については、ゲート端子は入力端子49に接続され、ドレイン端子は直流電源電位VDD用の入力端子に接続され、ソース端子は第3ノードN3に接続されている。薄膜トランジスタM13は、リセット信号Rがハイレベルになっているときに、第3ノードN3の電位をVDD電位に向けて変化させる。
 本変形例によれば、通常動作期間中、第3ノードN3の電位が確実にハイレベルで維持される。これにより、各段構成回路において、前段から与えられる他段制御信号Z(n-1)のノイズの影響が確実に抑制され、回路動作の安定性が向上する。
<2.3.4 その他の変形例>
 段構成回路については、図18に示した第2の実施形態における構成要素に加えて、図1に示した第1の実施形態における構成要素中の薄膜トランジスタM9を備えた構成にしても良い。これにより、時点t2(図12参照)において、第3ノードN3の電位がより速やかに上昇する。
<3.第3の実施形態>
<3.1 段構成回路の構成>
 図26は、本発明の第3の実施形態における段構成回路の構成を示す回路図である。なお、液晶表示装置の全体構成および動作,ゲートドライバの構成および動作については、上記第1の実施形態と同様であるので説明を省略する。
 図26に示すように、この段構成回路は、15個の薄膜トランジスタM1~M8,M9~M16と、2個のキャパシタC1,C2とを備えている。また、この段構成回路は、ハイレベルの直流電源電位VDD用の入力端子およびローレベルの直流電源電位VSS用の入力端子のほか、5個の入力端子41~44,49と2個の出力端子51,52とを有している。ここで、第2クロックCKBを受け取る入力端子には符号42を付している。以下、主に上記第1の実施形態と異なる点について説明する。
 次に、この段構成回路内における構成要素間の接続関係について説明する。薄膜トランジスタM10のソース端子,薄膜トランジスタM11のドレイン端子,薄膜トランジスタM12のゲート端子,薄膜トランジスタM13のソース端子,薄膜トランジスタM14のドレイン端子,およびキャパシタC2の他端は、第3ノードN3を介して互いに接続されている。薄膜トランジスタM14のソース端子,薄膜トランジスタM15のドレイン端子,および薄膜トランジスタM16のゲート端子は互いに接続されている。なお、これらが互いに接続されている領域(配線)のことを便宜上「第4ノード」という。第4ノードには符号N4を付している。
 薄膜トランジスタM10については、ゲート端子は入力端子41に接続され、ドレイン端子は直流電源電位VDD用の入力端子に接続され、ソース端子は第3ノードN3に接続されている。薄膜トランジスタM11については、ゲート端子は入力端子44に接続され、ドレイン端子は第3ノードN3に接続され、ソース端子は直流電源電位VSS用の入力端子に接続されている。薄膜トランジスタM12については、ゲート端子は第3ノードN3に接続され、ドレイン端子は入力端子44に接続され、ソース端子は直流電源電位VSS用の入力端子に接続されている。薄膜トランジスタM13については、ゲート端子は入力端子49に接続され、ドレイン端子は直流電源電位VDD用の入力端子に接続され、ソース端子は第3ノードN3に接続されている。薄膜トランジスタM14については、ゲート端子は入力端子42に接続され、ドレイン端子は第3ノードN3に接続され、ソース端子は第4ノードN4に接続されている。薄膜トランジスタM15については、ゲート端子は入力端子43に接続され、ドレイン端子は第4ノードN4に接続され、ソース端子は直流電源電位VSS用の入力端子に接続されている。薄膜トランジスタM16については、ゲート端子は第4ノードN4に接続され、ドレイン端子は出力端子51に接続され、ソース端子は直流電源電位VSS用の入力端子に接続されている。なお、薄膜トランジスタM15のゲート端子は第1ノードN1に接続されていても良い。
 次に、各構成要素のこの段構成回路における機能について説明する。薄膜トランジスタM10は、第1クロックCKAがハイレベルになっているときに、第3ノードN3の電位をVDD電位に向けて変化させる。薄膜トランジスタM11は、第2のセット信号S2がハイレベルになっているときに、第3ノードN3の電位をVSS電位に向けて変化させる。薄膜トランジスタM12は、第3ノードN3の電位がハイレベルになっているときに、入力端子44の電位をVSS電位に向けて変化させる。薄膜トランジスタM13は、リセット信号Rがハイレベルになっているときに、第3ノードN3の電位をVDD電位に向けて変化させる。薄膜トランジスタM14は、第2クロックCKBがハイレベルになっているときに、第3ノードN3-第4ノードN4間で電荷を移動させる。薄膜トランジスタM15は、第1のセット信号S1がハイレベルになっているときに、第4ノードN4の電位をVSS電位に向けて変化させる。薄膜トランジスタM16は、第4ノードN4の電位がハイレベルになっているときに、出力端子51の電位をVSS電位に向けて変化させる。
 なお、本実施形態においては、薄膜トランジスタM10によって第1の第3ノードターンオン用スイッチング素子が実現され、薄膜トランジスタM11によって第3ノードターンオフ用スイッチング素子が実現され、薄膜トランジスタM12によって第2ノードセット信号ターンオフ用スイッチング素子が実現され、薄膜トランジスタM13によって第2の第3ノードターンオン用スイッチング素子が実現され、薄膜トランジスタM14によって第4ノード制御用スイッチング素子が実現され、薄膜トランジスタM15によって第4ノードターンオフ用スイッチング素子が実現され、薄膜トランジスタM16によって第2の第1出力ノードターンオフ用スイッチング素子が実現されている。
<3.2 段構成回路の動作>
 次に、図26および図27を参照しつつ、本実施形態における段構成回路の動作について説明する。ここでは、n段目の段構成回路に着目する。時点t0以前の期間には、第1ノードN1の電位,第2ノードN2の電位,走査信号GOUTの電位(出力端子51の電位),および他段制御信号Zの電位(出力端子52の電位)はローレベルで維持され、第3ノードN3の電位および第4ノードN4の電位はハイレベルで維持されている。
 時点t0になると、第1のセット信号S1がローレベルからハイレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタM1,M3,およびM15はオン状態となる。薄膜トランジスタM1がオン状態となることによって第1ノードN1の電位は上昇し、薄膜トランジスタM3がオン状態となることによって第2ノードN2の電位はVSS電位へと引き込まれる。その結果、キャパシタC1が充電される。また、薄膜トランジスタM15がオン状態となることによって第4ノードN4の電位はVSS電位へと引き込まれる。さらに、第1ノードN1の電位が上昇することによって薄膜トランジスタM7はオン状態となり、走査信号GOUTの電位が上昇する。
 時点t1になると、第2のセット信号S2がローレベルからハイレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタM2,M11はオン状態となる。薄膜トランジスタM11がオン状態となることによって、第3ノードN3の電位が低下する。また、時点t1には、第1のセット信号S1がハイレベルからローレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタM1,M3,およびM15はオフ状態となる。薄膜トランジスタM2がオン状態かつ薄膜トランジスタM3がオフ状態となることによって、第2ノードN2の電位が上昇する。このとき、薄膜トランジスタM1はオフ状態となって第1ノードN1はフローティング状態となっているので、第2ノードN2の電位の上昇に伴ってキャパシタC1を介して第1ノードN1の電位が上昇する(第1ノードN1がブートストラップされる)。その結果、走査信号GOUTの電位は更に上昇する。また、時点t1には、第2クロックCKBがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタM14はオン状態となる。このとき、第3ノードN3の電位はローレベルとなっているので、第4ノードN4の電位はローレベルで維持される。なお、時点t1から時点t2までの期間には、第2ノードN2の電位がハイレベルとなって薄膜トランジスタM6がオン状態となるが、第1クロックCKAがローレベルとなっているので、他段制御信号Zの電位はローレベルで維持される。
 時点t2になると、第2のセット信号S2がハイレベルからローレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタM2はオフ状態となって、第2ノードN2はフローティング状態となる。また、時点t2には、第1クロックCKAがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタM10はオン状態となって、第3ノードN3の電位が上昇する。第1ノードN1および第2ノードN2はフローティング状態となっているので、第3ノードN3の電位の上昇に伴ってキャパシタC2を介して第2ノードN2の電位が上昇し、第2ノードN2の電位の上昇に伴ってキャパシタC1を介して第1ノードN1の電位が上昇する(第1ノードN1がブートストラップされる)。これにより、第1ノードN1の電位はVDD電位よりも高くなり、走査信号GOUTの電位がVDD電位にまで高められる。また、薄膜トランジスタM6がオン状態かつ第1クロックCKAがハイレベルとなっていることから、第1クロックCKAの電位が出力端子52に与えられる。これにより、他段制御信号Zの電位がハイレベルとなる。なお、時点t2から時点t3までの期間には、第2クロックCKBはローレベルとなっているので、薄膜トランジスタM14はオフ状態となり、第4ノードN4の電位はローレベルで維持される。
 時点t3になると、第1クロックCKAがハイレベルからローレベルに変化する。これにより、入力端子41の電位の低下とともに他段制御信号Zの電位は低下する。また、時点t3には、リセット信号Rがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタM4,M5,M8,およびM13がオン状態となる。薄膜トランジスタM4がオン状態となることによって第1ノードN1の電位はローレベルとなり、薄膜トランジスタM5がオン状態となることによって第2ノードN2の電位はローレベルとなり、薄膜トランジスタM8がオン状態となることによって走査信号GOUTの電位がローレベルとなる。また、薄膜トランジスタM13がオン状態となることによって第3ノードN3の電位がハイレベルとなる。このとき、第2クロックCKBはハイレベルとなっているので、薄膜トランジスタM14はオン状態となり、第3ノードN3から第4ノードN4に電荷が供給される。これにより、第4ノードN4の電位はハイレベルとなる。
 時点t4以降の期間には、時点t0以前の期間と同様、第1ノードN1の電位,第2ノードN2の電位,走査信号GOUTの電位(出力端子51の電位),および他段制御信号Zの電位(出力端子52の電位)はローレベルで維持され、第3ノードN3の電位および第4ノードN4の電位はハイレベルで維持される。
 ところで、時点t1以前の期間および時点t2以降の期間のうち第2クロックCKBがハイレベルになっている期間には、薄膜トランジスタM14がオン状態となることによって第3ノードN3から第4ノードN4に電荷が供給される。
<3.3 効果>
 本実施形態においては、第4ノードN4の電位がハイレベルになっているときに、薄膜トランジスタM16はオン状態となって、走査信号GOUTの電位がVSS電位へと引き込まれる。ここで、書込動作期間である時点t0から時点t3までの期間には、薄膜トランジスタM16がオフ状態となるように、第4ノードN4の電位はローレベルで維持されるべきである。時点t3に第4ノードN4の電位を上昇させるための構成に関し、後段の段構成回路から出力される他段制御信号Z(n+1)を用いることができる。しかしながら、薄膜トランジスタで電流のリークが生じると、通常動作期間中に第4ノードN4の電位が低下し、回路動作が不安定となる。この点、本実施形態によれば、第2クロックCKBがハイレベルになる毎に、第3ノードN3から第4ノードN4に電荷が供給される。従って、通常動作期間中、第4ノードN4の電位は確実にハイレベルで維持される。以上より、簡易な構成で、通常動作期間中における走査信号GOUTについてのノイズの発生が抑制される。
<4.第4の実施形態>
<4.1 段構成回路の構成>
 図28は、本発明の第4の実施形態における段構成回路の構成を示す回路図である。図28に示すように、この段構成回路は、13個の薄膜トランジスタM1,M2(1)~M2(3),M3(1)~M3(3),M4~M9と、4個のキャパシタC1(1)~C1(3),C2とを備えている。また、この段構成回路は、ハイレベルの直流電源電位VDD用の入力端子およびローレベルの直流電源電位VSS用の入力端子のほか、6個の入力端子41,43~46,49と2個の出力端子51,52とを有している。以下、主に上記第1の実施形態と異なる点について説明する。
 本実施形態においては、入力端子43には4段前の段構成回路から出力される他段制御信号Z(n-4)がセット信号S1として与えられ、入力端子44には3段前の段構成回路から出力される他段制御信号Z(n-3)がセット信号S21として与えられ、入力端子45には前々段の段構成回路から出力される他段制御信号Z(n-2)がセット信号S22として与えられ、入力端子46には前段の段構成回路から出力される他段制御信号Z(n-1)がセット信号S23として与えられる。なお、セット信号S1によって第1ノードセット信号が実現され、セット信号S23によって第2ノードセット信号が実現され、セット信号S21~S23によってノード領域セット信号が実現されている。
 次に、この段構成回路内における構成要素間の接続関係について説明する。薄膜トランジスタM1のソース端子,薄膜トランジスタM4のドレイン端子,薄膜トランジスタM7のゲート端子,およびキャパシタC1(1)の一端は第1ノードN1を介して互いに接続されている。薄膜トランジスタM2(1)のソース端子,薄膜トランジスタM3(1)のドレイン端子,キャパシタC1(1)の他端,およびキャパシタC1(2)の一端はノードN2(1)を介して互いに接続されている。薄膜トランジスタM2(2)のソース端子,薄膜トランジスタM3(2)のドレイン端子,キャパシタC1(2)の他端,およびキャパシタC1(3)の一端はノードN2(2)を介して互いに接続されている。薄膜トランジスタM2(3)のソース端子,薄膜トランジスタM3(3)のドレイン端子,薄膜トランジスタM5のドレイン端子,薄膜トランジスタM6のゲート端子,薄膜トランジスタM9のゲート端子,キャパシタC1(3)の他端,およびキャパシタC2の一端はノードN2(3)を介して互いに接続されている。なお、本実施形態においては、ノードN2(3)によって第2ノードが実現され、ノードN2(1)~N2(3)によってノード領域が実現され、キャパシタC1(1)~C1(3)によって第1の電位差保持部が実現されている。
 薄膜トランジスタM2(1)については、ゲート端子は入力端子44に接続され、ドレイン端子は直流電源電位VDD用の入力端子に接続され、ソース端子はノードN2(1)に接続されている。薄膜トランジスタM3(1)については、ゲート端子は入力端子43に接続され、ドレイン端子はノードN2(1)に接続され、ソース端子は直流電源電位VSS用の入力端子に接続されている。薄膜トランジスタM2(2)については、ゲート端子は入力端子45に接続され、ドレイン端子は直流電源電位VDD用の入力端子に接続され、ソース端子はノードN2(2)に接続されている。薄膜トランジスタM3(2)については、ゲート端子は入力端子44に接続され、ドレイン端子はノードN2(2)に接続され、ソース端子は直流電源電位VSS用の入力端子に接続されている。薄膜トランジスタM2(3)については、ゲート端子は入力端子46に接続され、ドレイン端子は直流電源電位VDD用の入力端子に接続され、ソース端子はノードN2(3)に接続されている。薄膜トランジスタM3(3)については、ゲート端子は入力端子45に接続され、ドレイン端子はノードN2(3)に接続され、ソース端子は直流電源電位VSS用の入力端子に接続されている。薄膜トランジスタM5については、ゲート端子は入力端子49に接続され、ドレイン端子はノードN2(3)に接続され、ソース端子は直流電源電位VSS用の入力端子に接続されている。薄膜トランジスタM6については、ゲート端子はノードN2(3)に接続され、ドレイン端子は入力端子41に接続され、ソース端子は出力端子52に接続されている。薄膜トランジスタM9については、ゲート端子はノードN2(3)に接続され、ドレイン端子は入力端子41に接続され、ソース端子は第3ノードN3に接続されている。キャパシタC1(1)については、一端は第1ノードN1に接続され、他端はノードN2(1)に接続されている。キャパシタC1(2)については、一端はノードN2(1)に接続され、他端はノードN2(2)に接続されている。キャパシタC1(3)については、一端はノードN2(2)に接続され、他端はノードN2(3)に接続されている。キャパシタC2については、一端はノードN2(3)に接続され、他端は第3ノードN3に接続されている。
 次に、各構成要素のこの段構成回路における機能について説明する。薄膜トランジスタM2(1)は、セット信号S21がハイレベルになっているときに、ノードN2(1)の電位をVDD電位に向けて変化させる。薄膜トランジスタM2(2)は、セット信号S22がハイレベルになっているときに、ノードN2(2)の電位をVDD電位に向けて変化させる。薄膜トランジスタM2(3)は、セット信号S23がハイレベルになっているときに、ノードN2(3)の電位をVDD電位に向けて変化させる。薄膜トランジスタM3(1)は、セット信号S1がハイレベルになっているときに、ノードN2(1)の電位をVSS電位に向けて変化させる。薄膜トランジスタM3(2)は、セット信号S21がハイレベルになっているときに、ノードN2(2)の電位をVSS電位に向けて変化させる。薄膜トランジスタM3(3)は、セット信号S22がハイレベルになっているときに、ノードN2(3)の電位をVSS電位に向けて変化させる。薄膜トランジスタM5は、リセット信号Rがハイレベルになっているときに、ノードN2(3)の電位をVSS電位に向けて変化させる。薄膜トランジスタM6は、ノードN2(3)の電位がハイレベルになっているときに、第1クロックCKAの電位を出力端子52に与える。薄膜トランジスタM9は、ノードN2(3)の電位がハイレベルになっているときに、第1クロックCKAの電位を第3ノードN3に与える。キャパシタC1(1)は、ノードN2(1)の電位の上昇に伴って第1ノードN1の電位を上昇させるよう機能する。キャパシタC1(2)は、ノードN2(2)の電位の上昇に伴ってノードN2(1)の電位を上昇させるよう機能する。キャパシタC1(3)は、ノードN2(3)の電位の上昇に伴ってノードN2(2)の電位を上昇させるよう機能する。キャパシタC2は、第3ノードN3の電位の上昇に伴ってノードN2(3)の電位を上昇させるよう機能する。すなわち、キャパシタC1(1)~C1(3),C2はブートストラップ容量として機能する。
<4.2 段構成回路の動作>
 次に、図28および図29を参照しつつ、本実施形態における段構成回路の動作について説明する。時点t0以前の期間および時点t6以降の期間には、第1ノードN1の電位,ノードN2(3)の電位,走査信号GOUTの電位(出力端子51の電位),および他段制御信号Zの電位(出力端子52の電位)はローレベルで維持され、ノードN2(1)の電位およびノードN2(2)の電位はハイレベルで維持されている。
 時点t0になると、セット信号S1がローレベルからハイレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタM1,M3(1)はオン状態となる。薄膜トランジスタM1がオン状態となることによって第1ノードN1の電位は上昇し、薄膜トランジスタM3(1)がオン状態となることによってノードN2(1)の電位はVSS電位へと引き込まれる。その結果、キャパシタC1(1)が充電される。また、第1ノードN1の電位が上昇することによって薄膜トランジスタM7はオン状態となり、走査信号GOUTの電位が上昇する。
 時点t1になると、セット信号S21がローレベルからハイレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタM2(1),M3(2)はオン状態となる。また、時点t1には、セット信号S1がハイレベルからローレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタM1,M3(1)はオフ状態となる。薄膜トランジスタM2(1)がオン状態かつ薄膜トランジスタM3(1)がオフ状態となることによって、ノードN2(1)の電位が上昇する。このとき、薄膜トランジスタM1はオフ状態となって第1ノードN1はフローティング状態となっているので、ノードN2(1)の電位の上昇に伴ってキャパシタC1(1)を介して第1ノードN1の電位が上昇する(第1ノードN1がブートストラップされる)。その結果、走査信号GOUTの電位は更に上昇する。
 時点t2になると、セット信号S22がローレベルからハイレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタM2(2),M3(3)はオン状態となる。また、時点t2には、セット信号S21がハイレベルからローレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタM2(1),M3(2)はオフ状態となる。薄膜トランジスタM2(2)がオン状態かつ薄膜トランジスタM3(2)がオフ状態となることによって、ノードN2(2)の電位が上昇する。このとき、第1ノードN1およびノードN2(1)はフローティング状態となっているので、ノードN2(2)の電位の上昇に伴ってキャパシタC1(2),C1(1)を介して第1ノードN1の電位が上昇する(第1ノードN1がブートストラップされる)。その結果、走査信号GOUTの電位は更に上昇する。
 時点t3になると、セット信号S23がローレベルからハイレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタM2(3)はオン状態となる。また、時点t3には、セット信号S22がハイレベルからローレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタM2(2),M3(3)はオフ状態となる。薄膜トランジスタM2(3)がオン状態かつ薄膜トランジスタM3(3)がオフ状態となることによって、ノードN2(3)の電位が上昇する。このとき、第1ノードN1,ノードN2(1),およびノードN2(2)はフローティング状態となっているので、ノードN2(3)の電位の上昇に伴ってキャパシタC1(3),C1(2),およびC1(1)を介して第1ノードN1の電位が上昇する(第1ノードN1がブートストラップされる)。その結果、走査信号GOUTの電位は更に上昇する。なお、時点t3から時点t4までの期間には、ノードN2(3)がハイレベルとなって薄膜トランジスタM6,M9がオン状態となるが、第1クロックCKAがローレベルとなっているので、第3ノードN3の電位および他段制御信号Zの電位はローレベルで維持される。
 時点t4になると、セット信号S23がハイレベルからローレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタM2(3)はオフ状態となって、ノードN2(3)はフローティング状態となる。また、時点t4には、第1クロックCKAがローレベルからハイレベルに変化する。このとき、薄膜トランジスタM9はオン状態となっているので、第3ノードN3の電位は上昇する。第1ノードN1,ノードN2(1)~N2(3)はフローティング状態となっているので、第3ノードN3の電位の上昇に伴ってキャパシタC2,C1(3),C1(2),およびC1(1)を介して第1ノードN1の電位が上昇する(第1ノードN1がブートストラップされる)。これにより、第1ノードN1の電位はVDD電位よりも高くなり、走査信号GOUTの電位がVDD電位にまで高められる。また、薄膜トランジスタM6がオン状態かつ第1クロックCKAがハイレベルとなっていることから、第1クロックCKAの電位が出力端子52に与えられる。これにより、他段制御信号Zの電位がハイレベルとなる。
 時点t5になると、第1クロックCKAがハイレベルからローレベルに変化する。これにより、入力端子41の電位の低下とともに他段制御信号Zの電位は低下する。また、時点t5には、リセット信号Rがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタM4,M5,およびM8がオン状態となる。薄膜トランジスタM4がオン状態となることによって第1ノードN1の電位はローレベルとなり、薄膜トランジスタM5がオン状態となることによってノードN2(3)の電位はローレベルとなり、薄膜トランジスタM8がオン状態となることによって走査信号GOUTの電位がローレベルとなる。時点t6以降の期間には、第1ノードN1の電位,ノードN2(3)の電位,走査信号GOUTの電位(出力端子51の電位),および他段制御信号Zの電位(出力端子52の電位)はローレベルで維持され、ノードN2(1)の電位およびノードN2(2)の電位はハイレベルで維持される。
<4.3 効果>
 本実施形態によれば、第1ノードN1の電位は、セット信号S1に基づいて上昇した後、ブートストラップによって4回上昇する。このため、クロック信号(ここでは第1クロックCKA)に関し、より小さい振幅で、各ゲートバスラインGL1~GLiに印加されるべき走査信号GOUT(1)~GOUT(i)の電位を充分に高めることが可能となる。これにより、本充電期間にゲートバスラインに印加される電圧を従来よりも低下させることなく、シフトレジスタ410における消費電力を従来よりも顕著に低減させることが可能となる。
<4.4 変形例>
<4.4.1 第1の変形例>
 図30は、上記第4の実施形態の第1の変形例における段構成回路の構成を示す回路図である。本変形例においては、段構成回路には、第4の実施形態における薄膜トランジスタM5(図28参照)に代えて、薄膜トランジスタM5(1)~M5(3)が設けられている。薄膜トランジスタM5(1)~M5(3)については、ゲート端子は入力端子49に接続され、ソース端子は直流電源電位VSS用の入力端子に接続されている。また、薄膜トランジスタM5(1)のドレイン端子はノードN2(1)に接続され、薄膜トランジスタM5(2)のドレイン端子はノードN2(2)に接続され、薄膜トランジスタM5(3)のドレイン端子はノードN2(3)に接続されている。
 図31は、本変形例において、段構成回路の動作について説明するための信号波形図である。本変形例においては、時点t5にリセット信号Rがローレベルからハイレベルに変化すると、薄膜トランジスタM5(1)~M5(3)はオン状態となる。これにより、ノードN2(1)~N2(3)の電位はローレベルとなる。このようにして、通常動作期間中、ノードN2(1)~N2(3)の電位はローレベルで維持される。その結果、通常動作期間における薄膜トランジスタM2(1)~M2(3)のゲート-ソース間の電圧が小さくなり、薄膜トランジスタM2(1)~M2(3)の劣化が抑制される。これにより、回路動作の安定性が高められる。
<4.4.2 第2の変形例>
 図32は、上記第4の実施形態の第2の変形例における段構成回路の構成を示す回路図である。図30に示した第1の変形例においては、薄膜トランジスタM5(1)~M5(3)のソース端子は直流電源電位VSS用の入力端子に接続されていたが、本変形例においては、薄膜トランジスタM5(1)のソース端子はノードN2(2)に接続され、薄膜トランジスタM5(2)のソース端子はノードN2(3)に接続され、薄膜トランジスタM5(3)のソース端子は出力端子52に接続されている。また、薄膜トランジスタM4のソース端子はノードN2(1)に接続されている。さらに、本変形例においては、ゲート端子が入力端子49に接続され、ドレイン端子が出力端子52に接続され、ソース端子が直流電源電位VSS用の入力端子に接続された薄膜トランジスタM17が設けられている。
 本変形例によれば、上記第1の実施形態の第4の変形例と同様、薄膜トランジスタM4および薄膜トランジスタM5(1)~M5(3)のドレイン-ソース間の電圧が低減される。これにより、書込動作期間において、薄膜トランジスタM4,M5(1)~M5(3)を介した電荷の流出が抑制される。その結果、第1ノードN1の電位およびノードN2(1)~N3(3)の電位が書込動作期間中に低下することが抑制され、回路動作の安定性が高められる。
<4.4.3 その他の変形例>
 上記第4の実施形態では書込動作期間中に第1ノードN1の電位がブートストラップによって4回上昇する例を挙げて説明しているが、本発明はこれに限定されない。第1ノードN1の電位がブートストラップによって3回上昇するようにしても良いし、5回以上上昇するようにしても良い。これに関し、mを1以上の整数として、段構成回路に薄膜トランジスタM2(1)~M2(m),M3(1)~M3(m),キャパシタC1(1)~C1(m),およびノードN2(1)~N2(m)を備える構成とすれば良い。ここで、「m=1」とすると、上記第1の実施形態に相当する構成となる。また、「m=3」とすると、上記第4の実施形態に相当する構成となる。
<5.セット信号生成回路>
 上記各実施形態においては、シフトレジスタ410は表示制御回路200から送られるゲートスタートパルス信号GSPに基づいて動作を開始している。これに関し、例えば第1の実施形態においては、第1ゲートスタートパルス信号GSP1が1段目の第1のセット信号S1として与えられ、第2ゲートスタートパルス信号GSP2が1段目の第2のセット信号S2および2段目の第1のセット信号S1として与えられている。すなわち、上記各実施形態においては、ゲートスタートパルス信号GSPとして2つ以上の信号が表示制御回路200からゲートドライバ400に送られる必要がある。そこで、以下、シフトレジスタの最上段(1段目よりも前の段)にセット信号を生成する回路(以下「セット信号生成回路」という。)を設ける構成について説明する。本構成を採用すれば、表示制御回路200からゲートドライバ400にはゲートスタートパルス信号GSPとして1つの信号が送られれば良い。
 図33は、セット信号生成回路SR(0)を備えたシフトレジスタ411の構成を示すブロック図である。セット信号生成回路SR(0)には、第1クロックCKAを受け取るための入力端子と、第2クロックCKBを受け取るための入力端子と、ハイレベルの直流電源電位VDDを受け取るための入力端子と、ローレベルの直流電源電位VSSを受け取るための入力端子と、ゲートスタートパルス信号GSPを受け取るための入力端子と、リセット信号Rを受け取るための入力端子と、信号SOUTを出力するための出力端子とが設けられている。
 図34は、セット信号生成回路の詳細な構成を示す回路図である。図34に示すように、セット信号生成回路は、3個の薄膜トランジスタM71~M73と、1個のキャパシタC7とを備えている。また、このセット信号生成回路は、ハイレベルの直流電源電位VDD用の入力端子およびローレベルの直流電源電位VSS用の入力端子のほか、3個の入力端子71~73と1個の出力端子74とを有している。ここで、ゲートスタートパルス信号GSPを受け取る入力端子には符号71を付し、第1クロックCKAを受け取る入力端子には符号72を付し、リセット信号Rを受け取る入力端子には符号73を付し、信号SOUTを出力する出力端子には符号74を付している。
 なお、上記セット信号生成回路の構成は、上記各実施形態で説明したシフトレジスタの段構成回路における第2ノードN2-第2出力ノード(出力端子52)間近傍の構成と同等である。上記セット信号生成回路の構成要素と例えば図1に示す段構成回路の構成要素とを対比すると、上記セット信号生成回路における薄膜トランジスタM71,薄膜トランジスタM72,薄膜トランジスタM73,キャパシタC7,入力端子71,入力端子72,入力端子73,および出力端子74は、図1に示す段構成回路における薄膜トランジスタM2,薄膜トランジスタM6,薄膜トランジスタM5,キャパシタC2,入力端子44,入力端子41,入力端子49,および出力端子52にそれぞれ対応する。従って、セット信号生成回路をシフトレジスタの段構成回路と同様の構成とし、第2ノードセット信号(第2のセット信号S2)としてゲートスタートパルス信号GSPを入力するようにしても、第2出力ノードからの上記信号SOUTの出力が得られる。
 次に、このセット信号生成回路内における構成要素間の接続関係について説明する。薄膜トランジスタM71のソース端子,薄膜トランジスタM72のゲート端子,薄膜トランジスタM73のドレイン端子,およびキャパシタC7の一端はノードN7を介して互いに接続されている。薄膜トランジスタM71については、ゲート端子は入力端子71に接続され、ドレイン端子は直流電源電位VDD用の入力端子に接続され、ソース端子はノードN7に接続されている。薄膜トランジスタM72については、ゲート端子はノードN7に接続され、ドレイン端子は入力端子72に接続され、ソース端子は出力端子74に接続されている。薄膜トランジスタM73については、ゲート端子は入力端子73に接続され、ドレイン端子はノードN7に接続され、ソース端子は直流電源電位VSS用の入力端子に接続されている。キャパシタC7については、一端はノードN7に接続され、他端は出力端子74に接続されている。
 次に、各構成要素のこのセット信号生成回路における機能について説明する。薄膜トランジスタM71は、ゲートスタートパルス信号GSPがハイレベルになっているときに、ノードN7の電位をVDD電位に向けて変化させる。薄膜トランジスタM72は、ノードN7の電位がハイレベルになっているときに、第1クロックCKAの電位を出力端子74に与える。薄膜トランジスタM73は、リセット信号Rがハイレベルになっているときに、ノードN7の電位をVSS電位に向けて変化させる。キャパシタC7は、ノードN7がフローティング状態となっているときに、出力端子74の電位の変化に伴ってノードN7の電位も変化させるよう機能する。
 次に、図34および図35を参照しつつ、セット信号生成回路の動作について説明する。なお、図35において、各信号波形の左方にはセット信号生成回路SR(0)に着目したときの信号等の名称を記し、各信号波形の右方には1段目の段構成回路SR(1)に着目したときの信号等の名称を記している。
 時点t10になると、ゲートスタートパルス信号GSPがローレベルからハイレベルに変化する。ゲートスタートパルス信号GSPがハイレベルとなることによって薄膜トランジスタM71はオン状態となり、キャパシタC7が充電される。これにより、ノードN7の電位はローレベルからハイレベルに変化し、薄膜トランジスタM72はオン状態となる。しかしながら、時点t10から時点t11までの期間には、第1クロックCKAはローレベルとなっているので、信号SOUTの電位はローレベルで維持される。
 時点t11になると、ゲートスタートパルス信号GSPがハイレベルからローレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタM71はオフ状態となって、ノードN7はフローティング状態となる。ここで、時点t11には第1クロックCKAがローレベルからハイレベルに変化する。薄膜トランジスタM72のゲート-ドレイン間には寄生容量が存在するので、入力端子72の電位の上昇に伴ってノードN7の電位も上昇する(ノードN7がブートストラップされる)。その結果、薄膜トランジスタM72のゲート-ソース間には大きな電圧が印加され、第1クロックCKAの電位が出力端子74に与えられる。これにより、信号SOUTはハイレベルとなる。
 時点t12になると、第1クロックCKAがハイレベルからローレベルに変化する。時点t12には薄膜トランジスタM72はオン状態となっているので、入力端子72の電位の低下とともに信号SOUTの電位は低下する。このように信号SOUTの電位が低下することによって、キャパシタC7を介してノードN7の電位も低下する。また、時点12には、リセット信号Rがローレベルからハイレベルに変化する。このため、薄膜トランジスタM73はオン状態となり、ノードN7の電位は完全にローレベルとなる。
 ところで、図33に示すように、表示制御回路200から送られるゲートスタートパルス信号GSPは、セット信号生成回路SR(0)に与えられるとともに、第1のセット信号S1としてシフトレジスタ411の1段目SR(1)に与えられる。また、セット信号生成回路SR(0)から出力された信号SOUTは、第2のセット信号S2としてシフトレジスタ411の1段目SR(1)に与えられるとともに、第1のセット信号S1としてシフトレジスタ411の2段目SR(2)に与えられる。これにより、表示制御回路200からゲートドライバ400に与えられるべき信号の数を削減しつつ、シフトレジスタ410に所望の動作をさせることが可能となる。
<6.その他>
 上記各実施形態においては液晶表示装置を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限定されない。有機EL(Electro Luminescence)等の他の表示装置にも本発明を適用することができる。
 41~47,49…(段構成回路の)入力端子
 51,52…(段構成回路の)出力端子
 300…ソースドライバ(映像信号線駆動回路)
 400…ゲートドライバ(走査信号線駆動回路)
 410,411…シフトレジスタ
 600…表示部
 SR(1)~SR(i)…段構成回路
 C1,C2…キャパシタ(容量素子)
 M1~M17…薄膜トランジスタ
 N1~N4…第1~第4ノード
 GL1~GLi…ゲートバスライン
 SL1~SLj…ソースバスライン
 GCK1,GCK2…第1ゲートクロック信号,第2ゲートクロック信号
 CKA,CKB…第1クロック,第2クロック
 S1,S2…第1のセット信号,第2のセット信号
 R…リセット信号
 Z…他段制御信号
 GOUT…走査信号
 GSP…ゲートスタートパルス信号
 VDD…ハイレベルの直流電源電位
 VSS…ローレベルの直流電源電位

Claims (30)

  1.  表示部に配設された複数の走査信号線を駆動する、表示装置の走査信号線駆動回路であって、
     外部から入力される複数のクロック信号に基づいて、前記複数の走査信号線を順次に駆動するためにオンレベルの走査信号を順次に出力する、複数の段からなるシフトレジスタを備え、
     前記シフトレジスタの各段を構成する段構成回路は、
      前記走査信号線を駆動する走査信号を出力するための、前記走査信号線に接続された第1出力ノードと、
      異なる段の段構成回路の動作を制御する他段制御信号を出力するための第2出力ノードと、
      オンレベルの直流電源電位が第2電極に与えられ、前記第1出力ノードに第3電極が接続された第1の出力制御用スイッチング素子と、
      前記クロック信号が第2電極に与えられ、前記第2出力ノードに第3電極が接続された第2の出力制御用スイッチング素子と、
      前記第1の出力制御用スイッチング素子の第1電極に接続された第1ノードと、
      前記第2の出力制御用スイッチング素子の第1電極に接続された第2ノードを含む1以上のノードによって形成されるノード領域と、
      前記第2ノードがオンレベルとなる時点から前記第1出力ノードから出力される走査信号がオンレベルとされるべき期間である本充電期間の終了時点までの期間にオフレベルからオンレベルに変化するように構成された第3ノードと、
      前記第1ノードと前記第2ノードとの間の電位差を保持するための第1の電位差保持部と、
      前記第2ノードと前記第3ノードとの間の電位差を保持するための第2の電位差保持部と
    を有し、
     各段構成回路には、
      当該各段構成回路よりも2段以上前の段構成回路から出力される他段制御信号が第1ノードセット信号として与えられ、
      当該各段構成回路よりも前の段の段構成回路から出力される他段制御信号であって、かつ、前記第1ノードセット信号としての他段制御信号を出力する段構成回路よりも後の段の段構成回路から出力される他段制御信号のうち、1以上の信号が、第2ノードセット信号を含むノード領域セット信号として与えられ、
     各段構成回路において、
      前記第1ノードは、前記第1ノードセット信号に基づいてオフレベルからオンレベルに変化し、
      前記第2ノードは、前記第2ノードセット信号に基づいてオフレベルからオンレベルに変化し、
      前記第3ノードは、前記第2ノードがオフレベルからオンレベルに変化した後にオフレベルからオンレベルに変化し、
      前記第1ノードは、前記ノード領域を形成するノードがオフレベルからオンレベルに変化する期間および前記第3ノードがオフレベルからオンレベルに変化する期間にはフローティング状態とされ、
      前記ノード領域を形成するノードは、前記第3ノードがオフレベルからオンレベルに変化する期間にはフローティング状態とされ、
     前記クロック信号の振幅は前記走査信号の振幅よりも小さくされていることを特徴とする、走査信号線駆動回路。
  2.  前記ノード領域は、前記第2ノードのみによって形成され、
     各段構成回路には、前記ノード領域セット信号として前記第2ノードセット信号のみが与えられ、
     前記第1の電位差保持部は、前記第1ノードに一端が接続され、前記第2ノードに他端が接続されたキャパシタからなることを特徴とする、請求項1に記載の走査信号線駆動回路。
  3.  各段構成回路には、当該各段構成回路の次の段の段構成回路から出力される他段制御信号がリセット信号として与えられ、
     各段構成回路は、
      前記リセット信号に基づいて前記第1ノードのレベルをオフレベルに向けて変化させるための第1ノードターンオフ用スイッチング素子と、
      前記リセット信号に基づいて前記第2ノードのレベルをオフレベルに向けて変化させるための第2ノードターンオフ用スイッチング素子と
    を更に有することを特徴とする、請求項2に記載の走査信号線駆動回路。
  4.  前記第1ノードターンオフ用スイッチング素子について、第1電極には前記リセット信号が与えられ、第2電極は前記第1ノードに接続され、第3電極は前記第2ノードに接続されていることを特徴とする、請求項3に記載の走査信号線駆動回路。
  5.  前記第2ノードターンオフ用スイッチング素子について、第1電極には前記リセット信号が与えられ、第2電極は前記第2ノードに接続され、第3電極は前記第1出力ノードまたは前記第2出力ノードに接続されていることを特徴とする、請求項3に記載の走査信号線駆動回路。
  6.  各段構成回路は、前記リセット信号に基づいて、前記第2ノードターンオフ用スイッチング素子の第3電極に接続されているノードのレベルをオフレベルに向けて変化させるための出力ノードターンオフ用スイッチング素子を更に有することを特徴とする、請求項5に記載の走査信号線駆動回路。
  7.  前記第2ノードターンオフ用スイッチング素子について、第1電極には前記リセット信号が与えられ、第2電極は前記第2ノードに接続され、第3電極は前記第1ノードに接続されていることを特徴とする、請求項3に記載の走査信号線駆動回路。
  8.  隣接する2つの段の段構成回路に含まれる2つの第2の出力制御用スイッチング素子の第2電極には、オンデューティがほぼ2分の1とされ互いに位相が180度ずらされたクロック信号が与えられ、
     各段構成回路は、
      当該各段構成回路から出力される他段制御信号または当該各段構成回路に含まれる第2の出力制御用スイッチング素子の第2電極に与えられるクロック信号に基づいて前記本充電期間の開始時点に前記第3ノードをオフレベルからオンレベルに変化させるための第1の第3ノードターンオン用スイッチング素子と、
      当該各段構成回路の前の段の段構成回路から出力される他段制御信号または当該各段構成回路の前の段の段構成回路に含まれる第2の出力制御用スイッチング素子の第2電極に与えられるクロック信号に基づいて前記本充電期間の開始前には前記第3ノードをオフレベルで維持するための第3ノードターンオフ用スイッチング素子と
    を更に有することを特徴とする、請求項2に記載の走査信号線駆動回路。
  9.  各段構成回路において、前記第3ノードは、当該各段構成回路から出力される他段制御信号に基づいてオフレベルからオンレベルに変化することを特徴とする、請求項8に記載の走査信号線駆動回路。
  10.  各段構成回路において、前記第3ノードは、当該各段構成回路に含まれる第2の出力制御用スイッチング素子の第2電極に与えられるクロック信号に基づいてオフレベルからオンレベルに変化することを特徴とする、請求項8に記載の走査信号線駆動回路。
  11.  各段構成回路は、前記第1の第3ノードターンオン用スイッチング素子として、
      当該各段構成回路から出力される他段制御信号に基づいて前記第3ノードをオフレベルからオンレベルに変化させるスイッチング素子と、
      当該各段構成回路に含まれる第2の出力制御用スイッチング素子の第2電極に与えられるクロック信号に基づいて前記第3ノードをオフレベルからオンレベルに変化させるスイッチング素子と
    を有することを特徴とする、請求項8に記載の走査信号線駆動回路。
  12.  各段構成回路は、
      前記第1出力ノードに第2電極が接続され、オフレベルの直流電源電位が第3電極に与えられる、前記第1出力ノードのレベルをオフレベルに向けて変化させるための第2の第1出力ノードターンオフ用スイッチング素子と、
      前記第2の第1出力ノードターンオフ用スイッチング素子の第1電極に接続された第4ノードと、
      当該各段構成回路の前の段の段構成回路に含まれる第2の出力制御用スイッチング素子の第2電極に与えられるクロック信号が第1電極に与えられ、第2電極が前記第3ノードに接続され、第3電極が前記第4ノードに接続された第4ノード制御用スイッチング素子と、
      前記第1ノードセット信号または前記第1ノードの電位に基づいて前記第4ノードのレベルをオフレベルに向けて変化させるための第4ノードターンオフ用スイッチング素子と
    を更に有することを特徴とする、請求項8に記載の走査信号線駆動回路。
  13.  各段構成回路において、
      前記第1の第3ノードターンオン用スイッチング素子の第1電極および第2電極には、当該各段構成回路から出力される他段制御信号または当該各段構成回路に含まれる第2の出力制御用スイッチング素子の第2電極に与えられるクロック信号が与えられ、
      前記第1の第3ノードターンオン用スイッチング素子の第3電極は、前記第3ノードに接続されていることを特徴とする、請求項8に記載の走査信号線駆動回路。
  14.  各段構成回路は、前記第1ノードの電位または前記第2ノードの電位に基づいて、前記本充電期間の開始前には前記第3ノードをオフレベルで維持し、かつ、前記本充電期間の開始時点に前記第3ノードをオフレベルからオンレベルに変化させるための第3ノード制御用スイッチング素子を更に有することを特徴とする、請求項8に記載の走査信号線駆動回路。
  15.  各段構成回路は、前記リセット信号に基づいて前記第1出力ノードのレベルをオフレベルに向けて変化させるための第1の第1出力ノードターンオフ用スイッチング素子を更に有することを特徴とする、請求項1に記載の走査信号線駆動回路。
  16.  各段構成回路は、前記第1ノードの電位または前記第2ノードの電位に基づいて、前記本充電期間の開始前には前記第3ノードをオフレベルで維持し、かつ、前記第2ノードがオンレベルとなる時点から前記本充電期間の終了時点までの期間に前記第3ノードをオフレベルからオンレベルに変化させるための第3ノード制御用スイッチング素子を更に有することを特徴とする、請求項1に記載の走査信号線駆動回路。
  17.  前記第3ノードと前記第2出力ノードとが同一のノードであることを特徴とする、請求項1に記載の走査信号線駆動回路。
  18.  各段構成回路は、前記第3ノードの電位に基づいて前記第2ノードセット信号のレベルをオフレベルに向けて変化させるための第2ノードセット信号ターンオフ用スイッチング素子を更に有することを特徴とする、請求項1に記載の走査信号線駆動回路。
  19.  前記第3ノードは、前記第1ノードがオフレベルからオンレベルに変化する時点以前の期間および前記本充電期間の終了時点以降の期間にはオンレベルで維持されることを特徴とする、請求項18に記載の走査信号線駆動回路。
  20.  各段構成回路には、当該各段構成回路よりも後の段の段構成回路から出力される他段制御信号がリセット信号として与えられ、
     各段構成回路は、前記リセット信号に基づいて前記第3ノードのレベルをオンレベルに向けて変化させるための第2の第3ノードターンオン用スイッチング素子を更に有することを特徴とする、請求項19に記載の走査信号線駆動回路。
  21.  前記第2の第3ノードターンオン用スイッチング素子について、第1電極および第2電極には前記リセット信号が与えられ、第3電極は前記第3ノードに接続されていることを特徴とする、請求項20に記載の走査信号線駆動回路。
  22.  前記ノード領域は、前記第2ノードを含むm個(mは2以上の整数)のノードによって形成され、
     前記第1の電位差保持部は、前記ノード領域を形成するノードのうちの前記第2ノード以外のノードを介して前記第1ノードと前記第2ノードとの間に直列に接続されたm個のキャパシタからなり、
     各段構成回路には、m個の信号が前記ノード領域セット信号として与えられ、
     前記ノード領域を形成するm個のノードは、前記ノード領域セット信号に基づいて順次にオフレベルからオンレベルに変化し、
     前記ノード領域を形成する各ノードは、オフレベルからオンレベルに変化した後、前記本充電期間の開始時点までの期間にはフローティング状態とされることを特徴とする、請求項1に記載の走査信号線駆動回路。
  23.  各段構成回路において、前記ノード領域を形成するm個のノードのうち前記第1ノードに電気的にk番目(kは1以上m以下の整数)に近い位置のノードは、当該各段構成回路に前記ノード領域セット信号として与えられるm個の信号を出力するm個の段構成回路のうちk番目の段の段構成回路から出力される信号に基づいて、オフレベルからオンレベルに変化することを特徴とする、請求項22に記載の走査信号線駆動回路。
  24.  各段構成回路には、当該各段構成回路よりも後の段の段構成回路から出力される他段制御信号がリセット信号として与えられ、
     各段構成回路は、前記ノード領域を形成するm個のノードのレベルを前記リセット信号に基づいてオフレベルに向けて変化させるためのm個の第2ノードターンオフ用スイッチング素子を更に有することを特徴とする、請求項22に記載の走査信号線駆動回路。
  25.  前記m個の第2ノードターンオフ用スイッチング素子のうちの、前記ノード領域を形成するm個のノードのうち前記第2ノード以外のノードに対応して設けられているスイッチング素子であって、前記第1ノードに電気的にz番目(zは1以上m-1以下の整数)に近い位置に配置されたスイッチング素子について、第1電極には前記リセット信号が与えられ、前記ノード領域を形成するm個のノードのうち前記第1ノードに電気的にz番目に近い位置のノードに第2電極が接続され、前記ノード領域を形成するm個のノードのうち前記第1ノードに電気的にx(xはz+1以上m以下の整数)番目に近い位置のノード,前記第1ノード,前記第1出力ノード,および前記第2出力ノードのいずれかに第3電極が接続されていることを特徴とする、請求項24に記載の走査信号線駆動回路。
  26.  外部から入力される1つのスタートパルス信号に基づいて前記第1ノードセット信号および前記ノード領域セット信号とされるべき信号を生成する動作開始信号生成回路を更に備えることを特徴とする、請求項1に記載の走査信号線駆動回路。
  27.  前記シフトレジスタには、前記複数のクロック信号として、オンデューティがほぼ2分の1とされ互いに位相が180度ずらされた2つのクロック信号が入力されることを特徴とする、請求項1に記載の走査信号線駆動回路。
  28.  各段構成回路に含まれるスイッチング素子は、すべてが同一チャネルの薄膜トランジスタであることを特徴とする、請求項1に記載の走査信号線駆動回路。
  29.  前記表示部を含み、請求項1から28までのいずれか1項に記載の走査信号線駆動回路を備えていることを特徴とする、表示装置。
  30.  複数の段からなり外部から入力される複数のクロック信号に基づいて動作するシフトレジスタを備えた走査信号線駆動回路によって、表示部に配設された複数の走査信号線を駆動する方法であって、
     前記シフトレジスタの各段を構成する段構成回路について、
      前記段構成回路に含まれる第1ノードをオフレベルからオンレベルに変化させるための第1ノードターンオンステップと、
      前記段構成回路に含まれる第2ノードをオフレベルからオンレベルに変化させるための第2ノードターンオンステップと、
      前記段構成回路に含まれる第3ノードをオフレベルからオンレベルに変化させるための第3ノードターンオンステップと
    を含み、
     前記段構成回路は、
      前記走査信号線を駆動する走査信号を出力するための、前記走査信号線に接続された第1出力ノードと、
      異なる段の段構成回路の動作を制御する他段制御信号を出力するための第2出力ノードと、
      オンレベルの直流電源電位が第2電極に与えられ、前記第1出力ノードに第3電極が接続された第1の出力制御用スイッチング素子と、
      前記クロック信号が第2電極に与えられ、前記第2出力ノードに第3電極が接続された第2の出力制御用スイッチング素子と、
      前記第1の出力制御用スイッチング素子の第1電極に接続された前記第1ノードと、
      前記第2の出力制御用スイッチング素子の第1電極に接続された前記第2ノードと、
      前記第3ノードと、
      前記第1ノードと前記第2ノードとの間の電位差を保持するための第1の電位差保持部と、
      前記第2ノードと前記第3ノードとの間の電位差を保持するための第2の電位差保持部と
    を有し、
     各段構成回路において、
      前記第1ノードターンオンステップ、前記第2ノードターンオンステップ、前記第3ノードターンオンステップの順序で各ステップが実行され、
      前記第1ノードターンオンステップでは、当該各段構成回路よりも2段以上前の段構成回路から出力される他段制御信号に基づいて、前記第1ノードがオフレベルからオンレベルに変化し、
      前記第2ノードターンオンステップでは、当該各段構成回路よりも前の段の段構成回路から出力される他段制御信号であって、かつ、前記第1ノードターンオンステップで用いられる他段制御信号を出力する段構成回路よりも後の段の段構成回路から出力される他段制御信号に基づいて、前記第2ノードがオフレベルからオンレベルに変化し、
      前記第2ノードターンオンステップが実行される時には、前記第1ノードはフローティング状態とされ、
      前記第3ノードターンオンステップが実行される時には、前記第1ノードおよび前記第2ノードはフローティング状態とされ、
     前記クロック信号の振幅は前記走査信号の振幅よりも小さくされていることを特徴とする、駆動方法。
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