WO2005084948A1 - 耐熱性樹脂積層フィルム並びにこれを含む金属層付き積層フィルム及び半導体装置 - Google Patents

耐熱性樹脂積層フィルム並びにこれを含む金属層付き積層フィルム及び半導体装置 Download PDF

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Yu Matsumoto
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Definitions

  • Heat-resistant resin laminated film laminated film with metal layer including the same, and semiconductor device
  • the present invention relates to a heat-resistant resin laminated film, a laminated film with a metal layer including the same, and a semiconductor device. More specifically, the present invention is widely used in the electronics industry.
  • V which relates to a method of manufacturing a laminated film with a metal layer for a flexible printed wiring board (FPC), and which includes a method of mounting a semiconductor integrated circuit (IC) such as a tape automated bonding (TAB), a chip-on-film (COF).
  • IC semiconductor integrated circuit
  • TAB tape automated bonding
  • COF chip-on-film
  • the present invention relates to a laminated film with a metal layer used in the above method, a semiconductor device using the same, and a method for producing a laminated film with a metal layer.
  • TAB has been used as a mounting method for semiconductor integrated circuits.
  • a flexible heat-resistant insulating film such as a polyimide film or epoxy resin is used.
  • “Three-layer laminate” products in which copper foil is bonded via an adhesive layer have been used.
  • the inner lead for mounting the IC has a flying lead structure, so the reduction in strength due to the narrower lead and the ability to reduce the copper foil thickness of about 40 ⁇ m pitch are considered to be the technical limit of miniaturization.
  • the COF method in which inner leads are formed on a heat-resistant insulating film and mounted by flip chip (FC) technology is becoming widespread.
  • the IC is directly bonded to the copper wiring of the flying lead structure, but in COF, since the IC is bonded to the copper wiring on the heat-resistant insulating film, the heat at the time of bonding is also applied to the heat-resistant insulating film. Will be involved.
  • the adhesive of the “three-layer laminate” product used for TAB and general FPC is epoxy -Based resin, phenol-based resin, acrylonitrile-based resin, butadiene-based resin, etc., whose heat resistance is inferior to polyimide used for heat-resistant insulating film, so that the excellent properties of polyimide film cannot be fully utilized .
  • IC bonding using the COF method often employs a method in which the tinned wiring and the gold bumps of the IC are bonded together (gang bonding with gold-tin eutectic). The heat and pressure exerted directly on the adhesive layer.
  • a "two-layer type” that does not use an adhesive is widely used, and the "two-layer type” is vacuum-deposited on a heat-resistant insulating film such as a polyimide film.
  • a heat-resistant insulating film such as a polyimide film.
  • a “strike” item is a “strike” item.
  • the "two-layer type plating" product a metal layer such as copper is directly formed on the heat-resistant insulating film as the base material, so that the type of the base material and the thickness of the metal layer can be freely changed. There is a problem that adhesion to the metal layer is low. In addition, there is a problem that productivity is not readily increased as soon as a pinhole is formed, so that the cost is high.
  • the “two-layer cast” product has high adhesiveness to the metal layer, but is formed by applying a heat-resistant resin layer to the copper foil. There are quality problems such as wrinkling and waving of the copper foil due to shrinkage. Especially when the thickness of the copper foil is 12 m or less, operability is further deteriorated and productivity is reduced.
  • the “three-layer laminate” product is manufactured by laminating a commercially available copper foil and a film base material such as polyimide via an adhesive layer, which is advantageous in cost.
  • metal foils such as copper foil have been heated and pressed onto an aromatic polyimide multilayer film in which a polyimide resin having a rigid structure is used as the core and a thermoplastic polyimide resin is laminated on the core.
  • a laminated FPC substrate called a “pseudo two-layer product” has been proposed (for example, see Patent Document 2).
  • FPC substrates have high adhesion to metal foil, but all are used only for copper-clad products.
  • One-sided copper-clad products have a problem in that the substrate is greatly warped when the copper layer is etched, that is, when the wiring pattern is formed. Also, even in the case of a double-sided copper-clad product, warpage occurs if there is a difference in the thickness of the thermoplastic polyimide resin layer formed on both sides of the polyimide resin layer in the core portion.
  • FPC substrates have also been proposed in which a metal layer is laminated on one surface of a polyimide film via a thermoplastic polyimide resin layer, and a heat-resistant polyimide layer is provided on the opposite polyimide film surface.
  • a metal layer is laminated on one surface of a polyimide film via a thermoplastic polyimide resin layer, and a heat-resistant polyimide layer is provided on the opposite polyimide film surface.
  • Patent Document 1 JP-A-9 99518 (pages 2-7)
  • Patent Document 2 JP-A-2002-114848 (pages 6-8)
  • Patent Document 3 JP-A-9-148695 (pages 2-7)
  • Patent Document 4 JP-A-2000-96010 (pages 3-7)
  • an object of the present invention is to provide a heat-resistant resin laminated film obtained by laminating a heat-resistant resin layer on a heat-resistant resin film such as a polyimide film.
  • a laminated film with a metal layer obtained by laminating a heat-resistant insulating film and a metal foil via a heat-resistant resin layer the copper layer is etched, that is, the wiring pattern is formed. Accordingly, an object of the present invention is to provide a laminated film with a metal layer without warpage, and a highly reliable semiconductor device using the same.
  • the present invention relates to a heat-resistant resin laminated film in which a heat-resistant resin layer is laminated on at least one side of a heat-resistant insulating film, wherein the coefficient of linear expansion of the heat-resistant resin layer is kA (ppm / ° C )But , K 10 ⁇ kA ⁇ k + 20 (k: coefficient of linear expansion of heat-resistant insulating film) is a heat-resistant resin laminated film.
  • kA ppm / ° C
  • K 10 ⁇ kA ⁇ k + 20 k: coefficient of linear expansion of heat-resistant insulating film
  • the present invention is a heat-resistant resin laminated film in which a heat-resistant resin layer is laminated on at least one surface of a heat-resistant resin film, wherein the heat-resistant resin layer is composed of two or more heat-resistant resin layers. At least one of the heat-resistant resin layers has a linear expansion coefficient kA (ppm / ° C) of k-10 ⁇ kA ⁇ k + 20 (k: linear expansion coefficient of the heat-resistant insulating film).
  • kA linear expansion coefficient of the heat-resistant resin laminated film according to claim 1
  • the present invention provides a laminated film with a metal layer, wherein a metal foil is laminated on the heat-resistant resin layer side of the heat-resistant resin laminated film of the present invention.
  • the present invention provides a semiconductor device including the above-mentioned laminated film with a metal layer of the present invention. Further, the present invention relates to a method for producing a laminated film with a metal layer obtained by laminating a metal foil on at least one surface of a heat-resistant insulating film via a heat-resistant resin layer, wherein the metal foil has a linear expansion coefficient kA (ppm / ° C) is a process of laminating at least one heat-resistant resin layer including a heat-resistant resin layer whose k is within the range of k-10 ⁇ kA ⁇ k + 20 (k: coefficient of linear thermal expansion of the heat-resistant insulating film).
  • kA linear expansion coefficient
  • the present invention relates to a method for producing a laminated film with a metal layer in which a metal foil is laminated on at least one side of a heat-resistant insulating film via a heat-resistant resin layer, wherein the heat-resistant insulating film has a linear expansion coefficient kA Laminate at least one heat-resistant resin layer, including a heat-resistant resin layer whose (ppm / ° C) is within the range of k-10 ⁇ kA ⁇ k + 20 (k: coefficient of thermal expansion of heat-resistant insulating film) And laminating the heat-resistant insulating film and the heat-resistant resin layer laminate with a metal foil on which at least one heat-resistant resin layer is laminated as required, and performing heat-press bonding.
  • a method for manufacturing a laminated film is provided.
  • a heat-resistant resin laminated film in which a heat-resistant resin film is laminated on a heat-resistant resin film such as a polyimide film.
  • a laminated film with a metal layer laminated via a conductive resin layer the copper layer is etched, that is, a wiring pattern is formed and Then, an FPC board without warpage can be obtained.
  • a highly reliable semiconductor device can be provided by using the laminated film with a metal layer of the present invention.
  • FIG. 1 is a schematic view showing one embodiment of a printed circuit board according to the present invention.
  • FIG. 3 is a schematic view showing one embodiment of a printed circuit board according to the present invention.
  • FIG. 4 is a schematic view showing one embodiment of a roll laminator that can be used in the present invention.
  • FIG. 5 is a schematic view showing another embodiment of a roll laminator that can be used in the present invention.
  • the heat-resistant resin laminated film of the present invention is obtained by laminating a heat-resistant resin layer on at least one surface of a heat-resistant insulating film, and has a linear expansion coefficient kA (ppm / ° C) of the heat-resistant resin layer. Is in the range of k 10 ⁇ kA ⁇ k + 20 (k: coefficient of linear expansion of the heat-resistant insulating film). Also, two or more heat-resistant resin layers may be used.In this case, if there is at least one resin layer whose linear expansion coefficient satisfies the kA (ppm / ° C) force k 10 ⁇ kA ⁇ k + 20 good.
  • heat-resistant resin layer A having a linear expansion coefficient kA (ppm / .C) in a range of k-10 ⁇ kA ⁇ k + 20 (k: linear expansion coefficient of a heat-resistant insulating film) is used. Sometimes referred to as "heat resistant resin layer A".
  • the coefficient of linear expansion kA (ppm / ° C) is k10 or more, preferably k7 or more, more preferably k-5 or more, and k + 20 or less, preferably k + 15 or less, and more preferably k + 10 or less.
  • K coefficient of linear expansion of the heat-resistant insulating film
  • the heat-resistant resin laminated film becomes concave when the heat-resistant resin film becomes concave, and conversely, when the coefficient of linear expansion becomes k + 20 or more, the heat-resistant resin layer A becomes concave. Warping occurs.
  • the coefficient (k) is 5-25 ppm / ° C, and even 10-20 ppm / ° C. Therefore, the coefficient of linear expansion kA of the heat-resistant resin layer A at this time is 5 to 30 ppm / ° C, preferably 8 to 25 ppm / ° C, and more preferably 11 to 23 ppm / ° C.
  • the coefficient of linear expansion includes a coefficient of thermal expansion, a coefficient of humidity expansion, and the like, and the coefficient of linear expansion in the present invention is a coefficient of thermal expansion.
  • the coefficient of linear expansion can be measured by a measurement method using a thermomechanical analyzer (TMA method), and it can be used for any of 30 ° C force, 300 ° C, 50 ° C force, 200 ° C, 100 ° C to 300 ° C, etc.
  • TMA method thermomechanical analyzer
  • the coefficient of linear expansion in the present invention is the average coefficient of linear expansion up to the measurement temperature of the reference temperature force, and is calculated from the formula (1).
  • TO reference temperature
  • Tt set temperature
  • L sample length
  • LO sample length at the reference temperature
  • Lt sample length at the set temperature
  • the reference temperature is room temperature of 25 to 35 ° C
  • the heat-resistant resin layer A in each temperature range from room temperature to 100 ° C, or 200 ° C or 300 ° C.
  • the coefficient of linear expansion kA (ppm / ° C) is preferably in the range of k-10 ⁇ kA ⁇ k + 20 (k: linear expansion coefficient of the heat-resistant insulating film).
  • a temperature of around 300 ° C may be strong depending on the manufacturing process of the heat-resistant resin laminated film, the laminated film with the metal layer using the heat-resistant resin laminated film, or the use conditions of the laminated film with the metal layer. Therefore, it is particularly preferable that the coefficient of linear expansion kA in the temperature range from room temperature to 300 ° C. is in the above range.
  • the heat-resistant resin layer A used in the present invention includes an acrylic resin, a polyimide resin, a polyamide resin, a polyamideimide resin, a polyetherimide resin, and a polyethenoresulfone resin. Fats, polysulfone resins, and the like can be used, and the above resins may be used alone or as a mixture of two or more.
  • a polyimide resin is preferably used in terms of heat resistance, insulation reliability, and adhesiveness.
  • the polyimide resin is a polymer resin in which an imide ring or other cyclic structure is formed from a polyamic acid or an esterified product thereof, which is a precursor thereof, by using heat or an appropriate catalyst.
  • an aromatic diamine having a structure represented by the general formula (1)-(3) is used as a diamine component in an amount of 40 mol% or more of the total diamine component. , Preferably at least 50 mol%, more preferably at least 60 mol%. If the content of the aromatic diamine is less than 40 mol%, the coefficient of linear expansion becomes large, and a heat-resistant resin laminated film is obtained. Warpage occurs in the throat.
  • R 1 — R ° may be the same or different, and may be a hydrogen atom, an alkyl group having 130 carbon atoms, an alkoxy group having 130 carbon atoms, a halogen, a hydroxyl group, a carboxyl group, a sulfone group) , Nitro group, cyano group is selected.
  • aromatic diamine examples include p-dienediamine, m-dienediamine, 2,5-diaminotoluene, 2,4-diaminotoluene, 3,5-diaminobenzoic acid, and 2,6-diamine.
  • Minobenzoic acid 2-Methoxy-1,4-phenylenediamine, 2-Hydroxy-1,4-phenylenediamine, 2-Chloro-1,4-phenylenediamine, 2-Ditro-1,4-phenylenediamine, 2-Cyanone 1 , 4 Phagelendiamine, 2,5-diaminosulfonic acid, 4,4, diaminobenzuayuride, 3,4, diaminobenzuayulide, 3,3, diaminobenzuayuride, 3,3, -dimethyl-4,4 Diaminobenzalide, 3-methoxy-4,4, -diaminobenzalide, benzidine, 2,2-dimethylbenzidine, 3,3-dimethylbenzidine, 3,3, diene Methoxybenzidine, 3,3, diclo-benzidine and the like.
  • monocyclic aromatic heterocyclic ring systems such as 2,4-diaminopyridine and 2,6-diaminopyridine, and polycyclic rings such as 1,5-diaminonaphthalene and 2,7-diaminofluorene.
  • Aromatic diamines and the like can also be used. Among the above diamines, p-phenylenediamine, 4,4, diaminobenzalide and 2,2-dimethylbenzidine are preferably used.
  • the siloxane-based diamine represented by the general formula (4) in combination with the above-described diamine, the water absorption of the obtained polyimide-based resin can be reduced.
  • siloxane Jiamin coefficient of linear expansion rapidly increases, its ⁇ is 0. 1- 10 mol 0/0 for all Jiamin component, preferably 0. 5-8 mole 0 / 0, preferably a further 1 one 6 mol 0/0.
  • n in the general formula (4) represents an integer of 130.
  • R 11 and R 12 are the same or different and each represents a lower alkylene group or a phenylene group.
  • R 13 to R 16 may be the same or different and each represents a lower alkyl group, a phenyl group or a phenoxy group.
  • the water absorption of the heat-resistant resin layer A is 1.5% or less, preferably 1.3% or less, and more preferably 1.2% or less. If the water absorption exceeds 1.5%, warpage occurs due to humidity expansion, or insulation reliability decreases.
  • n in the general formula (4) is in the range of 110, preferably 115, and more preferably 115.
  • siloxane-based diamine represented by the general formula (4) examples include 1,1,3,3-tetramethyl-1,3-bis (4-aminophenyl) disiloxane, 1,1, 3, 3—tetraphenoxy-1,3 —Bis (4-aminoethyl) disiloxane, 1,1,3,3,5,5-hexamethyl-1,5 bis (4-aminophenyl) trisiloxane, 1,1,3,3-tetraphenyl — 1,3-bis (2-aminoethyl) disiloxane, 1,1,3,3-tetraphenyl-1,3 bis (3-aminopropyl) disiloxane, 1,1,5,5-tetraphenyl-3 , 3-Dimethyl-1,5-bis (3-aminopropyl) trisiloxane, 1,1,5,5-tetraphenyl-3,3-dimethoxy-1,5bis (4aminobutyl) trisiloxane, 1,1,1,1,
  • an aliphatic diamine, an alicyclic diamine containing a cyclic hydrocarbon, an aromatic diamine other than the above can be used in combination, and specific examples thereof include 1,3-diaminocyclo Xane, 1,4-diaminocyclohexane, 4,4'-methylenebis (cyclohexylamine), 3,3'-methylenebis (cyclohexylamine), 4,4'-diamino-3,3'-dimethyldicyclohexylmethane 4,4'-Diamino-3,3'-dimethyldicyclohexyl, p-aminobenzylamine, m-aminobenzylamine, 4,4'-diaminodiphenyl ether, 3,3'-diaminodiph Enyl ether, 3,4'-diaminodiphenyl ether, 4,4'-diaminodiphenylsulfone, 3,3'-d
  • the polyimide resin used for the heat-resistant resin layer A includes, as a tetracarboxylic acid component, pyromellitic dianhydride, 3,3,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,3 , 3 ', 4'-biphenyl-tetracarboxylic dianhydride, 2,2,3'-biphenyl-tetracarboxylic dianhydride, 3,4,9,10-perylenetetracarboxylic dianhydride , 2, 3, 6, 7 naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 1, 4, 5, 8 naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 1,2,5,6 naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 3,3 4,4 p-tert-tetracarboxylic dianhydride, 3, 3 4,4 meta-tertratetracarboxylic dianhydride, 2, 3, 6, 7-anthracenete
  • pyromellitic dianhydride and 3,3 ', 4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride are particularly preferred.
  • tetracarboxylic acid component examples include an alicyclic tetracarboxylic dianhydride having a cyclic hydrocarbon, an aromatic tetracarboxylic dianhydride other than the above, and specific examples thereof.
  • the molecular weight of the polyimide resin used in the present invention can be adjusted by making the tetracarboxylic acid component and the diamine component equimolar, or by making one of them excess. Either the tetracarboxylic acid component or the diamine component can be made excess, and the polymer chain end can be sealed with a terminal blocking agent such as an acid component or an amine component. Dicarboxylic acid or its anhydride is preferably used as a terminal blocking agent for the acid component, and monoamine is preferably used as a terminal blocking agent for the amine component. At this time, it is preferable to make the acid equivalent of the tetracarboxylic acid component including the terminal blocking agent of the acid component or the amine component and the amine equivalent of the diamine component equimolar.
  • dicarboxylic acid such as benzoic acid, phthalic anhydride, tetrachlorophthalic anhydride, a-phosphoric acid, or anhydride thereof is used.
  • a monoamine may be added as a terminal blocking agent.
  • the molar ratio of the tetracarboxylic acid component and the diamine component of the polyimide resin is usually set to 100Z100.
  • polyamic acid which is one of the precursors of the polyimide resin
  • the compound can be synthesized by selectively combining a tetracarboxylic acid component and a diamine component, and reacting the mixture at a predetermined molar ratio in a solvent at 0 to 80 ° C.
  • the monoamine, dicarboxylic acid or anhydride thereof for blocking the polymer chain terminal may be reacted at the same time as the tetracarboxylic dianhydride or diamine.
  • tetracarboxylic dianhydride and diamine may be reacted and added after polymerization to cause a reaction.
  • Examples of the solvent for synthesizing the polyamic acid include amide polar solvents such as N-methyl-2-pyrrolidone, N, N-dimethylacetamide, N, N-dimethylformamide, 13-propyne lactone, ⁇ -butyrolataton Rataton-based polar solvents such as ⁇ -force ratactone, ⁇ -force ratactone, ⁇ -force prolactone, ⁇ -force prolatatatone, and other solvents such as methylcellosesolve, methylcellsolveacetate, ethylcellsolvesolve, etilcell.
  • amide polar solvents such as N-methyl-2-pyrrolidone, N, N-dimethylacetamide, N, N-dimethylformamide, 13-propyne lactone, ⁇ -butyrolataton Rataton-based polar solvents such as ⁇ -force ratactone, ⁇ -force ratactone, ⁇ -force prolactone
  • Solvent acetate, methyl carbitol, ethyl carbitol, diethylene glycol dimethyl ether (diglyme), and ethyl lactate can be mentioned. These may be used alone or as a mixture of two or more.
  • the concentration of the polyamic acid is usually preferably 5 to 60% by weight, more preferably 10 to 40% by weight.
  • other resin fillers can be added to the resin used for the heat-resistant resin layer, as long as the effects of the present invention are not impaired.
  • Other resins include acrylic resin, acrylonitrile resin, butadiene resin, urethane resin, polyester resin, polyamide resin, polyamideimide resin, polyetherimide resin.
  • heat-resistant polymer resins such as epoxy resins, phenol resins, polysulfone resins, and polyethersulfone resins.
  • the filler include organic or inorganic fine particles and fillers. Specific examples of the fine particles and the filler include silica, alumina, titanium oxide, quartz powder, magnesium carbonate, potassium carbonate, barium sulfate, magnesium, and talc.
  • the total content of these heat-resistant polymer resin / filler is 60% or less, preferably 20% or less, most preferably 0%, based on the total weight of the heat-resistant resin layer A. is there.
  • the glass transition temperature of the heat-resistant resin layer A is 250-400 ° C, preferably 260-380 ° C, and more preferably 280-350 ° C.
  • the glass transition temperature exceeds 250 ° C, the coefficient of linear expansion from room temperature to 300 ° C becomes too large.
  • the glass transition temperature is 400 ° C or more, the adhesiveness is deteriorated.
  • the measurement of the glass transition temperature of the heat-resistant resin layer A in the present invention also uses various measurement methods.
  • a measurement method using a differential scanning calorimeter (DSC method) a measurement method using a thermomechanical analyzer (TMA method), and a dynamic viscoelasticity measurement method using a dynamic thermomechanical analyzer (DMA Method).
  • DSC method differential scanning calorimeter
  • TMA method thermomechanical analyzer
  • DMA Method dynamic viscoelasticity measurement method using a dynamic thermomechanical analyzer
  • the thickness of the heat-resistant resin layer ⁇ ⁇ is not particularly limited, but is usually 0.2-m, preferably 0.1-m.
  • the heat-resistant insulating film used in the present invention uses a heat-resistant polymer, for example, aromatic polyimide resin, polyphenylene sulfide resin, aromatic polyamide resin, polyamide imide resin, and the like.
  • a heat-resistant polymer for example, aromatic polyimide resin, polyphenylene sulfide resin, aromatic polyamide resin, polyamide imide resin, and the like.
  • Specific products include “Kapton” manufactured by Toray DuPont, “Upilex” manufactured by Ube Industries, “Abical” manufactured by Kanegafuchi Chemical Industry Co., Ltd. "Mictron” manufactured by Toray Industries, Inc., and “Bettastar” manufactured by Kuraray Co., Ltd. are examples.
  • aromatic polyimide resins are particularly preferably used.
  • the glass transition temperature of the heat-resistant insulating film is not particularly limited, but is usually 300 ° C or higher, preferably 400 ° C or higher. Those having no clear glass transition point at 500 ° C or lower are more preferable.
  • the thickness of the heat-resistant insulating film is not particularly limited, but is preferably 3 to 150 m, more preferably 5 to 75 m, and particularly preferably 10 to 50 m. If it is less than 3 ⁇ m, the strength as a support may be insufficient. On the other hand, if it exceeds 150 m, the flexibility decreases, and bending may be difficult.
  • One or both surfaces of the heat-resistant insulating film used in the present invention are preferably subjected to an adhesion improving treatment according to the purpose.
  • Examples of the adhesion improving treatment include a process of physically forming unevenness on the surface of the film by wet blasting or the like in which a liquid in which fine particles such as glass beads are dispersed in sand blast or water is sprayed onto the film at a high speed.
  • There are discharge treatments such as a treatment for forming irregularities on the film surface with a permanganic acid solution or an alkali solution, a normal pressure plasma treatment, a corona discharge treatment, and a low-temperature plasma treatment.
  • Atmospheric pressure plasma processing refers to an atmosphere in an atmosphere of Ar, N, He, CO, CO, air, water vapor or the like.
  • Means a discharge treatment Means a discharge treatment.
  • the processing conditions vary depending on the processing apparatus, the type and flow rate of the processing gas, the frequency of the power supply, and the like, but the optimum conditions can be appropriately selected.
  • the low-temperature plasma treatment can be performed under reduced pressure, and the method is not particularly limited.
  • an internal electrode-type discharge treatment having a drum electrode and a counter electrode composed of a plurality of rod electrodes is used.
  • the substrate to be treated is set in the apparatus, and while the treatment gas is adjusted to 1 to 1000 Pa, preferably 5 to 100 Pa, a high voltage of DC or AC is applied between the electrodes to discharge, and the treatment gas is discharged.
  • a method of generating plasma and exposing the substrate surface to the plasma for treatment is preferably used.
  • the conditions for the low-temperature plasma processing vary depending on the processing apparatus, the type of the processing gas, the pressure, the frequency of the power supply, and the like, but the optimum conditions can be appropriately selected. Examples of the type of processing gas include Ar, N
  • CO, air, steam, O, CF, etc. can be used alone or as a mixture.
  • the effect of improving adhesiveness may be small compared to low-temperature plasma treatment, so that the heat-resistant resin layer to be laminated easily adheres. Prefer to choose one.
  • the heat-resistant resin laminated film of the present invention is used as a laminated film with a metal layer for an FPC board (flexible printed wiring board) in which a metal foil is adhered to the heat-resistant resin layer side.
  • FPC board flexible printed wiring board
  • the heat-resistant resin laminated film is bonded to a metal foil to produce a laminated film with a metal layer, or in the bonding process of IC chips, etc., at around 300 ° C. Since the temperature can be strong, the coefficient of linear expansion in the temperature range from room temperature (20-35 ° C) to 300 ° C is important.
  • the metal layer can be formed by a single method such as lamination of metal foil, vacuum deposition, sputtering, ion plating, electroless plating, electrolytic plating, or a combination of two or more kinds.
  • a metal layer is formed by laminating a metal foil on the heat-resistant resin layer side of the heat-resistant resin-laminated film, and then heat-pressing to produce a laminated film with a metal layer.
  • the laminating method is most preferable.
  • the metal layer used in the present invention is formed of a metal foil such as a copper foil, an aluminum foil, and a SUS foil, and thus a copper foil is usually used.
  • Copper foil includes electrolytic copper foil and rolled copper foil. You can do it.
  • Metal foils such as copper foils may be subjected to roughing treatment on the bonding surface side in order to improve the adhesiveness with resin or the like.
  • the both sides of the copper foil are generally referred to as the S side and the M side, respectively, and when bonding resin or the like, it is usually bonded to the M side. Therefore, the roughening process is usually performed on the M surface side in many cases.
  • roughening treatment may be performed on both the S surface and the M surface.
  • fine particles of 115 ⁇ m copper are deposited on one or both surfaces of an original foil formed by electrolytic plating by electrodeposition or the like to form irregularities on the surface. It is a process.
  • the surface of the copper foil is preferably uneven not only on the S surface but also on the M surface as much as possible. More preferred is a copper foil having a smooth surface on both sides.
  • the surface roughness of the copper foil is such that Ra (center line average roughness) on the S surface is 0.5 m or less, preferably 0.4 m or less, and Rz (ten-point average roughness) is 2. O / zm Hereinafter, it is preferably 1.8 ⁇ m or less.
  • the Ra force on the M plane is 0.7 ⁇ m or less, preferably 0.5 ⁇ m or less, more preferably 0.4 ⁇ m or less, and Rz is 3.0 ⁇ m or less, preferably 2.0 ⁇ m or less. ⁇ m or less, more preferably 1.8 m or less.
  • the thickness of the copper foil is in the range of 11 to 150 m and can be used as appropriate according to the application. However, as the wiring pattern of the FPC becomes finer, the thickness of the copper foil also increases. Thinner is better. However, when the copper foil becomes thinner, it becomes difficult to handle it alone. Copper foil of 3 ⁇ m or 5 ⁇ m thickness adheres to a support (carrier) such as resin or metal foil of about 20-50 m thickness. It is treated as copper foil with a carrier, and is used after peeling off the support after heat-pressing to resin or the like.
  • the thickness of the copper foil in the present invention is 20 m or less, preferably 15 m or less, more preferably 10 m or less. In addition, it is 1 m or more, preferably 3 m or more, and more preferably 5 ⁇ m or more.
  • the surface of the copper foil is treated to prevent discoloration or the like!
  • the protection treatment is generally performed by laminating a thin film layer of a nickel, zinc, chromium compound or the like on the copper foil surface. Further, the surface of the copper foil may be further subjected to a silane coupling treatment in order to improve the adhesiveness with the resin or the like.
  • the laminated film with a metal layer of the present invention can be used not only for single-sided or double-sided metal layers, but also for resistance to Various configurations such as a layer configuration of the thermal resin layer can be adopted, and various production methods can be adopted depending on the configurations.
  • the evaluation of the warpage in the present invention is performed by measuring a heat-resistant resin laminated film in which a metal foil such as a copper foil is laminated, and the metal layer is entirely etched.
  • the measurement may be performed after a heat-resistant resin layer is laminated on the heat-resistant insulating film and heat treatment is appropriately performed.
  • force measurement is preferably performed by leaving the sample at room temperature of 20-30 ° C and humidity of 50-60% RH for 24 hours or more. The sample was cut into an arbitrary size such as a 50 mm ⁇ 50 mm mouth and allowed to stand on a flat plate. The height of the four corners was measured, and the average value was used as the warpage value.
  • the warp height is 20 mm or more, the sample will be rounded into a cylindrical shape, so that the warp height cannot be measured accurately.
  • the warp height is 4 mm or less, preferably 3 mm or less, more preferably 1 mm or less.
  • FIG. 1 shows a first embodiment of the laminated film with a metal layer of the present invention.
  • FIG. 1 (a) is an embodiment of a laminated film with a single-sided metal layer
  • FIG. 1 (b) is an embodiment of a laminated film with a double-sided metal layer.
  • the heat-resistant insulating film 2, the heat-resistant resin layer 3, the metal foil 1 Is formed on the laminate.
  • the manufacturing method is, for example, to apply a linear expansion coefficient kA (p pm / ° C) force k-10 ⁇ kA ⁇ k + 20 (k: linear expansion coefficient of the heat-resistant insulating film to the heat-resistant resin film 2 or the metal foil 1).
  • the heat-resistant resin layer 3 in the range of (2) is formed.
  • a metal foil is attached to the heat-resistant insulating film Z obtained in the above, so as to face the heat-resistant resin layer, and then heat-pressed.
  • a laminated film with a metal layer is obtained by laminating a heat-resistant insulating film to the laminated body of the metal foil Z heat-resistant resin layer so as to be in close contact with the heat-resistant resin layer, and heat-pressing.
  • a heat-resistant resin layer 3 and a metal foil 1 of a laminate obtained by laminating a heat-resistant resin layer 3 on a heat-resistant insulating film 2 or a metal foil The heat-resistant resin layer 3 of the laminate in which the heat-resistant resin layer 3 is laminated on the foil 1 is heat-pressed with the heat-resistant resin layer 3 facing the heat-resistant insulating film 2.
  • a high temperature of 350 ° C or higher, more preferably 380 ° C or higher is required. Also, even when the thermocompression bonding is performed at such a high temperature, the bonding strength after bonding is relatively small.
  • FIG. 2 shows a second embodiment of the laminated film with a metal layer of the present invention.
  • Fig. 2 (a) shows an embodiment of a laminated film with a single-sided metal layer
  • Fig. 2 (b) shows an embodiment of a laminated film with a double-sided metal layer, in which a heat-resistant resin layer has a multilayer structure of two or more layers. , At least one of which has a coefficient of linear expansion kA (ppm / .C) 1S k-10 ⁇ kA ⁇ k + 20 (k: coefficient of linear expansion of heat-resistant insulating film). is there.
  • a laminated film with a metal layer in which the heat-resistant resin layer A is laminated so as to be in contact with the metal layer is the most preferable mode in which warpage after etching of the metal layer hardly appears.
  • a heat-resistant resin layer having a composition and physical properties different from those of the heat-resistant resin layer A is used between the metal layer and the heat-resistant resin layer A for the purpose of improving adhesiveness, etc. It may be provided with a film thickness.
  • the thickness of the heat-resistant resin layer provided between the metal layer and the heat-resistant resin layer A is 0.001 to 5 m, preferably 0.01 to 3 m, and more preferably 0.1 to 2 m. .
  • As the resin constituting the heat-resistant resin layer a resin similar to the resin used in the heat-resistant resin layer B described later can be used.
  • Examples of the method for producing the laminated film with a metal layer shown in Fig. 2 include the following method.
  • a multilayer heat-resistant resin layer 4 including at least one heat-resistant resin layer A3 is sequentially laminated.
  • the metal foil 1 is attached to the laminate of the heat-resistant insulating film 2 and the heat-resistant resin layer 4 obtained in the above so as to face the heat-resistant resin layer 4 of the laminate, and is heat-pressed.
  • the heat-resistant insulating film 2 is bonded to the laminate of the metal foil 1Z heat-resistant resin layer 4 so as to be fitted to the heat-resistant resin layer of the laminate, and heated and pressed to form the laminated film with the metal layer. obtain.
  • one or more heat-resistant resin layers are formed on the heat-resistant insulating film 2 and the metal foil 1, respectively, and the obtained heat-resistant insulating film Z laminate of the heat-resistant resin layer and the metal foil Z heat resistance
  • the heat-resistant resin layers of the resin layer laminate are bonded to face each other, and then heat-pressed to obtain a laminated film with a metal layer.
  • FIG. 3 shows a third embodiment of the laminated film with a metal layer of the present invention.
  • FIG. 3 (a) shows an embodiment of a laminated film with a single-sided metal layer
  • FIG. 3 (b) shows an embodiment of a laminated film with a double-sided metal layer.
  • the laminated film with a metal layer shown in FIG. 3 was particularly preferable in the embodiment shown in FIG.
  • the linear expansion coefficient kA (ppm / ° C) on the metal layer side is k-10 ⁇ kA ⁇ k + 20 (k : Heat-resistant resin layer A in the range of the heat-resistant insulating film), and a heat-resistant resin layer with a lower glass transition temperature than the heat-resistant resin layer A on the heat-resistant insulating film side. (A resin layer B).
  • the manufacturing method of the laminated film with a metal layer of the third embodiment can be the same as the manufacturing method of the laminated film with a metal layer of the second embodiment.
  • a particularly preferable manufacturing method is to laminate the heat-resistant resin layer A3 on the metal foil 1 and the heat-resistant resin layer B5 on the heat-resistant insulating film 2 , respectively.
  • Insulating film 2Z A laminated body of heat-resistant resin layer B5 is formed, heat-resistant resin layer A3 and heat-resistant resin layer B5 are bonded so as to face each other, and then heat-pressed to form a laminated film with a metal layer. It is a manufacturing method including a step of obtaining.
  • This laminated film with a metal layer does not warp after etching of the metal layer, has high adhesive strength, and can be heated and pressed at a relatively low temperature, which is advantageous in productivity.
  • the linear expansion coefficient of the heat-resistant resin layer B (one or two or more heat-resistant resin layers other than the heat-resistant resin layer A that satisfies the above-mentioned range of the coefficient of linear expansion) is as described above. Usually, it is not necessary to fall within the range of the linear expansion coefficient of the layer A, but is about 30 ppmZ ° C to 500 ppmZ ° C, preferably about 40 ppmZ ° C to 200 ppmZ ° C.
  • the present inventors have found that if at least one heat-resistant resin layer A described above is present, at least one heat-resistant resin layer B having a larger linear expansion coefficient is present, even if a laminated film and a metal This is the first finding that warpage of a laminated film with layers can be suppressed to a satisfactory degree. For this reason, a resin having better adhesiveness can be employed for forming the heat-resistant resin layer B, whereby the adhesiveness of the laminated film and the laminated film with a metal layer can be further improved.
  • thermoplastic resin and Z or a thermosetting resin can be used, and acrylic resin, acrylonitrile-based resin, butadiene-based resin, Urethane resin, polyester resin, epoxy resin, phenol resin, polyimide resin, polyamide resin, polyamideimide resin, polyetherimide resin, polyethersulfone resin And polysulfone resins.
  • the above resins may be used alone or in combination of two or more. From the viewpoint of heat resistance, insulation reliability and adhesiveness, polyimide resin, epoxy resin, phenol resin, and polyamide resin are preferably used.
  • these resins have fine particles and A filler such as irritant may be added. Specific examples of the fine particles and the filler include silica, alumina, titanium oxide, quartz powder, magnesium carbonate, potassium carbonate, barium sulfate, myric acid, and talc.
  • the glass transition temperature of the heat-resistant resin layer B of the present invention is 120 to 280. C, preferably 150-250. C, more preferably 170-220. C.
  • the glass transition temperature is lower than 120 ° C, the adhesive strength is good but the wet heat resistance is poor.
  • the glass transition temperature is higher than 280 ° C, the adhesiveness is poor.
  • various diamines and tetracarboxylic dianhydrides can be used as long as the temperature falls within the above glass transition temperature.
  • a siloxane-based diamine represented by the general formula (4) as the diamine component, it is easy to adjust the glass transition temperature of the obtained polyimide-based resin, and it is possible to further reduce the water absorption rate and to improve the adhesion. This is preferable because the force is high.
  • n in the general formula (4) represents an integer of 130.
  • R 11 and R 12 may be the same or different and each represents a lower alkylene group or a phenylene group.
  • R 13 to R 16 may be the same or different and each represents a lower alkyl group, a phenyl group or a phenoxy group.
  • the glass transition temperature of the heat-resistant resin layer B of the present invention is 50 to 250 ° C., preferably 80 to 220 ° C. And more preferably 100-200 ° C.
  • the glass transition temperature is lower than 50 ° C, heat resistance and wet heat resistance are deteriorated, and when the glass transition temperature is higher than 250 ° C, adhesion is deteriorated.
  • the thermosetting resin include unsaturated resins such as epoxy compounds, cyanate compounds, benzoxazole compounds, bismaleimide compounds, and compounds having an acetylene group.
  • a resin made of an epoxy compound is preferable.
  • the epoxy compound used for the heat-resistant resin layer B of the present invention includes a phenol novolak type epoxy compound, a cresol novolak type epoxy compound, a bisphenol A type epoxy compound, a bisphenol F type epoxy compound, and a bisphenol F type epoxy compound.
  • Phenol S-type epoxy compound epoxy compound of aralkyl resin by xylylene bond of thiodiphenol, phenol, naphthol, epoxy compound of phenol dicyclopentadiene resin, cyclic aliphatic epoxy compound, heterocyclic epoxy compound, phthalate Of glycidyl ester-type epoxy compounds, diaminodiphenylmethane, diaminodiphenylsulfone, isocyanuric acid and other polyamines and epichlorohydrin obtained by the reaction of polybasic acids such as acid and dimer acid with epichlorohydrin.
  • organopolysiloxane having a glycidyl group or silicon-modified epoxy conjugate obtained by reacting the above-mentioned epoxy compound with the carboxyl-containing organosiloxane can be used, but the present invention is not limited thereto. It is also possible to use a combination of at least one of these epoxy conjugates or silicon-modified epoxy compounds!
  • the curing agent for the epoxy compound is not particularly limited, and polyamines such as diethylenetriamine, triethylenetriamine, metaxylenediamine, diaminodiphenylmethane, polyamides such as dimer acid polyamide, and phthalic anhydride Acid anhydrides such as tetrahydromethylphthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, trimellitic anhydride, methylnadic anhydride, 3-aminophenol, resorcinol, catechol, hydroquinone, pyrogallol, 3-hi Droxybenzoic acid, 3-cyanophenol, 2,3-diaminophenol, 2-amino-3-hydroxybenzoic acid, 3-hydroxyphenylacetamide, 3-hydroxyisophthalic acid, 3-hydroxyphenylacetic acid and 3-phenolsulfone Tertiary acids such as acids, phenol novolak, phenol aralkyl, phenolic resins such as bisphenol A and bisphenol F, resole type phenolic
  • thermoplastic resin having plasticity in a temperature range of 80 to 200 ° C may be further added.
  • resins include polyolefins such as polyethylene, polypropylene, and ethylene copolymer resins, styrene resins such as polystyrene and ABS resins, polyvinyl chloride, bilidene chloride, polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, and the like.
  • polyamide resins can be used.
  • those containing a low water-absorbing dicarboxylic acid having 36 carbon atoms (so-called dimer acid) as an essential component are preferable.
  • Polyamide resin containing dimer acid has the power obtained by polycondensation of dimer acid and diamine according to a conventional method.In this case, it contains dicarboxylic acid other than dimer acid such as adipic acid, azelaic acid and sebacic acid as a copolymer component. May be.
  • Known diamines such as ethylenediamine, hexamethylenediamine and piperazine can be used, and a mixture of two or more types may be used from the viewpoint of hygroscopicity and solubility.
  • the content of such a thermoplastic resin is not particularly limited, but is usually 70% or less, preferably 20% or less based on the weight of the heat-resistant resin layer B.
  • a curing accelerator may be added to the thermosetting resin constituting the heat-resistant resin layer B.
  • curing accelerators include aromatic polyamines, amine complexes of boron trifluoride such as boron trifluoride triethylamine complex, imidazole derivatives such as 2-alkyl 4-methylimidazole, 2-phenyl-4-alkylimidazole, phthalic anhydride, Organic acids such as trimellitic anhydride, dicyandiamide, and known compounds such as triphenylphosphine can be used.
  • the content of such a hardening accelerator is not particularly limited, but is usually 5% based on the weight of the heat-resistant resin layer B. Or less, preferably 1% or less.
  • Solvents used for dissolving and mixing the above compounds include methyl sorb, butyl sorb, methyl ethyl ketone, dioxane, acetone, cyclohexanone, cyclopentanone, isobutyl alcohol, isopropyl alcohol, tetrahydrofuran, and dimethyl sulfoxide. , Y butyrolataton, toluene, xylene, benzene, benzyl alcohol, isophorone, methoxymethylbutanol, ethyl lactate, propylene glycol monomethyl ether and its acetate, N-methyl-2-pyrrolidone, and one or more of these Is used.
  • the film thickness of the heat-resistant resin layer A (or the total film thickness of the heat-resistant resin layer A when there are a plurality of layers) is the heat-resistant resin layer B (the heat-resistant resin layer B is composed of a plurality of layers). If present, it is at least twice, preferably at least 2.5 times, more preferably at least 3 times the total film thickness. If the thickness of the heat-resistant resin layer A is less than twice the thickness of the heat-resistant resin layer B, the warpage after etching of the metal layer may increase.
  • thermocompression bonding in the present invention can be performed using a hot press, a heated roll laminator, or the like. Since the heating roll laminator can continuously heat and press a long film or metal foil, the power of productivity can also be preferably used.
  • the thermocompression bonding using a heating roll laminator is performed by passing a film 9 having at least one pair of heating rolls 6 and 7 on which a metal foil 8 and a heat-resistant resin layer are laminated through a heating roll.
  • FIG. 4 (a) shows a laminated film with a single-sided metal layer
  • FIG. 4 (b) shows a laminated film with a double-sided metal layer, and a thermocompression bonding method using respective heating roll laminators.
  • Reference numeral 10 in FIG. 4 (and FIG. 5 described later) indicates a product winding roll.
  • the roll of the heating roll laminator can be used in various combinations such as a metal roll, a metal roll, a rubber roll, a rubber roll and a rubber roll.
  • a metal roll a metal roll
  • a rubber roll a rubber roll
  • a rubber roll a rubber roll
  • a rubber roll a rubber roll
  • heat-pressing is performed so that a copper foil is in contact with the metal roll and a heat-resistant insulating film is in contact with the rubber roll.
  • the roll temperature is 200 ° C. or more
  • a combination of a metal roll and a metal roll is preferable.
  • a combination of a metal roll and a metal roll is used in the case of a laminated film with a double-sided copper layer.
  • Conditions such as the roll temperature, roll-up pressure, and transfer speed of the heated roll laminator are appropriately selected depending on the type, composition, production method, and the like of the heat-resistant resin layer used.
  • the roll temperature is set in the range of 50-500 ° C, preferably 100-450 ° C.
  • the heating of the mouth may be such that only one roll can be heated, but it is preferable that both rolls can be heated. More preferably, both rolls can be heated, and the temperature can be independently controlled.
  • the roll-up pressure of the heated roll laminator is generally set in the range of 0.5 to 200 N / mm, preferably 2 to 150 N / mm in linear pressure.
  • the transfer speed is generally set in the range of 0.1 to 50 m / min, preferably 0.4 to 30 m / min.
  • the lamination When laminating at a roll temperature of 300 ° C. or higher, the lamination may be performed in a nitrogen atmosphere or in a vacuum in order to prevent metal foil such as copper foil from being oxidized.
  • a heat-resistant resin film such as a polyimide film or a metal foil such as SUS or aluminum is used as a protective film 11 to form a film in which a heating roll surface and a metal foil 8 or a heat-resistant resin layer are laminated. 9 may be interposed between them and heat-pressed.
  • FIG. 5 (a) shows a laminated film with a single-sided metal layer
  • FIG. 5 (b) shows a laminated film with a double-sided metal layer, and a thermocompression bonding method using respective heating roll laminators.
  • reference numeral 11 denotes a protective film unwinding roll
  • reference numeral 12 denotes a protective film rewinding roll.
  • An acid / resin solution is applied to at least one surface of a heat-resistant insulating film (eg, a polyimide film) so that the cured film has a thickness of 0.2 to 12 / zm, preferably 0.5 to 10 / ⁇ , more preferably 1 to 1 / zm. Coat to 7 m.
  • the coating method include a bar coater, a roll coater, a knife coater, a comma coater, a Reno-Ki coater, a doctor blade float coater, and a gravure coater.
  • the solvent of the solution applied on the polyimide film as described above is removed by heating continuously or intermittently at a temperature of about 60 to 200 ° C for 1 to 160 minutes. This is followed by a heat treatment at a temperature range of 200-400 ° C, preferably 240-350 ° C, more preferably 260-320 ° C for 1-48 hours. Then, the polyamide acid resin of the heat resistant resin layer is converted into a polyimide resin to form a laminate of a heat resistant resin layer composed of a polyimide film and a polyimide resin. In the heat treatment in the present invention, the temperature may be increased stepwise to the target temperature in the above range.
  • the obtained polyimide film Z is laminated with a copper foil so as to face the heat-resistant resin layer side of the heat-resistant resin layer side of the laminate of the heat-resistant resin layer, and is heat-pressed with a heating roll laminator.
  • Figure 5 (For a laminated film with a single-sided metal layer, use Fig. 5 (Fig. 5 a) In the case of a laminated film with a double-sided metal layer, as shown in FIG. 5 (b), a laminate of a copper foil and a polyimide film Z heat-resistant resin layer A is sandwiched between protective films.
  • the temperature of the heating roll at this time is, for example, 300 to 500 ° C, preferably 350 to 450 ° C, and more preferably 380 to 420 ° C in the structure shown in FIG.
  • the Rhono lap pressure is a linear pressure of 2 to 150 N / mm, preferably 5 to 100 N / mm, and more preferably 10 to 80 N / mm.
  • the obtained laminated film with a copper layer may be further heat-treated.
  • a heat treatment method may be a batch-type treatment in which the laminated film with a copper layer is wound into a roll, or a roll-to-roll method. The deviation between the continuous processing in the step and the sheet processing in the cut sheet may be used.
  • the heat treatment may be performed in a temperature range of 200 to 400 ° C., preferably 240 to 350 ° C., more preferably 260 to 320 ° C. for 1 to 48 hours, and the temperature may be raised stepwise to the target temperature. Further, the treatment is preferably performed in a vacuum or a nitrogen atmosphere in order to prevent oxidation of the copper layer.
  • a polyamic acid resin solution having a glass transition temperature lower than that of the heat-resistant resin layer A and a polyimide resin precursor is applied to at least one surface of the polyimide film after curing. Coating, drying, and heat-treating so that the thickness becomes 0.01-1-5 / zm, preferably 0.1-, more preferably 0.5-3 m ⁇ ⁇ Laminate of resin layer B was formed.
  • the coating, drying and heat treatment methods are the same as described above.
  • the heat-resistant resin layer A and the heat-resistant resin layer B of each of the laminates are bonded together so as to face each other, and then heat-pressed to obtain a laminated film with a copper layer.
  • the temperature of the heating roll at this time in the heating and pressing by the heating roll laminator is, for example, 200 to 400 in the structure shown in FIG. C, preferably 250-380. C, more preferably 280-350. C.
  • the roll-up pressure is 2 to 100 N / mm, preferably 5 to 80 N / mm, more preferably 10 to 60 N / mm as a linear pressure.
  • thermocompression bonding When the temperature of the heating roll is 300 ° C. or less, it is not necessary to perform thermocompression bonding via a protective film as shown in FIG. 5, and it is possible to perform thermocompression bonding by a method as shown in FIG. Further, the heat treatment method in which the obtained laminated film with a copper layer may be further heat-treated after the thermocompression bonding is the same as described above.
  • the heat-resistant resin layer A and the heat-resistant resin layer B were bonded to each other in the state of a polyamide acid resin without being converted into a polyimide resin, followed by thermocompression bonding.
  • a preferred method is to heat-treat the laminated film to convert the polyamic acid resin of the heat-resistant resin layer A and the heat-resistant resin layer B into a polyimide resin.
  • thermocompression bonding is performed in the state of polyamic acid, the temperature during thermocompression bonding can be further reduced, and the temperature of the heating roll of the heating roll laminator is 100-260. C, preferably 140-240 ° C, more preferably 160-220 ° C.
  • a flexible printed circuit board can be manufactured by forming a wiring pattern on a metal layer using the laminated film with a metal layer of the present invention.
  • the pitch of the wiring pattern is not particularly limited, but is preferably in the range of 10 to 150 m, more preferably 15 to 100 m, and still more preferably 20 to 80 ⁇ m.
  • the laminated film with a metal layer of the present invention is slit to a desired width.
  • a photoresist film is applied on the metal layer, and a wiring pattern is formed by mask exposure.
  • the remaining photoresist film was removed to form a metal wiring pattern.
  • COF tape is obtained by applying solder resist on the wiring pattern.
  • the semiconductor device of the present invention can be obtained by bonding the IC having the gold bumps formed on the inner leads of the COF tape obtained by the above method by flip-chip mounting and sealing with resin.
  • IC mounting methods include a metal bonding method in which the wiring and the bumps of the IC are gang-bonded, a wire bonding method in which the bonding part of the IC and the inner lead of the COF tape are bonded by wire bonding, and a conductive material in the adhesive layer.
  • a metal bonding method in which the wiring and the bumps of the IC are gang-bonded
  • a wire bonding method in which the bonding part of the IC and the inner lead of the COF tape are bonded by wire bonding
  • a conductive material in the adhesive layer There is an ACF method in which bonding is performed with an adhesive film containing a conductive filler in between, and an NCP method in which bonding is performed using a non-conductive adhesive.
  • the ACF and NCP methods can be joined at a relatively low temperature, but from the viewpoint of connection reliability and the like, the metal joining method, particularly the joining method using gold-tin eutectic, is generally widely used.
  • a load of 20 to 30 g is applied per bump in order to absorb the height variation between the bump on the IC side and the wiring on the wiring side.
  • a temperature of 280 ° C or higher is required to form a eutectic between gold and tin and achieve reliable bonding. Therefore, the temperature of the bonding surface is generally set to 300-400 ° C. Is done.
  • the laminated film with a copper layer is etched to a width of 2 mm with a ferric iron solution, and a 2 mm-wide metal layer is pulled at a tensile speed of 50 mm / min by "TOTEN BILWIN” "Tensilon” UTM-4-100.
  • the obtained monolayer was cut into a shape having a specific width, formed into a cylindrical shape, and subjected to 30-300 using a thermomechanical analyzer SS-6100 (manufactured by Seiko Instruments Inc.). The measurement was performed at a temperature range of ° C and a heating rate of 5 ° C / min. From the obtained measurement results, the average linear expansion coefficient at 30 to 300 ° C was calculated using the formula (2).
  • L30 is the sample length at 30 ° C
  • L300 is the sample length at 300 ° C.
  • PA1-8 polyamic acid resin solution
  • a bar coater so that it has the specified thickness
  • 10 minutes 80 ° C and 10 minutes at 150 ° C.
  • a heat treatment was performed at 280 ° C. for 1 hour in a nitrogen atmosphere, followed by heat curing.
  • the entire surface of the electrolytic copper foil was etched with a ferric chloride solution to obtain a single film of a heat-resistant resin layer.
  • a polyamide / epoxy / phenolic heat-resistant resin solution (EP1) was applied to the glossy surface of an electrolytic copper foil with a thickness of 18 ⁇ m with a bar coater so as to have a predetermined thickness.
  • the coating was dried at 120 ° C for 10 minutes for 10 minutes, and then heat-treated at 160 ° C for 1 hour for thermosetting.
  • the entire surface of the electrolytic copper foil was etched with a ferric chloride solution to obtain a single film of a heat-resistant resin layer.
  • Measurement was performed using a DSC-50 (manufactured by Shimadzu Corporation) (DSC method), and the glass transition temperature was calculated from the inflection point of the obtained DSC curve. After preliminary drying at 80 ° C for XI hours, the measurement was performed at a heating rate of 20 ° C / min.
  • PA1-8 polyamic acid resin solution
  • a bar coater so that it has the specified thickness
  • 10 minutes 80 ° C and 10 minutes at 150 ° C.
  • a heat treatment was performed at 280 ° C. for 1 hour in a nitrogen atmosphere, followed by heat curing.
  • the entire surface of the electrolytic copper foil was etched with a ferric chloride solution to obtain a single film of a heat-resistant resin layer.
  • a polyamide / epoxy / phenolic heat-resistant resin solution (EP1) was applied to the glossy surface of an electrolytic copper foil with a thickness of 18 ⁇ m with a bar coater so as to have a predetermined thickness.
  • the coating was dried at 120 ° C for 10 minutes for 10 minutes, and then heat-treated at 160 ° C for 1 hour for thermosetting.
  • the entire surface of the electrolytic copper foil was etched with a ferric chloride solution to obtain a single film of a heat-resistant resin layer.
  • SiDA l, 1,3,3-tetramethyl-1,3-bis (3-aminopropyl) disiloxane
  • DAE 4,4'diaminodiphenyl ether
  • NMP N-methyl-2-pyrrolidone
  • Polyamic acid resin Table 1 shows the coefficient of linear expansion, water absorption and glass transition temperature of the resin obtained by imidizing the solution (PA2-7).
  • Polyamide acid resin solution PA1 was treated with low-temperature plasma treatment in an argon atmosphere at low temperature, and a 25- ⁇ m-thick polyimide film (“Kapton” 100EN manufactured by Toray DuPont Co., Ltd., constituent components: PMDA / BPDA / DAE / PDA, 500 ° C or less with no clear glass transition point) Coating with a reverse coater so that the film thickness after drying becomes 3 m, 10 minutes at 80 ° C, and 10 minutes at 140 ° C And dried. The coated product was subjected to a heat treatment at 290 ° C. for 5 minutes in a nitrogen atmosphere to perform imidization and removal of a residual solvent, thereby obtaining a laminate of a polyimide film Z and a heat-resistant resin layer.
  • Kapton 100EN manufactured by Toray DuPont Co., Ltd., constituent components: PMDA / BPDA / DAE / PDA, 500 ° C or less with no clear glass transition point
  • a 12 ⁇ m-thick roughened copper foil TQ—VLP Mitsui Kinzoku ( And a roll laminator heated to a roll surface temperature of 380 ° C.
  • a 125 ⁇ m-thick polyimide film ("Kapton” 500 ⁇ Toray) was used as a protective film.
  • DuPont Co., Ltd. between the rolls and the polyimide film Z heat-resistant resin layer laminate and copper foil, respectively, and heat-press at a linear pressure of 70 N / mm at a speed of lm / min.
  • a laminated film with layers was obtained.
  • the warpage of the obtained laminated film with a single-sided copper layer was measured and found to be Omm.
  • the adhesive strength was 7 N / cm.
  • a laminated film with a single-sided copper layer was obtained in the same manner as in Example 1, except that the type and thickness of the polyimide film, copper foil, and heat-resistant resin layer were changed as shown in Table 2.
  • Table 2 summarizes the evaluation results of the warpage of the obtained laminated film with a copper layer on one side.
  • the polyimide film used here was Kapton "100EN (thickness 25 / zm) manufactured by Toray DuPont Co., Ltd., and" Upilex "25S manufactured by Ube Industries, Ltd.
  • the copper foil is a single-side roughened copper foil, TQ-VLP (12 m thick), manufactured by Mitsui Kinzoku Co., Ltd.
  • F1—WS thinness 12 m
  • FO-WS thinness 12 ⁇ m
  • Furukawa Circuit Oil Co., Ltd. which is a double-sided smooth copper foil.
  • a laminated film with a single-sided copper layer was obtained in the same manner as in Example 1, except that the type and thickness of the polyimide film, copper foil, and heat-resistant resin layer were changed as shown in Table 2.
  • Table 2 summarizes the evaluation results of the warpage of the obtained laminated film with a copper layer on one side.
  • Polyamide acid resin solution PA1 is roughened on the bonding side and roughened copper foil (T Q-VLP Mitsui Kinzoku Co., Ltd.) is 12 m thick. Reverse coater And dried at 80 ° C for 10 minutes and at 140 ° C for 10 minutes. The coated product was subjected to a heat treatment at 290 ° C. for 5 minutes in a nitrogen atmosphere to remove imidation and the remaining solvent, thereby obtaining a laminate of a copper foil Z heat-resistant resin layer A.
  • a polyamic acid resin solution PA7 was previously subjected to a low-temperature plasma treatment in an argon atmosphere at a low temperature of 25 ⁇ m to form a polyimide film ("Kapton" 100EN Toray DuPont) Was coated with a reverse coater so that the film thickness after drying was 1 ⁇ m, and dried at 80 ° C. for 10 minutes and further at 140 ° C. for 10 minutes.
  • the coated product was subjected to a heat treatment at 290 ° C. for 5 minutes in a nitrogen atmosphere to perform imidization and removal of a residual solvent, thereby obtaining a laminate of a polyimide film Z and a heat-resistant resin layer B.
  • the heat-resistant resin layer A and the heat-resistant resin layer B of the laminate of the copper foil Z heat-resistant resin layer A and the laminate of the polyimide film Z heat-resistant resin layer B prepared as described above were facing each other.
  • a 125 m thick polyimide film ("Kapton" 500H manufactured by Toray DuPont) was used as a protective film on a roll laminator heated to a roll surface temperature of 350 ° C. Heat-pressing at a linear pressure of 50 N / mm and a speed of 2 m / min., One side between the roll and the copper foil Z heat-resistant resin layer A laminate and polyimide film Z heat-resistant resin layer B laminate A laminated film with a copper layer was obtained. When the warpage of the obtained laminated film with a single-sided copper layer was measured, it was 0 mm. Further, the adhesive strength was lIN / cm.
  • Example 4 The same operation as in Example 4 was performed except that the type and thickness of the polyimide film, copper foil, heat-resistant resin layer A, and heat-resistant resin layer B were changed as shown in Table 3, except that a single-sided copper layer was provided. A laminated film was obtained. Table 3 summarizes the evaluation results of the warpage of the obtained laminated film with a copper layer on one side.
  • Example 4 The same operation as in Example 4 was performed except that the type and thickness of the polyimide film, copper foil, heat-resistant resin layer A, and heat-resistant resin layer B were changed as shown in Table 3, except that a single-sided copper layer was provided. A laminated film was obtained. Table 3 summarizes the evaluation results of the warpage of the obtained laminated film with a copper layer on one side.
  • Polyamide acid resin solution PA1 was roughened on the adhesive side with a roughened copper foil (T Q-VLP Mitsui Kinzoku Co., Ltd.) with a thickness of 12 m so that the film thickness after drying was 3 m.
  • a reverse coater was coated with a reverse coater and dried at 80 ° C for 10 minutes and further at 140 ° C for 10 minutes to obtain a laminate of a copper foil Z heat-resistant resin layer A.
  • a polyamic acid resin solution PA7 was preliminarily treated with a low-temperature plasma treatment in an argon atmosphere at a low temperature of 25 ⁇ m to form a polyimide film ("Kapton" 100EN Toray DuPont Co., Ltd.) Coated with a reverse coater so that the film thickness after drying becomes 1 ⁇ m, dried at 80 ° C for 10 minutes, and further dried at 140 ° C for 10 minutes to obtain a polyimide film Z heat-resistant resin layer A laminate of B was obtained.
  • a polyimide film (“Kapton” 100EN Toray DuPont Co., Ltd.)
  • the heat-resistant resin layer A and the heat-resistant resin layer B of the laminate of the copper foil Z heat-resistant resin layer A and the polyimide film Z heat-resistant resin layer B prepared above were facing each other. After applying heat and pressure at a linear pressure of 10 N / mm at a speed of lm / min using a roll laminator heated to a roll surface temperature of 200 ° C, further heat step cure under nitrogen atmosphere [(80 ° C, 30 min) + (150 ° C, 1 hour) + (280 ° C, 2 hours)], the heat-resistant resin layer was imidized, and gradually cooled to room temperature to obtain a laminated film with a single-sided copper layer. When the warpage of the obtained laminated film with a copper layer on one side was measured, it was Omm. The adhesive strength was 12 N / cm.
  • Example 10 The same operation as in Example 10 was performed except that the types and thicknesses of the polyimide film, copper foil, heat-resistant resin layer A, and heat-resistant resin layer B were changed as shown in Table 4, with a single-sided copper layer. A laminated film was obtained. Table 4 summarizes the evaluation results of the warpage of the obtained laminated film with a copper layer on one side.
  • Example 10 The same operation as in Example 10 was performed except that the types and thicknesses of the polyimide film, copper foil, heat-resistant resin layer A, and heat-resistant resin layer B were changed as shown in Table 4, with a single-sided copper layer. A laminated film was obtained. Table 4 summarizes the evaluation results of the warpage of the obtained laminated film with a copper layer on one side.
  • Example 4 The same operation as in Example 4 was performed except that the type and thickness of the polyimide film, copper foil, heat-resistant resin layer A, and heat-resistant resin layer B were changed as shown in Table 4, with a single-sided copper layer. Got a laminated film .
  • Table 4 summarizes the evaluation results of the warpage of the obtained laminated film with a copper layer on one side.
  • the polyamic acid resin solution PA1 was dried in a low-temperature plasma treatment in an argon atmosphere and dried on a 25 ⁇ m-thick polyimide film (“Kapton” 100EN manufactured by Toray DuPont). With a reverse coater and dried at 80 ° C for 10 minutes, and further at 140 ° C for 10 minutes, and then the polyamic acid resin solution PA6 is further dried. : Coated with a reverse coater so as to obtain Lm, and dried at 80 ° C for 10 minutes and further at 140 ° C for 10 minutes. The coated product was subjected to a heat treatment at 290 ° C. for 5 minutes in a nitrogen atmosphere to perform imidization and removal of a residual solvent, thereby obtaining a polyimide film, a heat-resistant resin layer AZ and a heat-resistant resin layer B laminate. Got.
  • the polyamic acid resin solution PA6 was roughened on the adhesive side with a roughened copper foil (TQ-VLP, Mitsui Kinzoku Co., Ltd.) with a thickness of 12 m. After coating with a reverse coater and drying at 80 ° C for 10 minutes and at 140 ° C for 10 minutes, the polyamic acid / resin solution PA1 was further dried to a thickness of 3 ⁇ m. m, and dried at 80 ° C for 10 minutes and further at 140 ° C for 10 minutes. The coated product was subjected to a heat treatment at 290 ° C. for 5 minutes in a nitrogen atmosphere to perform imidization and removal of a residual solvent to obtain a laminate of a copper foil Z heat-resistant resin layer BZ heat-resistant resin layer A. .
  • a polyamic acid resin solution PA7 was previously subjected to a low-temperature plasma treatment in an argon atmosphere at a low temperature of 25 ⁇ m to form a polyimide film ("Kapton" 100EN Toray DuPont) Coated with a reverse coater so that the film thickness after drying is 1 ⁇ m. It was dried for 0 minutes and further at 140 ° C for 10 minutes. The coated product was subjected to a heat treatment at 290 ° C. for 5 minutes in a nitrogen atmosphere to perform imidization and removal of a residual solvent, thereby obtaining a laminate of a polyimide film Z and a heat-resistant resin layer B.
  • the polyamic acid resin solution PA7 was roughened on the adhesive side with a 12 m thick roughened copper foil (manufactured by TQ-VLP Mitsui Kinzoku Co., Ltd.). After coating with a reverse coater and drying at 80 ° C for 10 minutes and at 140 ° C for 10 minutes, the polyamic acid / resin solution PA1 was further dried to a thickness of 3 ⁇ m. m, and dried at 80 ° C for 10 minutes and further at 140 ° C for 10 minutes to obtain a laminate of copper foil Z heat-resistant resin layer BZ heat-resistant resin layer A. .
  • a polyamic acid resin solution PA7 was previously subjected to a low-temperature plasma treatment in an argon atmosphere at a low temperature of 25 ⁇ m to form a polyimide film ("Kapton" 100EN Toray DuPont) Coated with a reverse coater so that the film thickness after drying becomes 1 ⁇ m, dried at 80 ° C for 10 minutes, and further dried at 140 ° C for 10 minutes to obtain a polyimide film Z heat-resistant resin layer A laminate of B was obtained.
  • a polyimide film (“Kapton” 100EN Toray DuPont) Coated with a reverse coater so that the film thickness after drying becomes 1 ⁇ m, dried at 80 ° C for 10 minutes, and further dried at 140 ° C for 10 minutes to obtain a polyimide film Z heat-resistant resin layer A laminate of B was obtained.
  • Polyamide acid resin solution PA1 was roughened on the bonding surface side to roughened copper foil (T Q-VLP Mitsui Kinzoku Co., Ltd.) with a thickness of 12 m so that the film thickness after drying was 5 m.
  • the resultant was coated with a reverse coater and dried at 80 ° C for 10 minutes and further at 140 ° C for 10 minutes.
  • the coated product was subjected to a heat treatment at 290 ° C. for 5 minutes in a nitrogen atmosphere to remove imidation and the remaining solvent, thereby obtaining a laminate of a copper foil Z heat-resistant resin layer A.
  • a polyamide / epoxy / phenolic heat-resistant resin solution (EP1) was subjected to low-temperature plasma treatment in an argon atmosphere, and a 25- ⁇ m-thick polyimide film ("Upilex") "25S Ube Industries, Ltd.), coated with a reverse coater so that the film thickness after drying is 2 / zm, dried at 80 ° C for 10 minutes, and further dried at 120 ° C for 10 minutes to obtain polyimide.
  • a laminate of film Z heat resistant resin layer B was obtained.
  • the heat-resistant resin layer A and the heat-resistant resin layer B of the laminate of the copper foil Z heat-resistant resin layer A and the laminate of the polyimide film Z heat-resistant resin layer B prepared above were facing each other. After applying heat and pressure at a linear pressure of 6 N / mm at a speed of lm / min with a roll laminator heated to a roll surface temperature of 140 ° C, a heating step cure [(80 ° C, 30 minutes) + (120 ° C) C, 1 hour) + (160 ° C, 2 hours)], and the heat-resistant resin layer B was thermally cured and gradually cooled to room temperature to obtain a laminated film with a single-sided copper layer. The warpage of the obtained laminated film with a single-sided copper layer was measured and found to be Omm. Further, the adhesive strength was lIN / cm.
  • Polyamide acid resin solution PA8 was roughened on the bonding surface side to roughened copper foil (T Q-VLP Mitsui Kinzoku Co., Ltd.) with a thickness of 12 m so that the film thickness after drying was 5 m.
  • a polyamide / epoxy / phenol-based heat-resistant resin solution (EP1) was preliminarily subjected to low-temperature plasma treatment in an argon atmosphere to form a 25- ⁇ m-thick polyimide film (“Capton®”). "100EN Toray Dupont Co., Ltd.) to make the dried film thickness 2 / zm Coating was performed in a single coater, and the coating was dried at 80 ° C. for 10 minutes and further at 120 ° C. for 10 minutes to obtain a laminate of a polyimide film Z and a heat-resistant resin layer B.
  • a photoresist film was applied on a copper layer of the laminated film with a copper layer obtained in Example 1 so as to have a thickness of 4 m after drying by a reverse coater, dried, exposed to a mask, and exposed to an alkaline developing solution.
  • the copper foil was wet-etched with an aqueous solution of a second salt / iron.
  • the remaining photoresist film was removed to form a copper wiring pattern.
  • electroless plating of 0.4 m of tin on the formed copper wiring pattern a solder resist was applied on the wiring pattern to obtain a COF tape.
  • the obtained COF tape was not warped.
  • a semiconductor chip having gold bumps formed thereon was bonded to the inner leads of the COF tape obtained by the above method by flip-chip mounting, and sealed with a resin to obtain a semiconductor device. Since the COF tape has no warpage, the semiconductor device, which has few defects due to bonding defects, has shown good reliability.
  • Example 22 The same operation as in Example 20 was performed except that the laminated film with a copper layer obtained in Example 6 was used. There is no warpage in the COF tape. The semiconductor device fabricated from now on showed good reliability without wiring short-circuit.
  • Example 22
  • Example 20 The same operation as in Example 20 was performed except that the laminated film with a copper layer obtained in Example 13 was used. There is no warpage in the COF tape. The semiconductor device fabricated from now on showed good reliability without short-circuiting of the wiring.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Macromolecular Compounds Obtained By Forming Nitrogen-Containing Linkages In General (AREA)
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Abstract

 ポリイミドフィルムなどの耐熱性絶縁フィルムに耐熱性樹脂層を積層した耐熱性樹脂積層フィルムにおいて、反りの無い耐熱性樹脂積層フィルム、及び耐熱性絶縁フィルムと金属箔を耐熱性樹脂層を介して積層した金属層付き積層フィルムにおいて、配線パターンを形成した状態で、反りの無い金属層付き積層フィルムが開示されている。耐熱性樹脂積層フィルムは、耐熱性絶縁フィルムの少なくとも片面に耐熱性樹脂層を積層した耐熱性樹脂積層フィルムであって、耐熱性樹脂層の線膨張係数kA(ppm/°C)が、k−10≦kA≦k+20(k:耐熱性絶縁フィルムの線膨張係数)の範囲にある。金属層付き積層フィルムは、耐熱性樹脂積層フィルムの耐熱性樹脂層側に金属箔を積層したものである。

Description

明 細 書
耐熱性樹脂積層フィルム並びにこれを含む金属層付き積層フィルム及び 半導体装置
技術分野
[0001] 本発明は、耐熱性榭脂積層フィルム並びにこれを含む金属層付き積層フィルム及 び半導体装置に関する。より詳細には、本発明は、電子工業分野で広く使用されて
V、るフレキシブルプリント配線基板 (FPC)用の金属層付き積層フィルムの製造方法 に関するものであり、半導体集積回路 (IC)の実装方法であるテープオートメ一テッド ボンディング (TAB)、チップオンフィルム (COF)などで使用される金属層付き積層 フィルム及びこれを用いた半導体装置、金属層付き積層フィルムの製造方法に関す る。
背景技術
[0002] 近年、電子機器の小型 ·軽量ィ匕の進展が加速している。半導体集積回路において も高密度化、高性能化が進み、これにともない FPCに対しても配線パターンの微細 ィ匕、高性能化が求められている。
[0003] 従来、半導体集積回路の実装方式には TABが用いられており、 TAB用の FPC用 基板としては、ポリイミドフィルムなどの可撓性を有する耐熱性絶縁フィルムにェポキ シ系榭脂などの接着剤層を介して銅箔を張り合わせた「3層型ラミネート」品が用いら れてきた。
[0004] TABでは ICを実装するインナーリードがフライングリード構造であるため、リードの 細幅化に伴う強度低下や銅箔厚みの低減力 40 μ mピッチ程度が微細化の技術的 限界とされており、これに代わってインナーリードが耐熱性絶縁フィルム上に形成され 、フリップチップ (FC)技術により実装される COF方式が普及しつある。 TABではフラ イングリード構造の銅配線に直接 ICを接合して ヽたが、 COFでは耐熱性絶縁フィル ム上にある銅配線に ICを接合するため、接合時の熱が耐熱性絶縁フィルムにもかか ることになる。
[0005] 従来、 TABや一般の FPCに用いられた「3層型ラミネート」品の接着剤はエポキシ 系榭脂、フ ノール系榭脂、アクリロニトリル系榭脂、ブタジエン系榭脂などで、その 耐熱性が耐熱性絶縁フィルムに用いるポリイミドに対して劣るため、ポリイミドフィルム の優れた特性が十分に活かされない。特に、 COF方式での ICのボンディングは、錫 メツキした配線と ICの金バンプを一括でボンディング (金 錫共晶でのギャングボンデ イング)する方式をとることが多ぐ該方式ではボンディングの際に力かる熱、圧力が 直接接着剤層に力かることになる。一般的には 300— 400°Cの熱がかかり、 ICを押し 込む圧力も、配線と金バンプを均一に接合するために、 1バンプあたり 0. 2-0. 3N の圧力がかかる。上記榭脂を接着剤層に用いた FPC基板は、このような条件でボン デイングを行うと、接着剤層の熱分解などが起こって配線が接着剤層中に大きく沈み 込み、断線するなどの問題がおこる。また、上記榭脂中には不純物イオンが含まれる ため、絶縁信頼性が低下する問題もあるので、 COF用の材料としては不適当である
[0006] 現在、 COF用の FPC基板としては、接着剤を用いない「2層型」が広く用いられて おり、「2層型」には、ポリイミドフィルムなどの耐熱性絶縁フィルム上に真空蒸着、スパ ッタリング、イオンプレーティング、メツキなどの方法で導電性金属層を形成させた「2 層型メツキ」品、銅箔に榭脂をコーティングして耐熱性絶縁層を形成する「2層型キヤ スト」品がある。
[0007] 「2層型メツキ」品は基材である耐熱性絶縁フィルム上に直接銅などの金属層を形 成するため、基材の種類や金属層の厚さを自由に変えることができる力 金属層との 接着性が低いという問題がある。また、ピンホールなどができやすぐ生産性が上がり にく 、ためにコストが高 、と 、う問題もある。「2層型キャスト」品は金属層との接着性 は高いが、銅箔に耐熱性榭脂層を塗工して形成するため、銅箔が薄くなると乾燥'硬 化時の体積収縮や熱収縮により銅箔に皺や波打ちが入るなど、品質上での問題が 有り、特に銅箔の厚さが 12 m以下になると操作性がさらに悪くなり、生産性が低下 する問題がある。
[0008] 近年、「3層型ラミネート」品において接着剤層にポリイミド系榭脂を用いたものが検 討されている。「3層型ラミネート」品は市販の銅箔とポリイミドなどのフィルム基材を接 着剤層を介して張り合わせて製造するので、コスト的に有利である。 [0009] これまでは剛直な構造を有するポリイミド榭脂をコア部とし、その表面に熱可塑性ポ リイミド榭脂を積層した芳香族ポリイミドの多層フィルムに銅箔などの金属箔を加熱圧 着して積層した「疑似 2層品」と言われる FPC用基板が提案されて ヽる(例えば特許 文献 2参照)。これら FPC用基板は金属箔との高い接着力を有するが、いずれも 両面銅張り品でしか用いられていない。片面銅張り品では、銅層をエッチングした状 態、つまり配線パターンを形成した状態で基板の反りが大きく出るという問題がある。 また、両面銅張り品であっても、コア部のポリイミド榭脂層の両面に形成した熱可塑性 ポリイミド榭脂層の膜厚に差があると、反りが発生する。
[0010] また、ポリイミドフィルムの一方の面に熱可塑性ポリイミド榭脂層を介してに金属層を 積層し、その反対側のポリイミドフィルム面に耐熱性ポリイミド層を設けた FPC用基板 が提案されている(例えば特許文献 3、 4参照)。これらの構成をとることにより銅層ェ ツチング後の基板の反りを抑えることができるが、工程が増えるなど生産性において 問題となる。
[0011] 特許文献 1 :特開平 9 99518号公報 (第 2— 7頁)
特許文献 2:特開 2002-114848号公報 (第 6— 8頁)
特許文献 3:特開平 9-148695号公報 (第 2-7頁)
特許文献 4:特開 2000-96010号公報 (第 3-7頁)
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0012] 力かる状況に鑑み、本発明の目的は、ポリイミドフィルムなどの耐熱性絶縁フィルム に耐熱性榭脂層を積層した耐熱性榭脂積層フィルムにおいて、反りの無い耐熱性榭 脂積層フィルムを提供することであり、また、耐熱性絶縁フィルムと金属箔を耐熱性榭 脂層を介して積層した金属層付き積層フィルムにお 、て、銅層をエッチングした状態 、つまり配線パターンを形成した状態で、反りの無い金属層付き積層フィルム、及び これを用いた信頼性の高 、半導体装置を提供することである。
課題を解決するための手段
[0013] すなわち本発明は、耐熱性絶縁フィルムの少なくとも片面に耐熱性榭脂層を積層し た耐熱性榭脂積層フィルムであって、耐熱性榭脂層の線膨張係数 kA(ppm/°C)が 、 k 10≤ kA≤ k+ 20 (k:耐熱性絶縁フィルムの線膨張係数)の範囲にある耐熱性 榭脂積層フィルムであり、さらに該耐熱性榭脂積層フィルムの耐熱性榭脂層側に金 属箔を積層した金属層付き積層フィルムを提供する。また、本発明は、耐熱性絶縁フ イルムの少なくとも片面に耐熱性榭脂層を積層した耐熱性榭脂積層フィルムであって 、耐熱性榭脂層が 2層以上の耐熱性榭脂層から構成されており、そのうちの少なくと も 1層の耐熱性榭脂層の線膨張係数 kA (ppm/°C)力 k-10≤ kA≤ k+ 20 (k:耐 熱性絶縁フィルムの線膨張係数)である請求項 1記載の耐熱性榭脂積層フィルムを 提供する。さらに、本発明は、上記本発明の耐熱性榭脂積層フィルムの耐熱性榭脂 層側に金属箔を積層した金属層付き積層フィルムを提供する。さらに、本発明は、上 記本発明の金属層付き積層フィルムを含む半導体装置を提供する。さらに、本発明 は、耐熱性絶縁フィルムの少なくとも片面に耐熱性榭脂層を介して金属箔を積層して なる金属層付き積層フィルムの製造方法であって、金属箔に線膨張係数 kA (ppm/ °C)が k-10≤ kA≤k+ 20 (k:耐熱性絶縁フィルムの線膨張係数)の範囲にある耐 熱性榭脂層を含む、少なくとも 1層の耐熱性榭脂層を積層する工程と、該金属箔 Z 耐熱性榭脂層積層体と、必要により少なくとも 1層の耐熱性榭脂層を積層した耐熱性 絶縁フィルムとを張り合わせ、加熱圧着する工程とを有する金属層付き積層フィルム の製造方法を提供する。さらに、本発明は、耐熱性絶縁フィルムの少なくとも片面に 耐熱性榭脂層を介して金属箔を積層してなる金属層付き積層フィルムの製造方法で あって、耐熱性絶縁フィルムに線膨張係数 kA (ppm/°C)が k-10≤kA≤k+ 20 (k: 耐熱性絶縁フィルムの線膨張係数)の範囲にある耐熱性榭脂層を含む、少なくとも 1 層の耐熱性榭脂層を積層する工程と、該耐熱性絶縁フィルム,耐熱性榭脂層積層 体と、必要により少なくとも 1層の耐熱性榭脂層を積層した金属箔とを張り合わせ、加 熱圧着する工程とを有する金属層付き積層フィルムの製造方法を提供する。
発明の効果
本発明によれば、ポリイミドフィルムなどの耐熱性絶縁フィルムに耐熱性榭脂層を積 層した耐熱性榭脂積層フィルムにおいて反りが無ぐまた、ポリイミドフィルムなどの耐 熱性絶縁フィルムと金属箔を耐熱性榭脂層を介して積層した金属層付き積層フィル ムにおいて、銅層をエッチングした状態、つまり配線パターンを形成して FPC基板と したときに、反りの無い FPC基板を得ることができる。さらに、本発明の金属層付き積 層フィルムを使用することにより、信頼性の高い半導体装置を提供できる。
図面の簡単な説明
[0015] [図 1]本発明のプリント回路用基板の一態様を示した概略図である。
[図 2]本発明のプリント回路用基板の一態様を示した概略図である。
[図 3]本発明のプリント回路用基板の一態様を示した概略図である。
[図 4]本発明で使用できるロールラミネーターの一態様を示した概略図である。
[図 5]本発明で使用できるロールラミネーターの他の態様を示した概略図である。 発明を実施するための最良の形態
[0016] 本発明の耐熱性榭脂積層フィルムは、耐熱性絶縁フィルムの少なくとも片面に耐熱 性榭脂層を積層したものであり、耐熱性榭脂層の線膨張係数 kA(ppm/°C)が、 k 1 0≤kA≤k+ 20 (k:耐熱性絶縁フィルムの線膨張係数)の範囲にあるものである。ま た耐熱性榭脂層は 2層以上であってもよぐその場合、線膨張係数が kA(ppm/°C) 力 k 10≤kA≤k+ 20を満たす榭脂層が少なくとも 1層あれば良い。本明細書に おいて、線膨張係数 kA(ppm/。C)が、 k-10≤kA≤k+ 20 (k:耐熱性絶縁フィルム の線膨張係数)の範囲にある耐熱性榭脂層を、「耐熱性榭脂層 A」と呼ぶことがある。
[0017] 耐熱性榭脂層 Aの線膨張係数をポリイミドフイルムなどの耐熱性絶縁フィルムの線 膨張係数に整合させることにより耐熱性榭脂積層フィルムの反りを抑制でき、耐熱性 榭脂層 Aの線膨張係数 kA(ppm/°C)は、 k 10以上、好ましくは k 7以上、さらに好 ましくは k-5以上、また、 k+ 20以下、好ましくは k+ 15以下、さらに好ましくは k+ 10 以下である (k:耐熱性絶縁フィルムの線膨張係数)。線膨張係数 kAが k-10以下に なると、耐熱性榭脂積層フィルムは耐熱性絶縁フィルムを凹にして反りが発生し、逆 に、 k+ 20以上になると、耐熱性榭脂層 Aを凹にして反りが発生する。
[0018] また、 FPC基板用の金属層付き積層フィルムとして用いる場合には寸法安定性が 良いことが求められるため、耐熱性絶縁フィルムには線膨張係数の低いものが用いら れ、その線膨張係数 (k)は 5— 25ppm/°C、さらには 10— 20ppm/°Cである。したが つて、このときの耐熱性榭脂層 Aの線膨張係数 kAは 5— 30ppm/°C、好ましくは 8— 25ppm/°C、さらに好ましくは 11一 23ppm/°Cである。 [0019] 線膨張係数には熱膨張係数、湿度膨張係数などがあるが、本発明における線膨張 係数は熱膨張係数である。線膨張係数は熱機械分析装置を用いた測定法 (TMA法 )で測定することができ、 30°C力も 300°C、 50°C力も 200°C、 100°Cから 300°Cなど、 あらゆる温度範囲での線膨張係数を測定することができる。
[0020] 本発明における線膨張係数は基準温度力 測定温度までの平均線膨張係数であ り、計算式(1)から算出されるものである。
平均線膨張係数 = (1/L) X [ (Lt-LO) / (Tt-TO) ] (1)
ここで、 TO :基準温度、 Tt:設定温度、 L:サンプル長、 LO :基準温度でのサンプル長 、 Lt :設定温度でのサンプル長である。
[0021] また、本発明において基準温度は 25— 35°Cの室温であり、室温から 100°C、また は 200°C、 300°Cなどのそれぞれの温度範囲での耐熱性榭脂層 Aの線膨張係数 kA (ppm/°C)力 k-10≤ kA≤ k+ 20 (k:耐熱性絶縁フィルムの線膨張係数)の範囲 にあることが好ましい。耐熱性榭脂積層フィルム、該耐熱性榭脂積層フィルムを用い た金属層付き積層フィルムの製造工程、または該金属層付き積層フィルムの使用条 件で 300°C前後の温度が力かることがあるので、室温から 300°Cの温度範囲での線 膨張係数 kAが上記範囲にあることが特に好ましい。
[0022] 本発明において使用される耐熱性榭脂層 Aには、アクリル系榭脂、ポリイミド系榭脂 、ポリアミド系榭脂、ポリアミドイミド系榭脂、ポリエーテルイミド系榭脂、ポリエーテノレス ルホン系榭脂、ポリスルホン系榭脂などを用いることができ、上記榭脂を単独で用い てもよく、また、 2種以上を混合して用いても良い。耐熱性、絶縁信頼性、接着性の点 から、ポリイミド系榭脂が好ましく用いられる。
[0023] ポリイミド系榭脂とは、その前駆体であるポリアミド酸またはそのエステルイ匕合物をカロ 熱あるいは適当な触媒により、イミド環や、その他の環状構造を形成した高分子榭脂 である。
[0024] 耐熱性榭脂層 Aに用いるポリイミド系榭脂には、ジァミン成分に一般式(1)一(3)で 表される構造を有する芳香族ジァミンを全ジァミン成分中の 40モル%以上、好ましく は 50モル%以上、さらに好ましくは 60モル%以上含有する。上記芳香族ジァミンの 含有量が 40モル%未満だと、線膨張係数が大きくなり、耐熱性榭脂積層フィルムな どにおいて反りが発生する。
[0025] [化 1]
Figure imgf000009_0001
[0026] (式中 R1— R°は同じでも異なっていても良ぐ水素原子、炭素数 1一 30のアルキル基 、炭素数 1一 30のアルコキシ基、ハロゲン、水酸基、カルボキシル基、スルホン基、二 トロ基、シァノ基力 選ばれる。)
[0027] 上記芳香族ジァミンの具体例としては、 p フエ-レンジァミン、 m フエ-レンジアミ ン、 2,5—ジァミノトルエン、 2,4—ジァミノトルエン、 3, 5—ジァミノ安息香酸、 2, 6—ジァ ミノ安息香酸、 2—メトキシー 1, 4 フエ-レンジァミン、 2—ヒドロキシー 1, 4 フエ-レン ジァミン、 2 クロロー 1, 4 フエ二レンジァミン、 2—二トロー 1, 4 フエ二レンジァミン、 2 —シァノ一 1, 4 フエ-レンジァミン、 2, 5—ジアミノスルフォニックアシッド、 4, 4,ージァ ミノべンズァユリド、 3, 4,ージァミノべンズァユリド、 3, 3,ージァミノべンズァユリド、 3, 3,—ジメチル— 4, 4しジァミノベンズァ-リド、 3—メトキシ— 4, 4,—ジァミノベンズァ- リド、ベンジジン、 2, 2,ージメチルベンジジン、 3, 3,ージメチルベンジジン、 3, 3,ージ メトキシベンジジン、 3, 3,ージクロ口べンジジンなどが挙げられる。
[0028] また、 2, 4—ジァミノピリジン、 2, 6—ジァミノピリジンなどの単環式芳香族複素環系 ジァミン、 1, 5—ジァミノナフタレン、 2, 7—ジァミノフルオレンなどの多環式芳香族系 ジァミンなどを用いることもできる。上記ジァミンの中では、 p—フエ-レンジァミン、 4, 4,ージァミノベンズァ-リド、 2, 2,ージメチルベンジジンが好ましく用いられる。
[0029] 本発明においては、上記ジァミンと併用して一般式 (4)で表されるシロキサン系ジ アミンを用いることにより、得られるポリイミド系榭脂の吸水率を低くすることができる。 ただし、シロキサン系ジァミンを添加すると線膨張係数が急激に大きくなるので、その 添力卩量は全ジァミン成分に対して 0. 1— 10モル0 /0、好ましくは 0. 5— 8モル0 /0、さら に好ましくは 1一 6モル0 /0である。
[0030] [化 2]
R13 R15
I I
H2N— Rii— (SiO) n— Si— R12— NH2 (4)
Figure imgf000010_0001
[0031] (ただし、一般式 (4)の nは 1一 30の整数を示す。また、 R11および R12は、それぞれ同 一または異なっていてよぐ低級アルキレン基またはフエ-レン基を示す。 R13— R16 は、それぞれ同一または異なっていてよぐ低級アルキル基、フエニル基またはフエノ キシ基を示す。 )
[0032] またこのとき耐熱性榭脂層 Aの吸水率は 1. 5%以下、好ましくは 1. 3%以下、さら に好ましくは 1. 2%以下である。吸水率が 1. 5%以上になると、湿度膨張により反り が発生したり、または絶縁信頼性が低下する。
[0033] 一般式 (4)で表されるシロキサン系ジァミンは長鎖のものを用いると反応性が悪くな るため、ポリマーの重合度が低くなり、耐熱性などが悪くなるので好ましくない。一般 式 (4)中の nの数は 1一 30、好ましくは 1一 15、さらに好ましくは 1一 5の範囲である。
[0034] 一般式 (4)で表されるシロキサン系ジァミンの具体例としては、 1, 1, 3, 3—テトラメ チルー 1, 3—ビス(4—ァミノフエ-ル)ジシロキサン、 1, 1, 3, 3—テトラフエノキシ一 1, 3 —ビス(4—アミノエチル)ジシロキサン、 1, 1, 3, 3, 5, 5—へキサメチルー 1, 5 ビス(4 —ァミノフエ-ル)トリシロキサン、 1, 1, 3, 3—テトラフエ-ル— 1, 3—ビス(2—アミノエチ ノレ)ジシロキサン、 1, 1, 3, 3—テトラフエ-ルー 1, 3 ビス(3—ァミノプロピル)ジシロキ サン、 1, 1, 5, 5—テトラフエ-ルー 3, 3—ジメチルー 1, 5 ビス(3—ァミノプロピル)トリ シロキサン、 1, 1, 5, 5—テトラフエ二ルー 3, 3—ジメトキシー 1, 5 ビス(4 アミノブチ ル)トリシロキサン、 1, 1, 5, 5—テトラフエ-ルー 3, 3—ジメトキシー 1, 5 ビス(5—ァミノ ペンチル)トリシロキサン、 1, 1, 3, 3—テトラメチルー 1, 3—ビス(2—アミノエチル)ジシ ロキサン、 1, 1, 3, 3—テトラメチルー 1, 3 ビス(3—ァミノプロピル)ジシロキサン、 1, 1, 3, 3—テトラメチルー 1, 3 ビス(4—アミノブチル)ジシロキサン、 1, 3—ジメチルー 1 , 3—ジメトキシー 1, 3 ビス(4 アミノブチル)ジシロキサン、 1, 1, 5, 5—テトラメチルー 3, 3—ジメトキシー1, 5—ビス(2—アミノエチル)トリシロキサン、 1, 1, 5, 5—テトラメチ ルー 3, 3—ジメトキシー 1, 5—ビス(4—アミノブチル)トリシロキサン、 1, 1, 5, 5—テトラメ チルー 3, 3—ジメトキシー 1, 5—ビス(5—ァミノペンチル)トリシロキサン、 1, 1, 3, 3, 5 , 5 キサメチルー 1, 5 ビス(3—ァミノプロピル)トリシロキサン、 1, 1, 3, 3, 5, 5— へキサェチルー 1, 5—ビス(3—ァミノプロピル)トリシロキサン、 1, 1, 3, 3, 5, 5 キ サプロピル 1, 5 ビス(3—ァミノプロピル)トリシロキサンなどが挙げられる。上記シロ キサン系ジァミンは単独でも良く、 2種以上を混合して使用しても良 、。
また、本発明においては、脂肪族ジァミン、環状炭化水素を含む脂環式ジァミン、 上記以外の芳香族ジァミンなどを併用して用いることができ、その具体例としては、 1, 3—ジアミノシクロへキサン、 1,4—ジアミノシクロへキサン、 4,4'ーメチレンビス(シクロへ キシルァミン)、 3, 3'—メチレンビス(シクロへキシルァミン)、 4,4'—ジァミノ— 3, 3'—ジ メチルジシクロへキシルメタン、 4,4'ージァミノ— 3, 3'—ジメチルジシクロへキシル、 p— ァミノベンジルァミン、 m—ァミノベンジルァミン、 4,4'—ジアミノジフエ二ルエーテル、 3 ,3'—ジアミノジフエニルエーテル、 3,4'—ジアミノジフエニルエーテル、 4,4'—ジァミノ ジフエニルスルホン、 3,3'—ジアミノジフエニルスルホン、 3, 3'—ジアミノジフエニルメタ ン、 4,4'—ジアミノジフエ-ルメタン、 4,4'—ジアミノジフエ-ルサルファイド、 3, 3,ージ ァミノべンゾフエノン、 3, 4,ージァミノべンゾフエノン、 4, 4,ージァミノべンゾフエノン、 3 ,3'—ジメチルー 4,4'ージアミノジフエ-ルメタン、 4,4'—ビス(4—アミノフエノキシ)ビフ ェ -ル、 2, 2 ビス [4— (4—アミノフエノキシ)フエ-ル]プロパン、 2,2—ビス [4— (3 アミ ノフエノキシ)フエ-ル]プロパン、ビス [4— (4 アミノフエノキシ)フエ-ル]メタン、ビス [ 4— (3—アミノフエノキシ)フエ-ル]メタン、ビス [4— (4ーアミノフエノキシ)フエ-ル]ェ 一テル、ビス [4— (3—アミノフエノキシ)フエ-ル]エーテル、ビス [4— (4ーァミノフエノキ シ)フエ-ル]スルホン、ビス [4— (3—アミノフエノキシ)フエ-ル]スルホン、 2,2 ビス [ 4— (4 アミノフエノキシ)フエ-ル]へキサフルォロプロパン、 9, 9 ビス(4ーァミノフエ -ル)フルオレン、 9, 9 ビス(3—ァミノフエ-ル)フルオレンなどが挙げられる。
[0036] 耐熱性榭脂層 Aに用いるポリイミド系榭脂には、テトラカルボン酸成分にピロメリット 酸二無水物、 3, 3 4,4'ービフエ-ルテトラカルボン酸二無水物、 2,3, 3' ,4'—ビフエ -ルテトラカルボン酸二無水物、 2,2 3, 3'—ビフエ-ルテトラカルボン酸二無水物、 3,4,9, 10—ペリレンテトラカルボン酸二無水物、 2, 3, 6, 7 ナフタレンテトラカルボン 酸二無水物、 1, 4, 5, 8 ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、 1,2,5,6 ナフタレ ンテトラカルボン酸二無水物、 3,3 4,4 パラターフェ-ルテトラカルボン酸二無 水物、 3, 3 4,4 メタターフェ-ルテトラカルボン酸二無水物、 2, 3, 6, 7—アント ラセンテトラカルボン酸二無水物、 1, 2, 7, 8 フエナントレンテトラカルボン酸二無水 物を全テトラカルボン酸成分中の 40モル%以上、好ましくは 50モル%以上、さらに 好ましくは 60モル%以上含有する。これらは単独あるいは 2種以上を混合して、用い ることができる。上記テトラカルボン酸成分の中でも、ピロメリット酸二無水物、 3,3^ ,4, 4'ービフエニルテトラカルボン酸二無水物が特に好ましい。
[0037] その他、併用できるテトラカルボン酸成分としては、環状炭化水素を持つ脂環式テ トラカルボン酸二無水物、上記以外の芳香族テトラカルボン酸二無水物などがあり、 その具体例としては、 2,3,5—トリカルボキシシクロペンチル酢酸二無水物、 1,2,3,4— シクロブタンテトラカルボン酸二無水物、 1,2,3,4—シクロペンタンテトラカルボン酸二 無水物、 1,2,3, 5—シクロペンタンテトラカルボン酸二無水物、 1,2,4,5—ビシクロへキ センテトラカルボン酸二無水物、 1,2,4,5—シクロへキサンテトラカルボン酸二無水物 1, 3, 3a,4,5, 9b—へキサヒドロ一 5— (テトラヒドロ一 2,5—ジォキソ一 3—フラ -ル) ナフト [ 1 , 2— C]フラン 1 , 3—ジオン、 3,3' ,4,4' ンゾフエノンテトラカルボン酸二無水物 2,2 3, 3' ンゾフエノンテトラカルボン酸二無水物、 2,3,3' ,4' ンゾフエノン テトラカルボン酸二無水物、 3, 3 4,4'ージフエ-ルエーテルテトラカルボン酸二無水 物、 2,3,3' ,4'—ジフエ-ルエーテルテトラカルボン酸二無水物、 3,3 4,4'ービフエ -ルトリフルォロプロパンテトラカルボン酸二無水物、 3, 3 4,4'ージフエ-ルスルホン テトラカルボン酸二無水物、 4,4 '—(へキサフルォロイソプロピリデン)ジフタル酸無水 物などが挙げられる。
[0038] 本発明で用いるポリイミド系榭脂の分子量の調節は、テトラカルボン酸成分及びジ ァミン成分を等モルにする、または、いずれかを過剰にすることにより行うことができる 。テトラカルボン酸成分またはジァミン成分のどちらかを過剰とし、ポリマー鎖末端を 酸成分またはァミン成分などの末端封止剤で封止することもできる。酸成分の末端封 止剤としてはジカルボン酸またはその無水物が好ましく用いられ、ァミン成分の末端 封止剤としてはモノアミンが好ましく用いられる。このとき、酸成分またはァミン成分の 末端封止剤を含めたテトラカルボン酸成分の酸当量とジァミン成分のァミン当量を等 モルにすることが好ましい。
[0039] テトラカルボン酸成分を過剰あるいはジァミン成分を過剰になるようにモル比を調整 した場合は、安息香酸、無水フタル酸、テトラクロ口無水フタル酸、ァ-リンなどのジカ ルボン酸またはその無水物、モノアミンを末端封止剤として添加しても良い。
[0040] 本発明にお 、て、ポリイミド系榭脂のテトラカルボン酸成分 Zジァミン成分のモル比 は、通常 100Z100とする力 榭脂溶液の粘度が高くなりすぎる場合は 100Z100—
95、あるいは 100— 95Z100の範囲でテトラカルボン酸成分 Zジァミン成分のモル ノ《ランスを崩して調整し、榭脂溶液の粘度が塗工性などに問題の出ない範囲に入る ようにするのが好ましい。ただし、モルバランスを崩していくと、榭脂の分子量が低下 して硬化後の膜の強度が低くなり、金属層、耐熱性絶縁フィルムとの接着力も弱くな る傾向にあるので、接着力が弱くならな 、範囲でモル比を調整するのが好ま 、。
[0041] 本発明にお 、て、ポリイミド系榭脂の前駆体の一つであるポリアミド酸は公知の方法 によって合成される。例えば、テトラカルボン酸成分とジァミン成分を選択的に組み合 わせ、上記所定のモル比で、溶媒中で 0— 80°Cで反応させることにより合成すること ができる。このときポリマー鎖末端を封止するためのモノアミン、ジカルボン酸または その無水物は、テトラカルボン酸二無水物、ジァミンと同時に仕込んで反応させても 良ぐまた、テトラカルボン酸二無水物、ジァミンを反応させ、重合した後に添加して 反応させても良い。
[0042] ポリアミド酸合成の溶媒としては、例えば、 N-メチル -2-ピロリドン、 N, N-ジメチ ルァセトアミド、 N, N—ジメチルホルムアミドなどのアミド系極性溶媒、また、 13 プロピ 才ラクトン、 γ ブチロラタトン、 γ ノ レ口ラタトン、 δ ノ レ口ラタトン、 γ—力プロラクト ン、 ε—力プロラタトンなどのラタトン系極性溶媒、他には、メチルセ口ソルブ、メチルセ ルソルブアセテート、ェチルセ口ソルブ、ェチルセルソルブアセテート、メチルカルビト ール、ェチルカルビトール、ジエチレングリコールジメチルエーテル(ジグライム)、乳 酸ェチルなどを挙げることができる。これらは単独で用いても良いし、 2種以上を混合 して用いても良い。ポリアミド酸の濃度としては、通常 5— 60重量%が好ましぐさらに 好ましくは 10— 40重量%である。
[0043] 本発明において、耐熱性榭脂層 Αに使用する榭脂には、本発明の効果を損なわな い範囲で、その他の榭脂ゃ充填材を添加することができる。その他の榭脂としては、 アクリル系榭脂、アクリロニトリル系榭脂、ブタジエン系榭脂、ウレタン系榭脂、ポリエ ステル系榭脂、ポリアミド系榭脂、ポリアミドイミド系榭脂、ポリエーテルイミド系榭脂、 エポキシ系榭脂、フエノール系榭脂、ポリスルホン系榭脂、ポリエーテルスルホン系榭 脂などの耐熱性高分子榭脂が挙げられる。充填材としては、有機あるいは無機から なる微粒子、フィラーなどが挙げられる。微粒子、フィラーの具体例としては、シリカ、 アルミナ、酸化チタン、石英粉、炭酸マグネシウム、炭酸カリウム、硫酸バリウム、マイ 力、タルクなどが挙げられる。通常、これらの耐熱性高分子榭脂ゃ充填材の含量の合 計は、耐熱性榭脂層 A全体の重量に対して 60%以下、好ましくは 20%以下、最も好 ましくは 0%である。
[0044] 耐熱性榭脂層 Aのガラス転移温度は 250— 400°C、好ましくは 260— 380°C、さら に好ましくは 280— 350°Cである。線膨張係数はガラス転移温度を超えると変化量が 大きくなるため、ガラス転移温度が 250°C以下だと、室温から 300°Cでの線膨張係数 が大きくなりすぎてしまう。また、ガラス転移温度が 400°C以上になると接着性が悪く なる。
[0045] 本発明における耐熱性榭脂層 Aのガラス転移温度の測定も種々の測定方法を用 いることができる。例えば、示差走査熱量分析装置を用いた測定法 (DSC法)、熱機 械的分析装置を用いた測定法 (TMA法)、動的熱機械測定装置を用いた動的粘弾 性測定法(DMA法)が挙げられる。 DMA法では、 tan δの極大値がガラス転移温度 として表される。
[0046] 耐熱性榭脂層 Αの厚さは特に限定されないが、通常 0. 2— m、好ましくは 0.
5— 10 μ m、さらに好ましくは 1一 7 μ mである。
[0047] 本発明で用いる耐熱性絶縁フィルムは耐熱性高分子が使用され、例えば、芳香族 ポリイミド系榭脂、ポリフエ-レンサルファイド系榭脂、芳香族ポリアミド系榭脂、ポリア ミドイミド系榭脂、芳香族ポリエステル系榭脂などであり、具体的な製品としては、東レ •デュポン (株)製"カプトン"、宇部興産 (株)製"ユーピレックス"、鐘淵化学工業 (株) 製 "アビカル"、東レ (株)製"ミクトロン"、(株)クラレ製 "ベタスター"などが挙げられる。 これらの中でも、芳香族ポリイミド系榭脂が特に好ましく用いられる。なお、耐熱性絶 縁フィルムのガラス転移温度は、特に限定されないが、通常、 300°C以上、好ましく は 400°C以上である。 500°C以下に明瞭なガラス転移点を有しないものがより好まし い。
[0048] 耐熱性絶縁フィルムの厚みは特に限定されないが、好ましくは 3— 150 m、より好 ましくは 5— 75 μ m、特に好ましくは 10— 50 μ mである。 3 μ mを下回ると支持体とし ての強度が不足することがある。一方、 150 mを上回ると柔軟性が低下し、折り曲 げが困難となる場合がある力 である。
[0049] 本発明に使用する耐熱性絶縁フィルムの片面あるいは両面は、 目的に応じて接着 性改良処理が施されて 、ることが好ま 、。
[0050] 接着性改良処理としては、サンドブラストや水などにガラズビーズなどの微粒子を分 散させた液を高速でフィルムに噴射するウエットブラストなどで物理的にフィルムの表 面に凹凸を形成する処理、過マンガン酸溶液またはアルカリ溶液などでィ匕学的にフ イルム表面に凹凸を形成する処理、常圧プラズマ処理、コロナ放電処理、低温プラズ マ処理などの放電処理がある。本発明においては、常圧プラズマ処理、コロナ放電 処理、低温プラズマ処理などの放電処理を施すことで接着性改良処理を行うことが 好ましい。 [0051] 常圧プラズマ処理とは、 Ar、 N 、 He、 CO 、 CO、空気、水蒸気などの雰囲気中
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で放電処理する方法をいう。処理の条件は、処理装置、処理ガスの種類、流量、電 源の周波数などによって異なるが、適宜最適条件を選択することができる。
[0052] 低温プラズマ処理は、減圧下で行なうことができ、その方法としては、特に限定され ないが、例えば、ドラム状電極と複数の棒状電極からなる対極電極を有する内部電 極型の放電処理装置内に被処理基材をセットし、処理ガスを 1一 1000Pa、好ましく は 5— lOOPaに調整した状態で電極間に直流あるいは交流の高電圧を印加して放 電を行い、前記処理ガスのプラズマを発生させ、該プラズマに基材表面をさらして処 理する方法などが好ましく使用される。低温プラズマ処理の条件としては、処理装置 、処理ガスの種類、圧力、電源の周波数などによって異なるが、適宜最適条件を選 択することができる。処理ガスの種類としては、例えば、 Ar、 N
2、 He、 CO
2、 CO、空 気、水蒸気、 O、 CF などを単独であるいは混合して用いることができる。
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[0053] コロナ放電処理も使用できる力 コロナ放電処理を使用する場合は、低温プラズマ 処理と比較して接着性向上の効果が小さいことがあるので、積層する耐熱性榭脂層 が接着しやす 、ものを選択することが好まし 、。
[0054] 本発明の耐熱性榭脂積層フィルムは、その耐熱性榭脂層側に金属箔を張り合わせ た FPC基板 (フレキシブルプリント配線板)用の金属層付き積層フィルムとして用いら れる。 FPC基板用に用いられた場合、該耐熱性榭脂積層フィルムに金属箔を張り合 わせて金属層付き積層フィルムを製造する工程や、 ICチップなどのボンディングェ 程などにおいて、 300°C前後の温度が力かることがあるので、室温(20— 35°C)から 300°Cの温度範囲での線膨張係数が重要である。
[0055] 金属層は金属箔のラミネート、真空蒸着、スパッタリング、イオンプレーティング、無 電解メツキ、電解メツキなどの方法を単独ある 、は 2種以上を組み合わせて形成する ことができる。本発明においては、生産性、コスト面から、耐熱性榭脂積層フィルムの 耐熱性榭脂層側に金属箔を張り合わせて、加熱圧着することにより金属層を形成し、 金属層付き積層フィルムを製造するラミネート法が最も好ましい。
[0056] 本発明に用いられる金属層は銅箔、アルミ箔、 SUS箔など金属箔カゝら形成されるも ので、通常銅箔が用いられる。銅箔には電解銅箔と圧延銅箔があり、どちらでも用い ることがでさる。
[0057] 銅箔などの金属箔は榭脂等との接着性を向上させるために、接着面側を粗ィ匕処理 することがある。銅箔の両面は一般的にそれぞれ S面、 M面と言い分けられ、榭脂等 を接着する場合、通常 M面側と接着させる。したがって、粗化処理は通常 M面側に 施されることが多い。銅箔の両面に榭脂等を接着させる場合は、 S面、 M面両方とも 粗ィ匕処理することもある。粗ィ匕処理とは、例えば銅箔の場合、電解メツキで製膜した 原箔の片面または両面に 1一 5 μ mの銅の微細粒子を電着等で析出させて表面に 凹凸を形成する工程である。
[0058] FPCの配線パターンが微細化されていくに伴い、銅箔表面の凹凸は S面はもちろ んのこと、 M面もできるだけ小さい方が好ましぐ銅箔表面を粗ィ匕処理していない両 面平滑面の銅箔がより好ましい。銅箔表面の粗さは、 S面で Ra (中心線平均粗さ)が 0. 5 m以下、好ましくは 0. 4 m以下であり、 Rz (十点平均粗さ)が 2. O /z m以下、 好ましくは 1. 8 μ m以下である。また、 M面で Ra力 ^0. 7 μ m以下、好ましくは 0. 5 μ m以下、さらに好ましくは 0. 4 μ m以下であり、 Rzが 3. 0 μ m以下、好ましくは 2. 0 μ m以下、さらに好ましくは 1. 8 m以下である。
[0059] 銅箔の膜厚は 1一 150 mの範囲のもので、用途にあわせて適宜用いることができ るが、 FPCの配線パターンが微細化されていくに伴い、銅箔の膜厚もより薄い方が好 ましい。しかし、銅箔が薄くなると単体で取り扱うのが困難になり、 3 μ mや 5 μ m厚の 銅箔は 20— 50 m程度厚みの榭脂または金属箔などの支持体 (キャリア)に付着し たキャリア付き銅箔として取り扱われ、榭脂等に加熱圧着した後で支持体を剥離して 用いられる。本発明での銅箔の厚みとしては、 20 m以下、好ましくは 15 m以下、 さらに好ましくは 10 m以下である。また、 1 m以上、好ましくは 3 m以上、さらに 好ましくは 5 μ m以上である。
[0060] 銅箔は変色防止等のために表面が防鲭処理されて!、ても良!、。防鲭処理は一般 的にニッケル、亜鉛、クロム化合物などの薄膜層を銅箔表面に積層することにより施 される。また、榭脂等との接着性改良のために、さらに銅箔表面がシランカップリング 処理してあっても良い。
[0061] 本発明の金属層付き積層フィルムは、金属層片面品あるいは両面品はもとより、耐 熱性榭脂層の層構成など種々の構成をとることができ、さらにそれら構成により種々 の製造方法をとることができる。
[0062] 本発明における反りの評価は、銅箔などの金属箔を積層後、金属層層を全面エツ チングした耐熱性榭脂積層フィルムの状態で測定を行う。また、耐熱性絶縁フィルム に耐熱性榭脂層を積層し、適宜熱処理等を行った後で測定しても良い。サンプル作 成において熱処理等を行った場合は、 20— 30°Cの室温、 50— 60%RHの湿度の 条件下で 24時間以上放置して力 測定することが好ましい。サンプルは 50mm X 50 mm口など任意の大きさにカットして平らな板の上に静置し、 4角の反り高さを測定し 、その平均値を反りの値とした。
[0063] 50mm X 50mm口のサンプル形状の場合、反り高さが 20mm以上になるとサンプ ルが筒状に丸まってくるため、正確に反り高さを測定することができなくなる。また、反 り高さは 4mm以下、好ましくは 3mm以下、さらに好ましくは lmm以下である。
[0064] 本発明の金属層付き積層フィルムの第 1の態様を図 1に示す。図 1 (a)は片面金属 層付き積層フィルムの態様であり、図 1 (b)は両面金属層付き積層フィルムの態様で あり、耐熱性絶縁フィルム 2、耐熱性榭脂層 3、金属箔 1が形成された積層体である。 その製造方法は例えば、耐熱性榭脂フィルム 2または金属箔 1に、線膨張係数 kA(p pm/°C)力 k-10≤ kA≤ k + 20 (k:耐熱性絶縁フィルムの線膨張係数)の範囲にあ る耐熱性榭脂層 3を形成する。次 、で得られた耐熱性絶縁フィルム Z耐熱性榭脂層 の積層体に金属箔を耐熱性榭脂層に向かい合うように張り合わせ、加熱圧着する。 あるいは金属箔 Z耐熱性榭脂層の積層体に耐熱性絶縁フィルムを耐熱性榭脂層に 向カゝ ヽ合うように張り合わせ、加熱圧着することにより金属層付き積層フィルムを得る
[0065] 図 1のような金属層付き積層フィルムの製造方法においては、耐熱性絶縁フィルム 2に耐熱性榭脂層 3を積層した積層体の耐熱性榭脂層 3と金属箔 1、または金属箔 1 に耐熱性榭脂層 3を積層した積層体の耐熱性榭脂層 3と耐熱性絶縁フィルム 2を向 かい合わせて加熱圧着することになるので、加熱圧着する際に 300°C以上、好ましく は 350°C以上、さらに好ましくは 380°C以上の高温が必要になる。また、このような高 温で加熱圧着しても、接着後の接着力は比較的小さい。 [0066] 本発明の金属層付き積層フィルムの第 2の態様を図 2に示す。図 2 (a)は片面金属 層付き積層フィルムの態様であり、図 2 (b)は両面金属層付き積層フィルムの態様で あり、耐熱性榭脂層が 2層以上の多層構成となっており、そのうちの少なくとも 1層が 線膨張係数 kA(ppm/。C) 1S k-10≤kA≤k+ 20 (k:耐熱性絶縁フィルムの線膨 張係数)の範囲にある耐熱性榭脂層 Aである。耐熱性榭脂層 Aが金属層に接するよ うに積層された金属層付き積層フィルムが、金属層エッチング後の反りが出にくぐ最 も好ましい形態である。また、金属層と耐熱性榭脂層 Aの間に、接着性を改良するな どの目的で耐熱性榭脂層 Aとは異なる組成、物性の耐熱性榭脂層を、反りが出ない 範囲の膜厚で設けても良 ヽ。金属層と耐熱性榭脂層 Aの間に設けられる耐熱性榭脂 層の膜厚は 0. 001— 5 m、好ましくは 0. 01— 3 m、さらに好ましくは 0. 1— 2 mである。この耐熱性榭脂層を構成する榭脂としては、後述する耐熱性榭脂層 B〖こ 採用される榭脂と同様な榭脂を採用することができる。
[0067] 図 2に示した金属層付き積層フィルムの製造方法は、例えば以下の方法が挙げら れる。耐熱性絶縁フィルム 2または金属箔 1に、耐熱性榭脂層 A3を少なくとも 1層含 む多層の耐熱性榭脂層4を順次積層する。次 、で得られた耐熱性絶縁フィルム 2, 耐熱性榭脂層 4の積層体に、金属箔 1を積層体の耐熱性榭脂層 4に向カゝぃ合うよう に張り合わせ、加熱圧着する。あるいは金属箔 1Z耐熱性榭脂層 4の積層体に、耐 熱性絶縁フィルム 2を積層体の耐熱性榭脂層に向か 、合うように張り合わせ、加熱圧 着することにより金属層付き積層フィルムを得る。また、耐熱性絶縁フィルム 2および 金属箔 1に、 1層以上の耐熱性榭脂層をそれぞれ形成し、得られた耐熱性絶縁フィ ルム Z耐熱性榭脂層の積層体および金属箔 Z耐熱性榭脂層の積層体のそれぞれ の耐熱性榭脂層を向き合うように張り合わせ、加熱圧着することにより金属層付き積 層フィルムを得る。このとき耐熱性榭脂層 Aは金属箔側に積層されて ヽることが好ま しい。
[0068] 本発明の金属層付き積層フィルムの第 3の態様を図 3に示す。図 3 (a)は片面金属 層付き積層フィルムの態様であり、図 3 (b)は両面金属層付き積層フィルムの態様で ある。図 3に示された金属層付き積層フィルムは図 2に示した態様において特に好ま しいものを示した。金属層側に線膨張係数 kA (ppm/°C)が、 k-10≤kA≤k+ 20 (k :耐熱性絶縁フィルムの線膨張係数)の範囲にある耐熱性榭脂層 A、耐熱性絶縁フィ ルム側に耐熱性榭脂層 Aよりもガラス転移温度が低い耐熱性榭脂層(これを耐熱性 榭脂層 Bとする)を積層したものである。
[0069] 第 3の態様の金属層付き積層フィルムの製造方法は、第 2の態様の金属層付き積 層フィルムと同様の製造方法をとることができる。特に好ましい製造方法は、金属箔 1 に耐熱性榭脂層 A3、耐熱性絶縁フィルム2に耐熱性榭脂層 B5をそれぞれ積層して 、金属箔 Z耐熱性榭脂層 A3の積層体、耐熱性絶縁フィルム 2Z耐熱性榭脂層 B5の 積層体を形成し、耐熱性榭脂層 A3と耐熱性榭脂層 B5が向カゝぃ合うように張り合わ せ、加熱圧着して金属層付き積層フィルムを得る工程を含む製造方法である。この 金属層付き積層フィルムは金属層エッチング後の反りが無いうえに、接着力も高ぐ また、比較的低い温度で加熱圧着することができ、生産性においても有利である。
[0070] 耐熱性榭脂層 B (上記線膨張係数の範囲を満足する耐熱性榭脂層 A以外の 1又は 2以上の耐熱性榭脂層)の線膨張係数は、上記した耐熱性榭脂層 Aの線膨張係数 の範囲に入る必要がなぐ通常、 30ppmZ°C— 500ppmZ°C程度、好ましくは、 40 ppmZ°C— 200ppmZ°C程度である。本願発明者らは、上記した耐熱性榭脂層 A が少なくとも 1層存在すれば、線膨張係数がより大きな少なくとも 1層の耐熱性榭脂層 Bが存在して 、ても、積層フィルム及び金属層付き積層フィルムの反りを満足できる 程度に抑制することが可能であることを初めて知見したものである。このため、接着性 のより良好な榭脂を耐熱性榭脂層 Bを構成するために採用することができ、それによ つて積層フィルム及び金属層付き積層フィルムの接着性をより高めることができる。
[0071] 本発明において使用される耐熱性榭脂層 Bには熱可塑性榭脂および Zまたは熱 硬化性榭脂を用いることができ、アクリル系榭脂、アクリロニトリル系榭脂、ブタジエン 系榭脂、ウレタン系榭脂、ポリエステル系榭脂、エポキシ系榭脂、フ ノール系榭脂、 ポリイミド系榭脂、ポリアミド系榭脂、ポリアミドイミド系榭脂、ポリエーテルイミド系榭脂 、ポリエーテルスルホン系榭脂、ポリスルホン系榭脂などが挙げられ、上記榭脂を単 独で用いてもよぐまた、 2種以上を混合して用いても良い。耐熱性、絶縁信頼性、接 着性の点から、ポリイミド系榭脂、エポキシ系榭脂、フエノール系榭脂、ポリアミド系榭 脂が好ましく用いられる。また、これらの榭脂に有機あるいは無機力もなる微粒子、フ イラ一などの充填剤を添加しても良い。微粒子、フィラーの具体例としては、シリカ、ァ ルミナ、酸化チタン、石英粉、炭酸マグネシウム、炭酸カリウム、硫酸バリウム、マイ力 、タルクなどが挙げられる。
[0072] 本発明の耐熱性榭脂層 Bがポリイミド系榭脂の場合、耐熱性榭脂層 Bのガラス転移 温度は 120— 280。C、好ましくは 150— 250。C、さらに好ましくは 170— 220。Cであ る。ガラス転移温度が 120°Cより低くなると、接着力は良いが耐湿熱性が悪くなり、 28 0°Cより高くなると、接着性が悪くなる。
[0073] 本発明の耐熱性榭脂層 Bに用いるポリイミド系榭脂としては、上記ガラス転移温度 に入るようにすれば各種ジァミン、テトラカルボン酸二無水物を用いることができる。 ジァミン成分としては、一般式 (4)で表されるシロキサン系ジァミンを用いることにより 、得られるポリイミド系榭脂のガラス転移温度の調整が容易となり、さらに吸水率を低 くすることができ、接着力も高くなるので好ましい。その添加量は全ジァミン成分に対 して 5— 95モル0 /0、好ましくは 10— 80モル0 /0、さらに好ましくは 15— 60モル0 /0であ る。
[0074] [化 3]
R13 R15
I I
H2N— R11— (SiOJ n— Si— R12— NH2 (4)
Figure imgf000021_0001
[0075] (ただし、一般式 (4)の nは 1一 30の整数を示す。また、 R11および R12は、それぞれ同 一または異なっていてよぐ低級アルキレン基またはフエ-レン基を示す。 R13— R16 は、それぞれ同一または異なっていてよぐ低級アルキル基、フエニル基またはフエノ キシ基を示す。 )
[0076] 本発明の耐熱性榭脂層 Bがエポキシ系化合物を含む熱硬化性榭脂の場合、耐熱 性榭脂層 Bのガラス転移温度は 50— 250°C、好ましくは 80— 220°C、さらに好ましく は 100— 200°Cである。ガラス転移温度が 50°Cより低くなると、耐熱性、耐湿熱性が 悪くなり、 250°Cより高くなると、接着性が悪くなる。 [0077] 熱硬化性榭脂としては、エポキシ系化合物、シァネート系化合物、ベンズォキサゾ ール系化合物、ビスマレイミド系化合物、アセチレン基を有する化合物などの不飽和 系化合物など力もなる榭脂がある力 本発明においては、エポキシ系化合物からなる 榭脂が好ましい。
[0078] 本発明の耐熱性榭脂層 Bに用いるエポキシ系化合物としては、フエノールノボラック 型エポキシ化合物、クレゾ一ルノボラック型エポキシ化合物、ビスフエノール A型ェポ キシ化合物、ビスフエノール F型エポキシ化合物、ビスフエノール S型エポキシ化合物 、チォジフエノール、フエノール、ナフトール類のキシリレン結合によるァラルキル榭脂 のエポキシ化合物、フエノールージシクロペンタジェン榭脂のエポキシ化合物、環式 脂肪族エポキシ化合物、複素環式エポキシィヒ合物、フタル酸、ダイマー酸等の多塩 基酸とェピクロロヒドリンとの反応によって得られるグリシジルエステル型エポキシ化合 物、ジアミノジフエ-ルメタン、ジアミノジフエ-ルスルホン、イソシァヌル酸などのポリ ァミンとェピクロロヒドリンの反応によって得られるグリシジルァミン型エポキシ化合物、 臭素化エポキシ化合物、 ε—力プロラタトン変性 3, 4—エポキシシクロへキシルメチル -3' , 4' エポキシシクロへキサンカルボキシレート、トリメチルカプロラタトン変性 3 , 4 エポキシシクロへキシノレメチノレー 3' , A' エポキシシクロへキサンカノレボキシレ ート、 j8—メチルー δ バレロラタトン変性, 4 エポキシシクロへキシルメチルー 3' , 4 エポキシシクロへキサンカルボキシレートなどのシクロへキセンオキサイドを有す るエポキシィ匕合物等を使用することができる。さらにグリシジル基を有するオルガノポ リシロキサンや上述のエポキシ化合物とカルボキシル基含有オルガノシロキサンとを 反応させて得られるシリコン変性エポキシィ匕合物を使用することができるが、本発明 はこれらに限定されない。また、これらのエポキシィ匕合物またはシリコン変性エポキシ 化合物の少なくとも 1種類以上を組み合わせて使用しても良!ヽ。
[0079] 上記エポキシ系化合物の硬化剤としては特に限定されず、ジエチレントリァミン、トリ エチレントリァミン、メタキシレンジァミン、ジアミノジフエ-ルメタン等のポリアミン類、 ダイマー酸ポリアミド等のポリアミド、無水フタル酸、テトラヒドロメチル無水フタル酸、 へキサヒドロ無水フタル酸、無水トリメリット酸、無水メチルナジック酸等の酸無水物、 3 ーァミノフエノール、レゾルシノール、カテコール、ハイドロキノン、ピロガロール、 3—ヒ ドロキシ安息香酸、 3 シァノフエノール、 2, 3—ジァミノフエノール、 2 アミノー 3—ヒド ロキシ安息香酸、 3—ヒドロキシフエ-ルァセトアミド、 3—ヒドロキシイソフタル酸、 3—ヒド ロキシフエ-ル酢酸および 3—フエノールスルホン酸、フエノールノボラック、フエノール ァラルキル、ビスフエノール A、ビスフエノール F等のフエノール榭脂、レゾール型フエ ノール榭脂、ポリメルカプタン、 2—ェチルー 4ーメチルイミダゾール、トリス(ジメチルアミ ノメチル)フエノール等の第 3級ァミン類、 3フッ化ホウ層'ェチルアミン錯体等のルイス 酸錯体が挙げられる。これらの中でもフエノール榭脂が好ましく用いられる。
[0080] 耐熱性榭脂層 Bには、さらに 80— 200°Cの温度範囲で可塑性を有する熱可塑性 榭脂を添加しても良い。このような榭脂としては、ポリエチレン、ポリプロピレン、ェチレ ン共重合榭脂等のポリオレフイン、ポリスチレン、 ABS榭脂等のスチレン系榭脂、ポリ 塩化ビニル、塩化ビ-リデン、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、 ポリブチレンテレフタレート、ポリアリレート榭脂、ポリオキシベンゾィル、ポリカーボネ ート、ポリアセタール、ポリフエ-レンエーテルなどがあり、なかでも高温時の劣化性、 電気特性が良いことから、ポリアミド系榭脂が好ましく用いられる。ポリアミド系榭脂は 公知の種々のものが使用できる。特に低吸水性の炭素数が 36であるジカルボン酸( いわゆるダイマー酸)を必須成分として含むものが好適である。ダイマー酸を含むポリ アミド榭脂は、常法によるダイマー酸とジァミンの重縮合により得られる力 この際に ダイマー酸以外のアジピン酸、ァゼライン酸、セバシン酸等のジカルボン酸を共重合 成分として含有しても良い。ジァミンはエチレンジァミン、へキサメチレンジァミン、ピ ペラジン等の公知のものが使用でき、吸湿性、溶解性の点から 2種以上の混合でも 良い。このような熱可塑性榭脂の含量は、特に限定されないが、耐熱性榭脂層 Bの 重量に対して通常 70%以下、好ましくは 20%以下である。
[0081] 耐熱性榭脂層 Bを構成する熱硬化性榭脂には硬化促進剤を添加しても良い。硬化 促進剤としては、芳香族ポリアミン、三フッ化ホウ素トリェチルアミン錯体等の三フッ化 ホウ素のアミン錯体、 2 アルキル 4ーメチルイミダゾール、 2 フエ-ルー 4—アルキル イミダゾール等のイミダゾール誘導体、無水フタル酸、無水トリメリット酸等の有機酸、 ジシアンジアミド、トリフエ-ルフォスフィン等の公知のものが使用できる。このような硬 化促進剤の含量は、特に限定されないが、耐熱性榭脂層 Bの重量に対して通常 5% 以下、好ましくは 1%以下である。
[0082] 上記化合物を溶解混合する際に用いる溶媒としては、メチルセ口ソルブ、プチルセ 口ソルブ、メチルェチルケトン、ジォキサン、アセトン、シクロへキサノン、シクロペンタ ノン、イソブチルアルコール、イソプロピルアルコール、テトラヒドロフラン、ジメチルス ルホキシド、 y ブチロラタトン、トルエン、キシレン、クロ口ベンゼン、ベンジルアルコ ール、イソホロン、メトキシメチルブタノール、乳酸ェチル、プロピレングリコールモノメ チルエーテルおよびそのアセテート、 N—メチルー 2—ピロリドンなどや、これらのうち 1 種以上を含有する溶媒が用いられる。
[0083] 耐熱性榭脂層 Aの膜厚 (耐熱性榭脂層 Aが複数層存在する場合にはその合計の 膜厚)は耐熱性榭脂層 B (耐熱性榭脂層 Bが複数層存在する場合にはその合計の膜 厚)の膜厚の 2倍以上、好ましくは 2. 5倍以上、さらに好ましくは 3倍以上である。耐 熱性榭脂層 Aの膜厚が耐熱性榭脂層 Bの膜厚の 2倍以下になると、金属層エツチン グ後の反りが大きくなることがある。
[0084] 本発明における加熱圧着は、熱プレス、加熱ロールラミネーター等を用いて行うこと ができる。加熱ロールラミネーターは長尺状のフィルム、金属箔を連続で加熱圧着で きるので、生産性の点力も好ましく用いることができる。加熱ロールラミネーターによる 加熱圧着は、図 4に示すように 1対以上の加熱ロール 6、 7に金属箔 8、耐熱性榭脂 層を積層したフィルム 9を加熱ロール部分に通して加熱圧着する。ここで、図 4 (a)は 片面金属層付き積層フィルム、図 4 (b)は両面金属層付き積層フィルム、それぞれの 加熱ロールラミネーターを用いての加熱圧着方法である。図 4 (及び後述する図 5)中 の参照番号 10は、製品卷取りロールである。
[0085] 加熱ロールラミネーターのロールは金属ロール 金属ロール、金属ロール ゴム口 ール、ゴムロール ゴムロールなど種々の組み合わせで使用することができる。通常、 片面銅層付き積層フィルムの場合は金属ロール ゴムロールの組み合わせが用いら れ、金属ロール側に銅箔、ゴムロール側に耐熱性絶縁フィルムが接するように加熱圧 着される。ただし、ロール温度が 200°C以上では金属ロール -金属ロールの組み合 わせが好ましい。また、両面銅層付き積層フィルムの場合は金属ロール 金属ロール の組み合わせが用いられる。 [0086] 加熱ロールラミネーターのロール温度、ロール-ップ圧、搬送速度などの条件は、 用いる耐熱性榭脂層の種類、組成、製造方法等により適宜選択されるものである。一 般的にロール温度は 50— 500°C、好ましくは 100— 450°Cの範囲で設定される。口 ールの加熱は片方のロールのみが加熱できるものでも良いが、両ロールとも加熱で きるものが好ましい。より好ましくは両ロールとも加熱できるもので、それぞれ独立して 温度制御できるものである。加熱ロールラミネーターのロール-ップ圧は、線圧で一 般的に 0. 5— 200N/mm、好ましくは 2— 150N/mmの範囲で設定される。搬送速 度は一般的に 0. 1— 50m/分、好ましくは 0. 4— 30m/分の範囲で設定される。
[0087] ロール温度を 300°C以上にしてラミネートする場合は、銅箔などの金属箔が酸化す るのを防止するために、窒素雰囲気中または真空中で行っても良い。また、図 5に示 すように、ポリイミドフィルムなどの耐熱性榭脂フィルム、 SUS、アルミなどの金属箔を 保護フィルム 11として加熱ロール表面と金属箔 8または耐熱性榭脂層を積層したフィ ルム 9の間に介在させて加熱圧着しても良い。ここで、図 5 (a)は片面金属層付き積 層フィルム、図 5 (b)は両面金属層付き積層フィルム、それぞれの加熱ロールラミネー ターを用いての加熱圧着方法である。なお、図 5中、参照番号 11は保護フィルムの 巻き出しロール、 12は保護フィルムの巻き取りロールである。
[0088] 図 1に示す金属層付き積層フィルムの製造方法について、以下に具体例を挙げて 説明する。
[0089] 線膨張係数 kA(ppm/。C)力 k—10≤kA≤k+20 (k:耐熱性絶縁フィルムの線膨 張係数)の範囲にあるポリイミド系榭脂の前駆体であるポリアミド酸榭脂溶液を、耐熱 性絶縁フィルム (例えばポリイミドフィルム)の少なくとも片面に、硬化後の膜厚が 0. 2 一 12 /z m、好ましくは 0. 5— 10 /ζ πι、さらに好ましくは 1一 7 mになるように塗工す る。塗工方法としては、バーコ一ター、ロールコーター、ナイフコーター、コンマコータ 一、リノく一スコーター、ドクターブレードフロートコ一ター、グラビアコーターなどが挙 げられる。
[0090] 上記のようにポリイミドフィルム上に塗工した溶液の溶媒を 60— 200°C程度の温度 で連続的または断続的に 1一 60分間で加熱除去する。続いて、 200— 400°C、好ま しくは 240— 350°C、さらに好ましくは 260— 320°Cの温度範囲で、 1一 48時間熱処 理を行い、耐熱性榭脂層のポリアミド酸榭脂をポリイミド榭脂に変換し、ポリイミドフィ ルム zポリイミド系榭脂からなる耐熱性榭脂層の積層物を形成する。本発明における 熱処理は、上記の範囲の目標温度まで段階的に上げても良い。
[0091] 得られたポリイミドフィルム Z耐熱性榭脂層の積層物の耐熱性榭脂層側に銅箔を 向かい合うように張り合わせ、加熱ロールラミネーターで加熱圧着する。加熱ロールラ ネーターによるカロ熱圧着は、厚み力 20— 500 μ m、好まし <は 30— 200 μ mのポジ イミドフィルムを保護フィルムとして、図 5 (片面金属層付き積層フィルムの場合は図 5 (a)、両面金属層付き積層フィルムの場合は図 5 (b) )に示したように、銅箔とポリイミド フィルム Z耐熱性榭脂層 Aの積層体物を保護フィルムの間に挟み込む。このときの 加熱ロールの温度は、例えば図 1に示した構造では 300— 500°C、好ましくは 350— 450°C、さらに好ましくは 380— 420°Cである。また、ローノレ-ップ圧は、線圧で 2— 1 50N/mm、好ましくは 5— 100N/mm、さらに好ましくは 10— 80N/mmである。
[0092] 本発明においては、得られた銅層付き積層フィルムをさらに熱処理しても良ぐこの ときの熱処理方法は、銅層付き積層フィルムをロール巻きにしてのバッチ方式処理、 ロール toロール方式での連続処理、カットシートでの枚葉処理の 、ずれを用いても 良い。熱処理は 200— 400°C、好ましくは 240— 350°C、さらに好ましくは 260— 32 0°Cの温度範囲で、 1一 48時間熱処理を行い、目標温度まで段階的に上げても良い 。また、銅層の酸ィ匕を防止するために真空中または窒素雰囲気中で処理することが 好ましい。
[0093] 図 3に示す金属層付き積層フィルムの製造方法について、以下に具体例を挙げて 説明する。
[0094] 上記と同様の塗布し、塗布した溶液の溶媒を加熱除去して乾燥する。続、て、熱処 理を行い、耐熱性榭脂層のポリアミド酸榭脂をポリイミド榭脂に変換し、銅箔 Zポリイミ ド系榭脂からなる耐熱性榭脂層の積層体を形成する。条件等は上記の製造方法と 同様である。このとき、上記の範囲の目標温度まで段階的に上げても良い。また、銅 箔の酸ィ匕防止力 真空中または窒素雰囲気中で熱処理を行うのが好ましい。
[0095] 次に、ガラス転移温度が上記耐熱性榭脂層 Aよりも低 、ポリイミド系榭脂の前駆体 であるポリアミド酸榭脂溶液を、ポリイミドフィルムの少なくとも片面に硬化後の膜厚が 0. 01— 5 /z m、好ましくは 0. 1— 、さら〖こ好ましくは 0. 5— 3 m〖こなるように 塗工、乾燥、熱処理してポリイミドフィルム Zポリイミド系榭脂からなる耐熱性榭脂層 B の積層体を形成した。塗工、乾燥、熱処理方法については上記と同様である。
[0096] 各々の積層体の耐熱性榭脂層 Aと耐熱性榭脂層 Bが向かい合うように張り合わせ、 加熱圧着し、銅層付き積層フィルムが得られる。加熱ロールラミネーターによる加熱 圧着において、このときの加熱ロールの温度は、例えば図 3に示した構造では 200— 400。C、好ましくは 250— 380。C、さらに好ましくは 280— 350。Cである。また、ロー ル-ップ圧は、線圧で 2— 100N/mm、好ましくは 5— 80N/mm、さらに好ましくは 1 0— 60N/mmである。
[0097] 加熱ロールの温度が 300°C以下の場合、図 5に示した様な保護フィルムを介して加 熱圧着する必要はなぐ図 4に示したような方法で加熱圧着することができる。また、 加熱圧着後、得られた銅層付き積層フィルムをさらに熱処理しても良ぐ熱処理方法 は上記と同様である。
[0098] 上記製造方法において、耐熱性榭脂層 A、耐熱性榭脂層 Bをポリイミド榭脂に変換 せず、ポリアミド酸榭脂の状態で張り合わせて加熱圧着し、続いて得られた銅層付き 積層フィルムを熱処理して耐熱性榭脂層 A、耐熱性榭脂層 Bのポリアミド酸榭脂をポ リイミド榭脂に変換する製造方法が好ま 、。
[0099] この製造方法は、ポリアミド酸の状態で加熱圧着するので、加熱圧着時の温度をさ らに低くすることができ、加熱ロールラミネーターの加熱ロールの温度は 100— 260 。C、好ましくは 140— 240°C、さらに好ましくは 160— 220°Cである。
[0100] 本発明の金属層付き積層フィルムを用いて、金属層に配線パターンを形成すること によりフレキシブルプリント回路基板 (FPC)を製造することができる。配線パターンの ピッチは特に限定されないが、好ましくは 10— 150 m、より好ましくは 15— 100 m、さらに好ましくは 20— 80 μ mの範囲である。
[0101] 半導体チップ (IC)を実装して半導体装置を作成する方法の一例として、フリツプチ ップ技術を用いた COF方式による作成例を説明する。
[0102] 本発明の金属層付き積層フィルムを目的の幅にスリットしする。次に金属層上にフ オトレジスト膜を塗布し、マスク露光で配線パターンを形成した後、金属層をウエットェ ツチング処理し、残ったフォトレジスト膜を除去して金属配線パターンを形成した。形 成した金属配線パターン上に錫または金を 0. 2-0. 8 mメツキした後、配線パター ン上にソルダーレジストを塗布して COFテープが得られる。
[0103] 上記方法で得られた COFテープのインナーリードに金バンプを形成した ICをフリツ プチップ実装で接合し、榭脂で封止することにより本発明の半導体装置を得ることが できる。
[0104] ICの実装方法としては、配線と ICのバンプをギャングボンディングする金属接合方 式、ワイヤーボンドで ICの接合部と COFテープのインナーリードを接合するワイヤー ボンディング方式、接着剤層中に導電性フィラーを含有させた接着フィルムを介在さ せて接合する ACF方式、非導電性接着剤を用いて接合する NCP方式がある。 ACF 、 NCP方式は比較的低温で接合することができるが、接続信頼性等の点から金属接 合方式、特に金 錫共晶による接合方式が一般的に広く用いられている。
[0105] 金 錫共晶による接合は、 IC側のバンプと配線側の配線の高さばらつきを吸収する ために、 1バンプあたり 20— 30gの荷重をかける。また、金と錫が共晶を形成し、信頼 性高く接合するためには 280°C以上の温度が必要であるので、一般的に接合面の 温度が 300— 400°Cになるように設定される。
実施例
[0106] 以下に実施例を挙げて本発明を説明するが、本発明はこれらの実施例に限定され るものではない。反り、ガラス転移温度、吸水率の測定方法について述べる。
[0107] (1)反りの評価
銅箔を積層後、銅層を塩ィ匕第 2鉄溶液で全面エッチングした。サンプルを 50mm X
50mmにカットした後、 25°C50%RHの条件下で 24時間放置後、平らな板の上に静 置し、 4角の反り高さを測定し、その平均値を反りの値とした。
[0108] (2)接着力(常態)の測定
銅層付き積層フィルムを塩ィ匕第 2鉄溶液で 2mm幅にエッチングし、 2mm幅の金属 層を TOYO BOLDWIN社製"テンシロン" UTM- 4- 100にて引っ張り速度 50mm/分
、 90°剥離で測定した。
[0109] (3)線膨張係数の測定 榭脂溶液を厚さ 18 /z mの電解銅箔の光沢面に所定の厚さになるようにバーコータ 一で塗布後、 80°Cで 10分、 150°Cで 10分乾燥し、さらに窒素雰囲気下 280°Cで 1 時間加熱処理を行!ヽ熱硬化させた。次に電解銅箔を塩化第 2鉄溶液で全面エッチ ングし、耐熱性榭脂層の単膜を得た。
[0110] 得られた単膜を特定の幅の形状に切り出し、それを筒状にして、熱機械的分析装 置 SS- 6100 (セイコーインスルメンッ (株)製)を用いて、 30— 300°Cの温度範囲、昇 温速度 5°C/分で測定した。得られた測定結果から、計算式(2)を用いて 30— 300°C の平均線膨張係数を算出した。ここで、 L30は 30°Cでのサンプル長、 L300は 300°C でのサンプル長である。
平均線膨張係数 = (1/L30) X [ (L300-L30) / (300-30) ] (2)。
[0111] (4)ガラス転移温度の測定
ポリアミド酸榭脂溶液 (PA1— 8)を厚さ 18 mの電解銅箔の光沢面に所定の厚さ になるようにバーコ一ターで塗布後、 80°Cで 10分、 150°Cで 10分乾燥し、さらに窒 素雰囲気下 280°Cで 1時間加熱処理を行い熱硬化させた。次に電解銅箔を塩化第 2鉄溶液で全面エッチングし、耐熱性榭脂層の単膜を得た。
[0112] ポリアミド/エポキシ/フエノール系耐熱性榭脂溶液 (EP1)を厚さ 18 μ mの電解銅 箔の光沢面に所定の厚さになるようにバーコ一ターで塗布後、 80°Cで 10分、 120°C で 10分乾燥し、さらに 160°Cで 1時間加熱処理を行い熱硬化させた。次に電解銅箔 を塩ィ匕第 2鉄溶液で全面エッチングし、耐熱性榭脂層の単膜を得た。
[0113] 得られた耐熱性榭脂の単膜約 10mgをアルミ製標準容器に詰め、示差走査熱量計
DSC-50 (島津製作所 (株)製)を用いて測定し (DSC法)、得られた DSC曲線の変 曲点からガラス転移温度を計算した。 80°C X I時間で予備乾燥した後、昇温速度 20 °C /分で測定を行った。
[0114] (5)吸水率の測定
ポリアミド酸榭脂溶液 (PA1— 8)を厚さ 18 mの電解銅箔の光沢面に所定の厚さ になるようにバーコ一ターで塗布後、 80°Cで 10分、 150°Cで 10分乾燥し、さらに窒 素雰囲気下 280°Cで 1時間加熱処理を行い熱硬化させた。次に電解銅箔を塩化第 2鉄溶液で全面エッチングし、耐熱性榭脂層の単膜を得た。 [0115] ポリアミド/エポキシ/フエノール系耐熱性榭脂溶液 (EP1)を厚さ 18 μ mの電解銅 箔の光沢面に所定の厚さになるようにバーコ一ターで塗布後、 80°Cで 10分、 120°C で 10分乾燥し、さらに 160°Cで 1時間加熱処理を行い熱硬化させた。次に電解銅箔 を塩ィ匕第 2鉄溶液で全面エッチングし、耐熱性榭脂層の単膜を得た。
[0116] 得られた耐熱性榭脂の単膜約 200mgを 30°Cで水に 24時間浸漬し、その後 80°C で 3時間乾燥した。水浸漬後の重量と乾燥後の重量をそれぞれ測定し、その差を乾 燥後の重量で割り、吸水率を算出した。
[0117] 以下の製造例に示してある酸二無水物、ジァミンの略記号の名称は下記の通りで ある。
BPDA: 3, 3,, 4, 4,ービフエ-ルテトラカルボン酸二無水物
OPDA: 3, 3,, 4,4,ージフエ-ルエーテルテトラカルボン酸二無水物
PMDA:ピロメリット酸二無水物
SiDA: l, 1, 3, 3—テトラメチルー 1, 3—ビス(3—ァミノプロピル)ジシロキサン DAE :4, 4'ージアミノジフエニルエーテル
PDA : p—フエ二レンジァミン
DBAB :4, 4,一ジァミノべンズァニリド
m-TB:4, 4'ージメチルベンジジン
NMP : N—メチルー 2—ピロリドン。
[0118] 製造例 1
温度計、乾燥窒素導入口、温水,冷却水による加熱,冷却装置、および、攪拌装置 を付した反応釜に、 SiDA 12. 43g (0. O5mol)、 DAE 50. 05g (0. 25mol)、 PD A 75. 67g (0. 7mol)、を NMP 2450gと共に仕込み、溶解させた後、 BPDA 294 . 2g (lmol)を添加し、 70°Cで 6時間反応させたことにより、 15重量%ポリアミド酸榭 脂溶液 (PA1)を得た。ポリアミド酸榭脂溶液 (PA1)をイミド化した榭脂の線膨張係数 は 20ppm/°C、吸水率は 1. lwt%、ガラス転移温度は 283°Cであった。
[0119] 製造例 2— 7
酸二無水物、ジァミンの種類と仕込量を表 1のように変えた以外は製造例 1と同様 の操作を行い、 15重量%ポリアミド酸榭脂溶液 (PA2— 7)を得た。ポリアミド酸榭脂 溶液 (PA2— 7)をイミド化した榭脂の線膨張係数、吸水率、ガラス転移温度を表 1に 示した。
[0120] 製造例 8
酸二無水物、ジァミンの種類と仕込量を表 1のように変えた以外は製造例 1と同様 の操作を行い、 15重量%ポリアミド酸榭脂溶液 (PA8)を得た。ポリアミド酸榭脂溶液 (PA8)をイミドィ匕した榭脂の線膨張係数、吸水率、ガラス転移温度を表 1に示した。
[0121] [表 1]
D m BOSDPD
^ A A p D M p
表 1
亍トラカルポン酸成分 ジァ Sン成分 溶剤 線膨張係数 吸水率 がラス転移温度
BPDA OPDA SiDA DAE PDA DABA m— TB DMAc (ppm/°C) (wt%) (°G) 製造例 1 PA1 1.00 0.05 0.25 0.70
294.20 12.43 50.05 75.67 2450 20 1.1 283 製造例 2 PA2 1.00 0.40 0.60
294.20 80.08 64.86 2488 20 1.6 295 製造例 3 PA3 1 ,00 0.05 0.35 0.60
294.20 12.43 70.07 136.38 2907 18 1.2 304 製造例 4 PA4 1.00 0.80 0,20
294.20 160.16 2697 42 1.8 310 製造例 5 PA5 1.00 0.05 0.75 0.20
294,20 12.43 150.15 45.46 2846 39 1.1 298 製造例 6 PA6 1.00 0.10 0.90
310.20 24.85 180.18 2920 68 1.0 254 製造例 7 PA7 0.70 0.30 0.40 0.60
205.90 93.10 99.40 120.12 2938 89 0.4 192 製遣例 8 PA8 1.00 0.20 0.40 0.40
294.20 40.04 43.24 84.92 2620 16 1.4 291
3,3', 4,4'-ヒフエ::ル亍トラ 1 'ン酸ニ無水物
3,3', 4,4' -シ*フ∑二ルェ—テルテトラカルホ'ン酸ニ無水物
1.1 ,3,3-亍トラメチル— 1 ,3—ビス (3 -アミノフ °ロビル)シ''ンロキサン
4,4'—シ'アミノフ Iニル I— τル
p—フ I二レンシ ミン
4,4'—シ'ァミノべ'ンス -ァ:リ
,Ν-シ'メチルァセトアミド
2,2'-シ'メチルへ'ンシ'シ'ン
[0122] 製造例 9
ヘンケルジャパン(株)製のポリアミド榭脂 "マクロメルド, 6030 250g (50重量0 /0)、 油化シェノレエポキシ (株)製のエポキシ榭脂 "ェピコード, 828 105g (21重量%)、昭 和高分子(株)製のフエノール榭脂 CKM—1636 145g (29重量0 /0)をイソプロピル アルコール 680gとクロ口ベンゼン 1760gに溶力し、 17重量0 /0のポリアミド/エポキシ /フエノール系耐熱性榭脂溶液 (EP1)を得た。このポリアミド/エポキシ/フエノール系 耐熱性榭脂溶液 (EP1)を 160°Cで熱硬化した榭脂の線膨張係数は 100ppm/°C以 上、吸水率は 1. lwt%、ガラス転移温度は 62°Cであった。
[0123] 実施例 1
ポリアミド酸榭脂溶液 PA1を、あら力じめアルゴン雰囲気中で低温プラズマ処理し ておいた厚さ 25 μ mのポリイミドフィルム("カプトン" 100EN東レ 'デュポン (株)製、 構成成分: PMDA/BPDA/DAE/PDA、 500°C以下に明瞭なガラス転移点なし)に乾燥 後の膜厚が 3 mになるようにリバースコーターで塗工し、 80°Cで 10分、さらに 140 °Cで 10分乾燥した。該塗工品を窒素雰囲気中 290°Cで 5分加熱処理を行い、イミド 化および残存溶媒の除去を行 、、ポリイミドフィルム Z耐熱性榭脂層の積層体を得た
[0124] 上記作成のポリイミドフィルム Z耐熱性榭脂層の積層体の耐熱性榭脂層に、接着 面側を粗化処理した厚さ 12 μ mの粗化銅箔 (TQ— VLP三井金属 (株)製)を張り合 わせ、ロールの表面温度を 380°Cに加熱したロールラミネーターで、図 5 (a)のように 保護フィルムとして厚さ 125 μ mのポリイミドフィルム("カプトン" 500Η東レ 'デュポン (株)製)を両ロールとポリイミドフィルム Z耐熱性榭脂層の積層体、銅箔の間にそれ ぞれ介在させ、線圧 70N/mm、速度 lm/分で加熱圧着し、片面銅層付き積層フィ ルムを得た。得られた片面銅層付き積層フィルムの反りを測定したところ、 Ommであ つた。また、接着力は 7N/cmであった。
[0125] 実施例 2、 3
ポリイミドフィルム、銅箔、耐熱性榭脂層の種類、膜厚、を表 2のように変えた以外は 実施例 1と同様の操作を行い、片面銅層付き積層フィルムを得た。得られた片面銅 層付き積層フィルムの反りの評価結果を表 2にまとめた。 [0126] ここで用いたポリイミドフィルムは、東レ'デュポン (株)製の,,カプトン" 100EN (厚み 25 /z m)、宇部興産 (株)製の"ユーピレックス" 25S (構成成分: BPDA/PDA、 500°C 以下に明瞭なガラス転移点なし)(厚み 25 m)である。また、銅箔は片面粗化銅箔 である三井金属 (株)製の TQ— VLP (厚み 12 m)、古河サーキットフオイル (株)製 の F1— WS (厚み 12 m)、両面平滑銅箔である古河サーキットフオイル (株)製の FO -WS (厚み 12 μ m)である。
[0127] "カプトン" 100ENの線膨張係数は 17ppm/°C、 "ユーピレックス" 25Sの線膨張係 数は 14ppm/°Cである。
[0128] 比較例 1、 2
ポリイミドフィルム、銅箔、耐熱性榭脂層の種類、膜厚、を表 2のように変えた以外は 実施例 1と同様の操作を行い、片面銅層付き積層フィルムを得た。得られた片面銅 層付き積層フィルムの反りの評価結果を表 2にまとめた。
[0129] [表 2]
to o >
ポドリィミフ接着耐熱性脂力樹層
線膨ムルのイ
ポイリミ数 o
線膨係数張係 k張 kA
ムルフ/° () (L
( (/膜Q/N))ィ) ()CUL
厚CppmU
mppmc
プ実施カ例 100ENト 1ン
t SSHJ O
ピ実施俩ク 25Sレ 2スュッ一
プカ0EN TVPト 10QLン- 丄 d 0 - プ較比例カ〗ト 00ENン 1
o o
寸 9 V d
較ピ比例ク 25Sレ 2スユッー
驟 Cvi 寸
< < < <
CL α
C
K 実施例 4
ポリアミド酸榭脂溶液 PA1を、接着面側を粗ィ匕処理した厚さ 12 mの粗化銅箔 (T Q-VLP三井金属 (株)製)に、乾燥後の膜厚が 3 mになるようにリバースコーター で塗工し、 80°Cで 10分、さらに 140°Cで 10分乾燥した。該塗工品を窒素雰囲気中 2 90°Cで 5分加熱処理を行い、イミドィ匕および残存溶媒の除去を行い、銅箔 Z耐熱性 樹脂層 Aの積層体を得た。
[0131] 同様に、ポリアミド酸榭脂溶液 PA7を、あらカゝじめアルゴン雰囲気中で低温プラズ マ処理しておいた厚さ 25 μ mのポリイミドフィルム("カプトン" 100EN東レ.デュポン (株)製)に、乾燥後の膜厚が 1 μ mになるようにリバースコーターで塗工し、 80°Cで 1 0分、さらに 140°Cで 10分乾燥した。該塗工品を窒素雰囲気中 290°Cで 5分加熱処 理を行い、イミド化および残存溶媒の除去を行い、ポリイミドフィルム Z耐熱性榭脂層 Bの積層体を得た。
[0132] 上記作成の銅箔 Z耐熱性榭脂層 Aの積層体とポリイミドフィルム Z耐熱性榭脂層 B の積層体の耐熱性榭脂層 Aと耐熱性榭脂層 Bが向かい合うように、ロールの表面温 度を 350°Cに加熱したロールラミネーターで、図 5 (a)のように、保護フィルムとして厚 さ 125 mのポリイミドフィルム("カプトン" 500H東レ 'デュポン (株)製)を両ロールと 銅箔 Z耐熱性榭脂層 Aの積層体、ポリイミドフィルム Z耐熱性榭脂層 Bの積層体の 間にそれぞれ介在させ、線圧 50N/mm、速度 2m/分で加熱圧着し、片面銅層付き 積層フィルムを得た。得られた片面銅層付き積層フィルムの反りを測定したところ、 0 mmであった。また、接着力は l lN/cmであった。
[0133] 実施例 5— 9
ポリイミドフィルム、銅箔、耐熱性榭脂層 A、耐熱性榭脂層 Bの種類、膜厚、を表 3の ように変えた以外は実施例 4と同様の操作を行 ヽ、片面銅層付き積層フィルムを得た 。得られた片面銅層付き積層フィルムの反りの評価結果を表 3にまとめた。
[0134] 比較例 3— 5
ポリイミドフィルム、銅箔、耐熱性榭脂層 A、耐熱性榭脂層 Bの種類、膜厚、を表 3の ように変えた以外は実施例 4と同様の操作を行 ヽ、片面銅層付き積層フィルムを得た 。得られた片面銅層付き積層フィルムの反りの評価結果を表 3にまとめた。
[0135] [表 3] 表 3
銅 耐熱性樹脂層 A ポリイミ ドフ 耐熱性樹脂層 B 反り 接着力 ィルムの線膨
線膨張係数 k A ポリイミ ド 張係数 k 線膨張係数
種類 (ppm/°C) 膜厚(jum) フィルム (ppm/°C) 種類 (ppm/t) 膜厚 ( u m) (mm) (N/cm) 実施例 4 TQ-VLP P A 1 20 3 トン 100EN 17 P A 7 89 1 0 11 実施例 5 F1- S PA 1 20 5 1—ピレックス 25S 14 P A 6 68 2 0 11 実施例 6 TQ-VLP PA 2 20 3 Wトン 100EN 17 P A 6 68 1 0 10 実施例 7 TQ-VLP PA 2 20 5 ュ-ピレツウス 25S 14 P A 6 68 3 3 10 実施例 8 FO-ISS PA 3 18 2 カフ' トン 100EN 17 PA 6 68 1 0.1 10 実施例 9 TQ-VLP PA 3 18 3 カブトン 100EN 17 PA 7 89 1 0 11 比較例 3 TQ-VLP P A4 42 3 。トン 100EN 17 P Aフ 89 1 >20 10 比較例 4 F1-WS PAS 39 5 ΊϊΎトン 100ΕΝ 17 P A 6 68 2 >20 10 比較例 5 TQ-VLP PA 6 68 2 ュ-ピレックス 25S 14 P A 6 68 1 >20 10
[0136] 実施例 10
ポリアミド酸榭脂溶液 PA1を、接着面側を粗化処理した厚さ 12 mの粗化銅箔 (T Q-VLP三井金属 (株)製)に、乾燥後の膜厚が 3 mになるようにリバースコーター で塗工し、 80°Cで 10分、さらに 140°Cで 10分乾燥し、銅箔 Z耐熱性榭脂層 Aの積 層体を得た。
[0137] 同様に、ポリアミド酸榭脂溶液 PA7を、あらカゝじめアルゴン雰囲気中で低温プラズ マ処理しておいた厚さ 25 μ mのポリイミドフィルム("カプトン" 100EN東レ.デュポン (株)製)に、乾燥後の膜厚が 1 μ mになるようにリバースコーターで塗工し、 80°Cで 1 0分、さらに 140°Cで 10分乾燥し、ポリイミドフィルム Z耐熱性榭脂層 Bの積層体を得 た。
[0138] 上記作成の銅箔 Z耐熱性榭脂層 Aの積層体とポリイミドフィルム Z耐熱性榭脂層 B の積層体の耐熱性榭脂層 A、耐熱性榭脂層 Bが向かい合うように、ロールの表面温 度を 200°Cに加熱したロールラミネーターで、線圧 10N/mm、速度 lm/分で加熱圧 着した後、さらに窒素雰囲気下で加熱ステップキュア [ (80°C、 30分) + (150°C、 1 時間) + (280°C、 2時間)]で耐熱性榭脂層のイミドィ匕を行い室温まで徐冷し、片面 銅層付き積層フィルムを得た。得られた片面銅層付き積層フィルムの反りを測定した ところ、 Ommであった。また、接着力は 12N/cmであった。
[0139] 実施例 11一 13
ポリイミドフィルム、銅箔、耐熱性榭脂層 A、耐熱性榭脂層 Bの種類、膜厚、を表 4の ように変えた以外は実施例 10と同様の操作を行 ヽ、片面銅層付き積層フィルムを得 た。得られた片面銅層付き積層フィルムの反りの評価結果を表 4にまとめた。
[0140] 実施例 14
ポリイミドフィルム、銅箔、耐熱性榭脂層 A、耐熱性榭脂層 Bの種類、膜厚、を表 4の ように変えた以外は実施例 10と同様の操作を行 ヽ、片面銅層付き積層フィルムを得 た。得られた片面銅層付き積層フィルムの反りの評価結果を表 4にまとめた。
[0141] 比較例 6— 8
ポリイミドフィルム、銅箔、耐熱性榭脂層 A、耐熱性榭脂層 Bの種類、膜厚、を表 4の ように変えた以外は実施例 4と同様の操作を行 ヽ、片面銅層付き積層フィルムを得た 。得られた片面銅層付き積層フィルムの反りの評価結果を表 4にまとめた。
[表 4]
表 4
銅箔 耐熱性樹脂層 A 反レ J 接着力 ポリイ Sト'フィル 耐熱性樹脂層 B
線膨張係数 kA ポリイミド 厶の線膨張係 線膨張係数
種類 (ppm/°C) 膜厚 (K m) フィルム 数 k{ppm/°C) 種類 (ppm/°C) 膜厚 (《m) (mm; (N/cm) 実施例 1 0 TQ-VLP PA1 20 3 。トン 100E 17 PA7 89 1 0 12 実施例 1 1 TQ-VLP PA1 20 3 カフ'トン 100EN 17 PA7 89 3 3 12 実施例 1 2 F1 -WS PA2 20 4 ュ一ビレックス 25S 14 PAフ 89 2 0.1 11 実施例 1 3 F0-WS PA3 18 5 カプトン 100EN 17 PAフ 89 2 0 1 1 実施例 1 4 TQ-VLP PA8 16 4 カプトン 100EN 17 PA7 89 2 0 11 比較例 6 TQ-VLP PA4 42 3 カプトン 100EN 17 PA7 89 1 >20 11 比較例 7 TQ-VLP PA5 39 5 ユーヒ'レックス 25S 14 PA7 89 2 >20 11 比較例 8 TQ-VLP PA6 68 4 カフ-トン 100EN 17 PA7 89 2 >20 11
[0143] 実施例 15
ポリアミド酸榭脂溶液 PA1を、あら力じめアルゴン雰囲気中で低温プラズマ処理し ておいた厚さ 25 μ mのポリイミドフィルム("カプトン" 100EN東レ 'デュポン (株)製) に乾燥後の膜厚が 3 mになるようにリバースコーターで塗工し、 80°Cで 10分、さら に 140°Cで 10分乾燥した後、さらにその上に、ポリアミド酸榭脂溶液 PA6を乾燥後の 膜厚が: L mになるようにリバースコーターで塗工し、 80°Cで 10分、さらに 140°Cで 1 0分乾燥した。該塗工品を窒素雰囲気中 290°Cで 5分加熱処理を行い、イミドィ匕およ び残存溶媒の除去を行 ヽ、ポリイミドフィルム,耐熱性榭脂層 AZ耐熱性榭脂層 Bの 積層体を得た。
[0144] 上記作成のポリイミドフィルム,耐熱性榭脂層 AZ耐熱性榭脂層 Bの積層体の耐 熱性榭脂層 Bに、接着面側を粗ィ匕処理した厚さ 12 mの粗化銅箔 (TQ— VLP三井 金属 (株)製)を張り合わせ、ロールの表面温度を 350°Cに加熱したロールラミネータ 一で、図 5のように保護フィルムとして厚さ 125 μ mのポリイミドフィルム("カプトン" 50 OH東レ ·デュポン (株)製)を両ロールとポリイミドフィルム Zポリイミド榭脂層積層体、 銅箔の間にそれぞれ介在させ、線圧 50N/mm、速度 2m/分で加熱圧着し、片面銅 層付き積層フィルムを得た。得られた片面銅層付き積層フィルムの反りを測定したとこ ろ、 3mmであった。また、接着力は 10N/cmであった。
[0145] 実施例 16
ポリアミド酸榭脂溶液 PA6を、接着面側を粗化処理した厚さ 12 mの粗化銅箔 (T Q-VLP三井金属 (株)製)に、乾燥後の膜厚が 0. 5 mになるようにリバースコータ 一で塗工し、 80°Cで 10分、さらに 140°Cで 10分乾燥した後、さらにその上に、ポリア ミド酸榭脂溶液 PA1を乾燥後の膜厚が 3 μ mになるようにリバースコーターで塗工し 、 80°Cで 10分、さらに 140°Cで 10分乾燥した。該塗工品を窒素雰囲気中 290°Cで 5 分加熱処理を行い、イミド化および残存溶媒の除去を行い、銅箔 Z耐熱性榭脂層 B Z耐熱性榭脂層 Aの積層体を得た。
[0146] 同様に、ポリアミド酸榭脂溶液 PA7を、あらカゝじめアルゴン雰囲気中で低温プラズ マ処理しておいた厚さ 25 μ mのポリイミドフィルム("カプトン" 100EN東レ.デュポン (株)製)に、乾燥後の膜厚が 1 μ mになるようにリバースコーターで塗工し、 80°Cで 1 0分、さらに 140°Cで 10分乾燥した。該塗工品を窒素雰囲気中 290°Cで 5分加熱処 理を行い、イミド化および残存溶媒の除去を行い、ポリイミドフィルム Z耐熱性榭脂層 Bの積層体を得た。
[0147] 上記作成の銅箔 Z耐熱性榭脂層 BZ耐熱性榭脂層 Aの積層体とポリイミドフィルム Z耐熱性榭脂層 Bの積層体の耐熱性榭脂層 A、耐熱性榭脂層 Bが向力 、合うように 、ロールの表面温度を 350°Cに加熱したロールラミネーターで、図 5のように保護フィ ルムとして厚さ 125 μ mのポリイミドフィルム("カプトン" 500Η東レ 'デュポン(株)製) を両ロールと銅箔 Z耐熱性榭脂層 BZ耐熱性榭脂層 Aの積層体、ポリイミドフィルム Z耐熱性榭脂層 Bの積層体の間にそれぞれ介在させ、線圧 50N/mm、速度 2m/分 で加熱圧着し、片面銅層付き積層フィルムを得た。得られた片面銅層付き積層フィル ムの反りを測定したところ、 0. 2mmであった。また、接着力は 12N/cmであった。
[0148] 実施例 17
ポリアミド酸榭脂溶液 PA7を、接着面側を粗化処理した厚さ 12 mの粗化銅箔 (T Q-VLP三井金属 (株)製)に、乾燥後の膜厚が 0. 3 mになるようにリバースコータ 一で塗工し、 80°Cで 10分、さらに 140°Cで 10分乾燥した後、さらにその上に、ポリア ミド酸榭脂溶液 PA1を乾燥後の膜厚が 3 μ mになるようにリバースコーターで塗工し 、 80°Cで 10分、さらに 140°Cで 10分乾燥し、銅箔 Z耐熱性榭脂層 BZ耐熱性榭脂 層 Aの積層体を得た。
[0149] 同様に、ポリアミド酸榭脂溶液 PA7を、あらカゝじめアルゴン雰囲気中で低温プラズ マ処理しておいた厚さ 25 μ mのポリイミドフィルム("カプトン" 100EN東レ.デュポン (株)製)に、乾燥後の膜厚が 1 μ mになるようにリバースコーターで塗工し、 80°Cで 1 0分、さらに 140°Cで 10分乾燥し、ポリイミドフィルム Z耐熱性榭脂層 Bの積層体を得 た。
[0150] 上記作成の銅箔 Z耐熱性榭脂層 BZ耐熱性榭脂層 Aの積層体とポリイミドフィルム Z耐熱性榭脂層 Bの積層体の耐熱性榭脂層 A、耐熱性榭脂層 Bが向力 、合うように 、ロールの表面温度を 200°Cに加熱したロールラミネーターで、線圧 10N/mm、速 度 lm/分で加熱圧着した後、さらに窒素雰囲気下で加熱ステップキュア [ (80°C、 30 分) + (150°C、 1時間) + (280°C、 2時間)]で耐熱性榭脂層のイミド化を行い、室温 まで徐冷し、片面銅層付き積層フィルムを得た。得られた片面銅層付き積層フィルム の反りを測定したところ、 0. 1mmであった。また、接着力は 14N/cmであった。
[0151] 実施例 18
ポリアミド酸榭脂溶液 PA1を、接着面側を粗化処理した厚さ 12 mの粗化銅箔 (T Q-VLP三井金属 (株)製)に、乾燥後の膜厚が 5 mになるようにリバースコーター で塗工し、 80°Cで 10分、さらに 140°Cで 10分乾燥した。該塗工品を窒素雰囲気中 2 90°Cで 5分加熱処理を行い、イミドィ匕および残存溶媒の除去を行い、銅箔 Z耐熱性 樹脂層 Aの積層体を得た。
[0152] 次に、ポリアミド/エポキシ/フエノール系耐熱性榭脂溶液 (EP1)を、あら力じめアル ゴン雰囲気中で低温プラズマ処理しておいた厚さ 25 μ mのポリイミドフィルム("ユー ピレックス" 25S宇部興産 (株)製)に、乾燥後の膜厚が 2 /z mになるようにリバースコ 一ターで塗工し、 80°Cで 10分、さらに 120°Cで 10分乾燥し、ポリイミドフィルム Z耐 熱性榭脂層 Bの積層体を得た。
[0153] 上記作成の銅箔 Z耐熱性榭脂層 Aの積層体とポリイミドフィルム Z耐熱性榭脂層 B の積層体の耐熱性榭脂層 A、耐熱性榭脂層 Bが向かい合うように、ロールの表面温 度を 140°Cに加熱したロールラミネーターで、線圧 6N/mm、速度 lm/分で加熱圧 着した後、さらに加熱ステップキュア [ (80°C、 30分) + (120°C、 1時間) + (160°C、 2時間) ]で耐熱性榭脂層 Bの熱硬化を行 ヽ室温まで徐冷し、片面銅層付き積層フィ ルムを得た。得られた片面銅層付き積層フィルムの反りを測定したところ、 Ommであ つた。また、接着力は l lN/cmであった。
[0154] 実施例 19
ポリアミド酸榭脂溶液 PA8を、接着面側を粗化処理した厚さ 12 mの粗化銅箔 (T Q-VLP三井金属 (株)製)に、乾燥後の膜厚が 5 mになるようにリバースコーター で塗工し、 80°Cで 10分、さらに 140°Cで 10分乾燥し、銅箔 Z耐熱性榭脂層 Aの積 層体を得た。
[0155] 次に、ポリアミド/エポキシ/フエノール系耐熱性榭脂溶液 (EP1)を、あら力じめアル ゴン雰囲気中で低温プラズマ処理しておいた厚さ 25 μ mのポリイミドフィルム("カプト ン" 100EN東レ 'デュポン (株)製)に、乾燥後の膜厚が 2 /z mになるようにリバースコ 一ターで塗工し、 80°Cで 10分、さらに 120°Cで 10分乾燥し、ポリイミドフィルム Z耐 熱性榭脂層 Bの積層体を得た。
[0156] 上記作成の銅箔 Z耐熱性榭脂層 Aの積層体とポリイミドフィルム Z耐熱性榭脂層 B の積層体の耐熱性榭脂層 A、耐熱性榭脂層 Bが向かい合うように、ロールの表面温 度を 140°Cに加熱したロールラミネーターで、線圧 6N/mm、速度 lm/分で加熱圧 着した後、さらに窒素雰囲気下で加熱ステップキュア [ (80°C、 30分) + (150°C、 1 時間) + (280°C、 1時間)]で耐熱性榭脂層のイミドィ匕および熱硬化を行い室温まで 徐冷し、片面銅層付き積層フィルムを得た。得られた片面銅層付き積層フィルムの反 りを測定したところ、 Ommであった。また、接着力は l lN/cmであった。
[0157] 以上の結果から本発明は、金属層が積層された状態、金属層を全面エッチングし た状態のいずれにおいても、耐熱性榭脂積層フィルムの反りが無かった。一方、比較 例では、金属層が積層された状態では反りが無力つたが、金属層を全面エッチング した状態では、大きな反りが発生し、筒状に丸まった。
[0158] 実施例 20
実施例 1で得られた銅層付き積層フィルムの銅層上にフォトレジスト膜をリバースコ 一ターで乾燥後の膜厚が 4 mになるように塗布、乾燥後、マスク露光し、アルカリ現 像液で配線パターンを形成後、銅箔を第二塩ィ匕鉄水溶液でウエットエッチング処理 した。残ったフォトレジスト膜を除去して銅配線パターンを形成した。形成した銅配線 ノ ターン上にスズを 0. 4 m無電解メツキした後、配線パターン上にソルダーレジスト を塗布して COFテープを得た。得られた COFテープに反りは無かった。
[0159] 上記方法で得られた COFテープのインナーリードに、金バンプを形成した半導体 チップをフリップチップ実装で接合し、榭脂で封止することにより半導体装置を得た。 COFテープに反りが無いため、接合不良等による欠点が少なぐ半導体装置は良好 な信頼性を示した。
[0160] 実施例 21
実施例 6で得られた銅層付き積層フィルムを用いた以外は実施例 20と同様の操作 を行った。 COFテープに反りは無ぐこれから作成した半導体装置は配線が短絡す ることもなく、良好な信頼性を示した。 実施例 22
実施例 13で得られた銅層付き積層フィルムを用いた以外は実施例 20と同様の操 作を行った。 COFテープに反りは無ぐこれから作成した半導体装置は配線が短絡 することもなく、良好な信頼性を示した。

Claims

請求の範囲
[1] 耐熱性絶縁フィルムの少なくとも片面に耐熱性榭脂層を積層した耐熱性榭脂積層 フィルムであって、耐熱性榭脂層の線膨張係数 kA(ppm/。C)が、 k-10≤kA≤k+ 20 (k:耐熱性絶縁フィルムの線膨張係数)の範囲にある耐熱性榭脂積層フィルム。
[2] 耐熱性絶縁フィルムの少なくとも片面に耐熱性榭脂層を積層した耐熱性榭脂積層 フィルムであって、耐熱性榭脂層が 2層以上の耐熱性榭脂層から構成されており、そ のうちの少なくとも 1層の耐熱性榭脂層の線膨張係数 kA(ppm/°C)力 k-10≤kA ≤k+20 (k:耐熱性絶縁フィルムの線膨張係数)である請求項 1記載の耐熱性榭脂 積層フィルム。
[3] 前記耐熱性絶縁フィルムの線膨張係数が 5— 25ppm/°Cであり、線膨張係数 kA(p pm/°C)が k-10≤ kA≤ k+ 20 (k:耐熱性絶縁フィルムの線膨張係数)の範囲にあ る耐熱性榭脂層の線膨張係数が 5— 30ppm/°Cである請求項 1又は 2記載の耐熱性 榭脂積層フィルム。
[4] 線膨張係数 kA (ppm/°C)が k-10≤ kA≤ k + 20 (k:耐熱性絶縁フィルムの線膨 張係数)の範囲にある耐熱性榭脂層を構成する榭脂がポリイミド系榭脂であり、ポリイ ミド系榭脂のジァミン成分が一般式(1)一(3)のいずれかで表される構造を有する芳 香族ジァミンの少なくとも 1種を全ジァミン成分中の 40モル%以上含む請求項 1ない し 3のいずれ力 1項に記載の耐熱性榭脂積層フィルム。
[化 1]
Figure imgf000047_0001
Figure imgf000047_0002
Figure imgf000047_0003
(式中 R1— R8は同じでも異なっていても良ぐ水素原子、炭素数 1一 30のアルキル基
、炭素数 1一 30のアルコキシ基、ハロゲン、水酸基、カルボキシル基、スルホン基、二 トロ基、シァノ基力 選ばれる。)
[5] ポリイミド系榭脂のジァミン成分力 ¾ フエ-レンジァミン、 4, 4,ージァミノベンズァ- リド、 2, 2'—ジメチルベンジジン力 選ばれる少なくとも 1種を全ジァミン成分中の 40 モル%以上含む請求項 4記載の耐熱性榭脂積層フィルム。
[6] ポリイミド系榭脂のテトラカルボン酸成分がピロメリット酸二無水物および Zまたはビ フエニルテトラカルボン酸二無水物を全テトラカルボン酸成分中の 40モル%以上含 む請求項 4記載の耐熱性榭脂積層フィルム。
[7] 請求項 1な!ヽし 6の 、ずれかに記載の耐熱性榭脂積層フィルムの耐熱性榭脂層側 に金属箔を積層した金属層付き積層フィルム。
[8] 耐熱性絶縁フィルムの少なくとも片面に耐熱性榭脂層を介して金属箔を積層してな る金属層付き積層フィルムであって、耐熱性榭脂層が少なくとも 2層であり、金属層に 接する側に線膨張係数 kA (ppm/°C)が k-10≤ kA≤ k+ 20 (k:耐熱性絶縁フィル ムの線膨張係数)の範囲にある耐熱性榭脂層 A、耐熱性絶縁フィルムに接する側に 耐熱性榭脂層 Aよりもガラス転移温度が低い耐熱性榭脂層 Bが積層された請求項 7 記載の金属層付き積層フィルム。
[9] 前記耐熱性榭脂層 Aのガラス転移温度が 250°C— 400°Cである請求項 8記載の金 属層付き積層フィルム。
[10] 耐熱性榭脂層 Aの膜厚が耐熱性榭脂層 Bの膜厚の 2倍以上である請求項 8又は 9 記載の金属層付き積層フィルム。
[11] 耐熱性榭脂層 Bがポリイミド系榭脂である請求項 8ないし 10のいずれか 1項に記載 の金属層付き積層フィルム。
[12] 耐熱性榭脂層 Bのガラス転移温度が 120°C— 280°Cである請求項 11記載の金属 層付き積層フィルム。
[13] 耐熱性榭脂層 Bがエポキシ系化合物を含む熱硬化性榭脂である請求項 8ないし 10 の!、ずれか 1項に記載の金属層付き積層フィルム。
[14] 耐熱性榭脂層 Bのガラス転移温度が 50°C— 250°Cである請求項 13記載の金属層 付き積層フィルム。
[15] 請求項 6な ヽし 14の ヽずれかに記載の金属層付き積層フィルムを含む半導体装置
[16] 耐熱性絶縁フィルムの少なくとも片面に耐熱性榭脂層を介して金属箔を積層してな る金属層付き積層フィルムの製造方法であって、金属箔に線膨張係数 kA(ppm/°C )が k-10≤ kA≤k+ 20 (k:耐熱性絶縁フィルムの線膨張係数)の範囲にある耐熱 性榭脂層を含む、少なくとも 1層の耐熱性榭脂層を積層する工程と、該金属箔 Z耐 熱性榭脂層積層体と、必要により少なくとも 1層の耐熱性榭脂層を積層した耐熱性絶 縁フィルムとを張り合わせ、加熱圧着する工程とを有する金属層付き積層フィルムの 製造方法。
[17] 耐熱性絶縁フィルムの少なくとも片面に耐熱性榭脂層を介して金属箔を積層してな る金属層付き積層フィルムの製造方法であって、耐熱性絶縁フィルムに線膨張係数 kA (ppm/°C)が k-10≤ kA≤ k+ 20 (k:耐熱性絶縁フィルムの線膨張係数)の範囲 にある耐熱性榭脂層を含む、少なくとも 1層の耐熱性榭脂層を積層する工程と、該耐 熱性絶縁フィルム Z耐熱性榭脂層積層体と、必要により少なくとも 1層の耐熱性榭脂 層を積層した金属箔とを張り合わせ、加熱圧着する工程とを有する金属層付き積層 フィルムの製造方法。
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