WO2002025257A1 - Methode de mesure quantitative, appareil de phase metallique utilisant un procede de diffraction de rayons x et procede de production d'une tole d'acier plaquee utilisant cette methode et cet appareil - Google Patents

Methode de mesure quantitative, appareil de phase metallique utilisant un procede de diffraction de rayons x et procede de production d'une tole d'acier plaquee utilisant cette methode et cet appareil Download PDF

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ray
measuring
plating layer
rays
metal phase
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Toru Fujimura
Akira Yamamoto
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Kawasaki Steel Corporation
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    • G01N2223/61Specific applications or type of materials thin films, coatings

Definitions

  • the present invention relates to a method for quantitatively measuring a metal phase using an X-ray diffraction method, an apparatus, and a method for producing a plated steel sheet using them.
  • the present invention relates to a method and an apparatus for accurately measuring the amount of a metal phase contained in a plating layer, in particular, a desired metal phase among two or more metal phases contained in the plating layer in a non-destructive state by an X-ray diffraction method. And a method for producing a plated steel sheet using the same.
  • Quality characteristics of plating containing alloy phase Fluctuate significantly depending on the amount of each alloy phase in the plating layer. Therefore, in order to manufacture high-quality plated products, it is important to accurately measure the amount of each phase deposited and to control production conditions such as heat treatment conditions.
  • a typical example of a plated product having a plated layer containing an alloy phase is an alloyed hot-dip galvanized steel sheet having a plurality of Fe—Zn alloy phases in the plated layer. Alloyed hot-dip galvanized steel sheets are subjected to heat treatment to improve quality characteristics such as peeling resistance, weldability, corrosion resistance after painting, and coating film adhesion. It is manufactured by actively growing the Fe—Zn alloy phase.
  • the plating layer on the steel sheet is mainly composed of the ⁇ i phase of the Fe-Zn alloy phase, but a small amount of the ⁇ and ⁇ phases exists due to excessive or insufficient heat treatment.
  • the quality characteristics of the alloyed hot-dip galvanized steel sheet are significantly affected by the amount of ⁇ phase and ⁇ phase in the coating layer. Therefore, in order to manufacture high quality alloyed hot-dip galvanized steel sheets, it is necessary to control the heat treatment conditions, for example, the heating temperature or heating time, and always control the appropriate amounts of the ⁇ phase and ⁇ phase. is important.
  • the amount of metal phase contained in the plating layer of a galvannealed steel sheet A method of measuring using a line diffraction method is disclosed.
  • the number of reference materials can be reduced to each stage as compared with the conventional case.
  • the obtained diffracted X-ray intensity itself is the same as before. Therefore, there is no solution to the problem that the measurement accuracy is poor when the obtained diffraction X-ray intensity is small.
  • the degree of metallization of the plating layer is measured using the value of the ratio of two specific X-ray diffraction intensities of the alloy phase. Also, the specific phase of the alloy Using the value of the ratio of one X-ray diffraction intensity and pack ground intensity, measure the degree of metallization of the plating layer. It is intended to measure the degree of alloying of a layer with good accuracy in a practical alloying zone. However, it does not increase the detected X-ray diffraction intensity itself. Therefore, sufficient accuracy cannot be obtained depending on the state of the sample to be measured.
  • an object of the present invention is to increase the intensity of diffraction X-rays from a metal phase contained in a plating layer, thereby improving the measurement accuracy of the amount of the metal phase contained in the plating layer. In addition, it aims to contribute to the production of high-quality plated products. In addition, as in the online measurement of a running steel sheet,
  • the inventors have chosen a way to increase the intensity of the detected diffracted X-rays as a drastic measure in order to improve the measurement accuracy of the trace components by the X-ray diffraction method. Then, the present inventors invented a method and an apparatus for accurately quantifying a trace component by increasing the intensity of the detected diffraction X-ray itself. In particular, a method and apparatus for accurately quantifying the degree of alloying of a metal plating layer has been invented.
  • the present invention relates to these methods, an apparatus for realizing the methods, and a method for producing a plated steel sheet using them.
  • the present invention is a method and apparatus for measuring the adhesion amount of a metal phase contained in a plating layer by using an X-ray diffraction method. Measure over a predetermined range on the ring and integrate the obtained diffraction X-ray intensity data By doing so, the adhesion of the metal phase can be measured accurately.
  • the present invention provides a method for measuring the amount of a metal phase contained in a plating layer using an X-ray diffraction method, wherein at least diffraction X-rays from the metal phase are formed by the diffraction X-rays.
  • the metal phase may be singular or plural, and accurate measurement is possible even if the metal phase is a pure metal phase or an alloy phase. More specifically, the present invention is suitably applied when the plating is hot-dip galvanizing or galvannealing.
  • the measurement can be performed during the step of performing the surface treatment of the steel sheet, and the amount of the metal phase contained in the plating layer can be accurately and online measured. It is possible to control the alloying processing conditions using the measurement results.
  • the present invention is an apparatus for measuring the amount of a metal phase in a plating layer using the above method, wherein the X-ray source irradiates the plating layer containing the metal phase with an X-ray beam, and is included in the plating layer. It has a detector for detecting diffracted X-rays from the metal phase over a predetermined range along the Depay ring, and a data processing device for processing X-ray intensity data detected by the detector.
  • the detector has an X-ray detection surface curved along the depay ring.
  • the detector may also be a scintillation counter having a function of scanning the predetermined area along the depay ring.
  • the present invention provides an X-ray source for irradiating an X-ray beam, and a plurality of diffracted X-rays arranged on each of one or two or more depay rings of diffracted X-rays generated from the substance irradiated with the X-ray.
  • the present invention also provides an X-ray source that emits an X-ray beam, a multilayer mirror that compresses, monochromates, and parallelizes the emitted X-ray, and a slit that passes a part of the parallel X-ray.
  • An X-ray irradiator comprising: an X-ray irradiator having X-ray irradiating means; It is an apparatus for measuring the amount of adhesion of an alloy phase in a plating layer on a steel sheet using a folding method.
  • the X-ray intensity (total amount of X-rays detected per unit time) detected by the method and the apparatus of the present invention can be increased, and the measurement accuracy of the attached amount of the metal phase can be improved.
  • FIG. 1 is a diagram showing an outline from X-ray irradiation from an X-ray source to detection of diffracted X-rays in the present invention.
  • FIG. 2 is a partially enlarged view of FIG. 1 showing a diffracted X-ray detecting means or detector having a predetermined length of the present invention and being curved along the depay ring, arranged on the depay ring.
  • FIG. 3 is a conceptual diagram of an apparatus for measuring the adhesion amount of the metal phase contained in the plating layer of the present invention for measuring the adhesion amount of the ⁇ -phase, the ⁇ -phase, and the ⁇ -phase of the alloyed hot-dip galvanized steel sheet.
  • FIG. 4 is a conceptual diagram of a measurement method using a plurality of X-ray detectors of the present invention.
  • FIG. 5 is a partially enlarged view showing a state where a plurality of X-ray detectors are arranged on the same depay ring in the measurement method of the present invention.
  • FIG. 6 is a conceptual diagram of the measuring apparatus of the present invention for measuring the amount of the ⁇ phase, the Si phase and the ⁇ phase in the plating layer of the galvannealed steel sheet.
  • FIG. 7 is a conceptual diagram of an on-line measuring apparatus using the X-ray diffraction method for the Fe— ⁇ n alloy phase of the alloyed hot-dip galvanized steel sheet of the present invention.
  • FIG. 8 is a schematic cross-sectional view showing the distribution of the ⁇ phase, the ⁇ phase, and the ⁇ phase contained in the plated layer of the alloyed hot-dip galvanized steel sheet, particularly the plated layer. Disclosure of the invention
  • the detection is performed by measuring a diffraction X-ray from the metal phase contained in the plating layer over a predetermined range on the depay ring.
  • the number of diffracted X-ray powers per unit time in the means increases in each step. Integrate the obtained X-ray intensity data (counts per time above) for a certain period of time.
  • the measurement method of the present invention has a large pack ground component and the relative intensity of the diffracted X-rays of the metal phase to be measured, as in the case of measuring a trace amount of the metal phase in a plating layer containing a plurality of metal phases. Even in the case of remarkably weakness, it is possible to accurately measure the attached amount of the target metal phase in a short time. This is particularly useful in situations where it is necessary to feed back measurement data in a short time, such as online measurement.
  • FIG. 1 shows a relationship from irradiation of X-rays from an X-ray source to detection of diffracted X-rays by a detection means in the measurement method of the present invention.
  • X-rays radiated from an X-ray source 11 through a slit 12 are incident on a surface 13 of a steel sheet, and generate diffracted X-rays by a metal phase (not shown). Diffracted X-rays spread conically around the X-ray irradiation direction. The bottom part of this cone is the Depay ring 20.
  • diffraction X-rays are measured over a predetermined range on the Depay ring.
  • FIG. 2 is a partially enlarged view of FIG. 1 showing the relationship between the Depay ring and the means for detecting diffraction X-rays.
  • the detecting means 16 having a predetermined length and curved along the Depay ring on the Depay ring, the diffracted X-rays are reflected on the Debye ring. Detection is performed over the above predetermined range. As a result, the number of diffracted X-rays per measurement time increases, and the obtained diffracted X-ray intensity data is integrated by a data processor (not shown), whereby the X-ray intensity data is increased, and The measurement accuracy of the amount of adhesion is improved.
  • Measuring X-rays over a predetermined range on the Depay ring is not limited to measurement using an X-ray detector curved along the Depay ring, as shown in Fig. 2.
  • the predetermined range for detecting diffracted X-rays is appropriately selected.
  • the position on the Depay ring within a predetermined range for detecting diffracted X-rays is not necessarily limited. This is because the coating layer, especially the alloyed hot-dip zinc coating layer, is polycrystalline, so that diffraction X-rays from the metal phase generally do not show significant orientation on the Depay ring. . Therefore, the position at which the detecting means is arranged may be appropriately selected in consideration of the arrangement of other components.
  • a diffraction X-ray detecting means is arranged on each of the corresponding depay rings, and the adhesion amounts of the plurality of metal phases can be measured.
  • the alloyed hot-dip galvanized layer has three phases, a ⁇ phase, a ⁇ i phase, and a ⁇ phase.
  • FIG. 3 is a conceptual diagram of the measuring apparatus of the present invention for simultaneously measuring the adhesion amounts of the ⁇ phase, the ⁇ phase and the ⁇ phase contained in the plated layer of the galvannealed steel sheet.
  • the X-rays radiated from the X-ray source 11 to the surface 13 of the steel sheet through the slits 12 produce corresponding diffracted X-rays in the ⁇ phase, the ⁇ i phase and the ⁇ phase, respectively.
  • the diffracted X-rays spread conically around the X-ray irradiation direction and form depay rings 20, 21, 22 corresponding to each alloy phase.
  • 16 to 18 are detection means for detecting diffracted X-rays over a predetermined range on each depay ring, 16 is for detecting the Si phase, and 17 is for detecting the ⁇ phase. Is a detector for ⁇ phase detection. The X-ray intensity data detected by these X-ray detectors is integrated by the data processor 23, and the amount of each metal phase deposited can be measured quickly and accurately. 15 and 19 are scintillation counters for measuring background elements. Moreover, in actual measurement, the depay rings corresponding to these three phases are not always in the order shown in FIG.
  • FIG. 3 shows an embodiment in which diffraction X-rays are measured over a predetermined range on the Depay ring in all of the ⁇ phase, ⁇ ⁇ phase, and ⁇ phase. What is necessary is just to measure over a predetermined range on two depay rings. Not every depay It is not necessary to measure diffracted X-rays over a given area on the ring.
  • the X-ray may be measured over a predetermined range in consideration of the expected diffraction X-ray intensity, or the X-ray may be measured at one point on the Depay ring by a conventional method.
  • the metal phase existing in a very small amount in the plating layer such as the ⁇ phase and the ⁇ phase
  • the X-rays are measured over a predetermined range by using the conventional method because the intensity of the diffracted X-rays of metal phases, such as phases, that are contained in a large amount in the plating layer are higher than those of other metal phases.
  • X-rays may be measured at one point on the Depay ring.
  • the predetermined range on the depay ring for measuring X-rays is not necessarily the same for all depay rings, and is appropriately selected according to the expected diffraction X-ray intensity.
  • a trace amount is present in the plating layer.
  • a predetermined range is provided wider than the St phase in order to further increase the diffraction X-ray intensity.
  • An X-ray source for irradiating an X-ray beam and an X-ray detector for detecting diffracted X-rays generated from a substance irradiated with the X-ray over a predetermined range along a Debye ring And a data processing device for processing the diffracted X-ray intensity data obtained by the X-ray detector.
  • the X-ray source consists of an X-ray generator that generates an X-ray beam and a slit that limits the divergence of the X-ray beam.
  • the X-ray generating device that can be used in the device of the present invention is an enclosed X-ray tube or a rotating anti-cathode. In each case, when a high voltage of several tens of kV is applied between the filament and the metal anode, the thermoelectrons generated by applying a current to the filament are accelerated by the high voltage and collide with the metal target. Generates X-rays.
  • the target is selected in consideration of the absorption of the X-ray by the sample and the measurement accuracy, and Cu, Cr, F, e, Co, Mo, or the like is used.
  • Cr, Fe, and Co suitable for measuring an iron-based sample are preferable, and Cr is particularly preferable because of its excellent SN ratio.
  • the slit consists of a solar slit for suppressing the vertical divergence of the X-ray beam and a divergence slit for limiting the divergence angle in the horizontal plane to the sample.
  • X-rays generated from a metal target such as an X-ray tube contain ⁇ ] 3 rays and white X-ray components in addition to the target rays. Therefore, it is necessary to remove these components and make them monochromatic.
  • Monochromatization of the X-ray beam is performed by inserting a Kj3 filter made of metal foil in front of the receiving slit or by using a monochromator.
  • Diffraction lines generated by irradiating the X-ray beam onto the material surface are condensed through the light receiving slit and detected by the X-ray detector placed on the depay ring through the solar slit and the scattering slit. , Measured.
  • a typical example for use in the apparatus of the present invention is a position-sensitive proportional detector.
  • an anode core wire and a cathode are arranged at a predetermined length, and a detector gas is flowed through the core and a high voltage is applied.
  • the detector gas is ionized by incident X-rays, and induced charges are generated at the cathode, and the measurement is performed. By doing so, the X-ray detection position and intensity can be measured.
  • Currently available position-sensitive proportional detectors are divided into linear and curved types.
  • the position-sensitive proportional detector can detect and measure X-rays over a predetermined range, and can specify not only the intensity of the detected X-rays but also the detection position.
  • these devices can be used, there are the following problems in using these position-sensitive proportional detectors in the measuring device of the present invention. Since the linear type position-sensitive proportional detector has a linear detection surface, when it is placed on a depay ring, the shape of the detection surface and the depay ring do not match, and as a result, the irradiation position on the sample Since the distance from the surface to the detection surface, that is, the arrival distance of the diffracted X-rays, is different, correction is required when integrating the detected X-ray intensity data.
  • the detection surface has a predetermined length and 2) it is curved along the Depay ring, thereby detecting diffraction X-rays over a predetermined range on the Depay ring. It has been found that an X-ray detector required for the measuring apparatus of the present invention can be obtained by producing a detector capable of performing the above-described operations.
  • a preferred example of the X-ray detector of the present invention is the above-described curved position-sensitive proportional detection.
  • the device has a predetermined length and is formed so as to be curved along a depay ring to be measured.
  • the ordinary proportional counter tube may have a predetermined length and be manufactured so as to be curved along the Depay ring.
  • a film in which microcrystals of a stimulable phosphor are applied to the surface of a flexible polymer, such as an imaging plate has a predetermined length and is arranged along the Depay ring. X-rays may be detected by a sensation effect.
  • the predetermined length of the detection surface of the X-ray detector is not particularly limited, and when measuring a phase with a small amount of adhesion, a measurement intensity at which sufficient detection accuracy is obtained. Is selected.
  • the position where the X-ray detecting means is arranged on the depay ring is not particularly limited, and may be appropriately selected as needed.
  • the arrangement position of the detection means may be appropriately selected in consideration of the arrangement of other components in the device.
  • the detection means is placed in consideration of the orientation.
  • the number of diffraction X-rays to be measured is not limited to one, but may be plural. In this case, it is not always necessary to dispose an X-ray detector for measuring X-rays over the entire length of the depay ring over the predetermined length.
  • an X-ray detector for measuring X-rays for example, in the case of the above-mentioned alloyed hot-dip galvanized steel sheet, the detection of diffraction X-rays from the metal phase contained in the plating layer, such as the ⁇ phase, Using detection means for detecting X-rays, the obtained X-ray intensity data is integrated by a data processing device described later,
  • the X-ray intensity data is enhanced, and diffraction X-rays from a metal phase that exists in a large amount in the plating layer like a phase may be detected by X-ray detection means that normally detects X-rays at one point. , ⁇
  • the data processing device of the measuring device of the present invention is not particularly limited as long as it can integrate the X-ray intensities obtained by the X-ray detecting means.
  • Such a data processing device may be one for each of a plurality of diffracted X-rays, or one that can integrate all the X-rays to be measured by one device.
  • the pair of the measuring device of the present invention The object to be measured is not necessarily limited to the adhesion amount of the metal phase contained in the plating layer, and may be, for example, a trace component in the composition.
  • the present invention is also a method for producing a galvannealed steel sheet using the above-described measuring method.
  • each metal phase contained in the plated layer is measured online during the surface treatment step of the steel sheet using the measuring method of the present invention, and based on the obtained measurement results, the alloy of the plated layer is formed.
  • the processing conditions that is, the heat treatment conditions of the steel sheet, for example, the heating temperature or heating time
  • the amount of each metal phase contained in the plating layer to the optimum condition
  • the adhesion of each metal phase in the plating layer Manufactures alloyed hot-dip galvanized steel sheets with optimized quantities.
  • Example 1
  • the ⁇ phase which requires the highest adhesion accuracy in terms of the quality of the steel sheet product, was measured.
  • the variation width of soil (adhesion amount accuracy) of the adhesion amount measurement value required for the phase is 0.37 g / m 2 .
  • the measured value of the adhesion amount is a value obtained by converting the count number of diffraction X-rays into a plating amount using standard data.
  • X-rays ( ⁇ -rays) were irradiated at a tube voltage of 40 kV and a tube current of 7 O mA using a Cr tube as the X-ray source.
  • a position-sensitive proportional detector with a detection surface length of 20 cm and a curved detection surface that matches the curvature of the Depay ring was used.
  • the repetition accuracy was 4.0% in the comparative example using a scintillation counter measuring at one point, but was 2.8% in the case of using the detection method of the present invention.
  • Equation 1 The repetition accuracy is represented by the following formula (1) which is usually used. Equation 1
  • i is the i-th measurement
  • n is the total number of repeated measurements
  • X i is the i-th diffraction X-ray intensity
  • Xa is the average value of the n-th diffraction X-ray intensity.
  • the accuracy of the amount of the attached phase of the liquid phase was 0.39 g Zm 2 in the comparative example, and 0.28 g / m 2 in the invention example.
  • the repetition accuracy of the measurement was improved, and the required adhesion amount measurement accuracy could be achieved.
  • the X-ray intensity data is increased by measuring the diffraction X-rays from the metal phase contained in the plating layer at a plurality of positions with respect to a certain depay ring, and integrating the obtained diffraction X-ray intensity data. Thereby, the adhesion amount of the metal phase is measured.
  • X-ray detectors for detecting diffracted X-rays are arranged at a plurality of positions with respect to the same depay ring on the depay ring by diffracted X-rays from a metal phase to be measured.
  • FIG. 4 is a conceptual diagram of the measuring method of the present invention. In FIG.
  • X-rays radiated from the X-ray source 11 through the slit 12 are incident on the surface 13 of the steel sheet and diffracted by a metal phase (not shown) included in the plating layer. Produces a line.
  • the diffracted X-rays spread in a conical shape with respect to the incident direction of the irradiating X-rays, and the bottom part of the cone is a Depay ring 20.
  • a plurality of X-ray detectors 16 are arranged on the depay ring, and diffracted X-rays are detected and measured via the slit 14. Diffraction X-ray intensity data obtained by a plurality of X-ray detectors 16 is enhanced by integrating with a data integrator 23, As a result, the measurement accuracy of the amount of the attached metal phase is improved.
  • FIG. 5 is a partially enlarged view showing a state where a plurality of X-ray detectors are arranged on a depay ring.
  • 20 indicates a depay ring
  • 16 indicates an X-ray detector arranged on the depay ring.
  • Symbols A to C indicate that a plurality of X-ray detectors are arranged on the same depay ring.
  • the number and position of the X-ray detectors arranged on the depay ring are not limited to those shown in Fig. 5, and can be selected as needed.However, detection is required when measuring a layer with a small amount of plating. Select a predetermined range that provides a measurement intensity that provides sufficient accuracy.
  • the plating layer contains multiple metal phases and the amount of the metal phase to be measured is very small, there are many background components, and the relative intensity of the desired diffracted X-ray is remarkably weak.
  • the alloy layer such as a galvanized steel sheet or a galvannealed steel sheet is polycrystalline, and the obtained diffraction X-ray intensity has a significant intensity distribution in the direction along the Depay ring.
  • the X-ray detector does not exist, that is, the intensity distribution is almost uniform.
  • the X-ray detector may be arranged at any position on the depay ring. Therefore, X-ray detectors should be placed as appropriate, taking into account the surrounding situation such as the location of other structures.
  • the metal phase to be measured by the present invention is not limited to one phase, and may be a plurality of metal phases.
  • all the adhesion amounts of the ⁇ phase, ⁇ phase and ⁇ phase can be measured simultaneously.
  • Fig. 6 shows an example of a measuring device for measuring the amount of ⁇ phase, ⁇ i phase and ⁇ phase contained in the galvannealed steel sheet. X-rays emitted from the X-ray source 11 to the surface 13 of the alloyed hot-dip galvanized steel sheet through the slits 12 generate diffracted X-rays by the ⁇ phase, ⁇ phase and ⁇ phase, respectively.
  • 1 6 to 1 8 is an X-ray detector in which a plurality placed on each Depai ring, 1 6 0 1-phase measurement, 1 7
  • Reference numeral 18 for phase measurement indicates a scintillation counter for phase measurement.
  • Reference numerals 15 and 19 denote scintillation counters for measuring the above-mentioned pack ground element.
  • the X-ray intensity data detected by these scintillation counters is integrated by the data processor 24, and the amount of each metal phase deposited is measured.
  • a plurality of X-ray detectors are arranged in all of the ⁇ phase, the 5 i phase and the ⁇ phase, but the measurement method of the present invention can be used to measure at least one position in at least one depay ring. It is not always necessary to arrange multiple X-ray detectors for every depay ring. Considering the expected diffraction X-ray intensity, it is possible to appropriately select whether to arrange a plurality of X-ray detectors or a single X-ray detector.
  • the measurement method of the present invention may be performed online during the step of performing the surface treatment of the steel sheet. Since the measuring method of the present invention can measure the amount of adhered metal phase in a short time and with high accuracy, it is measured during the surface treatment step of the steel sheet, and the measurement result is fed back to the surface treatment step, and is then applied to the plating layer. The amount of the metal phase contained can be optimized.
  • the measuring apparatus comprises: an X-ray source for irradiating an X-ray beam; and diffraction X-rays arranged on one or more of each of the depay rings of diffracted X-rays generated from the substance irradiated with the X-ray. And an integrator for integrating the diffracted X-ray intensity data obtained by the X-ray detector for the same Devir ring.
  • the X-ray source is composed of an X-ray generator that generates an X-ray beam and a slit that restricts the divergence of the X-ray beam, as in the case where the X-ray source has a curved detection surface. It can be used in the device of the present invention.
  • the X-ray generator, target, slit, X-ray monochromatic means, and guidance to the diffracted X-ray detector are the same as those provided with the curved detection surface described above.
  • X-ray detectors that can be used in the apparatus of the present invention include a scintillation counter, a proportional counter, and a semiconductor detector. The most common is the scintillation counter.
  • a plurality of X-ray detectors are arranged for the same depay ring of one or more diffracted X-rays.
  • the number and positions of the X-ray detectors arranged on the depay ring are not particularly limited, and may be appropriately selected as needed. For example, when it is expected that there are many background components and that the intensity of the diffracted X-rays to be measured is weak, an X-ray detector is appropriately added. If the diffraction X-ray intensity on the depay ring has an orientation, such as when a single crystal plane is irradiated with X-rays, the detector should be placed in consideration of the orientation. When X-ray detectors are arranged on two or more diffraction X-ray depay rings, it is not always necessary to arrange a plurality of X-ray detectors on all depay rings.
  • a weak diffraction from a phase contained in a trace amount such as a ⁇ phase or a ⁇ phase in the hot-dip galvanized layer or the alloyed hot-dip galvanized layer For example, a weak diffraction from a phase contained in a trace amount such as a ⁇ phase or a ⁇ phase in the hot-dip galvanized layer or the alloyed hot-dip galvanized layer.
  • Multiple X-ray detectors in order to increase the diffraction, and use a single X-ray detector for the depay ring from diffracted X-rays with a high relative intensity from a large amount of phases such as the ⁇ ⁇ phase. It may be arranged.
  • the integrator for integrating the diffracted X-ray intensity data obtained by the X-ray detectors arranged on the same depay ring is not particularly limited as long as the X-ray intensity data can be integrated.
  • the integrator may be for each depay ring, but the X-ray intensity data obtained by the X-ray detectors installed at all the depay rings are integrated for the same depay ring, respectively, and packed.
  • a data processing device that subtracts a measurement value obtained by an X-ray detector for ground measurement and outputs a measurement result may be used.
  • Another aspect of the present invention is a method for producing a galvannealed steel sheet using the measurement method of the present invention.
  • the measurement method of the present invention is used to measure the metal phase contained in the plating layer online during the surface treatment step of the steel sheet, and is optimal as in the case of providing a curved detection surface. Alloyed molten zinc-plated steel sheet can be manufactured.
  • the line speed in the surface treatment step of the steel sheet is 50 to 1 as in the case of the application in the case where the curved detection surface is provided.
  • the ⁇ phase was measured as in the case with the curved detection surface.
  • a Cr tube as the X-ray source, irradiate X-rays ( ⁇ -rays) at a tube voltage of 40 kV and a tube current of 7 OmA, and measure the X-rays at two points on the ⁇ ⁇ -phase depay ring.
  • the repetition accuracy was 4.0% (comparative example), but when two scintillation counters were used, it was 3.4% (example).
  • the repetition accuracy is the same as the definition described in the first embodiment.
  • the detection limits of the accuracy in the amount of ⁇ phase adhered were 0.39 g / m 2 (comparative example) and 0.34 g / m 2 (example), respectively.
  • The repeatability of the measurement of the amount of adhered phase was improved, and the required amount of adherence measurement accuracy was achieved.
  • the present inventors have developed a measuring apparatus and a measuring apparatus that can accurately measure the amount of an alloy phase contained in a plating layer on a steel sheet even when the distance between the diffraction position and the detection system fluctuates due to the vibration of the steel sheet. Solving the above problems of the prior art by examining various methods and irradiating the plated layer on the steel sheet with parallelized X-rays and measuring the diffraction X-rays from the substance to be measured contained in the plated layer I confirmed that I can do it.
  • the measuring device of the present invention is a measuring device for measuring the adhesion amount of the alloy phase in the plating layer on the steel plate, the X-ray source for irradiating the X-ray beam, the compression of the emitted X-ray, the monochromatization and the parallelization.
  • Means to compress, monochromatize, and collimate the emitted X-rays [eg, advances in X-ray analysis, 3 1 (2 0 0) 1 1—2 7];
  • X-ray irradiating means having a slit for allowing a part of the parallel X-ray to pass therethrough;
  • An X-ray detector is provided for detecting diffracted X-rays generated from the substance to be measured in the plating layer on the surface of the steel sheet to be irradiated.
  • the X-ray source is an X-ray generator that generates an X-ray beam.
  • the X-ray generator that can be used in the measurement device of the present invention is an enclosed X-ray tube or a rotating anti-cathode.
  • thermions generated by passing a current through the filament are accelerated by the high voltage and collide with the metal target.
  • the target is selected in consideration of the absorption of the X-ray by the sample and the measurement accuracy, and Cu, Cr, Fe, Co, Mo, or the like is used.
  • Cr, Fe, and Co suitable for measuring an iron-based sample are preferable, and Cr is particularly preferable because of its superior SN ratio.
  • the multilayer mirror is a device which periodically and alternately stacks heavy elements and light elements to cause Bragg reflection, and compresses the emitted X-rays to make them monochromatic and parallel. What can be done.
  • the X-ray beam generated by the X-ray source is compressed, monochromaticized and made parallel by entering the multilayer mirror.
  • the X-ray beam is collimated, and as a result, the diffracted X-ray generated by irradiating the substance contained in the plating layer on the surface of the sample steel plate with the X-ray beam is also collimated. Therefore, even when the distance between the X-ray diffraction position and the detection system fluctuates due to the vibration of the steel plate, the intensity of the detected X-ray diffraction is stable, and the measurement accuracy of the amount of plating adhesion is improved. .
  • Multilayer mirrors also have the effect of monochromaticizing X-rays, thereby improving the resolution of diffraction peaks.
  • the multilayer mirror makes the X-ray beam more parallel than the conventional so-called parallel X-ray, so the X-ray component, which was conventionally cut by a slit, also contributes to irradiating the sample surface.
  • the intensity of the diffracted X-rays reaching the target is also improved compared to the case where no multilayer mirror is used.
  • the improvement of the resolution and the diffraction intensity contribute to the improvement of the measurement accuracy of the coating weight.
  • the collimated, monochromated, and compressed X-ray beam is irradiated on the sample surface by the multilayer mirror to generate diffracted X-rays.
  • the diffraction line is slit Through a slit and a scattering slit), and is detected and measured by an X-ray detector placed on the Depay ring.
  • the slit 12 prevents the divergence of the X-ray beam generated by the X-ray source, and a solar slit for suppressing the divergence of the X-ray beam in the vertical direction;
  • a divergence slit for limiting the divergence angle in the horizontal plane is preferable, and a divergence slit having both is preferable.
  • X-ray detectors that can be used in the measurement apparatus of the present invention include a scintillation counter, a proportional counter, and a semiconductor detector. Among them, the most common is a scintillation counter.
  • the number of X-ray detectors used is not particularly limited.
  • the number of X-ray detectors corresponding to the phase to be measured may be used.
  • the measuring device of the present invention preferably has a data processing device for integrating the diffraction intensity data detected by the X-ray detector.
  • the diffraction X-rays of a small amount of the alloy phase having a small diffraction intensity can be integrated and increased, so that a small amount of the alloy phase, for example, ⁇ phase, ⁇ phase, etc. in the plating layer of a galvannealed steel sheet. This is advantageous when measuring the amount of adhesion.
  • the data processing device can also process data of a plurality of X-ray detectors when using a plurality of X-ray detectors as described above.
  • Another aspect (aspect) of the present invention is a method for measuring the adhesion amount of an alloy phase in a plating layer on a steel sheet using the above-described apparatus of the present invention.
  • the measuring method of the present invention is a method of irradiating a target substance in a plating layer on the surface of a steel sheet with X-rays collimated by a multilayer mirror and detecting diffracted X-rays generated from the target substance.
  • the adhesion amount of the alloy phase in the upper plating layer is measured.
  • the collimated X-rays are irradiated to the plating layer, so that the geometrical limit for obtaining the diffraction strength as in the concentrated method is greatly relaxed.
  • the intensity of the diffracted X-rays is stabilized, so that the amount of the alloy phase contained in the plating layer can be accurately measured .
  • This is suitable for on-line measurement of the amount of deposited alloy phase during the surface treatment step of the alloyed molten zinc.
  • the adhesion amount can be accurately measured online, and the measurement results are fed back to the surface treatment process and included in the plating layer.
  • the alloy phase can be produced in the optimum amount.
  • FIG. 7 is a conceptual diagram of an on-line measuring apparatus for measuring the amount of Fe- ⁇ alloy phase deposited on a galvannealed steel sheet using the measuring apparatus of the present invention.
  • 11 is an X-ray source
  • 25 is a multilayer mirror
  • 12 and 14 are slits
  • 13 is a galvannealed steel sheet
  • 15 to 19 are scintillation counters
  • 15 and 19 are 16 is for ⁇ phase
  • 17 is for ⁇ phase
  • 18 is for ⁇ phase measurement.
  • 23 is a data processing device.
  • the X-rays generated from the X-ray source 11 are compressed, monochromaticized and made parallel by the multilayer mirror 25, pass through the slit 12, and enter the plated steel plate 13.
  • the intensity of the diffracted X-rays is measured by scintillation counters 15 to 19, and the data processor 23 accurately calculates the adhesion amounts of the ⁇ phase, ⁇ ⁇ phase and ⁇ phase.
  • the amount of the Fe-Zn alloy phase of the alloyed hot-dip galvanized steel sheet flowing on the continuous hot-dip galvanizing line having the The measurement was performed using the apparatus of the present invention having the film mirror 25 (Example) and an apparatus not using the multilayer film mirror 25 (Comparative Example).
  • the alloy Of the metallic phase ⁇ and ⁇ phases contained in the coating layer of the galvannealed steel sheet the ⁇ phase, which requires the adhesion accuracy even with the quality of the steel sheet product, was measured.
  • Variation width of soil adhesion measuring values required for the ⁇ phase in the steel sheet product (deposition amount accuracy) is 0. 3 7 g Zm 2.
  • the measured value of the adhesion amount is a value obtained by converting the number of diffraction X-ray force points into a plating amount using standard data.
  • the repetition accuracy is represented by the above equation (1).
  • the adhesion amount of the liquid phase is 0.39 g Zm 2 and 0.26 g / m 2 , respectively.
  • the intensity of diffraction X-rays from the metal phase is high, and the measurement accuracy of the metal phase contained in the plating layer, particularly, the trace amount of the metal phase contained in the plating layer is improved. This is particularly effective when it is necessary to obtain measurement results in a short time, such as during online measurement in the steel sheet surface treatment process.
  • the method for producing a hot-dip galvanized steel sheet or an alloyed hot-dip galvanized steel sheet using the measurement method of the present invention is capable of feed-packing a highly accurate measurement result regarding the amount of adhered metal phase to the manufacturing process in a short time. Contribute to the production of high quality plated steel sheets.
  • the measuring device of the present invention is generally suitable for detecting and measuring a trace component in a composition.
  • the measurement object of the method of the present invention is not limited to this, and can be widely used for measuring the amount of the metal phase contained in the plating layer.

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Description

明 細 書
X線回折法を用いた金属相の定量測定方法, 装置およびそれらを用いためっき 鋼板の製造方法 技術分野
本発明は、 X線回折法を用いた金属相の定量測定方法, 装置おょぴそれらを 用いためっき鋼板の製造方法に関する。 本発明はめつき層に含まれる金属相、 特にはめつき層に 2以上含まれる金属相のうちの所望の金属相の付着量を X線 回折法により、 非破壊状態で正確に測定する方法、 装置およびそれらを用いた めっき鋼板の製造方法に関する。 背景技術
合金相を含むめっきの品質特性 (加工時の耐剥離性、 耐食性等) はめつき層 中の各合金相の付着量に依存して著しく変動する。 従って、 高品質のめっき製 品を製造するためには、 各相の付着量を正確に測定し、 熱処理条件等の製造条 件を管理することが重要である。
合金相を含むめっき層を有するめっき製品の代表例として、 めっき層中に複 数種類の F e— Z n合金相を有する合金化溶融亜鉛めつき鋼板がある。 合金化 溶融亜鉛めつき鋼板は、 耐剥離性、 溶接性、 塗装後の耐食性および塗膜密着性 等の品質特性を向上させる目的で、 溶融亜鉛めつき鋼板に加熱処理を施し、 め つき層中に F e— Z n合金相を積極的に成長させて製造される。 鋼板上のめつ き層は、 F e— Z n合金相のうち δ i 相を主体としたものとなるが、 加熱処理 の過不足により Γ相、 ζ相が少量存在する。 そして、 合金化溶融亜鉛めつき鋼 板の品質特性は、 めっき層中の Γ相および ζ相の付着量に著しく影響を受ける。 従って、 高品質の合金化溶融亜鉛めつき鋼板を製造するためには、 加熱処理条 件、 例えば加熱温度または加熱時間を制御して、 常に適正な Γ相、 ζ相の付着 量に管理することが重要である。
従来、 合金化溶融亜鉛めつき鋼板のめっき層に含まれる金属相の付着量を X 線回折法を用いて測定する方法は開示されている。
例えば特開平 9一 3 3 4 5 5号公報に開示されている方法がある。 この方法 は、 めっき層に X線を照射し、 F e— Z n合金相からの回折 X線強度測定値と、 予め求めておいた Γ相、 ζ相の付着量既知の合金化溶融亜鉛めつき鋼板の回折 X線強度測定値と、 回折 X線の理論強度式とを用い、 合金化溶融亜鉛めつき鋼 板の Γ相、 ζ相の付着量を求め、 合金化度を算出するものである。 回折 X線の 理論強度式を採用することにより、基準材の数を従来より各段に少なく出来る。 し力 し、 得られる回折 X線強度自体は従来と変わらない。 よって、 得られる回 折 X線強度が小きい場合に測定精度が劣るという問題に関する解決は与えられ ない。
また、 鋼板の表面処理工程時のオンライン測定のような、 走行する鋼板のォ ンライン測定では、 鋼板の振動の影響により精度の良い測定ができないという 問題がある。 すなわち、 ライン上を流れる鋼板の振動により、 X線の回折位置 と検出系との距離が変動し、 これが回折 X線強度に影響を与える。 Γ相、 ζ相 のような付着量が少量である合金相では得られる回折 X線強度が小さいので、 その付着量を正確に評価することが困難であった。
複数の金属相を含むめっき層に対する回折 X線の使用では、 上述した他のピ ークの重畳の発生する頻度が高いことが、 さらに、 正確な定量的な分析を困難 にしている。
表面処理工程中でのオンライン測定では、 短時間で測定結果をフィードバッ クすることが必要とされる。 この場合、 シンチレーシヨンカウンターでの検出 時間を長くして、 回折 X線のカウント数を増やすことができないため、 上記の 問題が顕著となる。
上記特開平 9一 3 3 4 5 5号の発明では、 適切な理論強度式の設定により上 記問題に対処しているが、 根本的な問題である回折 X線強度が弱い点は何ら解 消できていない。
さらなる従来例として、 特開平 5— 4 5 3 0 5号公報に開示されている方法があ る。 これは、 めっき層の合金ィ匕度の測定方法において、 合金相の特定の 2つの X線 回折強度の比の値を用いて、 めっき層の金化度を測定する。 また、 合金相の特定の 一つの X線回折強度とパックグランド強度の比の値を用いて、 めっき層の金化度を 測定する。 実用的な合金化域において、 良好な正確度めつき層の合金ィヒ度を測定し ようとするものである。 しかしながら、 検出される X線回折強度自体を大きくする のではない。 よって、 測定される試料の状態によっては、 十分な正確度が得られな い。
上記、 従来技術には、 それらに使用する平行ビーム光学系 X線回折装置を概略的 に示した図が開示されている。 しかし、 装置として特に特徴あるものではない。 発明の開示
本発明は、 前記事情に鑑み、 めっき層に含まれる金属相からの回折 X線強度を高 め、 それによりめっき層に含まれる金属相の付着量の測定精度を向上させることを 目的とする。 さらに、 それによつて、 高品質のめっき製品の製造に寄与することを 目的とする。 更に、 走行する鋼板のオンライン測定のように、 鋼板の振動によって
X線の回折位置と検出系との距離が変動するような場合であっても、 合金相の付着 量を精度よく測定できる測定装置および方法を提供することを目的とする。
発明者らは、 微量成分の X線回折法による測定精度を向上させるために、 抜本的 な方策として、 検出される回折 X線強度自体を大きくする道を選んだ。 そして、 検 出される回折 X線強度自体を大きくすることにより、 微量成分を正確に定量する方 法及び装置の発明をなした。 とりわけ、 金属のめっき層の合金化度を正確に定量す る方法及び装置を発明した。
検出される回折 X線強度自体を大きくするために、 回折 X線のうち従来より 格段に多量の X線を検出できる検出器を工夫した。 さらに、 もう一つの工夫と して、 発生する X線自体の平行性を改善することにより、 従来よりも分散する X線を少なくし、 結果として回折 X線強度を高くする。 本発明はこれらの方法、 及びその方法を実現する装置及ぴそれらを用いためっき鋼板の製造方法に関す る。
本発明は X線回折法を用いて、 めっき層に含まれる金属相の付着量を測定す る方法おょぴ装置であって、 めっき層に含まれる金属相からの回折 X線を、 デ パイ環上の所定の範囲に渡って測定し、 得られる回折 X線強度データを積算す ることにより、 金属相の付着料を精確に測定することが出来る。
さらに本発明は、 X線回折法を用いて、 めっき層に含まれる金属相の付着量 を測定する方法であって、 金属相からの回折 X線を、 該回折 X線が形成する少 なくともある一つのデパイ環に対して複数の位置で測定し、 多量の X線を検出 し、 得られる回折 X線強度データを積算することにより、 X線強度データを高 めることが出来て金属相の付着量を精確に測定出来る。
前記金属相は単数でも、 あるいは複数であってもよいし、 また、 金属相は純 粋な金属相でも、 あるいは合金相であっても精確な測定が可能である。 さらに 具体的には、 前記めつきが溶融亜鉛めっき又は合金化溶融亜鉛めっきである場 合に、 本発明は好適に適用される。
さらに、 本発明は、 前記測定を鋼板の表面処理を行う工程中に行なって、 め つき層に含まれる金属相の付着量を精確に、 オンライン測定できる。 その測定 結果を用いて合金化処理条件を制御することが可能である。
本発明は、 上記の方法を用いた、 めっき層中の金属相の付着量の測定装置で あって、 金属相を含むめっき層に X線ビームを照射する X線源と、 めっき層に 含まれる金属相からの回折 X線をデパイ環に沿って所定の範囲に渡って検出す る検出器と、 該検出器で検出された X線強度データを処理するデータ処理装置 とを有する。 該検出器は該デパイ環に沿って湾曲した X線検出面を有する。 該 検出器は又、 デパイ環に沿って該所定の範囲をスキャンする機能を備えたシン チレーションカウンターであっても良い。
また、 本発明は、 X線ビームを照射する X線源と、 該 X線を照射された物質 から生じる回折 X線の 1または 2以上の各デパイ環上に複数配置される、 回折 X線を検出するための X線検出器と、 該 X線検出器で得られた回折 X線強度デ ータを少なくともある一つのデパイ環に関して積算する積算計とを有するめつ き層中の金属相の付着量の測定装置である。
また、 本発明は、 X線ビームを放射する X線源と、 放射された X線を圧縮化、 単色化および平行化する多層膜ミラーと、 平行 X線の一部を通過させるスリッ トとを有する X線照射手段、 および、 該 X線を照射される鋼板表面のめっき層 中の被測定物質から発生する回折 X線を検出する X線検出手段を備える X線回 折法を用いた鋼板上のめっき層中の合金相の付着量の測定装置である。
X,線回折法を用レヽた鋼板上のめっき層中の合金相の付着量の測定方法において、 X線を鋼板表面のめっき層中の被測定物質に照射するにあたり、
X線源より発生する X線ビームを多層膜ミラーを用いて平行ィ匕することによって、 鋼板のめっき層中の合金相の付着量を精確に測定方することが出来る。
本発明の方法および装置により検出する X線強度 (単位時間当たりの X線 検出総量) を高めることが出来て、 金属相の付着量の測定精度が向上する。 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明における X線源からの X線照射から回折 X線の検出までの概 要を示す図である。
図 2は、 デパイ環上に配置された本発明の所定の長さを有し、 かつデパイ環 に沿って湾曲した回折 X線検出手段ないし検出器を示す図 1の部分拡大図であ る。
図 3は、 合金化溶融亜鉛めつき鋼板の δ ェ 相、 ζ相および Γ相の付着量を測 定する本発明のめっき層に含まれる金属相の付着量の測定装置の概念図である。 図 4は、 本発明の複数の X線検出器を用いる測定方法の概念図である。
図 5は、 本発明の測定方法において、 同一のデパイ環上に複数の X線検出器 が配置されている様子を示す部分拡大図である。
図 6は、 合金化溶融亜鉛めつき鋼板のめっき層中の Γ相、 S i 相おょぴ ζ相 の付着量を測定する本発明の測定装置の概念図である。
図 7は、 本発明の合金化溶融亜鉛めつき鋼板の F e— Ζ n合金相の X線回折 法を用いたオンライン測定装置の概念図である。
図 8は、 合金化溶融亜鉛めつき鋼板のめっき層、 特にめつき層に含まれる δ 丄 相、 ζ相および Γ相の分布を示す模式的断面図である。 発明の開示
以下、 図面を参照して本発明を更に詳細に説明する。 本発明はこれらの例に 限定されない。 最初に、 回折 X線検出器が湾曲検出面を備える場合について詳細に説明する。 本発明のめっき層に含まれる金属相の付着量の測定方法では、 めっき層に含 まれる金属相からの回折 X線を、 デパイ環上の所定の範囲に渡って測定するこ とにより、 検出手段における時間当たりの回折 X線の力ゥント数が各段に増加 する。 得られる X線強度データ (上記時間当たりのカウント数) を一定時間積 算する。'これらのステップを経ることによって X線強度データ (積算された総 量値) が格段に高められ、 その結果、 金属相の付着量の測定精度が向上する。 本発明の測定方法は、 複数の金属相が含まれるめっき層中に微量れる金属相 を測定する場合のように、 パックグランド成分が多く、 かつ測定対象の金属相 の回折 X線の相対強度が顕著に弱い場合でも、 短時間で対象とする金属相の付 着量を正確に測定することができる。 これはオンライン測定のように短時間で 測定データをフィードパックすることが必要とされる状況で特に有効である。 図 1は、 本発明の測定方法における、 X線源からの X線の照射から検出手段 での回折 X線の検出までの関係を示す。 図 1において、 X線源 1 1からスリツ ト 1 2を介して照射された X線は、 鋼板の表面 1 3に入射し金属相 (図示して いない) によって回折 X線を生じる。 回折 X線は X線の照射方向を軸に円錐状 に広がる。 この円錐の底をなす部分がデパイ環 2 0である。 本発明の測定方法 では、 該デパイ環上の所定の範囲に渡って回折 X線を測定する。
図 2はデパイ環と回折 X線の検出手段の関係を示す図 1の部分拡大図である。 本発明の測定方法では、 図 2に示すように、 所定の長さを有し、 デパイ環に沿 つて湾曲した検出手段 1 6をデパイ環上に配置することにより、 回折 X線をデ バイ環上の所定の範囲に渡って検出する。 これにより測定時間当たりの回折 X 線のカウント数が増加し、 得られる回折 X線強度データをデータ処理装置 (図 示していない) で積算することにより、 X線強度データが高められ、 金属相の 付着量の測定精度が向上する。
デパイ環上を所定の範囲に渡って X線を測定するには、 図 2に示すようなデ パイ環に沿って湾曲した X線検出器による測定に限定されず、 シンチレーショ ンカウンタ一等の X線検出器をデバイ環の方向に所定の範囲に渡ってスキャン する、 等の手段がある。 回折 X線を検出する所定の範囲は、 適宜選択する。 めっき付着量の少ない層 を測定する場合に、 検出に充分な精度が得られる測定強度になる所定の範囲を 選択する。
回折 X線を検出する所定の範囲のデパイ環上における位置は、 必ずしも特に 限定されない。 これはめつき層、 特に合金化溶融亜鉛めつき層は、 多結晶であ るため、 金属相からの回折 X線がデパイ環上において有意な配向性を示さない のが一般的であるからである。 そのため、 検出手段を配置する位置は、 他の構 成要素の配置等を考慮して適宜選択してよい。
めっき層に含まれる複数の金属相に対し、 各々対応するデパイ環上に回折 X 線検出手段を配置し、 複数の金属相の付着量を測定することができる。 例えば、 合金化溶融亜鉛めつき層には図 8に示すように ζ相、 δ i 相おょぴ Γ相の 3相 が存在するので、 3相の回折 X線による各々のデパイ環の上の所定の範囲に渡 つて回折 X線強度を検出する手段を配置することにより、 同時に 3相の付着量 を得ることができる。 図 3は合金化溶融亜鉛めつき鋼板のめっき層に含まれる ζ相、 δ 相および Γ相の付着量を同時に測定する本発明の測定装置の概念図 である。 X線源 1 1からスリット 1 2を介して鋼板の表面 1 3に照射された X 線は、 ζ相、 δ i 相おょぴ Γ相でそれぞれ対応する回折 X線を生じる。 回折 X 線は X線の照射方向を軸に円錐状に広がり、各合金相に対応したデパイ環 2 0、 2 1、 2 2を形成する。
1 6〜1 8は各々のデパイ環上の所定の範囲に渡って回折 X線を検出する検出 手段であり、 1 6は S i 相検出用、 1 7は ζ相検出用おょぴ 1 8は Γ相検出用 の検出器である。 これら X線検出器で検出された X線強度データはデータ処理 装置 2 3で積算され、 各金属相の付着量を短時間で、 かつ正確に測定される。 なお、 1 5および 1 9はパックグラウンド要素測定用のシンチレーシヨンカウ ンタ一である。 また、 実際の測定においては必ずしもこれら 3相に対応するデ パイ環が図 3の順序になるとは限らない。
なお、 図 3では、 Γ相、 δ ^ 相おょぴ ζ相の全てでデパイ環上の所定の範囲 に渡って回折 X線を測定する態様を示したが、 本発明の測定法は少なくとも 1 つのデパイ環上で所定の範囲に渡って測定すればよい。 必ずしも全てのデパイ 環上で所定の範囲に渡って回折 X線を測定する必要はない。 予想される回折 X 線強度を考慮して所定の範囲に渡って X線を測定するか、 あるいは従来の方法 によりデパイ環上の 1点で X線を測定するかを選んでもよい。 例えば、 上記合 金化溶融亜鉛めつき鋼板の場合、 ζ相おょぴ Γ相のようなめっき層に微量に存 在する金属相に対しては X線の検出強度を高めるためにデパイ環上で所定の範 囲に渡って X線を測定し、 相のようなめっき層中に多量に含まれる金属相 については、 回折 X線の強度が他の金属相に比べて強いため、 従来の方法によ りデパイ環上の 1点で X線を測定してもよい。
また、 X線を測定するデパイ環上の所定の範囲は、 必ずしも全てのデパイ環 で同一ではなく、 予想される回折 X線強度に応じて、 適宜選択する。 例えば、 上記合金化溶融亜鉛めつき鋼板の場合、 めっき層に微量に存在する ζ相おょぴ
Γ相については、 回折 X線強度をより高めるために、 所定の範囲を S t 相に比 ベて広く設ける。
本発明の測定装置は、 X線ビームを照射する X線源と、 該 X線を照射された 物質から生じる回折 X線をデバイ環に沿って所定の範囲に渡って検出するため の X線検出器と、 該 X線検出器で得られる回折 X線強度データを処理するデー タ処理装置とを備えることを特徴とする。
X線源は、 X線ビームを発生する X線発生装置と、 X線ビームの発散を制限 するスリットで構成される。 本発明の装置に使用することができる X線発生装 置は、 封入型 X線管球または回転対陰極である。 いずれもフィラメントと金属 の対陰極の間に数十 k Vの高電圧をかけた状態で、 フィラメントに電流を流す ことにより発生した熱電子が高電圧により加速され、 金属ターゲットに衝突す ることで X線を発生させる。
ターゲットは、 X線の試料による吸収や測定精度を考慮して選択され、 C u、 C r、 F, e、 C o、 M o等が使用される。 本発明の測定装置では、 鉄系試料の 測定に適した C r、 F e、 C oが好ましく、 C rが S N比が優れることから特 に好ましい。
スリツトは、 X線ビームの縦方向の発散を抑制するためのソーラスリットと、 試料への水平面内の発散角を制限するための発散スリットからなる。 X線管球などの金属ターゲットから発生する X線は、 目的とする 線の他 に、 Κ ]3線や白色 X線成分が含まれるため、 これらの成分を除去し単色化する 必要がある。 X線ビームの単色化は、 金属はくでつくられた K j3フィルターを 受光スリットの前に挿入するか、 またはモノクロメータを用いるかにより行う。
X線ビームを物質表面に照射することにより生じた回折線は、 受光スリット を介して集光され、 さらにソ一ラスリットと散乱スリットを介してデパイ環上 に配置された X線検出器で検出され、 測定される。
本発明の装置で使用する代表例として、位置敏感型比例検出器が挙げられる。 これは所定の長さで陽極芯線と陰極が配置され、 そこに検出器ガスを流して高 電圧をかけ、 入射 X線によって検出器ガスがイオン化され、 誘導電荷が陰極に 発生し、 それを測定することにより、 X線の検出位置と強度を測定できるよう にしたものである。 現在利用可能な位置敏感型比例検出器は、 直線型と湾曲型 とに分けられる。
上記の通り、 位置敏感型比例検出器は、 所定の範囲に渡って X線を検出 ·測 定することができ、 しかも検出された X線の強度のみならず検出位置までも特 定することができる装置であるが、 これら位置敏感型比例検出器を本発明の測 定装置に利用するには以下の問題がある。 直線型の位置敏感型比例検出器は、 検出面が直線状であるため、 デパイ環上に配置した際に、 検出面とデパイ環の 形状とがー致せず、 その結果、 試料上の照射位置から検出面までの距離、 すな わち回折 X線の到達距離が異なるため、 検出される X線強度データを積算する 際には補正が必要である。 また、 湾曲型の場合も、 本来回折角方向での検出を 目的とするものであるため、 検出面の形状がデパイ環の形状とは一致せず、 デ バイ環上に配置した場合、 やはり上記直線型の位置敏感型比例検出器と同じよ うな補正が必要である。 上記問題について検討した結果、 1 ) 検出面が所定 の長さを有し、 かつ 2 ) デパイ環に沿って湾曲しており、 それによりデパイ環 上の所定の範囲に渡って回折 X線を検出することができる検出器を作製するこ とにより、 本発明の測定装置に要求される X線検出器が得られることが分かつ た。
そこで本発明の X線検出器の好適な例は、 上記湾曲型の位置敏感型比例検出 器を、 所定の長さを有し、 測定対象とするデパイ環に沿って湾曲するように作 製したものである。 また、 通常の比例計数管を、 所定の長さを有しデパイ環に 沿って湾曲するように作製したものであってもよい。 さらに、 イメージングプ レートのように輝尽性蛍光体の微結晶を柔軟なポリマー表面に塗布したフィル ムを、 所定の長さを有し、 デパイ環に沿うように配置し、 X線照射によるルミ ネッセンス作用により X線を検出するものであってもよい。
本発明の測定装置において、 上記 X線検出器の検出面の所定の長さとは、 特 に限定されず、 付着量の少ない相を測定する場合に、 検出に充分な精度が得ら れる測定強度になる所定の長さを選択する。
本発明の測定装置において、 デパイ環上における X線検出手段を配置する位 置は特に限定されず、 必要に応じて適宜選択してよい。 めっき層、 特に合金化 溶融亜鉛めつき層のような多結晶面を測定する場合、 多結晶面へ X線を照射し た場合の回折 X線は、 デパイ環上において有意な配向性を示さないため、 検出 手段の配置位置は、 装置における他の構成要素の配置等を考慮して適宜選択し てよい。 一方、 単結晶面へ X線照射した場合のように、 デパイ環上における回 折 X線強度に配向性がある場合には、 配向性を考慮して検出手段を配置する。 本発明の測定装置では、 測定する回折 X線は 1つに限定されず、 複数であつ てもよい。 この場合、 全てのデパイ環上に上記所定の長さに渡って、 X線を測 定する X線検出器を配置することは必ずしも必要ではない。 例えば、 上記合金 化溶融亜鉛めつき鋼板の場合、 ζ相おょぴ Γ相のようにめつき層中に含まれる 金属相からの回折 X線の検出には、 上記所定の長さに渡って X線を検出する検 出手段を用い、 得られた X線強度データを後述するデータ処理装置で積算し、
X線強度データを高め、 相のようにめつき層に多量に存在する金属相から の回折 X線の検出には通常の 1点て X線を検出する X線検出手段を用いてもよ レ、ο
本発明の測定装置のデータ処理装置は、 上記 X線検出手段で得られた X線強 度を積算することができれば特に限定されない。 このようなデータ処理装置は、 複数の回折 X線各々に対するものであってもよく、 また、 測定対象の X線全て を 1つの装置で積算できるものであってもよい。 なお、 本発明の測定装置の対 象とする測定物は、必ずしもめっき層に含まれる金属相の付着量に限定されず、 例えば、 組成物中の微量成分であってもよい。
本発明は又、 上記の測定方法を用いた合金化溶融亜鉛めつき鋼板の製造方法 である。 本発明の製造方法では、 本発明の測定方法を用いて、 鋼板の表面処理 工程中にめっき層に含まれる各金属相をオンライン測定し、 得られた測定結果 に基づいて、 めっき層の合金化処理条件、 すなわち鋼板の加熱処理条件、 例え ば加熱温度または加熱時間を制御して、 めっき層に含まれる各金属相の付着量 を最適条件に管理することにより、 めっき層の各金属相の付着量が最適化され た合金化溶融亜鉛めつき鋼板を製造する。 好ましくは、 鋼板の表面処理工程に おけるラインスピードが 5 0〜1 2 0 m/m i nでの合金化処理後の溶融亜鉛 めっき鋼板のめっき層の付着量を δ 1 相が 2 0〜 1 1 4 g ./m2 、 Γ相が 0〜 2 g /m2 、 ζ相が 0〜4 g Zm2 の範囲になるよう.に制御する。 実施例 1
以下に、 合金化溶融亜鉛めつき鋼板に関する実施例により、.本発明をさらに 説明する。
合金化溶融亜鉛めつき鋼板のめっき層に含まれる金属相 δ i 相、 ζ相おょぴ Γ相のうち、 鋼板製品の品質上もっとも付着量精度を求められる ζ相を測定対 象とした。 鋼板製品において ζ相に要求される付着量測定値の土のばらつき幅 (付着量精度) は 0 . 3 7 g /m2 である。 ここで付着量の測定値は、 回折 X 線のカウント数を標準データを使ってめっき量に換算して得た値である。
図 3に示す装置において、 X線源に C r管球を用い、 管電圧 4 0 k V、 管電 流 7 O mAで X線 (Κ α線) を照射した。 ζ相の結晶面間隔 d = l . 2 6 Aの 回折ピーク強度を次のようにそれぞれ測定した。 先ず比較例として、 デパイ環 上に配置した通常のシンチレーションカウンターを用いて測定した。 次いで本 発明により、 検出面がデパイ環方向に湾曲し、 かつデパイ環上の所定の範囲に 渡って回折 X線を検出する検出手段により測定した。 検出面の長さが 2 0 c m で、 検出面をデパイ環の曲率と一致して湾曲しさせた形状の、 位置敏感型比例 検出器を使用した。 繰り返し精度は、 1点で測定するシンチレ一シヨンカウンターを用いた比較 例の場合は、 4 . 0 %であったが、 本発明の検出方法を用いた場合は、 2 . 8 % となった。
繰り返し精度は、 通常用いられる下記式 (1 ) によって示される。 式 1
(繰り返し精度)
Figure imgf000014_0001
ただし、 iは i回目の測定、 nは全繰り返し測定回数、 X i は i回目の回折 X線強度、 X a は n回の回折 X線強度の平均値を示す。
また、 ζ相の付着量精度は本比較例では 0 . 3 9 g Zm 2 、 発明例では 0 . 2 8 g /m 2 であった。 本発明の方法を用いることにより、 測定の繰り返し精 度が向上し、 要求される付着量測定精度を達成することが出来た。
次に、 「複数の検出器を備える」 場合について詳細に説明する。
めっき層に含まれる金属相からの回折 X線を、 ある一つのデパイ環に対して 複数の位置で測定し、 得られた回折 X線強度データを積算することにより、 X 線強度データを高め、 それにより金属相の付着量の測定をする。 この測定方法 では、 測定対象となる金属相からの回折 X線によるデパイ環上の同一のデパイ 環に対して複数の位置に回折 X線を検出するための X線検出器を配置する。 図 4は、 本発明の測定方法の概念図である。 図 4において、 X線源 1 1から スリ ッ ト 1 2を介して照射された X線は、 鋼板の表面 1 3に入射し、 めっき層 に含まれる金属相 (図示していない) により回折 X線を生じる。 回折 X線は照 射 X線の入射方向に対し円錐状に広がるが、 円錐の底をなす部分がデパイ環 2 0である。 本発明では該デパイ環上に X線検出器 1 6を複数配置し、 スリ ッ ト 1 4を介して回折 X線を検出 ·測定する。 複数ある X線検出器 1 6で得られた 回折 X線強度データはデータ積算計 2 3で積算することによって高められ、 そ れにより金属相の付着量の測定精度が向上する。
図 5はデパイ環上に複数の X線検出器が配置されている様子を示す部分拡大 図である。 図 5において、 2 0はデパイ環を表し、 1 6は該デパイ環上に配置 された X線検出器を表す。 符号 Aないし Cは X線検出器が同一のデパイ環上に 複数配置されていることを表している。 デパイ環上に配置する X線検出器の数 および位置は図 5に示すものに限定されず、 必要に応じて適宜選択することが できるが、 めっき付着量の少ない層を測定する場合に、 検出に充分な精度が得 られる測定強度になる所定の範囲を選択する。
例えば、 めっき層に複数の金属相が含まれ、 かつ測定対象とする金属相が非 常に微量である場合のように、 パックグランド成分が多く、 しかも所望の回折 X線の相対強度が顕著に弱い場合は、 デパイ環上に配置する X線検出器の数を 適宜増加させる。 例えば、 Fe - Zn合金相の場合には、 通常用いられる X線検出 器である N a l (ヨウ化ナトリウム) 結晶を使用したシンチレーシヨンカウン ターを 2個ないし 3個、 配置する。
なお、 めっき層、 特に溶融亜鉛めつき鋼板又は合金化溶融亜鉛めつき鋼板の ような合金相は多結晶であり、 得られる回折 X線強度にデパイ環に沿った方向 での有意な強度分布は存在しない、 即ち、 強度分布はほぼ均一であるのが一般 的であるので、 そのような場合には、 X線検出器はデパイ環上のいずれの位置 に配置してもよい。 よって、 X線検出器は他の構造物の配置等の周辺状況を考 慮に入れて、 適宜配置する。
本発明が測定対象とする金属相は 1つの相に限定されず、 複数の金属相であ つてよい。 例えば、 図 8に示す合金化溶融亜鉛鋼板のめっき層の場合、 Γ相、 δ 相おょぴ ζ相の全ての付着量を同時に測定することもできる。 図 6に合金 化溶融亜鉛鋼板のめっき層に含まれる Γ相、 δ i 相おょぴ ζ相の付着量を測定 する場合の測定装置の一例を示す。 X線源 1 1よりスリット 1 2を介して合金 化溶融亜鉛めつき鋼板の表面 1 3に照射された X線は Γ相、 δ 相、 ζ相によ り各々回折 X線を生じる。 回折 X線は X線の照射方向を軸に円錐状に広がり、 各合金相に対応したデパイ環 2 0、 2 1、 2 2を形成する。 1 6〜1 8は各々 のデパイ環上に複数配置した X線検出器であり、 1 6は0 1 相測定用、 1 7は ζ相測定用おょぴ 1 8は Γ相測定用のシンチレーシヨンカウンタ一を表す。 1 5および 1 9は上述したパックグランド要素測定用のシンチレーシヨンカウン ターである。 これらシンチレーシヨンカウンターで検出された X線強度データ はデータ処理装置 2 4で積算され、 各金属相の付着量が測定される。 図 6では、 Γ相、 5 i 相おょぴ ζ相の全てに X線検出器を複数配置しているが、 本発明の 測定法は少なくとも 1つのデパイ環に対して複数の位置で測定すればよく、 全 てのデパイ環に対して各々複数の X線検出器を配置することは必ずしも必要で はない。 予想される回折 X線強度を考慮して X線検出器を複数配置するか、 単 独配置するかを適宜選択出来る。 例えば、 上記合金化溶融亜鉛めつき鋼板の場 合、 ζ相および Γ相のようなめつき層に微量に存在する金属相に対しては X線 の検出強度を高めるためにデパイ環上に複数の位置で測定し、 相のような めっき層中の多量に含まれる金属相については、 回折 X線強度が他の金属相に 比べ強いため、 単独の位置で測定してもよい。
本発明の測定方法は、 鋼板の表面処理を行う工程中にオンラインで行っても よい。 本発明の測定方法は、 短時間で高い精度で金属相の付着量を測定できる ので、 鋼板の表面処理工程中に測定することで、 該測定結果を表面処理工程に フィードパックし、 めっき層に含まれる金属相の付着量の最適化を図ることが できる。
本発明の測定装置は、 X線ビームを照射する X線源と、 該 X線を照射された 物質から生じる回折 X線の 1または 2以上の各デパイ環上に複数配置される回 折 X線を検出するための X線検出器と、 該 X線検出器で得られる回折 X線強度 データを同一のデバィ環に対して積算する積算計とを有することを特徴とする。
X線源は、 湾曲検出面を備える場合と同様に、 X線ビームを発生する X線発 生装置と、 X線ビームの発散を制限するスリットで構成される。 本発明の装置 に使用することができる。 X線発生装置、 ターゲット、 スリット及び X線の単 色化の手段、 回折 X線の検出器までの誘導は先に述べた湾曲検出面を備える場 合と同様である。
本発明の装置で使用することができる X線検出器としては、 シンチレーショ ンカウンター、 プロポーショナルカウンター、 半導体検出器があり、 これらの うち最も一般的なのがシンチレーションカウンターである。
本発明の装置では、 1または 2以上の回折 X線の同一のデパイ環に対し、 X 線検出器を複数配置する。
デパイ環上に配置する X線検出器の数おょぴ位置は特に限定されず、 必要に 応じて適宜選択してよい。 例えば、 パックグランド成分が多く、 かつ測定対象 である回折 X線強度が微弱であることが予想される場合には、 X線検出器を適 宜增加する。 また、 単結晶面へ X線照射した場合のように、 デパイ環上におけ る回折 X線強度に配向性がある場合には、配向性を考慮して検出器を配置する。 なお、 2以上の回折 X線のデパイ環上に各々 X線検出器を配置する場合、 全て のデパイ環上に複数の X線検出器を配置することは必ずしも必要ではない。 例 えば、 前記溶融亜鉛めつき層又は合金化溶融亜鉛めつき層中の ζ相、 Γ相のよ うな微量に含まれる相からの微弱な回折 X線のデパイ環に対しては、 X線強度 を高めるため、 X線検出器を複数配置し、 δ ^ 相のような多量に含まれる相か らの相対強度の強い回折 X線からのデパイ環に対しては、 単独の X線検出器を 配置してもよい。
同一のデパイ環上に配置された X線検出器で得られた回折 X線強度データを 積算するための積算計は、 該 X線強度データを積算することができれば特に限 定されない。 例えば、 シンチレーシヨンカウンターで得られた計数値を積算す る積算計が挙げられる。
積算計は、 個々のデパイ環についてのものであってもよいが、 全てのデパイ 環に設置された X線検出器で得られた X線強度データを同一のデパイ環につい て各々積算し、 パックグランド測定用の X線検出器で得られた測定値を差し引 いて測定結果を出力するデータ処理装置であってもよい。
本発明の別の 1つの面(aspect)は、 上記本発明の測定方法を用いた合金化溶 融亜鉛めつき鋼板の製造方法である。 本発明の製造方法では、 本発明の測定方 法を用いて、 鋼板の表面処理工程中にめっき層に含まれる金属相をオンライン 測定して、 湾曲検出面を備える場合の適用と同様に、 最適化された合金化溶融 亜鉛めつき鋼板を製造することが出来る。 好ましくは、 「湾曲検出面を備える 場合の適用と同様に、 鋼板の表面処理工程におけるラインスピードが 5 0〜 1 2 O m/m i nでの合金化処理後の合金化溶融亜鉛めつき鋼板のめっき層の付 着量を δ 1 相が 2 0〜1 1 4 g /m2 、 Γ相が 0〜2 g /m2 、 ζ相力 0〜4 g /m2 の範囲になるように制御する。 実施例 2
湾曲検出面を備える場合と同様に ζ相を測定対象とした。 X線源に C r管 球を用い、 管電圧 4 0 k V、 管電流 7 O mAで X線 (Κ α線) を照射し、 ζ相 のデパイ環に対して 2個所で X線を測定できる装置を用いて、 ζ相の結晶面間 隔 d = l . 2 6 Aの回折ピーク強度を測定した。 先ず比較例として 1個のシン チレーションカウンターで測定した。 次いで本発明の実施例として 2個のシン チレーションカウンターで測定した。
その結果、 シンチレーシヨンカウンターが 1個の場合は、繰り返し精度が 4 . 0 % (比較例) であったが、 2個の場合は、 3 . 4 % (実施例) であった。 繰 り返し精度は、 実施例 1で説明した定義と同じである。
ζ相の付着量における精度の検出限界はそれぞれ 0 . 3 9 g /m2 (比較例) 、 0 . 3 4 g /m 2 (実施例) となり、 シンチレーシヨンカウンターを 2個にし た本発明では ζ相の付着量の測定の繰り返し精度が向上し、 要求される付着量 測定精度を達成することが出来た。
次に、 多層膜ミラーを備える場合について詳細に説明する。
本発明者らは、 鋼板の振動により回折位置と検出系との距離が変動するよう な場合にも、 鋼板上のめっき層に含まれる合金相の付着量を精度の良く測定で きる測定装置および方法を種々検討し、 平行化された X線を鋼板上のめっき層 に照射し、 めっき層中に含まれる被測定物質からの回折 X線を測定することに より上記従来技術の問題点を解決できることを確認した。
本発明の測定装置は、 鋼板上のめっき層中の合金相の付着量の測定装置は、 X線ビームを照射する X線源、 放射された X線を圧縮化、 単色化おょぴ平行化 する手段、 具体的には放射された X線を圧縮化、 単色化および平行化する多層 膜ミラー [例えば、 X線分析の進歩、 3 1 ( 2 0 0 0 ) 1 1— 2 7 ] と、 平行 X線の一部を通過させるスリットとを有する X線照射手段、 および、 該 X線を 照射される鋼板表面のめっき層中の被測定物質から発生する回折 X線を検出す る X線検出手段を備える。
本発明の測定装置において、 X線源とは X線ビームを発生する X線発生装置 である。 本発明の測定装置に使用することができる X線発生装置は、 封入型 X 線管球または回転対陰極である。 いずれもフィラメントと金属の対陰極の間に 数十 k Vの高電圧を'かけた状態で、 フィラメントに電流を流すことにより発生 した熱電子が高電圧により加速され、 金属ターゲットに衝突することで X線を 発生させる。 ターゲットは、 X線の試料による吸収や測定精度を考慮して選 択され、 C u、 C r、 F e、 C o、 M o等が使用される。 本発明の測定装置で は、 鉄系試料の測定に適した C r、 F e、 C oが好ましく、 C rが S N比が優 れることから特に好ましい。
本発明の測定装置において、 多層膜ミラーとは、 重元素と軽元素を交互に周 期的に積層しブラッグ反射を起こさせるもので、 放射 X線を圧縮化、 単色化お ょぴ平行化することができるものをいう。
本発明の測定装置では、 X線源で発生した X線ビームは多層膜ミラーに入射 することにより圧縮化、 単色化おょぴ平行化される。 上記により X線ビームが 平行化されており、 その結果、 試料たる鋼板表面のめっき層に含まれる物質へ の X線ビームの照射によって生じる回折 X線も平行化されている。 よって、 鋼 板の振動により X線の回折位置と検出系との距離が変動するような場合でも、 検出される回折 X線の強度が安定しており、 めっきの付着量の測定精度が向上 する。
多層膜ミラーはまた、 X線を単色化し、 それにより回折ピークの分解能を向 上させる効果を有する。 多層膜ミラーにより、 X線ビームは従来の所謂平行 X 線よりもさらに平行化されるので、 従来はスリットでカツトされていた X線成 分も試料面を照射するのに寄与するため、 検出器に到達する回折 X線の強度も 多層膜ミラーを使わない場合に比べて向上する。 これらの分解能の向上および 回折強度の向上は、 めっき付着量の測定精度の向上に寄与する。
多層膜ミラーにより、 平行化され、 単色化され、 圧縮化された X線ビームは、 試料表面に照射され、 回折 X線を生じる。 該回折線は、 スリット (ソーラスリ ットと散乱スリット) を介して、 デパイ環上に配置された X線検出器で検出 · 測定される。
本発明の測定装置において、 スリット 1 2は該 X線源で発生する X線ビーム の発散を防止するものであり、 X線ビームの縦方向の発散を抑制するためのソ 一ラスリットと、 試料への水平面内の発散角を制限するための発散スリットが 挙げられ、 両者を有するものが好ましい。
本発明の測定装置に使用することができる X線検出器としては、 シンチレ一 シヨンカウンター、 プロポーショナルカウンター、 半導体検出器があり、 これ らのうち最も一般的なのがシンチレーシヨンカウンターである。
本発明の測定装置では、 使用する X線検出器の数は特に限定されない。 例え ば、 複数の相を測定対象とする場合、 対象とする相に応じた数の X線検出器を 用いても良い。
本発明の測定装置は、 好ましくは該 X線検出器で検出された回折強度データ を積算するデータ処理装置を有する。 この場合、 回折強度が小さい微量の合金 相の回折 X線を積算して、 高めることができるので、 微量の合金相、 例えば、 合金化溶融亜鉛めつき鋼板のめっき層中 Γ相、 ζ相等の付着量を測定する場合 に有利となる。 なお、 該データ処理装置は、 前記のように複数の X線検出器を 用いる場合に、 複数の X線検出器のデータを処理することもできる。
本発明のもう一つの面(aspect)は、 上記本発明装置を用いた、 鋼板上のめつ き層中の合金相の付着量の測定方法である。
本発明の測定方法は、 多層膜ミラーにより平行化された X線を鋼板表面のめ つき層中の被測定物質に照射し、 被測定物質からの発生する回折 X線を検出す ることにより鋼板上のめっき層中の合金相の付着量を測定する。 本発明の測定 方法は、 平行化された X線をめつき層に照射するので、 集中法にあるような回 折強度を得るための幾何学的制限が大きく緩和される。 すなわち、 走行する鋼 板の振動により X線の回折位置と検出系の距離が変動する場合でも回折 X線の 強度が安定化するのでめっき層に含まれる合金相の付着量を精度よく測定でき る。 これは、 合金化溶融亜鉛めつきの表面処理工程中に行う同めつきの合金相 の付着量のオンライン測定に好適である。 すなわち、 わずかな付着量の変動が めっき層の品質特性に著しく影響を与えるめっき層中の Γ相、 ζ相について、 付着量測定をオンラインで精度良く測定できることにより、 該測定結果を表面 処理工程にフィードパックし、 めっき層に含まれる合金相の付着量を最適範囲 で製造することができる。 実施例 3
以下、 図面を参照して、 本発明の測定装置を用いた合金化溶融亜鉛めつき轉 板の F e— Ζ η合金相の付着量をオンラインで測定する装置を実施例として、 本発明の第 1の態様の測定装置をさらに説明する。 但し、 本発明の測定装置は これに限定されない。
図 7は、 本発明の測定装置を用いた合金化溶融亜鉛めつき鋼板の F e -Ζ η 合金相の付着量のオンライン測定装置の概念図である。 図 7において、 1 1は X線源、 25は多層膜ミラー、 1 2、 14はスリット、 1 3は合金化溶融亜鉛 めっき鋼板、 1 5〜 1 9はシンチレーシヨンカウンターで、 15、 19はパッ クグラウンド測定用、 16は δ 相、 17は ζ相、 18は Γ相の測定用である。 23はデータ処理装置である。
図 7において、 X線源 1 1から発生した X線は、 多層膜ミラー 25により圧 縮化、 単色化おょぴ平行化され、 スリット 12を通り、 めっき鋼板 13に入射 する。 回折した X線はシンチレーシヨンカウンター 15〜19により、 その強 度が測定され、 データ処理装置 23により、 ζ相、 δ ^ 相および Γ相の付着量 が精度よく算出される。
本実施例では、 X線源に C r管球を用い、 管電圧 40 k V、 管電流 7 OmA で X線 (Κα線) を照射した。 回折強度測定に用いたピークは、 ζ相の結晶面 間隔 d = l. 26Α、 相の d=l. 28 ぉょぴ 相の(1=1. 22 Aで ある。
本実施例では、 合金化処理装置を有する連続溶融亜鉛めつきラインを 50〜 12 Om/m i nの走行速度で流れる合金化溶融亜鉛めつき鋼板の F e - Z n 合金相の付着量を、 多層膜ミラー 25を有する本発明の装置 (実施例) と多層 膜ミラー 25を用いない装置 (比較例) により測定した。 本実施例では、 合金 化溶融亜鉛めつき鋼板のめっき層に含まれる金属相 δェ 相、 ζ相おょぴ Γ相の うち、 鋼板製品の品質上もつとも付着量精度を求められる ζ相を測定対象とし た。 鋼板製品において ζ相に要求される付着量測定値の土のばらつき幅 (付着 量精度) は 0 . 3 7 g Zm2 である。 ここで付着量の測定値は、 回折 X線の力 ゥント数を標準データを使ってめっき量に換算した場合の値である。 なお、 こ こで繰り返し精度とは、 前記式 (1 ) によって示されるものである。
また、 ζ相の付着量精度はそれぞれ 0 . 3 9 g Zm2 、 0 . 2 6 g /m2 と なり、 本発明の方法を用いることにより、 測定の繰り返し精度が向上し、 要求 される付着量測定精度を達成することが出来ることが確認された。 産業上の利用可能性
以上のように本発明にかかる方法は、 金属相からの回折 X線の強度が高く、 め つき層に含まれる金属相、 特に、 めっき層に微量に含まれる金属相の測定精度 が向上する。 特に鋼板の表面処理工程におけるオンライン測定時にのような短 時間で測定結果を得ることが必要な場合に有効である。 さらに、 本発明の測定 方法を用いる溶融亜鉛めつき鋼板または合金化溶融亜鉛めつき鋼板の製造方法 は、 精度の高い金属相の付着量に関する測定結果を短時間で製造工程にフィー ドパックできることから、 高品質のめっき鋼板の製造に寄与する。 特に、 めつ き層中に微量に含まれる Γ相、 ζ相の付着量のわずかな変動がめっき製品の品 質に著しく影響する合金化溶融亜鉛めっき鋼板の品質安定化に大きく寄与する。 また、 本発明の測定装置は、 一般に組成物中の微量成分の検出 ·測定に適す る。 本発明の方法の測定対象はこれに限定されずめつき層に含まれる金属相の 付着量の測定に広く利用できる。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . X線回折法を用いて、 めっき層に含まれる金属相の付着量を測定する方法 において、 めっき層に含まれる金属相からの回折 X線を、 デパイ環上の所定の 範囲に渡って測定し、 得られる回折 X線強度データを積算することを特徴とす るめつき層に含まれる金属相の付着量の測定方法。
2 . X線回折法を用いて、 めっき層に含まれる金属相の付着量を測定する方法 において、 金属相からの回折 X線を、 該回折 X線が形成する少なくともある一 つのデパイ環に対して複数の位置で測定し、 得られる回折 X線強度データを積 算することにより、 X線強度データを高めることを特徴とするめつき層に含ま れる金属相の付着量の測定方法。
3 . 前記金属相が合金相である請求の範囲第 1項又は第 2項に記載のめっき層 に含まれる金属相の付着量の測定方法。
4 . 前記金属相が 2以上の相からなる請求の範囲第 1項、 第 2項または第 3項 に記載のめっき層に含まれる金属相の付着量の測定方法。
5 . 前記 2以上の相のうちの 1以上の相の付着量を測定することを特徴とする 請求の範囲第 4項に記載のめっき層に含まれる金属相の付着量の測定方法。
6 . 前記めつきが溶融亜鉛めつき又は合金化溶融亜鉛めつきであることを特徴 とする請求の範囲第 1項ないし 5のいずれかに記載のめっき層に含まれる金属相 の付着量の測定方法。
7 . 前記測定を鋼板の表面処理を行う工程中に行うことを特徴とする請求の範 囲第 1項ないし第 6項のいずれかに記載のめっき層に含まれる金属相の付着量の オンライン測定方法。
8 . 請求の範囲第 1項あるいは第 2項に記載の測定方法によってめつき層に含ま れる金属相の付着量を測定し、 その結果を用いて合金化処理条件を制御するこ とを特徴とする合金化溶融亜鉛めつき鋼板の製造方法。
9 . 金属相を含むめっき層に X線ビームを照射する X線源と、 めっき層に含ま れる金属相からの回折 X線をデパイ環に沿って所定の範囲に渡って検出する検 出器と、 該検出器で検出された X線強度データを処理するデータ処理装置とを 有するめっき層中の金属相の付着量の測定装置。
1 0 . 請求の範囲第 9項において、 該検出器が該デパイ環に沿って湾曲した X 線検出面を持つ X線検出器であることを特徴とするめつき層中の金属相の付着 量の測定装置。
1 1 . 請求の範囲第 9項において、 該検出器が該所定の範囲をスキャンする機 能を備えたシンチレ一ションカウンターであることを特徴とするめつき層中の 金属相の付着量の測定装置。
1 2 . X線ビームを照射する X線源と、 該 X線を照射された物質から生じる回 折 X線の 1または 2以上の各デパイ環上に複数配置される回折 X線を検出する ための X線検出器と、 該 X線検出器で得られた回折 X線強度データを少なく と もある一つのデパイ環に関して積算する積算計とを有するめっき層中の金属相 の付着量の測定装置。
1 3 . 溶融亜鉛めつき層又は合金化溶融亜鉛めつき層に含まれる金属相の付着 量を測定することを特徴とする請求の範囲第 9項あるいは第 1 2項に記載のめ つき付着量の測定装置。
1 4 . X線ビームを放射する X線源と、 放射された X線を圧縮化、 単色化およ び平行化する多層膜ミラーと、 平行 X線の一部を通過させるスリットとを有す る X線照射装置、 および、 該 X線を照射される鋼板表面のめっき層中の被測定 物質から発生する回折 X線を検出する X線検出器を備える X線回折法を用いた 鋼板上のめつき層中の合金相の付着量の測定装置。
1 5 . X線回折法を用いた鋼板上のめっき層中の合金相の付着量の測定方法におい て、 X線を鋼板表面のめっき層中の被測定物質に照射するにあたり、
X線源より発生する X線ビームを多層膜ミラーを用いて 亍ィヒすることを特徴とす る鋼板上のめっき層中の合金相の付着量の測定方法。
1 6 . 請求の範囲第 9 項において、 該 X線源の出力は 4 0 k V級, 最大電流は 7 O mA級で、 該検出器の X線検出面長さは 1 0 c mから 3 0 c mであること を特徴とする亜鉛めつき層中の微量の ζ相の付着量の測定が可能な合金化度測
17. 請求の範囲第 12項において、 該 X線源の出力は 40 k V級, 最大電流は 70 mA級で、 該 X線検出器の個数が 2ないし 3であることを特徴とする亜鉛 めっき層中の微量の ζ相の付着量の測定が可能な合金化度測定装置。
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