TWI402207B

TWI402207B - 電梯的安全裝置

Info

Publication number: TWI402207B
Application number: TW098127072A
Authority: TW
Inventors: Xiao Sun; Weifeng Chen; Kunpeng Yang; Hiroshi Kashiwakura; Takuya Fujii; Keishiro Hirohata
Original assignee: Fujitec Kk
Priority date: 2008-09-01
Filing date: 2009-08-12
Publication date: 2013-07-21
Also published as: CN102137807A; JP5293741B2; US8584809B2; CA2735212C; WO2010024215A1; KR20110053442A; US20110155511A1; JPWO2010024215A1; CN102137807B; KR101227229B1; EP2332876B1; CA2735212A1; EP2332876A1; HK1155428A1; TW201012734A; EP2332876A4

Description

電梯的安全裝置

本發明係關於一種電梯的安全裝置，更具體而言係關於謀求在箱門關閉之過程中線狀之異物被夾入時之安全的電梯的安全裝置。

在電梯中，當將例如狗等寵物以線綁住而搭乘電梯時，若在狗停留在搭乘樓層之情況下人進入乘箱的話，會有在線被拉成橫跨乘箱內部與搭乘樓層之狀態下，箱門與搭乘處之門關閉，乘箱上昇或下降之情形。結果，人的手會被綁在寵物之線所強力拉引，依情況會有造成手腕等受重傷之虞。

在電梯之箱門，係有進行下述者：安裝有從其閉方向端面突出且相對於箱門相對移動之安全薄框(safe tissue frame)，在箱門關閉之過程中若該安全薄框與人或異物碰撞，而有力量作用在該安全薄框時，使箱門與搭乘處之門從關閉動作反轉為打開動作。

再者，有進行下述者：產生朝水平方向橫切乘箱之乘降口的光束，當人或異物遮蔽該光束時，使箱門與搭乘處之門從關閉動作反轉為打開動作。

然而，在採用上述之安全薄框或水平光束的習知異物檢測方式中，無法確實地檢測出如線或繩索之類的細長異物。

因此，有考慮利用下述垂直掃描方式(參照專利文獻1)來檢測出線狀之異物，該方式係在離箱門之閉方向端面達預定距離之垂直線上的上端位置配置投光部，並且在前述垂直線上之下端位置配置受光部，以受光部檢測出從投光部射出之光。

再者，亦考慮利用下述垂直掃描方式(參照專利文獻2)來檢測出線狀之異物，該方式係在使一對箱門於全閉狀態下彼此抵接之抵接位置朝上下延伸的垂直線上之位置，於門檻配置投光部，並且在乘降口上方之框體配置受光部，以受光部檢測出從投光部射出之光。

若採用上述垂直掃描方式，在線通過乘箱之乘降口且延伸於某程度之高度位置的狀態下，當箱門關閉時，在該過程中光之掃描線會橫切過線，因此可依據受光部之輸出信號而檢測出線。

先前技術文獻專利文獻

(專利文獻1)：日本實開昭61-203680號公報

(專利文獻2)：日本特開2008-169009號公報

在箱門配置投光部之電梯(參照專利文獻1)中，由於發光部係設置在從箱門之閉方向端面突出的位置，因此在箱門從即將成為全閉狀態之位置(即將全閉位置)關閉至全閉位置的過程中，必須在另一方之箱門或門檔框形成發光部之收容空間，以使發光部不會與另一方之箱門或門檔框碰撞。

因此，在箱門從即將全閉位置關閉至全閉位置的過程中，從發光部射出之光係由前述另一方之箱門或門檔框所遮蔽，而不會到達受光部。

在此，由於無法將因受光部所進行之光檢測之中斷判斷為異物之檢出，因此至箱門從即將全閉位置關閉至全閉位置為止，必須關閉以發光部及受光部所進行之異物檢測功能。

此時，當線狀之異物接觸設置有發光部之箱門的閉方向端面而延伸時，由於以發光部及受光部所進行之異物檢測功能關閉，因此會有無法檢測出該異物的問題。

依據在框體之門檻配置投光部的電梯(參照專利文獻2)，雖可解決該問題，但會因汚物附著於投光部或任意被壞投光部等，從投光部射出之光會被遮蔽，結果，會有以受光部進行之檢測中斷，而誤判斷為異物之檢測之虞。

亦可考慮在例如箱門之閉方向端面安裝將從其上端至下端之全域設為感度域之感壓感測器，但此時會有必須對箱門施以大改造，而造成改造成本增加之問題。

因此，本發明之目的係在於提供一種構成簡單之電梯的安全裝置，其可不論異物之位置在哪皆可恆常地檢測出線狀之異物。

本發明之第1樣態之電梯的安全裝置係具備往彼此接近、離開之方向移動而開閉乘降口之一對箱門2、3，在一方之箱門2，於從會與另一方箱門3抵接之閉方向端面2a朝另一方箱門3側離開預定距離的位置沿著閉方向端面2a上下延伸之直線上的上端位置，朝下方配備有投光/受光單元4，另一方面，在前述直線上的下端位置，朝上方配備有第1反射構件5，投光/受光單元4係可進行光束之射出與入射光束之檢測。

在前述另一方箱門3，形成有在2個箱門2、3關閉之狀態下收容前述投光/受光單元4的收容空間30，在該收容空間30之底部，朝上方配備有第2反射構件6，該第2反射構件6係從與前述另一方箱門3之閉方向端面3a相同之位置朝前述收容空間30之裏側延伸。

投光/受光單元4係當光束之檢測在2個箱門2、3關閉之過程中被中斷時，產生異物檢測信號。

結果，辨識出異物之存在，並中止2個箱門2、3之關閉動作。

依據上述第1電梯的安全裝置，當乘箱之乘降口未存在有異物時，在2個箱門2、3從全開狀態移動至全閉狀態的過程中，至投光/受光單元4進入前述收容空間30為止，從投光/受光單元4射出之光束係藉由第1反射構件5而反射，並入射至投光/受光單元4，在投光/受光單元4進入前述收容空間30後，從投光/受光單元4射出之光束係藉由第2反射構件6而反射，並入射至投光/受光單元4。

因此，在2個箱門2、3關閉之過程中，以投光/受光單元4進行之光束的檢測不會中斷，而不會產生異物檢測信號。

相對於此，當線狀之異物通過乘降口而存在時，由於在2個箱門2、3關閉之過程中從投光/受光單元4射出之光束會被該異物所遮蔽，因此以投光/受光單元4進行之光束的檢測會被中斷，結果會產生異物檢測信號。

在此，即使線狀之異物接觸前述另一方箱門3之閉方向端面3a而延伸時，以投光/受光單元4進行之光束的檢測動作會繼續，而在2個箱門2、3到達全閉狀態之過程中，從投光/受光單元4射出之光束會被該異物遮蔽，因此仍可檢測出該異物之存在。

在具體之構成中，在前述另一方箱門3安裝有清掃具70，該清掃具70係在2個箱門2、3從即將全閉狀態關閉至全閉狀態的過程中清掃前述第1反射構件5之表面。

依據該具體之構成，由於每當2個箱門2、3從即將全閉狀態關閉至全閉狀態時藉由清掃具70清掃第1反射構件5之表面，因此第1反射構件5之表面係恆常地維持為良好之反射面。

此外，在具體之構成中，在前述一方箱門2之比前述投光/受光單元4更靠近前述另一方箱門3側處，安裝有清掃具701，該清掃具701係在2個箱門2、3從即將全閉狀態關閉至全閉狀態的過程中清掃前述第2反射構件6之表面。

依據該具體之構成，由於每當2個箱門2、3從即將全閉狀態關閉至全閉狀態時藉由清掃具701清掃第2反射構件6之表面，因此第2反射構件6之表面係恆常地維持為良好之反射面。

再者，在具體之構成中，在前述另一方箱門3之下端部安裝有異物侵入防止構件9，該異物侵入防止構件9係用以閉塞形成於該箱門3之閉方向端面3a的下端與門檻82之表面之間的間隙。

依據該具體之構成，藉由異物侵入防止構件9而防止線狀之異物侵入形成於該箱門3之閉方向端面3a的下端與門檻82之表面之間的間隙，因此在2個箱門2、3關閉之過程中可確實地檢測出線狀之異物。

再者，在具體之構成中，在前述一方箱門2之下端部安裝有異物推出構件90，該異物推出構件90係用以閉塞形成於該箱門3之閉方向端面3a的下端與門檻82之表面之間的間隙，並且比該間隙更往另一方箱門3側突出。

依據該具體構成，藉由異物推出構件90而防止線狀之異物侵入形成於該箱門3之閉方向端面3a的下端與門檻82之表面之間的間隙，且前述異物會在2個箱門2、3關閉之過程中被比前述間隙更朝前方地被推出，因此在2個箱門2、3關閉之過程中光束必定會被異物所遮蔽，因而可確實地檢測出線狀之異物。

再者，在具體之構成中，在前述一對箱門2、3之至少任一者之箱門安裝有相對於該箱門相對移動之安全薄框27，該安全薄框27之下端面係相對於水平面具有預定之傾斜角度，而形成朝向另一方箱門側的斜面28。

依據該具體構成，即使在2個箱門2、3關閉之過程中線狀之異物潛入安全薄框27之下端面之下，亦可藉由拉起該異物，而使該異物被導引至安全薄框27之斜面28，而容易地從安全薄框27之下脫出。

再者，在具體之構成中，2個箱門2、3係從全開狀態經由第1即將全閉狀態及第2即將全閉狀態關閉至全閉狀態者，且具備在2個箱門2、3從第1即將全閉狀態關閉至第2即將全閉狀態之過程的預定時間點從OFF成為ON之檢測手段；前述第2反射構件6係具有以下構成：在2個箱門2、3從第1即將全閉狀態關閉至第2即將全閉狀態之過程中使從前述投光/受光單元4射出之光束反射，另一方面，在2個箱門2、3從第2即將全閉狀態到達全閉狀態之過程中，幾乎不會使從前述投光/受光單元4射出之光束反射。

控制單元100係在前述檢測手段成為ON後未產生異物檢測信號時，判斷為在投光/受光單元4發生異常。

依據該具體構成，當2個箱門2、3關閉至第1即將全閉狀態時，從投光/受光單元4射出之光束係藉由第2反射構件6之反射部601而反射，並回到投光/受光單元4。此時，前述檢測手段為OFF。之後，在2個箱門2、3關閉至第2即將全閉狀態之過程中，從投光/受光單元4射出之光束係藉由第2反射構件6而反射，並以一定以上之光量回到投光/受光單元4，並且在前述預定之時間點，前述檢測手段成為ON。當2個箱門2、3從第2即將全閉狀態更進一步關閉時，從投光/受光單元4射出之光束係幾乎不會藉由第2反射構件6而反射，而不會以一定以上之光量回到投光/受光單元4，因此產生異物檢測信號。此時，前述檢測手段依然為ON。因此，只要投光/受光單元4正常地動作，在全閉狀態下，前述檢測手段會成為ON，且產生異物檢測信號。

然而，在投光/受光單元4發生任何異常時，在全閉狀態下，前述檢測手段雖成為ON，但並未產生異物檢測信號。因此，在前述檢測手段成為ON後未產生異物檢測信號時，可判斷為在投光/受光單元4有發生任何異常。

本發明之第2電梯的安全裝置係具備往相對於門檔框12接近、離開之方向移動而開閉乘降口之至少1個箱門23，在前述箱門23，於從會與前述門檔框12抵接之閉方向端面23a朝門檔框12側離開預定距離的位置沿著閉方向端面23a上下延伸之直線上的上端位置，朝下方配備有投光/受光單元4，另一方面，在前述直線上的下端位置，朝上方配備有第1反射構件5，投光/受光單元4係可進行光束之射出與入射光束之檢測。

在前述門檔框12，形成有在箱門23關閉之狀態下收容前述投光/受光單元4的收容空間30，在該收容空間30之底部，朝上方配備有第2反射構件6，該第2反射構件6係從會與前述箱門23抵接之門檔框12之端面12a相同的位置朝前述收容空間30之裏側延伸。

投光/受光單元4係當光束之檢測在前述箱門23關閉之過程中被中斷時，產生異物檢測信號。

結果，辨識出異物之存在，並中止箱門23之關閉動作。

依據上述第2樣態之電梯的安全裝置，當乘箱之乘降口存在有異物時，在箱門23從全開狀態移動至全閉狀態的過程中，至投光/受光單元4進入前述收容空間30為止，從投光/受光單元4射出之光束係藉由第1反射構件5而反射，並入射至投光/受光單元4，在投光/受光單元4進入前述收容空間30後，從投光/受光單元4射出之光束係藉由第2反射構件6而反射，並入射至投光/受光單元4。

因此，在箱門23關閉之過程中，以投光/受光單元4進行之光束的檢測不會中斷，而不會產生異物檢測信號。

相對於此，當線狀之異物通過乘降口而存在時，由於在箱門23關閉之過程中從投光/受光單元4射出之光束會被該異物所遮蔽，因此以投光/受光單元4進行之光束的檢測會被中斷，結果會產生異物檢測信號。

在此，即使線狀之異物接觸前述門檔框12之端面12a而延伸時，以投光/受光單元4進行之光束的檢測動作會繼續，而在箱門23達到全閉狀態之過程中，從投光/受光單元4射出之光束會被該異物所遮蔽，因此仍可檢測出該異物之存在。

在具體之構成中，在前述門檔框12安裝有清掃具70，該清掃具70係在前述箱門23從即將全閉狀態關閉至全閉狀態的過程中清掃前述第1反射構件5之表面。

依據該具體之構成，由於每當箱門23從即將全閉狀態關閉至全閉狀態時藉由清掃具70清掃第1反射構件5之表面，因此第1反射構件5之表面係恆常地維持為良好之反射面。

此外，在具體之構成中，在前述箱門22之比前述投光/受光單元4更靠近前述門檔框12側處，安裝有清掃具701，該清掃具701係在門23從即將全閉狀態關閉至全閉狀態的過程中清掃前述第2反射構件6之表面。

依據該具體之構成，由於每當箱門23從即將全閉狀態關閉至全閉狀態時藉由清掃具701清掃第2反射構件6之表面，因此第2反射構件6之表面係恆常地維持為良好之反射面。

再者，在具體之構成中，在前述箱門23之下端部安裝有異物推出構件90，該異物推出構件90係用以閉塞形成於該箱門23之閉方向端面23a的下端與門檻86之表面之間的間隙，且比該間隙更往門檔框12側突出。

依據該具體之構成，藉由異物推出構件90而防止線狀之異物侵入形成於箱門23之閉方向端面23a的下端與門檻82之表面之間的間隙，因此在箱門23關閉之過程中前述異物會比前述間隙更朝前方地被推出，因此在箱門23關閉之過程中光束必定會被異物所遮蔽，因而可確實地檢測出線狀之異物。

再者，在具體之構成中，在前述箱門23安裝有相對於該箱門23相對移動之安全薄框29，該安全薄框29之下端面係相對於水平面具有預定之傾斜角度，而形成朝向另一方箱門側的斜面28。

依據該具體構成，即使在箱門23關閉之過程中線狀之異物潛入安全薄框29之下端面之下，亦可藉由拉起該異物，而使該異物被導引至安全薄框29之斜面28，而容易地從安全薄框29之下脫出。

再者，在具體之構成中，箱門23係從第1即將全閉狀態經由第2即將全閉狀態關閉至全閉狀態者，且具備在箱門23從第1即將全閉狀態關閉至第2即將全閉狀態之過程的預定時間點從OFF成為ON之檢測手段；前述第2反射構件6係具有以下構成：在前述箱門23從第1即將全閉狀態關閉至第2即將全閉狀態之過程中使從前述投光/受光單元4射出之光束反射，另一方面，在前述箱門23從第2即將全閉狀態到達全閉狀態之過程中，幾乎不會使從前述投光/受光單元4射出之光束反射。

依據該具體構成，當前述箱門23關閉至第1即將全閉狀態時，從投光/受光單元4射出之光束係藉由第2反射構件6而反射，並回到投光/受光單元4。此時，前述檢測手段為OFF。之後，在箱門23關閉至第2即將全閉狀態之過程中，從投光/受光單元4射出之光束係藉由第2反射構件6之反射部601而反射，並以一定以上之光量回到投光/受光單元4，且在前述預定之時間點，前述檢測手段為ON。當箱門23從第2即將全閉狀態更進一步關閉時，從投光/受光單元4射出之光束不會藉由第2反射構件6而反射，而不會以一定以上之光量回到投光/受光單元4，因此產生異物檢測信號。此時，前述檢測手段維持為ON。因此，只要投光/受光單元4正常地動作，在全閉狀態下，前述檢測手段會成為ON，且會產生異物檢測信號。

然而，在投光/受光單元4有任何異常發生時，在全閉狀態下，前述檢測手段雖成為ON，但不會產生異物檢測信號。因此，在前述檢測手段成為ON後未產生異物檢測信號時，可判斷為在投光/受光單元4有發生任何異常。

本發明之第3電梯的安全裝置係具備：往彼此接近、離開之方向移動而開閉乘降口之一對箱門2、3；配備在乘降口之上方的框體81；及配備在乘降口之下方的門檻82；在前述一對箱門2、3在全閉狀態下彼此抵接之抵接位置朝上下延伸之直線上的位置，在前述框體81，朝下方配備有投光/受光單元4，另一方面，在前述門檻82，朝上方配備有反射構件50，投光/受光單元4係可進行光束之射出與入射光束之檢測。

前述投光/受光單元4係當光束之檢測在2個箱門2、3關閉之過程中被中斷時，產生異物檢測信號。

結果，辨識出異物之存在，且中止2個箱門2、3之關閉動作。

此外，在具體之構成中，在前述一對箱門2、3之在全閉狀態下會彼此抵接之閉方向端面2a、3a，形成有沿著前述直線延伸之一對凹部2b、3b或一對缺口部2c、3c，當2個箱門2、3為全閉狀態時，藉由該一對凹部2b、3b或一對缺口部2c、3c形成用以供光束通過之通路105。

依據上述第3電梯的安全裝置，當乘箱之乘降口未存在有異物時，在2個箱門2、3從全開狀態移動至全閉狀態的過程中，從投光/受光單元4射出之光束係藉由反射構件50而反射，並入射至投光/受光單元4。

因此，在2個箱門2、3關閉之過程中，以投光/受光單元4進行之光束的檢測不會被中斷，而不會產生異物檢測信號。

相對於此，當線狀之異物通過乘降口而存在時，由於在2個箱門2、3達到全閉狀態時從投光/受光單元4射出之光束會被該異物所遮蔽，因此以投光/受光單元4進行之光束的檢測會被中斷，結果會產生異物檢測信號。

再者，由於投光/受光單元4係配備在框體81，因此可避免因在箱門2、3之開閉時產生之振動或施加於乘箱之撞擊等所造成的影響，具體而言係可避免入射光束之受光量的變動或光束之照射位置的偏移等，因此可提高異物之檢測精密度。同樣地，由於反射構件50係配備在門檻82，因此可避免因在箱門2、3之開閉時產生之振動或施加於乘箱之撞擊等所造成的影響。

在具體之構成中，前述反射構件50係配備在前述門檻82之下方，在該門檻82形成有供前述光束通過的貫穿孔821。

依據該具體之構成，由於使用者難以辨識出反射構件50之存在，因此可防止任意破壞。此外，反射構件50之反射面不容易被弄髒。

此外，在具體之構成中，在前述門檻82及前述箱門3配備有用以清掃前述反射構件50之表面的清掃機構7，該清掃機構7係由可沿著該反射構件50之表面滑動且朝箱門3之開方向或閉方向被施以彈簧彈力之清掃具71、及在前述箱門3關閉之過程或打開之過程中抵抗彈簧彈力而推壓該清掃具71的推壓部32所構成。

依據該具體之構成，在箱門3關閉之過程中，由於推壓部32係抵抗彈簧彈力而將清掃具71朝閉方向推壓，因此清掃具71係朝閉方向移動而清掃反射構件50之表面。另一方面，在箱門3打開之過程中，清掃具71係藉由彈簧彈力朝開方向移動而再度清掃反射構件50之表面。

或者，在箱門3打開之過程中，由於推壓部32係抵抗彈簧彈力而將清掃具71朝閉方向推壓，因此清掃具71係朝閉方向移動而清掃反射構件50之表面。另一方面，在箱門3關閉之過程中，清掃具71係藉由彈簧彈力朝閉方向移動而再度清掃反射構件50之表面。

因此，由於每當2個箱門2、3開閉時係藉由清掃具70清掃反射構件50之表面，因此反射構件50之表面係恆常地維持為良好之反射面。

本發明之第4電梯的安全裝置係具備：往彼此接近、離開之方向移動而開閉前述乘降口之一對箱門2、3；及配備在乘降口之上方的框體81；在前述框體81之前述一對箱門2、3在全閉狀態下彼此抵接之抵接位置朝上下延伸之直線上的位置，朝下方配備有投光/受光單元4，而在一方箱門3之會與另一方箱門2抵接的閉方面端面3a之下端位置，朝上方配備有反射構件50，投光/受光單元4係可進行光束之射出與入射光束之檢測。

結果，辨識出異物之存在，且中止2個箱門2、3之關閉動作。

此外，在具體之構成中，前述反射構件50係以可沿著槽83移動之方式保持在門檻82之槽83的內部，在該槽83係以可滑動之方式嵌入有前述一方箱門3。

再者，在前述一對箱門2、3之在全閉狀態下會彼此抵接之閉方向端面2a、3a，形成有沿著前述直線延伸之一對凹部2b、3b或一對缺口部2c、3c，當2個箱門2、3為全閉狀態時，藉由該一對凹部2b、3b或一對缺口部2c、3c形成用以供光束通過之通路105。

依據上述第4電梯的安全裝置，當線狀之異物通過乘降口而存在時，在2個箱門2、3到達全閉狀態時，從投光/受光單元4射出之光束會被該異物所遮蔽，因此，以投光/受光單元4進行之光束的檢測會被中斷，而產生異物檢測信號。

再者，由於投光/受光單元4係配備在框體81，因此可避免因在箱門2、3之開閉時產生之振動或施加於乘箱之撞擊等所造成的影響，具體而言係可避免入射光束之受光量的變動或光束之照射位置的偏移等，因此可提高異物之檢測精密度。

在更具體之構成中，在前述門檻82之槽83的內部配備有在2個箱門2、3關閉之過程中用以清掃前述反射構件50之表面的清掃具77。

依據該具體之構成，由於每當2個箱門2、3開閉時係藉由清掃具77清掃反射構件50之表面，因此反射構件50之表面係恆常地維持為良好之反射面。

本發明之第5電梯的安全裝置係具備往相對於門檔框84接近、離開之方向移動而開閉乘降口之至少1個箱門23，在前述門檔框84，於從會與前述箱門23抵接之端面84a朝箱門23側離開預定距離的位置朝上下延伸之直線上的上端位置，朝下方配備有投光/受光單元4，另一方面，在該直線上的下端位置，朝上方配備有第1反射構件61，投光/受光單元4係可進行光束之射出與入射光束之檢測。

在前述箱門23，形成有在箱門23關閉之狀態下收容前述投光/受光單元4的收容空間30，在該收容空間30之底部，朝上方配備有第2反射構件62，該第2反射構件62係從會與前述門檔框84抵接之前述箱門23之閉方向端面3a相同之位置朝前述收容空間30之裏側延伸。

結果，辨識出異物之存在，且中止箱門23之關閉動作。

此外，在具體之構成中，前述第1反射構件61係保持在嵌入有前述箱門23之門檻86之槽87的內部。

依據上述第5電梯的安全裝置，當乘箱之乘降口未存在有異物時，在箱門23從全開狀態移動至全閉狀態的過程中，至投光/受光單元4進入前述收容空間30為止，從投光/受光單元4射出之光束係藉由第1反射構件61而反射，並入射至投光/受光單元4，在投光/受光單元4進入收容空間30後，從投光/受光單元4射出之光束係藉由第2反射構件62而反射，並入射至投光/受光單元4。

相對於此，當線狀之異物通過乘降口而存在時，由於在箱門23關閉之過程中從投光/受光單元4射出之光束會被該異物所遮蔽，因此以投光/受光單元4進行之光束的檢測會中斷，結果會產生異物檢測信號。

再者，由於投光/受光單元4係配備在門檔框84，因此可避免因在箱門23之開閉時產生之振動或施加於乘箱之撞擊等所造成的影響，具體而言係可避免入射光束之受光量的變動或光束之照射位置的偏移等，因此可提高異物之檢測精密度。同樣地，由於第1反射構件61係配備在門檔框84之下端位置，因此可避免因在箱門23之開閉時產生之振動或施加於乘箱之撞擊等所造成的影響。

在具體之構成中，在前述箱門23安裝有相對於該箱門23相對移動之安全薄框29，在前述門檔框84之端面84a形成有沿著前述直線延伸之突出構件94，該突出構件94之從該端面84a突出之突出長度係比前述預定距離短，且相對於該直線之位置位於安全薄框29側，而且在前述箱門23關閉之過程中與安全薄框29重疊。

依據該具體之構成，當線狀之異物通過乘降口而存在時，突出構件94係在箱門2、3關閉之過程中與安全薄框29重疊，藉此使該異物之一部分夾入於其與安全薄框29之間，且使該一部分沿著閉方向。因此，異物係從突出構件94之前端朝箱門23之閉方向端面23a側被推出。結果，從投光/受光單元4射出之光束會被該異物所遮蔽。

再者，在具體之構成中，在前述門檔框84之下端部配備有比該門檔框之端面84a更往前述箱門23側突出之異物推出構件93。

依據該具體構成，藉由異物推出構件93，將異物朝門檔框84之端面84a的更前方推出，因此光束必定會被異物所遮蔽，因而可確實地檢測出線狀之異物。

在具體之構成中，在前述箱門23安裝有清掃具78，該清掃具78係在該箱門23關閉的過程中清掃前述第1反射構件61之表面。

依據該具體之構成，由於每當箱門23關閉時係藉由清掃具78清掃第1反射構件61之表面，因此第1反射構件61之表面係恆常地維持為良好之反射面。

此外，在具體之構成中，在前述門檔框84之比前述投光/受光單元4更靠近前述另一方箱門23側處安裝有清掃具79，該清掃具79係在該箱門23關閉的過程中清掃前述第2反射構件62之表面。

依據該具體之構成，由於每當箱門23關閉時係藉由清掃具79清掃第2反射構件62之表面，因此第2反射構件62之表面係恆常地維持為良好之反射面。

再者，在具體之構成中，安全裝置之前述箱門23係從全開狀態經由第1即將全閉狀態及第2即將全閉狀態關閉至全閉狀態者，且具備在該箱門23從第1即將全閉狀態關閉至第2即將全閉狀態之過程的預定時間點從OFF成為ON之檢測手段；前述第2反射構件62係具有以下構成：在前述箱門23從第1即將全閉狀態關閉至第2即將全閉狀態之過程中使從前述投光/受光單元4射出之光束反射，另一方面，在前述箱門23從第2即將全閉狀態到達全閉狀態之過程中，幾乎不會使從前述投光/受光單元4射出之光束反射。

依據該具體構成，當箱門23關閉至第1即將全閉狀態時，從投光/受光單元4射出之光束係藉由第2反射構件62而反射，並回到投光/受光單元4。此時，前述檢測手段為OFF。之後，在2個箱門23關閉至第2即將全閉狀態之過程中，從投光/受光單元4射出之光束係藉由第2反射構件62之反射部621而反射，並以一定以上之光量回到投光/受光單元4，且在前述預定之時間點，檢測手段成為ON。當箱門23從第2即將全閉狀態更進一步關閉時，從投光/受光單元4射出之光束不會藉由第2反射構件62而反射，而不會以一定以上之光量回到投光/受光單元4，因此產生異物檢測信號。此時，檢測手段係維持為ON。因此，只要投光/受光單元4正常地動作，在全閉狀態下，檢測手段會成為ON，且會產生異物檢測信號。

然而，在投光/受光單元4有任何異常發生時，在全閉狀態下，檢測手段雖成為ON，但不會產生異物檢測信號。因此，在檢測手段成為ON後未產生異物檢測信號時，可判斷為在投光/受光單元4有發生任何異常。

本發明之第6電梯的安全裝置係具備往相對於門檔框84接近、離開之方向相對移動而開閉乘降口之至少1個箱門23，在前述門檔框84，於前述箱門23在全閉狀態下所抵接之抵接位置朝上下延伸之直線上的上端位置，朝下方配備有投光/受光單元4，另一方面，在該直線上的下端位置，朝上方配備有第1反射構件61，前述投光/受光單元4係可進行光束之射出與入射光束之檢測。

在會與箱門23抵接之門檔框84之端面84a、及會與門檔框84抵接之箱門23之閉方向端面23a，形成有沿著前述直線延伸之一對凹部84b、23b或一對缺口部84c、23c，當前述箱門23為全閉狀態時，藉由該一對凹部84b、23b或一對缺口部84c、23c形成用以供光束通過之通路115。

前述投光/受光單元4係當光束之檢測在前述箱門23關閉之過程中被中斷時，產生異物檢測信號。

結果，辨識出異物之存在，且中止箱門23之關閉動作。

此外，在具體之構成中，前述反射構件61係保持在嵌入有前述箱門23之門檻86之槽87的內部。

依據上述第6電梯的安全裝置，當乘箱之乘降口未存在有異物時，在箱門23從全開狀態移動至全閉狀態的過程中，從投光/受光單元4射出之光束係藉由反射構件61而反射，並入射至投光/受光單元4。因此，在箱門23關閉之過程中，以投光/受光單元4進行之光束的檢測不會被中斷，而不會產生異物檢測信號。

相對於此，當線狀之異物通過乘降口而存在時，由於在箱門23到達全閉狀態時從投光/受光單元4射出之光束會被該異物所遮蔽，因此以投光/受光單元4進行之光束的檢測會中斷，結果會產生異物檢測信號。

再者，由於投光/受光單元4係配備在門檔框84，因此可避免因在箱門23之開閉時產生之振動或施加於乘箱之撞擊等所造成的影響，具體而言係可避免入射光束之受光量的變動或光束之照射位置的偏移等，因此可提高異物之檢測精密度。同樣地，由於反射構件61係配備在門檔框84之下端位置，因此可避免因在箱門23之開閉時產生之振動或施加於乘箱之撞擊等所造成的影響。

在具體之構成中，在前述箱門23安裝有清掃具，該清掃具係在該箱門23關閉的過程中清掃前述反射構件61之表面。

依據該具體之構成，由於每當箱門23關閉時係藉由清掃具清掃反射構件61之表面，因此反射構件61之表面係恆常地維持為良好之反射面。

在前述第3至第6電梯之安全裝置的具體構成中，以前述投光/受光單元4進行之光束的射出係在前述箱門23從即將全閉狀態關閉至全閉狀態的過程中實行。

依據該具體之構成，藉由從即將全閉狀態將光束射出，即可防止人在光束之射出時窺探到投光/受光單元4。

再者，在具體之構成中，在前述箱門23之下端部安裝有異物侵入防止構件91、92，該異物侵入防止構件91、92係用以閉塞形成於該箱門之閉方向端面的下端與門檻之表面之間的間隙。

依據該具體之構成，藉由異物侵入防止構件91、92而防止線狀之異物侵入形成於該箱門之閉方向端面的下端與門檻之表面之間的間隙，因此在箱門關閉之過程中可確實地檢測出線狀之異物。

在前述第1至第6電梯的安全裝置之其他具體構成中，該安全裝置係具有反轉開門手段、強制關門手段及報知手段。反轉開門手段係當在前述箱門關閉之過程中有產生異物檢測信號時，執行使箱門之動作反轉而打開該箱門之反轉開門動作。強制關閉門手段係將以前述反轉開門手段所進行之反轉開門動作設為無效，不論有無產生異物檢測信號，皆強制地執行前述箱門之關門動作。報知手段係在前述強制關門手段執行強制關門動作之前，或在前述強制關門手段執行強制關門動作的同時，報知該強制關門動作之執行。

在開始進行箱門之關門動作之後，在未完成該關門動作的情形中，與線狀之異物通過乘降口而存在之情形為不同的情形係為無法完成箱門之關門動作之原因的可能性很高。因此，在上述具體之構成中，係藉由強制關門手段強制地執行箱門之關門動作。即使在如上方式執行強制關門動作時，依據前述具體之構成，由於藉由報知手段報知該強制關門動作之執行，因而仍可防止因執行強制關門動作所造成之事故的發生。

在更具體之構成中，前述安全裝置復具備乘箱控制手段及第2報知手段。乘箱控制手段係在完成前述強制關門手段所進行之強制關門動作之後，使乘箱之行進開始進行。第2報知手段係在前述強制關門手段執行強制關門動作中產生異物檢測信號時，在藉由前述乘箱控制手段開始進行乘箱之行進之前，報知乘箱之行進開始。

依據本發明之電梯的安全裝置，無須對習知之箱門追加大的改變，即可藉由僅配備有投光/受光單元及反射構件的簡單構成，不論線狀之異物之位置在哪皆可恆常且確實地檢測出線狀之異物。

以下，參照圖式具體地說明本發明之實施形態。

(第1實施形態)

如第1圖及第2圖所示，本發明之實施形態的第1電梯係具備用以開閉乘箱之乘降口之左右一對箱門2、3的中央打開型之電梯，在乘降口上方之框體102固定有軌道1，2個箱門2、3係分別藉由吊架(hanger)21、31而懸掛在軌道1，並且以可滑動之方式將突設在門下端部之導引靴(guide shoe)22、32嵌合在門檻82，以導引水平方向之往復移動。

再者，在框體102上設置有用以控制2個箱門2、3之開閉動作的控制單元100。

如第1圖所示，在左側之箱門2，於從會與右側之箱門3抵接之閉方向端面2a朝右側之箱門3側離開達預定距離(例如12mm)之鉛直線上的上端位置，朝鉛直下方配備有投光/受光單元4，另一方面，在前述鉛直線上的下端位置，朝鉛直上方配備有第1反射構件5。

投光/受光單元4係一體地具備會射出雷射光之射束(以下稱光束)B的投光器、及會檢測出入射而來之光束B之受光器者，如第3圖所示，藉由固定在箱門2之閉方向端面2a的支柱41所支持。

再者，就投光/受光單元4之投光器而言，係採用例如紅色半導體雷射，藉此形成直徑1至2mm之點。投光/受光單元4之受光器係在由入射光束所造成之受光量超過預定之臨限值時，輸出光檢測信號。相對於此，當由入射光束所造成之受光量低於預定之臨限值時，輸出異物檢測信號。

如第4圖所示，第1反射構件5係設置在突設於左側之箱門2之下端面的L字形之臂構件51的水平臂部，且具有使光束B朝鉛直上方反射的反射面。該臂構件51係以可往復移動之方式收容在嵌入有箱門2之導引靴的門檻82之槽83的內部。

再者，臂構件51係經由第8圖所示之支柱52支持在左側之箱門2。在此，支柱52係安裝成可相對於箱門2進行開閉方向之位置調節，臂構件51係安裝成可相對於支柱52進行與門開閉方向正交之前後方向的位置調節。

如第5圖所示，在右側之箱門3的上端部形成有在2個箱門2、3關閉之狀態下會收容前述投光/受光單元的收容空間30，在該收容空間30之底部，朝鉛直上方配備有第2反射構件6。該第2反射構件6係具有從與右側之箱門3之閉方向端面3a相同之位置延伸至收容空間30之裏側的預定長度(例如8mm)之反射面，以使來自已侵入收容空間30之投光/受光單元之光束朝鉛直上方反射。

如第6圖所示，在右側之箱門3的下端部，朝下突設有用以閉塞形成於該箱門3之閉方向端面3a與門檻82之表面之間的間隙的異物侵入防止構件9，該異物侵入防止構件9之下端部係以可往復移動之方式收容在門檻82之槽83。

再者，在右側之箱門3的下端部之異物侵入防止構件9的後方位置，固定有第7圖所示之安裝具702，藉由該安裝具702朝下支持有由刷子所構成之清掃具70。

如第2圖所示，在2個箱門2、3關閉至全閉位置的過程中，前述清掃具70係清掃配備在左側之箱門2的第1反射構件5之表面(參照第8圖)。藉此，第1反射構件5之表面係恆常地維持為良好之反射面。

再者，投光/受光單元4朝鉛直下方、第1反射構件5及第2反射構件6朝向鉛直上方的安裝狀態係依據投光/受光單元4之構成(發光器及投光器之配置等)或箱門之設置姿勢之變異等，亦包含相對於鉛直線稍微傾斜之安裝狀態。

第15圖係表示存在有以形成乘箱之乘降口的出入口柱20之端面為基準的箱門2於全開位置之閉方向端面的後退距離、亦即超程(over-travel)T時之光束B的配置例，並將光束B配置成：在第15圖(a)所示之開門狀態的待機中，光束B係位於乘降口之寬度的外側；在第15圖(b)所示的閉門中，光束B係位於連結箱門2之端緣與安全薄框27之端緣之線的內側。

再者，第16圖係表示無超程時之光束B的配置例，其係將光束B配置成：在第16圖(a)所示之開門狀態的待機中，光束B係位於連結箱門2之端緣與安全薄框27之端緣之線的外側，在第16圖(b)所示之關門中，光束B係位於連結箱門2之端緣與安全薄框27之端緣之線的內側。

在上述第1電梯中，在2個箱門2、3從全開狀態關閉至即將全閉狀態的過程中，從投光/受光單元4射出之光束B係只要在其進路不存在異物，即會入射至第1反射構件5而被反射，反射光束B則回到投光/受光單元4。

然後，在2個箱門2、3從即將全閉狀態關閉至全閉狀態的過程中，投光/受光單元4係侵入形成在右側之箱門3的收容空間30，藉此，從投光/受光單元4射出之光束B係入射至第2反射構件6而被反射，反射光束B則回到投光/受光單元4。

亦即，在2個箱門2、3從全開狀態關閉至全閉狀態的過程中，從投光/受光單元4射出之光束B係只要在其進路不存在異物，即會藉由第1反射構件5或第2反射構件6所反射，並回到投光/受光單元4。

投光/受光單元4係在檢測出光束時不會產生異物檢測信號。再者，控制單元100在2個箱門2、3從全開狀態關閉至全閉狀態的過程中，只要未由投光/受光單元4產生異物檢測信號，則繼續進行2個箱門2、3之關閉動作。

相對於此，投光/受光單元4係在光束之檢測中斷時，產生異物檢測信號，並輸出至控制單元100。依此，控制單元100係使2個箱門2、3從關閉動作反轉成打開動作。

第22圖及第23圖係顯示在通過乘箱之乘降口的中央部而將線S拉伸於乘箱之內部與搭乘處樓層之間的狀態下，2個箱門2、3關閉時之一連串動作。

如第22圖(a)、(b)、(c)所示，在2個箱門2、3從全開狀態關閉至即將全閉狀態的過程中，光束B係緩慢地接近線S，且如第23圖(a)、(b)、(c)所示，在2個箱門2、3從即將全閉狀態關閉至全閉狀態的過程中，光束B係橫切過線S。此時，由於由投光/受光單元4所進行之光束之檢測會中斷，因而產生異物檢測信號。

第24圖及第25圖係顯示在將安全薄框27配備在左側之箱門2的電梯中，在以接觸到左側之乘箱2與安全薄框27之方式將線S拉伸於乘箱之內部與搭乘處樓層之間的狀態下，2個箱門2、3關閉時之一連串動作。

如第24圖(a)、(b)、(c)所示，在2個箱門2、3從全開狀態關閉至即將全閉狀態的過程中，最初線S係位在光束B與左側之箱門2之間，但隨著關門動作之進行，線S會移動至與光束B交叉的位置，然後如第25圖(a)、(b)、(c)所示，在2個箱門2、3從即將全閉狀態關閉至全閉狀態的過程中，光束B係移動至線S之外側。在此過程中，當光束B橫切過線S時，由於由投光/受光單元4所進行的光束之檢測會中斷，因而產生異物檢測信號。

第26圖及第27圖係顯示在將安全薄框27、37分別配備在兩個箱門2、3的電梯中，在以接觸到左側之乘箱2與安全薄框27之方式將線S拉伸於乘箱之內部與搭乘處樓層之間的狀態下，2個箱門2、3關閉時之一連串動作。

如第26圖(a)、(b)、(c)所示，在2個箱門2、3從全開狀態關閉至即將全閉狀態的過程中，最初線S係位在光束B與左側之箱門2之間，但隨著關門動作之進行，線S會移動至與光束B交叉的位置，然後如第27圖(a)、(b)、(c)所示，在2個箱門2、3從即將全閉狀態關閉至全閉狀態的過程中，光束B係移動至線S之外側。在此過程中，當光束B橫切過線S時，由於以投光/受光單元4進行之光束之檢測會中斷，因而產生異物檢測信號。

如第9圖及第10圖所示，本發明之實施形態的第2電梯係具備：相對於固定在乘箱之門檔框12接近/離開而用以開閉乘降口之高速箱門23及低速箱門33的側邊打開型之電梯，2個箱門23、33係分別藉由吊架24、34而懸掛在軌道11，並且以可滑動之方式將突設在門下端部之導引靴22、32嵌合在門檻86，以導引水平方向之往復移動。

再者，在框體102上設置有用以控制2個箱門23、33之開閉動作的控制單元100。

如第9圖所示，在高速之箱門23，於從會與門檔框抵接之閉方向端面23a朝門檔框12側離開預定距離(例如12mm)之鉛直線上的上端位置，朝鉛直下方配備有投光/受光單元4，另一方面，在前述鉛直線上的下端位置，朝鉛直上方配備有第1反射構件5。

投光/受光單元4係一體地具備會射出光束B的投光器、及會檢測出入射而來之光束B之受光器者，且如第11圖所示，藉由固定在箱門23之閉方向端面23a的支柱42所支持。

如第12圖所示，第1反射構件5係設置在突設於高速之箱門23之下端面的L字形之臂構件51的水平臂部，且具有使光束B朝鉛直上方反射的反射面。該臂構件51係以可往復移動之方式收容在嵌入有箱門23之導引靴的門檻86之槽87的內部。

如第13圖所示，在門檔框12的上端部形成有在高速之箱門23關閉之狀態下會收容前述投光/受光單元的收容空間30，在該收容空間30之底部，朝鉛直上方配備有第2反射構件6。該第2反射構件6係具有從與門檔框12之端面12a相同之位置延伸至收容空間30之裏側的預定長度(例如8mm)之反射面，以使來自已侵入收容空間30之投光/受光單元之光束朝鉛直上方反射。

再者，如第14圖所示，在門檔框12的下端部，朝下安裝有由刷子所構成之清掃具70。

如第10圖所示，在2個箱門23、33關閉至全閉位置的過程中，前述清掃具70係清掃配備在高速之箱門23的第1反射構件5之表面。藉此，第1反射構件5之表面係恆常地維持為良好之反射面。

再者，在上述第2電梯中，在高速之箱門23從全開狀態關閉至即將即將全閉狀態的過程中，從投光/受光單元4射出之光束B只要在其進路不存在異物，即會入射至第1反射構件5而被反射，反射光束B則回到投光/受光單元4。

然後，在箱門23從即將全閉狀態關閉至全閉狀態的過程中，投光/受光單元4係侵入形成在門檔框12的收容空間30，藉此，從投光/受光單元4射出之光束B係入射至第2反射構件6而被反射，反射光束B則回到投光/受光單元4。

亦即，在高速之箱門23從全開狀態關閉至全閉狀態的過程中，從投光/受光單元4射出之光束B係只要在其進路不存在異物，即會藉由第1反射構件5或第2反射構件6所反射，並回到投光/受光單元4。

投光/受光單元4係在檢測出光束時不會產生異物檢測信號。再者，第9圖及第10圖之控制單元100係在高速之箱門23從全開狀態關閉至全閉狀態的過程中，只要未從投光/受光單元4供給異物檢測信號，則繼續進行2個箱門23、33之關閉動作。

相對於此，控制單元100係在高速之箱門23關閉之過程中從投光/受光單元4供給有異物檢測信號時，使2個箱門23、33從關閉動作反轉成打開動作。

第28圖及第29圖係顯示在通過比乘箱之乘降口靠近門檔框12之位置而將線S拉伸於乘箱之內部與搭乘處樓層之間的狀態下，高速之箱門23與搭乘處門15關閉時之一連串動作。

如第28圖(a)、(b)所示，在箱門23從全開狀態關閉至即將全閉狀態的過程中，光束B係接近線S而移動至與線S交叉之位置，然後如第29圖(a)、(b)所示，光束B係從與線S交叉之位置朝門檔框12側移動。如此，當光束B橫切過線S時，由於以投光/受光單元4進行之光束之檢測會中斷，因而產生異物檢測信號。

第30圖及第31圖係顯示在將安全薄框29配備在高速之箱門23的電梯中，在以接觸到安全薄框29與搭乘處門15之方式將線S拉伸於乘箱之內部與搭乘處樓層之間的狀態下，箱門23與搭乘處門15關閉時之一連串動作。

如第30圖(a)、(b)、(c)所示，在箱門23與搭乘處門15關閉至即將全閉狀態的過程中，線S係藉由安全薄框29而朝門檔框12側被推出，然後如第31圖(a)、(b)、(c)所示，在箱門23與搭乘處門15從即將全閉狀態關閉至全閉狀態的過程中，隨著箱門23之移動，光束B會橫切過線S。此時，由於以投光/受光單元4進行之光束之檢測會中斷，因而產生異物檢測信號。

第17圖至第20圖係顯示在側邊打開型之電梯中，為了檢測出投光/受光單元4之故障，利用來自閘門開關(gate switch)101之信號的實施形態。

在此，如第18圖(b)所示，第2反射構件6係由以一定以上之光量將從投光/受光單元4射出之光束予以反射的反射部601、及並未以一定以上之光量將從投光/受光單元4射出之光束予以反射的非反射部602所構成。

例如，可藉由在非反射構件之表面貼附反射帶而構成反射部601，且藉由未貼附反射帶之區域而構成非反射部602。

如第17圖(a)、(b)所示，在軌道11配備有閘門開關101，另一方面，在高速之箱門23之吊架24安裝有用以將閘門開關101從0FF(關斷)切換至ON(導通)之突片26。

在第17圖(a)、(b)所示之全開狀態下，從投光/受光單元4射出之光束B係入射至第1反射構件5而被反射。光束B係沿著離開箱門23之閉方向端面23a達12mm的鉛直線前進。

如第18圖(a)、(b)所示，當箱門23之閉方向端面23a關閉至門檔框12之端面12a的正前方12mm之位置時(第1即將全閉狀態)，從投光/受光單元4射出之光束B係從入射至前述第1反射構件5之狀態移行至入射至第2反射構件6之反射部601的狀態，之後，由反射部601所反射之光束B會被投光/受光單元4所檢測出。因此，不會產生異物檢測信號。

在此時間點，閘門開關101係維持為OFF。

如第19圖(a)、(b)所示，當箱門23之閉方向端面23a關閉至門檔框12之端面12a的正前方8mm之位置時，閘門開關101會成為ON。此時，從投光/受光單元4射出之光束B係依然為入射至第2反射構件6之反射部601的狀態，由反射部601所反射之光束B會被投光/受光單元4所檢測出。

再者，如第20圖(a)、(b)所示，當箱門23之閉方向端面23a關閉至門檔框12之端面12a的正前方4mm之位置時(第2即將全閉狀態)，從投光/受光單元4射出之光束B係從入射至前述第2反射構件6之反射部601的狀態移行至入射非反射部602的狀態，之後，在箱門23達到全閉狀態為止之期間，光束B不會以一定以上之光量入射至投光/受光單元4。因此，會產生異物檢測信號。

在此時間點，閘門開關101係維持為ON。

因此，只要投光/受光單元4正常地動作，在第2即將全閉狀態下，閘門開關101會成為ON，且會產生異物檢測信號。此時，不論有無異物檢測信號，控制單元100皆繼續進行關門動作。

然而，若在投光/受光單元4有產生任何異常時，閘門開關101雖會成為ON，但不會產生異物檢測信號。因此，控制單元100係在閘門開關101成為ON後未被供給有異物檢測信號時，判斷為在投光/受光單元4有發生某些異常。

第21圖係顯示依據投光/受光單元4與閘門開關101之輸出的控制單元100之控制程序。在步驟S1中，在開門完成(全開狀態)F進行待機。接著在步驟S2中，判斷開門之打開時間是否屆滿，若為「否」時則返回步驟S1在開門完成下進行待機。

在開門之打開時間屆滿而在步驟S2中判斷為「是」時，移行至步驟S3，判斷是否符合因異物檢測信號之產生而使反轉開門反覆進行達預定次數N之情形、或開門待機時間達到預定時間T之情形的任一者。亦即，判斷可否完成箱門之關門動作。

在此，判斷為「是」時，與線狀之異物通過乘降口而存在之情形為不同的情形係為無法完成箱門之關門動作之原因的可能性很高。因此，移行至步驟S4，利用乘箱內之聲音導引系統、及乘箱內或搭乘處之顯示導引系統，對人發出警告使其遠離箱門23、33。然後，將反轉開門動作設定為無效，執行蜂鳴器之鳴動等，同時不論是否產生異物檢測信號均強制地執行低速的關門動作。在此，所執行之蜂鳴器之鳴動等係用以報知強制關門動作之執行者。當然此報知亦可在執行強制關門動作之前進行。

接著，在執行關門動作中，在步驟S41中以投光/受光單元4進行異物之檢測。在此，在執行關門動作中如未產生異物檢測信號而判斷為「否」時，移行至步驟S42，在完成關門動作後，將反轉開門動作設定為有效，並且停止蜂鳴器之鳴動等，再開始一般的控制動作。然後，結束程序。

相對於此，在進行關門動作中產生異物檢測信號而在步驟S41判斷為「是」時，移行至步驟S43，在完成關門後，利用乘箱內之聲音導引系統、及乘箱內或搭乘處之顯示導引系統，報知乘箱之行進開始。此外，以聲音報知行進開始時，亦可使音量比在步驟S4中進行警告時之聲音大。

在報知乘箱之行進開始的期間，係維持乘箱之停止狀態。然後，在步驟S44中，判斷乘箱內之開門按紐、或在乘箱所停止之停止樓層的搭乘處呼叫按紐是否有被按壓。

當乘箱內之開門按紐或搭乘處呼叫按紐被按壓，而在步驟S44中判斷為「是」時，移行至步驟S47而進行開門動作。藉此，可將在步驟S4中因強制性進行關門動作而被夾持之異物予以去除。然後，回到步驟S1，在開門完成下進行待機。

相對於此，當乘箱內之開門按紐或搭乘處呼叫按紐未被按壓，而在步驟S44中判斷為「否」時，移行至步驟S45，而在維持乘箱及箱門之停止狀態的情形下，利用乘箱內之聲音導引系統播放乘箱之行進開始的情事。然後，在播放結束後，判斷是否已經過預定之時間。

在放送結束後經過了預定時間而在步驟S45中判斷為「是」時，係移行至步驟S46，再開始一般之控制動作。然後，結束程序。

另一方面，在放送結束後未經過預定時間而在步驟S45中判斷為「否」時，回到步驟S43，維持乘箱及箱門之停止狀態。

如此，在步驟S4中強制地執行箱門之關門動作時，亦在步驟S4中報知關門動作之執行，且在步驟S43中報知乘箱之行進開始，因而防止因強制性執行關門動作所造成之事故的發生。

在步驟S3中判斷為「否」時，係在步驟S5中以一般之速度(高速)進行關門動作，而在步驟S6中以投光/受光單元進行異物之檢測。

在此判斷為產生有異物檢測信號時，由於推定為在乘箱之搭乘存在有任何之異物(例如橫跨於乘箱與搭乘處樓層的線)，因此移行至步驟S7而進行反轉開門後，回到步驟S1而在開門完成下進行待機。

另一方面，在步驟S6中判斷為未產生異物檢測信號時，移行至步驟S8，判斷閘門開關是否成為ON，當判斷為「是」時，進一步在步驟S9中以投光/受光單元進行異物之檢測。在步驟S8中判斷為「否」時回到步驟S5。

在此，未產生異物檢測信號時，可判斷為：儘管來自投光/受光單元之光束從入射至第2反射構件之反射部的狀態移行至入射至非反射部的狀態，投光/受光單元亦未從光束之檢測狀態切換至非檢測狀態。

因此，移行至步驟S11，而判斷投光/受光單元發生無法檢測出異物之故障，並進行反轉開門動作後，回到步驟S1而在開門完成下進行待機。

相對於此，在步驟S9中判斷為產生異物檢測信號時，則在步驟S10中判斷投光/受光單元為正常，而使關門動作繼續進行。再者，在步驟S12中，使反轉開門之次數歸零，且在步驟S13中解除發生無法檢測出異物之故障的判斷，而結束一連串之程序。

依據上述程序，利用來自以往用以檢測關門動作結束之閘門開關101的ON/OFF信號，而可檢測出投光/受光單元4之故障。因此，可避免儘管在乘箱之乘降口存在有線等異物亦不會產生異物檢測信號，而無法進行避險動作的異常事態。

再者，亦可利用可檢測出更接近全閉狀態之即將全閉狀態的CTL信號，來取代來自閘門開關101的ON/OFF信號。閘門開關101係檢測出門被關閉之開關，相對於此，CTL係檢測出門之位置的開關，在電梯安裝有這兩種開關。

例如，由於在箱門23之閉方向端面23a關閉至門檔框12之端面12a的正前方4mm處之時間點，CTL信號由OFF切換為ON，因此變更反射部601之長度，以便在箱門23之閉方向端面23a關閉至門檔框12之端面12a的正前方2mm處的狀態下使來自投光/受光單元4之光束從第2反射構件6之反射部601移行至非反射部602。

第32圖及第33圖係顯示對前述第1及第2電梯之改良構造的一例。如圖所示，在左側之搭乘處門13之下端部，安裝有異物侵入防止構件9，該異物侵入防止構件9係用以閉塞形成於該搭乘處門13之閉方向端面13a的下端與門檻82之表面之間的間隙。

藉此，防止線S侵入前述間隙，因而可確實地檢測出線S。

再者，於右側之搭乘處門亦同樣地，安裝異物侵入防止構件9，以閉塞形成於該搭乘處門之閉方向端面的下端與門檻之表面之間的間隙，其亦為有效者。

第34圖及第35圖係顯示對前述第1及第2電梯之改良構造的其他例。如圖所示，在左側之箱門2之下端部，安裝有異物推出構件90，該異物推出構件90係用以閉塞形成於該箱門2之閉方向端面2a的下端與門檻82之表面之間的間隙，並且比該間隙更往右側之箱門側突出。

藉此，線S係在箱門2關閉之過程中由異物推出構件90所推出，結果，光束B會橫切過線S，而可確實地檢測出線S。

第36圖及第37圖係顯示針對在左側之箱門2安裝有安全薄框27之電梯之改良構造的一例。如圖所示，在左側之箱門2之下端部，安裝有與上述例相同之異物推出構件90。再者，安全薄框27之下端面係相對於水平面具有預定之傾斜角度，而形成朝向右側之箱門側的斜面28。

如此，由於安全薄框27之下端部具有斜面28，因此即使在2個箱門關閉之過程中線S潛入至安全薄框27之下，亦可藉由將該線S拉起，而將該線S導引至安全薄框27之斜面28，而可容易地使該線S從安全薄框27之下脫出。

第38圖係顯示在中央打開型之電梯中在左右之搭乘處門13、14安裝上述異物侵入防止構件9，並且在左側之箱門2安裝上述之異物推出構件90，且在右側之箱門3安裝上述異物侵入防止構件9的一例。再者，在安裝於2個箱門2、3之安全薄框27、37，分別形成有上述之斜面。

藉此，阻止線S潛入至搭乘處門13、14或箱門2、3之下，且可容易地進行在線S潛入安全薄框27、37之下時之線的脫出操作。

再者，在其他構成例中，如第39圖所示在安裝於左側之箱門2的支柱41中之比投光/受光單元4更靠近前方的位置，向下安裝有由刷子所構成之清掃具701，如第2圖所示在2個箱門2、3關閉至全閉位置的過程中，該清掃具701係清掃配備於右側之箱門3的第2反射構件6之表面。藉此，第2反射構件6之表面係恆常地維持為良好之反射面。

第40圖至第42圖係分別顯示用以防止第1反射構件5之損傷的改造例。

在第40圖之例中，藉由在臂構件51之背面安裝由彈性材料所構成之襯墊54的構成，可利用臂構件51之彈性變形及襯墊54之撞擊吸收，來吸收外力F作用於第1反射構件5之撞擊。

此外，在第41圖之例中，藉由樞軸55以在鉛直面內轉動自如之方式樞接臂構件51，並藉由在臂構件51之背面的前端側安裝襯墊56、在樞軸55側安裝彈簧57之構成，利用彈簧57之彈性變形而吸收外力F作用於第1反射構件5之撞擊。

再者，在第42圖之例中，係在臂構件51之表面凹設具有一定深度G之細長槽53，並在該槽53之底面埋設第1反射構件5而使該第1反射構件5之表面露出，藉由上述構成，防止第1反射構件5被傘之前端等棒狀物A直接刺擊。

(第2實施形態)

如第43圖及第44圖所示，本發明之實施形態的第3電梯係具備用以開閉乘箱之乘降口之左右一對箱門2、3的中央打開型之電梯，在乘降口上方之框體81固定有軌道1，2個箱門2、3係分別藉由吊架21、31而懸掛在軌道1，並且以可滑動之方式將突設在門下端部之導引靴22、32嵌合在門檻82，以導引水平方向之往復移動。

再者，在框體81上設置有用以控制2個箱門2、3之開閉動作的控制單元100。

如第43圖所示，在使左右一對箱門2、3在全閉狀態下彼此抵接之抵接位置朝上下延伸的鉛直線103上的位置，在框體81係朝鉛直下方配備有投光/受光單元4，另一方面，在門檻82係朝鉛直上方配備有反射構件50。在本實施形態中，投光/受光單元4係經由艉板(transom)811固定在框體81。

再者，投光/受光單元4朝鉛直下方且反射構件50朝向鉛直上方的安裝狀態係依據投光/受光單元4之構成(發光器及受光器之配置等)、框體81或箱門2、3之設置姿勢之變異等，亦包含相對於鉛直線103稍微傾斜之安裝狀態。

投光/受光單元4係一體地具備會射出雷射光之射束(以下稱光束)B的投光器、及會檢測出入射而來之光束B之受光器者，並如第45圖及第46圖所示，藉由固定在艉板811的支柱41所支持。

如第47圖及第48圖所示，反射構件50係設置在配備於門檻82之下方且沿著門檻82朝水平方向延伸的設置台104，且具有使光束B朝鉛直上方反射的反射面。再者，如第48圖及第49圖所示，在門檻82形成有供光束B朝鉛直方向通過之貫穿孔821。此外，設置台104係固定於門檻82(未圖示)。

藉由在門檻之下方配備反射構件50，由於使用者難以辨識出反射構件50之存在，因此可防止任意破壞。此外，反射構件50之反射面不容易被弄髒。

如第51圖所示，在2個箱門2、3，在全閉狀態下會彼此抵接之閉方向端面2a、3a係形成有沿著鉛直線103延伸之一對凹部2b、3b。藉此，當2個箱門2、3為全閉狀態時，形成用以供光束B通過之通路105。

再者，如第52圖所示，亦可在2個箱門2、3之閉方向端面2a、3a，形成有沿著鉛直線103延伸之一對缺口部2c、3c，藉由該一對缺口部2c、3c而形成用以供光束B通過之通路105。

如第47圖所示，在門檻82及右側之箱門3配備有用以清掃反射構件50之表面的清掃機構7，清掃機構7係由以刷子構成之清掃具71、彈簧構件72及推壓部73所構成。具體而言，在固定於門檻82之設置台104安裝有一對支持構件75、75，藉由該一對支持構件75、75，以滑動自如之方式支持有沿著右側之箱門3之開閉方向延伸的棒狀構件74。

接著，在棒狀構件74，朝下安裝有清掃具71。藉此，清掃具71係可沿著反射構件50之表面滑動而清掃反射構件50之表面。

再者，在棒狀構件74，向上突設有L字形之臂部76。

彈簧構件72之一端係固定在設置台104，另一端係連接在棒狀構件74之右側端，而將清掃具71朝右側之箱門3的打開方向施以彈簧彈力。因此，在右側之箱門3打開之狀態時，清掃具71係配置在反射構件50之右側的位置。

在本實施形態中，係使用右側之箱門3的導引靴32作為推壓部73，在右側之箱門3從即將全閉狀態(第47圖)關閉至全閉狀態(第50圖)之過程中，該導引靴32係抵抗彈簧彈力而推壓臂部76。藉此，如第48圖所示，清掃具71係從反射構件50之右側移動至左側而清掃反射構件50之表面。

然後，藉由右側之箱門3的打開，清掃具71係藉由以彈簧構件72所產生的彈簧彈力，從反射構件50之左側移動至右側而再度清掃反射構件50之表面。亦即，每當右側之箱門3開閉時，藉由清掃具71來清掃反射構件50之表面。因此，反射構件50之表面係恆常地維持為良好之反射面。

再者，在上述之清掃機構7中，亦可藉由彈簧構件72將清掃具71朝右側之箱門3的關閉方向施以彈簧彈力。此時，清掃具71係配置在反射構件50之左側。接著，在右側之箱門3打開的過程中，藉由導引靴32抵抗彈簧彈力而推壓臂部76，因此清掃具71係從反射構件50之左側移動至右側而清掃反射構件50之表面。然後，藉由右側之箱門3的關閉，清掃具71係藉由以彈簧構件72所產生的彈簧彈力，從反射構件50之右側移動至左側而再度清掃反射構件50之表面。

再者，如第53圖所示，在2個箱門2、3之下端部安裝有異物侵入防止構件91、92，該異物侵入防止構件91、92係用以閉塞形成於該2個箱門2、3之閉方向端面2a、3a與門檻82之表面之間的間隙。如第54圖(a)、(b)所示，在異物侵入防止構件91、92形成有突起部91a、92a，在異物侵入防止構件91、92之安裝狀態下，突起部91a、92a係如第55圖所示，從2個箱門2、3之下端部向下突出，且突起部91a、92a之下端部係如第53圖所示以可往復移動之方式收容在門檻82之槽83。

在上述第3電梯中，在2個箱門2、3關閉的過程中，從投光/受光單元4射出之光束B係只要在其進路不存在異物，即會入射至反射構件50而被反射，反射光束B則回到投光/受光單元4。

投光/受光單元4係在檢測出光束時不會產生異物檢測信號。再者，在2個箱門2、3關閉的過程中，只要未藉由投光/受光單元4產生異物檢測信號，則控制單元100係繼續進行2個箱門2、3之關閉動作。

相對於此，投光/受光單元4係在光束之檢測被中斷時產生異物檢測信號。具體而言，當線S通過乘降口而存在時，如第56圖及第57圖所示，當2個箱門2、3到達全閉狀態時，從投光/受光單元4射出之光束會被線S所遮蔽，而使以投光/受光單元4進行之光束之檢測中斷。結果，產生異物檢測信號。

由投光/受光單元4產生之異常檢測信號係輸出至控制單元100。依此，控制單元100係使2個箱門2、3從關閉動作反轉為打開動作。

再者，在上述第3電梯中，由於投光/受光單元4係被支持在框體81，因此可避免因在箱門2、3之開閉時產生之振動或施加於乘箱之撞擊等所造成的影響，具體而言可避免入射光束B之受光量的變動或光束B之照射位置的偏移等，因此可提高異物之檢測精密度。同樣地，由於反射構件50係被支持在門檻82，因此可避免因在箱門2、3之開閉時產生之振動或施加於乘箱之撞擊等所造成的影響。

再者，在第3電梯中，由於在2個箱門2、3之下端部安裝有異物侵入防止構件91、92，故藉由異物侵入防止構件91、92來防止線S侵入形成於該2個箱門2、3之閉方向端面2a、3a與門檻82之表面之間的間隙。因此，在2個箱門2、3關閉之過程中，可確實地檢測出屬於異物之線S。

在上述第3電梯中，較佳為僅在2個箱門2、3從即將全閉狀態關閉至全閉狀態的過程中，使光束B從投光/受光單元4射出。這是由於可防止人在光束B之射出時窺探到投光/受光單元4之故。

第58圖係顯示依據投光/受光單元4之輸出的控制單元100之控制程序。首先在步驟S21中，停止以投光/受光單元4進行之光束B的投光，接著下一個步驟S22中在開門完成(全開狀態)下進行待機。接著在步驟S23中，判斷開門打開時間是否屆滿，若為「否」時則返回步驟S22而在開門完成下進行待機。

在開門打開時間屆滿而在步驟S23中判斷為「是」時，移行至步驟S24，判斷是否符合因異物檢測信號之產生而使反轉開門反覆進行達預定次數N之情形、或開門待機時間達到預定時間T之情形的任一者。亦即，判斷可否完成箱門之關門動作。

在此，判斷為「是」時，與線狀之異物通過乘降口而存在之情形為不同的情形係為無法完成箱門之關門動作之原因的可能性很高。因此，移行至步驟S25，利用乘箱內之聲音導引系統、及乘箱內或搭乘處之顯示導引系統，對人發出警告使其遠離箱門2、3。然後，將反轉開門動作設定為無效，執行蜂鳴器之鳴動等，同時不論是否產生異物檢測信號均強制地執行低速的關門動作。在此，所執行之蜂鳴器之鳴動等係用以報知強制關門動作之執行者。當然此報知亦可在執行強制關門動作之前進行。

接著，在執行關門動作中，在步驟S51中以投光/受光單元進行異物之檢測。在此，在執行關門動作中如未產生異物檢測信號而判斷為「否」時，移行至步驟S52，在完成關門動作後，將反轉開門動作設定為有效，並且停止蜂鳴器之鳴動等，再開始一般的控制動作。然後，結束程序。

相對於此，在進行關門動作中產生異物檢測信號而在步驟S51判斷為「是」時，移行至步驟S53，在完成關門後，利用乘箱內之聲音導引系統、及乘箱內或搭乘處之顯示導引系統，報知乘箱之行進開始。此外，以聲音報知行進開始時，亦可使音量比在步驟S15中進行警告時之聲音大。

在報知乘箱之行進開始的期間，係維持乘箱之停止狀態。然後，在步驟S54中，判斷乘箱內之開門按紐、或在乘箱所停止之停止樓層的搭乘處呼叫按紐是否有被按壓。

當乘箱內之開門按紐或搭乘處呼叫按紐被按壓，而在步驟S54中判斷為「是」時，移行至步驟S57，而在停止光束B之投光後進行開門動作。藉此，可將在步驟S25中因強制性進行關門動作而被夾持之異物予以去除。然後，經由步驟S21而回到步驟S22，在開門完成下進行待機。

相對於此，當乘箱內之開門按紐或搭乘處呼叫按紐未被按壓，而在步驟S54中判斷為「否」時，移行至步驟S55，而在維持乘箱及箱門之停止狀態的情形下，利用乘箱內之聲音導引系統播放乘箱之行進開始之情事。然後，在播放結束後，判斷是否已經過預定之時間。

在放送結束後經過了預定時間而在步驟S55中判斷為「是」時，係移行至步驟S56，再開始一般之控制動作。然後，結束程序。

另一方面，在放送結束後未經過預定時間而在步驟S55中判斷為「否」時，回到步驟S53，維持乘箱及箱門之停止狀態。

如此，在步驟S25中強制地執行箱門之關門動作時，亦在步驟S25中報知關門動作之執行，且在步驟S53中報知乘箱之行進開始，因而防止因強制性執行關門動作所造成之事故的發生。

在步驟S24中判斷為「否」時，係在步驟S26中以一般之速度(高速)進行關門動作，而在步驟S27中判斷閘門開關101是否成為ON。當在步驟S27中判斷為「否」時，回到步驟S26。而在步驟S27中判斷為「是」時，移行至步驟S28而開始以投光/受光單元進行光束B之投光，且在步驟S29中以投光/受光單元4進行異物之檢測。

當在步驟S29中判斷為產生有異物檢測信號時，由於推定為在乘箱之搭乘存在有任何之異物(例如橫跨於乘箱與搭乘處樓層的線)，因此移行至步驟S30，在維持乘箱之停止狀態的情形下，停止光束B之投光，接著進行反轉開門動作。然後，經由步驟S21而回到步驟S22，在開門完成下進行待機。

另一方面，在步驟S29中判斷為未產生異物檢測信號時，移行至步驟S31，使反轉開門之次數歸零，然後停止光束之投光。接著結束一連串之程序。

依據上述程序，可避免因與線狀者不同之異物而產生異常檢測信號，造成箱門一直打開的異常事態。

如第59圖及第60圖所示，本發明之實施形態的第4電梯係與上述第3電梯同樣的中央打開型之電梯，與第3電梯不同點在於：反射構件50之構成及用以清掃反射構件50之表面的構成。以下，具體地說明該等構成。再者，關於其他構成，由於與第3電梯相同，故省略其說明。

如第61圖所示，本實施形態之反射構件50係設置在突設於右箱之箱門3之下端面的L字形之臂構件51的水平臂部，且具有使光束B朝鉛直上方反射的反射面。再者，如第62圖所示，臂構件51之水平臂部係以可往復移動之方式收容在嵌入有右側之箱門3之導引靴32的門檻86之槽87的內部。亦即，反射構件50係以可沿著該槽83移動之方式保持在門檻86之槽87的內部。

再者，反射構件50係從與右箱之箱門3之下端面相對向之位置延伸至左箱之箱門2側，且從右箱之箱門3之閉方向端面位置突出達預定距離(例如8mm)。亦即，反射構件50係朝上方配備在右箱之箱門3之閉方向端面3a的下端位置。因此，反射構件50係在2個箱門2、3為全閉狀態時，配置在由上述之一對凹部2b、3b或一對缺口部2c、3c所形成之通路105的正下方。

此外，在本實施形態中，如第62圖所示，由刷子所構成之清掃具77係安裝在門檻82之槽83的內部。具體而言，如第63圖所示，清掃具77係以從槽83之底面離開且刷子朝下的方式固定在槽83之側面。

如第64圖所示，在2個箱門2、3關閉至全閉位置的過程中及打開至全開狀態的過程中，清掃具77係清掃配備在右側之箱門3的反射構件50之表面。藉此，反射構件50之表面係恆常地維持為良好之反射面。

在上述第4電梯中，由於反射構件50從右箱之箱門3之閉方向端面位置突出達預定距離(例如8mm)，因此在2個箱門2、3關閉的過程中，當反射構件50之前端到達光束B所通過之鉛直線上時，開始進行來自投光/受光單元4之光束B的射出。

然後，在2個門2、3從即將全閉狀態關閉至即將全閉狀態的過程中，從投光/受光單元4射出之光束B係只要在其進路不存在異物，即會入射至反射構件50而被反射，反射光束B則回到投光/受光單元4。因此，不會產生異物檢測信號。

相對於此，當線S通過乘降口而存在時，與上述第3電梯同樣地，如第56圖及第57圖所示，當2個箱門2、3到達全閉狀態時，從投光/受光單元4射出之光束會被線S所遮蔽，而使以投光/受光單元4進行之光束之檢測中斷。結果，產生異物檢測信號。

再者，在上述第4電梯中，由於投光/受光單元4係被支持在框體81，因此與第3電梯同樣地，可避免因在箱門2、3之開閉時產生之振動或施加於乘箱之撞擊等所造成的影響。

再者，在上述第4電梯中，由於在2個箱門2、3關閉之過程中在到達即將即將全閉狀態後開始進行來自投光/受光單元4之光束B的射出，因此可防止人在光束B之射出時窺探到投光/受光單元。

再者，在本實施形態中，當反射構件50之前端到達光束B所通過之鉛直線103上時，開始進行來自投光/受光單元4之光束B的射出，但亦可例如在反射構件50之前端到達該鉛直線103上之前，開始光束B之射出。此時，在反射構件50之前端到達鉛直線103上之前，將線檢測功能設為無效，而在反射構件50之前端到達該鉛直線103上時，將線檢測功能設為有效。

如第65圖及第66圖所示，本發明之實施形態的第5電梯係具備相對於固定在乘箱之門檔框84接近/離開而用以開閉乘箱口之高速箱門23及低速箱門33的側邊打開型之電梯，在乘降口上方之框體85固定有軌道11，2個箱門23、33係分別藉由吊架24、34而懸掛在軌道11，並且以可滑動之方式將突設在門下端部之導引靴22、32嵌合在門檻86，以導引水平方向之往復移動。

再者，在框體85上設置有用以控制2個箱門23、33之開閉動作的控制單元100。

如第65圖所示，在門檔框84中，於從會與高速之箱門23抵接之端面84a朝高速之箱門23側離開達預定距離(例如12mm)之位置上下延伸之鉛直線113上的上端位置，朝鉛直下方配備有投光/受光單元4，另一方面，在鉛直線113上的下端位置，朝鉛直上方配備有第1反射構件61。

再者，投光/受光單元4朝鉛直下方且第1反射構件61朝向鉛直上方的安裝狀態係依據投光/受光單元4之構成(發光器及受光器之配置等)、門檔框84或箱門23、33之設置姿勢之變異等，亦包含相對於鉛直線103稍微傾斜之安裝狀態。再者，投光/受光單元4亦可在前述鉛直線113上之位置朝鉛直下方配備在乘降口上方之框體85。

投光/受光單元4係一體地具備會射出光束B的投光器、及會檢測出入射而來之光束B之受光器者，且如第67圖所示，藉由固定在門檔框84之支柱42所支持。

如第68圖所示，第1反射構件61係設置在突設於門檔框84之下端位置的L字形之臂構件63的水平臂部，且具有使光束B朝鉛直上方反射的反射面。再者，如第69圖所示，該臂構件63係以被收容在嵌入有箱門23之導引靴25的門檻86之槽87的內部的狀態被安裝。亦即，反射構件61係保持在門檻86之槽87的內部。

如第70圖所示，在高速之箱門23的上端部形成有於會與門檔框84抵接之閉方向端面23a形成開口的收容空間30，該收容空間30係在高速之箱門23關閉之狀態下收容投光/受光單元4。

在收容空間30之底部，朝鉛直上方配備有第2反射構件62。第2反射構件62係具有從與高速之箱門23之閉方向端面23a相同之位置往收容空間30之裏側延伸的預定長度(例如8mm)之反射面，以使來自已侵入收容空間30之投光/受光單元4之光束B朝鉛直上方反射。

如第71圖所示，在高速之箱門23的下端部，朝下安裝有由刷子所構成之清掃具78。

如第72圖所示，在2個箱門23、33關閉至全閉位置的過程中及從全閉狀態打開的過程中，前述清掃具78係清掃配備在門檔框84之下端位置的第1反射構件61之表面。藉此，第1反射構件61之表面係恆常地維持為良好之反射面。

再者，如第67圖所示，在門檔框的下端部，朝下安裝有由刷子所構成之清掃具79。具體而言，清掃具79係安裝在用以將投光/受光單元4支持在門檔框84的支柱42之前端。

清掃具79係在2個箱門23、33關閉至全閉位置的過程中及從全閉狀態打開的過程中，清掃配備在收容空間30之底面的第2反射構件62之表面。藉此，第2反射構件62之表面係恆常地維持為良好之反射面。

與前述第3電梯同樣地，在高速之箱門23之下端部安裝有異物侵入防止構件，該異物侵入防止構件係用以閉塞形成於箱門23之閉方向端面23a與門檻86之表面之間的間隙(參照第53圖至第55圖)。

在上述第5電梯中，在高速之箱門23從全開狀態關閉至即將全閉狀態的過程中，從投光/受光單元4射出之光束B係只要在其進路不存在異物，即會入射至第1反射構件61而被反射，反射光束B則回到投光/受光單元4。

然後，在高速之箱門23從即將全閉狀態關閉至全閉狀態的過程中，投光/受光單元4係侵入形成在高速之箱門23的收容空間30，藉此，從投光/受光單元4射出之光束B係入射至第2反射構件62而被反射，反射光束B則回到投光/受光單元4。

亦即，在高速之箱門23從全開狀態關閉至全閉狀態的過程中，從投光/受光單元4射出之光束B係只要在其進路不存在異物，即會藉由第1反射構件61或第2反射構件62所反射，並回到投光/受光單元4。

投光/受光單元4係在檢測出光束時不會產生異物檢測信號。再者，在高速之箱門23從全開狀態關閉至全閉狀態的過程中，只要未藉由投光/受光單元4產生異物檢測信號，則控制單元100係繼續進行2個箱門22、23之關閉動作。

相對於此，投光/受光單元4係在光束之檢測被中斷時，產生異物檢測信號，並輸出至控制單元100。依此，控制單元100係使2個箱門2、3從關閉動作反轉成打開動作。

再者，在上述第5電梯中，由於投光/受光單元4係配備在門檔框84，因此可避免因在2個箱門22、23之開閉時產生之振動或施加於乘箱之撞擊等所造成的影響，具體而言可避免入射光束之受光量的變動或光束之照射位置的偏移等，因此可提高異物之檢測精密度。同樣地，由於第1反射構件61係配備在門檻86，因此可避免因在箱門之開閉時產生之振動或施加於乘箱之撞擊等所造成的影響。

再者，在上述第5電梯中，由於在高速之箱門23之下端部安裝有異物侵入防止構件，故可藉由異物侵入防止構件來防止線S侵入形成於高速之箱門23之閉方向端面23a與門檻86之間的間隙。因此，可確實地檢測出屬於異物之線S。

在上述第5電梯中，較佳為在高速之箱門23之關閉過程中，僅從投光/受光單元4正要突入收容空間30之內部之前開始，至該箱門23成為全閉狀態為止的期間，使光束B從投光/受光單元4射出。這是由於可防止人在光束B之射出時窺探到投光/受光單元4之故。

第73圖及第74圖係顯示於上述第5電梯中將安全薄框29配備在高速之箱門23時，在將線S拉伸於乘箱之內部與搭乘處樓層之間的狀態下，將箱門23與搭乘處門15關閉時之一連串動作。

如第73圖(a)、(b)所示，在箱門23關閉的過程中，當線S被拉掛在安全薄框29之前端時，線S係藉由安全薄框29朝光束B之方向被引導(第73圖(a))，結果，線S係橫切過光束B(第73圖(b))。此時，由於以投光/受光單元4進行之光束B之檢測會被中斷，因而產生異常檢測信號。

如第74圖(a)、(b)所示，在箱門23關閉的過程中，當線S侵入形成在安全薄框29之閉方向端面29a與門檻86之間的間隙時，線S係藉由安裝在高速箱門23之下端部的異物侵入防止構件朝光束B之方向被引導(第74圖(a))，結果，線S係橫切過光束B(第74圖(b))。此時，由於以投光/受光單元4進行之光束B之檢測會被中斷，因而產生異常檢測信號。

第75圖及第76圖係顯示針對前述第5電梯之改良構造的一例。如圖所示，在門檔框84之下端部，安裝有比該門檔框84之端面84a更朝高速之箱門23側突出的異物推出構件93。具體而言，該異物推出構件93係與上述L字形之臂構件63一體地形成，異物推出構件93之上端面係被傾斜地切割以使接觸該上端面而被拉伸的線S朝鉛直線113上被引導。

第77圖係顯示在具有上述改良構造之第5電梯中，在將線S拉伸於乘箱之內部與搭乘處樓層之間的狀態下，將箱門23與搭乘處門15關閉時之一連串動作。

在具有上述改良構造之第5電梯中，通過光束B所通過之鉛直線113與門檔框84之端面84a之間的空間而被拉引的線S係藉由異物推出構件93朝前方被推出(參照第76圖)，因而被導引至鉛直線113上(參照第77圖)。因此，在高速之箱門23關閉之過程中，光束B係一定會被線S所遮蔽，因而可確實地檢測出屬於異物之線S。

第78圖係顯示針對前述第5電梯之改良構造的其他例。此外，在第78圖中，係顯示在將線S拉引於乘箱之內部與搭乘處樓層之間的狀態下，將箱門23與搭乘處門15關閉時之一連串動作。

如第78圖所示，在高速之箱門23安裝有相對於該箱門23相對於移動之安全薄框29，在門檔框84之端面84a形成有沿著光束B所通過之鉛直線113延伸之突出構件94。如第78圖(a)所示，該突出構件94係相對於光束B所通過的位置而位在安全薄框29側，其從該門檔框84之端面84a突出之突出長度係比從該端面84a至光束B之距離(例如12mm)短。再者，如第78圖(b)所示，突出構件94係在高速之箱門23關閉之過程中與安全薄框29重疊。

在具有上述改良構造之第5電梯中，如第78圖(b)所示，由於在高速之箱門23關閉之過程中突出構件94與安全薄框29重疊，因此將屬於異物之線S的一部分夾入其與安全薄框29之間，並使該一部分沿著閉方向。因此，線S係從突出構件94之前端朝高速之箱門23的閉方向端面23a側被推出。結果，線S係移動至與光束B交叉的位置，或橫切過光束B。此時，由於以投光/受光單元4進行之光束B之檢測會中斷，因而產生異常檢測信號。

第79圖係顯示針對前述第5電梯之改良構造的其他例。此外，在第79圖中，係顯示在將線S拉引於乘箱之內部與搭乘處樓層之間的狀態下，將箱門23與搭乘處門15關閉時之一連串動作。

如第79圖所示，在高速之箱門23的側面，安裝有從閉方向端面23a之上端位置朝鉛直方向延伸至下端位置的導引構件95，該導引構件95係從閉方向端面23a朝門檔框84側突出。

在具有上述改良構造之第5電梯中，如第79圖(a)、(b)所示，在箱門23關閉的過程中，線S會被拉掛在導引構件95之前端，且線S係藉由導引構件95朝光束B之方向被導引(第79圖(a))，結果，線S係橫切過光束B(第79圖(b))。此時，由於以投光/受光單元4進行之光束B之檢測會中斷，因而產生異常檢測信號。

第80圖至第83圖係顯示為了在前述第5電梯中檢測出投光/受光單元4之故障，而利用來自閘門開關之信號的實施形態。

在此，如第81圖所示，第2反射構件62係由以一定以上之光量將從投光/受光單元4射出之光束予以反射的反射部621、及並未以一定以上之光量將從投光/受光單元4射出之光束予以反射的非反射部622所構成。例如，可藉由在非反射構件之表面貼附反射帶而構成反射部621，且藉由未貼附反射帶之區域而構成非反射部622。

如第80圖所示，在軌道11配備有閘門開關101，另一方面，在高速之箱門23之吊架24安裝有用以將閘門開關101從OFF切換至ON之突片26。

如第81圖所示，當高速之箱門23之閉方向端面23a關閉至門檔框84之端面84a的正前方12mm之位置時(第1即將全閉狀態)，從投光/受光單元4射出之光束B係從入射至前述第1反射構件61之狀態移行至入射至第2反射構件62之反射部621的狀態，之後，由反射部621所反射之光束B會被投光/受光單元4所檢測出。因此，不會產生異物檢測信號。在此時間點，閘門開關101係維持為OFF。

如第82圖所示，當箱門23之閉方向端面23a關閉至門檔框84之端面84a的正前方8mm之位置時，閘門開關101會成為ON。此時，從投光/受光單元4射出之光束B係依然成為入射至第2反射構件62之反射部621的狀態，由反射部621所反射之光束B會被投光/受光單元4所檢測出。

再者，如第83圖所示，當箱門23之閉方向端面23a關閉至門檔框84之端面84a的正前方4mm之位置時(第2即將全閉狀態)，從投光/受光單元4射出之光束B係從入射至前述第2反射構件62之反射部621的狀態移行至入射非反射部622的狀態，之後，在箱門23到達全閉狀態為止之期間，光束B不會以一定以上之光量入射至投光/受光單元4。因此，會產生異物檢測信號。在此時間點，閘門開關101係維持為ON。

然而，若在投光/受光單元4有產生任何異常時，閘門開關101雖會成為ON，但不會產生異物檢測信號。因此，控制單元100係在閘門開關101成為ON後末被供給有異物檢測信號時，判斷為在投光/受光單元4有發生任何異常。

依據上述投光/受光單元4與閘門開關101之輸出的控制單元100之控制程序係與第1實施形態同樣地，依據上述第21圖所示之流程圖來實行。

依據上述程序，利用來自以往用以檢測關門動作結束之閘門開關101的ON/OFF信號，而可檢測出投光/受光單元之故障。因此，可避免儘管在乘箱之乘降口存在有線等異物亦不會產生異物檢測信號，而無法進行避險動作的異常事態。

再者，亦可利用可檢測出更接近全閉狀態之即將全閉狀態的CTL信號，來取代來自閘門開關101的ON/OFF信號。閘門開關101係檢測出門關閉之開關，相對於此，CTL係檢測出門之位置的開關，在電梯安裝有上述兩種開關。

例如，由於在箱門23之閉方向端面23a關閉至門檔框184之端面84a的正前方4mm處之時間點，CTL信號會由OFF切換為ON，因此變更反射部621之長度，以便在箱門23之閉方向端面23a關閉至門檔框84之端面84a的正前方2mm處的狀態下使來自投光/受光單元4之光束從第2反射構件62之反射部621移行至非反射部622。

在檢測投光/受光單元4之故障的其他例中，在關閉門23的過程中，在閘門開關101或CTL從OFF切換至ON後，以投光/受光單元4進行之光束B之檢測功能維持在ON，並將光束B之射出設為OFF。

在其他例中，藉由將光束B之射出設為OFF，而使光束B不會入射至投光/受光單元4。因此，只要投光/受光單元4正常地動作，即會產生異物檢測信號。此時，不論有無異物檢測信號，控制單元100皆繼續進行關門動作。

然而，若在投光/受光單元4有產生任何異常時，儘管光束B未入射至投光/受光單元4，亦不會產生異常檢測信號。因此，控制單元100係在入射光束之檢測功能維持在ON之情況下將光束之射出設為OFF時，在未被供給有異常檢測信號之情形下，判斷為在投光/受光單元4有發生任何異常。

依據上述其他例，可檢測出投光/受光單元4之故障。因此，可避免儘管在乘箱之乘降口存在有線等異物亦不會產生異物檢測信號，而無法進行避險動作的異常事態。

而且，第2反射構件62之反射部621係只要從與高速之箱門23之閉方向端面23a相同之位置、延伸至在閘門開關101或CTL由OFF切換至ON時可將光束B予以反射的位置即可，無須正確地設計反射部621之長度。

再者，上述其他例的技術亦可在開始光束B之射出之前執行。藉此，可預先檢測出投光/受光單元4之故障。

本發明之實施形態的第6電梯係與上述第5電梯同樣為側邊打開型之電梯，與第5電梯不同點在於：投光/受光單元4及第1反射構件61之位置係不同，並且變更高速之箱門23之閉方向端面23a及門檔框84之端面84a的形狀。以下，具體地說明上述之點。再者，在第6電梯中並未配備有第2反射構件62及異物推出構件93。此外，關於其他構成，由於與第5電梯相同，故省略其說明。

在本實施形態中，投光/受光單元4係在門檔框84與高速之箱門23在全閉狀態下彼此抵接的抵接位置R1(參照第84圖)朝上下延伸的鉛直線上，配備在門檔框84之上端位置。再者，第1反射構件61係在該鉛直線上，配備在門檔框84之下端位置。

再者，在本實施形態中，如第84圖所示，門檔框84之端面84a係藉由門檔橡膠841而形成，該門檔橡膠841係從門檔框84之上端位置延伸至下端位置。再者，在門檔框84之端面84a與高速之箱門23之閉方向端面23a，形成有沿著上述鉛直線延伸的一對凹部84b、23b。藉此，在高速之箱門23為全閉狀態時，形成有用以供光束B通過的通路115。

如第85圖所示，亦可在門檔框84之端面84a與高速之箱門23之閉方向端面23a，形成有沿著直線103延伸之一對缺口部84c、23c，藉由該一對缺口部84c、23c而形成用以供光束B通過之通路115。

在上述第6電梯中，在高速之箱門23關閉的過程中，從投光/受光單元4射出之光束B係只要在其進路不存在異物，即會入射至反射構件50而被反射，反射光束B則回到投光/受光單元4，因此不會產生異常檢測信號。

相對於此，當光束之檢測被中斷時，投光/受光單元4會產生異物檢測信號。具體而言，當線S通過乘降口而存在時，如第86圖及第87圖所示，在高速之箱門23到達全閉狀態時，從投光/受光單元4射出之光束會被該線S所遮蔽，因此以投光/受光單元4進行之光束的檢測會中斷，結果會產生異物檢測信號。

再者，本發明之各部構成並不限定於上述之實施形態，可在申請專利範圍記載之技術範圍內進行各種變形。例如，作為中央打開型之電梯的安全裝置而採用之上述各種構成亦可作為側邊打開型之電梯的安全裝置而予以採用，反之，作為側邊打開型之電梯的安全裝置而採用之上述各種構成亦可作為中央打開型之電梯的安全裝置而予以採用。

再者，在門檻未凹設有槽之型式中，只要在通過搭乘處樓層之門檻與乘箱之門檻之間的鉛直線上配備投光/受光單元4及反射構件即可。

再者，投光/受光單元4及反射構件之位置關係並不一定限定在鉛直線上之上端位置及下端位置，亦可配置在相對於鉛直線具有小幅傾斜的直線上。

1．．．軌道

2、3、22．．．箱門

2a、3a、13a、23a、29a．．．閉方向端面

2b、3b、84b．．．凹部

2c、3c、23c、84c．．．缺口部

4．．．投光/受光單元

5、61．．．第1反射構件

6、62．．．第2反射構件

7．．．清掃機構

9、91、92．．．異物侵入防止構件

12．．．門檔框

12a、84a．．．端面

13．．．搭乘處門

21、31．．．吊架

23．．．高速之箱門

27、29．．．安全薄框

30．．．收容空間

32、73．．．推壓部(導引靴)

33．．．低速之箱門

42．．．支柱

50．．．反射構件

51．．．臂構件

54．．．襯墊

55．．．樞軸

70、71、77至79、701．．．清掃具

72．．．彈簧構件

74．．．棒狀構件

75．．．支持構件

76．．．臂部

81、85、102．．．框體

82、86．．．門檻

84．．．門檔框

87．．．槽

90、93．．．異物推出構件

94．．．突出構件

100．．．控制單元

101．．．閘門開關

105、115．．．通路

113．．．鉛直線

601、621．．．反射部

602、622．．．非反射部

811．．．艉板

841．．．門檔橡膠

B．．．光束

S．．．線

第1圖係本發明實施形態之第1電梯之全開狀態的前視圖。

第2圖係該電梯之全閉狀態的前視圖。

第3圖係顯示該電梯之投光/受光單元之安裝狀態的斜視圖。

第4圖係顯示該電梯之第1反射構件之安裝狀態的斜視圖。

第5圖係顯示該電梯之第2反射構件之安裝狀態的斜視圖。

第6圖係顯示該電梯之異物侵入防止構件之安裝狀態的斜視圖。

第7圖係顯示該電梯之清掃具之安裝狀態的斜視圖。

第8圖係顯示該電梯之第1反射構件與清掃具之位置關係的斜視圖。

第9圖係本發明實施形態之第2電梯之全開狀態的前視圖。

第10圖係該電梯之全閉狀態的前視圖。

第11圖係顯示該電梯之投光/受光單元之安裝狀態的斜視圖。

第12圖係顯示該電梯之第1反射構件之安裝狀態的斜視圖。

第13圖係顯示該電梯之第2反射構件之安裝狀態的斜視圖。

第14圖係顯示該電梯之清掃具之安裝狀態的斜視圖。

第15圖(a)及(b)係顯示有超程時之光束之配置例的水平剖視圖。

第16圖(a)及(b)係顯示無超程時之光束之配置例的水平剖視圖。

第17圖(a)及(b)係顯示進行投光/受光單元之故障檢測之實施形態之全開狀態的前視圖及其局部放大圖。

第18圖(a)及(b)係顯示該實施形態之第1即將全閉狀態的前視圖及其局部放大圖。

第19圖(a)及(b)係顯示在該實施形態中閘門開關成為ON之時間點之狀態的前視圖及其局部放大圖。

第20圖(a)及(b)係顯示該實施形態之第2即將全閉狀態的前視圖及其局部放大圖。

第21圖係該實施形態之控制單元之控制程序的流程圖。

第22圖(a)至(c)係顯示線檢測動作例之前半的一連串之水平剖視圖。

第23圖(a)至(c)係顯示該線檢測動作例之後半的一連串之水平剖視圖。

第24圖(a)至(c)係顯示其他線檢測動作例之前半的一連串之水平剖視圖。

第25圖(a)至(c)係顯示該線檢測動作例之後半的一連串之水平剖視圖。

第26圖(a)至(c)係顯示其他線檢測動作例之前半的一連串之水平剖視圖。

第27圖(a)至(c)係顯示該線檢測動作例之後半的一連串之水平剖視圖。

第28圖(a)及(b)係顯示其他線檢測動作例之前半的一連串之水平剖視圖。

第29圖(a)及(b)係顯示該線檢測動作例之後半的一連串之水平剖視圖。

第30圖(a)至(c)係顯示其他線檢測動作例之前半的一連串之水平剖視圖。

第31圖(a)至(c)係顯示該線檢測動作例之後半的一連串之水平剖視圖。

第32圖係本發明之針對該電梯之改良構造之一例的前視圖。

第33圖係該一例之鉛直剖視圖。

第34圖係顯示改良構造之其他例的前視圖。

第35圖係該其他例之水平剖視圖。

第36圖係顯示改良構造之其他例的前視圖。

第37圖係該其他例之鉛直剖視圖。

第38圖係顯示改良構造之又一其他例的水平剖視圖。

第39圖係顯示用來清掃第2反射構件之清掃具之安裝狀態的斜視圖。

第40圖係用以說明防止第1反射構件之損傷之構成例的圖。

第41圖係用以說明防止第1反射構件之損傷之其他構成例的圖。

第42圖係顯示防止第1反射構件之損傷之又一其他構成例的圖。

第43圖係本發明實施形態之第3電梯之全開狀態的前視圖。

第44圖係該電梯之全閉狀態的前視圖。

第45圖係該電梯之投光/受光單元之安裝狀態的斜視圖。

第46圖係該電梯之投光/受光單元之安裝狀態的前視圖。

第47圖係從上方觀看該電梯之反射構件及清掃機構之安裝狀態的斜視圖。

第48圖係顯示該電梯之反射構件及清掃機構之安裝狀態的前視圖。

第49圖係從下方觀看該電梯之反射構件及清掃機構之安裝狀態的斜視圖。

第50圖係顯示全閉狀態下之該清掃機構之動作狀態的斜視圖。

第51圖係顯示該電梯之2個箱門之閉方向端面之形狀的水平剖視圖。

第52圖係顯示該電梯之2個箱門之閉方向端面之其他形狀的水平剖視圖。

第53圖係該電梯之異物侵入防止構件之安裝狀態的前視圖。

第54圖(a)及(b)係異物侵入防止構件的放大圖。

第55圖係從下方觀看該電梯之異物侵入防止構件之安裝狀態的斜視圖。

第56圖係顯示線檢測動作例之水平剖視圖。

第57圖係顯示其他線檢測動作例之水平剖視圖。

第58圖係顯示該電梯之控制單元之控制程序的流程圖。

第59圖係本發明實施形態之第4電梯之全開狀態的前視圖。

第60圖係該電梯之全閉狀態的前視圖。

第61圖係顯示該電梯之反射構件之安裝狀態的斜視圖。

第62圖係顯示該電梯之反射構件及清掃具之安裝狀態的前視圖。

第63圖係顯示該電梯之清掃具之安裝狀態的鉛直剖視圖。

第64圖係顯示在全閉狀態下之反射構件與清掃具之位置關係的斜視圖。

第65圖係本發明實施形態之第5電梯之全開狀態的前視圖。

第66圖係該電梯之全閉狀態的前視圖。

第67圖係顯示該電梯之投光/受光單元之安裝狀態的斜視圖。

第68圖係顯示該電梯之第1反射構件之安裝狀態的斜視圖。

第69圖係顯示該電梯之第1反射構件之安裝狀態的前視圖。

第70圖係顯示該電梯之第2反射構件之安裝狀態的斜視圖。

第71圖係顯示該電梯之清掃具之安裝狀態的斜視圖。

第72圖係顯示在全閉狀態下之第1反射構件與清掃具之位置關係的斜視圖。

第73圖(a)及(b)係顯示線檢測動作例的一連串之水平剖視圖。

第74圖(a)及(b)係顯示其他線檢測動作例的一連串之水平剖視圖。

第75圖係顯示針對該電梯之改良構造之一例的斜視圖。

第76圖係該一例之前視圖。

第77圖(a)及(b)係顯示該一例之電梯之線檢測動作例的一連串之水平剖視圖。

第78圖(a)及(b)係顯示針對該電梯之改良構造之其他例，且為顯示該其他例之電梯之線檢測動作的一連串之水平剖視圖。

第79圖(a)及(b)係顯示針對該電梯之改良構造之又一其他例，且為顯示該其他例之電梯之線檢測動作的一連串之水平剖視圖。

第80圖係顯示進行投光/受光單元之故障檢測之實施形態的全開狀態之前視圖。

第81圖係顯示該實施形態之第1即將全閉狀態的斜視圖。

第82圖係顯示在該實施形態中閘門開關成為ON之時間點之狀態的斜視圖。

第83圖係顯示該實施形態之第2即將全閉狀態的斜視圖。

第84圖係顯示本發明實施形態之第6電梯之主要部分之一例的水平剖視圖。

第85圖係顯示該電梯之主要部分之其他例的水平剖視圖。

第86圖係顯示線檢測動作例之水平剖視圖。

第87圖係顯示其他線檢測動作例之水平剖視圖。

1．．．軌道

2、3、22．．．箱門

2a．．．閉方向端面

4．．．投光/受光單元

5．．．第1反射構件

6．．．第2反射構件

21、31．．．吊架

32．．．推壓部(導引靴)

70．．．清掃具

82．．．門檻

100．．．控制單元

102．．．框體

B．．．光束

Claims

一種電梯的安全裝置，係具備往彼此接近、離開之方向移動而開閉乘降口之一對箱門(2)、(3)者，該電梯的安全裝置之特徵為：在一方之箱門(2)，於從會與另一方箱門(3)抵接之閉方向端面(2a)朝另一方箱門(3)側離開預定距離的位置上下延伸之直線上的上端位置，朝下方配備有投光/受光單元(4)，另一方面，在前述直線上的下端位置，朝上方配備有第1反射構件(5)，投光/受光單元(4)係可進行光束之射出與入射光束之檢測；在前述另一方箱門(3)，形成有在2個箱門(2)、(3)關閉之狀態下收容前述投光/受光單元(4)的收容空間(30)，在該收容空間(30)之底部，朝上方配備有第2反射構件(6)，該第2反射構件(6)係從與前述另一方箱門(3)之閉方向端面(3a)相同之位置朝前述收容空間(30)之裏側延伸；當以前述投光/受光單元(4)所進行之光束的檢測在2個箱門(2)、(3)關閉之過程中被中斷時，會產生異物檢測信號。
如申請專利範圍第1項之電梯的安全裝置，其中，在前述另一方箱門(3)安裝有清掃具(70)，該清掃具(70)係在2個箱門(2)、(3)從即將全閉狀態關閉至全閉狀態的過程中清掃前述第1反射構件(5)之表面。
如申請專利範圍第1項或第2項之電梯的安全裝置，其中，在前述一方箱門(2)之比前述投光/受光單元(4)更靠近前述另一方箱門(3)側處，安裝有清掃具(701)，該清掃具(701)係在2個箱門(2)、(3)從即將全閉狀態關閉至全閉狀態的過程中清掃前述第2反射構件(6)之表面。
如申請專利範圍第1項或第2項之電梯的安全裝置，其中，前述第1反射構件(5)係以可沿著門檻(82)之槽(83)移動之方式被保持在該槽(83)的內部，其中，在該槽(83)係以可滑動之方式嵌入有前述一方箱門(2)。
如申請專利範圍第1項或第2項之電梯的安全裝置，其中，在前述另一方箱門(3)之下端部安裝有異物侵入防止構件(9)，該異物侵入防止構件(9)係用以閉塞形成於該箱門(3)之閉方向端面(3a)的下端與門檻(82)之表面之間的間隙。
如申請專利範圍第1項或第2項之電梯的安全裝置，其中，在前述一方箱門(2)之下端部安裝有異物推出構件(90)，該異物推出構件(90)係用以閉塞形成於該箱門(2)之閉方向端面(2a)的下端與門檻(82)之表面之間的間隙，並且比該間隙更往另一方箱門(3)側突出。
如申請專利範圍第1項或第2項之電梯的安全裝置，其中，在前述一對箱門(2)、(3)之至少任一方之箱門安裝有相對於該箱門相對移動之安全薄框(27)，該安全薄框(27)之下端面係相對於水平面具有預定之傾斜角度而形成朝向另一方箱門側的斜面(28)。
如申請專利範圍第1項或第2項之電梯的安全裝置，其中，2個箱門(2)、(3)係從全開狀態經由第1即將全閉狀態及第2即將全閉狀態關閉至全閉狀態者，且具備在2個箱門(2)、(3)從第1即將全閉狀態關閉至第2即將全閉狀態之過程的預定時間點從OFF成為ON之檢測手段；前述第2反射構件(6)係具有以下構成：在2個箱門(2)、(3)從第1即將全閉狀態關閉至第2即將全閉狀態之過程中使從前述投光/受光單元(4)射出之光束反射，另一方面，在2個箱門(2)、(3)從第2即將全閉狀態到達全閉狀態之過程中，幾乎不會使從前述投光/受光單元(4)射出之光束反射；在前述檢測手段成為ON後未產生異物檢測信號時，判斷為在投光/受光單元(4)發生異常。
一種電梯的安全裝置，係具備往相對於門檔框(12)接近、離開之方向移動而開閉乘降口之至少1個箱門(23)者，該電梯的安全裝置之特徵為：在前述箱門(23)，於從會與前述門檔框(12)抵接之閉方向端面(23a)朝門檔框(12)側離開預定距離的位置上下延伸之直線上的上端位置，朝下方配備有投光/受光單元(4)，另一方面，在前述直線上的下端位置，朝上方配備有第1反射構件(5)，投光/受光單元(4)係可進行光束之射出與入射光束之檢測；在前述門檔框(12)，形成有在箱門(23)關閉之狀態下收容前述投光/受光單元(4)的收容空間(30)，在該收容空間(30)之底部，朝上方配備有第2反射構件(6)，該第2反射構件(6)係從會與前述箱門(23)抵接之門檔框(12)之端面(12a)相同的位置朝前述收容空間(30)之裏側延伸；當以投光/受光單元(4)所進行之光束的檢測在前述箱門(23)關閉之過程中被中斷時，會產生異物檢測信號。
如申請專利範圍第9項之電梯的安全裝置，其中，在前述門檔框(12)安裝有清掃具(70)，該清掃具(70)係在前述箱門(23)從即將全閉狀態關閉至全閉狀態的過程中清掃前述第1反射構件(5)之表面。
如申請專利範圍第9項或第10項之電梯的安全裝置，其中，在前述箱門(23)之比前述投光/受光單元(4)更靠近前述門檔框(12)側處，安裝有清掃具(701)，該清掃具(701)係在門(23)從即將全閉狀態關閉至全閉狀態的過程中清掃前述第2反射構件(6)之表面。
如申請專利範圍第9項或第10項之電梯的安全裝置，其中，前述第1反射構件(5)係以可沿著門檻(86)之槽(87)移動之方式被保持在該槽(87)的內部，其中，在該槽(87)係以可滑動之方式嵌入有前述箱門(23)。
如申請專利範圍第9項或第10項之電梯的安全裝置，其中，在前述箱門(23)之下端部安裝有異物推出構件(90)，該異物推出構件(90)係用以閉塞形成於該箱門(23)之閉方向端面(23a)的下端與門檻(86)之表面之間的間隙，且比該間隙更往門檔框(12)側突出。
如申請專利範圍第9項或第10項之電梯的安全裝置，其中，在前述箱門(23)安裝有相對於該箱門(23)相對移動之安全薄框(29)，該安全薄框(29)之下端面係相對於水平面具有預定之傾斜角度，而形成朝向另一方箱門側的斜面(28)。
如申請專利範圍第9項或第10項之電梯的安全裝置，其中，前述箱門(23)係從全開狀態經由第1即將全閉狀態及第2即將全閉狀態關閉至全閉狀態者，且具備在該箱門(23)從第1即將全閉狀態關閉至第2即將全閉狀態之過程的預定時間點從OFF成為ON之檢測手段；前述第2反射構件(6)係具有以下構成：在前述箱門(23)從第1即將全閉狀態關閉至第2即將全閉狀態之過程中使從前述投光/受光單元(4)射出之光束反射，另一方面，在前述箱門(23)從第2即將全閉狀態到達全閉狀態之過程中，幾乎不會使從前述投光/受光單元(4)射出之光束反射；當前述檢測手段成為ON後未產生異物檢測信號時，判斷為在投光/受光單元(4)發生異常。
如申請專利範圍第1、2、9、10項中任一項之電梯的安全裝置，復具備安裝在搭乘處門之下端部的異物侵入防止構件(9)，該異物侵入防止構件(9)係用以閉塞形成於該搭乘處門之閉方向端面的下端與門檻之表面之間的間隙。
一種電梯的安全裝置，係具備：往彼此接近、離開之方向移動而開閉乘降口之一對箱門(2)、(3)；及配備在乘降口之上方的框體(81)；該電梯的安全裝置之特徵為：在前述框體(81)之在前述一對箱門(2)、(3)於全閉狀態下彼此抵接之抵接位置朝上下延伸之直線上的位置，朝下方配備有投光/受光單元(4)，而在一方箱門(3)之會與另一方箱門(2)抵接的閉方向端面(3a)之下端位置，朝上方配備有反射構件(50)，投光/受光單元(4)係可進行光束之射出與入射光束之檢測；當以前述投光/受光單元(4)所進行之光束的檢測在2個箱門(2)、(3)從即將全閉之狀態到全閉狀態為止的關閉過程中被中斷時，會產生異物檢測信號。
如申請專利範圍第17項之電梯的安全裝置，其中，前述反射構件(50)係以可沿著門檻(82)之槽(83)移動之方式被保持在該槽83的內部，其中，在該槽(83)係以可滑動之方式嵌入有前述一方箱門(3)。
如申請專利範圍第18項之電梯的安全裝置，其中，在前述門檻(82)之槽(83)的內部安裝有清掃具(77)，該清掃具(77)係在2個箱門(2)、(3)關閉之過程中清掃前述反射構件(50)之表面。
如申請專利範圍第17項至第19項中任一項之電梯的安全裝置，其中，在前述一對箱門(2)、(3)之在全閉狀態下會彼此抵接之閉方向端面(2a)、(3a)，形成有沿著前述直線延伸之一對凹部(2b)、(3b)或一對缺口部(2c)、(3c)，當2個箱門(2)、(3)為全閉狀態時，藉由該一對凹部(2b)、(3b)或一對缺口部(2c)、(3c)形成用以供光束通過之通路(105)。
一種電梯的安全裝置，係具備往相對於門檔框(84)接近、離開之方向移動而開閉乘降口之至少1個箱門(23)者，該電梯的安全裝置之特徵為：在前述門檔框(84)，於從會與前述箱門(23)抵接之端面(84a)朝箱門(23)側離開預定距離的位置朝上下延伸之直線上的上端位置，朝下方配備有投光/受光單元(4)，另一方面，在該直線上的下端位置，朝上方配備有第1反射構件(61)，前述投光/受光單元(4)係可進行光束之射出與入射光束之檢測；在前述箱門(23)，形成有在箱門(23)關閉之狀態下收容前述投光/受光單元(4)的收容空間(30)，在該收容空間(30)之底部，朝上方配備有第2反射構件(62)，該第2反射構件(62)係從會與前述門檔框(84)抵接之前述箱門(23)之閉方向端面(3a)相同之位置朝前述收容空間(30)之裏側延伸；當以投光/受光單元(4)所進行之光束的檢測在前述箱門(23)關閉之過程中被中斷時，產生異物檢測信號。
如申請專利範圍第21項之電梯的安全裝置，其中，在前述箱門(23)安裝有相對於該箱門(23)相對移動之安全薄框(29)，在前述門檔框(84)之端面(84a)形成有沿著前述直線延伸之突出構件(94)，該突出構件(94)之從該端面(84a)突出之突出長度係比前述預定距離短，且相對於該直線之位置位於安全薄框(29)側，而且在前述箱門(23)關閉之過程中與安全薄框(29)重疊。
如申請專利範圍第21項或第22項之電梯的安全裝置，其中，在前述門檔框(84)之下端部配備有比該門檔框 (84)之端面(84a)更往前述箱門(23)側突出之異物推出構件(93)。
如申請專利範圍第21項或第22項之電梯的安全裝置，其中，在前述箱門(23)安裝有清掃具(78)，該清掃具(78)係在該箱門(23)關閉的過程中清掃前述第1反射構件(61)之表面。
如申請專利範圍第21項或第22項之電梯的安全裝置，其中，在前述門檔框(84)之比前述投光/受光單元(4)更靠近前述箱門(23)側處安裝有清掃具(79)，該清掃具(79)係在該箱門(23)關閉的過程中清掃前述第2反射構件(62)之表面。
如申請專利範圍第21項或第22項之電梯的安全裝置，其中，前述第1反射構件(61)係被保持在以可滑動之方式嵌入有前述箱門(23)之門檻(86)之槽(87)的內部。
如申請專利範圍第21項或第22項之電梯的安全裝置，其中，前述箱門(23)係從全開狀態經由第1即將全閉狀態及第2即將全閉狀態關閉至全閉狀態者，且具備在該箱門(23)從第1即將全閉狀態關閉至第2即將全閉狀態之過程的預定時間點從OFF成為ON之檢測手段；前述第2反射構件(62)係具有以下構成：在前述箱門(23)從第1即將全閉狀態關閉至第2即將全閉狀態之過程中使從前述投光/受光單元(4)射出之光束反射，另一方面，在前述箱門(23)從第2即將全閉狀態到達全閉狀態之過程中，幾乎不會使從前述投光/受光單元(4) 射出之光束反射；在前述檢測手段成為ON後未產生異物檢測信號時，判斷為在投光/受光單元(4)發生異常。
如申請專利範圍第17、18、19、21、22項中任一項之電梯的安全裝置，其中，以前述投光/受光單元(4)所進行之光束的射出係在前述箱門從即將全閉狀態關閉至全閉狀態的過程中實行。
如申請專利範圍第17、18、19、21、22項中任一項之電梯的安全裝置，其中，在前述箱門之下端部安裝有異物侵入防止構件(91)、(92)，該異物侵入防止構件(91)、(92)係用以閉塞形成於該箱門之閉方向端面的下端與門檻之表面之間的間隙。
如申請專利範圍第1、2、9、10、17、18、19、21、22項中任一項之電梯的安全裝置，其中，具有：反轉開門手段，當在前述箱門關閉之過程中有產生異物檢測信號時，執行使箱門之動作反轉而打開該箱門之反轉開門動作；強制關門手段，係將以前述反轉開門手段所進行之反轉開門動作設為無效，不論有無產生異物檢測信號，皆強制地執行前述箱門之關門動作；及報知手段，係在前述強制關門手段執行強制關門動作之前，或在前述強制關門手段執行強制關門動作的同時，報知該強制關門動作之執行。
如申請專利範圍第30項之電梯的安全裝置，其中，復具備：乘箱控制手段，係在完成前述強制關門手段所進行的強制關門動作之後，使乘箱之行進開始進行；及第2報知手段，係在前述強制關門手段執行強制關門動作中產生異物檢測信號時，在藉由前述乘箱控制手段開始進行乘箱之行進之前，報知乘箱之行進開始。