TWI359993B - - Google Patents

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六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種捲繞包含偏光元件之光學膜之長條薄 片而成、且於瑕疵部位或瑕疵周邊部位形成有標記之捲筒 式素材。進而，本發明係關於一種使該捲筒式素材貼合於 液晶胞等之光學顯示單元從而製造液晶顯示裝置等圖像顯 示裝置的方法。 【先前技術】 近年來’隨著液晶顯示器等之大畫面化，對於液晶顯示 裝置等圖像顯示裝置中使用之偏光板等之光學膜之顯示特 性之要求變得迫切，對於光學缺陷之要求變得嚴格。相對 於上述要求，使用有利用人眼目視、或自動檢查裝置，檢 測光學瑕疵並除去該瑕疵之方法。又，於檢測出瑕疵之情 形時，記錄其位置資訊，藉此若自向光學顯示單元之貼合 物中除去包含瑕疵之部分，則可以抑制最終製品之圖像顯 不裝置中混入因光學膜引起之瑕疵，故可減少光學膜之損 耗、及減少進行自包含瑕疵之不良品之光學顯示單元上剝 離光學膜之返工處理的比例，從而可有助於良率提高、及 成本降低。 作為於檢測出瑕疵時記錄其位置資訊之方法，通常提出 有：藉由油墨等而於瑕疵部位列印來作為標記之方法㈠列 ^專利文獻1)、將與瑕錄測結果相關之f訊作為條形碼 或文字資訊而編碼化並於薄膜上列印之方法（例如專利文 獻2)、或者將IC(Integrated Circuit，積體電路）晶片等之記 147514.doc 1359993 之方法（例如專利 錄媒體中所記錄者附加於光學膜製品上 文獻3)等。 又，如專利文獻卜2般於光學膜上進行列印之情形時， 構成標記之油墨等之厚度雖小但該列印部位之厚度有所增 大。因此’存在如下問題：捲繞光學膜而形成捲筒式^ 時’列印部位之厚度之差異、即凹凸變形會因捲繞而轉印 至與該列印部位接觸的部分上’產生壓痕等之變形，本來 應為良品之部&上產生新的瑕&。就抑制因此種轉印而產 =之瑕疫之觀點而言，提出_種不於貼合在液晶胞等之光 子顯不單兀上之部分，而於光學膜之有效寬度外、即寬度 方向之端部進行列印的方法（例如專利文獻4)。 另方面除了對缺陷之要求以外，對於圖像顯示裝置 之成本降低之要求亦逐年變高。就可應對該要求之觀點而 吕，提出一種如下方法：包括自捲繞有長條之光學膜之捲 筒式素材中抽出光學膜並供給之供給機構、將光學膜於搬 达方向上以特定間隔切割之切割機構、及使經切割之光學 膜與光學顯示單元貼合之貼合機構，藉由使該等各機構連 續之生產線製程上所配置的生產線，而製造圖像顯示裝置 (專利文獻5)。於此種構成中，可自光學膜之捲筒式素材直 接切割加工成所需之尺寸，並使經切割之光學膜貼合於光 學顯不單7L ’先前係於薄片狀製品上沖裁出特定尺寸之光 學膜’將沖裁後之光學膜嚴格捆包，交貨給面板加工廠 家’該構成可將捲筒式素材直接捆包並交貨，故可有助於 削減工時及製程構件。 147514.doc 1359993 . 又’於專利文獻5之製造方法中，若於藉由切構而 刀。·!光子膜之讀查瑕疲，以不將包含瑕疫之光學膜貼合 於光子顯不早70之方式進行控制，則可提高最終製品之圖 像顯示裝置之良率。 :上述專W文獻5中提出：進行瑕疲檢查時，將光學膜 上假黏之脫模薄膜(分割件)暫時剝離之後，進行瑕疵檢 查’並再次貼合分割件。另—方面，事先進行瑕疫檢查，

並將該瑕疲資訊如上述專利文獻卜4所記載般記錄於捲筒 弋素材上藉此無須剝離分割件，便可自光學膜之捲筒式 素材直接切。j加成所需之尺寸，並使經切割之光學膜貼 合於光學顯示單元。 '、 先前技術文獻 專利文獻 專利文獻1:曰本專利特開平9_304295號公報 專利文獻2:日本專利第39744〇〇號公報 專利文獻3:日本專利特開2〇〇8_32747號公報 專利文獻4:曰本專利特開2〇〇5_62165號公報 專利文獻5 : W0 2008/〇47712號國際公開小冊子 【發明内容】 發明所欲解決之問題 如上述專利文獻5般 '自光學膜之捲筒式素材直接切割 加工成所需之尺寸，並使經切割之光學膜貼合於光學顯示 單凡之製造方法中，為使所提供之光學膜之捲筒式素材適 合於與光學顯示單元之貼合，通常係事先切割成與光學顯 147514.doc 不單兀之尺寸一致之尺寸之特定寬度。因此，捲筒式素材 之寬度方向均與光學顯示單元貼合，而構成最終製品之圖 像顯示裝置。因此，即便如專利文獻4般、於寬度方向之 端部進行列印之情形時，由於該部分包含於最終製品中， 故無法消除因轉印而產生壓痕等之問題。 又，根據如專利文獻3般、不對光學膜進行列印而是將 瑕疵資訊附加至捲筒式素材之方法，如上所述之因轉印而 引起瑕疵之問題不會產生。然而，光學膜製造時記錄與瑕 疵檢測結果相關之位置資訊之側、及使光學膜向光學顯示 單元貼合而製造圖像顯示裝置時讀取與瑕疵檢測結果相關 之位置資訊之側此兩者，必須使瑕疵檢測結果與光學膜之 位置關係嚴格-致。因&，兩者之系統導人及檢尺計之維 "蒦等的要大ϊ：的勞力與成本，故於與瑕疵檢測結果相關之 位置資訊之記錄與讀取不一致之情形時，存在產生將良品 邛刀廢棄而不貼合於光學顯示單元上、誤將瑕疵部分貼合 至光學顯示單元之問題的風險。 根據該觀點，本發明之目的在於提供—種捲繞將瑕疲資 訊作為標記而列印之光學膜而成、且不易因該標記部位之 凹凸變形之轉印而產生缺陷之捲筒式素材。 解決問題之技術手段 本毛月等人緃過銳意研究後發現，當標記之厚度與光學 密^處於特定範圍内時，贼之檢測精度較高且即便於 進行捲繞而形成捲筒式素材之情形時亦不易產生因轉印 引起的壓痕等問題，從而完成了本發明。 Γ 147514.doc 1359993 [其他光學層] 作為除了上述以外可構成光學膜之光學層，例如可列舉 於上述透明薄膜之未積層偏光元件u之面上實施硬塗層、 抗反射處理、抗沾黏處理、或以擴散或防眩為目的之處理 而成者。除此以外，可列舉亮度提高薄膜、反射層相位 差板等（未圖示）。又，兼具相位差板之功能者亦可較佳地 用作偏光元件保護薄獏。 (黏著劑層） 進而亦可於光學m之其中一主面上設置用以貼合光 學顯示單元之黏著劑層13。形成黏著劑層13之黏著劑並無 特别限制，可適當地選擇將例如丙稀酸系聚合物、聚石夕氧 系.聚合物、聚醋、聚胺基曱酸醋、聚醯胺、聚峻、I系或 橡膠系等之聚合物作為基f聚合物者而加以使用。特別是 可較佳使用如丙烯酸系黏著劑般光學透明性優異、顯示^ 適度之_性、凝純及接著性之黏著特性，且耐候性及 耐熱性等優異者。 (脫模薄膜） 且相對於黏者劑層13之露出面假黏脫模薄膜（分割件）14 而進行覆蓋，以便於直至用於實用為止之期間，防止其污 染等:藉此’可防止通常之操作狀態下接觸黏著劑層。作 為脫模薄膜14 ’例如可使用將塑膠薄膜、橡膠片、紙、 布、不織布、網狀物、發泡薄片或金屬薄片、其等之層遷 ”之適當的薄片體’視需要藉由聚♦氧系或長鍵院基 系、_或硫化翻等之適當的剝離劑而進行塗佈處理者等 147514.doc JJ^93 之、依據先前之適宜者。 (表面保護薄膜） 進而’亦可於假黏脫模薄膜14之相反側之光學膜1之主 面上假點表面保護薄膜15，以便於直至光學膜用於實用為 止之期間’防止光學膜之損傷等。表面保護薄膜15較佳使 用於由塑膠薄膜構成之基材薄膜之單面上具有可剝離地貼 附之弱剝離性之弱黏著劑層者。 表面保護薄膜之基材薄膜並無特別限定，例如可較佳使 用聚丙烯或聚酯等之雙軸延伸薄膜。關於基材薄膜之厚度 並無特別限制，較佳為1 0〜200 μηι左右。 構成用以將表面保護薄膜假黏於光學膜上之弱黏著劑層 的黏著劑並無特別限定’例如亦可使用丙烯酸系、合成橡 膠系、橡㈣中之任—黏著劑m較理想的是易根據 組成而控制黏著力之丙烯酸系黏著劑。黏著劑視需要亦可 適當地使用交聯劑、增黏劑、塑化劑、填充劑、抗氧化 劑、糸外線吸收劑、石夕烧偶合劑等。 <標記之形成> 於構成本發明之捲筒式素材之光學膜上，在瑕疫部位或 瑕疵周邊部位形成有標記21。所謂瑕疵，係指例如里物或 氣泡、或者污潰等、包含本來光學膜本不應含有之外來物 的部分、壓痕、損傷、凹凸缺陷、扭曲、褶皺等之變形部 分等、形成將光學膜貼合於光學顯示單元之圖像顯示裝置 時其顯示狀態可產生不良的部分。 此種瑕庇例如利用目相、包> 用目硯進仃瑕疵檢查或使用眾所周知之 147514.doc -10- 1359993

瑕麻檢測裝置等瑕疯檢測機構進行檢測，而於瑕疫部位或 瑕疫周邊部位形成標記21。所謂瑕苑部位，係指寬度方向 及長度方向之座標與光學膜之瑕疵之位置大致相同的部 位。又，所謂瑕症周邊部位，係指為將光學膜貼合於光學 顯:單元而切割成特定尺寸之單片體時，與瑕窥部位相同 之早片體所包含之範圍。本發明之捲筒式素材於用於自捲 筒式素材直接抽出光學膜’㈣加王成所需之尺寸，並將 經切割之光學膜貼合於光學顯示單元的製造方法時瑕疯 部位與標記部位之長度方向之座標之差異宜為侧_以 内’較佳者為±100 mm以内，更佳者為士5〇 _以内，特佳 者為± 1 〇 mm以内。另一古；命―丄， 另方面’寬度方向之座標之差異並 無特別限制，例如如官；古A ^ Α Λ — 度方向之端部般、自瑕疵部位起向 薄膜寬度方向移動之特定位置處，形成標記便可。 對光學膜之標記可形成於構成光學膜之任一光學層上， ^可於光學膜製造步驟中之任—階段形成標記。例^，可 藉由瑕疵檢測機構來檢測積層而成為光學膜之前之各光學 層之瑕疵’並於各光學層上形成標記，亦可於積層各光學 層而形成光學膜之後，於光學膜之最表面形成標記。 又，亦可藉由瑕疵檢測機構來檢測假黏脫模薄膜或表面 保護薄膜前之光學膜之瑕疮，並於脫模薄膜或表面保護薄 膜上形成標記之後進行假黏。該情形時，向脫模薄膜或表 面保護薄膜之標記係以與光學膜之瑕庇之位置相對應的方 式而形成。脫模薄膜或表面保護薄骐係於光學顯示單元貼 合時、或者貼合後會被除去，故作為最終製品之圖像顯示 1475 U.doc 1359993 ==含有之製程構件，，若於假黏脫模薄膜或 表面保€賴前檢測喊並形成標記，制製程構件引起 之瑕疲上不會形成標記’故可抑制形成圖像顯示裝置時對 並非顯示缺陷之良品部分亦形成標記之情 光學膜之良率。 扠同 於對假黏脫模薄膜或表面保護薄膜等之製程構件前之光 學膜之瑕錢行檢測時，標記既可形成於假黏製程構件前 之光學膜上’亦可於瑕錢測後假黏製程構件，並於製程 構件上形成標記。進而，亦可於製裎構件假黏前之光學膜 之瑕疲檢測之同時、或者職檢測後，於與瑕㈣測位置 相對應的製程構件之部位形成標記。 標記例如可藉由與鋼筆等之標記機構接觸之列印方式、 與噴墨等之標記機構非接觸之列印方式等各種眾所周知之 方法而形成。又，於藉由瑕疵檢測機構而檢測出瑕疵之情 形時，可藉由警報音或光等發出通知並手動進行標記，亦 可藉由適^之控制機構使瑕疫檢測機構與標記機構連動， 藉此於瑕疵部位或瑕疵周邊部位自動地形成標記。又亦 可併用該等。特別是就固定標記之形狀及厚度之觀點而 δ ’宜於瑕疵部位或瑕疵周邊部位自動地形成標記。 於構成本發明之捲筒式素材之光學膜中，上述標記21之 中央部之厚度為1.5 μιη以下。標記之厚度可藉由光干擾式 表面粗糙度計而測定，所謂「標記中央部」係指標記整體 中標記厚度最大之部分。又，所謂「標記之中央部之厚 度」，係將通過該標記中央部且與標記長邊方向正交之剖

F 147514.doc •12· 1359993 面之底邊（與薄膜面之交線）之長 之測疋方法的詳細内容於下述實 面之截面積除以該標記剖 度者。再者，標記之厚度 施例中加以說明。 若標記之厚度過大，於捲 情开，砗神 捲，是光予娱而成為捲筒式素材之 ί月形％，標記部位之變形藉由捲 相垃少加\ 見而轉印至與該標記部位 相接之。(5为，藉此產生壓 率變古_ 很寺之屬形、產生新的瑕疵之概 ^ ^ 標圮之厚度較佳者為1.2 μΐη以

佳者為以下，特佳者為以下。 就抑制因標記部位之變形 一 4a I小之轉印而產生之瑕疵的觀點而 S ’払記之令央部之厚声营泛 厚度且為|31小’但若過小則存在下述 光子雄度變低、標記檢測機禮 』機構之軚记檢測率降低的傾向。 根據該觀點而言，標記厚 厪且為0.3 μηι以上，較佳者為 〇 · 5 μιη 以上。 標記之厚度可根據用以形成標記之鋼筆或喷墨等之標記 機構之種類、光學膜與作為標記機構之鋼筆之接觸壓（筆 φ壓）、自作為標記機構之噴墨噴嘴所嗔出之油墨之液滴的 大小及油墨濃度等而進行調整。又，於一面搬送薄膜一面 形成標記之情形時，亦可藉由變更薄膜之搬送速度而調整 標記之厚度。 進而，於構成本發明之捲筒式素材之光學膜中，標記之 光學密度宜為1.5以上。所謂光學密度，係指使用微小分 光光度計而測定標記部位之吸收光譜時之、吸收峰值波長 之吸光度。即，所謂「光學密度較高」，係指標記部位之 吸收峰值波長之吸光度較大，若光學密度較高，則存在標 147514.doc -13. 己核測機構之標記檢測率變高之傾向。就抑制增大標記檢 :步缚膜之搬送速度時之標記檢測率降低的觀點而 上，而己Γ光學在度較佳者為2.〇以上’更佳者為2.5以 佳者為3·0以上，特佳者為3 5以上。再 於光學密度之測定方法之詳細内容於下述實施例中加 明0 所謂標記之每單位厚度之光學密度，係指將光學密产除 ==度而得^如上所述使標記之厚度處二 Β 但就提南光學密度、提高標記檢測率之觀點 而=，標記之每單位厚度之光學密度宜為較高者。標記之 每單位厚度之光學密度宜為2.5〆以上，較佳者 上。就k局標記之每單位厚度之光學密度之觀點而言，宜 為採用適宜之標記機構。作為此種標記機構可列舉各種油 墨等，特別是使用吸光係數較高者為佳。作為此種吸光係 數較高之油墨，例如可較佳使用吸收光譜之吸收峰值陡 Λ肖、且光§普寬度（半頻高）較小者。 此種吸光特性可藉由適當之機構而評估。例如使用市隹 之鋼筆來作為標記機構之情形時，利用該鋼筆於透明㈣ 上劃線，並測定該劃線部分之吸光光譜，藉此可評估吸光 特性。如此若於作為實際製品之光學膜上形成標記之前事 先評估吸光特性，則無須過多的試誤便可形成 學密度之標記。 九 如上所述，於本發明之棬锊+ u上丄 之捲清式素材中，藉由減小光學膜

[S 1475I4.doc 1359993 之標記之厚度而防止捲繞光學膜而成為捲筒式素材時之因 轉印而產生壓痕等之瑕疲，且藉由提高標記之每單位厚度 之光學密度而提高標記檢測機構之檢測率、換 測遺漏。

標記之吸收波長區域、及吸收峰值波長只要處於標記檢 測機構可感知之範圍内便無特別限制，不僅是可見光區域 (380 rnn〜78〇 nm)，亦可為紫外光區$、或紅外光區域: 例如，偏光元件吸收可見光區域之光，故包含 光學膜與透明薄膜之情形相比，存在不易檢測標記之傾 向，但若標記之吸收波長犖值處於偏光元件之吸光度較小 之波長區域，則可提高標記檢測靈敏度。

另一方面，於標記檢測機構中使用廣泛應用之矽系之檢 波器之情形時’標記之吸收峰值波長宜處於可見光區域。 又，就可目視確認標記之觀點而言，標記之吸收峰值波長 亦且處於可見光區域。特別是就提高目視之視認性之觀點 而言’標記之吸收峰值波長宜處於500 nm〜60〇 nm之範圍 内。500 nm〜6〇〇 nm於光之光譜中為深綠〜綠〜黃〜橙，故於 該波長區域具有吸收時，透射光或者反射光成為相當於其 補色即紅〜紫〜藍之光。人之視覺對於黃〜黃綠最為敏感， 故若500〜6〇〇 nm之波長區域之光量較大，故難以藉由目視 而辨別與無標記吸收之周邊部分的差異。相對於此，若該 波長區域具有吸收峰值，則即便吸光度、即光學密度相對 較小時’亦容易地藉由目視而辨別標記之存在。 <捲筒式素材之形成> 147514.doc •15- 1359993 捲繞以此方式而形成標記之光學膜，藉此形成捲筒式素 材。更具體而言，將具有特定直徑之捲芯作為中心而將薄 片製品以特定之張力捲繞，藉此製造捲筒式素材。 上述捲芯之外徑通常為7〇 mm以上’較佳者為15〇 mm以 上。若該捲芯之外徑過小，則捲芯附近之曲率變大，故存 在產生假黏於光學膜上之脫模薄膜或表面保護薄膜剝離等 問題之情形。另一方面，捲繞後之捲筒式素材之外徑存在 上限，故若捲芯之外徑過大，則可捲繞至捲芯上之薄片製 品之長度變短。根據該觀點而言，宜以捲繞光學膜後之捲 疴弋素材之外;L (捲控）成為1500 mm以下較佳者為1000 mm以下之方式而選擇捲芯之外徑。 捲繞至捲芯上時賦予給光學膜之張力（捲繞張力）宜為5〇 N/m以上，較佳者為1〇〇N/m以上。若張力過小則存在無 法相對於捲芯而良好地捲繞之情形。另一方面，若捲繞張 力過大’則會因捲繞而於與標記部位相接之部分上轉印標 記之凹ώ，由此存在易產生虔痕等之變形之傾向，故捲繞 張力宜為300 N/m以下，較佳者為2〇〇N/m以下。 進而’本發明之捲筒式素材宜具有與最終製品之尺寸一 致之寬度。所謂最終製品典型的是以液晶顯示裝置為代表 之圖像顯f裝置，其藉由將自捲筒式素材所抽出之光學膜 與液晶胞等之圖像顯示單元貼合 13向形成。通常來說，捲筒 式素材寬於光學顯示單元之尺+ 早之尺寸，故為成為與最終製品之 尺寸一致的寬度，而與光學顯 _ 予4不早疋之尺寸一致地切割成 特疋尺寸。再者，此種特定尺 丁之切割可於光學膜之製造 147514.doc -16- 1359993 步驟令進行，形成切割成上述特定尺寸之捲筒式素材。 又，亦可將寬幅之光學膜暫時作為捲筒式素材而捲繞後， 自寬幅之捲筒式素材t抽出光學膜’切割成特定尺寸，其 後再次捲繞至捲芯上而形成切割成特定尺寸的捲筒 材。 ’、 <圖像顯示裝置之形成> 本發明之捲筒式素材可較佳用於液晶顯示裝置、有機肛 (Electro luminescence，電致發光）顯示裝置册⑽瞻 display pand，電漿顯示面板）等圖像顯示裝置之形成。圖 像顯示裝置之形成可依據以往之方式而進行。例如，若圖 像顯示裝置為液晶顯示裝置’可藉由適當地組裝液晶胞 (相當於光學顯示單元）與光學膜、及視需要 之構成零件並組入驅動電路等而形成。作為液晶胞，例如 可使用TN(Twlsted nematic，扭轉向列）型或stn㈣p以

Twisted Nematic ’超扭轉向列）型、兀型等任意類型者。進 而’在形成液晶顯示裝置時，例如可於適當之位置配置棱 鏡陣列板或透鏡陣列板、光擴散板或背光源等之適宜的零 件。 本發明之捲筒式素材係於瑕疯部位或瑕疲周邊部位形成 ^記’故圖像顯示裝置之製造宜藉由僅將光學膜之未形成 標§己之部分貼合於光學顯示單元的方法來進行。 特另」是就削減圖像顯示裝置之製造成本、提高良率之觀 點而言，宜進行如下一系列連續步驟：標記檢測步驟，自 捲筒式素材中抽出光學膜之長條薄片製品，藉由可辨別標 147514.doc -17- 1359993 記有無之檢查機構來進行檢測；切割步驟，使用切割機構 而於光學膜之寬度方向上切割光學膜，將光學膜切割成用 以貼合於光學顯示單元之基板 切割成用以貼合於光學顯示單 合至上述基板上。 上之尺寸；及貼合步驟，將 元之基板之尺寸的光學膜貼 於此種連續步驟之製造方法中，可以自製品中除去標記 檢測步驟中檢測出標記之部分之方式而進行切割步驟，或 者將檢測出標記之部分貼合於光學顯示單元之基板以外藉 此僅使未標記之部分貼合於光學顯示單元。 圖2係表示本發明之圖像顯示裝置之製造步驟之一例的 概念圖。以下-面適當地參照圖式—面依序說明各步驟。 (1)標記檢測步驟 形成有標記之光學膜之捲筒式素材201係以自由旋轉或 者乂固定之旋轉速度旋轉之方式而設置於與馬達等連動之 輥座架301上。自捲筒式素材2〇1抽出光學膜之薄片製品 F1，並將其搬駐卜作為搬送裝置較佳使用制 夕個搬送t 3G2 ’且沿由該等搬送輥所形成之搬送路徑济 搬送薄片製品㈣。該搬送路徑係自捲筒式素材之抽出旬 分起延伸至與光學顯示單元之貼合部分為止。 所抽出之光學膜之薄片製品F1係藉由標記檢測機構3〇3 而檢測標記之有無。作為標記之檢測方法，較佳為對薄片 製品照射光，標記部位之透射光或反射光之強度變小，藉 此可辨別標記之有無。 於圖2中，作為標記檢測機構3〇3圖示有如下者：對薄片 I47514.doc -18- 1359993 製品F1照射光並檢測其透射光強度，藉此檢測標記。於該 圖示例中，標記檢測機構303包括光源303 1、相機3032、 及相機控制器3033。自光源3031射出之光照射至薄片製品 F1，其透射光入射至相機3032。相機3032包括適當之透 鏡’且如CCD(Charge Coupled Device，電荷輕合元件）相 機般、係可針對每個位置（像素）而檢測入射光之強度之光 學元件。由相機所檢測出之各像素之入射光強度之資訊被 發送至相機控制器3033。相機控制器將相機所檢測出之入 射光強度轉換成特定之灰階（例如黑白8位元=256灰階）之 信號。 光學膜之形成有標記之部分具有特定之光學密度，故可 周邊部分相比，來自光源303丨之光之透射光強度變小。因 此，標記部位與其周邊部分之透射光強度之灰階不同。相 機控制器3033對透射光強度較低之部分之透射光強度之灰 P白X與其周邊部分之透射光強度之灰階γ的差γ_Χ進行運 异，當Y-X大於預先設定之臨限值時，將該透射光強度較 低之部分判定為「有標記」。另一方面，當Y_X小於臨限 值時，判斷透射光強度小於周邊部分係因雜訊而引起，將 該部分判定為「無標記」。若將臨限值設定地過高，則標 。己檢測率麦小，若臨限值設定地過低則因雜訊引起之誤檢 測（過檢測）有增力σ之傾向，故亦使臨限值對應光源之光譜 特性及相機之特性等而適當地設定。 進而，相機控制器3033算出判定為「有標記」之部分之 位置座標。再者’所算出之位置座標僅薄片製品之搬送方 147514.doc •19- 1359993 向之座標便可。將該標記之位置座標提供給下述切割步驟 之兆躍刀或者排除機構’藉此可僅使未形成標記之部 分貼合於光學顯示單元，而形成圖像顯示裝置。 於使用本發明之捲筒式素材之情形時光學膜之標記部 位具有特定之光學密度，故標記檢測步驟中之標記檢測率 复同、即未檢測出標記之概率變低，故可事先抑制將包含 標記之光學膜貼合於光學顯示單元。 (2)切割步驟 於標s己檢測步驟中判斷出標記之有無之後薄片製品fi 於切割步驟中藉由切割機構3〇4而切割成與光學顯示單元 之尺寸致的特定尺寸。作為切割機構3〇4，例如可列舉 雷射裝置' 切割機、及其他眾所周知之切割機構等。此 處，捲筒式素材201若事先切割成與光學顯示單元之尺寸 -致之尺寸之特定寬度、即與光學顯示單元之長邊或短邊 對應的長度，則於切割步驟中僅於搬送方向（薄片製品之 長度方向）上以特定間隔切割’便可將薄片製品切割成與 光學顯示單元之尺寸一致的特定尺寸。 (全切之切割） 於切割步驟中，可採用將構成光學膜之所有光學層完全 切割（全切）之方法。㈣用全财式之切射，藉由吸附 裝置等之適虽之固疋機構（未圖示）固定搬送而來之薄片製 品Fi ’藉由切割機構綱而將構成光學膜之全體構件沿與 捲筒式素材之捲芯平行的寬度方向進行切割。經切割之薄 片製品保持被固錢構固^之狀態、，而向貼合機構305搬 U75\4.doc -20- 1359993 送。 (半切之切割） 又亦可使部分光學層成為未切割之狀態（半切卜作為 此種半切之切割形態之一例，以如下情形為例進行說明： 光學膜1如圖！般構成為於偏光之兩面分別積層透明 薄膜^、12b’其中-者積層表面保護薄膜15、另一者積 層黏著劑層13及脫模薄膜14。切割機構3〇4不切割脫模薄 膜14,而是將表面保護薄膜15、偏光元件"及其兩面所積 層之透明薄膜12a、12b、及黏著劑層13，沿與捲筒式素材 之捲怒平行的寬度方向而進行切割。如此，不切割並未貼 合於光學顯示單元之製程構件即脫模薄膜，藉此由於搬送 裝置之搬送張力經由脫模薄膜14而傳遞至切割後之薄片製 品，故切割後亦可藉由搬送張力而將薄片製品搬送至貼合 機構305。 (跳躍切割方式） 進而，於以自製品中除去標記檢測步驟中檢測出標記之 部分之方式而進行切割步驟時，將藉由標記檢測機構所得 之標記之位置座標提供給切割步驟，並根據該座標資訊而 以避開標記部位的方式進行切割步驟（跳躍切割）。即，包 含瑕疵部分之切割品作為不良品而於後步驟中被排除機構 排除。藉此，光學膜之良率可大幅度地提高◎構成為包含 標§己部位之薄片製品F1係藉由排除機構（未圖示）而排除， 而不會貼附於光學顯示單元W。 另一方面’亦可不進行如上所述之跳躍切割，忽略標記 147514.doc •21· 1359993 之存在而連續地將薄片製品F1 時， ^戍特疋尺寸。該情形 一秦成為於下述貼合步驟中不將該部分貼合於光學顯 不早元w而是除去。 (3)貼合步驟 驟中^步驟中破切割成特定尺寸之薄片製品F1在貼合步 目上人9貼0機構3〇5 、經由黏著劑層而與光學顯示單元 、& °於薄片製品F1上假黏脫模薄膜之情 脫模薄膜、或者-面除去一面進行貼人。於上过二去 坭订貼σ於上述切割步驟 一 王切方式之情形時，可藉由以自膠帶輥抽出膠帶， 广面利用輥壓住一面將膠帶黏貼於脫模薄膜上以剝離脫模 屬膜之方式捲取膠帶的方法等，而除去脫模薄膜。又，於 上述切割步驟中採用半切方式之情形時，可藉由—面將未 切割之光學層（例如脫模薄膜）利用適當的捲取機構而捲取 成報狀-面剝離脫模薄膜的方法等，而除去脫模薄膜^ 者亲J離薄膜之剝離可手動進行，亦可使用眾所周知之脫 模薄膜剝離裝置。將薄片製品F1貼合於光學顯示單元可較 佳才木用如下方法：例如藉由如按壓輥或導引報之1個或複 數個輥之按壓，而將薄片製品F1壓接於光學顯示單元面上 並貼合。 一已3β己部位之薄片製品例如貼合於虛設板單元（未圖 不）、或者捲取至適當之輥上，#此可不貼合於 單元而加以除去。又，於採用半切方式之情形時，亦= 夺占s在未切割之光學層（例如脫模薄膜）上之狀態下， 藉由用以捲取該光學層的捲取機構來進行捲取。一

[S I475l4.doc -22- 1359993 根據如上所述之步驟，無須操作將光學膜切割成特定尺 寸之單片體’可提高生產效率…亦可於一個地方連續 地進仃先刖之圖像顯示裝置之製造中由光學膜製造廠家盘 面加工廠家分別進行的偏光板之定尺切割及向光學顯示單 元之貼合’且由於無需光學膜製造廠家之偏光板之端面加 工及無塵包裝、輸送捆包、或者面板加m拥包解 體，故可有助於成本降低及良率提高。 實施例 以下’列舉實施例來說明本發明，但本發明並不限定於 下述實施例。 [光學膜] 使用捲繞如下光學膜之捲筒式素材：於包切染色之聚 乙烯酵系薄膜之偏光元件之兩面上積層有作為偏光元件保 護薄膜之透明薄膜的偏光板之其中一偏光元件保護薄膜表 面上設有丙稀酸系之黏著劑層，且於該黏著劑層上假黏包 Φ 含利用聚矽氡系剝離劑而經塗佈處理之聚對苯二甲酸乙二 酯薄膜的分割件而成者（日東電工公司製商品名「npf VEG1724DU」）。 [標記之形成] 於光學膜之未設有黏著劑層之側之偏光元件保護薄膜的 表面上，使用圖3所示之標記機構4〇3而形成長度2〇爪爪之 標記。於圖3中，自未實施標記之光學膜之捲筒式素材4〇ι 中使用夾持驅動之輥對402而以10 m/分之搬送速度抽出光 學膜，並導引光學膜之黏著層側通過以2〇〇 mm之間隔而設 147514.doc •23· 1359993 置的支撐輥403a及難上。標記機構4〇3包括藉由伺服馬 達而驅動之致動器4031 ’且於致動器之前端之固持器 4〇32上設置有鋼筆4〇33。藉由致動器之動作鋼筆⑽w上 下移動，形成標記時，於較光學膜之保護薄膜表面之高度 低5 mm之高度處筆尖以60。之角度觸碰的方式將鋼筆4〇33 向下方移動。 (比較例1) 於圖3之標記機構中，作為鋼筆4〇33係使用pii〇t公司製 之黑色油性鋼筆(商品名r VSuper c〇1〇r」），而形成寬度5 mmx長度2〇mm之標記。將該標記設為「標記A」。 (比較例2) 於圖3之標記機構中，作為鋼筆4〇33係使用公 司製之黑色油性鋼筆（商品名「潤芯」），而形成寬度5 mmX長度20 mm之標記。將該標記設為「標記B」。 (比較例3) 於圖3之標記機構中’作為鋼筆4〇33係使用shachihata& 司製之黑色油性鋼筆（商品名「潤芯」），而形成寬度5 mmx長度20 mm之標記。然而，比較例3中係使用以將鋼筆 之筆蓋開放之狀態於室溫（22。〇)下放置48小時後之鋼筆。 將該標記設為「標記C」。 (實施例1) 於圖3之標記機構中’作為鋼筆4〇33係使用staedtler公司 製之黑色油性鋼筆（商品名r Rum〇 c〇1〇r」），而形成寬度5 «1111><長度20«1111之標記。將該標記設為「標記1)」。 1475l4.doc * 24 - [標記之厚度之測定] 自藉由實施例及比較例而形成有標記之光學膜中剝離分 割件，使用手壓輥經由預先設置於光學膜上之丙烯酸系黏 著劑層而將光學媒貼附至50 mmX 100 mm大小之載波片 (MATSUNAMI公司製）上，使用光干擾式表面粗糙度計 (vecco公司製產品名「WYKO N0800」而於下述條件下 測定表面形狀。 •基準線設定：設定於光學膜之測定裝置側表面上 • Back Scan · 30 μπι • Scan Length : 40 μπι • Modulation threshold : 0.1% • Sthitching : X=25 mm、Y=8 mm 根據所得之表面形狀資料，求出通過標記長邊方向之中 點且與標記長邊方向正交之剖面的面積，並將該戴面積除 以剖面之底邊之長度而得者作為標記中央部之厚度。 [光學密度之測定] 使用遮蔽膠帶（曰東電工公司製型號「No.7235」），將 實施例及比較例中所得之形成有標記之光學膜貼附於5 0 mmxlOO mm大小之載波片（MATSUNAMI公司製）上，使用 微小分光光度計（Lambda Vision公司製產品名「LVmicro」） ，於下述條件下測定標記之中央部之微小區域的吸收光 譜，並將吸光度之峰值作為光學密度。 •光源：鹵氣光源 •針孔尺寸：100 μπι彡 147514.doc •25· 1359993 •感測器：Multidetetor •測量模式：穿透率測定模式 關於實施例及比較例之光學膜，表1表示標記中央部之 厚度、光學密度、及每單位厚度之光學密度（將光學密度 除以標記中央部之厚度而得者）。 [表1] 標記厚度(μιη) 光學密度 每單位厚度之光學密度(μτη·1) 比較例1 2.1 7.6 3.6 比較例2 1.6 3.0 1.9 比較例3 0.8 1.4 1.8 實施例1 0.7 2.5 3.5 [捲筒式素材荷重之評估] 於捲繞有光學膜之捲筒式素材中，評估施加於光學膜之 荷重。將與上述實施例及比較例所使用者相同之光學膜 (日東電工公司製商品名「NPF VEG1724DU」）之長條素材 (長度約1000 m)，一面賦予200 N/m之張力一面於長度方 向上搬送，捲繞於外徑152 mm之捲芯上。捲繞時，自開始 捲繞起約10 m、約3 0 0 m、約6 0 0 m '約9 0 0 m之時點，插 入50 mmxlOO mm之PRESCALE(富士薄膜公司製超低壓 (0.5〜2.5 MPa)用）。捲筒式素材形成後，藉由專用之掃描 器（富士薄膜公司製產品名「FPD9210」）來評估PRESCALE 之色調變化，測定施加於PRESCALE上之荷重。表2表示 自薄膜開始捲繞起之地點與荷重之關係。 147514.doc -26- 1359993 [表2] 捲繞長度 荷重(Mpa) 10 2.5 300 1.7 600 1.1 900 0.4 根據該結果，可知於長度1000 m左右之捲筒式素材中， 即便在靠近捲芯之部分之施加有荷重3 Mpa之狀態下，亦

要求因標記之轉印而引起壓痕等之瑕疵之產生率較小。 [壓痕產生率之評估]

如圖4所示，於透明薄膜1231上形成有標記之光學膜。 =上疊合未形成標記的光學膜lb，且自光學膜比側施加特 定之荷重F而加載重量’於此狀態下以常溫靜置心小時。 其後’藉由目視而觀察光學膜113之與標記21側相接之脫模 薄膜⑷側表面’確認壓痕不良之有無。與實施例及比較 例同樣地製作形成有標記A〜D之光學膜，針對荷重〇,5 MPa、1·〇 MPa' 2〇 Mpa、3 〇服此4個水準之各個，以 Z之方式對各1〇點之樣品確認壓痕不良之有無，並評估 因何重引起之壓痕產生率。表3表示結果。 [表3]

147514.doc -27- 1359993 [標記檢測率之評估] (捲筒式素材） 使用捲繞長條之薄片製品之捲筒式素材，其具有與實施 例及比較例中使用者相同之積層構造，該長條之薄片製品 係於寬度400 mm、長度約20〇111的光學膜（日東電工公司製 商品名「NPF VEG1724DU」）之偏光板之未設有黏著劑層 之側的偏光元件保護薄膜表面之隨機位置處，預先將標記 A、標記B、標記C、標記D分別列印20個而成者。 (標記檢測裝置） 圖5表示標記檢測評估中使用之標記檢測評估裝置之構 成之概略。將捲筒式素材設置於第1輥座架301&上，薄片 製品F1架設於第1輥座架301a與第2輥座架3〇2a之間。於搬 送路徑之中途設有標記檢測機構303，藉此檢測標記。標 記檢測機構303將自光源303 1 (電通產業公司製產品名 「FL48/800W85_DF」）射出之光照射至薄片製品η，其透 射光經由透鏡（KEYENCE公司製產品名「CA-LH8」）而入 射至相機3032(KEYENCE公司製產品名「CV-2000M」）。· 藉由相機而檢測出之入射光強度之資訊發送至相機控制器 3033(KEYENCE公司製產品名「CV-2000」）。相機控制 器將由相機所檢測之入射光強度轉換成黑白256灰階。然 後，對透射光強度較低之部分之灰階X與其周邊部分之灰 階Y之差Y-X進行運算’當Y-X大於預設之臨限值（1〇〇) 時’將該透射光強度較低之部分判定為「有標記」。 (標記檢測評估） [S1 147514.doc -28 · 1359993 自捲筒式素材201a中將薄片製品F1從第1輥座架301a側 起向第2輥座架3〇lb側以搬送速度1.〇 m/分而搬送，並於搬 送中藉由標記檢測機構來進行標記檢測。將光學膜全部捲 取至第2輥座架3〇2a之後’此次將光學膜從第2輥座架3〇lb 侧向第2輕座架3 〇 1 a側以搬送速度3 ·0 m/分而搬送，並於搬 送中藉由標記檢測機構來進行標記檢測。其後，將搬送速 度設為5.0 m/分、i〇_〇 m/分而進行同樣的檢測評估。表4 表示各搬送速度下之標記檢測率。 [表4] 搬送速度(m/分） 1.0 3.0 5.0 10.0 比較例1 100% 100% 100% 100% 比較例2 100% 100% 100% 100% 比較例3 100% 95% 90% 70% 實施例1 100% 100% 100% 100% 根據以上之實施例及比較例可明瞭，如比較例1、比較 例2般標記之厚度較大時，施加於光學膜上之荷重變大、 即越靠近捲筒式素材之捲芯側’因標記之轉印而引起之壓 痕產生率越高。又，當標記之厚度較小時，壓痕產生率較 小’但光學密度變小故存在如比較例3般、標記檢測率變 小之傾向。相對於此，實施例1之光學膜雖標記之厚度小 於比較例1，但由於標記之光學密度較大，故表現出與標 記之厚度較大之比較例2相同之標記檢測率。 【圖式簡單說明】 圖1係表示光學膜之積層形態之例之概略剖面圖。 1475l4.doc -29- 1359993 圖2係用以說明固伯s _ 兄月圖像顯示裝置之製造步驟之一實施形悲 之概念圖。 圖3係用以說明音始Α丨 凡月貫施例之標記方法及標記機構之構成的 概念圖。 圖4係用以訪明球#庙^ ^ 兄月°子估貝施例之壓痕產生率時之光學膜之 積層形態的概略剖面圖。 圖5係用以說明用於評估實施例之標記檢測率之標記檢 測評估裝置之構成的概念圖。 【主要元件符號說明】 1 光學膜 11 偏光元件 12a 透明薄膜 12b 透明薄膜 13 黏著劑層 14 脫模薄膜 15 表面保護薄膜 21 標記 201 捲筒式素材 301 輥座架 302 搬送輥 303 標記檢測機構 304 切割機構 305 貼合機構 3031 光源 147514.doc 1359993 3032 相機 3033 相機控制器 FI 薄片製品 W 光學顯示單元

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Claims (1)

1359993 第099110769號專利申請案

七、申請專利範圍： 中文申請專利範圍替換本(100年12月） 12 Θ :種圖像顯示裝置之製造方法，其係將含偏光元件之光 學膜之單片體連續貼合於光學顯示單元者，且進行一連 串連續步驟如下： 準備捲筒式素材，該捲筒式素材係將至少於i個瑕疵 部位或瑕疵周邊部位形成有標記之光學膜的長條薄片捲 繞而成者； 自上述捲筒式素材拉出光學膜之長條薄片製品； 標記檢測步驟，以可辨別上述標記有無之檢查機構進 行檢測； 切割步驟，將構成上述光學膜之所有光學層或部分光 學層切割成矩形之光學膜單片體；及 貼合步驟，將上述光學膜單片體貼合於光學顯示單元 之基板； 上述捲筒式素材為了具有與上述光學顯示單元之長邊 或短邊長度對應之寬度，光學膜之寬度方向之全體係作 為與光學顯示單元貼合之製品部分而供給； 上述切割步驟中，上述光學膜之長條薄片以沿光學膜 長度方向之特定間隔而沿著寬度方向切割，藉此被切割 成合乎光學顯示單元尺寸之特定尺寸矩形光學膜單片 體； 上述標記之光學密度為15以上，且標記中央部之厚度 為1.5 μηι以下。 2.如请求項1之圖像顯示裝置之製造方法，其中上述標記 147514-l〇〇i2l2.doc 1359993 3. 5. 之每單位厚度之光學密度為2.5 μιη·ι以上β 如請求項1之圖像顯示裝置之製造方法， 井甲上述標記 之吸收峰值之波長為500 nm〜600 nm。 ’其中上述標記 之製造方法，其 榡記之部分從與 式，進行上述切 如請求項2之圖像顯示裝置之製造方法 之吸收峰值之波長為500 nm〜600 nm ° 如请求項1至4中任一項之圖像顯示農置 中’以將上述標記檢測步驟中被檢測出 光學顯示單元貼合之製品部分除去的方 割步驟。 6.如請求項1至4中任一項 闽1豕顯不裝置之製造方法，苴 2將包含前述標記檢測步驟中被檢測出標的 光學膜單片體貼合於光學顯示單元之基板以外。 7_如請求項5之圖像顯示装置之 ... ^ 方法，其中，將包含 刖述私δ己檢測步驟中被檢測出 ^ §己之部分的光學膜單片 體貼合於光學顯示單元之基板以外。 平巧 147514-1001212.doc imm-1 /抑年/ μ糾修正替換頁 四、指定代表圖·· (一) 本案指定代表圖為：第（1 )圖。 (二) 本代表圖之元件符號簡單說明： 1 光學膜 11 偏光元件 12 透明薄膜 13 黏著劑層 14 脫模薄膜 15 表面保護薄膜 21 標記 五、本案若有化學式時，請揭示最能顯示發明特徵的化學式： (無） 147514-1001212.doc -2- ⑧