201040515 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種捲繞包含偏光元件之光學膜之長條薄 片而成、且於瑕疵部位或瑕疵周邊部位形成有標記之捲筒 式素材。進而，本發明係關於一種使該捲筒式素材貼合於 液晶胞等之光學顯示單元從而製造液晶顯示裝置等圖像顯 示裝置的方法。 【先前技術】 €) 近年來，隨著液晶顯示器等之大畫面化，對於液晶顯示 裝置等圖像顯示裝置中使用之偏光板等之光學膜之顯示特 性之要求變得迫切，對於光學缺陷之要求變得嚴袼。相對 於上述要求，使用有利用人眼目視、或自動檢查裝置，檢 吻光學瑕疲並除去該瑕疫之方法。又，於檢測出瑕疲之情 形時，記錄其位置資訊，藉此若自向光學顯示單元之貼合 物中除去包含瑕疮之部分，則可以抑制最終製品之圖像顯 〇 Μ置中混人因光學膜引起之職，故可減少光學膜之損 耗、及減少進行自包含瑕麻之不良品之光學顯示單元上剝 離光學膜之返工處理的比例，從而可有助於良率提高、及 成本降低。 @ 作為於檢測出料時記錄其位置f訊之料，通常提出 有：藉由油墨等而於瑕疯部位列印來作為標記之方 如專利文獻1)、將與瑕疵檢測結果相 吱文车次1貝矾作為條形碼 並於薄膜上列印之方_如專料 或者將ic(Integrated Circuit，積體電路）晶片等之記 147514.doc 201040515 錄媒體中所記錄者附加於光學膜製品上之方法（例如專利 文獻3)等。 又a如專利文獻1、2般於光學膜上進行列印之情形時， 成^ °己之，由墨等之厚度雖小但該列印部位之厚度有所增 因此，存在如下問題：捲繞光學膜而形成捲筒式素材 日、列印部位之厚度之差異、即凹凸變形會因捲繞而轉印 …亥幻印部位接觸的部分上，產生壓痕等之變形，本來 應為良品之部分上產生新的瑕疲。就抑制因此種轉印而產 與一:之觀點而吕，提出一種不於貼合在液晶胞等之光 予顯不早几上之部分，而於光學膜之有效寬度外、即寬度 方向之端部進行列印的方法（例如專利文獻4)。 方面除了對缺陷之要求以外，對於圖像顯示裝置 =成=降=之要求亦逐年變高。就可應對該要求之觀點而 ^ 種如下方法.包括自捲繞有長條之光學膜之捲 二二材中抽出光學膜並供給之供給機構、將光學膜於搬 膜血^與顯特疋間^切割之切割機構、及使經切割之光學 顯示單元貼合之貼合機構，藉由使該等各機構連 (產線製程上所配置的生產線，而製造圖像顯示裝置 H 可Μ學膜之捲筒式素材直 學顯：二:！之尺寸，並使經切割之光學膜貼合於光 :則係於薄片狀製品上沖裁出特定尺寸之光 家…“、 先學膜威格捆包，交貨給面板加工廠 削咸°':將捲筒式素材直接捆包並交貨，故可有助於 削減工時及製程構件。 π 147514.doc 201040515 又’於專利文獻5之製造方法中，若於藉由切割機構而 切割光學膜之前檢查瑕疲，以不將包含瑕窥之光學膜貼人 於光學顯示單元之方式進行控制，則可提高最終製品之^ 像顯示裝置之良率。 於上述專利文獻5中提出：進行瑕錢查時，將光學膜 上假黏之脫模薄膜（分割件）暫時剝離之後，進行瑕疲檢 查’並再次貼合分割件。另_方面，事先進行瑕崎查，
並將該瑕㈣訊如上述專利文獻卜4所記載般記錄於捲筒 式素材上，藉此無須剝離分割件，便可自光學膜之捲筒式 素材直接切割加工成所需之尺寸，並使經切割之光學膜貼 合於光學顯示單元。 先前技術文獻 專利文獻 專利文獻1 :曰本專利特開平9_304295號公報 專利文獻2:曰本專利第3974400號公報 專利文獻3 :曰本專利特開2008-32747號公報 專利文獻4 :曰本專利特開2005-62165號公報 專利文獻5 : WO 20〇8/〇47712號國際公開小冊子 【發明内容】 發明所欲解決之問題 如上述專利文獻5般、自光學膜之捲筒式素材直接切割 加工成所需之尺寸，並使經切割之光學膜貼合於光學顯示 單元之製造方法中，為使所提供之光學膜之捲筒式素材適 合於與光學顯示單元之貼合’通常係事先切割成與光學顯 147514.doc 201040515 不單兀之尺寸一致之尺寸之特定寬度。因此，捲筒式素材 之寬度方向均與光學顯示單元貼合，而構成最終製品之圖 像顯示裝置。因此，即便如專利文獻4般、於寬度方向之 女而#進行列印之情形時，由於該部分包含於最終製品中， 故無法消除因轉印而產生壓痕等之問題。 又，根據如專利文獻3般、不對光學膜進行列印而是將 瑕疵資讯附加至捲筒式素材之方法，如上所述之因轉印而 引起瑕疵之問題不會產生。然而，光學膜製造時記錄與瑕 疵檢測結果相關之位置資訊之側、及使光學膜向光學顯示 單兀貼合而製造圖像顯示裝置時讀取與瑕疵檢測結果相關 之位置責訊之側此兩者，必須使瑕疵檢測結果與光學膜之 位置關係嚴格-致。因&，兩者之系統導人及檢尺計之維 羞等而要大置的勞力與成本，故於與瑕疵檢測結果相關之 ，置資訊之記錄與讀取不—致之情形時，存在產生將良品 部分廢棄而不貼合於光學顯示單元上、誤將瑕疵部分貼合 至光學顯示單元之問題的風險。 ，根據該觀點’本發明之目的在於提供—種捲繞將瑕寂資 訊作為標記而列印之光學膜而成、且不易因該標記部位之 凹凸變形之轉印而產生缺陷之捲筒式素材。 解決問題之技術手段 本土明f人經過銳意研究後I玉見，當標記之厚度與光學 密度處於特定範圍内時，瑕疲之檢測精度較高，且即便於 進行捲繞而形成捲筒式素材之情料，亦不易產生因轉印 引起的壓痕等問題，從而完成了本發明。 147514.doc 201040515 本發明係闕於一種捲繞包含偏光元件之光學膜之長條薄 片而成且於至少i個瑕疵部位或瑕疵周邊部位形成有標 :己之捲筒式素材。於本發明之捲筒式素材中，標記之光J :度為1,5以上’且標記中央部之厚度為1.5 _以下。又： 標記之每單位厚度之光學密度宜為2.5〆以上。 Ο 於-實施形態中’本發明之捲筒式素材係將光學膜之寬 度方向全體作為製品部分而提供者。作為該實施形態之— 例’於光學膜貼合在液晶胞等之光學顯示單元上之情形 時，將形成捲筒式素材之光學膜之整個寬度貼合於液晶胞 上’無須藉由切割等除去端部。 發明之效果 根據本發明，由於標記之厚度為 汗厌馮特疋範圍以下，故即便 於捲繞光學膜而形成捲筒式素材 、矛'玎义匱形時，亦不易因標記 …凹凸變形之轉印而產生缺陷。又，由於標記部位具 有特疋之光學密度，標記部位之辨別較為容易。因此，可 確保較高的標記檢測率，可 O J肘s 3才示§己部位之光學膜不與 其他構件連在一起而除去， 少、 2 攸而可有助於最終製品之良率 提高、成本降低。 【實施方式】 <光學膜之構成> Μ‘’適㈣參_式而對本發明之較佳實施形態進行 說明。圖1係表示構成本發明之捲筒式素材之光學膜i之積 心m的概略剖面圖。光學m包含偏光元件n。 所謂偏光元件，係指可將自然光或偏光轉換成任意之偏光 147514.doc 201040515 之薄膜。作為本發明中使用之偏光元件，可採用任意適當 之偏光元件，但較好的是使用將自然光或偏光轉換成直線 偏光者。 [偏光元件] 作為偏光元件，可根據目的而採用任意之適當者。例 如’可列舉聚乙烯醇系薄膜、部分縮甲醛化聚乙烯醇系薄 膜、乙烯-乙酸乙烯酯共聚物系部分皂化薄膜等之親水性 尚分子薄膜上使碘或二色性染料等之二色性物質吸附並單 軸延伸者、聚乙烯醇之脫水處理物或聚氯乙烯之脫氣化氫 處理物等之多烯系定向薄膜等。又，亦可使用美國專利 5，5 2 3，8 6 3號等所揭示之使包含二色性物質及液晶性化合物 之液晶性組成物於固定方向上定向之客體_主體類型之。型 偏，元件、美國專利6，G49,428號等所揭示之使溶致液晶於 固定方向上定向之E型偏光元件等。就具有較高之偏光度 之觀點、及與下述偏光元件保護薄料之接著性之觀點而 言’此種偏光元件中較佳使用含有碘之聚乙烯醇系薄膜之 偏光元件。 光學膜亦可包含偏光元件以外之任意之光學層。作為也 種光學層，可列舉例如偏光元㈣之單面或兩面上所積, 之作為偏光元件保護薄膜的透
心月/寻膜12a、12b。作為此I 透明薄膜12a、12b之材料，例如▲ 1如較佳使用透明性、機械3 度、熱穩定性、水分阻斷性' ,. . . ^ 專向性等優異之熱塑性系 …… 乍為偏先7^牛保護薄膜之透明薄膜，] 經由接者劑層而積層。 147514.doc 201040515 [其他光學層] 作為除了上述以外可播^>、丨，樹+ 冓成光予膜之光學層，例如可列嚴 薄膜之未積層偏光元件n之面上實施硬塗層、 几占本处理、抗沾黏處理、或以擴散或防眩為目的之處理 而成者。除此以外，可> 舉提高薄膜、反射層、相位 差板等（未圖不又，i 兼具相位差板之功能者亦可較佳地 用作偏光元件保護薄膜。 (黏著劑層） ❹ ❹ 進而，亦可於光學膜1之其中-主面上設置用以貼合光 學顯不單元之㈣劑層13。形成黏著劑層13之黏著劑並無 特別限制’可適當地選擇將例如丙烯酸系聚合物、聚矽氧 糸水合物、聚g旨、聚聪：发田办 \胺基甲曰、聚醯胺、聚醚、氟系或 橡膠系等之名合物作為基質聚合物者而加以使用。特別是 可較佳使用如丙稀酸系黏著劑般光學透明性優異、顯示出 適度之潤濕性、凝聚性及接著性之黏著特性，且耐候性及 耐熱性等優異者。 (脫模薄膜） 宜相對於黏著劑層13之露出面假黏脫模薄膜（分割件）14 而進行覆蓋’以便於直至用於實用為止之期間防止其污 染等。藉此，可防止通常之操作狀態下接觸黏著劑層。作 為脫模薄膜14 ’例如可使用將塑膠薄膜、橡膠片、紙、 布、不織布、網狀物、發泡薄片或金屬薄片、其等之層壓 體等之適當的薄片體’視需要藉由聚⑪氧系或長鍵烧基 系、氟系或硫化鉬等之適當的剝離劑而進行塗佈處理者等 147514.doc 201040515 之、依據先前之適宜者。 (表面保護薄膜） 進而，亦可於假黏脫模薄膜14之相反侧之光學膜1之主 面上假黏表面保護薄膜15，以便於直至光學膜用於實用為 止之期間，防止光學膜之損傷等。表面保護薄膜15較佳使 用於由塑膠薄膜構成之基材薄膜之單面上具有可剝離地貼 附之弱剝離性之弱黏著劑層者。 表面保護薄膜之基材薄膜並無特別限定，例如可較佳使 用聚丙烯或聚酯等之雙軸延伸薄膜。關於基材薄膜之厚度0 並無特別限制，較佳為10〜200 μπι左右。 構j用以將表面保護薄膜假黏於光學膜上之弱黏著劑層 的黏著劑並無特別限定’例如亦可使用丙烯酸系、合成橡 膠系、橡膠系中之任一黏著劑。該等中較理想的是易根據 組成而控制黏著力之丙烯酸系黏著劑。黏著劑視需要亦可 適當地使用交聯劑、增黏劑、塑化劑、填充劑、抗氧化 劑、紫外線吸收劑、矽烷偶合劑等。 〈標記之形成> 〇 於構成本發明之捲筒式素材之光學膜上，在瑕痴部位或 喊周邊部位形成有標記21。所謂瑕疲，係指例如里物或 氣泡、或者污潰等、包含本來光學膜本不應含有之外來物 的4刀S痕 '知傷、凹凸缺陷、扭曲、褶皺等之變形 分等、形成將光學膜貼合於光學顯示單元之圖像:置 時其顯示狀態可產生不良的部分。 罝 此種祕例如利用目視進行瑕錄查或使用眾所周知之 147514.doc •10- 201040515
瑕窥檢測裝置等瑕純測機構進行檢測，而於瑕疵部位或 瑕窥周邊部㈣成標記21。所謂㈣耗U寬度方向 及長度方向之座標與光學膜之瑕疵之位置大致相同的部 位。又，所謂瑕症周邊部位，係指為將光學膜貼合於光學 顯示單元而㈣成特定尺寸之單片體時，與瑕_位相同 之單片體所包含之範圍。本發明之捲筒式素材於用於自捲 筒式素材直接抽出光學膜，切割加玉成所需之尺寸，並將 經切割之光學膜貼合於光學顯示單元的製造方法時，瑕疲 部位與標記部位之長度方向之座標之差異宜為伽_以 内’較佳者為±100 mm以内，更佳者為±50 mm以内，特佳 者為士H)麵以内。另一方面，寬度方向之座標之差異並 無特別限制，例如如寬度方向之端部般、自瑕疵部位起向 薄膜寬度方向移動之特定位置處，形成標記便可。 對光學膜之標記可形成於構成光學膜之任一光學層上， 亦可於光學膜製造步驟中之任—階段形成標記。例如，可 藉由瑕疵檢測機構來檢測積層而成為光學膜之前之各光學 層之瑕疵，並於各光學層上形成標記，亦可於積層各光學 層而形成光學膜之後’於光學膜之最表面形成標記。千 又，亦可藉由瑕疵檢測機構來檢測假黏脫模薄膜或表面 保護薄膜前之光學膜m並於脫模薄膜或表面保護薄 膜上形成標記之後進行假黏。該情形時，向脫模薄膜或表 面保護薄膜之標記係以與光學膜之瑕疵之位置相對應的方 式而形成。脫模薄膜或表面保護薄膜係於光學顯示單元貼 合時、或者貼合後會被除去，故作為最終製品之圖像顯示 147514.doc •11 - 201040515 裝置中並不含有之製程構件。因此，若於假黏脫模薄膜或 表面保護薄膜前檢測瑕疵並形成標記，則因製程構件引起 之瑕疵上不會形成標記，故可抑制形成圖像顯示裝置時對 並非顯示缺陷之良品部分亦形成標記之情形，從而可提高 光學膜之良率。 於對假黏脫模薄膜或表面保護薄膜等之製程構件前之光 學膜之瑕疵進行檢測時，標記既可形成於假黏製程構件前 之光學膜上，亦可於瑕疵檢測後假黏製程構件，並於製程 構件上形成標記。進而，亦可於製程構件假黏前之光學膜 之瑕疲檢敎同時、或者㈣檢測後，於與瑕疲檢測位置 相對應的製程構件之部位形成標記。 標記例如可藉由與鋼筆等之標記機構接觸之列印方式、 與嘴墨等之標記機構非接觸之列印方式等各種眾所周知之 方法而形成。X ’於藉由瑕疵檢測機構而檢測出瑕疵之情 料’可藉由警報音或光等發出通知並手動進行標記，亦 可藉由適當之控制機構使瑕錄測機構與標記機構連動， 藉此於瑕疯部位或瑕疲周邊部位自動地形成標記。又 二併用該等。特別是就固定標記之形狀及厚度之觀點而 言’宜於瑕疵部位或瑕疵周邊部位自動地形成標記。’ ::成本發明之捲筒式素材之光學膜中，上述標記21之 面：：厚度為15 _以下。標記之厚度可藉 表面《度計而敎，所謂「標 墁式 中桿圮厪係指標記整體 产’' 部分。又，所謂「標記之中央部之厚 又」’係將通過該標記中央部且與標記長邊方向正交之剖 147514.doc -12- 201040515 面之截面積除以該標記剖面 存本a . 之底邊（與缚膜面之交線）之長 度者。再者，標記之厚度 ,.. 別定方法的詳細内容於下述實 施例中加以說明。 若標§己之厚度過大，於捲縝與 ^ ^ 、捲、兀先予膜而成為捲筒式素材之 情形時’標記部位之變 错由掩繞而轉印至與該標記部位 相接之邛分’藉此產生壓 安纖古 m料之變形、產生新的瑕疯之概 率變间。根據該觀點而言， Ο 摇5己之厚度較佳者為1.2 μιη以 下：更佳者為hO^un以下，特佳者為〇8_以下。 就抑制因標記部位之變形 _ 〜炙轉印而產生之瑕疵的觀點而 、己之中央部之厚度宜為較小，但若過小則存在下述 光予山度變低、標記檢測機構之標記檢測率降低的傾向。 根據該觀點而言，標記 T C心与度且為〇 3 μιη以上，較佳者為 0 · 5 μιη 以上。 標記之厚度可根據用以形成標記之鋼筆或喷墨等之標記 機構之種類、光學膜與作為標記機構之鋼筆之接觸壓（筆 ❹Μ)、自作為標記機構之喷墨喷嘴所喷出之油墨之液滴的 大小及油墨濃度等而進行調整。又，於一面_相_面 形成標記之情形時，亦可藉由變更薄膜之搬送速度而調整 標記之厚度。 ι 進而，於構成本發明之捲筒式素材之光學膜中，標記之 光學密度宜為1.5以上。所謂光學密度，係指使用微小分 光光度計而測定標記部位之吸收光譜時之、吸收峰值波長 之吸光度。即，所言胃「光學密度較高」，係指標記部位： 吸收峰值波長之吸光度較大，若光學密度較高，則存在標 1475I4.doc -J3· 201040515 。己k測機構之標記檢測率 測步驟之薄膜之搬 阿之傾向。就抑制增大標記檢 言，標記之光〜由度時之標記檢測率降低的觀點而 上，進而更佳者7^較佳者為2·0以上，更佳者為2·5以 於光學密度之測定方/上’特佳者為3·5以上。再者，關 明。 去之詳細内容於下述實施例中加以說 所謂標記之每單位 ,,.之先予迸度，係指將光學密度除 以上述標記之厚度而 定笳, 者。如上所述使標記之厚度處於特 疋靶圍以下，但就接古 ^ 4a 钕同先學密度、提高標記檢測率之觀點r 而言，標記之每軍杨恒由 厚度之光學密度宜為較高者。標記之 每單位厚度之光學密碎—, 知°己之 .,L 度且為2.5叫^以上，較佳者為2.8 μηι 以上，更佳者氣q Λ 者為3·〇 μηΓ以上，特佳者為3.2 μητ丨以 標記之每單位厚度之光學密度之觀點而言，宜 採用k且之k 3己機構^作為此種標記機構可列舉各種油 墨專，特別是使用揭伞总奴上 _ 先系數較向者為佳。作為此種吸光係 數較高之油墨，例如可較佳使用吸收光譜之吸收峰值陡 峭、且光譜寬度（半頻高）較小者。 ❹ 此種吸光特性可藉由適當之機構而評估。例如使用市售 之鋼筆來作為標5己機構之情形時，利用該鋼筆於透明薄膜 上劃線’並測定該劃線部分之吸光光譜，藉此可評估吸光 特性。如此若於作為實際製品之光學膜上形成標記之前事 先評估吸光特性，則無須過多的試誤便可形成具有所需光 學密度之標記。 如上所述，於本發明之捲筒式素材中，藉由減小光學膜 147514.doc -14- 201040515 之標記之厚度而防止捲繞光學膜而成為捲筒式素材時之因 轉印而產生壓痕等之瑕蔽，且藉由提高標記之每單位厚度 之光學密度而提高標記檢測機構之檢測率、換言之抑制檢 測遺漏。 標記之吸收波長區域、及吸收峰值波長只要處於標記檢 測機構可感知之範圍内便無特別限制，不僅是可見光區域 (380 nm〜780 nm)，亦可為紫外光區域、或紅外光區域。 爿如’偏光元件吸收可見光區域之光，故包含偏光元件之 光帛膜與透明薄膜之情，存易檢測標記之傾 向，但若標記之吸收波長峰值處於偏光元件之吸光度較小 之波長區域’則可提高標記檢測靈敏度。 另一方面，於標記檢測機構中使用廣泛應用之矽系之檢 波器之情形時，標記之吸收峰值波長宜處於可見光區域。 又，就可目視確認標記之觀點而言，標記之吸收峰值波長 亦宜處於可見光區域。特別是就提高目視之視認性之觀點 Q 而s ’標記之吸收峰值波長宜處於500 nm〜600 nm之範圍 内。500 nm〜600 nm於光之光譜中為深綠〜綠〜黃〜橙，故於 該波長區域具有吸收時’透射光或者反射光成為相當於其 補色即紅〜紫〜藍之光。人之視覺對於黃〜黃綠最為敏感， 故若500〜6〇〇 nm之波長區域之光量較大，故難以藉由目視 而辨別與無標記吸收之周邊部分的差異。相對於此，若該 波長區域具有吸收峰值’則即便吸光度、即光學密度相對 較小時’亦容易地藉由目視而辨別標記之存在。 <捲筒式素材之形成> 147514.doc -15- 201040515 捲繞以此方式而形成標記之光學膜，藉此形成捲筒式素 材。更具體而言，將具有特定直徑之捲芯作為中心而將薄 片製品以特定之張力捲繞，藉此製造捲筒式素材。 上述捲芯之外徑通常為70 mm以上，較佳者為15〇 mm以 上。若該捲芯之外徑過小，則捲芯附近之曲率變大，故存 在產生假黏於光學膜上之脫模薄膜或表面保護薄膜剝離等 問題之情形。另一方面，捲繞後之捲筒式素材之外徑存在 上限，故若捲芯之外徑過大，則可捲繞至捲芯上之薄片製 «口之長度變短。根據該觀點而言，宜以捲繞光學膜後之捲 筒式素材之外徑（捲徑）成為15〇〇 mm以下、較佳者為 mm以下之方式而選擇捲芯之外徑。 捲繞至捲芯上時賦予給光學膜之張力（捲繞張力）宜為 N/m以上，較佳者為1〇〇N/m以上。若張力過小，則存在無 法相對於捲芯而良好地捲繞之情形。另一方面，若捲繞張 力過大，則會因捲繞而於與標記部位相接之部分上轉印標 記之凹凸，由此存在易產生壓痕等之變形之傾向，故捲繞 張力宜為300 N/m以下，較佳者為2〇〇 N/m以下。 進而，本發明之捲筒式素材宜具有與最終製品之尺寸一 致之寬度。所謂最終製品典型的是以液晶顯示裝置為代表 之圖像顯示t置，其藉由將自捲筒式素材所抽出之光學膜 與液晶胞等之圖像顯示單元貼合而形成。通f來說，捲筒 式素材寬於光學顯示單元之尺寸，故為成為與最終製品二 尺寸-致的寬度，而與光學顯示單元之尺寸一致地切割成 特定尺寸。再者，此種特定尺寸之㈣可於光學膜之製造 147514.doc •16- 201040515 步驟中進行’形成切割成上述特定尺寸之捲筒式素材。 又’亦可將寬幅之光學膜暫時作為捲筒式素材而捲繞後， 自寬幅之捲筒式素材"由出光學膜，切割成特定尺寸，直 後再次捲繞至捲芯上而形成切割成特定尺寸的捲筒式^ 材。 、 <圖像顯示裝置之形成> ❹ 〇 本發明之捲筒式素材可較佳用於液晶顯示裝置、有機虹 (Electro luminescence，電致發光）顯示裝置、pDp(pia隨 display panel，電漿顯示面板）等圖像顯示裳置之形成。圖 像顯示裝置之形成可依據以往之方式而進行。例如，若圖 像顯示裝置為液晶顯示裝置，可藉由適當地組裝液晶胞 (相當於光學顯示單元)與光學膜、及視需要之照明系統等 之構成零件並組入驅動電路等而形成。作為液晶胞，例如 可使用TN(Twisted nematic，扭轉向列）型或⑽咖評
Twmed Nematic，超扭轉向列）型、_等任意類型者。進 而，在形成液晶顯示農置時，例如可於適當之位置配置棱 鏡障列板或透鏡陣列板、光擴散板或背光源等之適宜的零 件。 本备月之捲筒式素材係於瑕$部位或瑕⑧周邊部位形成 =記’故圖像顯示裝置之製造宜藉由僅將光學膜之未形成 才示圮之部分貼合於光學顯示單元的方法來進行。 特别是就削減圖像顯示裝置之製造成本、提高良率之觀 接& X進行如下一系列連續步驟：標記檢測步驟，自 缚式素材中抽出光學膜之長條薄片製品，藉由可辨別標 147514.doc 17- 201040515 記有無之檢查機構來進行檢測；切割步驟，使用切割機構 而於光學膜之寬度方向上切割光學膜，將光學膜切割成用 以貼合於光學顯示單元之基板上之尺寸；及貼合步驟，將 切割成用以貼合於光學顯示單元之基板之尺寸的光學膜貼 合至上述基板上。 於此種連續步驟之製造方法中，可以自製品中除去標記 檢測步驟中檢測出標記之部分之方式而進行切割步驟二 者將檢測出標記之部分貼合於光學顯示單元之基板以外藉 此僅使未標記之部分貼合於光學顯示單元。 曰 圖2係表示本發明之圖像顯示裝置之製造步驟之一例的 概念圖。以下一面適當地參照圖式一面依序說明各步驟。 (1)標記檢測步驟
形成有標記之光學膜之捲筒式素材201係以自由旋轉 者以固定之旋轉速度旋轉之方式而設置於與馬達等連動 輥座架3G1上。自捲筒式素材2()1抽出光學膜之薄片製 F1，並將其搬送至下游側。作為搬送裝置，較佳使用具 多個搬送輥逝，且沿由該等搬送輕所形成之搬送路徑 搬达薄片製品F1者。該搬送路徑係自捲筒式素材之抽出』 分起延伸至與光學顯示單元之貼合部分為止。 所抽出之光學膜之薄片製品㈣藉由標記檢測機構3〇3 而檢測標記之有無。作為標記之檢測方法，較佳為對薄片 製品照射光，標記部位之透射光或反射光之強度變小 此可辨別標記之有無。 精 於圖2中’作為標記檢測機構3〇3圖示有如下者：對薄片 147514.doc -18· 201040515 製品F1照射光並檢測其透射光強度，藉此檢測標記。於該 圖示例中，標記檢測機構303包括光源3〇31、相機3〇32、 及相機控制器3033。自光源3031射出之光照射至薄片製品 F1，其透射光入射至相機3032。相機3032包括適當之透 鏡且如CCD(Charge Coupled Device，電荷麵合元件）相 •機般、係可針對每個位置（像素）而檢測入射光之強度之光 學元件。由相機所檢測出之各像素之入射光強度之資訊被 發送至相機控制器3033。相機控制器將相機所檢測出之入 射光強度轉換成特定之灰階（例如黑白8位元=256灰階）之 信號。 光學膜之形成有標記之部分具有特定之光學密度，故可 周邊部分相比’來自光源3〇31之光之透射光強度變小。因 此，標記部位與其周邊部分之透射光強度之灰階不同。相 機控制器3033對透射光強度較低之部分之透射光強度之灰 p白X與其周邊部分之透射光強度之灰階y的差進行運 Q 算，當Y-X大於預先設定之臨限值時，將該透射光強度較 低之邛勿判定為「有標記」。另一方面，當小於臨限 值蛉，判斷透射光強度小於周邊部分係因雜訊而引起，將 •忒部分判定為「無標記」。若將臨限值設定地過高，則標 °己檢測率變小，若臨限值設定地過低則因雜訊引起之誤檢 測（過檢測）有增加之傾向，故亦使臨限值對應光源之光譜 特性及相機之特性等而適當地設定。 進而，相機控制器3033算出判定為「有標記」之部分之 位置座標。再者，所算出之位置座標僅薄片製品之搬送方 147514.doc •19- 201040515 向之座標便可。將該標記之位置座標提供給下述切割步驟 之跳躍切割、或者排除機構，藉此可僅使未形成標記之部 分貼合於光學顯示單元，而形成圖像顯示裝置。 於使用本發明之捲筒式素材之情形時，光學膜之標記部 位具有特定之光學密度，故標記檢測步驟中之標記檢測率 變高、即未檢測出標記之概率變低，故可事先抑制將包含 標S己之光學膜貼合於光學顯示翠元。 (2)切割步驟 於標記檢測步驟中判斷出標記之有無之後，薄片製品fi 於切割步驟中藉由切割機構304而切割成與光學顯示單元 之尺寸一致的特定尺寸。作為切割機構304，例如可列舉 雷射裝置、切割機、及其他眾所周知之切割機構等。此 處，捲筒式素材201若事先切割成與光學顯示單元之尺寸 一致之尺寸之特定寬度、即與光學顯示單元之長邊或短邊 對應的長度，則於切割步驟中僅於搬送方向（薄片製品之 長度方向）上以特定間隔切割，便可將薄片製品切割成與 光學顯示單元之尺寸一致的特定尺寸。 (全切之切割） 於切割步驟中，可採用將構成光學膜之所有光學層完/ 切割（全切）之方法。於制㈣方式之切射，藉 裝置等之適當之固定機構（未圖示）固定搬送而來之薄片i 品F1，藉由切割機構304而將構成光學臈之全體構件沿j 捲筒式素材之捲芯平行的寬度方向進行切割。經切割= 片製品保持被固定機構固定之狀態，而向貼合機構則 147514.doc -20- 201040515 送。 (半切之切割） 又，亦可使部分光學層成為未切割之狀態（半切）。作為 此種半切之切割形態之一例，以如下情形為例進行說明·· ^學膜1如圖】般構成為於偏光元件μ兩面分別㈣㈣ 薄膜⑶、12b，其中-者積層表面保護薄膜15、另一者積 層黏著劍層u及脫模薄膜14。切割機構3〇4不切割脫模薄 Ο 膜“，而是將表面保護薄膜15、偏光元件u及其兩面所積 層之相賴m、i2b、絲著黯13，沿與捲筒式素材 之捲芯平行的寬度方向而進行切割。如此’不切割並未貼 合於光學顯示單元之製程構件即脫模薄膜，藉此由於搬送 ^置之搬送張力經由脫模薄膜14而傳遞至切割後之薄片製 -故切割後亦可藉由搬送張力而將薄片製品搬送至貼合 機構305。 (跳躍切割方式） Ο λ χ自製0口中除去標記檢測步驟中檢測出標記之 部^之方式而進行切割步驟時，將藉由標記檢測機構所得 之‘5己之位置座標提供給切割步驟，並根據該座標資訊而 以避開標記部位的方式進行切割步驟（跳躍切割）。即，包 5瑕疲部分之切割品作為不良品而於後步财被排除機構 1除。藉此，光學膜之良率可大幅度地提高。構成為包含 “記部位之薄片製品F1係藉由排除機構(未圖示)而排除， 而不會貼附於光學顯示單元w。 方面亦'可不進行如上所述之跳躍切割，忽略標記 147514.doc 21 201040515 之存在而連續地將薄片製品F丨切割成特定尺寸。該情形 時^構成為於下述貼合步驟中不將該部分貼合於光學顯 示單元w而是除去。 (3)貼合步驟 於切割步驟中被切割成蚊尺寸之薄片製品F1在貼合步 驟中藉由貼合機構3〇5，經由黏著劑層而與光學顯示單元 貼合。於薄片製品F1上假黏脫模薄膜之情形時，事先除去 脫模薄膜、或者一面除去一面進行貼合。於上述切割步驟 :採用全切方式之情形時，可藉由以自膠帶輥抽出膠帶，η y面利用輥壓住-面將膠帶黏貼於脫模薄膜上以剝離脫模 薄膜之方式捲取膠帶的方法等’而除去脫模薄膜。又，於 上述切割步驟中採用半切方式之情形時，可藉由一面將未 切割之光學層（例如脫模薄膜刚適t的捲取機構而捲取 成輥狀-面剝離脫模薄膜的方法等，而除去脫模薄膜。再 者，剝離薄膜之剝離可手動進行，亦可使用眾所周知之脫 =薄臈剝離裝置。將薄片製品F1貼合於光學顯示單元可較 Λ用士下方法.例如藉由如按壓輥或導引輥之1個或複◎ 數個輥之按壓’而將薄片製品F1壓接於光學顯示單元面上 並貼合。 -包含標記部位之薄片製品例如貼合於虛設板單元（未圖 :)、或者捲取至適當之輥上’藉此可不貼合於光學顯 早兀而加以除去。又’於採用半切方式之情形時，亦可於 維持貼合在未切割之光學層（例如脫模薄膜）上之狀態下，、 藉由用以捲取該光學層的捲取機構來進行捲取。 i475l4.doc •22- 201040515 根據如上所述之步驟，無須操作 寸之㈣’可提高生產效率。；：切割成特-尺 1=:像顯示裝置之製造，由光學膜製造廠家: 元之貼人進㈣偏光板之定尺”及向光學顯示單 工及二Γ:無需光學膜製造廠家之偏光板之端面加 及’…塵U、輸送捆包、或者面板加工廠家之拥包解 體’故可有助於成本降低及良率提高。 實施例
但本發明並不限定於 以下，列舉實施例來說明本發明 下述實施例。 [光學臈] 使用捲繞如下光學膜之捲筒式素材：於包含填染色之聚 乙烯醇系薄膜之偏光it件之兩面上積層有作為偏光元件保 護薄膜之透明薄膜的偏光板之其中一偏光元件保護薄膜表 面上設有丙晞酸系之黏著劑層，且於該黏著劑層上假黏包 含利用聚矽氧系剥離劑而經塗佈處理之聚對苯二甲酸乙二 酯薄膜的分割件而成者（曰東電工公司製商品名「NPF VEG1724DU」）。 [標記之形成] 於光學膜之未設有黏著劑層之側之偏光元件保護薄膜的 表面上’使用圖3所示之標記機構403而形成長度20 mm之 標記。於圖3中’自未實施標記之光學膜之捲筒式素材401 中使用夾持驅動之輥對402而以10 m/分之搬送速度抽出光 學膜，並導引光學膜之黏著層側通過以200 mm之間隔而設 147514.doc -23- 201040515 置的支撐輥403a及403b上。標記機構403包括藉由祠服馬 達而驅動之致動器4031，且於致動器4031之前端之固持器 4032上設置有鋼筆4033。藉由致動器之動作，鋼筆4〇33上 下移動’形成標記時，於較光學膜之保護薄膜表面之高度 低5 mm之高度處筆尖以6〇。之角度觸碰的方式將鋼筆4〇33 向下方移動。 (比較例1) 於圖3之標記機構中，作為鋼筆4〇33係使用pil〇t公司製 之黑色油性鋼筆（商品名「VSuper Color」），而形成寬度5 mmx長度20 mm之標記。將該標記設為「標記A」。 (比較例2) 於圖3之標記機構中，作為鋼筆4〇33係使用 司製之黑色油性鋼筆（商品名r潤芯」），而形成寬度5 mmx長度20 mm之標記。將該標記設為「標記B」。 (比較例3) 於圖3之標記機構中’作為鋼筆4〇33係使用北狀…以匕公 司製之黑色油性鋼筆（商品名「潤芯」），而形成寬度5 mmx長度20 mm之標記。然而，比較例3中係使用以將鋼筆 之筆蓋開放之狀.4於室溫（22°C )下放置48小時後之鋼筆。 將該標記設為「標記C」。 (實施例1) 標記D」。 於圖3之標s己機構中’作為鋼筆4033係使用staedtler公司 製之黑色油性鋼筆（商品名「Rum〇 c〇1〇r」），而形成寬度5 mmx長度20 mm之標記。將該標記設為 147514.doc -24- 201040515 [標記之厚度之測定] 自藉由實施例及比較例而形成有標記之光學膜中剝離分 割件，使用手壓輥經由預先設置於光學膜上之丙烯酸系黏 著劑層而將光學膜貼附至50 mmx 100 mm大小之載波片 " (MATSUNAMI公司製）上，使用光干擾式表面粗糙度計 * (vecco公司製產品名「WYKO N0800」而於下述條件下 測定表面形狀。 •基準線設定：設定於光學膜之測定裝置側表面上 ^ · Back Scan ： 30 μπι • Scan Length * 40 μπι • Modulation threshold ·' 0.1% • Sthitching : X=25 mm、Y=8 mm 根據所得之表面形狀資料，求出通過標記長邊方向之中 點且與標記長邊方向正交之剖面的面積，並將該截面積除 以剖面之底邊之長度而得者作為標記中央部之厚度。 [光學密度之測定] ❹ 使用遮蔽膠帶（曰東電工公司製型號「No.7235」），將 實施例及比較例中所得之形成有標記之光學膜貼附於50 • mmxlOO mm大小之載波片（MATSUNAMI公司製）上，使用 微小分光光度計（Lambda Vision公司製產品名「LVmicro」） ，於下述條件下測定標記之中央部之微小區域的吸收光 譜，並將吸光度之峰值作為光學密度。 •光源：iS氛光源 •針孔尺寸：100 μπι彡 1475H.doc -25· 201040515 •感測器：Multidetetor •測量模式：穿透率測定模式 關於實施例及比較例之光學膜，表1表示標記中央部之 厚度、光學密度、及每單位厚度之光學密度（將光學密度 除以標記中央部之厚度而得者）。 [表1] 標記厚度(μιη) 光學密度 每單位厚度之光學密度(μπΓ1) 比較例1 2.1 7.6 3.6 比較例2 1.6 3.0 1.9 比較例3 0.8 1.4 1.8 實施例1 0.7 2.5 3.5 [捲筒式素材荷重之評估] 於捲繞有光學膜之捲筒式素材中，評估施加於光學膜之 荷重。將與上述實施例及比較例所使用者相同之光學膜 (日東電工公司製商品名「NPF VEG1724DU」）之長條素材 (長度約1000 m)，一面賦予200 N/m之張力一面於長度方 向上搬送，捲繞於外徑1 52 mm之捲芯上。棬繞時，自開始 捲繞起約10 m、約300 m、約600 m、約900 m之時點’插 入50 mmxlOO mm之PRESCALE(富士薄膜公司製超低壓 (0.5〜2·5 MPa)用）。捲筒式素材形成後，藉由專用之掃描 器（富士薄膜公司製產品名「FPD9210」）來評估PRESCALE 之色調變化，測定施加於PRESCALE上之荷重。表2表示 自薄膜開始捲繞起之地點與荷重之關係。 147514.doc -26- 201040515 [表2] 捲繞長度(m) 荷重(Mpa) 10 2.5 300 1.7 600 1.1 900 0.4 根據該結果’可知於長度1000爪左右之捲筒式素材中， 即便在靠近捲芯之部分之施加有荷重3 MPa之狀態下，亦 要求因標記之轉印而引起壓痕等之瑕疵之產生率較小。 [壓痕產生率之評估] 如圖4所示，於透明薄膜12al上形成有標記之光學膜“ 之上疊合未形成標記的光學膜lb，且自光學膜11}側施加特 定之荷重F而加載重量，於此狀態下以常溫靜置48小時。 其後，藉由目視而觀察光學膜lb之與標記21側相接之脫模 薄膜1仆側表面，確認壓痕不良之有無。與實施例及比較 例同樣地製作形成有標記A〜D之光學膜，針對荷重〇 $ MPa、1·0 MPa、2·0 MPa、3.0 MPa 此 4 個水準之各個，以 同樣之方式對各10點之樣品確認壓痕不良之有無，並評估 因荷重引起之壓痕產生率。表3表示結果。 [表3] 荷重(MPa) 0.5 1.0 2.0 1 3.0 比較例1 50% 90% 100% 100% 比較例2 10% 30% 40% 60% 比較例3 0% 0% 0% —――---- 10% 實施例1 0% 0% 0% 10%— 147514.doc -27- 201040515 [標記檢測率之評估] (捲筒式素材） 使用捲繞長條之薄片製品之捲筒式素材，其具有與實施 例及比較例中使用者相同之積層構造，該長條之薄片製品 係於寬度400 mm、長度約2〇〇111的光學臈（日東電工公司製 商品名「NPF VEG1724DU」）之偏光板之未設有黏著劑層 之側的偏光元件保護薄膜表面之隨機位置處，預先將標記 A、標記B、標記C、標記D分別列印2〇個而成者。 (標記檢測裝置） 圖5表示標記檢測評估中使用之標記檢測評估裝置之構 成之概略。將捲筒式素材設置於第i輥座架3〇1&上，薄片 製品F1架設於第1輥座架3〇la與第2輥座架3〇2a之間。於搬 送路徑之中途設有標記檢測機構3〇3，藉此檢測標記。標 記檢測機構303將自光源303 1 (電通產業公司製產品名 「FL48/800W85-DF」）射出之光照射至薄片製品F1，其透 射光經由透鏡（KEYENCE公司製產品名「Ca-LH8」）而入 射至相機3032(KEYENCE公司製產品名「CV-2000M」）。 藉由相機而檢測出之入射光強度之資訊發送至相機控制器 3033(KEYENCE公司製產品名「CV-2000」）。相機控制 器將由相機所檢測之入射光強度轉換成黑白256灰階。然 後，對透射光強度較低之部分之灰階X與其周邊部分之灰 階Y之差Y-X進行運算，當γ-χ大於預設之臨限值（1〇〇) 時’將該透射光強度較低之部分判定為「有標記」。 (標記檢測評估） 147514.doc -28- 201040515 自捲筒式素材20 la中將薄片製品F1從第1輥座架301a側 起向第2輥座架30 lb側以搬送速度1.0 m/分而搬送，並於搬 送中藉由標記檢測機構來進行標記檢測。將光學膜全部捲 取至第2輥座架302a之後’此次將光學膜從第2輥座架3〇lb 側向第2輥座架301a側以搬送速度3.0 m/分而搬送，並於搬 ' 送中藉由標記檢測機構來進行標記檢測。其後，將搬送速 度設為5.0 m/分、10.0 m/分而進行同樣的檢測評估。表4 表示各搬送速度下之標記檢測率。 〇 [表 4] 搬送速度(m/分） 1.0 3.0 5.0 10.0 比較例1 100% 100% 100% 100% 比較例2 100% 100% 100% 100% 比較例3 100% 95% 90% 70% 實施例1 100% 100% 100% 100% 根據以上之實施例及比較例可明瞭，如比較例1、比較 例2般標記之厚度較大時，施加於光學膜上之荷重變大、 即越靠近捲筒式素材之捲芯側，因標記之轉印而引起之壓 痕產生率越高。又，當標記之厚度較小時，壓痕產生率較 小’但光學密度變小故存在如比較例3般、標記檢測率變 小之傾向。相對於此，實施例1之光學膜雖標記之厚度小 於比較例1 ’但由於標記之光學雄、度較大’故表現出與標 記之厚度較大之比較例2相同之標記檢測率。 【圖式簡單說明】 圖1係表示光學膜之積層形態之例之概略剖面圖。 147514.doc -29- 201040515 圖2係用以說明圖像顯示裝置之製造步驟之一實施形態 之概念圖。 圖3係用以說明實施例之標記方法及標記機構之構成的 概念圖。 圖4係用以說明評估實施例之壓痕產生率時之光學膜之 積層形態的概略剖面圖。 圖5係用以說明用於評估實施例之標記檢測率之標記檢 測s平估裝置之構成的概念圖。 【主要元件符號說明】 1 光學膜 11 偏光元件 12a 透明薄膜 12b 透明薄膜 13 黏著劑層 14 脫模薄膜 15 表面保護薄臈 21 標記 201 捲筒式素材 301 輥座架 302 搬送輥 303 標記檢測機構 304 切割機構 305 貼合機構 3031 光源 147514.doc 201040515 3032 相機 3033 相機控制器 F1 薄片製品 W 光學顯示單元 Ο 〇 147514.doc 31 ·