TWI588024B - 貼合設備及應用其之貼合方法 - Google Patents

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貼合設備及應用其之貼合方法
本發明是有關於一種貼合設備及應用其之貼合方法,且特別是有關於一種可判斷異常點的貼合設備及應用其之貼合方法。
偏光板包含偏光膜及黏膠。然而,黏膠及/或偏光膜可能具有異物,此異物會影響偏光板的光學特性。因此,亟需提出一種可檢測出黏膠及/或偏光膜的異物的貼合技術。
因此,本發明提出一種貼合設備及應用其之貼合方法,可檢測出黏膠及/或偏光膜的異物。
根據本發明之一實施例,提出一種貼合方法。貼合方法包括以下步驟。塗佈一黏膠於一離型膜上,以形成一離型貼膜;判斷離型貼膜是否具有一第一異常點;貼合第一偏光膜與離型貼膜,以形成一偏光板;判斷偏光板是否具有一第二異常點;若離型貼膜具有第一異常點且偏光板具有第二異常點,判斷第一異常點於離型貼膜的一第一相對位置是否與第二異常點於偏光 板的一第二相對位置相似;若第一相對位置與第二相對位置相似,判斷第二異常點的形狀與第一異常點的形狀是否相似;以及,若第二異常點的形狀與第一異常點的形狀相似,於偏光板標記一不合格記號。
根據本發明之另一實施例,提出一種貼合設備。貼合設備包括一塗佈器、一輸送機構、一處理單元及一標記器。塗佈器,用以塗佈一黏膠於一離型膜上,使黏膠與離型膜形成一離型貼膜。輸送機構,用以貼合一第一偏光膜與離型貼膜,使第一偏光膜與離型貼膜形成一偏光板。處理單元用以操作在:判斷離型貼膜是否具有一第一異常點;判斷偏光板是否具有一第二異常點;及,若離型貼膜具有第一異常點、偏光板具有第二異常點且第一異常點於離型貼膜的一第一相對位置與第二異常點於偏光板的一第二相對位置相似,判斷第二異常點的形狀與第一異常點的形狀是否相似。標記器用以操作在:若第二異常點的形狀與第一異常點的形狀相似,於偏光板標記一不合格記號。
根據本發明之另一實施例,提出一種貼合設備。貼合設備包括一塗佈器、一輸送機構、一第一攝像器、一第二攝像器、一處理單元及一標記器。塗佈器用以塗佈一黏膠於一離型膜上,使黏膠與離型膜形成一離型貼膜。輸送機構用以貼合一第一偏光膜與離型貼膜,使第一偏光膜與離型貼膜形成一偏光板。第一攝像器位於塗佈器與貼合偏光板之處之間,且用以擷取離型貼膜的一第一影像。第二攝像器位於貼合偏光板之處之後,且用以 擷取偏光板的一第二影像。處理單元用以操作在:透過第一影像判斷離型貼膜是否具有一第一異常點;透過第二影像判斷偏光板是否具有一第二異常點;及若離型貼膜具有第一異常點、偏光板具有第二異常點且第一異常點於離型貼膜的一第一相對位置與第二異常點於偏光板的一第二相對位置相似,判斷第二異常點的形狀與第一異常點的形狀是否相似。標記器用以操作在:若第二異常點的形狀與第一異常點的形狀相似,於偏光板標記一不合格記號。
為了對本發明之上述及其他方面有更佳的瞭解,下文特舉較佳實施例,並配合所附圖式,作詳細說明如下:
10‧‧‧離型貼膜
11‧‧‧離型膜
12‧‧‧黏膠
20‧‧‧第一偏光膜
20’‧‧‧第二偏光膜
21‧‧‧第一保護層
22‧‧‧第二保護層
23‧‧‧偏光子
24‧‧‧第三保護層
30‧‧‧偏光板
100‧‧‧貼合設備
110‧‧‧輸送機構
111‧‧‧第一傳動輪
112‧‧‧貼合輪組
113‧‧‧第二傳動輪
120‧‧‧塗佈器
130‧‧‧第一攝像器
140‧‧‧第二攝像器
150‧‧‧處理單元
160‧‧‧標記器
A1‧‧‧第一影像
A2‧‧‧第二影像
M1‧‧‧不合格記號
R1‧‧‧第一區域
R2‧‧‧第二區域
R3‧‧‧第三區域
S1、S11、S12‧‧‧第一異常點
S2、S21、S22‧‧‧第二異常點
S3‧‧‧第三異常點
S110至S180‧‧‧步驟
第1圖繪示依照本發明一實施例之貼合設備的示意圖。
第2圖繪示第1圖之貼合設備的貼合過程流程圖。
第3圖繪示第1圖的第一攝像器所擷取之第一影像與第二攝像器所擷取之第二影像的示意圖。
第4圖繪示第1圖之標記器於偏光板標記不合格記號的示意圖。
第5圖繪示依照本發明另一實施例之第一影像與第二影像的示意圖。
第6圖繪示第1圖之貼合設備的另一種貼合過程流程圖。
第7圖繪示依照本發明另一實施例之第一影像與第二影像的示意圖。
第1圖繪示依照本發明一實施例之貼合設備100的示意 圖。貼合設備100包括輸送機構110、塗佈器120、第一攝像器130、第二攝像器140、處理單元150及標記器160。
輸送機構110用以傳輸離型膜11及第一偏光膜20,且用以貼合離型膜11及第一偏光膜20。例如,輸送機構110包括數個第一傳動輪111、貼合輪組112、第二傳動輪113及第四傳動輪114。第一傳動輪111用以傳輸離型膜11,第二傳動輪113用以傳輸第一偏光膜20,貼合輪組112用以貼合離型膜11與第一偏光膜20,而第四傳動輪114用以收合貼合後的離型膜11與第一偏光膜20。
塗佈器120與貼合輪組112之間定義一第一區域R1,貼合輪組112與傳動輪113之間定義一第二區域R2,而貼合輪組112與第四傳動輪114之間的區域定義一第三區域R3。第一攝像器130可設於第一區域R1,第一偏光膜20傳輸於第二區域R2,第二攝像器140及標記器160可設於第三區域R3,其中標記器160比第二攝像器140靠近第四傳動輪114。第一攝像器130及/或第二攝像器140例如是照相機、攝影機或電荷耦合元件(charge-coupled device,CCD),但不以此為限。處理單元150電連接第一攝像器130及第二攝像器140,以接收並分析第一攝像器130及第二攝像器140所擷取的影像。
第2圖繪示第1圖之貼合設備100的貼合過程流程圖。
在步驟S110中,塗佈器120可塗佈一黏膠12於離 型膜11上,使黏膠12與離型膜11共同形成一離型貼膜10。
離型膜11可例如為聚乙烯、聚丙烯、聚對苯二甲酸乙二酯等合成樹脂薄膜,或橡膠片、紙、布、不織布、網狀物、發泡片、金屬箔等層積體。
黏膠12可為感壓黏著劑,其材料可包含例如是(甲基)丙烯酸酯、一交聯劑或其它合適材料,其中(甲基)丙烯酸酯例如是(甲基)丙烯酸甲酯、(甲基)丙烯酸乙酯、(甲基)丙烯酸丁酯或(甲基)丙烯酸-2-乙基己酯等,而交聯劑例如為環氧系交聯劑、異氰酸酯系交聯劑或亞胺系交聯劑等。在一實施例中,黏膠12更可包含其他添加劑,例如為矽烷偶合劑、抗靜電劑及/或光聚合起始劑等。
在步驟S120中,處理單元150判斷離型貼膜10是否具有第一異常點S1。舉例來說,請參照第3圖,其繪示第1圖的第一攝像器130所擷取之第一影像A1與第二攝像器140所擷取之第二影像A2的示意圖。第一攝像器130於第一區域R1擷取離型貼膜10的第一影像A1;接著,處理單元150透過第一影像A1判斷離型貼膜10是否具有第一異常點S1。本實施例中,第一影像A1具有異常點S11及S12,其可能為黏膠12或離型膜11的異常點。
在步驟S130中,輸送機構110的貼合輪組112可貼合第一偏光膜20與離型貼膜10,使第一偏光膜20與離型貼膜10形成一偏光板30。如第1圖所示,第一偏光膜20包括第一保 護層21、第二保護層22、偏光子23及第三保護層24。偏光子23形成於第二保護層22與第三保護層24之間,第一保護層21朝下,第三保護層24朝上。另一實施例中,第一偏光膜20亦可省略第一保護層21。承上所述,藉由貼合輪組112可使第三保護層24經由黏膠12與離型膜11貼合,而形成一偏光板30。
第一保護層21、第二保護層22及/或第三保護層24的材料例如是三乙醯纖維素等纖維素樹脂、聚酯樹脂、聚醚碸樹脂、聚碸樹脂、聚碳酸酯樹脂、聚醯胺樹脂、聚醯亞胺樹脂、聚烯烴樹脂、(甲基)丙烯酸系樹脂、環狀聚烯烴樹脂(降烯系樹脂)、聚芳酯樹脂、聚苯乙烯樹脂、聚乙烯醇樹脂、聚對苯二甲酸乙二酯(PET)層或其組合。在一實施例中,第一保護層21、第二保護層22及/或第三保護層24可以是單層結構,或多層結構。
在步驟S140中,處理單元150判斷偏光板30是否具有第二異常點S2。舉例來說,第二攝像器140擷取偏光板30的第二影像A2(如第3圖所示),其中第二影像A2(偏光板30的區域)與第一影像A1(離型貼模10的對應區域)相對應,如重疊;接著,處理單元150透過第二影像A2判斷偏光板30是否具有第二異常點S2。以本實施例來說,第3圖所示的第二影像A2具有異常點S21及S22。
本實施例中,如第1圖所示,貼合設備100更包括一第二偏光膜20’,第二攝像器140可透過第二偏光膜20’擷取偏光板30的第二影像A2。舉例來說,第二偏光膜20’相對偏光板 30設置,例如,第二偏光膜20’設於偏光板30與第二攝像器140之間,第二攝像器140可透過第二偏光膜20’擷取偏光板30的第二影像A2。第二偏光膜20’的結構與第一偏光膜20的結構類似,容此不再贅述。第二偏光膜20’與第一偏光膜20以吸收軸相差90的方位配置,使偏光板30的異常點可以從第二影像A2顯示出來。
在步驟S150中,若離型貼膜10具有第一異常點S1且偏光板30具有第二異常點S2,處理單元150判斷第一異常點S1於離型貼膜10的一第一相對位置與第二異常點S2於偏光板30的一第二相對位置是否相似;若是,進入步驟S160。此外,若第一偏光膜20不具異物,則第一影像A1的第一異常點S1的位置與第二影像A2的第二異常點S2的位置大致上相對應,然本發明實施例不受此限。
另一實施例中,若離型貼膜10不具有第一異常點S1,但偏光板30具有其它異常點,表示離型貼膜10不具有異物但第一偏光膜20具有異物,偏光板30仍屬於不良品,接下來可進入步驟S170。再一實施例中,若離型貼膜10不具有第一異常點S1且偏光板30也不具有其它異常點,表示離型貼膜10及第一偏光膜20皆不具異物,可進入步驟S180。
以本實施例來說,第3圖之第一影像A1的全部的第一異常點S1於離型貼膜10的第一相對位置與第二影像A2的全部第二異常點S2於偏光板30的第二相對位置相似,表示第二影像A2的第二異常點S2全部是黏膠11或離型膜11的異物,而 第一偏光膜20本身無異物。透過後續步驟S160可判斷第二異常點S2到底是黏膠11或離型膜11的異物。
在步驟S160中,若第一相對位置與第二相對位置相似,處理單元150判斷第二異常點的形狀與第一異常點的形狀是否相似;若是,進入步驟S170;若否,進入步驟S180。
舉例來說,如第3圖所示,第一異常點S11與對應的第二異常點S21的形狀不相似,表示第一異常點S11(或第二異常點S21)是離型膜11的異物(離型膜11的異物在貼合輪組112的加壓後會變形,如變形成第3圖之第二異常點S21的形狀)。本實施例中,第二異常點S21例如是星形,而第一異常點S11例如點狀。如第3圖所示,另一第一異常點S12與對應的第二異常點S22的形狀相似,表示第一異常點S12(或第二異常點S22)是黏膠12的異物(黏膠12的異物在貼合輪組112的加壓後不會變形)。
在步驟S170中,請參照第4圖所示,其繪示第1圖之標記器160於偏光板30標記不合格記號M1的示意圖。由於第一異常點S12(或第二異常點S22)是黏膠12的異物,因此標記器160於偏光板30標記不合格記號M1;例如,標記器160於鄰近第二異常點S22之相對二側分別標記二不合格記號M1。
另一實施例中,不合格記號M1可以標記於偏光板30的任何一區域。另一實施例中,單一異常點須標註之不合格記號M1的數量可視產品或異常點之狀態來調整,而不受限於上述兩個不合格記號M1。以幾何形態來說,不合格記號M1可以是直 線、曲線或其組合;或者,不合格記號M1可以是文字、圖形、字母或符號等型態。只要是可以表示偏光板30的黏膠12具有異常點及/或黏膠12的第二異常點的位置,本發明實施例不限定不合格記號M1的幾何型態、數量及/或位置。
在步驟S180中,第二異常點S21的形狀與第一異常點S11的形狀不相似,表示第一異常點S11為離型膜11的異物。由於離型膜11於最終產品(如顯示面板、觸控面版或觸控顯示面板)會被移除而不會留在最終產品上,因此其異物並不影響最終產品的品質,所以標記器160可不針對第二異常點S21標記任何不合格記號M1。如第4圖所示,偏光板30的第二異常點S21的周圍並無不合格記號M1。
第5圖繪示依照本發明另一實施例之第一影像A1與第二影像A2的示意圖。本實施例中,全部的第一異常點S1與全部的第二異常點S2的相對位置相似且各第一異常點S1與對應的第二異常點S2的形狀都不相似,表示全部的第二異常點為離型膜11的異物,因此可不標記任何不合格記號M1於偏光板30。
第6圖繪示第1圖之貼合設備100的另一種貼合過程流程圖。
在步驟S245中,處理單元150更判斷偏光板30是否具有第三異常點S3。例如,處理單元150透過第二影像A2判斷偏光板30是否具有第三異常點S3。請參照第7圖,其繪示依照本發明另一實施例之第一影像A1與第二影像A2的示意圖。相 較於第3圖的第二影像A2,第7圖之第二影像A2除了第二異常點外,更包括第三異常點S3且第三異常點S3於偏光板30的一第三相對位置與第一相對位置不相似,表示第一偏光膜20具有異物(第三異常點S3是第一偏光膜20的異物),屬於不良品。
由於第二影像A2包含第三異常點S3(表示第一偏光膜20是不良品),因此進入步驟S170,於偏光板30上標記不合格記號M1。例如,標記器160於偏光板30上之第三異常點S3的鄰近處或其它區域標記上述的不合格記號M1。
另一實施例中,不合格記號M1可以標記於偏光板30的任何一區域。另一實施例中,單一異常點須標註之不合格記號M1的數量可視產品或異常點之狀態來調整,而不以上述之兩個來限制。以幾何形態來說,不合格記號M1可以是直線、曲線或其組合;或者,不合格記號M1可以是文字、圖形、字母或符號等型態。只要是可以表示第一偏光膜20的第三異常點的位置,本發明實施例不限定不合格記號M1的幾何型態、數量及/或位置。
第6圖的貼合過程的其它步驟類似第2圖的貼合過程的對應步驟,容此不再贅述。
綜上可知,為了使離型膜黏貼於偏光板上,離型膜通常會塗佈一黏膠,而形成一離型貼膜。在後續偏光板與一面板的貼合製程中,須撕除離型膜以露出黏膠,這樣面板才能黏合於黏膠上。也就是說,偏光板與面板貼合後,離型膜是不存在的,因此離型膜的缺陷並不影響最終產品的品質。透過本發明實施例 之方法,可判斷偏光板的異物是離型膜、黏膠與偏光膜何者的異物,藉以增加偏光板的良率且/或減少偏光板的報廢率。
在上述檢測黏膠及/或偏光膜的異物的過程中,若第一異常點的數量與第二異常點的數量相等且相對位置相似,則可依據第一異常點與第二異常點的形狀差異判斷離型膜是否具有異物。若至少一第二異常點的形狀與對應位置的第一異常點的形狀相似,表示黏膠具有異物,偏光板屬於不良品;若各第二異常點的形狀與對應位置的第一異常點的形狀相異,表示只有離型膜具有異物且黏膠及第一偏光膜皆不具異物,偏光板屬於合格品。此外,若第二影像除了具有第二異常點外還具有第三異常點,表示第一偏光膜具有異物,偏光板同樣屬於不良品。
綜上所述,雖然本發明已以較佳實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明。本發明所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作各種之更動與潤飾。因此,本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
S110至S180‧‧‧步驟

Claims (12)

  1. 一種貼合方法,包括:塗佈一黏膠於一離型膜上,以形成一離型貼膜;判斷該離型貼膜是否具有一第一異常點;貼合一第一偏光膜與該離型貼膜,以形成一偏光板;判斷該偏光板是否具有一第二異常點;若該離型貼膜具有該第一異常點且該偏光板具有該第二異常點,判斷該第一異常點於該離型貼膜的一第一相對位置是否與該第二異常點於該偏光板的一第二相對位置相似;若該第一相對位置與該第二相對位置相似,判斷該第二異常點的形狀與該第一異常點的形狀是否相似;以及若該第二異常點的形狀與該第一異常點的形狀相似,於該偏光板標記一不合格記號。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之貼合方法,更包括:若該第二異常點的形狀與該第一異常點的形狀不相似,不於該偏光板標記該不合格記號。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之貼合方法,更包括:判斷該偏光板是否更具有一第三異常點,其中該第三異常點於該偏光板的一第三相對位置與該第一相對位置不相似;以及若該偏光板具有該第三異常點,於該偏光板標記該不合格記 號。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之貼合方法,更包括:擷取該離型貼膜的一第一影像;其中,於判斷該離型貼膜是否具有該第一異常點之步驟包括:透過該第一影像判斷該離型貼膜是否具有該第一異常點;擷取該偏光板的一第二影像;其中,於判斷該偏光板是否具有該第二異常點之步驟包括:透過該第二影像判斷該偏光板是否具有該第二異常點。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之貼合方法,更包括:提供一第二偏光膜相對該偏光板設置;以及透過該第二偏光膜擷取該偏光板的一第二影像;其中,於判斷該偏光板是否具有該第二異常點之步驟包括:藉由該第二影像判斷該偏光板是否具有該第二異常點。
  6. 一種貼合設備,包括:一塗佈器,用以塗佈一黏膠於一離型膜上,使該黏膠與該離型膜形成一離型貼膜;一輸送機構,用以貼合一第一偏光膜與該離型貼膜,使該第一偏光膜與該離型貼膜形成一偏光板;一處理單元,用以操作在: 判斷該離型貼膜是否具有一第一異常點;判斷該偏光板是否具有一第二異常點;及若該離型貼膜具有該第一異常點、該偏光板具有該第二異常點且該第一異常點於該離型貼膜的一第一相對位置與該第二異常點於該偏光板的一第二相對位置相似,判斷該第二異常點的形狀與該第一異常點的形狀是否相似;一標記器,用以操作在:若該第二異常點的形狀與該第一異常點的形狀相似,於該偏光板標記一不合格記號。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之貼合設備,其中該標記器更用以操作在:若該第二異常點的形狀與該第一異常點的形狀不相似,不於該偏光板標記該不合格記號。
  8. 如申請專利範圍第6項所述之貼合設備,其中該處理單元更用以操作在:判斷該偏光板是否具有一第三異常點,其中該第三異常點於該偏光板的一第三相對位置與該第一相對位置不相似;以及其中該標記器更用以操作在:若該偏光板具有該第三異常點,於該偏光板標記該不合格記號。
  9. 如申請專利範圍第6項所述之貼合設備,更包括:一第一攝像器,用以擷取該離型貼膜的一第一影像;其中,該處理單元更用以操作在:透過該第一影像判斷該離型貼膜是否具有該第一異常點;一第二攝像器,用以擷取該偏光板的一第二影像;其中,該處理單元更用以操作在:透過該第二影像判斷該偏光板是否具有該第二異常點。
  10. 如申請專利範圍第6項所述之貼合設備,更包括:一第二偏光膜,相對該偏光板設置;以及一第二攝像器,透過該第二偏光膜擷取該偏光板的一第二影像;其中,該處理單元更用以操作在:透過該第二影像判斷該偏光板是否具有該第二異常點。
  11. 一種貼合設備,包括:一塗佈器,用以塗佈一黏膠於一離型膜上,使該黏膠與該離型膜形成一離型貼膜;一輸送機構,用以貼合一第一偏光膜與該離型貼膜,使該第一偏光膜與該離型貼膜形成一偏光板;一第一攝像器,位於該塗佈器與貼合該偏光板之處之間,且 用以擷取該離型貼膜的一第一影像;一第二攝像器,位於貼合該偏光板之處之後,且用以擷取該偏光板的一第二影像;一處理單元,用以操作在:透過該第一影像判斷該離型貼膜是否具有一第一異常點;透過該第二影像判斷該偏光板是否具有一第二異常點;及若該離型貼膜具有該第一異常點、該偏光板具有該第二異常點且該第一異常點於該離型貼膜的一第一相對位置與該第二異常點於該偏光板的一第二相對位置相似,判斷該第二異常點的形狀與該第一異常點的形狀是否相似;一標記器,用以操作在:若該第二異常點的形狀與該第一異常點的形狀相似,於該偏光板標記一不合格記號。
  12. 如申請專利範圍第11項所述之貼合設備,其中該標記器更用以操作在:若該第二異常點的形狀與該第一異常點的位置不相似,不於該偏光板標記該不合格記號。
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