TW588381B - Method for controlling column decoder enable timing in synchronous semiconductor device and apparatus thereof - Google Patents

Method for controlling column decoder enable timing in synchronous semiconductor device and apparatus thereof Download PDF

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Description

588381 玖、發明說明: 發明所屬之技術領域 本發明關於半導體記憶體裝置,及尤其,關於用於如果 在一資料寫入指令信號及一資料讀取指令信號之間具有一 間隙,增加一最大操作頻率之一方法及一裝置。 先前技術 圖1係一習知DRAM之概略資料輸入及輸出電路1 0。圖1 之輸入及輸出電路10包含位元線BLO、/BLO( “厂指示一 啟動低)、BL2及/BL2、記憶體細胞MC連接字元線WL_A& WL·—B之交叉點、感測放大器S/A、資料輸入及輸出線10及 /10、用於等化資料輸入及輸出線10及/10之等化電路10 EQ、一資料輸入緩衝器1,及一資料輸出緩衝器3。等化電 路10 EQ係響應於一控制信號pEQ啟動。 圖2係一習知欄選擇電路之一方塊圖。欄選擇電路20包含 一指令暫存器2 1、一或閘23、一延遲電路25,及一欄解碼 器27。 指令暫存器21響應於一時脈信號CK、一晶片選擇信號 /CS、一列位址選通/RAS,一欄位址選通/CAS及一寫入致 能/WE,產生一寫入指令信號WRITE或一讀取指令信號 READ及輸出寫入指令信號WRITE或讀取指令信號R^AD到 或閘23。 或閘23邏輯或寫入指令信號WRITE及讀取指令信號READ 及輸出結果到延遲電路25。延遲電路25響應於或閘23之一 輸出信號,延遲時脈信號CK用於一想要之時脈tD,及輸出 -6- :遲之信號如一時脈控制信號pCD到欄解碼器27。欄解碼 杏27接收及解碼_位址爛八㈤),及在㈣信號線 、SL(2 )之間選擇—欄仏號線。欄解碼器響應於時脈 控制信號PCD控制攔選擇信號線之啟動時脈。 參考於^及圖2,如下將資料寫入進入一記憶體細胞。 T果指令暫存器21響應於指令信號ck、/ras,/cas及觸, 知出窝入指令信號WRITE,延遲電路響應於或閘u之一 輸出信號,延遲時脈信號(;^用於想要之時脈山,及輸出如 —時脈控制信號pC:D之延遲信號到攔解碼器27。 如果攔解碼器2 7響應於時脈控制信號p c D選擇及啟動欄 L擇L號線CSLO將輸入資料Data-in通過輸入緩衝器1、資 料輸入及輸出線10及/1〇及位元線BL〇及/BL〇寫入進入一記 憶體細胞MC。 然而’如果指令暫存器2丨響應於指令信號ck、/Ras,/cas 及/WE輸出讀取指令信號rEad及延遲電路25響應於或閘23 之如出^號’延遲時脈信號CK用於想要之時脈tD,及輸 出如一時脈控制信號pCD之延遲信號到欄解碼器27。 如果攔解碼器27響應於時脈控制信號pCD選擇及啟動欄 選擇信號線CSLO,儲存於一記憶體細胞MC中之資料係通過 位元線BLO及/BLO輸出到一感測放大器s/A,感測放大器S/A 放大接收之資料及通過資料輸入及輸出線1〇及/1〇及輸出緩 衝器3輸出輸出資料Data_0llt。 圖3係在其中在資料寫入指令信號WRITE及資料讀取指令 信號READ之間不具有間隙之一狀態中,即在將資料寫入指 588381 令信號WRITE抑制之後之時脈信號CK之一週期tCK内啟動 資料讀取指令信號READ之一狀態,及進一步在藉由資料讀 取指令信號READ中斷資料寫入指令信號WRITE之一狀態中 之資料輸入及輸出之一時脈圖。 參考於圖1到圖3,在將資料D23寫入於記憶體細胞MCs 中,及讀取儲存於記憶體細胞MCs中之資料Q〇 1之後不等化 資料輸入及輸出線10及/10之一狀態中,因為將其係保留於 資料輸入及輸出線10及/10上之資料D23寫入於有關資料q01 之位元線,損失讀取之資料Q〇 1。 為防止該問題,延遲電路25之延遲時脈tD係設定多於用 於等化於資料輸入及輸出線1〇及/1〇需要之一等化時脈 tEQ。需要等化時脈tEQ用於其在如圖3所示之在寫入指令信 號WRITE及讀取指令信號read之間不具有間隙之狀態中連 續產生之讀取-寫入操作。 圖4係揭示資料輸入及輸出線在其中在資料寫入指令信號 及貝料項取:f曰令仏號之間具有一時脈信號週期之一間隙之 狀態中之時脈圖。參考於圖4’ 一間隙指示其中在將寫入指 令信號WRITE抑制及時脈信號之—週期収之後啟動讀取指 令信號_之狀態。因此,在其中具有一間隙之狀態中, 一連續寫入—讀取操作不需要等化時脈tEQ。 夺考於圖1、2及圖4,如果參考用於在將時脈信號ck輸 (襴1¾擇電路20〈 |啟動欄選擇信號線CSL之延遲時脈 4 tD、及♦考用於在將攔選擇信號線α啟動之後輸出資料 d遲時脈如tCA,藉由方程式冰得具有2時脈週期(2* η) 之一 CAS延遲CL之一 SDRAM之最大操作頻率。 〔方程式1〕 1/CK= 2/(tD+ tCA) ...(1) 為增加具有一2之CL之一 SDRAM之最大操作頻率,應該 減少tCA及tD。在此,如果tCA係固定,應該減少tD以增加 具有一 2之CL之一 SDRAM之最大操作頻率。然而,tD必須 係多於等化時脈tEQ。 因此,在圖2中延遲電路25之延遲時脈tD之係固定,藉由 方程式1取得具有一2之CL之一 SDRAM之最大操作頻率,不 論在資料指令信號及資料讀取指令信號之間是否具有一間 隙。 门此,一使用者在依序執行寫入—讀取操作之狀態中不 可以增加具有一 2之CL之一 SDRAM之最大操作頻率。 發明内容 在一舉例實施例中,本發明提供一種用於在依序執行寫 入—讀取操作之狀態中增加—半導體裝置之最大操作频率 之方法及其裝置。 ” 舉例實施例中,將本發日歧向於—種用於控制搁 午碼錢能時脈之方法,方法包含:決定如果在—資料窝 入心令及—貧料讀取指令之間具有其連續產生之—間隙. :生用於延遲用於其根據決定結果之時脈之一總數之接收 二…虎之—時脈控制信號;及響應於時脈控制信號啟動 -襴解碼器。產生時脈控制信號之步驟 : 一間隙產生用於-第-延遲時脈之-時脈控制信號:: -9- 果不具有間隙 號。 產生用於一第 延遲時脈之一時脈控制信 =器致能時脈控制方法可以進一步包含 =柄碼位址輸入及響應於藉由搁解碼器 : 果產生一棚遗搞:户# ^ ^ 應於解碼心 及#㈣欄選擇信號輸出在-對相 ’、、" '《位凡線上之資料到—對輸入及輸出線。 入鄕广、’料控制欄解碼器致能時脈之方S可以進—步包 έ喜應於時脈存》I♦节 脈尸节、 D虎1遲一輸入資料窝入指令信號用於一時 週期;1決定如果係在同時啟錢遲之資 入指令信號及一目前於 士 一 y則軚入/貝料謂取指令信號,及,如果不 \同時啟動延遲之資料寫人指令信號及目前輸入資料讀 取指令信號’產生一時 、 一、 時脈控制#唬延遲時脈信號用於一第 -延料脈,ϋ係在同時啟動延遲之資料寫人指令信號 :目前輸入資料讀取指令信號,產生一時脈控制信號延遲 時脈信號用於_筮-f 、弟一 L遲時脈;及響應於時脈控制信號啟 動攔解碼器。 一第-延遲時脈係可以較短於第二延遲時脈。方法可以進 一步包含響應於時脈控制信號利用欄解碼器位址輸入解碼 才1解馬為中產生相應於一解碼結果之一攔選擇信號; 及響應於時脈控制信號輸出在一對相應於位址之位元線上 之貧料到一對輸入及輸出線。 而且,用於控制欄解碼器致能時脈之一 果係在將—資料寫人指令及時脈信號之—週期:後=/一 貧料1買取指令,藉由延遲—時脈信號用於—第—延遲時脈 •10- 產生時脈控制信號,及如果係在將資料寫入指令啟動之 後 < 時脈㈣之—週期内啟動—資料讀取指令,藉由延遲 時脈信號用於一第二延遲時脈產生一時脈控制信號;及 曰應於時脈控制信號啟動欄解碼器。 、第延遲時脈係可以較短於第二延遲時脈,該方法可以 ^步包含響應於時脈控制信號解碼位址輸入及在欄解碼 器中產生相應於藉由襴解碼器之一解碼結果之一攔選擇信 號’及%應於攔選擇信號輸出在—對相應於位址之位元線 上之資料到_對輸人及輸出、線。在此,第二延遲時脈係可 、車乂長糸用於等化該對輸入/輸出資料之時脈。 在另舉例貝訑例中,也將本發明定向於可以依據一第 一模式及-第二模式操作之—攔解碼器,纟中響應於藉由 依據第-模式延遲-接收時脈信號用於一第一延遲時脈產 生(-時脈控制信號啟動欄解碼器,&響應於藉由依據第 二模式延遲一接收時脈信號用於一第二延遲時脈產生之一 時脈控制信號啟動欄解碼器。 弟一模式可以係其中在一資料寫入指令信號及一資料讀 取指令信號之間具有其連續產生之一間隙之一模式,及第 一模式可以係其中在資料寫入指令信號及資料讀取指令信 號之間不具有間隙之一模式。 第模式可以係其中在資料寫入指令之抑制及時脈信號 之一週期之後啟動一資料讀取指令之一模式,及第二模式 可以係其中在貞料烏入指令之抑制之後之時脈信號之一週 期啟動一資料讀取指令之模式。 -11 - 588381 欄知碼器可以響應於時脈批 』^〒脈L制^唬解碼位址輸入及產生 相應万;解碼結果之一欄選擇信號。 在另-舉例實施财,切本發^向於^ —半導體 記憶體裝置’纟包含··用於㈣备時脈控制信號解碼位 址輸入及屋生相應於解碼結果之一欄選擇信號之一搁解碼 益,及用於產生時脈控制信號之一時脈控制信號產生電路, 其中時脈控制信號產生電路藉由其根據在一資料寫入指令 信號及其連續產生之資料讀取指令信號之間是否1有一間 隙之時脈之一總數延遲-接收時脈信號產生時脈控制信 號0 在例示半導體記憶體裝置中如果具有一間隙,時脈控制 信號產生電路藉由延遲時脈信號料_第—延遲時脈可以 產生-時脈控制信號’及如果不具有間隙,時脈控制信號 產生電路藉由延遲時脈信號用於較長於第—延遲時脈之一 第二延遲時脈可以產生一時脈控制信號。 在一舉例實施例中,也將本發明定向於可以一半導體記 憶體裝置’其包含:用於響應於—時脈控制信號解碼位址 輸入及產生相應於解碼結果之一攔選擇信號之一欄解碼 咨,及用於產生時脈控制信號之一時脈控制信號產生電路, 其中如果一資料讀取指令係在將資料寫入指令抑制及時脈 信號之N週期之後啟動,時脈控制信號產生電路藉由延遲時 脈信號用於一第一延遲時脈產生時脈控制信號,及如果一 資料讀取指令係在將資料寫入指令抑制之後之時脈信號之N 週期内啟動,藉由延遲時脈信號用於一第二延遲時脈產生 -12· k嶮時脈係可以較短於第二延遲時脈。 N可以係1或更大。丰遒触—卜立—_ 千寸植圮fe體裝置可以包含一對用於 入及輸出在-記憶體細胞中之資料之位元線;1一對用: 幸:入及輸出貝料d纟中響應於攔選擇信號將在該對位 兀、、泉上《貝料傳运到孩對用於輸入及輸出資料之線。 在另|例貝她例中,也將本發明定向於可以—半導舰 記憶體裝置,其包各用认纖e、λ 才心 _ 口 ; θ應於一時脈控制信號解碼位址 :入及產生相應於解碼結果之一攔選擇信號之—襴解碼 益;用於響應於時脈信號延遲資料寫入指令信號用於—時 脈信號之-週期之—延遲電路;料接收—資料讀取指令 “虎及延遲電路之_輸出信號,及輸出—控制信號之; :控制電路:及用於如果將控制信號啟動,藉由延遲接收 脈“虎用於一第一延遲時脈產生時脈控制信號,及用於 如果將控制信號抑制’冑由延遲接收時脈信號用於一第二 延遲時脈產生時脈控制信號之一第二控制電路。 - 實施方式 現在參考於附加圖式將更完整說明本發 :發明之舉例實施例。然而,可以依據許多不同:: 本發明及不應該解釋如限於其中提出之舉例實施例;當炊, ::這些舉例實施例如此本揭示將係完整…,對那此 :於此技者將%整表達本發明之觀念。在圖式巾, 提到類似元件“。在不同圖式中之類似參考數字 圖5係根據本發明之一舉例實施例之—襴選擇電路50之— _ 13 - 588381 方塊圖。參考於圖5,攔選擇電路50包含一時脈控制信號產 生電路5 1及一欄解碼器53。 時脈控制信號產生電路5 1響應於一時脈信號CK、一列位 址選通/RAS,一攔位址選通/CAS及一寫入致能/WE,延遲 時脈仏號ck用於一想要時脈及輸出如一時脈控制信號pCD 之延遲信號到欄解碼器53。
欄解碼器53,響應於時脈控制信號pCD,在攔選擇信號 CSL0到CSLpn·1)之間解碼輸入位址及啟動(高)相應於解碼 <結果之欄選擇信號。欄選擇信號係在欄選擇信號線上之 一信號,因此可以使用其同義於欄選擇信號線。時脈控制 信號產生電路51包含一指令暫存器5〇1、一第一邏輯閘5〇3、 一第一延遲電路505、一第二延遲電路5〇7、一第三延遲電 路509、-感測電路511、—第二邏輯閘川、_第三邏輯閑 515,一第四邏輯閘517及一第五邏輯閘^ 在圖5中說明之本發明之舉例實施例執行感測電路5ιι
弟二邏輯閘515及第四邏輯間S17如 -pr 0H 产卜 、科闲517如一及閘,及第一邏輯閘 5〇3及第五邏輯閘519如一戋閙,仞b” 名閘但疋在一或原先習於此技 者之能力内其它相等電路係適當。 指令暫存器5〇1接收-時脈信號⑶、一列位立止選通/ras, -襴位址選通/CAS及一寫入致能/WE及響應於各個信號 /RAS、/CAS及/WE之邏輯狀能,鈐山、欠丄丨心 ^ 如出一資料冩入指令信號 WRITE或一資料讀取指令信號11£八]〇。 第一邏輯閘5〇3接收及邏輯或 、科4 k和令暫存器5〇1輸出之資 料寫入指令信號WRITE及資料靖放扣入彳、咕 竹靖取扣令信號READ,及輸出 -14- 588381 結果到第一延遲電路5〇5。 第一延遲電路505接收第一邏輯閘5〇3之輸出信號及時脈 信號ck,延遲時脈信號CK用於一想要延遲時脈tDl,及輸 出一第一延遲信號dlCK到第二延遲電路5〇7及第四邏輯閘 517 ° 第二延遲電路5〇7接收第一延遲信號dlCK,延遲第—延 遲信號d1CK用於一想要延遲時脈山2,及輸出如一第二延 遲仏號d2CK之延遲信號到第三邏輯閘5 Μ。 藉由時脈k號CK計時第三延遲電路509,延遲資料寫入 指令信號WRITE用於時脈信號CKiN(N係一自然數)週期, 及輻出如一延遲資料寫入指令信號D-WRITE之延遲信號到 感測電路511。在本發明之舉例實施例中,N係等於i。 如果執行第三延遲電路5〇9如〇型正反器(一例示執行), 資料寫入指令信號WRITE係輸入進入D型正反器5〇9之一輸 ^ 及喜應於時脈信號CK通過一輸出終端Q將輸入資 料寫入指令信號貿氾丁£傳送到感測電路511。延遲資料寫入 指令信號D_WRIT—藉由延遲資料寫人指令信號WRITE用 於一週期取得之一信號。 感測電路511接收及邏輯及延遲資料寫入指令信號d_ WRITE及資料讀取指令信號READ,及輸出结果,即一感測 仏唬WIR,到第二邏輯閘5丨3及第三邏輯閘$ 1 5。 換吕炙,如果係在相同時間啟動延遲資料寫入指令信號 二-WRITE及資料讀取指令信號READ, g卩走到邏輯高,感測 電路511輸出啟動之感測信號WIR到第二邏輯閘513及第三 -15 - 588381 遴輯閘515。感測電路511決定如果在資料寫入指令信號 WRITE及貧料繽取指令信號READ之間具有其連續產生之一 間隙。 第一避輯閘5 13,可以例示執行其如一反相器,接收及反 相感測電路511之輸出信號戰及輸出反相輸出信號/wir到 一第四邏輯閘5 1 7。 第三邏輯閘515接收及邏輯及第二延遲電路5〇5之輸出信 唬dlCK及感測電路511之輸出信號WIR,及輸出結果到第五 邏輯閘5 19。 第四邏輯閘5 17接收及邏輯及第二延遲電路5〇7之輸出信 唬dlCK及第二邏輯閘513之輸出信號/WIR,及輸出結果到 第五邏輯閘519。 第五遴輯閘5 1 9接收及邏輯及第三邏輯閘5丨5之輸出信號 及第四邏輯閘517之輸出信號及輸出結果,即一時脈控制信 號pCD,到欄解碼器53。 換言之,第五邏輯閘5 19根據是否係或係不啟動感測信號 WIR輸出或者第一延遲電路5〇5之輸出信號dlCK或第二延遲 電路507之輸出信號d2CK。 因此’第五邏輯閘5 1 9根據是否在資料寫入指令信號 WRITE及資料讀取指令信號rEAd之間具有一間隙,藉由延 遲接收之時脈信號CK用於第一延遲時脈tD 1或第二延遲時 脈tDl +tD2產生一時脈控制信號pCD。 產生一時脈控制信號pCD之一時脈控制信號產生電路5 j 包含電路裝置505、507、513、515,517及519。因此,如 -16- 588381 號之N(N係一自然 時脈控制信號產 於第一延遲時脈 皇在將資料“指令抑制之後之時脈信 數)週期内啟動資料讀取指令信號read, 生電路51藉由延遲接收之時脈信號CK用 tD1產生一時脈控制信號PCD。 N週料寫人指令抑制之後之時脈信號CK之 各 力貝科項取指令信號Read,時脈控制信號產生 私路5 1猎由延遲接收之每 寺脈仏唬ck用於第二延遲時脈tD1 tD2產生一時脈控制信號pCD。 響應於時脈控制信號PCD,攔解碼器53接收及解碼n(n是 自然數)欄位址A〇到A⑹),及在2n搁信號線咖〇到 … 之間選擇一欄信號線。 換3〈,如果在資料寫入指令信號WRITE及資料讀取指 令信號read之間具有其連續產生之—間隙,欄解碼器5〇響 應於時脈控制信號pCD啟動藉由延遲接收之時脈信號CK用 於第一延遲時脈tD1(參考如“一第一模式,,)。 另外,如果在資料寫入指令信號WRITE及資料讀取指令 仏號READ之間不具有其連續產生之一間隙,欄解碼器5〇響 應於時脈控制信號pCD啟動藉由延遲接收之時脈信號ck用 於第二延遲時脈tDl + tD2(參考如“一第二模式,,)。 在本發明之一舉例實施例中,來自電路裝置5、5〇3、 511、513、515,517及5 19中之各個裝置之延遲係不明顯及 可以忽略。參考於圖1及圖5,現在將說明包含攔選擇電路5〇 之一半導體記憶體裝置。半導體記憶體裝置包含用於輸入 資料到記憶體細胞/從記憶體細胞輸出資料之一對位元線及 -17- 588381 一對資料輸入及輸出線,及響應於欄解碼器53之一輸出信 號將在該對位元線上之資料到該對資料輸入及輸出線。 用於輸入及輸出在半導體記憶體裝置中之資料之電路包 含根據本發明之一舉例實施例之一欄選擇電路50,其實質 係相同如在圖1中輸入及輸出資料之一電路,如此將參考於 在圖1中用於輸入及輸出資料之電路1 〇說明其。然而,不藉 · 由圖1限制包含欄選擇電路50之本發明之半導體記憶體裝置 , 之舉例實施例。 · 選擇之欄選擇信號CSL0導通一想要開關及分別電子連接 該對位元線BL0及/BL0到該對資料輸入及輸出線10及/10。 因此,儲存於一記憶體細胞MC中之資料表面上係通過該對 位元線BL0及/BL0、一感測放大器S/A、該對資料輸入及輸 出線10及/10,及一輸出緩衝器3輸出。 另外,資料輸入表面上係通過輸入緩衝器1、該對資料輸 入及輸出線10及/10,及該對位元線BL0及/BL0儲存於記憶 體細胞MC中。 馨1 圖6係根據本發明之一舉例實施例,在資料寫入指令信號 及資料讀取指令信號之間不具有間隙之一狀態中之資料輸 · 入及輸出之一時脈圖。在此,資料DO到D3指示輸入資料及 * 資料Q0到Q3指示輸出資料。資料DO 1指示用於寫入在資料 輸入及輸出線上之資料D〇、D1到記憶體細胞之一欄選擇信 號。資料Q0 1指示用於讀取在資料輸入及輸出線上之資料 Q0、Q1之一攔選擇信號。
參考於圖5及6,指令暫存器501響應於/CS、/RAS,/CAS -18- 588381 及/WE之一咼到低轉換產生及輸出一資料寫入指令信號 WRITE。 延遲電路509接收資料寫入指令信號WRITE,響應於—時 脈信號ck延遲其用於一時脈週期tCK及輸出一延遲資料寫 入指令k號D—WRITE。在此,感測電路5 11邏輯及啟動之延 遲貧料寫入指令信號D—WrIT]E及啟動之資料讀取指令信號 READ,及輸出一啟動之感測信號WIR。啟動之感測信號貨汛 才曰示在同時致能延遲資料寫入指令信號D一WRITE及資料讀 取指令信號READ。換言之,在抑制資料寫入指令信號write 之後之時脈信號之一週期tCK之内啟動資料讀取指令信號 READ。因此,依序沒有一間隙執行寫入—讀取操作。 第二邏輯閘515輸出藉由第一延遲電路5 〇5及第二延遲電 路5 07延遲,用於想要之時脈tEn + tD2之一時脈信號。因此, 藉由延遲時脈信號CK用於想要之時脈tIM + tD2取得想要之 時脈控制信號pCD。 第二邏輯閘5 1 3輸出一抑制反相感測信號/WIR及將抑制第 四邏輯閘517。如果係啟動感測信號WIR,需要等化時脈。 藉由方程式2代表延遲時脈tDl及tD2。 〔方程式2〕 tD=tEQ=(tDl + tD2) ...(2) 圖7係根據本發明之一舉例實施例,在一資料寫入指令信 號及一資料讀取指令信號之間具有一時脈信號週期之一狀 悲中之資料輸入及輸出之一時脈圖。
參考於圖5及7,指令暫存器501響應於/CS、/RAS,/CAS -19- 588381 及/WE之一高到低轉換產生及輸出一資料寫入指令信號 WRITE。 延遲電路509,響應於一時脈信號ck,接收資料寫入指 令信號WRITE,延遲其用於一時脈週期tCK及輸出一延遲資 料寫入指令信號D一WRITE。感測電路5 11邏輯及啟動之延遲 貝料爲入指令信號D一WRITE及啟動之資料讀取指令信號 READ,及輸出一啟動之感測信號WIR。將第四邏輯閘5 (5 抑制及第二邏輯閘513輸出一抑制反相感測信號/WIR。 抑制之感測信號WIR指示在延遲資料寫入指令信號 D—WRITE及資料讀取指令信號rEad之間具有多於一時脈 週期tCK之一間隙。換言之,在時脈信號之一週期tCK及抑 制資料寫入指令信號WRITE之後啟動資料讀取指令信號 READ。因此,依序沒有一間隙執行寫入—讀取操作。 第四邏輯閘515藉由第一延遲電路5〇5及第二延遲電路5〇7 又輸出信號,邏輯及延遲用於想要之時脈tD之第一延遲信 唬dlCK,及輸出結果到第五邏輯閘519。因此,藉由延遲 時脈信號ck用於想要之時脈tD1取得之一時脈控制信號pCD 係輸出到欄解碼器。 藉由方程式3代表第一及第二延遲時脈tD1及山2。 〔方程式3〕 tD2=tD+tDl (?) 因此’藉由方程式4代表具有2時脈週期(2* tCK)之一 CL 之一 SDRAM之最大操作頻率。 〔方程式4〕 -20 - 588381 ··· (4) 1/CK= 2/(tDl + tCA) 因此’欄解碼器53 ’及包含根據本發明之舉例實施例之 時脈控制信號產生電路51之—半導體記憶體裝置之最大# 作頻率係高於包含-習知欄選擇例如在方程式1中代表之: 路20之一半導體記憶體裝置之最大操作頻率。 .兒 ,考万;W 2及6,&含根據本發明之舉例實施例之搁選 私路50< -半導體記憶體裝置之最大操作頻率係相同如包
含-習知攔選擇電路例如電路2()之—半導體記憶體裝 最大操作頻率。 參考於圖4及7,包含根據本發明之舉例f施例之搁㈣ 電路50之-半導體記憶體裝置之最大操作頻率係高於包含 一習知攔選擇電路例如在方程式i中代表之電路之一半 體冗憶體裝置之最大操作頻率。 ’ 如上面說明’用於根據本發明之舉例實施例控制襴解碼 器致能時脈之方法及裝置增加一半導體記憶體裝置之—最 大操作頻率。 $
注意,已經依據一資料寫入指令信號WRITE及一资料讀 取指令信號READ之背景說明本發明。然而,可以將本發^ 《一些舉例實施例之指導施加於依據任何排序之任何其它 對之連績信號。 應該注意的是,本發明並不限於上面說明之舉例實施例, 且習於此技者顯然可在文後申請專利範圍定義之本發明精 神及範圍内產生改變及修改。 圖式簡單說明 -21 - 588381 藉由詳細實施例中之說明且參考於附圖將更瞭解本發 明,其中: 圖1係一習知DRAM之一概略輸入及輸出電路。 圖2係一習知欄選擇電路之方塊圖。 圖3係在一貧料寫入指令信號及一資料讀取指令信號之間 不具有間隙之一狀態中之資料輸入及輸出之時脈圖。 圖4係在一資料寫入指令信號及一資料讀取指令信號之間 具有一第一時脈信號週期之一狀態中之資料輸入及輸出之 時脈圖。
圖5係根據本發明之一舉例實施例之一欄選擇電路之方塊 圖。 A 圖6係根據本發明之一舉例實施例,在一資料寫入指令作 號及一資料讀取指令信號之間不具有間隙之一狀態中之資 料輸入及輸出之時脈圖。 貝 圖7係根據本發明之一舉例實施例,在一資料寫入指令^ 號及-資料讀取指令信號之間具有一第一時脈信號週期、 一狀怨中之貝料輸入及輸出之時脈圖。 ° 、 圖式代表符號說明 1 資料輸入緩衝器 3 資料輸出緩衝器 10 資料輸入及輸.出電路 20、50 欄選擇電路 21 、 501 指令暫存器 23 或閘 -22- 25588381 27 ^ 53 51 503 505 507 509 511 513 515 517 519 DO、D1、D2、D3、 延遲電路 欄解碼器 時脈控制信號產生電路 第一邏輯閘 第一延遲電路 第二延遲電路 第三延遲電路 感測電路 第二邏輯閘 第三邏輯閘 第四邏輯閘 第五邏輯閘 資料 Q0、Ql、Q2、Q3 MC 記憶體細胞 -23 -

Claims (1)

  1. 588381 拾、申請專利範圍: i一種用於控制襴解碼器致能時脈之方法,該方法包含: 決疋疋否在〜資料寫入指令及一資料讀取指令之間且 有連績產生之—間隙; ^ 產生一時脈控制信號用於延遲用於根據該決定結果之 時脈〈一總數之—接收時脈信號;及 響應於m時脈控制信號,啟動一欄解碼器。 2·如申請專利範圍第1項之方法,其中該時脈控制信號之產 生包含如果具有一間隙產生具有一第一延遲時脈之〜時脈 控制信號,及如果不具有一間隙產生具有一第二延 之一時脈控制信號。 、R 3.如申請專利範圍第2項之方法’其中該第一延遲時脈係較 短於該第二延遲時脈。 乂 4. 如申請專利範圍第丨項之方法,其進一步包含: 響應於該時脈控制信號,解碼位址輸入,及產生相應 於藉由該欄解碼器之一解碼結果之欄選擇信號;及 響應於該攔選擇信號,在—對相應於該解碼位址之位 元線上輸出資料到—對輸入及輸出線。 上 5. —種用於控制欄解碼器致能時脈之方法,其包含: 延遲一資料寫入指令信號用於一 響應於該時脈信號, 時脈信號之一週期;及 決定是否該延遲資料寫入指令信號及,目前資料讀取 指令信號係同時啟動, 其中如果該延遲資料宜λ 4匕 ^ » η、, ”村罵入扣令信號及臧目珂資料讀取 588381 才曰令仏號並非同時啟動,為一第一延遲時脈產生一時脈幹 制信號延遲該時脈信號,及如果該延遲資料寫入指令俨號 及該目前資料讀取指令信號係同時啟動,為一第二延遲時 脈產生一時脈控制信號延遲該時脈信號;及 響應於該時脈控制信號,啟動一欄解碼器。 6·如申請專利範圍第5項之方法,其中該[延遲時脈係較 短於該第二延遲時脈。
    7·如申請專利範圍第5項之方法,其進一步包含·· 響應於該時脈控制信號,解碼位址輸入,及產生相應 於藉由該欄解碼器之一解碼結果之攔選擇信號;及 響應於該欄選擇信號,在一對相應於該解碼位址之位 元線上輸出資料到一對輸入及輸出線。 8· —種用於控制欄解碼器致能時脈之方法,其包含: 如果-資料讀取指令係在將一資料寫入指令抑制及該 時脈信號之-週期之後啟動,藉由延遲—時脈信號為一第
    —延遲時脈產生-時脈控制信號,及如果—資料讀取指人 係在將該資料寫入指令啟動之後之時脈信號之一週期内啟 動,藉由延遲該時脈信號為一第二延遲時脈產 制信號;及 響應於孩時脈控制信號,啟動—攔解碼哭。 9·如申請專利範圍第8項之方法,其中該第_:延遲時脈係 短於該第二延遲時脈。 10.如申請專利範園第8項之方法,其進一步包含: 響應於該時脈控制信號,解碼位址輸入,及產生相 -2- 588381 於藉由該欄解碼器之一解碼結果之一欄選擇信號;及 喜應於該欄選擇信號,在一對相應於該解碼位址之位 元線上輸出資料到一對輸入及輸出線。 π·如申請專利範圍第ίο項之方法,其中該第二延遲時脈係 較長於用於等化該對輸入及輸出資料線之一時脈。 12·—種攔解碼器,其響應於藉由依據一第一模式延遲一接 收時脈信號為一第一延遲時脈產生之一時脈控制信號啟 動,及響應於藉由依據一第二模式延遲該接收時脈信號為 一第二延遲時脈產生之一時脈控制信號啟動。 13·如申請專利範圍第12項之攔解碼器,其中該第一模式係 一模式,其中在一延遲資料窝入指令信號及一資料讀取指 令信號之間具有連續產生之一間隙,及該第二模式係一模 式,其中在該延遲資料寫入指令信號及該資料讀取指令信 戒之間不具有間隙。 14.如申請專利範圍第12項之攔解碼器,其中該第一延遲時 脈係較短於該第二延遲時脈。 15·如申請專利範圍第12項之攔解碼器,其中該第一模式係 一模式,其中一資料讀取指令係在該資料寫入指令之抑制 及該時脈信號之一週期之後啟動,及該第二模式係一模 式,其中一資料讀取指令係在該資料寫入指令之抑制之後 之時脈信號之一週期内啟動。 16.如申凊專利範圍第丨2項之欄解碼器,其中該欄解碼器相 應於該時脈控制信號,解碼位址輸入,及產生相應於該解 碼結果之一欄選擇信號。 588381 17. —種半導體記憶體裝置,其包含: 一欄解碼器’用於響應於—時脈控龍號,解碼位址 輸入,及屋生相應於該解碼結果之—襴選擇信號;及 -時脈控制信號產生電路,用於產生該時脈控制信號, 匕其中m時脈控制信號產生電路藉由根據在—資料窝入 指令信號及一連續資料讀取指令信號之間是否具有-間隙 藉由-總數之時脈延遲一接收時脈信號產生該時脈 號。 。 18·如申請專利範圍第17項之裝置,其中如果具有一間隙, 3時脈控制信號產生電路藉由延遲該時脈信號為—第一延 遲時脈產生-時脈控制信號,及如果不具有一間隙,該時 脈控制信號產生電路藉由延遲該時脈信號為一第二延遲時 脈產生日寺脈控制信號,纟中第一延遲時脈係較短於第二 延遲時脈。 19·如申請專利範圍第17項之裝置’其中該半導體記憶體裳 置進一步包含一指令暫存器,其響應於一時脈信號及一寫 入致能信號,輸出該資料讀取指令信號或該資料寫入指令 信號。 20· —種半導體記憶體裝置,其包含: 一攔解碼器,用於響應於一時脈控制信號,解碼位址 輸入,及產生相應於該解碼結果之一欄選擇信號;及 一時脈控制信號產生電路,用於產生該時脈控制信號, 其中如果一資料讀取指令係在將該資料寫入指令抑制 及認時脈信號之N週期之後啟動,該時脈控制信號產生電 f藉由延遲該時脈信號為一第-延遲時脈產生該時脈控制 L唬,及如果一資料讀取指令係在將該資料寫入指令抑制 之後又時脈信號之N週期内啟動,則藉由延遲該時脈信號 為第一延遲時脈產生該時脈控制信號。 21’如申請專利範圍第20項之裝置,其中該第一延遲時脈係 車父短於該第二延遲時脈。 22·如申請專利範圍第20項之裝置,其中該半導體記憶體裝 置包含: 對位元線,用於輸入及輸出在一記憶體細胞中之資 料;及 一對線,用於輸入及輸出資料, 其中響應於該欄選擇信號,將在該對位元線上之資料 傳送到用於輸入及輸出資料之該對線。 23.如申請專利範圍第2〇項之裝置,其中該半導體記憶體裝 置進一步包含一指令暫存器,其響應於一時脈信號或一寫 入致能信號,輸出該資料讀取指令信號或該資料寫入指令 信號。 24· —種半導體記憶體裝置,其包含: 一攔解碼器,用於響應於一時脈控制信號,解碼位址 幸雨入’及產生相應於該解碼結果之一爛選擇仏喊, 一延遲電路,用於響應於該時脈信號,為一時脈信號 之一週期延遲該資料寫入指令信號; 一第一控制電路,用於接收一資料讀取指令信號及該 延遲電路之一輸出信號,及輸出一控制信號;及 588381 /罘一控制電路,用於如 、、α、 禾係啟動該控制信號葬由 遲謂接收時脈信號為一第一 、 曰^ _ -a 4 s :時脈產生該時脈控制作 唬,及如果係不啟動該控制信 σ 心 γ ϋ猎由延遲孩接收時脈作號 為…延遲時脈產生該時脈控制信號。 …虎 25. 如申請專利範園第24項之裝 ,、Τ邊弟一延遲睡腺〆玄 較短於該第二延遲時脈。 崚呻脈係 26. 如申請專利範圍第24項之裝置,纟中該延遲電路係一 d刑 正反器,用於藉由該時脈信號計時為該時脈之, 延遲該資料寫入指令信號。 27. 如申請專利範圍第24項之裝置 ^ ^ 牛導體?己憶體裝 置^ 乂匕3 一指令暫存器,其響應於一時脈信號或一窝 入致能信im該資料讀取指令㈣或該資人 信號。 w曰7 28. —種半導體記憶體裝置,其包含: -攔解碼器,用於響應於一時脈控制信號,解碼位址 輸入,及產生相應於該解碼結果之一欄選擇信號· 一指令暫存器,用於響應於該指令信號,輸出一資料 讀取指令信號或一資料寫入指令信號; 一延遲電路,用於響應於該資料讀取 ▽ h唬或1茨資 料冩入指令信號,為-第一時脈或一第二時脈延遲該時脈 信號, 一 D型正反器,用於為該時脈信號之一週期延遲該資料 烏入指令k號; 一偵測電路’㈣接收該資料讀取指令信號之一輸出 588381 信號及該D型正反II < —輸出,及輸出一偵測信號;及 一輸出電路,用於 广 、D果不啟動該偵測信號,輸出具有 一弟一延遲時脈之一眭 、0ί>Γ咕 ^ 守脈控制信號,及用於如果啟動該偵 測信號,輸出具有一篦一 U 29 4 ^ ^ - 一 1遲時脈之一時脈控制信號。 置,其中該第一延遲時脈係 29·如申請專利範圍第28項之装 車父短於該第二延遲時脈。 3 0·如申請專利範圍第28項之 ^ 衣置,其中該指令信號包含該 時脈信號及一寫入致能信號。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4121026B2 (ja) * 2004-01-21 2008-07-16 富士フイルム株式会社 撮像装置および方法並びにプログラム
FR2871920B1 (fr) * 2004-06-18 2007-01-05 St Microelectronics Sa Circuit de memorisation rapide comprenant une memoire a double acces et procede d'activation d'une memoire a double acces
KR100610018B1 (ko) * 2004-12-13 2006-08-08 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치의 컬럼 선택선 신호 생성 장치
JP4586633B2 (ja) * 2005-05-25 2010-11-24 ソニー株式会社 デコーダ回路、デコード方法及びデータ記録装置
KR100744042B1 (ko) * 2005-09-28 2007-07-30 주식회사 하이닉스반도체 반도체메모리소자의 내부 어드레스 생성장치
KR100670730B1 (ko) * 2005-09-29 2007-01-17 주식회사 하이닉스반도체 동기식 반도체 메모리 소자의 컬럼 어드레스 인에이블 신호생성기 및 그 생성방법
JP5044153B2 (ja) 2005-09-29 2012-10-10 エスケーハイニックス株式会社 同期式半導体メモリ素子のカラムアドレスイネーブル信号生成器及びその生成方法
KR100712539B1 (ko) * 2005-11-23 2007-04-30 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치의 칼럼 디코더 및 반도체 메모리장치의 칼럼 선택 라인 신호 발생 방법
KR100868251B1 (ko) * 2007-03-22 2008-11-12 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리장치
KR101080206B1 (ko) * 2010-04-30 2011-11-07 주식회사 하이닉스반도체 반도체 장치의 어드레스 출력 타이밍 제어 회로
KR102007364B1 (ko) * 2012-08-28 2019-08-05 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 장치
KR102222968B1 (ko) * 2014-09-01 2021-03-04 삼성전자주식회사 어드레스 정렬기 및 이를 포함하는 메모리 장치
CN105989894B (zh) * 2015-02-12 2023-09-15 上海晟矽微电子股份有限公司 一种一次性可编程存储器控制器、集成电路及程序烧写方法
US11955163B2 (en) * 2022-07-28 2024-04-09 Elite Semiconductor Microelectronics Technology Inc. Method and circuit for adaptive column-select line signal generation

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100252043B1 (ko) * 1997-11-07 2000-05-01 윤종용 반도체 메모리 장치의 칼럼 선택 신호 제어기 및 칼럼 선택제어 방법
KR100274602B1 (ko) * 1997-11-20 2000-12-15 윤종용 동기형 메모리 장치
KR100266899B1 (ko) * 1997-12-26 2000-10-02 윤종용 동기형 메모리 장치
KR100311038B1 (ko) * 1998-09-17 2001-12-17 윤종용 칼럼선택속도가개선된칼럼선택라인구동회로와이를구비한메모리장치및그들의구동방법
KR100287542B1 (ko) * 1998-11-26 2001-04-16 윤종용 웨이브 파이프라인 스킴을 구비한 동기형 반도체 메모리 장치및 그것의 데이터 패스 제어 방법
KR100287184B1 (ko) * 1999-02-23 2001-04-16 윤종용 동기식 디램 반도체 장치의 내부 클럭 지연 회로 및 그 지연 방법

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