TW523971B - Semiconductor light-emitting device, method for fabricating the same, and method for driving the same - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 280
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 84
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 62
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 38
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 27
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 16
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 10
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 9
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 8
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 4
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 3
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 claims description 3
- PCTMTFRHKVHKIS-BMFZQQSSSA-N (1s,3r,4e,6e,8e,10e,12e,14e,16e,18s,19r,20r,21s,25r,27r,30r,31r,33s,35r,37s,38r)-3-[(2r,3s,4s,5s,6r)-4-amino-3,5-dihydroxy-6-methyloxan-2-yl]oxy-19,25,27,30,31,33,35,37-octahydroxy-18,20,21-trimethyl-23-oxo-22,39-dioxabicyclo[33.3.1]nonatriaconta-4,6,8,10 Chemical compound C1C=C2C[C@@H](OS(O)(=O)=O)CC[C@]2(C)[C@@H]2[C@@H]1[C@@H]1CC[C@H]([C@H](C)CCCC(C)C)[C@@]1(C)CC2.O[C@H]1[C@@H](N)[C@H](O)[C@@H](C)O[C@H]1O[C@H]1/C=C/C=C/C=C/C=C/C=C/C=C/C=C/[C@H](C)[C@@H](O)[C@@H](C)[C@H](C)OC(=O)C[C@H](O)C[C@H](O)CC[C@@H](O)[C@H](O)C[C@H](O)C[C@](O)(C[C@H](O)[C@H]2C(O)=O)O[C@H]2C1 PCTMTFRHKVHKIS-BMFZQQSSSA-N 0.000 claims 1
- BHEPBYXIRTUNPN-UHFFFAOYSA-N hydridophosphorus(.) (triplet) Chemical compound [PH] BHEPBYXIRTUNPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims 1
- 208000024891 symptom Diseases 0.000 claims 1
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 13
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 13
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 11
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 description 9
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 8
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 8
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 8
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 6
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 6
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 6
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 6
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 5
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 229910002704 AlGaN Inorganic materials 0.000 description 4
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 4
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 4
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 4
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 4
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000009471 action Effects 0.000 description 3
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 3
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 3
- 238000002488 metal-organic chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 2
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 2
- 230000008261 resistance mechanism Effects 0.000 description 2
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 2
- 229910005540 GaP Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N Indium phosphide Chemical compound [In]#P GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241001674048 Phthiraptera Species 0.000 description 1
- AJGDITRVXRPLBY-UHFFFAOYSA-N aluminum indium Chemical compound [Al].[In] AJGDITRVXRPLBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NWAIGJYBQQYSPW-UHFFFAOYSA-N azanylidyneindigane Chemical compound [In]#N NWAIGJYBQQYSPW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000004299 exfoliation Methods 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N gallium phosphide Chemical compound [Ga]#P HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002309 gasification Methods 0.000 description 1
- 230000002496 gastric effect Effects 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 229910052950 sphalerite Inorganic materials 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/04—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
- H01S5/042—Electrical excitation ; Circuits therefor
- H01S5/0425—Electrodes, e.g. characterised by the structure
- H01S5/04256—Electrodes, e.g. characterised by the structure characterised by the configuration
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/04—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
- H01S5/042—Electrical excitation ; Circuits therefor
- H01S5/0421—Electrical excitation ; Circuits therefor characterised by the semiconducting contacting layers
- H01S5/0422—Electrical excitation ; Circuits therefor characterised by the semiconducting contacting layers with n- and p-contacts on the same side of the active layer
-
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/062—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
- H01S5/0625—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes in multi-section lasers
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/15—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/04—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
- H01S5/042—Electrical excitation ; Circuits therefor
- H01S5/0425—Electrodes, e.g. characterised by the structure
- H01S5/04256—Electrodes, e.g. characterised by the structure characterised by the configuration
- H01S5/04257—Electrodes, e.g. characterised by the structure characterised by the configuration having positive and negative electrodes on the same side of the substrate
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
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- H01S5/0658—Self-pulsating
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523971 A7 __ B7 五、發明説明(1 ) 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種在低輸出之雜訊特性提昇之半導體裝 置、其製造方法及其驅動方法。 【習知技術】 圖14係揭示於曰本應用物理學月報37 (1998) [1373 (A.kuramata et· al·,Jpn· J· Appl. Phys.37 (1998) L1373)等之 習知折射率導波型之半導體雷射元件。 如圖14所示,在由藍寶石組成之基板ι〇1上係分別由 ΠΙ-V族化合物半導體組成,藉由結晶生長形成有包括n型 接觸層之η型半導體部1〇2、活性層1〇3及包括ρ型接觸 層之Ρ型半導體部104。 Ρ型半導體部104之ρ型接觸層上部具有圖案化為條帶狀 之隆起部,在該隆起部上全面形成有ρ側電極1〇5。在此, 活性層103之ρ側電極1〇5之下側區域成為引起雷射振盪 之共振器。 η型半導體部1〇2之接觸層係露出ρ側電極1〇5之一 方側方的區域,在該露出面上約全面形成有η側電極1 。 從Ρ側電極105朝向η側電極1〇6在順方向使驅動流動, 當茲驅動電流之值超過規定之振盪臨界值電流時,從活性 層103 —側之端面出射雷射光。 【發明所欲解決之課題】 —使用圖14所示之半導體雷射元件,對光磁裝置,例如高 在度數位多功说(視訊)磁碟(HD_DVD)裝置進行寫入動作之 際’在使用紫色雷射光時需要有3〇mW以上之輸出值。相 -4 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 523971 A7 _____ B7 五、發明説明(2 ) 反地’讀取動作時之紫色雷射光的輸出值必須小於1 m w。 然而,在進行讀取動作時,習知之半導體雷射元件即使 在驅動電流重疊高頻’亦有隨著降低輸出值而導致相對雜 訊強度增加之問題。這是因為以與該振盪臨界值約相同之 注入電流值進行雷射振盪,故由於雷射振盪之緩和振動的 影響增加相對雜訊強度之緣故。 又’因為以與雷射震盈之臨界值電流相同程度之注入電 流使I振盪,導致單一模式性降低,藉由生成多重模式成 份,亦可增大相對雜訊強度。 降低相對雜訊強度時,必須增加緩和振動頻率數。其中 一個方法係考慮增大微分增益。在增大雷射振盪之微分增 益時藉由形成光吸收區域,亦可增大振盪臨界值。 又’其他的方法,亦可藉由使傾斜效率(微分效率)降低 ,使1 mW之雷射輸出增大所需之電流值,使動作電流值 設定為大於振盪臨界值。 此外,s降低半導體雷射元件之雜訊時,即使可實現藉 由增大共振器端面之反射率,惟此時雷射光之輸出(光輸 出)值亦完全降低。從而,如上所述,HD-DVD裝置在進行 寫入動作之際,由於需要高輸出之發光光,因此無法採用 所謂增大光輸出值降低之端面反射率。 又,在半導體雷射元件產生自激振盪時,活性層1〇3或其 近處之必須設置由半導體組成之光吸收層。然而,將這種 光吸收層設置於半導體雷射裝置自身時,有所謂難以獲得 高輸出值之問題。 -5 - I紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α—ϋ_格(2ι〇χ2町公釐)~-- 523971 五、發明説明(3 ) 本發明係以解決上述習知問題,俾使即使在低輸出時, 亦可實現相對雜訊強度小的半導體發光裝置為目的。 【解決課題之方案】 為了達到上述目的’本發明係分割p側電極或是η側電 極’在讀取所要求之輸出動作時,形成僅在已分刻之電極 一部份上施加驅動電流之構成。 具體而言,有關本發明之半導體發光裝置,其特徵係具 備有:形成於基板上約相同膜厚之第i導電型的第i半導 體層;形成於第1半導體層上約相同膜厚之第2導電型之 第2半導體層;在第i半導體層與第2半導體層之間形成 約相同膜厚,以生成發光光之活性層;在帛i半導體層供 :驅:電流之第i電極;以及在第2半導體層供給驅動電 、第2¾極,第1电極或第2電極係由互相保留間隔之 複數導電性構件組成之分割電極。 2 伙根據本發明之半導體發光裝置,係具備有挾住活性層之 =半㈣層及第2半導體層、對第1半導體層供給驅動 ::…電極以及對第2半導體層供給驅動電流之第2 :株]1電極與第2電極為互相保留間隔之複數導電性 、且、77割电極。因此’在高輸出動作時,對分割電 =邵知加驅動電流。另外,在低輸出動作時,對分刻電 中《一邵份施加驅動電流,藉由對活性層注人 :動電流,在活性層形成光吸收區域。藉此,由於振盘臨 界值電流增加,以致雷射震盪之微分增益増大, 輸出時之相對雜音強度。 、 - -6 - 本紙張尺度適g國家標準(CNs) Μ規格(21()χ297公董) 523971 A7 B7 五、發明説明(5 ) 二帶圖案的p側電極,第1半導體層係露出於P側電極之 侧電極係由形成於第1半導體層之P侧電極-側万上之第丨電極部與形成於第i半導體…側電 侧之側方的區域上之第2電極部組成…電極部 部之各平面形狀係以對於P側電極成為非對稱 在本發明之半導體發光裝置中’基板係具有導電性,分 2電極係由以下構件組成:設置於與形成有與基板之活性 層的王面相反侧面上之第U極部;及設置於形成有基板 (活性層的主面側之第2電極部。 4此時,分割電極為n側電極’帛1電極部係設置於與基 =主面相反側之面上約全面’第2電極部係設置於?侧 :極側方之區域的一部份;帛2電極係具有形成於第2半 導體層上之條帶圖案的p側電極。 在本發明之半導體光裝置中,活性層之組成由包括氮之 化合物半導體組成為佳。 又’、在树明之半導體光裝置中,活性層之組成係由包 括磷之化合物半導體組成為佳。 有關本發明之第i半導體發光裝置的製造方法,其特徵 在於具備有以下步驟:在基板1上分別以約相同之膜厚依 序生長第i導電型之第W導體層、活性層及第2導電型 4 2半導體層之步驟;在露出第i半導體層-部份之後 ’在所露出之第1半導體層上形成第J電極之步驟;在第 2半導體層上形成第2電極之步驟;以及藉由將第】電極 • 8 - 本纸張尺度適财關家鮮(CNS) Μ規格(21GX297公董厂 裝 訂 523971 五、發明説明(6 或第2電極絕緣分離為複數電極, 根據第1半導體發光裝置的製造:广割電極广步驟。 體層供給驅動電流之第1電極以及對第對第1半導 動電流之第2電極,然後,藉由將第層供給驅 络八銳、a、备杖仏各t 币1电極或罘2電極絕 j刀離為複數的1極’以形成分割電極。因此 得本發明之半導體發光裝置。 貫又 在第1半導體發光裝置的製造 步驟以使用蚀刻法為佳。 法中,形成分刻電極的 又,在第1半導體發光裝置的製造方 極的步驟以使用剝落法為佳。 ^成刀j电 ::::明之第2半導體發光裝置的製造方法,其特徵 =:有以下步驟:在基板丨上分別以約相同之膜厚依 序生長矛i導電型之第導體層、活性層及第2導電型 q mm層之步驟;在露出第i半導體層一部份之後 ’在所露出之第1半導體層上形成第!電極之步螺;在與 基板之活性層相反侧纟面上形成帛2之n侧電極之步驟; 以及在第2半導體層上形成1)側電極之步驟。 根據第2半導體發光裝置的製造方法,為了形成第1半 導體層上之第1之n側電極及在與基板之活性層相反側之 面上形成第2之η側電極,故η側電極成為分割電極。藉 此’可確實獲得本發明之半導體發光裝置。 在第1或第2之半導體發光裝置的製造方法中,活性層 之組成以由包括氮之化合物半導體組成為佳。 在第1或第2之半導體發光裝置的製造方法中,活性層 1 9 · 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210 χ 297公釐) 523971 五、發明説明(7 ) 足組成以由包括磷之化合物半導體組成為佳。 有關本發明之第〗半導體發光裝置的驅動方法,其特徵 在於具備有··形成於基板上之第j導電型的第!半導體層 ’形成於第1半導體層上之第2導電型之第2半導體層; 形^第!半導體層與第2半導體層之間,並生成發光光 μ層,在第〗半導體層供給驅動電流之第丨電極;以 =在第2半導體層具有供給驅動電流之條帶形狀的第:電 之C或第2電極設為沿著第2電極之方向分割 U h極者’分割電極係由位於輸 反射端面側之第2電極部組成;當雷射= 驅動”目對:大時’對"電極部及第2電極部施加第1 動Ug雷射光之㈣輸出值相對縮 極邵及第2電極部施加第1 了矛1电 施^^ 動^驅動H同時對第2電極部 罘1驅動電流值小之第2驅動雷卞 ^ σ 第2驅動電流.又,乂純,^电泥’或是不施加該 nni 在對弟2電極部施加第1驅動電沪乏 =對,電極部施加比。驅動電流值小之第二 μ ’或疋不施加該第2驅動電流。 二:導體發光裝置之驅動方法’當雷射光之振湯 極部:時’對於分割電極之第1電極部及第2; 二加弟1驅動電流;當雷射光 時,對於第〗、 / 先又振盈輸出值相許縮小 ; 电極邵(或第2電極部)施加$ +、 同時對第2電極部(或第i電極部)施力==電流’ , ,, ^ 加比第1驅動雷、、六、 :、罘2驅動電流,或是不施加該第2驅 ::〈 ,在低輸出動作時,由於可對活 ^况。精此 『瓚,王入不均勻電流,以 裝 訂 -10 -
523971 A7 _______ Β7 五、發明説明(8 ) 致活性層形成有光吸收區域。結果,由於振盪臨界值電流 义值變大’因此雷射振盪之微分增益增大,可縮小低輸出 時之相對雜訊強度。 有關本發明之第2半導體發光裝置的驅動方法,其特徵 在於具備有:形成於基板上之第1導電型的第1半導體層 ;形成於第1半導體層上之第2導電型之第2半導體層; 形成於第1半導體層與第2半導體層之間,並生成發光光 之活性層;在第1半導體層供給驅動電流之第丨電極;以 及在第2半導體層具有供給驅動電流之條帶形狀的第2電 極;將第1電極或第2電極設為在基板之表背方向分割之 分割電極者,分割電極係由以覆蓋與基板之活性層相反側 之約全面的方式而設置之第1電極部;與設置於位於第1 半導體層上之出射端面或反射端面側之第2電極部組成; 當雷射光之振盪輸出值相對增大時,對第丨電極部及第2 電極部施加第1驅動電流;當雷射光之振盪輸出值相對縮 小時,對第2電極部施加比第丨驅動電流值小之第2驅動 電流,或是不施加該第2驅動電流,而且,對第2電極部 施加第1驅動電流。 根據本發明之半導體發光裝置的控制方法,當雷射光之 振盪輸出值相對縮小時,對於第丨電極部施加比第丨驅動 電流足值小的第2驅動電流或不施加該第2驅動電流,而 且對第2電極部施加第丨驅動電流。因此,低輸出動作時 '由於可對/舌性層注入不均勻之電流,故在活性層可形成 光吸收區域。結果,由於由於振盪臨界值電流之值變大, -11 - I紙張尺度適用中國S家標準(CNS) A4規格(210 X 297公€----- 523971 A7 B7 五、發明説明(9 ) 因此雷射振盪之微分增益增大,可縮小低輸出時之相對雜 訊強度。 在第1或第2之半導體發光裝置的製造方法中,第2驅 動電流以藉由通過可變電阻手段生成第丨驅動電流為佳。 又在第1或第2之半導體發光裝置的製造方法中,第2 驅動電流的峰值以約低於第丨驅動電流之峰值2分之i以 下為佳。 有關本發明之第3半導體發光裝置的驅動方法,其特徵 在於具備有:形成於基板上之第丨導電型的第丨半導體層 ,形成於第1半導體層上之第2導電型之第2半導體層; 形成於第i半導體層與第2半導體層之間,並生成發^光 之活性層;在第1半導體層供給驅動電流之第i電極;以 及在第2半導體層具有供給驅動電流之條帶形狀的第2電 極;將第1電極或第2電極設為沿著第2電極之方向分割 (分割電極者,分割電極係由位於輸出端面側之第丨電極 部與位於反射端面側之第2電極部組成;對於第丨電極部 與第2電極部,以產生自激振盪之方式施加值互異之驅動 電流。 根據第3半導體發光裝置的驅動方法,由於對於分割電 極之第1電極部與第2電極部,以產生自激振盪之方式施 加值互異之驅動電流,以致即使重疊高頻信號亦使相對雜 訊強度降低,因此可簡略化雷射元件之驅動電路。 在第3半導體發光裝置的驅動方法中,在自激振盪時, 以不對第1電極部及第2電極部中任一方施加驅動電流為 -12 - I紙張尺度適用中國®家標準(CNS) A4規格(21QX 297公董): — -----—
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五、發明説明(1〇 ) 佳。 有關本發明之半導體發光裝置的驅動方法,其係使用藉 具有振盪雷射光之共振器之半導體發光裝置所出射的: 射光之反射光’讀取記錄於記錄㈣之記錄資訊者,在二 取記錄,訊時,對於共振器注人不均勻之驅動電流β β 根據第4半導體發光裝置的驅動方法,由於對活性層注 入不均勾電流’因此可在活性層形成光吸收區域“士果, 因為振i臨界值電流之值增大’以致雷射振盧之微分增益 增加,可縮小低輸出時之相對雜音強度。 在第4半導體發光裝置的驅動方法中,半導體發光裝置 以自激振盪為佳。 Λ 二又’在帛4半導體發光裝置的驅動方法中,驅動電流以 向頻電流為佳。 此時’高頻電流之頻率以100 MHz以上為佳。 此外,習知之半導體發光裝置中,例如布拉格反射器 PBR)雷射元件等之積體雷射元件,雖然電極已分割之雷 射元件亦存在,惟元件對應於已分割之各電極具有不同之 功能,發光區域之結晶構造等在每一個電極上功能不同。 又,對電極已分離之習知雷射元件施加調變電流時,施 加強度、頻率數或相位等不同的電流。再者,雖然在p側 電極之兩側設置n側電極之雷射構造為週知,惟η側電極 之共振器的共振方向長度變為相同。 【圖面之簡要說明】 圖1係表示有關本發明第1實施形態之半導體雷射元件之 -13 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210X297公釐) 523971 五、發明説明(11 斜視圖。 一圖2(a)★及(b)係表示有關本發明第丨實施形態之半導體雷 元件之第1驅動方法的模式斜視圖,(a)係高輸出心二 模式斜視圖、(b)係低輸出動作時之模式斜視圖。 圖3係表示有關本發明第丨實施形態之半導體雷射元 之第2驅動方法的模式斜視圖。 · 係表示有關本發明第丨實施形態之半導體雷射 之第3驅動方法的模式斜視圖。 圖5⑷至⑷係表示有關本發明第2實施形態之半導體命 射元件之製造方法的步驟财之構成,⑷及(b)為剖視圖田 (C)為平面圖及左側面圖。 圖6⑷及⑻係表示有關本發明第3實施形態之半導許泰 射元件與其驅動方法之模式斜視圖。 圖7⑷至⑷係表示有關本發明第3實施形態之半導體· 射元件之製造方法的步驟順序之構成,⑷為剖視圖、二 為平面圖、⑷為平面圖及左側面圖、⑷及⑷為平面圖。 圖8係表示有關本發明第3實施形態__變形例 雷射元件之平面圖。 k 圖9(a)及(b)係表示有關本發明第4實施形態之半導體雷 射:件(第1驅動方法的模式斜視圖,⑷係高輸出動作時 《模式斜視圖' (b)係低輸出動作時之模式斜視圖。 圖1〇係表示有關本發明第4實施形態之半導體雷射元件 與其第2驅動方法之平面圖。 圖11係表示有關本發明第4實施形態一變形例之半導體 -14 - 裝 訂 線 X 297公釐) 523971 五、發明説明(12 雷射元件與其驅動方法之平面圖。 圖12係表示有關本發明第$實施來能、 之斜視圖。 半導體雷射元件 圖13⑷至⑷係表示有關本發明第5實施形賤之髀泰 =件rtf方法的步驟順序之構成,⑷為;面圖及:: 面圖、(b)及⑷為平面圖、⑷為左侧面圖。 圖14係習用半導體雷射元件之斜視圖。 【元件符號說明】 11半導體基板 12活性層(發光層) Ua出射端面 ^曰) 13b反射端面 12 P型半導體部(第2半導體層) 12 p側電極 1 qt ^ 15罘1运極部(分割電極) 15b第2電極部(分割電極) 12 η側電極 哲1 a t 16a罘1電極部(分割電極 16b第2電極部(分割電極) 16c分刻區域 16d重疊部 20信號源 ?? 9 -r ^ ^ (罘丨)可夂电阻器(電阻可變機構) 罘2可交电阻器(電阻可變機構) 31基板 40a開口部 41a第1開口部 42a開口部 :發明之實施形態 4〇光阻圖案 41光阻圖案 42光阻圖案 -15 - 本紙張尺歧中國國家標準(CNS) χ 297公爱) 523971 A7
P型半導體部14之p型接觸層的p側電極15之側方部分 係利用蝕刻縮小膜厚,在活性層13形成導波路(共振器)。 從而,P型接觸層之第1電極部15a與第2電極部15b之間 的區域未姓刻。 P側電極15之第1電極部15a與第2電極部丨別之間隔 約設為1 /zm。又,調整第2電極部丨讣的長度,俾使雷 射光的臨界值電流成為高輸出動作時之2倍至3倍,例如 成為100 mA左右。在此,將導波路的長度設為〇 5 mm時 ,亦可將第2電極部i5b的長度設為〇lmm〇 在半導體基板11之活性層13所形成之主面與反射面之 面(背面)上,例如形成有由鈦(Ti)與鋁(A1)之積層體組成的 π側電極16。 斤活性層13在導波路的全區域上約具有均勻的膜厚。由於 虱化物半導體微分獲利大,故當活性層13之膜厚不均句時 ,在P側電極15及n側電極16注入電流以進行高 作時,所獲得之發光光變成不平均。結果,由於無法獲得 所期望之發光強度,因此活性層13之膜厚必須成為平均。 又即使在n型半導體部12及p型半導體部14中,上 述所包含之各半導體層的膜厚係在導波路延伸的方向(出 射方向)上約為相同。尤其是在氮化物半導體時,由於?型 半導體之電阻值大,故當ρ型半導體部14之膜厚在出射方 向上不均勻時,將導致驅動電流之注入不均勻。結果,在 Ρ側電極15及η側電極16注入電流以進行高輸出動作時 ,無法充分獲得所期望之光輸出。為了避免上述情況,構 -17 -
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成η型半導體部12及p型 u 導體部14之各半導體層之膜 厗在出射万向上約設為均一。 ^而,如上所述,Ρ侧電極15之第ι電極部… 2 Γ〇極邵15b之間隔約設為1心左右。將該間隔設為大於 以上時,即使在高輸出動作同時對第!電極部15a 與罘2電極部15b注入驅動雷、、六,+你丄 ,、、 %動电况,亦將在活性層13形成未 注入驅動電流之區域,而無法獲得所期望之雷射振堡特性 :因而…電極部15a與第2電極部⑽之間隔,以不 使大電流流動的範圍内之小間隔為佳。 如上所述,不除去p型接觸層之第i電極部…與第2 電極部15b之間的區域而予以殘留。這是因為在對於第【 電極部15a與第2電極部15b雙方注入驅動電流時,欲使 活性層13之第1電極部15a與第2電極部15b之間的下侧 區域形成非發光區域之緣故。 以下’參關®說明上述所構成之4導體雷射元件 作。 (第1驅動方法) 首先,說明半導體雷射元件用於例如HD-DVD裝置之拾 訊部時,相當於該寫入動作之高輸出動作的驅動方法。如 圖2(a)所示,在進行高輸出動作時,對於ρ側電極b之第 1電極部15a及第2電極部15b與η側電極16施加脈衝狀 驅動電流。藉此,對活性層13注入平均之驅動電流。 繼而,說明相當於HD-DVD裝置之讀取動作的低輸出動 作之驅動方法。如圖2(b)所示,在進行低輸出動作時,對 -18- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210 X 297公釐)
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523971 發明説明 於p側電極15之第丨電極部15a#n侧電極16施加利用 信號源20重叠高頻信號之脈衝狀驅動電流。亦即,未對p 側電極15之第2電極^5b施加驅動電流。在此,所重叠 之高頻信號的頻率數以高於1⑽MHz以上為佳,這在其他 實施形態中亦相同。 藉由對這種活性層13注入不平均之電流,除了僅使活性 層13之第1電極部15a之下側部分發光之外,活性層, <第2電極部15b之下側部分則作為光吸收區域之功能。 藉由形成孩光吸收區域,使得如超微發光二極體元件般之 圖案匹配模式的光譖線寬變寬,結果,可降低發光光之干 涉性,亦可成為低雜訊化。 此外,在1實施形態中,雖然對半導體結晶使用振盪波 長約400 nm之III_V族氮化物半導體,但並不限定於此, 亦可使用如振盪波長670 nm左右之磷化鎵銦^^以㈠之 ΙΠ-V族鱗化物半導體。 然而’在使用氮化物半導體之雷射元件時,以具有以下 瑣事之種種特徵為宜。 亦即,由於氮化物半導體之Ρ型結晶其電阻率大,故即 使絕緣分離ρ型接觸層等之Ρ型半導體部14 ,亦僅分割Ρ 側電極15,可對活性層13之基板面垂直的方向注入不均 勻的電流。 再者,對於磷化物半導體或砷化物半導體結晶採用閃鋅 礦型之結晶構造而言,由於氮化物半導體結晶採用六方晶 系之結晶構造’因此在對於與基板主面之平行方向垂直的 -19 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐)
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523971 A7 B7 五、發明説明(17 方兩上,彼此的電性特性相異。例如,載子的移動度在基 板的主面上係垂直的方向比平行的方向小。結果,在氮化 物半導體結晶之情況下’由於分割電極亦即在帛i電極部 15a與第2電極部15b之間電流難以流動,故進行電極分 割之效果大。 又’氮化鎵(GaN)系化合物半導體與以鱗化姻(inp)或砰化 鎵(GaAs)為主成分之化合物半導體相比微分增益極大。 這是因為氮化鎵屬於六方晶系,啻、门卞人, 广 、 万叩糸,電洞不會縮退之緣故。如 此’氣化嫁系化合物半導體闲五姆八 卞子囚為微分増益大,以致電流的 分布有些微的偏差時,僅处W反女以、/上 了 使〜日日具有增益或變為損失變化。 結果’在使用氮化嫁系化合物本道、 口物牛導體足雷射元件中,使驅 動電流不均勻注入活性屏〗1 1 1、< f生層13,可有效謗發導波路之光密度 分布的變化。 、 (第2驅動方法) 繼而,說明有關本發明第1 之第2驅動方法。 貫施形態之半導體雷射元件 如圖3所示,在p側電極 20之間連接可變電阻器2!, 號之脈衝狀驅動電流施加於 與η側電極16。 ^之第2電極部15b與信號源 將來自信號源20重疊高頻信 P側電極15之第2電極部15b 在進:高輸出動作時,將可變電阻器21之電阻值約設定 ::二,二輸出動:時’將可變電阻器21之電阻值設 勻驅勤♦,結果’在㊅輸出動作時,對活性層13注入均 —在低輸出動作時,對活性層13注人不均勾之 ' 20 -
523971 五、發明説明(18 ) 驅動電流。力此,II由調整可變電阻器21纟電阻值調整施 加於第2電極部15b之驅動電流量,可調節活性層13之發 光光的吸收量。 亦即,使第2電極部15b形成適當的長度,之後,調整 可义电阻器21之電阻值’藉由使雷射振盧之臨界值變化, 可降低低輸出動作時之相對強度雜訊。 此外,施加在低輸出動作時之第2電極部丨兄之驅動電 流之值,以施加於第i電極部15a之驅動電流之值的2分 之1左右以下為佳。 又’未對第2電極部15b施加驅動電流之第!驅動方法 ’係相當於將第2驅動方法之可變電阻器21的電阻值設定 為無限大。 又’在第1實施形態中,雖在信號源2〇與第2電極部夏北 之間連接可變電阻器21,但是取而代之亦可連接於信號源 20與第1電極部i5a之間。 而且,雖以可變電阻器21作為對口側電極15之第2電 M 15b降低驅動電流量之手段’惟並不限^此亦可 為與可變電阻器21具有相同功能之元件或電路構成。 另外,即使對直流信號施加偏壓電流,亦可調整活性層 之發光光的吸收量。 θ (第3驅動方法) 、繼而,說明有關本發明第!實施形態之半導體雷射元件 之第3驅動方法。 如圖4所示,第3驅動方法係取代對第i電極部…施加 523971 A7 _ - ___ B7 五、發明説明(19 ) 驅動電况,而是對第2電極部15b施加重疊高頻信號之狀 驅動電流。藉此,由於活性層13之出射端面13a側之發光 光的輸出強度降低,因此可抑制出射端面13a之劣化。 此外,由於在反射端面13b中發光光之強度變大,因此 雷射之振盪模式穩定。 又,與磷化鎵銦系紅色半導體雷射元件相異,由於氮化 鎵系藍色半導體雷射元件之基板透明,故來自基板的散射 光奶入出射光,使雜訊有增加的傾向。如第3驅動方法, 對遠離出射端面13a側之第2電極部15b施加驅動電流, 藉由減少出射端面13a側之值入電流,可降低來自基板的 散射光。結果,由於來自基板的散射光難以混入出射光, 因此可降低雜訊。 (第4驅動方法) 繼而,說明有關本發明第丨實施形態之半導體雷射元件 之弟4驅動方法。 將活性層13中成為光吸收層之第2電極部15b的下側部 分之第1電阻值設為Rv,將第i電極部15a與第2電極部 15b之間的區域之第2電阻值設為Rs,更將元件電容設為 C時,雷射元件之共振頻率數f以下述之式表示。 ϊ=2π /{(Rv+Rs)C}1/2 …(i) 例如,當第1電極部l5a與第2電極部15b之間隔設為 1 時,第2電阻值設為Rs成為15 q ,第2電極部15b 之長度為0.1mm時,由於元件電容c成為〇8fF ,故將第 1電阻值Rv設為20 Ω ,藉由對p側電極15之第2電極部 -22 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 523971 A7 __B7 五、發明説明(2〇 ) 15b與η側電極16施加驅動電流,使共振頻率數f產生成 為37 MHz之自激振盪現象。 當產生自激振盪現象時,即使對驅動電流重疊高頻信號 ,由於相對雜訊強度降低,故可簡略化雷射元件之驅動電 路。 藉由該自激振盪動作,確定可使光輸出設為丨mW時之相 對雜訊強度降低至-110 dB/Hz至_135 dB/Hz以下。 此外,產生習知之自激振盪之半導體雷射元件具備有在 分布光之區域吸收光之結晶層,驅動電流如本實施形態般 進行不均勻注入。 (第2實施形態) 以下,參照圖示說明本發明第2實施形態。 圖5(a)至(c)係表示有關本發明第2實施形態之半導體雷射 元件之製造方法的步驟順序之構成。 首先,如圖5(a)之剖面圖所示,在由藍寶石組成之基板 31上,例如利用MOVPE法使η型半導體部12、活性層13 及Ρ型半導體部14依序生長。在此,η型半導體部12係 從下層依序成膜有··由η型氮化鎵(GaN)組成之η型接觸層 、由η型氮化鎵鋁(AlGaN)組成之η型覆蓋層及由η型氮化 鎵(GaN)組成之η型導引層。此外,ρ型半導體部14係從 下層依序成膜有:由ρ型氮化鎵(GaN)組成之ρ型導引層、 由P型氮化鎵鋁(AlGaN)組成之ρ型覆蓋層及由p型氮化鎵 (GaN)組成之ρ型接觸層。 活性層13係使用例如鋁之組成比氮化鎵銦或是各接觸層 -23 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(21〇X297公釐厂 523971 A7
:的氮化鎵華GaN)。繼而’例如利用蒸鍵法在p型丰 :體邵η全面沉積由鎳⑽)與金(Au)之積層體組成之膜厚 、、力100 nm下的第1金屬膜。 、繼而,如相對於目5⑻之|波路(共振器)形成區域平行的 万向之剖面圖所示,制微影法,在已沉積之第丨金屬膜 上相對於寬度i 且相對於導波路形成區域約垂直的方 向,形成具有開口部40a之p側電極形成用光阻圖案4〇。 ,後,以所形成之光阻圖案40作為遮罩,藉由對於第U 屬膜使用含有氯之蝕刻氣體進行乾姓刻,從第^屬膜形 成由第i電極部15a及第2電極部15b組成之p側電極15。 “繼而,如圖5(c)足平面圖及左側面圖所示,藉由對p型 半導體部12使用含有氯之蝕刻氣體進行乾蝕刻,在p側電 極15兩側之區域露出卩型導引層,形成具有條帶形狀之導 波路。然後,藉由使用含有氯之蝕刻氣體進行乾蝕刻,在 P側電極15 —側之區域露出η型半導體部14之n型接觸 層。繼之,利用蒸鍍法,沉積由鈦(Ti)與鋁(Α1)之積層體組 ^的第2金屬膜,對已沉積之第2金屬膜進行圖案化,從 第2金屬膜形成n側電極16。 如此,在第2實施形態中,因為有必要使分割電極亦即 Ρ側屯極15之第丨電極部15a及第2電極部15b之間隔縮 小至1 # m以下,俾使蝕刻變為容易,而將p側電極15 之厚度设為低於100nm。從而,有關第2實施形態之半導 &田射元件安裝於安裝構件時,由於可抑制因銲料引起p 側电極15之劣化,故在P側電極15上施加厚度為10 // m 24 - 五、發明説明(22 ) 左右之金電鍍’俾使p側電極15與錦料不直接接觸。 此外S第2實施形態中’雖然在基板上使用絕緣性基 板31,惟如第i實施形態,在使用導電性基板時,亦可將 η側電極16設置於基板之背面上。 (第3實施形態) 以下’參照圖示說明本發明之第3實施形態。 圖6(a)及(b)係表示有關本發明第3實施形態之半導體雷 射兀件與其驅動方法之模式圖。在圖石⑷及⑻中,與圖1 所示之構成構件為相同之構成構件時,藉由附加相同的符 號表示而省略其說明。 如圖6⑷所示,彳關本發明帛3實施形態之半導體雷射元 件,係使用例如由藍寶石組成之具有絕緣性的基板31上。 在基板31之主面上利用MOVPE法形成n型半導體部12 、活性層13及p型半導體部14。 在第3實施形態中,具有條帶形狀之p側電極15係未分 割。取而代之,㈣n型半導體部12之p側電極Μ 一方 的區域以露出η型接觸層、在其露出區域形成η側電極Μ 並以孩η側電極16作為分割電極。 ^亦即’ η側電極以活性層13之出射端面⑴側作為 弟1電極部16a,以反射端面13b侧作為第2電極部⑽。 由於η型半導體部12之電阻值比p型半導體部u、, 故I代分割p側電極15而分割n側電極16時,即使將第 1電極部16a與第2電極部16b之間隔加寬至1〇 左右 ’斫可對活性| 13注入均勻的驅動電流。從而,如第1 523971 真、發明説明(24 ) 以下,如上所述參 之動作。 照圖式說明所構成之半導體 雷射元件 首先’說明半導體雷射元件之 。如圖-如 ^輪出動作時之驅動方法 圃0U)所不,在進行高輸出動作眸 ri側電極16之第丨雷## 乍寺,對Ρ側電極15與 <1电極部16a及第9兩知, jb > ig ^ ^ ^ ^ 电極部16b施加脈衝 狀之驅動电况。藉此,對於活 黑朴,』回^ 屬/王入約均勻之驅動電流。 卜如圖6(b)所示,在進行低輪Α無& 1 . ^ 0 ^ α 返仃低犄出動作時,在η側電極 弟,部16b與信號源20之間,連接可變電阻器 :JP側电極側電極16之第i電極部i6a及第2 1邵16b’施加從信號源2〇重叠高頻信號之脈衝狀的驅 動电流。此時,將可變電阻器21之電阻值設為有限值,可 :第2電極部施加振幅小於施加在第ι電極部w之 弟1驅動電流的第2驅動電流。但是,因應雷射光之輸出 強度,亦可將第2驅動電流之電流量約設為〇。 此外,如圖6(a)所示,係相當於在圖6(b)中相當於將可變 電阻器21之電阻值設為〇。 藉由孩構成,與第1實施形態相同,可使低輸出動作時 之相對雜音強度降低。 此外,即使在第3實施形態中,亦可將可變電阻器21連 接於信號源20與第1電極部16a。 又,η側電極16之第2電極部16b與信號源20之間雖設 置有可變電阻器21,惟亦可具有與可變電阻器21相同的 功能之元件或電路構成。而且,即使取代以驅動電流作為 交流信號,對直流電流施加偏壓電流,亦可調整活性層13 -27 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐)
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523971 五、發明説明(25 ) 之發光光的吸收量。 又,在低輸出動作時,取代第i電極部16a,對 部16b施加驅動電流’亦可使用帛i實施形態所::亟 驅動方法。 '心罘;3 亦可進 再者,使用第1實施形態所示之第4驅動方法, 行自激振盪動作 (製造方法) 以下,參照圖示說明上述所構成之半導體雷射元 造方法。 表 圖7(a)至(e)係表示有關本發明第3實施形態之半導體雷 射元件之製造方法的步驟順序之構成。 恤田 首先,如圖7(a)之剖面圖所示,在由藍寶石組成之基板 31上,例如利用MOVPE法使n型半導體部12、活性^13 及Ρ型半導體部14依序生長。在此,η型半導體部^係 從下層依序成膜有··由η型氮化鎵(GaN)組成之η型接觸層 、由η型氮化鎵鋁(A1GaN)組成之η型覆蓋層及由η型氮化 鎵(GaN)組成之η型導引層。此外,ρ型半導體部14係從 下層依序成膜有:由Ρ型氮化鎵(GaN)組成之ρ型導引層、 由P型氮化鎵鋁(AlGaN)組成之p型覆蓋層及由p型氮化胃鎵 (GaN)組成之p型接觸層。 活性層13係使用例如鋁之組成小於氮化鎵銦(InGaN)或 是各接觸層的氮化鎵鋁(AlGaN)。 繼之’如圖7(b)之平面圖所示,藉由使用包含氯之蝕刻氣 體進行蝕刻,沿著導波路形成區域露出η型半導體部12之 -28 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210X297公釐) 523971
η型接觸層。 繼而,如圖7(c)之平面圖及左側面圖所示,例如利用蒸鍍 法及姓刻法,在ρ型半導體部Μ上之導波路形成區域形成 由鎳(Ni)與金(Au)之積層體組成之膜厚約i 8^瓜至25#m 之P側電極15。此外,在此,於露出n型接觸層之蝕刻步 驟後,雖然蒸鍍Ρ側電極形成用之第丨金屬膜,惟取而代 之,亦可在蒸p側電極形成用之第丨金屬膜之後,依序進 行使p側電極15之圖案化與n型接觸層之蝕刻。 然後,如圖7(d)之平面圖所示,利用微影法,在η型半導 體部12之露出區域上,亦即在反射端面13a側形成具有第 1開口部41a,在反射端面13b側形成具有第2開口部41b 之η側電極形成用之光阻圖案41。 繼而,如圖7(e)之平面圖所示,在光阻圖案41上利用蒸 鍍法,沉積由鈦(Ti)與鋁(Α1)之積層體組成的第2金屬膜, 藉由使光阻圖案41剝落,預留規定間隔從第2金屬膜形成 所分割之第1電極部16a及第2電極部16b組成之n側電 極16。 如此,在有關第3實施形態之半導體雷射元件中,由於 为割電極之各電極部16a、16b之間的間隔大於1 〇 # m左 右,故使用製造容易之剝落法。 (第3實施形態之變形例) 以下’依據圖面說明有關第3實施形態之變形例的η側 電極16之平面形狀。 圖8(a)係表示有關本發明第3實施形態一變形例之半導 -29 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210 X 297公釐) 523971
體雷射元件之平面構选圖』固〇 側電㈣之第!電^1 ⑷所示,形成有位於n 區域…,俾使相對二广及第2電極部⑽之間的分割 左a板面JTt 電極15之長邊方向(條帶方向) 在基板面内垂直〈方向,亦即相對於向) 之傾斜…(但是,〇。…90。)。 有預疋 有關第3實施形態之半導體雷 ,由 設ΐ於導波路(共振器)之側方,故如圖_示,相對 側电:15延伸《万向垂直之方式設置時,於η側電極16 兩電極部 1 6 a、1 6 b > ρ6! αα yv 士 丨《~~ 間的分割區域16c,在高輸出動作 時,於η側電極16之第i電極部⑹及第2電極部⑽之 兩,部施加驅動電流之際,對於活性層哪型接觸層) 而言,恐有產生未注入驅動電流之區域之虞。 因此’於本變形例中,使n侧電極16之第i及第2電極 部、16a、16b之間的分割區$ 16c相對於p側電極15之長 邊方向與基板面内垂直的方向,以具有大於〇。且小於9〇。 之小傾斜角度Θ的方式設置。ϋ此,纟分割區域—中, 第1電極部16a與第2電極部16b由於至少沿著A_A線方 向一個個出現,因此在活性層13不會產生未注入驅動電流 之區域。 此外,分割區域16c之形狀,如圖8(b)所示,例如亦可 為具有傾斜角度Θ1至04之Z字狀。從而,若圖8(a)亦將 刀割£域16c之形狀彡又為折線狀時,複數傾斜角度中之一 個亦可大於0°且小於90°。再者,分割區域i6c之形狀亦 可設為曲線狀,不限於圖8(a)及圖8(b)。 一般,由於使用氮化鎵系化合物半導體之雷射元件的半 -30 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 523971 A7
導體之結晶構造為六方晶系,故在導波路導入一軸性扭 時,增益增大且振盪特性提昇。 從而’如第3實施形態’藉由在導波路之側方設置電核 ,可有效地導入一軸性扭變,可使雷射元件之光學特性提 昇0 又,如第3實施形4態,使用具有絕緣性之基板31形成啦 射構造時,η型半導體部12之厚度成為2 左右。結= 、,與使用導波路時相比,可抑制n型半導體部12之注入電 流:擴散。因此,藉由分割n側電極16,對於活性層η 而言,可不均句值入垂直該基板面之方向。 (第4實施形態) 以下,參照圖示說明本發明之第4實施形態。 圖9(a)、圖9(b)及圖1〇係表示有關本發明第4實施形態之 半導沾:田射元件與其驅動方法之模式圖。在圖圖9(b) 及圖10中,與圖6(a)所示之構成構件為相同之構成構件附 加相同的符號。 在第3實施形態中’n侧電極16之第i電極部…與第 2電極部16b^成側㈣15_方之一侧區域上。 ,第4實施形態係、露出n型半導體部以p侧電極以 側方之區$,在-方之露出區域之全面上形成有第1電極 部16a,在另—方之露出區域一部份的區域上,例如在反 射端面⑽側形成有第2電極部16b。亦即,形成有第! 電極部16a輿第9 興弟2电極邵16b,俾使各平面形狀相對於p 側電極15成為非對稱。
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523971 A7 B7 五、發明説明(3〇 為0,將第2可變電阻器22之電阻值設定為電流在第2電 極部16b不流動的程度,使來自信號源2〇重疊高頻信號之 脈衝狀驅動電流流動。結果,在高輸出動作時,可對活性 層13注入平均之驅動電流。 / 另外,在低輸出動作時,將第丨可變電阻器21之電阻值 設定為電流在第i電極部16a不流動的程度,將第2可變 電阻器22之電阻值設定為〇,使來自信號源加重疊高頻 信號之脈衝狀驅動電流流動。結果,在低輸出動作時,可 對活性層13注入不平均之驅動電流。 如此,施加於第1電極部16a之驅動電流量藉由第}可 變電阻器21加以調整,施加於第2電極部I6b之驅動電流 量藉由第2可變電阻H 22加以調整,可調節活❹^之 J光光的吸收量。藉此,可使低輸出動作時之相: 音降低。 此外,在第i驅動方法中,相當於高輸出動作將第2可 變電阻器22之電阻值設為無限大’低輸出動作將第!可變 電阻器之電阻值設為無限大。在此,亦可取代第i及第 2可變電阻器21、22,設置開關元件。 又,雖然使用可變電阻器作為降低驅動電流量之手段, ㈣可為具有與可變電阻器同等功能之元件或電路構成。 =、:即使取代在驅動電流使用脈衝狀之交流信號,藉由 子直社號施加偏壓電流’亦可調整活性層之發光 收量。 另外’使用第i實施形態所示之第4驅動方法亦可進行 自激振盪動作。 523971
(第4實施形態之變形例) 以下’參照圖不說明本發明之第4實施形態之變形例。 ♦圖1U系表不有關本發明$ 4實施形態—變形Μ之半導體 、射元件與其驅動方法之平面圖。在圖"中,與圖10所示 之構成構件為相同之構成構件附加相同的符號。 本欠形例係在與第2電極部16b相對之部份未設置挾住η '電極16 „ 1電極部16a與Ρ側電極15之構成。 ^ 在第2私極部16b與信號源20之間,不須設置第 2可變電阻器22。 電 >有關本&形例之半導體雷射元件的其驅動方法,在進行 向輸出動作時,將可變電阻器21之電阻值約設定為〇,在 ,仃低輸出動作時,將可變電阻器21之電阻值設定為有限 使來自信號源2〇重叠高頻信號之脈衝狀驅動電流施加 :P側電極15^側電極16之第i電極部16 2
J7使在本夂形例中’ n側電極i 6之第^電極部1及第 电極部16b係各平面形狀以相對於p側電極u 稱《方式形成。 ipT Ρ 疊 藉 ::卜 '第1電極部16a與第2電極部⑽係在相對於 二:,Π面内垂直方向上,以具有該鄭接之端部之間重瑩 门不16d之方式形成。藉此’在高輸出動作時,即使 。時對弟i電極部16a與第2電極部㈣施加驅動電流時 ,俾使亦可料活性層不產生未注入驅動電流之區域 此,可確保高輸出動作時之雷射光之均一性。 -34 - 本纸張尺度it财® ®家標準(CNS)A4規格(摩297公 523971
(第5實施形態) 以下,參照圖TF說明本發明之第5實施形態。 圖12係表示有關本發明第5實施形態之半導體雷射元件 。在圖12中’與圖!所示之構成構件為相同之構成構件附 加相同的符號。 第5實施形態係在基板上使用如氮化鎵般具有導電性之 半導體基板11。因為半導體基板u具有導電性,以致在 半導體基板11之背面約全面形成對於活性層13注入均勻 電流之η側電極16之第1電極部16a。藉此,在第5實施 形態中,分割電極分割為設置於半導體基板n主側面之第 2電極部16b與設置於半導體基板U背面之第i電極部i6a〇 藉此,由於形成於半導體基板11主面側之電極係一個個 成為P側電極15與η側電極16之第2電極部16b ,與圖 14所示之習知半導體雷射元件之構成約相同。結果,使用 習知之副安裝座將p侧電極15搭載於副安裝座上面,藉由 所謂p側下(sidedown)(junction down)方式,可安裝半導體雷 射元件。從而,有關第5實施形態之半導體雷射元件以p 側下(sidedown)方式安裝於副安裝座上之後,對半導體基板 11背面上之η側電極16之第1電極16a亦進行配線,可達 到分割形成η側電極16之電極分割型構造。 (製造方法) 以下,參照圖示說明如上述構成之半導體雷射元件之製 造方法。 圖13(a)至圖13(d)係表示有關本發明第5實施形態之半導 -35 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210 X 297公釐)
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發明説明 把雷射7C件之製造方法的步驟順序之構成。 j先如圖13(a)為平面圖及左側面圖所示,與第3實施 :態相同,在n型半導體部12之導波路形成區域一側方之 區域露出IX型接觸層之同時,在p型半導體部12上將 側電極15圖案化為條帶狀。 繼之,如圖13(b)之平面圖所示,利用微影法,在n型半 導體部12之露出區域上的反射端面Ub側形成具有開口部 42a之η側電極形成用光阻圖案42。 然後’如圖13(c)之平面圖所示,在光阻圖案42上例如 藉由蒸鍍法沉積由Ti與A1之積層體組成的金屬膜,藉由 使光阻圖案42剝落,從已沉積之金屬膜形成n側電極16 之第2電極部i6b。 繼而’如圖13(d)之平面圖所示,將半導體發光元件丨丨之 背面研磨至厚度約100 為止,然後,利用蒸鍍法在背 面上之全面沉積Ti與A1之積層體,以形成η側電極16之 第1電極部16a。 此外,在第1至第5實施形態中,雖然就將半導體雷射 元件用於光碟裝置之拾訊部說明其動作,但是並不限定於 此。亦即,對於半導體雷射元件而言,亦可用於如需要發 光光之輸出強度大的高輸出動作,輸出強度小的低輸出動 作之用途。 【發明之功效】 根據本發明之半導體發光裝置及其驅動方法,由於具有 分割形成p側電極或η側電極之分割電極,因此對該分 -36 - 本紙張尺度適用中國國家棵準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 523971 A7 B7 五、發明説明(34 ) 電極中之一部份施加驅動電流,由於藉由對活性層注入不 均勾之驅動電流,而導致振盪臨界值變大,可縮小低輸出 時之相對雜訊強度。 -37 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐)
Claims (1)
- A8 B8 C8 D8 523971 第090127158號專利申請案 中文申請專利範圍修正本(91年12月) 六、申請專利範圍 1. 一種半導體發光裝置,其特徵係具備有:形成於基板上 大致相同膜厚之第1導電型的第1半導體層; 形成於上述第1半導體層上大致相同膜厚之第2導電型 之第2半導體層; 在上述第1半導體層與上述第2半導體層之間形成約相 同膜厚,以生成發光光之活性層; 對上述第1半導體層供給驅動電流之第1電極;以及 對上述第2半導體層供給驅動電流之第2電極; 上述第1電極或上述第2電極係由彼此保有間隔之複數 導電性構件所構成之分割電極。 2. 如申請專利範圍第1項之半導體發光裝置,其中上述分割 電極係設置於上述基板上形成有上述活性層的主面側。 3. 如申請專利範圍第1或2項之半導體發光裝置,其中上述 第2電極係具有在上述活性層中形成共振器之條帶圖案, 上述分割電極係以分開上述共振器之出射端面側與反 射端面側之方式經分割。 4. 如申請專利範圍第1或2項之半導體發光裝置,其中上述 -第1電極及第2電極係設置於上述基板上形成有上述活性 層的主面側。 5. 如申請專利範圍第1或2項之半導體發光裝置,其中上述 分割電極為在上述活性層注入電洞之p側電極。 6. 如申請專利範圍第5項之半導體發光裝置,其中上述p側 電極係具有形成於上述第2半導體層上之條帶圖案; 上述p側電極之上述複數導電性構件間的間隔約為 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 1 ο # m以下。 7·如申請專利範圍第1或2項之半導體發光裝置,其中上述 分割電極為在上述活性層注入電子之11側電極。/、 , 8. 如申請專利範圍第7項之半導體發光裝置,其巾上述η側 電極係形成於上述第丨半導體層之上述1>側電極—側之侧 方所露出的區域上; 上述η側電極之上述複數導電性構件間的間隔約為 5 # m以上。 9. 如申請專利範圍第7項之半導體發光裝置,其中上述第2 電極係具有形成於上述第2半導體層上之條帶圖案 電極, P ’ 上述η側電極係由形成於上述第丨半導體層之上述p側 電極一側之側方所露出的區域上所形成之第丨電極部及 第2電極部組成; 位於上述第1電極部及第2電極部之間的分割區域相對 於上述Ρ側電極延伸的方向與基板面内垂直的方向,以具 有大於0°且小於90。之小傾斜角度的方式設置。 ίο.如申請專利範圍第7項之半導體發光裝置,其中上述第2 電極係形成於上述第2半導體層上之具有條帶圖案的ρ側 上述第1半導體層係露出於上述ρ側電極之兩側方; 上述η侧電極係由形成於上述第丨半導體層之上述ρ側 電極一側之側方上之第丨電極部,與形成於上述第丨半導 體層之上述ρ側電極另一側之側方的區域上之第2電極部 >23971 圍範利 專請 中 ABCD 組成; 上述第1電極部及第2電極部之各平面形狀係以相對於 上述P側電極成為非對稱之方式形成。 11. 如申凊專利範圍第i項之半導體發光裝置,其中上述基板 係具有導電性, 、上迟刀割可極係由以下構件組成:設置於與上述基板 =形成有上述活性層的主面相反側面上之第丨電極部;及 置於开/成有上述基板之上述活性層的主面側之2兩 極部。 ^ 12. 如申請專利範圍第n項之半導體發光裝置,其中上述分 割電極為11側電極,上述第1電極部設置於與上述基板I 王面相反側面上之大致全面,上述第2電極部設置於上述 Ρ側電極側方之區域的一部份; 上述第2電極係具有形成於上述第2半導體層上之條 圖案的ρ側電極。 ' 13. 如申請專利範圍第項之半導體發光裝置,並中 上述活性層之組成係由包含氮之化合物半導體所構成。 14·如申請專利範圍第!、2iUl項之半導體發光裝置,其中 上述活性層之组成係由包含磷之化合物半導體所構成。 導體發光裝置的製造方法,其特徵在於具備有以 在基板上分別以大致相同之膜厚依序+ 之第丨半導體層、活性層及第2導電型之第2半== 騾; ’ -3 - 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210X297公釐) 申请專利祀圍 在路出上述第1丰填㈣爲 . 半導體層上形成第 步—:份之後, 在上述第2半導體异卜带士 ~ 一 导把層上形成罘2電極之步驟;以及 精由將上述第1電極或第9兩紅 以形成分割電極之步驟 _分離為複數電極, 16.=請專利範圍第15項之半導體發光裝置的製造方法’ /、形成上述分割電極的步驟係使用蝕刻法。 17 j中咕專利聋已圍第15項之半導體發光裝置的製造方法, 其中形成上述分割電極的步驟係使用剥落法。 18.種半導體發光裝置的製造方法,其特徵在於具備有以 下步驟: ' 在基板上分別以大致相同之膜厚依序生長第丨導電型 之第1半導體層、活性層及第2導電型之第2半導體層之步 驟; 、在露出上述第丨半導體層一部份之後,在所露出之第1 半導體層上形成第1之η側電極之步驟; 在與上述基板之上述活性層相反側之面上形成第2之η -側電極之步驟;以及 在上述第2半導體層上形成ρ側電極之步驟。 19·如申請專利範圍第15至18項中任一項之半導體發光裝置 的製造方法,其中上述活性層之組成係由包含氮之化合 物半導體所構成。 20·如申请專利範圍第a至18項中任一項之半導體發光裝置 的製造方法,其中上述活性層之組成係由包含磷之化合 4 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210 X 297公釐) 裝 訂 523971 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 物半導體所構成。 2 1. —種半導體發光裝置的驅動方法,該裝置具備有:形成 於基板上之第1導電型的第1半導體層;形成於上述第1 半導體層上之第2導電型之第2半導體層;形成於上述第1 半導體層與上述第2半導體層之間,並生成發光光之活性 層;對上述第1半導體層供給驅動電流之第1電極;以及 對上述第2半導體層供給驅動電流之具有條帶形狀的第2 電極,將上述弟1電極或弟2電極設為在上述弟2電極之延 伸方向分割之分割電極;其特徵在於: 上述分割電極係由位於輸出端面側之第1電極部與位 於反射端面側之第2電極部組成; 當將雷射光之振盪輸出值相對增大時,對上述第1電極 部及第2電極部施加第1驅動電流; 當將雷射光之振盪輸出值相對縮小時,對上述第1電極 部及第2電極部施加第1驅動電流,並對上述第2電極部施 加比上述第1驅動電流值小之第2驅動電流,或不施加該 第2驅動電流,或是對上述第2電極部施加上述第1驅動電 -流,並對於上述第1電極部施加比上述第1驅動電流值小 之第2驅動電流,或是不施加該第2驅動電流。 22.—種半導體發光裝置的驅動方法,具備有:形成於基板 上之第1導電型的第1半導體層;形成於上述第1半導體層 上之第2導電型之第2半導體層;形成於上述第1半導體層 與上述第2半導體層之間,並生成發光光之活性層;對上 述第1半導體層供給驅動電流之第1電極;以及對上述第2 -5 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 523971 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 半導體層具有供給驅動電流之條帶形狀的第2電極;將上 述第1電極或第2電極設為在上述基板之表背方向分割之 分割電極;其特徵在於: 上述分割電極係由以覆蓋與上述基板之上述活性層相 反側之大致全面的方式而設置之第1電極部;及設置在上 述第1半導體層上之出射端面或反射端面側之第2電極部 組成; 當將雷射光之振盪輸出值相對增大時,對上述第1電極 部及第2電極部施加第1驅動電流; 當將雷射光之振盪輸出值相對縮小時,對上述第2電極 部施加比上述第1驅動電流值小之第2驅動電流,或是不 施加該第2驅動電流,而且,對上述第2電極部施加上述 第1驅動電流。 23. 如申請專利範圍第21或22項之半導體發光裝置的驅動方 法,其中上述第2驅動電流係藉由通過可變電阻手段生成 上述第1驅動電流。 24. 如申請專利範圍第21或22項之半導體發光裝置的驅動方 -法,其中上述第2驅動電流的峰值約低於上述第1驅動電 流之辛值2分之1以下。 2 5.—種半導體發光裝置的驅動方法,該裝置具備有:形成 於基板上之第1導電型的第1半導體層;形成於上述第1 半導體層上之第2導電型之第2半導體層;形成於上述第1 半導體層與上述第2半導體層之間,並生成發光光之活性 層;在上述第1半導體層供給驅動電流之第1電極;以及 -6 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X297公釐) 523971 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 對上述第2半導體層供給驅動電流之具有條帶形狀的第2 電極;將上述第1電極或第2電極設為在上述第2電極之延 伸方向分割之分割電極;其特徵在於: 上述分割電極係由位於輸出端面側之第1電極部與位 於反射端面側之第2電極部組成; 對於上述第1電極部與上述第2電極部,以產生自激振 盪之方式施加值互異之驅動電流。 26. 如申請專利範圍第25項之半導體發光裝置的驅動方法, 其中在自激振盪時,不對上述第1電極部及第2電極部中 任一方施加驅動電流。 27. —種半導體發光裝置的驅動方法,其係使用藉由具有振 盪雷射光之共振器之半導體發光裝置所出射的雷射光之 反射光,讀取記錄於記錄媒體之記錄資訊;其特徵在於: 在讀取記錄資訊時,對於上述共振器注入不均勻之驅 動電流。 28. 如申請專利範圍第27項之半導體發光裝置的驅動方法, 其中上述半導體發光裝置為自激振盪。 29. 如申請專利範圍第27項之半導體發光裝置的驅動方法, 其中上述驅動電流為高頻電流。 3 0.如申請專利範圍第29項之半導體發光裝置的驅動方法, 其中上述高頻電流之頻率為100 MHz以上。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐)
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000334956 | 2000-11-01 | ||
JP2001116387 | 2001-04-16 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW523971B true TW523971B (en) | 2003-03-11 |
Family
ID=26603302
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW090127158A TW523971B (en) | 2000-11-01 | 2001-11-01 | Semiconductor light-emitting device, method for fabricating the same, and method for driving the same |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US6653662B2 (zh) |
TW (1) | TW523971B (zh) |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5142523B2 (ja) | 2003-06-04 | 2013-02-13 | チェオル ユー,ミュング | 縦型構造複合半導体装置 |
WO2005062433A1 (ja) * | 2003-12-22 | 2005-07-07 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 半導体レーザ装置およびレーザ投射装置 |
GB0404106D0 (en) | 2004-02-24 | 2004-03-31 | Shimadzu Res Lab Europe Ltd | An ion trap and a method for dissociating ions in an ion trap |
JP2005252032A (ja) * | 2004-03-04 | 2005-09-15 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 面発光レーザ素子およびそれを用いたレーザモジュール |
JP5336075B2 (ja) * | 2004-04-28 | 2013-11-06 | バーティクル,インク | 縦構造半導体装置 |
KR100568502B1 (ko) * | 2004-08-11 | 2006-04-07 | 한국전자통신연구원 | 반도체 발광소자 |
TWI389334B (zh) * | 2004-11-15 | 2013-03-11 | Verticle Inc | 製造及分離半導體裝置之方法 |
JP4411540B2 (ja) * | 2005-09-15 | 2010-02-10 | ソニー株式会社 | 半導体レーザ装置 |
KR100706944B1 (ko) * | 2005-10-17 | 2007-04-12 | 삼성전기주식회사 | 질화물계 반도체 발광소자 |
US7829909B2 (en) * | 2005-11-15 | 2010-11-09 | Verticle, Inc. | Light emitting diodes and fabrication methods thereof |
US7659546B2 (en) * | 2005-12-23 | 2010-02-09 | Hong Kong Applied Science And Technology Research Institute Co., Ltd. | Light emitting device |
US7659544B2 (en) | 2005-12-23 | 2010-02-09 | Hong Kong Applied Science And Technology Research Institute Co., Ltd. | Light emitting device with at least two alternately driven light emitting diodes |
US7474287B2 (en) * | 2005-12-23 | 2009-01-06 | Hong Kong Applied Science And Technology | Light emitting device |
JP2009158647A (ja) * | 2007-12-26 | 2009-07-16 | Sharp Corp | 窒化物系半導体レーザ素子およびその製造方法 |
JP2010251712A (ja) * | 2009-03-26 | 2010-11-04 | Sony Corp | バイ・セクション型半導体レーザ素子及びその製造方法、並びに、バイ・セクション型半導体レーザ素子の駆動方法 |
JP5004989B2 (ja) * | 2009-03-27 | 2012-08-22 | シャープ株式会社 | 窒化物半導体発光素子及びその製造方法、並びに、半導体光学装置 |
JP4927121B2 (ja) * | 2009-05-29 | 2012-05-09 | シャープ株式会社 | 窒化物半導体ウェハ、窒化物半導体素子および窒化物半導体素子の製造方法 |
US20110001126A1 (en) * | 2009-07-02 | 2011-01-06 | Sharp Kabushiki Kaisha | Nitride semiconductor chip, method of fabrication thereof, and semiconductor device |
US20110042646A1 (en) * | 2009-08-21 | 2011-02-24 | Sharp Kabushiki Kaisha | Nitride semiconductor wafer, nitride semiconductor chip, method of manufacture thereof, and semiconductor device |
JP2011187579A (ja) * | 2010-03-05 | 2011-09-22 | Sony Corp | モードロック半導体レーザ素子及びその駆動方法 |
JP5623159B2 (ja) * | 2010-06-30 | 2014-11-12 | ソニー株式会社 | 半導体光増幅器の位置合わせ方法及び光出力装置 |
JP5742344B2 (ja) * | 2011-03-20 | 2015-07-01 | 富士通株式会社 | 受光素子、光受信器及び光受信モジュール |
JP2013105975A (ja) | 2011-11-16 | 2013-05-30 | Mitsubishi Electric Corp | 光半導体装置の製造方法 |
JP6238226B2 (ja) * | 2013-09-30 | 2017-11-29 | 住友電工デバイス・イノベーション株式会社 | 半導体レーザ装置 |
US10840406B2 (en) * | 2017-04-17 | 2020-11-17 | Hamamatsu Photonics K.K. | Optical semiconductor element and method of driving optical semiconductor element |
US10879449B2 (en) * | 2017-05-11 | 2020-12-29 | Nihat Okulan | Semiconductor strain gauge and method of manufacturing same |
EP3609028A1 (en) * | 2018-08-10 | 2020-02-12 | Technische Universität Wien | Laser assembly, spectrometer and method for operating a laser |
Family Cites Families (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2210878B1 (zh) * | 1972-12-19 | 1976-04-23 | Radiotechnique Compelec | |
JPS5727088A (en) | 1980-07-25 | 1982-02-13 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Semiconductor laser device |
JPS5736887A (en) | 1980-08-14 | 1982-02-27 | Agency Of Ind Science & Technol | Semiconductor laser |
JPS57139985A (en) | 1981-02-24 | 1982-08-30 | Nec Corp | Buried semiconductor laser element with multiaxis mode |
JPS6066890A (ja) | 1983-09-22 | 1985-04-17 | Toshiba Corp | 半導体レ−ザ装置 |
JPS6235687A (ja) | 1985-08-09 | 1987-02-16 | Nec Corp | 複合半導体レ−ザ |
JPS6239087A (ja) | 1985-08-14 | 1987-02-20 | Nec Corp | 半導体レ−ザ |
JPH0642578B2 (ja) | 1985-12-17 | 1994-06-01 | 松下電器産業株式会社 | 半導体レ−ザ装置 |
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JP2533355B2 (ja) * | 1988-03-11 | 1996-09-11 | 国際電信電話株式会社 | 分布帰還形半導体レ―ザ装置およびその電流注入方法 |
JPH01251774A (ja) | 1988-03-31 | 1989-10-06 | Nec Corp | 半導体レーザ装置及びその駆動方法 |
JPH01251775A (ja) | 1988-03-31 | 1989-10-06 | Nec Corp | 半導体レーザ装置及びその駆動方法 |
JP2643276B2 (ja) | 1988-04-14 | 1997-08-20 | 日本電気株式会社 | 半導体レーザの駆動方法 |
JP2593215B2 (ja) | 1989-01-24 | 1997-03-26 | キヤノン株式会社 | 半導体レーザ駆動方法 |
JPH0317839A (ja) | 1989-06-15 | 1991-01-25 | Canon Inc | 半導体レーザ駆動方法 |
US5107311A (en) * | 1989-08-02 | 1992-04-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Semiconductor light-emitting device |
JPH03127892A (ja) | 1989-10-13 | 1991-05-30 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体レーザ装置 |
JP3214700B2 (ja) | 1990-11-29 | 2001-10-02 | 株式会社東芝 | 半導体レーザ装置 |
JPH04225577A (ja) * | 1990-12-27 | 1992-08-14 | Eastman Kodak Japan Kk | 発光ダイオード |
JP2960831B2 (ja) | 1993-03-23 | 1999-10-12 | シャープ株式会社 | 半導体レーザー装置及びその駆動方法 |
JP2940462B2 (ja) | 1996-03-08 | 1999-08-25 | 松下電器産業株式会社 | 半導体レーザ |
JP3448450B2 (ja) | 1996-04-26 | 2003-09-22 | 三洋電機株式会社 | 発光素子およびその製造方法 |
US6185238B1 (en) * | 1997-02-21 | 2001-02-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Nitride compound semiconductor laser and its manufacturing method |
JP3033517B2 (ja) * | 1997-04-17 | 2000-04-17 | 日本電気株式会社 | 半導体波長可変レーザ |
JPH11340573A (ja) | 1998-05-28 | 1999-12-10 | Sharp Corp | 窒化ガリウム系半導体レーザ素子 |
JP2001127381A (ja) | 1999-10-26 | 2001-05-11 | Sony Corp | ゲインガイド型半導体レーザ素子及び光導波路 |
JP3734740B2 (ja) | 2000-11-01 | 2006-01-11 | 松下電器産業株式会社 | 半導体レーザ素子 |
-
2001
- 2001-10-31 US US09/984,913 patent/US6653662B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2001-11-01 TW TW090127158A patent/TW523971B/zh not_active IP Right Cessation
-
2003
- 2003-10-07 US US10/681,443 patent/US7005680B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20020050596A1 (en) | 2002-05-02 |
US6653662B2 (en) | 2003-11-25 |
US20040065893A1 (en) | 2004-04-08 |
US7005680B2 (en) | 2006-02-28 |
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GD4A | Issue of patent certificate for granted invention patent | ||
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |