TW419668B - Semiconductor memory having hierarchical bit line and/or word line architecture - Google Patents

Semiconductor memory having hierarchical bit line and/or word line architecture Download PDF

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TW419668B
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TW087119670A
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Gerhard Mueller
Toshiaki Kirihata
Hing Wong
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Siemens Ag
Ibm
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經濟部中央標準局貝工消费合作社印製 419668 A7 B7 ____ 五、發明说明(/ ) 發明領域 本發明之發明領域傈有髑於如動能随機存取記億醱 (D R A H>的半導體記億體,尤其是舆具有分層位元線及 /或字元線结_的半導體記億體。 發明背景 多年前即己發展出分層或H分段”位元線结構,以增加 記憶體晶Η的整合密度β此結構允許對於一給定數目的 記億體胞元或減少占用空間之威澜放大器的數目,因此 減少晶片尺寸或對於給定大小的晶Η可增加記億醱容量《 第1醒示傳統之半導鑤記億體的分S位元線結_。在 記億醱胞元陣列之任何給定的行Cj中,主控位元線KBLj 視箱要連接多匍局部位元線如LB 到LBLi+3中之一項 。各主控位元線(HBL)包含高導電率的金饜,且定位在比 局部位元線(L B L )運要高的製造層中,即與局部位元線垂 直間隔,在此"垂直B指垂直於記德體瞧元陣列之主表面 的方向》各局部位元線直接連接基本上為數百饍的記思 體胞元HC.各包含一近接電晶體及的健存胞元I6。記憧 體胞元配置在fcfc局部位元線低之層。各列(如Ri,Ri+1) 中的位元線(未圔示)連接該列之所有電晶體18中的關捶 ,遘擇性地将所將存取的記億體胞元活化。控制線17祭 擇性地連接相鼴的LBL至MBL,如在一給定的行中,只有 一 LBL連接至MBL以對(讀取,寫人或再更新)連结至LBL 的記億體胞元而存取β 主控位元線連接至該行之越測放大器的一輪入在所 本紙張尺度適用中國國家橾準(CNS > Α4規格(210Χ297公釐) {讀先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部中央標準局員工消黉合作社印焚 419668 at Β7 五、發明説明(>) 調的摺叠分層字元線結構中,各行包括主控位元续對,
其包含一典主控位元線及一互補主控位元線,在感_放 大铕同一供彼此互相平行。這些威拥放大器放大真及互 補MBL之間的電壓差以提供具體遷輯位準因而謓取且更新 操作。該對的主控位元鎳連结多麵相鼸的局部位元線, 如第1圈中所示者(邸所示的可為一輿HBL或一 S補 為了接逹存取鑷合至真HBL昀記憶醱胞元,兩種 MBL預充電到參考窜壓,然後連接至該胞元的字元線之電 ®上升以依據館存在記德鰾胞元中的霄荷,修改在對R 主控位元線上的電整。然後此威拥放大器放大MB L猶之間 的電K差。執行一類似程序以接達存取胞元,而此胞元 _接至互補KBU 在一 H開放式”分層位元線结構中,基本上操作與摺叠 式结構相間,唯真HBL在威拥放大器之一攧,而互補HBL 則在相對側· —般,位元線霣容輿位元線長度成正比0因此,位元 線長度受到可容忍之最大位元線電容的限制。一般該最 大電容由可允許的威澜邊際及功率耗損所決定β應用分 鼈位元線結構,每單位長度的主控位元線霣容小於每單 位長度的局部位元線窜容,因為L8L直接連結所示記摁髏 胞元,其有肋於LBL電容,而不直接網合胞元^所以 •對於一給定的行長度,總電容可大大地少於非分層配 置(卽只有一層位元線之佈置,各延伸整褊行之長度,並 直接建結記億體胞元)。因此,經由使用分層結構,對於 -4 - 本紙張尺度適用中围國家梯準(CNS M4規格(210 X 297公釐) ---------A------訂 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 419668 at Β7 經濟部中央標準局員工消費合作社印策 五、發明説明(4 ) 一具有特定數目之記億體胞元之晶Η而言,所需要之空 間占用之威測放大器的限制較少。即該結構允許各威ϋ 放大器可用於更多的胞元,且連结局部位元線及一長主 控位元線,因此減少每晶Η中感拥放大器的數目。因此 有可能産生一小尺寸晶Η,假設配置給開蘭14,及額外 的控制電路之空間不超過經由減少之感潮放大器數目所 節省下來的空間。 最近,已發展出一種稱為對角位元線(DBL)H的高密度 DRAH。應用i)BL型式的DRAM,有效的胞元大小接近6F2 , F為處理技術中的最小待徴大小。對角位元線型式DRAM 之一例可參見Sugibayashi等人在ISSC95/Sessionl4發表 的"FA14.6: A 16bDRAMfor File Application^ 該文章 掲露一使用開位元線結構的DRAtU但是,開位元線結構 比摺叠位元線結構更易産生雜音相鼷的厢題。 第2圆為摺*位元線結構,其中摺叠位元線位在另一 項的上方,由介質層使彼此互柑垂直間隔開,而不是在 同一製造層上销對销平行配置。所示的配置尤其是適於 於小於8F2的胞元。為了方便對胞元的存取,真位元線 BL及互補位元線BL交替叠合在彼此的上下方。在行C j 之不同部位的記億體胞元M C總是連結至位元線之下方。 在周期匾域13,兩位元線接受垂直杻轉,邸在垂直方 向位元線互相跨過對方。各分開相鄰垂直扭轉的LBL分 段S基本上連结2Ν記億體胞元,即,8, 16, 32, 6 4等 。須了解在第2圖中所顯示的位元線一般為線性者。在 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS > Α4規格(210Χ297公釐) *19668五、發明説明(4 ) A7 B7 經濟部中央樣準局員工消費合作社印聚 某些對角胞元設計中,位元線可為据齒形態,每次垂直 扭轉時改變水平方向。 對於位元線使用垂直扭轉之記憶體胞元陣列的例子參 見仍在申請審理中的美國專利申請案S/N 08/884,853, 案號為 96E9190US 及 FI896M49,由 John DeBrosse等人提 出,申請日期為1937年6月30日,指定予本文之受禳人 ,並列入文中以為參考(下文中稱為DeBrosse等人之申請 案)〇 分層之概念已應用在半導髅記億體之宇元線。設計上 用於減少記億體胞元存取時間,(字元線的RC時間常數) 文中稱為雙字元線配置。 第3圖示雙字元線配置之一例,稱為分段雙字元線結 構。由一字元線驅動器匯動第i列H丨中的宇元線,該驅 動器為記憶饅列解碼器之一部份。主控宇元線置於不同 垂直間隔層之R;列中的相鼦局部字元線LWLil - LWLix 之上,應用一適當的介質層分開兩層。局部宇元線直接 連接Βί列中記憶體胞元MC内之接逹存取鼋晶體閛極。主 控字元線是由如鋁的低霄阻金匾組成,而局部字元線基 本上是由具有頂部的矽化物層之高摻雑多晶矽所組成β 局部字元線驅動器15建結於各局部宇元線及主控字元線 之間。操作各局部宇元線_動器以驅動相闢的局部字元 線,而允許選擇性地接達存取於連結該局部字元線之胞 7C 〇 第4圈示另一型式的雙字元線配置,稱為"隙缝”结構 -6 - (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -訂 气-- 本紙張尺度適用中國國家標隼(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 419668 $五、發明説明(r ) 。隙縫結構舆分段結構不同,其中局部字元線驅動器由 一電穿越洞接黏或"隙縫所取代,其介於主控字元線 MWL ;及局部宇元線LWL u 到LWLxi 之間。如圖所示可 電建接局部字元線》應用縫隙或分段結構,到任何給定 記憶體胞元之路徑上的總電阻大輻滅少。鼴用較低的宇 元線電阻,可減少與各字元線相關的RC時間常數,因此 加速記億體胞元接逹取存時間。分段結構具有另一額外 的優點為減少字元線之電容,但是缺點為分段方法相當 複雜,且局部字元線驅動器霈要額外的空間β 發明槪述 本發明係相蘭於一具有分層位元線及/或字元線結構 的半導體記億體。在一實施例中,具有分層位元線結構 的記镱體,尤適於小於8F2的胞元,包含在各行中的主 控位元綜對,包含第一及第二主控位元線,而第一及第 二主控位元線部份彼此垂直間隔,且第一及第二主控位 元線在垂直方向上互相杻鞞,使得第一主控位元線及第 二主控位元線交替設置於彼此的上下方,在每一行之複 數之局部位元線對連結至記億體胞元,而至少一局部位 元線被操作性地連結至記憶體胞元,而至少局部位元線 之一被操作性地連结至一主控位元線;亦卽,經由"隙 缝”而選擇性地將局部位元線連結至主控位元線。 在另一實施例中具有分層宇元線配置的半導體記億體 包含多鹤主控字元線,各與至少一列連結;至少一次主 控宇元線,以可操作方式連結各主控字元線;多艇局部 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(2丨Ο X 297公釐) Β774 1 9β6 8 經濟部_央標準局員工消費合作社印策 電連的 黏同 之 面面 及 偁線關 優相 置 平平 線 多元相 及示 ;; 配 ; 意 意 元 從宇至 擞表 置置 :·,線 構 示 示 位 部結 待示 配配置例元 結 的 的 層 線局連 之標 線線配施字 線:列 列 分 元將線 明的 元元線實層 ;元構陣 陣 之 字而元 發同 :位宇元之分 構字结元 元 體 控,宇 本相 置曼雙字構之 结段線胞 胞 億 主一控 解中· 配摺的雙結構 線分元體 體 記 次擇主 了圖 線之式的線结 元,字億 億 體 各中次 步附 元轉型式元段 字層層記 記 導 結路將 一各 位扭段型位分 雙分分之 之 半 建電及 進。 層直分縫層用 之一縫線 線 的-式個以 更圖 分垂中隙分使 式另隙元 元 進-8 方多, 可附 術期術中明中 型之之位 位 改 作或線 明考 技周技術發明 段明明性 角 於 _ 操關元 明説參 知有知技本發 分發發線 對 明圃 可開宇。説的請 習具習知示本 一本本含 含 説相 ( 以館控線單中並 示示示習圉示 示示示示 為 細傜 明 ,多主L兀簡文時。圖囫圔醑❻團.,圖圖圜圖及圖 詳明 説 線 ,次宇之下讀件 123457 例 8911 以 1 之發 明 元點至控示由閲组第第第第第第施第第第第:第。明本 發字接結主圆 ,的 實 圖圓發 五 -·i (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準{ CNS ) Λ4規格(210 X 297公釐) 經濟部中央標準局貝工消费合作社印裝
4 19668 A1 _B7_________ 五、發明説明(?) 字元線架構。文中將分層概念使用在周期垂直扭轉的摺 璺位元線,及/或對於雙字元線實現其他的連结。為說 明上迷的目的,文中以DRAM晶片作為本發明之基本實施 例》但是本發明具有更廣泛的應用。僅僅作為例子,本 發明可使用在其他的記億體裝置中,如OO-BRAH, SDRAK ,RAHBUS-DRAH, SLDRAM, MDEAH, SRAM,快速 RAM, E P 尽 Ο Μ,E E R P Ο Μ,或罩 R 〇 Μ β 現在請參考第5圃,其中顯示本發明第一實施例之横 截面圖。本實施例為一分層位元線結構,尤適於使用在 小而密包封的記憶腾胞元中,如小於8F*之DRAM記憶體 胞元中。在記億體胞元陣列之各行Cj中,位元線结構20 包含多鹤局部位元線,如LBLi ,「BL 1,LBL 2 , LB i 2 (在製造層M0中 >,及一主控位元線對,包含一稟主控位 元線MBLj及互補主控位元線]iTTi ,交替配置在較高的 製造層中。在匾域13M中周期性發生垂直杻轉,使得真 MBL可交替覆蓋在互補MBL上下方《—介質層D2分開HBL對》 在下主控位元線Μ B L或ΪΪΓ的各分段S μ匿域,一轚穿越 润接點29向下延伸過介質層DU各接酤29連接FET開Β 27ΧΧ的漏棰或源棰,該開關連接一局部位元線。各開 關27 XX的切換狀態由在列方向上的相箱控制線28控制 ,在此,最好各控制線28連接在列方向上對齊的所有開 lli27xxβ真主控位元線HBL1j可ji擇性地經開鼷27it 連結真局部位元線LBLf,在此SIT" j選擇性地經開關 27 ic連結互補局部位元線Γ5Γ t。為了存取連結真LBL (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁〕 訂 本紙張尺度適用中國國家標準(CMS ) A4規格(210X297公釐) 經濟部中央標準局員工消費合作社印裝 Λ A 7 41966 8_β7_ 五、發明説明(/ ) (諸如LBh)的記億體胞元KC,真及互補MBLs先依據傳统 方式,由慼澜放大器電路内的等化罨路預充電到一等化 電壓。同時,連结LBLi及LBL i的開闢2 7 it 及2 7 ic 顔閉,而在行Cj中的其他開關27 xx 經控制線28上的捶 當的控制信號而打開。一旦對LBLi及ΓΪΓ 1充份地預充 電後,等化電路不動作,且建接菝澤記億體胞元(連结至 LBLi >的宇元線上升,因此可修改LBLi_ ftHBLj上的霣 壓*最好開關27i c在此畤仍關閉,而在MBU上提供最 適參考電壓。然後威澜放大器放大主控位元線對之間的 電壓差以提供具體遢賴位準,因而進行讀取或更新操作 β同樣地,為了存取連結ΓΤΓ i上的記億龌胞元,使用局 部位元線LBLi&提供參考電壓予感澍放大器,而達接連 结至ITilTi之被選擇胞元的字元線之霣壓上升。 在水平面上(即,記億體胞元陣列之主表面,垂直第5 圈之紙面),如第11画所示,局部位元線可在行方向線性 棑列β主控位元線在13 μ中周期性地進行垂直杻轉β在 此例子中,可視主控位元線HBLi-HBLu直接在局部位元 線上方》在相鄰的垂直扭轉匾13m之間配置多傾(K铜) 宇元線。以可操作方式連结威濟(放大器SAi-SAN到對應 的主控位元線MBLi -MBLN及HBL 1 - Η B L〆。以傅統方式 ,在記憧體跑元陣列相鄰處提供行及列解碼器。如果使 用對角位元線胞元,局部位元線在水平面中實際上將以 箱齒型式配置以方便接達於記億體胞元之接逹電晶體的 漏極端。第12圏示使用鋸齒型式配置之位元線之具有對 ~ 1 0 ^ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X:297公釐) _________-______丁______今-I 、T A (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印聚 ^1966 8 A7 _______B7___ 五、發明説明(?) 角胞元之典型的記億體胞元陣列的平面匾 分雇位元線結構2Q允許比習知技術還高的整合密度, 尤其是使用比8 P還小之胞元的記億體《>然而,雎了解 ,於此掲露之位元線結構可以使用於記億醱其胞元大於 8F2 ,另外,局部位元線對不褥要如摺曼位元線架構之 互補型式》無論如钶,因為每一楢感餺放大器司用於更 多的記億髑胞元,所以與第2圈習知技術的配置比較下 ,整合密度已由第5圖的架携加以改進。即,大幅地滅 少了 一局部位元線及一長主控位元線之緦位元線電容(舆 非分層配置比較)。因此,舆各威拥放大器相連結之記槙 體胞元的行可使得更長,而各晶Η所痛要的威測放大器 更少。 現在請參考第6Α及6Β國,其中顯示本發明分雇位元線 架構之另一實施例之横截面第6々,6Β國為位元線架 構30的反向端。位元線架構30與上述位元線架構20不同 ,其中局部位元線對在Ul區域接受垂直杻轉。垂直扭 轉匾13L可使用與製造主控位元線之垂直扭轉匾13M相 同的技術執行。如1^1>1及ΙΤΓ^之各LBL對彼此交替於彼 此之上下方,且由介質層D3垂直分開。因此,與位元線 架構20比較下,位元線架構30具有另一金颶層。 最接近感潮放大器之第一電接點29連接h¥l j mm -LB L開關27 1(2的漏極及源極,在此開關27 ic的另—倒 連接第一互補匾部位元線ΓΠΓ1 β局部位元線LBLi及 ΓΤΰ承受對應區域13^的多傾互相垂直扭轉《•在另一 _ -11- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐) (請先閲讀背面之注^^^項再填寫本頁) 訂 419668 A7 經濟部中央標準局舅工消費合作社印裝 B7五、發明説明(β) 上,L B L i連接開關27 lt。另一接點2 9建接開闢2 7 It到 真主控位元線HBLj。因此,只選擇性地連接真主控位元 線到真局部位元線中的一項,且HBL j視 裔要只連接TiL 1至LBL k中的一項《為了接逹存取連結 至K B L !或lFl 1中的記億體胞元,如開闋27 it 及27 霈要關閉,而在行Cj中其他的開翮27 XX 均箱要打開。 建結至遘擇胞元之宇元線(連結至IBLi或ΙΤΓι )將上升 。對一摺疊的位元線架構,使用ϋΤΙ以供應預充電的參 考電懕經HBL j予威澜放大器(如果選擇的胞元連結LBLi 的話),對於連結至Tbl 1之胞元反之亦然。但是,如上 所述,在感澍放大器中的參考胞元,可交替使用,以慝 用非摺Λ型式的架構供應參考電壓。在此例子中,開鼷 27 χχ中只有一項在任何給定的時間均蘭閉,以接逹存 取與詼開顒相關的記億體胞元。 可只直接連接第一局部位元線對LBLi , LBL 1到威澜 放大器而修改第6A, 6B圖中的位元線架構30,而其他的 LBL對仍經主控位元線對操作性地連结至感澜放大器。此 配置方式為去除連接的MBLj到開蘭27 le 的第一電接點 23,直接連結開商27 le 的一端到威潮放大器,且移動 開問27it到連接於感測放大器及LBh之間的位置。在 眈方法中可另外加入一對開關,其中一開關連結在感澜 放大器輪入端及真主控位元線之間,而另一開關建結在 另一感測放大器输入端及互補主控位元線之間。因此, 當欲接逹第一 LBL對之LBh,^^畤,此額外的開商對 -1 2 - (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X2^?公釐) 經濟部中央標準局具工消費合作社印策 419668_b7_五、發明説明(<·) 可切換至開,以舆來自威拥放大器的主控位元線對解聯》 現在請參考第?團,其中顯示本發明之分段的分層字 元線架構40。如文中其他的實施例,字元線架構40可為 DRAM或其他的半導體記億體的一部份。在記憶體胞元陣 列之各列βί中,多傕<Y楢}局部宇元線LWLil-LWLly連 結至各記億體胞元之近接電晶體的閘最好,各局部 宇元線(LWL)之實施方式為在該列中連接許多記億體胞元 之閛掙的連鑲閘権金屬,如數百®。各LWL連結局部宇元 線驅動器45、如傳統之分段形變宇元線架構。各局部宇 元線驅動器45可包含用於解碼的額外選擇電路{如果想要 的話)。但是,鼴用字元線結構40(而非選擇性地連結單 一主控字元線(MWL)之各局部字元線LWLXX (該主控字元 線沿整列延伸),LWL群選擇性地連結次主控字元線 SHWLu-SMWLip 披此互相分開。次主控字元線(次MWL) 配置在比局部字元線更高的製造層中。在第7圃的例子 中,4個LWL選擇性地連結各次-KWL;但是,須了解更 多或更少的LWL可選擇性地連结各次-M¥Le 各次-主控宇元線SMWLU - SOL ip 選擇性地經局部 宇元線驅動器47連结列Ri中單一的主控宇元線, 在此LWL驅動器47的電路基本上舆LWL驅動器45(卽傳統的 LWL驅動器 >相同。LWL驅動器及其製造方法的精確佈局並 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 佈部 的局 0 他之明 其列説 種多以 多動加 置驅中 配為文 可視下 者可於 術47將 技或此 本45, 習器份 熟動部 ,驅 一 處線之 鍵元中 關字器 之部動 明局驅 發各線 本。元 非局字 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS > Α4規格(2]0'〆297公釐) 經濟部中央標準局員工消費合作杜印策 ⑽ 68_^_五、發明説明(^) 輿傳統的分段式雙宇元線架構(諸如第3圖所示)比較 下,此字元線架構40可提供更快速的記億體胞元接達存 取速度。因為直接連接主控字元線之局部宇元線骣動器 的數目減少,所以可達到較快的接達存取時間。结果, 在MWL的電容負載大輻地減少,也減少了 RC時間常數。例 如,在第7圃的電路中,與習知技術比較,MWL直接建接 局部字元線驅動器之數目的四分之一。 第8鼷為習知技術之分段型式雙字元線結構5D之示意 圖,其中使用每一主控字元線KlfL以提供一列活性化信號 至數列。在典型列的配置中,使用主控宇元線KWL;予四 列Ri到Ri+3。由舆解碼器相關之宇元線驅動器54驅動 HWLi ,該解碼器舆記憶體胞元陣列共用。在如Ri的各 列中,有P倨局部字元線LWLjjSLWLip ,各達接至 AND閘52的输出端。gAND閘52的輪入端之一連結至MifLi ,而另一输入端連結相關的控制線57^ 。由各列解碼 器内的驅動器_動控制線57 XX 。四個在行方向上對齊 的AND閛形成一 X局部字元線驅動器45«為接逹存取記億 體胞元其連接至一特定之局部宇元線(如LWLU),字元 線驅動器54驅動主控宇元線MWL ;到高準位,且驅動相翻 的控制線57 ii到高位準,而其他的各控制線57^維持 在低位準下<•因此,經由對數列使用一主控字元線,可 放鬆主控字元線間隙(在主控宇元線之間的周期間隔), 因此製造程序容易執行,且生産量改進。而旦,MWL的線 寬可更寬,使得MWL霍阻降低,而加速記億體胞元接達存 -14 - (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 丁 - 本紙張尺度適用中國國家標牟(CNS ) Α4规格(2)0X297公釐} 經濟部中央標隼局員Η消費合作社印裝 4 i9eee 五、發明説明(y) 取時間 第9圓為本發明分段型式之宇元線结構40 ’的示意圖。 其為第7圈字元線结構40之特例。字元線結構40 ’使用一 主控字元線MWL i以提供列活化倍號予多列》在所示之典 型配置中,主控字元線ΗίΗΐ用於16列^到1* i+15 ·各 列包含P局部字元線LWLil_LWL ip *各局部宇元線由 閛榷金鼷組成。各局部字元線如第8圖所描述之字元1線 結_般的逋結至一 AND閘52的輪出端。各及0_52的一輪 入端連結次主控宇元線,如SMWLil,而其他的輸入端連 結至控制線,如控制線57il 。最好各控制線57χχ連接 到圖示之不同行中複數的AND閛52。控制線57 ϋ可達接 AHD閛,其中AHD關連結間隔四列的局部字元線,»Lnil ,LWL ( i + 4 >1 , LWL(i + 8>1 ,等 p 在行方向對齊 的四倨AND閘52包含一上述説明的局部字兀線驅動器45。 各-次主控字元線(次- NWL)連结"Z"列之AND蘭52的销 入端,如在第9國之典型實施例中之4列》各次-A8D閛52連結同一列之_,Y"局部宇元線,如兩健局部宇元 線β有8個次-主控宇元線,如在此例中對於Ζ列各组 為SHWLii -SH»L ik β各次-**WL連接一 AND蘭62的輪出 端,在此各AND蘭62的一輪入端逋接主控宇元線MWt^’ 而其他的输入端逋接控制線6^-67¾中之相關的一 在本例子中,在行方向對齊的四偁AND閱62包含一局部宇 元線驅動器47 ,其為第7圖之字元線騵動器47之一實施 例。經由習知技術之適當的電乎控制裝置依 -15- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) (请先閲讀背面之注意事項再填寫本肓) *-u 經濟部中央橾準局員工消費合作社印製 419668__B7_五、發明説明(κ) 址將控制線6 71或67^驅動到高或低位準^因此,可接逹 存取記憶體胞元其連结至一待定之局部宇元諸如LWL i2 。連接至之AND閘52,使其輪出端由驅動控制線 57i2 輿67i高而高,而所有其他的控制線57χχ及 6 7 2 - 6 7 k且維持在低位準,且_動M W L ί至高位準。 所以,使用分鱺字元線結構40 ,如MWL;的各主控字 元線提供列活化倍號予一大數目之列,其數目比第8圜 之雙宇元線配置者還多。結果,主控宇元線可作得更寬 ,因此減少主控宇元線電阻,且減少RC接達時間。而且 ,可增加主控宇元線間隙以方便宇元線製造程序,且增 加晶片産量D 現在諳參考第10圖,為本發明一隙缝型的分層字元線 結構80之示意圖。在記億體睢元陣列之任何列R;中設置 LWLU到LWLix 中的多_(Χ>局部字元線。局部宇元線 (LWLs)彼眈分開,或沿整緒列R;上電連接如一連鑛的閘 極金屬。電穿越洞接觸(隙縫)89ils到89 1^屑期性地 連接LWL到一較髙製造位準下的次-主控字元線SMWL u 到SMWLip 。電穿越洞接點89±1到891{>連接各別的次 -主控字元線至在較高位準下的主控字元線MWLi β在相 鄰接點8 9 ii到8 9 ip 間的間隔大於接點8 9 ils到8 9 ixs 之相鄰接點之間的間隔。由上文可知,本發明俗用於半 導體記憶體的分層位元線及字元線結構。而上逑說明包 含多項待點,這些待點並非用於限制本發明的範圍,而 只是較佳實施例的例子。例如,在此所掲露之分層字元 -16- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ 297公釐) ^ ί9668ita,.. 1 19668 用界 使所 〇 同圍式 連範型 籲利化 一 專變 何請的 任申能 之之可 構附多 結所許 線由的 元在内 位出圍 層像範 分想及 之可神 述者精 上術的 輿技明 可本發 構習本 結熟的 線。定 I n n n HI ϋ n n I i^i n n n n I T n I— I I n II Φ i ^ (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標隼局員工消費合作社印掣 本紙張尺度適用中國圉家標準(CNS ) A4規格(2IOX297公釐)

Claims (1)

  1. ABCD 419668 經濟部中央樣牟局負工消費合作社印裝 六、申請專利範圍 1 I 1 , 一 種 半 導 體 記 億 體 > 具 有 由 配 置 成 列 舆 行 之 記 億 體 胞 1 1 元 所 形 成 之 記 億 體 胞 元 陣 列 » 其 包 含 ; 1 1 在 各 行 中 的 主 控 位 元 線 對 * 包 含 第 —^ 及 第 二 主 控 位 請 1 先 1 元 線 9 而 第 一 及 第 — 主 控 位 元 線 部 份 彼 此 垂 直 m 隔 閲 讀 1 I 且 第 -^ 及 第 二 主 控 位 元 線 在 垂 直 方 向 上 互 相 杻 轉 使 背 1 J 1 之 1 得 第 一 主 控 位 元 線 及 第 二 主 控 位 元 線 交 替 地 置 於 彼 此 1 I 事 1 的 上 下 方 該 垂 直 方 向 俟 垂 直 於 記 億 體 胞 元 陣 列 的 項 再 1 主 表 面 以 及 填 寫 1 本 連 結 至 記 億 醸 胞 元 之 各 行 的 多 m 局 部 位 元 線 對 » 其 頁 I I 中 至 少 一 局 部 位 元 線 以 可 操 作 方 式 連 緒 主 控 位 元 線。 1 1 2 .如 申 請 專 利 範 圍 第 1 項 之 半 専 鞋 記 憶 體 t 其 中 使 用 摺 1 ! 叠 的 位 元 線 結 構 9 該 第 一 及 第 二 主 控 位 元 線 包 含 真 及 1 訂 互 補 主 控 位 元 線 » 且 在 - 行 中 的 局 部 位 元 線 對 中 至 少 1 一 項 具 有 一 真 局 部 位 元 線 » 其 以 可 操 作 方 式 連 结 真 主 1 1 控 位 元 線 » 及 一 互 補 局 部 位 元 線 » 其 以 可 操 作 方 式 連 1 I 結 該 行 中 的 互 補 主 控 位 元 線 〇 1 1 3 .如 Φ m 專 利 範 圍 第 1 項 之 半 導 髅 記 镱 體 % 其 中 給 定 局 部位元線對中的一 .第 — 局部位元線以坷操作方式選擇性 1 1 地 經 第 一 開 m 連 結 該 第 —、 主 控 位 元 線 且 給 定 局 部 位 1 1 元 線 對 中 的 一 第 二 局 部 位 元 線 以 可 操 作 方 式 m 擇 性 地 1 | 經 一 第 一 開 商 連 結 該 第 二 主 控 位 元 線 〇 1 1 4 .如 請 專 利 範 圍 第 1 項 之 半 m 體 記 億 體 9 其 中 各 行 中 1 1 多 數 翻 局 部 位 元 線 對 m 擇 性 地 經 對 慝 的 開 開 連 結 至 該 1 I 行 中 的 主 控 位 元 線 對 〇 1 1 -1 9 - 1 1 1 1 本紙張尺度逍用中國.國家揉準(CNS ) A4洗格(210X297公釐) 4 鉍 C8 D8 經濟部中央揉隼局員工消費合作社印裝 々、申請專利範圍 5. 如申請專利範圍第2項之半導醱記憶體,其中在行方 向,以位置上交替方式配置該宾及互補局部位元線。 6. 如申謓專利範圍第2項之半導體記億體,其中該真及 互補局部位元線周期性地接受一相對於彼此的垂直扭 轉,使得在垂直方向上,真及互補局部位元線可交替 置於彼此的上、下方。 7. 如申謓專利範圍第1項之半導體記億體,其中該記億 髅胞元為8F2或較小記億醱胞元。 &.如申諳專利範圍第1項之半導體記憶饅,其中該記憶 體胞元為大於8F2的記億體跑元。 9_如申請專利範圍第1項之半導體記億體•更包含一分 層宇元線結構,其包含多悔主控字元線,各主控字元 線與至少一列相建,至少一次-主控字元線以可操作 方式連結各主控字元線,及多個連结該記億髏胞元且 可以操作方式連結該次-主控字元線的局部字元線。 10.—種半導體記憶體,具有由配置成列舆行之記億體胞 元所形成之記億體胞元陣列,其包含: 多齒主控字元線,各輿至少一列相連; 至少一次-主控字元線,以可操作方式連結各主控 字元線; 多鹤局部宇元線,連結記憶體胞元,且以可操作方 式連結各次-主控字元線; 其中從多艏電接點及多催字元線驅動器所構成的集 團中所選擇出之電連結,將局部字元線舆次-主控字 元線建結,且連結次-主控字元線及相鼦的主控宇元 -20 - (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4g ( 210X297公釐) 經濟部中央標準局負工消費合作社印製 4 19668 ll D8六、申請專利範圍 線》 11. 如申請專利鮪圍第10項之半導體記憶體,其中各主控 字元線经開闢以可操作方式連结多鍺次-主控字元線 ,且建结不闻列中的多館局部宇元線。 12. 如申請專利範圍第U項之半導體記憶饅,其中舆各主 控宇元線相關的字元線驅動器包含多傾連结在各主控 字元線及Μ鹤不同列中多健次-主控字元線之間的多 傯第一宇元線驅動器,且多糎第二宇元線驅動器連結 於次主控字元線及Ν個不同列之局部宇元線之間,在 此Ν大於Μ 。 13. 如申請專利範睡第12項之半導匾記億體,其中Ν等 於16,且Μ等於4 ,使得各主控字元線與18列相圍。 14. 如申請專利範圍第11項之半導髂記憶鱧,其中各字元 線_動器包含多餡AND閛。 15. —種在Κ層中所實施的宇元線结構,在此Ν至少為3 ,其中在第i及i + Ι層之間且也在i + Ι及i + 2層之間的字 元線經電接黏而連結,該電接黏從下列各項中選擇: 多铟隙縫,多餡開闋及多傾電路。 16. 如申請專利範圍第15項之字元線結構,其中所有的電 接點均包含陳缝β 17. 如申諳專利範圍第U項之宇元線結構,其中所有的電 接點均包含電開關。 18. 如申請專利範圍第15項之字元線結構,其中所有的電 接點均包含電路。 -2 1 - (請先Μ讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度逋用中國國家標準(CNS>A4说格(210X297公釐) 經濟部中央標率局員工消費合作社印製 4 ί9668 ?? D8六、申請專利範圍 19. 一棰半導體記憶體,具有由配置成列舆行之記億體胞 元所形成之記億體胞元陣列,此記億體包含: 在一行中的主控位元線對,其包含第一及第二主控 位元線,而第一及第二主控位元線部份彼此垂直間隔 ,且第一及第二主控位元線在垂直方向上互相扭轉, 使得第一主控位元線及第二主控位元線交替設置於彼 此的上、下方,該垂直方向俗垂直於記億體胞元陣列 的主表面;以及 連结記億體胞元之各行中的多傾局部位元線對,其 中至少一局部位元線以可操作方式連結至一主控位元 線。 20 .如申請專利範圍第19項之半導膿記億體,其中使用摺 β的位元線結構,該第一及第二主控位元線各別包含 真及互補主控位元線,且在一行中的局部位元線對中 至少一項具有一真局部位元線,其以可操作方式連結 真主控位元線,及一互補局部位元線,以可操作方式 連结該行中的互補主控位元線。 21. 如申謓專利範圍第19項之半導體記億體,其中给定局 部位元線對中的一第一局部位元線以可操作方式癀擇 性地經第一開關連結該第一主控位元線,以及一給定 局部位元線對中的一第二局部位元線以可操作方式選 擇性地經一第二開關連結該第二主控位元線〇 22. 如申諳專利範圍第19項之半導體記億體,其中各行中 多値局部位元線對選擇性地經各別的開關連結該行中 -22- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 - 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐) 經濟部中央標準局員工消費合作社印裝 A8 B8^ 1966 8_§_ 7、申請專利範圍 的主控位元線對。 23. 如申諳專利範圍第20項之半導體記憶體,其中在行方 向,以位置上交替方式配置該宾及互補局部位元線。 24. 如申請專利範圔第20項之半導體記憶體,其中該真及 互補局部位元線周期性地接受一彼此對鼷的垂直扭轉 ,使得在垂直方向上,宾及互補局部位元線可交替置 於彼此的上、下方β 25. 如申諳專利範爾第19項之半導體記憶體,其中該記德 體胞元為8F2或較小記憶體胞元。 26. 如申請專利範圍第19項之半導體記億體,其中該記億 體胞元為大於8F2的記億餿胞元。 27. 如申請專利範圍第19項之半導體記憶體,更包含一分 層字元線配置,其包含多個主控字元線,其中各主控 宇元線舆至少與一列連結,至少一次-主控字元線以 可橾作方式連結至各主控字元線,及多傾連結至該記 憶醱胞元且以可操作方式連結至該次-主控宇元線的 局部字元線〇 28. —種半導體記億體,具有由配置成列舆行之記億體胞 元所形成之半導體記億體陣列,其包含: 多健主控宇元線,其中一主控字元線輿至少一列相 連; 至少一次-主控字元線,以可操作方式連結至主控 字元線; 多健茼部宇元線,連結至記億體胞元且以可操作方 式連結至次-主控字元線; -23- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度逋用中國國家標準(CNS ) Μ規格(210Χ297公釐) 4 8 C〇 AD 9 ABCD 經濟部中央橾準局負工消費合作社印製 々、申請專利範圍 其中從多镇電接點及多届字元線驅動器所組成的集 圃中選澤電連結,將局部字元線與次-主控字元線相 連結,且將次-主控宇元線及主控字元線相連結。 29. 如申請專利範圍第2 8項之半導醱記億體,其中主控字 元線經開關以可操作方式連結至多催次-主控字元線 ,連結至不間列中的多館局部字元综。 30. 如申請專利範圍第2 9項之半導體記億體,其中字元線 驅動器包含多個連结在主控字元線及H傾不同列中多 猶次主控字元線之間的多傾第一字元線顆動器,且多 鹤第二宇元線驅動器連結於次主控字元線及N傾不間 列之局部宇元線之間,在此N大於《 β 31. 如申請專利範圍第30項之半導髅記億體,其中Ν等於 16,且Μ等於4 ,使得各主控字元線與16列相連β 32_如申請專利範圍第2 8項之半導體記億體,其中各字元 線驅動器包含多餡AND閘。 33. —種配置成N層的字元線結構,在此N至少為3 ,其 中在第i及i+Ι層之間且也在i+Ι及i + 2層之間的宇元線 經電接點連結,該電接黏從下列各項所组成的集画中 遘擇:多值隙縫,多健開關及多鹤電路。 34. 如申請專利範圍第33項之字元線结構,其中所有的電 接點均包含隙縫。 35. 如申請專利範圍第33項之字元線結構,其中所有的電 接點均包含電開鼷。 36. 如申謓專利範圍第3 3項之字元線結構,其中所有的電 接點均包含電路。 -2 4 - {請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家梯準(CNS ) A4規格(210X297公釐)
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