TW202018827A - 顯示裝置及陣列基板 - Google Patents

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金谷康弘
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Abstract

本發明之課題在於提供一種可高效率地配置配線之顯示裝置及陣列基板。 本發明之顯示裝置具有：基板；複數個像素，其等設置於基板；發光元件及複數個電晶體，其等設置於複數個像素各者；複數條信號線，其等對像素供給信號；電源線，其對像素供給驅動電位；第1金屬層、第2金屬層及第3金屬層，其等在垂直於基板之方向設置於不同之層；第1絕緣膜，其設置於第1金屬層與第2金屬層之間；及第2絕緣膜，其設置於第2金屬層與第3金屬層之間；且複數個電晶體各自具有：半導體層，其設置於基板；及閘極電極，其由第1金屬層形成，且設置於與半導體層重疊之區域；並且複數條信號線及電源線之任一條以上由第3金屬層形成，並與電晶體電性連接。

Description

顯示裝置及陣列基板
本發明係關於一種顯示裝置及陣列基板。
已知悉將有機發光二極體(OLED：Organic Light Emitting Diode)或無機發光二極體(微LED(micro LED))用作顯示元件之顯示裝置。在專利文獻1中，記載有用作顯示裝置等之像素電路之半導體裝置。專利文獻1之像素電路就每一像素具有複數個電晶體及複數個電容。 [先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本特開2018-41752號公報
[發明所欲解決之問題]
專利文獻1之像素電路由於1個像素之元件(複數個電晶體及複數個電容)之數目及與各元件連接之配線之數目增大，故有可能難以高效率地配置配線。
本發明之目的在於提供一種可高效率地配置配線之顯示裝置及陣列基板。 [解決問題之技術手段]
本發明之一態樣之顯示裝置具有：基板；複數個像素，其等設置於前述基板；發光元件及複數個電晶體，其等設置於複數個前述像素各者；複數條信號線，其等對前述像素供給信號；電源線，其對前述像素供給驅動電位；第1金屬層、第2金屬層及第3金屬層，其等在垂直於前述基板之方向設置於不同之層；第1絕緣膜，其設置於前述第1金屬層與前述第2金屬層之間；及第2絕緣膜，其設置於前述第2金屬層與前述第3金屬層之間；且複數個電晶體各自具有：半導體層，其設置於前述基板；及閘極電極，其由前述第1金屬層形成，且設置於與前述半導體層重疊之區域；並且複數條前述信號線及前述電源線之任一條以上由前述第3金屬層形成，並與前述電晶體電性連接。
本發明之一態樣之陣列基板係供設置複數個發光元件之陣列基板，且具有：基板；複數個電晶體，其等設置於前述基板；複數條信號線，其等對前述發光元件供給信號；電源線，其對前述發光元件供給驅動電位；第1金屬層、第2金屬層及第3金屬層，其等在垂直於前述基板之方向設置於不同之層；第1絕緣膜，其設置於前述第1金屬層與前述第2金屬層之間；及第2絕緣膜，其設置於前述第2金屬層與前述第3金屬層之間；且複數個電晶體各自具有：半導體層，其設置於前述基板；及閘極電極，其由前述第1金屬層形成，且設置於與前述半導體層重疊之區域；並且複數條前述信號線及前述電源線之任一條以上由前述第3金屬層形成，並與前述電晶體電性連接。
對於用於實施本發明之形態(實施形態)，一面參照圖式一面詳細地進行說明。本發明並不由以下之實施形態所記載之內容限定。又，在以下記載之構成要素中，亦包含本領域技術人員可易於想到之構成要素、及實質上相同之構成要素。進而，以下所記載之構成要素可適當組合。再者，揭示終極而言僅為一例，對於本領域技術人員針對保持發明之主旨之適當變更可容易地想到者，當然包含於本發明之範圍內。又，圖式為使說明更加明確，與實際態樣相比雖存在示意性地顯示各部分之寬度、厚度、形狀等之情形，但其終極而言僅為一例，並非限定本發明之解釋者。又，在本說明書及各圖中，存在針對與已出現之圖中所描述之要素同樣之要素賦予相同之符號，而適宜省略其詳細之說明之情形。
(實施形態) 圖1係示意性地顯示實施形態之顯示裝置之平面圖。如圖1所示般，顯示裝置1包含：陣列基板2、像素Pix、驅動電路12、驅動IC(Integrated Circuit,積體電路)210、及陰極配線60。陣列基板2係用於驅動各像素Pix之驅動電路基板，亦被稱為底板或主動矩陣基板。陣列基板2具有：基板21、複數個電晶體、複數個電容、及各種配線等。
如圖1所示般，顯示裝置1具有顯示區域AA、及周邊區域GA。顯示區域AA係與複數個像素Pix重疊地配置而顯示圖像之區域。周邊區域GA係不與複數個像素Pix重疊之區域，配置於顯示區域AA之外側。
複數個像素Pix在基板21之顯示區域AA中，於第1方向Dx及第2方向Dy排列。再者，第1方向Dx及第2方向Dy係相對於基板21之表面平行之方向。第1方向Dx與第2方向Dy正交。然而，第1方向Dx亦可不與第2方向Dy正交地交叉。第3方向Dz係與第1方向Dx及第2方向Dy正交之方向。第3方向Dz例如與基板21之法線方向對應。再者，以下，所謂俯視，顯示自第3方向Dz觀察時之位置關係。
驅動電路12係基於來自驅動IC 210之各種控制信號驅動複數條閘極線(例如，重置控制信號線L5、輸出控制信號線L6、像素控制信號線L7、初始化控制信號線L8(參照圖3))之電路。驅動電路12依次或同時選擇複數條閘極線，對所選擇之閘極線供給閘極驅動信號。藉此，驅動電路12選擇與閘極線連接之複數個像素Pix。
驅動IC 210係控制顯示裝置1之顯示之電路。驅動IC 210在基板21之周邊區域GA作為COG(Chip On Glass，玻璃上晶片)而安裝。並不限定於此，驅動IC 210亦可在與基板21之周邊區域GA連接之撓性印刷基板或剛性基板之上作為COF(Chip On Film，薄膜上晶片)而安裝。
陰極配線60設置於基板21之周邊區域GA。陰極配線60包圍顯示區域AA之複數個像素Pix及周邊區域GA之驅動電路12而設置。複數個發光元件3之陰極連接於共通之陰極配線60，而被供給固定電位(例如，接地電位)。更具體而言，發光元件3之陰極端子22t經由陰極電極22連接於陰極配線60。
圖2係顯示複數個像素之平面圖。如圖2所示般，1個像素Pix包含複數個像素49。例如，像素Pix具有：第1像素49R、第2像素49G、及第3像素49B。第1像素49R顯示作為第1色之原色之紅色。第2像素49G顯示作為第2色之原色之綠色。第3像素49B顯示作為第3色之原色之藍色。如圖2所示般，在1個像素Pix中，第1像素49R與第3像素49B在第1方向Dx排列。又，第2像素49G與第3像素49B在第2方向Dy排列。再者，第1色、第2色、第3色分別並不限於紅色、綠色、藍色，而可選擇補色等任意色。以下，在無需分別區別第1像素49R、第2像素49G、第3像素49B之情形下，稱為像素49。
像素49分別具有發光元件3、及陽極電極23。顯示裝置1在第1像素49R、第2像素49G及第3像素49B中，藉由就每一發光元件3R、3G、3B出射不同之光而顯示圖像。發光元件3在俯視下為具有3 μm以上、300 μm以下左右之大小之無機發光二極體(LED：Light Emitting Diode)晶片，被稱為微LED(micro LED)。亦將於各像素具備微LED之顯示裝置1稱為微LED顯示裝置。再者，微LED之微並不限定發光元件3之大小。
再者，複數個發光元件3可出射4色以上不同之光。又，複數個像素49之配置並不限定於圖2所示之構成。例如，第1像素49R可與第2像素49G在第1方向Dx相鄰。又，第1像素49R、第2像素49G及第3像素49B可依此順序在第1方向Dx重複排列。又，顯示裝置1並不限定於微LED顯示裝置，作為顯示元件可為使用有機發光二極體(OLED：Organic Light Emitting Diode)之自發光顯示裝置、或電子紙等之反射型顯示裝置。
圖3係顯示像素電路之電路圖。圖3顯示設置於1個像素49之像素電路PICA，像素電路PICA設置於複數個像素49各者。如圖3所示般，像素電路PICA包含：發光元件3、5個電晶體、及2個電容。具體而言，像素電路PICA包含驅動電晶體DRT(第1電晶體)、輸出電晶體BCT、初始化電晶體IST、像素選擇電晶體SST(第2電晶體)、及重置電晶體RST。驅動電晶體DRT、輸出電晶體BCT、初始化電晶體IST、像素選擇電晶體SST及重置電晶體RST分別由n型TFT(Thin Film Transistor，薄膜電晶體)構成。又，像素電路PICA包含第1電容Cs1及第2電容Cs2。
發光元件3之陰極(陰極端子22t)與陰極電源線L10連接。又，發光元件3之陽極(陽極端子23t)經由驅動電晶體DRT及輸出電晶體BCT與陽極電源線L1連接。於陽極電源線L1，供給有陽極電源電位PVDD。於陰極電源線L10經由陰極配線60及陰極電極22供給有陰極電源電位PVSS。陽極電源電位PVDD係高於陰極電源電位PVSS之電位。
陽極電源線L1對像素49供給作為驅動電位之陽極電源電位PVDD。具體而言，發光元件3理想而言藉由陽極電源電位PVDD與陰極電源電位PVSS之電位差(PVDD-PVSS)而被供給正向電流(驅動電流)從而發光。即，陽極電源電位PVDD相對於陰極電源電位PVSS具有使發光元件3發光之電位差。發光元件3之陽極端子23t與陽極電極23連接，在陽極電極23與陽極電源線L1間連接有第2電容Cs2作為等效電路。
驅動電晶體DRT之源極電極經由陽極電極23與發光元件3之陽極端子23t連接，汲極電極與輸出電晶體BCT之源極電極連接。驅動電晶體DRT之閘極電極連接於第1電容Cs1、像素選擇電晶體SST之汲極電極及初始化電晶體IST之汲極電極。
輸出電晶體BCT之閘極電極與輸出控制信號線L6連接。於輸出控制信號線L6供給有輸出控制信號BG。輸出電晶體BCT之汲極電極與陽極電源線L1連接。
初始化電晶體IST之源極電極與初始化電源線L4連接。於初始化電源線L4供給有初始化電位Vini。初始化電晶體IST之閘極電極與初始化控制信號線L8連接。於初始化控制信號線L8供給有初始化控制信號IG。亦即，於驅動電晶體DRT之閘極電極，經由初始化電晶體IST連接有初始化電源線L4。
像素選擇電晶體SST之源極電極與影像信號線L2連接。於影像信號線L2供給有影像信號Vsig。於像素選擇電晶體SST之閘極電極，連接有像素控制信號線L7。於像素控制信號線L7供給有像素控制信號SG。
重置電晶體RST之源極電極與重置電源線L3連接。於重置電源線L3供給有重置電源電位Vrst。重置電晶體RST之閘極電極與重置控制信號線L5連接。於重置控制信號線L5供給有重置控制信號RG。重置電晶體RST之汲極電極與發光元件3之陽極端子23t及驅動電晶體DRT之源極電極連接。
在重置電晶體RST之汲極電極與驅動電晶體DRT之閘極電極之間，設置有第1電容Cs1作為等效電路。像素電路PICA可藉由第1電容Cs1及第2電容Cs2抑制驅動電晶體DRT之寄生電容與洩漏電流所致之閘極電壓之變動。
再者，在以下之說明中，有將陽極電源線L1只表示為電源線之情形。有將影像信號線L2、重置電源線L3及初始化電源線L4表示為信號線之情形。有將重置控制信號線L5、輸出控制信號線L6、像素控制信號線L7及初始化控制信號線L8表示為閘極線之情形。
對驅動電晶體DRT之閘極電極，供給與影像信號Vsig(或灰階信號)相應之電位。即，驅動電晶體DRT基於經由輸出電晶體BCT而供給之陽極電源電位PVDD，將與影像信號Vsig相應之電流供給至發光元件3。如此般，由於供給至陽極電源線L1之陽極電源電位PVDD因驅動電晶體DRT及輸出電晶體BCT而下降，故對發光元件3之陽極端子23t供給低於陽極電源電位PVDD之電位。
對第2電容Cs2之一電極，經由陽極電源線L1而供給陽極電源電位PVDD，對第2電容Cs2之另一電極，供給低於陽極電源電位PVDD之電位。即，對第2電容Cs2之一電極，供給較第2電容Cs2之另一電極更高之電位。第2電容Cs2之一電極例如為圖6所示之陽極電源線L1，第2電容Cs2之另一電極為與圖5所示之驅動電晶體DRT之源極連接之陽極電極23及連接於其之陽極連接電極24。
在顯示裝置1中，驅動電路12(參照圖1)可自開頭列(例如，圖1中之顯示區域AA中位於最上部之像素列)依次選擇複數個像素列。驅動IC 210對所選擇之像素列之像素49寫入影像信號Vsig(影像寫入電位)，而使發光元件3發光。驅動IC 210就每一水平掃描期間，對影像信號線L2供給影像信號Vsig，對重置電源線L3供給重置電源電位Vrst，對初始化電源線L4供給初始化電位Vini。顯示裝置1對每一圖框之圖像重複該等之動作。
其次，一面參照圖4至圖7，一面說明各電晶體及各配線之具體之構成例。圖4係將實施形態之顯示裝置之2個像素放大而顯示之平面圖。
圖4顯示在第1方向Dx相鄰之2個像素49(例如，第1像素49R與第3像素49B)。如圖4所示般，陽極電源線L1、影像信號線L2、重置電源線L3及初始化電源線L4在第2方向Dy延伸。重置控制信號線L5、輸出控制信號線L6、像素控制信號線L7、初始化控制信號線L8在第1方向Dx延伸，且在俯視下，與陽極電源線L1、影像信號線L2、重置電源線L3及初始化電源線L4分別交叉。又，於在第1方向Dx相鄰之2條陽極電源線L1之間設置有連接配線L9。連接配線L9將驅動電晶體DRT、像素選擇電晶體SST及初始化電晶體IST加以連接。
在本實施形態中，顯示裝置1(陣列基板2)具有在第3方向Dz設置於不同之方向之第1金屬層ML1、第2金屬層ML2、及第3金屬層ML3。第1金屬層ML1、第2金屬層ML2及第3金屬層ML3設置於與各半導體層61、65、71、75、79不同之層。在圖4中，為了區別第1金屬層ML1、第2金屬層ML2、第3金屬層ML3及半導體層61、65、71、75、79，以虛線表示第1金屬層ML1，對第2金屬層ML2及半導體層61、65、71、75、79標註斜線。
陽極電源線L1由第2金屬層ML2形成。影像信號線L2、重置電源線L3、初始化電源線L4及連接配線L9由第3金屬層ML3形成。重置控制信號線L5、輸出控制信號線L6、像素控制信號線L7、初始化控制信號線L8由第1金屬層ML1形成。
在本實施形態中，使用第1金屬層ML1、第2金屬層ML2及第3金屬層ML3作為與複數個電晶體連接之各種配線。藉此，在俯視下，陽極電源線L1與影像信號線L2重疊地設置。與將陽極電源線L1及影像信號線L2設置於同一層之情形相比，在各像素49中，可高效率地配置配線。其結果為，可減小各像素49之俯視下之面積，而可實現顯示裝置1之高精細化。
作為第1金屬層ML1、第2金屬層ML2及第3金屬層ML3，可使用鈦(Ti)、鉬(Mo)、鎢(W)、鉭(Ta)、鈮、銦錫氧化物(ITO)、鋁(Al)、銀(Ag)、Ag合金、銅(Cu)、碳奈米管、石墨、石墨烯或碳奈米墊。此處，由第2金屬層ML2形成之陽極電源線L1之片電阻值為由第3金屬層ML3形成之各信號線之片電阻值以下。又，各信號線之片電阻值為由第1金屬層ML1形成之各閘極線之片電阻值以下。例如，陽極電源線L1(第2金屬層ML2)之片電阻值為30 mΩ/□以上120 mΩ/□以下。又，各信號線(第3金屬層ML3)之片電阻值為120 mΩ/□以上300 mΩ/□以下。各閘極線(第1金屬層ML1)之片電阻值為300 mΩ/□以上3000 mΩ/□以下。藉此，顯示裝置1抑制施加於陽極電源線L1之驅動電壓之壓降，而可抑制顯示性能之降低。
再者，第1金屬層ML1、第2金屬層ML2及第3金屬層ML3各者並不限定於單層，亦可由積層膜構成。例如，第2金屬層ML2可為Ti/Al/Ti或Mo/Al/Mo之積層膜，第3金屬層ML3可為Al之單層膜。又，Ti、Al、Mo可為合金。
半導體層61、65、71、75，例如可由非晶矽、微晶氧化物半導體、非晶氧化物半導體、多晶矽、低溫多晶矽(LTPS：Low Temperature Polycrystalline Silicone)或氮化鎵(GaN)構成。作為氧化物半導體，例示有IGZO、氧化鋅(ZnO)、ITZO。IGZO係銦鎵鋅氧化物。ITZO係銦錫鋅氧化物。
如圖4所示般，重置電源線L3及初始化電源線L4由在第1方向Dx相鄰之2個像素49共有。即，在圖4之左側所示之第1像素49R中，不設置初始化電源線L4，而沿著影像信號線L2設置有重置電源線L3。在圖4之右側所示之第3像素49B中，不設置重置電源線L3，而沿著影像信號線L2設置有初始化電源線L4。藉此，與在各像素49設置重置電源線L3及初始化電源線L4之情形相比，可減少配線之數目而高效率地配置配線。
驅動電晶體DRT(第1電晶體)具有半導體層61、源極電極62及閘極電極64。半導體層61、源極電極62及閘極電極64在俯視下，至少一部分重疊地配置，設置於由在第1方向Dx相鄰之2條陽極電源線L1、輸出控制信號線L6、及像素控制信號線L7包圍之區域。驅動電晶體DRT為與半導體層61重疊而設置有1個閘極電極64之單閘極構造。
半導體層61與第1部分半導體層61a連接。第1部分半導體層61a與半導體層61為同一層，且使用相同之半導體材料。半導體層61經由第1部分半導體層61a與源極電極62連接。第1部分半導體層61a與半導體層61在第1方向Dx排列地設置，第1部分半導體層61a之第1方向Dx之寬度大於半導體層61之第1方向Dx之寬度。第1部分半導體層61a與閘極絕緣膜91(參照圖5)及閘極電極64重疊地設置，在第1部分半導體層61a與閘極電極64之間形成有第1電容Cs1。再者，半導體層61與第1部分半導體層61a亦可在1個矩形狀之半導體層中構成。
輸出電晶體BCT具有半導體層65。半導體層65與半導體層61連接，並與輸出控制信號線L6在俯視下交叉。於半導體層65中之與輸出控制信號線L6重疊之區域形成有通道區域。輸出控制信號線L6中之與半導體層65重疊之部分作為輸出電晶體BCT之閘極電極66發揮功能。半導體層65之一端側與陽極電源線連接部L1a電性連接。陽極電源線連接部L1a係自陽極電源線L1朝第1方向Dx分支之部分。藉此，於驅動電晶體DRT及輸出電晶體BCT，自陽極電源線L1供給有陽極電源電位PVDD。
在圖4之右側所示之第3像素49B中，初始化電晶體IST具有半導體層71。在圖4之左側所示之第1像素49R中，初始化電晶體IST具有半導體層71A。半導體層71、71A分別與初始化控制信號線L8及分支信號線L8a在俯視下交叉。在半導體層71、71A中之與初始化控制信號線L8及分支信號線L8a重疊之區域形成有通道區域。分支信號線L8a自初始化控制信號線L8分支，並在第1方向Dx延伸。初始化控制信號線L8及分支信號線L8a中之與半導體層71、71A重疊之部分分別作為初始化電晶體IST之閘極電極74發揮功能。即，初始化電晶體IST係於半導體層71、71A各者重疊且設置有2個閘極電極之雙閘極構造。
在圖4之右側所示之第3像素49B中，半導體層71在第2方向Dy延伸，一端與連接配線L9電性連接，另一端與初始化電源線連接部L4a連接。初始化電源線連接部L4a係自初始化電源線L4朝第1方向Dx分支之部分。又，在圖4之左側所示之第1像素49R中，半導體層71A具有朝第2方向Dy延伸之部分、及朝第1方向Dx延伸之部分。半導體層71A之中，朝第2方向Dy延伸之部分之一端與連接配線L9電性連接。半導體層71A中之朝第1方向Dx延伸之部分在俯視下與陽極電源線L1及影像信號線L2交叉並延伸至第3像素49B，且與初始化電源線連接部L4a電性連接。藉由如以上之構成，1條初始化電源線L4與2個初始化電晶體IST電性連接，而由在第1方向Dx相鄰之2個像素49共有。
像素選擇電晶體SST具有半導體層75。半導體層75朝第1方向Dx延伸，且與2條分支信號線L7a在俯視下交叉。在半導體層75中之與2條分支信號線L7a重疊之區域形成有通道區域。2條分支信號線L7a為自像素控制信號線L7朝第2方向Dy分支之部分。2條分支信號線L7a中之與半導體層75重疊之部分分別作為像素選擇電晶體SST之閘極電極78發揮功能。即，像素選擇電晶體SST為與半導體層75重疊且設置有2個閘極電極78之雙閘極構造。半導體層75之一端與影像信號線連接部L2a連接，另一端與連接配線L9連接。影像信號線連接部L2a係自影像信號線L2朝第1方向Dx分支之部分。亦即，複數個像素選擇電晶體SST分別具有：半導體層75，其設置於基板21；及閘極電極78，其由第1金屬層ML1形成，且設置於與半導體層75重疊之區域。又，影像信號線L2由第3金屬層ML3形成，且與像素選擇電晶體SST電性連接。
重置電晶體RST具有半導體層79。半導體層79朝第2方向Dy延伸，且與重置控制信號線L5及分支信號線L5a在俯視下交叉。在半導體層79中之與重置控制信號線L5及分支信號線L5a重疊之區域形成有通道區域。分支信號線L5a自重置控制信號線L5分支，並朝第1方向Dx延伸。重置控制信號線L5及分支信號線L5a中之與半導體層79重疊之部分分別作為重置電晶體RST之閘極電極發揮功能。即，重置電晶體RST為雙閘極構造。
於重置電源線L3，連接有朝第1方向Dx延伸之重置電源線連接部L3a、L3b及橋部L3c。重置電源線連接部L3a、L3b由第3金屬層ML3形成，橋部L3c由與重置電源線連接部L3a、L3b不同之層、例如第1金屬層ML1形成。重置電源線連接部L3a設置於第1像素49R，重置電源線連接部L3b設置於第3像素49B。在重置電源線連接部L3a與重置電源線連接部L3b之間設置有陽極電源線L1、影像信號線L2及初始化電源線L4。橋部L3c在俯視下與陽極電源線L1、影像信號線L2及初始化電源線L4交叉，而將重置電源線連接部L3a與重置電源線連接部L3b加以連接。
在第1像素49R中，半導體層79之一端與重置電源線連接部L3a連接。又，在第3像素49B中，半導體層79之一端與重置電源線連接部L3b連接。又，半導體層79之另一端分別經由第1部分半導體層61a與半導體層65電性連接。即，重置電晶體RST之半導體層79之另一端經由半導體層65、源極電極62與發光元件3之陽極端子23t電性連接。藉由如以上之構成，1條重置電源線L3與2個重置電晶體RST電性連接，而由在第1方向Dx相鄰之2個像素49共有。
又，在本實施形態中，用於對發光元件3供給驅動電流之驅動電晶體DRT及輸出電晶體BCT為單閘極構造。初始化電晶體IST、像素選擇電晶體SST及重置電晶體RST為雙閘極構造。藉此，可抑制初始化電晶體IST、像素選擇電晶體SST及重置電晶體RST之洩漏電流。
其次，對於顯示裝置1之剖面構成進行說明。圖5係沿圖4之V-V’線之剖視圖。圖6是沿圖4之VI-VI’線之剖面圖。圖7是沿圖4之VII-VII’線之剖面圖。再者，在圖6中，示意性地顯示設置於周邊區域GA之陰極配線60及電晶體Tr。
如圖5所示般，發光元件3設置於陣列基板2之上。陣列基板2具有：基板21、各種電晶體、各種配線及各種絕緣膜。基板21為絕緣基板，例如使用玻璃基板、樹脂基板或樹脂膜等。
在本說明書中，在垂直於基板21之表面之方向上，將自基板21朝向平坦化膜27之方向作為「上側」。又，將自平坦化膜27朝向基板21之方向作為「下側」。
驅動電晶體DRT、輸出電晶體BCT、初始化電晶體IST、像素選擇電晶體SST及重置電晶體RST(在圖5中未圖示)設置於基板21之一個面側。於基板21之一個面，底塗層膜90、第1金屬層ML1、閘極絕緣膜91、半導體層61、65、71、75、第1絕緣膜92、第2金屬層ML2、第2絕緣膜93、第3金屬層ML3、第3絕緣膜94依此序積層。換言之，在垂直於基板21之方向，第1絕緣膜92設置於第1金屬層ML1與第2金屬層ML2之間。第2絕緣膜93設置於第2金屬層ML2與第3金屬層ML3之間。
在第3絕緣膜94之上設置有陽極連接電極24及屏蔽電極26，在陽極連接電極24、屏蔽電極26之上隔著第4絕緣膜95設置有陽極電極23及發光元件3。屏蔽電極26為了屏蔽各電晶體與發光元件3間而設置，可兼作圖3之第2電容Cs2。
在顯示裝置1中，陣列基板2包含基板21至陽極電極23之各層。於陣列基板2，未包含平坦化膜27、陰極電極22及發光元件3。
底塗層膜90、閘極絕緣膜91、第1絕緣膜92及第4絕緣膜95使用氧化矽膜(SiO)、氮化矽膜(SiN)或氮氧化矽膜(SiON)等無機絕緣材料。又，各無機絕緣膜並不限定於單層而可為積層膜。又，亦可不設置底塗層膜90。第2絕緣膜93、第3絕緣膜94及平坦化膜27為有機絕緣膜或無機有機混合絕緣膜(於Si-O主鏈，鍵結有例如有機基團(甲基或苯基)之材料)。第2絕緣膜93及第3絕緣膜94中之任一者可為無機絕緣膜。
由第1金屬層ML1形成之閘極電極64、66、74、78隔著底塗層膜90設置於基板21之上。閘極絕緣膜91覆蓋閘極電極64、66、74、78而設置於底塗層膜90之上。半導體層61、65、71、75設置於閘極絕緣膜91之上。第1絕緣膜92覆蓋半導體層61、65、71、75而設置於閘極絕緣膜91之上。
在圖5所示之例中，各電晶體為所謂之底閘極構造。然而，各電晶體亦可為在半導體層之上側設置有閘極電極之頂閘極構造，還可為在半導體層之上側及下側之兩者設置有閘極電極之雙閘極構造。
由第2金屬層ML2形成之源極電極62、72及汲極電極67、73、77設置於第1絕緣膜92之上。源極電極62、72及汲極電極67、73、77分別經由設置於第1絕緣膜92之接觸孔與各半導體層電性連接。
第2絕緣膜93覆蓋源極電極62、72及汲極電極67、73、77，且設置於第1絕緣膜92之上。由第3金屬層ML3形成之連接配線L9及初始化電源線連接部L4a設置於第2絕緣膜93之上。連接配線L9經由設置於第2絕緣膜93之接觸孔與初始化電晶體IST之汲極電極73及像素選擇電晶體SST之汲極電極77連接。藉此，像素選擇電晶體SST之汲極與初始化電晶體IST之汲極被電性連接。又，初始化電源線連接部L4a經由設置於第2絕緣膜93之接觸孔與源極電極72連接。
第3絕緣膜94覆蓋連接配線L9及初始化電源線連接部L4a，而設置於第2絕緣膜93之上。在第3絕緣膜94之上設置有陽極連接電極24及屏蔽電極26。陽極連接電極24經由設置於第2絕緣膜93及第3絕緣膜94之接觸孔與源極電極62連接。在陽極連接電極24與陽極電源線L1及連接於陽極電源線L1之各種配線之間、及陽極電源線L1與屏蔽電極26之間形成第2電容Cs2(參照圖3)。屏蔽電極26設置於陽極電極23及發光元件3之下。
第4絕緣膜95覆蓋陽極連接電極24及屏蔽電極26，設置於第3絕緣膜94之上。陽極電極23設置於第4絕緣膜95之上。陽極電極23經由設置於第4絕緣膜95之接觸孔與陽極連接電極24電性連接。
發光元件3設置於陽極電極23之上，且與發光元件3之陽極端子23t及陽極電極23連接。藉此，發光元件3之陽極端子23t與驅動電晶體DRT之源極電極62電性連接。
平坦化膜27覆蓋發光元件3之至少側面3a而設置於第4絕緣膜95之上。陰極電極22設置於平坦化膜27之上，與發光元件3之陰極端子22t連接。陰極電極22自顯示區域AA遍至周邊區域GA而設置，與複數個像素49之發光元件3電性連接。
如圖6所示般，於基板21之周邊區域GA，作為複數個電晶體，設置有驅動電路12(參照圖1)所含之電晶體Tr及陰極配線60。陰極配線60由第2金屬層ML2形成，在周邊區域GA內設置於第1絕緣膜92之上。圖5所示之陰極電極22與陰極配線60電性連接。又，圖3所示之陰極電源線L10包含陰極配線60及陰極電極22。再者，陰極配線60亦可由第3金屬層ML3形成，且設置於第2絕緣膜93之上。
電晶體Tr包含半導體層81、源極電極82、汲極電極83及閘極電極84。電晶體Tr具有與像素電路PICA所含之各電晶體同樣之層構成，而省略詳細之說明。於電晶體Tr之源極電極82及汲極電極83連接由第3金屬層ML3形成之配線82a、83a。藉此，可高效率地配置包含驅動電路12之周邊區域GA之配線。再者，配線82a、83a亦可由第2金屬層ML2形成，且設置於與源極電極82及汲極電極83同層。
如圖6所示般，影像信號線L2設置於陽極電源線L1之上側。又，重置電源線L3設置於不與陽極電源線L1重疊之位置。陽極電源線L1之寬度大於影像信號線L2及重置電源線L3各者之寬度。又，陽極電源線L1(第2金屬層ML2)之厚度t2厚於閘極電極64(第1金屬層ML1)之厚度t1(參照圖5)。又，陽極電源線L1(第2金屬層ML2)之厚度t2厚於影像信號線L2及重置電源線L3(第3金屬層ML3)之厚度t3。藉此，可減小陽極電源線L1之電阻值。
可適當變更各配線之層構成。例如，可於影像信號線L2之上側設置陽極電源線L1。即，可行的是，陽極電源線L1由第3金屬層ML3形成，且設置於第2絕緣膜93之上，影像信號線L2及重置電源線L3由第2金屬層ML2形成，且設置於第1絕緣膜92之上。
在本實施形態中，第1絕緣膜92之相對介電常數大於第2絕緣膜93及第3絕緣膜94之相對介電常數。陽極電源線L1隔著第1絕緣膜92與各種閘極線(重置控制信號線L5、輸出控制信號線L6、像素控制信號線L7、初始化控制信號線L8(參照圖4))對向。藉由相對介電常數高之第1絕緣膜92，而在陽極電源線L1與各種閘極線之間形成之電容變大。形成於陽極電源線L1之電容用作去耦合電容。藉此，去耦合電容吸收陽極電源電位PVDD之變動，而可使驅動IC 210穩定地動作。又，去耦合電容可抑制在顯示裝置1產生之電磁雜訊洩漏至外部。
圖7係作為像素電路PICA所含之複數個電晶體之連接構成之一例而顯示像素選擇電晶體SST之剖視圖。像素選擇電晶體SST具有由第2金屬層ML2形成之源極電極76。源極電極76經由設置於第1絕緣膜92之接觸孔與半導體層75連接。影像信號線L2(影像信號線連接部L2a)經由設置於第2絕緣膜93之接觸孔與源極電極76連接。換言之，影像信號線L2經由利用第2金屬層ML2形成之中繼電極(源極電極76)與半導體層75電性連接。
汲極電極77經由設置於第1絕緣膜92之接觸孔與半導體層75連接。連接配線L9經由設置於第2絕緣膜93之接觸孔與汲極電極77連接。驅動電晶體DRT之閘極電極64與由第2金屬層ML2形成之中繼電極64s連接。連接配線L9經由設置於第2絕緣膜93之接觸孔與中繼電極64s連接。藉由如此之構成，驅動電晶體DRT之閘極電極64經由利用第3金屬層ML3形成之連接配線L9與像素選擇電晶體SST之半導體層75電性連接。
如以上所說明般，本實施形態之顯示裝置1具有：基板21、複數個像素49、發光元件3及複數個電晶體、信號線、第1金屬層ML1、第2金屬層ML2及第3金屬層ML3、第1絕緣膜92、以及第2絕緣膜93。複數個像素49設置於基板21。發光元件3及複數個電晶體(驅動電晶體DRT、輸出電晶體BCT、初始化電晶體IST、像素選擇電晶體SST及重置電晶體RST)設置於複數個像素49各者。信號線(影像信號線L2、重置電源線L3及初始化電源線L4)對像素49供給信號。第1金屬層ML1、第2金屬層ML2及第3金屬層ML3在垂直於基板21之方向設置於不同之層。第1絕緣膜92設置於第1金屬層ML1與第2金屬層ML2之間。第2絕緣膜93設置於第2金屬層ML2與第3金屬層ML3之間。複數個電晶體之至少1個(例如像素選擇電晶體SST)具有：半導體層75，其設置於基板21；及閘極電極78，其由第1金屬層ML1形成，且設置於與半導體層75重疊之區域；並且信號線(例如，影像信號線L2)由第3金屬層ML3形成，與半導體層75電性連接。
藉此，在顯示裝置1(陣列基板2)中，即便於在各像素49設置有複數個電晶體之情形下，與電晶體連接早電源線、信號線、閘極線等複數條配線仍可由第1金屬層ML1、第2金屬層ML2及第3金屬層ML3形成。因此，複數條配線之配置之自由度變大，而顯示裝置1(陣列基板2)可高效率地配置配線。
圖8係顯示實施形態之發光元件之剖視圖。在本實施形態之顯示裝置1中，發光元件3為陽極端子23t設置於下側且陰極端子22t設置於上側之所謂之面朝上構造。
如圖8所示般，發光元件3具有：複數個部分發光元件3s、覆蓋複數個部分發光元件3s之保護層39、p型電極37、及n型電極38。複數個部分發光元件3s在p型電極37與n型電極38之間各自形成為柱狀。複數個部分發光元件3s具有n型包層33、活性層34、及p型包層35。n型電極38與n型包層33電性連接。p型電極37與p型包層35電性連接，在p型電極37之上，p型包層35、活性層34、n型包層33依此序積層。n型包層33、活性層34及p型包層35為發光層，例如，使用氮化鎵(GaN)、鋁銦燐(AlInP)等之化合物半導體。
n型電極38為ITO(Indium Tin Oxide，銦錫氧化物)等之透光性之導電性材料。n型電極38為發光元件3之陰極端子22t，與陰極電極22連接。又，p型電極37為發光元件3之陽極端子23t，具有Pt層37a、及藉由鍍敷而形成之厚膜Au層37b。厚膜Au層37b與陽極電極23之載置面23a連接。
保護層39為例如SOG(Spin on Glass，旋塗式玻璃)。保護層39之側面成為發光元件3之側面3a。平坦化膜27包圍保護層39之側面而設置。
(第1變化例) 圖9係顯示實施形態之第1變化例之發光元件之剖視圖。在顯示裝置1中，發光元件3並不限定於面朝上構造，亦可為發光元件3之下部與陽極電極23及陰極電極22連接之所謂之面朝下構造。
如圖9所示般，發光元件3A在透光性基板31之上，依照緩衝層32、n型包層33、活性層34、p型包層35、p型電極36之順序積層。發光元件3A以透光性基板31為上側、p型電極36為下側之方式安裝。又，在n型包層33中，在與陰極電極22對向之面側，設置有自活性層34露出之區域。於該區域設置有n型電極38A。
p型電極36係由具有反射來自發光層之光之金屬光澤之材料形成。p型電極36經由凸塊39A與陽極電極23連接。n型電極38A經由凸塊39B與陰極電極22連接。絕緣膜97覆蓋陰極電極22及陽極電極23，凸塊39A、39B在絕緣膜97之開口部分各自與陽極電極23及陰極電極22連接。
在發光元件3A中，p型包層35與n型包層33未直接接合，而在其間導入有其他層(活性層34)。藉此，可使電子或電洞等載子集中於活性層34之中，而能夠高效率地再結合(發光)。亦可為了高效率化將使包含數原子層之井層與障壁層週期性積層之多重量子井構造(MQW構造)用作活性層34。
(第2變化例) 圖10係顯示實施形態之第2變化例之顯示裝置之剖視圖。圖10與圖7同樣地顯示像素選擇電晶體SST之剖視圖。本變化例之顯示裝置1A與上述顯示裝置1相比，在連接配線L9A由第2金屬層ML2形成之點上不同。
如圖10所示般，連接配線L9A設置於第1絕緣膜92之上。連接配線L9A不經由中繼電極，而經由設置於第1絕緣膜92之接觸孔與像素選擇電晶體SST之半導體層75電性連接。連接配線L9A中之與半導體層75重疊之部分作為汲極電極77發揮功能。又，連接配線L9A不經由中繼電極而經由設置於第1絕緣膜92及閘極絕緣膜91之接觸孔與閘極電極64電性連接。藉由如此之構成，驅動電晶體DRT之閘極電極64經由利用第2金屬層ML2形成之連接配線L9A與像素選擇電晶體SST之半導體層75電性連接。
由於連接配線L9A由第2金屬層ML2形成，故可在連接配線L9A之上側之層配置配線等。因此，在本變化例中可高效率地配置配線。
(第3變化例) 圖11係顯示實施形態之第3變化例之顯示裝置之剖視圖。本變化例之顯示裝置1B與上述之顯示裝置1、1A相比，於在影像信號線L2與半導體層75之間設置有由第2金屬層ML2形成之中繼電極(源極電極76)之點上不同。又，在連接配線L9亦未設置有由第2金屬層ML2形成之汲極電極77、中繼電極64s。
如圖11所示般，在影像信號線L2(影像信號線連接部L2a)與半導體層75之間，於第1絕緣膜92及第2絕緣膜93，設置有貫通垂直於基板21之方向之接觸孔H1。影像信號線L2經由接觸孔H1與像素選擇電晶體SST之半導體層75電性連接。在本變化例中，影像信號線連接部L2a中之與半導體層75重疊之部分作為源極電極76發揮功能。又，連接配線L9不經由中繼電極而經由將第1絕緣膜92及第2絕緣膜93貫通之接觸孔與像素選擇電晶體SST之半導體層75電性連接。連接配線L9中之與半導體層75重疊之部分作為汲極電極77發揮功能。又，連接配線L9不經由中繼電極而經由設置於第1絕緣膜92、第2絕緣膜93及閘極絕緣膜91之接觸孔與閘極電極64電性連接。
藉由如此之構成，與設置中繼電極之情形相比，在第1絕緣膜92之上，供設置配線之空間變大，而可高效率地配置配線。又，本變化例之構成並不限定於像素選擇電晶體SST，可應用於各電晶體之半導體層與信號線之連接。
(第4變化例) 圖12係顯示實施形態之第4變化例之顯示裝置之剖視圖。本變化例之顯示裝置1C與上述顯示裝置1、1A、1B相比，在下述之點上不同，即：連接配線L9A由第2金屬層ML2形成，且在影像信號線L2與半導體層75之間，設置有由第2金屬層ML2形成之中繼電極(源極電極62)。
如圖12所示般，連接配線L9A之連接構成與第2變化例同樣，影像信號線L2之連接構成與第3變化例同樣。並不限於連接配線L9A及影像信號線L2，各配線可適當組合第1金屬層ML1、第2金屬層ML2及第3金屬層ML3。又，層間之連接構成亦可適當組合。
(第5變化例) 圖13係顯示實施形態之第5變化例之顯示裝置之剖視圖。本變化例之顯示裝置1D與上述顯示裝置1、1A、1B、1C相比，於在第1絕緣膜92設置有凹部92a之點上不同。
如圖13所示般，陽極電源線L1設置於凹部92a。即，第1絕緣膜92包含：與陽極電源線L1重疊之第1部分92b、及不與陽極電源線L1重疊之第2部分92c。第1部分92b之厚度t4較第2部分92c之厚度t5薄。
藉此，形成於陽極電源線L1與各種閘極線之間之電容變大。亦即，用作去耦合電容之電容變大。藉此，去耦合電容吸收陽極電源電位PVDD之變動，而可使驅動IC 210穩定地動作。又，去耦合電容可抑制在顯示裝置1產生之電磁雜訊洩漏至外部。
再者，本變化例之構成可組合上述第1變化例至第4變化例。
再者，上述圖3所示之像素電路PICA之構成可適當變更。例如在1個像素49中之配線之條數及電晶體之個數可不同。又，像素電路PICA亦可為電流鏡電路。由於電流鏡電路在例如日本特開2002-215093號公報中記載，故將日本特開2002-215093號公報之記載包含於本實施形態並省略記載。
以上，說明了本發明之較佳之實施形態，但本發明並不限定於如此之實施形態。實施形態中所揭示之內容終極而言僅為一例，在不脫離本發明之旨趣之範圍內可進行各種變更。關於在不脫離本發明之旨趣之範圍內進行之適宜之變更當然屬本發明之技術範圍內。在不脫離上述各實施形態及各變化例之要旨之範圍內，可進行構成要素之各種省略、置換及變更中之至少一個。
1:顯示裝置 1A:顯示裝置 1B:顯示裝置 1C:顯示裝置 1D:顯示裝置 2:陣列基板 3:發光元件 3a:側面 3A:發光元件 3B:發光元件 3G:發光元件 3R:發光元件 3s:發光元件 12:驅動電路 21:基板 22:陰極電極 22t:陰極端子 23:陽極電極 23a:載置面 23t:陽極端子 24:陽極連接電極 26:屏蔽電極 27:平坦化膜 31:透光性基板 32:緩衝層 33:n型包層 34:活性層 35:p型包層 36:p型電極 37:p型電極 37a:Pt層 37b:厚膜Au層 38:n型電極 38A:n型電極 39:保護層 39A:凸塊 39B:凸塊 49:像素 49B:第3像素 49G:第2像素 49R:第1像素 60:陰極配線 61:半導體層 61a:第1部分半導體層 62:源極電極 64:閘極電極 64s:中繼電極 65:半導體層 66:閘極電極 67:汲極電極 71:半導體層 71A:半導體層 72:源極電極 73:汲極電極 74:閘極電極 75:半導體層 76:源極電極 77:汲極電極 78:閘極電極 79:半導體層 81:半導體層 82:源極電極 82a:配線 83:汲極電極 83a:配線 84:閘極電極 90:底塗層膜 91:閘極絕緣膜 92:第1絕緣膜 92a:凹部 92b:第1部分 92c:第2部分 93:第2絕緣膜 94:第3絕緣膜 95:4絕緣膜 97:絕緣膜 210:驅動IC AA:顯示區域 BCT:輸出電晶體 BG:輸出控制信號 Cs1:第1電容 Cs2:第2電容 DRT:驅動電晶體(第1電晶體) Dx:第1方向 Dy:第2方向 Dz:第3方向 GA:周邊區域 H1:接觸孔 IG:初始化控制信號 IST:初始化電晶體 L1:陽極電源線 L1a:陽極電源線連接部 L2:影像信號線 L2a:影像信號線連接部 L3:重置電源線 L3a:重置電源線連接部 L3b:重置電源線連接部 L3c:橋部 L4:初始化電源線 L4a:初始化電源線連接部 L5:重置控制信號線 L5a:分支信號線 L6:輸出控制信號線 L7:像素控制信號線 L7a:分支信號線 L8:初始化控制信號線 L8a:分支信號線 L9:連接配線 L9A:連接配線 L10:陰極電源線 ML1:第1金屬層 ML2:第2金屬層 ML3:第3金屬層 PICA:像素電路 Pix:像素 PVDD:陽極電源電位 PVSS:陰極電源電位 RG:重置控制信號 RST:重置電晶體 SG:像素控制信號 SST:像素選擇電晶體(第2電晶體) Tr:電晶體 t1:厚度 t2:厚度 t3:厚度 t4:厚度 V-V’:線 VI-VI’:線 VII-VII’:線 Vini:初始化電位 Vrst:重置電源電位 Vsig:影像信號
圖1係示意性地顯示實施形態之顯示裝置之平面圖。 圖2係顯示複數個像素之平面圖。 圖3係顯示像素電路之電路圖。 圖4係將實施形態之顯示裝置之2個像素放大而顯示之平面圖。 圖5係沿圖4之V-V’線之剖視圖。 圖6是沿圖4之VI-VI’線之剖面圖。 圖7是沿圖4之VII-VII’線之剖面圖。 圖8係顯示實施形態之發光元件之剖視圖。 圖9係顯示實施形態之第1變化例之發光元件之剖視圖。 圖10係顯示實施形態之第2變化例之顯示裝置之剖視圖。 圖11係顯示實施形態之第3變化例之顯示裝置之剖視圖。 圖12係顯示實施形態之第4變化例之顯示裝置之剖視圖。 圖13係顯示實施形態之第5變化例之顯示裝置之剖視圖。
1:顯示裝置
2:陣列基板
3:發光元件
3a:側面
21:基板
22:陰極電極
22t:陰極端子
23:陽極電極
23t:陽極端子
24:陽極連接電極
26:屏蔽電極
27:平坦化膜
61:半導體層
61a:第1部分半導體層
62:源極電極
64:閘極電極
65:半導體層
66:閘極電極
67:汲極電極
71:半導體層
72:源極電極
73:汲極電極
74:閘極電極
75:半導體層
77:汲極電極
78:閘極電極
90:底塗層膜
91:閘極絕緣膜
92:第1絕緣膜
93:第2絕緣膜
94:第3絕緣膜
95:第4絕緣膜
BCT:輸出電晶體
DRT:驅動電晶體(第1電晶體)
L1a:陽極電源線連接部
L4a:初始化電源線連接部
L6:輸出控制信號線
L7a:分支信號線
L8:初始化控制信號線
L8a:分支信號線
L9:連接配線
ML1:第1金屬層
ML2:第2金屬層
ML3:第3金屬層
IST:初始化電晶體
SST:像素選擇電晶體(第2電晶體)

Claims (12)

  1. 一種顯示裝置，其具備： 基板； 複數個像素，其等設置於前述基板； 發光元件及複數個電晶體，其等設置於複數個前述像素各者； 複數條信號線，其等對前述像素供給信號； 電源線，其對前述像素供給驅動電位； 第1金屬層、第2金屬層及第3金屬層，其等設置於在垂直於前述基板之方向不同之層； 第1絕緣膜，其設置於前述第1金屬層與前述第2金屬層之間；及 第2絕緣膜，其設置於前述第2金屬層與前述第3金屬層之間；且 複數個電晶體各自具有： 半導體層，其設置於前述基板；及 閘極電極，其由前述第1金屬層形成，且設置於與前述半導體層重疊之區域；並且 複數條前述信號線及前述電源線之任一條以上由前述第3金屬層形成，並與前述電晶體電性連接。
  2. 如請求項1之顯示裝置，其中 複數條前述信號線由前述第3金屬層形成， 前述電源線由前述第2金屬層形成， 在俯視下，前述電源線與前述信號線重疊地設置。
  3. 如請求項1之顯示裝置，其中 前述電源線之片電阻值為前述信號線之片電阻值以下。
  4. 如請求項1之顯示裝置，其中 前述第1絕緣膜包含與前述電源線重疊之第1部分、及不與前述電源線重疊之第2部分；且 前述第1部分之厚度薄於前述第2部分之厚度。
  5. 如請求項1之顯示裝置，其中 複數個前述電晶體包含： 第1電晶體，其對前述發光元件供給電流；及 第2電晶體，其連接於前述第1電晶體；且 具有閘極線，其由前述第1金屬層形成，並與前述第2電晶體之閘極電極連接；並且 前述信號線之片電阻值為前述閘極線之片電阻值以下。
  6. 如請求項5之顯示裝置，其中 與前述第1電晶體之半導體層重疊而設置1個閘極電極，且 與前述第2電晶體之半導體層重疊而設置2個閘極電極。
  7. 如請求項5之顯示裝置，其中 前述信號線經由以前述第2金屬層形成之中繼電極與前述第2電晶體之前述半導體層電性連接。
  8. 如請求項5之顯示裝置，其中 設置在垂直於前述基板之方向貫通前述第1絕緣膜及前述第2絕緣膜的接觸孔；且 前述信號線經由前述接觸孔與前述第2電晶體之前述半導體層電性連接。
  9. 如請求項5之顯示裝置，其具有由前述第3金屬層形成之連接配線；且 前述第1電晶體之閘極電極經由前述連接配線與前述第2電晶體之半導體層電性連接。
  10. 如請求項5之顯示裝置，其具有由前述第2金屬層形成之連接配線；且 前述第1電晶體之閘極電極經由前述連接配線與前述第2電晶體之半導體層電性連接。
  11. 如請求項1之顯示裝置，其中前述第1絕緣膜之相對介電常數大於前述第2絕緣膜之相對介電常數。
  12. 一種陣列基板，其係供設置複數個發光元件者，且具備： 基板； 複數個電晶體，其等設置於前述基板； 複數條信號線，其等對前述發光元件供給信號； 電源線，其對前述發光元件供給驅動電位； 第1金屬層、第2金屬層及第3金屬層，其等在垂直於前述基板之方向設置於不同之層； 第1絕緣膜，其設置於前述第1金屬層與前述第2金屬層之間；及 第2絕緣膜，其設置於前述第2金屬層與前述第3金屬層之間；且 複數個電晶體各自具有： 半導體層，其設置於前述基板；及 閘極電極，其由前述第1金屬層形成，且設置於與前述半導體層重疊之區域；並且 複數條前述信號線及前述電源線之任一條以上由前述第3金屬層形成，並與前述電晶體電性連接。
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