TW201319598A

TW201319598A - 陣列測試裝置

Info

Publication number: TW201319598A
Application number: TW100146455A
Authority: TW
Inventors: Dong-Hyun Jung; Jun-Ho Ban
Original assignee: Top Eng Co Ltd
Priority date: 2011-11-08
Filing date: 2011-12-15
Publication date: 2013-05-16
Also published as: KR20130050723A; KR101288457B1; TWI460448B; CN103093715B; CN103093715A

Abstract

本發明揭露一種陣列測試裝置，其可預防調節器產生晃動或傾斜。

Description

陣列測試裝置

本發明係關於一種用於檢測玻璃面板的陣列測試裝置。

就大眾所知，目前已經被發展並使用的平面顯示器種類包含液晶顯示器、電漿顯示器、場發射顯示器、有機發光二極體顯示器等。

其中，液晶顯示器具有複數個液晶單元陣列設置，並依據影像資料提供資料訊號至各液晶單元以控制各液晶單元之光線穿透率進而顯示畫面。由於其薄型化、輕量化，低耗電以及低操作電壓等優點，液晶顯示器已被廣泛的使用，以下簡述一種習知液晶顯示面板的製造方法。

首先，於一上玻璃面板形成一彩色濾光層及一共同電極層，並於一相對於上玻璃板設置之下玻璃面板形成一薄膜電晶體及一畫素電極。接著，於上玻璃面板及下玻璃面板各設置一配向層。之後，於配向層上摩擦以提供一預傾角及一配向方向給位於液晶層內之配向分子，該液晶層將會在之後形成於兩配向層中間。

此外，根據一預訂圖案在上下玻璃面板之至少一面板上塗膠以形成框膠，以在上下玻璃面板間形成一間隙，並密封上下玻璃面板間的空間以避免液晶洩漏到面板外。最後，在上下玻璃面板中形成液晶層，如此即製成液晶面板。

以上提到的製作方法過程中，需要有一檢測程序來檢驗下玻璃面板(以下皆稱為玻璃面板，其上設置有薄膜電晶體及畫素電極)是否有缺陷存在，例如確認掃描線或是資料線是否有不連續的狀況、或是畫素單元之精準度。一陣列測試裝置即是被用於進行上述之玻璃面板之測試，此設備包括一用於檢測之測試單元、一用於裝載玻璃面板至測試單元之載入單元、以及一用於卸載已完成測試的玻璃面板之卸載單元。

上述之測試單元包含一光源、一由光電材料層所形成之調節器、及一能夠捕捉調節器影像之影像捕捉單元。其所用之測試方法為：首先裝載一玻璃面板至支撐平台上，運用預先設定好之電壓於調節器及該玻璃面板上，並配置該調節器於玻璃面板旁側。若該玻璃面板無缺陷，於調節器及該玻璃面板之間會產生一電場；反之則無或呈現極低強度之電場。陣列測試裝置即測量調節器與該玻璃面板之間的電場強度，並使用測量出的強度來判斷該玻璃面板有無缺陷。

其中一項影響量測精確度之因素為玻璃面板與調節器之距離，欲精準檢測玻璃面板，維持該玻璃面板與調節器於穩定的預設之理想距離是必要的。因此，在陣列測試裝置之運用上，目前所使用的技術是將氣體吹至玻璃面板上，以利用該氣體之壓力使調節器浮於該玻璃面板上，藉此維持兩者間的距離。

由於玻璃面板上帶有複數個待檢測之區域，調節器會持續的在玻璃面板上移動直到所有待測區域皆完成測試。對此，調節器會以垂直向上之方向遠離玻璃面板，以維持其與該面板間的距離(以下皆稱為第一距離，此距離允許調節器可水平移動)。因此，調節器可於玻璃面板表面上水平移動至某一對應之待測區域的上方。接著，調節器會以垂直方式向下靠近玻璃面板至一距離(以下皆稱為第二距離)，此距離允許調節器可檢測玻璃面板。

該第一距離遠大於該第二距離。也因此，用於調整達到第一距離的氣體之壓力應遠大於用於調整達到第二距離者。

較佳者，該第二距離盡可能地縮至最小距離，以使玻璃面板與調節器之間的電場強度可被精確地測量。也就是說，在不使調節器接觸到玻璃面板的情況下，第二距離越小越好。

第一距離之設置是以避免調節器於水平移動時接觸到玻璃面板為原則。同時，當調節器水平移動時，一加速力會施加於其上並使其傾斜，如此可使該調節器以預設之傾斜角度水平移動。再者，當水平移動之調節器停下時，一減速力會被施加於其上，並使其以一預設之角度傾斜。在習知的陣列測試裝置中，第二距離是被設定為相對較大的數值以避免調節器在傾斜時與玻璃面板接觸。也因此，在習知的設備中，第一距離與第二距離是有一定程度之差異的。

如此，在習知的陣列測試裝置中，由於第一距離與第二距離之大小有相當程度之差距，調節器與玻璃面板間之距離變化也相對地耗費較長時間。

甚至，由於調節器在水平方向上加速移動或停止時皆以一預設角度傾斜，其速度不應該過快，以避免調節器碰觸到玻璃面板的情形產生。亦即，該調節器之水平移動速度僅能加速至一上限。

據此，考慮發生於先前技術中的上述問題，本發明的目的係為提供一種陣列測試裝置，其可預防調節器在水平移動時傾斜。

本發明之另一目的為使用一陣列測試裝置以節省調節器與玻璃面板間的兩種距離轉換所需的時間，其一為可提供調節器水平移動之距離，另一則為使調節器能檢測玻璃面板之距離。

為達成上述目的，本發明提供一種陣列測試裝置，其包括一面向玻璃面板設置之調節器、一位於調節器周圍之固定塊、一與上述該調節器耦合並由該固定塊支撐以可升降之移動塊、一可吹氣至玻璃面板上使該調節器可以朝第一方向遠離玻璃面板之吹氣單元、以及一位於固定塊與移動塊之間的外力提供單元，該外力提供單元運用外力使動滑車以一反向於第一距離之第二距離移動。

以下將參照相關圖示，說明依本發明較佳實施例之陣列測試裝置。

如圖1至圖5所示，根據本發明之第一實施例，陣列測試裝置10包括一載入單元20、測試單元30、卸載單元40以及控制單元50，載入單元20載入玻璃面版P至陣列測試裝置上，測試單元30測試由載入單元20載入的玻璃面板P，卸載單元40負責卸載已經過測試單元30測試之玻璃面板P，控制單元50則負責控制玻璃面板P之測試操作。

載入單元20包括複數個第一支撐板22，該些第一支撐板22以預設之間隔被分開配置於其位置上，第一支撐板22支撐玻璃面板P以作測試。卸載單元40包括複數個第二支撐板42，該些第二支撐板以預設之間隔被分開配置於其位置上，第二支撐板42支撐由測試單元30測試完畢之玻璃面板P。吹氣孔24及44分別形成於載入單元20之第一支撐板22及卸載單元40之第二支撐板42上。空氣由吹氣孔24或44釋放至玻璃面板P之下表面以利其浮起。再者，該載入單元20及卸載單元40各自擁有一玻璃面板傳送單元70，該玻璃面板傳送單元70可用抽吸力保持玻璃面板之下表面並水平地移動玻璃面板P。

測試單元30檢測玻璃面板P的電子缺陷測試。測試單元30包括光線傳輸支撐板31、測試模組32、探針模組33。由載入單元20裝載之玻璃面板P放置於光線傳輸支撐板31上，測試模組32以電子缺陷測試光線傳輸支撐板31上之玻璃面板P。探針模組33運用電子訊號於光線傳輸支撐板31上之玻璃面板P的電極E。測試模組32位於一測試模組傳輸單元60上，該測試模組傳輸單元60配置於光線傳輸支撐板31上並且往X軸方向延伸至一預設之長度測試模組32於X軸方向上係為可沿著該測試模組傳輸單元60移動。測試模組32包含複數個測試模組32，並分別配置於測試模組傳輸單元60所延伸的方向。

如圖2所示，該測試模組32包含一光源321、一半稜鏡322、一面向玻璃面板上方之調節器120以及一攝像單元90。該半稜鏡322用以控制光源321所發射之光束的方向，而攝像單元90則捕捉該調節器120之影像。

調節器120包含位置鄰近於玻璃面板P之一反射層121、一光電材料層122、調節器電極層123以及一光傳輸塊124，光電材料層122根據玻璃面板P與調節器120間所測得的電場強度去改變光的穿透係數，調節器電極層123與一電源供應器(此處未示)連結，而光傳輸塊124則位於該調節器電極層123之上。反射層121可包含一反光薄膜，或可用鍍有反光膜之反射玻璃層(例如鏡子)取代。若利用反射玻璃層做為反射層121之材料，其硬度較使用反光薄膜為佳。如此可避免反射層121在與玻璃面板接觸時受到如刮傷等破壞。

光電材料層122係由具有特定物理性質的材料製作而成，該特定物理性質係為當施加電力於玻璃面板P以及調節器120之間時，根據形成的電場變化之特定物理性質。舉例來說，該光電材料層122可由LC(液晶)組成，液晶材料可根據電場之強度來改變光的穿透係數。另外，光電材料層122亦可選用PDLC(高分子分散性液晶)來組成，其係根據電場強度以預定方向導向，藉此極化入射光至對應程度。

於上所描述之構造，當電子訊號傳至玻璃面板及調節器120的調節器電極層123之電極上時，於其間會產生一電場。用於組成光電材料層122之光電材料的特性也會隨著電場而不同。因此，光束從光源321發射，通過半稜鏡322進入調節器120後會被調節器120之反射層121所反射，造成光量的變化。此時，攝像單元90會捕捉一來自調節器120之影像，接著，可使用攝像單元90所捕捉之調節器120的影像來分析光量，以判定於玻璃面板P與調節器120之間的電場強度。若玻璃面板有缺陷，則玻璃面板P與調節器120之間將不會有電場形成，或是該電場之強度將會比正常狀況來的小。如此，無論玻璃面板P是否有缺陷，皆可以透過測量電場強度來判定。

同時，如上所述，如同光源321於測試模組32內及反射層121於調節器120內之配置，測試單元30可按照光反射方式來配置。或者，如圖3所示，根據配置於光線傳輸支撐板31下方之光源321的光傳輸方法來配置測試裝置30，亦即，該下方係相對於調節器120面對光線傳輸支撐板31所設置的反向側，無論玻璃面板P有無缺陷損壞，皆可透過來自光源321並穿過調節器120的光作測試。由於此測試單元30使用此光穿透方式作測試，因此光線傳輸支撐板31係由一光可穿透之材料製成。此外，一保護層125可設置於調節器120面對玻璃面板P之一側。如此，本發明之陣列測試裝置的測試單元30可根據光的反射或穿透方式來設置。

圖4及圖5描述該可遠離玻璃面板P移動之調節器120的構造。如圖4及圖5所示，測試模組32包含一固定塊110、一移動塊130、一吹氣單元140以及一外力提供單元200。該固定塊110設置於調節器200周圍。移動塊130與調節器120連接，並由固定塊110支撐以可相對於玻璃面板P升降。吹氣單元140與移動塊130連結並朝向該玻璃面板P吹氣使調節器120浮於玻璃面板P上方。外力提供單元200位於固定塊110與移動塊130之間並施加一外力於移動塊130。

移動塊130係由固定塊110之較低的一側支撐以可升降。藉此，調節器120亦可於固定塊130中由移動塊130支撐以可升降。攝像單元90則設置於固定塊110較高的一側。

吹氣單元140包含一設置於移動塊130下方之排出口141，且該排出口141朝向複數個元件開口，該些元件包括玻璃面板P、一連接於排出口141之通道142、一與通道142連接並透過通道142提供氣體給排出口141之氣體提供單元143。排出口141可為複數個排出口141，該些排出口141在移動塊130周圍圍繞著調節器120排列。於此例子中，該些排出口141以規則的間隔距離設置以維持調節器升起時的高度。通道142之設計是以其一部分可被移動塊143覆蓋為原則。至少有一部分的通道142是由軟性材料組成，例如：一種彈性管，以使通道142避免掉來自於調節器120及移動塊130的阻礙移動。氣體提供單元143係由控制單元50所控制。可提供空氣或惰性氣體的吹風器或壓縮機皆可用作為氣體提供單元143。於吹氣單元140內即包含上述所有的構造，亦即，氣體提供單元143提供氣體進入通道142，氣體由排出口141排出至玻璃面板P的上表面。接著，排出至玻璃面板P上表面的空氣壓力使得調節器120以及移動塊130遠離該玻璃面板P向上移動。控制單元50調整來自於氣體提供單元143給予排出口141之空氣壓力，藉此可控制調節器120及移動塊130的高度。因此，玻璃面板P與調節器120之間的距離可被控制於一第一距離與一第二距離之間，該第一距離可使調節器120進行水平移動，而第二距離則使該調節器120可對玻璃面板P進行檢測。

外力提供元件200包含一設置於固定塊110表面之第一磁力元件211、一設置於移動塊130表面之第二磁力元件212，該固定塊110係與移動塊130垂直相對設置，且第一磁力元件211與第二磁力元件212亦係以垂直方向相對設置。

第一磁力元件211及第二磁力元件212可皆為電磁鐵。另，該兩者可僅有其中一為電磁鐵，另一為可與磁鐵相吸之材料，如金屬或類似之物。圖4及圖5顯示一外力提供單元200的構造，於此構造內，第一磁力元件211為一電磁鐵，並有一電源213與第一磁力元件211連結。控制單元50藉由控管控制電流以使電源213所提供給第一磁力元件之電流強度是可調整的。

舉例來說，如圖4及圖5所示，為了提供一可容置第一磁力元件211及第二磁力元件212之空間，一延長部131於移動塊130的周緣向外延展。另有一接受部111設置於固定塊110較低之末端，上述之延長部131即設置於該接受部111的內側邊緣以可垂直移動。

於一實施例中，如圖4所示，第一磁力元件211係設置於固定塊110之接受部111的內表面上方，而第二磁力單元212係設置於移動塊130之延長部的內表面上方。

於此結構中，當第一磁力元件211與第二磁力元件212間產生斥力時，調節器120和移動塊130會朝下方偏置。

此處，當玻璃面板P與調節器120之間的距離呈現為可使調節器120做水平移動之第一距離時，由第一磁力元件211及第二磁力元件212之間所產生的斥力可運用於兩者本身。而由吹氣單元140所吹至玻璃面板P的氣體之壓力會朝一方向A施加一力至調節器120(方向A於此稱為第一方向)，調節器120即朝此方向A遠離玻璃面板P移動。另一方面，由第一磁力元件211及第二磁力元件212之間所產生的斥力會朝一方向B施加一力至調節器120(方向B於此稱為第二方向)，調節器120即向此第二方向B靠近玻璃面板P。

於第一方向A施加於調節器120上的力等同於在第二方向B施加於調節器120之力加上調節器120和移動塊130的重力總和。此由下方的公式表示之：

F11=F12+FL　(1)

F11表示由吹氣單元140所吹至玻璃面板P的氣體之壓力朝第一方向A施加至調節器120的力，此時該調節器120位於第一距離。F12表示由第一磁力元件211及第二磁力元件212之間所產生的斥力於第二方向B施加至調節器120的力，此時調節器120亦位於第一距離。而FL表示調節器120及移動塊130的重力總和，此重力係朝第二方向B施加於位於第一距離之調節器120上。

當調節器120位於第一距離，移動塊130則藉由於方向A施加於調節器之力F11與施加於第二方向B之力F12+FL的平衡，相對於固定塊110保持在一預設之位置，亦即，藉由上述之方程式A的平衡達此目的。因此，位於第一距離調節器120可於水平移動時，不論加速或減速至停止的情況下，避免傾斜的狀況產生。

調節器120的垂直方向高度不僅可由吹向玻璃面板P的氣體壓力來調整，亦可由第一磁力元件211及第二磁力元件212之間的磁力來控制，舉例來說，後者可藉由控制施加於第一磁力元件211電流的強度來達成。

同時，第一磁力元件211及第二磁力元件212之間產生的斥力於調節器120往第二方向B移動時亦可運作，以使玻璃面板P與調節器120之間的距離可自第一距離變化至第二距離。上述之距離改變亦包含減少吹至玻璃面板P上的氣體壓力，該減少係指相對於位於第一距離時之壓力，如此，調節器120與移動塊130的重量總和可使調節器120往第二方向B向下移動。

另，該施加於調節器120之上使其往第一方向A由第一距離移動至第二距離之力，係少於該位於第一方向A施加於調節器120以維持該第一距離之力F11，此兩力皆係由吹至玻璃面板P的氣體壓力所產生。此由下方的公式表示之：

F21<F11　(2)

F21表示於調節器120由第一距離移動至第二距離時，一於第一方向由吹至玻璃面板P的氣體壓力所施加於調節器120之力。

由於調節器120在由第一距離移動至第二距離時，其係藉由本身與移動塊130的重力總和往第二方向B移動，該施加於調節器120之力的關係可由下列公式表示之：

F21<FL　(3)

承上述關係式，若加入介於第一磁力元件211及第二磁力元件212之間的斥力所產生之力F12，該力係由第二方向B施加於調節器120，此時，施加於調節器120的力之間的關係可由下述公式表示之：

然而，若該介於第一磁力元件211及第二磁力元件212之斥力出現於由第一距離移動至第二距離的階段，則於第二方向B施加於調節器120之力F12與力FL的總和會遠大於該於第一方向A上施加於調節器120之力F21，使得該調節器120向下移動的速度增加，使該調節器120由第一距離移動至第二距離所需的時間減少。

同時，如圖5，第一磁力元件211可設置於固定塊110之接受部111的內表面底部，而第二磁力元件則可設置於移動塊130之延長部131的下表面。

如圖5結構所示，由第一磁力元件211與第二磁力元件之間產生的吸引力可提供與圖4之結構相同的操作與效果。亦即，關於施加於調節器120上之力可由公式1～4表示之。

比較圖5及圖4之結構，即使在第一磁力元件211及第二磁力元件212的設置位置及產生於兩者間的磁力種類(斥力或吸引力)上有些許差異，其操作與效果上皆是完全相同的。

同時，本發明並不侷限於圖4或圖5之結構。例如，本發明亦可設計為一延長部自固定塊110的內周緣向內延伸，以及一可承接該固定塊110之延長部的接受部，該固定塊110係圍繞移動塊130設置。如此，固定塊110與移動塊130之形狀，及第一磁力元件211與第二磁力元件212的設置位置可做數種不同之變化，只要第一磁力元件211及第二磁力元件212係分別設置於固定塊110及移動塊130，並且互相垂直面對另一者使外力可施加於移動塊130及固定塊110之上，以維持移動塊130相對於固定塊110為一預設之位置。

承上所述，設置於第一實施例之陣列測試裝置中的外力提供單元200會施加一外力給移動塊130至一相反於第一方向A之第二方向B，此第二方向B可使調節器120藉由吹至玻璃面板P的氣體壓力遠離玻璃面板P而移動。當玻璃面板P與調節器120之距離為第一距離時，外力會施加於移動塊130之上，藉此，移動塊130相對於固定塊110的位置，亦即，調節器120的位置可被穩定維持。如此一來，可防止調節器120於水平移動時發生搖晃的狀況，更可避免調節器120因搖晃造成與玻璃面板P之間的碰撞。相較於習知技術為避免調節器120產生搖晃所使用的慢速水平移動，本發明之調節器120知水平移動速度有顯著的提升。甚至，不像習知技術為避免碰撞而設置較大的第一距離，本發明可縮短該第一距離以達最佳狀況。

此外，於玻璃面板P及調節器120之距離由第一距離改變至第二距離的過程中，由於在調節器會碰觸到玻璃面板P的第二方向B中，外力可施加於調節器120上，所需用於改變玻璃面板P與調節器120之間由第一距離改變至第二距離的時間會減少。

以下，根據本發明第二實施例之陣列測試裝置將參照圖6描述。在第二實施例的描述中，相同元件符號將用以標示為第一實施例之相同元件符號，且相同元件不再進一步解釋。

於第二實施例中，一外力提供單元200包含複數個外力提供單元200，該些外力提供單元200係於固定塊110及移動塊130的周緣方向並環繞調節器120所設置。控制單元50根據各外力提供單元所在的位置，差異性地控制該外力提供單元200產生之外力的強度。

例如，如圖6所示，外力提供單元200上之複數個第一磁力元件211及複數個第二磁力元件212可設置於固定塊110及移動塊130的周緣方向，並環繞調節器120。更佳地，第一磁力元件211與第二磁力元件212係被以規律之間隔安排設置。第一磁力元件211係經由控制電路214連接電源213。

控制單元50可獨立地操控控制電路214。在控制單元50的控制下，各控制電路214可獨立地操控由電源213提供之電流並將其施加於各對應之第一磁力元件211。因此，根據外力提供元件200的位置，第一磁力元件211及第二磁力元件212可產生不同強度的斥力(見圖4之構造)或吸引力(見圖4之構造)於其中。

當測試模組傳輸單元60移動固定塊11、移動塊130及調節器120於X方向，亦即，當調節器120水平移動時並設置於一對應於一玻璃面板P之目標待測部分時，加速力會施加於調節器120和移動塊130。當調節器120水平移動至停下時，一減速力會施加於調節器120和移動塊130。相對於該施加於調節器120及移動塊130上之加速力，有一向下力施加於該調節器120移動方向之前側，另有一向上力施加於調節器120的後側。再者，當調節器120及移動塊130減速時，向上力會施加於調節器移動方向之前側，另有一向下力會施加於調節器的後側。因此，該些於加速或減速時施加於調節器120的力可能使調節器120產生傾斜。

根據第二實施例之構造，外力提供單元200所提供之外力的強度可藉由對該施加於調節器120上之加速力或減速力的反應來控制，可使調節器120無論是在水平加速移動或停下時避免傾斜的狀況產生。

例如，當調節器120水平加速移動時，控制單元50減弱第一磁力單元211與第二磁力單元212之間的磁力強度，該兩磁力單元係設置於調節器120之移動方向的前側，控制單元50並增加設置於調節器120後側之第一磁力單元211第二磁力單元212之間的磁力強度。如此，不同強度的磁力藉由加速力而設置於調節器120的前側與後側。藉此，調節器120可避免產生傾斜的狀況。

另一方面，當調節器120水平移動停下時‧控制單元50增加第一磁力單元211第二磁力單元212之間的磁力強度，該兩磁力單元係設置於調節器120之移動方向的前側，另，該控制單元50會減弱設置於調節器120後側之第一磁力單元211與第二磁力單元212之間的磁力強度。由於分別施加於調節器120的前後側的磁力強度可依據施加於調節器120前後兩側的減速力來反應而有所不同，如此可避免調節器120產生傾斜的狀況。

如上所示，依據第二實施例之陣列測試裝置中，該外力提供單元200係被圍繞設置於調節器120。根據調節器120之作動為水平加速移動或停止移動，控制單元50會控制外力提供單元200提供不同強度的外力施加於調節器120之上，藉著加速力或減速力，調節器120可於水平加速移動或停止時避免傾斜。

當然，於第二實施例中的陣列測試裝置中，若無加速力或減速力施加於調節器120之上而使其傾斜，控制單元50可獨立控制各施加於外力提供單元200的外力強度，以控制調節器120面向玻璃面板P的一側可平行於該玻璃面板P的上表面。

以下，根據本發明第三實施例之陣列測試裝置將參照圖7至圖9描述。在第三實施例的描述中，相同元件符號將用以標示為第一及第二實施例之相同元件符號，且相同元件不再進一步解釋。

如圖7及圖8所示，根據第三實施例，一第一磁力元件211及一第二磁力元件212可為永久磁鐵，或者，該兩者之一可由永久磁鐵構成，而另一者可由為磁鐵所吸引之金屬構成。

在此結構中，一預定之磁力係產生於第一磁力元件211與第二磁力元件212之間。此磁力裝置可在玻璃面P與調節器位於第一距離時，維持調節器120處於該預設之位置。此外，當玻璃面板P與調節器120之間的距離由第一距離改變至第二距離時，磁力將會成為使調節器120往玻璃面板P移動至第二距離的力量。

圖7的結構與圖4相似，其斥力係產生於第一磁力元件211及第二磁力元件212之間。同樣地，圖8之結構亦與圖5相似，其中的吸引力係產生於第一磁力元件211及第二磁力元件212之間。

藉由控制產生於第一磁力元件211及第二磁力元件212之間的磁力強度可達到對位於第一距離的調節器120的垂直高度的調整，或者當調節器120與玻璃面板P之間的距離由第一距離變化至第二距離時，亦可獲得同樣的調整效果。

對此，無論是對於位在固定塊110之第一磁力元件211，或者是位於移動塊130之第二磁力元件212，皆可以透過固定螺釘，一種微型墊片環，之類的人工控制來調整其位置。

另外，一磁力元件移動裝置可自動地控制第一磁力元件211或第二磁力元件212。於此例子中，該磁力元件移動裝置係與第一磁力元件211或第二磁力元件212兩者之一連結，並移動該兩磁力元件互相靠近或遠離。

如圖9所示，例如，磁力元件移動裝置215包含一致動器215a及一連桿215b。致動器215a係設置於固定塊110上並會產生一線性驅動力，而該連桿215b係將該線性趨動力傳送至第一磁力元件211。詳細而言，一穿透孔216位於固定塊110之接受部111的上方末端處。第一磁力元件211係以可滑動式設置於穿透孔216。致動器215a包含一以氣動或液壓方式作動之汽缸。此外，本發明並不限於此構造。例如，磁力元件移動裝置215之致動器215a包含一轉動馬達，而連桿215b則包含一螺釘。該轉動馬達使該連桿215b旋轉，並藉此線性地移動第一磁力元件211以使其位置移動。承上所述，多種線性移動裝置可用作磁力元件移動裝置215。

磁力元件移動裝置215係由控制單元50所控制。因此，第一磁力元件211的位置係由控制元件之控制來做調整，進而使第一磁力元件211與第二磁力元件212之間的磁力受到控制。

同時，如圖9所示，即使磁力元件移動裝置215係被顯示成僅與第一磁力元件211相連，本發明於此不限。磁力元件移動裝置215亦可僅與第二磁力元件212相連，或是同時與兩者連接。

第三實施例的操作與效果皆與第一實施例相同。

同時，根據第三實施例之外力提供單元200包含複數個外力提供單元200，該些外力提供單元200係同第二實施例圍繞調節器120設置。當調節器120水平加速或減速移動時，控制單元50可單獨地控制外力提供單元200第一磁力元件211及第二磁力元件212之間的距離，如此可使其中的磁力強度受到獨立的控制。從而，調節器120可避免因施加於其上的加速力或減速力發生傾斜的狀況。此外，調節器120的方向係為可調整的，以控制調節器120面向玻璃面板P的一側可平行於該玻璃面板P的上表面。

以下，根據本發明第四實施例之陣列測試裝置將參照圖10至圖12描述。在第四實施例的描述中，相同元件符號將用以標示為第一至第三實施例之相同元件符號，且相同元件不再進一步解釋。

如圖10至圖12所示，根據第四實施例之一外力提供單元200包含一彈性元件220，該彈性元件220可提供彈力給移動塊130當玻璃面板P與調節器120間為第一距離時。

彈性元件220的材料係一種具彈性的合成樹脂。此外，本發明並不侷限於此，其他如螺旋彈簧、平板彈簧等皆可用做彈性元件220的材料。

如圖10及圖11所示，彈性元件220可設置於固定塊110之接收部111的內側上表面，並面向移動塊130之延長部131設置。當玻璃面板P與調節器120之間的距離為第一距離時，該彈性元件220會與移動塊130接觸到，藉此向第二方向B提供彈力給移動塊130。

或者，如圖12所示，該彈性元件220可設置於移動塊130之延長部的上表面，並面向固定塊110之接受部111的內側上表面。當玻璃面板P與調節器120之間的距離為第一距離時，該彈性元件220會與固定塊110接觸，藉此朝第二方向B提供彈力給移動塊130。

如此，該位於固定塊110及移動塊130的彈性元件220的種類、形狀或設置位置可以多種方式做調整，藉此，彈性元件220可施加彈力於移動塊130之上。

於第四實施例中，彈性元件220在一相反於第一方向A之第二方向B提供一外力(一彈力)給移動塊130，調節器120係藉由吹至玻璃面板P的氣體產生之壓力來遠離玻璃面板P。因此，當玻璃面板P和調節器120距第一距離時，於第一方向A之力和第二方向B之力皆施加於調節器120之上，該第一方向A力係由吹氣單元140吹至玻璃面板P的氣體產生之壓力，而第二方向B之力係來自為彈性元件220。因此，移動塊130的位置，換句話說，即調節器120相對於固定塊130之位置，可被維持穩定。

甚至，當介於玻璃面板P與調節器120的距離由第一距離變成第二距離時，該彈性元件220的彈力(例如螺旋彈簧的膨脹力)可於第二方向B施加於移動塊130，藉此可縮短其在轉換玻璃面板P與調節器120之間由第一距離移動至第二距離所需的時間。

第四實施例的操作與效果皆與上述實施例相同。

以下，根據本發明第五實施例之陣列測試裝置將參照圖13及圖14描述。在第五實施例的描述中，相同元件符號將用以標示為第一至第四實施例之相同元件符號，且相同元件不再進一步解釋。

如圖13及圖14所示，根據第五實施例之一外力提供單元200包含一第一吹氣裝置230，該第一吹氣裝置230係與固定塊110連接並吹氣至移動塊130。

該第一吹氣裝置230包含一排氣口231、一通道232、一氣體提供單元233。該排氣口231係位於固定塊110之接受部111之內側上表面，並且向移動塊130之延長部131開口。該通道232與排氣口231相連通。而該氣體提供單元233係與通道232相連通並透過通道232提供氣體至排氣口231。通道232至少有一部分係由軟性材料構成，例如，一具有彈性的管子，用以避免通道232受到移動塊130的阻礙移動。該氣體提供單元233係由控制單元50所控制。一可提供氣體或惰性氣體的吹氣機或壓縮機皆可用作氣體提供單元233。

更佳地，如圖14所示，一凹部234面相排氣口231形成於延長部131的上表面，並正好位於排氣口排出的氣體衝擊至延長部131的表面處。該凹部234使得由排氣口231排出之氣體能夠更精確地吹至移動塊130之上。

第五實施例包含了上述所提及之結構，當玻璃面板P與調節器120之間處於第一距離時，該第一吹氣裝置230之排氣口231會將氣體吹至移動塊130，如此可使力往第二方向B施加於調節器120之上。在第一距離被平穩固定的情況下，第一方向A所產生的力和第二方向B所產生的力皆施加於調節器120，該第一方向A所產生的力係來自於吹氣單元140吹至玻璃面板P的氣體所產生的壓力，而該來自第二方向B產生的力係為第一吹氣裝置230吹至移動塊130的氣體所產生的壓力。從而當玻璃面板P與調節器120之間為第一距離時，移動塊130的位置，亦即，調節器120相對於固定塊110的位置，可被穩定的維持。

甚至，當玻璃面板P與調節器120自第一距離改變至第二距離時，第一吹氣裝置230吹至移動塊130的氣體所產生的壓力提供一可使調節器往第二方向B移動的力，使調節器120可往玻璃面板P的方向移動。藉此可減少玻璃面板P與調節器120自第一距離改變至第二距離時所需的時間。

根據第五實施例之外力提供單元200包含複數個外力提供單元200，該些外力提供單元200係同第二實施例圍繞調節器120設置。當調節器120水平加速或減速移動時，控制單元50可單獨地控制外力提供單元200上之第二吹氣單元240吹出之氣體所產生的壓力。從而，調節器120可避免因施加於其上的加速力或減速力發生傾斜的狀況。此外，調節器120的方向係為可調整的，以控制調節器120面向玻璃面板P的一側可平行於該玻璃面板P的上表面

第五實施例的操作與效果皆與上述實施例相同。

以下，根據本發明第六實施例之陣列測試裝置將參照圖15及圖16描述。在第六實施例的描述中，相同元件符號將用以標示為第一至第五實施例之相同元件符號，且相同元件不再進一步解釋。

如圖15及圖16所示，根據第六實施例之一外力提供單元200包含一第二吹氣裝置240，該第二吹氣裝置240係與移動塊130連接並吹氣至固定塊110。

該第二吹氣裝置240包含一排氣口241、一通道242、一氣體提供單元243。該排氣口241係位於移動塊130之延長部131之上表面，並且向固定塊110之接受部111開口。該通道242與排氣口241相連通。而該氣體提供單元243係與通道242相連通並透過通道242提供氣體至排氣口241。通道242至少有一部分係由軟性材料構成，例如，一具有彈性的管子，用以避免通道242受到移動塊130的阻礙移動。該氣體提供單元243係由控制單元50所控制。一可提供氣體或惰性氣體的吹氣機或壓縮機皆可用作氣體提供單元243。

更佳地，如圖16所示，一凹部244面向排氣口241形成於接受部111的內側上表面，並正好位於排氣口241排出的氣體衝擊至接受部111的表面處。該凹部244使得由排氣口241排出之氣體能夠更精確地吹至固定塊110之上，如此，該衝擊至固定塊110的氣體排斥力可施加於移動塊130之上。

第六實施例包含了上述所提及之結構，當玻璃面板P與調節器120之間處於第一距離時，該第二吹氣裝置240之排氣口241會將氣體吹至固定塊110，如此可使該氣體產生的排斥力往第二方向B施加於調節器120之上。在第一距離被平穩固定的情況下，第一方向A所產生的力和第二方向B所產生的力皆施加於調節器120，該第一方向A所產生的力係來自於吹氣單元140吹至玻璃面板P的氣體所產生的壓力，而該來自第二方向B產生的力係為第二吹氣裝置240吹至固定塊110的氣體所產生的壓力。從而當玻璃面板P與調節器120之間為第一距離時，移動塊130的位置，亦即，調節器120相對於固定塊110的位置，可被穩定的維持。

甚至，當玻璃面板P與調節器120自第一距離改變至第二距離時，第二吹氣裝置240吹至固定塊110的氣體所產生的壓力提供一可使調節器往第二方向B移動的力，使調節器120可往玻璃面板P的方向移動。藉此可縮短玻璃面板P與調節器120自第一距離改變至第二距離時所需的時間。

根據第六實施例之外力提供單元200包含複數個外力提供單元200，該些外力提供單元200係同第二實施例圍繞調節器120設置，此設計同第二實施例。當調節器120水平加速或減速移動時，控制單元50可單獨地控制外力提供單元200上之第二吹氣單元240吹出之氣體所產生的壓力。從而，調節器120可避免因施加於其上的加速力或減速力發生傾斜的狀況。此外，調節器120的方向係為可調整的，以控制調節器120面向玻璃面板P的一側可平行於該玻璃面板P的上表面。

第六實施例的操作與效果皆與上述實施例相同。

以下，根據本發明第七實施例之陣列測試裝置將參照圖17至圖20描述。在第七實施例的描述中，相同元件符號將用以標示為第一至第六實施例之相同元件符號，且相同元件不再進一步解釋。

如圖17及圖18所示，根據第七實施例之一外力提供單元200包含一充氣元件235，其被設置於固定塊110及移動塊130間。氣體可由第一吹氣裝置230吹至充氣元件235內。

詳細而言，充氣元件235的空間係連接於排氣口231，如此，排氣口231排出的氣體壓力可使充氣元件235膨脹，如圖18所示。該充氣元件235係由可拋棄的合成樹脂所製成。

更佳地，一接受凹部236形成於延長部131的上表面，並面相排氣口231設置以使以膨脹之充氣元件235的部分容置於接受凹部236，如此可使充氣元件235地膨脹力順利地傳送至移動塊130。

同時‧不同於前方實施例所述的結構，外力提供單元200可配置成有一充氣元件245設置於固定塊110及移動塊130之間，如圖19及圖20所示。氣體可由第一吹氣單元230吹至充氣元件245。

充氣元件245的空間係連接於排氣口241，如此，排氣口241排出的氣體壓力可使充氣元件245膨脹，如圖20所示。該充氣元件245係由可拋棄的合成樹脂所製成。

更佳地，一接受凹部246形成於接受部111的上表面，並面相排氣口241設置以使以膨脹之充氣元件245的部分容置於接受凹部246，如此可使充氣元件245的膨脹力順利地傳送至移動塊130。

第七實施例包含了上述所提及之結構，如圖18及圖20所示，當玻璃面板P與調節器120之間處於第一距離時，該第一或第二吹氣裝置230、240之排氣口231或241會將氣體吹至充氣元件235使其膨脹。來自充氣元件235及245的膨脹力會施加於移動塊130上使調節器120在第二方向B上產生偏置。因此在第一距離被平穩固定的情況下，第一方向A所產生的力和第二方向B所產生的力皆施加於調節器B，該第一方向A所產生的力係來自於吹氣單元140吹至玻璃面板P的氣體所產生的壓力，而該來自第二方向B產生的力係為充氣元件235及245施加於調節器120上的膨脹力。從而當玻璃面板P與調節器120之間為第一距離時，移動塊130的位置，亦即，調節器120相對於固定塊110的位置，可被穩定的維持。

甚至，當玻璃面板P與調節器120自第一距離改變至第二距離時，充氣元件235及245產生的膨脹力提供一可使調節器往第二方向B移動的力，使調節器120可往玻璃面板P的方向移動。藉此可縮短玻璃面板P與調節器120自第一距離改變至第二距離時所需的時間。

根據第七實施例之外力提供單元200包含複數個外力提供單元200，該些外力提供單元200係同第二實施例圍繞調節器120設置，與第二實施例相同。當調節器120水平加速或減速移動時，控制單元50可單獨地控制已膨脹之充氣元件235及245。從而，調節器120可避免因施加於其上的加速力或減速力發生傾斜的狀況。此外，調節器120的方向係為可調整的，以控制調節器120面向玻璃面板P的一側可平行於該玻璃面板P的上表面。

第七實施例的操作與效果皆與上述實施例相同。

本發明實施例中所述的技術精神可獨立地實施，或可組合。

綜上所述，本發明提供之一陣列測試裝置包含一外力提供單元，該外力提供單元於一反向於第一方向第二方向施加外力至移動塊，該第二方向為吹至玻璃面板的氣體壓力促使調節器可移動而遠離玻璃面板。當玻璃面板與調節器之間的距離可是玻璃面板水平移動，該外力提供單元便會施加一外力至移動塊，如此，移動塊的位置，換句話說，即調節器關於固定塊之位置，可被維持穩定。因此，當調節器水平移動時，可避免其本身產生傾斜的狀況，進一步可避免調節器的部分結構和玻璃面板因為搖晃而產生碰撞。相較於習知技術為避免調節器產生搖晃所使用的慢速水平移動，本發明之調節器知水平移動速度有顯著的提升。甚至，不像習知技術為避免碰撞而將第一距離設置的較大，本發明可縮短該第一距離以達最佳狀況。

此外，一介於玻璃面板與調節器間的距離，此距離為該調節器遠離玻璃面板移動至的距離，且可使其本身進行水平移動，稱此距離為第一距離；另有一玻璃面板與調節器之間相拒之第二距離，此距離允許調節器對玻璃面板進行檢測。當該兩者之間的距離由第一距離改變至第二距離時，外力提供單元可施加外力至調節器。因此，由第一距離移動至第二距離所需的時間顯著的縮短了。

以上所述僅為舉例性，而非為限制性者。任何未脫離本發明之精神與範疇，而對其進行之等效修改或變更，均應包含於後附之申請專利範圍中。

10．．．陣列測試裝置

20．．．載入單元

22．．．第一支撐板

42．．．第二支撐板

24、44．．．吹氣孔

30．．．測試單元

31．．．光線傳輸支撐板

32．．．測試模組

33．．．探針模組

40．．．卸載單元

50．．．控制單元

60．．．測試模組傳輸單元

70．．．玻璃面板傳送單元

90．．．攝像單元

110．．．固定塊

111．．．接受部

120．．．調節器

121．．．反射層

122．．．光電材料層

123．．．調節器電極層

124．．．光傳輸塊

125．．．保護層

130．．．移動塊

131．．．延長部

140．．．吹氣單元

141．．．排出口

142．．．通道

143．．．氣體提供單元

200．．．外力提供單元

211．．．第一磁力元件

212．．．第二磁力元件

213．．．電源

214．．．控制電路

215．．．磁力元件移動裝置

215a．．．致動器

215b．．．連桿

216．．．穿透孔

220．．．彈性元件

230．．．第一吹氣裝置

240．．．第二吹氣裝置

231、241．．．排氣口

232、242．．．通道

233、243．．．氣體提供單元

234、244．．．凹部

235、245．．．充氣元件

236、246．．．接受凹部

321．．．光源

322．．．半稜鏡

A．．．第一方向

B．．．第二方向

P．．．玻璃面板

圖1係為根據本發明第一實施例，顯示一陣列測試裝置的透視圖；

圖2係為圖1之陣列測試裝置之測試組件示意圖；

圖3係為圖1之陣列測試裝置之另一測試組件範例的示意圖；

圖4係為圖1之陣列測試裝置之測試組件剖面示意圖；

圖5係為圖1之陣列測試裝置之另一測試組件範例的剖面示意圖；

圖6係為根據本發明第二實施例所呈現陣列測試裝置之測試組件的仰視示意圖；

圖7係為根據本發明第三實施例所呈現陣列測試裝置之測試組件的剖面示意圖；

圖8係為根據本發明第三實施例，顯示陣列測試裝置之另一測試組件範例的剖面示意圖；

圖9係為根據本發明第三實施例，顯示陣列測試裝置之再另一測試組件範例的剖面示意圖；

圖10係為根據本發明第四實施例所呈現陣列測試裝置之測試組件的剖面示意圖；

圖11係為第10圖的測試組件之一部份之放大剖面示意圖；

圖12係為第10圖的測試組件之另一實施例之一部分的放大剖面示意圖；

圖13係為根據本發明第五實施例，顯示陣列測試裝置之測試組件的剖面示意圖；

圖14係為圖13的測試組件之一部份的放大剖面示意圖；

圖15係為根據本發明第六實施例，顯示陣列測試裝置之測試組件的剖面示意圖；

圖16係為圖15的測試組件之一部份之放大剖面示意圖；以及

圖17～圖20係為根據本發明第七實施例，顯示陣列測試裝置之測試組件的一部份的放大剖面示意圖。